專利名稱：光盤記錄/再現(xiàn)方法、光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備和光盤的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光盤記錄/再現(xiàn)方法、光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備和光盤，尤其涉及在光盤上記錄信號時和從光盤中再現(xiàn)信號時的參數(shù)調(diào)整。
背景技術(shù)：
當將信息記錄到光盤上時，要采用激光束。此時，需要優(yōu)化激光束的記錄功率。作為用于優(yōu)化記錄功率的技術(shù)，提供了如日本專利申請KOKAI公布號H4-141827中所公開的技術(shù)。
在日本專利申請KOKAI公布號H4-141827中，在記錄功率漸變時，記錄信息并測量此時所得到的再現(xiàn)信號的幅度。根據(jù)記錄功率與再現(xiàn)信號的幅度之間的關(guān)系得出記錄功率的最佳值。此外，在記錄功率漸變時，記錄信息并測量此時所得到的誤碼率。根據(jù)記錄功率與誤碼率之間的關(guān)系得出記錄功率的最佳值。產(chǎn)生激光束的電信號的記錄波形采用所謂的多脈沖形式，即在短時間內(nèi)反復置于高低電平。如果把利用記錄波形所得到的激光束應用于光盤的軌道，那么將形成光斑(mark)。數(shù)據(jù)內(nèi)容可利用軌道上排列的光斑和間隙的寬度來表示。
作為利用多脈沖波形的記錄波的第一個與最后一個脈沖之間的關(guān)系的技術(shù)，提供了如日本專利申請KOKAI公布號2000-149262中所公開的技術(shù)。在這種情況下，多脈沖波形的記錄波的第一個脈沖被稱為首脈沖，而其最后一個脈沖被稱為末脈沖。在日本專利申請KOKAI公布號2000-149262中，通過成對地利用所要記錄的每一光斑的長度和該光斑之前(或之后)的間隙的長度，將記錄波形劃分成模式組，并優(yōu)化每一模式組的首脈沖(或末脈沖)的寬度。通過改變首脈沖(或末脈沖)的寬度來記錄信息，并測量此時出現(xiàn)的抖動量。抖動量是再現(xiàn)信號通過電平限幅器中所設(shè)置的分界電平的時間變化。根據(jù)首脈沖(或末脈沖)的寬度與抖動量之間的關(guān)系，得出首脈沖(或末脈沖)的寬度的最佳值。
作為用于再現(xiàn)光盤上所記錄信息的系統(tǒng)，提供了限幅與識別系統(tǒng)以及PRML(部分響應和最大似然)識別系統(tǒng)。
簡單地說，限幅與識別系統(tǒng)利用拾取頭的光電轉(zhuǎn)換器將光盤所反射的反射光轉(zhuǎn)換成電信號。電信號在限幅電路中被限幅并被轉(zhuǎn)換成解碼二進制數(shù)據(jù)。
PRML識別系統(tǒng)如下所述。在PRML識別系統(tǒng)中，使用與記錄/再現(xiàn)特性相應的PR(部分響應)特性。下面舉例說明PR(1，2，2，2，1)特性。PR(1，2，2，2，1)特性表示與代碼比特“1”相應的再現(xiàn)信號被置為“12221”的特性。通過對代碼比特序列和表示PR特性的序列“12221”進行卷積運算得到再現(xiàn)信號。例如，代碼比特序列“0100000000”的再現(xiàn)信號被置為“0122210000”。同樣，代碼比特序列“0110000000”的再現(xiàn)信號被置為“0134431000”，代碼比特序列“0111000000”的再現(xiàn)信號被置為“0135653100”，代碼比特序列“0111100000”的再現(xiàn)信號被置為“0135775310”，而代碼比特序列“0111110000”的再現(xiàn)信號被置為“0135787531”。在PR(1，2，2，2，1)特性中，再現(xiàn)信號被置為九個電平。卷積運算所計算的再現(xiàn)信號是理想再現(xiàn)信號(以下稱為通路(pass))。然而，在實際再現(xiàn)信號中，該特性不一定正好被置為PR(1，2，2，2，1)特性，并且再現(xiàn)信號含有諸如噪聲等退化因素。在PRML識別系統(tǒng)中，利用均衡器設(shè)置再現(xiàn)信號的特性更接近于該PR特性。特性被設(shè)置為更接近于該PR特性的再現(xiàn)信號稱為均衡再現(xiàn)信號。此后，利用維特比解碼器選擇相對于均衡再現(xiàn)信號具有最小歐幾里德距離的通路。該通路與代碼比特序列被設(shè)置為一一對應。維特比解碼器輸出與所選通路相應的代碼比特序列作為解碼二進制數(shù)據(jù)。
近來，隨著光盤密度的提高，越來越多地使用PRML識別系統(tǒng)，以代替限幅與識別系統(tǒng)。
在使用了PRML識別系統(tǒng)的光盤系統(tǒng)中，假定再現(xiàn)信號不是二進制信號而是具有三個或三個以上值的信號即所謂多值信號。再現(xiàn)信號的幅度是再現(xiàn)信號的最大與最小值之間的電平差值。一種用于根據(jù)再現(xiàn)信號的幅度的測量值優(yōu)化記錄波形的方法是基于再現(xiàn)信號是二進制信號的假定的方法。也就是說，這種記錄波形與使用PRML識別系統(tǒng)的光盤系統(tǒng)的最佳記錄波形不同。
在使用PRML識別系統(tǒng)的光盤系統(tǒng)中，抖動量的減小不一定能導致提高再現(xiàn)信號的質(zhì)量。也就是說，利用抖動量的測量未必能優(yōu)化記錄波形。
在誤碼率的測量中，測量值會因光盤的局部缺陷而有很大的不同。因此，利用根據(jù)誤碼率的測量值優(yōu)化記錄波形的方法會因誤碼率的變化所帶來的影響而不足以能優(yōu)化記錄波形。此外，為了測量誤碼率，必須記錄/再現(xiàn)光盤上非常長的代碼比特序列。因此，根據(jù)誤碼率的測量值優(yōu)化記錄波形的方法需要很長時間來優(yōu)化記錄波形。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實施例的一個目的在于，在使用PRML識別系統(tǒng)的光盤系統(tǒng)中提供一種得出最佳記錄波形的方法。
本發(fā)明的另一個目的在于，在使用PRML識別系統(tǒng)的光盤系統(tǒng)中提供一種短時間內(nèi)優(yōu)化記錄波形的方法。
此外，本發(fā)明的又一個目的在于，在使用PRML識別系統(tǒng)的光盤系統(tǒng)中提供一種能執(zhí)行最佳記錄/再現(xiàn)操作的光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備。
本發(fā)明的另一個目的在于，在使用PRML識別系統(tǒng)的光盤系統(tǒng)中提供一種利用最佳記錄波形來記錄信息的光盤。
為了達到上述目的，在下述一種實施例中，根據(jù)第一記錄參數(shù)調(diào)整方法確定第一記錄參數(shù)，利用第一記錄參數(shù)在媒體上記錄信息，利用信號質(zhì)量評估方法從再現(xiàn)信號中得出信號質(zhì)量的評估值，當評估值滿足預定值時終止調(diào)整記錄參數(shù)的操作(例如，圖3中的步驟S1至S4)，當評估值不滿足預定值時根據(jù)第二記錄參數(shù)調(diào)整方法確定第二記錄參數(shù)，利用第二記錄參數(shù)在媒體上記錄信息，利用信號質(zhì)量評估方法從再現(xiàn)信號中得出信號質(zhì)量的評估值，當評估值滿足預定值時終止調(diào)整記錄參數(shù)的操作，和當評估值不滿足預定值時發(fā)出告警(例如，圖3中的步驟S5至S6)。
在使用PRML識別系統(tǒng)的光盤系統(tǒng)中，利用上述光盤記錄/再現(xiàn)方法可以得到最佳記錄參數(shù)。
在使用PRML識別系統(tǒng)的光盤系統(tǒng)中，利用上述光盤記錄/再現(xiàn)方法可以在短時間內(nèi)得到記錄參數(shù)。
此外，還可以提供一種利用上述光盤記錄/再現(xiàn)方法所得出的記錄波形能正確地記錄/再現(xiàn)信息的光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備。
此外，還可以提供一種通過利用上述光盤記錄/再現(xiàn)方法所得出的記錄波形記錄信息來正確地記錄信息的光盤。
這些實施例的其他目的和優(yōu)點如隨后的描述中所闡述，其中一部分可以從描述中直接看到，或者可以通過本發(fā)明的實踐中認識到。利用以下特別指出的手段和組合，可以實現(xiàn)和得到本發(fā)明的這些目的和優(yōu)點。


所編入的并作為說明書的一部分的附圖舉例說明了本發(fā)明的實施例，并且結(jié)合以上所給出的一般描述和以下所給出的實施例的詳細描述，闡明本發(fā)明的原理。
圖1是說明本發(fā)明的光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備的一個例子的框圖；圖2是說明根據(jù)本發(fā)明的一種記錄波形的一個例子的說明圖；圖3是說明根據(jù)本發(fā)明的一種光盤記錄/再現(xiàn)方法的一個例子的流程圖；圖4是說明記錄功率調(diào)整方法的一個例子的說明圖；圖5是說明中間多脈沖寬度調(diào)整方法的說明圖；圖6是說明在2T光斑記錄時間的首脈沖寬度調(diào)整方法的說明圖；圖7是說明在3T光斑記錄時間的首脈沖寬度調(diào)整方法的說明圖；圖8是說明PRSNR計算器的結(jié)構(gòu)的一個例子的框圖；
圖9是說明SbER的基本原理的第一說明圖；圖10是說明SbER的基本原理的第二說明圖；圖11是說明SbER計算器的結(jié)構(gòu)的一個例子的框圖；圖12是說明自適應控制值計算器的結(jié)構(gòu)的一個例子的框圖；圖13是說明自適應控制值的基本原理的第一說明圖；圖14A和14B是說明自適應控制值的基本原理的第二說明圖；圖15是說明自適應控制值的基本原理的第三說明圖；圖16是說明根據(jù)本發(fā)明的第二種光盤記錄/再現(xiàn)方法的一個例子的流程圖；圖17是說明本發(fā)明的第二種記錄波形的一個例子的圖；圖18是說明根據(jù)本發(fā)明的第三種光盤記錄/再現(xiàn)方法的一個例子的流程圖；圖19是說明根據(jù)本發(fā)明的第四種光盤記錄/再現(xiàn)方法的一個例子的流程圖；和圖20是說明本發(fā)明的第三種記錄波形的一個例子的圖。
具體實施例方式
下面，將參照附圖描述根據(jù)本發(fā)明的光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備、記錄方法和光盤媒體的實施例。
圖1是說明光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備的框圖。利用其游程為“1”的調(diào)制器(未示出)將記錄二進制數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成一個序列，其中在代碼比特序列中至少兩個“0”或“1”連續(xù)出現(xiàn)。根據(jù)控制器102輸出的記錄參數(shù)，利用激光二極管(LD)驅(qū)動器101將記錄二進制數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成記錄波。電信號的記錄波通過拾取頭(PUH)103被轉(zhuǎn)換成光信號，然后被施加于光盤100上。在光盤100上，根據(jù)激光的施加形成光斑。作為光盤100，可以采用非凹陷部分和槽(land & groove)記錄類型光盤。
在再現(xiàn)時，利用PUH103再現(xiàn)光盤100上所記錄的信息為弱模擬信號。該模擬信號利用前置放大器104被放大到足夠高的信號電平，然后通過模-數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)105被轉(zhuǎn)換成以恒定頻率抽樣的數(shù)字信號。數(shù)字再現(xiàn)信號在含有鎖相環(huán)(PLL)的均衡器106中被轉(zhuǎn)換成與信道時鐘同步的信號，同時，它還被轉(zhuǎn)換成其特性接近于PR(1，2，2，2，1)特性的均衡再現(xiàn)信號。均衡器106中所用的均衡系數(shù)可從與信道時鐘同步的信號和解碼二進制數(shù)據(jù)中得出。
此后，在維特比解碼器107中，選擇一個通路。該通路相對于均衡再現(xiàn)信號的歐幾里德距離最小，并輸出與所選通路相應的代碼比特序列作為解碼二進制數(shù)據(jù)。
均衡再現(xiàn)信號和解碼二進制數(shù)據(jù)輸入到PRSNR(部分響應信噪比)計算器108，并測量評估值PRSNR。此外，均衡再現(xiàn)信號和解碼二進制數(shù)據(jù)還輸入到SbER(模擬誤碼率)計算器109，并測量評估值SbER。另外，均衡再現(xiàn)信號和解碼二進制數(shù)據(jù)還輸入到自適應控制值計算器110，并測量自適應控制值。所測量的PRSNR、SbER和自適應控制值輸入到控制器102，并評估出評估值。此外，還調(diào)整和修改記錄參數(shù)。另外，還可以有選擇地切換第一和第二記錄參數(shù)調(diào)整方法。盡管圖中未示出，然而，需要的話還可以向報警裝置輸出一個告警信號。
此外，如稍后所詳述，在控制器102中測量記錄參數(shù)與評估值之間的關(guān)系，根據(jù)測量結(jié)果得出評估值的最佳值，并可以將使評估值被設(shè)置為最佳值的記錄參數(shù)確定為調(diào)整值。另外，在控制器102中，測量記錄參數(shù)與評估值之間的關(guān)系，根據(jù)測量結(jié)果得出評估值的最佳值，并可以將小于等于最佳值的某個值設(shè)置為規(guī)定值。然后，確定滿足規(guī)定值的記錄參數(shù)的上限值和下限值，并將該上限和下限值的中間值設(shè)置為記錄參數(shù)的調(diào)整值。
(記錄波形)圖2說明了記錄二進制數(shù)據(jù)a和記錄波形b的結(jié)構(gòu)。在光盤上，與記錄二進制數(shù)據(jù)(圖2中的“a”)的高電平相應地形成光斑。記錄波形b包括單脈沖，以記錄最短2T光斑。所要記錄的光斑越長，記錄波形b的脈沖數(shù)越多。當在非凹陷部分軌道上記錄信息時和當在槽軌道上記錄信息時，單獨設(shè)置記錄參數(shù)。這些記錄參數(shù)如表1中所示。
表1

在時基方向，這些記錄參數(shù)當中的TLC、TSFP、TELP是自適應控制參數(shù)。也就是說，光斑長度和間隙長度被分類成2T、3T和≥4T(≥4T表示大于等于4T的長度)的三個組，并為各個組設(shè)置單獨的參數(shù)?？梢詾門LC設(shè)置對各個光斑長度而言不同的值。此外，可以為TSFP設(shè)置對各個光斑長度和光斑之前的間隙的長度而言不同的值。同樣，可以為TELP設(shè)置對各個光斑長度和光斑之后的間隙的長度而言不同的值。自適應控制參數(shù)如表2中所示。
表2






(記錄參數(shù)調(diào)整過程)下面將說明記錄參數(shù)調(diào)整過程。由于非凹陷部分軌道記錄參數(shù)和槽軌道記錄參數(shù)的調(diào)整過程是一樣的，因此，這里只說明非凹陷部分軌道記錄參數(shù)調(diào)整過程。該調(diào)整過程的概述如圖3中所示。
(峰值功率和偏置功率1的調(diào)整圖3中的步驟S1)1.峰值功率被置為初始值PP0。PP0預先記錄在光盤上的預定位置。再現(xiàn)相應位置的值，然后設(shè)置所得到的值。同樣，偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置為初始值PB10、PB20和PB30。這些初始值PB10、PB20和PB30預先記錄在光盤上的預定位置。同樣，時基參數(shù)TSFP、TEFP、TMP、TSLP、TELP、TLC被置為初始值。時基參數(shù)的初始值預先記錄在光盤上的預定位置。本例中，峰值功率和偏置功率1被看作是變量。
2.在某一軌道上連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)后，再現(xiàn)該隨機數(shù)據(jù)以得出均衡系數(shù)。在隨后的過程中，利用這樣得出的均衡系數(shù)。
3.在某一軌道上連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)。每當調(diào)整峰值功率和偏置功率1時，都執(zhí)行連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)的操作。每當調(diào)整峰值功率和偏置功率1時，都測量PRSNR。調(diào)整峰值功率和偏置功率1以便提高PRSNR。執(zhí)行這一調(diào)整操作以使峰值功率與偏置功率1的比等于PP0與PB10的比。
4.在過程3中，得出峰值功率與PRSNR之間的關(guān)系(參見圖4)。
5.得出PRSNR的最大值。
6.得出被置為PRSNR的最大值的80％或80％以上的峰值功率的上限值PPOU和下限值PPOL。
7.根據(jù)下列公式，得出峰值功率的調(diào)整值PP1和偏置功率1的調(diào)整值PB11。
PP1＝(PPOL+PPOU)/2PB11＝(PB10/PP0)×PP1可以采用將過程5中所得出的PRSNR的最大值作為PP1的調(diào)整方法。在過程6中，規(guī)定值被置為最大值的80％或80％以上，不過這并非限定性的。此外，將PRSNR作為評估值，不過也可以將SbER作為評估值。當SbER作為評估值時，調(diào)整峰值功率和偏置功率1使SbER值較小。
(TMP的調(diào)整圖3中的步驟S2)1.峰值功率被置為PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置為PB11、PB20和PB30。時基參數(shù)TSFP、TEFP、TMP、TSLP、TELP、TLC被置為初始值。本例中，TMP被看作是變量。
2.在某一軌道上連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)。每當調(diào)整TMP時，都執(zhí)行連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)的操作。每當調(diào)整TMP時，都測量PRSNR。調(diào)整TMP以便提高PRSNR。
3.在過程2中，得出TMP與PRSNR之間的關(guān)系(參見圖5)。
4.得出PRSNR的最大值。
5.得出被置為PRSNR的最大值的80％或80％以上的TMP的上限值TMPU和下限值TMPL。
6.根據(jù)下列公式，得出TMP的調(diào)整值TMP(cal)。
TMP(cal)＝(TMPL+TMPU)/2可以采用將過程4中所得出的PRSNR的最大值設(shè)置為TMP(cal)的調(diào)整方法。在過程5中，規(guī)定值被置為最大值的80％或80％以上，不過這并非限定性的。此外，將PRSNR作為評估值，不過也可以將SbER作為評估值。當SbER作為評估值時，調(diào)整TMP使SbER值較小。
(用于2T光斑的TSFP和用于3T光斑的TSFP的調(diào)整圖3中的步驟S3)1.峰值功率被置為PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置為PB11、PB20和PB30。TMP被置為TMP(cal)。其他時基參數(shù)TSFP、TEFP、TSLP、TELP、TLC被置為初始值。本例中，2T光斑的TSFP和3T光斑的TSFP被看作是變量。2T光斑的TSFP用表2中的dl、gl、jl來表示。同樣，3T光斑的TSFP用表2中的el、hl、kl來表示。
2.在某一軌道上連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)。每當調(diào)整2T光斑的TSFP時，都執(zhí)行連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)的操作。每當調(diào)整TSFP時，都測量PRSNR。調(diào)整TSFP以便提高PRSNR。
3.在過程2中，得出TSFP與PRSNR之間的關(guān)系(參見圖6)。
4.得出PRSNR的最大值。
5.得出被置為PRSNR的最大值的80％或80％以上的2T光斑的TSFP的上限值TSFP2TU和下限值TSFP2TL。
6.根據(jù)下列公式，得出2T光斑的TSFP的調(diào)整值TSFP2T。
TSFP2T＝(TSFP2TL+TSFP2TU)/27.在某一軌道上連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)。每當調(diào)整3T光斑的TSFP時，都執(zhí)行連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)的操作。每當調(diào)整TSFP時，都測量PRSNR。調(diào)整TSFP以便提高PRSNR。
8.在過程7中，得出TSFP與PRSNR之間的關(guān)系(參見圖7)。
9.得出PRSNR的最大值。
10.得出被置為PRSNR的最大值的80％或80％以上的3T光斑的TSFP的上限值TSFP3TU和下限值TSFP3TL。
11.根據(jù)下列公式，得出3T光斑的TSFP的調(diào)整值TSFP3T。
TSFP3T＝(TSFP3TL+TSFP3TU)/2可以采用將過程4中所得出的PRSNR的最大值作為TSFP2T和將過程9中所得出的PRSNR的最大值作為TSFP3T的調(diào)整方法。在過程5和10中，規(guī)定值被置為最大值的80％或80％以上，不過這并非限定性的。此外，將PRSNR作為評估值，不過也可以將SbER作為評估值。當SbER作為評估值時，調(diào)整TSFP使SbER值較小。
(PRSNR和SbER是否滿足規(guī)定標準值的判斷圖3中的步驟S4)1.峰值功率被置為PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置為PB11、PB20和PB30。TMP被置為TMP(cal)。2T光斑的TSFP被置為TSFP2T。3T光斑的TSFP被置為TSFP3T。其他時基參數(shù)TSFP、TEFP、TSLP、TELP、TLC被置為初始值。
2.在5個鄰近軌道上連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)。
3.再現(xiàn)過程2中所用的軌道中的中央軌道上所記錄的數(shù)據(jù)，并得出均衡系數(shù)。在隨后的過程中，利用這樣得出的均衡系數(shù)。
4.測量PRSNR和SbER。
5.如果使PRSNR大于等于15.0，而使SbER小于等于5×10-5，那么，將過程1中所設(shè)置的記錄參數(shù)作為調(diào)整后所得到的參數(shù)，然后終止記錄參數(shù)調(diào)整過程。如果PRSNR小于15.0或SbER大于5×10-5，那么，執(zhí)行下列自適應控制參數(shù)調(diào)整過程。
在過程5中，使PRSNR大于等于15.0，而使SbER小于等于5×10-5，不過，本發(fā)明并不局限于這種情況。例如，可使PRSNR大于等于13.0，并可使SbER小于等于5×10-4。
(自適應控制參數(shù)TSFP、TELP的調(diào)整圖3中的步驟S5)1.峰值功率被置為PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置為PB11、PB20和PB30。TMP被置為TMP(cal)。2T光斑的TSFP被置為TSFP2T。3T光斑的TSFP被置為TSFP3T。其他時基參數(shù)TSFP、TEFP、TSLP、TELP、TLC被置為初始值。本例中，根據(jù)光斑長度和間隙長度所分類的9種TSFP、TELP(即表2中的dl、el、fl、gl、hl、il、jl、kl、ll、ml、nl、ol、pl、ql、rl、sl、tl、u1)被單獨進行調(diào)整。
2.在某一軌道上連續(xù)10次記錄長度大于等于928512個通道比特的隨機數(shù)據(jù)。每當調(diào)整TSFP、TELP時，都執(zhí)行連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)的操作。
3.測量自適應控制值。計算9種TSFP、TELP中的每一種的自適應控制值，并將該值設(shè)置為+1、0或-1。
4.如果某一TSFP(TELP)的自適應控制值為+1，則將TSFP(TELP)減小(增加)時間ΔT。如果某一TSFP(TELP)的自適應控制值為-1，則將TSFP(TELP)增加(減小)時間ΔT。這里，ΔT為T/32。
5.重復執(zhí)行過程2至4，直到所有自適應控制值都被置為0。如果所有自適應控制值都被置為0，那么，此時所得到的TSFP和TELP分別被置為TSFP(cal)和TELP(cal)。
在上述情況下，重復執(zhí)行這些過程，直到所有自適應控制值都被置為0，不過，本發(fā)明并不局限于這種情況。例如，可以重復執(zhí)行這些過程，直到80％或80％以上的控制值被置為0。或者，還可以重復執(zhí)行這些過程，直到使控制值盡可能接近于0。此外，可以預先規(guī)定重復次數(shù)，并可以按該規(guī)定次數(shù)來重復執(zhí)行這些過程。
自適應控制值被置為3種類型[-1，0，+1]之一，不過，本發(fā)明并不局限于這種情況。例如，自適應控制值被置為5種類型[-2，-1，0，+1，+2]之一。
此外，ΔT被置為T/32，不過這并非限定性的，例如，ΔT可被置為T/16。
(圖3的數(shù)據(jù)處理流程的上半部分和下半部分的特性)上半部分是第一記錄參數(shù)調(diào)整方法，它是下列兩種調(diào)整方法之一或是這兩種調(diào)整方法與記錄數(shù)據(jù)比特串無關(guān)的調(diào)整方法，和與記錄數(shù)據(jù)比特串的代碼比特“1”的游程(連續(xù)長度)有關(guān)的調(diào)整方法。下半部分是第二記錄參數(shù)調(diào)整方法，它是這樣一種調(diào)整方法，即與記錄數(shù)據(jù)比特串的代碼比特“1”的游程以及其鄰近的代碼比特“0”的游程有關(guān)的調(diào)整方法。
(光盤合適與否的判斷)1.峰值功率被置為PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置為PB11、PB20和PB30。TMP、TSFP、TELP被置為TMP(cal)、TSFP(cal)、TELP(cal)。其他時基參數(shù)TEFP、TELP、TLC被置為初始值。
2.在5個鄰近軌道上連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)。
3.再現(xiàn)過程2中所用的軌道中的中央軌道上所記錄的數(shù)據(jù)，并得出均衡系數(shù)。在隨后的過程中，利用這樣得出的均衡系數(shù)。
4.測量PRSNR和SbER。
5.如果使PRSNR大于等于15.0U，而使SbER小于等于5×10-5，那么，將過程1中所設(shè)置的記錄參數(shù)作為調(diào)整后所得到的參數(shù)，然后終止記錄參數(shù)調(diào)整過程。如果PRSNR小于15.0或SbER大于5×10-5，那么，判定該光盤是不合適光盤，并卸下該光盤。
在過程5中，使PRSNR大于等于15.0，而使SbER小于等于5×10-5，不過，本發(fā)明并不局限于這種情況。例如，可使PRSNR大于等于13.0，并可使SbER小于等于5×10-4。
(PRSNR的說明)下面將說明用于計算記錄參數(shù)的PRSNR。當通路之間的歐幾里德距離短的時候，在維特比解碼處理中往往會出現(xiàn)檢測錯誤。不同通路之間的歐幾里德距離d定義為d2＝∑εi2。在這種情況下，假定與通路之一相應的代碼比特序列bk所定義的多項式被設(shè)為B(D)＝∑bkDk，與另一通路相應的代碼比特序列ck(bk、ck被設(shè)置為0或1)所定義的多項式被設(shè)為C(D)＝∑ckDk，定義部分響應的多項式被設(shè)為H(D)＝∑hkDk，而N(D)＝(B(D)-C(D))*H(D)＝∑εiDi。在這種情況下，D表示以信道時鐘時間為單位的時延運算符，而hk表示預置部分響應特性，并且h0＝1，h1＝2，h2＝2，h3＝2，h4＝1，而h5和隨后的值都被置為0。此外，符號*表示卷積運算的運算符。通路之間的歐幾里德距離相應于使用PRML識別系統(tǒng)的系統(tǒng)中的信號分量。
在組合有PR(1，2，2，2，1)特性和最小游程長度1的記錄二進制數(shù)據(jù)的系統(tǒng)中，如表3中所示，得到通路之間的小歐幾里德距離中的εi和d2。
表3

均衡再現(xiàn)信號yk所定義的多項式Y(jié)(D)＝∑ykDk與解碼二進制數(shù)據(jù)ak所定義的多項式A(D)＝∑akDk相應的通路P(D)＝A(D)*H(D)之間的差P(D)·Y(D)＝∑vkDk稱為均衡差。該均衡差所帶來的對模式1的影響可以表示為如下。
∑(vk+2vk+1+2vk+2+2vk+3+vk+4)2＝N*(14R0+24R1+16R2+8R3+2R4) (R1被定義為∑vkvk+i/N)此外，該影響與模式1的噪聲分量相應。同樣，該均衡差所帶來的對模式2、3的影響可以表示為如下。
∑(vk+2vk+1+vk+2-vk+4-2vk+3-vk+4)2＝N*(12R0+16R1+2R2-8R3-12R4-8R5-2R6)∑(vk+2vk+1+vk+2+vk+6+2vk+7+vk+8)2＝N*(12R0+16R1+4R2+2R4+8R5+12R6+8R7+2R8)此外，該影響與模式2、3的噪聲分量相應。
因此，模式1的信噪比S1可以由下式給出。
S1=14×1414R0+24R1+16R2+8R3+2R4]]>=14R0+(12R1+8R2+4R3+R4)/7]]>同樣，模式2、3的信噪比S2、S3可以由下式給出。
S2=12×1212R0+16R1+2R2-8R3-12R4-8R5-2R6]]>=12R0+(8R1+R2-4R3-6R4-4R5-R6)/6]]>S3=12×1212R0+16R1+4R2+2R4+8R5+12R6+8R7+2R8]]>=12R0+(8R1+2R2+R4+4R5+6R6+4R7+R8)/6]]>信噪比越低,再現(xiàn)信號的質(zhì)量越差。將S1、S2、S3中最低的一個作為PRSNR。
PRSNR計算器108的具體內(nèi)部框圖如圖8中所示。PRSNR越高，信號質(zhì)量越高，因此，可以調(diào)整記錄參數(shù)以便提高PRSNR。
可以用同樣的方式得出模式4、5、6的信噪比。因此，可以得到模式1至6的信噪比，并可以將其中的最小值作為PRSNR。然而，通常模式4、5、6出現(xiàn)的頻率低于模式1、2、3出現(xiàn)的頻率。為便于測量，在本實施例中，根據(jù)模式1、2、3來得出PRSNR。此外，可以用同樣的方式得出通路之間具有更大歐幾里德距離的模式的信噪比。為了更精確地評估信號質(zhì)量，可以和關(guān)于這些模式的信噪比一起得出PRSNR。
圖8中，標號301代表目標信號發(fā)生器，它利用PR波形和解碼二進制數(shù)據(jù)來產(chǎn)生目標信號。標號302代表比較器，它對目標信號與均衡再現(xiàn)信號進行比較以得出均衡差。上述操作過程可利用均衡差來實現(xiàn)。乘法器利用βi來計算和加權(quán)均衡差的自相關(guān)。然后，得出相關(guān)值的和。
(SbER的說明)下面，將說明用于計算記錄參數(shù)的SbER。在PRSNR識別系統(tǒng)中，要考慮記錄二進制模式T被誤識別為不同的二進制模式F的概率。當均衡再現(xiàn)信號為S而模式T、F的通路為PT、PF(參見圖9)時，模式T被誤識別為模式F的條件用下式來表示。
D＝E2PF，S-E2PT，S＜0
其中，EPF，S表示通路PF與再現(xiàn)信號S之間的歐幾里德距離，而EPT，S表示通路PT與再現(xiàn)信號S之間的歐幾里德距離。信號P1與P2之間的歐幾里德距離由下式給出。
EP1,P2=Σi(P1i-P2i)2]]>如果累積D值的分布(參見圖10)表現(xiàn)為正態(tài)分布，而平均值及其標準偏差值分別設(shè)為μ和σ，那么，T被誤識別為F的概率F(0)可表示為如下。
F(0)=∫-∞0exp{-(x-μ)2/2σ2}σ2πdx]]>通過得出關(guān)于模式對T、F的F(0)(其中往往會出現(xiàn)如表4中所示的誤差)，可以按下式得出bER(誤碼)的估算值SbER。
SbER＝∑CT·F(0)·HT，F(xiàn)其中，CT表示模式T的出現(xiàn)率，而HT，F(xiàn)表示漢明距離。
圖11是SbER計算器109的具體內(nèi)部框圖。解碼二進制數(shù)據(jù)輸入到模式比較器401。模式比較器401對參考表402中所記錄的模式與解碼二進制數(shù)據(jù)進行比較以檢測往往會被誤識別的模式。檢測模式輸入到運算器403。再現(xiàn)信號通過寄存器404輸入到該運算器403。因此，可以進行上式所示的運算以得出SbER。
表4

(自適應控制值的說明)圖12是自適應控制值計算器110的內(nèi)部框圖。若干種預置模式(模式1)登記在模式確定單元501中，當解碼二進制數(shù)據(jù)與登記模式相符時輸出表示登記模式之一的信號。在模式存儲器502中，根據(jù)來自模式確定單元的信號輸出其中登記的三種模式(模式1、模式2、模式3)。在理想信號計算器511、512、513中，根據(jù)輸出模式形成與PR(1，2，2，2，1)特性相應的通路。在距離計算器521、522、523中，計算通路以及這些通路與均衡再現(xiàn)信號之間的歐幾里德距離(分別被設(shè)為E1、E2、E3)。在距離差計算器531、532中計算歐幾里德距離E2與E1之間的差以及歐幾里德距離E3與E1之間的差，并將其存儲在距離差存儲器541、542中。要存儲這些距離差的距離差存儲器的位置可根據(jù)模式確定單元的輸出信號來確定。當記錄/再現(xiàn)預置量的數(shù)據(jù)時，參數(shù)計算裝置550根據(jù)距離差存儲器中所存儲的數(shù)據(jù)來計算自適應控制值。
在本實施例中，光斑和間隙的長度被劃分成三種2T/3T/≥4T，并計算關(guān)于該光斑和間隙的每一模式的自適應控制值。存儲在模式存儲器中的模式1、模式2、模式3的內(nèi)容如表5中所示。表5的第一和第二列相應于表2的自適應控制參數(shù)。例如，表5的第二行表示用于得出2T間隙/2T光斑記錄的自適應控制值的模式。通過將與模式1中所出現(xiàn)的代碼比特串“10”(或“01”)相應的部分改變成“00”(或“11”)得到模式2。此外，通過將與模式1的中心中所出現(xiàn)的代碼比特串“10”(或“01”)相應的部分改變成“11”(或“00”)得到模式3。
表5

表5中，“？”表示代碼比特“0”或“1”。如果模式1中的“？”為“0”(“1”)，那么與模式2、3中的每一個的相應部分中的“？”也為“0”(“1”)。例如，表5的第二行被擴展為如表6中所示。
表6

本發(fā)明的自適應控制值計算操作的基本概念如圖13、14A、14B和15中所示。例如，考慮這樣一種情況模式確定單元所選的模式1、2、3各自具有如圖13的上半部分中所示的“0”、“1”排列。根據(jù)模式1、2、3所計算的通路具有如圖13的下半部分所示的波形。圖13中所示的模式1、2、3的通路被設(shè)為P1(t)、P2(t)、P3(t)，而再現(xiàn)信號被設(shè)為Y(t)。于是，P1(t)、P2(t)、P3(t)與Y(t)之間的歐幾里德距離E1、E2、E3可以表示為如下。
E1＝∑{Y(t)-P1(t)}2E2＝∑{Y(t)-P2(t)}2E3＝∑{Y(t)-P3(t)}2即使當記錄模式1時，識別結(jié)果表示模式2的條件如下。
E1＞E2同樣，即使當記錄模式1時，識別結(jié)果表示模式3的條件如下。
E1＞E3在這種情況下，考慮下列關(guān)系。
D2＝E2-E1D3＝E3-E1D2、D3的分布如圖14A、14B中所示。在圖14A、14B中，分布小于等于“0”的區(qū)域相應于識別錯誤。在圖14A中，當分布小于等于“0”時，選擇模式2。此外，在圖14B中，當分布小于等于“0”時，選擇模式3。如果D2、D3的平均值分別被設(shè)為M2、M3而標準偏差分別設(shè)為σ2、σ3，那么，記錄模式1時避免識別結(jié)果被設(shè)置為模式2的裕度Mgn2如下所示。
Mgn2＝M2/σ2同樣，記錄模式1時避免識別結(jié)果被設(shè)置為模式3的裕度Mgn3如下所示。
Mgn3＝M2/σ3在這種情況下，認為記錄模式1時識別結(jié)果變成模式2的事件和識別結(jié)果變成模式3的事件是沖突事件。D2和-D3的分布如圖15中所示。橫坐標上給出了某一Ec值，而從分布D2和-D3到Ec的裕度Mgn2’、Mgn3’可以表示為如下。
Mgn2’＝(M2-Ec)/σ2Mgn3’＝(M3+Ec)/σ3當Mgn2’＝Mgn3’的關(guān)系式成立時，可得到如下Ec的解。
Ec＝(σ3*M2-σ2*M3)(σ2+σ3)這表示，如果整個分布移位了Ec，那么，記錄模式1時識別結(jié)果變成模式2的概率等于識別結(jié)果變成模式3的概率。這相應于最不容易出錯的情況。也就是說，通過控制與Ec相應的記錄波形，可以實現(xiàn)最好的記錄操作。Ec的符號相應于使光斑更大還是更小，而Ec的絕對值相應于光斑尺寸的變化量。
Ec的單位是歐幾里德距離。自適應控制參數(shù)TSFP、TELP的單位是時間。難以將歐幾里德距離轉(zhuǎn)換成時間。
因此，可以根據(jù)下列Ec來調(diào)整自適應控制參數(shù)。死區(qū)設(shè)在“0”處或在“0”附近，并且，如果Ec位于死區(qū)，則將自適應控制值置為“0”。如果Ec大于死區(qū)，則將自適應控制值置為+1。反之，如果Ec小于死區(qū)，則將自適應控制值置為-1。根據(jù)自適應控制值[-1，0，+1]，將自適應控制參數(shù)TSFP、TELP增加或減小ΔT(＝T/32)。自適應控制參數(shù)TSFP、TELP增加或減小了ΔT后，它們再一次被記錄/再現(xiàn)以得出自適應控制值。重復執(zhí)行以上操作，直到所有自適應控制值都變?yōu)椤?”。
在上例中，重復執(zhí)行操作直到所有自適應控制值都變?yōu)椤?”，不過，本發(fā)明并不局限于這種情況。例如，可以重復執(zhí)行該操作直到80％或80％以上的自適應控制值變?yōu)椤?”?；蛘?，可以重復執(zhí)行該操作自適應控制值近似等于“0”。此外，還可以預先規(guī)定重復次數(shù)，并按該規(guī)定次數(shù)來重復執(zhí)行該操作。
自適應控制值被置為3種類型[-1，0，+1]，不過這并非限定性的。例如，它們可被置為5種類型[-2，-1，0，+1，+2]。此外，ΔT被置為T/32，不過它并不局限于這種情況。例如，ΔT可被置為T/16。
(第二記錄參數(shù)調(diào)整過程)下面將說明本發(fā)明的第二記錄參數(shù)調(diào)整過程。由于非凹陷部分軌道記錄參數(shù)的調(diào)整過程和槽軌道記錄參數(shù)的調(diào)整過程是一樣的，因此，這里只說明非凹陷部分軌道記錄參數(shù)調(diào)整過程。該調(diào)整過程的概述如圖16中所示。
(調(diào)整峰值功率和偏置功率1圖6中的步驟SA1)1.峰值功率被置為初始值PPO。PP0預先記錄在光盤上的預定位置。再現(xiàn)相應位置的數(shù)據(jù)，然后設(shè)置再現(xiàn)值。同樣，偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置為初始值PB10、PB20和PB30。PB10、PB20和PB30預先記錄在光盤上的預定位置。同樣，時基參數(shù)TSFP、TEFP、TMP、TSLP、TELP、TLC被置為初始值。不過，TSFP、TEFP每個都被置為表2中所示的9個值。同樣，TLC每個都被置為表2中所示的3個值。時基參數(shù)的初始值預先記錄在光盤上的預定位置。本例中，峰值功率和偏置功率1被看作是變量。
2.在某一軌道上連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)后，再現(xiàn)該隨機數(shù)據(jù)以得出均衡系數(shù)。在隨后的過程中，利用這樣得出的均衡系數(shù)。
3.在某一軌道上連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)。每當調(diào)整峰值功率和偏置功率1時，都執(zhí)行連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)的操作。每當調(diào)整峰值功率和偏置功率1時，都測量PRSNR。調(diào)整峰值功率和偏置功率1以便提高PRSNR。執(zhí)行這一調(diào)整操作以使峰值功率與偏置功率1的比等于PP0與PB10的比。
4.在過程3中，得出峰值功率與PRSNR之間的關(guān)系(參見圖4)。
5.得出PRSNR的最大值。
6.得出被置為PRSNR的最大值的80％或80％以上的上限值PPOU和下限值PPOL。
7.根據(jù)下列公式，得出峰值功率的調(diào)整值PP1和偏置功率1的調(diào)整值PB11。
PP1＝(PPOL+PPOU)/2PB11＝(PB10/PP0)×PP1可以采用將過程5中所得出的PRSNR的最大值設(shè)置為PP1的調(diào)整方法。在過程6中，規(guī)定值被置為最大值的80％或80％以上，不過這并非限定性的。此外，將PRSNR作為評估值，不過也可以將SbER作為評估值。當SbER作為評估值時，調(diào)整峰值功率和偏置功率1使SbER值較小。
(調(diào)整TMP圖16中的步驟SA2)1.峰值功率被置為PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置為PB11、PB20和PB30。時基參數(shù)TSFP、TEFP、TMP、TSLP、TELP、TLC被置為初始值。本例中，TMP被看作是變量。
2.在某一軌道上連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)。每當調(diào)整TMP時，都執(zhí)行連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)的操作。每當調(diào)整TMP時，都測量PRSNR。調(diào)整TMP以便提高PRSNR。
3.在過程2中，得出TMP與PRSNR之間的關(guān)系(參見圖5)。
4.得出PRSNR的最大值。
5.得出被置為PRSNR的最大值的80％或80％以上的TMP的上限值TMPU和下限值TMPL。
6.根據(jù)下列公式，得出TMP的調(diào)整值TMP(cal)。
TMP(cal)＝(TMPL+TMPU)/2可以采用將過程4中所得出的PRSNR的最大值設(shè)置為TMP(cal)的調(diào)整方法。在過程5中，規(guī)定值被置為最大值的80％或80％以上，不過這并非限定性的。此外，將PRSNR作為評估值，不過也可以將SbER作為評估值。當SbER作為評估值時，調(diào)整TMP使SbER值較小。
(PRSNR和SbER是否滿足規(guī)定的基準值的判斷圖16中的步驟SA3)1.峰值功率被置為PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置為PB11、PB20和PB30。TMP被置為TMP(cal)。其他時基參數(shù)TSFP、TEFP、TSLP、TELP、TLC被置為初始值。
2.在5個鄰近軌道上連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)。
3.再現(xiàn)過程2中所用的軌道中的中央軌道上所記錄的數(shù)據(jù)，并得出均衡系數(shù)。在隨后的過程中，利用這樣得出的均衡系數(shù)。
4.測量PRSNR和SbER。
5.如果使PRSNR大于等于15.0，而使SbER小于等于5×10-5，那么，將過程1中所設(shè)置的記錄參數(shù)作為調(diào)整后所得到的參數(shù)，然后終止記錄參數(shù)調(diào)整過程。如果PRSNR小于15.0或SbER大于5×10-5，那么，執(zhí)行下列自適應控制參數(shù)調(diào)整過程。
在過程5中，使PRSNR大于等于15.0，而使SbER小于等于5×10-5，不過，本發(fā)明并不局限于這種情況。例如，可使PRSNR大于等于13.0，并可使SbER小于等于5×10-4。
(自適應控制參數(shù)TSFP、TELP的調(diào)整圖16中的步驟SA4)1.峰值功率被置為PP1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置為PB11、PB20和PB30。TMP被置為TMP(cal)。其他時基參數(shù)TSFP、TEFP、TSLP、TELP、TLC被置為初始值。本例中，9種TSFP、TELP(即表2中所示的dl、el、fl、gl、hl、il、jl、kl、ll、ml、nl、ol、pl、ql、rl、sl、tl、ul)被單獨進行調(diào)整。
2.在某一軌道上連續(xù)10次記錄長度大于等于928512個通道比特的隨機數(shù)據(jù)。每當調(diào)整TSFP、TELP時，都執(zhí)行連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)的操作。
3.測量自適應控制值。計算9種TSFP、TELP中的每一種的自適應控制值，并將該值設(shè)置為+1、0或-1。
4.如果某一TSFP(TELP)的自適應控制值為+1，則將TSFP(TELP)減小(增加)時間ΔT。如果某一TSFP(TELP)的自適應控制值為-1，則將TSFP(TELP)增加(減小)時間ΔT。這里，ΔT為T/32。
5.重復執(zhí)行過程2至4，直到所有自適應控制值都被置為0。如果所有自適應控制值都被置為0，那么，此時所得到的TSFP和TELP分別被置為TSFP(cal)和TELP(cal)。
在上例中，重復執(zhí)行該操作，直到所有自適應控制值都變?yōu)椤?”，不過，本發(fā)明并不局限于這種情況。例如，可以重復執(zhí)行該操作，直到80％或80％以上的自適應控制值變?yōu)椤?”?；蛘?，還可以重復執(zhí)行該操作，直到自適應控制值變?yōu)榻频扔凇?”。此外，可以預先規(guī)定重復次數(shù)，并可以按該規(guī)定次數(shù)來重復執(zhí)行該操作。
自適應控制值被置為3種類型[-1，0，+1]，不過，這并非限定性的。例如，自適應控制值可被置為5種類型[-2，-1，0，+1，+2]。此外，ΔT被置為T/32，不過它并不局限于這樣情況。例如，ΔT可被置為T/16。
(光盤合適與否的判斷圖16中的步驟SA5)1.峰值功率被置為Pp1。偏置功率1、偏置功率2和偏置功率3被置為初始值PB11、PB20和PB30。TMP、TSFP、TELP分別被置為TMP(cal)、TSFP(cal)、TELP(cal)。其他時基參數(shù)TEFP、TELP、TLC被置為初始值。
2.在5個鄰近軌道上連續(xù)10次記錄隨機數(shù)據(jù)。
3.再現(xiàn)過程2中所用的軌道中的中央軌道上所記錄的數(shù)據(jù)，并得出均衡系數(shù)。在隨后的過程中，利用這樣得出的均衡系數(shù)。
4.測量PRSNR和SbER。
5.如果使PRSNR大于等于15.0，而使SbER小于等于5×10-5，那么，將過程1中所設(shè)置的記錄參數(shù)作為調(diào)整后所得到的參數(shù)，然后終止記錄參數(shù)調(diào)整過程。如果PRSNR小于15.0或SbER大于5×10-5，那么，判定該光盤是不合適光盤，并卸下該光盤。
在過程5中，使PRSNR大于等于15.0，而使SbER小于等于5×10-5，不過，本發(fā)明并不局限于這種情況。例如，可使PRSNR大于等于13.0，并可使SbER小于等于5×10-4。
(矩形記錄波形)在第一和第二種發(fā)明中，用所謂多脈沖模式作為記錄波形。然而，本發(fā)明并不局限于這種情況，而還可以使用諸如記錄波形(圖17中的“b”)的矩形波形。圖17中的“a”表示記錄二進制數(shù)據(jù)。在這種情況下，記錄參數(shù)如表7中所示。
表7

當用矩形波作為記錄波時，所用的記錄參數(shù)調(diào)整過程如圖18或19中所示。
可以將通過修改矩形記錄波形所得到的如圖20中所示的波形作為記錄波形“b”。圖20中的“a”是記錄二進制數(shù)據(jù)。本發(fā)明所適用的記錄波并不局限于上述情況。
在上述實施例中，使用了所謂非凹陷部分和槽記錄類型光盤。然而，本發(fā)明并不局限于這種情況，還可以使用只在非凹陷部分上或槽中記錄信息的光盤。
在上述實施例中，光斑長度和間隙長度被分類成2T、3T和≥4T的三個組，但本發(fā)明并不局限于這種情況。例如，光斑長度和間隙長度可以被分類成2T、3T、4T和≥5T的四個組，在上述實施例中，采用了PR(1，2，2，2，1)，但本發(fā)明并不局限于這種情況。例如，本發(fā)明可以適用于別的PR類，比如PR(1，2，2，1)或PR(3，4，4，3)。
在上述實施例中，說明了最小游程長度為“1”的情況，但本發(fā)明并不局限于這種情況。例如，本發(fā)明可以適用于最小游程長度為“2”的情況。
如上所述，在使用PRML識別系統(tǒng)的光盤系統(tǒng)中，利用本發(fā)明的光盤記錄/再現(xiàn)方法可以得出最佳記錄參數(shù)。此外，在使用PRML識別系統(tǒng)的光盤系統(tǒng)中，利用本發(fā)明的光盤記錄/再現(xiàn)方法可以在短時間內(nèi)得到記錄參數(shù)。利用本發(fā)明的光盤記錄/再現(xiàn)方法所得出的記錄波，可以提供一種能正確地記錄/再現(xiàn)信息的光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備。此外，還可以提供一種通過利用根據(jù)本發(fā)明的光盤記錄/再現(xiàn)方法所得出的記錄波記錄信息來正確地記錄信息的光盤。
本發(fā)明并不局限于上述實施例，在實施階段中不背離其技術(shù)范圍的前提下可以作各種修改。此外，通過適當?shù)亟M合上述實施例中所公開的多個成分，還可以作出各種發(fā)明。例如，可以從上述實施例中所示的全部成分中省去某些成分。此外，還可以適當?shù)亟M合不同實施例的成分。
熟練技術(shù)人員還容易想到另外一些優(yōu)點和修改方式。因此，從更廣泛的意義上來說，本發(fā)明并不局限于本文所示和所述的具體細節(jié)和典型實施例。因此，在不背離后附權(quán)利要求及其等價要求所規(guī)定的一般發(fā)明概念的思想或范圍的前提下，可以作出多種修改。
權(quán)利要求
1.一種光盤記錄/再現(xiàn)方法，其特征在于包括根據(jù)第一記錄參數(shù)調(diào)整方法確定用于設(shè)定記錄波形的第一記錄參數(shù)，利用第一記錄參數(shù)在媒體上記錄信息，利用信號質(zhì)量評估方法，根據(jù)記錄信息的再現(xiàn)信號得出信號質(zhì)量的第一評估值，當?shù)谝辉u估值滿足預定值時，終止記錄參數(shù)調(diào)整操作，當?shù)谝辉u估值不滿足預定值時，根據(jù)第二記錄參數(shù)調(diào)整方法確定用于設(shè)定記錄波形的第二記錄參數(shù)，利用第二記錄參數(shù)在媒體上記錄信息，利用信號質(zhì)量評估方法，根據(jù)記錄信息的再現(xiàn)信號得出信號質(zhì)量的第二評估值，當?shù)诙u估值滿足預定值時，終止記錄參數(shù)調(diào)整操作，和當?shù)诙u估值不滿足預定值時，發(fā)出告警。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，第一記錄參數(shù)調(diào)整方法包括下列調(diào)整方法中至少一種與記錄數(shù)據(jù)比特串無關(guān)的調(diào)整方法；和與記錄數(shù)據(jù)比特串中代碼比特“1”的連續(xù)長度有關(guān)的調(diào)整方法，而第二記錄參數(shù)調(diào)整方法是與記錄數(shù)據(jù)比特串中代碼比特“1”的連續(xù)長度以及其鄰近的代碼比特“0”的連續(xù)長度有關(guān)的調(diào)整方法。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，信號質(zhì)量評估方法包括至少兩種信號質(zhì)量評估方法。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，測量記錄參數(shù)與評估值之間的關(guān)系，根據(jù)測量結(jié)果得出評估值的最佳值，并將使評估值被置為最佳值的記錄參數(shù)用作調(diào)整值。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，測量記錄參數(shù)與評估值之間的關(guān)系，根據(jù)測量結(jié)果得出評估值的最佳值，將不大于最佳值的某個值作為規(guī)定值，得出滿足規(guī)定值的記錄參數(shù)的上限值和下限值，并將該上限值與下限值之間的中間值用作記錄參數(shù)調(diào)整值。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，評估值包括PRSNR(部分響應信噪比)和SbER(模擬誤碼率)中至少一個。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，按第一和第二記錄參數(shù)調(diào)整方法調(diào)整基于記錄波形的記錄功率。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，按第一和第二記錄參數(shù)調(diào)整方法調(diào)整基于記錄波形的多脈沖寬度。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，按第一和第二記錄參數(shù)調(diào)整方法調(diào)整記錄波形的最短光斑(2T)的記錄參數(shù)和第二短光斑(3T)的記錄參數(shù)中至少一個。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，按第二記錄參數(shù)調(diào)整方法調(diào)整記錄波形的首脈沖、末脈沖、單脈沖和末冷卻脈沖中至少一個。
11.一種光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備，其特征在于包括裝置(102)，根據(jù)第一記錄參數(shù)調(diào)整方法確定用于設(shè)定記錄波形的第一記錄參數(shù)，裝置(101，103)，利用第一記錄參數(shù)在媒體上記錄信息，裝置(108，109)，利用信號質(zhì)量評估方法，根據(jù)記錄信息的再現(xiàn)信號得出信號質(zhì)量的第一評估值，裝置(102)，當?shù)谝辉u估值滿足預定值時，終止記錄參數(shù)調(diào)整操作，裝置(102)，當?shù)谝辉u估值不滿足預定值時，根據(jù)第二記錄參數(shù)調(diào)整方法確定用于設(shè)定記錄波形的第二記錄參數(shù)，裝置(101，103)，利用第二記錄參數(shù)在媒體上記錄信息，裝置(110)，利用信號質(zhì)量評估方法，根據(jù)記錄信息的再現(xiàn)信號得出信號質(zhì)量的第二評估值，以及裝置(102)，當?shù)诙u估值滿足預定值時，終止記錄參數(shù)調(diào)整操作，而當?shù)诙u估值不滿足預定值時，發(fā)出告警。
12.如權(quán)利要求11所述的光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備，其特征在于，確定第一和第二記錄參數(shù)的裝置(102)利用記錄波形調(diào)整記錄功率。
13.如權(quán)利要求11所述的光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備，其特征在于，確定第一和第二記錄參數(shù)的裝置(102)利用記錄波形調(diào)整多脈沖寬度。
14.如權(quán)利要求11所述的光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備，其特征在于，確定第一和第二記錄參數(shù)的裝置(102)調(diào)整記錄波形的最短光斑(2T)的記錄參數(shù)和第二短光斑(3T)的記錄參數(shù)中至少一個。
15.如權(quán)利要求11所述的光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備，其特征在于，第一和第二評估值中每個包括PRSNR(部分響應信噪比)和SbER(模擬誤碼率)中至少一個。
16.一種光盤，其特征在于包括記錄在記錄軌道上的光斑和間隙，其中，通過在記錄軌道上安排光斑和間隙來記錄記錄信息，光斑是通過施加將電記錄波輸入到激光二極管所產(chǎn)生的激光所形成的，峰值功率、小于峰值功率的第一偏置功率、小于第一偏置功率的第二偏置功率和小于第二偏置功率的最小的第三功率的電平被定義為記錄波的幅度方向的參數(shù)，多脈沖部分中最小脈沖的時間周期TMP、范圍從記錄信息上升到記錄波的首脈沖的第一上升沿的時間周期TSFP、范圍從記錄信息上升到記錄波的首脈沖的第一下降沿的時間周期TEFP、記錄波的末脈沖的上升時間周期在記錄信息下降前立刻結(jié)束的時間周期TELP和跟隨記錄信息下降的記錄波的冷卻脈沖的時間周期TLC被定義為時基方向的參數(shù)，當確定實際參數(shù)時，記錄幅度方向的參數(shù)和時基方向的參數(shù)的初始值。
全文摘要
在使用PRML識別系統(tǒng)的光盤系統(tǒng)中，提供了一種短時間內(nèi)得出最佳記錄波的方法。利用適合于PRML識別系統(tǒng)的信號評估方法得到的評估值作為指標來調(diào)整記錄波的參數(shù)。在這種情況下，作為參數(shù)調(diào)整方法，可以使用多種調(diào)整方法(S1－S3，S5)。
文檔編號G11B7/0045GK1707632SQ20051007551
公開日2005年12月14日 申請日期2005年6月2日 優(yōu)先權(quán)日2004年6月3日
發(fā)明者柏原裕, 小川昭人, 森下直樹, 中野正規(guī), 小川雅嗣, 大久保修一, 巖永敏明 申請人:株式會社東芝, 日本電氣株式會社