專利名稱：光學頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及運用光學裝置在光盤等信息記錄媒體上進行信息記錄或再生的光學頭的跟蹤控制技術(shù)。
本發(fā)明還涉及檢測光盤相對于物鏡等的集光裝置的光軸的傾斜度的光盤傾斜度檢測技術(shù)。
背景技術(shù)：
對于光盤用的光學頭，如何使光點在信息磁道的中心正確跟隨的跟蹤控制的精度是重要環(huán)節(jié)。如果這一精度不好，可能會導致記錄時消去相鄰的信息磁道的信號，增大串音，信息不能正確再生等重大的故障。
過去，作為跟蹤誤差信號檢測方式，一般采用通常稱為3束跟蹤方式的方式。該方式的光學頭，在構(gòu)成上，除了形成進行信息磁道的記錄或再生的主光束，還形成2束輔助光束，使得發(fā)自集聚于光盤的各光點的反射光能分別受光。
圖38是用來說明以前述3束跟蹤方式的光學頭形成于光盤上的光點的圖。100及102表示2束輔助光束的光點，101表示主光束的光點，103表示信息磁道。前述輔助光束的光點100及102，相對著前述主光束的光點101，成垂直方向，等距離，例如各隔開1/4磁道地形成在信息磁道103上。
來自各光點的反射光通過信息磁道進行強度調(diào)制，被檢測的2個輔助光束的信號是與主光束的信號隔開1/4磁道的相位反向偏移的信號。前述3束跟蹤方式的光學頭，在構(gòu)成上能根據(jù)這2個輔助光束的信號差檢測跟蹤誤差信號。
此外，如文獻“光盤技術(shù)”(無線電技術(shù)社，1999年2月10日發(fā)行)的93至96頁表示的那樣，稱為復合·連續(xù)·跟蹤方式，復合·擺動·跟蹤方式及取樣·伺服·跟蹤方式的跟蹤誤差信號檢測方法都已經(jīng)為人熟知。
這些方式，對于在信息磁道上預先形成坑槽的、形成齒形標記或鏡面部的光盤來說，以往的第1及第2方式，是利用前述齒形標記或鏡面部檢測的信號對所謂的推挽方式的跟蹤誤差信號中產(chǎn)生的偏移進行補正的方式，以往的第3方式，是以齒形標記檢測跟蹤誤差信號的方式。又，前述文獻“光盤技術(shù)”(無線電技術(shù)社，1999年2月10日發(fā)行)的全部內(nèi)容，在這里被完整原樣地引用(參照)和綜合。
首先，關(guān)于以往的第1方式、復合·連續(xù)·跟蹤方式，用圖作進一步說明。圖39是用來說明形成于光盤的信息磁道的前述鏡面部的配置的圖，104表示形成記錄地址及信息等的坑槽及導向槽的信息領(lǐng)域，105表示形成于一連串的前述信息領(lǐng)域間的鏡面部，106表示各信息磁道的中心線。
對于這樣的光盤的光學頭，以物鏡集光，形成光點，再將發(fā)自該光點的反射光束以平行于信息磁道的分割線一分為二受光，在構(gòu)成上能夠根據(jù)檢測的各受光信號的差檢測跟蹤誤差信號。跟蹤誤差信號，由推挽方式得到，所以，由于物鏡的光軸偏移導致跟蹤誤差信號發(fā)生偏移，這個偏移，是與光點通過前述鏡面部時的跟蹤誤差信號的值對應的量。光學頭，在光點通過導向槽時檢測跟蹤誤差信號，在通過鏡面部時檢測該偏移，在構(gòu)成上能補正跟蹤誤差信號的偏移。
下面，用圖對前述以往的第2及第3方式作進一步說明。圖40是說明前述齒形標記的配置的圖。107是第1坑槽，108是第2坑槽，這一對構(gòu)成前述齒形標記。它們距離信息磁道的接線方向規(guī)定距離，被配置在距離信息磁道中心、與信息磁道的垂直方向上，且等距離、在反方向有偏移。109是記錄地址或信息等的信息領(lǐng)域，110是信息磁道的中心線，箭頭111是光點的掃描路線1，箭頭112是掃描路線2。
圖41是用來說明檢測光點通過齒形標記時的反射光量的信號波形的圖，113是前述掃描路線1，114是前述掃描路線2，115分別顯示沿信息磁道中心線的掃描路線的信號波形。記作位置A及B的橫軸上的點分別表示前述第1及第2坑槽的位置，圖中的記號VA，VB是在這些位置的取樣同步信號的值。
這些信號值，由光點及齒形標記的相對位置決定，物鏡的光軸偏移的影響不大。前述以往的第2方式的光學頭，跟蹤誤差信號以推挽方式檢測，可通過將前述信號VA與前述信號VB的差和跟蹤誤差信號作比較，檢測跟蹤誤差信號的偏移，進行補正。又，前述以往的第3方式的光學頭，可根據(jù)前述信號VA與前述信號VB的差檢測跟蹤誤差信號。
下面，對具有以以往技術(shù)構(gòu)成的光盤傾斜度檢測裝置的光學頭進行說明。在用光學頭將信息記錄或再生于光盤時，最好使物鏡的光軸與光盤面垂直，如光盤傾斜，發(fā)生彗形象差等象差，集聚于光盤的光點劣化。這個光盤的傾斜，歷來可用設(shè)置在光學頭的專用的光盤傾斜度檢測器檢測。但是，隨著光學頭的小型化，有時安置前述專用檢測器的地方都沒有，因此，在光學頭的光學系統(tǒng)中組裝光盤傾斜度檢測裝置的構(gòu)成被作為課題提了出來。
作為一例，對日本專利特許公開公報1995年-141673號中表示的以往的技術(shù)進行說明。又，特許公開公報1995年-141673號的全部內(nèi)容，在這里被完整原樣地引用(參照)和綜合。
圖42是表示以往的技術(shù)的光盤傾斜度檢測裝置的構(gòu)成圖。1101是光盤，1102是物鏡，1103是受光透鏡，1104是光的分路單元，1104a及1104b是微小棱鏡，1105a，1105b1106a，1106b是受光單元，1107及1108是加法運算放大器，1109是差分放大器。
具有這樣構(gòu)成的光盤傾斜度檢測裝置的動作如下。由光盤1101反射的光束，經(jīng)物鏡1102，受光透鏡1103，將光入射到分路光的單元1104。入射到單元1104的光束內(nèi)，入射到形成微小棱鏡1104a及1104b的2微小領(lǐng)域的光，偏向于受光單元1106a及1106b，被分別受光，入射到前述2微小領(lǐng)域以外領(lǐng)域的光，照樣透過、入射到單元1105a及1105b，在這里，光束被分割成2部分。由各受光單元檢測的信號，通過加法運算放大器1107，1108及差分放大器1109進行演算，檢測光盤傾斜度Trad。
各受光單元檢測的信號，如用各受光單元名代用，光盤傾斜度Trad可用下式演算檢測(式1)Trad＝1105a-1105b-(1106a-1106b)圖43是說明分路光的單元1104的圖，表示單元1104的矩形內(nèi)部的圓1110表示入射光束的外形。微小棱鏡1104a，1104b，如圖所示，是夾著光束中心對稱地配置于左右(與信息磁道垂直的方向)兩面的微小領(lǐng)域。又，圖中的虛線，表示光束通過受光單元1105a、1105b及1106a、1106b的情形，入射到受光單元1105a及1105b的光束，以該分界線在與信息磁道平行的方向被一分為二。因此，按照(式1)進行的光盤傾斜度Trad的檢測，就是將前述2微小領(lǐng)域中檢測的推挽信號、與前述微小領(lǐng)域以外的領(lǐng)域中檢測的推挽信號的大小進行比較。
圖44(a)至(c)是表示入射到分路光的單元1104的光束的光強度分布的圖，圖44(a)是沒有光盤傾斜時的圖，圖44(b)及44(c)是光盤在其半徑方向(含光盤法線及物鏡的光軸的平面與信息磁道的接線垂直的那樣的傾斜)上有傾斜時的圖。傾斜的方向以圖44(b)為正方向，以圖44(c)為負方向。圖44(a)的斜線部，表示在光盤的信息磁道被衍射+1次及-1次衍射光的光束和0次衍射光的光束重合的領(lǐng)域。如果0次及1次衍射光的波面的相位變化，這個領(lǐng)域就是由于干涉導致光強度變化的領(lǐng)域。
此外，圖44(b)及圖44(c)中表示的左右非對稱的斜線部的形狀，表示光強度分布的非對稱性。這是由于光盤傾斜引起的彗形象差造成的波面相位變化對信息磁道方向呈現(xiàn)非對稱的緣故，所以，0次與+1次及-1次衍射光的干涉引起光強度發(fā)生變化，對應于光盤傾斜的方向，光強度分布上的非對稱的明暗就表現(xiàn)出來了。
以往的技術(shù)，重視以上那樣的按照光盤傾斜產(chǎn)生的光強度分布的左右非對稱性，把只提取檢測這種非對稱性表現(xiàn)最明顯的前述2微小領(lǐng)域的光的推挽信號(1106a-1106b)、與以該領(lǐng)域以外領(lǐng)域的光檢測的推挽信號(1105a-1105b)的大小進行比較，檢測光盤傾斜度Trad。
如上所述，以往的跟蹤誤差信號檢測方式可分成2類。一是利用來自光點的反射光量，根據(jù)光點與信息磁道、或光盤上形成的標記的相對位置發(fā)生變化，檢測跟蹤誤差信號的方式。另一是以推挽方式檢測跟蹤誤差信號，同時檢測該跟蹤誤差信號的偏移，并補正跟蹤誤差信號本身的方式(復合·連續(xù)·跟蹤方式，復合·擺動·跟蹤方式)。這2種檢測方式，都具有物鏡的光軸偏移等引起的跟蹤誤差信號的偏移小的優(yōu)點。
但是，對于光學頭而言，光盤向其半徑發(fā)現(xiàn)傾斜時會發(fā)生彗形象差，所以，相對于光點與信息磁道的相對位置，由于來自光點的反射光量的變化及推挽信號的變化導致相位偏移，跟蹤誤差信號也會發(fā)生同樣的相位偏移。因此，按照前述以往的跟蹤誤差信號檢測方式，在前述光盤傾斜的場合，在信息磁道中心外圍進行跟蹤控制就成了課題。
此外，前述的以往的技術(shù)，具有以平行于信息磁道的分割線將光束分割成2部分，檢測推挽信號，再檢測光盤傾斜度的構(gòu)成，帶有不能很好檢測推挽信號的信息磁道的光盤，例如，對于具有槽深度為1/4波長的信息磁道的光盤，存在不能以高精度檢測光盤傾斜度的課題。
此外，前述微小領(lǐng)域，只作為光盤上小于被衍射0次及+1次及-1次衍射光的光束重合領(lǐng)域的小領(lǐng)域，如物鏡在垂直于信息磁道的方向上移動，被檢測的光束的位置也移動，所以，出現(xiàn)不能正確反映光盤傾斜度的光強度分布的領(lǐng)域入射到前述微小領(lǐng)域、使光盤傾斜度檢測精度劣化的課題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明正是考慮到前述以往存在的課題，目的在于提供在光盤對光學頭傾斜時也具有在信息磁道中心正確進行跟蹤控制的跟蹤誤差信號檢測裝置的光學頭。
此外，本發(fā)明的目的，在于提供這樣的光學頭光學頭對光盤進行原來的動作，例如由于使用跟蹤誤差信號檢測等的信號檢測方法檢測光盤傾斜度，實現(xiàn)檢測精度的提高及穩(wěn)定化，且，具備不易受物鏡移動的影響的光盤傾斜度檢測裝置。
本發(fā)明第1方面的光學頭，用于將信息記錄到光盤、及/或用于再生記錄于所述光盤上的信息，包括將進行信息的記錄或再生的主光束，以及作為檢測所述主光束對所述光盤的信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號檢測用光束的2束輔助光束集光于所述光盤的集光裝置，分別收受從所述光盤反射的反射光束的受光裝置，根據(jù)所述2束輔助光束的受光信號之差檢測跟蹤誤差信號的跟蹤誤差信號檢測裝置；所述受光裝置，具有將光束的中央部與周邊部分離、使所述2束輔助光束的反射光束分別受光的多個受光領(lǐng)域，使所述光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長邊的長度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長方形，配置中使其長邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號檢測裝置，通過使所述光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號的收得量衰減、檢測所述跟蹤誤差信號，使所述光盤傾斜時產(chǎn)生的、相對所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號的相位偏移減低。
本發(fā)明第2方面的光學頭，用于將信息記錄于具有記錄信息的信息磁道、及離開前述信息磁道的接線方向規(guī)定距離、且與前述信息磁道垂直、在不同方向上相互距離相等處的至少一對標記的光盤，及/或用于再生記錄于所述光盤的信息，包括集光于所述光盤、生成光點的集光裝置，收受從所述光盤反射的反射光束的受光裝置，通過從所述受光裝置受光的信號檢測來自所述一對標記的反射光量之差、檢測所述光點與所述信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號檢測裝置；所述受光裝置，具有使所述反射光束的中央部與周邊部分離、受光的多個受光領(lǐng)域，使所述反射光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長邊的長度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長方形，配置中使其長邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號檢測裝置，通過使所述反射光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號的收得量衰減、檢測所述跟蹤誤差信號，使所述光盤傾斜時產(chǎn)生的、相對所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號的相位偏移減低。
此外，本發(fā)明的第3方面的光學頭，用于將信息記錄于具有記錄信息的信息磁道、及將前述信息磁道的導向槽斷續(xù)地切斷一部分，其間離開前述信息磁道的接線方向規(guī)定距離、且與前述信息磁道垂直、在不同方向上相互距離相等處的至少一對標記的光盤，及/或用于再生記錄于所述光盤的信息，包括集光于所述光盤、生成光點的集光裝置，收受從具有以平行于所述信息磁道的分割線分成的2個受光領(lǐng)域的所述光盤反射的反射光束的受光裝置，根據(jù)當所述光點通過所述導向槽時、及通過所述一對標記時在所述2個受光領(lǐng)域檢測到的信號之差檢測所述光點及所述信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號檢測裝置；所述受光裝置，還具有使所述反射光束的中央部與周邊部分離、受光的多個受光領(lǐng)域，使所述反射光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長邊的長度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長方形，配置中使其長邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號檢測裝置，通過使光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號的收得量衰減、檢測所述跟蹤誤差信號，使所述光盤傾斜時產(chǎn)生的、相對所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號的相位偏移減低。
此外，本發(fā)明的第4方面的光學頭，用于將信息記錄于具有記錄信息的信息磁道、及將前述信息磁道的導向槽斷續(xù)地切斷一部分，其間具有鏡面部的光盤，及/或用于再生記錄于所述光盤的信息，包括集光于所述光盤、生成光點的集光裝置，收受從具有以平行于所述信息磁道的分割線分成的2個受光領(lǐng)域的所述光盤反射的反射光束的受光裝置，根據(jù)當所述光點通過所述導向槽時、及通過所述鏡面部時在所述2個受光領(lǐng)域檢測到的信號之差檢測所述光點及所述信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號檢測裝置；所述受光裝置，還具有使所述反射光束的中央部與周邊部分離、受光的多個受光領(lǐng)域，使所述反射光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長邊的長度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長方形，配置中使其長邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號檢測裝置，通過使光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號的收得量衰減、檢測所述跟蹤誤差信號，使所述光盤傾斜時產(chǎn)生的、相對所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號的相位偏移減低。
此外，本發(fā)明的第5方面的光盤記錄裝置，包括如本發(fā)明第1至4方面中的任一項的本發(fā)明的光學頭。
此外，本發(fā)明的第6方面的光盤再生裝置，包括如本發(fā)明第1至4方面中的任一項的本發(fā)明的光學頭。
此外，本發(fā)明的第7方面的光盤記錄再生裝置，包括如本發(fā)明第1至4方面中的任一項的本發(fā)明的光學頭。
如上的本發(fā)明的光學頭，作為其一例，包括，以物鏡集光于光盤上、收受來自前述光盤的反射光束的受光裝置，以及具有從以前述受光裝置檢測的受光信號中檢測跟蹤誤差信號的跟蹤誤差信號檢測裝置、在入射到前述受光裝置的光束內(nèi)、使得用于跟蹤檢測的光束的一部的領(lǐng)域的光分路或光強度減低的光學裝置。
此外，作為本發(fā)明的光學頭的其中一例，包括，用物鏡將記錄或再生信息用的主光束、及從前述主光束分路生成的2個輔助光束集聚于光盤并收受各反射光束的受光裝置，以及具有根據(jù)前述2個輔助光束的受光信號的差檢測跟蹤誤差信號的跟蹤誤差信號檢測裝置、使入射到前述受光裝置的輔助光束的各光束的一部的領(lǐng)域的光分路或使光強度減低的光學裝置。
此外，作為本發(fā)明的光學頭的其中一例，包括，以物鏡集光于具有離開前述信息磁道的接線方向規(guī)定距離、且與前述信息磁道垂直、在不同方向上相互距離相等處的至少一對標記的光盤上、收受來自前述光盤的反射光的受光裝置，以及具有根據(jù)與來自前述一對標記的反射光束量的變化對應的受光信號的變化、檢測跟蹤誤差信號或跟蹤誤差信號的偏移的跟蹤誤差信號檢測裝置、使入射到前述受光裝置的光束的一部的領(lǐng)域的光分路或使光強度減低的光學裝置。
此外，作為本發(fā)明的光學頭的其中一例，包括，將信息磁道的導向槽斷續(xù)地切斷一部，其間以物鏡集光于具有離開前述信息磁道的接線方向規(guī)定距離、且與前述信息磁道垂直、在不同方向上相互距離相等處的至少一對標記的光盤上、收受來自前述光盤的反射光的受光裝置，以及具有根據(jù)與來自前述一對標記的反射光量的變化對應的受光信號的變化、或在前述一對標記的前述跟蹤誤差信號的變化、分別檢測以與前述信息磁道平行的分割線分割為2部分的受光信號中的跟蹤誤差信號及前述跟蹤誤差信號的偏移的跟蹤誤差信號檢測裝置、使入射到前述受光裝置的光束的一部的領(lǐng)域的光分路或使光強度減低的光學裝置。
此外，作為本發(fā)明的光學頭的其中一例，包括，將信息磁道的導向槽斷續(xù)地切斷一部，以物鏡集光于設(shè)置鏡面部的光盤上、收受來自前述光盤的反射光的受光裝置，以及具有分別檢測以與前述信息磁道平行的分割線分割為2部分的受光信號中的跟蹤誤差信號、及以前述鏡面部檢測的前述跟蹤誤差信號值中的前述跟蹤誤差信號的偏移的跟蹤誤差信號檢測裝置、使入射到前述受光裝置的光束的一部的領(lǐng)域的光分路或使光強度減低的光學裝置。
此外，作為本發(fā)明的光學頭的其中一例，前述光學裝置，具有使通過的光束的一部的領(lǐng)域的光強度減低的減光領(lǐng)域，及不使光強度減低的非減光領(lǐng)域，前述減光領(lǐng)域，是以使光的透過率減低的物質(zhì)形成的薄膜，或是形成衍射柵的領(lǐng)域，它的形狀呈實質(zhì)上長方形，長邊比通過的光束的直徑長，可配置在垂直于信息磁道的方向上。
此外，作為本發(fā)明的光學頭的其中一例，前述光學裝置，通過分割配置于前述受光裝置的受光單元，設(shè)置與入射到需使光分路或使光強度減低的前述受光裝置的光束的一部的領(lǐng)域相對應的受光領(lǐng)域構(gòu)成，前述受光領(lǐng)域為實質(zhì)上長方形，長邊比通過的光束的直徑長，可配置在垂直于信息磁道的方向上，在前述受光領(lǐng)域檢測的信號，比前述受光領(lǐng)域外檢測的信號，所帶的系數(shù)小，可用于跟蹤誤差信號的檢測。
或者，作為本發(fā)明的光學頭的其中一例，前述光學裝置，具有將通過的光分路的衍射柵或形成棱鏡的領(lǐng)域，前述領(lǐng)域為實質(zhì)上長方形，長邊比通過的光束的直徑長，可配置在垂直于信息磁道的方向上，前述領(lǐng)域中分路的光通向前述受光裝置的第1受光單元群，其他的光通向前述受光裝置的第2受光單元群，第1受光單元群的信號所帶的系數(shù)比第2受光單元群的小，可用于跟蹤誤差信號的檢測。
此外，作為本發(fā)明的光學頭的其中一例，其特征是，具有以物鏡集光于光盤的裝置，及收受光盤的反射光束的受光裝置，及從以前述受光裝置受光的信號中檢測跟蹤誤差信號的跟蹤誤差信號檢測裝置，及檢測前述光盤與前述物鏡的光軸的傾斜度的光盤傾斜度檢測裝置；前述受光裝置，被配置在入射到前述受光裝置的光束的中央部，它的形狀，將前述光束分割為與信息磁道平行的寬度比前述光束的直徑小、垂直方向的寬度比前述光束的直徑長的第1領(lǐng)域，及不含前述第1領(lǐng)域的第2領(lǐng)域，并受光，前述跟蹤誤差信號檢測裝置，分別從前述第1領(lǐng)域的受光信號檢測第1跟蹤誤差信號，從前述第2領(lǐng)域的受光信號檢測第2跟蹤誤差信號，前述光盤傾斜度檢測裝置，通過對前述第1跟蹤誤差信號與第2跟蹤誤差信號的相位進行比較，檢測光盤傾斜度。這樣，可檢測光盤的半徑方向的傾斜。又，由于這一檢測是采用與光學頭檢測的跟蹤誤差信號同等好的信號進行的，所以能進行高精度的光盤傾斜度的檢測。
此外，作為本發(fā)明的光學頭的其中一例，特征是，對于形成取樣伺服用的取樣坑槽的光盤，跟蹤誤差信號檢測裝置，以取樣坑槽檢測反射的光再檢測跟蹤誤差信號，光盤傾斜度檢測裝置，根據(jù)前述第1跟蹤誤差信號相對于前述第2跟蹤誤差信號的相位差檢測光盤傾斜度。這樣，可以用取樣伺服方式的光學頭檢測光盤傾斜度。
此外，作為本發(fā)明的光學頭的其中一例，特征是，前述集光裝置，是將記錄及再生信息用的主光束與第1及第2個輔助光束集聚于光盤的集光裝置，前述受光裝置，是分別對入射到前述受光裝置的前述第1及第2個輔助光束、把光束分割為前述第1領(lǐng)域及第2領(lǐng)域、并受光，前述跟蹤誤差信號檢測裝置，使用前述第1輔助光束的前述第1領(lǐng)域的受光信號、與前述第2個輔助光束的前述第1領(lǐng)域的受光信號之間的差信號，或前述第1輔助光束的前述第1及第2領(lǐng)域的受光信號的和信號、與前述第2個輔助光束的前述第1及第2領(lǐng)域的受光信號的和信號之間的差信號中的任一個，檢測第1的跟蹤誤差信號；使用前述第1輔助光束的前述第2領(lǐng)域的受光信號、與前述第2個輔助光束的前述第2領(lǐng)域的受光信號的差信號，檢測第2跟蹤誤差信號。前述光盤傾斜度檢測裝置，根據(jù)前述第1跟蹤誤差信號相對前述第2跟蹤誤差信號的相位差檢測光盤傾斜度。這樣，就能以3光束跟蹤檢測方式的光學頭檢測光盤傾斜度。
此外，作為本發(fā)明的光學頭的其中一例，特征是，前述受光裝置，以平行于信息磁道的分割線分割前述第1及第2領(lǐng)域、受光，前述跟蹤誤差信號檢測裝置，根據(jù)以前述受光裝置受光的信號檢測推挽信號，把使用前述第1領(lǐng)域的受光信號、或前述第1及第2領(lǐng)域的受光信號的和信號中的任一個檢測的推挽信號作為第1跟蹤誤差信號，把使用前述第2領(lǐng)域的受光信號檢測的推挽信號作為第2跟蹤誤差信號，分別檢測；前述光盤傾斜度檢測裝置，根據(jù)前述第1跟蹤誤差信號相對前述第2跟蹤誤差信號的相位差檢測光盤傾斜度。這樣，可利用具有推挽方式的跟蹤檢測的光學頭檢測光盤傾斜度，又，光盤傾斜度，根據(jù)2個推挽信號的相位差檢測，可排除隨著物鏡移動產(chǎn)生的推挽信號的偏移的影響。
還有，作為本發(fā)明的光學頭的其中一例，特征是，對于信息磁道上形成坑槽的光盤，具有，以物鏡集光的裝置，及收受來自前述光盤的反射光束的受光裝置，及從以前述受光裝置受光的信號中檢測前述光盤與前述物鏡的光軸的傾斜度的光盤傾斜度檢測裝置；前述受光裝置，被配置于入射到前述受光裝置的光束的中央部，它的形狀，將前述光束分割為與信息磁道平行的寬度比前述光束的直徑長、垂直與前述信息磁道方向的寬度比前述光束的直徑短的第1領(lǐng)域，及不含前述第1領(lǐng)域的第2領(lǐng)域，并受光，前述光盤傾斜度檢測裝置，通過對前述第1領(lǐng)域的受光信號、或前述第1及第2領(lǐng)域的受光信號的和信號的中的任一方、與前述第2領(lǐng)域的受光信號進行比較，通過檢測光點通過前述坑槽上時被調(diào)制的信號波形的相位差，檢測光盤傾斜度。這樣，可檢測信息磁道的接線方向的光盤傾斜度。


圖1表示本發(fā)明的實施形態(tài)1的光學頭的構(gòu)成圖。
圖2是說明本發(fā)明的實施形態(tài)1的光學裝置的圖。
圖3是說明本發(fā)明的實施形態(tài)1的受光裝置的圖。
圖4是說明本發(fā)明的實施形態(tài)1的信號的圖。
圖5是說明來自光盤的反射光的圖。
圖6是說明本發(fā)明的實施形態(tài)1的效果圖。
圖7是說明本發(fā)明的實施形態(tài)1的效果圖。
圖8是說明本發(fā)明的實施形態(tài)1的效果圖。
圖9是說明本發(fā)明的實施形態(tài)2的構(gòu)成圖。
圖10是說明本發(fā)明的實施形態(tài)2的受光裝置的圖。
圖11是說明本發(fā)明的實施形態(tài)3的構(gòu)成圖。
圖12是說明本發(fā)明的實施形態(tài)3的受光裝置的圖。
圖13是說明本發(fā)明的實施形態(tài)4的構(gòu)成圖。
圖14是說明本發(fā)明的實施形態(tài)4的受光裝置的圖。
圖15是說明本發(fā)明的實施形態(tài)5的構(gòu)成圖。
圖16是說明本發(fā)明的實施形態(tài)5的信號的圖。
圖17(a)表示本發(fā)明的實施形態(tài)4的受光裝置的其他構(gòu)成例圖。
圖17(b)表示本發(fā)明的實施形態(tài)4的受光裝置的其他構(gòu)成例圖。
圖18(a)表示本發(fā)明的實施形態(tài)5的受光裝置的其他構(gòu)成例圖。
圖18(b)表示本發(fā)明的實施形態(tài)4的受光裝置的其他構(gòu)成例圖。
圖19表示本發(fā)明的實施形態(tài)6的光學頭的構(gòu)成圖。
圖20是說明本發(fā)明的實施形態(tài)6的受光裝置及信號演算部的圖。
圖21是說明本發(fā)明的第1及第2領(lǐng)域的圖。
圖22(a)是說明本發(fā)明的實施形態(tài)6的第1及第2跟蹤誤差信號的圖。
圖22(b)是說明本發(fā)明的實施形態(tài)6的第1及第2跟蹤誤差信號的圖。
圖23表示本發(fā)明的實施形態(tài)7的光學頭的構(gòu)成圖。
圖24是說明取樣·伺服方式的信息磁道的圖。
圖25是說明取樣·伺服方式的跟蹤檢測的圖。
圖26(a)是說明本發(fā)明的實施形態(tài)7的第1及第2跟蹤誤差信號的圖。
圖26(b)是說明本發(fā)明的實施形態(tài)7的第1及第2跟蹤誤差信號的圖。
圖27表示本發(fā)明的實施形態(tài)8的光學頭的構(gòu)成圖。
圖28是說明本發(fā)明的實施形態(tài)8的受光裝置及信號演算部的圖。
圖29是說明本發(fā)明的實施形態(tài)8的主光束及輔助光束的光點配置的圖。
圖30是說明本發(fā)明的實施形態(tài)8的輔助光束的信號的圖。
圖31是說明本發(fā)明的實施形態(tài)9的效果圖。
圖32表示本發(fā)明的實施形態(tài)10的光學頭的構(gòu)成圖。
圖33表示本發(fā)明的實施形態(tài)10的跟蹤控制信號生成裝置的構(gòu)成圖。
圖34表示本發(fā)明的實施形態(tài)11的光學頭的構(gòu)成圖。
圖35是說明本發(fā)明的實施形態(tài)11的受光裝置及信號演算部的圖。
圖36是說明本發(fā)明的實施形態(tài)11的信號檢測方法的圖。
圖37是說明本發(fā)明的實施形態(tài)11的信號檢測方法的圖。
圖38是說明以往技術(shù)的圖。
圖39是說明以往技術(shù)的圖。
圖40是說明以往技術(shù)的圖。
圖41是說明以往技術(shù)的圖。
圖42表示以往的光學頭的構(gòu)成圖。
圖43是說明以往技術(shù)的圖。
圖44(a)是說明以往技術(shù)的圖。
圖44(b)是說明以往技術(shù)的圖。
圖44(c)是說明以往技術(shù)的圖。
標號說明1 光源2 衍射柵3 光分路裝置4 物鏡5 光盤66’ 光學裝置7 檢測透鏡8，30，47，54 受光裝置
9，55，58 跟蹤誤差信號檢測裝置11，11’ 光學功能領(lǐng)域201 光源202 光學頭的光軸203 光束分解器204 物鏡205 光盤206 中繼透鏡207 光學頭的光軸208 受光裝置236 衍射柵237 受光裝置252 物鏡移動裝置257 受光裝置具體實施形態(tài)下面，參照附圖對本發(fā)明的各實施形態(tài)進行說明。
(實施形態(tài)1)本實施形態(tài)對于以往的3光束跟蹤方式的光學頭，通過適用于本發(fā)明，成為解決該課題的一例。
圖1是本發(fā)明的實施形態(tài)1的光學頭的構(gòu)成圖。圖中，1是光源，2是將光分路成為主光束及2束輔助光束的衍射柵，3是作為光分路裝置的光束分解器，4是物鏡，5是光盤，6是分路通過的光束的一部的領(lǐng)域的光或使光強度減低的光學裝置，7是檢測透鏡，8是具有若干受光單元的受光裝置，9是跟蹤誤差信號檢測裝置。
圖2是說明光學裝置的圖，圖中，10是通過的光束的外形，11是分路通過的光束或使光強度減低的光學功能領(lǐng)域，在本實施形態(tài)，這是在玻璃或樹脂等透明基板上，形成反射性或光吸收性的膜、或衍射柵等的光透過率低的部分。
圖3是說明受光裝置8的各受光單元的圖，12，14是受光單元，13是4分割受光單元，15，17是輔助光束，16是主光束。
下面，對具有這樣的構(gòu)成的本實施形態(tài)的光學頭的動作進行說明。
由于光源發(fā)出的光被衍射單元2衍射，生成主光束作為0次衍射光，2束輔助光束作為+1次及-1次衍射光。這3束光束，一起透過光分路裝置3，通過物鏡4被集光于光盤5，如以往例說明的圖38中表示的那樣，形成3個光點。
來自由光盤5反射的各光點的反射光束，再次一起通過物鏡4，經(jīng)光分路裝置3反射，入射到光學裝置6。主光束及2束輔助光束的光束，在配置光學裝置6的位置不太分離，所以，所有光束都如圖2所示的光束的外形10那樣，由于光學功能領(lǐng)域11，其中央部的光強度減低，入射到檢測透鏡7。
焦點檢測方式，諸如非點象差方式，檢測透鏡7具有使非點象差發(fā)生的圓柱透鏡的折射力，使光束進入受光裝置8，如圖3所示，主光束可入射到4分割的受光單元13，輔助光束可分別入射到受光單元12及14。各光束15至17的中央部的斜線部，由于光學裝置6表示為光強度減低的部分，由于檢測透鏡7具有非點象差，其方向可回轉(zhuǎn)90度。
此外，圖1的跟蹤誤差信號檢測裝置9，對受光單元12及14檢測的信號進行差分放大，檢測跟蹤誤差信號。4分割受光單元13檢測的信號，在焦點檢測裝置及信息信號檢測裝置(均未圖示)被用作各自的信號檢測。
圖4是用來說明當主光束的光點與信息磁道的相對位置變化時、主光束及2個輔助光束的信號的變化的圖。圖中，18是主光束的信號波形，19，20分別是輔助光束的信號波形，21是跟蹤誤差信號的波形。這里，由于信息磁道的寬度做得比其間的槽幅大，主光束信號18在信息磁道中心呈現(xiàn)最大的波形，輔助光束的信號19，20，與此相對，出現(xiàn)每相距1/4磁道、方向相反、相位偏移的波形。跟蹤誤差信號21是波形19，20的差信號，在信息磁道中心呈現(xiàn)為0的波形。
下面說明的是，對于光學頭，當光盤在其半徑方向，即亦包含光盤法線與物鏡的光軸的平面在與信息磁道的接線垂直的方向上傾斜時(以下稱為徑向傾斜)產(chǎn)生的、跟蹤誤差信號的相位偏移。通常，主光束及輔助光束的光點，形狀幾乎相同，所以其受光信號波形也相同。因此，在跟蹤誤差信號為0的位置，主光束信號的峰值位置一致，今后，只著眼于主光束的信號波形作說明。
圖5是模式地表示光盤存在徑向傾斜時的、從光盤反射的反射光束的光量分布，圖中的黑白濃度與光強度對應。這是由于光通過光盤的透明基板時發(fā)生的彗形象差、導致入射光的波面上產(chǎn)生非對稱的波面象差、光盤上的0次衍射光、與+1次及-1次衍射光在干涉領(lǐng)域的波面相位相互倒相變化的原因，使出現(xiàn)如圖所示的非對稱的強度分布，由于這一非對稱性，主光束的信號的峰值位置會偏離信息磁道中心。
本實施形態(tài)，由于光學裝置6的光學功能領(lǐng)域11，使發(fā)生這種非對稱的強度分布的領(lǐng)域的光強度減低，在構(gòu)成上可以抑制該領(lǐng)域的非對稱的光強度加在跟蹤誤差信號上的影響。下面，詳細地對其效果進行說明。
圖6是設(shè)定光學頭的光源波長λ＝660nm，NA＝0.6，光盤的信息磁道間距＝1.2μm，導向槽深度＝λ/8，導向槽寬度＝0.8μm，基板厚＝0.6mm時模擬主光束信號的結(jié)果。22是沒有徑向傾斜時的波形，23是徑向傾斜＝1.2度時以往的光學頭中的波形。波形23對波形22存在相位差，它的峰值位置距信息磁道中心約0.15μm。
圖6的波形24，25，是在本發(fā)明的光學頭中，以光學功能領(lǐng)域11的寬度V與光束直徑D之比表示，在V/D＝0.25對其透過率為0時的主光束的信號波形進行模擬的結(jié)果，24是沒有徑向傾斜時的波形，25是徑向傾斜＝1.2度時的波形。在振幅降低時，可將波形25的峰值位置的偏移抑制到只有0.05μm左右。
此外，圖7表示在徑向傾斜為1.2度時，使所述V/D變化時的主光束信號波形的振幅與峰值位置偏移量變化的圖，其中振幅為26、峰值位置偏移量為27。所謂相對振幅是指以V/D＝0時的振幅為1的正規(guī)化的振幅。在圖7中，例如假設(shè)V/D＝0.4，則盡管相對振幅26降低到0.6，峰值位置偏移量27也能實質(zhì)上為0。
以上模擬的結(jié)果，如徑向傾斜為1.2度，在以往的光學頭中，對應于前述主光束信號的峰值位置的跟蹤控制的目標點(跟蹤誤差信號為0的位置)為0.15μm時也會偏離信息磁道中心，對此，按照本發(fā)明，前述跟蹤控制的目標點偏移，即亦，跟蹤誤差信號的相位偏移幾乎可抑制到0。
圖8是對V/D＝0.5、使光學功能領(lǐng)域11的透過率變化時的記作28的振幅與記作29的峰值位置偏移量的變化進行模擬的結(jié)果。在透過率為0時，峰值位置偏移量為負值，這是因為峰值位置偏移的抑制效果過大的緣故，通過變更透過率，可自由變更峰值位置偏移量的抑制效果。即亦，調(diào)整抑制徑向傾斜時的跟蹤誤差信號的相位偏移的效果，不僅可通過設(shè)定光學功能領(lǐng)域11的寬度進行，也可通過變更其透過率來進行。
如上所述，按照本發(fā)明的實施形態(tài)，在3光束跟蹤方式的光學頭中，通過使檢測跟蹤誤差信號用的2個輔助光束的中央部的光強度以帶狀減低，由于減低了由光盤的徑向傾斜發(fā)生的波面象差的大領(lǐng)域的光加在跟蹤誤差信號的影響，可抑制徑向傾斜時的跟蹤誤差信號的相位偏移，從而可實現(xiàn)跟蹤精度的提高。
此外，在本實施形態(tài)，將光學裝置6配置于檢測透鏡7之前，在從光盤5反射的輔助光束到達受光裝置8的光路中，諸如在具有折返光路的鏡片、及用別的受光單元進行信息信號檢測的光學頭、將用作跟蹤檢測與信息信號檢測的光進行分路的另一分路裝置上、也可以設(shè)置使光束的中央部的光強度減低的光學裝置。
此外，光學功能領(lǐng)域11的長度W，曾說過它比光束直徑D要長得多，但如果與光束直徑D實質(zhì)相同或者稍微小一點也行，這樣的構(gòu)成也能抑制跟蹤誤差信號的相位偏移。
(實施形態(tài)2)本發(fā)明的實施形態(tài)2，是對實施形態(tài)1作部分變更，以進一步體現(xiàn)本發(fā)明的特征。
圖9是本實施形態(tài)的構(gòu)成圖。與圖1共通的構(gòu)成要素帶同一符號，說明從略。不同點是，設(shè)置受光裝置30以取代圖1的受光裝置8，同時，作為光學裝置6’，具有形成衍射柵等的分路光的裝置的光學功能領(lǐng)域11’，被分路的光束進入受光裝置30。這里，光學功能領(lǐng)域11’的外形，與圖2的光學功能領(lǐng)域11是一樣的。
圖10是表示受光裝置30的受光領(lǐng)域的圖。在圖10中，31，33及34至37是受光單元，32是4分割受光單元，38及40是輔助光束，39是主光束，41及44是以光學功能領(lǐng)域11’從輔助光束38分路的光束，42及45也是從主光束39分路的光束，43及46也是從輔助光束40分路的光束。又，圖中，光學功能領(lǐng)域11’所占的部分用斜線部表示。在受光單元31，32，33，輔助光束38、主光束39、輔助光束40的光束不使光學功能領(lǐng)域11’的部分受光。又，這里，有關(guān)主光束39的焦點檢測及信息檢測的說明從略。
以各受光單元的序號作為信號名，將各輔助光束的信號列于下表，則，第1輔助光束的信號為31+k1×(34+36)(式2)第2個輔助光束的信號為33+k2×(35+37)(式3)
其中，k1，k2為常系數(shù)(k1，k2＜1)，改變這個系數(shù)，改變輔助光束的信號值，這與實施形態(tài)1中敘述的變更光學功能領(lǐng)域11的透過率是等價的。因此，可通過跟蹤誤差信號檢測裝置9中的檢測信號的電氣演算任意設(shè)定或變更對跟蹤誤差信號的相位偏移的抑制效果。
因此，按照本實施形態(tài)，例如，由于光盤的基板厚度不同，由光盤的徑向傾斜發(fā)生的波面象差不同時，或者，對物鏡的開口數(shù)切換使用時等、應抑制的跟蹤誤差信號的相位偏移量不同時可進行適當?shù)囊种菩Ч脑O(shè)定及切換。此外，由主光束分路的光束42及45，是不用于跟蹤誤差信號檢測，及焦點檢測及信息檢測的光束。
這樣，按照本發(fā)明的實施形態(tài)，在3光束跟蹤方式的光學頭，對用于檢測跟蹤誤差信號的2束輔助光束的中央部的一部，由衍射柵分路并分別受光，由于對光盤的徑向傾斜發(fā)生的波面象差的大領(lǐng)域的光，即亦，對通過減低對分路受光的受光信號的跟蹤誤差信號的貢獻減低，可抑制徑向傾斜時的跟蹤誤差信號的相位偏移、提高跟蹤控制精度。又，這一相位偏移的抑制效果，可通過電氣演算調(diào)整，所以，可以進行最適當?shù)恼{(diào)整及設(shè)定。
此外，在本實施形態(tài)，采用專用的衍射柵使輔助光束的一部分分路，例如，對于具有為焦點檢測分路光束的衍射柵的光學頭，在該衍射柵可以具有同樣的功能。
(實施形態(tài)3)圖11是本實施形態(tài)的構(gòu)成圖。與圖1共同的構(gòu)成要素，帶上同一符號，說明從略，只對不同的地方進行說明。與圖1構(gòu)成的不同點在于，省實質(zhì)上了圖1的光學裝置6，在受光裝置47加上了它的功能(未畫出)。即亦，受光裝置47包括如實施形態(tài)1那樣的受光裝置8和光學裝置6的兩方面的功能。
圖12是受光裝置47的受光單元的構(gòu)成圖。在圖12，48及50是3分割受光單元，49是4分割受光單元，48a至48c及50a至50c是前述3分割受光單元的各受光領(lǐng)域，51及53是輔助光束，52是主光束。由于檢測透鏡具有的非點象差，各光束將其分布回轉(zhuǎn)90度入射到受光單元，所以，3分割受光單元的分割線處于紙面的上下方向。
將3分割受光單元48及50的個受光領(lǐng)域的序號作為信號名，各輔助光束的信號以下式表示，則第1輔助光束的信號為(48a+48c)+k3×48b(式4)
第2個輔助光束的信號為(50a+50c)+k4×50b(式5)跟蹤誤差信號，根據(jù)這2個輔助光束的信號的差檢測。此外，對從主光束52得到的焦點信號及信息信號的說明從略。這里，k3，k4為常系數(shù)(k3，k4＜1)，可進行電氣演算以改變這個系數(shù)，與實施形態(tài)2同樣，可任意設(shè)定對跟蹤誤差信號的相位偏移的抑制效果的大小。
如上所述，按照本發(fā)明的實施形態(tài)，在3光束跟蹤方式的光學頭，在各受光單元分割用來檢測跟蹤誤差信號的2個輔助光束，改變檢測光束的中央部的光的信號與檢測此外光束的信號的加算比率，由于對光盤的徑向傾斜發(fā)生的波面象差的大領(lǐng)域，即亦，對前述光束的中央部的光提供的跟蹤誤差信號的貢獻減低，可抑制徑向傾斜時的跟蹤誤差信號的相位偏移、提高跟蹤控制精度。又，這一相位偏移的抑制效果的大小，可通過電氣演算調(diào)整，所以，可以進行最適當?shù)恼{(diào)整及設(shè)定。
(實施形態(tài)4)對于前述的以往的取樣·伺服·跟蹤方式的光學頭，本實施形態(tài)適用本發(fā)明，成為解決本課題的一例。
圖13是本發(fā)明的實施形態(tài)4的光學頭的構(gòu)成圖。與圖1共同的構(gòu)成要素，帶上同一符號，說明從略，只對不同的地方進行說明。在本實施形態(tài)的構(gòu)成中，除去圖1的衍射柵，換成圖1的受光裝置8及跟蹤誤差信號檢測裝置9，具有受光裝置54及跟蹤誤差信號檢測裝置55。
此外，圖14是說明受光裝置54的各受光單元的圖，圖中，56是4分割受光單元，56a至56d是4分割受光單元56的各受光領(lǐng)域，57是入射到4分割受光單元56的光束的外形。
下面，對具有這樣構(gòu)成的、本實施形態(tài)4的光學頭的動作進行說明。
光源1發(fā)出的光，透過分路裝置3，通過物鏡4被集聚到光盤5。由光盤5反射的光束，再通過物鏡4，由光分路裝置3反射，入射到光學裝置6。在本實施形態(tài)，入射到光學裝置6的光束，與前述實施形態(tài)1同樣，通過圖2的光學功能領(lǐng)域11，使其中央部的光強度減低，經(jīng)檢測透鏡7進入受光裝置54。
圖14中的光束57的中央部的斜線部，表現(xiàn)由光學裝置6使光強度減低的部分，由于檢測透鏡7具有的非點象差，其方向可回轉(zhuǎn)90度。
此外，圖13的跟蹤誤差信號檢測裝置55，是取樣·伺服·跟蹤方式的跟蹤誤差信號檢測裝置，所以，如以往技術(shù)的說明所述，使用與來自光盤的反射光量對應的信號的、由4分割受光單元56檢測的信號的和信號、即亦受光單元56a至56d的全部檢測信號檢測跟蹤誤差信號。焦點檢測裝置及信息信號檢測裝置(都未畫出)，通過4分割受光單元56的、各受光單元56a至56d分別檢測的信號、檢測各自規(guī)定的信號。
下面，對本構(gòu)成的光學頭中的跟蹤檢測進行詳細說明。以4分割受光單元56檢測的信號的和作為信號S，跟蹤誤差信號檢測裝置55，檢測光點通過如圖40所示的齒形標記時的信號S，在圖41的位置A，位置B進行取樣同步，檢測信號值VA，VB。齒形標記沿信息磁道有許多，由于光盤回轉(zhuǎn)，光點在橫斷信息磁道間通過若干個齒形標記。如果將以各齒形標記取樣同步的前述信號值VA，VB按時間關(guān)系設(shè)定為信號S1，信號S2，則跟蹤誤差信號就是它們的差信號S1-S2。
這里，光點橫斷信息磁道時的前述信號S1，信號S2的波形，在各齒形標記的對應坑槽位置處是最小(或者最大)的波形，可以說，這是與如圖4所示的3光束跟蹤方式的2個輔助光束的信號同樣的信號。
此外，前述輔助光束的信號、與前述信號S1，S2，是連續(xù)地在導向槽及齒形標記處檢測調(diào)制的反射光量獲得的，所以，由于光盤的徑向傾斜由光點產(chǎn)生于光盤的象差使信號受到的影響可一并考慮。
因此，與實施形態(tài)1同樣，本實施形態(tài)的光學頭，可抑制由光盤的徑向傾斜產(chǎn)生的跟蹤誤差信號的相位偏移。
如上所述，按照本實施形態(tài)，在取樣·伺服·跟蹤方式的光學頭，由于使檢測跟蹤誤差信號用的光束的一部的光強度減低，使光盤的徑向傾斜發(fā)生的波面象差的大領(lǐng)域的光產(chǎn)生的影響減低，可抑制徑向傾斜時的跟蹤誤差信號的相位偏移。
此外，在4分割受光單元56，對本發(fā)明的跟蹤誤差信號檢測動作起作用的是受光單元56的和信號，受光單元被4分割為56a至56d，是因為與實施形態(tài)1同樣，以焦點檢測方式作為非點象差方式。因此，如果是只用來檢測跟蹤誤差信號，受光裝置54用一個受光單元也可以。
此外，在本實施形態(tài)，作為圖13及圖14那樣的構(gòu)成，在實施形態(tài)2及3對輔助光束施加的各種裝置也可以加到本實施形態(tài)的光束上。
這里，圖17(a)，是將實施形態(tài)2的受光裝置30及光學裝置6’的構(gòu)成應用于本實施形態(tài)的取樣·伺服·跟蹤方式場合的受光裝置54的構(gòu)成圖。圖17(b)，是將實施形態(tài)3的受光裝置47的構(gòu)成應用于本實施形態(tài)的取樣·伺服·跟蹤方式場合的受光裝置54的構(gòu)成圖。又，在圖17(a)(b)，以檢測跟蹤誤差的動作為中心進行說明，以焦點檢測方式作為非點象差方式用的受光單元57的4分割的分割線用虛線表示，省實質(zhì)上該動作。又，主光束部分的受光單元的構(gòu)成也省實質(zhì)上。
如圖17(a)所示，受光裝置54，具有通過光學裝置6’使得將光束57一分為三得到的光束57a，57b，57c分別受光的受光單元70、71、72。又，光束57a不使光學功能領(lǐng)域11’的部分受光，光束57b，57c在光束57中只含光學功能領(lǐng)域11’的部分。
將各受光單元的序號記作信號名，將各光束的信號用下式表示，光束57的信號可表示為57a+k5×(57b+57c)(數(shù)6)(k5是常系數(shù)(k5＜1))。
因此，與實施形態(tài)2同樣，改變系數(shù)k5的值，使從光束57得到的信號的值改變，使任意設(shè)定或變更對跟蹤誤差信號的相位偏移的抑制效果成為可能。
下面，如圖17(b)所示，受光裝置54具有分別使光束57受光的3分割受光單元73a，73b，73c。
各分割受光單元的序號記作信號名，光束57的信號可表示為(73b+73c)+k6×73a(數(shù)7)k6是常系數(shù)，(k6＜1)。因此，與實施形態(tài)3同樣，改變系數(shù)k6的值，使從光束57得到的信號的值改變，使任意設(shè)定或變更對跟蹤誤差信號的相位偏移的抑制效果成為可能。
(實施形態(tài)5)本實施形態(tài)，對前述的以往的復合·擺動·跟蹤方式或復合·連續(xù)·跟蹤方式的光學頭，由于適用本發(fā)明，成為解決該課題的一例。
圖15是本實施形態(tài)5的光學頭的構(gòu)成圖。與實施形態(tài)4的構(gòu)成圖的圖13及圖14的構(gòu)成要素相同，帶同一符號，說明從略。在本實施形態(tài)，具有跟蹤誤差信號檢測裝置58，以取代圖13的跟蹤誤差信號檢測裝置55。
與實施形態(tài)4不同點在于，是跟蹤誤差信號檢測裝置58的、由受光裝置54得到的受光信號的處理動作。以下，參照圖14對跟蹤檢測58的動作進行說明。
用4分割受光單元56的各受光領(lǐng)域名56a至56d，對信號T、信號T1，T2，TE作如下定義。即，T＝56a+56b+56c+56d(數(shù)8)T1＝56a+56b (數(shù)9)T2＝56c+56d (數(shù)10)TE＝T1-T2 (數(shù)11)這里，信號T是4分割受光單元57的和信號，信號TE是推挽信號。跟蹤誤差信號檢測裝置58檢測前述各式的信號T，T1，T2，TE。
對于以往技術(shù)的說明中所述的復合·連續(xù)·跟蹤方式，如圖39所示，光盤的信息磁道，由導向槽部104及鏡面部105構(gòu)成，跟蹤誤差信號檢測裝置58，在光點通過鏡面部105時，對前述信號TE取樣同步，用它的值補正信號TE的偏移，檢測跟蹤誤差信號。這里說的信號TE的偏移，是物鏡4與光學頭的光軸的位置偏移、及由于光盤的徑向傾斜從光盤反射的反射光束的位置偏移，是推挽信號產(chǎn)生的直流電壓。
此外，對于以往技術(shù)的說明中所述的復合·擺動·跟蹤方式，如圖40所示，光盤的信息磁道，由導向槽部及齒形標記構(gòu)成，跟蹤誤差信號檢測裝置58，在光點通過齒形標記時，以與前述的實施形態(tài)4的跟蹤誤差信號檢測裝置55同樣的手法檢測的信號被設(shè)定為TE2，通過對該信號TE2與前述信號TE的偏移進行比較，檢測補正偏移的跟蹤誤差信號。這是由于信號TE2中難以發(fā)生前述那樣的偏移，所以可經(jīng)過比較抽出信號TE的偏移。又，在光點通過齒形標記時，即使對前述信號TE取樣同步，也能同樣抽出信號TE的偏移。
以上那樣的跟蹤檢測方式，雖具有補正跟蹤誤差信號的偏移的裝置，但由于光盤的徑向傾斜產(chǎn)生的彗形象差的影響，這樣的偏移補正裝置對跟蹤誤差信號產(chǎn)生的相位偏移也無能為力。
圖16是在設(shè)定以下條件時模擬推挽信號TE的波形的結(jié)果光學頭的光源波長為660nm，NA為0.6，光盤的信息磁道的間距為1.2μm，導向槽深度＝λ/8，導向槽寬度＝0.8μm，基板厚度＝0.6mm。59是沒有徑向傾斜時的波形，60是徑向傾斜＝1.2度時、以往的光學頭的波形，61是本實施形態(tài)的光學頭的波形。
各波形的偏移中不僅只是徑向傾斜引起的相位偏移，如果對它們的峰值位置進行比較，則，波形61的相位偏移比之波形60的相位偏移約有不到半分的抑制。又，波形61是當光學裝置6的光學功能領(lǐng)域11的寬度、V/D＝0.25、透過率為0時的計算結(jié)果。這樣，光學裝置6，在抑制徑向傾斜引起的相位偏移方面，即使對推挽信號也是有效的，因此，是對前述各跟蹤檢測方式有效的裝置。
如上所述，按照本實施形態(tài)，對復合·擺動·跟蹤方式及復合·連續(xù)·跟蹤方式的光學頭，由于使跟蹤誤差信號檢測用的光束的一部的光強度以帶狀減低，使得光盤的徑向傾斜發(fā)生的波面象差的大領(lǐng)域的光的作用減低，使徑向傾斜時的跟蹤誤差信號的相位偏移得到抑制，跟蹤控制的精度有望得到提高。
又，在4分割受光單元56，對本發(fā)明的跟蹤誤差信號檢測動作起作用的，是受光單元56的和信號，受光單元56a與56b之和，以及受光單元56c及56d的信號和，受光單元被4分割為56a至56d，這與實施形態(tài)1一樣，這是由于把焦點檢測方式作為非點象差方式的緣故。因此，光是為了檢測跟蹤誤差，受光裝置54也可采用與信息磁道方向平行的2分割受光單元。
此外，換到本實施形態(tài)的構(gòu)成，即使引進增加以實施形態(tài)2及3檢測跟蹤誤差信號用的光束，也能實現(xiàn)同樣的光學頭。
這里，圖18(a)是將實施形態(tài)2的受光裝置30及光學裝置6’的構(gòu)成應用于本實施形態(tài)的復合·擺動·跟蹤方式或復合·連續(xù)·跟蹤方式的場合的受光裝置54的構(gòu)成圖，圖18(b)是將實施形態(tài)3的受光裝置47的構(gòu)成應用于本實施形態(tài)的復合·擺動·跟蹤方式或復合·連續(xù)·跟蹤方式的場合的受光裝置54的構(gòu)成圖。又，在圖18(a)(b)，以檢測跟蹤誤差的動作為中心進行說明，以非點象差方式進行焦點檢測方式用的受光單元57的4分割的分割線用虛線表示，它的動作從實質(zhì)上。又，主光束部分的受光單元的構(gòu)成也省實質(zhì)上。
如圖18(a)所示，受光裝置54，具有使由光學裝置6’將光束57分割成3部分的光束57a、57b、57c分別受光的2分割受光單元80(含受光單元80a與80b)，81(含受光單元81a及81b)、82(含受光單元82a及82b)。又，光束57a，不使光學功能領(lǐng)域11’的部分受光，光束57b、57c在光束57中只含有光學功能領(lǐng)域11’的部分。
將各受光單元的序號作為信號名，各光束的信號以下式表示，則光束57的信號為T＝80a+80b+k7×(81a+81b+82a+82b) (數(shù)12)
T1＝80a+k7×(81a+82a)(數(shù)13)T2＝80b+k7×(81b+82b)(數(shù)14)TE＝T1-T2(數(shù)15)K7是常系數(shù)(k7＜1)。
因此，與實施形態(tài)2同樣，改變系數(shù)k7的值，使從光束57得到的信號的值改變，使任意設(shè)定或變更對跟蹤誤差信號的相位偏移的抑制效果成為可能。
下面，如圖18(b)所示，受光裝置54具有分別使光束57受光的6分割受光單元83a～83f。
各分割受光單元的序號記作信號名，光束57的信號可表示為T＝83c+83d+83e+83f+k8×(83a+83b) (數(shù)16)T1＝k8×83a+(83c+83e) (數(shù)17)T2＝k8×83b+(83d+83f) (數(shù)18)TE＝T1-T2 (數(shù)19)(k8是常系數(shù)，(k8＜1))。
因此，與實施形態(tài)3同樣，改變系數(shù)k8的值，使從光束57得到的信號的值改變，使任意設(shè)定或變更對跟蹤誤差信號的相位偏移的抑制效果成為可能。
此外，在前述實施形態(tài)，以使用復合·擺動·跟蹤方式或復合·連續(xù)·跟蹤方式檢測跟蹤誤差信號的光學頭為例進行說明，本發(fā)明的光學頭，如果采用與信息磁道平行的軸2分割的受光單元，以推挽方式檢測跟蹤誤差信號，那么，用其他方式也可以。
(實施形態(tài)6)本實施形態(tài)，對于具有以往的推挽方式的跟蹤誤差信號檢測裝置的光學頭，由于適用本發(fā)明，成為解決有關(guān)光盤傾斜度檢測的以往課題的一例。
圖19是本發(fā)明的實施形態(tài)6的光學頭的構(gòu)成圖。圖中，201是光源，202及207是光學頭的光軸，203是使入射光的一部透過、使一部反射的光束分解器，204是物鏡，205是光盤，206是將光導入受光單元的中繼透鏡、208是受光裝置，209是對受光信號進行放大、演算的信號演算部，210是焦點檢測裝置，211是跟蹤誤差信號檢測裝置，212是光盤傾斜度檢測裝置。
圖20是說明受光裝置208及信號演算部209的圖，從208a至208f，表示受光裝置208的各受光領(lǐng)域，213a至213f是放大器，214及215是加法運算放大器，216是入射到受光裝置208的光束的外形。
下面，對具有這樣構(gòu)成的本實施形態(tài)的光學頭的動作進行說明。
光源201發(fā)生的光，透過光束分解器203，通過物鏡204被集光于光盤205。由光盤205反射的光再次通過物鏡204，由光束分解器203反射，入射到中繼透鏡206。如果把焦點檢測方式作為非點象差方式，中繼透鏡206，具有使非點象差發(fā)生的圓柱透鏡的折射力，將光束導入受光裝置208。
如圖20所示，入射到受光裝置208的光束，被6分割為受光領(lǐng)域208a至208f，受光，各受光信號由信號演算部209演算、放大。受光領(lǐng)域208a至208f的各受光信號由放大器213a至213f放大，并被作為信號208a’至208f’輸出，又，信號208a’與208c’由加法運算放大器214相加、被作為信號F1輸出，信號208b’與208d’由加法運算放大器215相加、被作為信號F2輸出。
焦點檢測方式210，使用信號F1及F2檢測焦點誤差信號，跟蹤誤差信號檢測裝置211，在作為第1領(lǐng)域的受光領(lǐng)域208e及208f，使用被受光的信號208e’及208f’，檢測作為第1跟蹤誤差信號的信號TE1，在作為第2領(lǐng)域的受光領(lǐng)域208a至208d，使用被受光的信號208a’至208d’，檢測作為第2跟蹤誤差信號的信號TE2。第1及第2領(lǐng)域的形狀，如圖所示，其垂直于信息磁道的方向的長度比檢測的光束216的直徑長。
本實施形態(tài)的跟蹤誤差信號是推挽信號，所以，信號TE1，TE2可用下式表示。
TE1＝208e’-208f’(數(shù)20)TE2＝(208a’+208d’)-(208b’+208c’) (數(shù)21)光盤傾斜度檢測裝置212，對第1跟蹤誤差信號TE1與第2跟蹤誤差信號TE2的相位進行比較，檢測光盤傾斜度。
下面，對光盤傾斜度檢測作詳細說明。圖21表示在有半徑方向傾斜時的檢測光束的光強度分布中，前述第1領(lǐng)域與第2領(lǐng)域的范圍重合的圖。如以往技術(shù)的說明中所述，對應于光盤傾斜度，光束的光強度分布呈現(xiàn)非對稱性，如圖所示，其中非對稱性明顯的部分存在于第1領(lǐng)域。為此，從第1領(lǐng)域檢測的信號TE1與第2領(lǐng)域檢測的信號TE2對光盤傾斜度的影響程度是不同的。
圖22是對信號TE1與信號TE2進行計算的結(jié)果，計算條件是光源的波長為660nm，物鏡的開口數(shù)為0.6，連續(xù)槽的間距為1.2μm，槽深度＝λ/8，光盤基板厚度為0.6mm。圖22(a)是沒有光盤傾斜時的波形，圖22(b)是光盤徑向傾斜為0.6度時波形。在圖22(a)，217是信號TE1，218是信號TE2，在圖22(b)，219是信號TE1，220是信號TE2。圖中的橫軸表示相對于信息磁道中心的光點位置。這里，所謂光點位置，是指光強度分布的強度峰值位置。
在沒有光盤傾斜時，如波形217，218那樣，當2個信號的相位一致、光點位于信息磁道中心時，都成為與橫軸垂直的波形的信號，但是，如果光盤傾斜，象波形219，220那樣，產(chǎn)生相位偏移、波形垂直于橫軸的位置將偏離信息磁道中心。光盤傾斜對各信號的影響程度不同，所以，比之以波形220表示的信號TE2，以波形219表示的信號TE1上產(chǎn)生的相位偏移大。因此，通過將第1跟蹤誤差信號TE1與第2跟蹤誤差信號TE2的相位進行比較，可檢測光盤傾斜度。
此外，在光盤傾斜方向是反方向時，光束的光強度分布的非對稱性呈反方向，這是在以往例中說明過的，所以，可容易地推斷出信號的相位偏移也是反方向的。又，當物鏡朝垂直于信息磁道的方向移動時，入射到受光裝置208上的光束216的位置也移動，因此，雖然在推挽信號上產(chǎn)生直流偏置，但由于與信息磁道垂直的方向的前述第1領(lǐng)域的長度做得比光束直徑長，所以，即使光束216移動，包含在第1領(lǐng)域的光強度分布也不變化。
因此，讓信號TE1，信號TE2通過以通常的電氣電路構(gòu)成的高通濾波器、除去直流偏置、再對2信號的相位進行比較，可除去物鏡移動的影響。相位比較的方法，例如，采用在信號TE2與基準電壓(相當于圖22的橫軸)交叉的時刻檢測信號TE1的值的方法，采用一般的相位比較方法也行。
此外，以上的說明中，將信號TE1作為第1跟蹤誤差信號使用，將信號TE2作為第2跟蹤誤差信號使用，但以往的推挽信號，即亦，如以前述信號208a’至208f’表示，那么，把按(208a’+208d’+208e’)-(208b’+208c’+208f’)的演算得到的信號作為第1跟蹤誤差信號使用也能進行光盤傾斜度的檢測。這是由于前述以往的推挽信號相當于信號TE1與TE2的和信號，所以，在第1及第2跟蹤誤差信號間，會出現(xiàn)可充分檢測的相位差。
這樣，按照本發(fā)明的實施形態(tài)6，在具有推挽方式的跟蹤誤差信號檢測裝置的光學頭中，可使用來自第1及第2領(lǐng)域的受光信號進行檢測，通過對第1及第2跟蹤誤差信號的相位進行比較，不用專用的光盤傾斜度檢測器也能進行光盤傾斜度檢測，又，再加上把前述第1及第2領(lǐng)域的形狀做得使垂直于信息磁道的方向的長度比檢測光束的直徑長，光盤傾斜度的檢測，采用的方法不是檢測直流信號，而是比較信號波形的相位檢測，所以，可在不易受到隨物鏡的移動產(chǎn)生的推挽信號的直流偏置的影響下進行光盤傾斜度的檢測成為可能。
此外，在前述動作中，使用信號208a’至208f’的全部信號，只用208a’，208b’，208e’208f’，不用信號208c’208d’也可以。反之，只用208c’，208d’，208e’208f’，不用信號208a’208b’也可以。
此外，作為使用推挽信號的跟蹤誤差信號檢測方式，在以往的技術(shù)及實施形態(tài)5說明的、復合·連續(xù)·跟蹤方式或復合·擺動·跟蹤方式也都可用。又，別的方式也可用。
(實施形態(tài)7)本實施形態(tài)，對以往的取樣·伺服方式的光學頭，由于適用本發(fā)明，成為解決光盤傾斜度檢測課題的一例。
圖23是本發(fā)明的實施形態(tài)7的光學頭的構(gòu)成圖。與圖19圖不同的只是跟蹤誤差信號檢測裝置211’，所以，有關(guān)光學頭構(gòu)成的說明予以省實質(zhì)上。跟蹤誤差信號檢測裝置211’，在構(gòu)造上可使用如圖20所示的信號演算部209的輸出信號的信號208e’與信號208f’，檢測作為第1跟蹤誤差信號的信號TE1，使用208a’、信號208b’、信號208c’及信號208d’的和信號，檢測作為第2跟蹤誤差信號的信號TE2。
下面說明跟蹤檢測方法。圖24是說明光盤的信息磁道的圖。本實施形態(tài)是取樣·伺服方式的光學頭，所以，取樣坑槽對斷續(xù)地形成于信息磁道的光盤進行信息的記錄或再生動作。這里，所謂取樣坑槽，為了檢測跟蹤誤差信號，以2個坑槽為一對，沿信息磁道空出一定的間隔、且與信息磁道中心等距離地形成。
在圖24，221、222及223、224分別是記錄信息磁道的中心線、前述取樣坑槽、地址或信息的信息領(lǐng)域，225及226的箭頭表示光點的掃描位置。如果光點在這樣的取樣坑槽上通過，根據(jù)光點與取樣坑槽的相對位置檢測的受光信號被調(diào)制。
圖25是表示它的調(diào)制情況的圖。即表示有關(guān)各光點掃描位置的被調(diào)制光量的調(diào)制波形、即亦信號208a’至208f’的和信號的波形。227是表示沿光點掃描位置225掃描時檢測的信號波形，228是在掃描位置226檢測的信號波形，229是當掃描位置與信息磁道中心線一致時檢測的信號波形。以往，取樣·伺服方式的跟蹤檢測，是在光點通過取樣坑槽222及223時刻(圖25中以箭頭表示的2光點位置)檢測信號被作為取樣點信號、再根據(jù)這2個取樣點檢測信號值的差檢測跟蹤誤差信號，前述跟蹤誤差信號檢測裝置211’，進行與其以往的取樣·伺服方式的跟蹤檢測相同的信號處理，檢測作為第1及第2跟蹤誤差信號的信號TE1及TE2。
下面，對光盤傾斜度檢測進行說明。圖26(a)(b)是通過數(shù)值計算將跟蹤誤差信號的波形模擬處理的結(jié)果，圖26(a)表示無光盤傾斜時的波形，圖26(b)表示光盤在半徑方向有0.6度傾斜時的波形。計算條件為光源的波長為660nm，物鏡開口數(shù)為0.6，光盤的基板厚度為0.6mm，信息磁道間距為1.2μm，取樣坑槽長度及寬度為0.4μm，圖20所示的受光領(lǐng)域208e及208f的信息磁道方向的寬度與光束外形206的直徑之比為0.25。
在圖26(a)，230是第1跟蹤誤差信號TE1，231是第2跟蹤誤差信號，232是使用所有208a’至208f’的和信號檢測的跟蹤誤差信號。232與以往的取樣·伺服方式的跟蹤誤差信號相同，所以稱之為以往的跟蹤誤差信號。又，同圖中，橫軸表示光點離信息磁道中心的位置，Tp表示信息磁道間距。3個波形，都表示光點位置與信息磁道中心一致時與橫軸相交的波形。
在圖26(b)，233表示第1跟蹤誤差信號TE2，234表示第2跟蹤誤差信號TE2，235表示前述以往的跟蹤誤差信號的波形。與圖26(a)不同，這里表示的是，在各波形產(chǎn)生相位偏移、在偏離信息磁道中心的位置與橫軸相交的波形。該相位偏移的大小，以第1跟蹤誤差信號TE1的波形233為最大，其次是以往的跟蹤誤差信號的波形235，隨后是第2跟蹤誤差信號TE2的波系234。
因此，將第2跟蹤誤差信號TE2、與第1跟蹤誤差信號TE1或前述以往的跟蹤誤差信號作相位比較，可檢測光盤傾斜度。各信號間產(chǎn)生相位偏移的原因，與在實施形態(tài)6的說明中用圖21敘述的一樣，當光點通過取樣坑槽上時，檢測的光束的光強度分布由于光盤傾斜產(chǎn)生的彗形象差的影響而形成非對稱分布，在前述第1領(lǐng)域與第2領(lǐng)域，其含有非對稱的光強度分布的量是不同的。
本實施形態(tài)的光學頭，是取樣·伺服方式的跟蹤檢測，所以，使用被檢測信號的和信號檢測跟蹤誤差信號，在與信息磁道垂直的方向即使物鏡移動，在跟蹤誤差信號中也不會產(chǎn)生偏移，又，由于將前述第1及第2領(lǐng)域的形狀做得使與信息磁道垂直的方向長度比檢測的光束的直徑長的形狀，所以，即使光束移動、各領(lǐng)域中的光強度分布也不變化。因此，可檢測不受物鏡移動的影響的光盤傾斜度。
又，第2跟蹤誤差信號TE2，由于光盤傾斜引起的相位偏移小，所以，用這個信號進行跟蹤控制，在跟蹤控制中，通過檢測第1跟蹤誤差信號TE1或前述以往的跟蹤誤差信號的值，可檢測光盤傾斜度。這樣，通過跟蹤控制，光點被固定于信息磁道，所以，采用與檢測信號的直流成分同樣的檢測方法，可對2個信號的相位進行比較。
如上所述，按照本實施形態(tài)，在取樣·伺服方式的光學頭，通過比較第1跟蹤誤差信號與第2跟蹤誤差信號的相位，可不設(shè)置光盤傾斜度檢測專用的檢測器、進行不受物鏡移動影響的穩(wěn)定的光盤傾斜度的檢測。
(實施形態(tài)8)本實施形態(tài)，對以往的3光束跟蹤方式的光學頭，由于適用本發(fā)明，成為解決光盤傾斜度檢測課題的一例。
圖27是本發(fā)明的實施形態(tài)8的光學頭的構(gòu)成圖。
對于與圖19同樣的構(gòu)成要素，帶同樣符號，說明從略。236是將光分路為主光束與2個輔助光束的衍射元件，237是進行信號放大、演算的信號演算部，246是跟蹤誤差信號檢測裝置。
圖28，是說明受光裝置237的各受光單元及信號演算部238的圖，239及241是3分割受光單元，239a至239c、241a至241c表示3分割受光單元的各受光領(lǐng)域。240是4分割受光單元，242及244是輔助光束，243是主光束，245是245a至245f是放大器，238a’至238d’是從信號演算部輸出的各信號。
下面對具有這樣構(gòu)成的本實施形態(tài)的光學頭的動作進行說明。
光源201發(fā)出的光，經(jīng)衍射元件236衍射，被生成作為0次衍射光的主光束、以及作為+1次及-1次衍射光的第1及第2個輔助光束的2束輔助光束。這3個光束，一起透過光束分解器，經(jīng)物鏡204被集光于光盤205，在光學頭的光軸202上形成主光束的光點，在離開光軸202、附圖上下方向上形成2個輔助光束的光點。
來自以光盤205反射的各光點的反射光束，一起再次通過物鏡204，經(jīng)光束分解器203反射，入射到中繼透鏡206。例如將焦點檢測方式作為非點象差方式，中繼透鏡206，具有使非點象差發(fā)生的圓柱透鏡的折射力，將光束導入受光裝置237，如圖28所示，主光束入射到4分割受光單元240，第1輔助光束入射到3分割受光單元239，第2個輔助光束入射到3分割受光單元241。入射到4分割受光單元240的主光束243被4分割受光，通過如圖示的結(jié)線進行的演算，檢測信號F1、F2。
又，受光單元239及241的各受光領(lǐng)域，與前述實施形態(tài)6及7同樣配置，可將入射的光束分割為第1及第2領(lǐng)域進行受光，前述第1輔助光束被3分割，受光領(lǐng)域239b對前述第1領(lǐng)域的光受光，受光領(lǐng)域239a、239c對前述第2領(lǐng)域的光受光，前述第2個輔助光束被3分割，受光領(lǐng)域241b對前述第1領(lǐng)域的光受光，受光領(lǐng)域241a、241c對前述第2領(lǐng)域的光受光。
通過如圖示的結(jié)線進行的演算及放大器245a、245b、245e及245f，可檢測信號238a’至238d’。238a’是第1輔助光束的第1領(lǐng)域的受光信號，238b’是第1輔助光束的第2領(lǐng)域的受光信號，238d’是第2個輔助光束的第1領(lǐng)域的受光信號，238c’是第2個輔助光束的第2領(lǐng)域的受光信號。
跟蹤誤差信號檢測裝置246，在構(gòu)成中，使用238a’與信號238d’，檢測作為第1跟蹤誤差信號的信號TE1，使用238b’與信號238c’，檢測作為第2跟蹤誤差信號的信號TE2，所以，信號TE1，TE2可以下式表示。
TE1＝238a’-238d’(數(shù)22)TE2＝238b’-238c’(數(shù)23)光盤傾斜度檢測裝置212，通過對作為第1及第2的跟蹤誤差信號的信號TE1與TE2的相位進行比較，檢測光盤傾斜度。
下面，對光盤傾斜度檢測作詳細說明。圖29是表示主光束及輔助光束的光點對信息磁道如何配置的圖，如圖所示，相對主光束的光點，2個輔助光束的光點在與信息磁道垂直的方向上按照1/4磁道間距分離配置。
圖30是對垂直于信息磁道垂直的方向上第1輔助光束光點掃描時的信號波形通過數(shù)值計算進行模擬的結(jié)果。247是信號238a’的波形，248是信號238b’的波形，249是信號238a’與238b’的和信號的波形。計算條件為物鏡開口數(shù)為0.6，光源的波長為660nm，信息磁道間距為1.2μm，作為信息磁道的連續(xù)槽幅為0.4μm，槽深度為1/8波長，光盤傾斜度在半徑方向為0.6度。
由于信息磁道寬度狹窄，光盤不傾斜時，各信號波形在光點位置處于信息磁道中心時應呈現(xiàn)具最小值的波形，但在圖30中，由于光盤傾斜在各信號波形出現(xiàn)相位偏移，相位偏移依波形247、波形249、波形248的次序增大。這里，所謂光點位置，指的是光點的光強度峰值位置。
從圖29看出，第2個輔助光束的光點，相對第1輔助光束的光點有1/2磁道間距的位置偏移，所以，第2個輔助光束的各信號，相對第1輔助光束的信號，都有1/2磁道間距的相位差。但是，由光盤傾斜發(fā)生的信號的相位偏移，其原因出自檢測光束的光強度分布的非對稱性，所以，對第1及第2的輔助光束的信號是一樣發(fā)生的。
因此，使用第1輔助光束的信號238a’及第2個輔助光束的信號238d’檢測的第1跟蹤誤差信號TE1、以及使用第1輔助光束的信號238b’及第2個輔助光束的信號238c’檢測的第2跟蹤誤差信號TE2，與圖22(b)中實施形態(tài)6的2個跟蹤誤差信號的波形219及220相同，成為對應于光盤傾斜產(chǎn)生相位差的信號。這樣，通過對第1及第2的跟蹤誤差信號的信號TE1及信號TE2的相位進行比較，可檢測光盤傾斜度。
此外，在以上說明中，第1跟蹤誤差信號是使用第1領(lǐng)域中檢測的信號238a’與信號238d’檢測的，如圖30所示，波形249相對于波形248具有相位差，因此，使用在第1及第2領(lǐng)域檢測的信號的和信號，即亦，使用信號238a’與信號238b’的和信號、及信號238ac’與信號238d’的和信號，能檢測第1跟蹤誤差信號，也同樣能檢測光盤傾斜度。
又，3光束跟蹤方式的跟蹤檢測，利用輔助光束在信息磁道被光強度調(diào)制進行信號檢測，因此，即使物鏡在垂直于信息磁道的方向移動，跟蹤誤差信號中也不會產(chǎn)生偏移，又，分割檢測光束的第1及第2領(lǐng)域的形狀被做成垂直于信息磁道的方向的長度大于檢測光束的直徑的形狀，所以，即使光束移動，各領(lǐng)域中的光強度分布也不變化。這樣，可進行不受物鏡移動影響的光盤傾斜度檢測。
如上所述，按照本實施形態(tài)，在3光束跟蹤方式的光學頭，通過對第1跟蹤誤差信號及第2跟蹤誤差信號進行相位比較，不用專用的光盤傾斜度檢測器，即可進行不受物鏡移動影響的穩(wěn)定的光盤傾斜度的檢測。
(實施形態(tài)9)本實施形態(tài)，是進行使前述各實施形態(tài)的光學頭中檢測的光盤傾斜度對應的信號具有更好的信號特性的信號處理的一例。該信號處理裝置的說明，包括前述光學頭的各構(gòu)成，例如，圖23中的光盤傾斜度檢測裝置212的內(nèi)部的內(nèi)容。
光盤傾斜度的檢測，通過測定前述前述第1跟蹤誤差信號TE1及第2跟蹤誤差信號TE2的相位差進行。用圖26(b)對該相位差測定進行說明。在圖26(b)，波形233表示信號TE1，波形234是信號TE2，波形235是信號TE1與TE2的和信號，但是，波形234，如果對與橫軸相交時的波形233或波形235的信號進行測定，那么，對應于相對波形234的相位差的方向，前述信號值發(fā)生正負變化，該測定成為相位差測定法之一。
把計算與這樣測定的相位差相當?shù)男盘栔蹬c光盤傾斜量的關(guān)系結(jié)果表示于圖31。計算條件與圖26的計算同樣。橫軸表示光盤傾斜量，縱軸表示前述信號值，考慮作圖比例，讓信號值帶適當?shù)南禂?shù)。250表示前述信號值原來的計算結(jié)果，251表示將前述信號值按信號TE1的振幅值正規(guī)化后的計算結(jié)果。由于信號TE1對應著光盤傾斜度減低振幅，圖象曲線250的線性不好，通過按信號TE1的振幅值正規(guī)化，圖象曲線251的線性可得到改善。此外，對于實現(xiàn)以振幅值進行的前述信號值的正規(guī)化的具體裝置，可采用一般的電氣信號處理裝置，說明從略。
如上所述，信號TE2，測定與基準電壓相交時的信號TE1的信號值，由于將該信號值以信號TE1的振幅值正規(guī)化的信號作成光盤傾斜度檢測信號，所以，能得到針對光盤傾斜量的線性好的光盤傾斜度檢測信號。
(實施形態(tài)10)本實施形態(tài)，是使用以前述各實施形態(tài)6至9的光學頭檢測的第1及第2跟蹤誤差信號及光盤傾斜度檢測信號進行跟蹤控制中生成合適的控制信號的光學頭的一例。
圖32是表示本發(fā)明的實施形態(tài)10的光學頭的構(gòu)成圖，與前述各實施形態(tài)共通的構(gòu)成要素帶同樣符號、又，除了必須說明的部分、其余都省實質(zhì)上的構(gòu)成圖。252是物鏡移動裝置，253是跟蹤控制信號生成裝置，254是跟蹤控制裝置。光盤傾斜度檢測裝置212，輸出光盤傾斜度檢測信號TLT、第1及第2跟蹤誤差信號的信號TE1、TE2。這3個信號，被輸入跟蹤控制信號生成裝置253，在那里進行演算，作為跟蹤控制信號TE輸出，信號TE，被作為跟蹤控制裝置254的控制信號使用。跟蹤控制裝置254，驅(qū)動物鏡移動裝置252，對物鏡204的位置進行控制，使光點能夠追隨信息磁道的中心。
圖33是說明跟蹤控制信號生成裝置253的構(gòu)成圖，255是使信號的振幅衰減的衰減器，256是差分放大器。衰減器255可根據(jù)信號TLT的大小調(diào)整輸入信號的衰減率，依此改變信號TE1的振幅，差分放大器256從信號TE2以振幅變更后的信號TE1進行差分并輸出信號TE。
參照圖26(b)對具有以上構(gòu)成的本實施形態(tài)進行說明。波形233是信號TE1，波形234是信號TE2，由于2波形存在相位差，可從波形234去除波形233，可生成使波形234向左移動的信號波形。為此，如果調(diào)整波形233的振幅，從波形234去除，可將任意的相位變化加到演算后的波形。
即，按照信號TLT用衰減器255對信號TE1的振幅進行調(diào)整，用差分放大器256從信號TE2去除，可生成相對信號TE2具有任意相位差的信號TE。這樣，信號TE的波形與基準電壓相交的點，可任意地設(shè)定在信息磁道中心的周圍，因此，通過使用該信號TE進行跟蹤控制，可任意設(shè)定跟蹤控制位置。
因此，通過預先對由信號TLT調(diào)整的衰減器255的衰減率進行適當調(diào)整，可使用信號TLT補正由光盤傾斜產(chǎn)生的光點位置與信息磁道中心的位置偏移，并進行跟蹤控制。
如上所述，按照本實施形態(tài)的光學頭，檢測半徑方向的光盤傾斜度，采用該光盤傾斜度檢測信號，補正由光盤傾斜產(chǎn)生的信息磁道中心與光點位置的偏移，可實現(xiàn)高精度的跟蹤控制。
又，以往的跟蹤控制位置的調(diào)整，通過在跟蹤控制信號加上直流偏置進行，所以，存在控制系統(tǒng)不穩(wěn)定的課題，按照本實施形態(tài)，不用加上直流偏置，通過偏移控制信號的相位，調(diào)整控制位置，所以，可實現(xiàn)穩(wěn)定的跟蹤控制。
又，生成跟蹤控制信號的場合，如同以往的技術(shù)，使用受光的全領(lǐng)域的信號的場合，以徑向傾斜進行的補正程度，比之以前述實施形態(tài)得到的光盤傾斜度為基礎(chǔ)的場合，可進行更大的修正。
(實施形態(tài)11)本實施形態(tài)是將本發(fā)明應用于進行光盤接線方向的傾斜度檢測的光學頭的一例。
圖34是本發(fā)明實施形態(tài)11的光學頭的構(gòu)成圖。對于與前述實施形態(tài)相同的構(gòu)成要素，帶上同樣符號，又，由于焦點檢測裝置及跟蹤誤差信號檢測裝置與前述各實施形態(tài)相同，在此予以省實質(zhì)上。257是受光裝置，258是信號演算部，259是光盤傾斜度檢測裝置。光源1發(fā)出的光經(jīng)光盤205反射，該光被導入受光裝置257前的說明與前述各實施形態(tài)相同，在此予以省實質(zhì)上。又，光盤采用其信息磁道形成坑槽的類型。
圖35是說明受光裝置257與信號演算部258的圖。256是入射光束的外形，257a至257c是受光裝置257的各受光領(lǐng)域，258a、258b是放大器，S1，S2是信號演算部258輸出的信號。受光裝置257的受光領(lǐng)域，被3分割為作為平行于信息磁道的方向上長而且位于光束中央部的第1領(lǐng)域的受光領(lǐng)域257b、以及作為第1領(lǐng)域以外的領(lǐng)域的第2領(lǐng)域的受光領(lǐng)域257a及257c，各受光信號通過結(jié)線相加并經(jīng)放大器258a、258b作為信號S1，S2輸出。信號S1由前述第1領(lǐng)域的受光信號構(gòu)成，信號S2由前述第2領(lǐng)域的受光信號構(gòu)成。
圖36是表示當光盤存在接線方向傾斜(在含有物鏡的光軸與信息磁道的接線的平面內(nèi)光盤的法線含有的光盤傾斜)時光點通過坑槽時檢測的信號的波形圖。260是前述信號S1，261是前述信號S2的波形。信號S1相對信號S2存在波谷位置的偏移，其出現(xiàn)相位偏移的原因是光盤傾斜發(fā)生的彗形象差。以光盤在接線方向的傾斜度檢測的光束內(nèi)的光強度分布，在光點通過坑槽時呈現(xiàn)如圖21所示那樣的非對稱分布，這樣的非對稱分布發(fā)生在與信息磁道平行的方向上。
本實施形態(tài)的第1領(lǐng)域及第2領(lǐng)域，在與信息磁道平行的方向上是長的形狀，所以，在第1與第2領(lǐng)域，前述非對稱的光強度分布含量是不同的，導致信號S1與信號S2發(fā)生相位差。又，光盤傾斜為逆方向時，信號的相位偏移也產(chǎn)生在逆方向上，這與前述實施形態(tài)是一樣的。因此，光盤傾斜度檢測裝置259，通過檢測信號S1與S2的相位差，可檢測光盤傾斜度。
圖37是用來說明檢測信號S1與S2的方法之一例的圖。波形262是信號S1的微分波形，波形263是信號S2的微分波形，264是基準電壓。波形262及波形263，是在以基準電壓264為中心的正負方向上幾乎對稱變化的信號，所以，通過測定波形263與基準電壓264相交時的波形262的信號值，可得到按照2個微分波形的相位差方向發(fā)生正負變化的信號。這些微分波形的相位差與信號S1及信號S2的相位差對應，因此，這個信號就是光盤傾斜度檢測信號。
如上所述，按照本實施形態(tài)，對于形成坑槽的光盤，當光點通過坑槽時，透過對第1領(lǐng)域的檢測信號與第2領(lǐng)域的檢測信號的相位進行比較，可檢測光盤在接線方向上的傾斜度。
又，本實施形態(tài)是以坑槽形成信息磁道的，但以連續(xù)槽及坑槽形成的光盤也可以。主要是，信息磁道的全部或一部以坑槽形成就可。
又，如果將本發(fā)明的實施形態(tài)6至8表示的光學頭的半徑方向的傾斜檢測與實施形態(tài)11中表示的光學頭構(gòu)成的光盤的接線方向的傾斜檢測復合化，則不用在光學頭的外部設(shè)置專用的光盤傾斜度檢測器，就可檢測所有方向的光盤傾斜度。
又，本發(fā)明不限于前述實施形態(tài)的構(gòu)成，對于能夠?qū)z測跟蹤誤差信號用的受光裝置分成前述那樣形狀的第1領(lǐng)域及第2領(lǐng)域進行受光的構(gòu)成的光學頭，可容易地應用本發(fā)明。
又，在前述實施形態(tài)1至5，物鏡4相當于本發(fā)明的集光裝置，受光裝置8、30、47、54相當于本發(fā)明的受光裝置，跟蹤誤差信號檢測裝置9，55及58相當于本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置，光學裝置6、6’相當于本發(fā)明的衰減裝置。
又，光學裝置6中的光學功能領(lǐng)域11相當于本發(fā)明的減光領(lǐng)域，別的部分相當于非減光領(lǐng)域，光學裝置6’相當于本發(fā)明的分路裝置。又，受光裝置30中的受光單元34至37相當于本發(fā)明的受光單元的第1子受光領(lǐng)域部分。又，受光單元34至37相當于使本發(fā)明的輔助光束的光受光的部分。又，受光單元31，33相當于本發(fā)明的受光單元的第2子受光領(lǐng)域。又，受光單元31，33相當于使本發(fā)明的主光束的光受光的部分。
又，在受光裝置47，4分割受光單元49相當于使本發(fā)明的受光單元的主光束的光受光的部分，3分割受光單元48、50相當于本發(fā)明的受光單元的輔助光束的光受光的部分。又，受光領(lǐng)域48b、50b相當于本發(fā)明的第1子受光領(lǐng)域，受光領(lǐng)域48a、48c、50a、50c相當于本發(fā)明的第2子受光領(lǐng)域。
又，在受光單元54，受光單元72、73a、81a、81b、82a、82b、83a、83b相當于本發(fā)明的受光單元的第1子受光領(lǐng)域部分。又，受光單元70、73b、73c、80a、80b、83c、83d、83e、83f相當于本發(fā)明的受光單元的第2子受光領(lǐng)域的部分。
又，齒形標記107及108相當于本發(fā)明的一對標記。
又，在圖41中位置A，取樣點信號S，相當于通過第10的本發(fā)明的跟蹤誤差信號檢測裝置被采用、從一對標記一方的反射光束得到的前述受光信號，在圖41中位置B，取樣點信號S，相當于通過第10的本發(fā)明的跟蹤誤差信號檢測裝置被采用、從一對標記另一方的反射光束得到的前述受光信號。
又，在受光裝置54，受光單元56a、56b受光的受光信號，以及受光單元80a、81a、82a受光的受光信號，以及受光單元83a、83c、83e受光的受光信號相當于本發(fā)明的第1子受光信號，受光單元56c、56d受光的受光信號，以及受光單元80b、81b、82b、受光單元83b、83d、83f受光的受光信號相當于本發(fā)明的第2子受光信號。
在前述實施形態(tài)6至11，物鏡204相當于本發(fā)明的集光裝置，受光裝置208、237、257相當于本發(fā)明的受光裝置，跟蹤誤差信號檢測裝置211、211’相當于本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置，光盤傾斜度檢測裝置212、259相當于本發(fā)明的光盤傾斜度檢測裝置。
又，在受光裝置208，受光領(lǐng)域208f及208e相當于本發(fā)明的第1子受光領(lǐng)域，受光領(lǐng)域208a、208b、208c、208d相當于本發(fā)明的第2子受光領(lǐng)域。
又，在受光裝置237，受光領(lǐng)域239b及241b相當于本發(fā)明的第1子受光領(lǐng)域，受光領(lǐng)域239a、239c、241a、241c相當于本發(fā)明的第2子受光領(lǐng)域。
又，在受光裝置257，受光領(lǐng)域257b相當于本發(fā)明的第1子受光領(lǐng)域，受光領(lǐng)域257a、257c相當于本發(fā)明的第2子受光領(lǐng)域。
又，在受光裝置237及257，3分割受光單元239及241相當于使本發(fā)明的受光裝置的、2個輔助光束的光受光的部分，4分割受光單元240相當于使本發(fā)明的受光裝置的、至少2個輔助光束的光受光的部分。
又，取樣坑槽222及223的一組，是本發(fā)明的一對標記的一例。
又，在實施形態(tài)7，在通過取樣坑槽222的時刻取樣點的檢測信號，成為第21的本發(fā)明的、從一對標記的一方的反射光束得到的前述受光信號的一例，在通過取樣坑槽223的時刻取樣點的檢測信號，成為第21的本發(fā)明的、從一對標記的另一方的反射光束得到的前述受光信號的一例。
又，信號208a’、208e’、信號208d’是本發(fā)明的第1子受光信號的一例，信號208b’、208f’、信號208c’是本發(fā)明的第2子受光信號的一例。
又，跟蹤控制信號生成裝置253是本發(fā)明的跟蹤控制信號生成裝置的一例，跟蹤控制裝置234是本發(fā)明的跟蹤控制裝置的一例。
又，本發(fā)明，也可實現(xiàn)作為具有本發(fā)明的光學頭、在光盤中記錄信息用的光盤記錄裝置。
又，本發(fā)明，也可實現(xiàn)作為具有本發(fā)明的光學頭、從光盤中再生信息用的光盤再生裝置。
又，本發(fā)明，也可實現(xiàn)作為具有本發(fā)明的光學頭、在光盤中記錄或再生信息用的光盤記錄再生裝置。
又，本發(fā)明的光盤，以光學裝置進行信息的記錄或再生，但不以其構(gòu)成及型式為限制，還可列舉CD、CD-R、CD-RW、DVD、DVD-R、DVD-RW、DVD-ROM等例子。
如上所述，按照本發(fā)明，可抑制光盤傾斜產(chǎn)生的跟蹤誤差信號的相位偏移，實現(xiàn)跟蹤控制精度特別高的光學頭。
按照本發(fā)明，可實現(xiàn)不用專用的光盤傾斜度檢測器，不易受物鏡移動的影響，高精度的光盤半徑方向或接線方向的傾斜度檢測。又，即使光盤形狀存在差異，也能不會減低檢測精度地進行穩(wěn)定的檢測。
權(quán)利要求
1.一種光學頭，其特征在于，用于將信息記錄到光盤、及/或用于再生記錄于所述光盤上的信息，包括將進行信息的記錄或再生的主光束，以及作為檢測所述主光束對所述光盤的信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號檢測用光束的2束輔助光束集光于所述光盤的集光裝置，分別收受從所述光盤反射的反射光束的受光裝置，根據(jù)所述2束輔助光束的受光信號之差檢測跟蹤誤差信號的跟蹤誤差信號檢測裝置；所述受光裝置，具有將光束的中央部與周邊部分離、使所述2束輔助光束的反射光束分別受光的多個受光領(lǐng)域，使所述光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長邊的長度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長方形，配置中使其長邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號檢測裝置，通過電氣演算使所述光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號的收得量衰減、檢測所述跟蹤誤差信號，使所述光盤傾斜時產(chǎn)生的、相對所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號的相位偏移減低。
2.一種光學頭，其特征在于，用于將信息記錄于具有記錄信息的信息磁道、及離開前述信息磁道的接線方向規(guī)定距離、且與前述信息磁道垂直、在不同方向上相互距離相等處的至少一對標記的光盤，及/或用于再生記錄于所述光盤的信息，包括集光于所述光盤、生成光點的集光裝置，收受從所述光盤反射的反射光束的受光裝置，通過從所述受光裝置受光的信號檢測來自所述一對標記的反射光量之差、檢測所述光點與所述信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號檢測裝置；所述受光裝置，具有使所述反射光束的中央部與周邊部分離、受光的多個受光領(lǐng)域，使所述反射光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長邊的長度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長方形，配置中使其長邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號檢測裝置，通過使所述反射光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號的收得量衰減、檢測所述跟蹤誤差信號，使所述光盤傾斜時產(chǎn)生的、相對所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號的相位偏移減低。
3.一種光學頭，其特征在于，用于將信息記錄于具有記錄信息的信息磁道、及將前述信息磁道的導向槽斷續(xù)地切斷一部分，其間離開前述信息磁道的接線方向規(guī)定距離、且與前述信息磁道垂直、在不同方向上相互距離相等處的至少一對標記的光盤，及/或用于再生記錄于所述光盤的信息，包括集光于所述光盤、生成光點的集光裝置，收受從具有以平行于所述信息磁道的分割線分成的2個受光領(lǐng)域的所述光盤反射的反射光束的受光裝置，根據(jù)當所述光點通過所述導向槽時、及通過所述一對標記時在所述2個受光領(lǐng)域檢測到的信號之差檢測所述光點及所述信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號檢測裝置；所述受光裝置，還具有使所述反射光束的中央部與周邊部分離、受光的多個受光領(lǐng)域，使所述反射光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長邊的長度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長方形，配置中使其長邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號檢測裝置，通過使光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號的收得量衰減、檢測所述跟蹤誤差信號，使所述光盤傾斜時產(chǎn)生的、相對所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號的相位偏移減低。
4.一種光學頭，其特征在于，用于將信息記錄于具有記錄信息的信息磁道、及將前述信息磁道的導向槽斷續(xù)地切斷一部分，其間具有鏡面部的光盤，及/或用于再生記錄于所述光盤的信息，包括集光于所述光盤、生成光點的集光裝置，收受從具有以平行于所述信息磁道的分割線分成的2個受光領(lǐng)域的所述光盤反射的反射光束的受光裝置，根據(jù)當所述光點通過所述導向槽時、及通過所述鏡面部時在所述2個受光領(lǐng)域檢測到的信號之差檢測所述光點及所述信息磁道的位置偏移的跟蹤誤差信號檢測裝置；所述受光裝置，還具有使所述反射光束的中央部與周邊部分離、受光的多個受光領(lǐng)域，使所述反射光束的中央部受光的受光領(lǐng)域的形狀，呈現(xiàn)長邊的長度等于或大于入射到所述受光裝置的光束的直徑，短邊的長度短于入射到所述受光裝置的光束的直徑的略長方形，配置中使其長邊向著所述信息磁道的垂直方向，所述跟蹤誤差信號檢測裝置，通過使光束的中央部受光的所述受光領(lǐng)域的信號的收得量衰減、檢測所述跟蹤誤差信號，使所述光盤傾斜時產(chǎn)生的、相對所述信息磁道位置的所述跟蹤誤差信號的相位偏移減低。
5.一種光盤記錄裝置，其特征在于，包括權(quán)利要求1至4中的任一項的本發(fā)明的光學頭。
6.一種光盤再生裝置，其特征在于，包括權(quán)利要求1至4中的任一項的本發(fā)明的光學頭。
7.一種光盤記錄再生裝置，其特征在于，包括權(quán)利要求1至4中的任一項的本發(fā)明的光學頭。
全文摘要
光盤由于在其半徑方向傾斜時發(fā)生的彗形象差的影響引起跟蹤信號產(chǎn)生相位偏移，使跟蹤控制的精度減低。在光學頭中設(shè)置集光于光盤的物鏡(4)、收受從光盤反射的反射光束、獲得受光信號的受光裝置(8)、從受光信號中檢測跟蹤誤差信號的跟蹤誤差信號檢測裝置(9)、以及使入射到受光裝置(8)的反射光束中、用于檢測跟蹤誤差信號的跟蹤誤差信號檢測用光束的中央部的領(lǐng)域的光量衰減的光學裝置(6)。
文檔編號G11B7/095GK1725318SQ20051008146
公開日2006年1月25日 申請日期2001年6月22日 優(yōu)先權(quán)日2000年6月26日
發(fā)明者荒井昭浩, 林卓生, 中村徹, 永田貴之 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社