專利名稱：光信息記錄裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光信息記錄裝置，特別涉及對記錄坑的相位偏移或長度偏移的校正有效的光信息記錄裝置。
背景技術(shù)：
對光盤等光信息記錄介質(zhì)的信息記錄是通過以下動作來進(jìn)行的，即以EFM(Eight to Fourteen Modulation)方式對記錄數(shù)據(jù)進(jìn)行調(diào)制，根據(jù)該調(diào)制信號形成記錄脈沖，根據(jù)該記錄脈沖控制激光的強(qiáng)度或照射定時，在光盤上形成記錄坑。
在此，記錄坑的形成是利用因激光的照射而產(chǎn)生的熱來進(jìn)行的，因此，要求對記錄脈沖的設(shè)定考慮蓄熱效果和熱干擾等。因此，以往按光盤的種類以策略(strategy)的形式對構(gòu)成記錄脈沖的各種參數(shù)的設(shè)定進(jìn)行多個定義，從這些策略中選擇最適于相應(yīng)的記錄環(huán)境的策略，并使設(shè)置在光信息記錄裝置中的策略電路加以執(zhí)行。
由該策略電路所執(zhí)行的策略，不只依賴于例如光拾取器(pick-up)的點(diǎn)徑偏差、機(jī)構(gòu)精度偏差等光信息記錄裝置的個體差別，還依賴于用于記錄再現(xiàn)的光盤的制造商類別和記錄速度，因此設(shè)定最佳策略會提高記錄品質(zhì)。
為此，人們提出了這樣的方法即，找出與各制造商類別對應(yīng)的光盤的最佳策略，將其與制造商類別對應(yīng)地預(yù)先存儲在存儲器中，在對光盤進(jìn)行信息記錄時，讀取記錄在光盤上的光盤的制造商類別，從上述存儲器中讀出與該所讀取的制造商類別對應(yīng)的最佳策略并設(shè)定在策略電路中。
但是，根據(jù)上述方法，可以對預(yù)先存儲在存儲器中的制造商類別的光盤進(jìn)行最佳記錄，但是卻不能對未存儲在存儲器中的制造商類別的光盤進(jìn)行最佳記錄，并且，即使是預(yù)先存儲在存儲器中的制造商類別的光盤，當(dāng)記錄速度不同時，也不能進(jìn)行最佳記錄。
因此，如下述的專利文獻(xiàn)1、專利文獻(xiàn)2所示，提出了按記錄條件預(yù)先進(jìn)行測試記錄，根據(jù)該測試記錄確定最佳策略，從而能應(yīng)對各種光盤的方法。
日本特開平5-144001號公報(bào)[專利文獻(xiàn)2]日本特開平4-137224號公報(bào)但是，在上述專利文獻(xiàn)所記載的技術(shù)中，不能進(jìn)行對于多個存在的策略的設(shè)定參數(shù)，是否需要對某個參數(shù)進(jìn)行某種程度的調(diào)整的判斷，因此，不能進(jìn)行與各種參數(shù)對應(yīng)的最佳策略設(shè)定。
即，作為策略的設(shè)定參數(shù)，有1)記錄脈沖的前側(cè)相位校正2)記錄脈沖的后側(cè)相位校正3)熱干擾校正4)記錄標(biāo)記的長度校正等。通過調(diào)整激光束的記錄功率和記錄脈沖的脈沖寬度等來校正偏移量，但是，對于上述專利文獻(xiàn)1和專利文獻(xiàn)2的方法，不能獨(dú)立地判別這些偏移量，因此，不能確定與各種設(shè)定參數(shù)對應(yīng)的最佳策略。
作為解決上述課題的有效方法，已知有例如下述的文獻(xiàn)。
日本特開2003-30837號公報(bào)在該專利文獻(xiàn)3的段落 中，記載了“...按記錄模式(pattern)檢測與道(channel)時鐘的相位誤差。記錄補(bǔ)償參數(shù)調(diào)整部12根據(jù)相位誤差檢測部11的檢測結(jié)果來對發(fā)光波形規(guī)則進(jìn)行最優(yōu)化。...”，公開了通過與道時鐘的比較來檢測并校正相位誤差的方法。
另外，在該專利文獻(xiàn)3的段落 中，記載了“接著，記錄用于確定發(fā)光波形規(guī)則的測試模式。然后，對記錄了該測試模式的區(qū)域進(jìn)行再現(xiàn)，檢查預(yù)先準(zhǔn)備的發(fā)光波形規(guī)則和相位誤差量之間的關(guān)系。即，測量各種標(biāo)記的長度和該標(biāo)記鄰近的各種間隔(space)的長度的各種組合的相位誤差量。根據(jù)測量出的相位誤差量預(yù)測相位誤差量變成零的發(fā)光波形規(guī)則，并確定所要的發(fā)光波形規(guī)則。...”，公開了按標(biāo)記和空隙的組合來測量相位誤差量，預(yù)測相位誤差量變成零的發(fā)光波形規(guī)則的方法。
根據(jù)該專利文獻(xiàn)3所記載的方法，由于進(jìn)行基于記錄模式的相位誤差的校正，因此可以進(jìn)行與各種設(shè)定參數(shù)對應(yīng)的最佳策略的設(shè)定，但是，由于通過與道時鐘進(jìn)行比較來檢測相位誤差，因此在實(shí)際所記錄的坑和所定義的策略的偏移大時，就有可能難以進(jìn)行標(biāo)記長度的判別，或偏移的檢測其本身。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明提供一種對考慮了各種參數(shù)的設(shè)定的記錄坑和策略之間的偏移的檢測有效的方法。
為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明的第1方案的特征在于在利用激光的脈沖照射在光記錄介質(zhì)上進(jìn)行信息的記錄的光信息記錄裝置中，具有使用預(yù)定的策略在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄，對再現(xiàn)其結(jié)果而得到的第1再現(xiàn)模式與第2再現(xiàn)模式進(jìn)行比較，檢測上述策略與由上述測試記錄形成的記錄模式之間的偏移的裝置。
在此，上述策略，定義了為了得到所要的坑形狀而設(shè)定的激光的脈沖條件，作為激光的照射功率或脈沖寬度的變化，考慮成為記錄對象的坑(Pit)的長度、與鄰近的岸(Land)的長度的關(guān)系、與后續(xù)的岸的長度的關(guān)系、蓄熱和熱干擾的影響等，從而提供特定的脈沖形狀。
測試記錄是為了確認(rèn)使用上述策略進(jìn)行實(shí)際記錄時的差異而進(jìn)行的記錄，使用在存儲器內(nèi)設(shè)置的測試記錄區(qū)域來執(zhí)行。該測試記錄使用能有效地檢測出策略和實(shí)際的記錄狀態(tài)之間的偏移的特定模式來進(jìn)行，通過對包括由該測試記錄形成的多個記錄坑的記錄模式進(jìn)行再現(xiàn)，能得到與該記錄模式對應(yīng)的再現(xiàn)模式。
利用測試記錄結(jié)果的再現(xiàn)得到的再現(xiàn)模式有多種，從中抽取至少2個對檢測策略和實(shí)際的記錄狀態(tài)之間的偏移有效的再現(xiàn)模式，并對它們進(jìn)行比較，由此進(jìn)行相位偏移或長度偏移等各種偏移的檢測。
這2個再現(xiàn)模式，任意一個都包括反映了策略和實(shí)際的記錄狀態(tài)之間的偏移的信號，因此通過使這些再現(xiàn)模式彼此進(jìn)行比較，能夠檢測以某個模式為基準(zhǔn)的相對偏移量。
這2個再現(xiàn)模式，最好在兩者之間設(shè)置坑長或岸長相同的部位和不同的部位，例如，可以采用如下結(jié)構(gòu)即，使用“相同的坑、相同的岸、不同種類的坑”連續(xù)的模式來檢測預(yù)定坑的前側(cè)相位偏移的結(jié)構(gòu)；使用“不同種類的坑、相同的岸、相同的坑”連續(xù)的模式來檢測預(yù)定坑的后側(cè)相位偏移的結(jié)構(gòu)；使用“不同種類的岸、相同的坑、相同的岸”連續(xù)的模式來檢測坑的干擾偏移的結(jié)構(gòu)；以及使用“相同的岸、不同種類的坑、相同的岸”連續(xù)的模式來檢測坑補(bǔ)償?shù)钠频慕Y(jié)構(gòu)。
但是，本發(fā)明并不限于比較2個再現(xiàn)模式的方法，也包括比較多個再現(xiàn)模式的方法，例如，以1個再現(xiàn)模式為基準(zhǔn)，對該基準(zhǔn)模式和其它的模式進(jìn)行比較的方法。
另外，本發(fā)明的第2方案的特征在于在利用激光的脈沖照射對光記錄介質(zhì)進(jìn)行信息的記錄的光信息記錄裝置中，包括使用包含固定長度坑、固定長度岸、可變長度坑連續(xù)的記錄模式，且該可變長度坑的長度不同的多個記錄脈沖，在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄的裝置；再現(xiàn)上述測試記錄的結(jié)果，取得與該各記錄脈沖對應(yīng)的多個再現(xiàn)模式的裝置；將上述各再現(xiàn)模式中的至少一個設(shè)定為基準(zhǔn)模式，并且將該基準(zhǔn)模式以外的至少一個設(shè)定為比較模式的裝置；對與上述基準(zhǔn)模式所包含的固定長度岸對應(yīng)的部分的信號，和與上述比較模式所包含的固定長度岸對應(yīng)的部分的信號進(jìn)行比較的裝置；以及根據(jù)上述比較的結(jié)果，檢測與上述比較模式所包含的可變長度坑的長度對應(yīng)的坑的前側(cè)相位偏移量的裝置。
這樣，由于使用固定長度坑、固定長度岸、可變長度坑連續(xù)的模式，因此在理想狀態(tài)下應(yīng)恒定的固定長度岸受到可變長度坑的前側(cè)相位的影響而導(dǎo)致長度發(fā)生變化。如果檢測該長度的變化，則能獨(dú)立地檢測可變長度坑的前側(cè)相位偏移。另外，最好通過使可變長度坑按3T、4T、...14T依次變化來對用于記錄的所有的長度進(jìn)行測試。
另外，本發(fā)明的第3方案的特征在于在利用激光的脈沖照射對光記錄介質(zhì)進(jìn)行信息的記錄的光信息記錄裝置中，包括使用包含固定長度坑、固定長度岸、可變長度坑連續(xù)的記錄模式，且該可變長度坑的長度不同的多個記錄脈沖，在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄的裝置；再現(xiàn)上述測試記錄的結(jié)果，取得與該各記錄脈沖對應(yīng)的多個再現(xiàn)模式的裝置；將上述各再現(xiàn)模式中的至少一個設(shè)定為基準(zhǔn)模式，并且將該基準(zhǔn)模式以外的至少一個設(shè)定為比較模式的裝置；對與上述基準(zhǔn)模式所包含的固定長度岸對應(yīng)的部分的信號，和與上述比較模式所包含的固定長度岸對應(yīng)的部分的信號進(jìn)行比較的裝置；以及根據(jù)上述比較的結(jié)果，檢測與上述比較模式所包含的可變長度坑的長度對應(yīng)的坑的后側(cè)相位偏移量的裝置。
這樣，由于使用可變長度坑、固定長度岸、固定長度坑連續(xù)的模式，因此在理想狀態(tài)下應(yīng)恒定的固定長度岸受到可變長度坑的后側(cè)相位的影響而導(dǎo)致長度發(fā)生變化。如果檢測該長度的變化，則能獨(dú)立地檢測可變長度坑的后側(cè)相位偏移。另外，最好通過使可變長度坑按3T、4T、...14T依次變化來對用于記錄的所有的長度進(jìn)行測試。
另外，本發(fā)明的第4方案的特征在于在利用激光的脈沖照射對光記錄介質(zhì)進(jìn)行信息的記錄的光信息記錄裝置中，包括使用包含固定長度坑、固定長度岸、可變長度坑連續(xù)的記錄模式，且該可變長度坑的長度不同的多個記錄脈沖，在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄的裝置；再現(xiàn)上述測試記錄的結(jié)果，取得與該各記錄脈沖對應(yīng)的多個再現(xiàn)模式的裝置；將上述各再現(xiàn)模式中的至少一個設(shè)定為基準(zhǔn)模式，并且將該基準(zhǔn)模式以外的至少一個設(shè)定為比較模式的裝置；對與上述基準(zhǔn)模式所包含的固定長度坑對應(yīng)的部分的信號，和與上述比較模式所包含的固定長度坑對應(yīng)的部分的信號進(jìn)行比較的裝置；以及根據(jù)上述比較的結(jié)果，檢測與上述比較模式所包含的可變長度岸的長度對應(yīng)的坑的長度偏移量的裝置。
這樣，由于使用可變長度岸、固定長度坑、固定長度岸連續(xù)的模式，因此在理想狀態(tài)下應(yīng)恒定的固定長度坑受到在可變長度岸之前的坑形成時產(chǎn)生的熱干擾的影響而長度發(fā)生變化。如果檢測該長度的變化，則能獨(dú)立地檢測由固定長度坑的熱干擾引起的長度偏移。另外，最好通過使可變長度岸按3T、4T、...14T依次變化來對用于記錄的所有的長度進(jìn)行測試。
另外，本發(fā)明的第5方案的特征在于在利用激光的脈沖照射對光記錄介質(zhì)進(jìn)行信息的記錄的光信息記錄裝置中，包括使用包含固定長度坑、固定長度岸、可變長度坑連續(xù)的記錄模式，且該可變長度坑的長度不同的多個記錄脈沖，在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄的裝置；再現(xiàn)上述測試記錄的結(jié)果，取得與該各記錄脈沖對應(yīng)的多個再現(xiàn)模式的裝置；對與上述各再現(xiàn)模式所包含的固定長度坑對應(yīng)的部分的信號和與該固定長度坑的長度對應(yīng)的坑的規(guī)定長度進(jìn)行比較的裝置；以及根據(jù)上述比較的結(jié)果檢測與上述固定長度坑的長度對應(yīng)的坑的長度偏移量的裝置。
這樣，通過對與固定長度坑對應(yīng)的部分的信號和與該固定長度坑的長度對應(yīng)的坑的規(guī)定長度進(jìn)行比較，也能獨(dú)立地檢測由固定長度坑的熱干擾引起的長度偏移。
另外，本發(fā)明的第6方案的特征在于在利用激光的脈沖照射對光記錄介質(zhì)進(jìn)行信息的記錄的光信息記錄裝置中，包括使用包含固定長度坑、固定長度岸、可變長度坑連續(xù)的記錄模式，且該可變長度坑的長度不同的多個記錄脈沖，在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄的裝置；再現(xiàn)上述測試記錄的結(jié)果，取得與該各記錄脈沖對應(yīng)的多個再現(xiàn)模式的裝置；對與上述各再現(xiàn)模式所包含的可變長度坑對應(yīng)的部分的信號，和與該可變長度坑的長度對應(yīng)的坑的規(guī)定長度進(jìn)行比較的裝置；以及根據(jù)上述比較的結(jié)果，檢測與上述可變長度坑的長度對應(yīng)的坑的長度偏移量的裝置。
這樣，由于使用固定長度岸、可變長度坑、固定長度岸連續(xù)的模式，因此在理想狀態(tài)下應(yīng)與規(guī)定長度一致的可變長度坑受到前后的岸和與這些岸相鄰的坑的影響而導(dǎo)致長度發(fā)生變化。如果檢測該長度的變化，則能獨(dú)立地檢測由可變長度坑的坑補(bǔ)償(pit balance)引起的長度偏移。另外，最好通過使可變長度坑按3T、4T、...14T依次變化來對用于記錄的所有的長度進(jìn)行測試。
另外，本發(fā)明的第7方案的特征在于在利用激光的脈沖照射對光記錄介質(zhì)進(jìn)行信息的記錄的光信息記錄裝置中，包括使用預(yù)定的策略在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄的裝置；再現(xiàn)上述測試記錄的結(jié)果，得到2值化信號的裝置；使用預(yù)定的時鐘信號對上述2值化信號的脈沖長度進(jìn)行計(jì)數(shù)的裝置；將上述計(jì)數(shù)結(jié)果存儲在預(yù)定的存儲區(qū)域的裝置；生成上述計(jì)數(shù)結(jié)果的柱狀圖的裝置；使用上述柱狀圖特定上述2值化信號所包含的坑長和岸長的裝置；根據(jù)上述特定了的坑長和岸長，從上述記錄區(qū)域中檢索第1再現(xiàn)模式和第2再現(xiàn)模式的裝置；以及對通過上述檢索所得到的第1再現(xiàn)模式與第2再現(xiàn)模式進(jìn)行比較，由此檢測上述策略與由上述測試記錄形成的記錄模式之間的偏移的裝置。
這樣，通過以預(yù)定時鐘對從測試記錄的結(jié)果得到的再現(xiàn)2值化信號進(jìn)行計(jì)數(shù)并存儲該計(jì)數(shù)結(jié)果，能進(jìn)行所得到的再現(xiàn)模式的各種統(tǒng)計(jì)處理和特定模式的抽取。再現(xiàn)2值化信號的計(jì)數(shù)，可以使用以該2值化信號的極性翻轉(zhuǎn)邊沿開始計(jì)數(shù)的計(jì)數(shù)器來進(jìn)行，由此，能將坑的長度和岸的長度作為計(jì)數(shù)數(shù)據(jù)。
這樣得到的計(jì)數(shù)數(shù)據(jù)，被存儲在設(shè)置于記錄裝置內(nèi)的存儲元件等的預(yù)定的記錄區(qū)域，在蓄積了一定量之后，生成分析了各計(jì)數(shù)值的出現(xiàn)頻率的柱狀圖。通過生成該柱狀圖，計(jì)數(shù)值的范圍與坑、岸之間的長度被關(guān)聯(lián)起來，能從存儲區(qū)域所存儲的龐大的計(jì)數(shù)數(shù)據(jù)中檢索、抽取包含所要的坑和岸的模式的數(shù)據(jù)串。
例如，可以是在檢測預(yù)定坑的前側(cè)相位偏移的情況下，檢索、抽取、相互比較“固定長度坑、固定長度岸、可變長度坑”連續(xù)的模式組；在檢測預(yù)定坑的后側(cè)相位偏移的情況下，檢索、抽取、相互比較“可變長度坑、固定長度岸、固定長度坑”連續(xù)的模式組；在檢測坑的干擾偏移的情況下，檢索、抽取、相互比較“可變長度岸、固定長度坑、固定長度岸”連續(xù)的模式組；在檢測坑補(bǔ)償?shù)钠频那闆r下，檢索、抽取、相互比較“固定長度岸、可變長度坑、固定長度岸”連續(xù)的模式組。
這樣，通過將再現(xiàn)測試記錄的結(jié)果而得到的2值化信號作為計(jì)數(shù)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，能適當(dāng)?shù)貦z測由各種因素引起的偏移量。另外，上述的柱狀圖等的數(shù)據(jù)處理，能使用設(shè)置于記錄裝置內(nèi)的CPU等運(yùn)算元件來執(zhí)行。
利用了該柱狀圖的坑長和岸長的判斷，由于以出現(xiàn)頻率的分布作為判斷基準(zhǔn)，因此即使是在策略和實(shí)際的記錄模式之間的偏移大的情況下，也能進(jìn)行有效的判斷。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明，即使是在實(shí)際記錄的坑和所定義的策略之間的偏移大的情況下，也能進(jìn)行偏移的檢測，能提供進(jìn)一步優(yōu)化后的策略。


圖1是表示本發(fā)明的光信息記錄裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的框圖。
圖2是表示圖1所示的光信息記錄裝置執(zhí)行的策略確定步驟的執(zhí)行順序的流程圖。
圖3是表示從圖2中的測試記錄到再現(xiàn)數(shù)據(jù)的計(jì)數(shù)為止的操作概念的概念圖。
圖4是表示圖3中的計(jì)數(shù)結(jié)果的存儲映像(storage image)的概念圖。
圖5是表示圖2中的柱狀圖(histogram)生成的圖像的概念圖。
圖6是表示圖2中的閾值確定的圖像的概念圖。
圖7是表示由圖6所示的方法所得到的閾值的例子的概念圖。
圖8是表示用于檢測各坑長的前側(cè)相位偏移量的記錄模式和再現(xiàn)模式的一個例子的圖。
圖9是表示用于檢測各坑長的后側(cè)相位偏移量的記錄模式和再現(xiàn)模式的一個例子的概念圖。
圖10是表示用于檢測由熱干擾引起的坑偏移量的記錄模式的一個例子的圖。
圖11是表示通過與基準(zhǔn)長度比較來檢測由熱干擾引起的坑偏移量的例子的圖。
圖12是表示用于檢測由坑補(bǔ)償引起的偏移量的記錄模式的一個例子的圖。
圖13是表示坑前相位偏移檢測和坑后相位偏移檢測所使用的特定模式檢索用的表結(jié)構(gòu)的概念圖。
圖14是表示坑干擾偏移檢測和坑補(bǔ)償偏移檢測所使用的特定模式檢測用的表結(jié)構(gòu)的概念圖。
圖15是表示通過計(jì)數(shù)結(jié)果的相對比較來檢測偏移量時的具體例子的概念圖。
圖16是表示通過計(jì)數(shù)結(jié)果的絕對比較來檢測偏移量時的具體例子的概念圖。
圖17是表示圖2中的控制量預(yù)測的執(zhí)行例子的流程圖。
圖18是表示了以圖17中的記錄條件S1和S2進(jìn)行變化的參數(shù)的概念圖。
圖19是表示記錄條件S1和S2的變化與偏移量D1、D2之間的關(guān)系的概念圖。
圖20是表示利用了直線近似的前側(cè)相位偏移校正的一個例子的概念圖。
圖21是表示利用了直線近似的后側(cè)相位偏移校正的一個例子的概念圖。
圖22是表示利用了關(guān)于單脈沖的形狀的直線近似的長度偏移校正的一個例子的概念圖。
圖23是表示利用了關(guān)于多脈沖的形狀的直線近似的長度偏移校正的一個例子的概念圖。
圖24是表示用于存儲校正量Ttop和Tlast的表構(gòu)造的概念圖。
圖25是表示用于存儲校正量PWD和Tmp的表構(gòu)造的概念圖。
圖26是表示校正后的記錄脈沖的例子的概念圖。
具體實(shí)施例方式
以下，參照附圖詳細(xì)地說明本發(fā)明的光信息記錄裝置。另外，本發(fā)明并不限于以下說明的實(shí)施方式，可以進(jìn)行適當(dāng)?shù)淖兏?br> 圖1是表示本發(fā)明的光信息記錄裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的框圖。如圖1所示，該光信息記錄再現(xiàn)裝置使用從激光振蕩器103輸出的激光，對光盤10進(jìn)行信息的記錄再現(xiàn)。
在對光盤進(jìn)行信息記錄的情況下，用編碼器101以EFM方式對與所要的記錄信息對應(yīng)的記錄信號進(jìn)行編碼，并將該編碼后的記錄數(shù)據(jù)提供給策略電路102。
在此，在該策略電路102中，設(shè)置有預(yù)定的策略的各種參數(shù)，該策略電路102校正策略的各種設(shè)定參數(shù)，控制從激光振蕩器103所輸出的激光的強(qiáng)度或脈沖寬度，生成有可能得到所要的記錄狀態(tài)的記錄脈沖。
由策略電路102所形成的記錄脈沖被提供給激光振蕩器103，激光振蕩器103與該記錄脈沖相對應(yīng)地控制輸出激光，使該被控制了的激光經(jīng)由透鏡104、半反射鏡105、透鏡106照射到以恒定的線速度或者恒定的角速度旋轉(zhuǎn)的光盤10，由此，在光盤10上對記錄模式進(jìn)行記錄，該記錄模式具有與所要的記錄數(shù)據(jù)對應(yīng)的坑(Pit)、岸(Land)的串。
另一方面，在進(jìn)行光盤10上所記錄的信息的再現(xiàn)時，相同的再現(xiàn)激光從激光振蕩器103經(jīng)由透鏡104、半反射鏡105、透鏡106照射到以恒定的線速度或者恒定的角速度旋轉(zhuǎn)的光盤10。
此時，再現(xiàn)激光使用強(qiáng)度比記錄時從激光振蕩器103輸出的激光弱的再現(xiàn)激光，由該再現(xiàn)激光引起的、來自光盤的反射光經(jīng)由透鏡106、半反射鏡105、透鏡107而由受光部108受光，被轉(zhuǎn)換為電信號。
從受光部108輸出的電信號與記錄在光盤10上的由坑、岸組成的記錄模式相對應(yīng)。從該受光部108輸出的電信號在再現(xiàn)補(bǔ)償電路109中完成預(yù)定的補(bǔ)償處理，在2值化電路110中被2值化，進(jìn)而在解碼器111中被解碼并作為再現(xiàn)信號輸出。
圖2是表示圖1所示的光信息記錄裝置執(zhí)行的策略確定步驟的執(zhí)行順序的流程圖。如圖2所示，圖1所示的光信息記錄裝置，首先，為了設(shè)定策略電路102執(zhí)行的記錄策略的各種參數(shù)，對光盤10進(jìn)行改變了策略的各種參數(shù)的多個記錄模式的測試記錄(步驟S10)。
之后，再現(xiàn)由該測試記錄形成的記錄模式(步驟S12)，記錄偏移檢測部112用與預(yù)定時鐘同步的計(jì)數(shù)器對從2值化電路110得到的再現(xiàn)2值化信號進(jìn)行計(jì)數(shù)(步驟S14)，并將該再現(xiàn)2值化信號所包含的坑和岸的長度作為計(jì)數(shù)數(shù)據(jù)存儲在記錄區(qū)域115中(步驟S16)。
然后，記錄偏移檢測部112使用存儲在記錄區(qū)域115中的計(jì)數(shù)數(shù)據(jù)，生成表示每個計(jì)數(shù)值的出現(xiàn)頻率的柱狀圖(步驟S18)，根據(jù)該柱狀圖確定成為坑長和岸長的判斷基準(zhǔn)的計(jì)數(shù)結(jié)果的閾值(步驟S20)。
然后，記錄偏移檢測部112，以上述閾值為基準(zhǔn)，從記錄區(qū)域115所存儲的計(jì)數(shù)數(shù)據(jù)中檢索包含特定的坑/岸模式的多種特定模式(步驟S22)，對被認(rèn)為是該特定模式所包含的同一坑長的計(jì)數(shù)結(jié)果進(jìn)行平均，并且對同一岸長的計(jì)數(shù)結(jié)果進(jìn)行平均，求出構(gòu)成特定模式的各坑和各岸的平均長度(步驟S24)。
然后，記錄偏移檢測部112，將抽取的多個特定模式中的一個設(shè)定為基準(zhǔn)模式，對該基準(zhǔn)模式與其它的模式進(jìn)行比較(步驟S26)，分別獨(dú)立地檢測下述的偏移量(步驟S28)。
1)對記錄脈沖的坑的前側(cè)相位偏移量2)對記錄脈沖的坑的后側(cè)相位偏移量3)因熱干擾而偏離記錄脈沖的坑偏移量
4)對記錄脈沖的坑的長度偏移量之后，運(yùn)算式導(dǎo)出部113根據(jù)記錄偏移檢測部112檢測出的偏移量，導(dǎo)出用于確定最佳策略的運(yùn)算式，策略確定部114使用該運(yùn)算式導(dǎo)出部113導(dǎo)出的運(yùn)算式，對各種參數(shù)的控制結(jié)果進(jìn)行預(yù)測(步驟S30)，并根據(jù)該預(yù)測結(jié)果確定用于調(diào)整激光的功率和脈沖寬度的策略校正值，將校正后的最佳策略記錄在策略電路102中(步驟S32)。
圖3是表示從圖2中的測試記錄到再現(xiàn)數(shù)據(jù)的計(jì)數(shù)為止的操作概念的概念圖。如圖3所示，首先，進(jìn)行測試記錄，并在光盤上形成圖3的(a)所示的記錄坑。然后，對該記錄坑進(jìn)行再現(xiàn)，如圖3的(b)所示，得到與該記錄坑對應(yīng)的再現(xiàn)RF信號。對該再現(xiàn)RF信號進(jìn)行2值化后，得到圖3的(c)所示的再現(xiàn)2值化信號，并用圖3的(d)所示的時鐘信號對該2值化信號的極性翻轉(zhuǎn)之間的脈沖長度進(jìn)行計(jì)數(shù)，得到圖3的(e)所示的計(jì)數(shù)結(jié)果。
圖4是表示圖3中的計(jì)數(shù)結(jié)果的存儲映像的概念圖。如圖4所示，在用時鐘信號進(jìn)行了計(jì)數(shù)的2值化信號中，其計(jì)數(shù)結(jié)果以極性翻轉(zhuǎn)部分為界限，與坑、岸的區(qū)別一起依次以時序存儲在設(shè)置于存儲區(qū)域115中的表內(nèi)。圖4所示的表，以附加了此后可進(jìn)行檢索的地址的狀態(tài)來進(jìn)行存儲。
圖5是表示圖2中的柱狀圖生成的圖像的概念圖。如圖5所示，如果將計(jì)數(shù)值的出現(xiàn)頻率圖形化，則可得到柱狀圖，如果將坑和岸分開分別生成柱狀圖，則可得到圖5的(a)所示的表示坑的計(jì)數(shù)傾向的坑柱狀圖和圖5的(b)所示的表示岸的計(jì)數(shù)傾向的岸柱狀圖這兩種柱狀圖。這樣，在光盤上，對基準(zhǔn)時鐘的各單位長度nT(n＝3、4、5、...14)的長度必然被確定，因此對于各單位長度nT，能得到出現(xiàn)頻率分布的峰。
圖6是表示圖2中的閾值確定的圖像的概念圖。如圖6所示，在柱狀圖中的各峰和峰之間所形成的谷的部分可以作為各單位長度nT的長度判斷閾值來使用，因此對于坑柱狀圖和岸柱狀圖，分別設(shè)定成為坑長的判斷基準(zhǔn)的坑長閾值和成為岸長的判斷基準(zhǔn)的岸長閾值。
圖7是表示通過圖6所示的方法得到的閾值的例子的概念圖。如圖7的(a)所示，按各坑長的界限來定義坑長閾值，如圖7的(b)所示，按各岸長的界限來定義岸長閾值。在圖7的(a)所示的例子中，成為2T和3T的界限的閾值為“計(jì)數(shù)值＝2”，成為3T和4T的界限的閾值為“計(jì)數(shù)值＝9”，以下，設(shè)定到14T和15T的界限為止。另外，在圖7的(b)所示的例子中，成為2T和3T的界限的閾值為“計(jì)數(shù)值＝2”，成為3T和4T的界限的閾值為“計(jì)數(shù)值＝10”，以下，設(shè)定到14T和15T的界限為止。
接著，對圖2中的從特定模式的檢索(步驟S22)到偏移量的檢測(步驟S28)為止的各步驟進(jìn)行詳細(xì)的說明。這些步驟是根據(jù)記錄偏移檢測部112中的各種偏移的檢測原理來進(jìn)行的。
圖8是表示用于檢測各坑長的前側(cè)相位偏移量的記錄模式和再現(xiàn)模式的一個例子的圖。如圖8所示，在檢測各坑長的前側(cè)相位偏移時，使用圖8的(a)所示的記錄脈沖進(jìn)行測試記錄。其記錄脈沖包含固定坑PxT、固定岸LyT、可變坑PzT連續(xù)的模式，使固定坑PxT的坑長和固定岸LyT的岸長固定，使可變坑PzT的坑長如圖8的(b)～(f)所示那樣，按3T、4T、...7T來變化。另外，雖然未圖示，但是可變坑長的變化一直進(jìn)行到14T。
在此，在測量該記錄模式的固定岸LyT的長度時，該固定岸LyT的長度在理想的記錄狀態(tài)下應(yīng)該是恒定的。但是，當(dāng)該固定岸LyT的長度偏離理想的規(guī)定的長度時，由于坑PxT的坑長是固定的，因此，該固定岸LyT長的理想的規(guī)定長度的偏移量，與對于記錄時策略中的3T、4T、...14T各自的坑P3T、P4T、...P14T的記錄脈沖的前側(cè)相位偏移量相對應(yīng)。
因此，當(dāng)將可變坑PzT為3T的圖8的(b)的模式設(shè)定為基準(zhǔn)模式，將余下的圖8的(c)～(f)的模式設(shè)定為比較模式，并對這些比較模式的固定岸LyT的長度和基準(zhǔn)模式的固定岸LyT的長度進(jìn)行比較時，如圖8的各圖所示，得到對于基準(zhǔn)模式的前側(cè)相位偏移量FPS4T～FPS7T。
在此，各偏移量FPS3T～FPS7T，可以作為以某個部位為基準(zhǔn)的相對值來檢測，因此，基準(zhǔn)模式的前側(cè)相位偏移量FPS3T可以定義為零，也可以作為偏離理想的長度的偏移量來檢測。另外，也可以將圖8的(c)～(f)所示的模式中的任意一個設(shè)定為基準(zhǔn)模式，而不用圖8的(b)。
圖9是表示用于檢測各坑長的后側(cè)相位偏移量的記錄模式和再現(xiàn)模式的一個例子的概念圖。如圖9所示，在檢測各坑長的后側(cè)相位偏移量時，使用圖9的(a)所示的記錄脈沖進(jìn)行測試記錄。該記錄脈沖包含可變坑PxT、固定岸LyT、固定坑PzT連續(xù)的模式，使固定岸LyT的岸長和固定坑PzT的坑長固定，使可變坑PxT的坑長象圖9的(b)～(f)所示那樣，按3T、4T、...7T來變化。另外，雖然未圖示，但是可變坑長的變化一直進(jìn)行到14T。
在此，在測量該記錄模式的固定岸LyT的長度時，該固定岸LyT的長度在理想的記錄狀態(tài)下應(yīng)該是恒定的。但是，當(dāng)該固定岸LyT的長度偏離理想的規(guī)定長度時，由于坑PzT的坑長是固定的，因此，該固定岸LyT長的理想的規(guī)定長度的偏移量，與對記錄時策略中的3T、4T、...14T各自的坑P3T、P4T、...P14T的記錄脈沖的后側(cè)相位偏移量相對應(yīng)。
因此，當(dāng)將可變坑PxT為3T的圖9的(b)的模式設(shè)定為基準(zhǔn)模式，將余下的圖9的(c)～(f)的模式設(shè)定為比較模式，對這些比較模式的固定岸LyT的長度和基準(zhǔn)模式的固定岸LyT的長度進(jìn)行比較時，如圖9的各圖所示，得到對基準(zhǔn)模式的后側(cè)相位偏移量RPS4T～RPS7T。
在此，各偏移量RPS3T～RPS7T，可以作為以某個部位為基準(zhǔn)的相對值來檢測，因此，基準(zhǔn)模式的后側(cè)相位偏移量RPS3T可以定義為零，也可以作為偏離理想的長度的偏移量來檢測。另外，也可以將圖9的(c)～(f)所示的模式中的任意一個設(shè)定為基準(zhǔn)模式，而不用圖9的(b)。
圖10是表示用于檢測由熱干擾引起的坑偏移量的記錄模式的一個例子的圖。如圖10所示，在檢測由熱干擾引起的坑偏移量的情況下，使用圖10的(a)所示的記錄脈沖進(jìn)行測試記錄。該記錄脈沖，包含岸LxT、坑PyT、岸LzT連續(xù)的模式，使固定坑PyT的坑長和固定岸LzT的岸長固定，并使可變岸LxT的岸長如圖10的(b)～(f)所示，按3T、4T、...7T來變化。另外，雖然未圖示，但是可變岸長的變化一直進(jìn)行到14T。
在此，如果測量該記錄模式的固定坑PyT的長度，則該固定長度的坑PyT的長度在理想的狀態(tài)下應(yīng)恒定。但是，如果該固定坑PyT的長度偏離理想的規(guī)定的長度，則岸LzT的岸長是固定的，因此該固定坑LyT的理想的規(guī)定長度的偏移量與在由可變岸LxT的鄰近所形成的坑的熱干擾引起的偏移量相對應(yīng)。
因此，當(dāng)把可變岸LxT為3T的圖10的(b)模式設(shè)定為基準(zhǔn)模式，把圖10的剩下的(c)～(f)的模式設(shè)定為比較模式，對這些比較模式的固定坑PyT的長度和基準(zhǔn)模式的固定坑PyT的長度進(jìn)行比較時，如圖10的各圖所示，能得到對基準(zhǔn)模式的前側(cè)相位偏移量HID3T～HID7T。
在此，各偏移量HID3T～HID7T只要能作為以某個部位為基準(zhǔn)的相對值來檢測即可，因此基準(zhǔn)模式的前側(cè)相位偏移量HID3T也可以定義為零，另外，也可以作為偏離理想長度的偏移量來檢測。并且，也可以將圖10的(c)～(f)所示的模式的任意一個設(shè)定為基準(zhǔn)模式，來替代圖10的(b)的模式。
圖11是表示通過與基準(zhǔn)長度比較來檢測由熱干擾引起的坑偏移量的例子的圖。如圖11的(b)～(g)所示，也可以通過將各模式的固定坑PyT與基準(zhǔn)長度進(jìn)行比較來求出前側(cè)相位偏移量HID3T～HID7T，而不設(shè)定圖10那樣的基準(zhǔn)模式。
圖12是表示用于檢測由坑補(bǔ)償引起的偏移量的記錄模式的一個例子的圖。如圖12所示，在檢測由坑補(bǔ)償引起的偏移量的情況下，使用圖12的(a)所示的記錄脈沖進(jìn)行測試記錄。該記錄脈沖包含岸LxT、坑PyT、岸LzT連續(xù)的模式，使固定岸LxT的岸長和固定岸LzT的岸長固定，并使可變坑PyT的坑長如圖12的(b)～(f)所示，按3T、4T、...7T來變化。另外，雖然未圖示，但是可變坑長的變化一直進(jìn)行到14T。
在此，如果測量該記錄模式的可變長度的坑PyT的坑長，則該可變長度的坑PyT的坑長，在理想的記錄狀態(tài)下應(yīng)該分別與理想的坑長相對應(yīng)。
但是，如果該可變長度的坑PyT的坑長偏離理想的規(guī)定長度，則由于岸LxT的岸長和岸LzT的岸長是固定的，因此偏離該可變長度的坑PyT的規(guī)定長度的偏移量與對記錄時策略的3T、4T、...14T各自的坑P3T、P4T、...P14T的記錄脈沖的長度偏移量相對應(yīng)。
因此，如果使用某個策略進(jìn)行測試記錄，對可變長度的坑PyT的記錄結(jié)果和各坑的基準(zhǔn)長度進(jìn)行比較，檢測各坑長偏離理想的長度的偏移量，則能根據(jù)基于該記錄脈沖的測試記錄的再現(xiàn)模式檢測各坑長的長度偏移量，如圖12的(b)～(f)所示。
圖13是表示坑前相位偏移檢測和坑后相位偏移檢測所使用的特定模式檢索用的表結(jié)構(gòu)的概念圖。在進(jìn)行坑前相位偏移的檢測的情況下，以對每個特定模式設(shè)定的關(guān)于坑PxT、岸LyT、坑PzT的圖13的(a)所示的閾值范圍為基準(zhǔn)，對在圖1的存儲區(qū)域115內(nèi)存儲的數(shù)據(jù)進(jìn)行檢索(相當(dāng)于圖2的步驟S22)，抽取滿足該閾值的數(shù)據(jù)串。
之后，對分別相當(dāng)于坑PxT、岸LyT、坑PzT的計(jì)數(shù)結(jié)果進(jìn)行區(qū)分并按坑PxT、岸LyT、坑PzT求出平均值(相當(dāng)于圖2的步驟S24)。如果使用該計(jì)數(shù)結(jié)果的平均值進(jìn)行圖8所示的模式比較，則能得到各坑長的前側(cè)相位偏移量。圖13的(b)是進(jìn)行后相位偏移的檢測時的閾值例，但是思考方法和操作與進(jìn)行坑前相位偏移的檢測的情況是相同的。
圖14是表示坑干擾偏移檢測和坑補(bǔ)償偏移檢測所使用的特定模式檢測用的表結(jié)構(gòu)的概念圖。如圖14的(a)和(b)所示，坑干擾偏移的檢測和坑補(bǔ)償偏移的檢測都以與使用圖13說明的坑前相位偏移及坑后相位偏移同樣的方法來進(jìn)行。
圖15是表示通過計(jì)數(shù)結(jié)果的相對比較來檢測偏移量時的具體例子的概念圖。圖15是檢測坑前相位偏移時的例子，但是檢測其它的偏移量時也用同樣的方法進(jìn)行。在檢測偏移量時，首先，從存儲在存儲區(qū)域內(nèi)的數(shù)據(jù)組中檢索抽取圖15的(a)和(b)所示的基準(zhǔn)模式和比較模式，如圖15的(c)和(d)所示，比較對本來應(yīng)為固定長度的部位的計(jì)數(shù)值。在圖15所示的例子中，由于岸LyT成為比較部位，因此求出作為基準(zhǔn)模式的計(jì)數(shù)結(jié)果的圖15的(c)所示的“12”和作為比較模式的計(jì)數(shù)結(jié)果的圖15的(d)所示的“11”的差值，得到的差值“1”就成為偏移量FPS4T的值。
圖16是表示通過計(jì)數(shù)結(jié)果的絕對比較來檢測偏移量時的具體例子的概念圖。如圖16所示，在與理想的基準(zhǔn)長度比較來檢測偏移量的情況下，首先，從存儲在存儲區(qū)域的數(shù)據(jù)組中檢索抽取圖16的(a)所示的特定模式，如圖16的(b)和(c)所示，比較對成為比較對象的部位的兩者的計(jì)數(shù)值。在圖16所示的例子中，由于坑3T成為比較部位，因此，求出作為特定模式的計(jì)數(shù)結(jié)果的圖16的(c)所示的“9”和作為與基準(zhǔn)長度相當(dāng)?shù)挠?jì)數(shù)結(jié)果的圖16的(d)所示的“8”的差值，得到的差值“1”就成為3T坑的偏移量。
圖17是表示圖2中的控制量預(yù)測的執(zhí)行例子的流程圖。如圖17所示，控制量的預(yù)測是通過執(zhí)行以下一連串的步驟進(jìn)行的以記錄條件不同的S1和S2這兩種以上的條件進(jìn)行測試記錄(步驟S100)；再現(xiàn)得到的記錄坑(步驟S102)；比較得到的再現(xiàn)模式，從而求出與記錄條件1對應(yīng)的偏移量D1和與條件S2對應(yīng)的偏移量D2(步驟S104)；以及對S1和S2之間、D1和D2之間的關(guān)系進(jìn)行直線近似(步驟S106)，使用該直線確定最佳校正量(步驟S108)。
上述這樣檢測出的偏移量D1和D2隨策略的各種設(shè)定參數(shù)而變動。并且，因該策略的各種設(shè)定參數(shù)而變動的偏移量D1和D2，根據(jù)分析結(jié)果可知是大致以直線狀進(jìn)行變化的。
即，由上述記錄偏移檢測部112檢測的各自的測試記錄中的偏移量，能作為基于最小二乘法近似出的直線狀的變化來進(jìn)行捕捉。
因此，在本實(shí)施方式的光信息記錄裝置中，例如，在進(jìn)行了2次測試記錄的情況下，能著眼于策略的各種設(shè)定參數(shù)和檢測出的偏移量D1及D2的直線關(guān)系來確定最佳的策略。但是，對于本發(fā)明，也可以用曲線近似來替代直線近似。
圖18是表示了用圖17中的記錄條件S1和S2進(jìn)行變化的參數(shù)的概念圖。圖18的(a)是使用由單一的脈沖模式構(gòu)成的單脈沖時的例子，圖18的(b)是使用由多個脈沖模式構(gòu)成的多脈沖時的例子。
如圖18的各圖所示，單脈沖10-1和多脈沖10-2具有配置在脈沖的開頭的起始脈沖12和配置在后端的后端脈沖14，記錄脈沖整體的能量由各脈沖的高度規(guī)定，施加給記錄坑前端的最初階段的能量由起始脈沖寬度Ttop表示的長度規(guī)定，施加給記錄坑后端的能量由后端脈沖寬度Tlast表示的長度規(guī)定。
另外，作為其它的調(diào)整因素，如圖18的(a)所示，在單脈沖10-1的情況下，在起始脈沖12和后端脈沖14之間設(shè)置比主功率PW低PWD的低功率區(qū)域。通過規(guī)定該量來防止記錄坑變成淚型。同樣，在多脈沖10-2的情況下，如圖18的(b)所示，通過規(guī)定位于起始脈沖12和后端脈沖14之間的中間脈沖的寬度Tmp來防止記錄坑變成淚型。
以上所述的Ttop、Tlast、PWD、Tmp成為因記錄條件S1和S2而變化的典型參數(shù)。以條件S1、S2使這些參數(shù)變化，做成偏移量D1、D2來檢測其影響，使用這4點(diǎn)進(jìn)行直線近似，并使用該直線來得到能消除偏移的校正量。
圖19是表示記錄條件S1和S2的變化與偏移量D1、D2之間的關(guān)系的概念圖。如果以圖19的(a)所示的記錄脈沖為“PzT＝3T”的基準(zhǔn)脈沖，則成為比較對象的“PzT＝4T”的記錄脈沖在使PzT的前端按S1變化的圖19的(b)的記錄脈沖S1和使PzT的前端按S2變化的圖19的(c)的記錄脈沖S2這兩個條件下進(jìn)行測試記錄。
結(jié)果，得到與圖19的(a)的記錄脈沖對應(yīng)的圖19的(a1)所示的基準(zhǔn)模式，與圖19的(b)的記錄脈沖對應(yīng)的圖19的(b1)所示的比較模式S1，與圖19的(c)的記錄脈沖對應(yīng)的圖19的(c1)所示的比較模式S2。在此，比較模式S1與控制量S1對應(yīng)地產(chǎn)生D1的偏移量，比較模式S2與控制量S2對應(yīng)地產(chǎn)生D2的偏移量。
如果知道對于控制量S1和S2的偏移量D1和D2，并假設(shè)對某個參數(shù)具有多少控制量，則能預(yù)測產(chǎn)生多少偏移，因此，利用這些關(guān)系來進(jìn)行控制量的預(yù)測和校正值的確定。
圖20是表示利用了直線近似的前側(cè)相位偏移校正的一個例子的概念圖。在確定對前側(cè)相位偏移的校正量Ttop的情況下，首先，如圖20的(a)所示，以成為基準(zhǔn)的脈沖位置為基準(zhǔn)相位φ，此時，如圖20的(b)所示，用使脈沖的位置錯開Ttop的波形進(jìn)行測試記錄(相當(dāng)于記錄條件S1、S2)，結(jié)果是，如圖20的(c)所示，檢測所得到的再現(xiàn)信號的相位偏移Δφtop(相當(dāng)于偏移量D1、D2)。
在圖20所示的例子中，使該Ttop進(jìn)行S1＝+0.1和S2＝+0.3這兩種變化，所得到的檢測相位Δφtop為偏移量D1＝-0.1和D2＝+0.1。然后，使用這些所得到的S1、S2、D1、D2，如圖20的(e)所示，用直線來近似控制結(jié)果Δφtop對控制量Ttop的關(guān)系，并利用該直線確定能消除相位偏移的校正相位Ttop＝+0.2作為最佳校正值。
這樣，如果求出至少2個變化點(diǎn)，則策略的變化S1、S2和偏移量的變化D1、D2的關(guān)系能進(jìn)行直線的近似或者曲線的近似，因此能使用該直線求出偏移量變?yōu)榱愕淖罴研Ｕ俊?br> 具體地講，求出使策略S以多點(diǎn)變化時的偏移量D，將此時的策略S和偏移量D的關(guān)系代入普通式子“D＝a×S+b”，通過求解聯(lián)立方程式求出常數(shù)a、b，最終，求出與理想的偏移量D對應(yīng)的策略S，并將該策略S設(shè)定在圖1所示的策略電路102中，由此進(jìn)行記錄脈沖的最佳校正。
例如，在圖1所示的記錄偏移檢測部112中，設(shè)從使用某個策略S1的測試記錄的再現(xiàn)模式檢測出的偏移量為D1、從使用另外的策略S2的測試記錄的再現(xiàn)模式檢測出的偏移量為D2，則由D1＝a×S1+bD2＝a×S2+b計(jì)算a、b，并求出使用計(jì)算出的a和b的函數(shù)S＝(D-b)/a，通過將用于改善記錄品質(zhì)的、例如用于校正在補(bǔ)償電路中產(chǎn)生的初始的輸出偏移等的輸出偏移量D代入該函數(shù)中，從而確定最佳策略S。
求出該最佳策略S的函數(shù)能與3T、4T、...14T各自的坑P3T、P4T、...P14T相應(yīng)地求出。并且，求出該最佳策略S的函數(shù)還能分別與記錄速度相應(yīng)地求出。
圖21是表示利用了直線近似的后側(cè)相位偏移校正的一個例子的概念圖。在確定對后側(cè)相位偏移的校正量Tlast的情況下，首先，如圖21的(a)所示，以成為基準(zhǔn)的脈沖位置為基準(zhǔn)相位φ，此時，如圖21的(b)所示，用使脈沖的位置錯開Tlast的波形進(jìn)行測試記錄，結(jié)果，如圖21的(c)所示，檢測得到的再現(xiàn)信號的相位偏移Δφlast。
在圖21所示的例子中，使該Tlast進(jìn)行S1＝-0.1和S2＝-0.3這兩種變化，所得到的檢測相位Δφlast為偏移量D1＝+0.1和D2＝-0.1。然后，使用這些所得到的S1、S2、D1、D2，如圖21的(e)所示，用直線來近似控制結(jié)果Δφlast對于控制量Tlast的關(guān)系，并利用該直線確定能消除相位偏移的校正相位Tlast＝-0.2作為最佳校正值。
圖22是表示利用了關(guān)于單脈沖的形狀的直線近似的長度偏移校正的一個例子的概念圖。在確定對該長度偏移的校正量PWD的情況下，首先，如圖22的(a)所示，以成為基準(zhǔn)的脈沖長度為基準(zhǔn)波形nT，此時，如圖22的(b)所示，用脈沖的中央缺少PWD的波形進(jìn)行測試記錄，結(jié)果，如圖22的(c)所示，檢測得到的再現(xiàn)信號的長度偏移Δ。
在圖22所示的例子中，使該P(yáng)WD進(jìn)行S1＝+0.3和S2＝+0.1這兩種變化，所得到的長度偏移Δ為偏移量D1＝+0.1和D2＝-0.1。然后，使用這些所得到的S1、S2、D1、D2，如圖22的(e)所示，用直線來近似控制結(jié)果Δ對控制量PWD的關(guān)系，并利用該直線確定能消除長度偏移的校正量PWD＝+0.2作為最佳校正值。
圖23是表示利用了關(guān)于多脈沖的形狀的直線近似的長度偏移校正的一個例子的概念圖。在確定對該長度偏移的校正量Tmp的情況下，首先，如圖23的(a)所示，以成為基準(zhǔn)的脈沖長度為基準(zhǔn)波形nT，此時，如圖23的(b)所示，用以中間脈沖長度為Tmp的波形進(jìn)行測試記錄，結(jié)果，如圖23的(c)所示，檢測得到的再現(xiàn)信號的長度偏移Δ。
在圖23所示的例子中，使該Tmp進(jìn)行S1＝+0.3和S2＝+0.1這兩種變化，所得到的長度偏移Δ為偏移量D1＝+0.1和D2＝-0.1。然后，使用這些所得到的S1、S2、D1、D2，如圖23的(e)所示，用直線來近似控制結(jié)果Δ對控制量Tmp的關(guān)系，并利用該直線確定能消除長度偏移的校正量Tmp＝+0.2作為最佳校正值。
圖24是表示用于存儲校正量Ttop和Tlast的表構(gòu)造的概念圖。如圖24的(a)所示，校正量Ttop用與該各坑的前方岸長的組合來對每個成為校正對象的坑長進(jìn)行定義。例如，在校正對象坑為3T、該坑的前方岸為3T的情況下，在圖中表示為“3-3”的區(qū)域內(nèi)存儲校正量，在校正對象坑為4T、該坑的后方岸為3T的情況下，在圖中表示為“3-4”的區(qū)域內(nèi)存儲校正量，以下，對于5T、...14T，與3T和4T同樣地進(jìn)行存儲。
另外，如圖24的(b)所示，校正量Tlast用與該各坑的后方岸長的組合來對每個成為校正對象的坑長進(jìn)行定義。例如，在校正對象坑為3T、該坑的后方岸為3T的情況下，在圖中表示為“3-3”的區(qū)域存儲校正量，在校正對象坑為4T、該坑的后方岸為3T的情況下，在圖中表示為“3-4”的區(qū)域存儲校正量，以下，對于5T、...14T，與3T和4T同樣地進(jìn)行存儲。
圖25是表示用于存儲校正量PWD和Tmp的表構(gòu)造的概念圖。如圖25的(a)所示，校正量PWD和Tmp按每個成為校正對象的坑長進(jìn)行定義。例如，校正對象坑為3T時的校正量PWD，在圖25中表示為“PW3”的區(qū)域存儲校正量，在校正對象坑為3T時的校正量Tmp，在圖25中表示為“Tm3”的區(qū)域存儲校正量。以下，對于4T、5T、...14T，與3T同樣地進(jìn)行存儲。
圖26是表示校正后的記錄脈沖的例子的概念圖。如圖26的各圖所示，在將圖26的(a)所示的記錄數(shù)據(jù)記錄在光盤上的情況下，對每個坑長設(shè)定應(yīng)用了最佳的校正值的策略。例如，在記錄3T坑的情況下，如圖26的(b)所示，從圖24所示的表中根據(jù)前方的岸長讀出3T坑的前端校正值Ttop，并且，根據(jù)后方岸長讀出3T坑的后端校正值Tlast，并用該Ttop和Tlast對記錄脈沖的前端和后端進(jìn)行校正。
在校正4T坑的情況下，如圖26的(c)所示，用與3T坑的情況同樣的步驟進(jìn)行Ttop和Tlast的校正，在對具有大于或等于5T的長度的坑進(jìn)行校正的情況下，如圖26的(d)～(f)所示，除了Ttop和Tlast之外，還從圖25的表中讀出該坑長的PWD校正值，并進(jìn)行該P(yáng)WD值所對應(yīng)的脈沖形狀的校正。
在以上說明的實(shí)施方式中，通過將偏移量D代入求出最佳策略S的函數(shù)中來確定最佳策略，但是，也可以構(gòu)成為準(zhǔn)備從上述函數(shù)求出的校正表，并根據(jù)該校正表確定最佳策略S。
另外，對于每次改變光盤的種類或者每次改變記錄速度都可以進(jìn)行上述最佳策略的設(shè)定處理，另外，采用如下的結(jié)構(gòu)也可以在將由上述最佳策略的設(shè)定處理確定的最佳策略的條件與光盤的種類和記錄速度相對應(yīng)地預(yù)先存儲在存儲器中，再次用同一種類的光盤進(jìn)行記錄的情況下，或者用同一記錄速度進(jìn)行記錄的情況下，讀出存儲在該存儲器中的最佳策略來進(jìn)行使用。
(工業(yè)可利用性)
根據(jù)本發(fā)明，即使在實(shí)際所記錄的坑與所定義的策略的偏移大的情況下，也可以檢測偏移，因此能應(yīng)對更嚴(yán)格的記錄環(huán)境。
權(quán)利要求
1.一種光信息記錄裝置，利用激光的脈沖照射在光記錄介質(zhì)上進(jìn)行信息的記錄，其特征在于包括使用預(yù)定的策略在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄的裝置；對再現(xiàn)上述測試記錄的結(jié)果而得到的第1再現(xiàn)模式與第2再現(xiàn)模式進(jìn)行比較的裝置；以及檢測上述策略與由上述測試記錄形成的記錄模式之間的偏移的裝置，其中，利用上述比較結(jié)果來進(jìn)行上述偏移的檢測。
2.一種光信息記錄裝置，利用激光的脈沖照射在光記錄介質(zhì)上進(jìn)行信息的記錄，其特征在于，包括使用包含固定長度坑、固定長度岸、可變長度坑連續(xù)的記錄模式，且該可變長度坑的長度不同的多個記錄脈沖，在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄的裝置；再現(xiàn)上述測試記錄的結(jié)果，取得與上述各記錄脈沖對應(yīng)的多個再現(xiàn)模式的裝置；將上述各再現(xiàn)模式中的至少一個設(shè)定為基準(zhǔn)模式，并且將該基準(zhǔn)模式以外的至少一個設(shè)定為比較模式的裝置；對與上述基準(zhǔn)模式所包含的固定長度岸對應(yīng)的部分的信號，和與上述比較模式所包含的固定長度岸對應(yīng)的部分的信號進(jìn)行比較的裝置；以及根據(jù)上述比較的結(jié)果，檢測與上述比較模式所包含的可變長度坑的長度對應(yīng)的坑的前側(cè)相位偏移量的裝置。
3.一種光信息記錄裝置，利用激光的脈沖照射在光記錄介質(zhì)上進(jìn)行信息的記錄，其特征在于，包括使用包含固定長度坑、固定長度岸、可變長度坑連續(xù)的記錄模式，且該可變長度坑的長度不同的多個記錄脈沖，在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄的裝置；再現(xiàn)上述測試記錄的結(jié)果，取得與該各記錄脈沖對應(yīng)的多個再現(xiàn)模式的裝置；將上述各再現(xiàn)模式中的至少一個設(shè)定為基準(zhǔn)模式，并且將該基準(zhǔn)模式以外的至少一個設(shè)定為比較模式的裝置；對與上述基準(zhǔn)模式所包含的固定長度岸對應(yīng)的部分的信號，和與上述比較模式所包含的固定長度岸對應(yīng)的部分的信號進(jìn)行比較的裝置；以及根據(jù)上述比較的結(jié)果，檢測與上述比較模式所包含的可變長度坑的長度對應(yīng)的坑的后側(cè)相位偏移量的裝置。
4.一種光信息記錄裝置，利用激光的脈沖照射在光記錄介質(zhì)上進(jìn)行信息的記錄，其特征在于，包括使用包含固定長度坑、固定長度岸、可變長度坑連續(xù)的記錄模式，且該可變長度坑的長度不同的多個記錄脈沖，在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄的裝置；再現(xiàn)上述測試記錄的結(jié)果，取得與該各記錄脈沖對應(yīng)的多個再現(xiàn)模式的裝置；將上述各再現(xiàn)模式中的至少一個設(shè)定為基準(zhǔn)模式，并且將該基準(zhǔn)模式以外的至少一個設(shè)定為比較模式的裝置；對與上述基準(zhǔn)模式所包含的固定長度坑對應(yīng)的部分的信號，和與上述比較模式所包含的固定長度坑對應(yīng)的部分的信號進(jìn)行比較的裝置；以及根據(jù)上述比較的結(jié)果，檢測與上述比較模式所包含的可變長度岸的長度對應(yīng)的坑的長度偏移量的裝置。
5.一種光信息記錄裝置，利用激光的脈沖照射在光記錄介質(zhì)上進(jìn)行信息的記錄，其特征在于，包括使用包含固定長度坑、固定長度岸、可變長度坑連續(xù)的記錄模式，且該可變長度坑的長度不同的多個記錄脈沖，在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄的裝置；再現(xiàn)上述測試記錄的結(jié)果，取得與該各記錄脈沖對應(yīng)的多個再現(xiàn)模式的裝置；對與上述各再現(xiàn)模式所包含的固定長度坑對應(yīng)的部分的信號，和與該固定長度坑的長度對應(yīng)的坑的規(guī)定長度進(jìn)行比較的裝置；以及根據(jù)上述比較的結(jié)果，檢測與上述固定長度坑的長度對應(yīng)的坑的長度偏移量的裝置。
6.一種光信息記錄裝置，利用激光的脈沖照射在光記錄介質(zhì)上進(jìn)行信息的記錄，其特征在于，包括使用包含固定長度坑、固定長度岸、可變長度坑連續(xù)的記錄模式，且該可變長度坑的長度不同的多個記錄脈沖，在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄的裝置；再現(xiàn)上述測試記錄的結(jié)果，取得與該各記錄脈沖對應(yīng)的多個再現(xiàn)模式的裝置；對與上述各再現(xiàn)模式所包含的可變長度坑對應(yīng)的部分的信號，和與該可變長度坑的長度對應(yīng)的坑的規(guī)定長度進(jìn)行比較的裝置；以及根據(jù)上述比較的結(jié)果，檢測與上述可變長度坑的長度對應(yīng)的坑的長度偏移量的裝置。
7.一種光信息記錄裝置，利用激光的脈沖照射在光記錄介質(zhì)上進(jìn)行信息的記錄，其特征在于，包括使用預(yù)定的策略在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄的裝置；再現(xiàn)上述測試記錄的結(jié)果，得到2值化信號的裝置；使用預(yù)定的時鐘信號對上述2值化信號的脈沖長度進(jìn)行計(jì)數(shù)的裝置；將上述計(jì)數(shù)結(jié)果存儲在預(yù)定的存儲區(qū)域的裝置；生成上述計(jì)數(shù)結(jié)果的柱狀圖的裝置；使用上述柱狀圖特定上述2值化信號所包含的坑長和岸長的裝置；根據(jù)上述特定了的坑長和岸長，從上述記錄區(qū)域中檢索第1再現(xiàn)模式和第2再現(xiàn)模式的裝置；以及對通過上述檢索所得到的第1再現(xiàn)模式與第2再現(xiàn)模式進(jìn)行比較，由此檢測上述策略與由上述測試記錄形成的記錄模式之間的偏移的裝置。
8.一種光信息記錄裝置，利用激光的脈沖照射在光記錄介質(zhì)上進(jìn)行信息的記錄，其特征在于，包括使用預(yù)定的策略在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄的裝置；再現(xiàn)上述測試記錄的結(jié)果，得到2值化信號的裝置；使用預(yù)定的時鐘信號對上述2值化信號的脈沖長度進(jìn)行計(jì)數(shù)的裝置；將上述計(jì)數(shù)結(jié)果存儲在預(yù)定的存儲區(qū)域的裝置；生成上述計(jì)數(shù)結(jié)果的柱狀圖的裝置；使用上述柱狀圖特定上述2值化信號所包含的坑長和岸長的裝置。
9.如權(quán)利要求8所述的光信息記錄裝置，其特征在于還包括根據(jù)上述特定了的坑長和岸長，從上述記錄區(qū)域中檢索第1再現(xiàn)模式和第2再現(xiàn)模式的裝置。
10.如權(quán)利要求8所述的光信息記錄裝置，其特征在于還包括對通過上述檢索所得到的第1再現(xiàn)模式與第2再現(xiàn)模式進(jìn)行比較，由此檢測上述策略與由上述測試記錄形成的記錄模式之間的偏移的裝置。
11.一種光信息記錄方法，利用激光的脈沖照射在光記錄介質(zhì)上進(jìn)行信息的記錄，其特征在于包括使用預(yù)定的策略在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄的步驟；對再現(xiàn)上述測試記錄的結(jié)果而得到的第1再現(xiàn)模式與第2再現(xiàn)模式進(jìn)行比較的步驟；以及檢測上述策略與由上述測試記錄形成的記錄模式之間的偏移的步驟，其中，利用上述比較結(jié)果來進(jìn)行上述偏移的檢測。
全文摘要
本發(fā)明提供一種適于策略和記錄模式之間的偏移的檢測的光信息記錄裝置。使用預(yù)定的策略在上述光記錄介質(zhì)上進(jìn)行測試記錄，對再現(xiàn)其結(jié)果而得到2值化信號進(jìn)行計(jì)數(shù)，使用該計(jì)數(shù)結(jié)果的柱狀圖特定上述2值化信號所包含的坑長和岸長，根據(jù)這些坑長和岸長從上述記錄區(qū)域中檢索抽取多個再現(xiàn)模式，使通過該檢索而得到的再現(xiàn)模式互相進(jìn)行比較，由此，檢測上述策略與由上述測試記錄形成的記錄模式之間的偏移。
文檔編號G11B7/0045GK1707629SQ20051006922
公開日2005年12月14日 申請日期2005年5月12日 優(yōu)先權(quán)日2004年5月13日
發(fā)明者關(guān)口慎生, 垣本博哉, 松田勛, 佐藤禎一 申請人:太陽誘電株式會社