專利名稱：一種光盤機信號校正裝置與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光盤機信號校正裝置與方法，特別是涉及一種可校正因信號信道傳輸特性或接收模塊于信號的接收過程中所造成光盤機信號工作頻率失真情形的裝置與方法。
背景技術(shù)：
在一般的光盤機(optical disk drive，ODD)系統(tǒng)中，包含兩大部分一為光學(xué)讀寫頭(optical pickup head)，另一為光盤機控制器(ODDcontroller)。光學(xué)讀寫頭通常包含激光二極管(laser diode)與激光二極管驅(qū)動器(laser diode driver)，可在光盤機讀寫時運作于光盤片表面，發(fā)射激光光至光盤片，然后接收來自光盤片的反射光。為了顧及光學(xué)讀寫頭運作的靈活度，其重量不能過重，因此，光學(xué)讀寫系統(tǒng)中的組成大部分在光盤機控制器內(nèi)，而與光學(xué)讀寫頭分開設(shè)置。
一般來說，光盤機控制器實際上為一集成電路(integrated circuit)或一芯片(chip)，激光二極管驅(qū)動器則設(shè)置在另一芯片。光盤機控制器連同其它電子組件，設(shè)置于一印刷電路板上，該印刷電路板則固定于光盤機的機殼上。相對于光盤機機身，該光盤機控制器的設(shè)置是固定的。一般來說，激光二極管驅(qū)動器在實際上也為一芯片，設(shè)置于另一印刷電路板上，連同激光二極管，包含在光盤機的光學(xué)讀寫頭內(nèi)。相對于光盤機機身，該光學(xué)讀寫頭是可移動位置的單元。由上可看出，光盤機控制器與激光二極管驅(qū)動器是分隔的兩個單元。一般實際系統(tǒng)上，光盤機控制器與激光二極管驅(qū)動器所在的兩個印刷電路板間會通過一軟排線(flexible cable)聯(lián)機，用以傳遞彼此間的數(shù)據(jù)信號或控制信號，如激光二極管驅(qū)動器該如何驅(qū)動激光二極管的控制信號等。
更仔細地說，光盤機控制器中的某一模塊與光學(xué)讀寫頭中的另一模塊間信號的傳遞路徑將包括，光盤機控制器所在印刷電路板上的電路部分，軟排線中的傳輸線部分，及光學(xué)讀寫頭所在印刷電路板上的電路部分，此三部分稱為光盤機控制器中的某一模塊與光學(xué)讀寫頭中的另一模塊間信號的信號信道。
請參閱圖1，為現(xiàn)有技術(shù)光盤機系統(tǒng)的光盤機控制器10與光學(xué)讀寫頭15結(jié)構(gòu)示意圖。一般使用的刻錄光盤機通過圖示的光盤機控制器10控制光盤機行為，如轉(zhuǎn)速、激活、停止等動作，其中包括光盤機控制器10中的控制模塊16控制光學(xué)讀寫頭15中的激光二極管驅(qū)動器12以驅(qū)動激光二極管14發(fā)射激光光。光盤機控制器10通過其中的控制模塊16所產(chǎn)生的相關(guān)信號，這些信號通過控制模塊16與激光二極管驅(qū)動器12間的信號信道18傳遞，為激光二極管驅(qū)動器12所接收。此處所謂的信號信道，為信號傳輸?shù)穆窂?，包括光盤機控制器10內(nèi)部線路，如控制模塊16所在的印刷電路板上的電路，經(jīng)過軟排線到達另端的光學(xué)讀寫頭15，進入光學(xué)讀寫頭15后經(jīng)過內(nèi)部的線路，最后到達光學(xué)讀寫頭15內(nèi)的某個模塊，如激光二極管驅(qū)動器12，前后所經(jīng)過的傳輸路徑的總稱。
而圖2為現(xiàn)有技術(shù)激光二極管驅(qū)動器12的實施例示意圖。激光二極管驅(qū)動器12接收由光盤機控制器10傳送過來的三個功率控制信號讀取功率控制信號RADJ、第一寫入功率控制信號WADJ1、第二寫入功率控制信號WADJ2、及三個寫入時鐘信號RCLK、WCLK1、WCLK2、及兩個高頻調(diào)變參數(shù)FADJ、AADJ、及一高頻調(diào)變控制信號OSCEN后，輸出一驅(qū)動信號LDOUT，用以驅(qū)動后端的激光二極管14。激光二極管驅(qū)動器12更包含一讀取信道驅(qū)動電平產(chǎn)生器(Read ChannelDriving Level Generation)20、第一寫入信道驅(qū)動電平產(chǎn)生器22、一第二寫入信道驅(qū)動電平產(chǎn)生器24、一高頻調(diào)變器(high frequency modulation，HFM)26，及開關(guān)202、222、242。激光二極管驅(qū)動器12可進一步包含控制信號LD_Enable及開關(guān)282。
讀取信道驅(qū)動電平產(chǎn)生器20接收通過讀取信道傳送過來的讀取功率控制信號RADJ，經(jīng)過相關(guān)的信號處理后，如信號放大、電壓信號轉(zhuǎn)電流信號等，輸出一電流信號IRADJ，并經(jīng)過開關(guān)202，匯流至驅(qū)動信號LDOUT。波形重整器251接收寫入時鐘信號RCLK，將寫入時鐘信號RCLK的信號波形重整成方波形式，輸出重整后的寫入時鐘信號RCLK以控制開關(guān)202的開/關(guān)狀態(tài)。
第一寫入信道驅(qū)動電平產(chǎn)生器22接收通過第一寫入信道傳送過來的第一寫入功率控制信號WADJ1，經(jīng)過相關(guān)的信號處理后，如信號放大、電壓信號轉(zhuǎn)電流信號等，輸出一電流信號IWADJ1，并經(jīng)過開關(guān)222，匯流至驅(qū)動信號LDOUT。波形重整器252接收寫入時鐘信號WCLK1，將寫入時鐘信號WCLK1的信號波形重整成方波形式，輸出重整后的寫入時鐘信號WCLK1以控制開關(guān)222的開/關(guān)狀態(tài)。
第二寫入信道驅(qū)動電平產(chǎn)生器24接收通過第二寫入信道傳送過來的第二寫入功率控制信號WADJ2，經(jīng)過相關(guān)的信號處理后，如信號放大、電壓信號轉(zhuǎn)電流信號等，輸出一電流信號IWADJ2，并經(jīng)過開關(guān)242，匯流至驅(qū)動信號LDOUT。波形重整器253接收寫入時鐘信號WCLK2，將寫入時鐘信號WCLK2的信號波形重整成方波形式，輸出重整后的寫入時鐘信號WCLK2以控制開關(guān)242的開/關(guān)狀態(tài)。
高頻調(diào)變器26接收高頻調(diào)變參數(shù)FADJ、AADJ，以控制頻率與振幅，然后用以產(chǎn)生一具有高頻震蕩特性的電流信號IHFM，并經(jīng)過開關(guān)262，匯流至驅(qū)動信號LDOUT，其中開關(guān)262受高頻調(diào)變控制信號OSCEN控制其開/關(guān)狀態(tài)。激光二極管驅(qū)動器12可還包含開關(guān)282，用以依據(jù)控制信號LD_Enable來控制是否輸出有效的驅(qū)動信號LDOUT。
圖3a至圖3e分別為圖2中激光二極管驅(qū)動器12的各式信號RCLK、OSCEN、WCLK1、WCLK2、LDOUT的波形示意圖，橫軸方向代表時間，縱軸方向代表信號電平。當(dāng)處于讀取數(shù)據(jù)階段32，此時激光二極管14所發(fā)出激光的強度較低，只需要啟用讀取功率控制信號RADJ，此時，寫入時鐘信號RCLK處于高電位狀態(tài)，以導(dǎo)通開關(guān)202，寫入時鐘信號WCLK1、WCLK2則處于低電位狀態(tài)，使開關(guān)222、242呈現(xiàn)斷路狀態(tài)。另外，如現(xiàn)有技藝人士所知，此時高頻調(diào)變控制信號OSCEN也會處于高電位狀態(tài)，以導(dǎo)通開關(guān)262。綜上所述，讀取數(shù)據(jù)階段32中的驅(qū)動信號LDOUT可得如圖3e所示。
當(dāng)處于刻錄數(shù)據(jù)階段34，此時激光二極管14所發(fā)出激光光的強度較強，讀取功率控制信號RADJ、第一寫入功率控制信號WADJ1、第二寫入功率控制信號WADJ2都將會用到，此時，寫入時鐘信號RCLK處于高電位狀態(tài)，以導(dǎo)通開關(guān)202，寫入時鐘信號WCLK1、WCLK2則依據(jù)預(yù)設(shè)好的寫入策略在高低電位之間做切換，使開關(guān)222、242切換于斷路/通路狀態(tài)。此時高頻調(diào)變控制信號OSCEN會處于低電位狀態(tài)，讓開關(guān)262斷路。綜上所述，刻錄數(shù)據(jù)階段34中的驅(qū)動信號LDOUT將如圖3e所示。
由于受到信號信道傳輸特性、及激光二極管驅(qū)動器12處在接收信號波形重整的過程中所使用的參考電壓與光盤機控制器者不同的影響，使得激光二極管驅(qū)動器12所得接收信號的工作頻率與原信號的工作頻率并不相同，這種情形的影響對于越高頻的信號會越嚴(yán)重。例如圖3d所示，原寫入時鐘信號WCLK2因受到影響，使得激光二極管驅(qū)動器所接收的信號波形，記為WCLK2*，其工作頻率已有所不同，這將連帶使得最后所得到的驅(qū)動信號，記為LDOUT*，產(chǎn)生變形失真，進而影響光盤機刻錄的功能。
圖4為控制模塊16所發(fā)送的信號波形100與激光二極管驅(qū)動器12所接收、尚未經(jīng)過波形重整的信號波形102，及經(jīng)過波形重整的信號波形104?；旧?，控制模塊16所發(fā)送的信號波形100接近理想的方波形式，信號位準(zhǔn)變換于高位準(zhǔn)VH與低位準(zhǔn)VL之間。但在信號信道18傳輸?shù)倪^程中，受到信號信道傳輸特性的影響，使得激光二極管驅(qū)動器12所接收到的信號波形已經(jīng)不再是一個方波的形式。原本信號波形100中陡峭的上升緣及下降緣部分，變成漸次式變換的形式。如圖4所示，信號波形102從低位準(zhǔn)VL變換成高位準(zhǔn)VH需要一段變換時間TR，從高位準(zhǔn)VH變換成低位準(zhǔn)VL需要一段變換時間TF。通常TR與TF的時長并不會一樣。
接著激光二極管驅(qū)動器12對信號波形102做信號波形重整處理，得信號波形104。如現(xiàn)有技術(shù)領(lǐng)域人士所知，信號波形重整主要是利用一預(yù)設(shè)的參考位準(zhǔn)VT，通常為高位準(zhǔn)VH與低位準(zhǔn)VL的平均值，將高于參考位準(zhǔn)VT的信號部分重整為高位準(zhǔn)VH，將低于參考位準(zhǔn)VT的信號部分重整為低位準(zhǔn)VL。如前所述，由于光學(xué)讀寫頭15與光盤機控制器10為分隔的兩個電路單元，彼此間的接地電壓并不一定相同，這使得光學(xué)讀寫頭15端所用的參考位準(zhǔn)VT與光盤機控制器10端高位準(zhǔn)VH和低位準(zhǔn)VL的平均值間有所差距，這樣的差距，也會導(dǎo)致激光二極管驅(qū)動器12所接收到信號的工作頻率失真的情形。
本發(fā)明在此光學(xué)讀寫系統(tǒng)架構(gòu)中加入監(jiān)控與調(diào)整的機制，以補償信號工作頻率失真的不良效應(yīng)，使在讀寫光盤儲存媒介時能有更穩(wěn)定的讀寫功能，特別是可增進寫入光盤儲存媒介時的寫入功能。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于提供一種光盤機信號校正方法，在信號到達光學(xué)讀寫頭的驅(qū)動器(ODD)之前，即針對現(xiàn)有因在光驅(qū)控制器(ODDcontroller)與光學(xué)讀寫頭(OPH)間以一軟排線(flexible cable)連接并傳遞控制信號所使光驅(qū)控制器與光學(xué)讀寫頭彼此的接地電壓在實際上會有所不同而造成的工作頻率(duty cycle)的誤差進行改善。
為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種光盤機信號校正方法，運用于一光學(xué)讀寫系統(tǒng)，其包含一光盤機控制器及一光學(xué)讀寫頭，以補償一信號由所述光盤機控制器中一傳送模塊傳送、通過一信號信道到達所述光學(xué)讀寫頭內(nèi)的一接收模塊處、經(jīng)信號重整后，信號工作頻率失真的情形，其特點在于，所述方法步驟包括有依據(jù)一調(diào)整信號，調(diào)整一預(yù)設(shè)測試信號的上升緣或下降緣的延遲設(shè)定，得一調(diào)整測試信號，其中所述測試信號的工作頻率為一默認值；傳輸所述調(diào)整測試信號，通過所述信號信道送達至所述接收模塊；接收、重整所述調(diào)整測試信號，得一接收信號；量測所述接收信號的工作頻率與所述測試信號的工作頻率間的差距，得一監(jiān)測信號；以及依據(jù)所述監(jiān)測信號產(chǎn)生所述調(diào)整信號。
上述光盤機信號校正方法，其特點在于，所述監(jiān)測信號反應(yīng)所述接收信號的工作頻率大于所述測試信號的工作頻率時，所產(chǎn)生的所述調(diào)整信號可使得調(diào)整所述測試信號的上升緣的延遲設(shè)定值增加，或使得調(diào)整所述測試信號的下降緣的延遲設(shè)定值減少。
上述光盤機信號校正方法，其特點在于，所述監(jiān)測信號反應(yīng)所述接收信號的工作頻率大于所述測試信號的工作頻率時，所產(chǎn)生的所述調(diào)整信號可使得調(diào)整所述測試信號的下降緣的延遲設(shè)定值增加，或使得調(diào)整所述測試信號的上升緣的延遲設(shè)定值減少。
本發(fā)明還提供一種光盤機信號校正裝置，運用于一光學(xué)讀寫系統(tǒng)，其包含一光盤機控制器及一光學(xué)讀寫頭，以補償一信號由所述光盤機控制器中一傳送模塊傳送、通過一信號信道到達所述光學(xué)讀寫頭內(nèi)的一接收模塊、經(jīng)信號重整后，信號工作頻率失真的情形，其特點在于，所述校正裝置包括有一調(diào)整模塊，設(shè)置于所述傳送模塊內(nèi)，用以依據(jù)一調(diào)整信號，調(diào)整一預(yù)設(shè)測試信號的上升緣或下降緣的延遲設(shè)定，得一調(diào)整測試信號，其中所述測試信號的工作頻率為一默認值；一工作頻率檢測單元，設(shè)置于所述光學(xué)讀寫頭內(nèi)，用以接收一接收信號，產(chǎn)生一監(jiān)測信號，用以反應(yīng)所述接收信號與所述測試信號的工作頻率差距情形，其中所述接收信號為所述接收模塊接收、重整所述調(diào)整測試信號的結(jié)果；以及一調(diào)校模塊，設(shè)置于所述光盤機控制器內(nèi)，用以接收所述監(jiān)測信號，產(chǎn)生所述調(diào)整信號。
上述光盤機信號校正裝置，其特點在于，所述工作頻率檢測單元包括一平均運算單元及一減法器，其中所述平均運算單元接收所述接收信號，輸出一平均值以反應(yīng)所述接收信號位準(zhǔn)的平均值，減法器計算所述平均值與一冀望值的一差值，將所述差值輸出為所述監(jiān)測信號，其中，所述冀望值為所述測試信號位準(zhǔn)的平均值。
上述光盤機信號校正裝置，其特點在于，所述工作頻率檢測單元更包括一累加單元，用以累加所述減法器的輸出結(jié)果，輸出為所述監(jiān)測信號。
上述光盤機信號校正裝置，其特點在于，所述監(jiān)測信號反應(yīng)所述接收信號的工作頻率大于所述測試信號的工作頻率時，所產(chǎn)生的所述調(diào)整信號可使得調(diào)整所述測試信號的上升緣的延遲設(shè)定值增加，或使得調(diào)整所述測試信號的下降緣的延遲設(shè)定值減少。
上述光盤機信號校正裝置，其特點在于，所述監(jiān)測信號反應(yīng)所述接收信號的工作頻率小于所述測試信號的工作頻率時，所產(chǎn)生的所述調(diào)整信號可使得調(diào)整所述測試信號的下降緣的延遲設(shè)定值增加，或使得調(diào)整所述測試信號的上升緣的延遲設(shè)定值減少。
本發(fā)明的功效，在于改善了現(xiàn)有因在光驅(qū)控制器與光學(xué)讀寫頭間以一軟排線連接并傳遞控制信號所使光驅(qū)控制器與光學(xué)讀寫頭彼此的接地電壓在實際上會有所不同而造成的工作頻率的誤差。
以下結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明進行詳細描述，但不作為對本發(fā)明的限定。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)光學(xué)讀寫裝置的光盤機控制器與光學(xué)讀寫頭結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為現(xiàn)有技術(shù)的激光二極管驅(qū)動器結(jié)構(gòu)示意圖；圖3a至圖3e為現(xiàn)有技術(shù)中圖2所示激光二極管驅(qū)動器的各式信號時序示意圖；圖4為現(xiàn)有技術(shù)傳輸信號示意圖；圖5為本發(fā)明光盤機校正方法步驟流程圖；圖6為本發(fā)明光盤機信號校正裝置示意圖；圖7A為本發(fā)明工作頻率檢測單元第一實施例示意圖；圖7B圖為本發(fā)明工作頻率檢測單元第二實施例示意圖；圖8為本發(fā)明調(diào)整模塊實施例示意圖。
其中，附圖標(biāo)記10-光盤機控制器，12-激光二極管驅(qū)動器14-激光二極管，15-光學(xué)讀寫頭16-WSR電路，18-信號信道RADJ-讀取功率控制信號WADJ1第一寫入功率控制信號，WADJ2-第二寫入功率控制信號RCLK、WCLK1、WCLK2、WCLK2*-寫入時鐘信號FADJ、AADJ-高頻調(diào)變參數(shù)，OSCEN-高頻調(diào)變控制信號LDOUT、LDOUT*-驅(qū)動信號IRADJ、IWADJ1、IWADJ2-電流信號32-讀取數(shù)據(jù)階段，34-刻錄數(shù)據(jù)階段20-讀取信道驅(qū)動電平產(chǎn)生器(Read Channel Driving Level Generation22-第一寫入信道驅(qū)動電平產(chǎn)生器24-第二寫入信道驅(qū)動電平產(chǎn)生器26-高頻調(diào)變器(high frequency modulation，HFM)202、222、242-開關(guān)LD_Enable-控制信號262、282-開關(guān)251、252、253-波形重整器41-光盤機控制器，43-光學(xué)讀寫頭100、102、104-波形VH-高位準(zhǔn)，VL-低電位TR-上升時間，TF-下降時間VT-參考位準(zhǔn)80-軟排線，81-光盤機控制器，82-信號信道83-光學(xué)讀寫頭，85-傳送模塊，86-接收模塊87-調(diào)校模塊851-調(diào)整模塊862-信號重整單元，864-工作頻率檢測單元SA-調(diào)整信號，SM-監(jiān)測信號，SR-接收信號
SS-選擇信號，ST-測試信號，ST*-調(diào)整測試信號VA-平均值，VD-冀望值111-平均運算單元，112-減法器，113-積分器130-延遲單元，134、136-多任務(wù)器CH、CL-計數(shù)器具體實施方式
本發(fā)明光盤機信號校正裝置與方法是為了改善現(xiàn)有在光盤機控制器(ODDcontroller)中的一模塊與光學(xué)讀寫頭(Optical Pick-up Head)中的另一模塊間，信號在發(fā)送端與接收端的工作頻率會有不致的情形。
圖5為針對光盤機信號工作頻率失真的校正方法步驟流程圖，步驟如下步驟S51，當(dāng)光學(xué)讀寫系統(tǒng)校正開始，設(shè)定光盤機控制器及光學(xué)讀寫頭進入校正模式；在此校正模式下，來調(diào)校光盤機控制器中的傳送模塊所傳送的各個信號。輸入一測試信號至一調(diào)整模塊，其中測試信號為一周期性信號，具有一預(yù)設(shè)的工作頻率。步驟S52，依據(jù)一調(diào)整信號，調(diào)整測試信號的上升緣與下降緣延遲設(shè)定，得一調(diào)整測試信號；步驟S53，傳輸該調(diào)整測試信號，通過一信號信道送達至光學(xué)讀寫頭內(nèi)的一接收模塊；步驟S54，接收、重整該調(diào)整測試信號，得一接收信號；步驟S55，量測該接收信號的工作頻率與該測試信號的工作頻率間的差距，得一監(jiān)測信號。此監(jiān)測信號的產(chǎn)生將該接收信號做平均處理，所得的平均值與一冀望值得差值，即為監(jiān)測信號，其中該冀望值為測試信號平均的理論值。該監(jiān)測信號可反應(yīng)該接收信號與測試信號間工作頻率差距的情形，以為后續(xù)調(diào)校模塊運作的依據(jù)。另外，平均運算單元在實做上可為一低通濾波器。另外，另一實施例為可在平均運算單元后，再加一積分器(integrator)做積分處理，此時該監(jiān)測信號的斜率可反應(yīng)該接收信號與該測試信號間工作頻率差距的情形，以為后續(xù)調(diào)校模塊運作的依據(jù)。
最后，步驟S56，依據(jù)該監(jiān)測信號產(chǎn)生調(diào)整信號，用以調(diào)整。
校正步驟完成后，光盤機控制器及光學(xué)讀寫頭即進入正常運作模式，步驟S57，執(zhí)行光盤機平常的讀寫運作。
通常，步驟S52至步驟S56的過程會進行一回以上，以達到漸次縮小接收信號與測試信號的工作頻率誤差的效果，且當(dāng)接收信號與測試信號的工作頻率誤差小到一定程度時，即視為校正完成，接下來可以進入正常運作模式。于正常運作模式中，凡須通過該信號信道傳輸?shù)男盘?，將依?jù)本發(fā)明所調(diào)校的結(jié)果調(diào)整信號的上升緣與下降緣時間點，以補償接收模塊處接收信號工作頻率失真的情形，確保接收模塊的正確運作。
圖6為本發(fā)明光盤機信號校正裝置示意圖。光盤機信號校正裝置包含一位于光盤機控制器81的傳送模塊85內(nèi)的一調(diào)整模塊851、一位于光學(xué)讀寫頭83的接收模塊86內(nèi)的工作頻率檢測單元864、及一位于光盤機控制器81的調(diào)校模塊87。該測試信號ST為一預(yù)選的周期性信號，基本上具有兩種信號位準(zhǔn)值，一為高位準(zhǔn)VH，另一為低位準(zhǔn)VL，且具有一預(yù)設(shè)的工作頻率。調(diào)整模塊851接收該測試信號ST，依據(jù)一組調(diào)整參數(shù)(未示)，調(diào)整輸入信號上升緣及下降緣的時間延遲情形后，輸出一調(diào)整后的調(diào)整測試信號ST*。該調(diào)整測試信號ST*將通過信號信道82傳送至光學(xué)讀寫頭83的接收模塊86。其中所謂的信號信道包含信號在光盤機控制器81內(nèi)經(jīng)過的電路部分、軟排線80中傳輸線部分、及在光學(xué)讀寫頭83內(nèi)經(jīng)過的電路部分。
調(diào)整測試信號ST*為接收模塊86所接收后，首先會經(jīng)過一信號重整單元862，將信號波形重整成只具有高位準(zhǔn)VH與低位準(zhǔn)VL的態(tài)樣，輸出信號為接收信號SR。工作頻率檢測單元864接收該接收信號SR，檢測該接收信號SR之工作頻率，并與原測試信號ST之工作頻率做比較，比較結(jié)果輸出為一監(jiān)測信號SM，經(jīng)由軟排線80回傳至光盤機控制器81的調(diào)校模塊87。調(diào)校模塊87依此監(jiān)測信號SM，產(chǎn)生一調(diào)整信號SA，用以修訂調(diào)整模塊851中的調(diào)整參數(shù)。其中工作頻率檢測單元864可由圖7A與圖7B所示的裝置實施。
圖7A為工作頻率檢測單元的一實施例，工作頻率檢測單元864包含一平均運算單元111和一減法器112。平均運算單元111接收經(jīng)信號重整單元862重整后所得的接收信號SR，經(jīng)過平均運算，輸出一平均值VA，以反應(yīng)接收信號SR信號位準(zhǔn)的平均值。在實做上，平均運算單元111可為一低通濾波器。減法器112計算該平均值VA與一冀望值VD間的差值，將該差值輸出為一監(jiān)測信號SM。其中，冀望值VD原測試信號ST信號位準(zhǔn)的平均值，監(jiān)測信號SM的信號位準(zhǔn)可反應(yīng)出接收模塊86所接收到的接收信號SR的工作頻率與原測試信號ST的工作頻率的誤差情形，監(jiān)測信號SM所內(nèi)含的這項信息將通過軟排線80，回傳至光盤機控制器81，以為后續(xù)調(diào)校工作的依據(jù)。
圖7B所示為工作頻率檢測單元的另一實施例。此實施例中的工作頻率檢測單元864除了更進一步包含一積分器113外，其余組成和圖7A中的實施例相同，便不再敘述。積分器113接收減法器112的輸出結(jié)果，進行積分累加運算的結(jié)果，輸出為監(jiān)測信號SM。此時，監(jiān)測信號SM的信號斜率可反應(yīng)出接收模塊86所接收到的接收信號SR的工作頻率與原測試信號ST的工作頻率的誤差情形，監(jiān)測信號SM所內(nèi)含的這項信息將通過軟排線80，回傳至光盤機控制器81，做為后續(xù)調(diào)校工作的依據(jù)。
圖8為本發(fā)明調(diào)校模塊實施例示意圖。調(diào)整模塊851包含多個延遲單元130，計數(shù)器CH與CL，多任務(wù)器134與136。如圖8所示，多個延遲單元130以序列式串接成一延遲線，接收測試信號ST，產(chǎn)生多個具有不同延遲時間的延遲測試信號，多任務(wù)器接收這些延遲測試信號，依據(jù)一選擇信號SS，選擇其中一個延遲測試信號，輸出為調(diào)整測試信號ST*。多任務(wù)器136依據(jù)測試信號ST信號位準(zhǔn)高低的情形，選擇計數(shù)器CH或計數(shù)器CL的值，輸出為該選擇信號SS。當(dāng)測試信號ST為低位準(zhǔn)時，選擇計數(shù)器CL的值，輸出為該選擇信號SS。計數(shù)器CL的值代表調(diào)整測試信號ST*的上升緣與測試信號ST的上升緣時間點相差CL個延遲單元。當(dāng)測試信號ST為高位準(zhǔn)時，選擇計數(shù)器CH的值，輸出為該選擇信號SS。計數(shù)器CH的值代表調(diào)整測試信號ST*的下降緣與測試信號ST的下降緣時間點相差CH個延遲單元。因此，通過改變計數(shù)器CH與CL的值，即可調(diào)整調(diào)整測試信號ST*上升緣與下降緣的時間點，達到調(diào)整測試信號ST*工作頻率的效果。調(diào)校模塊87接收通過軟排線回傳的監(jiān)測信號SM，產(chǎn)生一調(diào)整信號SA。以圖8為例，調(diào)整模塊851依據(jù)該調(diào)整信號SA，來調(diào)整計數(shù)器CL的值。當(dāng)監(jiān)測信號SM反應(yīng)接收信號SR的工作頻率過高時，計數(shù)器CL便需增加，例如每次增加1，以使調(diào)整測試信號ST*工作頻率減小，相反地，當(dāng)監(jiān)測信號SM反應(yīng)接收信號SR的工作頻率過低時，計數(shù)器CL便需減少，例如每次減少1，以使調(diào)整測試信號ST*工作頻率變大。除針對計數(shù)器CL做調(diào)整外，也可針對計數(shù)器CH，甚至同時針對這兩個計數(shù)器做調(diào)整，同樣都可以達到改變調(diào)整測試信號ST*工作頻率的效果。
當(dāng)然，本發(fā)明還可有其他多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護范圍。
權(quán)利要求
1.一種光盤機信號校正方法，運用于一光學(xué)讀寫系統(tǒng)，其包含一光盤機控制器及一光學(xué)讀寫頭，以補償一信號由所述光盤機控制器中一傳送模塊傳送、通過一信號信道到達所述光學(xué)讀寫頭內(nèi)的一接收模塊處、經(jīng)信號重整后，信號工作頻率失真的情形，所述方法步驟包括有依據(jù)一調(diào)整信號，調(diào)整一預(yù)設(shè)測試信號的上升緣或下降緣的延遲設(shè)定，得一調(diào)整測試信號，其中所述測試信號的工作頻率為一默認值；傳輸所述調(diào)整測試信號，通過所述信號信道送達至所述接收模塊；接收、重整所述調(diào)整測試信號，得一接收信號；量測所述接收信號的工作頻率與所述測試信號的工作頻率間的差距，得一監(jiān)測信號；以及依據(jù)所述監(jiān)測信號產(chǎn)生所述調(diào)整信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤機信號校正方法，其特征在于，所述監(jiān)測信號反應(yīng)所述接收信號的工作頻率大于所述測試信號的工作頻率時，所產(chǎn)生的所述調(diào)整信號可使得調(diào)整所述測試信號的上升緣的延遲設(shè)定值增加，或使得調(diào)整所述測試信號的下降緣的延遲設(shè)定值減少。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤機信號校正方法，其特征在于，所述監(jiān)測信號反應(yīng)所述接收信號的工作頻率大于所述測試信號的工作頻率時，所產(chǎn)生的所述調(diào)整信號可使得調(diào)整所述測試信號的下降緣的延遲設(shè)定值增加，或使得調(diào)整所述測試信號的上升緣的延遲設(shè)定值減少。
4.一種光盤機信號校正裝置，運用于一光學(xué)讀寫系統(tǒng)，其包含一光盤機控制器及一光學(xué)讀寫頭，以補償一信號由所述光盤機控制器中一傳送模塊傳送、通過一信號信道到達所述光學(xué)讀寫頭內(nèi)的一接收模塊、經(jīng)信號重整后，信號工作頻率失真的情形，所述校正裝置包括有一調(diào)整模塊，設(shè)置于所述傳送模塊內(nèi)，用以依據(jù)一調(diào)整信號，調(diào)整一預(yù)設(shè)測試信號的上升緣或下降緣的延遲設(shè)定，得一調(diào)整測試信號，其中所述測試信號的工作頻率為一默認值；一工作頻率檢測單元，設(shè)置于所述光學(xué)讀寫頭內(nèi)，用以接收一接收信號，產(chǎn)生一監(jiān)測信號，用以反應(yīng)所述接收信號與所述測試信號的工作頻率差距情形，其中所述接收信號為所述接收模塊接收、重整所述調(diào)整測試信號的結(jié)果；以及一調(diào)校模塊，設(shè)置于所述光盤機控制器內(nèi)，用以接收所述監(jiān)測信號，產(chǎn)生所述調(diào)整信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光盤機信號校正裝置，其特征在于，所述工作頻率檢測單元包括一平均運算單元及一減法器，其中所述平均運算單元接收所述接收信號，輸出一平均值以反應(yīng)所述接收信號位準(zhǔn)的平均值，減法器計算所述平均值與一冀望值的一差值，將所述差值輸出為所述監(jiān)測信號，其中，所述冀望值為所述測試信號位準(zhǔn)的平均值。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤機信號校正裝置，其特征在于，所述工作頻率檢測單元更包括一累加單元，用以累加所述減法器的輸出結(jié)果，輸出為所述監(jiān)測信號。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光盤機信號校正裝置，其特征在于，所述監(jiān)測信號反應(yīng)所述接收信號的工作頻率大于所述測試信號的工作頻率時，所產(chǎn)生的所述調(diào)整信號可使得調(diào)整所述測試信號的上升緣的延遲設(shè)定值增加，或使得調(diào)整所述測試信號的下降緣的延遲設(shè)定值減少。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光盤機信號校正裝置，其特征在于，所述監(jiān)測信號反應(yīng)所述接收信號的工作頻率小于所述測試信號的工作頻率時，所產(chǎn)生的所述調(diào)整信號可使得調(diào)整所述測試信號的下降緣的延遲設(shè)定值增加，或使得調(diào)整所述測試信號的上升緣的延遲設(shè)定值減少。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種光盤機信號校正方法，運用于光學(xué)讀寫系統(tǒng)，其包含光盤機控制器及光學(xué)讀寫頭，以補償信號由光盤機控制器中傳送模塊傳送、通過信號信道到達光學(xué)讀寫頭內(nèi)的接收模塊處、經(jīng)信號重整后，信號工作頻率失真的情形，方法步驟包括有依據(jù)調(diào)整信號，調(diào)整預(yù)設(shè)測試信號的上升緣或下降緣的延遲設(shè)定，得調(diào)整測試信號，其中測試信號的工作頻率為默認值；傳輸調(diào)整測試信號，通過信號信道送達至接收模塊；接收、重整調(diào)整測試信號，得接收信號；量測接收信號的工作頻率與測試信號的工作頻率間的差距，得監(jiān)測信號；以及依據(jù)所述監(jiān)測信號產(chǎn)生調(diào)整信號。本發(fā)明可改善工作頻率誤差。
文檔編號G11B7/125GK1649023SQ200410069209
公開日2005年8月3日 申請日期2004年7月14日 優(yōu)先權(quán)日2003年7月18日
發(fā)明者周家驊, 陳志成 申請人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司