專利名稱：補(bǔ)償光盤瑕疵的裝置與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光盤記錄/再現(xiàn)裝置，更具體地講，涉及光盤瑕疵補(bǔ)償裝置與當(dāng)生成瑕疵時(shí)改善伺服穩(wěn)定性的方法。
背景技術(shù)：
光盤記錄/再現(xiàn)裝置再現(xiàn)在各種類型的光盤上記錄的信息，例如密致盤(CD)、密致只讀存儲器(CD-ROM)、數(shù)字視頻盤(DVD)、CD-R、CD-RW、以及DVD-R，并且在光盤上記錄數(shù)據(jù)。光盤驅(qū)動裝置采用各種包含用于機(jī)械驅(qū)動控制的伺服控制，用來從光盤拾取RF信號。
根據(jù)使用非接觸光學(xué)讀寫頭檢測的反射光的強(qiáng)度，光盤記錄/再現(xiàn)裝置再現(xiàn)信號。因?yàn)楣獗P記錄/再現(xiàn)裝置使用非接觸光學(xué)讀寫頭，所以與諸如磁帶機(jī)等使用接觸讀寫頭的記錄/再現(xiàn)裝置相比，可以防止質(zhì)量退化，并且再現(xiàn)能力相對較強(qiáng)。
然而，例如當(dāng)不仔細(xì)地處理光盤和/或光盤未保存在盒中時(shí)，盤片表面容易損壞。典型的光盤瑕疵包含在光盤表面的擦傷或者積塵，以及當(dāng)在光盤制造過程中遺漏區(qū)域(zone)時(shí)發(fā)生的中斷。
通過使再現(xiàn)所必須的伺服信號失效，此類瑕疵使再現(xiàn)的信號被畸變或者省略，并且甚至使之無法再現(xiàn)信號。在這種情況下，每當(dāng)檢測到特定瑕疵時(shí)光再現(xiàn)裝置保持伺服信號，并且當(dāng)瑕疵區(qū)域結(jié)束時(shí)再次生成伺服信號。
現(xiàn)在參照圖1描述現(xiàn)有的瑕疵補(bǔ)償方法。
模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)110將在盤片上生成的模擬尋道誤差信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字尋道誤差信號。高頻分量補(bǔ)償器130補(bǔ)償尋道誤差信號高頻分量的相位與增益。防失真濾波器160進(jìn)行由ADC110生成的尋道誤差信號的防失真處理。低頻分量補(bǔ)償器170補(bǔ)償防失真后的尋道誤差信號低頻分量的相位與增益。加法器140將從高頻分量補(bǔ)償器130輸出的尋道誤差信號與從低頻分量補(bǔ)償器170輸出的尋道誤差信號相加，并且將積分信號轉(zhuǎn)換為尋道驅(qū)動信號。數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)150將尋道驅(qū)動信號轉(zhuǎn)換為模擬驅(qū)動信號，并且輸出該模擬驅(qū)動信號。當(dāng)檢測到其中RF和信號下降低于指定電平的瑕疵區(qū)域時(shí)，瑕疵標(biāo)志被變?yōu)檫壿嫺郀顟B(tài)，并且開關(guān)120的觸點(diǎn)3連接到觸點(diǎn)2。因此，保持濾波器180抽取通過防失真濾波器160的尋道誤差信號的DC分量。寄存器190存儲由保持濾波器180抽取的DC分量。當(dāng)由于瑕疵檢測而將瑕疵標(biāo)志變?yōu)檫壿嫺郀顟B(tài)時(shí)，通過將在寄存器190存儲的DC分量輸入高頻分量補(bǔ)償器130，在瑕疵區(qū)域內(nèi)保持伺服。然而，在由于瑕疵檢測而將瑕疵標(biāo)志變?yōu)檫壿嫺郀顟B(tài)的時(shí)間點(diǎn)上，因?yàn)橐呀?jīng)在尋道誤差信號中存在誤差分量，所以伺服不穩(wěn)定。因此，因?yàn)楸P片瑕疵已經(jīng)被反映在存儲在寄存器190中的DC分量中，所以如果將該DC分量用于伺服保持，則不僅在瑕疵區(qū)域內(nèi)，而且在瑕疵區(qū)域結(jié)束之后，伺服會變得不穩(wěn)定。
圖2顯示其中RF和信號下降低于指定電平的瑕疵區(qū)域的波形。參照圖2，在由于感測到瑕疵區(qū)域而保持之后再次接通尋道伺服的時(shí)間點(diǎn)上的波形中，尋道誤差(TE)信號與尋道驅(qū)動信號(TRO)非常不穩(wěn)定。即，因?yàn)樵诟袦y到瑕疵區(qū)域的時(shí)間點(diǎn)上誤差分量已經(jīng)存在于TE信號中，所以當(dāng)通過瑕疵區(qū)域時(shí)由于誤差分量的影響輸出信號更加不穩(wěn)定。因此，只利用現(xiàn)有的伺服保持算法，就無法補(bǔ)償在瑕疵區(qū)域起始處的伺服不穩(wěn)定，以及當(dāng)瑕疵區(qū)域結(jié)束時(shí)升高了的不穩(wěn)定性。如果當(dāng)伺服保持結(jié)束時(shí)TRO信號變得非常不穩(wěn)定，則光焦點(diǎn)可以從當(dāng)前道偏離到臨近道。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施方式提供了一種光盤瑕疵補(bǔ)償裝置與方法，通過該裝置與方法，可以通過在瑕疵開始的時(shí)間點(diǎn)上采樣尋道誤差信號的不穩(wěn)定性并且輸出與尋道誤差信號相位相反的尋道驅(qū)動信號，抵消尋道誤差信號的不穩(wěn)定性。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種補(bǔ)償光盤瑕疵的方法，包含以下步驟根據(jù)從光盤讀取的RF和信號電平，檢測盤片瑕疵區(qū)域；反轉(zhuǎn)在從瑕疵區(qū)域開始處的第一指定時(shí)間內(nèi)生成的尋道誤差信號的相位；以及通過對于第二指定時(shí)間將反轉(zhuǎn)后的尋道誤差信號的分量加到尋道驅(qū)動信號，保持尋道伺服控制。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種光記錄/再現(xiàn)裝置，包含光拾取部件，用來將在盤片上記錄的、光學(xué)檢測的信息轉(zhuǎn)換為RF電信號；RF放大器，用來通過放大從光拾取部件輸出的RF信號，生成聚焦誤差信號與尋道誤差信號；以及伺服信號處理單元，用來通過補(bǔ)償由RF放大器生成的尋道誤差信號的增益與相位、在從瑕疵區(qū)域開始處的指定時(shí)間內(nèi)將尋道誤差信號的相位反轉(zhuǎn)、以及將相位反轉(zhuǎn)后的尋道誤差信號加到尋道驅(qū)動信號，來輸出尋道驅(qū)動信號。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種再現(xiàn)裝置，包含光拾取部件，用來將在盤片上記錄的、光學(xué)檢測的信息轉(zhuǎn)換為RF電信號；RF放大器，用來通過放大從光拾取部件輸出的RF信號，生成聚焦誤差信號與尋道誤差信號；以及伺服信號處理單元，用來通過補(bǔ)償由RF放大器生成的尋道誤差信號的增益與相位、在從瑕疵區(qū)域開始處的指定時(shí)間內(nèi)將尋道誤差信號的相位反轉(zhuǎn)、以及將相位反轉(zhuǎn)后的尋道誤差信號加到尋道驅(qū)動信號，來輸出尋道驅(qū)動信號。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種提高伺服穩(wěn)定性的方法，包含以下步驟采樣當(dāng)瑕疵開始時(shí)的尋道誤差信號的不穩(wěn)定性；輸出與采樣的尋道誤差信號的相位相反的尋道驅(qū)動信號；以及通過將僅其相位被反轉(zhuǎn)的高頻信號加到補(bǔ)償后的尋道驅(qū)動信號，消除在瑕疵區(qū)域結(jié)束之后生成的DC偏移。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種補(bǔ)償尋道誤差(TE)信號的不穩(wěn)定性的方法，包含以下步驟采樣TE信號值；反轉(zhuǎn)TE信號的相位以產(chǎn)生相位反轉(zhuǎn)后的TE信號；以及在盤片瑕疵區(qū)域中的尋道期間，將相位反轉(zhuǎn)后的TE信號用作補(bǔ)償后的尋道驅(qū)動信號(TRD)的至少一部分。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了提高伺服穩(wěn)定性的方法，包含以下步驟采樣TE信號值；反轉(zhuǎn)TE信號的相位以產(chǎn)生相位反轉(zhuǎn)后的TE信號；以及在盤片瑕疵區(qū)域中的尋道期間，將相位反轉(zhuǎn)后的TE信號用作補(bǔ)償后的尋道驅(qū)動信號(TRD)的至少一部分。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種消除緊接在瑕疵區(qū)域尾部之后生成的DC偏移的方法，包含以下步驟反轉(zhuǎn)高頻信號的相位，以產(chǎn)生相位反轉(zhuǎn)后的高頻信號；以及將相位反轉(zhuǎn)后的高頻信號加到補(bǔ)償后的尋道驅(qū)動信號(TRD)。
本發(fā)明的附加的和/或其他方面與優(yōu)點(diǎn)將部分地在以下描述中列出，其余部分將可以從該描述中明顯看出，或者可以通過對本發(fā)明的實(shí)踐得知。


本發(fā)明的這些和/或其他方面與優(yōu)點(diǎn)將從以下參照附圖的描述中明顯看出，其中圖1為現(xiàn)有盤片瑕疵補(bǔ)償裝置的方框圖；圖2為顯示光盤瑕疵區(qū)域中信號波形圖示；圖3為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的方框圖；圖4為圖3所示的伺服信號處理單元的方框圖；圖5顯示圖3所示類型的瑕疵補(bǔ)償器的信號轉(zhuǎn)換方法；圖6為補(bǔ)償尋道誤差信號不穩(wěn)定性的時(shí)序圖。
具體實(shí)施例方式
現(xiàn)在詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施方式，在附圖中顯示了其例子，其中類似的標(biāo)號表示類似的元件。以下通過參照附圖描述實(shí)施方式，以解釋本發(fā)明。
圖3為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的方框圖。
由控制尋道伺服的尋道致動器(未顯示)以及控制聚焦伺服的聚焦致動器(未顯示)驅(qū)動的光拾取部件330，光學(xué)地檢測在盤片310上記錄的信息，并且將該信息轉(zhuǎn)換為RF電信號。
RF放大器340放大從光拾取部件330輸出的RF信號。此處，RF放大器340利用內(nèi)置的FE檢測電路(未顯示)與內(nèi)置的TE檢測電路(未顯示)，根據(jù)放大后的RF信號，生成聚焦誤差(FE)信號與尋道誤差(TE)信號。
包含聚焦伺服控制環(huán)路(未顯示)以及尋道伺服控制環(huán)路(未顯示)的伺服信號處理單元350，利用由RF放大器340生成的FE信號與TE信號的增益與相位，輸出補(bǔ)償后的聚焦驅(qū)動(FOD)信號與補(bǔ)償后的尋道驅(qū)動(TRD)信號。具體地講，伺服信號處理單元350將在從盤片瑕疵區(qū)域開始處開始的指定時(shí)間內(nèi)生成的TE信號的相位反轉(zhuǎn)，并且對指定的時(shí)間將反轉(zhuǎn)后的TE信號分量與TRD信號相加。
通過分別使用從伺服信號處理單元350輸出的FOD信號與TRD信號，驅(qū)動單元380驅(qū)動盤片馬達(dá)320以及包含在光拾取部件330中的聚焦與尋道致動器。
盤片馬達(dá)320利用從驅(qū)動單元380輸出的盤片驅(qū)動信號，根據(jù)恒定線速度(CLV)方法或者恒定角速度(CAV)方法旋轉(zhuǎn)盤片310。
圖4為圖3所示的伺服信號處理單元350的方框圖，用來補(bǔ)償光盤片的瑕疵。
參照圖4，ADC 410將模擬TE信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字TE信號。
高頻分量補(bǔ)償器430補(bǔ)償從ADC 410輸出的高頻分量的相位與增益。
防失真濾波器424進(jìn)行數(shù)字TE信號的防失真處理。
低頻分量補(bǔ)償器426補(bǔ)償防失真處理后的低頻分量的相位與增益。
根據(jù)瑕疵標(biāo)志信號，開關(guān)單元420選擇性地輸出從盤片檢測的TE信號或者存儲在寄存器470中的DC分量。即，在正常操作中，開關(guān)單元420將觸點(diǎn)3連接到觸點(diǎn)1，并且如果瑕疵標(biāo)志變?yōu)檫壿嫺郀顟B(tài)，則開關(guān)單元420將觸點(diǎn)3連接到觸點(diǎn)2。
瑕疵補(bǔ)償器440將在從瑕疵區(qū)域開始處開始的指定期間生成的TE信號的相位反轉(zhuǎn)。即，對于指定時(shí)間，瑕疵補(bǔ)償器440可以通過只反轉(zhuǎn)不穩(wěn)定TE信號采樣值的最高有效位(MSB)，生成只有相位被反轉(zhuǎn)的信號，而不管TE信號的方向是“+”還是“-”。更具體地講，如果當(dāng)長度為1-2mm的瑕疵區(qū)域以高倍速開始時(shí)不穩(wěn)定頻率為大約30-40kHz，則有大約4-8個(gè)采樣值被轉(zhuǎn)換為數(shù)字值，并且輸入到高頻分量補(bǔ)償器430。比特反轉(zhuǎn)器442只反轉(zhuǎn)采樣值的MSB。寄存器單元444通過將從高頻分量補(bǔ)償器430輸出的采樣值與采樣時(shí)鐘同步，依次存儲這些采樣值。寄存器的數(shù)目倚賴于采樣值的數(shù)目。如果瑕疵標(biāo)志為邏輯高狀態(tài)，則積分器446積分在寄存器單元444中存儲的多個(gè)采樣值。增益調(diào)整器448調(diào)整在積分器446中積分的信號的增益。
根據(jù)瑕疵標(biāo)志信號，選擇器450選擇性地輸出從高頻分量補(bǔ)償器430輸出的信號或者從瑕疵補(bǔ)償器440輸出的信號。例如，當(dāng)正常再現(xiàn)盤片時(shí)，選擇路徑①，而在從盤片瑕疵標(biāo)志變?yōu)檫壿嫺郀顟B(tài)開始的指定時(shí)間內(nèi)，選擇路徑②。
保持濾波器490從通過防失真濾波器424輸出的TE信號中抽取DC分量。寄存器492存儲由保持濾波器490抽取的DC分量。當(dāng)由于檢測到瑕疵而使瑕疵標(biāo)志處于邏輯高狀態(tài)時(shí)，在瑕疵區(qū)域內(nèi)，通過將在寄存器492中存儲的TE信號的DC分量輸入高頻分量補(bǔ)償器430，保持伺服。
加法器460將從選擇器450輸出的TE信號與從低頻分量補(bǔ)償器426輸出的TE信號相加。
DAC 470將從加法器460輸出的TE信號轉(zhuǎn)換為模擬TRD信號。
圖5顯示圖4的瑕疵補(bǔ)償器440的信號轉(zhuǎn)換方法。
參照圖5，如果假定采樣值用12比特表示，則通過將12比特的MSB從“0”變?yōu)椤?”并且原樣保持其他比特，在圖4的寄存器492中存儲采樣值。
現(xiàn)在參照圖6所示的波形描述補(bǔ)償TE信號不穩(wěn)定性的方法。
當(dāng)再現(xiàn)光盤時(shí)，如果RF和信號下降低于指定電平，則該區(qū)域被檢測為瑕疵區(qū)域。在瑕疵區(qū)域開始的時(shí)間點(diǎn)上，將176.4kHz TE信號的值采樣不穩(wěn)定性605輸入圖4的高頻分量補(bǔ)償器430。(如果未檢測到盤片瑕疵區(qū)域，則將從圖4的高頻分量補(bǔ)償器430輸出的TRD信號原樣輸入圖4的加法器460。)在從瑕疵標(biāo)志DECT由于檢測到盤片瑕疵區(qū)域變?yōu)檫壿嫺郀顟B(tài)開始的指定時(shí)間內(nèi)，TE信號的相位被反轉(zhuǎn)，并且相位反轉(zhuǎn)后的TE信號被生成作為TRD信號。因此，在瑕疵區(qū)域內(nèi)，TRD信號包含相位反轉(zhuǎn)后的信號620以及伺服保持DC電壓630。即，本實(shí)施方式利用現(xiàn)有的伺服保持算法，但是通過當(dāng)瑕疵標(biāo)志處于邏輯高狀態(tài)時(shí)只反轉(zhuǎn)圖4的高頻分量補(bǔ)償器430的輸出相位，來補(bǔ)償伺服誤差的不穩(wěn)定性。
根據(jù)本發(fā)明的以上描述的實(shí)施方式，通過在瑕疵區(qū)域開始處利用反轉(zhuǎn)器補(bǔ)償TE信號的不穩(wěn)定性，可以提供伺服穩(wěn)定性。另外，對于從瑕疵標(biāo)志變?yōu)檫壿嫺郀顟B(tài)時(shí)間點(diǎn)開始的指定時(shí)間內(nèi)，通過簡單地向現(xiàn)有硬件只加寄存器與控制邏輯，可以補(bǔ)償伺服誤差的不穩(wěn)定性。另外，通過向TRD信號加僅其相位被反轉(zhuǎn)的高頻信號，可以消除緊接瑕疵區(qū)域尾部之后生成的DC偏移。
雖然已經(jīng)描述并顯示了本發(fā)明的實(shí)施方式，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該理解在脫離范圍由權(quán)利要求限定的本發(fā)明的原理與精神的前提下，可以對這些實(shí)施方式進(jìn)行各種修改。
權(quán)利要求
1.一種補(bǔ)償光盤瑕疵的方法，包含以下步驟根據(jù)從光盤讀取的RF和信號電平，檢測盤片瑕疵區(qū)域；反轉(zhuǎn)在從瑕疵區(qū)域開始處的第一指定時(shí)間內(nèi)生成的尋道誤差信號的相位；以及通過對于第二指定時(shí)間將反轉(zhuǎn)后的尋道誤差信號的分量加到尋道驅(qū)動信號，保持尋道伺服控制。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述反轉(zhuǎn)包含采樣在從瑕疵區(qū)域開始處的預(yù)定時(shí)間內(nèi)生成的尋道誤差信號；反轉(zhuǎn)采樣值的最高有效位；積分包含反轉(zhuǎn)后的最高有效位的采樣值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述反轉(zhuǎn)包含在從瑕疵標(biāo)志變?yōu)檫壿嫺郀顟B(tài)的時(shí)間點(diǎn)開始的指定時(shí)間內(nèi)，反轉(zhuǎn)高頻分量被補(bǔ)償?shù)膶さ勒`差信號的相位。
4.一種光記錄/再現(xiàn)裝置，包含光拾取部件，用來將在盤片上記錄的、光學(xué)檢測的信息轉(zhuǎn)換為RF電信號；RF放大器，用來通過放大從光拾取部件輸出的RF信號，生成聚焦誤差信號與尋道誤差信號；以及伺服信號處理單元，用來通過補(bǔ)償由RF放大器生成的尋道誤差信號的增益與相位、在從瑕疵區(qū)域開始處的指定時(shí)間內(nèi)將尋道誤差信號的相位反轉(zhuǎn)、以及將相位反轉(zhuǎn)后的尋道誤差信號加到尋道驅(qū)動信號，來輸出尋道驅(qū)動信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其中所述伺服信號處理單元包含高頻分量補(bǔ)償器，用來補(bǔ)償尋道誤差信號高頻分量的相位與增益；低頻分量補(bǔ)償器，用來補(bǔ)償尋道誤差信號低頻分量的相位與增益；瑕疵補(bǔ)償器，用來在從瑕疵區(qū)域開始處的指定時(shí)間內(nèi)將從高頻分量補(bǔ)償器輸出的尋道誤差信號的相位反轉(zhuǎn)；選擇器，用來根據(jù)當(dāng)檢測到瑕疵時(shí)的瑕疵標(biāo)志信號，選擇性地輸出從高頻分量補(bǔ)償器輸出的信號或者從瑕疵補(bǔ)償器輸出的信號；以及加法器，用來將由低頻分量補(bǔ)償器補(bǔ)償?shù)牡皖l尋道誤差信號與由選擇器選擇的高頻尋道誤差信號相加，并且輸出結(jié)果作為尋道驅(qū)動信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其中光拾取部件包含由尋道致動器驅(qū)動的尋道伺服部件，以及由聚焦致動器驅(qū)動的聚焦伺服部件。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，還包含驅(qū)動單元，其利用從伺服信號處理單元輸出的尋道驅(qū)動信號，驅(qū)動聚焦致動器與尋道致動器。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，還包含驅(qū)動單元，其驅(qū)動旋轉(zhuǎn)盤片的盤片馬達(dá)。
9.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其中RF放大器包含內(nèi)置的聚焦誤差檢測電路以及內(nèi)置的尋道誤差檢測電路，其分別生成聚焦誤差信號與尋道誤差信號。
10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其中瑕疵補(bǔ)償器包含比特反轉(zhuǎn)器，用來反轉(zhuǎn)從高頻分量補(bǔ)償器輸出的采樣值的最高有效位；寄存器單元，用來依次存儲包含從比特反轉(zhuǎn)器輸出的反轉(zhuǎn)后的最高有效位的采樣值；積分器，用來當(dāng)瑕疵標(biāo)志處于邏輯高狀態(tài)時(shí)積分在寄存器單元中存儲的采樣值；增益調(diào)節(jié)器，用來調(diào)節(jié)由積分器積分的信號的增益。
11.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其中尋道誤差信號為數(shù)字的，并且該裝置還包含模數(shù)轉(zhuǎn)換器，用來將模擬尋道誤差信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字尋道誤差信號。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的裝置，還包含防失真濾波器，用來對數(shù)字尋道誤差信號進(jìn)行防失真處理。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的裝置，還包含保持濾波器，用來從經(jīng)過防失真處理的尋道誤差信號中抽取DC分量；寄存器，用來存儲DC分量；以及開關(guān)單元，用來根據(jù)瑕疵標(biāo)志信號，選擇性地輸出從盤片檢測到的尋道誤差信號或者存儲在寄存器中的DC分量。
14.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，還包含數(shù)模轉(zhuǎn)換器，用來將由加法器輸出的尋道驅(qū)動信號轉(zhuǎn)換為模擬尋道驅(qū)動信號。
15.一種再現(xiàn)裝置，包含光拾取部件，用來將在盤片上記錄的、光學(xué)檢測的信息轉(zhuǎn)換為RF電信號；RF放大器，用來通過放大從光拾取部件輸出的RF信號，生成聚焦誤差信號與尋道誤差信號；以及伺服信號處理單元，用來通過補(bǔ)償由RF放大器生成的尋道誤差信號的增益與相位、在從瑕疵區(qū)域開始處的指定時(shí)間內(nèi)將尋道誤差信號的相位反轉(zhuǎn)、以及將相位反轉(zhuǎn)后的尋道誤差信號加到尋道驅(qū)動信號，來輸出尋道驅(qū)動信號。
16.一種提高伺服穩(wěn)定性的方法，包含以下步驟采樣當(dāng)瑕疵開始時(shí)的尋道誤差信號的不穩(wěn)定性；輸出與采樣的尋道誤差信號的相位相反的尋道驅(qū)動信號；以及通過將僅其相位被反轉(zhuǎn)的高頻信號加到補(bǔ)償后的尋道驅(qū)動信號，消除在瑕疵區(qū)域結(jié)束之后生成的DC偏移。
17.一種補(bǔ)償尋道誤差(TE)信號的不穩(wěn)定性的方法，包含以下步驟采樣TE信號值；反轉(zhuǎn)TE信號的相位以產(chǎn)生相位反轉(zhuǎn)后的TE信號；以及在盤片瑕疵區(qū)域中的尋道期間，將相位反轉(zhuǎn)后的TE信號用作補(bǔ)償后的尋道驅(qū)動信號(TRD)的至少一部分。
18.一種提高伺服穩(wěn)定性的方法，包含以下步驟采樣TE信號值；反轉(zhuǎn)TE信號的相位以產(chǎn)生相位反轉(zhuǎn)后的TE信號；以及在盤片瑕疵區(qū)域中的尋道期間，將相位反轉(zhuǎn)后的TE信號用作補(bǔ)償后的尋道驅(qū)動信號(TRD)的至少一部分。
19一種消除緊接在瑕疵區(qū)域尾部之后生成的DC偏移的方法，包含以下步驟反轉(zhuǎn)高頻信號的相位，以產(chǎn)生相位反轉(zhuǎn)后的高頻信號；以及將相位反轉(zhuǎn)后的高頻信號加到補(bǔ)償后的尋道驅(qū)動信號(TRD)。
全文摘要
一種補(bǔ)償光盤瑕疵的裝置與方法。所述方法包含以下步驟根據(jù)從光盤讀取的RF和信號電平，檢測盤片瑕疵區(qū)域；反轉(zhuǎn)在從瑕疵區(qū)域開始處的第一指定時(shí)間內(nèi)生成的尋道誤差信號的相位；以及通過對于第二指定時(shí)間將反轉(zhuǎn)后的尋道誤差信號的分量加到尋道驅(qū)動信號，保持尋道伺服控制。
文檔編號G11B5/09GK1652223SQ20041009824
公開日2005年8月10日 申請日期2004年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2004年2月5日
發(fā)明者金升撤, 千官浩 申請人:三星電子株式會社