專利名稱：球面像差校正板、使用該板的光讀取裝置及校正方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種球面像差校正元件，特別是涉及用于光盤驅(qū)動器的光讀取裝置的球面像差校正板。
背景技術(shù)：
眾所周知，光讀取裝置，是通過物鏡把從作為光源的半導(dǎo)體激光器射出的激光在光盤信號記錄面上聚光，并用作為光檢測單元的光檢測器檢測從該信號記錄面上返回的光的裝置。
一般來說，光讀取裝置具有半導(dǎo)體激光器(激光二極管)、衍射光柵、偏振光光束分離器、視準(zhǔn)透鏡、立起的反射鏡(立上げミラ一)(固定反射鏡)、1/4波長板、物鏡、傳感器透鏡及光檢測器(光電二極管)。
從半導(dǎo)體激光器射出的1束激光，利用衍射光柵分離成3束激光，穿過偏振光光束分離器。這些穿過偏振光光束分離器的激光，由視準(zhǔn)透鏡變成平行光后，由立起的反射鏡的反射面反射，以直角彎曲，用1/4波長板把直線偏振光變成圓形偏振光，通過物鏡，朝光盤的信號記錄面上聚光(照射)。
來自光盤的信號記錄面的反射光(返回光)，通過物鏡，由1/4波長板把偏振光方向相對光往路的偏振光方向彎曲成90°，通過立起的反射鏡的反射面反射，以直角彎曲，通過視準(zhǔn)透鏡后，由偏振光光束分離器反射，最后通過傳感器透鏡并由光檢測器檢測。
例如，光盤為藍(lán)光(Blue-ray)盤等的高密度光盤的情況下，必須讓對焦時的光盤信號記錄面上的激光束點(diǎn)的尺寸足夠的小。為此，采用的方法是，讓作為發(fā)光源的激光二極管的波長變短，增大物鏡的數(shù)值孔徑NA。激光二極管的波長為例如405nm，物鏡的數(shù)值孔徑NA為例如0.85。
在這種情況下，對焦時的點(diǎn)尺寸小到例如直徑φ是0.35μm。但是，由于光盤的盤厚度誤差產(chǎn)生球面像差，從而增大了光盤信號記錄面上的激光束點(diǎn)尺寸。并且，如本技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)公知的那樣，所謂光盤的“盤厚度”是指光盤的激光束入射面與信號記錄面之間的距離。確定藍(lán)光(Blue-ray)盤的盤厚度是0.1±0.002mm的規(guī)格。另外，所謂“球面像差”是指從光軸上的1點(diǎn)射出的光線通過透鏡之后，不聚集在軸上的1點(diǎn)，而向前后偏離的現(xiàn)象。具體來說，例如在平行光入射到透鏡的情況下，其光軸附近的光線與離開光軸的光線在不同的軸上位置聚焦。因此，會使再生抖動、自已記錄再生抖動劣化。
因此，長期以來，采用各種縮小球面像差的方法。這些方法大致區(qū)分為以下敘述的兩種方法。
第1方法是，使用作為球面像差校正元件的液晶設(shè)備(液晶元件)的方法(參照例如專利文獻(xiàn)1、專利文獻(xiàn)2、專利文獻(xiàn)3)。在該第1種方法中，根據(jù)需要對液晶設(shè)備施加電壓，通過改變光軸中心附近與外周的折射率，使球面像差變?yōu)樽钚〉男Ｕ椒ā?br> 把液晶元件搭載在光讀取裝置上的例子已經(jīng)是公知的技術(shù)(參照例如專利文獻(xiàn)4)。這樣的光讀取裝置，當(dāng)液晶元件的中心與物鏡的中心不重合時，相反，會產(chǎn)生慧型像差等。這里，所謂“慧型像差”是指由具有對稱軸的光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生的軸外物點(diǎn)的像不聚集在1點(diǎn)上，雖然相對于包含主光線的子午面(子午平面)是對稱的，但是相對于球缺面(弧矢面)成為非對稱分布的像差。因此，就必須以讓光軸與調(diào)節(jié)器的物鏡第1面?zhèn)?入射光側(cè))重合的形式把液晶元件插入。這里，調(diào)節(jié)器包括包含固定物鏡的透鏡架的可動部；通過從可動部兩側(cè)延伸的多根吊線，沿著聚焦方向及跟蹤方向可變位地支持該可動部用的阻尼基座。正是因?yàn)檫@樣，有必要把液晶元件組裝到可動部上，使該液晶元件作為在相對物鏡始終保持一定位置關(guān)系的狀態(tài)下的可動部的一部分。結(jié)果，增加了調(diào)節(jié)器可動部本身的重量，不僅物鏡，而且與液晶元件為一體的可動部都必須在聚焦方向和跟蹤方向變位，導(dǎo)致不能高速訪問。
第2種方法是，根據(jù)光盤的盤厚度有意識地將發(fā)散光與收斂光射入物鏡，以此校正總球面像差的方法，作為第2種方法的一個例子，是在光軸方向上移動視準(zhǔn)透鏡，變成發(fā)散光與會聚光的方法(參照例如專利文獻(xiàn)5)。但是，利用這種方法，在光軸方向上移動視準(zhǔn)透鏡的情況下，由于視準(zhǔn)透鏡的中心偏離光軸中心，所以，有可能增加慧型像差。
另外，作為第2種方法的另一個例子，提出了這樣的一種方法(參照例如專利文獻(xiàn)6)，借助于給插入激光二極管與視準(zhǔn)透鏡之間的衍射型光學(xué)元件透鏡上施加電壓，改變衍射型光學(xué)元件透鏡的折射率。作為構(gòu)成衍射型光學(xué)元件透鏡的衍射型光學(xué)元件，可以使用液晶元件。但是，這種方法適用于共同再生厚度不同的多個光盤用的光讀取中，根據(jù)衍射型光學(xué)元件透鏡折射率的變化，對一個光盤的少許盤厚度的變化是不能進(jìn)行球面像差校正的。
專利文獻(xiàn)1特開2000-353333號公報(bào)專利文獻(xiàn)2特開2001-331963號公報(bào)專利文獻(xiàn)3特開2002-237077號公報(bào)專利文獻(xiàn)4特開2002-237076號公報(bào)專利文獻(xiàn)5特開平9-17023號公報(bào)專利文獻(xiàn)6特開平10-143903號公報(bào)發(fā)明內(nèi)容如上述，以往第1方法存在的問題是，由于調(diào)節(jié)器的可動部自身重量的增加，不能進(jìn)行高速訪問。
另一方面，以往第2方法，不光增加了慧型像差，也會出現(xiàn)對于一個光盤的盤厚度變化引起的球面像差很難校正的問題。
因此，本發(fā)明的目的是，提供一種球面像差校正板，可用于備有能高速訪問的調(diào)節(jié)器的光讀取裝置中、并能校正球面像差。
本發(fā)明的另一目的是，提供一種不僅不會增加慧型像差，還能校正球面像差的球面像差校正板。
本發(fā)明的再一目的是，提供一種能夠?qū)σ粋€光盤的少許盤厚度變化引起的球面像差進(jìn)行校正的球面像差校正板。
根據(jù)本發(fā)明的第1形式，可以得到球面像差校正板19、19A，在由無限光學(xué)系統(tǒng)構(gòu)成的光讀取裝置中，由置于發(fā)散光中的斜面33a、35a彼此相互對峙的狀態(tài)下配置的2塊楔形板33、35構(gòu)成，2塊楔形板具有一定的折射率，至少可以朝與光軸垂直的方向相對地移動。
上述球面像差校正板19中，2塊楔形板在相互的斜面彼此接觸的狀態(tài)下移動。另外，上述球面像差校正板19A中，2塊楔形板在彼此最接近的情況下，相互的斜面彼此接觸，但是，在此以外的情況下，相互的斜面彼此處于分離的狀態(tài)。再者，2塊楔形板33、35，最好是其兩面涂有反射防止涂層。
根據(jù)本發(fā)明的第2形式，可以得到光讀取裝置，是至少備有半導(dǎo)體激光器13、光束分離器17、視準(zhǔn)透鏡21、物鏡27及光檢測器31的光讀取裝置，其特征是，具有插入半導(dǎo)體激光器與視準(zhǔn)透鏡之間的發(fā)散光中的球面像差校正板19、19A，該球面像差校正板對于光盤11的因盤厚度變化引起的球面像差進(jìn)行校正，并具有一定的折射率，球面像差校正板的有效板厚是可以調(diào)整的。
在上述光讀取裝置中，最好是，球面像差校正板19、19A由斜面33a、35a彼此相互對峙的狀態(tài)下配置的2塊楔形板33、35構(gòu)成，2塊楔形板具有一定的折射率，至少可以朝與光軸垂直的方向相對地移動。另外，最好是，2塊楔形板33、35，其兩面涂有反射防止涂層。光盤11是例如藍(lán)光(Blue-ray)盤。再者，希望球面像差校正板19、19A插入光束分離器17與所述視準(zhǔn)透鏡21之間。
根據(jù)本發(fā)明的第3形式，可以得到球面像差校正方法，是在至少備有半導(dǎo)體激光器13、光束分離器17、球面像差校正板19、19A、視準(zhǔn)透鏡21、物鏡27及光檢測器31的光讀取裝置中，對光盤11的盤厚度誤差引起的球面像差進(jìn)行校正的方法，其特征是，包括下述步驟檢測盤厚度；根據(jù)所檢測的盤厚度，改變配置在發(fā)散光中的球面像差校正板19、19A的有效板厚，使球面像差變?yōu)樽钚　?br> 在上述球面像差校正方法中，球面像差校正板19、19A由斜面33a、35a彼此相互對峙的狀態(tài)下配置的2塊楔形板33、35構(gòu)成，使改變球面像差校正板的有效板厚的步驟，可以是讓2塊楔形板至少朝與光軸垂直的方向相對地移動。
另外，上述符號是為了便于理解發(fā)明所標(biāo)注的符號，只不過是一個例子而已，當(dāng)然，本發(fā)明并不限于此。
本發(fā)明的球面像差校正板，由于由斜面彼此相互對峙的狀態(tài)下配置的2塊楔形板構(gòu)成，2塊楔形板具有一定的折射率，至少可以朝與光軸垂直的方向相對地移動。因此，通過讓2塊楔形板相對地移動，可以調(diào)整其有效板厚。在這里，所謂“有效薄厚”不一定是指物理的板厚，是指有效地作為折射率作用的板厚。根據(jù)光盤的盤厚度，通過改變該球面像差校正板的有效薄厚，調(diào)整物鏡的入射光平行度，由此，可以對光盤的盤厚度所產(chǎn)生的球面像差進(jìn)行校正，使其變?yōu)樽钚　?br>

圖1是表示采用本發(fā)明的球面像差校正板的光讀取裝置的光學(xué)系統(tǒng)的圖。
圖2是表示本發(fā)明第1實(shí)施例的球面像差校正板的概略構(gòu)成的各個狀態(tài)(形態(tài))的正面圖。
圖3是表示根據(jù)本發(fā)明第2實(shí)施例的球面像差校正板的概略構(gòu)成的各個狀態(tài)(形態(tài))的正面圖。
圖4是表示光盤的盤厚度與球面像差為最小的球面像差校正板的有效板厚的關(guān)系的一個例子的曲線圖。
圖5是曲線圖，表示未進(jìn)行球面像差校正和有球面像差校正的情況下，光盤的盤厚度與波像差的關(guān)系的模擬結(jié)果的一個例子。
具體實(shí)施例方式
以下，參照附圖，詳細(xì)說明本發(fā)明的實(shí)施例。
參照圖1，說明包含本發(fā)明一實(shí)施例的球面像差校正板的光讀取裝置。圖1是表示光讀取裝置的光學(xué)系統(tǒng)的圖。
圖示的光讀取裝置是進(jìn)行光盤(光學(xué)記錄媒體)11再生的裝置。圖示的光盤11是按盤厚度0.1±0.002mm的規(guī)格確定的藍(lán)光(Blue-ray)盤。
光讀取裝置是由無限光學(xué)系統(tǒng)構(gòu)成的光讀取裝置，包括半導(dǎo)體激光器(激光二極管)13、衍射光柵15、偏振光光束分離器17、本發(fā)明的球面像差校正板19、視準(zhǔn)透鏡21、立起的反射鏡(固定反射鏡)23、1/4波長板25、物鏡27、傳感器透鏡29以及光檢測器(光電二極管)31。在圖示的例子中，從半導(dǎo)體激光器13射出的激光的振動波長是405nm。另外，物鏡27的數(shù)值孔徑NA為0.85。至于球面像差校正板19的構(gòu)成及動作，容后敘述。
下面，說明圖1所示的光讀取裝置的簡要動作。從半導(dǎo)體激光器13射出的1束激光，利用衍射光柵15分離成3束激光，穿過偏振光光束分離器17。這些穿過偏振光光束分離器17的激光，穿過球面像差校正板19，由視準(zhǔn)透鏡21變成平行光。并且，如后述，嚴(yán)格講，從視準(zhǔn)透鏡21射出的光并非平行光，根據(jù)球面像差校正板19的有效板厚，既變成發(fā)散光，又變成收斂光。
由視準(zhǔn)透鏡21射出的平行光，由立起的反射鏡23的反射面反射，以直角彎曲，用1/4波長板25把直線偏振光變成圓形偏振光，通過物鏡27，朝光盤11的信號記錄面聚光(照射)。
來自光盤11的信號記錄面的反射光(返回的光)，通過物鏡27，由1/4波長板25把偏振光方向相對往路的偏振光方向彎曲90°，通過立起的反射鏡23的反射面的反射，以直角彎曲，通過視準(zhǔn)透鏡21及球面像差校正板19，由偏振光光束分離器17反射，最后通過傳感器透鏡29并由光檢測器31檢測。
在圖1所示的例子中，球面像差校正板19，以不改變光檢測器31的對焦位置的方式，插入偏振光光束分離器17與視準(zhǔn)透鏡21之間。但是，也不必限與此，球面像差校正板19也可以插入到半導(dǎo)體激光器13與視準(zhǔn)透鏡21之間的發(fā)散光束中。
其次，參照圖2，說明本發(fā)明第1實(shí)施例的球面像差校正板19的構(gòu)成。在圖2中，(a)表示光盤11的盤厚度大于規(guī)定厚度(0.1mm)的情況下的球面像差校正板19的狀態(tài)(形態(tài))，(b)表示光盤11的盤厚度為規(guī)定厚度(0.1mm)的情況下的球面像差校正板19的狀態(tài)(形態(tài))，(c)表示光盤11的盤厚度小于規(guī)定厚度(0.1mm)的情況下的球面像差校正板19的狀態(tài)(形態(tài))。
如圖2所示，球面像差校正板19由斜面33a、35a以彼此相互對峙的狀態(tài)配置的2塊楔形板33、35組成。2塊楔形板33、35具有一定的折射率。2塊楔形板33、35可以由例如玻璃制成。但是，并不限于玻璃，2塊楔形板33、35可以是對激光透明的、并有一定的折射率。
該2塊楔形板33、35，借助于圖中未示的驅(qū)動裝置，至少可以朝與光軸垂直的方向相對地移動。并且，在圖示的例子中，2塊楔形板33、35以相互的斜面33a、35a彼此接觸的狀態(tài)移動。2塊楔形板33、35的兩面上具有防止反射的涂層。
接著，說明圖2所示的球面像差校正板19的動作。首先，假設(shè)光盤11的盤厚度為規(guī)定的0.1mm(基準(zhǔn)的情況)。在這種情況下，如圖2(b)所示，球面像差校正板19不用驅(qū)動裝置驅(qū)動。因而，球面像差校正板19保持為規(guī)定(基準(zhǔn))的有效板厚。這時，由于從視準(zhǔn)透鏡21射出的光變成平行光，所以，平行光入射到物鏡27上。由此，能讓從物鏡27射出的光向光盤11的信號記錄面聚光(照射)。
接著，假設(shè)光盤11的盤厚度為大于規(guī)定的0.1mm的厚度。在這種情況下，如圖2(a)箭頭所示，借助于驅(qū)動裝置，讓球面像差校正板19向2塊楔形板33、35相互靠近的方向移動。因此，球面像差校正板19的有效板厚也變成大于基準(zhǔn)時(圖2(b))的厚度。這時，由于從視準(zhǔn)透鏡21射出的光變成發(fā)散光束，發(fā)散光束入射到物鏡27上。由此，能讓從物鏡27射出的光向光盤11的信號記錄面聚光(照射)。
最后，假設(shè)光盤11的盤厚度為小于規(guī)定的0.1mm的厚度。在這種情況下，如圖2(c)箭頭所示，借助于驅(qū)動裝置，讓球面像差校正板19向使2塊楔形板33、35相互離開的方向移動。因此，球面像差校正板19的有效板厚也變成小于基準(zhǔn)時(圖2(b))的厚度。這時，由于從視準(zhǔn)透鏡21射出的光變成收斂光，收斂光入射到物鏡27上。由此，能讓從物鏡27射出的光向光盤11的信號記錄面聚光(照射)。
于是，在本發(fā)明中，通過改變?nèi)肷涞轿镧R27上的光的平行度(在無限光學(xué)系統(tǒng)的情況下)，可賦予與光盤11的不同盤厚度所產(chǎn)生的球面像差相反的球面像差，抵消球面像差。換句話說，本發(fā)明屬于以往技術(shù)中所描述的第2種方法的范疇。
在圖2所示的例子中，通過驅(qū)動裝置，讓2塊楔形板33、35在以相互的斜面33a、35a彼此接觸的狀態(tài)下移動。但是，在該例子中，球面像差校正板19的有效板厚等于物理的板厚。但是，通過驅(qū)動裝置讓2塊楔形板33、35在以相互的斜面33a、35a彼此接觸的狀態(tài)下移動，實(shí)際上在大多情況下是困難的。
參照圖3，說明本發(fā)明第2實(shí)施形式的球面像差校正板19A的構(gòu)成。在圖3中，(a)表示光盤11的盤厚度大于規(guī)定厚度(0.1mm)的情況下的球面像差校正板19A的狀態(tài)(形態(tài))，(b)表示光盤11的盤厚度為規(guī)定厚度(0.1mm)的情況下(基準(zhǔn)情況下)的球面像差校正板19A的狀態(tài)(形態(tài))，(c)表示光盤11的盤厚度小于規(guī)定厚度(0.1mm)的情況下的球面像差校正板19A的狀態(tài)(形態(tài))。
在圖示的實(shí)施例中，球面像差校正板19A也是由2塊楔形板33、35組成。但是，與圖2所示有所不同，2塊楔形板33、35，通過圖中未示的驅(qū)動裝置只朝與光軸垂直的方向相對移動。換句話說，圖示的球面像差校正板19A除了驅(qū)動方法(驅(qū)動裝置)有所不同這一點(diǎn)外，與圖2所示的球面像差校正板19具有相同的構(gòu)成。從而，2塊楔形板33、35在相互最接近的情況下(圖3(a))，相互的斜面33a、35a彼此接觸，但是，在此以外的情況(圖3(b)、圖3(c))下，相互的斜面33a、35a處于彼此分離的狀態(tài)。這樣構(gòu)成的球面像差校正板19A，與圖2所示的球面像差校正板19相比，可以容易地構(gòu)成驅(qū)動裝置。并且，鑒于球面像差校正板19A的動作與圖2所示所示的球面像差校正板19相同，因此其說明省略。
圖示的球面像差校正板19A，與圖2所示的球面像差校正板19不同的是，對應(yīng)于光盤11的盤厚度，不是物理板厚，而是使有效板厚發(fā)生了變化。換言之，對于球面像差校正板19A來說，即使是2塊楔形板33、35相互分離(即使2塊楔形板33、35之間存在有間隙)，圖3(a)～圖3(c)分別與圖2(a)～圖2(c)的作為有效的折射率作用的板厚是相等。
此外，在圖2及圖3所示的球面像差校正板19、19A中，雖然讓2塊楔形板33、35朝彼此相反的方向移動，但是，也可以把一個固定，只讓另一個移動。
圖4示出了光盤11的盤厚度與球面像差為最小的球面像差校正板19(19A)的有效板厚的關(guān)系。換句話說，圖4示出了對于光盤11每一種盤厚度的最合適的球面像差校正板19(19A)的有效板厚的一個例子。圖4中，橫軸表示光盤11的盤厚度(mm)，縱軸表示球面像差校正板19(19A)的有效板厚(mm)。
從圖4可以看出，隨著光盤11盤厚度的變厚，球面像差校正板19(19A)的有效板厚也變厚。
其次，說明使球面像差校正板19(19A)的有效板厚對應(yīng)于光盤11的盤厚度變?yōu)樽罴押穸鹊姆椒ā?br> 這里，說明在圖1所示的光讀取裝置中，在光盤11上記錄信號(數(shù)據(jù))的情況。在這種情況下，開始在光盤11上記錄數(shù)據(jù)時，移動球面像差校正板19(19A)，檢測自行記錄再生抖動或交調(diào)失真(クロスト一ク)變?yōu)樽钚〉牟糠?，使球面像差校正?9(19A)的有效板厚成為最佳厚度。為此，預(yù)先移動球面像差校正板19(19A)，并在光盤11上進(jìn)行試驗(yàn)記錄，進(jìn)行再生及判斷。
此外，還可以采用下面要敘述的其他方法。即是說，當(dāng)球面像差增加時，一般來說，光盤11的信號記錄面上的激光束點(diǎn)的主環(huán)(一次リング)有增加的趨勢。因此，設(shè)置用其他途徑的傳感器(圖中未示)檢測該主環(huán)的增加量、并設(shè)置校正該主環(huán)的增加量的回路(圖中未示)，使球面像差校正板19(19A)的有效板厚成為最佳厚度。
下面，敘述移動球面像差校正板19(19A)的方法(驅(qū)動裝置)的一個例子。把構(gòu)成球面像差校正板19(19A)的2塊楔形板33、35的一方(或雙方)設(shè)置在架等上，把線圈纏繞在該架等上。另一方面，把磁鐵粘附在框體一側(cè)。通過讓電流流過架側(cè)的線圈，使球面像差校正板19(19A)移動。
另外，作為驅(qū)動方法(驅(qū)動裝置)的另一例子，也可以采用借助馬達(dá)等來驅(qū)動球面像差校正板19(19A)的方法。
圖5示出了光盤11的盤厚度與波像差的關(guān)系的一個例子。圖5中，橫軸表示光盤11盤厚度(mm)，縱軸表示波像差(mλ(rms))。圖5中，涂黑的菱形表示沒有進(jìn)行球面像差校正時的模擬結(jié)果，涂黑的四邊形表示有球面像差校正時的模擬結(jié)果。
在這里，通常情況下，在光學(xué)系統(tǒng)中，稱作像差的表示的是波像差。另外，波像差的成分在以下的敘述中是把賽德5像差進(jìn)行平方平均的值。通常，透鏡的像差分為5類，因?yàn)槭?850年代L·福恩·賽德發(fā)表的，所以稱作“賽德5像差”。5類是指像散、球面像差、像面彎曲、歪曲像差及慧型像差。例如，在賽德5像差中，當(dāng)球面像差變大時，當(dāng)然，波像差隨之變大。本發(fā)明是以校正因盤厚度產(chǎn)生的像差為目的的，而盤厚度產(chǎn)生的像差只是球面像差。并且，如上述，由于球面像差中包含在波像差中，所以，圖5中記載為波像差。
從圖5可以看出，在“沒有進(jìn)行球面像差校正”的情況下，雖然光盤11的盤厚度為規(guī)定的0.1mm時(基準(zhǔn)情況下)波像差(球面像差)為零，但是，當(dāng)光盤11的盤厚度比規(guī)定的0.1mm薄或厚時，波像差(球面像差)會急劇地變大。與之相比，可以看出，在“進(jìn)行球面像差校正”的情況下，光盤11的盤厚度為規(guī)定的0.1mm時(基準(zhǔn)情況下)，波像差(球面像差)為零，而且，即使在光盤11的盤厚度比規(guī)定的0.1mm薄或厚時，波像差(球面像差)也不太增大。
這樣，在本發(fā)明中，把球面像差校正板19(19A)插入光讀取裝置中，通過使其有效板厚為最佳板厚，可以降低因光盤11的盤厚度變化引起的波像差(球面像差)。
此外，關(guān)于光盤11的盤厚度，可以假設(shè)每種光盤不同的情況和每一塊光盤的位置(例如半徑位置)不同的情況。
在前者的情況下，檢測出該光盤的平均盤厚度，根據(jù)檢測到的結(jié)果，改變球面像差校正板19(19A)的有效板厚。
在后者的情況下，可以采用下述的兩種校正方法。第一種校正方法是，在記錄、再生之前，預(yù)先用光讀取裝置在半徑方向掃描(查找)光盤11，檢測出光盤11的每一半徑位置的盤厚度，把光盤的半徑位置作為地址，將該檢測結(jié)果存儲在存儲器(圖中未示)內(nèi)。然后，在實(shí)際記錄、再生時，把光盤11的實(shí)際半徑位置作為地址，訪問該存儲器，得到此時的盤厚度，根據(jù)所得到的盤厚度，改變球面像差校正板19(19A)的有效板厚。第二種校正方法是，實(shí)時檢測光讀取裝置查找位置的光盤的盤厚度，根據(jù)該檢測結(jié)果，實(shí)時改變球面像差校正板19(19A)的有效板厚。
這樣，在后者的情況下，能校正一塊光盤的少許盤厚度變化引起的球面像差。
另外，根據(jù)檢測出的光盤11的盤厚度，改變球面像差校正板19(19A)的有效板厚的情況下，可以采用例如下面的方法。把圖4所示的用于表示光盤盤厚度與球面像差為最小的球面像差校正板的有效板厚的關(guān)系的數(shù)據(jù)，預(yù)先將光盤的盤厚度作為地址存儲在ROM(圖中未示)中。實(shí)際進(jìn)行光盤11的記錄、再生時，通過訪問該ROM，求出此時最佳的球面像差校正板的有效板厚，根據(jù)所求得的有效板厚，調(diào)整實(shí)際的球面像差校正板的有效板厚。
進(jìn)一步，作為檢測光盤11的盤厚度的方法(手段)，可以采用各種方法。例如，這類檢測方法(手段)公開于特開2003-16660號公報(bào)、特開2003-22545號公報(bào)、特開2003-109239號公報(bào)等。
以上，雖然通過實(shí)施例舉例說明了本發(fā)明，但是，不言而喻，本發(fā)明并不限于上述的實(shí)施例。例如，在上述的實(shí)施例中，雖然說明了把本發(fā)明用于圖1所示的光讀取裝置的情況，但是，不用說，本發(fā)明當(dāng)然還適用于至少備有半導(dǎo)體激光器、光束分離器、視準(zhǔn)透鏡、物鏡及光檢測器的光讀取裝置中。
權(quán)利要求
1.一種球面像差校正板，在由無限光學(xué)系統(tǒng)構(gòu)成的光讀取裝置中，由置于發(fā)散光中的斜面彼此相互對峙的狀態(tài)下配置的2塊楔形板構(gòu)成，所述2塊楔形板具有一定的折射率，至少可以朝與光軸垂直的方向相對地移動。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的球面像差校正板，其特征是，所述2塊楔形板在相互的所述斜面彼此接觸的狀態(tài)下移動。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的球面像差校正板，其特征是，所述2塊楔形板在彼此最接近的情況下，相互的所述斜面彼此接觸，在此以外的情況下，相互的所述斜面彼此處于分離的狀態(tài)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1～3中任意一項(xiàng)所述的球面像差校正板，其特征是，所述2塊楔形板，其兩面涂有反射防止涂層。
5.一種光讀取裝置，是至少備有半導(dǎo)體激光器、光束分離器、視準(zhǔn)透鏡、物鏡及光檢測器的光讀取裝置，其特征是，具有插入所述半導(dǎo)體激光器與所述視準(zhǔn)透鏡之間的發(fā)散光中的球面像差校正板，該球面像差校正板對于光盤的因盤厚度變化引起的球面像差進(jìn)行校正，具有一定的折射率，所述球面像差校正板的有效板厚是可以調(diào)整的。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光讀取裝置，其特征是，所述球面像差校正板由斜面彼此相互對峙的狀態(tài)下配置的2塊楔形板構(gòu)成，所述2塊楔形板具有一定的折射率，至少可以朝與光軸垂直的方向相對地移動。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光讀取裝置，其特征是，所述2塊楔形板，其兩面涂有反射防止涂層。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光讀取裝置，其特征是，所述光盤是藍(lán)光(Blue-ray)盤。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光讀取裝置，其特征是，所述球面像差校正板插入所述光束分離器與所述視準(zhǔn)透鏡之間。
10.一種球面像差校正方法，是在至少備有半導(dǎo)體激光器、光束分離器、球面像差校正板、視準(zhǔn)透鏡、物鏡及光檢測器的光讀取裝置中，對光盤的盤厚度誤差引起的球面像差進(jìn)行校正的方法，其特征是，包括下述步驟檢測所述盤厚度；根據(jù)所檢測的盤厚度，改變配置在發(fā)散光中的所述球面像差校正板的有效板厚，使所述球面像差變?yōu)樽钚　?br> 11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的球面像差校正方法，其特征是，所述球面像差校正板由斜面彼此相互對峙的狀態(tài)下配置的2塊楔形板構(gòu)成，改變所述球面像差校正板的有效板厚的步驟，是讓所述2塊楔形板至少朝與光軸垂直的方向相對地移動的步驟。
全文摘要
本發(fā)明涉及球面像差校正板、使用該板的光讀取裝置及校正方法，特別涉及用于光盤驅(qū)動器的光讀取裝置的球面像差校正板。該校正板用于備有能高速訪問的調(diào)節(jié)器的光讀取裝置中，不僅不會增加慧差像差，而且還能校正球面像差。球面像差校正板(19)由斜面(33a、35a)以彼此相互對峙的狀態(tài)配置的2塊楔形板(33、35)構(gòu)成。2塊楔形板(33、35)具有一定的折射率，至少可以朝與光軸垂直的方向相對地移動。2塊楔形板(33、35)以相互的斜面33a、35a彼此接觸的狀態(tài)移動。取而代之，2塊楔形板雖然在彼此最接近的情況下，相互的斜面彼此接觸，但是，在此以外的情況下，相互的斜面也可以處于分離的狀態(tài)。
文檔編號G11B7/135GK1591624SQ20041006972
公開日2005年3月9日 申請日期2004年7月9日 優(yōu)先權(quán)日2003年8月27日
發(fā)明者菅健司 申請人:三美電機(jī)株式會社