專利名稱：：盤驅(qū)動設(shè)備及其控制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及一種盤驅(qū)動設(shè)備及其控制方法，本發(fā)明很適合于具有多個物鏡和產(chǎn)生具有多個波長的光線的光源，從而能夠獨立實現(xiàn)多波長記錄和再現(xiàn)的光盤驅(qū)動設(shè)備。
背景技術(shù)：
：最近，常常使用把信息信號記錄到圓盤形記錄介質(zhì)上，并從圓盤形記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息信號的光盤驅(qū)動設(shè)備。這種光盤驅(qū)動設(shè)備裝有沿放置在光盤托架(disctable)上的圓盤形記錄介質(zhì)的徑向方向移動，以便用穿過物鏡的激光束照射圓盤形記錄介質(zhì)，從而記錄或再現(xiàn)信息信號的光學(xué)拾取器(opticalpickup)。通過檢測聚焦誤差信號，并根據(jù)檢測的聚焦誤差信號沿與圓盤形記錄介質(zhì)的記錄面相切的方向(聚焦方向)移動物鏡，調(diào)整光學(xué)拾取器以便正確聚焦。此外，通過檢測尋道誤差信號，并根據(jù)檢測的尋道誤差信號粗略地沿圓盤形記錄介質(zhì)的徑向方向(尋道方向)移動物鏡，執(zhí)行尋道調(diào)整。例如，利用差動推挽(differentialpush-pullDPP)方法檢測尋道誤差信號。就這種差動推挽方法來說，日本專利申請公開No.Hei3-012830公開了一種尋道誤差檢測方法。根據(jù)該檢測方法，通過在尋道方向上，在主光束之前或之后的同一側(cè)安排一對用于檢測尋道誤差信號的副光束，檢測它們之間的差異，從而檢測誤差。通過設(shè)定這樣的檢測方法，不僅在再現(xiàn)中，而且在記錄和擦除中也能夠準確地檢測尋道誤差信號。此外，就尋道誤差信號的檢測來說，日本專利申請公開No.Hei5-012700公開一種光學(xué)頭單元。按照該光學(xué)頭單元，相應(yīng)兩個副光束的光斑在光盤上以這樣的方式被排列在主光束的光斑的后面和前面，以致它們可被分別置于主光束在其中被移動的光道的不同邊緣。來自這兩個副光束光斑的反射光被用于檢測尋道誤差信號。通過這樣構(gòu)成光學(xué)頭單元，在光盤的記錄部分和未記錄部分之間的邊界處，尋道誤差信號不會遇到任何偏移，從而能夠穩(wěn)定地沿光道而行。此外，就尋道誤差信號的檢測來說，日本專利申請公開No.Hei6-236567公開一種尋道誤差檢測裝置和裝有該裝置的光盤設(shè)備。該尋道誤差檢測裝置具有一個衍射光柵，所述衍射光柵用于產(chǎn)生高階衍射光，從而用一個主光斑外加四個副光斑組成的總共五個光斑照射光盤的表面，從兩組副光斑產(chǎn)生兩種尋道誤差信號，以致各組副光斑之間在光盤的徑向方向上的光斑間間隔距離可被設(shè)置成每個光道間間隔。通過這樣構(gòu)成尋道誤差檢測裝置，對于在光道間間隔方面具有較大差異的多種光盤，能夠獲得良好的尋道誤差信號。
發(fā)明內(nèi)容采用任意一種五光斑DPP方法的光學(xué)拾取器被認為在未來將被越來越多地用作三波長記錄器/再現(xiàn)器，或者用于減少移動機構(gòu)(徑向驅(qū)動器RD)的調(diào)整過程的數(shù)目。例如，對于在光盤驅(qū)動設(shè)備中，看來要消除RD調(diào)整，以減少利用差動推挽(DPP)方法獲得尋道誤差信號的方法中的過程的數(shù)目，或者看來要實現(xiàn)可用于藍光光盤/DVD/CD的三波長記錄器/再現(xiàn)器的情況而言，考慮采用這樣的布局，即在五光斑DPP方法可用在被布置在包括主軸旋轉(zhuǎn)軸的定位軸(seekaxis)之外的物鏡中的前提下，把兩個物鏡布置成與定位軸的方向垂直。但是，如果使用這樣的方法，會呈現(xiàn)尋道誤差信號的幅度或者離道(de-tracking)量會隨著徑向方向上的位置波動的情況。如果尋道誤差信號的幅度隨著徑向方向波動，那么難以把尋道伺服控制系統(tǒng)的增益調(diào)整為恒定值，以致尋道伺服控制系統(tǒng)本身或者促動器對物鏡的定位后收回(post-trackretraction)會變得不穩(wěn)定，從而就尋道伺服控制來說，難以實現(xiàn)任何穩(wěn)定的性能和高可靠性。最好是提供一種盤驅(qū)動設(shè)備及其控制方法，借助所述盤驅(qū)動設(shè)備及其控制方法，即使布置在不包括光盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的直線上的光學(xué)拾取器采用了五光斑DPP方法，也能夠獲得尋道伺服控制的穩(wěn)定性能和可靠性。根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，提供一種光盤驅(qū)動設(shè)備，它具有包括物鏡的光學(xué)拾取器。物鏡具有布置在不包括光盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的直線上的光軸。光盤驅(qū)動設(shè)備還具有存儲裝置，所述存儲裝置保存通過檢測相對于光盤的徑向方向的尋道誤差信號的幅度波動，或者相對于光盤的徑向方向的離道量而獲得的多個校正值。光盤驅(qū)動設(shè)備還具有控制裝置，所述控制裝置從存儲裝置讀取校正值，并且當(dāng)光學(xué)拾取器工作時，校正尋道誤差信號，并根據(jù)校正的尋道誤差信號進行伺服控制。根據(jù)與本發(fā)明相關(guān)的光盤驅(qū)動設(shè)備的一個實施例，存儲裝置預(yù)先保存通過檢測相對于光盤的徑向方向的尋道誤差信號的幅度波動，或者相對于光盤的徑向方向的離道量而獲得的多個校正值。基于該前提，控制裝置從存儲裝置讀取校正值，并且當(dāng)光學(xué)拾取器工作時，校正尋道誤差信號，并根據(jù)校正的尋道誤差信號進行伺服控制。于是，能夠校正由具有布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的另一直線上的定位軸的光學(xué)拾取器按照五光斑DPP方法產(chǎn)生的尋道誤差信號。此外，根據(jù)本發(fā)明的另一實施例，提供一種控制具有包括物鏡的光學(xué)拾取器的光盤驅(qū)動設(shè)備的方法。物鏡具有布置在不包括光盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的直線上的光軸。所述方法包括通過檢測相對于光盤的徑向方向的尋道誤差信號的幅度波動，或者相對于光盤的徑向方向的離道量，獲得多個校正值的步驟。所述方法還包括把獲得的校正值保存在存儲裝置中，并且從存儲裝置讀取校正值，以便當(dāng)光學(xué)拾取器工作時，校正尋道誤差信號的步驟。所述方法還包括當(dāng)光學(xué)拾取器工作時，根據(jù)校正的尋道誤差信號進行伺服控制的步驟。從而能夠抑制由光學(xué)拾取器引起的尋道誤差信號的幅度方面的波動或者離道，以致即使光學(xué)拾取器被布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的直線上，也能夠獲得關(guān)于尋道伺服控制的穩(wěn)定性能和可靠性。根據(jù)本發(fā)明的另一實施例，提供一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備具有上面所述的光盤驅(qū)動設(shè)備和向光盤驅(qū)動設(shè)備傳送控制信號的控制部分。這使得能夠提供一種可用于藍光光盤、DVD和CD的三波長盤驅(qū)動設(shè)備(three-wavelengthaccommodatingdisc-drivingapparatus)。本說明書的結(jié)束部分特別指出和直接要求保護本發(fā)明的主題。但是，通過結(jié)合附圖，閱讀本說明書的剩余部分，本領(lǐng)域的技術(shù)人員將更好地理解本發(fā)明的構(gòu)成和操作方法，以及本發(fā)明的其它優(yōu)點和目的，附圖中，相同的附圖標記表示相同的部件。圖1是根據(jù)本發(fā)明的光盤驅(qū)動設(shè)備的一個實施例的透視圖，用于表示其結(jié)構(gòu)；圖2是表示兩個光學(xué)拾取器的布局的一個例子的原理圖；圖3是表示光學(xué)拾取器之一的結(jié)構(gòu)的原理圖；圖4是在任意一個光學(xué)拾取器中使用的衍射光柵的原理圖；圖5是表示與CD對應(yīng)的激光束的光斑和光道之間的關(guān)系的例子的原理圖；圖6是表示利用五光斑DPP方法，再現(xiàn)尋道誤差信號的例子的波形圖；圖7A是表示尋道誤差信號的幅度的波動與光盤徑向位置的關(guān)系曲線的一個例子的波形圖，圖7B表示定位位置的一個例子；圖8是表示光盤驅(qū)動設(shè)備中的控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的方框圖；圖9是表示根據(jù)第一實施例的光學(xué)拾取器的調(diào)整方面的控制例子的流程圖；圖10是表示在調(diào)整的過程中的數(shù)據(jù)的流動的方框圖；圖11是表示當(dāng)光學(xué)拾取器實際工作時，尋道誤差信號Ste的校正的例子(No.1)的原理圖；圖12是表示當(dāng)光學(xué)拾取器實際工作時，尋道誤差信號Ste的校正的例子(No.2)的原理圖；圖13是表示當(dāng)光學(xué)拾取器在光盤驅(qū)動設(shè)備中實際工作時的控制例子的流程圖；圖14是表示當(dāng)光學(xué)拾取器實際工作時的數(shù)據(jù)的流動的方框圖；圖15A是根據(jù)第二實施例，表示尋道誤差信號的幅度波動與光學(xué)系統(tǒng)角度θx的關(guān)系曲線的一個例子的波形圖，圖15B是根據(jù)第二實施例，表示定位位置的例子的圖；圖16是表示光盤驅(qū)動設(shè)備中光學(xué)拾取器的調(diào)整方面的控制例子的流程圖；圖17是表示光盤驅(qū)動設(shè)備中光學(xué)拾取器的調(diào)整方面的控制例子的流程圖；圖18是根據(jù)第三實施例，表示離道量方面的波動與光盤徑向位置的關(guān)系曲線的波形圖；圖19是表示光盤驅(qū)動設(shè)備中光學(xué)拾取器的調(diào)整方面的控制例子的流程圖；圖20是表示當(dāng)光學(xué)拾取器在光盤驅(qū)動設(shè)備中實際工作時的控制例子的流程圖；圖21是根據(jù)第四實施例，表示離道量與光學(xué)系統(tǒng)角度θx的關(guān)系曲線的圖；圖22是表示光盤驅(qū)動設(shè)備中光學(xué)拾取器的調(diào)整方面的控制例子的流程圖；圖23是表示當(dāng)光學(xué)拾取器在光盤驅(qū)動設(shè)備中實際工作時的控制例子的流程圖。具體實施例方式下面將說明本發(fā)明的光盤驅(qū)動設(shè)備及其控制方法的實施例。圖1表示根據(jù)本發(fā)明的光盤驅(qū)動設(shè)備1的一個實施例的結(jié)構(gòu)。圖2表示兩個物鏡14a和14b的布局的一個例子。圖1中所示的光盤驅(qū)動設(shè)備1由盤驅(qū)動設(shè)備構(gòu)成，并且具有主軸電動機9和兩個光學(xué)拾取器6a和6b。光學(xué)拾取器6a和6b適應(yīng)用于藍光光盤、DVD、CD等的三種波長，藍光光盤、DVD、CD等提供圓盤形記錄介質(zhì)100的例子。藍光光學(xué)拾取器和DVD/CD光學(xué)拾取器完全相互獨立。第一光學(xué)拾取器6a具有物鏡14a，第二光學(xué)拾取器6b具有物鏡14b。在第一光學(xué)拾取器6a中，其物鏡14a被布置在包括主軸電動機9的旋轉(zhuǎn)中心軸(圓盤形記錄介質(zhì)100的旋轉(zhuǎn)軸)的掃描線上。第一光學(xué)拾取器6a沿著光盤的徑向方向，順著定位軸移動。在第二光學(xué)拾取器6b中，其物鏡14b被布置在不包括主軸電動機9的旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上。第二光學(xué)拾取器6b也沿著光盤的徑向方向，順著定位軸移動(參見圖2)。至少布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上的光學(xué)拾取器6b通過五光斑DPP方法產(chǎn)生尋道誤差信號。光學(xué)驅(qū)動設(shè)備1由布置在殼體2中的必要部件和機構(gòu)組成。殼體2具有在其中形成的光盤插槽。在殼體2中，機架(未示出)被布置成這樣的結(jié)構(gòu)，以致光盤托架3被固定(安裝)到主軸電動機9的電動機軸上，主軸電動機9被安裝到該機架上。平行的導(dǎo)軸4和4被安裝到該機架上，由尋跡電動機(sledmotor)29旋轉(zhuǎn)的導(dǎo)桿5被支撐。光學(xué)拾取器6a具有移動基座7，設(shè)置在移動基座7上的必要的光學(xué)部件，和布置在移動基座7上的物鏡驅(qū)動器(下面稱為“促動器8a”)。設(shè)置在移動基座7的相對兩端的支承部分7a和7b分別可滑動地支撐在導(dǎo)軸4和4上。光學(xué)拾取器6b共用移動基座7，并且具有布置在移動基座7上的必要光學(xué)部件和物鏡驅(qū)動器(下面稱為“促動器8b”)。設(shè)置在移動基座7上的螺母部件(內(nèi)螺紋)(未示出)被擰到導(dǎo)桿5(外螺紋)上。當(dāng)尋跡電動機29旋轉(zhuǎn)導(dǎo)桿5時，螺母部件被沿著與導(dǎo)桿5的旋轉(zhuǎn)方向?qū)?yīng)的方向進給，從而沿著將安放在光盤托架3上的圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向方向移動光學(xué)拾取器6a，并且隨同光學(xué)拾取器6a一起沿徑向方向移動光學(xué)拾取器6b。CD100a、DVD100b等用作圓盤形記錄介質(zhì)100。在這樣構(gòu)成的光盤驅(qū)動設(shè)備1中，當(dāng)光盤托架3隨著主軸電動機9旋轉(zhuǎn)而被轉(zhuǎn)動時，安放在光盤托架3上的圓盤形記錄介質(zhì)100，即CD100a或DVD100b旋轉(zhuǎn)，同時光學(xué)拾取器6a沿著圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向方向移動；由于光學(xué)拾取器6b與之平行，因此光學(xué)拾取器6b同時沿著圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向方向移動，以致獨立地進行相對于圓盤形記錄介質(zhì)的記錄或再現(xiàn)操作。圖3表示光學(xué)拾取器6a的結(jié)構(gòu)。圖3中所示的光學(xué)拾取器6a具有衍射光柵10，光束分離器11，準直透鏡12，向上反射鏡(rise-upmirror)13，物鏡14a，光軸合成(composition)部件15，調(diào)整透鏡16，感光部件17和發(fā)光部件19。衍射光柵10，光束分離器11，準直透鏡12，向上反射鏡13，光軸合成部件15，調(diào)整透鏡16，感光部件17和發(fā)光部件19被布置在移動基座7上，而物鏡14a被提供給促動器8a。發(fā)光部件19具有發(fā)出具有不同波長的激光束的兩個發(fā)光點；從第一發(fā)光點發(fā)出具有例如785納米波長(第一波長)的激光束，從第二發(fā)光點發(fā)出具有例如660納米波長(第二波長)的激光束。當(dāng)相對于圓盤形記錄介質(zhì)100，即CD100a記錄或再現(xiàn)信息信號時，從第一發(fā)光點發(fā)出具有785納米波長的激光束。當(dāng)相對于圓盤形記錄介質(zhì)100，即DVD100b記錄或再現(xiàn)信息信號時，從第二發(fā)光點發(fā)出具有660納米波長的激光束。發(fā)光部件19的第一發(fā)光點和第二發(fā)光點被布置成在它們之間具有任何預(yù)定的間隔，以致從第二發(fā)光點發(fā)出的激光束沿著光學(xué)拾取器的光軸傳播，而從第一發(fā)光點發(fā)出的激光束脫離光學(xué)拾取器的光軸傳播。光束分離器11是例如反射型光束分離器，具有通過利用激光束分離面11a反射從發(fā)光部件19發(fā)出的激光束，并將其引向準直透鏡12，以及透過由圓盤形記錄介質(zhì)100反射的激光束的返回光束，并將其引向光軸合成部件15的功能。準直透鏡12具有提供入射到其本身上的激光束的平行通量的功能。向上反射鏡113具有反射激光束，并將其導(dǎo)向物鏡14或準直透鏡12的功能。物鏡14a具有把進入其的激光束會聚到圓盤形記錄介質(zhì)100的記錄光道上的功能。光軸合成部件15具有校正從第一發(fā)光點發(fā)出的偏離光學(xué)拾取器的光軸的激光束的光軸方向，以致該激光束能夠射在感光部件17的預(yù)定感光點上。調(diào)整透鏡16用于調(diào)整激光束的放大率。感光部件17具有三個光接收區(qū)，分別用于接收0階光束和正負一階光束。在具有這種結(jié)構(gòu)的光學(xué)拾取器6a中，如果從發(fā)光部件19發(fā)出具有和CD100a對應(yīng)的785納米的第一波長的激光束，那么衍射光柵10衍射該激光束，將其分成主通量，一對第一副通量，和一對第二副通量。衍射的激光束由光束分離器11的分離面11a反射，進入準直透鏡12，在那里使其通量相互平行。隨后激光束在向上反射鏡13向上上升，并通過物鏡14a被照射到安放在光盤托架3上的CD100a的記錄面上。照射CD100a的記錄面的激光束被該記錄面反射。其返回光束再次通過物鏡14a、向上反射鏡13和準直透鏡12進入光束分離器11。這樣入射在光束分離器11上的返回光束通過光束分離器11的分離面11a，進入光軸合成部件15(在那里，其光軸方向被校正)，通過調(diào)整透鏡16，并射在感光部件17上(五光斑DPP方法的原理)。注意光學(xué)拾取器6b具有衍射光柵10，光束分離器11，準直透鏡12，向上反射鏡13，物鏡14b，光軸合成部件15，調(diào)整透鏡16，感光部件17和發(fā)光部件19。衍射光柵10，光束分離器11，準直透鏡12，向上反射鏡13，光軸合成部件15，調(diào)整透鏡16，感光部件17和發(fā)光部件19被布置在移動基座7上，而物鏡14b被提供給促動器8b。由于光學(xué)拾取器6b采用和光學(xué)拾取器6a相同的結(jié)構(gòu)，因此將省略對其的詳細說明。圖4圖解說明在任意一個光學(xué)拾取器6a和6b中使用的衍射光柵10。圖4中所示的衍射光柵10使用光柵，并被分成第一區(qū)域10a和第一區(qū)域10b。激光束R射到第一區(qū)域10a和第二區(qū)域10b內(nèi)的光柵上，以致入射到第一區(qū)域10a上的激光束可被分成主通量(0階光束)和一對第一副通量(正負一階光束)，入射到第二區(qū)域上的激光束可被分成主通量(0階光束)和一對第二副通量(正負一階光束)。注意光學(xué)拾取器6b的衍射光柵10具有和光學(xué)拾取器6a的衍射光柵10相同的結(jié)構(gòu)，因此將省略對其的說明。圖5表示對應(yīng)于CD100a的激光束的光斑和光道T之間的關(guān)系的例子。在該例子中，對應(yīng)于CD100a的激光束的一個副光斑和另一副光斑之間的間距被設(shè)為光道間距的一半。在圖3中所示的按照五光斑方法再現(xiàn)尋道誤差信號Ste的光學(xué)拾取器6a中，如果假定圖5中所示的CD100a的光道間距為Pa，那么以這樣的方式設(shè)計衍射光柵10，以致具有第一波長的激光束的第一副通量的副光斑S1a和S1b的中心以及第二副通量的副光斑S2a和S2b的中心之間的每個距離Da分別約為(2n-1)×Pa/2，其中n是自然數(shù)。即，如圖5中所示，第一副通量的副光斑S1a和S1b相對于主光斑成180°地對稱布置。第二副通量的副光斑S2a和S2b相對于主光斑成180°地對稱布置。第一副通量的副光斑S1a和第二副通量的副光斑S2a近似沿CD100a的徑向方向相互分開。類似地，第一副通量的副光斑S1b和第二副通量的副光斑S2b近似沿CD100a的徑向方向相互分開。副光斑S1a與S2a的中心之間的距離Da和副光斑S1b與S2b的中心之間的距離Da均被設(shè)成(2n-1)×Pa/2。于是，CD100a的光道間距被設(shè)成約為1.6微米的標準值，以致每個距離Da被設(shè)成約為0.8微米(n＝1)。如果使來自這種圓盤形記錄介質(zhì)100的光道T的返回光線入射到感光部件17上，那么根據(jù)感光部件17接收的主通量和副通量檢測尋道誤差信號Ste。如上所述，副通量之間的距離Da被設(shè)成約為光道間距Pa的一半，以致通過副光斑S1a和S2a檢測的尋道誤差信號的相位被反轉(zhuǎn)，通過副光斑S1b和S2b檢測的尋道誤差信號的相位也被反轉(zhuǎn)。圖6表示利用五光斑DPP方法的尋道誤差信號Ste的再現(xiàn)例子。這種情況下，按照利用五光斑DPP方法的尋道誤差信號Ste的再現(xiàn)例子，由圖6中所示的沿著虛線的正方形表示的整個副通量的尋道誤差信號Ste的幅度為0，以致只檢測到當(dāng)物鏡14a沿尋道方向移動時發(fā)生的DC偏置信號。此外，至于其主通量，檢測到由沿著實線的黑色菱形表示的尋道誤差信號Ste。雖然DC偏置信號也可被檢測，不過通過使由副通量檢測的DC偏置信號與由主通量檢測的DC偏置信號相互抵消，能夠檢測恰當(dāng)?shù)膶さ勒`差信號Ste。要注意的是由沿著粗線條的黑色三角形表示的尋道誤差信號Ste由差動推挽方法(DPP方法)給出。本發(fā)明的該實施例，五光斑DPP方法還被用在布置在定位軸之外的光學(xué)拾取器6b中。這是因為即使在定位軸之外，通過消除歸因于副推挽(sidepush-pullSPP)的調(diào)制分量，也能夠獲得DPP方法的優(yōu)點，即使物鏡14b在光道方向上波動(即，即使視場波動)，尋道誤差信號Ste也沒有任何DC分量，這可通過僅僅改變衍射光柵10的圖案來實現(xiàn)。在利用衍射光柵10分離光束的方法中，依據(jù)模擬和實際測量的數(shù)據(jù)，已清楚副光束的調(diào)制分量難以被完全消除，因為副光束具有相對于物鏡14b的入射角(即使很小)。在這方面，歸因于五光斑DPP的副光束的調(diào)制分量約為在普通DPP中使用衍射光柵10的情況下的10-15％。假定按照DPP方法或者五光斑DPP方法，主光束的推挽相位為MPP，副光束的推挽相位為SPP，那么利用常數(shù)k，尋道誤差(TE)由下面的等式(1)計算TE＝MPP-k·SPP(1)但是，已清楚在光學(xué)拾取器6b被布置在定位軸之外的情況下，如果推挽相位SPP(即使較小)保持未被消除，那么主光束的推挽相位MPP和副光束的推挽相位SPP之間的差異隨著徑向位置而波動，于是，尋道誤差也相應(yīng)地波動。作為實際波動的一個例子，圖7A中表示了其數(shù)據(jù)。圖7A表示尋道誤差信號的幅度的波動與光盤徑向位置的關(guān)系曲線的一個例子，圖7B表示定位位置(seekposition)的一個例子。在圖7A中，水平軸以毫米為單位表示光盤徑向位置。其垂直軸表示光學(xué)拾取器6b中尋道誤差信號的幅度的波動量。在圖7A中，實心圓的曲線代表實際測量的數(shù)據(jù)，實線代表模擬的結(jié)果。在該例子中，可看出在從內(nèi)圓周(徑向位置＝22毫米)到外圓周(徑向位置＝58毫米)的距離內(nèi)，尋道誤差信號的幅度波動大約±20％。通過模擬和實際測量已清楚由于與光學(xué)拾取器6b和驅(qū)動器相關(guān)的下述各種因素，尋道誤差信號的幅度的波動水平，其波動周期等發(fā)生變動(i)圓盤形記錄介質(zhì)100上主光束和副光束之間的距離(光束間距)；(ii)衍射光柵10的位置精確度；(iii)調(diào)整主光束和副光束時相位方面的差異；和(iv)布置在定位軸之外的物鏡14b的光軸的位置，即到主軸(中心軸)的距離。關(guān)于上面的因素(i)、(ii)和(iii)，在光學(xué)拾取器6b的制造期間，發(fā)生任何波動，而關(guān)于上面的因素(iv)，除了光學(xué)拾取器6b本身的波動之外，當(dāng)把光學(xué)拾取器6b裝入驅(qū)動器機構(gòu)中時發(fā)生任何波動。圖7B表示光學(xué)拾取器6b的定位位置的一個例子。設(shè)置圖7B中所示的物鏡14b的光軸，以便與物鏡14a的光軸相隔距離d。例如，將獲得光道偏離校正值A(chǔ)d的點被設(shè)定為通過把光學(xué)拾取器6b的外圓周的最大定位位置(58毫米)和內(nèi)圓周的最小定位位置(22毫米)之間的距離除以9，分成相等的間距(例如4毫米)而獲得的各個點。當(dāng)然，本發(fā)明并不局限于此。下面，將說明具有其尋道誤差校正功能的光盤驅(qū)動設(shè)備1，其中光學(xué)拾取器6b的物鏡14b被安裝在定位軸之外。圖8表示光盤驅(qū)動設(shè)備1中的控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。圖8中表示的光盤驅(qū)動設(shè)備1按照五光斑DPP方法驅(qū)動布置在定位軸之外的光學(xué)拾取器6b。光盤驅(qū)動設(shè)備1具有校正尋道誤差信號Ste的功能。光學(xué)拾取器6a的說明將被省略。光盤驅(qū)動設(shè)備1具有光學(xué)拾取器6b，主軸電動機9，控制裝置25，模擬信號處理單元30，A/D轉(zhuǎn)換單元33，D/A轉(zhuǎn)換單元45，驅(qū)動器46，SDRA(SDRAM)56，快閃存儲器57，和EEPROM58?？刂蒲b置25具有伺服DSP40，光盤控制器50和CPU55。光學(xué)拾取器6b被用于相對于圓盤形記錄介質(zhì)100讀取或記錄數(shù)據(jù)，具有圖1中所示的促動器8b，感光部件17，發(fā)光部件19，RF/伺服部分21和APC部分23。促動器8b根據(jù)促動器驅(qū)動電壓，沿雙軸(X，Y)方向驅(qū)動物鏡14b。RF/伺服部分21與感光部件17(未示出)連接，以檢測光盤再現(xiàn)信號，比如尋道誤差(伺服)信號Ste和聚焦誤差信號Sfe。APC部分23根據(jù)寫脈沖信號Wp，自動控制發(fā)光部件19，比如半導(dǎo)體激光器的功率。RF/伺服部分21與模擬信號處理單元30連接，模擬信號處理單元30是對光學(xué)拾取器6a或6b讀取或記錄的光盤再現(xiàn)信號進行模擬處理的集成電路。模擬信號處理單元30具有矩陣部分31和讀取通道部分32。矩陣部分31與RF/伺服部分21連接，從光盤再現(xiàn)信號中分離出尋道誤差信號Ste，擺動信號Swb等，并放大它們。尋道誤差信號Ste是與從光道T中的一個預(yù)刻槽(pregroove)到下一預(yù)刻槽的一個循環(huán)對應(yīng)的正弦波信號。矩陣部分31裝有光道計數(shù)器(未示出)，用于計算尋道誤差信號Ste越零的次數(shù)，從而測量越零的光道的數(shù)目。通過利用該光道計數(shù)器，可以精確到一個光道地檢測光盤上的激光束光斑的位置。讀取通道部分32從光盤再現(xiàn)信號中分離出RF信號(記錄/再現(xiàn)信號)Srf，并將其輸出。矩陣部分31和讀取通道部分32與A/D轉(zhuǎn)換單元33連接，在A/D轉(zhuǎn)換單元33，尋道誤差信號Ste、擺動信號Swb、RF信號Srf等被轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號，并分別輸出尋道誤差數(shù)據(jù)Dte、擺動數(shù)據(jù)Dwb、讀取(RF)數(shù)據(jù)Drf等。構(gòu)成控制裝置25的伺服DSP40與A/D轉(zhuǎn)換單元33連接。伺服DSP40具有寫脈沖補償部分41，伺服信號處理器42，RF信號處理部分43，擺動信號處理部分44。寫脈沖補償部分41控制光學(xué)拾取器6a或6b中的APC部分23。例如，寫脈沖補償部分41根據(jù)從光盤控制器50接收的寫入數(shù)據(jù)Dw，產(chǎn)生寫脈沖信號(激光器驅(qū)動信號)Wp，并把寫脈沖信號Wp提供給光學(xué)拾取器6a或6b中的發(fā)光部件19(激光二極管)。這種情況下，寫脈沖補償部分41根據(jù)來自光盤控制器50的功率補償信號，按照圓盤形記錄介質(zhì)100的記錄層的特性，激光束的光斑形狀，記錄線速度等，補償寫脈沖信號Wp的信號電平，以優(yōu)化從光學(xué)拾取器6a或6b中的發(fā)光部件19發(fā)出的激光束的功率，從而記錄信號。光學(xué)拾取器6a或6b用其光束量受控的激光束照射圓盤形記錄介質(zhì)100。圓盤形記錄介質(zhì)100反射的激光束由光學(xué)拾取器6a或6b中的感光部件17檢測(參見圖3)。伺服信號處理器42根據(jù)從A/D轉(zhuǎn)換單元33接收的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte產(chǎn)生尋道控制數(shù)據(jù)Dtc，并將其提供給D/A轉(zhuǎn)換部分45。尋道控制數(shù)據(jù)Dtc被用于以使激光束照射位置可以到達所需光道T的中間位置的方式控制光學(xué)拾取器6b中的物鏡14b。此外，伺服信號處理器42根據(jù)從A/D轉(zhuǎn)換單元33接收的聚焦誤差數(shù)據(jù)Dfe產(chǎn)生聚焦控制數(shù)據(jù)Dfc，以使激光束焦點可以到達圓盤形記錄介質(zhì)100的記錄層的位置的方式控制光學(xué)拾取器6b中的物鏡14b，并把該數(shù)據(jù)提供給D/A轉(zhuǎn)換部分45。RF信號處理部分43不對稱地校正從A/D轉(zhuǎn)換單元33接收的RF數(shù)據(jù)Drf，并將其作為讀出數(shù)據(jù)Dout提供給光盤控制器50。此外，RF信號處理部分43產(chǎn)生與讀出數(shù)據(jù)Dout同步的時鐘信號，并將其提供給光盤控制器50。擺動信號處理部分44對擺動數(shù)據(jù)Dwb執(zhí)行信號處理，輸出預(yù)刻槽絕對時間(ATIP)同步檢測數(shù)據(jù)Dd。ATIP同步檢測數(shù)據(jù)Dd被用于檢測ATIP信息。ATIP信息是時間軸信息，并從圓盤形記錄介質(zhì)100的信號記錄區(qū)(程序區(qū))中的內(nèi)圓周起始位置到外圓周，作為絕對時間信息被寫在光盤上。在CD-R或CD-RW的處理階段期間寫入ATIP信息。為了把ATIP信息寫入圓盤形記錄介質(zhì)100，比如CD-R或CD-RW上，采用稱為雙相位調(diào)制(bi-phase)的調(diào)制方法。擺動信號處理部分44具有例如ATIP解碼功能。擺動信號Dwb通過帶通濾波器(未示出)，在帶通濾波器，擺動信號Dwb的頻帶被限制，以便除去擺動分量和將由后面的副光斑引起的擺動分量。頻帶被限制的擺動數(shù)據(jù)Dwb經(jīng)歷波型整形，以致隨后可產(chǎn)生與載波分量同步的載波時鐘信號。通過利用這樣產(chǎn)生的載波時鐘信號，解調(diào)通過使在前的擺動分量二進制化而獲得的擺動信息，從而產(chǎn)生雙相位信號和與該雙相位信號同步的雙相位時鐘信號。根據(jù)雙相位時鐘信號解調(diào)產(chǎn)生的雙相位信號，從而產(chǎn)生預(yù)格式(pre-format)地址。此外，擺動信號處理部分44檢測預(yù)格式地址的同步模式，從而產(chǎn)生ATIP同步檢測數(shù)據(jù)Dd。擺動信號處理部分44把預(yù)格式地址提供給光盤控制器50，把ATIP同步檢測數(shù)據(jù)Dd提供給D/A轉(zhuǎn)換部分45。D/A轉(zhuǎn)換部分45對ATIP同步檢測數(shù)據(jù)Dd執(zhí)行數(shù)/模轉(zhuǎn)換，從而把ATIP同步檢測信號Sa輸出給驅(qū)動器46。此外，D/A轉(zhuǎn)換部分45對聚焦控制數(shù)據(jù)Dfc執(zhí)行數(shù)/模轉(zhuǎn)換，從而向驅(qū)動器46輸出聚焦控制信號Sfc，并對尋道控制數(shù)據(jù)Dtc執(zhí)行數(shù)/模轉(zhuǎn)換，從而向驅(qū)動器46尋道控制信號Stc。驅(qū)動器46根據(jù)ATIP同步檢測信號Sa產(chǎn)生主軸電動機驅(qū)動信號Ssd，并把主軸電動機驅(qū)動信號Ssd提供給主軸電動機9。從而，主軸電動機9以預(yù)定的速度旋轉(zhuǎn)圓盤形記錄介質(zhì)100。注意主軸電動機9根據(jù)主軸驅(qū)動信號Ssd旋轉(zhuǎn)圓盤形記錄介質(zhì)100，以致它可達到預(yù)定的速度。此外，驅(qū)動器46根據(jù)聚焦控制信號Sfc產(chǎn)生聚焦驅(qū)動信號Sfd，還根據(jù)尋道控制信號Stc產(chǎn)生尋道驅(qū)動信號Std。產(chǎn)生的這些聚焦驅(qū)動信號Sfd和尋道驅(qū)動信號Std被提供給光學(xué)拾取器6b中的促動器8b，以控制物鏡14b的位置，從而進行使激光束可到達所需光道的中間位置的任意控制。光盤控制器50構(gòu)成控制裝置25，具有編碼器51，ECC部分52，存儲器控制器53和主機I/F控制器54。光盤控制器50對讀出數(shù)據(jù)Dout執(zhí)行EFM解調(diào)，還通過利用通用存儲器(RAM等)(未示出)進行去交織處理，以及通過利用交叉交織里德-所羅門碼(CIRC)進行糾錯處理。另外，檢測下沉模式(sinkpattern)，以在糾錯碼(ECC)部分52執(zhí)行解擾處理或者執(zhí)行糾錯處理等。這種情況下，經(jīng)過糾錯處理后的讀出數(shù)據(jù)Dout被保存在作為緩沖存儲器中的SDRA56中，隨后作為再現(xiàn)數(shù)據(jù)，通過主機I/F接口54被提供給外部主計算機60等。此外，光盤控制器50從EFM解調(diào)數(shù)據(jù)中檢測幀同步信號，并把該幀同步信號提供給上述驅(qū)動器46。在把信號記錄到圓盤形記錄介質(zhì)100上時，通過利用從擺動信號處理部分44接收的ATIP同步檢測數(shù)據(jù)Dd，以及當(dāng)從圓盤形記錄介質(zhì)100讀取信息時，通過利用從光盤控制器50接收的幀同步數(shù)據(jù)，或者從擺動信號處理部分44接收的ATIP同步檢測數(shù)據(jù)Dd，驅(qū)動器46產(chǎn)生用于以所需速度旋轉(zhuǎn)圓盤形記錄介質(zhì)100的主軸驅(qū)動信號。向主軸電動機9提供由驅(qū)動器46產(chǎn)生的主軸驅(qū)動信號Ssd允許以所需的速度旋轉(zhuǎn)圓盤形記錄介質(zhì)100。此外，當(dāng)通過主機I/F控制器54從外部主計算機60向其提供記錄數(shù)據(jù)Din時，光盤控制器50把記錄數(shù)據(jù)Din臨時積累在SDRA56中，并讀出積累的記錄數(shù)據(jù)Din，以致該數(shù)據(jù)可由編碼器51編碼成預(yù)定的扇區(qū)格式，并由ECC部分52賦予糾錯ECC。此外，光盤控制器50執(zhí)行CIRC編碼處理，EFM調(diào)制處理等，從而產(chǎn)生寫入數(shù)據(jù)Dw。產(chǎn)生的寫入數(shù)據(jù)Dw被提供給寫脈沖補償部分41。CPU55與上面說明的主機I/F控制器54連接。CPU55與保存操作控制程序的快閃存儲器57連接。CPU55從快閃存儲器57讀出操作控制程序，并根據(jù)該程序，控制光盤驅(qū)動設(shè)備1的工作。例如，CPU55根據(jù)光盤控制器50產(chǎn)生的子碼信號，或者來自擺動信號處理部分44的預(yù)格式地址，確定圓盤形記錄介質(zhì)100上的再現(xiàn)位置、記錄位置等，把伺服控制信號提供給伺服DSP40或者把光盤控制信號等提供給光盤控制器50，從而記錄和再現(xiàn)數(shù)據(jù)。除了快閃存儲器57之外，EEPROM58(它是非易失性存儲裝置的一個例子)與CPU55連接，以便保存通過檢測相對于圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向方向的尋道誤差信號Ste的幅度波動，或者相對于圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向方向的離道量而獲得的多個校正值。構(gòu)成控制裝置25的CPU55根據(jù)校正值，校正啟動光學(xué)拾取器6b的操作時的尋道誤差信號Ste，并根據(jù)校正后的尋道誤差信號Ste進行伺服控制。在啟動操作中，CPU55從EEPROM58讀出和待訪問的圓盤形記錄介質(zhì)100的地址對應(yīng)的校正值，并把該校正值通知伺服DSP40。例如，伺服DSP40具有伺服信號處理器42，用于在光學(xué)拾取器6b的啟動操作中，根據(jù)校正值校正接收的尋道誤差信號Ste，從而根據(jù)校正后的尋道誤差信號Ste進行伺服控制。下面說明校正把光學(xué)拾取器6b安裝在其定位軸之外的光盤驅(qū)動設(shè)備1中的尋道誤差的方法。在本實施例中，在光學(xué)拾取器6a中的物鏡14a被布置在包括主軸電動機9的旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上，而光學(xué)拾取器6b的物鏡14b被布置在不包括主軸電動機9的旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上，以致順著定位軸沿徑向方向移動的光學(xué)拾取器6b可按照五光斑DPP方法產(chǎn)生尋道誤差信號Ste的情況下，通過把至少兩個校正系數(shù)用于每個驅(qū)動器46，校正取決于圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向位置，以及離道量等而造成的尋道誤差信號Ste的幅度的波動。圖9是表示根據(jù)第一實施例的光學(xué)拾取器6b的調(diào)整方面的控制例子的流程圖。圖10是表示在該調(diào)整的過程中，數(shù)據(jù)的流動的方框圖。在本實施例中，上面關(guān)于圖7說明的波動因素(i)-(iv)，比如尋道誤差信號的幅度的波動水平及其波動周期特定于每個驅(qū)動器，除非光學(xué)拾取器6b的特性發(fā)生變化。根據(jù)該前提，在當(dāng)制造該驅(qū)動器時，調(diào)整光學(xué)拾取器6b的過程中，檢測(掌握)相對于圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向方向的尋道誤差信號Ste的幅度的波動，以致可從這樣檢測的幅度方面的波動，獲得校正值A(chǔ)r(系數(shù))。至于尋道誤差信號Ste，徑向長度被分成多段，每段具有相等的距離，并且設(shè)置(固定)與所述多段對應(yīng)的點，以獲得每個校正值A(chǔ)r。例如，用于獲得校正值A(chǔ)r的點被設(shè)置成與通過把光學(xué)拾取器6b的外圓周最大定位位置和內(nèi)圓周最小定位位置之間的距離除以N，分成均具有相等間距(相等間隔)的多段而獲得的每個點相對應(yīng)。向這些點中的每個點分配一個地址。在本實施例中，列舉了可對于每個單位間隔獲得尋道誤差信號Ste的校正值A(chǔ)r的這種例子。根據(jù)其前提，在圖9中所示的流程圖的步驟A1，該過程首先等待光學(xué)拾取器6b的調(diào)整命令。從圖10中所示的主計算機60向CPU55通知調(diào)整命令。如果調(diào)整命令從主計算機60發(fā)送給CPU55，那么過程進入步驟A2，在步驟A2，CPU55執(zhí)行關(guān)于徑向長度的設(shè)置。在該設(shè)置中，校正值采集點被設(shè)成通過把光學(xué)拾取器6b的外圓周最大定位位置和內(nèi)圓周最小定位位置之間的距離除以N而獲得的每個點。隨后，過程進入步驟A3，在步驟A3，在啟動尋道伺服控制功能的條件下，CPU55尋找規(guī)定的地址。例如，CPU55根據(jù)初始設(shè)置控制尋跡電動機29進行驅(qū)動，以致可使光學(xué)拾取器6b定位到與所需徑向位置對應(yīng)的地址。這種情況下，圖10中所示的伺服信號處理器42向D/A轉(zhuǎn)換部分45輸出用于控制光學(xué)拾取器6b中的物鏡14b的尋道控制數(shù)據(jù)Dtc，以致由此激光束照射位置可到達所需光道T的中間位置。D/A轉(zhuǎn)換部分45對尋道控制Dtc執(zhí)行數(shù)/模轉(zhuǎn)換，從而向驅(qū)動器46輸出尋道控制信號Stc。驅(qū)動器46根據(jù)尋道控制信號Stc產(chǎn)生尋跡驅(qū)動電壓Vsd，并把尋跡驅(qū)動電壓Vsd提供給尋跡電動機29。尋跡電動機29根據(jù)尋跡驅(qū)動電壓Vsd移動光學(xué)拾取器6b，并將其停止在規(guī)定的位置(地址)。促動器8b根據(jù)從驅(qū)動器46接收的促動器驅(qū)動電壓，沿雙軸(X，Y)方向驅(qū)動物鏡14b。從而，光學(xué)拾取器6b被控制成處于能夠從圓盤形記錄介質(zhì)100讀出數(shù)據(jù)的狀態(tài)。APC部分23根據(jù)寫脈沖信號Wp，自動控制發(fā)光部件19的功率。此外，驅(qū)動器46根據(jù)聚焦控制信號Sfc產(chǎn)生聚焦驅(qū)動信號Sfd，并把該聚焦控制信號Sfd提供給光學(xué)拾取器6b中的促動器8b，從而控制物鏡14b的位置，以致其激光束光斑可被聚焦到所需光道T的中間位置。隨后，在步驟A4，CPU55把釋放其尋道伺服控制功能的命令通知伺服DSP40。當(dāng)收到該通知時，信號處理器42釋放尋道伺服控制功能，使物鏡14b處于其橫移狀態(tài)。在本說明書中，橫移狀態(tài)指的是尋道伺服控制循環(huán)被打開，以致激光束光斑在光道T上被延伸，而不會未能沿光道而行。伺服DSP40獲得這種狀態(tài)下，尋道誤差信號Ste的幅度值。隨后，過程進入步驟A5，在步驟A5中，圖10中所示的RF/伺服部分21檢測尋道誤差信號Ste，并通過模擬信號處理單元30內(nèi)的矩陣部分31將其輸出給A/D轉(zhuǎn)換單元33。A/D轉(zhuǎn)換單元33對尋道誤差信號Ste執(zhí)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，并向伺服信號處理器42輸出尋道誤差數(shù)據(jù)Dte。伺服信號處理器42把橫移狀態(tài)下的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte的幅度值或其校正值A(chǔ)r保存在非易失性存儲器中。這種情況下，假定尋道誤差數(shù)據(jù)Dte的幅度值為St，提供給伺服信號處理器42的尋道誤差數(shù)據(jù)的參考幅度值為Sr，那么尋道誤差數(shù)據(jù)Dte的校正值A(chǔ)r由下面的等式(2)計算Ar＝Sr/St(2)該計算由CPU55或伺服信號處理器42執(zhí)行。例如，由伺服信號處理器42計算的校正值A(chǔ)r(系數(shù))被分別寫入圖10中所示的EEPROM58中。EEPROM58是即使電源被關(guān)閉，其數(shù)據(jù)也不會丟失的可重寫存儲器。要注意的是如果伺服信號處理器42被配置成執(zhí)行上面的計算，那CPU55上的控制負擔(dān)被減輕。隨后，過程進入步驟A6，在步驟A6中，CPU55確定是否獲得和預(yù)定數(shù)目的點一樣多的校正值A(chǔ)r。如果校正值A(chǔ)r少于點的預(yù)定數(shù)目，那么過程進入步驟A7，以恢復(fù)尋道伺服控制功能，從而使物鏡14b進入非橫移狀態(tài)。在本說明書中，非橫移狀態(tài)指的是尋道伺服控制循環(huán)被關(guān)閉，激光束光斑沿光道T而行的狀態(tài)。隨后，過程返回步驟A3，繼續(xù)獲得校正值A(chǔ)r的處理。這些操作被重復(fù)和獲得的校正用點的預(yù)定數(shù)目一樣多的次數(shù)。如果在上述步驟A6，校正值A(chǔ)r達到點的預(yù)定數(shù)目，那么該過程結(jié)束獲得尋道誤差數(shù)據(jù)Dte的校正值A(chǔ)r的處理。因此，如果光學(xué)拾取器6b按照五光斑DPP方法產(chǎn)生尋道誤差信號Ste，那么根據(jù)按照圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向位置(相對于圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向方向)產(chǎn)生的尋道誤差信號Ste的幅度的波動，能夠獲得多個校正值A(chǔ)r。圖11表示當(dāng)光學(xué)拾取器6b實際工作時，尋道誤差信號Ste的校正的例子(No.1)。在本實施例中，光盤驅(qū)動設(shè)備1具有校正由于光學(xué)拾取器6b安裝在定位軸之外，尋道誤差信號Ste的幅度相對于徑向方向的波動的功能。在驅(qū)動器一方校正尋道誤差信號Ste的幅度方面的波動。圖11中所示的曲線表示從關(guān)于光學(xué)拾取器6b的尋道誤差信號Ste的模擬結(jié)果中抽取的一部分，分別表示在調(diào)整光學(xué)拾取器6b的過程中實際測量的數(shù)據(jù)的實心圓被疊加在該曲線上。在對應(yīng)于實心圓的每個點A1-A3，獲得校正值A(chǔ)r。在兩個相鄰的點，例如A1和A2之間使用校正值A(chǔ)r，通過利用線條L1近似兩個相鄰點A1和A2之間的曲線段，從而沿著線條L1內(nèi)插(計算)校正值A(chǔ)r，獲得校正值A(chǔ)r。當(dāng)然，本發(fā)明并不局限于此；對將從CPU55向伺服DSP40告知的校正值A(chǔ)r來說，不僅可以應(yīng)用通過利用圖11中所示的兩個相鄰點的校正值A(chǔ)r，由線性近似方法計算的校正值A(chǔ)r，而且可以應(yīng)用通過近似曲線本身計算的校正值A(chǔ)r。圖12表示當(dāng)光學(xué)拾取器6b實際工作時，通過近似曲線本身，校正尋道誤差信號Ste的一個例子(No.2)。圖12中所示的曲線表示當(dāng)光學(xué)拾取器6b實際工作時，光學(xué)拾取器6b的尋道誤差信號Ste的曲線的抽取部分，分別代表在光學(xué)拾取器6b的調(diào)整過程中實際測量的數(shù)據(jù)的實心圓被疊加在該曲線上。在對應(yīng)于實心圓的每個點A1-A3上，獲得校正值A(chǔ)r。在兩個相鄰點之間，步進地設(shè)置在每個點的校正值A(chǔ)r的應(yīng)用范圍R。換句話說，在對每個點A1-A3設(shè)置的步長內(nèi)，應(yīng)用校正值A(chǔ)r以便獲得校正值。從而，即使物鏡14b被布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上，當(dāng)光學(xué)拾取器6b實際工作時，在驅(qū)動器一方校正尋道誤差信號Ste也可對尋道伺服控制實現(xiàn)任意穩(wěn)定的性能和可靠性。圖13是表示當(dāng)光學(xué)拾取器6b在光盤驅(qū)動設(shè)備1中實際工作時的控制例子的流程圖。圖14表示當(dāng)光學(xué)拾取器6b實際工作時數(shù)據(jù)的流動。在本實施例中，當(dāng)光學(xué)拾取器實際工作時，通過使用沿徑向方向間隔相等的距離獲得的校正值A(chǔ)r，借助利用線條的近似法或者對曲線本身的近似，校正尋道誤差信號Ste。校正值A(chǔ)r(系數(shù))事先已被寫入圖10中所示的EEPROM58中。這種情況的前提是當(dāng)光學(xué)拾取器6b尋找與所需徑向位置對應(yīng)的地址時，通過利用從EEPROM58讀取的與該位置對應(yīng)的校正值A(chǔ)r，可校正在該地址的位置檢測的尋道誤差信號Ste。在這種實際工作狀態(tài)下，在圖13中所示的流程圖中的步驟B1，CPU55等待定位命令。圖14中所示的主計算機60把定位命令通知CPU55。如果CPU55從主計算機60收到定位命令，那么過程進入步驟B2，在步驟B2，CPU55控制伺服DSP40，以便光學(xué)拾取器6b的物鏡14b可被定位到指定的地址。這種情況下，在圖14中所示的伺服DSP40中，伺服信號處理器42驅(qū)動尋跡電動機29，以致在尋道伺服控制功能被啟動的狀態(tài)下，光學(xué)拾取器6b可被定位到與指定的徑向位置對應(yīng)的地址。例如，伺服信號處理器42向D/A轉(zhuǎn)換部分45輸出用于控制光學(xué)拾取器6b中的物鏡14b的尋道控制數(shù)據(jù)Dtc，以致激光束照射位置可到達所需光道T的中間位置。D/A轉(zhuǎn)換部分45對尋道控制數(shù)據(jù)Dtc執(zhí)行數(shù)/模轉(zhuǎn)換，并向驅(qū)動器46輸出尋道控制信號Stc。驅(qū)動器46根據(jù)尋道控制信號Stc產(chǎn)生尋跡驅(qū)動電壓Vsd，并把尋跡驅(qū)動電壓Vsd提供給尋跡電動機29。尋跡電動機29根據(jù)尋跡驅(qū)動電壓Vsd移動光學(xué)拾取器6b，并將其停止在指定的位置(地址)。APC部分23根據(jù)寫脈沖信號Wp自動控制發(fā)光部件19的功率。此外，在步驟B3，CPU55從EEPROM58讀出對于具有相等距離的每個點，沿圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向方向獲得的每個校正值A(chǔ)r，校正值A(chǔ)r對應(yīng)于將在圓盤形記錄介質(zhì)100中訪問的一個地址，并把校正值A(chǔ)r傳送給伺服信號處理器42。在步驟B4，伺服信號處理器42根據(jù)從CPU55接收的對于具有相等距離的每個點，沿圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向方向的校正值A(chǔ)r，校正尋道誤差數(shù)據(jù)Dte。例如，圖14中所示的RF/伺服部分21檢測尋道誤差信號Ste，并通過模擬信號處理單元30中的矩陣部分31將其輸出給A/D轉(zhuǎn)換單元33。A/D轉(zhuǎn)換部分33對尋道誤差信號Ste進行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，并向信號處理器42輸出尋道誤差數(shù)據(jù)Dte。為了對尋道誤差數(shù)據(jù)Dte執(zhí)行校正處理，信號處理器42計算下面的等式(3)校正后的信號＝Sraw×Ar(3)其中，從A/D轉(zhuǎn)換單元33輸出的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte是Sraw。因此，在被布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上的物鏡14b按照五光斑DPP方法產(chǎn)生尋道誤差信號Ste的情況下，通過利用校正值A(chǔ)r，能夠校正按照圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向位置產(chǎn)生的尋道誤差信號Ste。校正后的尋道控制數(shù)據(jù)Dtc被輸出給D/A轉(zhuǎn)換部分45。隨后，在步驟B5，CPU55根據(jù)校正后的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte進行任意伺服控制。例如，在光學(xué)拾取器6b中，促動器8b根據(jù)從驅(qū)動器46輸出的促動器驅(qū)動電壓，沿雙軸(X，Y)方向驅(qū)動物鏡14b。從而，光學(xué)拾取器6b被控制成處于可從圓盤形記錄介質(zhì)100最佳地讀出數(shù)據(jù)的狀態(tài)。APC部分23根據(jù)寫脈沖信號Wp，自動控制發(fā)光部件19的功率。此外，驅(qū)動器46根據(jù)聚焦控制信號Sfc產(chǎn)生聚焦控制信號Sfd，并把該聚焦控制信號Sfd提供給光學(xué)拾取器6b中的促動器8b，以控制物鏡14b的位置，從而進行控制，以致激光束光斑可被聚焦到所需光道T的中間位置。從而通過利用校正后的尋道控制信號Stc，能夠?qū)嵤さ浪欧刂啤ｋS后，在步驟B6，CPU55確定尋道伺服控制是否完成。例如，如果檢測到斷電信息，那么CPU55結(jié)束尋道伺服控制。如果沒有檢測到斷電信息，那么過程返回步驟B1，重復(fù)上述處理。按照這種方式，根據(jù)第一實施例的光盤驅(qū)動設(shè)備1把通過檢測相對于圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向方向，尋道誤差信號Ste的幅度的波動，或者相對于圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向方向的離道量而獲得的多個校正值A(chǔ)r預(yù)先保存在EEPROM58中?；谠撉疤?，當(dāng)光學(xué)拾取器6b實際工作時，CPU55從EEPROM58讀出在其定位位置的校正值A(chǔ)r，校正該位置的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte，并根據(jù)校正后的尋道控制數(shù)據(jù)Dtc進行任意尋道伺服控制。于是，能夠校正由布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上的光學(xué)拾取器6b的物鏡14b按照五光斑DPP方法產(chǎn)生的尋道誤差信號Ste。從而，能夠抑制由該光學(xué)拾取器6b引起的尋道誤差信號的幅度方面的波動，從而即使光學(xué)拾取器6b被布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上，也能夠關(guān)于尋道伺服控制獲得穩(wěn)定的性能和可靠性。這使得可以提供一種適應(yīng)用于藍光光盤、DVD和CD的三種波長的光盤驅(qū)動設(shè)備。圖15A和圖15B分別根據(jù)第二實施例，表示尋道誤差信號的幅度方面的波動與光學(xué)系統(tǒng)角度θx的關(guān)系曲線的一個例子和定位位置的一個例子。圖15A中，水平軸以度[°]為單位表示光學(xué)系統(tǒng)角度。光學(xué)系統(tǒng)角度θx形成于互連主軸的旋轉(zhuǎn)中心軸(中心)和布置在其定位軸上的光學(xué)拾取器6a中的物鏡14a的光軸(中心)的線段與互連主軸的旋轉(zhuǎn)中心軸(中心)和布置在定位軸之外的光學(xué)拾取器6b中的物鏡14b的光軸(中心)的線段之間。光學(xué)系統(tǒng)角度θx由θx＝tan-1d/r計算，其中d是光學(xué)拾取器6a的掃描軸(線)與光學(xué)拾取器6b的掃描軸(線)之間的距離，r是定位時相對于主軸的旋轉(zhuǎn)軸的徑向位置。當(dāng)光學(xué)拾取器6b從內(nèi)圓周一方移向外圓周一方時，或者當(dāng)光學(xué)拾取器6b從外圓周一方移向內(nèi)圓周一方時，光學(xué)系統(tǒng)角度θx的值變化，并且具有當(dāng)光學(xué)拾取器6b從內(nèi)圓周一方移向外圓周一方時逐漸變小的關(guān)系。此外，垂直軸表示光學(xué)拾取器6b中尋道誤差信號的幅度方面的波動量。在該圖中，實心圓代表實際測量的數(shù)據(jù)，實線代表模擬的結(jié)果。在本例中，可看出從內(nèi)圓周值(角度θx＝12°)到外圓周值(角度θx＝4°)，尋道誤差信號的幅度大約波動±20％。通過模擬和實際測量，已清楚由于如上關(guān)于第一實施例所述的與光學(xué)拾取器6b和驅(qū)動器有關(guān)的因素(i)-(iv)，尋道誤差信號的幅度方面的波動水平、波動周期等發(fā)生變動。圖15表示光學(xué)拾取器6b的物鏡14b的定位位置的一個例子。類似于第一實施例，圖15B中所示的光學(xué)拾取器6b的掃描軸被設(shè)置成與光學(xué)拾取器6a的掃描軸間隔距離d。例如，用于獲得校正值A(chǔ)d的點被設(shè)置成通過平均分割(例如，以1度為單位)光學(xué)拾取器6b的光學(xué)系統(tǒng)角度θx而獲得的各個點。當(dāng)然，本發(fā)明并不局限于此。本實施例舉例說明了在光學(xué)系統(tǒng)角度θx表示θ1＝6°，θ2＝8°，θ3＝10°和θ4＝12°的情況下，光學(xué)拾取器6b中的物鏡14b的定位位置。把這些定位位置與地址相關(guān)。例如，在光學(xué)拾取器6a的定位時，當(dāng)相對于主軸的旋轉(zhuǎn)軸定位時，地址add1、add2、add3、...被分別分配給徑向位置r1、r2、r3...。在光學(xué)拾取器6b的定位時，地址add1′、add2′、add3′、...被分別分配給光學(xué)系統(tǒng)角度θ1、θ2、θ3、...。根據(jù)在被分配地址的光學(xué)系統(tǒng)角度θ1、θ2、θ3、...獲得的點的校正值A(chǔ)d(幅度值)，計算校正系數(shù)。圖16是表示光盤驅(qū)動設(shè)備1中的光學(xué)拾取器6b的調(diào)整方面的控制例子的流程圖。在本實施例中，參考圖5說明的尋道誤差信號的幅度方面的波動水平，波動周期等因素(i)-(iv)特定于每個驅(qū)動器，除非光學(xué)拾取器6b的特性發(fā)生變化。根據(jù)該前提，在該驅(qū)動器的制造期間的調(diào)整光學(xué)拾取器6b的過程中，檢測(掌握)尋道誤差信號Ste的幅度的波動，以致根據(jù)這樣檢測的幅度波動，獲得校正值A(chǔ)d(系數(shù))，所述波動取決于在互連主軸的旋轉(zhuǎn)中心軸(中心)和布置在其定位軸上的光學(xué)拾取器6a中的物鏡14a的光軸(中心)的線段與互連主軸的旋轉(zhuǎn)中心軸(中心)和布置在定位軸之外的光學(xué)拾取器6b中的物鏡14b的光軸(中心)的線段之間形成的光學(xué)系統(tǒng)角度θx。關(guān)于尋道誤差信號Ste，通過每隔相等的角度，設(shè)置(固定)用于獲得校正值的點，獲得校正值A(chǔ)d。例如，用于獲得校正值A(chǔ)d的點被設(shè)置成通過例如以1°為單位，平均分割在內(nèi)圓周最大角度和外圓周最小角度之間的光學(xué)拾取器6b的光學(xué)系統(tǒng)角度θx而獲得的各個點，如圖15B中所示。當(dāng)然，本發(fā)明并不局限于此。使這些定位位置與地址相關(guān)。本實施例舉例說明了對于每個單位角度，獲得尋道誤差信號Ste的校正值A(chǔ)d的情況。基于這些前提，在圖16中所示的流程圖的步驟C1，過程首先等待對于光學(xué)拾取器6b的調(diào)整命令。圖10中所示的主計算機60把調(diào)整命令通知CPU55。如果CPU55從主計算機60收到調(diào)整命令，那么過程進入步驟C2，在步驟C2，CPU55執(zhí)行取決于光學(xué)系統(tǒng)角度θx的尋道誤差信號的幅度波動的檢測的設(shè)置處理。在所述檢測的設(shè)置處理中，用于獲得校正值的點被設(shè)置成通過以1°為單位，平均分割光學(xué)拾取器6b的在其內(nèi)圓周最大角度和其外圓周最小角度之間的光學(xué)系統(tǒng)角度θx而獲得的各個點。隨后，過程進入步驟C3，在步驟C3，CPU55在尋道伺服控制功能被啟動的狀態(tài)下尋找指定的地址。例如，CPU55驅(qū)動尋跡電動機29，以致光學(xué)拾取器6b可被定位到與預(yù)置的所需光學(xué)系統(tǒng)角度θx對應(yīng)的地址。隨后，在步驟C4，CPU55把釋放尋道伺服控制功能的命令通知伺服DSP40。當(dāng)收到該通知時，伺服信號處理器42釋放其尋道伺服控制功能，從而使光學(xué)拾取器6b進入其橫移狀態(tài)。隨后，過程進入步驟C5，在步驟C5，圖10中所示的RF/伺服部分21檢測尋道誤差信號Ste，并通過模擬信號處理單元30中的矩陣部分31將其提供給A/D轉(zhuǎn)換單元33。A/D轉(zhuǎn)換單元33對尋道誤差信號Ste執(zhí)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，并向伺服信號處理器42輸出尋道誤差數(shù)據(jù)Dte。伺服信號處理器42把橫移狀態(tài)下的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte的幅度值或其校正值A(chǔ)d保存在非易失性存儲器中。這種情況下，如同關(guān)于第一實施例所述那樣，尋道誤差數(shù)據(jù)Dte的校正值A(chǔ)d由等式(2)計算。要注意的是通過用校正值A(chǔ)d替換校正值A(chǔ)r，應(yīng)用等式(2)。這樣計算的校正值A(chǔ)d(系數(shù))被寫入EEPROM58中。隨后，過程進入步驟C6，在步驟C6，CPU55確定是否獲得和預(yù)定數(shù)目的采集點一樣多的校正值A(chǔ)d。如果沒有達到預(yù)定數(shù)目的采集點的校正值，那么過程進入步驟C7，恢復(fù)尋道伺服控制功能，從而使光學(xué)拾取器6b進入非橫移狀態(tài)。如果在上述步驟C6，達到預(yù)定數(shù)目的采集點的校正值，那么該過程結(jié)束獲得尋道誤差數(shù)據(jù)Dte的校正值A(chǔ)d的處理。因此，即使光學(xué)拾取器6b按照五光斑DPP方法產(chǎn)生尋道誤差信號Ste，根據(jù)取決于光學(xué)系統(tǒng)角度θx的尋道誤差信號Ste的幅度的波動，也能夠獲得多個校正值A(chǔ)d。圖17是表示在光盤驅(qū)動設(shè)備1中的光學(xué)拾取器6b的實際工作期間的控制例子的流程圖。在本實施例中，當(dāng)光學(xué)拾取器6b實際工作時，通過使用在取決于光學(xué)系統(tǒng)角度θx的每個相等角度獲得的校正值A(chǔ)d，借助利用線條的近似法或者對曲線本身的近似，校正尋道誤差信號Ste。校正值A(chǔ)d(系數(shù))事先已被寫入EEPROM58中。這種情況的前提是當(dāng)光學(xué)拾取器6b尋找與所需徑向位置對應(yīng)的地址時，通過利用從EEPROM58讀取的與該位置對應(yīng)的校正值A(chǔ)d，可校正在該地址的位置檢測的尋道誤差信號Ste。在這種實際工作狀態(tài)下，在圖17中所示的流程圖中的步驟E1，CPU55等待定位命令。例如，主計算機60把定位命令通知CPU55。如果CPU55從主計算機60收到定位命令，那么過程進入步驟E2，在步驟E2，CPU55控制伺服DSP40，以致光學(xué)拾取器6b的物鏡14b可被定位到指定的地址。這種情況下，在尋道伺服控制功能被啟動的狀態(tài)下，伺服DSP40執(zhí)行對指定地址的定位處理。例如，驅(qū)動尋跡電動機29，以致光學(xué)拾取器6b可被定位到與指定的徑向位置對應(yīng)的地址。隨后，在步驟E3，CPU55從EEPROM58讀出每個相等角度的校正值A(chǔ)d，并將其傳送給伺服信號處理器42，所述每個相等角度取決于光學(xué)系統(tǒng)角度θx，并且對應(yīng)于圓盤形記錄介質(zhì)100的待訪問地址。隨后在步驟E4，伺服信號處理器42根據(jù)從CPU55接收的校正值A(chǔ)d，校正在取決于光學(xué)系統(tǒng)角度θx的每個相等角度的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte。在校正處理中，信號處理器42通過計算關(guān)于第一實施例說明的等式(3)，校正尋道誤差數(shù)據(jù)Dte。因此，如果沿布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線移動的物鏡14b按照五光斑DPP方法產(chǎn)生尋道誤差信號Ste，那么通過利用校正值A(chǔ)d，能夠校正按照圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向位置產(chǎn)生的尋道誤差信號Ste。隨后，在步驟E5，CPU55根據(jù)校正后的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte進行任意伺服控制。隨后，在步驟E6，CPU55確定尋道伺服控制是否完成。例如，如果檢測到斷電信息，那么CPU55結(jié)束尋道伺服控制。如果沒有檢測到斷電信息，那么過程返回步驟E1，重復(fù)上述處理。按照這種方式，根據(jù)第二實施例的光盤驅(qū)動設(shè)備1把通過在取決于光學(xué)系統(tǒng)角度θx的每個相等角度檢測尋道誤差信號Ste的幅度的波動而獲得的多個校正值A(chǔ)d預(yù)先保存在EEPROM58中?；谠撉疤?，當(dāng)光學(xué)拾取器6b實際工作時，CPU55從EEPROM58讀出在其定位位置的校正值A(chǔ)d，校正該位置的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte，并根據(jù)校正后的尋道控制數(shù)據(jù)Dtc進行任意尋道伺服控制。于是，能夠校正由布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上的物鏡14b按照五光斑DPP方法產(chǎn)生的尋道誤差信號Ste。從而，能夠抑制由光學(xué)拾取器6b引起的尋道誤差信號的幅度方面的波動，從而即使物鏡14b被布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上，也能夠關(guān)于尋道伺服控制獲得穩(wěn)定的性能和可靠性。于是，能夠提供一種適應(yīng)用于藍光光盤、DVD和CD的三種波長的光盤驅(qū)動設(shè)備。圖18根據(jù)第三實施例，表示離道量的波動與光盤徑向位置的關(guān)系曲線的一個例子。在圖18中，水平軸以毫米為單位表示光盤徑向位置。其垂直軸代表光學(xué)拾取器6b中的離道量。在本例中，可看出在從光盤的內(nèi)圓周(徑向位置＝22毫米)到光盤的外圓周(徑向位置＝58毫米)的距離內(nèi)，離道量大約波動±20％。離道量指的是激光束光斑偏離光道T的數(shù)量。通過模擬和實際測量，已清楚由于如下的與光學(xué)拾取器6b和驅(qū)動器相關(guān)的各種因素的緣故，離道量發(fā)生波動(i)圓盤形記錄介質(zhì)100上主光束和副光束之間的距離(光束間距)；(ii)衍射光柵10的位置精確度；(iii)調(diào)整時主光束和副光束的相位的差異；和(iv)布置在定位軸之外的物鏡14b的光軸的并置，即，到主軸(中心軸的距離)。關(guān)于上面的因素(i)、(ii)和(iii)，在光學(xué)拾取器6b的制造期間發(fā)生任何波動，而關(guān)于上面的因素(iv)，除了光學(xué)拾取器6b本身的波動之外，當(dāng)光學(xué)拾取器6b被裝入驅(qū)動機構(gòu)中時發(fā)生任何波動。圖19是表示光盤驅(qū)動設(shè)備1中光學(xué)拾取器6b的調(diào)整方面的控制例子的流程圖。在本實施例中，關(guān)于圖18描述的離道量方面的波動(i)-(iv)特定于每個驅(qū)動器，除非光學(xué)拾取器6b的特性發(fā)生變化。基于該前提，當(dāng)制造驅(qū)動器時，在調(diào)整光學(xué)拾取器6b的過程中，檢測(掌握)激光束光斑相對于圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向方向的離道量，以致根據(jù)檢測的離道量，可獲得校正值A(chǔ)t(系數(shù))。至于指示離道量的尋道誤差信號Ste，徑向長度被分成多段，每段具有相等的距離，并且設(shè)置(固定)與所述多段對應(yīng)的點，以獲得每個校正值A(chǔ)t。例如，用于獲得校正值A(chǔ)t的點被設(shè)置成與通過把光學(xué)拾取器6b的外圓周最大定位位置和內(nèi)圓周最小定位位置之間的距離除以N，分成均具有相等間距(相等間隔)的多段而獲得的每個點相對應(yīng)。向這些點中的每個點分配一個地址。在本實施例中，列舉了對于每個單位距離，可獲得尋道誤差信號Ste的校正值A(chǔ)t的這種例子?；谠撉疤幔趫D19中所示的流程圖的步驟F1，該過程首先等待光學(xué)拾取器6b的調(diào)整命令。主計算機60向CPU55通知調(diào)整命令。如果CPU55從主計算機60收到調(diào)整命令，那么過程進入步驟F2，在步驟F2，CPU55執(zhí)行和徑向方向的離道量的檢測有關(guān)的間隔設(shè)置處理。在該間隔設(shè)置處理中，校正值采集點被設(shè)成通過把光學(xué)拾取器6b的外圓周最大定位位置和內(nèi)圓周最小定位位置之間的距離均勻分成N份而獲得的每個點。隨后，過程進入步驟F3，在步驟F3，在啟動尋道伺服控制功能的狀態(tài)下，CPU55尋找指定的地址。例如，CPU55根據(jù)徑向方向的間隔設(shè)置處理驅(qū)動尋跡電動機29，以致光學(xué)拾取器6b可被定位到與所需徑向位置對應(yīng)的地址。這種情況下，伺服信號處理器42向D/A轉(zhuǎn)換部分45輸出用于控制光學(xué)拾取器6b中的物鏡14b的尋道控制數(shù)據(jù)Dtc，以致其激光束照射位置可到達所需光道T的中間位置。D/A轉(zhuǎn)換部分45對尋道控制Dtc執(zhí)行數(shù)/模轉(zhuǎn)換，從而產(chǎn)生尋道控制信號Stc將將其輸出給驅(qū)動器46。驅(qū)動器46根據(jù)尋道控制信號Stc產(chǎn)生尋跡驅(qū)動電壓Vsd，并把尋跡驅(qū)動電壓Vsd提供給尋跡電動機29。尋跡電動機29根據(jù)尋跡驅(qū)動電壓Vsd移動光學(xué)拾取器6b，并將其停止在指定的位置(地址)。促動器8b根據(jù)從驅(qū)動器46接收的促動器驅(qū)動電壓，沿雙軸(X，Y)方向驅(qū)動物鏡14b。從而，光學(xué)拾取器6b被控制成處于能夠從圓盤形記錄介質(zhì)100讀出數(shù)據(jù)的狀態(tài)。APC部分23根據(jù)寫脈沖信號Wp，自動控制發(fā)光部件19的功率。此外，驅(qū)動器46根據(jù)聚焦控制信號Sfc產(chǎn)生聚焦驅(qū)動信號Sfd，并把該聚焦控制信號Sfd提供給光學(xué)拾取器6b中的促動器8b，從而控制物鏡14b的位置，以致其激光束光斑可被聚焦到所需光道T的中間位置。這種情況下，如果激光束光斑偏離光道T，那么該偏離量反映在尋道誤差信號Ste上。隨后，在步驟F4，CPU55把釋放其尋道伺服控制功能的命令通知伺服DSP40。當(dāng)收到該通知時，伺服信號處理器42釋放尋道伺服控制功能，使物鏡14b進入其橫移狀態(tài)。伺服DSP40獲得這種狀態(tài)下，尋道誤差信號Ste的幅度值。隨后，過程進入步驟F5，在步驟F5，RF/伺服部分21檢測尋道誤差信號Ste，并通過模擬信號處理單元30內(nèi)的矩陣部分31將其輸出給A/D轉(zhuǎn)換單元33。A/D轉(zhuǎn)換單元33對包含離道量的尋道誤差信號Ste執(zhí)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，產(chǎn)生尋道誤差數(shù)據(jù)Dte并將其輸出給伺服信號處理器42。伺服信號處理器42把橫移狀態(tài)下的包含離道量的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte的幅度值或其校正值A(chǔ)t保存在非易失性存儲器中。這種情況下，假定尋道誤差數(shù)據(jù)Dte中的離道量為St′，提供給伺服信號處理器42的尋道誤差數(shù)據(jù)中的標準離道量為Sr′，那么離道量的光道偏離校正值A(chǔ)t由下面的等式(4)計算At＝Sr′/St′(4)該計算由CPU55或伺服信號處理器42執(zhí)行。例如，由伺服信號處理器42計算的光道偏離校正值A(chǔ)t(系數(shù))被寫入EEPROM58中。隨后，過程進入步驟F6，在步驟F6，CPU55確定是否獲得和預(yù)定數(shù)目的點一樣多的光道偏離校正值A(chǔ)t。如果達不到預(yù)定數(shù)目的采集點的校正值，那么過程進入步驟F7，以恢復(fù)尋道伺服控制功能，從而使物鏡14b進入其非橫移狀態(tài)。隨后，過程返回步驟F3，繼續(xù)獲得光道偏離校正值A(chǔ)t的處理。這些操作被重復(fù)和采集點的預(yù)定數(shù)目一樣多的次數(shù)。如果在上述步驟F6，達到預(yù)定數(shù)目的采集點的校正值，那么該過程結(jié)束獲得包含離道量的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte的光道偏離校正值A(chǔ)t的處理。因此，如果光學(xué)拾取器6b按照五光斑DPP方法產(chǎn)生尋道誤差信號Ste，那么根據(jù)按照圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向位置(相對于圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向方向)產(chǎn)生的離道量方面的波動，能夠獲得多個光道偏離校正值A(chǔ)t。圖20是表示在光盤驅(qū)動設(shè)備1中的光學(xué)拾取器6b實際工作時的控制例子的流程圖。在本實施例中，當(dāng)光學(xué)拾取器實際工作時，通過使用沿徑向方向間隔相等的距離獲得的光道偏離校正值A(chǔ)t，借助利用線條的近似法或者對曲線本身的近似，校正包含在尋道誤差信號Ste中的離道量。校正值A(chǔ)t(系數(shù))事先已被寫入EEPROM58中。這種情況的前提是當(dāng)光學(xué)拾取器6b尋找與所需徑向位置對應(yīng)的地址時，通過利用從EEPROM58讀取的與該位置對應(yīng)的校正值A(chǔ)t，可校正在該地址的位置檢測的包含離道量的尋道誤差信號Ste。在這種實際工作狀態(tài)下，在圖13中所示的流程圖中的步驟G1，CPU55等待定位命令。主計算機60把定位命令通知CPU55。如果CPU55從主計算機60收到定位命令，那么過程進入步驟G2，在步驟G2，CPU55控制伺服DSP40，以致光學(xué)拾取器6b可被定位到指定的地址。這種情況下，伺服DSP40驅(qū)動尋跡電動機29，以致在尋道伺服控制功能被啟動的狀態(tài)下，光學(xué)拾取器6b的物鏡14b可被定位到與指定的徑向位置對應(yīng)的地址。此外，在步驟G3，CPU55從EEPROM58讀出徑向方向上每個相等間隔的光道偏離校正值A(chǔ)t，光道偏離校正值A(chǔ)t對應(yīng)于圓盤形記錄介質(zhì)100的將被訪問的一個地址，并把光道偏離校正值A(chǔ)t傳送給伺服信號處理器42。在步驟G4，伺服信號處理器42根據(jù)從CPU55接收的徑向方向上的每個相等間隔的光道偏離校正值A(chǔ)t，校正包含離道量的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte。例如，RF/伺服部分21檢測包含離道量的尋道誤差信號Ste，并通過模擬信號處理單元30中的矩陣部分31將其輸出給A/D轉(zhuǎn)換單元33。A/D轉(zhuǎn)換部分33對尋道誤差信號Ste進行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，產(chǎn)生尋道誤差數(shù)據(jù)Dte并將其輸出給信號處理器42。信號處理器42計算下面的等式(5)校正后的信號＝Sraw×At(5)其中，從A/D轉(zhuǎn)換單元33輸出的包含離道量的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte是Sraw，以便對尋道誤差數(shù)據(jù)Dte進行校正處理。因此，在被布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上的物鏡14b按照五光斑DPP方法產(chǎn)生尋道誤差信號Ste的情況下，通過利用光道偏離校正值A(chǔ)t，能夠校正按照圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向位置產(chǎn)生的尋道誤差信號Ste。校正后的尋道控制數(shù)據(jù)Dtc被輸出給D/A轉(zhuǎn)換部分45。隨后，在步驟G5，CPU55根據(jù)校正后的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte進行任意伺服控制。例如，在光學(xué)拾取器6b中，促動器8b根據(jù)從驅(qū)動器46接收的促動器驅(qū)動電壓，沿雙軸(X，Y)方向驅(qū)動物鏡14b。光學(xué)拾取器6b被控制成處于可從圓盤形記錄介質(zhì)100最佳地讀出數(shù)據(jù)的狀態(tài)。APC部分23根據(jù)寫脈沖信號Wp，自動控制發(fā)光部件19的功率。此外，驅(qū)動器46根據(jù)聚焦控制信號Sfc產(chǎn)生聚焦控制信號Sfd，并把該聚焦控制信號Sfd提供給光學(xué)拾取器6b中的促動器8b，以控制物鏡14b的位置，從而進行控制，以致激光束光斑可被聚焦到所需光道T的中間位置。從而通過利用校正后的尋道控制信號Stc，能夠?qū)嵤┤我鈱さ浪欧刂啤ｋS后，在步驟G6，CPU55確定尋道伺服控制是否完成。例如，如果檢測到斷電信息，那么CPU55結(jié)束尋道伺服控制。如果沒有接收到斷電信息，那么過程返回步驟G1，重復(fù)上述處理。按照這種方式，根據(jù)第三實施例的光盤驅(qū)動設(shè)備1把通過檢測相對于圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向方向，尋道誤差信號Ste中的離道量而獲得的多個光道偏離校正值A(chǔ)t預(yù)先保存在EEPROM58中?；谠撉疤?，當(dāng)光學(xué)拾取器6b實際工作時，CPU55從EEPROM58讀出在其定位位置的光道偏離校正值A(chǔ)t，校正該位置的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte，并根據(jù)校正后的尋道控制數(shù)據(jù)Dtc進行任意尋道伺服控制。從而，能夠校正由布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上的光學(xué)拾取器6b的物鏡14b按照五光斑DPP方法產(chǎn)生的尋道誤差信號Ste。從而，能夠抑制由該光學(xué)拾取器6b引起的離道量方面的波動，從而即使物鏡14b被布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上，也能夠關(guān)于尋道伺服控制獲得穩(wěn)定的性能和可靠性。于是，可以提供一種適應(yīng)用于藍光光盤、DVD和CD的三種波長的光盤驅(qū)動設(shè)備。圖21根據(jù)第四實施例，表示離道量與光學(xué)系統(tǒng)角度θx的關(guān)系曲線。在圖21中，水平軸以度[°]為單位表示光學(xué)系統(tǒng)角度。光學(xué)系統(tǒng)角度θx形成于互連主軸的旋轉(zhuǎn)中心軸(中心)和布置在其定位軸上的光學(xué)拾取器6a中的物鏡14a的光軸(中心)的線段與互連主軸的旋轉(zhuǎn)中心軸(中心)和布置在定位軸之外的光學(xué)拾取器6b中的物鏡14b的光軸(中心)的線段之間。當(dāng)光學(xué)拾取器6b從內(nèi)圓周一方移向外圓周一方時，或者當(dāng)光學(xué)拾取器6b從外圓周一方移向內(nèi)圓周一方時，光學(xué)系統(tǒng)角度θx的值變化，并且具有當(dāng)光學(xué)拾取器6b從內(nèi)圓周一方移向外圓周一方時逐漸變小的關(guān)系。此外，垂直軸表示光學(xué)拾取器6b中激光束光斑的離道量(百分數(shù))。在本例中，可看出從內(nèi)圓周值(角度θx＝12°)到外圓周值(角度θx＝4°)，離道量大約波動±20％。通過模擬和實際測量，已清楚由于如上關(guān)于第一實施例所述的與光學(xué)拾取器6b和驅(qū)動器有關(guān)的因素(i)-(iv)，激光束光斑的離道量發(fā)生變動。圖22是表示光盤驅(qū)動設(shè)備1中的光學(xué)拾取器6b的調(diào)整方面的控制例子的流程圖。在本實施例中，激光束光斑的離道量方面的波動因素(i)-(iv)特定于每個驅(qū)動器，除非光學(xué)拾取器6b的特性發(fā)生變化?；谠撉疤?，在驅(qū)動器的制造期間，在調(diào)整光學(xué)拾取器6b的過程中，檢測(掌握)離道量方面的波動，以致根據(jù)檢測的離道量的波動，獲得光道偏離校正值A(chǔ)t′(系數(shù))，所述波動取決于在互連主軸的旋轉(zhuǎn)中心軸(中心)和布置在其定位軸上的光學(xué)拾取器6a中的物鏡14a的光軸(中心)的線段與互連主軸的旋轉(zhuǎn)中心軸(中心)和布置在定位軸之外的光學(xué)拾取器6b中的物鏡14b的光軸(中心)的線段之間形成的光學(xué)系統(tǒng)角度θx。關(guān)于包含在尋道誤差信號Ste中的離道量，通過每隔相等的角度，設(shè)置(固定)用于獲得光道偏離校正值的點，獲得光道偏離校正值A(chǔ)t′。例如，用于獲得光道偏離校正值A(chǔ)t′的點被設(shè)置成通過以例如1°為單位，平均分割在內(nèi)圓周最大角度和外圓周最小角度之間的光學(xué)拾取器6b的光學(xué)系統(tǒng)角度θx而獲得的各個點。當(dāng)然，本發(fā)明并不局限于此。使這些定位位置與地址相關(guān)。本實施例舉例說明了對于每個單位角度，獲得尋道誤差信號Ste的光道偏離校正值A(chǔ)t′的情況。基于這些前提，在圖22中所示的流程圖的步驟H1，過程首先等待對于光學(xué)拾取器6b的調(diào)整命令。主計算機60把調(diào)整命令通知CPU55。如果CPU55從主計算機60收到調(diào)整命令，那么過程進入步驟H2，在步驟H2，CPU55執(zhí)行取決于光學(xué)系統(tǒng)角度θx的離道量的檢測的設(shè)置處理。在所述檢測的設(shè)置處理中，用于獲得校正值的點被設(shè)置成通過以1°為單位，平均分割光學(xué)拾取器6b的在其內(nèi)圓周最大角度和其外圓周最小角度之間的光學(xué)系統(tǒng)角度θx而獲得的各個點。隨后，過程進入步驟H3，在步驟H3，CPU55在尋道伺服控制功能被啟動的狀態(tài)下尋找指定的地址。例如，CPU55驅(qū)動尋跡電動機29，以致光學(xué)拾取器6b可被定位到與預(yù)置的所需光學(xué)系統(tǒng)角度θx對應(yīng)的地址。隨后，在步驟H4，CPU55把釋放尋道伺服控制功能的命令通知伺服DSP40。當(dāng)收到該通知時，伺服信號處理器42釋放尋道伺服控制功能，使光學(xué)拾取器6b進入橫移狀態(tài)。隨后，過程進入步驟H5，在步驟H5，RF/伺服部分21檢測尋道誤差信號Ste，并通過模擬信號處理單元30中的矩陣部分31將其提供給A/D轉(zhuǎn)換單元33。A/D轉(zhuǎn)換單元33對尋道誤差信號Ste執(zhí)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，并向伺服信號處理器42輸出尋道誤差數(shù)據(jù)Dte。伺服信號處理器42把從橫移狀態(tài)下的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte獲得的離道量或其光道偏離校正值A(chǔ)t′保存在非易失性存儲器中。這種情況下，如同關(guān)于第三實施例所述那樣，離道量的光道偏離校正值A(chǔ)t′由等式(4)計算。這樣計算的光道偏離校正值A(chǔ)t′(系數(shù))被寫入EEPROM58中。隨后，過程進入步驟H6，在步驟H6，CPU55確定是否獲得和預(yù)定數(shù)目的點一樣多的光道偏離校正值A(chǔ)t′。如果沒有達到預(yù)定數(shù)目的采集點的光道偏離校正值，那么過程進入步驟H7，恢復(fù)尋道伺服控制功能，從而使光學(xué)拾取器6b進入非橫移狀態(tài)。如果在上述步驟H6，達到預(yù)定數(shù)目的采集點的光道偏離校正值，那么該過程結(jié)束獲得尋道誤差數(shù)據(jù)Dte的光道偏離校正值A(chǔ)t′的處理。因此，即使光學(xué)拾取器6b按照五光斑DPP方法產(chǎn)生尋道誤差信號Ste，根據(jù)取決于光學(xué)系統(tǒng)角度θx的尋道誤差信號Ste的離道量方面的波動，也能夠獲得多個光道偏離校正值A(chǔ)t′。圖23是表示在光盤驅(qū)動設(shè)備1中的光學(xué)拾取器6b的實際工作期間的控制例子的流程圖。在本實施例中，當(dāng)光學(xué)拾取器6b實際工作時，通過使用在取決于光學(xué)系統(tǒng)角度θx的每個相等角度獲得的光道偏離校正值A(chǔ)t′，借助利用線條的近似法或者對曲線本身的近似，校正尋道誤差信號Ste。校正值A(chǔ)t′(系數(shù))事先已被寫入EEPROM58中。這種情況的前提是當(dāng)光學(xué)拾取器6b尋找與所需徑向位置對應(yīng)的地址時，通過利用從EEPROM58讀取的與該位置對應(yīng)的光道偏離校正值A(chǔ)t′，可校正包含于在該地址的位置檢測的尋道誤差信號Ste中的離道量。在這種實際工作狀態(tài)下，在圖23中所示的流程圖中的步驟J1，過程等待定位命令。主計算機60把定位命令通知CPU55。如果CPU55從主計算機60收到定位命令，那么過程進入步驟J2，在步驟J2，CPU55控制伺服DSP40，以致光學(xué)拾取器6b可被定位到指定的地址。這種情況下，在尋道伺服控制功能被啟動的狀態(tài)下，伺服DSP40尋找指定的地址。例如，它驅(qū)動尋跡電動機29，以致光學(xué)拾取器6b可被定位到與指定的徑向位置對應(yīng)的地址。隨后，在步驟J3，CPU55從EEPROM58讀出每個相等角度的光道偏離校正值A(chǔ)t′，并將其傳送給伺服信號處理器42，所述每個相等角度取決于光學(xué)系統(tǒng)角度θx，并且對應(yīng)于圓盤形記錄介質(zhì)100的待訪問地址。隨后在步驟J4，伺服信號處理器42根據(jù)從CPU55接收的取決于光學(xué)系統(tǒng)角度θx的每個相等角度的光道偏離校正值A(chǔ)t′，校正尋道誤差數(shù)據(jù)Dte。在校正處理中，信號處理器42通過計算關(guān)于第三實施例說明的等式(5)，校正包含在尋道誤差數(shù)據(jù)Dte中的離道量。因此，如果布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上的物鏡14b按照五光斑DPP方法產(chǎn)生尋道誤差信號Ste，那么通過利用光道偏離校正值A(chǔ)t′，能夠校正按照圓盤形記錄介質(zhì)100的徑向位置產(chǎn)生的尋道誤差信號Ste。隨后，在步驟J5，CPU55根據(jù)校正后的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte進行任意伺服控制。隨后，在步驟J6，CPU55確定尋道伺服控制是否完成。例如，如果檢測到斷電信息，那么CPU55結(jié)束尋道伺服控制。如果沒有檢測到斷電信息，那么過程返回步驟J1，重復(fù)上述處理。按照這種方式，根據(jù)第四實施例的光盤驅(qū)動設(shè)備1把通過在光學(xué)拾取器6b的定位時，在取決于光學(xué)系統(tǒng)角度θx的每個相等角度檢測尋道誤差信號Ste的離道量而獲得的多個光道偏離校正值A(chǔ)t′預(yù)先保存在EEPROM58中?；谠撉疤?，當(dāng)光學(xué)拾取器6b實際工作時，CPU55從EEPROM58讀出在其定位位置的光道偏離校正值A(chǔ)t′，校正該位置的尋道誤差數(shù)據(jù)Dte，并根據(jù)校正后的尋道控制數(shù)據(jù)Dtc進行任意尋道伺服控制。從而，能夠校正由布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上的光學(xué)拾取器6b的物鏡14b按照五光斑DPP方法產(chǎn)生的尋道誤差信號Ste。從而，能夠抑制光學(xué)拾取器6b中離道量的波動，從而即使物鏡14b被布置在不包括旋轉(zhuǎn)中心軸的掃描線上，也能夠關(guān)于尋道伺服控制獲得穩(wěn)定的性能和可靠性。于是，能夠提供一種適應(yīng)用于藍光光盤、DVD和CD的三種波長的光盤驅(qū)動設(shè)備。本發(fā)明很適合于具有多個物鏡和發(fā)出具有多個波長的光線的光源，并且能夠獨立實現(xiàn)多波長記錄和再現(xiàn)的盤驅(qū)動設(shè)備，以及用于控制該盤驅(qū)動設(shè)備的方法，和光盤驅(qū)動設(shè)備。本發(fā)明還可應(yīng)用于裝有包括多個物鏡和發(fā)出具有多個波長的光線的光源的光學(xué)拾取器的盤驅(qū)動設(shè)備或光盤驅(qū)動設(shè)備。本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)明白，根據(jù)設(shè)計要求和其它因素，可產(chǎn)生各種修改、組合、子組合和變更，只要它們在附加的權(quán)利要求或其等同物的范圍之內(nèi)。權(quán)利要求1.一種盤驅(qū)動設(shè)備，包括包括物鏡的光學(xué)拾取器，所述物鏡具有布置在不包括盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的線上的光軸；存儲裝置，所述存儲裝置保存通過檢測下述任何之一而獲得的多個校正值相對于盤的徑向方向的尋道誤差信號的幅度波動，以及相對于盤的徑向方向的離道量；和控制裝置，所述控制裝置從存儲裝置讀取校正值，并且當(dāng)光學(xué)拾取器工作時，校正尋道誤差信號，從而根據(jù)校正的尋道誤差信號進行伺服控制。2.按照權(quán)利要求1所述的盤驅(qū)動設(shè)備，其中光軸被布置在不包括盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的線上的物鏡按照五光斑DPP方法產(chǎn)生尋道誤差信號。3.按照權(quán)利要求1所述的盤驅(qū)動設(shè)備，還包括伺服信號處理器，當(dāng)光學(xué)拾取器工作時，所述伺服信號處理器根據(jù)校正值校正接收的尋道誤差信號，從而根據(jù)校正的尋道誤差信號進行伺服控制，其中控制裝置把和光盤的待訪問地址一致的校正值通知伺服信號處理器。4.一種控制具有包括物鏡的光學(xué)拾取器的盤驅(qū)動設(shè)備的方法，所述物鏡具有布置在不包括盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的線上的光軸，所述方法包括下述步驟通過檢測下述任何之一獲得多個校正值相對于盤的徑向方向的尋道誤差信號的幅度波動，以及相對于盤的徑向方向的離道量；把獲得的校正值保存在存儲裝置中；從存儲裝置讀取校正值，以便當(dāng)光學(xué)拾取器工作時，校正尋道誤差信號；和當(dāng)光學(xué)拾取器工作時，根據(jù)校正的尋道誤差信號進行伺服控制。5.按照權(quán)利要求4所述的方法，其中光軸被布置在不包括盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的線上的物鏡按照五光斑DPP方法產(chǎn)生尋道誤差信號。6.按照權(quán)利要求4所述的方法，其中獲得多個校正值的步驟包括下述子步驟把包括物鏡的光學(xué)拾取器移動到盤上的所需位置，所述物鏡的光軸被布置在不包括盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的線上；和在所需位置釋放尋道伺服，從而獲得跨越光道的尋道誤差信號的幅度，其中當(dāng)在包括物鏡的光學(xué)拾取器沿著盤的徑向方向以相等間隔移動時，或者當(dāng)在包括盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的線段與使物鏡的位置和盤的旋轉(zhuǎn)中心軸互連的線段之間形成的角度以相等的角度變化時，執(zhí)行把光學(xué)拾取器移動到所需位置的子步驟和獲得尋道誤差信號的幅度的子步驟所述物鏡被布置在不包括盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的線上。7.按照權(quán)利要求4所述的方法，其中獲得多個校正值的步驟包括在盤的徑向方向上在每個相等間隔處獲得校正值的子步驟。8.按照權(quán)利要求4所述的方法，其中從存儲裝置讀取校正值，以便當(dāng)光學(xué)拾取器工作時校正尋道誤差信號的步驟包括通過在盤的徑向方向上以預(yù)定間隔近似校正值來獲得校正值的子步驟，和校正尋道誤差信號的子步驟。9.按照權(quán)利要求4所述的方法，其中獲得多個校正值的步驟包括當(dāng)在包括盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的線段與使物鏡的位置和盤的旋轉(zhuǎn)中心軸互連的線段之間形成的角度以相等的角度變化時，獲得校正值的子步驟，所述物鏡被布置在不包括盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的線上。10.按照權(quán)利要求4所述的方法，其中從存儲裝置讀取校正值，以便當(dāng)光學(xué)拾取器工作時校正尋道誤差信號的步驟包括當(dāng)在包括盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的線段與使物鏡的位置和盤的旋轉(zhuǎn)中心軸互連的線段之間形成的角度以相等的角度變化時，近似校正值的子步驟，以及校正尋道誤差信號的子步驟，其中所述物鏡被布置在不包括盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的線上。11.按照權(quán)利要求4所述的方法，其中光軸被布置在不包括盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的線上的物鏡按照五光斑DPP方法產(chǎn)生尋道誤差信號。12.一種電子設(shè)備，包括盤驅(qū)動設(shè)備，包括包括物鏡的光學(xué)拾取器，所述物鏡具有布置在不包括盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的線上的光軸；存儲裝置，所述存儲裝置保存通過檢測下述任何之一而獲得的多個校正值相對于盤的徑向方向的尋道誤差信號的幅度波動，以及相對于盤的徑向方向的離道量；和控制裝置，所述控制裝置從存儲裝置讀取校正值，并且當(dāng)光學(xué)拾取器工作時，校正尋道誤差信號并根據(jù)校正的尋道誤差信號進行伺服控制；和向盤驅(qū)動設(shè)備傳送控制信號的控制部分。全文摘要盤驅(qū)動設(shè)備具有一個包括物鏡的光學(xué)拾取器。物鏡具有布置在不包括盤的旋轉(zhuǎn)中心軸的線上的光軸。所述設(shè)備具有存儲裝置，所述存儲裝置保存通過檢測相對于盤的徑向方向的尋道誤差信號的幅度波動，或者相對于盤的徑向方向的離道量而獲得的多個校正值。所述設(shè)備具有從存儲裝置讀取校正值，并且當(dāng)光學(xué)拾取器工作時，校正尋道誤差信號，從而根據(jù)校正的尋道誤差信號進行伺服控制的控制裝置。文檔編號G11B7/00GK1925028SQ20061012802公開日2007年3月7日申請日期2006年8月31日優(yōu)先權(quán)日2005年8月31日發(fā)明者西野正俊申請人:索尼株式會社