專利名稱：記錄控制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)于一種光驅(qū)控制方法；尤其指在光驅(qū)在記錄功能方面的控制方法。
背景技術(shù)：
由于電子化信息時代的來臨，對于具有高容量的便攜式數(shù)字存儲媒體的需求也與日俱增，早期普遍被使用的軟盤(floppy disk)所能提供的存儲容量已不敷需求。因此，具有高存儲容量、便于攜帶等特性的光學(xué)存儲媒體及存儲裝置便迅速地被廣泛使用，如光驅(qū)(CD-ROM drive)、記錄機(CD-R drive，DVD-R driver)及LD(Laser Disc)播放器等。
在所述的光學(xué)存儲媒體中，數(shù)字數(shù)據(jù)均是被記錄在一圓盤狀的光盤(Optical Disk)上，此種光盤上具有成同心螺旋狀的數(shù)據(jù)軌(InformationTrack)，數(shù)字數(shù)據(jù)即利用在數(shù)據(jù)軌上形成具有不同光學(xué)反差(OpticalContrast)性質(zhì)的區(qū)段加以記錄。在數(shù)據(jù)軌上讀取或?qū)懭霐?shù)據(jù)時，光驅(qū)或記錄機會將光盤旋轉(zhuǎn)，并利用光學(xué)讀寫頭(pick up head)的透鏡(lens)在數(shù)據(jù)軌上投射及吸收光束(light beam)而進行數(shù)據(jù)的讀取或?qū)懭搿?br> 在記錄光存儲媒體(optical storage medium)，諸如光盤(compact disk，CD)、可擦寫光盤(CD-RW)、數(shù)字激光視盤(digital versatile disk，DVD)、可擦寫數(shù)字激光視盤(DVD-RW，DVD+RW，DVD-RAM)以及超級聲音光盤(superaudio compact disk，SACD)時，若進行記錄的光驅(qū)被碰撞或是被搖晃時，光驅(qū)內(nèi)的光學(xué)傳感器可檢測出讀寫頭與光盤上的數(shù)據(jù)軌相對位置偏差，進而產(chǎn)生出跟蹤誤差信號(Tracking Error，TE)或聚焦誤差信號(Focus Error，F(xiàn)E)。一般來說，跟蹤誤差信號是來自于光驅(qū)水平的晃動，而聚焦誤差信號是來自垂直(上下)的晃動。為了避免晃動時記錄到其它數(shù)據(jù)軌，造成光盤壞軌，此時光驅(qū)會暫停記錄。
但當(dāng)欲記錄的空白光盤上有缺陷(defect)時，同樣會產(chǎn)生跟蹤誤差信號或聚焦誤差信號，因此導(dǎo)致誤判光驅(qū)臺發(fā)生振動(shock)的情形，甚至因而暫時停止記錄。事實上，光盤上有些微缺陷仍繼續(xù)記錄并不影響記錄結(jié)果。但若因光盤缺陷而停止記錄，則會延長記錄數(shù)據(jù)所花費的時間。

發(fā)明內(nèi)容
為了辨別聚焦誤差信號及/或跟蹤誤差信號的抖動是來自系統(tǒng)振動或是光盤缺陷，本發(fā)明提出有效區(qū)分其差異的方法。
本發(fā)明提出一種記錄控制方法，用以控制一讀寫頭是否將數(shù)據(jù)記錄于一光盤上。此記錄控制方法包括檢測一狀態(tài)信號的幅值是否發(fā)生改變；以及當(dāng)檢測到所述狀態(tài)信號的幅值發(fā)生改變時，在一特定時間內(nèi)，若一射頻電平信號在所述特定時間內(nèi)幅值改變范圍大于或等于所述特定范圍，則判斷為系統(tǒng)振動，并發(fā)出一記錄中斷信號。
在本發(fā)明的一實施例中，所述狀態(tài)信號可為聚焦誤差信號或為跟蹤誤差信號。當(dāng)所述聚焦誤差信號或跟蹤誤差信號的幅值大于0.1伏特以上時，觀察特定時間內(nèi)所述射頻電平信號的幅值是否亦改變大于或等于1伏特以上。若所述射頻電平信號的幅值改變大于或等于1伏特以上，則判斷為系統(tǒng)振動，并發(fā)出一記錄中斷信號。
為使本發(fā)明的所述目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉一較佳實施例，并配合附圖，詳細說明如下


圖1表示依據(jù)本發(fā)明實施例的記錄機控制系統(tǒng)的示意圖。
圖2表示光盤與射頻電平信號的相對關(guān)系示意圖。
圖3表示感光器件內(nèi)部主要光束與次要光束的配置示意圖。
圖4a表示記錄模式下記錄機臺振動時，聚焦/跟蹤誤差信號與射頻電平信號的時序圖。
圖4b表示記錄模式下光盤有缺陷時，聚焦/跟蹤誤差信號與射頻電平信號的時序圖。
圖5表示依據(jù)本發(fā)明實施例的記錄控制方法的流程圖。
符號說明10～記錄機控制系統(tǒng)的示意圖；11～光盤；13～讀寫頭；131～光學(xué)傳感器；15～微調(diào)器；TE～跟蹤誤差信號；FE～聚焦誤差信號；17～射頻電路；RF LvL～射頻電平信號19～控制器；A、B、C、D、E、F、G、H～感光器件具體實施方式
圖1表示依據(jù)本發(fā)明實施例的記錄機控制系統(tǒng)10的示意圖。光盤11具有多個螺旋狀的數(shù)據(jù)軌道。微調(diào)器15根據(jù)讀寫頭13的光學(xué)傳感器131所傳回的信號判斷讀寫頭13所發(fā)出的激光與數(shù)據(jù)軌中心的位置偏差量，而產(chǎn)生跟蹤誤差信號(Tracking Error Signal，TE)及聚焦誤差信號(Focus ErrorSignal，F(xiàn)E)。射頻電路17亦根據(jù)光學(xué)傳感器131的輸出產(chǎn)生一射頻電平信號RF LvL，并將此射頻電平信號傳至控制器19。
光學(xué)傳感器接收光盤的反射光線后，經(jīng)射頻放大器轉(zhuǎn)換為射頻電平信號。圖2表示光盤與射頻電平信號的相對關(guān)系示意圖。若光盤為正常無缺陷的情形下，此射頻電平信號會維持一高電平(H)。但當(dāng)讀寫頭讀/寫到一缺陷(defect)區(qū)域時，由于光盤無法正常反射激光，故此射頻電平信號的電壓會下降為低電平(L)。高低電平的電壓可根據(jù)實驗求得，或根據(jù)預(yù)設(shè)電壓決定。
射頻電平信號可為來自光學(xué)傳感器131的感光器件主要光束(main beam)或次要光束(side beam)。圖3表示光學(xué)傳感器內(nèi)的感光器件內(nèi)部主要光束與次要光束的配置示意圖。由A、B、C、D等四個感光器件接收到的反射光線稱為主要光束，而由E、F、G、H等四個感光器件接收到的反射光線則稱為次要光束。在本實施例中，以次要光束的強度總和送入射頻電路17以產(chǎn)生射頻電平信號。在其它的實施例中，亦可根據(jù)主要光束強度的總和送入射頻電路，以產(chǎn)生射頻電平信號。
此外，微調(diào)器可根據(jù)A、C兩感光器件接收到的反射光線強度的總和產(chǎn)生聚焦誤差信號，而根據(jù)B、C兩感光器件接收到的反射光線強度的總和產(chǎn)生跟蹤誤差信號。
圖4a表示記錄模式下記錄機臺振動時，聚焦/跟蹤誤差信號與射頻電平信號的時序圖。當(dāng)記錄系統(tǒng)10振動(shock)，造成聚焦誤差或跟蹤誤差信號的電平上下偏移0.1伏特以上。由于射頻電平信號是反射光線的總和，故不會隨著記錄機臺振動而改變電平?？刂破?9根據(jù)射頻電平信號判斷出此次聚焦或跟蹤誤差信號的波動是來自記錄機臺振動，故送出記錄中斷脈沖信號，以通知讀寫頭暫停記錄。由于記錄機臺振動時，讀寫頭可能會將數(shù)據(jù)寫入其它的數(shù)據(jù)軌，造成此光盤在此處無法讀取，故必須于記錄機臺振動時暫停記錄。在本實施例中，當(dāng)聚焦/跟蹤誤差信號改變電平時，控制器即檢測在此50微秒(us)內(nèi)射頻電平信號的電平改變有無超過1伏特。若無的話，則控制器判斷為控制系統(tǒng)10振動。值得注意的是，所述的聚焦誤差或跟蹤誤差信號的位移、檢測時間等的數(shù)據(jù)不限定本實施例所提的范圍，其數(shù)值可隨各個系統(tǒng)執(zhí)行環(huán)境不同而調(diào)整。
圖4b表示記錄模式下光盤有缺陷時，聚焦/跟蹤誤差信號與射頻電平信號的時序圖。當(dāng)光盤上有水漬、指紋、貼紙等缺陷造成聚焦誤差或跟蹤誤差信號的電平上下偏移0.1伏特以上時，射頻電平信號的電平亦跟著下降?？刂破?9根據(jù)射頻信號的電平判斷出此次聚焦或跟蹤誤差信號的波動是來自光盤缺陷，故不發(fā)出記錄中斷脈沖信號，使讀寫頭繼續(xù)記錄。在本實施例中，當(dāng)聚焦/跟蹤誤差信號改變電平時，控制器即檢測在50微秒(us)內(nèi)射頻電平信號的電平改變有無超過1伏特。若有的話，則控制器判斷為光盤缺陷。同樣的，所述的聚焦或跟蹤誤差信號的位移、檢測時間等的數(shù)據(jù)不限定本實施例所提的范圍，其數(shù)值可隨各個系統(tǒng)執(zhí)行環(huán)境不同而調(diào)整。由于本實施例中可依據(jù)聚焦誤差或跟蹤誤差信號的電平以及射頻信號的電平為準，故可判斷出系統(tǒng)目前的狀況為振動或是盤缺陷。
圖5表示依據(jù)本發(fā)明實施例的記錄控制方法的流程圖。首先在步驟S501中，檢測記錄狀態(tài)信號是否發(fā)生改變。在本實施例中，以聚焦誤差信號或跟蹤誤差信號來當(dāng)做記錄狀態(tài)信號。當(dāng)檢測記錄狀態(tài)信號有改變時，表示此時系統(tǒng)發(fā)生振動或是欲記錄的光盤有缺陷。隨即觀察射頻電平信號在50us內(nèi)是否有變動，如步驟S502。在本實施例中，射頻電平信號可為來感光器件接收的主要光束或次要光束。
若在步驟S502中，射頻電平信號在50us有變動的話，則進入到步驟S503。步驟中判斷聚焦誤差信號或跟蹤誤差信號的波動是由光盤缺陷所引起的，故使光學(xué)讀寫頭繼續(xù)記錄。
若在步驟S502中，射頻電平信號在50us內(nèi)沒有變動的話，則進入到步驟S504。步驟S504判斷聚焦誤差信號或跟蹤誤差信號的波動是源于系統(tǒng)振動，于是發(fā)出記錄中斷脈沖信號，并使系統(tǒng)暫停記錄。
在本發(fā)明中，可以判斷出聚焦/誤差跟蹤信號振動的成因。若為系統(tǒng)振動，則可暫停記錄；若為光盤缺陷時，由于此時暫停記錄也不能改善光盤上有缺陷的事實，故缺陷不大時，本發(fā)明提供的系統(tǒng)及方法可使記錄系統(tǒng)繼續(xù)記錄，以縮短記錄所需時間。雖然，記錄數(shù)據(jù)于有缺陷的盤可能造成數(shù)據(jù)某種程度上毀損，但輕微的數(shù)據(jù)毀損可由后端的錯誤更正碼處理器補回缺失的數(shù)據(jù)。
本發(fā)明雖以優(yōu)選實施例公開如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可進行更動與修改，因此本發(fā)明的保護范圍以所提出的權(quán)利要求所限定的范圍為準。
權(quán)利要求
1.一記錄控制方法，用以控制一讀寫頭是否將數(shù)據(jù)記錄于一盤上，包括檢測一狀態(tài)信號的幅值是否發(fā)生改變；當(dāng)檢測到所述狀態(tài)信號的幅值發(fā)生改變時，在一特定時間內(nèi)，若一射頻電平信號在所述特定時間內(nèi)幅值改變范圍小于一特定范圍，則判斷為一系統(tǒng)振動，并發(fā)出一記錄中斷信號；及當(dāng)所述射頻電平信號在所述特定時間內(nèi)幅值改變范圍大于或等于所述特定范圍，則判斷所述狀態(tài)信號的幅值改變?yōu)樗霰P缺陷所引起，且不發(fā)出記錄中斷信號。
2.如權(quán)利要求1所述的記錄控制方法，其中發(fā)出所述記錄中斷信號的步驟代表判斷所述狀態(tài)信號的幅值改變?yōu)橐幌到y(tǒng)振動所引起，并根據(jù)所述記錄中斷信號暫停記錄。。
3.如權(quán)利要求1所述的記錄控制方法，若判斷為盤缺陷則繼續(xù)記錄。
4.如權(quán)利要求1所述的記錄控制方法，其中檢測所述狀態(tài)信號的幅值是否發(fā)生改變的步驟是指檢測一跟蹤誤差信號(TE)的幅值是否發(fā)生改變。
5.如權(quán)利要求4所述的記錄控制方法，其中當(dāng)所述跟蹤誤差信號幅值改變小于一變動范圍時，則視為所述跟蹤誤差信號(TE)的幅值未發(fā)生改變。
6.如權(quán)利要求5所述的記錄控制方法，其中所述變動范圍為0.1伏特。
7.一記錄控制方法，用以控制一讀寫頭是否將數(shù)據(jù)記錄于一盤上，包括檢測一狀態(tài)信號的幅值是否發(fā)生改變；及當(dāng)檢測到所述狀態(tài)信號的幅值發(fā)生改變時，在一特定時間內(nèi)，若一射頻電平信號在所述特定時間內(nèi)幅值改變范圍大于一特定范圍，則判斷為光盤缺陷，且繼續(xù)記錄。
8.如權(quán)利要求7所述的記錄控制方法，其中所述特定范圍為1伏特。
9.如權(quán)利要求7所述的記錄控制方法，其中所述射頻電平信號為所述讀寫頭的感光器件接收到的主要光束所產(chǎn)生。
10.如權(quán)利要求7所述的記錄控制方法，其中所述射頻電平信號為所述讀寫頭的感光器件接收到的次要光束所產(chǎn)生。
全文摘要
本發(fā)明提出一種記錄控制方法，用以控制讀寫頭是否將數(shù)據(jù)記錄于光盤上。此記錄控制方法包括檢測狀態(tài)信號的幅值是否發(fā)生改變；以及當(dāng)檢測到狀態(tài)信號的幅值發(fā)生改變時，在特定時間內(nèi)，若射頻電平信號在特定時間內(nèi)幅值改變范圍小于特定范圍，則判斷為系統(tǒng)振動，并發(fā)出記錄中斷信號。
文檔編號G11B33/00GK1783283SQ20051011813
公開日2006年6月7日 申請日期2005年10月20日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月20日
發(fā)明者朱斯廉 申請人:威盛電子股份有限公司