專利名稱：：判斷在高密度光盤驅(qū)動器中的光盤是單層還是雙層的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明是涉及判斷插入高密度光盤驅(qū)動器中的高密度光盤是單層(SingleLayer)光盤還是雙層(DualLayer)光盤的方法。
背景技術(shù)：
：通常，CD和DVD作為能夠記錄、存儲數(shù)字音頻及視頻數(shù)據(jù)的光記錄媒體，正在得到廣泛普及。最近，能夠長時間存儲高畫質(zhì)的視頻數(shù)據(jù)及高音質(zhì)的音頻數(shù)據(jù)的新的高密度光盤，例如，關(guān)于藍光光盤(BD:Blu-rayDisc)的規(guī)格化作業(yè)正在快速進展當中。躋身于新型光記錄媒體的BD與使用650nm波長的紅色激光的DVD相比，使用更加稠密的405nm波長的青紫色激光，在現(xiàn)存CD或DVD等直徑12cm大小的光盤中，可以存儲SDTV級畫質(zhì)影像13小時，HDTV級畫質(zhì)影像2小時，相當于27GB的數(shù)據(jù)。這種藍光光盤(BD)按照是否能夠記錄數(shù)據(jù)，劃分為播放專用藍光光盤(BD-ROM:BD-ReadOnlyMemory);不可擦寫的藍光光盤(BD-R:BD-Recordabel)及可擦寫的藍光光盤(BD-RE:BDRewritable)。而且，所述藍光光盤(BD)根據(jù)數(shù)據(jù)記錄面的個數(shù)，可以劃分為單層光盤及雙層光盤。單層光盤可以存儲27GB的數(shù)據(jù)，雙層光盤可以存儲相當于單層光盤兩倍，即50GB的數(shù)據(jù)。如上所述，隨著藍光光盤種類越來越多，光盤驅(qū)動器應(yīng)該首先判斷插入安裝的光盤的種類?，F(xiàn)有的DVD用光盤驅(qū)動器按照以下方式來判斷光盤是單層還是雙層對聚焦錯誤信號中產(chǎn)生的S-曲線(curve)的個數(shù)進行記數(shù)，如果記數(shù)的個數(shù)是l，判斷該光盤為單層光盤；如果記數(shù)的個數(shù)是2，判斷該光盤為雙層光盤。而諸如藍光光盤(BD)等高密度光盤，由于其與DVD相比，使用短波長的光源，所以，光盤表面反射的光也會產(chǎn)生S-曲線。因此，當沒有考慮光盤表面反射的光產(chǎn)生的S-曲線時，存在可能會將單層光盤誤判斷為雙層光盤的問題。
發(fā)明內(nèi)容因此，本發(fā)明的目的在于解決上述問題，而提供一種判斷在高密度光盤驅(qū)動器中的光盤是單層還是雙層的方法。當判斷插入高密度光盤驅(qū)動器的光盤是單層光盤還是雙層光盤時，考慮光盤表面反射光產(chǎn)生的s-曲線，能夠防止光盤判定錯誤的高密度光盤驅(qū)動器的單層及雙層光盤判別方法。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明高密度光盤驅(qū)動器的單層及雙層光盤判別方法特征在于包括如下步驟將物鏡移動到事先設(shè)定地點的步驟；從通過移動所述物鏡產(chǎn)生的聚焦錯誤信號中檢測S-曲線拾取值的步驟；將所述檢測的S-曲線的拾取值與事先設(shè)定的臨界值進行比較，記數(shù)具有所述事先設(shè)定的臨界值以上大小的S-曲線的發(fā)生回數(shù)的步驟；如果所述記數(shù)的S-曲線的發(fā)生回數(shù)是2回，判斷光盤為單層光盤，如果是3回，判斷光盤為雙層光盤的判別步驟。而且，本發(fā)明高密度光盤驅(qū)動器的單層及雙層光盤判別方法最好還包括以下步驟，并以此為特征對所述S-曲線的發(fā)生回數(shù)進行記數(shù)后，檢測所述光盤表面反射光產(chǎn)生的S-曲線后:，將檢測的S-曲線的拾取值與特定的噪音臨界值進行比較的步驟；對具有所述噪音臨界值以下大小的S-曲線的發(fā)生回數(shù)進行記數(shù)的步驟；從具有所述臨界值以上的拾取值的S-曲線的發(fā)生回數(shù)中減去具有所述噪音臨界值以下的拾取值的S-曲線的發(fā)生回數(shù)的步驟。所述判別步驟的特點是，利用所述減算的值，判斷光盤是單層光盤，還是雙層光盤。所述噪音臨界值是以事先設(shè)定的值或者在所述拾取值檢測步驟中檢測的S-曲線的拾取值為基礎(chǔ)算出。所述算出的噪音臨界值是相當于在所述拾取值檢測步驟中檢測的拾取值中最大拾取值的70%的值。所述光盤是藍光光盤。由于本發(fā)明采用了以上的技術(shù)方案，當判斷插入高密度光盤驅(qū)動器的光盤是單層光盤還是雙層光盤時，由于考慮光盤表面反射光產(chǎn)生的S-曲線，可防止光盤判別錯誤。而且，本發(fā)明通過設(shè)定噪音臨界值，判斷光盤是單層還是雙層時，由于能夠防止包括數(shù)據(jù)記錄面周圍產(chǎn)生的噪音的S-曲線，達到提高光盤判別準確度的效果。圖l為本發(fā)明實施例中適用的高密度光盤驅(qū)動器的概略方框圖。圖2a為藍光光盤(BD)是單層光盤時，F(xiàn)E信號的波形圖。圖2b為藍光光盤(BD)是雙層光盤時，F(xiàn)E信號的波形圖。圖3為本發(fā)明實施例之單層及雙層光盤判別方法的流程圖。附圖主要部分符號說明如下100:高密度光盤驅(qū)動器110:光拾取器120:RF信號處理器130:焦距伺服控制器140:焦距驅(qū)動器150:拾取值檢測器160:微型電子計算機具體實施方式下面，參照附圖對本發(fā)明進行詳細說明。但是，在說明本發(fā)明的過程中，對于眾所周知的相關(guān)功能或者構(gòu)成，由于其不是本發(fā)明的要旨，省略關(guān)于其的詳細說明。圖l為本發(fā)明實施例中適用的高密度光盤驅(qū)動器的概略方框圖。請參照圖l，對本發(fā)明中適用的高密度光盤驅(qū)動器100進行詳細說明。本發(fā)明實施例中適用的高密度光盤驅(qū)動器由以下幾個部分構(gòu)成在高密度光盤(以下簡稱"光盤")100a上照射特定波長的光，接收反射到所述光盤100a上的光，將其轉(zhuǎn)換為電信號的光拾取器ll();利用所述光拾取器110輸出的電信號，生成進行光盤判別及焦距伺服的聚焦錯誤(FocusError:以下簡稱"FE")信號的RF信號處理部120;以所述RF信號處理部120輸出的FE信號為基礎(chǔ)，生成驅(qū)動焦距傳動裝置(未圖示)的焦距驅(qū)動信號的焦距伺服控制器130;通過所述焦距伺服控制器130輸出的焦距驅(qū)動信號對應(yīng)的驅(qū)動電壓，驅(qū)動所述光拾取器110中具有的焦距傳動裝置的焦距驅(qū)動器140;檢測所述RF信號處理部120輸出的FE信號中產(chǎn)生的S-曲線拾取值的拾取值檢測器150;將所述拾取值檢測器150輸出的s-曲線的拾取值與事先設(shè)定的臨界值進行比較，對s-曲線的發(fā)生回數(shù)進行記數(shù)，以所述記數(shù)的回數(shù)為基礎(chǔ)，對包括判斷插入安裝的光盤是單層(SingleLayer)光盤還是雙層(DualLayer)光盤的動作在內(nèi)的高密度光盤驅(qū)動器100的全部動作進行控制的微型電子計算機160。本發(fā)明中的光拾取器110作為藍光光盤(Blu-rayDisc)等高密度光盤用光學裝置，由以下幾個部分構(gòu)成射出大約405nm波長的青紫色光的光源；將所述光源射出的光集束到光盤100a的數(shù)據(jù)記錄面上的物鏡(OL:objectlens);沿光軸方向垂直移動物鏡(OL)的焦距傳動裝置；檢測光盤100a反射的激光束，將其轉(zhuǎn)換為電信號的光檢測器。所述物鏡(OL)的開口數(shù)(NA:NumericalAperture)為0.S5，與現(xiàn)存CD或DVD用物鏡的開口數(shù)相比，相對較大。當按照所述結(jié)構(gòu)構(gòu)成的高密度光盤驅(qū)動器100連接電源或者感應(yīng)托盤開閉時，向光盤100a方向移動光拾取器的物鏡(OL)，利用光盤100a反射光的FE信號，執(zhí)行光盤識別動作。本發(fā)明只對光盤識別動作中，插入安裝的光盤100a是單層光盤，還是雙層光盤的判別過程進行說明。為了判斷高密度光盤驅(qū)動器100中插入安裝的光盤100a是單層光盤還是雙層光盤，微型電子計算機160向光盤100a方向移動物鏡(OL)，對FE信號中顯示的S-曲線的發(fā)生回數(shù)進行記數(shù)，利用記數(shù)的回數(shù)，判斷現(xiàn)在插入安裝的光盤100a是單層光盤還是雙層光盤。具體地說，微型電子計算機160將拾取值檢測器150中檢測的S-曲線的拾取值與事先設(shè)定的臨界值進行比較，只對具有所述臨界值以上大小的S-曲線進行記數(shù)。然后，如果微型電子計算機160記數(shù)的S-曲線的發(fā)生回數(shù)是2回，判斷光盤是單層光盤，如果是3回，判斷是雙層光盤。本發(fā)明中適用的光盤100a，例如，藍光光盤(BD)，由于其使用短波長的光源，所以，在光盤表面反射光的FE信號中也產(chǎn)生S-曲線。因此，本發(fā)明在判斷光盤100a的類型時，充分考慮光盤表面反射光產(chǎn)生的S-曲線。圖2a為藍光光盤(BD)是單層光盤時，F(xiàn)E信號的波形圖。參考符號a是光盤100a表面反射光產(chǎn)生的S-曲線，參考符號b是光盤100a的數(shù)據(jù)記錄面反射的光產(chǎn)生的S-曲線，參考符號c是光盤lOOa的數(shù)據(jù)記錄面周圍顯示的噪音(Noise)的S-曲線。如圖2a所示，藍光光盤(BD)的數(shù)據(jù)記錄面形成于距離光盤表面0.1mm間隔的位置。另一方面，圖2b為藍光光盤(:BD)是雙層光盤時，F(xiàn)E信號的波形圖。參考符號a是光盤100a表面反射的光產(chǎn)生的S-曲線，參考符號bl是光盤100a的第l數(shù)據(jù)記錄面反射的光產(chǎn)生的S-曲線，參考符號b2是光盤100a的第2數(shù)據(jù)記錄面反射的光產(chǎn)生的S-曲線。而且，參考符號c是光盤100a的數(shù)據(jù)記錄面周圍顯示的噪音(Noise)的S-曲線。如圖2b所示，藍光光盤的第2數(shù)據(jù)記錄面形成于距離光盤表面0.075mm的位置，第l數(shù)據(jù)記錄面形成于距離光盤表面0.1mm的位置。如圖2a及圖2b所示，盡管在藍光光盤(BD)表面反射光的FE信號中顯示S-曲線，但是，光盤表面反射的光的S-曲線(a)的大小(拾取值)小于數(shù)據(jù)記錄面反射的光的S-曲線(b，bl,b2)的大小。因此，S-曲線的發(fā)生回數(shù)記數(shù)標準的臨界值(-Vth+￥化)應(yīng)該以光盤表面反射光的8-曲線的拾取值為基礎(chǔ)設(shè)定。另一方面，當光盤是單層光盤時，與雙層光盤相比，數(shù)據(jù)記錄面的反射率更大。因此，當以光盤表面反射的光的S-曲線的拾取值為基礎(chǔ)設(shè)定所述臨界值(-Vth+丫化)時，對數(shù)據(jù)記錄面周圍產(chǎn)生的噪音的S-曲線(c)進行記數(shù)，可以防止將單層光盤誤判為雙層光盤。因此，檢測光盤100a表面反射光的S-曲線(a)以后，最好對檢測的S-曲線中，與具有最大拾取值的S-曲線相比，具有特定水平(例如30%)以上小拾取值的S-曲線不進行記數(shù)。具體地說，微型電子計算機160檢測所述光盤1003表面反射的光產(chǎn)生的5-曲線以后，將檢測的S-曲線的拾取值與噪音臨界值進行比較，對具有所述噪音臨界值以下拾取值的S-曲線的發(fā)生回數(shù)進行記數(shù)。這里，噪音臨界值作為為了防止對具有事先設(shè)定的臨界值以上的拾取值的S-曲線的發(fā)生回數(shù)進行記數(shù)的數(shù)值中包括噪音的S-曲線，而設(shè)定的值，通過測驗、計算，相當于事先設(shè)定的值或拾取值檢測器150檢測的S-曲線的拾取值中最大拾取值的70。/。的值。然后，微型電子計算機160從對具有臨界值以上的拾取值的S-曲線的發(fā)生回數(shù)進行記數(shù)的值中減去具有所述噪音臨界值以下拾取值的S-曲線的發(fā)生回數(shù)，利用所述減算的值，判斷現(xiàn)在插入安裝的光盤100a的類型。圖3為本發(fā)明實施例之單層及雙層光盤判別方法的流程圖。下面，請參照圖1到圖3，對本發(fā)明實施例的單層及雙層光盤判別方法的流程進行詳細說明。當高密度光盤驅(qū)動器100連接電源或者感應(yīng)托盤開閉時，為了向光盤100a方向移動光拾取器110的物鏡(OL:objectlens)，微型電子計算機160對焦距伺服控制器130進行控制(S210)。焦距伺服控制部130在微型電子計算機160的控制下，生成將物鏡向光盤100a所在的上方移動的焦距驅(qū)動信號，并提供給焦距驅(qū)動器140。根據(jù)提供的這個焦距驅(qū)動信號，物鏡(OL)向光盤100a方向徐徐升起。在移動所述物鏡(OL)的過程中，在光盤100a反射光的FE信號中顯示S-曲線，拾取值檢測器150對所述FE信號中顯示的S-曲線的拾取值進行檢測，并提供給微型電子計算機160(S220)。微型電子計算機160判斷拾取值檢測器150提供的S-曲線的拾取值是否處于事先設(shè)定的臨界值以上(S230)。當所述230步驟的判斷結(jié)果是拾取值檢測器150檢測的S-曲線的拾取值處于事先設(shè)定的臨界值以上時，微型電子計算機160將3-曲線發(fā)生回數(shù)增加1(S240)。然后，微型電子計算機160判斷物鏡(OL)是否到達事先設(shè)定的地點。艮卩，判斷物鏡(OL)是否到達可移動的最上面地點(S250)。直到所述物鏡(OL)移動到最上面地點為止，反復執(zhí)行所述S210步驟到所述S240步驟。當所述250步驟的判斷結(jié)果是物鏡(OL)到達事先設(shè)定的最上面地點時，微型電子計算機160根據(jù)物鏡(OL)到達事先設(shè)定的最上面地點為止產(chǎn)生的S-曲線的發(fā)生回數(shù)，判斷光盤是單層還是雙層。艮口，當微型電子計算機160判斷物鏡(OL)到達事先設(shè)定的最上面地點為止，產(chǎn)生兩次S-曲線(S260)，判斷現(xiàn)在插入安裝的光盤100a是單層光盤(S270)。相反，當微型電子計算機160判斷物鏡(OL:objectlens)到達事先設(shè)定的最上面地點為止，產(chǎn)生三次S-曲線(S280)，微型電子計算機160判斷現(xiàn)在插入安裝的光盤100a是雙層光盤(S290)。另一方面，盡管圖中沒有標記，所述250步驟后，微型電子計算機160以所述220步驟檢測的拾取值中最大的拾取值為基礎(chǔ)，設(shè)定噪音臨界值后，檢測光盤100a表面反射光的S-曲線以后，將檢測的S-曲線的拾取值與所述設(shè)定的噪音臨界值進行比較。然后，對上述比較結(jié)果是，具有所述噪音臨界值以下大小的S-曲線的發(fā)生回數(shù)進行記數(shù)，從所述物鏡(OL)到達事先設(shè)定的最上面地點為止的S-曲線的發(fā)生回數(shù)中減去具有所述噪音臨界值以下的拾取值的s-曲線的發(fā)生回數(shù)。微型電子計算機160以所述減算的結(jié)果為基礎(chǔ)，判斷現(xiàn)在插入安裝的光盤是單層光盤還是雙層光盤。通過上述的說明內(nèi)容，相關(guān)工作人員完全可以在不偏離本發(fā)明技術(shù)思想的范圍內(nèi)，進行多樣的變更以及修改。因此，本項發(fā)明的技術(shù)性范圍并不局限于說明書上的內(nèi)容，必須要根據(jù)權(quán)利范圍來確定其技術(shù)性范圍。權(quán)利要求1.一種判斷在高密度光盤驅(qū)動器中的光盤是單層還是雙層的方法，其特征在于，包括如下步驟將物鏡移動到事先設(shè)定地點的步驟；從通過移動所述物鏡產(chǎn)生的聚焦錯誤信號中檢測S-曲線拾取值的步驟；將所述檢測的S-曲線的拾取值與事先設(shè)定的臨界值進行比較，記數(shù)具有所述事先設(shè)定的臨界值以上大小的S-曲線的發(fā)生回數(shù)的步驟；如果所述記數(shù)的S-曲線的發(fā)生回數(shù)是2回，判斷光盤為單層光盤，如果是3回，判斷光盤為雙層光盤的判別步驟。2、如權(quán)利要求1所述的判斷在高密度光盤驅(qū)動器中的光盤是單層還是雙層的方法，其特征在于還包括如下步驟，對所述S-曲線的發(fā)生回數(shù)進行記數(shù)后，檢測所述光盤表面反射光產(chǎn)生的S-曲線后，將檢測的S-曲線的拾取值與特定的噪音臨界值進行比較的步驟；對具有所述噪音臨界值以下大小的S-曲線的發(fā)生回數(shù)進行記數(shù)的步驟；從具有所述臨界值以上的拾取值的S-曲線的發(fā)生回數(shù)中減去具有所述噪音臨界值以下的拾取值的S-曲線的發(fā)生回數(shù)的步驟。所述判別步驟是指利用所述計算的值，判斷光盤是單層光盤，還是雙層光盤。3、如權(quán)利要求2所述的判斷在高密度光盤驅(qū)動器中的光盤是單層還是雙層的方法，其特征在于所述噪音臨界值是以事先設(shè)定的值或者在所述拾取值檢測步驟中檢測的s-曲線的拾取值為基礎(chǔ)計算出。4、如權(quán)利要求3所述的判斷在高密度光盤驅(qū)動器中的光盤是單層還是雙層的方法，其特征在于所述計算出的噪音臨界值是相當于在所述拾取值檢測步驟中檢測的拾取值中最大拾取值的70%的值。5、如權(quán)利要求1或2所述的判斷在高密度光盤驅(qū)動器中的光盤是單層還是雙層的方法，其特征在于所述光盤是藍光光盤。全文摘要本發(fā)明是涉及判斷插入高密度光盤驅(qū)動器中的高密度光盤是單層光盤還是雙層光盤的方法。包括以下步驟將物鏡移動到事先設(shè)定地點的步驟；從通過移動所述物鏡產(chǎn)生的聚焦錯誤信號中檢測S-曲線拾取值的步驟；將所述檢測的S-曲線的拾取值與事先設(shè)定的臨界值進行比較，記數(shù)具有所述事先設(shè)定的臨界值以上大小的S-曲線的發(fā)生回數(shù)的步驟；如果所述記數(shù)的S-曲線的發(fā)生回數(shù)是2回，判斷光盤為單層光盤，如果是3回，判斷光盤為雙層光盤的判別步驟。因此，通過本發(fā)明，當判斷插入高密度光盤驅(qū)動器中的高密度光盤是單層光盤還是雙層光盤時，考慮光盤表面反射光產(chǎn)生的S-曲線，能夠有效防止光盤判定錯誤。文檔編號G11B7/24GK101211604SQ20061014877公開日2008年7月2日申請日期2006年12月30日優(yōu)先權(quán)日2006年12月30日發(fā)明者金正裴申請人:上海樂金廣電電子有限公司