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      光盤(pán)制造方法

      文檔序號(hào):6759302閱讀:212來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:光盤(pán)制造方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及用于將兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的粘合型光盤(pán)用的光盤(pán)制造方法。
      背景技術(shù)
      一般說(shuō)來(lái),諸如數(shù)字視頻媒體(DVD媒體)等的光盤(pán)是由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的粘合型光盤(pán)。即是,目前使用的數(shù)字視頻媒體光盤(pán)是由諸如0.6mm厚的兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的,下一代的數(shù)字視頻媒體光盤(pán)預(yù)計(jì)是通過(guò)兩個(gè)為0.1mm厚和1.1mm厚的基板粘合而形成的。
      舉例來(lái)說(shuō),對(duì)兩個(gè)光盤(pán)基板實(shí)施粘合的技術(shù)已經(jīng)在日本特開(kāi)平05-20714號(hào)公報(bào)(專利文獻(xiàn)1)中公開(kāi)。下面參考圖1至圖4,對(duì)這一技術(shù)進(jìn)行說(shuō)明。
      正如圖1和圖2所示,可以將一對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101、102相對(duì)配置,并且將需要實(shí)施粘合處理的兩個(gè)光盤(pán)基板103、104通過(guò)真空吸附方式相對(duì)這兩個(gè)轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101、102實(shí)施固定。位于下側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101可以通過(guò)電動(dòng)機(jī)105實(shí)施轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng),位于上側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)102可以通過(guò)上下移動(dòng)機(jī)構(gòu)106上下自由移動(dòng)。而且,可以通過(guò)旋轉(zhuǎn)涂布裝置107,向固定在上下側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101、102處的兩個(gè)光盤(pán)基板103、104之間供給粘接劑。在旋轉(zhuǎn)涂布裝置107處設(shè)置有具有噴嘴108的配置器109,這種配置器109按照使噴嘴108的前端部可以沿固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101、102處的兩個(gè)光盤(pán)基板103、104的半徑方向自由移動(dòng)的方式實(shí)施著支撐。
      如圖3所示,旋轉(zhuǎn)涂布裝置107可以使相對(duì)噴嘴108供給粘接劑的粘接劑路徑110和供給壓縮空氣的壓縮空氣路徑111,在配置器109的正前方合并。粘接劑路徑110可以經(jīng)由收裝在加壓箱112內(nèi)的粘接劑供給容器113,三通閥114,過(guò)濾器115,球閥116和針孔閥117到達(dá)空氣閥118處,并且在此處與壓縮空氣路徑111合并。壓縮空氣路徑111由壓縮空氣的供給源通過(guò)電磁閥119到達(dá)空氣閥118,并且在此處與粘接劑路徑110合并。
      采用這種構(gòu)成形式,可以通過(guò)將粘接劑路徑110中的三通閥114和壓縮空氣路徑111中的電磁閥119等打開(kāi)的方式,將壓縮空氣和粘接劑一并供給至配置器109,進(jìn)而使粘接劑由噴嘴108處排出。在這時(shí),可以通過(guò)調(diào)節(jié)空氣閥118的方式,改變供給至配置器109處的壓縮空氣的壓力,進(jìn)而對(duì)由噴嘴108排出的粘接劑量實(shí)施調(diào)節(jié)。而且,可以采用電氣控制的電磁閥作為上述的空氣閥118。
      下面參考圖4,對(duì)使用這種制造裝置對(duì)兩個(gè)光盤(pán)基板103、104實(shí)施粘合的工序進(jìn)行說(shuō)明。將噴嘴108插入至固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101、102處的兩個(gè)光盤(pán)基板103、104之間,使其前端部位于光盤(pán)基板103的中央部附近。在這種狀態(tài)下,在由噴嘴108處排出諸如紫外線硬化樹(shù)脂120等粘接劑的同時(shí),轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)下側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101。這樣,便可以在下側(cè)的光盤(pán)基板103的中央部附近,呈圓周狀涂布紫外線硬化樹(shù)脂120(參見(jiàn)圖4A)。
      隨后,通過(guò)上下移動(dòng)機(jī)構(gòu)106使位于上側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)102下降,將位于上側(cè)的光盤(pán)基板104與下側(cè)的光盤(pán)基板103重合(參見(jiàn)圖4B)。由電動(dòng)機(jī)105的驅(qū)動(dòng)力轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)下側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101,這樣使上側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)102產(chǎn)生追隨轉(zhuǎn)動(dòng)。這時(shí),夾在兩個(gè)光盤(pán)基板103、104之間的紫外線硬化樹(shù)脂120將朝外側(cè)周部擴(kuò)散(參見(jiàn)圖4C)。在該擴(kuò)散范圍到達(dá)規(guī)定位置處時(shí),停止轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101、102的轉(zhuǎn)動(dòng)。
      在這種狀態(tài)下,待機(jī)至由紫外線硬化樹(shù)脂120構(gòu)成的粘接劑擴(kuò)散至兩個(gè)光盤(pán)基板103、104的外側(cè)周部端面處(參見(jiàn)圖4D)。在達(dá)到如圖4D所示的狀態(tài),由紫外線照射燈121照射出紫外線光束,對(duì)紫外線硬化樹(shù)脂120實(shí)施硬化處理。通過(guò)這種方式,可以制作出對(duì)兩個(gè)光盤(pán)基板103、104實(shí)施粘合而形成的粘合型光盤(pán)122。
      圖5為舉例表示粘合型光盤(pán)122的平面圖。圖6為表示對(duì)位于其中央部的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域?qū)嵤┓糯蟛⑹购穸茸冃蔚目v剖側(cè)面圖。粘合型光盤(pán)122包含占其大部分面積的信息區(qū)域123,以及位于中央部的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124。
      該內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124為從在光盤(pán)122中央部處的中心孔125至信息區(qū)域123間形成的區(qū)域,其中包含有模槽區(qū)域126。這種模槽區(qū)域126,是由在制造光盤(pán)基板103、104時(shí)所必然生成的模槽127所形成的區(qū)域。
      下面以舉例形式,對(duì)作為粘合型光盤(pán)122典型實(shí)例的數(shù)字視頻媒體光盤(pán)的各部分尺寸進(jìn)行說(shuō)明。數(shù)字視頻媒體的外側(cè)直徑為120mm,厚度為1.2mm,中心孔125為15mm,模槽區(qū)域126形成在由中心起至直徑為22mm左右的位置處。諸如紫外線硬化樹(shù)脂120等構(gòu)成的粘接劑以下述狀態(tài)存在。即粘接劑通過(guò)在兩個(gè)光盤(pán)基板103、104的大約整個(gè)表面處延展的方式而存在于數(shù)字視頻媒體光盤(pán)中,一般說(shuō)來(lái)通常需要一直延展至模槽區(qū)域126的正前方位置處,而且在從模槽區(qū)域126至所述中心孔125間的位置處,往往存在有粘接劑未能到達(dá)的空氣層128。
      在這種包含有空氣層128的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124中,往往存在有由于由諸如紫外線硬化樹(shù)脂120等構(gòu)成的粘接劑的延展?fàn)顩r而使外觀不良的情況。這種外觀不良不會(huì)導(dǎo)致記錄在數(shù)字視頻媒體光盤(pán)的信息區(qū)域123處的信息出現(xiàn)不良,只不過(guò)是一種用肉眼即可以發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題。但是,這在數(shù)字視頻媒體光盤(pán)作為商品銷售時(shí),會(huì)降低其商品價(jià)值。由于這種原因,內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處出現(xiàn)外觀不良的數(shù)字視頻媒體光盤(pán),通常要作為次品處理。
      如圖5和圖6所示,在內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處的外觀不良狀態(tài)形式為粘接劑未到達(dá)作為目標(biāo)位置的模槽區(qū)域126為延展不足A,一直進(jìn)入至模槽區(qū)域126處為延展過(guò)度B,粘接劑出現(xiàn)部分缺落為延展氣泡C等。
      在這種光盤(pán)122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124是否有外觀不良,需要在光盤(pán)122制作完成之后進(jìn)行檢查。實(shí)施這種檢查最常用的方式是通過(guò)人的肉眼實(shí)施確認(rèn)的方式。然而,不論是光盤(pán)122中的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124,還是延展至該內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處的紫外線硬化樹(shù)脂120,通常均是透明的。因此,往往難以通過(guò)肉眼對(duì)內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處是否出現(xiàn)外觀不良作出判斷。由于這一原因,目前已有利用諸如電荷耦合型照相機(jī)(CCD照相機(jī))等等的照相裝置,對(duì)光盤(pán)122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124實(shí)施照相以對(duì)外觀不良實(shí)施自動(dòng)判斷的光盤(pán)檢查裝置的方案。
      圖7為表示這種光盤(pán)檢查裝置的一例的側(cè)面圖。這種光盤(pán)檢查裝置是利用設(shè)置在光盤(pán)支撐臺(tái)201處的中心輪轂202,對(duì)作為檢查對(duì)象的光盤(pán)122實(shí)施定位。從實(shí)施這種定位處理后的光盤(pán)122的正上方由電荷耦合型照相機(jī)(CCD照相機(jī))203對(duì)光盤(pán)122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124作為檢查區(qū)域204進(jìn)行照相。在這時(shí),光盤(pán)122中的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124,以及延展至該內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處的紫外線硬化樹(shù)脂120均是透明的,所以區(qū)別它們困難。由于這一原因,還需要使用照明部件205對(duì)光盤(pán)122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124實(shí)施照明。
      然而,由于光盤(pán)122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124近似于鏡面,所以在由電荷耦合型照相機(jī)(CCD照相機(jī))203的照相圖象中,照明部件205的虛象205a也會(huì)進(jìn)入至圖象中。在這種光盤(pán)122的檢查區(qū)域204中照明裝置205所進(jìn)入的局部范圍將會(huì)出現(xiàn)明亮部分205c。因此,存在有電荷耦合型照相機(jī)(CCD照相機(jī))203的圖象輸出信號(hào)不均勻的問(wèn)題。
      可以對(duì)光盤(pán)122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124的外觀不良實(shí)施自動(dòng)判定的其他光盤(pán)檢查裝置,例如在日本特開(kāi)平11-328756號(hào)公報(bào)(專利文獻(xiàn)2)和日本特開(kāi)2000-162147號(hào)公報(bào)(專利文獻(xiàn)3)中公開(kāi)。
      在上述日本特開(kāi)平11-328756號(hào)公報(bào)(專利文獻(xiàn)2)中,公開(kāi)了通過(guò)照相機(jī)對(duì)利用輝度均勻的面光源從下側(cè)實(shí)施照明的光盤(pán)圖象實(shí)施照相,并且通過(guò)該圖象的象素明亮度判定粘接劑是否出現(xiàn)延展不良的技術(shù)。
      另外,在上述日本特開(kāi)2000-162147號(hào)公報(bào)(專利文獻(xiàn)3)中,公開(kāi)了從上側(cè)使用由半透鏡和穹型照明部件構(gòu)成的照明裝置對(duì)光盤(pán)實(shí)施照射,并依據(jù)對(duì)光盤(pán)內(nèi)側(cè)周部照相獲得的圖象數(shù)據(jù)對(duì)粘接狀態(tài)良好與否實(shí)施判定的技術(shù)。

      發(fā)明內(nèi)容
      對(duì)光盤(pán)內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域的外觀不良實(shí)施自動(dòng)判定的光盤(pán)檢查裝置需要具有的性能首要的就是可以對(duì)光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻恼彰鳎纱丝梢垣@得該檢查區(qū)域的均勻照相圖象。這是對(duì)光盤(pán)內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域的外觀不良實(shí)施自動(dòng)判定所不可缺少的性能。
      對(duì)此,本申請(qǐng)的發(fā)明人對(duì)前述的日本特開(kāi)平11-328756號(hào)公報(bào)(專利文獻(xiàn)2)中公開(kāi)的裝置進(jìn)行實(shí)驗(yàn)的結(jié)果難以獲得由于粘接劑存在與否所產(chǎn)生的明暗差異。這一結(jié)果表明,該技術(shù)難以用來(lái)對(duì)光盤(pán)內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域的外觀不良實(shí)施自動(dòng)的判定。
      而且,目前對(duì)光盤(pán)內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域的外觀不良實(shí)施自動(dòng)判定的光盤(pán)檢查裝置需要具有的其他性能中,確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有某程度的工作距離也是非常重要的。舉例來(lái)說(shuō),在用機(jī)械手往光盤(pán)檢查裝置上安裝光盤(pán)時(shí),這一工作距離為確保機(jī)械手移動(dòng)空間所需要的。
      特別是,如果能夠確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有某程度的工作距離,在如圖1和圖2所表示的對(duì)兩個(gè)光盤(pán)基板實(shí)施粘合操作的光盤(pán)制造裝置是可以在安裝光盤(pán)時(shí)對(duì)其內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域的外觀不良實(shí)施自動(dòng)判定的。然而如果要作到這一點(diǎn),光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離需要10cm以上。
      對(duì)此,由上述的日本特開(kāi)2000-162147號(hào)公報(bào)(專利文獻(xiàn)3)公開(kāi)的裝置,采用的是使用半透鏡對(duì)光盤(pán)實(shí)施照明的構(gòu)造,所以半透鏡的高度必然占據(jù)一定高度,所以難以確保光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離為10cm以上。換句話說(shuō)就是,如果使這種裝置的工作距離為10cm以上,必然會(huì)使整個(gè)裝置的高度過(guò)高,從而會(huì)出現(xiàn)光盤(pán)檢查裝置大型化的問(wèn)題。
      而且,在如圖1和圖2所表示的對(duì)兩個(gè)光盤(pán)基板實(shí)施粘合操作的光盤(pán)制造裝置,對(duì)于對(duì)在安裝光盤(pán)時(shí)并對(duì)其內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域的外觀不良實(shí)施自動(dòng)判定時(shí),難以采用如日本特開(kāi)平11-328756號(hào)公報(bào)(專利文獻(xiàn)2)中所公開(kāi)的從光盤(pán)的下側(cè)對(duì)其檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯募夹g(shù)。
      本發(fā)明的目的就是提供一種可以對(duì)這種光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域的外觀不良實(shí)施自動(dòng)判定的光盤(pán)檢查裝置,這種光盤(pán)檢查裝置可以確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有某程度的工作距離,并且可以對(duì)整個(gè)規(guī)定的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻恼彰鳌?br> 為了能夠?qū)崿F(xiàn)上述目的,本發(fā)明第一方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查裝置,其具有以位置不動(dòng)方式對(duì)作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)實(shí)施支撐的光盤(pán)支撐臺(tái);環(huán)狀照明裝置,其具有光源和從從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰?;照相裝置,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障?;?dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足
      S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,對(duì)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。因此,可以?duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第二方面,是在第一方面所述的光盤(pán)檢查裝置上,對(duì)所述光盤(pán)支撐臺(tái)上至少與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚怼?br> 采用這種構(gòu)成形式,可以降低與光盤(pán)支撐臺(tái)上的光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的區(qū)域的光反射率,從而可以降低光盤(pán)中檢查區(qū)域的光反射率,可對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施更高精度的檢查。
      本發(fā)明第三方面,是在第一方面所述的光盤(pán)檢查裝置上,由發(fā)光二極管(LED)作為用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度,確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且,采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性,所以可以對(duì)光盤(pán)上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第四方面,是在第三方面所述的光盤(pán)檢查裝置上,所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向。
      采用這種構(gòu)成形式,可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸,并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此,可以確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。
      本發(fā)明第五方面,是在第一方面所述的光盤(pán)檢查裝置上,用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以采用價(jià)格低廉的照明裝置對(duì)光盤(pán)上的整個(gè)檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
      本發(fā)明第六方面,是在第五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有對(duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。
      彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處,輝度會(huì)急劇下降,這一部分會(huì)使對(duì)光盤(pán)檢查區(qū)域的照明均勻度下降,產(chǎn)生不均勻現(xiàn)象,進(jìn)而會(huì)使由照相裝置.給出的照相圖象也不均勻。針對(duì)這種情況,通過(guò)對(duì)如上所述的照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施陰影修正的方式,可以獲得與對(duì)光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果,從而可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。
      本發(fā)明第七方面,是在第一方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有將所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)在顯示器上顯示輸出的監(jiān)視裝置。
      采用這種構(gòu)成形式,可以通過(guò)觀察顯示器,對(duì)光盤(pán)上檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施觀察,從而可以容易實(shí)施判定其良好與否的作業(yè)。
      本發(fā)明第八方面,是在第七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有利用某一閾值對(duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理的二值化處理裝置,在所述監(jiān)視裝置將二值化處理后的所述圖象輸出信號(hào)顯示輸出在顯示器上。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以使在顯示器處顯示的圖象成為白黑二值化處理后的圖象,并且使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示。這樣,還可以使光盤(pán)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量一目了然,從而可以更容易實(shí)施判定其良好與否的作業(yè)。
      本發(fā)明第九方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查方法,其具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的工序;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?;使用其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的照相裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば颍划?dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)
      L2>S2×(1+LD/HD)。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,對(duì)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。因此,可以?duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第十方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查方法,其具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的工序;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば颍煌ㄟ^(guò)將所述光盤(pán)反轉(zhuǎn)成凹形狀,縮小與所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑大小相關(guān)出現(xiàn)在所述光盤(pán)檢查區(qū)域的內(nèi)徑側(cè)處的影象直徑,由此將該影象由所述光盤(pán)的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)去除的工序;使用其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的照相裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば颉?br> 采用這種構(gòu)成形式,可以不將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光投射在光盤(pán)的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè),所以即使該區(qū)域生成有影象,也可以通過(guò)使光盤(pán)反轉(zhuǎn)或凹形狀而使該影象縮小,由此可以將該影象從光盤(pán)的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)除去。采用這種方式,在光盤(pán)的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)也可以對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。
      本發(fā)明第十一方面,是一種光盤(pán)制造方法,其具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包含向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。
      另外,在所述檢查工序使用第九方面或第十方面所述的光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。
      采用這種構(gòu)成形式,在采用第九方面所述的光盤(pán)檢查方法在對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查時(shí),可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在由光盤(pán)形成工序形成的光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,對(duì)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰鳌R虼?,可以?duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      采用這種構(gòu)成形式,在采用第十方面所述的光盤(pán)檢查方法在對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查時(shí),可以不將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光投射在通過(guò)光盤(pán)形成工序形成的光盤(pán)的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè),所以即使該區(qū)域生成有影象,也可以通過(guò)使光盤(pán)反轉(zhuǎn)或凹形狀而使該影象縮小,由此可以將該影象從光盤(pán)的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)除去。采用這種方式,在光盤(pán)的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)也可以對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。
      本發(fā)明第十二方面,是在第十一項(xiàng)所述的光盤(pán)制造方法中,還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實(shí)施判定的良好與否判定工序;在依據(jù)所述良好與否判定工序判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時(shí)可以對(duì)出現(xiàn)這種不良的所述光盤(pán)實(shí)施甄選的甄選工序。
      采用這種構(gòu)成形式,可以通過(guò)實(shí)施甄選工序,對(duì)出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤(pán)實(shí)施甄選作業(yè)。
      本發(fā)明第十三方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第九或第十方面所述的光盤(pán)檢查方法對(duì)所述粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。
      采用這種構(gòu)成形式,可以獲得對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查的光盤(pán)。
      本發(fā)明第十四方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第九或第十方面所述的光盤(pán)檢查方法對(duì)所述粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,并且依據(jù)該檢查結(jié)果,按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良的方式實(shí)施甄選。
      采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查,并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果得到實(shí)施甄選作業(yè)后的光盤(pán)。
      本發(fā)明第十五方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查裝置,其具有以位置不動(dòng)方式對(duì)作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)實(shí)施支撐的光盤(pán)支撐臺(tái);環(huán)狀照明裝置,其具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰?;照相裝置,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障?;而且還具有檢查機(jī)構(gòu),當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD);二值化處理裝置,其利用某一閾值對(duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理;良好與否判定裝置,其將白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)與某上下閾值進(jìn)行比較,以判定該檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,對(duì)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且,可以?duì)由照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理,使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確分離。采用這種方式,還可以通過(guò)使與光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的圖象輸出信號(hào)與某上下閾值進(jìn)行比較,對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      利用良好與否判定裝置實(shí)施判定的形式有許多種。下面的第十六到第二十一方面就是其各種形式。
      本發(fā)明第十六方面,是在第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號(hào)中的白色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時(shí),判定其粘接劑過(guò)多。
      本發(fā)明第十七方面,是在第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號(hào)中的黑色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時(shí),判定其粘接劑過(guò)多。
      本發(fā)明第十八方面,是在第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號(hào)中的白色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時(shí),判定其粘接劑不足。
      本發(fā)明第十九方面,是在第十八方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置獲得對(duì)應(yīng)于將白黑二值化處理后的所述光盤(pán)檢查區(qū)域沿該光盤(pán)半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域的所述圖象輸出信號(hào),并且將該圖象輸出信號(hào)與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設(shè)定的上閾值進(jìn)行比較,在所述圖象輸出信號(hào)中的白色圖象數(shù)據(jù)高于任意一個(gè)所述分割檢查區(qū)域的上閾值時(shí),判定其粘接劑不足。
      采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)位于光盤(pán)外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴(yán)格的基準(zhǔn)對(duì)粘接劑的不足實(shí)施判定。采用這種方式,在單純實(shí)施面積對(duì)比中,在檢測(cè)不出沿光盤(pán)半徑方向長(zhǎng)的粘接劑不足部分的形狀時(shí),可以對(duì)這種粘接劑不足實(shí)施更容易地檢查。
      本發(fā)明第二十方面,是第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號(hào)中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時(shí),判定其粘接劑不足。
      本發(fā)明第二十一方面,是在第二十方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置獲得對(duì)應(yīng)于將白黑二值化處理后的所述光盤(pán)檢查區(qū)域沿該光盤(pán)半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域的所述圖象輸出信號(hào),并且將該圖象輸出信號(hào)與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設(shè)定的下閾值進(jìn)行比較,在所述圖象輸出信號(hào)中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于任意一個(gè)所述分割檢查區(qū)域的下閾值時(shí),判定其粘接劑不足。
      采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)位于光盤(pán)外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴(yán)格的基準(zhǔn)對(duì)粘接劑的不足實(shí)施判定。采用這種方式,在單純實(shí)施面積對(duì)比中,在檢測(cè)不出沿光盤(pán)半徑方向長(zhǎng)的粘接劑不足部分的形狀時(shí),可以對(duì)這種粘接劑不足實(shí)施更容易地檢查。
      本發(fā)明第二十二方面,是在第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實(shí)施信息報(bào)告的報(bào)告裝置。
      采用這種構(gòu)成形式,可以依據(jù)報(bào)告裝置報(bào)告的判定結(jié)果,使觀察者能夠更容易地對(duì)光盤(pán)是否良好實(shí)施識(shí)別。
      本發(fā)明第二十三方面,是在第二十二方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述報(bào)告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器。
      采用這種構(gòu)成形式,可使光盤(pán)是否良好一目了然。
      本發(fā)明第二十四方面,是在第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,對(duì)所述光盤(pán)支撐臺(tái)上至少對(duì)應(yīng)于所述光盤(pán)檢查區(qū)域的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚怼?br> 采用這種構(gòu)成形式,可以降低對(duì)應(yīng)于光盤(pán)支撐臺(tái)上的光盤(pán)檢查區(qū)域的區(qū)域的光反射率,從而可以降低光盤(pán)中檢查區(qū)域的光反射率,對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施更高精度的檢查。
      本發(fā)明第二十五方面,是在第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED)。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度,確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且,采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性,所以可以對(duì)光盤(pán)上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第二十六方面,是在第二十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向。
      采用這種構(gòu)成形式,可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸,并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此,可以確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。
      本發(fā)明第二十七方面,是在第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以采用價(jià)格低廉的照明裝置對(duì)光盤(pán)上的整個(gè)檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
      本發(fā)明第二十八方面,是在第二十七所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有對(duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。
      彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處,輝度會(huì)急劇下降,這一部分會(huì)使對(duì)光盤(pán)檢查區(qū)域的照明均勻度下降,產(chǎn)生不均勻現(xiàn)象,進(jìn)而會(huì)使由照相裝置給出的照相圖象也不均勻。針對(duì)這種情況,通過(guò)對(duì)如上所述的照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施陰影修正的方式,可以獲得與對(duì)光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果,從而可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。
      本發(fā)明第二十九方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查方法,其具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的工序;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?;使用其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的照相裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?;利用某一閾值?duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理的二值化處理工序;將白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)與某上下閾值進(jìn)行比較,以判定該檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足的良好與否判定工序。
      另外,當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,對(duì)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰鳌6?,可以?duì)由照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理,使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確分離。采用這種方式,還可以通過(guò)使與光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的圖象輸出信號(hào)與某上下閾值進(jìn)行比較,對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      通過(guò)良好與否判定工序?qū)嵤┡卸ǖ男问接性S多種。下面第三十至三十五方向就是其各種形式。
      本發(fā)明第三十方面,是在第二十九方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號(hào)中的白色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時(shí),判定其粘接劑過(guò)多。
      本發(fā)明第三十一方面,是在第二十九所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號(hào)中的黑色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時(shí),判定其粘接劑過(guò)多。
      本發(fā)明第三十二方面,是在第二十九方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號(hào)中的白色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時(shí),判定其粘接劑不足。
      本發(fā)明第三十三方面,是在第三十二方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序獲得對(duì)應(yīng)于將白黑二值化處理后的所述光盤(pán)檢查區(qū)域沿該光盤(pán)半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域的所述圖象輸出信號(hào),并且將該圖象輸出信號(hào)與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設(shè)定的上閾值進(jìn)行比較,在所述圖象輸出信號(hào)中的白色圖象數(shù)據(jù)高于任意一個(gè)所述分割檢查區(qū)域的上閾值時(shí),判定其粘接劑不足。
      采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)位于光盤(pán)外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴(yán)格的基準(zhǔn)對(duì)粘接劑的不足實(shí)施判定。采用這種方式,在單純實(shí)施面積對(duì)比中,在檢測(cè)不出沿光盤(pán)半徑方向長(zhǎng)的粘接劑不足部分的形狀時(shí),可以對(duì)這種粘接劑不足實(shí)施更可靠地檢查。
      本發(fā)明第三十四方面,是在第二十九方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號(hào)中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時(shí),判定其粘接劑不足。
      本發(fā)明第三十五方面,是在第三十四方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序獲得對(duì)應(yīng)于與將白黑二值化處理后的所述光盤(pán)檢查區(qū)域沿該光盤(pán)半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域的所述圖象輸出信號(hào),并且將該圖象輸出信號(hào)與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設(shè)定的下閾值進(jìn)行比較,在所述圖象輸出信號(hào)中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于任意一個(gè)所述分割檢查區(qū)域的下閾值時(shí),判定其粘接劑不足。
      采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)位于光盤(pán)外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴(yán)格的基準(zhǔn)對(duì)粘接劑的不足實(shí)施判定。采用這種方式,在單純實(shí)施面積對(duì)比中,在檢測(cè)不出沿光盤(pán)半徑方向的粘接劑不足部分的形狀時(shí),可以對(duì)這種粘接劑不足實(shí)施更可靠地檢查。
      本發(fā)明第三十六方面,是一種光盤(pán)制造方法,其具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包含向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。另外,所述檢查工序使用第二十九至三十五方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在通過(guò)光盤(pán)形成工序形成的光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,對(duì)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且,可以?duì)由照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理,使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確分離。采用這種方式,還可以通過(guò)使與光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的圖象輸出信號(hào)與某上下閾值進(jìn)行比較,對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第三十七方面,是在第三十六方面所述的光盤(pán)制造方法中,還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實(shí)施判定的工序;在依據(jù)所述良好與否判定工序判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時(shí)可以對(duì)出現(xiàn)這種不良的所述光盤(pán)實(shí)施甄選的甄選工序。
      采用這種構(gòu)成形式,可以通過(guò)實(shí)施甄選工序,對(duì)出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤(pán)實(shí)施甄選作業(yè)。
      本發(fā)明第三十八方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第二十九至三十五方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。
      采用這種構(gòu)成形式,可以獲得對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查的光盤(pán)。
      本發(fā)明第三十九方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第二十九至三十五方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,并且依據(jù)該檢查結(jié)果,按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良實(shí)施甄選。
      采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查,并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果得到實(shí)施甄選作業(yè)后的光盤(pán)。
      本發(fā)明第四十方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查裝置,其具有以位置不動(dòng)方式對(duì)作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)實(shí)施支撐的光盤(pán)支撐臺(tái);環(huán)狀照明裝置,其具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰?;照相裝置,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障唷?br> 而且還具有檢查機(jī)構(gòu),當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD);二值化處理裝置,其利用某一閾值對(duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理;良好與否判定裝置,其依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域中的粘接劑是否形狀不良實(shí)施判定。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,對(duì)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且,可以?duì)由照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理,使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確分離。通過(guò)這種方式,可以依據(jù)與檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑是否形狀不良實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第四十一方面,是在第四十方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置對(duì)位于所述光盤(pán)檢查區(qū)域中的圓周軌跡上的所述圖象輸出信號(hào)出現(xiàn)急劇變化的邊緣部分實(shí)施檢測(cè),當(dāng)該邊緣部分?jǐn)?shù)目大于某閾值時(shí),判定所述光盤(pán)檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。
      采用這種構(gòu)成形式,在沿光盤(pán)半徑方向長(zhǎng)的粘接劑出現(xiàn)不足部分形狀時(shí),可以對(duì)這種粘接劑不足實(shí)施容易地檢測(cè)。
      本發(fā)明第四十二方面,是在第四十方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置對(duì)位于所述光盤(pán)檢查區(qū)域中由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的團(tuán)塊部分實(shí)施檢測(cè),當(dāng)由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的該團(tuán)塊部分?jǐn)?shù)目大于某閾值時(shí),判定所述光盤(pán)檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。
      采用這種構(gòu)成形式,可以在檢查區(qū)域出現(xiàn)氣泡時(shí),容易檢測(cè)這種現(xiàn)象。
      本發(fā)明第四十三方面,是在第四十方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實(shí)施信息報(bào)告的報(bào)告裝置。
      采用這種構(gòu)成形式,可以依據(jù)報(bào)告裝置所報(bào)告的判定結(jié)果,使觀察者能夠更容易地對(duì)光盤(pán)是否良好實(shí)施識(shí)別。
      本發(fā)明第四十四方面,是在第四十三方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述報(bào)告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器。
      采用這種構(gòu)成形式,可使光盤(pán)是否良好一目了然。
      本發(fā)明第四十五方面,是在第四十方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,對(duì)所述光盤(pán)支撐臺(tái)上至少與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚怼?br> 采用這種構(gòu)成形式,可以降低與光盤(pán)支撐臺(tái)上的光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的區(qū)域的光反射率,從而可以降低光盤(pán)中檢查區(qū)域的光反射率,對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施更高精度的檢查。
      本發(fā)明第四十六方面,是在第四十方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED)。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度,確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且,采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性,所以可以對(duì)光盤(pán)上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第四十七方面,是在第四十六方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向。
      采用這種構(gòu)成形式,可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸,并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此,可以確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。
      本發(fā)明第四十八方面,是在第四十六方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以采用價(jià)格低廉的照明裝置對(duì)光盤(pán)上的整個(gè)檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
      本發(fā)明第四十九方面,是在第四十八方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有對(duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。
      彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處,輝度會(huì)急劇下降,這一部分會(huì)使對(duì)光盤(pán)檢查區(qū)域的照明均勻度下降,產(chǎn)生不均勻現(xiàn)象,進(jìn)而會(huì)使由照相裝置給出的照相圖象也不均勻。針對(duì)這種情況,通過(guò)對(duì)如上所述的照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施陰影修正的方式,可以獲得與對(duì)光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果,從而可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。
      本發(fā)明第五十方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查方法,其具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的工序;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?;使用其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的照相裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば颍焕媚骋婚撝祵?duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理的二值化處理工序;依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域中的粘接劑是否形狀不良實(shí)施判定的良好與否判定工序;當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,對(duì)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且,可以?duì)由照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理,使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確分離。通過(guò)這種方式,可以依據(jù)與檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑是否形狀不良實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明提供的第五十一方面,是在第五十方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序?qū)ξ挥谒龉獗P(pán)檢查區(qū)域中的圓周軌跡上的所述圖象輸出信號(hào)出現(xiàn)急劇變化的邊緣部分實(shí)施檢測(cè),當(dāng)該邊緣部分?jǐn)?shù)目大于某閾值時(shí),判定所述光盤(pán)檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。
      采用這種構(gòu)成形式,在沿光盤(pán)半徑方向長(zhǎng)的粘接劑出現(xiàn)不足部分形狀時(shí),可以對(duì)這種粘接劑不足實(shí)施容易地檢測(cè)。
      本發(fā)明提供的第五十二方面,是在第五十方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序?qū)ξ挥谒龉獗P(pán)檢查區(qū)域中由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的團(tuán)塊部分實(shí)施檢測(cè),當(dāng)由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的該團(tuán)塊部分?jǐn)?shù)目大于某閾值時(shí),判定所述光盤(pán)檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。
      采用這種構(gòu)成形式,可以在檢查區(qū)域出現(xiàn)氣泡時(shí),容易檢測(cè)這種現(xiàn)象。
      本發(fā)明第五十三方面,是一種光盤(pán)制造方法,其具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包含向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。
      另外,所述檢查工序使用第五十至五十二方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束,均勻地投射在通過(guò)光盤(pán)形成工序形成的光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,對(duì)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且,可以?duì)由照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理,使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確分離。通過(guò)這種方式,可以依據(jù)與檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑是否形狀不良實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第五十四方面,是在第五十三方面所述的光盤(pán)制造方法中,還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實(shí)施判定的工序;在依據(jù)對(duì)所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實(shí)施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時(shí)可以對(duì)出現(xiàn)這種不良的所述光盤(pán)實(shí)施甄選的甄選工序。
      采用這種構(gòu)成形式,可以通過(guò)實(shí)施甄選工序,對(duì)粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤(pán)實(shí)施甄選作業(yè)。
      本發(fā)明第五十五方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第五十至五十二方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。
      采用這種構(gòu)成形式,可以獲得對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查后的光盤(pán)。
      本發(fā)明第五十六方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第五十至五十二方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,并且依據(jù)該檢查結(jié)果,按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良實(shí)施甄選。
      采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查,并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果得到實(shí)施甄選作業(yè)后的光盤(pán)。
      本發(fā)明第五十七方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查裝置,其具有以位置不動(dòng)方式對(duì)作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)實(shí)施支撐的光盤(pán)支撐臺(tái);環(huán)狀照明裝置,其具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰?;照相裝置,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟模欢疫€具有檢查機(jī)構(gòu),當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)對(duì)各部件的位置關(guān)系實(shí)施設(shè)定;二值化處理裝置,其利用某一閾值對(duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理;良好與否判定裝置;其依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過(guò)多或不足實(shí)施判定;推移判定裝置,其對(duì)應(yīng)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果,對(duì)檢查狀態(tài)的推移實(shí)施判定。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,對(duì)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰鳌6?,可以?duì)由照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理,使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確分離??梢酝ㄟ^(guò)使與檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的圖象輸出信號(hào)與某上下閾值進(jìn)行比較的方式,對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。而且,可以對(duì)應(yīng)這種判定結(jié)果判定檢查狀態(tài)的推移。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第五十八方面,是在第五十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述推移判定裝置采集某些所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果并獲得其平均值,對(duì)于該平均值位于相對(duì)預(yù)測(cè)平均值在某一閾值之外時(shí),判定檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移。
      采用這種構(gòu)成形式,可以參考若干個(gè)判定結(jié)果的平均值來(lái)判定檢查狀態(tài)的推移,所以可以提高判定精度。
      在檢查狀態(tài)相對(duì)于理想狀態(tài)朝向偏離方向推移時(shí),可以通過(guò)各種設(shè)定,促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)。下面第五十九至六十一方面就是與這些設(shè)定有關(guān)的規(guī)定。
      本發(fā)明第五十九方面,是在第五十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有在所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述二值化處理裝置使用的閾值設(shè)定實(shí)施變更的第一復(fù)原裝置。
      本發(fā)明第六十方面,是在第五十八方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有在所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述環(huán)狀照明裝置的輝度設(shè)定實(shí)施變更的第二復(fù)原裝置。
      本發(fā)明第六十一方面,是在第五十八方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有在所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述照相裝置實(shí)施靜止照相時(shí)的光圈設(shè)定實(shí)施變更的第三復(fù)原裝置。
      本發(fā)明第六十二方面,是在第五十八方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有在所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述照相裝置實(shí)施靜止照相時(shí)的快門(mén)速度設(shè)定實(shí)施變更的第四復(fù)原裝置。
      本發(fā)明第六十三方面,是在第五十八方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有在所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述照相裝置實(shí)施靜止照相時(shí)的感光度設(shè)定實(shí)施變更的第五復(fù)原裝置。
      本發(fā)明第六十四方面,是在第五十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實(shí)施信息報(bào)告的報(bào)告裝置。
      采用這種構(gòu)成形式,可以依據(jù)報(bào)告裝置報(bào)告的判定結(jié)果,使觀察者能夠更容易地對(duì)光盤(pán)是否良好實(shí)施識(shí)別。
      本發(fā)明第六十五方面,是在第六十四方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述報(bào)告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器。
      采用這種構(gòu)成形式,可使光盤(pán)是否良好一目了然。
      本發(fā)明第六十六方面,是在第五十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,對(duì)所述光盤(pán)支撐臺(tái)上至少與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚怼?br> 采用這種構(gòu)成形式,可以降低與光盤(pán)支撐臺(tái)上的光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的區(qū)域的光反射率,從而可以降低光盤(pán)中檢查區(qū)域的光反射率,對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施更高精度的檢查。
      本發(fā)明第六十七方面,是在第五十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED)。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度,確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且,采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性,所以可以對(duì)光盤(pán)上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第六十八方面,是在第六十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向。
      采用這種構(gòu)成形式,可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸,并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此,可以確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。
      本發(fā)明第六十九方面,是在第五十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以采用價(jià)格低廉的照明裝置對(duì)光盤(pán)上的整個(gè)檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
      本發(fā)明第七十方面,是在第六十九方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有對(duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。
      彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處,輝度會(huì)急劇下降,這一部分會(huì)使對(duì)光盤(pán)檢查區(qū)域的照明均勻度下降,產(chǎn)生不均勻現(xiàn)象,進(jìn)而會(huì)使由照相裝置給出的照相圖象也不均勻。針對(duì)這種情況,通過(guò)對(duì)如上所述的照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施陰影修正的方式,可以獲得與對(duì)光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果,從而可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。
      本發(fā)明第七十一方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查方法,其具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的工序;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?;使用其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的照相裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば颍焕媚骋婚撝祵?duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理的二值化處理工序;依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過(guò)多或不足實(shí)施判定的良好與否判定工序;對(duì)應(yīng)所述良好與否判定工序的判定結(jié)果,對(duì)檢查狀態(tài)的推移實(shí)施判定的推移判定工序。當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,對(duì)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰鳌6?,可以?duì)由照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理,使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確分離??梢酝ㄟ^(guò)使與檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的圖象輸出信號(hào)與某上下閾值進(jìn)行比較的方式,對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。而且,可以對(duì)應(yīng)這種判定結(jié)果判定檢查狀態(tài)的推移。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第七十二方面,是在第七十一方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述推移判定工序采集某些所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果并獲得其平均值,對(duì)于該平均值位于相對(duì)預(yù)測(cè)平均值在某一閾值之外時(shí),判定檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移。
      采用這種構(gòu)成形式,可以參考若干個(gè)判定結(jié)果的平均值來(lái)判定檢查狀態(tài)的推移,所以可以提高判定精度。
      在檢查狀態(tài)相對(duì)于理想狀態(tài)朝向偏離方向推移時(shí),可以通過(guò)各種設(shè)定,促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)。下面第七十三至七十七方面給出的就是與這些設(shè)定有關(guān)的規(guī)定。
      本發(fā)明第七十三方面,是在第七十二方面所述的光盤(pán)檢查方法中,還具有在所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述二值化處理裝置使用的閾值設(shè)定實(shí)施變更的第一復(fù)原工序。
      本發(fā)明第七十四方面,是在第七十二方面所述的光盤(pán)檢查方法中,還具有在所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述環(huán)狀照明裝置的輝度設(shè)定實(shí)施變更的第二復(fù)原工序。
      本發(fā)明第七十五方面,是在第七十二方面所述的光盤(pán)檢查方法中,還具有在所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述照相裝置實(shí)施靜止照相時(shí)的光圈設(shè)定實(shí)施變更的第三復(fù)原工序。
      本發(fā)明第七十六方面,是在第七十二方面所述的光盤(pán)檢查方法中,還具有在所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述照相裝置實(shí)施靜止照相時(shí)的快門(mén)速度設(shè)定實(shí)施變更的第四復(fù)原工序。
      本發(fā)明第七十七方面,是在第七十二方面所述的光盤(pán)檢查方法中,還具有在所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述照相裝置實(shí)施靜止照相時(shí)的感光度設(shè)定實(shí)施變更的第五復(fù)原工序。
      本發(fā)明第七十八方面,是一種光盤(pán)制造方法,其具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包含向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。而且所述檢查工序使用第七十一至七十七方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,對(duì)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰鳌6?,可以?duì)由照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理,使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確分離。可以通過(guò)使與檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的圖象輸出信號(hào)與某上下閾值進(jìn)行比較,對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。而且,可以對(duì)應(yīng)這種判定結(jié)果判定檢查狀態(tài)是否產(chǎn)生有推移。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第七十九方面,是在第七十八方面所述的光盤(pán)制造方法中,還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實(shí)施判定的工序;依據(jù)對(duì)所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實(shí)施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時(shí)可以對(duì)出現(xiàn)這種不良的所述光盤(pán)實(shí)施甄選的甄選工序。
      采用這種構(gòu)成形式,可以通過(guò)實(shí)施甄選工序,對(duì)出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤(pán)實(shí)施甄選作業(yè)。
      本發(fā)明第八十方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第七十一至七十七方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。
      采用這種構(gòu)成形式,可以獲得對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查的光盤(pán)。
      本發(fā)明第八十一方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第七十一至七十七方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,并且依據(jù)該檢查結(jié)果,按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良實(shí)施甄選。
      采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查,并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果得到實(shí)施甄選作業(yè)后的光盤(pán)。
      本發(fā)明第八十二方面,是一種將由通過(guò)旋轉(zhuǎn)涂布裝置供給的粘接劑對(duì)兩個(gè)光盤(pán)基板實(shí)施粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查裝置,其具有以位置不動(dòng)方式對(duì)作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)實(shí)施支撐的光盤(pán)支撐臺(tái);環(huán)狀照明裝置,其具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰?;照相裝置,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障唷?br> 而且還具有檢查機(jī)構(gòu),當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD);二值化處理裝置,其利用某一閾值對(duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理;良好與否判定裝置,其依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過(guò)多或不足實(shí)施判定;設(shè)定值變更裝置,其在所述良好與否判定裝置判定為在所述光盤(pán)檢查區(qū)域中出現(xiàn)粘接劑過(guò)多或不足的結(jié)果時(shí),按照消除這種過(guò)多或不足現(xiàn)象的方式對(duì)與所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動(dòng)相關(guān)的設(shè)定值實(shí)施變更。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,對(duì)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且,可以?duì)由照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理,使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確分離??梢酝ㄟ^(guò)使與檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的圖象輸出信號(hào)與某上下閾值進(jìn)行比較的方式,對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。對(duì)于判定結(jié)果為光盤(pán)檢查區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過(guò)多或不足時(shí),可以按照消除這種過(guò)多或不足現(xiàn)象的方式,對(duì)與旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動(dòng)相關(guān)的設(shè)定值實(shí)施變更,由此通過(guò)這種方式消除粘接劑的過(guò)多或不足問(wèn)題。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第八十三方面,是在第八十二方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置采集某些所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果并獲得其平均值,對(duì)于該平均值位于相對(duì)預(yù)測(cè)平均值在某一閾值之外時(shí),判定所述光盤(pán)檢查區(qū)域中的粘接劑出現(xiàn)過(guò)多或不足現(xiàn)象。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以依據(jù)若干個(gè)判定結(jié)果的平均值對(duì)粘接劑過(guò)多或不足實(shí)施判定,所以可以提高判定精度。
      本發(fā)明第八十四方面,是在第八十二或八十三方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述設(shè)定值變更裝置變更的設(shè)定值為對(duì)所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實(shí)施變更的值。
      采用這種構(gòu)成形式,可以通過(guò)對(duì)旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實(shí)施調(diào)節(jié)的方式,消除粘接劑的過(guò)多或不足現(xiàn)象。
      本發(fā)明第八十五方面,是在第八十二或八十三方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述設(shè)定值變更裝置變更的設(shè)定值為沿著所述兩個(gè)光盤(pán)基板的半徑方向?qū)λ鲂D(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實(shí)施變更的值。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以通過(guò)對(duì)旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實(shí)施調(diào)節(jié)的方式,消除粘接劑的過(guò)多或不足現(xiàn)象。
      本發(fā)明第八十六方面,是在第八十二或八十三方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述設(shè)定值變更裝置變更的設(shè)定值為對(duì)粘接劑涂布之后的所述兩個(gè)光盤(pán)基板的轉(zhuǎn)動(dòng)速度實(shí)施變更的值。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以通過(guò)對(duì)光盤(pán)基板的轉(zhuǎn)動(dòng)速度實(shí)施調(diào)節(jié)的方式,消除粘接劑的過(guò)多或不足現(xiàn)象。
      本發(fā)明第八十七方面,是在第八十二方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實(shí)施信息報(bào)告的報(bào)告裝置。
      采用這種構(gòu)成形式,可以依據(jù)報(bào)告裝置所報(bào)告的判定結(jié)果,使觀察者能夠更容易地對(duì)光盤(pán)是否良好實(shí)施識(shí)別。
      本發(fā)明第八十八方面,是在第八十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述報(bào)告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器。
      采用這種構(gòu)成形式,可使光盤(pán)是否良好一目了然。
      本發(fā)明提供的第八十九方面,是在第八十二方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,對(duì)所述光盤(pán)支撐臺(tái)上至少與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚怼?br> 采用這種構(gòu)成形式,可以降低與光盤(pán)支撐臺(tái)上的光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的區(qū)域的光反射率,從而可以降低光盤(pán)中檢查區(qū)域的光反射率,對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施更高精度的檢查。
      本發(fā)明第九十方面,是在第八十二方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED)。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度,確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且,采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性,所以可以對(duì)光盤(pán)上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第九十一方面,是在第九十方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向。
      采用這種構(gòu)成形式,可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸,并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此,可以確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。
      本發(fā)明第九十二方面,是在第八十二方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以采用價(jià)格低廉的照明裝置對(duì)光盤(pán)上的整個(gè)檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
      本發(fā)明第九十三方面,是在第九十二方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有對(duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。
      彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處,輝度會(huì)急劇下降,這一部分會(huì)使對(duì)光盤(pán)檢查區(qū)域的照明均勻度下降,產(chǎn)生不均勻現(xiàn)象,進(jìn)而會(huì)使由照相裝置給出的照相圖象也不均勻。針對(duì)這種情況,通過(guò)對(duì)如上所述的照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施陰影修正的方式,可以獲得與對(duì)光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果,從而可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。
      本發(fā)明第九十四方面,是一種將由通過(guò)旋轉(zhuǎn)涂布裝置供給的粘接劑對(duì)兩個(gè)光盤(pán)基板實(shí)施粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查方法,其具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的工序;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?;使用其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的照相裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?;利用某一閾值?duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理的二值化處理工序;依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過(guò)多或不良實(shí)施判定的良好與否判定工序;對(duì)于所述良好與否判定裝置判定為在所述光盤(pán)檢查區(qū)域中出現(xiàn)粘接劑過(guò)多或不足的結(jié)果時(shí),按照消除這種過(guò)多或不足現(xiàn)象的方式,對(duì)與所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動(dòng)相關(guān)的設(shè)定值實(shí)施變更的設(shè)定值變更工序。
      而且,當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,對(duì)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且,可以?duì)由照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理,使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確分離。可以通過(guò)使與檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的圖象輸出信號(hào)與某上下閾值進(jìn)行比較,對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。對(duì)于判定結(jié)果為光盤(pán)檢查區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過(guò)多或不足時(shí),可以按照消除這種過(guò)多或不足現(xiàn)象的方式,對(duì)與旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動(dòng)相關(guān)的設(shè)定值實(shí)施變更,進(jìn)而通過(guò)這種方式消除粘接劑的過(guò)多或不足問(wèn)題。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第九十五方面,是在第九十四方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序采集某些判定結(jié)果并獲得其平均值,對(duì)于該平均值位于相對(duì)預(yù)測(cè)平均值在某一閾值之外時(shí),判定所述光盤(pán)檢查區(qū)域中的粘接劑出現(xiàn)過(guò)多或不足現(xiàn)象。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以依據(jù)若干個(gè)判定結(jié)果的平均值對(duì)粘接劑過(guò)多或不足實(shí)施判定,所以可以提高判定精度。
      本發(fā)明第九十六方面,是在第九十四或九十五方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述設(shè)定值變更工序變更的設(shè)定值為對(duì)所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實(shí)施變更的值。
      采用這種構(gòu)成形式,還可以通過(guò)對(duì)旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實(shí)施調(diào)節(jié)的方式,消除粘接劑的過(guò)多或不足現(xiàn)象。
      本發(fā)明第九十七方面,是在第九十四或九十五方面所述的光盤(pán)檢查方法,所述設(shè)定值變更工序變更的設(shè)定值為沿著所述兩個(gè)光盤(pán)基板的半徑方向?qū)λ鲂D(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實(shí)施變更的值。
      采用這種構(gòu)成形式,可以通過(guò)對(duì)旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實(shí)施調(diào)節(jié)的方式,消除粘接劑的過(guò)多或不足現(xiàn)象。
      本發(fā)明第九十八方面,是在第九十四或九十五方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述設(shè)定值變更工序變更的設(shè)定值為對(duì)粘接劑涂布之后的所述兩個(gè)光盤(pán)基板的轉(zhuǎn)動(dòng)速度實(shí)施變更的值。
      采用這種構(gòu)成形式,可以通過(guò)對(duì)光盤(pán)基板的轉(zhuǎn)動(dòng)速度實(shí)施調(diào)節(jié),消除粘接劑的過(guò)多或不足現(xiàn)象。
      本發(fā)明第九十九方面,是一種光盤(pán)制造方法,其具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包含向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查;而且所述檢查工序使用第九十四至九十八方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,對(duì)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰鳌6?,可以?duì)由照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理,使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確分離??梢酝ㄟ^(guò)使與檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的圖象輸出信號(hào)與某上下閾值進(jìn)行比較的方式,對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。對(duì)于判定結(jié)果為光盤(pán)檢查區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過(guò)多或不足時(shí),可以按照消除這種過(guò)多或不足現(xiàn)象的方式,對(duì)旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑供給量實(shí)施調(diào)節(jié),進(jìn)而通過(guò)這種方式消除粘接劑的過(guò)多或不足問(wèn)題。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第一百方面,是在第九十九方面所述的光盤(pán)制造方法中,還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實(shí)施判定的工序;依據(jù)對(duì)所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實(shí)施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時(shí)可以對(duì)出現(xiàn)這種不良的所述光盤(pán)實(shí)施甄選的甄選工序。
      采用這種構(gòu)成形式,可以通過(guò)實(shí)施甄選工序,對(duì)出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤(pán)實(shí)施甄選作業(yè)。
      本發(fā)明第一百零一方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第九十四至九十八方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。
      采用這種構(gòu)成形式,可以獲得對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查的光盤(pán)。
      本發(fā)明第一百零二方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第九十四至九十八方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,并且依據(jù)該檢查結(jié)果,按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良實(shí)施甄選。
      采用這種構(gòu)成形式,可以獲得對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查,并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果實(shí)施甄選作業(yè)后的光盤(pán)。


      圖1為表示在將兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成粘合型光盤(pán)的制造裝置中,通過(guò)剖面形式表示轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處于彼此離開(kāi)狀態(tài)時(shí)的側(cè)面圖。
      圖2為表示在將兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成粘合型光盤(pán)的制造裝置中,通過(guò)剖面形式表示轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處于彼此接近狀態(tài)時(shí)的側(cè)面圖。
      圖3為表示組裝在光盤(pán)制造裝置中的旋轉(zhuǎn)涂布裝置的流體回路用的流體回路圖。
      圖4A為依次說(shuō)明將兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成粘合型光盤(pán)的制造工序用的示意圖(其1)。
      圖4B為依次說(shuō)明將兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成粘合型光盤(pán)的制造工序用的示意圖(其2)。
      圖4C為依次說(shuō)明將兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成粘合型光盤(pán)的制造工序用的示意圖(其3)。
      圖4D為依次說(shuō)明將兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成粘合型光盤(pán)的制造工序用的示意圖(其4)。
      圖4E為依次說(shuō)明將兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成粘合型光盤(pán)的制造工序用的示意圖(其5)。
      圖5為舉例表示粘合型光盤(pán)用的平面圖。
      圖6為表示對(duì)位于粘合型光盤(pán)的中央部位置處的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域?qū)嵤┓糯蟛⒆冃伪硎酒浜穸扔玫目v剖側(cè)面圖。
      圖7為表示光盤(pán)檢查裝置的一個(gè)實(shí)例用的側(cè)面圖。
      圖8為表示作為本實(shí)施形式的光盤(pán)檢查裝置用的側(cè)面圖。
      圖9為表示環(huán)狀照明裝置用的立體圖。
      圖10為表示在環(huán)狀照明裝置的外側(cè)周部附近,發(fā)光二極管(LED)處于與擴(kuò)散板相分離的狀態(tài)時(shí)用的縱剖側(cè)面圖。
      圖11為表示對(duì)各部分實(shí)施電氣連接用的方框圖。
      圖12為功能方框圖。
      圖13為表示儲(chǔ)存在檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部中的檢查用數(shù)據(jù)的一例的圖。
      圖14為表示儲(chǔ)存在檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部中的檢查用數(shù)據(jù)的另一例的圖。
      圖15為表示儲(chǔ)存在檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部中的檢查用數(shù)據(jù)的再一例的圖。
      圖16為表示儲(chǔ)存在檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部中的檢查用數(shù)據(jù)的又一例的圖。
      圖17A為舉例表示在光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過(guò)多或不足現(xiàn)象時(shí)的狀態(tài)用的示意圖(其1)。
      圖17B為舉例表示在光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過(guò)多或不足現(xiàn)象時(shí)的狀態(tài)用的示意圖(其2)。
      圖17C為舉例表示在光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過(guò)多或不足現(xiàn)象時(shí)的狀態(tài)用的示意圖(其3)。
      圖18為舉例表示在光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域出現(xiàn)粘接劑形狀不良(氣泡)時(shí)的狀態(tài)用的示意圖。
      圖19為舉例表示在光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域出現(xiàn)粘接劑形狀不良時(shí)的狀態(tài)用的示意圖。
      圖20為表示處理流程用的流程圖。
      圖21為表示在實(shí)驗(yàn)中使用的光盤(pán)檢查裝置的側(cè)面圖。
      圖22為說(shuō)明在使用如圖21所示的光盤(pán)檢查裝置時(shí),使位于光盤(pán)的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)的影象直徑縮小,進(jìn)而將該影象從光盤(pán)的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)除去的工序用的側(cè)面圖。
      圖23為表示在實(shí)驗(yàn)中使用的另一光盤(pán)檢查裝置的側(cè)面圖。
      具體實(shí)施例方式
      下面根據(jù)圖8至圖21,對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行說(shuō)明。此時(shí),與根據(jù)附圖1至附圖7說(shuō)明過(guò)的部分相同的部分用相同的標(biāo)號(hào)表示,省略其說(shuō)明。
      首先,如根據(jù)圖1至圖7所進(jìn)行過(guò)的說(shuō)明那樣,使用如圖1至圖3所舉例示出的制造裝置,實(shí)施下述工序粘合兩個(gè)光盤(pán)基板103、104(第一光盤(pán)基板103,第二光盤(pán)基板104)。即如圖4所示,將噴嘴108插入在固定于轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101、102上的兩個(gè)光盤(pán)基板103、104之間,并且使其前端部位于第一光盤(pán)基板103的中央部附近。在這種狀態(tài)下,由噴嘴108排出諸如紫外線硬化樹(shù)脂120的粘接劑。按照這種方式,實(shí)施向固定于轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101、102處的第一光盤(pán)基板103上排出作為粘接劑的紫外線硬化樹(shù)脂120的工序。
      然后,在向兩個(gè)光盤(pán)基板103、104之間排出粘接劑的同時(shí)使下側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101轉(zhuǎn)動(dòng)。結(jié)果,可以使紫外線硬化樹(shù)脂120呈圓周型涂布(參見(jiàn)圖4A)在位于下側(cè)的第一光盤(pán)基板103的中央部附近。隨后,通過(guò)上下移動(dòng)機(jī)構(gòu)106使位于上側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)102下降,將位于上側(cè)的光盤(pán)基板104與下側(cè)的光盤(pán)基板103重合(參見(jiàn)圖4B)。按照這種方式,實(shí)施將第二光盤(pán)基板104重合在第一光盤(pán)基板103上的工序。
      隨后,利用電動(dòng)機(jī)105的驅(qū)動(dòng)力,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)下側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101,這樣使上側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)102隨之轉(zhuǎn)動(dòng)。這時(shí),夾在兩個(gè)光盤(pán)基板103、104之間的紫外線硬化樹(shù)脂120將向外側(cè)周部擴(kuò)散(參見(jiàn)圖4C)。當(dāng)該擴(kuò)散范圍到達(dá)規(guī)定位置處時(shí),停止轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101、102的轉(zhuǎn)動(dòng)。在這種狀態(tài)下,待機(jī)至由紫外線硬化樹(shù)脂120構(gòu)成的粘接劑將一直擴(kuò)散至兩個(gè)光盤(pán)基板103、104的外側(cè)周部端面處(參見(jiàn)圖4D)。按照這種方式,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)下側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101,實(shí)施使位于兩個(gè)光盤(pán)基板103、104之間的作為粘接劑的紫外線硬化樹(shù)脂120延展的工序。
      在由紫外線硬化樹(shù)脂120構(gòu)成的粘接劑一直擴(kuò)散到兩個(gè)光盤(pán)基板103、104的外側(cè)周部端面處之后,利用紫外線照射燈121實(shí)施紫外線照射,使紫外線硬化樹(shù)脂120硬化。按照這種方式,實(shí)施使延展后的作為粘接劑的紫外線硬化樹(shù)脂120硬化的工序。
      通過(guò)如上所述的各工序,實(shí)施對(duì)兩個(gè)光盤(pán)基板103、104粘合以形成粘合型光盤(pán)122的光盤(pán)形成工序,從而制成粘合型光盤(pán)122。
      如上說(shuō)明的如圖1至圖3所舉例示出的裝置,是在對(duì)兩個(gè)光盤(pán)基板103、104實(shí)施重合處理后,在將兩個(gè)光盤(pán)基板103、104分別保持在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101、102上的情況下,使位于下側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101轉(zhuǎn)動(dòng)而對(duì)紫外線硬化樹(shù)脂120實(shí)施延展處理。與此相對(duì),本發(fā)明還可以采用具有如下所述構(gòu)成形式的其他實(shí)施方式。即是,還可以在向位于下側(cè)的第一光盤(pán)基板103上涂布紫外線硬化樹(shù)脂120之后,使另一第二光盤(pán)基板104重合在第一光盤(pán)基板103上。而且,可以將第二光盤(pán)基板104從作為保持部件的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)102處取下,在這種狀態(tài)下對(duì)下側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)101實(shí)施轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng),并對(duì)紫外線硬化樹(shù)脂120實(shí)施延展處理。
      在此,本實(shí)施形式還可以在彼此粘合的兩個(gè)光盤(pán)基板103、104中的至少一個(gè)中,對(duì)在其單面由諸如相變化材料等等的記錄材料構(gòu)成的記錄層實(shí)施成膜處理,或是在基板面形成具有諸如呈凹凸形狀的記錄溝槽等等的信息承載面。而且,通過(guò)對(duì)這種光盤(pán)基板103、104實(shí)施粘合而構(gòu)成的光盤(pán)122,通過(guò)使對(duì)所述記錄層實(shí)施成膜處理構(gòu)成的記錄面或信息承載面位于內(nèi)側(cè)的方式對(duì)兩個(gè)光盤(pán)基板103、104實(shí)施粘合形成作業(yè)。
      而且,相對(duì)于這種對(duì)記錄層實(shí)施成膜處理或具有信息承載面的一個(gè)光盤(pán)基板103或104,也可以使另一個(gè)光盤(pán)基板104或103對(duì)記錄層實(shí)施成膜處理或使其具有信息承載面。對(duì)于這種場(chǎng)合,可以構(gòu)成為雙面型光盤(pán)122。與此相對(duì),對(duì)于另一個(gè)光盤(pán)基板104或103不實(shí)施記錄層成膜處理或不設(shè)置信息承載面時(shí),可以形成為單面型光盤(pán)122。
      對(duì)于按照這種方式形成的光盤(pán)122,可以實(shí)施將該光盤(pán)122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124作為檢查區(qū)域308,并且對(duì)在該檢查區(qū)域308的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的檢查工序。下面參考圖8至圖21,對(duì)這種檢查工序進(jìn)行說(shuō)明。
      圖8為表示用于實(shí)施所述檢查工序在本實(shí)施方式的光盤(pán)檢查裝置用的側(cè)面圖。作為本實(shí)施形式的光盤(pán)檢查裝置,其基本構(gòu)成與參考圖7所說(shuō)明的裝置相類似,不同點(diǎn)在于使用環(huán)狀照明裝置301取代照明裝置205。
      圖9為表示環(huán)狀照明裝置301用的立體圖。圖10為表示環(huán)狀照明裝置301的外側(cè)周部附近的縱剖側(cè)面圖。環(huán)狀照明裝置301作為一個(gè)構(gòu)成實(shí)例,如圖9和圖10所示,可以由作為光源的若干個(gè)發(fā)光二極管(LED)302實(shí)現(xiàn)。即是,可以將引導(dǎo)光束擴(kuò)散的擴(kuò)散板303形成設(shè)置為環(huán)狀形狀,并且在該擴(kuò)散板303的外側(cè)端面嵌埋設(shè)置有若干個(gè)發(fā)光二極管(LED)302。而且,在擴(kuò)散板303上的一面,成膜形成有蓋覆著整個(gè)表面的第一反射膜304,在擴(kuò)散板303上的另一面,成膜形成有僅蓋覆外側(cè)周部附近的第二反射膜305。
      舉例來(lái)說(shuō),環(huán)狀照明裝置301還可以由彎曲成環(huán)狀的擴(kuò)散板蓋覆著的熒光燈構(gòu)成。即是,環(huán)狀照明裝置301只要具有能夠?qū)⒂晒庠凑丈涑龅墓馐ㄟ^(guò)擴(kuò)散板擴(kuò)散成均勻光束的功能即可,對(duì)其種類并沒(méi)有限制。
      在本實(shí)施例中,如圖8所示的環(huán)狀照明裝置301,通過(guò)照明裝置保持部件306固定在電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203處。在光盤(pán)支撐臺(tái)201還按照不會(huì)對(duì)由上側(cè)來(lái)的照射光束實(shí)施直接反射的方式,對(duì)表面實(shí)施了諸如“磨沙變黑”等等的低反射處理。而且,定位支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)201處的光盤(pán)122的中心軸,電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203的中心軸和環(huán)狀照明裝置301的中心軸,其全部重合在同一軸上。
      采用這種構(gòu)成形式,當(dāng)對(duì)光盤(pán)122實(shí)施檢查時(shí),可以實(shí)施將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)122,按位置不動(dòng)方式支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)201上的工序;對(duì)光軸與支撐在這種光盤(pán)支撐臺(tái)201上的光盤(pán)122的中心軸吻合配置著的環(huán)狀照明裝置301實(shí)施照明,并利用由擴(kuò)散板303給出的照射光束由上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)光盤(pán)122上的檢查區(qū)域308實(shí)施照明的工序;以及利用光軸與支撐在這種光盤(pán)支撐臺(tái)201上的光盤(pán)122的中心軸吻合配置的、作為攝象裝置的電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203,由上側(cè)對(duì)光盤(pán)122上的檢查區(qū)域308實(shí)施攝象的工序。
      此時(shí),環(huán)狀照明裝置301雖然與如圖7所舉例示出的照明裝置205同樣,也將不發(fā)生變化地進(jìn)入由電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203攝象獲得的圖象中。然而在本實(shí)施例中,環(huán)狀照明裝置301的影象范圍307將完全蓋覆檢查區(qū)域308。因此,在通過(guò)電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203攝象獲得的影象中,不會(huì)出現(xiàn)局部明暗差異,從而可以獲得均勻的圖象。采用這種方式,可以可靠地檢測(cè)出在光盤(pán)122的檢查區(qū)域308中是否存在有粘接劑。
      在此,為了能夠按照對(duì)光盤(pán)122中的全部檢查區(qū)域308實(shí)施完全覆蓋的方式,將環(huán)狀照明裝置301的光射入,還需要按照特定的位置關(guān)系,對(duì)電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203和環(huán)狀照明裝置301等實(shí)施設(shè)定。下面對(duì)這種特定的位置關(guān)系進(jìn)行說(shuō)明。
      如果取檢查區(qū)域308的內(nèi)側(cè)直徑為S1,被檢查的檢查區(qū)域308的外側(cè)直徑為S2,射入的環(huán)狀照明裝置301的內(nèi)側(cè)直徑為D1,射入光的環(huán)狀照明裝置301的外側(cè)直徑為D2,環(huán)狀照明裝置301的發(fā)光部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,環(huán)狀照明裝置301的發(fā)光部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,環(huán)狀照明裝置301的下端與光盤(pán)122間的距離為L(zhǎng)D,電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203上的第一主點(diǎn)位置HI與光盤(pán)122間的距離為HD,則實(shí)際的環(huán)狀照明裝置301與該環(huán)狀照明裝置301在光盤(pán)122圖象中生成出的虛象301a具有相似關(guān)系。由此HD∶D1=(HD+LD)∶L1
      HD∶D2=(HD+LD)∶L2成立。上述等式可以表示為L(zhǎng)1=D1(1+LD/HD)L2=D2×(1+LD/HD)。
      此時(shí),D1<S1且D2>S2,所以可以按照對(duì)檢查區(qū)域308實(shí)施完全覆蓋的方式,將環(huán)狀照明裝置301射入通過(guò)電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203攝象獲得的圖象中。因此,當(dāng)L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)時(shí),為可以對(duì)是否存在有粘接劑實(shí)施良好檢測(cè)的條件。
      當(dāng)L1過(guò)小時(shí),將不能對(duì)光盤(pán)122的檢查區(qū)域308中位于外周側(cè)處的圖象進(jìn)行攝象。因此,需要將L1設(shè)定的大于某一值。L1的大小可以通過(guò)下一等式進(jìn)行求解。
      (HD-LD)∶L1=HD∶S2,由此可以有L1>S2×(1-LD/HD),因此S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)。
      可以按照這種方式,設(shè)計(jì)如圖8所示的檢查機(jī)構(gòu)351。采用這樣設(shè)計(jì)的檢查機(jī)構(gòu)351,不僅可以按照完全覆蓋光盤(pán)122中全部檢查區(qū)域308的方式射入環(huán)狀照明裝置301的光,而且可以充分確保光盤(pán)122與電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203間的工作距離。
      對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量實(shí)施檢查的檢查區(qū)域308,其內(nèi)側(cè)直徑S1通常為15mm左右,外側(cè)直徑S2通常為40mm左右。
      圖11為表示這種光盤(pán)檢查裝置的電氣連接的方框圖。如圖所示,在這種檢查裝置中設(shè)置有微型計(jì)算機(jī)404,其由實(shí)施各種運(yùn)算處理并控制各部件的中央處理器(CPU)401、儲(chǔ)存控制程序等的固定數(shù)據(jù)的只讀儲(chǔ)存器(ROM)402,以及以可自由改寫(xiě)方式儲(chǔ)存可變數(shù)據(jù)的隨機(jī)存取儲(chǔ)存器(RAM)403構(gòu)成。各部件通過(guò)系統(tǒng)總線405與該微型計(jì)算機(jī)404相連接。連接在微型計(jì)算機(jī)404處的各部件可以為圖象存儲(chǔ)器406,電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203,環(huán)狀照明裝置301,顯示器407以及在光盤(pán)粘合用機(jī)器手408中的旋轉(zhuǎn)涂布裝置107等等。如圖所示,電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203通過(guò)接口部件409,環(huán)狀照明裝置301通過(guò)控制器410,顯示器407通過(guò)控制器411,旋轉(zhuǎn)涂布裝置107通過(guò)控制器412,分別與微型計(jì)算機(jī)404相連。
      電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203通過(guò)接口部件409將攝象獲得的圖象輸出信號(hào)送至微型計(jì)算機(jī)404中。
      微型計(jì)算機(jī)404將由電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203送來(lái)的圖象輸出信號(hào)保存在圖象存儲(chǔ)器406,并且將顯示信號(hào)傳送至顯示器407的控制器411。通過(guò)這種方式,該控制器411可以對(duì)應(yīng)由微型計(jì)算機(jī)404送來(lái)的顯示信號(hào),驅(qū)動(dòng)控制顯示器407,將電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203攝象獲得的圖象在顯示器407顯示。
      在這時(shí),微型計(jì)算機(jī)404還可以依據(jù)某閾值,對(duì)由電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203傳送來(lái)的圖象輸出信號(hào)實(shí)施區(qū)分,使其白黑二值化(二值化處理裝置)。因此,顯示器407除了可以顯示電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203攝象獲得的原圖象之外,還可以顯示白黑二值化處理后的圖象。
      而且,微型計(jì)算機(jī)404還可以依據(jù)諸如儲(chǔ)存在只讀儲(chǔ)存器(ROM)402處的控制程序,自由控制電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203的光圈、快門(mén)速度、感光度等。
      還可以依據(jù)微型計(jì)算機(jī)404給出的控制信號(hào),通過(guò)對(duì)控制器410實(shí)施驅(qū)動(dòng)控制,對(duì)環(huán)狀照明裝置301的輝度實(shí)施調(diào)節(jié)。
      旋轉(zhuǎn)涂布裝置107可以依據(jù)微型計(jì)算機(jī)404給出的控制信號(hào),通過(guò)對(duì)控制器412實(shí)施驅(qū)動(dòng)控制,對(duì)空氣閥118實(shí)施控制。這樣,便可以自由改變粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)的排出量?;蛘撸部梢詫⑼ㄟ^(guò)旋轉(zhuǎn)涂布裝置107對(duì)粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)的排出量實(shí)施的控制,替換為對(duì)兩個(gè)光盤(pán)基板103、104的轉(zhuǎn)動(dòng)速度實(shí)施的控制。
      還可以依據(jù)微型計(jì)算機(jī)404給出的控制信號(hào),通過(guò)對(duì)控制器412實(shí)施的驅(qū)動(dòng)控制,對(duì)旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的圖中未示出的電動(dòng)機(jī)實(shí)施驅(qū)動(dòng)控制。而且所述電動(dòng)機(jī),設(shè)在對(duì)噴嘴108的位置實(shí)施調(diào)節(jié)用的移動(dòng)機(jī)構(gòu)裝置中(參見(jiàn)圖1和圖2)。通過(guò)上述驅(qū)動(dòng)控制旋轉(zhuǎn)涂布裝置107可以自由改變相對(duì)兩個(gè)光盤(pán)基板103、104對(duì)粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)的排出位置。
      圖12為表示作為上述本發(fā)明實(shí)施例的光盤(pán)檢查裝置用的功能方框圖。這種功能方框圖中的各種功能,可以依據(jù)儲(chǔ)存在諸如只讀儲(chǔ)存器(ROM)402處的控制程序,參考保存在隨機(jī)存取儲(chǔ)存器(RAM)403(比如說(shuō)為備用電池存儲(chǔ)器和非易失性儲(chǔ)存器等等)處的各種參數(shù),由基于微型計(jì)算機(jī)404實(shí)施的各種運(yùn)算處理的控制完成。
      首先,圖象解析控制部501讀取電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203給出的圖象輸出信號(hào)并儲(chǔ)存在圖象存儲(chǔ)器406處,同時(shí)利用存儲(chǔ)在檢查條件儲(chǔ)存部502處的某一閾值對(duì)該圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理,并且將二值化處理后的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存在二值化數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部503處。此時(shí),按照使不存在粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)的區(qū)域作為白色圖象數(shù)據(jù),存在粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)的區(qū)域作為黑色圖象數(shù)據(jù)進(jìn)行表示。良好與否判定部504參考儲(chǔ)存在二值化數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部503處的二值化數(shù)據(jù),判斷光盤(pán)122的檢查區(qū)域308處是否良好(良好與否判定裝置,良好與否判定工序,依據(jù)由作為攝象裝置的電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑延展質(zhì)量良好與否實(shí)施判定用的工序)。在這時(shí),良好與否判定部504可以依據(jù)儲(chǔ)存在檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部505處的檢查用數(shù)據(jù),判定光盤(pán)122的檢查區(qū)域308是否良好。而且,良好與否判定部504還可以將粘接劑過(guò)多或不足的檢查結(jié)果儲(chǔ)存在檢查結(jié)果儲(chǔ)存部506中。
      在此,環(huán)狀照明裝置301還可以如前所述采用熒光燈。然而,當(dāng)采用熒光燈構(gòu)成環(huán)狀照明裝置301時(shí),無(wú)論怎樣在電極部分都會(huì)產(chǎn)生輝度下降,輝度不均勻的問(wèn)題。因此,在此時(shí)為了解決這一問(wèn)題,還可以在諸如圖象解析控制部501中,對(duì)由電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施陰影修正,以消除輝度不均勻的問(wèn)題。
      二值化數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部503由諸如幾個(gè)或幾十個(gè)組成,儲(chǔ)存光盤(pán)122檢查時(shí)獲得的多次二值化數(shù)據(jù)。檢查條件設(shè)定變更部507參考這些數(shù)據(jù),對(duì)檢查狀態(tài)的推移進(jìn)行判定(推移判定裝置,推移判定工序)。舉例來(lái)說(shuō),在多次的二值化數(shù)據(jù)均為表示不良產(chǎn)品的數(shù)據(jù),并且其傾向表示出相同傾向時(shí),可能是由于生產(chǎn)條件變更或材料批量變更所產(chǎn)生的。在此時(shí),儲(chǔ)存在檢查條件儲(chǔ)存部502處的檢查條件沒(méi)有適當(dāng)?shù)男拚?。而且舉例來(lái)說(shuō),還可以對(duì)儲(chǔ)存在二值化數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部503處的多次二值化數(shù)據(jù)實(shí)施平均化處理,對(duì)于該平均值超過(guò)相對(duì)預(yù)測(cè)平均值設(shè)定的某一閾值時(shí),可以通過(guò)檢查條件設(shè)定變更部507改寫(xiě)儲(chǔ)存在檢查條件儲(chǔ)存部502處的檢查條件。
      在檢查條件儲(chǔ)存部502處,儲(chǔ)存著如前所述的對(duì)電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理用的閾值,除此之外,還可以儲(chǔ)存環(huán)狀照明裝置301的照度、電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203的快門(mén)速度、光圈、感光度等數(shù)據(jù)。在通過(guò)檢查條件設(shè)定變更部507對(duì)儲(chǔ)存在如上所述的檢查條件儲(chǔ)存部502處的檢查條件(如對(duì)電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理用的閾值,環(huán)狀照明裝置301的照度、電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203的快門(mén)速度、光圈、感光度等)實(shí)施變更時(shí),圖象解析控制部501可以由下一次檢查開(kāi)始,依據(jù)變更后的檢查條件實(shí)施檢查操作。
      檢查結(jié)果儲(chǔ)存部506由諸如幾個(gè)或幾十個(gè)組成,儲(chǔ)存光盤(pán)122檢查時(shí)獲得的多次檢查結(jié)果。此時(shí),儲(chǔ)存的是有關(guān)粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)過(guò)多或不足的檢查結(jié)果。在粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)未出現(xiàn)過(guò)多或不足時(shí),其檢查結(jié)果可以不儲(chǔ)存在檢查結(jié)果儲(chǔ)存部506中。
      舉例來(lái)說(shuō),旋轉(zhuǎn)涂布用數(shù)據(jù)設(shè)定變更部508參考該檢查結(jié)果,對(duì)于多次檢查結(jié)果的平均值超過(guò)相對(duì)預(yù)測(cè)平均值設(shè)定的某閾值時(shí),改寫(xiě)儲(chǔ)存在旋轉(zhuǎn)涂布用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部509處的旋轉(zhuǎn)涂布用數(shù)據(jù)(設(shè)定值變更裝置,設(shè)定值變更工序)。即是,在旋轉(zhuǎn)涂布用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部509儲(chǔ)存著與旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的粘接劑排出量和粘接劑排出位置相關(guān)的參數(shù),在驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)涂布裝置107時(shí),旋轉(zhuǎn)涂布控制部510可根據(jù)這些參數(shù)對(duì)旋轉(zhuǎn)涂布裝置107實(shí)施驅(qū)動(dòng)控制。因此,在對(duì)儲(chǔ)存在如上所述的旋轉(zhuǎn)涂布用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部509處的旋轉(zhuǎn)涂布用數(shù)據(jù)實(shí)施變更時(shí),可以改變旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的粘接劑排出量和粘接劑排出位置。
      具體地講就是,在光盤(pán)122的檢查區(qū)域308處粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)不足時(shí),可以按照能夠?qū)υ摬蛔懔繉?shí)施補(bǔ)充的方式增加旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的粘接劑排出量,或是移動(dòng)旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的粘接劑排出位置。相反,在光盤(pán)122的檢查區(qū)域308處粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)過(guò)多時(shí),可以按照能夠消除該過(guò)多狀態(tài)的方式減少旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的粘接劑排出量,或是移動(dòng)旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的粘接劑排出位置。
      此時(shí),可以按照如下所述的方式對(duì)旋轉(zhuǎn)涂布裝置107的粘接劑排出量進(jìn)行調(diào)節(jié)。即依據(jù)由微型計(jì)算機(jī)404給出的控制信號(hào),利用控制器412實(shí)施的驅(qū)動(dòng)控制對(duì)空氣閥118實(shí)施控制,進(jìn)而改變粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)的排出量,或是控制光盤(pán)基板103、104的轉(zhuǎn)動(dòng)速度。
      圖13為表示儲(chǔ)存在檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部505中的檢查用數(shù)據(jù)的一例的圖。正如圖13所示,檢查用數(shù)據(jù)是分別通過(guò)透過(guò)區(qū)域最小面積551、透過(guò)區(qū)域最大面積552、邊緣部分?jǐn)?shù)目553、團(tuán)塊部分?jǐn)?shù)目554的值設(shè)定。在光盤(pán)122的檢查區(qū)域308中,粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)過(guò)多通過(guò)將作為透過(guò)區(qū)域最小面積551設(shè)定的值與采集的白色圖象數(shù)據(jù)比較實(shí)施判定。即是,如果由白色圖象數(shù)據(jù)表示的面積比作為透過(guò)區(qū)域最小面積551的設(shè)定的面積值小,便可以判定粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)過(guò)多。
      與此相對(duì),粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)不足通過(guò)將作為透過(guò)區(qū)域最大面積552設(shè)定的值與表示采集的白色圖象數(shù)據(jù)的面積進(jìn)行比較的方式實(shí)施判定。即是,如果表示白色圖象數(shù)據(jù)的面積比作為透過(guò)區(qū)域最大面積552的設(shè)定值大,便可以判定粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)不足。
      在此,如圖13所示的儲(chǔ)存在檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部505中的檢查用數(shù)據(jù)僅是一例,還可以將其他形式的檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存在檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部505中。
      圖14為表示儲(chǔ)存在檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部505中的檢查用數(shù)據(jù)的另一例的圖。在圖14例示時(shí),檢查用數(shù)據(jù)分別由非透過(guò)區(qū)域最小面積561、非透過(guò)區(qū)域最大面積562、邊緣部分?jǐn)?shù)目553、團(tuán)塊部分?jǐn)?shù)目554的值而設(shè)定。在光盤(pán)122的檢查區(qū)域308中,粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)不足通過(guò)將作為非透過(guò)區(qū)域最小面積561設(shè)定的面積值與表示采集的黑色圖象數(shù)據(jù)表示的面積值進(jìn)行比較的方式實(shí)施判定。即是,如果由黑色圖象數(shù)據(jù)表示的面積值比作為非透過(guò)區(qū)域最小面積561的設(shè)定值小,便可以判定粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)不足。
      與此相對(duì),粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)過(guò)多通過(guò)將作為非透過(guò)區(qū)域最大面積562的設(shè)定值,與采集的黑色圖象數(shù)據(jù)表示的面積值進(jìn)行比較的方式實(shí)施判定。即是,如果由黑色圖象數(shù)據(jù)表示的面積值比作為非透過(guò)區(qū)域最大面積562的設(shè)定值大,便可以判定粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)過(guò)多。
      圖15為表示儲(chǔ)存在檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部中的檢查用數(shù)據(jù)的再一例的圖。
      在圖15例示時(shí),檢查用數(shù)據(jù)分別由透過(guò)區(qū)域最小面積551、透過(guò)區(qū)域最大面積552、邊緣部分?jǐn)?shù)目553、團(tuán)塊部分?jǐn)?shù)目554的值設(shè)定。而且,透過(guò)區(qū)域最大面積552被分割成A區(qū)域571和B區(qū)域572,從而可以分別對(duì)各區(qū)域?qū)嵤┡卸?。此時(shí)光盤(pán)122的檢查區(qū)域308中粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)過(guò)多或不足的判定方式,與如圖13例示的檢查用數(shù)據(jù)時(shí)相同。
      圖16為表示儲(chǔ)存在檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部中的檢查用數(shù)據(jù)的又一例的圖。在圖16例示時(shí),檢查用數(shù)據(jù)分別由非透過(guò)區(qū)域最小面積561、非透過(guò)區(qū)域最大面積562、邊緣部分?jǐn)?shù)目553、團(tuán)塊部分?jǐn)?shù)目554的值設(shè)定。而且,非透過(guò)區(qū)域最小面積561被分割成A區(qū)域571和B區(qū)域572,從而可以分別對(duì)各區(qū)域?qū)嵤┡卸?。此時(shí),光盤(pán)122的檢查區(qū)域308中粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)過(guò)多或不足的判定方式,與如圖13例示出的檢查用數(shù)據(jù)時(shí)相同。
      下面,對(duì)圖13、圖14、圖15、圖16中的邊緣數(shù)目553、團(tuán)塊數(shù)目554、A區(qū)域571、B區(qū)域572進(jìn)行說(shuō)明。
      首先參考圖17A至圖17C,對(duì)邊緣部分?jǐn)?shù)目553進(jìn)行說(shuō)明。圖17A至圖17C為舉例表示在光盤(pán)122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處出現(xiàn)粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)過(guò)多或不足時(shí)的狀態(tài)用的示意圖。放大圖17A中矩形面積如圖17B或圖17C所示,分別表示粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)不同的過(guò)多或不足狀態(tài)的示意圖。
      如圖17B所示的狀態(tài),為粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)已經(jīng)局部出現(xiàn)在模槽區(qū)域126中的狀態(tài)。這時(shí),由于外觀上是不理想的,所以應(yīng)該判定為粘接劑延展?fàn)顟B(tài)不良。與此相對(duì),在如圖17C所示的狀態(tài),粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)均勻僅僅有一點(diǎn)在模槽區(qū)域126中溢出。這時(shí),與圖17B相比,不論粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)溢出面積大小,對(duì)外觀無(wú)妨。因此在此時(shí),應(yīng)該判定粘接劑的延展?fàn)顟B(tài)良好。
      由此可知,對(duì)比參考圖17B與圖17C,可以認(rèn)為,如果僅僅簡(jiǎn)單地考慮面積大小,不一定對(duì)粘接劑的延伸狀態(tài)給予適當(dāng)?shù)呐卸?。即是,還必須對(duì)溢出的粘接劑形狀是否良好實(shí)施判定。在本實(shí)施形式中,還將圖17A至圖17C中的假想圓周軌跡,儲(chǔ)存在檢查數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部505中,所以還可以對(duì)該圓周軌跡上圖象輸出信號(hào)(白黑二值化處理后的信號(hào))中產(chǎn)生有急劇變化的邊緣部分實(shí)施檢測(cè)。如果這種邊緣部分的數(shù)目比檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部505中的邊緣部分?jǐn)?shù)目553設(shè)定的值(閾值)大,可以判定在光盤(pán)122的檢查區(qū)域308的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處,粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)的形狀不良。
      這種判定處理方式與表示圖17B和圖17C時(shí)相當(dāng)。在如圖17B所示的狀態(tài)圖示部分中存在有四個(gè)邊緣部分(邊緣部分由×表示)。與此相對(duì),在圖17C狀態(tài)下不存在這種邊緣部分。因此,可以將如圖17B所示的狀態(tài)判定為粘接劑延展?fàn)顟B(tài)“不良”,將如圖17C所示的狀態(tài)判定為“良好”。
      下面參考圖18,對(duì)圖13至圖16所示的“團(tuán)塊部分?jǐn)?shù)目”554進(jìn)行說(shuō)明。圖18為舉例表示在光盤(pán)122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處出現(xiàn)粘接劑形狀不良(氣泡)狀態(tài)時(shí)用的示意圖。在如圖18所示的狀態(tài)下,粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)中出現(xiàn)氣泡601。氣泡601在粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)的應(yīng)延展區(qū)域中,可以認(rèn)為是局部缺少粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)的部分。在存在有若干個(gè)這種氣泡601時(shí),由于是外觀不理想的形狀不良,所以應(yīng)該判定為粘接劑延展?fàn)顟B(tài)不良。
      而且在本實(shí)施例中,可以參考白黑二值化處理后的圖象輸出信號(hào)中的白色圖象數(shù)據(jù),使用圖象處理方法中的“標(biāo)簽標(biāo)注方法”,對(duì)呈島狀獨(dú)立的白色區(qū)域?qū)嵤z測(cè),并且由上至下依次附加上標(biāo)號(hào)。采用這種標(biāo)簽標(biāo)注方法處理后的白色區(qū)域?yàn)闅馀?01。在圖18所示的實(shí)例中,在某局部區(qū)域存在有三個(gè)獨(dú)立的氣泡601。對(duì)采用這種標(biāo)簽標(biāo)注方法處理后的區(qū)域數(shù)目實(shí)施記數(shù),如果這一數(shù)值比檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部505中的團(tuán)塊部分?jǐn)?shù)目554設(shè)定的值大,可以判定在光盤(pán)122的檢查區(qū)域308的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124中,粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)的形狀不良。
      下面參考圖19,對(duì)如圖15、圖16所示的“A區(qū)域”571和“B區(qū)域”572進(jìn)行說(shuō)明。圖19為舉例表示在光盤(pán)122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處出現(xiàn)粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)形狀不良時(shí)的狀態(tài)用的示意圖。如圖19所示,在光盤(pán)122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處的粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)形狀不良指的是粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)有時(shí)沿光盤(pán)122的半徑方向延伸不足。在此時(shí),由于在外觀上是不理想的,所以應(yīng)該判定為粘接劑延展?fàn)顟B(tài)不良。然而這時(shí),粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)的延伸不足的面積可能并不大于某一程度,所以僅僅通過(guò)簡(jiǎn)單的面積比較,有時(shí)不可以對(duì)這種延伸不足的現(xiàn)象加以判定。
      在本實(shí)施形式中,成為外周側(cè)的B區(qū)域572的判定閾值是按照比成為光盤(pán)122內(nèi)周側(cè)的A區(qū)域571的判定閾值更嚴(yán)格的方式設(shè)定的。下面對(duì)這種更嚴(yán)格的設(shè)定方式作具體說(shuō)明。在通過(guò)圖15例示的、儲(chǔ)存在檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部505處的檢查用數(shù)據(jù)中,作為透過(guò)區(qū)域最大面積552的值,在B區(qū)域572設(shè)定的比較小。同樣在通過(guò)圖16例示的、儲(chǔ)存在檢查用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部505處的檢查用數(shù)據(jù)中,作為非透過(guò)區(qū)域最小面積561的值,在B區(qū)域572設(shè)定的比較小。采用這種方式,可以按照比內(nèi)周側(cè)更嚴(yán)格的判定方式,判定位于光盤(pán)122的外周側(cè)的粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)延伸不足。舉例來(lái)說(shuō),采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)圖19所例示的、沿著光盤(pán)122的半徑方向延伸的粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)的延伸不足實(shí)施適當(dāng)?shù)呐卸ā?br> 圖20為表示作為上述本發(fā)明實(shí)施形式的光盤(pán)檢查裝置中的處理流程用的流程圖。微型計(jì)算機(jī)404由電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203處獲取圖象輸出信號(hào)(步驟S101),依據(jù)設(shè)定在檢查條件儲(chǔ)存部502處的閾值對(duì)圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理(步驟S102,二值化處理裝置,二值化處理工序)。而且,將這種白黑二值化處理后的數(shù)據(jù)傳送至二值化數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部503處(步驟S103)。
      依據(jù)數(shù)據(jù)傳送并儲(chǔ)存在二值化數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部503中的白黑二值化數(shù)據(jù),依次對(duì)光盤(pán)122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124處的粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)是否延展不足實(shí)施判定(步驟S104),延展是否過(guò)度實(shí)施判定(步驟S105),邊緣部分?jǐn)?shù)目是否過(guò)多實(shí)施判定(步驟S106),團(tuán)塊部分?jǐn)?shù)目是否過(guò)多實(shí)施判定(步驟S107)。對(duì)于通過(guò)這些判定結(jié)果檢測(cè)到不良時(shí)(步驟S104中的判定結(jié)果為Y,步驟S105中的判定結(jié)果為Y,步驟S106中的判定結(jié)果為Y,步驟S107中的判定結(jié)果為Y,良好與否判定裝置,良好與否判定工序,依據(jù)由作為攝象裝置的電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑延展質(zhì)量良好與否實(shí)施判定用的工序),報(bào)告發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤(步驟S109)。該發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤用的報(bào)告可以由諸如顯示器407顯示出發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤信息完成。
      在此,在通過(guò)良好與否判定工序(依據(jù)由作為攝象裝置的電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑延展質(zhì)量良好與否實(shí)施判定的工序)獲得的判定結(jié)果為出現(xiàn)粘接劑延展質(zhì)量不良時(shí),還可以實(shí)施對(duì)這種出現(xiàn)不良的光盤(pán)122實(shí)施甄選的甄選工序。實(shí)施這種甄選工序的其他構(gòu)成形式,可以是用圖中未示出的自動(dòng)機(jī)械裝置等從光盤(pán)支撐臺(tái)201上對(duì)這種出現(xiàn)不良的光盤(pán)122實(shí)施去除的甄選形式。更具體的講,還可以是用自動(dòng)機(jī)械裝置等將光盤(pán)122從光盤(pán)支撐臺(tái)201上取下,對(duì)應(yīng)良好與否判定工序的判定結(jié)果,對(duì)良好產(chǎn)品和不良產(chǎn)品實(shí)施區(qū)分并傳送至不同的預(yù)定場(chǎng)所的甄選形式。這種利用自動(dòng)機(jī)械裝置等等從光盤(pán)支撐臺(tái)201處對(duì)光盤(pán)122實(shí)施的傳送移動(dòng)處理,可以采用現(xiàn)有技術(shù)容易實(shí)現(xiàn)。
      而且,對(duì)于判定結(jié)果為延展不足時(shí)(步驟S104中的判定結(jié)果為Y)和延展過(guò)度時(shí)(步驟S105中的判定結(jié)果為Y),還將表示該檢測(cè)結(jié)果的數(shù)據(jù)傳送至檢查結(jié)果儲(chǔ)存部506處(步驟S108)。
      如上面說(shuō)明的那樣,采用本實(shí)施例,可以將環(huán)狀照明裝置301給出的照射光束,均勻地照射在光盤(pán)122的整個(gè)檢查區(qū)域308上。在白黑二值化處理后的圖象輸出信號(hào)中,存在有粘接劑的部分由黑色構(gòu)成,不存在的部分由白色構(gòu)成,所以可以對(duì)表示粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)的存在部分和不存在部分的信號(hào)實(shí)施明確的分離。因此,可以對(duì)檢查區(qū)域308中粘接劑(紫外線硬化樹(shù)脂120)的過(guò)多或不足實(shí)施高精度檢測(cè)。而且,還可以充分確保光盤(pán)122與電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203間的工作距離。
      而且在檢測(cè)結(jié)束時(shí),可以將兩個(gè)光盤(pán)基板103、104粘合形成的光盤(pán)122的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域124作為檢查區(qū)域308,得到對(duì)該檢查區(qū)域308處的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施過(guò)檢查的粘合型光盤(pán)122。在實(shí)施所述甄選工序之后,還可以獲得檢查結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良的、作為甄選出的良好產(chǎn)品的光盤(pán)122。
      本發(fā)明的發(fā)明者通過(guò)采用如上所述的本發(fā)明實(shí)施例,實(shí)際實(shí)施本發(fā)明的方式驗(yàn)證了其技術(shù)效果。在此僅采用兩個(gè)檢查機(jī)構(gòu)351進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)。下面對(duì)這種性能進(jìn)行說(shuō)明。
      圖21為表示在該實(shí)驗(yàn)中使用的光盤(pán)檢查裝置的側(cè)面圖。如圖21所示的檢查機(jī)構(gòu)351,是一種環(huán)狀照明裝置301與光盤(pán)122間的攝象距離LD為156mm,使用常規(guī)的C型支架規(guī)格的電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203和透鏡203a實(shí)施檢測(cè)時(shí)的具體實(shí)施例。
      檢查粘接劑延展質(zhì)量的區(qū)域的內(nèi)側(cè)直徑S1為15mm,外側(cè)直徑S2為40mm。環(huán)狀照明裝置301為附加有壁厚為12mm的擴(kuò)散板303的環(huán)狀照明裝置301。
      首先,為延長(zhǎng)工作距離,使電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203的前端部與環(huán)狀照明裝置301的前端部位于相同的位置。此時(shí),LD=156mm,從所使用的透鏡203a的第一主點(diǎn)位置HI至光盤(pán)122間的距離HD=188mm。該位置關(guān)系為S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)。
      通過(guò)計(jì)算,有
      6.8<L1<27.4L2>73.2。
      然而,使用C型支架透鏡規(guī)格的電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203和透鏡203a間的安裝螺釘長(zhǎng)度為1英寸(25.4mm),透鏡203a的外徑通常為比它大的30mm左右。因此不可能有L1<27.4因此,這種設(shè)定使得本發(fā)明的上述實(shí)施例不能實(shí)施。
      圖22為說(shuō)明在使用如圖21所示的光盤(pán)檢查裝置(檢查機(jī)構(gòu)351)時(shí),使位于光盤(pán)122的檢查區(qū)域308的內(nèi)徑側(cè)處的影象直徑縮小,進(jìn)而將該影象從光盤(pán)122的檢查區(qū)域308的內(nèi)徑側(cè)除去的工序用的側(cè)面圖。
      如上所述,如圖21所舉例示出的設(shè)定條件,即L1<27.4是難以實(shí)現(xiàn)的,所以本發(fā)明的上述實(shí)施例不能實(shí)施。針對(duì)這種情況,可以如圖22例示的那樣,使光盤(pán)122彎曲呈凸形,從而可以使光盤(pán)122的檢查區(qū)域308的內(nèi)徑側(cè)處產(chǎn)生的影象直徑被縮小。采用這種方式,可以將該影象從光盤(pán)122的檢查區(qū)域308的內(nèi)徑側(cè)處去除。而且,對(duì)于通過(guò)肉眼對(duì)在顯示器407處映出的圖象實(shí)施檢查時(shí),還可以對(duì)光盤(pán)122的彎曲程度進(jìn)行調(diào)節(jié),將在光盤(pán)122的檢查區(qū)域308的內(nèi)徑側(cè)處產(chǎn)生的影象去除,進(jìn)而可以可靠地使由環(huán)狀照明裝置301給出的照射光束投射到該部分處。通過(guò)采用這種方式,可以利用肉眼對(duì)光盤(pán)122的粘接劑的延展實(shí)施檢查。
      圖23為表示在實(shí)驗(yàn)中使用的另一光盤(pán)檢查裝置的側(cè)面圖。在此與圖21所示的實(shí)例不同,是實(shí)施將環(huán)狀照明裝置301配置在電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203與光盤(pán)122之間的檢查機(jī)構(gòu)351的實(shí)驗(yàn)。
      在此時(shí),可以將環(huán)狀照明裝置301設(shè)置在LD=156mm的位置處。而且,可以按照在環(huán)狀照明裝置301的上端與電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203的透鏡203a的前端間存在有1mm的間隙的方式,對(duì)電荷耦合型攝象機(jī)(CCD攝象機(jī))203實(shí)施設(shè)置。從所使用的透鏡203a的第一主點(diǎn)位置HI至光盤(pán)122間的距離HD為201mm。
      這種位置關(guān)系為S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD),
      通過(guò)計(jì)算,有9.0<L1<26.6L2>71.0。
      而且,可以使環(huán)狀照明裝置301的發(fā)光部?jī)?nèi)側(cè)直徑L1=20mm,發(fā)光部外側(cè)直徑L2=80mm,投射到光盤(pán)122處的照明裝置內(nèi)側(cè)直徑D1=約11.3mm,投射到光盤(pán)122處的照明裝置外側(cè)直徑D2=約45mm。采用這種方式,可以使投射到光盤(pán)122處的照明光束的內(nèi)側(cè)直徑、外側(cè)直徑,均比檢查區(qū)域308(內(nèi)側(cè)直徑S115mm,外側(cè)直徑S240mm)擴(kuò)大,所以不會(huì)存在有環(huán)狀照明裝置301不能實(shí)施光束投射的部分。因此,可以在檢查區(qū)域308的整個(gè)區(qū)域中,對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量實(shí)施可靠地檢查。
      下面對(duì)本發(fā)明各方面技術(shù)效果進(jìn)行說(shuō)明。
      本發(fā)明提供的第一方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查裝置,其具有以位置不動(dòng)方式對(duì)作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)實(shí)施支撐的光盤(pán)支撐臺(tái);環(huán)狀照明裝置,其具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰?;照相裝置,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障?;?dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,從而可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明提供的第二方面,是在第一方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,對(duì)所述光盤(pán)支撐臺(tái)上至少與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚?,所以可以?duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施更高精度的檢查。
      本發(fā)明的第三方面,是在第一方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED),所以可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度,確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且,采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性,所以可以對(duì)光盤(pán)上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第四方面,是在第三方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向,所以可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸,并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度,進(jìn)而可以確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。
      本發(fā)明第五方面,是在第一方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈,所以可以采用價(jià)格低廉的照明裝置對(duì)光盤(pán)上的整個(gè)檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
      本發(fā)明第六方面,是在第五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有對(duì)于所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。采用這種構(gòu)成形式,即使彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處輝度不可避免地產(chǎn)生有急劇下降,也可以通過(guò)對(duì)照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施陰影修正的方式消除這種不均勻性,獲得與對(duì)光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果。因此,即使采用價(jià)格低廉的熒光燈作為環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,也可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。
      本發(fā)明第七方面,是在第一方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有將所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)在顯示器上顯示輸出的監(jiān)視裝置。采用這種構(gòu)成形式,還可以通過(guò)對(duì)顯示器的顯示實(shí)施觀察的方式,對(duì)光盤(pán)上檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施觀察,從而可以使判定其良好與否的作業(yè)容易實(shí)施。
      本發(fā)明第八方面,是在第七所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有利用某一閾值對(duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理的二值化處理裝置,所述監(jiān)視裝置將二值化處理后的所述圖象輸出信號(hào)顯示輸出在顯示器上。采用這種構(gòu)成形式,可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,因此可以使光盤(pán)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量一目了然,從而可以更容易實(shí)施判定其良好與否的作業(yè)。
      本發(fā)明第九方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查方法,其具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的工序;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば颍皇褂闷涔廨S按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的照相裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?;?dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),按照下述等式對(duì)各部件的位置關(guān)系實(shí)施設(shè)定S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,從而可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第十方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查方法,其具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的工序;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?;通過(guò)將所述光盤(pán)反轉(zhuǎn)成凹形狀,縮小與所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑大小相關(guān)出現(xiàn)在所述光盤(pán)檢查區(qū)域的內(nèi)徑側(cè)處的影象直徑,由此將該影象由所述光盤(pán)的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)去除的工序;使用其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的照相裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?。采用這種構(gòu)成形式,在光盤(pán)的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)也可以對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。
      本發(fā)明第十一方面,是一種光盤(pán)制造方法,其具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包含向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。而且所述檢查工序使用第九或十方面所述的光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。采用這種構(gòu)成形式,在采用第九方面所述的光盤(pán)檢查方法在對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查時(shí),可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在由光盤(pán)形成工序形成的光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上。因此,可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。而且,在采用第十方面所述的光盤(pán)檢查方法在對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查時(shí),在通過(guò)光盤(pán)形成工序形成的光盤(pán)的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)也可以對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。
      本發(fā)明第十二方面,是在第十一方面所述的光盤(pán)制造方法中,還具有在由所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實(shí)施判定的良好與否判定工序;在依據(jù)所述良好與否判定工序的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時(shí)可以對(duì)出現(xiàn)這種不良的所述光盤(pán)實(shí)施甄選的甄選工序。采用這種構(gòu)成形式,可以通過(guò)實(shí)施甄選工序,對(duì)出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤(pán)實(shí)施甄選作業(yè)。
      本發(fā)明第十三方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第九或十方面所述的光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。采用這種構(gòu)成形式,可以獲得對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查的光盤(pán)。
      本發(fā)明第十四方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第九或十方面所述的光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,并且依據(jù)該檢查結(jié)果,按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良的方式實(shí)施甄選。采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查,并且獲得依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果實(shí)施甄選作業(yè)后的光盤(pán)。
      而且,本發(fā)明第十五方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查裝置,其具有以位置不動(dòng)方式對(duì)作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)實(shí)施支撐的光盤(pán)支撐臺(tái);環(huán)狀照明裝置,其具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鳎徽障嘌b置,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障?;而且還具有檢查機(jī)構(gòu),當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),其按照下述等式S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)對(duì)各部件的位置關(guān)系實(shí)施設(shè)定;二值化處理裝置,其利用某一閾值對(duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理;良好與否判定裝置,其將白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)與某上下閾值進(jìn)行比較,以判定該檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域,而且對(duì)于實(shí)施白黑二值化處理后的圖象輸出信號(hào),可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示。因此,可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確的分離,對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第十六方面,是在第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號(hào)中的白色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時(shí),判定其粘接劑過(guò)多,所以可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑過(guò)多實(shí)施高精度地檢查。
      本發(fā)明第十七方面,是在第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號(hào)中的黑色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時(shí),判定其粘接劑過(guò)多,所以可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑過(guò)多實(shí)施高精度地檢查。
      本發(fā)明第十八方面,是在第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號(hào)中的白色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時(shí),判定其粘接劑不足,所以可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑不足實(shí)施高精度地檢查。
      本發(fā)明第十九方面,是在第十八方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置用于獲得對(duì)應(yīng)于將白黑二值化處理后的所述光盤(pán)檢查區(qū)域沿該光盤(pán)半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào),并且將該圖象輸出信號(hào)與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設(shè)定的上閾值進(jìn)行比較,在所述圖象輸出信號(hào)中的白色圖象數(shù)據(jù)高于任意一個(gè)所述分割檢查區(qū)域的上閾值時(shí),判定其粘接劑不足。采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)位于光盤(pán)外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴(yán)格的基準(zhǔn)對(duì)粘接劑的不足實(shí)施判定。采用這種方式,在單純實(shí)施面積對(duì)比中,在檢測(cè)不出沿光盤(pán)半徑方向的粘接劑不足部分的形狀時(shí),可以對(duì)這種粘接劑不足實(shí)施更可靠地檢測(cè)。
      本發(fā)明第二十方面,是在第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置在所述圖象輸出信號(hào)中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時(shí),判定其粘接劑不足,所以可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑不足實(shí)施高精度地檢查。
      本發(fā)明第二十一方面,是在第二十方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置用于獲得對(duì)應(yīng)于將白黑二值化處理后的所述光盤(pán)檢查區(qū)域沿該光盤(pán)半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域的所述圖象輸出信號(hào),并且將該圖象輸出信號(hào)與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設(shè)定的下閾值進(jìn)行比較,在所述圖象輸出信號(hào)中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于任意一個(gè)所述分割檢查區(qū)域的下閾值時(shí),判定其粘接劑不足。采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)位于光盤(pán)外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴(yán)格的基準(zhǔn)對(duì)粘接劑的不足實(shí)施判定。采用這種方式,在單純實(shí)施面積對(duì)比中,在檢測(cè)不出沿光盤(pán)半徑方向的粘接劑不足部分的形狀時(shí),可以對(duì)這種粘接劑不足實(shí)施更可靠地檢測(cè)。
      本發(fā)明第二十二方面,是在第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實(shí)施信息報(bào)告的報(bào)告裝置。采用這種構(gòu)成形式,可以依據(jù)報(bào)告裝置所報(bào)告的判定結(jié)果,使觀察者能夠更容易地對(duì)光盤(pán)是否良好實(shí)施識(shí)別。
      本發(fā)明第二十三方面,是在第二十二方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述報(bào)告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器,所以可以使光盤(pán)是否良好的結(jié)果更加一目了然。
      本發(fā)明第二十四方面,是在第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,對(duì)所述光盤(pán)支撐臺(tái)上至少與所述光盤(pán)檢查區(qū)域的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚?,所以可以?duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施更高精度的檢查。
      本發(fā)明第二十五方面,是在第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED),所以可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度,確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且,采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性,所以可以對(duì)光盤(pán)上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第二十六方面,是在第25方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向。采用這種構(gòu)成形式,可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸,并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此,可以確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。
      本發(fā)明第二十七方面,是在第十五方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈,所以可以采用價(jià)格低廉的照明裝置對(duì)光盤(pán)上的整個(gè)檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
      本發(fā)明第二十八方面,是在第二十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有對(duì)于所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施對(duì)所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻進(jìn)行陰影修正用的陰影修正裝置,所以即使彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處輝度不可避免地產(chǎn)生有急劇下降,也可以通過(guò)對(duì)照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施陰影修正的方式消除這種不均勻性。因此,可以獲得與對(duì)光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果,所以即使采用價(jià)格低廉的熒光燈作為環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,也可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。
      本發(fā)明第二十九方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查方法,其具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的工序;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば颍皇褂闷涔廨S按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的照相裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?;利用某一閾值?duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理的二值化處理工序;將白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)與某上下閾值進(jìn)行比較,以判定該檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足的良好與否判定工序;當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),按照下述等式對(duì)各部件的位置關(guān)系實(shí)施設(shè)定S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)。
      采用這種構(gòu)成形式,可以利用由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束對(duì)光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且,?duì)于實(shí)施白黑二值化處理后的圖象輸出信號(hào),可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確的分離。因此,可以對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第三十方面,是在第二十九方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號(hào)中的白色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時(shí),判定其粘接劑過(guò)多,所以可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑過(guò)多實(shí)施高精度地檢查。
      本發(fā)明第三十一方面,是在第二十九方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號(hào)中的黑色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時(shí),判定其粘接劑過(guò)多,所以可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑過(guò)多實(shí)施高精度地檢查。
      本發(fā)明第三十二方面,是在第二十九方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號(hào)中的白色圖象數(shù)據(jù)高于某一上閾值時(shí),判定其粘接劑不足,所以可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑不足實(shí)施高精度地檢查。
      本發(fā)明第三十三方面,是在第三十二方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序用于獲得對(duì)應(yīng)于將白黑二值化處理后的所述光盤(pán)檢查區(qū)域沿該光盤(pán)半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào),并且將該圖象輸出信號(hào)與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設(shè)定的上閾值進(jìn)行比較,在所述圖象輸出信號(hào)中的白色圖象數(shù)據(jù)高于任意一個(gè)所述分割檢查區(qū)域的上閾值時(shí),判定其粘接劑不足。采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)位于光盤(pán)外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴(yán)格的基準(zhǔn)對(duì)粘接劑的不足實(shí)施判定。采用這種方式,在單純實(shí)施面積對(duì)比中,在檢測(cè)不出沿光盤(pán)半徑方向的粘接劑不足部分的形狀時(shí),可以對(duì)這種粘接劑不足實(shí)施更可靠地檢查。
      本發(fā)明第三十四方面,是在第二十九方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序在所述圖象輸出信號(hào)中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于某一下閾值時(shí),判定其粘接劑不足,所以可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑不足實(shí)施高精度地檢查。
      本發(fā)明第三十五方面,是在第三十四方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序用于獲得對(duì)應(yīng)于將白黑二值化處理后的所述光盤(pán)檢查區(qū)域沿該光盤(pán)半徑方向分割成若干分割檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào),并且將該圖象輸出信號(hào)與按照在外周側(cè)的所述分割檢查區(qū)域更低的方式設(shè)定的下閾值進(jìn)行比較,在所述圖象輸出信號(hào)中的黑色圖象數(shù)據(jù)低于任意一個(gè)所述分割檢查區(qū)域的下閾值時(shí),判定其粘接劑不足。采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)位于光盤(pán)外周側(cè)位置處的分割檢查區(qū)域使用更嚴(yán)格的基準(zhǔn)對(duì)粘接劑的不足實(shí)施判定。采用這種方式,在單純實(shí)施面積對(duì)比中,在檢測(cè)不出沿光盤(pán)半徑方向的粘接劑不足部分的形狀時(shí),可以對(duì)這種粘接劑不足實(shí)施更可靠地檢查。
      本發(fā)明第三十六方面,是一種光盤(pán)制造方法,其具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包括向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。而且所述檢查工序使用第二十九至三十五方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在通過(guò)光盤(pán)形成工序形成的光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上。而且,對(duì)于實(shí)施白黑二值化處理后的圖象輸出信號(hào),可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示。因此,可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確的分離,對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第三十七方面,是在第三十六方面所述的光盤(pán)制造方法中,還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實(shí)施判定的良好與否判定工序;在依據(jù)所述良好與否判定工序的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時(shí)可以對(duì)出現(xiàn)這種不良的所述光盤(pán)實(shí)施甄選的甄選工序。采用這種構(gòu)成形式,可以通過(guò)實(shí)施甄選工序,對(duì)出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤(pán)實(shí)施甄選作業(yè)。
      本發(fā)明第三十八方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第二十九至三十五方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。采用這種構(gòu)成形式,可以獲得對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查后的光盤(pán)。
      本發(fā)明第三十九方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第二十九至三十五方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,并且依據(jù)該檢查結(jié)果,按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良的方式實(shí)施甄選。采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查,并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果獲得實(shí)施甄選作業(yè)后的光盤(pán)。
      本發(fā)明第四十方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查裝置,其具有以位置不動(dòng)方式對(duì)作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)實(shí)施支撐的光盤(pán)支撐臺(tái);環(huán)狀照明裝置,其具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰?;照相裝置,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障?;而且還具有檢查機(jī)構(gòu),當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),其按照下述等式S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)對(duì)各部件的位置關(guān)系實(shí)施設(shè)定;二值化處理裝置,其利用某一閾值對(duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理;良好與否判定裝置,其依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域中的粘接劑是否形狀不良實(shí)施判定。采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上。而且,對(duì)于實(shí)施白黑二值化處理后的圖象輸出信號(hào),可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示。因此,可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確的分離。通過(guò)這種方式,可以對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑是否形狀不良實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明第四十一方面,是在第四十方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置對(duì)位于所述光盤(pán)檢查區(qū)域中的圓周軌跡上的所述圖象輸出信號(hào)出現(xiàn)急劇變化的邊緣部分實(shí)施檢測(cè),當(dāng)該邊緣部分?jǐn)?shù)目大于某閾值時(shí),判定所述光盤(pán)檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。采用這種構(gòu)成形式,對(duì)于沿光盤(pán)半徑方向粘接劑出現(xiàn)不足部分形狀時(shí),可以對(duì)這種粘接劑不足實(shí)施可靠地檢測(cè)。
      本發(fā)明第四十二方面,是在第四十方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置對(duì)位于所述光盤(pán)檢查區(qū)域中由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的團(tuán)塊部分實(shí)施檢測(cè),當(dāng)由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的該團(tuán)塊部分?jǐn)?shù)目大于某閾值時(shí),判定所述光盤(pán)檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)于在檢查區(qū)域出現(xiàn)氣泡時(shí),對(duì)這種現(xiàn)象實(shí)施可靠地檢測(cè)。
      本發(fā)明第四十三方面,是在第四十方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實(shí)施信息報(bào)告的報(bào)告裝置,所以可以依據(jù)報(bào)告裝置所報(bào)告的判定結(jié)果,使觀察者能夠更容易地對(duì)光盤(pán)是否良好實(shí)施識(shí)別。
      本發(fā)明第四十四方面,是在第四十三方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述報(bào)告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器,所以可以使光盤(pán)是否良好一目了然。
      本發(fā)明第四十五方面,是在第四十方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,對(duì)所述光盤(pán)支撐臺(tái)上至少與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚?,所以可以?duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施更高精度的檢查。
      本發(fā)明第四十六方面,是在第四十方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED),所以可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度,確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且,采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性,所以可以對(duì)光盤(pán)上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明第四十七方面,是在第四十六方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向,所以可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸,并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此,可以確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。
      本發(fā)明第四十八方面,是在第四十六方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈,所以可以采用價(jià)格低廉的照明裝置對(duì)光盤(pán)上的整個(gè)檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
      本發(fā)明第四十九方面,是在第四十八方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有對(duì)于所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置,所以即使彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處輝度不可避免地產(chǎn)生有急劇下降,也可以通過(guò)對(duì)照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施陰影修正的方式消除這種不均勻性。因此,可以獲得與對(duì)光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果,所以即使采用價(jià)格低廉的熒光燈作為環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,也可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。
      本發(fā)明第五十方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查方法,其具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的工序;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば颍皇褂闷涔廨S按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的照相裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば颍焕媚骋婚撝祵?duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理的二值化處理工序;依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域中的粘接劑是否形狀不良實(shí)施判定的良好與否判定工序;當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),按照下述等式對(duì)各部件的位置關(guān)系實(shí)施設(shè)定S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上。而且,對(duì)于實(shí)施白黑二值化處理后的圖象輸出信號(hào),可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確的分離。通過(guò)這種方式,可以對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑是否形狀不良實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明提供的第五十一方面,是在第五十方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序?qū)ξ挥谒龉獗P(pán)檢查區(qū)域中的圓周軌跡上的所述圖象輸出信號(hào)出現(xiàn)急劇變化的邊緣部分實(shí)施檢測(cè),當(dāng)該邊緣部分?jǐn)?shù)目大于某閾值時(shí),判定所述光盤(pán)檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。采用這種構(gòu)成形式,對(duì)于沿光盤(pán)半徑方向粘接劑出現(xiàn)不足部分形狀時(shí),可以對(duì)這種粘接劑不足實(shí)施可靠地檢測(cè)。
      本發(fā)明提供的第五十二方面,是在第五十方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序?qū)ξ挥谒龉獗P(pán)檢查區(qū)域中由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的團(tuán)塊部分實(shí)施檢測(cè),當(dāng)由白色數(shù)據(jù)構(gòu)成的該團(tuán)塊部分?jǐn)?shù)目大于某閾值時(shí),判定所述光盤(pán)檢查區(qū)域中的粘接劑為形狀不良。采用這種構(gòu)成形式,可以對(duì)于在檢查區(qū)域出現(xiàn)氣泡時(shí),對(duì)這種現(xiàn)象實(shí)施可靠地檢測(cè)。
      本發(fā)明提供的第五十三方面,是一種光盤(pán)制造方法,其具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包括向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。而且所述檢查工序使用第五十至五十二方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束對(duì)通過(guò)光盤(pán)形成工序形成的光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆虻卣彰?。而且,?duì)于實(shí)施白黑二值化處理后的圖象輸出信號(hào),可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確的分離。通過(guò)這種方式,可以對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑是否形狀不良實(shí)施高精度的檢查。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明提供的第五十四方面,是在第五十三方面所述的光盤(pán)制造方法中,還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實(shí)施判定的工序;在依據(jù)對(duì)所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實(shí)施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時(shí)可以對(duì)出現(xiàn)這種不良的所述光盤(pán)實(shí)施甄選的甄選工序,所以可以通過(guò)實(shí)施甄選工序,對(duì)出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤(pán)實(shí)施甄選作業(yè)。
      本發(fā)明提供的第五十五方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第五十至五十二方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。采用這種構(gòu)成形式,可以獲得對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查后的光盤(pán)。
      本發(fā)明提供的第五十六方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第五十至五十二方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,并且依據(jù)該檢查結(jié)果,按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良的方式實(shí)施甄選。采用這種構(gòu)成形式,可以獲得對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查,并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果實(shí)施甄選作業(yè)后的光盤(pán)。
      本發(fā)明提供的第五十七方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查裝置,其具有以位置不動(dòng)方式對(duì)作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)實(shí)施支撐的光盤(pán)支撐臺(tái);環(huán)狀照明裝置,其具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鳎徽障嘌b置,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障啵欢疫€具有檢查機(jī)構(gòu),當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),其按照下述等式S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)對(duì)各部件的位置關(guān)系實(shí)施設(shè)定;二值化處理裝置,其利用某一閾值對(duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理;良好與否判定裝置,其依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過(guò)多或不足實(shí)施判定;推移判定裝置,其對(duì)應(yīng)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果,對(duì)檢查狀態(tài)的推移實(shí)施判定。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上。而且,對(duì)于實(shí)施白黑二值化處理后的圖象輸出信號(hào),可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示。因此,可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確的分離。通過(guò)這種方式,可以對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。而且,可以對(duì)應(yīng)這種判定結(jié)果判定檢查狀態(tài)的推移。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明提供的第五十八方面,是在第五十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述推移判定裝置采集某些所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果并獲得其平均值,對(duì)于該平均值位于相對(duì)預(yù)測(cè)平均值設(shè)定的某一閾值之外時(shí),判定檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移。采用這種構(gòu)成形式,可以參考若干個(gè)判定結(jié)果的平均值來(lái)判定檢查狀態(tài)的推移,所以可以提高判定精度。
      本發(fā)明提供的第五十九方面,是在第五十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有對(duì)于所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述二值化處理裝置使用的閾值設(shè)定實(shí)施變更的第一復(fù)原裝置,所以可以容易地由檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)。
      本發(fā)明提供的第六十方面,是在第五十八方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有對(duì)于所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述環(huán)狀照明裝置的輝度設(shè)定實(shí)施變更的第二復(fù)原裝置,所以可以容易地由檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)。
      本發(fā)明提供的第六十一方面,是在第五十八方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有對(duì)于所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述照相裝置實(shí)施靜止照相時(shí)的光圈設(shè)定實(shí)施變更的第三復(fù)原裝置。采用這種構(gòu)成形式,可以容易地由檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)。
      本發(fā)明提供的第六十二方面,是在第五十八方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有對(duì)于所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述照相裝置實(shí)施靜止照相時(shí)的快門(mén)速度設(shè)定實(shí)施變更的第四復(fù)原裝置。采用這種構(gòu)成形式,可以容易地由檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)。
      本發(fā)明提供的第六十三方面,是在第五十八方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有對(duì)于所述推移判定裝置判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述照相裝置實(shí)施靜止照相時(shí)的感光度設(shè)定實(shí)施變更的第五復(fù)原裝置,所以可以容易地由檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)。
      本發(fā)明提供的第六十四方面,是在第五十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實(shí)施信息報(bào)告的報(bào)告裝置,所以可以依據(jù)報(bào)告裝置所報(bào)告的判定結(jié)果,使觀察者能夠更容易地對(duì)光盤(pán)是否良好實(shí)施識(shí)別。
      本發(fā)明提供的第六十五方面,是在第六十四方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述報(bào)告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器,所以可以使光盤(pán)是否良好一目了然。
      本發(fā)明提供的第六十六方面,是在第五十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,對(duì)所述光盤(pán)支撐臺(tái)上至少與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚?,所以可以?duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施更高精度的檢查。
      本發(fā)明提供的第六十七方面,是在第五十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED),所以可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度,確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且,采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性,所以可以對(duì)光盤(pán)上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明提供的第六十八方面,是在第六十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向,所以可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸,并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此,可以確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。
      本發(fā)明提供的第六十九方面,是在第五十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈。采用這種構(gòu)成形式,還可以采用價(jià)格低廉的照明裝置對(duì)光盤(pán)上的整個(gè)檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
      本發(fā)明提供的第七十方面,是在第六十九方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有對(duì)于所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。采用這種構(gòu)成形式,即使彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處輝度不可避免地產(chǎn)生有急劇下降,也可以通過(guò)對(duì)照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施陰影修正的方式消除這種不均勻性。因此,可以獲得與對(duì)光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果。因此,即使采用價(jià)格低廉的熒光燈作為環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,也可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。
      本發(fā)明提供的第七十一方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查方法,其具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的工序;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば颍皇褂闷涔廨S按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的照相裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば颍焕媚骋婚撝祵?duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理的二值化處理工序;依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過(guò)多或不良實(shí)施判定的良好與否判定工序;對(duì)應(yīng)所述良好與否判定工序的判定結(jié)果,對(duì)檢查狀態(tài)的推移實(shí)施判定的推移判定工序;當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),按照下述等式對(duì)各部件的位置關(guān)系實(shí)施設(shè)定S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上。而且,對(duì)于實(shí)施白黑二值化處理后的圖象輸出信號(hào),可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確的分離。通過(guò)這種方式,可以對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。而且,可以對(duì)應(yīng)這種判定結(jié)果判定檢查狀態(tài)的推移。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明提供的第七十二方面,是在第七十一方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述推移判定工序采集某些所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果并獲得其平均值,對(duì)于該平均值位于相對(duì)預(yù)測(cè)平均值在某一閾值之外時(shí),判定檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移。采用這種構(gòu)成形式,可以參考若干個(gè)判定結(jié)果的平均值來(lái)判定檢查狀態(tài)的推移,所以可以提高判定精度。
      本發(fā)明提供的第七十三方面,是在第七十二方面所述的光盤(pán)檢查方法中,還具有對(duì)于所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述二值化處理裝置使用的閾值設(shè)定實(shí)施變更的第一復(fù)原工序。采用這種構(gòu)成形式,可以容易地由檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)。
      本發(fā)明提供的第七十四方面,是在第七十二方面所述的光盤(pán)檢查方法中,還具有在所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述環(huán)狀照明裝置的輝度設(shè)定實(shí)施變更的第二復(fù)原工序,所以可以容易地由檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)。
      本發(fā)明提供的第七十五方面,是在第七十二方面所述的光盤(pán)檢查方法中,還具有對(duì)于所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述照相裝置實(shí)施靜止照相時(shí)的光圈設(shè)定實(shí)施變更的第三復(fù)原工序,所以可以容易地由檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)。
      本發(fā)明提供的第七十六方面,是在第七十二方面所述的光盤(pán)檢查方法中,還具有對(duì)于所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述照相裝置實(shí)施靜止照相時(shí)的快門(mén)速度設(shè)定實(shí)施變更的第四復(fù)原工序,所以可以容易地由檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)。
      本發(fā)明提供的第七十七方面,是在第七十二方面所述的光盤(pán)檢查方法中,還具有對(duì)于所述推移判定工序判定為檢查狀態(tài)出現(xiàn)推移時(shí),按照促使檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)的方式對(duì)所述照相裝置實(shí)施靜止照相時(shí)的感光度設(shè)定實(shí)施變更的第五復(fù)原工序,所以可以容易地由檢查狀態(tài)復(fù)原至理想狀態(tài)。
      本發(fā)明提供的第七十八方面,是一種光盤(pán)制造方法,其具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包括向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。而且所述檢查工序使用第七十一至七十七方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,而且,對(duì)于實(shí)施白黑二值化處理后的圖象輸出信號(hào),可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確的分離。通過(guò)這種方式,可以對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。而且,可以對(duì)應(yīng)這種判定結(jié)果判定檢查狀態(tài)的推移。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明提供的第七十九方面,是在第七十八方面所述的光盤(pán)制造方法中,還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實(shí)施判定的工序;在依據(jù)對(duì)所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實(shí)施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時(shí)可以對(duì)出現(xiàn)這種不良的所述光盤(pán)實(shí)施甄選的甄選工序。采用這種構(gòu)成形式,可以通過(guò)實(shí)施甄選工序,對(duì)出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤(pán)實(shí)施甄選作業(yè)。
      本發(fā)明提供的第八十方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第七十一至七十七方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。采用這種構(gòu)成形式,可以獲得對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查后的光盤(pán)。
      本發(fā)明提供的第八十一方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第七十一至七十七方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,并且依據(jù)該檢查結(jié)果,按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良的方式實(shí)施甄選。采用這種構(gòu)成形式,可以獲得對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查,并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果實(shí)施甄選作業(yè)后的光盤(pán)。
      本發(fā)明提供的第八十二方面,是一種將由通過(guò)旋轉(zhuǎn)涂布裝置供給的粘接劑對(duì)兩個(gè)光盤(pán)基板實(shí)施粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查裝置,其具有以位置不動(dòng)方式對(duì)作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)實(shí)施支撐的光盤(pán)支撐臺(tái);環(huán)狀照明裝置,其具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鳎徽障嘌b置,其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障?;而且還具有檢查機(jī)構(gòu),當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),按照下述等式S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)對(duì)各部件的位置關(guān)系實(shí)施設(shè)定;二值化處理裝置,其利用某一閾值對(duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理;良好與否判定裝置,其依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過(guò)多或不足實(shí)施判定;設(shè)定值變更裝置,其在所述良好與否判定裝置判定為在所述光盤(pán)檢查區(qū)域中出現(xiàn)粘接劑過(guò)多或不足的結(jié)果時(shí),按照消除這種過(guò)多或不足現(xiàn)象的方式對(duì)與所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動(dòng)相關(guān)的設(shè)定值實(shí)施變更。采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上,而且對(duì)于實(shí)施白黑二值化處理后的圖象輸出信號(hào),可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確的分離。通過(guò)這種方式,可以對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。而且,對(duì)于判定結(jié)果為光盤(pán)檢查區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過(guò)多或不足時(shí),可以按照消除這種過(guò)多或不足現(xiàn)象的方式,對(duì)與旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動(dòng)相關(guān)的設(shè)定值實(shí)施變更,由此通過(guò)這種方式消除粘接劑的過(guò)多或不足問(wèn)題。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明提供的第八十三方面,是在第八十二方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述良好與否判定裝置采集某些所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果并獲得其平均值,對(duì)于該平均值位于相對(duì)預(yù)測(cè)平均值在某一閾值之外時(shí),判定所述光盤(pán)檢查區(qū)域中的粘接劑出現(xiàn)過(guò)多或不足現(xiàn)象。采用這種構(gòu)成形式,還可以依據(jù)若干個(gè)判定結(jié)果的平均值對(duì)粘接劑過(guò)多或不足實(shí)施判定,所以可以提高判定精度。
      本發(fā)明提供的第八十四方面,是在第八十二或八十三方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述設(shè)定值變更裝置變更的設(shè)定值為對(duì)所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實(shí)施變更的值,所以可以通過(guò)對(duì)旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實(shí)施調(diào)節(jié)的方式,消除粘接劑的過(guò)多或不足現(xiàn)象。
      本發(fā)明提供的第八十五方面,是在第八十二或八十三方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述設(shè)定值變更裝置變更的設(shè)定值為沿著所述兩個(gè)光盤(pán)基板的半徑方向?qū)λ鲂D(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實(shí)施變更的值,所以可以通過(guò)對(duì)旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實(shí)施調(diào)節(jié)的方式,消除粘接劑的過(guò)多或不足現(xiàn)象。
      本發(fā)明提供的第八十六方面,是在第八十二或八十三方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述設(shè)定值變更裝置變更的設(shè)定值為對(duì)粘接劑涂布之后的所述兩個(gè)光盤(pán)基板的轉(zhuǎn)動(dòng)速度實(shí)施變更的值,所以可以通過(guò)對(duì)光盤(pán)基板的轉(zhuǎn)動(dòng)速度實(shí)施調(diào)節(jié)的方式,消除粘接劑的過(guò)多或不足現(xiàn)象。
      本發(fā)明提供的第八十七方面,是在第八十二方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有依據(jù)所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果實(shí)施信息報(bào)告的報(bào)告裝置,所以可以依據(jù)報(bào)告裝置所報(bào)告的判定結(jié)果,使觀察者能夠更容易地對(duì)光盤(pán)是否良好實(shí)施識(shí)別。
      本發(fā)明提供的第八十八方面,是在第八十七方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述報(bào)告裝置將所述良好與否判定裝置的判定結(jié)果顯示輸出至顯示器,所以可以使光盤(pán)是否良好一目了然。
      本發(fā)明提供的第八十九方面,是在第八十二方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,對(duì)所述光盤(pán)支撐臺(tái)上至少與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的區(qū)域?qū)嵤┑头瓷涮幚?,所以可以?duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施更高精度的檢查。
      本發(fā)明提供的第九十方面,是在第八十二方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的所述光源為發(fā)光二極管(LED),所以可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度,確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。而且,采用發(fā)光二極管(LED)的環(huán)狀照明裝置具有更高的輝度均勻性,所以可以對(duì)光盤(pán)上的檢查區(qū)域?qū)嵤└鶆虻恼彰鳌?br> 本發(fā)明提供的第九十一方面,是在第九十方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,所述發(fā)光二極管(LED)的光軸朝向所述環(huán)狀照明裝置的內(nèi)周方向,所以可以減小發(fā)光二極管(LED)由環(huán)狀照明裝置朝向光束照射方向的尺寸,并且可以減小環(huán)狀照明裝置的厚度。因此,可以確保在光盤(pán)與照相裝置之間具有更大的工作距離。
      本發(fā)明提供的第九十二方面,是在第八十二方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,用于所述環(huán)狀照明裝置中的光源為彎曲成環(huán)狀的熒光燈,所以可以采用價(jià)格低廉的照明裝置對(duì)光盤(pán)上的整個(gè)檢查區(qū)域?qū)嵤┐篌w均勻的照明。
      本發(fā)明提供的第九十三方面,是在第九十二方面所述的光盤(pán)檢查裝置中,還具有對(duì)于所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施用于修正所述環(huán)狀照明裝置的輝度不均勻的陰影修正的陰影修正裝置。采用這種構(gòu)成形式,即使彎曲成環(huán)狀的熒光燈在其電極部分處輝度不可避免地產(chǎn)生有急劇下降,也可以通過(guò)對(duì)照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施陰影修正的方式消除這種不均勻性,從而可以獲得與對(duì)光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┚鶆蛘彰鞯耐瑯咏Y(jié)果。因此,即使采用價(jià)格低廉的熒光燈作為環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,也可以對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度的檢查。
      本發(fā)明提供的第九十四方面,是一種將由通過(guò)旋轉(zhuǎn)涂布裝置供給的粘接劑對(duì)兩個(gè)光盤(pán)基板實(shí)施粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的光盤(pán)檢查方法,其具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的工序;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯墓ば?;使用其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的照相裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟墓ば?;利用某一閾值?duì)所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理的二值化處理工序;依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過(guò)多或不良實(shí)施判定的良好與否判定工序;對(duì)于所述良好與否判定裝置判定為在所述光盤(pán)檢查區(qū)域中出現(xiàn)粘接劑過(guò)多或不足的結(jié)果時(shí),按照消除這種過(guò)多或不足現(xiàn)象的方式對(duì)與所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動(dòng)相關(guān)的設(shè)定值實(shí)施變更的設(shè)定值變更工序;當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),按照下述等式對(duì)各部件的位置關(guān)系實(shí)施設(shè)定S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)
      L2>S2×(1+LD/HD)。
      采用這種構(gòu)成形式,可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上。而且,對(duì)實(shí)施白黑二值化處理后的圖象輸出信號(hào),可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確的分離,進(jìn)而可以對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。而且,對(duì)于判定結(jié)果為光盤(pán)檢查區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過(guò)多或不足時(shí),按照消除這種過(guò)多或不足現(xiàn)象的方式,對(duì)與旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動(dòng)相關(guān)的設(shè)定值實(shí)施變更,由此通過(guò)這種方式消除粘接劑的過(guò)多或不足問(wèn)題。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明提供的第九十五方面,是在第九十四方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述良好與否判定工序采集某些判定結(jié)果并獲得其平均值,該平均值相對(duì)于預(yù)測(cè)平均值位于某一閾值之外時(shí),判定所述光盤(pán)檢查區(qū)域中的粘接劑出現(xiàn)過(guò)多或不足現(xiàn)象。采用這種構(gòu)成形式,還可以依據(jù)若干個(gè)判定結(jié)果的平均值對(duì)粘接劑過(guò)多或不足實(shí)施判定,所以可以提高判定精度。
      本發(fā)明提供的第九十六方面,是在第九十四或九十五方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述設(shè)定值變更工序變更的設(shè)定值為對(duì)所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實(shí)施變更的值,所以可以通過(guò)對(duì)旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出量實(shí)施調(diào)節(jié)的方式,消除粘接劑的過(guò)多或不足現(xiàn)象。
      本發(fā)明提供的第九十七方面,是在第九十四或九十五方面所述的光盤(pán)檢查方法,所述設(shè)定值變更工序變更的設(shè)定值為沿著所述兩個(gè)光盤(pán)基板的半徑方向?qū)λ鲂D(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實(shí)施變更的值,所以可以通過(guò)對(duì)旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑排出位置實(shí)施調(diào)節(jié)的方式,消除粘接劑的過(guò)多或不足現(xiàn)象。
      本發(fā)明提供的第九十八方面,是在第九十四或九十五方面所述的光盤(pán)檢查方法中,所述設(shè)定值變更工序變更的設(shè)定值為對(duì)粘接劑涂布之后的所述兩個(gè)光盤(pán)基板的轉(zhuǎn)動(dòng)速度實(shí)施變更的值,所以可以通過(guò)對(duì)光盤(pán)基板的轉(zhuǎn)動(dòng)速度實(shí)施調(diào)節(jié)的方式,消除粘接劑的過(guò)多或不足現(xiàn)象。
      本發(fā)明提供的第九十九方面,是一種光盤(pán)制造方法,其具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包括向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查。而且所述檢查工序使用第九十四至九十八方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,所以可以將由環(huán)狀照明裝置給出的照射光束均勻地投射在光盤(pán)的整個(gè)檢查區(qū)域上。而且,對(duì)于實(shí)施白黑二值化處理后的圖象輸出信號(hào),可以使存在有粘接劑的部分由黑色表示,不存在有粘接劑的部分由白色表示,從而可以對(duì)表示存在有粘接劑的部分和不存在有粘接劑的部分的信號(hào)實(shí)施明確的分離。通過(guò)這種方式,可以對(duì)檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足實(shí)施高精度的檢查。而且,對(duì)于判定結(jié)果為光盤(pán)檢查區(qū)域出現(xiàn)粘接劑過(guò)多或不足時(shí),可以按照消除這種過(guò)多或不足現(xiàn)象的方式,對(duì)與旋轉(zhuǎn)涂布裝置的粘接劑供給量實(shí)施調(diào)節(jié),進(jìn)而通過(guò)這種方式消除粘接劑的過(guò)多或不足問(wèn)題。同時(shí),還可以充分確保在光盤(pán)與照相裝置之間的工作距離。
      本發(fā)明提供的第一百方面,是在第九十九方面所述的光盤(pán)制造方法中,還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實(shí)施判定的工序;在依據(jù)對(duì)所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實(shí)施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時(shí)可以對(duì)出現(xiàn)這種不良的所述光盤(pán)實(shí)施甄選的甄選工序。所以可以通過(guò)實(shí)施甄選工序,對(duì)出現(xiàn)這種粘接劑延展質(zhì)量不良的光盤(pán)實(shí)施甄選作業(yè)。
      本發(fā)明提供的第一百零一方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第九十四至九十八方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,所以可以獲得對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查后的光盤(pán)。
      本發(fā)明提供的第一百零二方面,是一種將由兩個(gè)光盤(pán)基板粘合而形成的光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查的粘合型光盤(pán),其利用第九十四至九十八方面所述的任何一種光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,并且依據(jù)該檢查結(jié)果,按照粘接劑延展質(zhì)量未出現(xiàn)不良的方式實(shí)施甄選,所以可以獲得對(duì)檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施高精度檢查,并且依據(jù)該高精度的檢查結(jié)果實(shí)施甄選作業(yè)后的光盤(pán)。
      而且,本發(fā)明的實(shí)施方式并不僅限于如上所述的形式,通過(guò)如下所述的權(quán)利要求保護(hù)范圍所記載的內(nèi)容,還可以導(dǎo)出其它許多形式的實(shí)施形式。
      本申請(qǐng)是以下述申請(qǐng)為基礎(chǔ)的,這些申請(qǐng)中的內(nèi)容以引用的形式引入在本發(fā)明中日本特愿2002-224855號(hào),日本特愿2002-224889號(hào),日本特愿2002-225016號(hào),日本特愿2002-225017號(hào),日本特愿2002-225018號(hào),日本特愿2002-289561號(hào),日本特愿2002-289562號(hào),日本特愿2002-289600號(hào),日本特愿2002-289609號(hào),日本特愿2002-303245號(hào),日本特愿2003-174796號(hào),日本特愿2003-174797號(hào),日本特愿2003-174798號(hào),日本特愿2003-174799號(hào),日本特愿2003-174800號(hào),這些申請(qǐng)的申請(qǐng)日分別為2002年8月1日,2002年8月1日,2002年8月1日,2002年8月1日,2002年8月1日,2002年10月2日,2002年10月2日,2002年10月2日,2002年10月2日,2002年10月17日,2003年6月19日,2003年6月19日,2003年6月19日,2003年6月19日,2003年6月19日。
      權(quán)利要求
      1.一種光盤(pán)制造方法,其特征在于,具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包括向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查;而且所述檢查工序使用如下的光盤(pán)檢查方法,對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,即,該光盤(pán)檢查方法,具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上用的步驟;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯牟襟E;使用其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的照相裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟牟襟E;當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)。
      2.一種光盤(pán)制造方法,其特征在于,具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包括向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查;而且所述檢查工序使用如下的光盤(pán)檢查方法,對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,即,該光盤(pán)檢查方法,具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上用的步驟;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯牟襟E;通過(guò)將所述光盤(pán)反轉(zhuǎn)成凹形狀,縮小與所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑大小相關(guān)出現(xiàn)在所述光盤(pán)檢查區(qū)域的內(nèi)徑側(cè)處的影象直徑,由此將該影象由所述光盤(pán)的檢查區(qū)域內(nèi)徑側(cè)去除的步驟;使用其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的照相裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱障嗟牟襟E。
      3.如權(quán)利要求1或2所述的光盤(pán)制造方法,其特征在于,還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實(shí)施判定的良好與否判定工序;在依據(jù)所述良好與否判定工序的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時(shí)可以對(duì)出現(xiàn)這種不良的所述光盤(pán)實(shí)施甄選的甄選工序。
      4.一種光盤(pán)制造方法,其特征在于,具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包括向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查;而且所述檢查工序使用如下的光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,該光盤(pán)檢查方法具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的步驟;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯牟襟E;使用其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的攝象裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤z象的步驟;利用某一閾值對(duì)所述攝象裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理的二值化處理步驟;將白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)與某上下閾值進(jìn)行比較,以判定該檢查區(qū)域中粘接劑是否過(guò)多或不足的良好與否判定步驟;當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述攝象裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)。
      5.如權(quán)利要求4所述的光盤(pán)制造方法,其特征在于,還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實(shí)施判定的工序;在依據(jù)所述良好與否判定工序的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時(shí)可以對(duì)出現(xiàn)這種不良的所述光盤(pán)實(shí)施甄選的甄選工序。
      6.一種光盤(pán)制造方法,其特征在于,具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包括向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查;而且所述檢查工序使用如下的光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,該光盤(pán)檢查方法,具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的步驟;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯牟襟E;使用其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的攝象裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤z象的步驟;利用某一閾值對(duì)所述攝象裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理的二值化處理步驟;依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域中的粘接劑是否形狀不良實(shí)施判定的良好與否判定步驟;當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述攝象裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)。
      7.如權(quán)利要求6所述的光盤(pán)制造方法,其特征在于,還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實(shí)施判定的工序;在依據(jù)對(duì)所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實(shí)施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時(shí)可以對(duì)出現(xiàn)這種不良的所述光盤(pán)實(shí)施甄選的甄選工序。
      8.一種光盤(pán)制造方法,其特征在于,具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包括向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查;而且所述檢查工序使用如下的光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,該光盤(pán)檢查方法具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的步驟;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯牟襟E;使用其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的攝象裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤z象的步驟;利用某一閾值對(duì)所述攝象裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理的二值化處理步驟;依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過(guò)多或不良實(shí)施判定的良好與否判定步驟;響應(yīng)所述良好與否判定工序的判定結(jié)果,對(duì)檢查狀態(tài)的推移實(shí)施判定的推移判定步驟;當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述攝象裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/HD)。
      9.如權(quán)利要求8所述的光盤(pán)制造方法,其特征在于,還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實(shí)施判定的工序;在依據(jù)對(duì)所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實(shí)施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時(shí)可以對(duì)出現(xiàn)這種不良的所述光盤(pán)實(shí)施甄選的甄選工序。
      10.一種光盤(pán)制造方法,其特征在于,具有形成粘合型光盤(pán)的光盤(pán)形成工序,其包括向固定在轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)處的第一光盤(pán)基板上排出粘接劑的階段,將第二光盤(pán)基板重合在所述第一光盤(pán)基板上的階段,轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)以使位于所述兩個(gè)光盤(pán)基板間的粘接劑延展的階段,對(duì)延展的粘接劑實(shí)施硬化處理的階段;檢查工序,其將所述粘合型光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域作為檢查區(qū)域,并且對(duì)該檢查區(qū)域的粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查;而且所述檢查工序使用如下的光盤(pán)檢查方法對(duì)粘接劑延展質(zhì)量實(shí)施檢查,該光盤(pán)檢查方法具有以位置不動(dòng)方式將作為檢查對(duì)象物的光盤(pán)支撐在光盤(pán)支撐臺(tái)上的步驟;對(duì)具有光源和從光源給出的照射光束實(shí)施擴(kuò)散的擴(kuò)散板的、其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的環(huán)狀照明裝置實(shí)施照明,并且將由所述擴(kuò)散板給出的照射光束從上側(cè)呈環(huán)狀對(duì)所述光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤┱彰鞯牟襟E;使用其光軸按照與支撐在所述光盤(pán)支撐臺(tái)處的所述光盤(pán)中心軸相重合的方式實(shí)施配置的攝象裝置,從上側(cè)對(duì)該光盤(pán)的檢查區(qū)域?qū)嵤z象的步驟;利用某一閾值對(duì)所述攝象裝置給出的圖象輸出信號(hào)實(shí)施白黑二值化處理的二值化處理步驟;依據(jù)白黑二值化處理后的、與所述光盤(pán)檢查區(qū)域相對(duì)應(yīng)的所述圖象輸出信號(hào)對(duì)該檢查區(qū)域中的粘接劑是否為過(guò)多或不良實(shí)施判定的良好與否判定步驟;對(duì)于所述良好與否判定裝置判定為在所述光盤(pán)檢查區(qū)域中出現(xiàn)粘接劑過(guò)多或不足的結(jié)果時(shí),按照消除這種過(guò)多或不足現(xiàn)象的方式對(duì)與所述旋轉(zhuǎn)涂布裝置的驅(qū)動(dòng)相關(guān)的設(shè)定值實(shí)施變更的設(shè)定值變更步驟;當(dāng)取檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置與所述光盤(pán)間的距離為L(zhǎng)D,所述攝象裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),滿足S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD)L2>S2×(1+LD/KD)。
      11.如權(quán)利要求10所述的光盤(pán)制造方法,其特征在于,還具有依據(jù)由所述照相裝置給出的圖象輸出信號(hào)對(duì)粘接劑的延展質(zhì)量是否良好實(shí)施判定的工序;在依據(jù)對(duì)所述粘接劑延展質(zhì)量良好與否實(shí)施判定的工序給出的判定結(jié)果為粘接劑延展質(zhì)量出現(xiàn)不良時(shí)可以對(duì)出現(xiàn)這種不良的所述光盤(pán)實(shí)施甄選的甄選工序。
      全文摘要
      一種光盤(pán)制造方法。當(dāng)用環(huán)狀照明裝置(301)對(duì)粘合型光盤(pán)(122)的內(nèi)周側(cè)透明區(qū)域照明,用照相裝置(203)照相,并檢查該檢查區(qū)域(308)的粘接劑延展質(zhì)量時(shí),當(dāng)檢查區(qū)域內(nèi)側(cè)直徑為S1,檢查區(qū)域外側(cè)直徑為S2,所述環(huán)狀照明裝置(301)的照明部?jī)?nèi)側(cè)直徑為L(zhǎng)1,所述環(huán)狀照明裝置(301)的照明部外側(cè)直徑為L(zhǎng)2,所述環(huán)狀照明裝置(301)與所述光盤(pán)(122)間的距離為L(zhǎng)D,所述照相裝置上的第一主點(diǎn)位置HI與所述光盤(pán)間的距離為HD時(shí),利用S2×(1-LD/HD)<L1<S1×(1+LD/HD),L2>S2×(1+LD/HD)對(duì)各部件的位置關(guān)系實(shí)施設(shè)定,可以使環(huán)狀照明裝置(308)的影象不出現(xiàn)在檢查區(qū)域(308)中,從而可以對(duì)其整體實(shí)施均勻的照明。
      文檔編號(hào)G11B7/26GK1822153SQ20061000454
      公開(kāi)日2006年8月23日 申請(qǐng)日期2003年8月1日 優(yōu)先權(quán)日2002年8月1日
      發(fā)明者青木慎司, 村山升, 宇佐美仁 申請(qǐng)人:株式會(huì)社理光
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