專利名稱：光學(xué)記錄介質(zhì)、記錄/再現(xiàn)設(shè)備和記錄/再現(xiàn)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于缺陷管理的光學(xué)記錄介質(zhì)、記錄/再現(xiàn)設(shè)備和記錄/再現(xiàn)方法。
背景技術(shù)：
盤缺陷管理是這樣一種處理，其通過(guò)將記錄在盤的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的缺陷，即缺陷塊中的用戶數(shù)據(jù)寫入用戶數(shù)據(jù)區(qū)的新的部分來(lái)補(bǔ)償由缺陷塊引起的數(shù)據(jù)損失。通常，使用線性替換方法或滑動(dòng)替換方法來(lái)執(zhí)行盤缺陷管理。在這些方法中，用沒有缺陷的備用區(qū)來(lái)替換有缺陷的區(qū)。在滑動(dòng)替換方法中，滑過(guò)有缺陷的區(qū)，而使用下一個(gè)無(wú)缺陷的區(qū)。在線性替換方法中，用戶數(shù)據(jù)區(qū)的出現(xiàn)缺陷的塊被稱為缺陷塊。用于替換缺陷塊的替換塊被記錄在盤的預(yù)定部分中的備用區(qū)中。關(guān)于缺陷塊和替換塊的信息，即用于搜索缺陷塊和替換塊的位置的信息被表示于缺陷列表中。
通常，當(dāng)主機(jī)讀取記錄在盤上的數(shù)據(jù)時(shí)，主機(jī)確定數(shù)據(jù)的邏輯地址，并命令硬盤驅(qū)動(dòng)器讀取數(shù)據(jù)。然后，硬盤驅(qū)動(dòng)器搜索與該邏輯地址對(duì)應(yīng)的物理地址，并讀取記錄在盤上的與該物理地址對(duì)應(yīng)的位置中的數(shù)據(jù)。如果缺陷塊出現(xiàn)在與該物理地址對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)中，則硬盤驅(qū)動(dòng)器必須尋找替換缺陷塊的替換塊。因此，缺陷列表包括缺陷列表?xiàng)l目，每一條目分別包含關(guān)于每一缺陷塊的信息。即，為每一缺陷塊產(chǎn)生缺陷列表?xiàng)l目，因此需要用于缺陷列表的相當(dāng)大的記錄空間。
發(fā)明公開技術(shù)問(wèn)題因此，需要對(duì)用于缺陷列表的空間進(jìn)行有效管理。為此，需要對(duì)關(guān)于缺陷塊，特別是用戶數(shù)據(jù)區(qū)的連續(xù)位置中出現(xiàn)的缺陷塊的信息進(jìn)行有效管理。
技術(shù)解決方案本發(fā)明提供一種其上缺陷被管理的光盤、一種有效地管理盤中用于管理缺陷的缺陷列表所需的空間的缺陷管理設(shè)備和方法、以及存儲(chǔ)用于控制設(shè)備執(zhí)行所述缺陷管理方法的計(jì)算機(jī)程序的計(jì)算機(jī)可讀光盤。
有益效果根據(jù)本發(fā)明，在缺陷管理被執(zhí)行的光盤上，用于記錄缺陷管理的缺陷列表的空間可被有效地管理，從而整個(gè)盤空間可被有效地管理。


圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)裝置的框圖。
圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的單記錄層盤的結(jié)構(gòu)圖。
圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的雙記錄層盤的結(jié)構(gòu)圖。
圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的SA/DL區(qū)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)圖。
圖5是圖4中所示的DL#i的詳細(xì)的數(shù)據(jù)構(gòu)圖。
圖6是圖5中所示的DL條目#i的詳細(xì)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)圖。
圖7是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的連續(xù)缺陷塊的參考圖。
圖8是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的連續(xù)缺陷列表的參考圖。
圖9是示出圖6中所示的替換狀態(tài)信息和連續(xù)缺陷信息的示例的示圖。
圖10A和圖10B是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的具有替換的連續(xù)缺陷塊和沒有替換的連續(xù)缺陷塊的參考圖。
圖11A是圖10B中所示的DL#k的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)圖。
圖11B是圖10B中所示的DL#k的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)圖，該DL#k還包括關(guān)于連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量的信息。
圖11C是圖10B中所示的DL#k的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)圖，該DL/#k還包括關(guān)于具有替換狀態(tài)信息“0”的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量的信息以及關(guān)于具有替換狀態(tài)信息“1”的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量的信息。
圖12是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于其上缺陷區(qū)被管理的光盤的缺陷管理方法的流程圖。
最佳方式根據(jù)本發(fā)明的一方面，其上缺陷被管理的光學(xué)記錄介質(zhì)包括替換用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的缺陷塊的替換塊以及與缺陷有關(guān)的信息記錄在其中的SA/DL區(qū)。所述與缺陷有關(guān)的信息包括連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目，所述連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目包括與位于用戶數(shù)據(jù)區(qū)的連續(xù)位置中的缺陷有關(guān)的信息。
所述連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目可包括開始條目，對(duì)應(yīng)于與第一缺陷塊有關(guān)的信息；和結(jié)束條目，對(duì)應(yīng)于與最后缺陷塊有關(guān)的信息，其中，所述第一缺陷塊和最后缺陷塊屬于用戶數(shù)據(jù)區(qū)的連續(xù)位置中的缺陷塊。
所述開始條目可包括與第一缺陷塊有關(guān)的位置信息以及與替換第一缺陷塊的替換塊有關(guān)的位置信息。
所述結(jié)束條目可包括與最后缺陷塊有關(guān)的位置信息以及與替換最后缺陷塊的替換塊有關(guān)的位置信息。
所述與缺陷有關(guān)的信息可包括與連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息。
所述與缺陷有關(guān)的信息還可包括與缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息。
可通過(guò)將連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量乘以因數(shù)2，并從缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量中減去所得的乘積，來(lái)計(jì)算單個(gè)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量。
所述與缺陷有關(guān)的信息可包括缺陷列表?xiàng)l目，所述缺陷列表?xiàng)l目包括與缺陷塊有關(guān)的位置信息、與替換塊有關(guān)的位置信息、以及與缺陷有關(guān)的狀態(tài)信息。
所述狀態(tài)信息可包括表示缺陷塊是否被替換的替換狀態(tài)信息以及表示缺陷塊是否是連續(xù)缺陷塊的連續(xù)缺陷信息。
所述與缺陷有關(guān)的信息還可包括與具有表示缺陷塊被替換的替換狀態(tài)信息的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息。
所述與缺陷有關(guān)的信息還可包括與具有表示缺陷塊沒有被替換的替換狀態(tài)信息的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，一種用于在光學(xué)記錄介質(zhì)上記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的設(shè)備包括寫/讀單元，用于將數(shù)據(jù)寫在所述介質(zhì)上和/或從所述介質(zhì)讀取數(shù)據(jù)；和控制單元，其中，所述控制單元為所述介質(zhì)分配SA/DL區(qū)，替換用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的具有缺陷的缺陷塊的替換塊以及與缺陷有關(guān)的信息被記錄在所述SA/DL區(qū)中，并且所述控制單元控制寫/讀單元將所述與缺陷有關(guān)的信息記錄在SA/DL區(qū)中，所述與缺陷有關(guān)的信息包括連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目，所述連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目對(duì)應(yīng)于與位于用戶數(shù)據(jù)區(qū)的連續(xù)位置中的缺陷有關(guān)的信息。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，一種在光學(xué)記錄介質(zhì)上記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的方法包括為介質(zhì)分配SA/DL區(qū)，用于替換用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的缺陷塊的替換塊以及與對(duì)應(yīng)于所述缺陷塊的缺陷有關(guān)的信息被記錄在所述SA/DL區(qū)中；將與缺陷有關(guān)的信息記錄在SA/DL區(qū)中，所述與缺陷有關(guān)的信息包括連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目，所述連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目對(duì)應(yīng)于與位于用戶數(shù)據(jù)區(qū)的連續(xù)位置中的缺陷有關(guān)的信息。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供一種存儲(chǔ)程序的計(jì)算機(jī)可讀光盤，所述程序用于控制將數(shù)據(jù)記錄在其上缺陷被管理的光盤上/從該光盤再現(xiàn)數(shù)據(jù)的設(shè)備執(zhí)行缺陷管理方法，所述缺陷管理方法包括為介質(zhì)分配SA/DL區(qū)，用于替換用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的具有缺陷的缺陷塊的替換塊以及與缺陷有關(guān)的信息被記錄在所述SA/DL區(qū)中；將與缺陷有關(guān)的信息記錄在SA/DL區(qū)中，所述與缺陷有關(guān)的信息包括連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目，所述連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目對(duì)應(yīng)于與位于用戶數(shù)據(jù)區(qū)的連續(xù)位置中的缺陷有關(guān)的信息。
具體實(shí)施例方式
現(xiàn)在，將對(duì)本發(fā)明實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述，其示例示出于附圖中，在附圖中，相同的標(biāo)號(hào)始終表示相同的部件。下面，將參照附圖描述實(shí)施例以解釋本發(fā)明。
圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)裝置的框圖。
參照?qǐng)D1，該數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)裝置包括寫/讀單元2和控制單元1。
根據(jù)本發(fā)明，寫/讀單元2包括拾取器，并將數(shù)據(jù)記錄在其上缺陷被管理的盤4上/從盤4讀取數(shù)據(jù)?？刂茊卧?執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的缺陷管理。在本發(fā)明的實(shí)施例中，控制單元1使用寫后校驗(yàn)方法，通過(guò)以預(yù)定的單位記錄數(shù)據(jù)并對(duì)記錄的數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)來(lái)尋找有缺陷的數(shù)據(jù)?？刂茊卧?通過(guò)以記錄操作單位寫入用戶數(shù)據(jù)并對(duì)用戶數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)來(lái)檢查何處出現(xiàn)了缺陷數(shù)據(jù)?？刂茊卧?在檢查到缺陷數(shù)據(jù)之后，產(chǎn)生指示缺陷數(shù)據(jù)位于何處的缺陷信息，將產(chǎn)生的信息存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中，并在匯集了預(yù)定量的所述產(chǎn)生的信息之后，將產(chǎn)生的信息作為臨時(shí)缺陷信息記錄在盤上。
在本發(fā)明的實(shí)施例中，作為由用戶的意圖確定的操作的記錄操作或者期望的記錄操作等指的是包括加載盤、在盤上記錄數(shù)據(jù)、以及卸載盤的操作。在所述記錄操作期間，寫后校驗(yàn)操作至少被執(zhí)行一次。然后，將通過(guò)使用寫后校驗(yàn)操作獲得的所述臨時(shí)缺陷信息臨時(shí)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中。
當(dāng)用戶為了卸載盤而按下彈出按鈕(未示出)時(shí)，控制單元1確定記錄操作被終止，并讀取存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的臨時(shí)缺陷信息，將該信息提供給寫/讀單元2，使該信息被記錄在盤上。
控制單元1包括系統(tǒng)控制器10、主機(jī)I/F 20、數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)30、RF AMP 40和伺服機(jī)構(gòu)50。在記錄操作期間，主機(jī)I/F 20從主機(jī)3(在本實(shí)施例中，為計(jì)算機(jī))接收預(yù)定的寫命令，并將該寫命令發(fā)送到系統(tǒng)控制器10。系統(tǒng)控制器10在從主機(jī)I/F 20接收的寫命令下，控制DSP 30和伺服機(jī)構(gòu)50執(zhí)行記錄操作。DSP 30將諸如奇偶校驗(yàn)的附加數(shù)據(jù)添加到從主機(jī)I/F20接收的將被記錄的數(shù)據(jù)以糾正數(shù)據(jù)差錯(cuò)，并且DSP 30執(zhí)行ECC編碼，產(chǎn)生作為糾錯(cuò)塊的ECC塊，并以預(yù)定的方式對(duì)ECC塊進(jìn)行調(diào)制。RF AMP 40將從DSP 30輸出的數(shù)據(jù)改變?yōu)镽F信號(hào)。寫/讀單元2將從RF AMP 40發(fā)送來(lái)的RF信號(hào)記錄在盤4上。伺服機(jī)構(gòu)50存儲(chǔ)從系統(tǒng)控制器10輸入的記錄命令，并對(duì)寫/讀單元2的拾取器進(jìn)行伺服控制。
系統(tǒng)控制器10包括缺陷管理單元11和存儲(chǔ)器單元12，以管理缺陷。根據(jù)本發(fā)明，缺陷管理單元11讀取存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器單元12中的臨時(shí)缺陷信息，匯集所述臨時(shí)缺陷信息，然后產(chǎn)生缺陷列表。即，當(dāng)缺陷管理單元11在讀取的缺陷信息中找到關(guān)于連續(xù)的缺陷塊的信息時(shí)，缺陷管理單元11產(chǎn)生連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目，所述連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目包括開始條目，與關(guān)于所述連續(xù)缺陷塊的第一缺陷塊的信息對(duì)應(yīng)；和結(jié)束條目，與關(guān)于所述連續(xù)缺陷塊的最后缺陷塊的信息對(duì)應(yīng)。因此，即使連續(xù)出現(xiàn)例如8個(gè)缺陷塊，也僅產(chǎn)生2個(gè)條目，而不是8個(gè)條目，這是因?yàn)椴皇菫?個(gè)塊的每一個(gè)產(chǎn)生條目，而是為8個(gè)連續(xù)缺陷塊的第一塊和最后塊產(chǎn)生條目。因此，存儲(chǔ)條目所需的空間可減小。缺陷管理單元11還產(chǎn)生DL條目，所述DL條目包括連續(xù)缺陷信息，顯示缺陷是連續(xù)缺陷還是單個(gè)缺陷；替換狀態(tài)信息，顯示是否存在替換塊。缺陷管理單元11產(chǎn)生包括這樣的DL條目的DL。
為了再現(xiàn)數(shù)據(jù)，主機(jī)I/F 20從主機(jī)3接收讀命令。系統(tǒng)控制器10執(zhí)行再現(xiàn)所需的初始化。寫/讀單元2將激光束投射到盤4上，并輸出通過(guò)接收從盤4反射的激光束而獲得的光學(xué)信號(hào)。RF AMP 40將從寫/讀單元2輸出的光學(xué)信號(hào)改變?yōu)镽F信號(hào)，將從該RF信號(hào)獲得的調(diào)制的數(shù)據(jù)發(fā)送到DSP 30，并將從該RF信號(hào)獲得的伺服控制信號(hào)發(fā)送到伺服機(jī)構(gòu)50。DSP 30對(duì)調(diào)制的數(shù)據(jù)進(jìn)行解調(diào)，并對(duì)解調(diào)的數(shù)據(jù)執(zhí)行ECC糾錯(cuò)。在接收到來(lái)自RF AMP 40的伺服信號(hào)和來(lái)自系統(tǒng)控制器10的控制伺服所需的命令之后，伺服機(jī)構(gòu)50對(duì)拾取器進(jìn)行伺服控制。主機(jī)I/F 20將從DSP 30接收的數(shù)據(jù)發(fā)送到主機(jī)3。為了控制數(shù)據(jù)的再現(xiàn)，系統(tǒng)控制器10控制伺服機(jī)構(gòu)50從數(shù)據(jù)被記錄的位置讀取數(shù)據(jù)。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的其上缺陷被管理的光盤的結(jié)構(gòu)如下。
記錄在根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光盤上的盤管理信息(DMI)包括盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、記錄管理數(shù)據(jù)(RMD)和缺陷列表(DL)。DMI記錄于其上的盤管理區(qū)(DMA)包括臨時(shí)盤管理區(qū)(TDMA)，當(dāng)盤被記錄時(shí)，TDMA用于記錄臨時(shí)DMI；和最終的盤管理區(qū)(FDMA)，用于記錄最終的DMI。
用于記錄臨時(shí)DMI的TDMA包括DDS/RMD區(qū)，用于記錄DDS和RMD；和DL區(qū)，用于記錄DL。
DDS包括關(guān)于SA/DL區(qū)的位置信息，在所述SA/DL區(qū)中記錄有替換塊和DL，當(dāng)記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)塊中出現(xiàn)缺陷時(shí)所述替換塊替換缺陷塊；關(guān)于DDS/RMD區(qū)的位置信息；關(guān)于DL被記錄于何處的位置信息；可用于替換SA/DL區(qū)中的數(shù)據(jù)或用于更新DL的位置信息；一致性標(biāo)記，用于檢查盤是否在被使用時(shí)正常彈出；以及寫保護(hù)信息，用于防止寫入。
RMD是與管理盤上記錄的數(shù)據(jù)有關(guān)的信息，包括R區(qū)域條目，顯示順序記錄模式下每一R區(qū)域的狀態(tài)；位映射(bitmap)，顯示為位值，所述位值表示對(duì)于隨機(jī)記錄模式，與用戶區(qū)的每一記錄單位塊有關(guān)的數(shù)據(jù)是否被記錄。
在單記錄層盤中，用于記錄DDS和RMD的DDS/RMD區(qū)被布置在導(dǎo)入?yún)^(qū)或?qū)С鰠^(qū)中，而在雙記錄層盤中，DDS/RMD區(qū)被布置在導(dǎo)入?yún)^(qū)、中間區(qū)或?qū)С鰠^(qū)中。在為了使用盤而對(duì)盤初始化時(shí)根據(jù)驅(qū)動(dòng)器制造商或用戶的意圖，DDS/RMD區(qū)可被分配在數(shù)據(jù)區(qū)的一部分中以增加可能的更新的數(shù)量。
當(dāng)已不能在盤上記錄更多數(shù)據(jù)，或者用戶想要保持盤的當(dāng)前狀態(tài)而不再記錄另外的數(shù)據(jù)，僅將該盤用于再現(xiàn)時(shí)，執(zhí)行封盤，并且最終的盤管理信息被記錄在FDMA中。
PCA區(qū)被布置用于測(cè)試，所述測(cè)試是指根據(jù)寫策略從各種記錄功率中檢測(cè)最佳記錄功率并檢測(cè)根據(jù)寫策略的變量。
圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的單記錄層盤的結(jié)構(gòu)圖。
參照?qǐng)D2，導(dǎo)出區(qū)向著盤的外周形成，導(dǎo)入?yún)^(qū)向著盤的中心形成，數(shù)據(jù)區(qū)形成在導(dǎo)出區(qū)和導(dǎo)入?yún)^(qū)之間。
導(dǎo)入?yún)^(qū)包括PCA#0、FDMA#1、FDMA#2和DDS/RMD區(qū)#0。數(shù)據(jù)區(qū)包括用戶區(qū)、SA/DL區(qū)#0和SA/DL區(qū)#1。導(dǎo)出區(qū)包括PCA#1、FDMA#3、FDMA#4和DDS/RMD區(qū)#1。
圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的雙記錄層盤的結(jié)構(gòu)圖。
參照?qǐng)D3，導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)#0和中間區(qū)#0布置在一個(gè)記錄層L0中，而中間區(qū)#1、數(shù)據(jù)區(qū)#1和導(dǎo)出區(qū)順次布置在另一記錄區(qū)L1中。
在層L0中，導(dǎo)入?yún)^(qū)包括PCA#0、FDMA#2、DDS/RMD區(qū)#0和FDMA#1。數(shù)據(jù)區(qū)包括SA/DL區(qū)#0和用戶區(qū)#0。中間區(qū)#0包括FDMA#3、DDS/RMD區(qū)#2、FDMA#4和PCA#1。另一方面，在層L1中，中間區(qū)#1包括FDMA#3、DDS/RMD區(qū)#3、FDMA#4和PCA#3。數(shù)據(jù)區(qū)#1包括SA/DL區(qū)#1和用戶區(qū)#1。導(dǎo)出區(qū)包括PCA#2、FDMA#2、DDS/RMD區(qū)#1和FDMA#1。
如圖2和圖3中所示，當(dāng)用戶區(qū)中出現(xiàn)缺陷時(shí)，替換缺陷塊的替換塊與關(guān)于缺陷的信息一起被記錄在SA/DL區(qū)中。所述關(guān)于缺陷的信息包括關(guān)于缺陷塊的位置信息、關(guān)于替換塊的位置信息以及關(guān)于連續(xù)缺陷的信息。
圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的SA/DL區(qū)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)圖。
參照?qǐng)D4，SA/DL區(qū)#i包括DL#0、替換塊#1......替換塊#k、DL#1、替換塊#k+1......DL#m。
DL#0是包括關(guān)于缺陷的信息的缺陷列表，包括初始化信息。
從替換塊#1至#k的替換塊緊接著DL#0設(shè)置，這些替換塊替換從缺陷塊#1至#k的缺陷塊。DL#1是包括與從缺陷塊#1至#k的缺陷塊有關(guān)的信息以及與從替換塊#1至#k的替換塊有關(guān)的信息的缺陷列表，DL#1緊接著替換塊#k被記錄。從替換塊#k+1至#m的替換塊緊接著DL#1設(shè)置，關(guān)于用戶區(qū)中出現(xiàn)的缺陷，這些替換塊替換從缺陷塊#k+1至#m的缺陷塊。
以這樣的方式，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的包括與缺陷有關(guān)的信息的缺陷列表被記錄在SA/DL區(qū)中，替換缺陷塊的替換塊也位于該SA/DL區(qū)中。即，缺陷列表和替換塊位于一個(gè)區(qū)中，而不是位于分開的區(qū)中。
圖5是圖4中所示的DL#i的詳細(xì)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)圖。
參照?qǐng)D5，DL#i 200包括DL標(biāo)識(shí)符210、DL更新計(jì)數(shù)器220、DL條目數(shù)量230、DL條目#1 240、以及DL條目#2 250。
DL標(biāo)識(shí)符210是指示缺陷列表的標(biāo)識(shí)符。即，由于根據(jù)本發(fā)明本實(shí)施例，缺陷列表和替換塊一同位于SA/DL區(qū)中，因此需要指示缺陷列表的標(biāo)識(shí)符。
DL更新計(jì)數(shù)器220是顯示缺陷列表的更新次數(shù)的值。
DL條目數(shù)量230是缺陷列表中包括的條目的總數(shù)。
DL條目#1 240或DL條目#2 250是具有關(guān)于缺陷的信息的條目。圖6中示出了這些DL條目中包括的內(nèi)容的例子。
圖6是圖5中所示的DL條目#i的詳細(xì)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)圖。
參照?qǐng)D6，DL條目#i 300包括狀態(tài)信息310、缺陷塊位置信息320和替換塊位置信息330。
狀態(tài)信息310是關(guān)于由相應(yīng)的DL條目表示的缺陷的狀態(tài)信息。缺陷塊位置信息320表示與用戶區(qū)上記錄的缺陷塊有關(guān)的位置信息，例如缺陷塊的扇區(qū)號(hào)。替換塊位置信息330表示與SA/DL區(qū)上記錄的替換塊有關(guān)的位置信息，例如替換塊的物理扇區(qū)號(hào)。
狀態(tài)信息310包括長(zhǎng)度為1位的替換狀態(tài)信息311、長(zhǎng)度為2位的連續(xù)缺陷信息312。
替換狀態(tài)信息311表示出現(xiàn)在用戶區(qū)中的缺陷塊是否被替換。即，該信息表示是用戶區(qū)中的缺陷塊被替換并且替換塊存在于SA/DL區(qū)中，還是缺陷塊沒有被替換并且替換塊不存在于SA/DL區(qū)中。
連續(xù)缺陷信息312表示DL條目是否是表示連續(xù)缺陷塊的連續(xù)DL條目，以及如果DL條目是連續(xù)DL條目，則該DL條目是連續(xù)DL條目的開始還是連續(xù)DL條目的結(jié)束。
以下，將參照?qǐng)D7和圖8描述連續(xù)缺陷塊和連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目。
參照?qǐng)D7，①至⑦指的是其中寫后校驗(yàn)操作被執(zhí)行的單位。記錄設(shè)備將用戶數(shù)據(jù)記錄到區(qū)段①上，然后返回區(qū)段①的最初部分，以檢查是數(shù)據(jù)被正確地記錄還是出現(xiàn)缺陷。如果檢測(cè)到有缺陷的部分，則該部分被指定為缺陷區(qū)。因此，作為缺陷區(qū)的缺陷#1被指定。記錄設(shè)備將缺陷#1中記錄的數(shù)據(jù)再次記錄在SA/DL區(qū)中。缺陷#1中記錄的數(shù)據(jù)被再次記錄在其中的部分稱為替換#1。然后，記錄設(shè)備將用戶數(shù)據(jù)記錄到區(qū)段②，然后返回區(qū)段②的最初部分，以檢查是數(shù)據(jù)被正確地記錄還是出現(xiàn)缺陷。如果檢測(cè)到有缺陷的部分，則該部分被指定為缺陷#2。以相同的方式，產(chǎn)生與缺陷#2對(duì)應(yīng)的替換#2。在區(qū)段③中，產(chǎn)生缺陷#3和替換#3。由于在區(qū)段④中沒有檢測(cè)到有缺陷的部分，因此在該區(qū)段中不存在缺陷區(qū)。
當(dāng)在記錄并校驗(yàn)到區(qū)段④之后預(yù)知記錄操作#0的終止時(shí)(當(dāng)用戶按下彈出按鈕或者該記錄操作中分配的用戶數(shù)據(jù)的記錄完成時(shí))，記錄設(shè)備在SA/DL區(qū)中記錄DL#1，所述DL#1包括與區(qū)段①至④中出現(xiàn)的缺陷#1、#2和#3有關(guān)的信息。
在記錄操作#1期間，記錄裝置將用戶數(shù)據(jù)記錄到區(qū)段⑤，然后返回區(qū)段⑤的最初部分，以檢查是數(shù)據(jù)被正確地記錄還是出現(xiàn)缺陷。如果檢測(cè)到有缺陷的部分，則該部分被指定為缺陷區(qū)。以這樣的方式，由于作為缺陷區(qū)的缺陷#4和缺陷#5已連續(xù)出現(xiàn)，因此連續(xù)塊被指定為缺陷塊。記錄裝置將缺陷#4和缺陷#5中記錄的數(shù)據(jù)再次記錄在SA/DL區(qū)中。然后，記錄設(shè)備將用戶數(shù)據(jù)記錄到區(qū)段⑥，然后返回區(qū)段⑥的最初部分，以檢查是數(shù)據(jù)被正確地記錄還是出現(xiàn)缺陷。如果作為缺陷區(qū)的缺陷#6和缺陷#7連續(xù)地出現(xiàn)，則連續(xù)塊被指定為缺陷塊。記錄設(shè)備將缺陷#6和缺陷#7中記錄的數(shù)據(jù)再次記錄在SA/DL區(qū)中。在區(qū)段⑦中，沒有檢測(cè)到有缺陷的部分，所以不存在缺陷區(qū)。當(dāng)預(yù)知記錄操作#1的終止時(shí)，記錄設(shè)備將DL#2記錄在SA/DL區(qū)中，DL#2包括關(guān)于缺陷#4至#7的信息。
用戶區(qū)的連續(xù)位置中出現(xiàn)的缺陷塊，如記錄操作#1中出現(xiàn)的缺陷是連續(xù)缺陷塊。該連續(xù)缺陷塊的第一缺陷塊是缺陷#4，最后缺陷塊是缺陷#7。
替換在用戶區(qū)的預(yù)定位置中連續(xù)出現(xiàn)的連續(xù)缺陷塊的替換塊被記錄在SA/DL區(qū)的連續(xù)位置。如SA/DL區(qū)中所示，替換缺陷塊#4的替換塊#4被布置。在下一位置，替換缺陷塊#5的替換塊#5被布置。在下一位置，替換缺陷塊#6的替換塊#6被布置。然后，在下一位置，替換缺陷塊#7的替換塊#7被布置。替換連續(xù)缺陷塊的替換塊中的第一替換塊是替換塊#4，替換這些連續(xù)缺陷塊的最后替換塊是替換塊#7。
當(dāng)在連續(xù)位置出現(xiàn)連續(xù)缺陷塊時(shí)，由于這樣的特性，即連續(xù)缺陷塊中包括的缺陷塊位于連續(xù)位置，因此只要知道了連續(xù)缺陷塊的第一塊的位置和最后塊的位置，就可從第一和最后塊的位置知道連續(xù)缺陷塊中包括的其余塊的位置。因此，通過(guò)僅包括關(guān)于缺陷的信息中的與連續(xù)缺陷塊的第一缺陷塊和最后缺陷塊有關(guān)的信息，可減小記錄關(guān)于缺陷的信息所需的空間。這也同樣適用于替換連續(xù)缺陷塊的替換塊。
因此，如圖8中所示，顯示與連續(xù)缺陷塊有關(guān)的信息的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目可包括開始條目和結(jié)束條目。
參照?qǐng)D8，連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目包括開始條目和結(jié)束條目。開始條目和結(jié)束條目都具有與圖6中所示的DL條目相同的結(jié)構(gòu)。開始條目包含與連續(xù)缺陷中的第一缺陷有關(guān)的信息，結(jié)束條目包含與連續(xù)缺陷中的最后缺陷有關(guān)的信息。
開始條目包括狀態(tài)信息；第一缺陷塊位置信息，表示連續(xù)缺陷塊中的第一缺陷塊被記錄在用戶區(qū)中的位置；第一替換塊位置信息，表示替換第一缺陷塊的第一替換塊被記錄在SA/DL區(qū)中的位置。結(jié)束條目包括狀態(tài)信息；最后缺陷塊位置信息，表示連續(xù)缺陷塊中的最后缺陷塊被記錄在用戶區(qū)中的位置；最后替換塊位置信息，表示替換最后缺陷塊的最后替換塊被記錄在SA/DL區(qū)中的位置。
圖9是圖6中所示的替換狀態(tài)信息和連續(xù)缺陷信息的示例。
參照?qǐng)D9，表示替換狀態(tài)信息的位是“0”和“1”。如果替換狀態(tài)信息311是“1”，則與缺陷塊位置信息320對(duì)應(yīng)的缺陷塊沒有被替換，僅缺陷位置被示出。如果替換狀態(tài)信息311是“0”，則與缺陷塊位置信息320對(duì)應(yīng)的缺陷塊被與替換塊位置信息330對(duì)應(yīng)的替換塊替換。
表示連續(xù)缺陷信息的位是“00”、“01”和“10”。如果連續(xù)缺陷信息312是“00”，則DL條目不是連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目，而是單個(gè)缺陷列表?xiàng)l目。在這種情況下，取決于作為替換狀態(tài)信息設(shè)置的值，DL條目可表示具有替換的缺陷塊或者沒有替換的缺陷塊。在具有替換的缺陷塊的情況下，DL條目具有缺陷塊位置信息和替換塊位置信息。在沒有替換的缺陷塊的情況下，DL條目?jī)H具有缺陷塊位置信息。
如果連續(xù)缺陷信息312是“01”，則DL條目表示連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的開始條目。因此，如圖8中所示，該DL條目具有與連續(xù)缺陷塊有關(guān)的第一缺陷塊位置信息以及與連續(xù)替換塊有關(guān)的第一替換塊位置信息。
如果連續(xù)缺陷信息312是“10”，則DL條目表示連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的結(jié)束條目。因此，如圖8中所示，DL條目具有與連續(xù)缺陷塊有關(guān)的最后缺陷塊位置信息以及與連續(xù)替換塊有關(guān)的最后替換塊位置信息。
以下，將描述長(zhǎng)度為1位的狀態(tài)信息311和長(zhǎng)度為2位的連續(xù)缺陷信息312的3位組合的賦值。
如果所述3位組合為“000”，則DL條目表示關(guān)于單個(gè)缺陷塊的單個(gè)缺陷列表?xiàng)l目以及該單個(gè)缺陷塊具有替換塊的狀態(tài)。因此，DL條目具有缺陷塊位置信息和替換塊位置信息。
如果所述3位組合為“100”，則DL條目表示關(guān)于單個(gè)缺陷塊的單個(gè)缺陷列表?xiàng)l目以及該單個(gè)缺陷塊沒有替換塊的狀態(tài)。因此，DL條目具有缺陷塊位置信息，但是沒有替換塊位置信息。
如果所述3位組合為“001”，則DL條目表示連續(xù)缺陷塊的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的開始條目，并且與該開始條目對(duì)應(yīng)的作為連續(xù)缺陷塊中的第一缺陷塊的缺陷塊具有替換塊。因此，DL條目具有與連續(xù)缺陷塊中的第一缺陷塊有關(guān)的位置信息以及與替換連續(xù)缺陷塊的連續(xù)替換塊中的第一替換塊有關(guān)的位置信息。
如果所述3位組合為“010”，則DL條目表示連續(xù)缺陷塊的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的結(jié)束條目，并且與該結(jié)束條目對(duì)應(yīng)的作為連續(xù)缺陷塊中的最后缺陷塊的缺陷塊具有替換塊。因此，DL條目具有與連續(xù)缺陷塊中的最后缺陷塊有關(guān)的位置信息以及與替換連續(xù)缺陷塊的連續(xù)替換塊中的最后替換塊有關(guān)的位置信息。
如果所述3位組合為“110”，則DL條目表示連續(xù)缺陷塊的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的結(jié)束條目，并且與該結(jié)束條目對(duì)應(yīng)的作為連續(xù)缺陷塊中的最后缺陷塊的缺陷塊沒有替換塊。因此，DL條目具有與連續(xù)缺陷塊中的最后缺陷塊有關(guān)的位置信息，但是沒有與替換連續(xù)缺陷塊的連續(xù)替換塊中的最后替換塊有關(guān)的位置信息。
圖10A和圖10B是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的連續(xù)缺陷信息的參考圖。
圖10A表示用戶數(shù)據(jù)被記錄在其中的用戶區(qū)，圖10B表示替換塊和缺陷列表被記錄在其中的SA/DL區(qū)。
參照?qǐng)D10A，作為第一缺陷的單個(gè)缺陷塊□出現(xiàn)在用戶區(qū)位置“5”。作為第二缺陷塊的連續(xù)缺陷塊□、□、□和□出現(xiàn)在連續(xù)位置“9”至“12”。作為第三缺陷塊的連續(xù)缺陷塊□、□、□和□出現(xiàn)在連續(xù)位置“17”至“20”。
參照?qǐng)D10B，SA/DL區(qū)中示出了作為替換用戶區(qū)中出現(xiàn)的缺陷塊的替換塊以及缺陷列表。
替換單個(gè)缺陷塊□的單個(gè)替換塊□’布置在SA/DL區(qū)的位置“55”。連續(xù)地替換連續(xù)缺陷塊□、□、□和□的連續(xù)替換塊□’、□’、□’和□’布置在SA/DL區(qū)的位置“56”至“59”。在第四個(gè)連續(xù)缺陷之后被更新的缺陷列表DL#k被記錄在位置“60”。連續(xù)缺陷塊□、□、□和□沒有替換塊。圖11A中示出缺陷列表DL#k中包括的信息。
圖11A是圖10B中示出的DL#k的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)圖。
參照?qǐng)D11A，DL#k 400包括DL標(biāo)識(shí)符410、DL更新計(jì)數(shù)器420、DL條目數(shù)量430、以及5個(gè)DL條目，即DL條目#1440、DL條目#2450、DL條目#3460、DL條目#4470和DL條目#5480。
DL標(biāo)識(shí)符410是指示DL的標(biāo)識(shí)符。在DL更新計(jì)數(shù)器420中，“K”被記錄為DL更新的次數(shù)。在DL條目數(shù)量430中，“5”被記錄為DL#K中包括的條目的總數(shù)。
DL條目#1440是與圖10A中所示的單個(gè)缺陷塊□有關(guān)的條目。在DL條目#1440中，“0”被記錄為替換狀態(tài)信息，“00”作為連續(xù)缺陷信息，“5”作為缺陷塊位置信息，“55”作為替換塊位置信息。
DL條目#2 450和DL條目#3 460包括連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目。
DL條目#2 450是連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的開始條目，DL條目#3 460是連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的結(jié)束條目。即，DL條目#2 450是與圖10A中所示的連續(xù)缺陷塊中的第一缺陷塊□有關(guān)的條目。在DL條目#2 450中，因?yàn)槿毕輭K□被替換，所以“0”被記錄為替換狀態(tài)信息。因?yàn)镈L條目#2 450是連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的開始條目，所以“01”被記錄為連續(xù)缺陷信息。“9”被記錄為缺陷塊□的位置信息，“56”被記錄為替換塊□’的位置信息。
DL條目#3 460是與圖8中所示的連續(xù)缺陷塊中的最后缺陷塊□有關(guān)的條目。在DL條目#3 460中，因?yàn)槿毕輭K□被替換，所以“0”被記錄為替換狀態(tài)信息。DL條目#3 460是連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的結(jié)束條目，所以“10”被記錄為連續(xù)缺陷信息?！?2”被記錄為缺陷塊□的位置信息，“59”被記錄為替換塊□’的位置信息。
DL條目#4 470和DL條目#5 480包括連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目。
DL條目#4 470是連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的開始條目，DL條目#5 480是連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的結(jié)束條目。即，DL條目#4 470是與圖10A中所示的連續(xù)缺陷塊中的第一缺陷塊□有關(guān)的條目。在DL條目#4 470中，因?yàn)槿毕輭K□沒有被替換，所以“1”被記錄為替換狀態(tài)信息。因?yàn)镈L條目#4 470是連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的開始條目，所以“01”被記錄為連續(xù)缺陷信息?！?7”被記錄為缺陷塊□的位置信息。因?yàn)樘鎿Q缺陷塊□的替換塊不存在，所以“00”被記錄為替換位置信息。
DL條目#5480是與圖10A中所示的連續(xù)缺陷塊中的最后缺陷塊□有關(guān)的條目。在DL條目#5480中，因?yàn)槿毕輭K□沒有被替換，所以“1”被記錄為替換狀態(tài)信息。因?yàn)镈L條目#5480是連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的結(jié)束條目，所以“10”被記錄為連續(xù)缺陷信息?！?0”被記錄為缺陷塊□的位置信息。因?yàn)樘鎿Q缺陷塊□的替換塊不存在，所以“00”被記錄為替換塊位置信息。
圖11B是圖10B中所示的DL#k的結(jié)構(gòu)圖，該DL#k還包括關(guān)于連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目數(shù)量的信息。
圖11B中所示的DL#k與圖11A中所示的DL#k相似，不同之處在于圖11B中所示的DL#k還包括連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目數(shù)量490。參照?qǐng)D10，因?yàn)橛袃蓚€(gè)連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目，所以“2”被記錄為連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目數(shù)量490。
通過(guò)包括用于連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量的字段，不需搜索所有的DL條目，就可知道缺陷列表中連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量和單個(gè)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量。如下面所示，可從DL條目的數(shù)量和連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量計(jì)算單個(gè)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量。
單個(gè)缺陷列表?xiàng)l目數(shù)量＝DL條目數(shù)量-2×連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目數(shù)量。
因?yàn)檫B續(xù)缺陷列表?xiàng)l目包括開始條目和結(jié)束條目，所以可形成上面的表達(dá)式。
例如，在圖11B中所示的DL#k中，單個(gè)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量可被計(jì)算為“單個(gè)缺陷列表?xiàng)l目數(shù)量＝5-2×2＝1”。
圖11C是圖11B中所示的DL#k的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)圖，該DL#k還包括與具有替換狀態(tài)信息“0”的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息；以及與具有替換狀態(tài)信息“1”的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息。
圖11C中所示的DL#k與圖11B中所示的DL#k相似，不同之處在于圖11C中所示的DL#k還包括與具有替換狀態(tài)信息“0”的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息500；以及與具有替換狀態(tài)信息“1”的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息510。參照?qǐng)D11A，具有替換狀態(tài)信息“0”的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目是包括DL條目#2 450和DL條目#3 460的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目。因?yàn)榫哂刑鎿Q狀態(tài)信息“0”的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量為1，所以“1”被記錄為具有替換狀態(tài)信息“0”的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量500。具有替換狀態(tài)信息“1”的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目是包括DL條目#4 470和DL條目#5 480的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目。因?yàn)榫哂刑鎿Q狀態(tài)信息“1”的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量為1，所以“1”被記錄為具有替換狀態(tài)信息“1”的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量510。
圖12是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的缺陷管理方法的流程圖。
參照?qǐng)D12，在操作1201，記錄設(shè)備以其中執(zhí)行寫后校驗(yàn)操作的單位在數(shù)據(jù)區(qū)中記錄用戶數(shù)據(jù)。接下來(lái)，在操作1202，操作1201中記錄的數(shù)據(jù)被校驗(yàn)以尋找出現(xiàn)缺陷的部分。在操作1203，控制單元1將出現(xiàn)缺陷的部分指定為缺陷區(qū)，將記錄在缺陷區(qū)中的數(shù)據(jù)再次記錄在SA/DL區(qū)中以產(chǎn)生替換區(qū)，產(chǎn)生與缺陷塊和替換塊有關(guān)的信息，并將該信息記錄在存儲(chǔ)器中。操作1201至1203被重復(fù)，直到預(yù)知到記錄操作的終止。
當(dāng)根據(jù)用戶輸入記錄了用戶數(shù)據(jù)，或者完成了記錄操作并且在操作1204中預(yù)知到該記錄操作的終止時(shí)，在操作1205，記錄裝置的控制單元1讀取存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的關(guān)于缺陷的信息。
如果在讀取的關(guān)于缺陷的信息中存在關(guān)于連續(xù)缺陷的信息，則產(chǎn)生包括開始條目和結(jié)束條目的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目，所述開始條目與關(guān)于連續(xù)缺陷的第一缺陷的信息對(duì)應(yīng)，所述結(jié)束條目與關(guān)于最后缺陷的信息對(duì)應(yīng)，并且在操作1206中，還通過(guò)包括連續(xù)缺陷信息和替換狀態(tài)信息來(lái)產(chǎn)生DL，所述連續(xù)缺陷信息顯示缺陷是連續(xù)缺陷還是單個(gè)缺陷，所述替換狀態(tài)信息顯示在每一DL條目中是否存在替換塊。
在操作1207中，產(chǎn)生的DL被記錄在SA/DL區(qū)中。
上面所描述的盤缺陷管理方法還可被實(shí)現(xiàn)為存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)上的計(jì)算機(jī)可讀代碼。所述計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)包括存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)可讀數(shù)據(jù)的所有種類的記錄介質(zhì)。所述計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)的例子包括ROM、RAM、CD-ROM、立體聲磁帶、軟盤和光學(xué)數(shù)據(jù)記錄裝置。計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)還可以是載波(例如，經(jīng)互聯(lián)網(wǎng)傳輸)。在分布到通過(guò)網(wǎng)絡(luò)連接的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)中，可存儲(chǔ)并執(zhí)行可由計(jì)算機(jī)通過(guò)分布式方法讀取的代碼?？捎杀景l(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的程序員容易地推出用于實(shí)現(xiàn)盤缺陷管理方法的功能程序、代碼、代碼段。
盡管已顯示并描述了本發(fā)明的幾個(gè)實(shí)施例，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該理解，在不脫離權(quán)利要求及其等同物中限定其范圍的本發(fā)明的原則和精神的情況下，可對(duì)這些實(shí)施例進(jìn)行改變。
產(chǎn)業(yè)上的可利用性本發(fā)明適用于用于缺陷管理的光學(xué)記錄介質(zhì)、記錄/再現(xiàn)設(shè)備和記錄/再現(xiàn)方法。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)記錄介質(zhì)，包括用戶數(shù)據(jù)區(qū)；和SA/DL區(qū)，其中，替換位于用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的缺陷塊的替換塊以及與對(duì)應(yīng)于所述缺陷塊的缺陷有關(guān)的信息被記錄在所述SA/DL區(qū)中，其中，所述與缺陷有關(guān)的信息包括連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目，所述連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目包括與位于用戶數(shù)據(jù)區(qū)的連續(xù)位置中的缺陷有關(guān)的信息。
2.如權(quán)利要求1所述的介質(zhì)，其中，所述連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目包括開始條目，對(duì)應(yīng)于與第一缺陷塊有關(guān)的信息；和結(jié)束條目，對(duì)應(yīng)于與最后缺陷塊有關(guān)的信息，其中，所述第一缺陷塊和最后缺陷塊在用戶數(shù)據(jù)區(qū)的連續(xù)位置中的缺陷塊中。
3.如權(quán)利要求2所述的介質(zhì)，其中，所述開始條目包括與第一缺陷塊有關(guān)的位置信息以及與替換第一缺陷塊的替換塊有關(guān)的位置信息。
4.如權(quán)利要求2所述的介質(zhì)，其中，所述結(jié)束條目包括與最后缺陷塊有關(guān)的位置信息以及與替換最后缺陷塊的替換塊有關(guān)的位置信息。
5.如權(quán)利要求1所述的介質(zhì)，其中，所述與缺陷有關(guān)的信息還包括與連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息。
6.如權(quán)利要求5所述的介質(zhì)，其中，所述與缺陷有關(guān)的信息還包括與缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息。
7.如權(quán)利要求6所述的介質(zhì)，其中，通過(guò)將連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量乘以因數(shù)2，并從缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量中減去所得的乘積，來(lái)計(jì)算單個(gè)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量。
8.如權(quán)利要求1所述的介質(zhì)，其中，所述與缺陷有關(guān)的信息還包括缺陷列表?xiàng)l目，包括與缺陷塊有關(guān)的位置信息、與替換塊有關(guān)的位置信息、以及與缺陷有關(guān)的狀態(tài)信息。
9.如權(quán)利要求8所述的介質(zhì)，其中，所述狀態(tài)信息包括表示缺陷塊是否被替換的替換狀態(tài)信息以及表示缺陷塊是否是連續(xù)缺陷塊的連續(xù)缺陷信息。
10.如權(quán)利要求8所述的介質(zhì)，其中，所述與缺陷有關(guān)的信息還包括與具有表示缺陷塊被替換的替換狀態(tài)信息的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息。
11.如權(quán)利要求10所述的介質(zhì)，其中，所述與缺陷有關(guān)的信息還包括與具有表示缺陷塊沒有被替換的替換狀態(tài)信息的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息。
12.一種用于將數(shù)據(jù)記錄在光學(xué)記錄介質(zhì)上/從光學(xué)記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的設(shè)備，該設(shè)備包括寫/讀單元，用于將數(shù)據(jù)寫在所述介質(zhì)上和/或從所述介質(zhì)讀取數(shù)據(jù)；和控制單元；其中，所述控制單元為所述介質(zhì)分配SA/DL區(qū)，其中，替換用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的具有缺陷的缺陷塊的替換塊以及與缺陷有關(guān)的信息被記錄在所述SA/DL區(qū)中；并且所述控制單元控制寫/讀單元將所述與缺陷有關(guān)的信息記錄在SA/DL區(qū)中，所述與缺陷有關(guān)的信息包括連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目，所述連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目對(duì)應(yīng)于與位于用戶數(shù)據(jù)區(qū)的連續(xù)位置中的缺陷有關(guān)的信息。
13.如權(quán)利要求12所述的設(shè)備，其中，所述連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目包括開始條目，對(duì)應(yīng)于與連續(xù)位置中的缺陷塊中的第一缺陷塊有關(guān)的信息；結(jié)束條目，對(duì)應(yīng)于與連續(xù)位置中的缺陷塊中的最后缺陷塊有關(guān)的信息。
14.如權(quán)利要求13所述的設(shè)備，其中，控制單元產(chǎn)生開始條目，所述開始條目包括與第一缺陷塊有關(guān)的位置信息以及與替換第一缺陷塊的替換塊有關(guān)的位置信息。
15.如權(quán)利要求14所述的設(shè)備，其中，控制單元產(chǎn)生結(jié)束條目，所述結(jié)束條目包括與最后缺陷塊有關(guān)的位置信息以及與替換最后缺陷塊的替換塊有關(guān)的位置信息。
16.如權(quán)利要求12所述的設(shè)備，其中，在所述與缺陷有關(guān)的信息中，控制單元產(chǎn)生與連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息以及與缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息，并且通過(guò)將連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量乘以因數(shù)2，并從缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量中減去所得的乘積，來(lái)計(jì)算單個(gè)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量。
17.一種在光學(xué)記錄介質(zhì)上記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的方法，該方法包括為介質(zhì)分配SA/DL區(qū)，用于替換用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的缺陷塊的替換塊以及與對(duì)應(yīng)于所述缺陷塊的缺陷有關(guān)的信息被記錄在所述SA/DL區(qū)中；將與缺陷有關(guān)的信息記錄在SA/DL區(qū)中，所述與缺陷有關(guān)的信息包括連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目，所述連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目對(duì)應(yīng)于與位于用戶數(shù)據(jù)區(qū)的連續(xù)位置中的缺陷有關(guān)的信息。
18.如權(quán)利要求17所述的方法，還包括使連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目包括開始條目和結(jié)束條目，所述開始條目與連續(xù)位置中的缺陷塊中的第一缺陷塊對(duì)應(yīng)，所述結(jié)束條目與連續(xù)位置中的缺陷塊中的最后缺陷塊對(duì)應(yīng)。
19.如權(quán)利要求18所述的方法，還包括產(chǎn)生開始條目，所述開始條目包括與第一缺陷塊有關(guān)的位置信息以及與替換第一缺陷塊的替換塊有關(guān)的位置信息。
20.如權(quán)利要求18所述的方法，還包括產(chǎn)生結(jié)束條目，所述結(jié)束條目包括與最后缺陷塊有關(guān)的位置信息以及與替換最后缺陷塊的替換塊有關(guān)的位置信息。
21.如權(quán)利要求17所述的方法，還包括在所述與缺陷有關(guān)缺陷的信息中包括與連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息以及與缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量有關(guān)的信息；以及通過(guò)將連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量乘以因數(shù)2，并從缺陷條目的數(shù)量中減去所得的乘積，來(lái)計(jì)算單個(gè)缺陷列表?xiàng)l目的數(shù)量。
22.一種存儲(chǔ)程序的計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)，所述程序用于控制將數(shù)據(jù)記錄在其上缺陷被管理的光盤上/從該光盤再現(xiàn)數(shù)據(jù)的設(shè)備執(zhí)行缺陷管理方法，所述缺陷管理方法包括為介質(zhì)分配SA/DL區(qū)，用于替換用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的具有缺陷的缺陷塊的替換塊以及與缺陷有關(guān)的信息被記錄在所述SA/DL區(qū)中；將與缺陷有關(guān)的信息記錄在SA/DL區(qū)中，所述與缺陷有關(guān)的信息包括連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目，所述連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目對(duì)應(yīng)于與位于用戶數(shù)據(jù)區(qū)的連續(xù)位置中的缺陷有關(guān)的信息。
23.一種光學(xué)記錄介質(zhì)，包括多個(gè)替換塊，分別替換光學(xué)記錄介質(zhì)中的相應(yīng)的缺陷塊；和連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目，包括與位于所述介質(zhì)的連續(xù)位置中的缺陷塊有關(guān)的信息。
24.如權(quán)利要求23所述的光學(xué)記錄介質(zhì)，還包括與開始條目和結(jié)束條目有關(guān)的信息，所述開始條目和結(jié)束條目分別對(duì)應(yīng)于所述介質(zhì)的連續(xù)位置中的缺陷塊中的第一缺陷塊和最后缺陷塊。
25.如權(quán)利要求24所述的光學(xué)記錄介質(zhì)，其中，所述開始條目包括與第一缺陷塊有關(guān)的位置信息以及與替換第一缺陷塊的替換塊有關(guān)的位置信息。
26.如權(quán)利要求24所述的光學(xué)記錄介質(zhì)，其中，所述結(jié)束條目包括與最后缺陷塊有關(guān)的位置信息以及與替換最后缺陷塊的替換塊有關(guān)的位置信息。
27.如權(quán)利要求23所述的光學(xué)記錄介質(zhì)，還包括與所述介質(zhì)的連續(xù)位置中的缺陷塊的數(shù)量有關(guān)的信息。
28.如權(quán)利要求23所述的光學(xué)記錄介質(zhì)，其中，所述連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目?jī)H包括所述介質(zhì)的連續(xù)位置中的缺陷塊中的第一缺陷塊和最后缺陷塊的位置信息。
29.一種在光學(xué)記錄介質(zhì)上記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的方法，該方法包括將與缺陷塊對(duì)應(yīng)的替換塊記錄在介質(zhì)上；記錄缺陷列表?xiàng)l目，所述缺陷列表?xiàng)l目包括與位于介質(zhì)的連續(xù)位置中的缺陷塊有關(guān)的信息。
30.一種在光學(xué)記錄介質(zhì)上記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的方法，該方法包括檢測(cè)介質(zhì)上的連續(xù)缺陷塊；產(chǎn)生包括開始條目和結(jié)束條目的連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目，所述開始條目和結(jié)束條目分別對(duì)應(yīng)于連續(xù)缺陷塊中的第一缺陷塊和最后缺陷塊。
31.如權(quán)利要求30所述的方法，其中，所述連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目?jī)H包括用于所述連續(xù)缺陷塊中的第一缺陷塊的開始條目的位置信息和最后缺陷塊的結(jié)尾條目的位置信息。
32.一種在光學(xué)記錄介質(zhì)上記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的方法，該方法包括產(chǎn)生缺陷列表?xiàng)l目，所述缺陷列表?xiàng)l目包括與一個(gè)或多個(gè)缺陷塊中的缺陷有關(guān)的信息、所述缺陷塊是否位于介質(zhì)的連續(xù)位置的信息、所述缺陷塊是否已被替換塊替換的信息。
33.如權(quán)利要求32所述的方法，其中，所述缺陷列表?xiàng)l目包括3位二進(jìn)制數(shù)。
34.如權(quán)利要求33所述的方法，其中，所述3位二進(jìn)制數(shù)指示所述一個(gè)或多個(gè)缺陷塊之一是否已被替換、所述一個(gè)或多個(gè)缺陷塊之一是否處于連續(xù)缺陷塊中、所述一個(gè)或多個(gè)缺陷塊之一是否是連續(xù)缺陷塊中的第一或最后缺陷塊。
全文摘要
一種光學(xué)記錄介質(zhì)，包括用戶數(shù)據(jù)區(qū)和SA/DL區(qū)，其中，用于替換用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的缺陷塊的替換塊以及與對(duì)應(yīng)于所述缺陷塊的缺陷有關(guān)的信息被記錄在所述SA/DL區(qū)中，其中，所述與缺陷有關(guān)的信息包括連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目，所述連續(xù)缺陷列表?xiàng)l目包括與位于用戶數(shù)據(jù)區(qū)的連續(xù)位置中的缺陷有關(guān)的信息。
文檔編號(hào)G11B7/007GK1902687SQ200480039939
公開日2007年1月24日 申請(qǐng)日期2004年12月27日 優(yōu)先權(quán)日2004年1月5日
發(fā)明者黃盛熙, 高禎完 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社