專利名稱：光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測方法及裝置，特別是一種使用電流檢測的光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測方法及裝置。
背景技術(shù)：
目前現(xiàn)有光驅(qū)的研發(fā)，皆以到達(dá)非常成熟的階段，因此，目前光驅(qū)均面臨價格下降的問題，也因此光驅(qū)的生產(chǎn)廠商無不以節(jié)省成本(cost down)為目標(biāo)。而在節(jié)省成本的情況下，光驅(qū)所使用的許多技術(shù)或結(jié)構(gòu)反而造成光驅(qū)的品質(zhì)不良。
以光驅(qū)光學(xué)讀寫頭歸位的檢測技術(shù)來說，即是因節(jié)省成本而造成光驅(qū)光學(xué)讀寫頭在歸位時，容易產(chǎn)生誤判光學(xué)讀寫頭是否歸位、或讀碟時間過長，以及容易產(chǎn)生不必要電流的耗費(fèi)。因此，如何在節(jié)省成本與提高產(chǎn)品品質(zhì)的原則下，尋求一個方法以檢測光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位，即是本發(fā)明提出的目的。
為了節(jié)省成本而使用的光驅(qū)光學(xué)讀寫頭歸位的傳統(tǒng)檢測方法主要有兩種，一種是使用成本較低的極限開關(guān)去檢測光學(xué)讀寫頭歸位，另一種則是將極限開關(guān)去除，而改以軟件計(jì)時方式作為光學(xué)讀寫頭歸位的檢測。
請參考圖1，圖1是傳統(tǒng)的使用極限開關(guān)檢測光驅(qū)光學(xué)讀寫頭歸位的示意圖。在圖1中，極限開關(guān)110即設(shè)置在載具馬達(dá)120承載光學(xué)讀寫頭130歸位的位置上，因此當(dāng)載具馬達(dá)120承載光學(xué)讀寫頭抵達(dá)歸位的位置時，光學(xué)讀寫頭130會觸碰極限開關(guān)110，以代表光學(xué)讀寫頭130歸位。此種低成本的極限開關(guān)110容易損壞，而無法判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位。
至于將極限開關(guān)110去除的檢測光學(xué)讀寫頭是否歸位方法則是利用軟件以計(jì)時方式作為判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位。舉例來說，當(dāng)載具馬達(dá)120承載光學(xué)讀寫頭130移動時，光盤則使用軟件開始計(jì)時，通常為5秒，軟件計(jì)時5秒后即認(rèn)定光學(xué)讀寫頭130歸位。然而，載具馬達(dá)120承載光學(xué)讀寫頭130移動至歸位位置所耗費(fèi)的時間并非一定為5秒，而是根據(jù)光學(xué)讀寫頭130的所在位置，當(dāng)光學(xué)讀寫頭130離歸位位置越遠(yuǎn)則耗費(fèi)越多時間，反之則相反。因此，當(dāng)光學(xué)讀寫頭130越接近歸位位置且軟件卻又以5秒計(jì)時的時候，會出現(xiàn)載具馬達(dá)120已將光學(xué)讀寫頭130承載至歸位位置，但載具馬達(dá)120仍持續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)的情況。也因此，以軟件計(jì)時以判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位的方法常因光學(xué)讀寫頭130已抵達(dá)定位而載具馬達(dá)120仍繼續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)，而有不必要的電流支出，即不必要的電力支出。且，若將此以軟件計(jì)時以判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位的方法應(yīng)用在對于電力損耗相當(dāng)注重的掌上型光盤播放機(jī)時，是非常不妥的一件事。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測方法及裝置，可在節(jié)省成本以及提高產(chǎn)品品質(zhì)的情況下，有效檢測光學(xué)讀寫頭是否歸位。
本發(fā)明提供的光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測方法，包括檢測經(jīng)承載光學(xué)讀寫頭的一載具馬達(dá)的一電流，以判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位。
在本發(fā)明較佳實(shí)施例中，此方法還包括檢測電流的波形，以判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位。其中，設(shè)置一高度限制作為判斷，若電流的波形高于高度限制，則判斷光學(xué)讀寫頭歸位?；蛟O(shè)置一高度限制以及一時間限制，若電流的波形高于高度限制且延遲超過時間限制，則判斷光學(xué)讀寫頭歸位。
在本發(fā)明較佳實(shí)施例中，此方法亦可包括檢測電流于負(fù)載間的電壓差，以判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位。其中，設(shè)置一數(shù)值限制，若電壓差大于數(shù)值限制，則判斷光學(xué)讀寫頭歸位?；蛟O(shè)置一數(shù)值限制以及一時間限制，若電壓差大于數(shù)值限制且延遲超過時間限制，則判斷光學(xué)讀寫頭歸位。
本發(fā)明提供的光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測裝置，包括電流計(jì)以及控制單元。其中，電流計(jì)設(shè)置于承載光學(xué)讀寫頭的載具馬達(dá)的輸出路徑上，此電流計(jì)檢測載具馬達(dá)的輸出電流以輸出檢測結(jié)果信號。控制單元則接收檢測結(jié)果訊號，以判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位。
在本發(fā)明較佳實(shí)施例中，控制單元還包括有模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器以及數(shù)字信號處理裝置。其中，模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器，接收檢測結(jié)果信號以輸出數(shù)字信號。數(shù)字信號處理裝置接收數(shù)字信號以判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位。
本發(fā)明提供的另一種光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測裝置，包括有電壓計(jì)以及控制單元。其中，電壓計(jì)亦設(shè)置于承載光學(xué)讀寫頭的載具馬達(dá)的輸出路徑上，電壓計(jì)用以檢測載具馬達(dá)的輸出電壓以輸出檢測結(jié)果信號?？刂茊卧瑯咏邮諜z測結(jié)果訊號，以判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位。
在本發(fā)明較佳實(shí)施例中，此電壓計(jì)還包括負(fù)載、差動放大器。其中，負(fù)載為設(shè)置于輸出路徑上。差動放大器為接收負(fù)載兩端的信號以輸出檢測結(jié)果信號。
綜合上述，本發(fā)明提供一種光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測方法及裝置，藉由檢測流經(jīng)承載光學(xué)讀寫頭的載具馬達(dá)的電流，以判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位。
為了便于進(jìn)一步了解本發(fā)明的特征、目的及功能，下面結(jié)合附圖通過實(shí)例對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。


圖1是習(xí)知使用極限開關(guān)檢測光驅(qū)光學(xué)讀寫頭歸位的示意圖；圖2是光驅(qū)載具馬達(dá)運(yùn)動時的電流-時間示意圖；圖3是本發(fā)明較佳實(shí)施例的光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測裝置的電路示意圖；圖4是本發(fā)明檢測光學(xué)讀寫頭是否歸位的流程圖。
附圖標(biāo)記說明110極限開關(guān)；120、250載具馬達(dá)；130光學(xué)讀寫頭；200檢測裝置；210電壓計(jì)；215電阻；217電流；219差動放大器；220控制單元；230模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器；240數(shù)字信號處理單元；270檢測結(jié)果信號；281、283輸出信號；401～405步驟。
具體實(shí)施例方式
基于傳統(tǒng)以較低成本的極限開關(guān)判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位時，此較低成本的極限開關(guān)容易損壞，而造成無法判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位，而若以軟件計(jì)時的方式以作為光學(xué)讀寫頭歸位的判斷時，則容易造成光學(xué)讀寫頭于歸位過程中容易耗費(fèi)太多時間以及相對容易耗費(fèi)過多電力。因此，本發(fā)明考慮以檢測流經(jīng)承載光學(xué)讀寫頭的載具馬達(dá)的電流，以作為光學(xué)讀寫頭是否歸位的判斷。
其原因在于承載光學(xué)讀寫頭的載具馬達(dá)其在運(yùn)動時會受外界阻力(如靜磨差力、動磨差力等)而輸出大小不同的電流，以保持載具馬達(dá)的運(yùn)動。請參考圖2，圖2是光驅(qū)載具馬達(dá)運(yùn)動時的電流-時間示意圖。在圖1中，A為載具馬達(dá)正要起步時，載具馬達(dá)因欲克服起步時的靜磨差力所輸出的電流。B為載具馬達(dá)開始運(yùn)動時，載具馬達(dá)因欲克服運(yùn)動時的動摩差力所輸出的電流。C為載具馬達(dá)移動至無法繼續(xù)運(yùn)動的定位，也就是載具馬達(dá)承載光學(xué)讀寫頭歸位的位置時，載具馬達(dá)欲克服因外力無法轉(zhuǎn)動所輸出的電流。
由上述可知，當(dāng)載具馬達(dá)承載光學(xué)讀寫頭至定位時，載具馬達(dá)所輸出的電流與載具馬達(dá)于起步時以及與載具馬達(dá)于運(yùn)動時的電流相比，其電流波形皆不相同。且，載具馬達(dá)承載光學(xué)讀寫頭至定位時，其輸出的電流波形電平較高且延遲有較長的一段時間。
因此，本發(fā)明考慮以檢測流經(jīng)承載光學(xué)讀寫頭的載具馬達(dá)的電流，以作為光學(xué)讀寫頭是否歸位的判斷。
在一個實(shí)施例中，可使用例如電流計(jì)或電壓計(jì)以檢測流經(jīng)載具馬達(dá)的電流波形。請參考圖3，圖3是本發(fā)明較佳實(shí)施例的光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測裝置的電路示意圖。在圖2中，此檢測裝置200包括電壓計(jì)210以及控制單元220。其中，此電壓計(jì)210設(shè)置于載具馬達(dá)250對馬達(dá)驅(qū)動裝置260的電流輸出路徑上。
在本發(fā)明較佳實(shí)施例中，此電壓計(jì)210使用一電阻215作為負(fù)載并串接于此載具馬達(dá)250對馬達(dá)驅(qū)動裝置260的電流輸出路徑上，以藉由當(dāng)載具馬達(dá)250輸出的電流217流經(jīng)此電阻215時得到電阻215A、B端間的電壓差。此電壓計(jì)210還使用一差動放大器219接收電阻215A、B端的輸出信號281、283，以在電阻215A、B端產(chǎn)生電壓差時輸出檢測結(jié)果信號270。因此，當(dāng)載具馬達(dá)250輸出電流217時，即可通過電阻215、差動放大器219輸出檢測結(jié)果信號270，以得到電流217流經(jīng)電阻215時的電壓降。
根據(jù)電壓公式，電壓(V)＝電流(I)×電阻(R)，在電阻215值固定的情況下，電流217的大小可通過電流217流經(jīng)電阻215時的電壓降來表示。故，通過檢測結(jié)果信號270，控制單元220可以得知電流217其安培-時間波形圖的變化，也就是類似圖2的波形變化。
至于控制單元220，在本發(fā)明較佳實(shí)施例中則是采以數(shù)字處理方式判斷以及輸出判斷光學(xué)讀寫頭(未繪示)是否歸位的結(jié)果，因此，此控制單220可由一模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器230以及由一數(shù)字處理裝置240組成。其中，模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器230接收由電壓計(jì)210所輸出的檢測結(jié)果信號270以輸出數(shù)字信號275給數(shù)字信號處理裝置240。因此控制單元220可通過電壓計(jì)210所輸出的檢測結(jié)果信號270以得知載具馬達(dá)250輸出的電流217的安培-時間波形圖的變化。
請?jiān)賲⒖紙D4，圖4是本發(fā)明檢測光學(xué)讀寫頭是否歸位的流程圖。假設(shè)流程開始為步驟401、光學(xué)讀寫頭開始運(yùn)動為步驟402。當(dāng)光學(xué)讀寫頭開始運(yùn)動時，檢測裝置200即通過電壓計(jì)210(亦可使用電流計(jì))讀取電阻215A、B兩端的電壓降，以得到載具馬達(dá)250輸出的電流217其安培-時間波形圖的變化，此為步驟403。接著，根據(jù)電壓計(jì)210讀取電阻215A、B兩端電壓降所輸出的檢測結(jié)果信號270，控制單元220會判斷電阻215A、B兩端電壓降，是否大于一數(shù)值限制且在在大于數(shù)值限制的情況下是否延遲超過一時間限制，若是，也就是出現(xiàn)類似圖2中C的波形，控制單元220即判斷光學(xué)讀寫頭歸位，反之則判斷光學(xué)讀寫頭未歸位，此為步驟404。
而，在判斷光學(xué)讀寫頭歸位的情況下，控制單元220即輸出信號以控制停止載具馬達(dá)250停止轉(zhuǎn)動，此為步驟405。至于在判斷光學(xué)讀寫頭尚未歸位的情況下，檢測裝置200則繼續(xù)以電壓計(jì)210讀取電阻215A、B兩端的電壓降即重復(fù)進(jìn)行步驟403。
通過對承載光學(xué)讀寫頭的載具馬達(dá)作電流檢測，可實(shí)時判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位，并實(shí)時將載具馬達(dá)等停止，以有效節(jié)省不必要的電力支出。而電壓計(jì)(或電流計(jì))、控制單元的實(shí)際成本與低成本的極限開關(guān)相比，電壓計(jì)(或電流計(jì))、控制單元的實(shí)際成本反而較低。
綜合上述，本發(fā)明提供一種光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測方法及裝置，以檢測承載光學(xué)讀寫頭的載具馬達(dá)其電流的方式判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位，且除可有效判斷外，亦可維持在低成本支出。因此，本發(fā)明能夠在節(jié)省成本以及提高產(chǎn)品品質(zhì)的情況下，有效檢測光學(xué)讀寫頭是否歸位以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，不能以此限制本發(fā)明的范圍。因此，凡依本發(fā)明權(quán)利要求所做的均等變化及修飾，仍將不失本發(fā)明的要義所在，亦不脫離本發(fā)明的精神和范圍的，故都應(yīng)視為本發(fā)明的進(jìn)一步實(shí)施。
權(quán)利要求
1.一種光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測方法，包括檢測流經(jīng)承載該光學(xué)讀寫頭的載具馬達(dá)的電流，以判斷該光學(xué)讀寫頭是否歸位。
2.如權(quán)利要求1所述的光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測方法，還包括檢測該電流的波形，以判斷該光學(xué)讀寫頭是否歸位。
3.如權(quán)利要求2所述的光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測方法，還包括設(shè)置一高度限制，若該電流的波形高于該高度限制，則判斷該光學(xué)讀寫頭歸位。
4.如權(quán)利要求2所述的光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測方法，還包括設(shè)置一高度限制以及一時間限制，若該電流的波形高于該高度限制且延遲超過該時間限制，則判斷該光學(xué)讀寫頭歸位。
5.如權(quán)利要求1所述的光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測方法，還包括檢測該電流于一負(fù)載間的一電壓差，以判斷該光學(xué)讀寫頭是否歸位。
6.如權(quán)利要求5所述的光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測方法，還包括設(shè)置一數(shù)值限制，若該電壓差大于該數(shù)值限制，則判斷該光學(xué)讀寫頭歸位。
7.如權(quán)利要求5所述的光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測方法，還包括設(shè)置一數(shù)值限制以及一時間限制，若該電壓差大于該數(shù)值限制且延遲超過該時間限制，則判斷該光學(xué)讀寫頭歸位。
8.一種光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測裝置，包括一電流計(jì)，設(shè)置于承載該光學(xué)讀寫頭的載具馬達(dá)的一輸出路徑上，該電流計(jì)用以檢測該載具馬達(dá)的輸出電流，以輸出一檢測結(jié)果信號；一控制單元，接收該檢測結(jié)果訊號，以判斷該光學(xué)讀寫頭是否歸位。
9.如權(quán)利要求8所述的光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測裝置，其中該控制單元還包括一模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器，接收該檢測結(jié)果信號以輸出一數(shù)字信號；一數(shù)字信號處理裝置，接收該數(shù)字信號以判斷該光學(xué)讀寫頭是否歸位。
10.一種光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測裝置，包括一電壓計(jì)，設(shè)置于承載該光學(xué)讀寫頭的載具馬達(dá)的一輸出路徑上，該電壓計(jì)用以檢測該載具馬達(dá)的一輸出電壓以輸出一檢測結(jié)果信號；以及一控制單元，接收該檢測結(jié)果訊號，以判斷該光學(xué)讀寫頭是否歸位。
11.如權(quán)利要求10所述的光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測裝置，其中該電壓計(jì)還包括一負(fù)載，設(shè)置于該輸出路徑上；以及一差動放大器，接收該負(fù)載兩端的信號，以輸出該檢測結(jié)果信號。
12.如權(quán)利要求10所述的光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測裝置，其中該控制單元還包括一模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器，接收該檢測結(jié)果信號以輸出一數(shù)字信號；以及一數(shù)字信號處理裝置，接收該數(shù)字信號以判斷該光學(xué)讀寫頭是否歸位。
全文摘要
本發(fā)明是一種光驅(qū)的光學(xué)讀寫頭歸位的檢測方法，包括檢測流經(jīng)承載光學(xué)讀寫頭的載具馬達(dá)其電流，以判斷光學(xué)讀寫頭是否歸位；本發(fā)明可在節(jié)省成本以及提高產(chǎn)品品質(zhì)的情況下，有效檢測光學(xué)讀寫頭是否歸位。
文檔編號G11B21/12GK1755807SQ20041008020
公開日2006年4月5日 申請日期2004年9月27日 優(yōu)先權(quán)日2004年9月27日
發(fā)明者江明泉 申請人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司