專利名稱：光學記錄媒介、管理其缺陷區(qū)的方法、其記錄方法及其記錄/再現(xiàn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種管理可以高速記錄的光學記錄媒介的缺陷區(qū)的方法，其記錄/再現(xiàn)方法，及其記錄/再現(xiàn)裝置。
背景技術(shù)：
最近，期望開發(fā)和營銷能存儲大容量高清晰度視頻數(shù)據(jù)和高聲音品質(zhì)音頻數(shù)據(jù)的例如光盤的新高密度光學記錄媒介，例如可重寫藍光盤(BD-RE)。
如圖所示1的BD-RE被劃分以向其分配引入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和引出區(qū)。以及，內(nèi)備用區(qū)(ISA)和外備用區(qū)(OSA)分別被分配給數(shù)據(jù)區(qū)的前端和后端。
BD-RE按與預定記錄單元相對應(yīng)的簇單元在其上記錄數(shù)據(jù)。由于可重寫光盤的特性，BD-RE能重復地在特定區(qū)域中記錄數(shù)據(jù)。因此在這種情況下，能在記錄數(shù)據(jù)期間檢測數(shù)據(jù)區(qū)上是否存在如圖1所示的缺陷區(qū)。在檢測到缺陷區(qū)的情況下，用于缺陷區(qū)的位置信息(地址-A，地址-B)和通過將記錄于備用區(qū)中的另一位置信息(地址-a，地址-b)替換作為管理信息被記錄并存儲于引入?yún)^(qū)內(nèi)的缺陷管理區(qū)(DMA)的缺陷列表(DFL)中，并且對把應(yīng)當記錄于相應(yīng)缺陷區(qū)中的數(shù)據(jù)執(zhí)行替換記錄實現(xiàn)在例如內(nèi)備用區(qū)(ISA)的備用區(qū)上的一系列替換記錄操作。
當前，高速(至少2x-速度)可記錄BD-RE和高速可記錄BD-WO(藍光單次寫入盤)的標準正在討論中。并且，在盤的RPM、最佳寫入功率、寫入脈沖等方面，高速可記錄盤與1x-速度可記錄盤相當不同。
此外，一般，高速記錄區(qū)域產(chǎn)生比低速記錄(例如，1x-速度記錄)更多的缺陷區(qū)。這種缺陷區(qū)降低了相應(yīng)盤的整體性能并導致相應(yīng)系統(tǒng)的超負荷。
在當前討論的高速可記錄BD-RE或BD-WO的情況下，用于缺陷區(qū)的有效管理方案嚴重地需要應(yīng)對高速度。并且，該有效管理方案應(yīng)提供作為特定信息以確?；ヒ椎募嫒菪?。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明針對一種管理高速可記錄光盤的缺陷區(qū)的方法、其記錄/再現(xiàn)方法及其記錄再現(xiàn)裝置，它們基本消除了由于相關(guān)技術(shù)的限制和缺陷引起的一個或多個問題。
本發(fā)明的目的在于提供一種通過應(yīng)對高速的特定信息管理缺陷區(qū)的新方法，通過這種方法有效地記錄和管理用于缺陷區(qū)的信息并且通過這種方法通過新缺陷區(qū)管理方案有效地進行光盤的記錄/再現(xiàn)。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種應(yīng)對記錄速度的新缺陷區(qū)管理方案，通過該方案根據(jù)特定方法在盤內(nèi)管理區(qū)上進行缺陷區(qū)信息的管理以提供盤之間的互易兼容。
本發(fā)明的又一目的在于提供一種使用缺陷區(qū)管理方案的記錄/再現(xiàn)方法及其裝置。
本發(fā)明的其它優(yōu)點、目的和特點將部分在以下描述中闡述且部分將通過以下內(nèi)容的審查或者通過本發(fā)明的實施而得知對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員顯而易見。本發(fā)明的目的和其它優(yōu)點將通過以下描述及其權(quán)利要求書以及附圖中特別指出的結(jié)構(gòu)得以實現(xiàn)和獲得。
為了實現(xiàn)這些目的和其它優(yōu)點且根據(jù)本發(fā)明的用途，如這里體現(xiàn)和廣泛描述的，在具備用于高速可記錄盤內(nèi)的缺陷管理的缺陷管理區(qū)的光盤中，一種根據(jù)本發(fā)明的管理光學記錄媒介中的缺陷區(qū)的方法，包括以下步驟檢查在第二記錄速度下是否發(fā)現(xiàn)缺陷區(qū)，在第一記錄速度下是否發(fā)現(xiàn)所述缺陷區(qū)，所述第二記錄速度低于所述第一記錄速度；以及基于檢查步驟確定是否用替換區(qū)替代所述缺陷區(qū)。
在本發(fā)明的另一方面中，一種管理光學記錄媒介的缺陷區(qū)的方法，包括以下步驟記錄第一條目，它包括在第一記錄速度下被判定為缺陷區(qū)而在第二速度下被判定為非缺陷區(qū)的第一區(qū)域的第一位置信息，所述第二速度低于所述第一速度；以及記錄第二條目，它包括在第一速度和第二速度下都被判定為缺陷區(qū)的第二區(qū)域的第二位置信息。
在本發(fā)明的另一方面中，一種管理光學記錄媒介的缺陷區(qū)的方法，包括驗證在以可應(yīng)用的最大速度進行記錄時是否產(chǎn)生缺陷區(qū)；如果在所述可應(yīng)用的最大速度下產(chǎn)生缺陷區(qū)，則通過將記錄速度變成低于所述可應(yīng)用的最大速度的中間速度至少一次，重新驗證相應(yīng)區(qū)域的缺陷是否存在；如果在所述中間速度下產(chǎn)生缺陷區(qū)，則通過將所述記錄速度變成最小速度，重新驗證相應(yīng)區(qū)域的缺陷是否存在；以及根據(jù)第一到第三步驟中的每一個的結(jié)果，在光學記錄媒介的特定區(qū)域處記錄被判定為缺陷區(qū)的區(qū)域的位置信息。
在本發(fā)明的另一方面中，一種記錄媒介，包括缺陷管理區(qū)，它用于管理缺陷區(qū)；以及數(shù)據(jù)區(qū)，其中記錄數(shù)據(jù)，其中所述缺陷管理區(qū)至少包括第一條目以便記錄在第一速度下被判定為缺陷區(qū)而在第二速度下被判定為非缺陷區(qū)的位置信息，所述第一速度高于所述第二速度。
在本發(fā)明的另一方面中，一種用于在光學記錄媒介上記錄數(shù)據(jù)的方法，包括以下步驟接收用于特定區(qū)域的記錄命令；驗證在第一速度下在所述特定區(qū)域上是否產(chǎn)生缺陷區(qū)；如果在高速下產(chǎn)生缺陷區(qū)，則通過將記錄速度變成第二速度來重新驗證相應(yīng)區(qū)域的缺陷是否存在，所述第二速度低于所述第一速度；作為重新驗證步驟的結(jié)果，將要記錄于在第一和第二速度下都被判定為缺陷區(qū)的第一區(qū)域中的數(shù)據(jù)記錄到替換區(qū)中；以及在第一速度下被判定為缺陷區(qū)而在第二速度下被判定為非缺陷區(qū)的第二區(qū)域上以第二速度記錄數(shù)據(jù)。
在本發(fā)明的另一方面中，一種用于在光學記錄媒介上記錄數(shù)據(jù)的方法，包括以下步驟通過從光學記錄媒介內(nèi)的缺陷管理區(qū)中讀取缺陷區(qū)的位置信息和相應(yīng)缺陷區(qū)的記錄速度信息，確定可應(yīng)用于光學記錄媒介內(nèi)的特定區(qū)域的記錄速度；以及如果接收到用于特定區(qū)域的記錄命令，則以確定的記錄速度進行數(shù)據(jù)的記錄。
在本發(fā)明的另一方面中，一種用于在光學記錄媒介上記錄或再現(xiàn)數(shù)據(jù)的裝置，包括拾取單元，它在光學記錄媒介上記錄或讀取數(shù)據(jù)；以及控制器，它驗證在第一速度下在特定區(qū)域上是否產(chǎn)生缺陷區(qū)，如果在第一速度下產(chǎn)生缺陷區(qū)則通過將記錄速度變成第二速度來重新驗證相應(yīng)區(qū)域的缺陷是否存在，控制拾取器將要記錄于在第一和第二速度下都被判定為缺陷區(qū)的第一區(qū)域的數(shù)據(jù)記錄在替換區(qū)中，并控制所述拾取器在第一速度下被判定為缺陷區(qū)而在第二速度下被判定為非缺陷區(qū)的第二區(qū)域上以第二速度記錄數(shù)據(jù)。
可以理解，本發(fā)明的以上一般描述和以下詳細描述是示例性和說明性的，并旨在提供所聲明的本發(fā)明的進一步說明。


包含附圖以提供本發(fā)明的進一步理解，且附圖被結(jié)合并構(gòu)成本申請的一部分，示出本發(fā)明的實施例并與描述一起用于說明本發(fā)明的原理。附圖中圖1是可重寫光盤的示意圖。
圖2是用于說明根據(jù)本發(fā)明的應(yīng)對記錄速度的缺陷管理方法的光盤的示圖。
圖3是用于說明根據(jù)本發(fā)明的應(yīng)對記錄速度的缺陷管理方法的概念性流程。
圖4和5是用于說明根據(jù)本發(fā)明第一實施例的應(yīng)對記錄速度的缺陷管理方法的示圖。
圖6和7是用于說明根據(jù)本發(fā)明第二實施例的應(yīng)對記錄速度的缺陷管理方法的示圖。
圖8和9是用于說明根據(jù)本發(fā)明第三實施例的應(yīng)對記錄速度的缺陷管理方法的示圖。
圖10是可應(yīng)用于本發(fā)明的缺陷列表的示意性結(jié)構(gòu)圖。
圖11是用于說明根據(jù)本發(fā)明的應(yīng)對記錄速度的缺陷管理方法的另一概念性流程。以及圖12是可應(yīng)用于本發(fā)明的應(yīng)對記錄速度的缺陷管理的記錄/再現(xiàn)裝置的框圖。
具體實施例方式
現(xiàn)在將詳細參考本發(fā)明的較佳實施例，其示例在附圖中示出。只要可能，相同的標號將貫穿附圖用于表示相同或相似的部分。
將參考以下附圖詳細說明根據(jù)本發(fā)明的管理可以高速記錄的光盤的缺陷區(qū)的方法、其記錄/再現(xiàn)方法及其記錄/再現(xiàn)裝置。
首先，雖然本發(fā)明中使用的術(shù)語可能選自當前公知的一些，但在某些情況下一些術(shù)語由申請人任意選擇以使它們的意思在以下描述中詳細說明。因此，本發(fā)明應(yīng)用申請人選擇的相應(yīng)術(shù)語的預期意思來代替術(shù)語本身的簡單名稱或意思來理解。
為便于說明，采用BD系列的藍光盤(BD)作為高速可記錄盤的示例。然而，顯然，本發(fā)明的概念可應(yīng)用于各種高密度的高速可記錄光盤。
本發(fā)明的特點在于提出了一種高速可記錄光盤中的新的缺陷區(qū)管理方案。較佳地，以下說明在描述中所使用的“缺陷區(qū)”和“缺陷區(qū)管理”的意思。
首先，本發(fā)明中的“缺陷區(qū)”表示盤內(nèi)的一特定區(qū)域，由于稍后的特殊原因它很可能發(fā)展為無法糾正的區(qū)域。在當前步驟中，“缺陷區(qū)”意味著其中相應(yīng)區(qū)域的數(shù)據(jù)被充分保留的區(qū)域?！肮芾砣毕輩^(qū)”意味著以將特定區(qū)域指定為缺陷區(qū)的方式增強盤內(nèi)記錄的數(shù)據(jù)的可靠性的一種管理方案，其中在該特定區(qū)域中相應(yīng)數(shù)據(jù)被記錄或?qū)⒈挥涗洸⒃谧兂刹豢杉m正的區(qū)域之前將這些數(shù)據(jù)傳遞到盤內(nèi)的替換區(qū)。特別是，在記錄或再現(xiàn)數(shù)據(jù)本身明顯有意義(諸如PC數(shù)據(jù))的信息的情況下，將高度需要缺陷區(qū)管理。
因此，為被判定為“缺陷區(qū)”的情況準備一參考是很重要的。通過應(yīng)用稍許較高的標準可以對“缺陷區(qū)”的較低出現(xiàn)作出這種參考，以降低系統(tǒng)設(shè)計者設(shè)計的系統(tǒng)負荷(為防止頻繁的替換記錄)，或者相反地，通過應(yīng)用稍許較低的標準來指明更多的“缺陷區(qū)”，以確保數(shù)據(jù)的更高的可靠性，從而將數(shù)據(jù)安全地傳遞到替換區(qū)。
對于用于缺陷區(qū)判定的參考，各種盤標準分別提出了不同的參考。并且，記錄單元內(nèi)出現(xiàn)的錯誤量通常被用作參考。例如，如果發(fā)生超出特定數(shù)量的錯誤，則被判定為“缺陷區(qū)”并進行替換記錄以便將數(shù)據(jù)記錄于替換區(qū)內(nèi)。如果錯誤未能出現(xiàn)超過該特定數(shù)量，則它不被判定為“缺陷區(qū)”且相應(yīng)的錯誤利用ECC(糾錯碼)等進行糾錯。因此，通過考慮最佳系統(tǒng)和數(shù)據(jù)保護，系統(tǒng)設(shè)計者定義將應(yīng)用于系統(tǒng)的對“記錄單元內(nèi)的錯誤量總計達特定數(shù)量”的參考，從而能判定相應(yīng)的記錄單元是否被確定為“缺陷區(qū)”還是“正常區(qū)”。
在判定缺陷區(qū)時，本發(fā)明旨在提出一種通過采用上述缺陷區(qū)判定方法(例如，“記錄單元內(nèi)錯誤量總計達特定數(shù)量”為多少？)附加地應(yīng)對記錄速度的缺陷區(qū)判定方法。這是因為根據(jù)記錄速度不同而存在記錄單元內(nèi)出現(xiàn)的錯誤量不同以影響“缺陷區(qū)”的判定。在高速下進行記錄時通常產(chǎn)生更多的“缺陷區(qū)”，這是因為由于在高速下整體系統(tǒng)變得不穩(wěn)定所以在高速下記錄單元內(nèi)出現(xiàn)的錯誤量增加超過低速下的。
圖2和圖3是用于說明根據(jù)本發(fā)明的應(yīng)對記錄速度的缺陷區(qū)管理方法概念的光盤結(jié)構(gòu)示意圖和流程圖。
圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的執(zhí)行光盤上的記錄的流程。
參考圖2，在盤數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)進行記錄時，優(yōu)選以可應(yīng)用的高速在特定部分上進行記錄，隨后驗證是否在相應(yīng)部分中生成缺陷區(qū)。例如，該特定部分被稱作“驗證單元”并且是包括約9個記錄單元的一個驗證單元，如圖2所示。然而，為便于說明而設(shè)定記錄單元的數(shù)量(9個)，且該數(shù)量可以不同地進行設(shè)定。
如果缺陷區(qū)不能以相應(yīng)的高速生成，類似于圖2中的驗證單元(1)，則對下一個驗證單元(2)重復以上步驟。如果從驗證單元(2)中生成缺陷區(qū)，則以低速降低記錄速度，隨后再次驗證缺陷區(qū)的存在或不存在。如果在以低速進行記錄的情況下相應(yīng)區(qū)域被判定為缺陷區(qū)，則該相應(yīng)區(qū)域被判定為用于與備用區(qū)進行替換記錄的先前缺陷區(qū)且隨后在其上執(zhí)行缺陷區(qū)管理。
然而，在驗證單元(n)的情況下，如果盡管在高速下判定一區(qū)域為缺陷區(qū)但在低速下判定其為非缺陷區(qū)，則該相應(yīng)區(qū)域不由備用區(qū)替換，在被認作非缺陷的該相應(yīng)區(qū)域上以低速進行記錄，并且相應(yīng)區(qū)域的位置信息和速度信息記錄于缺陷管理區(qū)DMA中以便被管理。因此，根據(jù)記錄速度變化被判定為非缺陷區(qū)的區(qū)域作為正常區(qū)域處理，但一起管理用于非缺陷區(qū)的判定的相應(yīng)記錄速度信息。因此，相應(yīng)區(qū)域能以相應(yīng)記錄速度被記錄，從而可以減少由于替換記錄引起的系統(tǒng)負荷并維持數(shù)據(jù)可靠性?？梢园锤鞣N方式執(zhí)行缺陷區(qū)驗證方法。如果數(shù)據(jù)可靠性安全是重要的，則采用“寫入后驗證”。“寫入后驗證”是可任選的系統(tǒng)項。顯然，各種驗證方案都可應(yīng)用于本發(fā)明。
圖3示出了本發(fā)明的技術(shù)背景。
參考圖3，如果如圖2中所說明地在以高速進行記錄的過程中生成缺陷區(qū)，通過將記錄速度降低到較低的速度來重新驗證相應(yīng)區(qū)域中是否存在缺陷。如果以低速被判定為缺陷區(qū)，則將缺陷信息(RAD型可重新分配缺陷)作為表示正常替換記錄的信息記錄于缺陷管理區(qū)內(nèi)的缺陷列表DFL中。如果在低速下未被判定為缺陷區(qū)，則不執(zhí)行替換記錄而將與正常替換的缺陷信息類型不同的另一缺陷信息記錄于缺陷管理區(qū)內(nèi)的缺陷列表DFL中(NDR型低記錄速度下非缺陷)。
同時，通過參考圖4到12，以下詳細說明支持本發(fā)明技術(shù)背景的缺陷區(qū)管理方法和缺陷信息記錄方法。
以下首先說明在缺陷列表(DFL)中記錄缺陷管理區(qū)內(nèi)的缺陷區(qū)的位置信息的一般方法。
缺陷列表包括一列表，且該列表包括多個條目，其中每一個條目都由其中缺陷區(qū)的8個字節(jié)的記錄位置信息構(gòu)成。一個條目包括記錄用于標識缺陷區(qū)類型的標識信息的字段狀態(tài)1和狀態(tài)2，其中通常記錄被判定為數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)的缺陷區(qū)的位置的“缺陷簇第一PSN”字段，以及其中記錄替換缺陷區(qū)的區(qū)域位置的“替換簇第一PSN”字段。然而，僅為了先前BD-RE的兼容性，字段名使用相同的字段名。因此，相應(yīng)字段中寫入的內(nèi)容會與一般情況的哪些不同，這在以下通過本發(fā)明的實施例詳細說明。
圖4和5是根據(jù)本發(fā)明第一實施例的用于記錄以管理缺陷區(qū)的位置信息的示圖，其中缺陷區(qū)的位置信息按作為最小記錄單元的簇被記錄。
參考圖4，在數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)存在兩種類型的缺陷區(qū)。一種缺陷區(qū)類型對應(yīng)于在高速和低速兩者下都被判定為缺陷區(qū)的情況(A，B)，而另一種缺陷區(qū)類型對應(yīng)于在高速下被判定為缺陷區(qū)而在低速下被判定為非缺陷區(qū)的情況(C，D)。
因此，將在簇-A和簇-B中記錄的數(shù)據(jù)分別通過備用區(qū)內(nèi)區(qū)域-a和區(qū)域-b中的替換而記錄。對于為此的缺陷區(qū)信息，“狀態(tài)1＝0000”被記錄作為RAD(可重新分配缺陷)類型條目，它指定缺陷區(qū)的信息被正常替換，區(qū)域-A和區(qū)域-B的位置信息被記錄于“缺陷簇第一PSN”字段，且相應(yīng)區(qū)域-a和區(qū)域-b的位置信息被記錄于“替換簇第一PSN”字段中以便被管理。同時，在區(qū)域-C和區(qū)域-D上不進行替換記錄，它們僅在高速下被判定為缺陷區(qū)而在低速下被判定為正常區(qū)，從而區(qū)域-C和區(qū)域-D的缺陷信息記錄方法應(yīng)不同于區(qū)域-A和區(qū)域-B的。因此，提供“狀態(tài)1＝1001”以定義作為NDR(在低記錄速度下非缺陷)的條目，區(qū)域-C和區(qū)域-D的位置信息被記錄在“缺陷簇第一PSN”字段中，且由于不存在替換區(qū)，所以被判定為非缺陷區(qū)的情況的記錄速度信息被記錄在“替換簇第一PSN”字段中。當相應(yīng)光盤稍后被重載時，記錄/再現(xiàn)單元(圖12中的‘10’)引用相應(yīng)的管理信息并通過引用相應(yīng)條目中記錄的記錄速度信息在區(qū)域-C和區(qū)域-D上執(zhí)行記錄，以便從區(qū)域-C和區(qū)域-D中不產(chǎn)生缺陷區(qū)。因此，能降低缺陷區(qū)產(chǎn)生的概率。此外，還可能將所產(chǎn)生的缺陷區(qū)的高速信息記錄作為“替換簇第一PSN”字段中記錄的記錄速度信息。由于系統(tǒng)還能由高速信息通知缺陷區(qū)按條目中寫入的速度生成，能夠以低于寫入的速度的預定速度進行記錄。
圖5示出了將條目標識為圖4情況下的缺陷信息的表。
參考圖5，如果“狀態(tài)1＝0000”，它表示相應(yīng)區(qū)域是正常替換的缺陷區(qū)(RAD條目)。如果“狀態(tài)1＝1001”，它表示相應(yīng)區(qū)域在高速下被判定為缺陷區(qū)而在低速下被判定為非缺陷區(qū)(NDR條目)并且表示判定非缺陷區(qū)情況下的記錄速度信息(即低速的信息)被記錄在相應(yīng)NDR條目內(nèi)。
圖6和7是根據(jù)本發(fā)明第二實施例的用于記錄以管理缺陷區(qū)的位置信息的示圖，其中用于缺陷區(qū)的位置信息按作為連續(xù)最小記錄單元的簇被記錄。
參考圖6，在數(shù)據(jù)區(qū)中存在兩種缺陷區(qū)。一種缺陷區(qū)類型對應(yīng)于在高速和低速兩者下被判定為缺陷區(qū)的情況(A，B)，而另一種缺陷區(qū)類型對應(yīng)于在高速下被判定為缺陷區(qū)而在低速下被判定為非缺陷區(qū)的情況(C，D)。
因此，要記錄于簇-A和簇-B中的數(shù)據(jù)分別通過備用區(qū)內(nèi)的區(qū)域-a和區(qū)域-b中的替換得以記錄。對于為此的缺陷區(qū)信息，“狀態(tài)1＝0000”被記錄為RAD(可重新分配的缺陷)類型條目，它指明缺陷區(qū)的信息被正常替換，區(qū)域-A和區(qū)域-B的位置信息被記錄于“缺陷簇第一PSN”字段中，并且相應(yīng)區(qū)域-a和區(qū)域-b的位置信息被記錄于“替換簇第一PSN”字段中以便被管理。同時，在區(qū)域-C和區(qū)域-D上不進行替換記錄，它們僅在高速下被判定為缺陷區(qū)而在低速下被判定為正常區(qū)域，從而區(qū)域-C和區(qū)域-D的缺陷信息記錄方法應(yīng)不同于區(qū)域-A和區(qū)域-B的。并且，可以看到區(qū)域-C對應(yīng)于多個簇被判定為相同區(qū)域的情況而區(qū)域-D是僅對應(yīng)于一個簇的區(qū)域。因此，可以定義提供“狀態(tài)1＝1001”來指示NDR(低記錄速度下非缺陷)類型以及表示相應(yīng)區(qū)域的連續(xù)記錄單元數(shù)的二進制值被寫入“狀態(tài)2”字段。例如，4個簇在區(qū)域-C中連續(xù)，記錄“狀態(tài)2＝0100”。區(qū)域-D由一個簇構(gòu)成，記錄“狀態(tài)2＝0001”。其余字段類似于本發(fā)明的第一實施例進行記錄。作為連續(xù)記錄單元的起始簇的區(qū)域-C和區(qū)域-D的位置信息被記錄在“缺陷簇第一PSN”字段中，且由于不存在替換的區(qū)域，被判定為正常區(qū)的情況的記錄速度信息記錄于“替換簇第一PSN”字段中。當相應(yīng)的光盤稍后被重載以便在區(qū)域-C和區(qū)域-D上進行記錄時，記錄/再現(xiàn)單元(圖12中的10)通過引用相應(yīng)條目中記錄的記錄速度信息來執(zhí)行該記錄，以便從缺陷管理信息內(nèi)的大小信息所指示的連續(xù)簇中不產(chǎn)生缺陷區(qū)。因此，能降低缺陷區(qū)產(chǎn)生的概率。此外，還可能將所產(chǎn)生的缺陷區(qū)的高速信息記錄為“替換簇第一PSN”字段中記錄的記錄速度信息。由于系統(tǒng)還能由高速信息通知以條目中寫入的速度生成缺陷區(qū)，所以能以低于寫入的速度的預定速度進行記錄。
圖7示出了將條目標識為圖6情況中的缺陷信息的表。
參考圖5，如果“狀態(tài)1＝0000”，它表示相應(yīng)區(qū)域是正常替換的缺陷區(qū)(RAD條目)。如果“狀態(tài)1＝1001”，它表示相應(yīng)區(qū)域在高速下被判定為缺陷區(qū)而在低速下被判定為非缺陷區(qū)(NDR條目)，并表示連續(xù)簇的大小信息記錄于NDR條目內(nèi)的“狀態(tài)2“字段中，以及表示判定非缺陷區(qū)的情況下的記錄速度信息(即用于低速的信息)記錄于相應(yīng)NDR條目內(nèi)的“替換簇第一PSN”字段中。
與根據(jù)本發(fā)明的第一實施例相比，根據(jù)本發(fā)明的第二實施例的特點在于能降低條目的數(shù)量。
圖8和9是根據(jù)本發(fā)明第三實施例的用于記錄以管理缺陷區(qū)的位置信息的示圖，其中僅在高速下被判定為缺陷區(qū)而在低速下被判定為非缺陷區(qū)的區(qū)域的位置信息由其中記錄的一區(qū)段指定。
參考圖8，數(shù)據(jù)區(qū)中存在兩種缺陷區(qū)區(qū)段。一種缺陷區(qū)區(qū)段類型對應(yīng)于在高速和低速兩者下都被判定為缺陷區(qū)的情況(區(qū)段A-C，驗證單元(k))，而另一缺陷區(qū)區(qū)段類型對應(yīng)于在高速下被判定為缺陷區(qū)而在低速下被判定為非缺陷區(qū)的情況(區(qū)段E-F，驗證單元(n))。
首先，作為重新驗證在高速下被判定為缺陷區(qū)的區(qū)段A-C的結(jié)果，在低速下，區(qū)域-A、區(qū)域-B和區(qū)域-C被判定為缺陷區(qū)而區(qū)域-D在低速下被判定為非缺陷區(qū)。在這種情況下，用于相應(yīng)區(qū)段的缺陷信息在缺陷管理區(qū)中單獨地按簇記錄。
然而，作為重新驗證在高速下被判定為缺陷區(qū)的區(qū)段E-F的結(jié)果，在低速下，所有簇都被判定為非缺陷區(qū)。在這種情況下，為整體的相應(yīng)區(qū)段(區(qū)域-E到區(qū)域-F)記錄一個缺陷信息。
因此，簇-A、簇-B和簇-C中要記錄的數(shù)據(jù)分別在備用區(qū)內(nèi)區(qū)域-a、區(qū)域-b和區(qū)域-c中通過替換而被記錄。對于為此的缺陷區(qū)信息，將“狀態(tài)1＝0000”記錄作為RAD(可重新分配的缺陷)類型條目，它指明缺陷區(qū)信息被正常替換，區(qū)域-A、區(qū)域-B和區(qū)域-C的位置信息被記錄于“缺陷簇第一PSN”字段中，且相應(yīng)的區(qū)域-a、區(qū)域-b和區(qū)域-c的位置信息被記錄于“替換簇第一PSN”字段中以便被管理。
同時，在區(qū)段A-C內(nèi)，在僅在高速下被判定為缺陷區(qū)而在低速下被判定為正常區(qū)域的區(qū)域-D上不進行替換記錄，從而區(qū)域-D的缺陷信息記錄方法應(yīng)與區(qū)域-A、區(qū)域-B和區(qū)域-C的不同。因此，提供“狀態(tài)1＝0001”來指示NDR(低記錄速度下非缺陷)類型并設(shè)定“狀態(tài)2＝0000”來通知相應(yīng)區(qū)域由一個條目記錄作為一個簇。
然而，為了對其進行表示，區(qū)段E-F需要一對條目(對條目)。在第一條目中，“狀態(tài)2＝0001”通知一對條目的第一個且分別表示同一區(qū)段的開始和結(jié)束簇的區(qū)域-E和區(qū)域-F的位置信息分別記錄于“缺陷簇第一PSN”字段和“替換簇第一PSN”字段中。在第二條目中，“狀態(tài)2＝0010”通知一對條目的第二個且用于導致無缺陷區(qū)的低速的記錄速度信息被重復地記錄于“缺陷簇第一PSN”字段和“替換簇第一PSN”字段中。然而，第二條目的“替換簇第一PSN”字段可被設(shè)定為“00h”，代替重復地記錄該記錄速度信息。
此外，還可能將將產(chǎn)生的缺陷區(qū)的高速信息記錄為第二條目的“缺陷簇第一PSN”字段中記錄的記錄速度信息。由于系統(tǒng)還能由高速信息通知以條目中寫入的速度從相應(yīng)區(qū)段中產(chǎn)生缺陷區(qū)，所以能以低于寫入的速度的預定速度進行記錄。
圖9示出了用于將一條目標識為圖8情況下的缺陷信息的表。
參考圖9，如果“狀態(tài)1＝0000”，它表示相應(yīng)區(qū)域是一正常替換的缺陷區(qū)(RAD條目)。如果“狀態(tài)1＝1001”，它表示相應(yīng)區(qū)域在高速下被判定為缺陷區(qū)而在低速下被判定為非缺陷區(qū)(NDR條目)。如果“狀態(tài)2＝0000”，它表示一個應(yīng)對每個簇的條目。如果“狀態(tài)2＝0001”，它表示指示特定區(qū)段的一對條目中的第一個條目。如果“狀態(tài)2＝0010”，它表示指示特定區(qū)段的一對條目中的第二個條目。
本發(fā)明的第三實施例不僅能應(yīng)對每個區(qū)段以使系統(tǒng)按簇改變記錄速度還能降低負荷。
圖10是可應(yīng)用于本發(fā)明的缺陷列表的示意性結(jié)構(gòu)示圖。
參考圖10，用于通知在相應(yīng)DFL中記錄的缺陷條目中存在多少特定類型條目的信息包含在DFL的首部中。因此，通過將RAD-條目和NDR-條目的數(shù)量記錄在首部信息中，促進系統(tǒng)優(yōu)先地從DFL首部信息中識別條目數(shù)量。
圖11是用于說明根據(jù)本發(fā)明的應(yīng)對記錄速度的缺陷管理方法的另一概念流程圖，其中擴展了圖3的概念流程圖。
參考圖11，接收到記錄命令的記錄/再現(xiàn)裝置(圖12中的10)以盤可用的最大速度Vmax開始記錄并保持以Vmax進行記錄，除非在記錄期間產(chǎn)生缺陷區(qū)。如果驗證缺陷區(qū)，則記錄/再現(xiàn)裝置以低于最大速度Vmax的低速Vnext重新驗證相應(yīng)區(qū)域的缺陷是否存在(步驟1)。
如果在以Vnext記錄的情況下判定相應(yīng)區(qū)域不是缺陷區(qū)，則利用圖4、圖6和圖8中的根據(jù)本發(fā)明第一到第三實施例的方法之一，相應(yīng)區(qū)域的位置信息以及在Vnext下缺陷區(qū)不存在的記錄速度信息被記錄到DFL。這樣，如本發(fā)明第一到第三實施例中所說明的，“Vmax”可作為記錄速度信息記錄到DFL，代替Vnext。在以Vnext進行記錄時，如果相應(yīng)區(qū)域類似于以Vmax進行記錄那樣被判定為缺陷區(qū)，則以與盤可用的1x速度相對應(yīng)的Vnom重新驗證該相應(yīng)區(qū)域中是否存在缺陷(步驟2)。
這樣，能設(shè)置步驟2中根據(jù)系統(tǒng)的與Vnext相對應(yīng)的多個記錄速度。例如，將“Vmax＝16x速度”，“Vnext1＝8x速度”，“Vnext2＝4x速度”，“Vnext3＝2x速度”設(shè)置為記錄速度，且在以“Vnom＝1x速度”的最終記錄速度驗證相應(yīng)區(qū)域之前將步驟2重復若干次。
最后，如果在以Vnom記錄的情況下將相應(yīng)區(qū)域判定為非缺陷區(qū)，則利用根據(jù)圖4、圖6和圖8中本發(fā)明第一到第三實施例的方法之一，將相應(yīng)區(qū)域的位置信息以及Vnom下非缺陷區(qū)存在的記錄速度信息被記錄到DFL。這樣，如本發(fā)明的第一到第三實施例中所說明的，“Vnext”可以作為記錄速度信息被記錄到DFL，代替Vnom。在以Vnom進行記錄時，如果相應(yīng)區(qū)域類似于以Vnext記錄那樣被判定為非缺陷區(qū)，則相應(yīng)區(qū)域的數(shù)據(jù)被傳遞到替換區(qū)用于替換記錄并將缺陷區(qū)的位置信息和替換區(qū)的位置信息記錄到DFL(步驟3)。
圖12示出了用于可應(yīng)用于本發(fā)明的光盤的記錄/再現(xiàn)裝置。
參考圖12，根據(jù)本發(fā)明的記錄/再現(xiàn)裝置包括在光盤上進行記錄/再現(xiàn)的記錄器/再現(xiàn)器10以及控制該記錄器/再現(xiàn)器10的控制單元20?？刂茊卧?0提供用于特定區(qū)域的記錄或再現(xiàn)命令，且記錄器/再現(xiàn)器10根據(jù)控制單元20的命令在該特定區(qū)域上進行記錄/再現(xiàn)。特別是，記錄器/再現(xiàn)器10包括與外部裝置進行通信的接口單元12、直接將數(shù)據(jù)記錄到光盤上或再現(xiàn)數(shù)據(jù)的拾取單元11、從拾取單元11接收再現(xiàn)信號以便恢復成必要的信號值或為傳遞將要記錄的信號調(diào)制為光盤上記錄的信號的數(shù)據(jù)處理器13、從光盤中正確地讀出信號或者控制拾取單元11將信號正確地記錄到光盤上的伺服單元14、臨時存儲包括管理信息和數(shù)據(jù)的各種信息的存儲器15以及負責控制記錄器/再現(xiàn)器10內(nèi)的上述元件的微計算機16。以下詳細說明根據(jù)本發(fā)明的光盤的記錄過程。
工業(yè)應(yīng)用性首先，一旦將光盤載入記錄/再現(xiàn)裝置，盤內(nèi)的整個盤管理信息被讀出以便臨時存儲在記錄器/再現(xiàn)器10的存儲器15中。并且，各種盤管理信息被用于光盤的記錄/再現(xiàn)。特別是，本發(fā)明的缺陷管理區(qū)內(nèi)記錄的缺陷列表(DFL)包含在存儲器15中存儲的管理信息中。因此，將DFL內(nèi)缺陷區(qū)的位置信息和替換區(qū)的位置信息讀出以存入存儲器15。在特定缺陷信息(NDR類型)的情況下，將記錄速度信息讀出，也存入存儲器15。如果盤是全新盤，諸如NDR類型條目和RAD類型條目的缺陷信息將不存在于缺陷管理區(qū)內(nèi)的DFL中。
如果意圖在光盤內(nèi)的特定區(qū)域上進行記錄，則控制單元20將該意愿譯成寫入命令隨后將它連同用于記錄目標區(qū)的寫入位置信息的數(shù)據(jù)一起傳遞給記錄器/再現(xiàn)器10。在接收到寫入命令后，微計算機16通過存儲器15中存儲的缺陷管理信息判定相應(yīng)的記錄速度，該速度將由控制單元應(yīng)用于光盤內(nèi)的記錄目標區(qū)。特別是，如果將記錄目標區(qū)記錄作為缺陷信息(NDR類型)，則相應(yīng)缺陷信息內(nèi)記錄的記錄速度信息將被用于判定為用于該相應(yīng)區(qū)域的記錄速度。如果記錄目標區(qū)域未被記錄作為缺陷信息(NDR類型)，則將可應(yīng)用于盤和系統(tǒng)的高速度判定作為記錄速度。
隨后，驗證在以所判定的高速進行記錄時是否產(chǎn)生缺陷區(qū)。如果作為驗證結(jié)果在高速下產(chǎn)生缺陷區(qū)，則將記錄速度變成低速，隨后重新驗證是否從相應(yīng)區(qū)域中產(chǎn)生缺陷區(qū)。對于在高速和低速下都被判定為缺陷區(qū)的區(qū)域，將被寫入相應(yīng)區(qū)域的數(shù)據(jù)會通過替換而記錄于替換區(qū)。對于在高速下判定為缺陷區(qū)而在低速下被判定為非缺陷區(qū)的區(qū)域，以低速進行記錄。并且，按照圖4、圖6和圖8中示出的本發(fā)明的實施例之一的方式，將記錄中產(chǎn)生的缺陷區(qū)記錄在缺陷管理區(qū)中。然而，如果初始判定的記錄速度是低速，則不采用以上說明的缺陷區(qū)管理方案。取而代之，采用在整個缺陷區(qū)上進行替換記錄的缺陷區(qū)管理方法以應(yīng)對記錄速度。
因此，本發(fā)明提出了一種應(yīng)對可高速記錄的光盤中的記錄速度的缺陷管理方案，從而提供了缺陷區(qū)的精確判定以降低缺陷區(qū)產(chǎn)生的頻率。特別是，本發(fā)明提供了特定區(qū)段的最佳記錄速度信息，因此能減少總體系統(tǒng)負荷。此外，由于最佳記錄速度可應(yīng)用于特定區(qū)段中的重新記錄，所以能確保數(shù)據(jù)的高可靠性。
本領(lǐng)域的熟練技術(shù)人員顯見的是，本發(fā)明中可以進行各種修改和變型。因此，本發(fā)明旨在覆蓋本發(fā)明的修改和變型，只要它們在所附權(quán)利要求書及其等效物的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種管理光學記錄媒介中的缺陷區(qū)的方法，包括以下步驟檢查在第二記錄速度下是否發(fā)現(xiàn)缺陷區(qū)，在第一記錄速度下是否發(fā)現(xiàn)所述缺陷區(qū)，所述第二記錄速度低于所述第一記錄速度；以及基于所述檢查步驟確定是否用替換區(qū)替換所述缺陷區(qū)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，如果在第二記錄速度下發(fā)現(xiàn)缺陷區(qū)，則將要在缺陷區(qū)中記錄的數(shù)據(jù)記錄于替換區(qū)中。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，還包括記錄管理信息以指示所述缺陷區(qū)的位置以及所述替換區(qū)的位置。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述管理信息還包括用替換區(qū)替換缺陷區(qū)的狀態(tài)信息。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，如果在第二記錄速度下未發(fā)現(xiàn)缺陷區(qū)，則將要在缺陷區(qū)中記錄的數(shù)據(jù)記錄于相應(yīng)區(qū)域中。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，還包括記錄管理信息以指示缺陷區(qū)的至少一個位置。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述管理信息還包括缺陷區(qū)未被替換的狀態(tài)信息。
8.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述管理信息還包括第二速度的速度信息。
9.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述管理信息還包括第一速度的速度信息。
10.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述管理信息作為一個條目按最小記錄單元進行記錄。
11.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述最小記錄單元是一個簇。
12.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述管理信息作為一個條目按連續(xù)的最小記錄單元進行記錄。
13.如權(quán)利要求12所述的方法，其特征在于，所述條目包括指明所述連續(xù)最小記錄單元數(shù)量的信息。
14.如權(quán)利要求12所述的方法，其特征在于，所述最小記錄單元是一個簇。
15.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述位置信息包括缺陷區(qū)的起始位置和缺陷區(qū)的終止位置。
16.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，所述管理信息還包括第一記錄速度或第二記錄速度的速度信息。
17.如權(quán)利要求16所述的方法，其特征在于，所述缺陷區(qū)的起始位置和終止位置以及所述速度信息通過多個條目被記錄。
18.如權(quán)利要求17所述的方法，其特征在于，多個條目包括包含所述起始位置和終止位置的第一條目以及包括相應(yīng)區(qū)域的速度信息的第二條目。
19.如權(quán)利要求18所述的方法，其特征在于，用于標識第一和第二條目的標識信息被記錄在相應(yīng)的條目內(nèi)。
20.一種管理光學記錄媒介的缺陷區(qū)的方法，包括以下步驟記錄第一條目，它包括在第一記錄速度下被判定為缺陷區(qū)而在第二速度下被判定為非缺陷區(qū)的第一區(qū)域的第一位置信息，所述第二速度低于所述第一速度；以及記錄第二條目，它包括在第一速度和第二速度下都被判定為缺陷區(qū)的第二區(qū)域的第二位置信息。
21.如權(quán)利要求20所述的方法，其特征在于，還包括記錄標識第一和第二條目的每一個中的相應(yīng)條目的標識信息。
22.如權(quán)利要求21所述的方法，其特征在于，所述第一條目還包括被判定為非缺陷區(qū)的第一區(qū)域的記錄速度信息。
23.如權(quán)利要求21所述的方法，其特征在于，所述第二條目還包括用于替換區(qū)的位置信息，通知要在缺陷區(qū)中記錄的數(shù)據(jù)被記錄于替換區(qū)內(nèi)。
24.一種管理光學記錄媒介的缺陷區(qū)的方法，包括驗證在以可應(yīng)用的最大速度進行記錄時是否產(chǎn)生缺陷區(qū)；如果在所述可應(yīng)用的最大速度下產(chǎn)生缺陷區(qū)，則通過將記錄速度變成低于所述可應(yīng)用的最大速度的中間速度至少一次，重新驗證相應(yīng)區(qū)域的缺陷是否存在；如果在所述中間速度下產(chǎn)生缺陷區(qū)，則通過將所述記錄速度變成最小速度，重新驗證相應(yīng)區(qū)域的缺陷是否存在；以及根據(jù)第一到第三步驟中的每一個的結(jié)果，在光學記錄媒介的特定區(qū)域處記錄被判定為缺陷區(qū)的區(qū)域的位置信息。
25.如權(quán)利要求24所述的方法，其特征在于，對于在第一步驟處被判定為缺陷區(qū)而在第二步驟處被判定為非缺陷區(qū)的區(qū)域，相應(yīng)區(qū)域的位置信息被記錄在特定區(qū)域處。
26.如權(quán)利要求25所述的方法，其特征在于，應(yīng)用于第二步驟的記錄速度信息被進一步記錄在所述特定區(qū)域處。
27.如權(quán)利要求25所述的方法，其特征在于，應(yīng)用于第一步驟的記錄速度信息被進一步記錄在所述特定區(qū)域處。
28.如權(quán)利要求24所述的方法，其特征在于，對于在第一和第二步驟處被判定為缺陷區(qū)而在第二步驟處被判定為非缺陷區(qū)的區(qū)域，將相應(yīng)區(qū)域的位置信息記錄于特定區(qū)域處。
29.如權(quán)利要求28所述的方法，其特征在于，應(yīng)用于第三步驟的記錄速度信息被進一步記錄于所述特定區(qū)域。
30.如權(quán)利要求28所述的方法，其特征在于，應(yīng)用于第二步驟的記錄速度信息被進一步記錄于所述特定區(qū)域。
31.如權(quán)利要求24所述的方法，其特征在于，對于在第一到第三步驟處都被判定為缺陷區(qū)的區(qū)域，將相應(yīng)區(qū)域的位置信息記錄于所述特定區(qū)域。
32.如權(quán)利要求31所述的方法，其特征在于，進一步將用于缺陷區(qū)的替換區(qū)的另一位置信息記錄于所述特定區(qū)域。
33.一種記錄媒介，包括缺陷管理區(qū)，它用于管理缺陷區(qū)；以及數(shù)據(jù)區(qū)，其中記錄數(shù)據(jù)，其中所述缺陷管理區(qū)至少包括第一條目以便記錄在第一速度下被判定為缺陷區(qū)而在第二速度下被判定為非缺陷區(qū)的位置信息，所述第一速度高于所述第二速度。
34.如權(quán)利要求33所述的記錄媒介，其特征在于，所述第一條目還包括第一或第二記錄速度的速度信息。
35.如權(quán)利要求34所述的記錄媒介，其特征在于，所述第一條目還包括缺陷區(qū)未被替換的狀態(tài)信息。
36.如權(quán)利要求33所述的記錄媒介，其特征在于，還包括缺陷管理區(qū)內(nèi)提供的第二條目，以便記錄在第一和第二速度下都被判定為缺陷區(qū)的另一位置信息。
37.如權(quán)利要求36所述的記錄媒介，其特征在于，所述第二條目還包括第一或第二記錄速度的速度信息。
38.如權(quán)利要求36所述的記錄媒介，其特征在于，所述第二條目還包括用于缺陷區(qū)的替換區(qū)的位置信息。
39.如權(quán)利要求36所述的記錄媒介，其特征在于，所述第二條目還包括用替換區(qū)替換缺陷區(qū)的狀態(tài)信息。
40.一種用于在光學記錄媒介上記錄數(shù)據(jù)的方法，包括以下步驟接收用于特定區(qū)域的記錄命令；驗證在第一速度下在所述特定區(qū)域上是否產(chǎn)生缺陷區(qū)；如果在高速下產(chǎn)生缺陷區(qū)，則通過將記錄速度變成第二速度來重新驗證相應(yīng)區(qū)域的缺陷是否存在，所述第二速度低于所述第一速度；作為重新驗證步驟的結(jié)果，將要記錄于在第一和第二速度下都被判定為缺陷區(qū)的第一區(qū)域中的數(shù)據(jù)記錄到替換區(qū)中；以及在第一速度下被判定為缺陷區(qū)而在第二速度下被判定為非缺陷區(qū)的第二區(qū)域上以第二速度記錄數(shù)據(jù)。
41.一種用于在光學記錄媒介上記錄數(shù)據(jù)的方法，包括以下步驟通過從光學記錄媒介內(nèi)的缺陷管理區(qū)中讀取缺陷區(qū)的位置信息和相應(yīng)缺陷區(qū)的記錄速度信息，確定可應(yīng)用于光學記錄媒介內(nèi)的特定區(qū)域的記錄速度；以及如果接收到用于特定區(qū)域的記錄命令，則以確定的記錄速度進行數(shù)據(jù)的記錄。
42.一種用于在光學記錄媒介上記錄或再現(xiàn)數(shù)據(jù)的裝置，包括拾取單元，它在光學記錄媒介上記錄或讀取數(shù)據(jù)；以及控制器，它驗證在第一速度下在特定區(qū)域上是否產(chǎn)生缺陷區(qū)，如果在第一速度下產(chǎn)生缺陷區(qū)則通過將記錄速度變成第二速度來重新驗證相應(yīng)區(qū)域的缺陷是否存在，控制拾取器將要記錄于在第一和第二速度下都被判定為缺陷區(qū)的第一區(qū)域的數(shù)據(jù)記錄在替換區(qū)中，并控制所述拾取器在第一速度下被判定為缺陷區(qū)而在第二速度下被判定為非缺陷區(qū)的第二區(qū)域上以第二速度記錄數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種管理可高速記錄的光盤的缺陷區(qū)的方法、其記錄/再現(xiàn)方法及其記錄/再現(xiàn)裝置，通過它們提供缺陷區(qū)的精確判定。此外，最佳記錄速度可應(yīng)用于特定區(qū)域中的重新記錄，從而能確保數(shù)據(jù)的高可靠性。在具備用于高速可記錄光盤內(nèi)的缺陷管理的缺陷管理區(qū)的光盤中，本發(fā)明包括驗證在以高速進行記錄時是否產(chǎn)生缺陷區(qū)，如果在高速下產(chǎn)生缺陷區(qū)則通過將記錄速度變成低速來重新驗證相應(yīng)區(qū)域的缺陷的是否存在，并在缺陷管理區(qū)中記錄以管理在高速下被判定為缺陷區(qū)而在低速下被判定為非缺陷區(qū)的區(qū)域的位置信息。
文檔編號G11B7/007GK1823372SQ200480020123
公開日2006年8月23日 申請日期2004年7月15日 優(yōu)先權(quán)日2003年7月15日
發(fā)明者金進鏞, 徐相運 申請人:Lg電子株式會社