專利名稱：用于使用臨時(shí)缺陷信息(tdfl)和臨時(shí)缺陷管理信息(tdds)來(lái)管理盤缺陷的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及盤缺陷管理，更具體地講，涉及一種用于使用臨時(shí)缺陷管理區(qū)(TDMA)管理其中的缺陷的方法。
背景技術(shù)：
盤缺陷管理是將存儲(chǔ)在存在缺陷的盤的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的數(shù)據(jù)重新寫入到該盤的數(shù)據(jù)區(qū)的新部分，由此補(bǔ)償否則由缺陷引起的數(shù)據(jù)損失。通常，使用線性替換方法或滑移替換方法來(lái)執(zhí)行盤缺陷管理。在線性替換方法中，在其中存在缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)用無(wú)缺陷的備用數(shù)據(jù)區(qū)來(lái)替換。在滑移替換方法中，具有缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)被滑過(guò)并且下一個(gè)無(wú)缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)被使用。
然而，線性替換方法和滑移替換方法都只能應(yīng)用于在其上數(shù)據(jù)可重復(fù)地被記錄并且可使用隨機(jī)訪問(wèn)方法執(zhí)行記錄的可重寫盤，如DVD-RAM/RW。換言之，難于將線性替換方法和滑移替換方法應(yīng)用于在其上記錄只被允許一次的一次性寫入盤。
通常，通過(guò)在盤上記錄數(shù)據(jù)并確認(rèn)數(shù)據(jù)是否已經(jīng)正確地被記錄在盤上來(lái)檢測(cè)盤上缺陷的存在。然而，一旦數(shù)據(jù)被記錄在一次性寫入盤上，就不可能蓋寫新數(shù)據(jù)并管理其中的缺陷。
在開發(fā)了CD-R和DVD-R之后，引入了具有幾十個(gè)GB記錄容量的高密度一次性寫入盤。由于這種類型的盤便宜并且允許隨機(jī)訪問(wèn)以實(shí)現(xiàn)快速記錄操作，所以它可以被用作備份盤。然而，由于盤缺陷管理對(duì)于一次性寫入盤是不可用的，所以當(dāng)在備份操作期間檢測(cè)到缺陷區(qū)(即，存在缺陷的區(qū))時(shí)，備份操作可中止。另外，由于當(dāng)不頻繁地使用系統(tǒng)時(shí)(例如，在晚上當(dāng)系統(tǒng)管理員不操作該系統(tǒng)時(shí))，通常執(zhí)行備份操作，所以很可能由于檢測(cè)到一次性寫入盤的缺陷區(qū)備份操作將被停止并保持中止。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種在其上管理缺陷的一次寫入性盤、以及可用于該一次寫入性盤的盤缺陷管理方法和設(shè)備。
本發(fā)明還提供了一種在其上管理缺陷的一次性寫入盤，以及一種即使當(dāng)在記錄操作期間檢測(cè)到缺陷時(shí)，允許記錄操作無(wú)中斷執(zhí)行的可以管理在盤上的盤缺陷的盤缺陷管理方法及設(shè)備。
將在接下來(lái)的描述中部分闡述本發(fā)明另外的方面和/或優(yōu)點(diǎn)，還有一部分通過(guò)描述將是清楚的，或者可以經(jīng)過(guò)本發(fā)明的實(shí)施而得知。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，盤包括用戶數(shù)據(jù)區(qū)，用戶數(shù)據(jù)被記錄在其中；備用區(qū)，其包括在其中記錄用于記錄在存在于用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的缺陷區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)的部分的替換數(shù)據(jù)的替換區(qū)；和一個(gè)區(qū)，在其中記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中最后記錄的數(shù)據(jù)的地址和記錄在備用區(qū)中的替換數(shù)據(jù)的地址。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，盤還包括臨時(shí)缺陷管理區(qū)，其包括對(duì)每個(gè)記錄操作記錄的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息以被用于盤缺陷管理，其中，臨時(shí)缺陷管理區(qū)是包括在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中最后記錄的數(shù)據(jù)的地址和在備用區(qū)中記錄的替換數(shù)據(jù)的地址的區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明的另一發(fā)明，提供了一種管理在盤中的缺陷的方法，包括將用戶數(shù)據(jù)記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中；將被記錄在存在缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的缺陷區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)再次記錄在盤的備用區(qū)中，以產(chǎn)生用于記錄在缺陷區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)的部分的替換數(shù)據(jù)；和將在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中最后記錄的數(shù)據(jù)的地址和在備用區(qū)中記錄的替換數(shù)據(jù)的地址記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中，該臨時(shí)缺陷管理區(qū)被形成以執(zhí)行盤缺陷管理。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，包括記錄/讀單元，其將數(shù)據(jù)記錄在盤上或從盤上讀取數(shù)據(jù)；和控制器，其控制記錄/讀單元以將用戶數(shù)據(jù)記錄在盤的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中，控制記錄/讀單元以將記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)的缺陷區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)的部分作為替換數(shù)據(jù)再次記錄在備用區(qū)中，并且控制記錄/讀單元以將在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中最后記錄的數(shù)據(jù)的地址和在備用區(qū)中最后記錄的替換數(shù)據(jù)的地址記錄在被形成以執(zhí)行盤缺陷管理的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中。


通過(guò)結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述，本發(fā)明的以上和/或其它方面和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更加清楚，其中圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄設(shè)備的方框圖；圖2A和2B示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的盤的結(jié)構(gòu)；圖3A示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的圖2A和2B中的盤的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖3B示出了具有如圖3A所示的缺陷管理區(qū)(DMA)和臨時(shí)DMA(TDMA)的盤的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖4A至4D示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的TDMA的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖5A示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的臨時(shí)缺陷信息(TDFL)#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖5B示出了根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的臨時(shí)缺陷信息(TDFL)#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖6示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的臨時(shí)缺陷管理信息(TDDS)#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖7示出了解釋根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的在用戶數(shù)據(jù)區(qū)A和備用區(qū)B中的數(shù)據(jù)的記錄的示圖；圖8是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的數(shù)據(jù)區(qū)的有效使用的示圖；圖9A和9B示出根據(jù)如圖7所示的數(shù)據(jù)的記錄記錄的TDFL#1和TDFL#2的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖10示出關(guān)于缺陷#i的信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖11是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的盤缺陷管理方法的流程圖；和圖12是示出根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的盤缺陷管理方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式
現(xiàn)在將詳細(xì)地描述本發(fā)明的實(shí)施方式，其例子示出在附圖中，其中，相同的標(biāo)號(hào)始終表示同一部件。以下，通過(guò)參考附圖來(lái)描述實(shí)施例以解釋本發(fā)明。
圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的方框圖。參照?qǐng)D1，記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備包括記錄/讀單元1、控制器2和存儲(chǔ)器3。記錄/讀單元1將數(shù)據(jù)記錄在根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的信息存儲(chǔ)介質(zhì)的盤100上，并從盤100讀回該數(shù)據(jù)以校驗(yàn)記錄的數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。控制器2執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的盤缺陷管理。
在示出的實(shí)施例中，控制器2使用寫入后校驗(yàn)(verify-after-write)的方法，在該方法中，數(shù)據(jù)以數(shù)據(jù)的預(yù)定單元被記錄在盤100上，并且校驗(yàn)記錄的數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性以檢測(cè)盤100的區(qū)是否存在缺陷。換言之，控制器2以記錄操作為單位將用戶數(shù)據(jù)記錄在盤100上，并且校驗(yàn)記錄的用戶數(shù)據(jù)以檢測(cè)存在缺陷的盤100的區(qū)。其后，控制器2創(chuàng)建指示具有缺陷的區(qū)的位置的信息并將該創(chuàng)建的信息存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器3中。當(dāng)存儲(chǔ)的信息的量達(dá)到預(yù)定水平或?qū)懭牒笮ｒ?yàn)操作被執(zhí)行預(yù)定次數(shù)時(shí)，控制器2將存儲(chǔ)的信息作為臨時(shí)缺陷信息記錄在盤100上。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，記錄操作是根據(jù)用戶的意圖確定的工作單位或?qū)⒈粓?zhí)行的記錄工作。根據(jù)示出的實(shí)施例，記錄操作指示在其中盤100被載入記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，數(shù)據(jù)被記錄在盤100上，并且將盤100從記錄設(shè)備中取出的過(guò)程。然而，可以理解記錄操作也可被另外定義。
在記錄操作期間，至少一次記錄用戶數(shù)據(jù)并校驗(yàn)。通常，盡管不必需，但數(shù)據(jù)被記錄并校驗(yàn)幾次。使用寫入后校驗(yàn)的方法獲得的缺陷信息作為臨時(shí)缺陷信息被臨時(shí)地存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器3中。當(dāng)在記錄數(shù)據(jù)后用戶按住記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的彈出按鈕(未示出)以將盤100移走時(shí)，控制器2預(yù)料記錄操作將被終止?？刂破?從存儲(chǔ)器3讀取信息，將其提供至記錄/讀單元1，并控制記錄/讀單元1將其記錄在盤100上。
當(dāng)數(shù)據(jù)的記錄完成(即，將不在盤100上記錄其它數(shù)據(jù)并且盤100需要被完成)時(shí)，控制器2控制記錄/讀單元1以將記錄的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息作為缺陷管理信息重新寫入到盤100的缺陷管理區(qū)(DMA)。
在再現(xiàn)期間，記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備利用在缺陷管理區(qū)和/或臨時(shí)缺陷管理區(qū)中的缺陷信息和缺陷管理信息以訪問(wèn)記錄的用戶數(shù)據(jù)。盡管根據(jù)如圖1所示的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備描述，但可以理解該設(shè)備可以是單獨(dú)地記錄或再現(xiàn)設(shè)備，或記錄和再現(xiàn)設(shè)備。
圖2A和2B示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的圖1中盤100的結(jié)構(gòu)。圖2A詳細(xì)示出了具有記錄層L0的盤100的單記錄層盤代表。盤100包括導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)。導(dǎo)入?yún)^(qū)位于盤100的內(nèi)側(cè)部分，導(dǎo)出區(qū)位于盤100的外側(cè)部分。數(shù)據(jù)區(qū)在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)之間并且被劃分為用戶數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)。
用戶數(shù)據(jù)區(qū)是記錄用戶數(shù)據(jù)的區(qū)。備用區(qū)是具有缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的替換區(qū)，用于補(bǔ)償由于缺陷引起的在記錄區(qū)中的損失。假定缺陷可能在盤100內(nèi)發(fā)生，優(yōu)選，但不是必需，備用區(qū)占用大約為盤100的全部數(shù)據(jù)容量的5％，從而更大量的數(shù)據(jù)可被記錄在盤100上。
圖2B示出了具有兩個(gè)記錄層L0和L1的盤100的雙記錄層盤代表。從第一記錄層L0的內(nèi)側(cè)部分到其外側(cè)部分順序地形成導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和外側(cè)區(qū)。另外，從第二記錄層L1的外側(cè)部分到其內(nèi)側(cè)部分順序地形成了外側(cè)區(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)。與圖2A中的單記錄層盤不同，圖2B中的盤100的導(dǎo)出區(qū)在圖2B的盤100的第二記錄層L1的內(nèi)側(cè)部分。即，圖2B中的盤100具有逆軌道路徑(OTP)，在其中數(shù)據(jù)被從第一記錄層L0的導(dǎo)入?yún)^(qū)開始向第一記錄層L0的外側(cè)區(qū)并從第二記錄層L1的外側(cè)區(qū)繼續(xù)至第二記錄層L1的導(dǎo)出區(qū)0記錄。備用區(qū)被分配到根據(jù)示出的實(shí)施例的記錄層L0和L1中的每個(gè)，但在本發(fā)明的所有方面中，不需要如此分配備用區(qū)。
在示出的實(shí)施例中，備用區(qū)在用戶數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)之間以及在用戶數(shù)據(jù)區(qū)和外側(cè)區(qū)之間。如果必要，則用戶數(shù)據(jù)區(qū)的部分可用作另一備用區(qū)。即，可以理解在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)之間可存在多于一個(gè)的備用區(qū)。
圖3A示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的圖2A和圖2B中的盤100的結(jié)構(gòu)。參照?qǐng)D3A，如果盤100是單記錄層盤，則至少一個(gè)DMA存在于盤100的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)。另外，至少一個(gè)臨時(shí)缺陷管理區(qū)(TDMA)也存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)。如果盤100是雙記錄層盤，則至少一個(gè)DMA存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)、導(dǎo)出區(qū)和外側(cè)區(qū)，并且至少一個(gè)TDMA存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)。對(duì)于圖2B所示的雙記錄層盤，DMA和TDMA優(yōu)選地形成在分別位于盤100的內(nèi)側(cè)部分的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)。
通常，DMA包括關(guān)于管理在盤100中的盤缺陷的信息。這種信息包括用于盤缺陷管理的盤100的結(jié)構(gòu)、缺陷信息的記錄位置、缺陷管理是否被執(zhí)行、和備用區(qū)的位置及大小。對(duì)于一次性寫入盤，當(dāng)以上信息改變時(shí)，在先前記錄的數(shù)據(jù)之后記錄了新數(shù)據(jù)。
此外，當(dāng)盤100被載入如圖1所示的記錄/讀取設(shè)備時(shí)，該設(shè)備通常從盤100的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)讀取數(shù)據(jù)以確定如何管理盤100以及如何在盤100上記錄數(shù)據(jù)和從盤100上讀取數(shù)據(jù)。然而，如果在導(dǎo)入?yún)^(qū)和/或?qū)С鰠^(qū)記錄的數(shù)據(jù)的量增加，則在盤100載入之后要花更長(zhǎng)時(shí)間來(lái)準(zhǔn)備數(shù)據(jù)的記錄或再現(xiàn)。
為了解決這個(gè)問(wèn)題和其它原因，本發(fā)明的一方面使用在TDMA中記錄的臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息。TDMA被分配到盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)和/或?qū)С鰠^(qū)，與DMA分開。即，只有執(zhí)行盤缺陷管理所需的最后記錄的缺陷信息和最后記錄的缺陷管理信息被記錄在DMA。這樣，對(duì)于記錄/再現(xiàn)操作記錄/讀單元所需的信息的量被減少。
在示出的實(shí)施例中，由于使用線性替換方法執(zhí)行盤缺陷管理，所以臨時(shí)缺陷信息包括指示盤100中具有缺陷的區(qū)的位置的缺陷位置信息和指示在盤100上存儲(chǔ)替換數(shù)據(jù)的區(qū)的位置的替換位置信息。替換數(shù)據(jù)是替換在用戶數(shù)據(jù)區(qū)的缺陷區(qū)中記錄的用戶數(shù)據(jù)的部分的數(shù)據(jù)。盡管不是必需的，優(yōu)選地臨時(shí)缺陷信息還包括指示具有缺陷的區(qū)是單個(gè)缺陷塊還是連續(xù)缺陷塊的信息。
臨時(shí)缺陷管理信息用于管理臨時(shí)缺陷信息并且包括指示臨時(shí)缺陷信息被記錄在盤100中的位置的信息。盡管不是必需的，優(yōu)選地臨時(shí)缺陷管理信息還包括指示最后記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)和最后形成在備用區(qū)中的替換區(qū)的用戶數(shù)據(jù)的位置的信息。以下將解釋臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的詳細(xì)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
在示出的實(shí)施例中，每當(dāng)記錄操作結(jié)束時(shí)，記錄臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息。在TDMA中，關(guān)于在記錄操作#0期間記錄的數(shù)據(jù)中出現(xiàn)的缺陷的信息、和關(guān)于替換區(qū)的信息被記錄為臨時(shí)缺陷信息#0。關(guān)于在記錄操作#1期間記錄的數(shù)據(jù)中出現(xiàn)的缺陷的信息、和關(guān)于替換區(qū)的信息被記錄為臨時(shí)缺陷信息#1。另外，用于管理臨時(shí)缺陷信息#0、#1的信息作為臨時(shí)缺陷管理信息#0、#1被記錄在TDMA中。當(dāng)其它用戶數(shù)據(jù)不可以被記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中或用戶不希望在其上記錄其它數(shù)據(jù)(即，數(shù)據(jù)需要被完成)時(shí)，記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)中的臨時(shí)缺陷信息和記錄在臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中的臨時(shí)缺陷管理信息被重新寫入DMA。
至少為了如下原因，臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息被重新寫入DMA。當(dāng)其它數(shù)據(jù)將不能記錄在盤100上(即，盤100需要被完成)時(shí)，僅僅已經(jīng)被更新過(guò)幾次的最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息被重新記錄在DMA中。因此，記錄/讀單元1僅通過(guò)讀取最后記錄的缺陷管理信息就可以從盤100快速讀取缺陷管理信息，由此實(shí)現(xiàn)盤100的快速初始化。另外，在DMA中的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的記錄增加了信息的可靠性。
在示出的實(shí)施例中，包含在先前記錄的臨時(shí)缺陷信息#0、#1、#2和#i-1中的缺陷信息還被包含在臨時(shí)缺陷信息#i中。因此，易于僅通過(guò)讀取包含在最后記錄的臨時(shí)缺陷信息#i中的缺陷信息并將讀取的缺陷信息重新寫入DMA中來(lái)完成盤100。
在具有幾十個(gè)GB的記錄容量的高密度盤的情況下，期望一個(gè)簇被分配到在其中記錄臨時(shí)缺陷管理信息#i的區(qū)，并且四到八個(gè)簇被分配到在其中記錄臨時(shí)缺陷信息#i的區(qū)。這是因?yàn)楫?dāng)記錄的最小物理單位是簇時(shí)，盡管臨時(shí)缺陷信息#i的量只有幾個(gè)KB，通常優(yōu)選以簇為單元來(lái)記錄新信息以更新信息。在盤中允許的缺陷的總量?jī)?yōu)選地大約為盤記錄容量的百分之五。例如，考慮到關(guān)于缺陷的信息大約為8個(gè)字節(jié)長(zhǎng)并且簇的大小為64KB長(zhǎng)，需要大約四到八個(gè)簇來(lái)記錄臨時(shí)缺陷信息#i。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，也可以對(duì)臨時(shí)缺陷信息#i和臨時(shí)缺陷管理信息#i執(zhí)行寫入后校驗(yàn)的方法。當(dāng)檢測(cè)到缺陷時(shí)，記錄在盤中具有缺陷的區(qū)中的信息可被使用線性替換方法記錄在備用區(qū)中，或使用滑移替換方法記錄在與TDMA相鄰的區(qū)中。
圖3B示出了具有圖3A所示的TDMA和DMA的盤100的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。如果盤100是如圖2A所示的單記錄層盤，則TDMA和DMA存在于盤100的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)中的至少一個(gè)中。如果該盤是如圖2B所示的雙記錄層盤100，則TDMA和DMA存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)、導(dǎo)出區(qū)和外側(cè)區(qū)中的至少一個(gè)中。盡管不是必需的，但是優(yōu)選的TDMA和DMA分別存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)中。
參照?qǐng)D3B，形成了兩個(gè)DMA以增加缺陷管理信息和缺陷信息的健壯性。在圖3B中，盤100包括臨時(shí)缺陷管理區(qū)(TDMA)；測(cè)試區(qū)，在其中測(cè)量數(shù)據(jù)的記錄條件；驅(qū)動(dòng)器和盤信息區(qū)，在其中記錄了關(guān)于在記錄和/或再現(xiàn)操作期間使用的驅(qū)動(dòng)器的信息和指示盤是單記錄層盤或雙記錄層盤的盤信息；和作為指示各個(gè)區(qū)的邊界的緩沖器的緩沖器1、緩沖器2和緩沖器3區(qū)。
圖4A至圖4D示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的TDMA的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。參照?qǐng)D4A，TDMA在邏輯上被劃分為臨時(shí)缺陷信息區(qū)和臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)。在示出的臨時(shí)缺陷信息區(qū)的實(shí)施例中，臨時(shí)缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2被從這個(gè)區(qū)的開始處開始向該區(qū)的結(jié)束處順序地記錄。該臨時(shí)缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、...被重復(fù)地記錄幾次以增加該信息的健壯性。具體地講，圖4A示出了P次臨時(shí)缺陷信息TDFL#0的記錄。
在臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中，臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、TDDS#2從這個(gè)區(qū)的開始處開始被順序地記錄。臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1和TDDS#2分別與臨時(shí)缺陷信息TDFL#0、TDFL#1和TDFL#2對(duì)應(yīng)。
參照如圖4B所示的實(shí)施例，與圖4A比較，DMA在邏輯上也被劃分為臨時(shí)缺陷信息區(qū)和臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)，但是記錄信息的順序與如圖4A所示的順序不同。更具體地講，在臨時(shí)缺陷信息區(qū)中，臨時(shí)缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2從該區(qū)的結(jié)束處開始向該區(qū)的開始處被順序地記錄。同樣地，臨時(shí)缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2被重復(fù)地記錄幾次以增加信息的健壯性。
具體地講，圖4B示出了在其中臨時(shí)缺陷信息TDFL#0被記錄P次的實(shí)施例。在臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中，臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、TDDS#2從該區(qū)的結(jié)束處開始被順序地記錄。臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1和TDDS#2分別與缺陷信息TDFL#0、TDFL#1和TDFL#2對(duì)應(yīng)。
參照?qǐng)D4C，對(duì)應(yīng)的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息作為一對(duì)信息被記錄在TDMA中。更具體地講，臨時(shí)管理信息TDMA#0、TDMA#1從TDMA的開始處開始被順序地記錄。臨時(shí)管理信息TDMA#0包含一對(duì)對(duì)應(yīng)的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0和臨時(shí)缺陷信息TDFL#0。臨時(shí)管理信息TDMA#1包含一對(duì)對(duì)應(yīng)的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#1和臨時(shí)缺陷信息TDFL#1。臨時(shí)缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2被重復(fù)地記錄幾次以增加該信息的健壯性。具體地講，圖4C示出了P次臨時(shí)缺陷信息TDFL#0的記錄。
參照?qǐng)D4D，與圖4C中的TDMA相比，對(duì)應(yīng)的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息作為一對(duì)信息被記錄在TDMA中，但是記錄信息的順序不同。更具體地講，在TDMA中，臨時(shí)管理信息TDMA#0、TDMA#1從TDMA的結(jié)束處開始被順序地記錄。臨時(shí)管理信息TDMA#0包含一對(duì)對(duì)應(yīng)的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0和臨時(shí)缺陷信息TDFL#0。臨時(shí)管理信息TDMA#1包含一對(duì)對(duì)應(yīng)的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#1和臨時(shí)缺陷信息TDFL#1。同樣地，臨時(shí)缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2被重復(fù)地記錄幾次以增加信息的健壯性。具體地講，圖4D示出P次臨時(shí)缺陷信息TDFL#0的記錄。
圖5A和5B示出了臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。具體地講，圖5A示出了記錄在如圖2A所示的單記錄層盤100上的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i包含該臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i的標(biāo)識(shí)符、和關(guān)于對(duì)應(yīng)的臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的位置的信息。
正如先前參照?qǐng)D4A至4D的解釋，根據(jù)本發(fā)明的一方面，臨時(shí)缺陷信息TDFL#i被重復(fù)地記錄幾次。因此，關(guān)于臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的位置的信息被記錄幾次并且包括對(duì)應(yīng)于臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的指針。每個(gè)指針指向臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的對(duì)應(yīng)副本的記錄位置。如圖5A所示的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i包括記錄P次的臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的P個(gè)指針。
另外，記錄在如2A所示的單記錄層盤100上的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i還描述了在記錄層L0的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中最后記錄的最后記錄的用戶數(shù)據(jù)的地址、和在記錄層L0的備用區(qū)中最后記錄的最后記錄的替換數(shù)據(jù)的地址。因此，用戶僅通過(guò)參考最后記錄的用戶數(shù)據(jù)和替換數(shù)據(jù)就可以輕松地使用盤100。
圖5B示出了記錄在如圖2B所示的雙記錄層盤100的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i包含該臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i的標(biāo)識(shí)符、和關(guān)于對(duì)應(yīng)的臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的記錄位置的信息。正如先前參照?qǐng)D4A至4D所提及的，根據(jù)本發(fā)明的一方面，臨時(shí)缺陷信息TDFL#i被重復(fù)地記錄幾次。因此，關(guān)于包含指向各個(gè)臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的記錄位置的指針的臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的記錄位置的信息也被記錄幾次。具體地講，如圖5B所示的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i包含P個(gè)指針。每個(gè)指針指向臨時(shí)缺陷信息TDFL#i對(duì)應(yīng)的副本。
另外，記錄在如圖2B所示的雙記錄層盤100上的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i還描述了在第一記錄層L0的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中最后記錄的最后記錄的用戶數(shù)據(jù)的地址、在第一記錄層L0的備用區(qū)中最后記錄的最后記錄的替換數(shù)據(jù)的地址、在第二記錄層L1的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中最后記錄的最后記錄的用戶數(shù)據(jù)的地址、和在第二記錄層L1的備用區(qū)中最后記錄的最后記錄的替換數(shù)據(jù)的地址。因此，用戶僅通過(guò)參考最后記錄的用戶數(shù)據(jù)和最后記錄的替換就可以輕松地使用盤100。
圖6示出了根據(jù)本發(fā)明一方面的臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。參照?qǐng)D6，臨時(shí)缺陷信息TDFL#i包含該臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的標(biāo)識(shí)符、和關(guān)于缺陷#1、#2和#K的信息。關(guān)于缺陷#1、#2和#K的信息包括指示缺陷和替換的位置、和缺陷區(qū)是單個(gè)缺陷塊還是連續(xù)缺陷塊的狀態(tài)信息。
通常，可以以扇區(qū)或簇為單位來(lái)處理數(shù)據(jù)。扇區(qū)表示在計(jì)算機(jī)的文件系統(tǒng)中或在應(yīng)用程序中可被管理的數(shù)據(jù)的最小單位。簇表示可一次被物理地記錄在盤100上的數(shù)據(jù)的最小單位。通常，一個(gè)或多個(gè)扇區(qū)組成簇。
存在兩種類型的扇區(qū)物理扇區(qū)和邏輯扇區(qū)。物理扇區(qū)是一個(gè)扇區(qū)的數(shù)據(jù)將被存儲(chǔ)在盤100上的區(qū)。用于檢測(cè)物理扇區(qū)的地址被稱作物理扇區(qū)號(hào)(PSN)。邏輯扇區(qū)是以其可以在文件系統(tǒng)或應(yīng)用程序中管理數(shù)據(jù)的單位。用于檢測(cè)邏輯扇區(qū)的地址被稱作邏輯扇區(qū)號(hào)(LSN)。如圖1所示的盤記錄/讀取設(shè)備使用PSN檢測(cè)在盤上的數(shù)據(jù)的記錄位置。在計(jì)算機(jī)或與數(shù)據(jù)相關(guān)的應(yīng)用程序中，以LSN為單位管理全部數(shù)據(jù)并且使用LSN檢測(cè)數(shù)據(jù)的位置。基于盤100是否包含缺陷和記錄數(shù)據(jù)的初始位置，LSN和PSN之間的關(guān)系通過(guò)記錄/讀取設(shè)備的控制器2被改變。
參照?qǐng)D7，根據(jù)本發(fā)明的一方面，盤100包括在其中PSN被順序地分配到多個(gè)扇區(qū)(未顯示)的用戶數(shù)據(jù)區(qū)A和備用區(qū)B。通常，每個(gè)LSN對(duì)應(yīng)至少一個(gè)PSN。然而，由于LSN被分配到包括記錄在備用區(qū)B的替換的非缺陷區(qū)，所以當(dāng)盤100具有缺陷區(qū)時(shí)，即使物理扇區(qū)的大小與邏輯扇區(qū)的大小相同，也不能保持PSN和LSN之間的對(duì)應(yīng)。
在用戶數(shù)據(jù)區(qū)A中，以連續(xù)記錄模式或隨機(jī)記錄模式記錄用戶數(shù)據(jù)。在連續(xù)記錄模式下，用戶數(shù)據(jù)被順序地并連續(xù)地記錄。在隨機(jī)記錄模式下，用戶數(shù)據(jù)被隨機(jī)地記錄。在數(shù)據(jù)區(qū)A中，區(qū)段1001至1007表示在其中執(zhí)行了寫入后校驗(yàn)方法的預(yù)定的數(shù)據(jù)單位。如圖1所示的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備將用戶數(shù)據(jù)記錄在區(qū)段1001中，返回至區(qū)段1001的開始處，并且檢查用戶數(shù)據(jù)是否被正確地記錄或在區(qū)段1001中是否存在缺陷。如果在區(qū)段1001的部分中檢測(cè)到缺陷，則該部分被指定為缺陷#1。記錄在缺陷#1中的用戶數(shù)據(jù)還被記錄在備用區(qū)B的一部分上以對(duì)記錄在缺陷#1區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)的部分提供替換數(shù)據(jù)。這里，在其中記錄在缺陷#1中的數(shù)據(jù)被重寫的備用區(qū)的部分被稱作替換#1。接下來(lái)，記錄設(shè)備將用戶數(shù)據(jù)記錄在區(qū)段1002中，返回區(qū)段1002的開始處，并檢測(cè)數(shù)據(jù)是否被正確地記錄或在區(qū)段1002中是否存在缺陷。如果在區(qū)段1002的部分中檢測(cè)到缺陷，則該部分被指定為缺陷#2。同樣地，對(duì)應(yīng)于缺陷#2的替換#2形成在備用區(qū)B中。另外，在用戶數(shù)據(jù)區(qū)A的區(qū)段1003和備用區(qū)B中分別指定缺陷#3和替換#3。在區(qū)段1004中，不存在缺陷并且沒(méi)有指定缺陷區(qū)。
當(dāng)在對(duì)于區(qū)段1004的數(shù)據(jù)記錄和校驗(yàn)之后，記錄操作#0預(yù)期結(jié)束(即，當(dāng)用戶按下記錄設(shè)備的彈出按鈕或分配到記錄操作中的用戶數(shù)據(jù)的記錄完成時(shí))時(shí)，記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備將關(guān)于在區(qū)段1001至1003中出現(xiàn)的缺陷#1、#2和#3的信息作為臨時(shí)缺陷信息TDFL#0記錄在TDMA中。另外，用于管理臨時(shí)缺陷信息TDFL#0的管理信息被作為臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0記錄在TDMA中。
當(dāng)記錄操作#1開始時(shí)，如在區(qū)段1001至1004中的解釋，數(shù)據(jù)被記錄在區(qū)段1005至1007中，缺陷#4和#5及替換#4和#5分別形成在用戶數(shù)據(jù)區(qū)A和備用區(qū)B中。缺陷#1、#2、#3和#4在單個(gè)塊中出現(xiàn)，然而缺陷#5在連續(xù)缺陷塊中出現(xiàn)。替換#5是作為記錄在缺陷#5中的用戶數(shù)據(jù)的替換數(shù)據(jù)的連續(xù)替換塊。根據(jù)本發(fā)明的一方面，塊指的是物理或邏輯記錄單位，單位塊的范圍并沒(méi)有被限制。如果第二記錄操作期望結(jié)束，則記錄設(shè)備將關(guān)于缺陷#4和#5的信息作為臨時(shí)缺陷信息TDFL#1記錄，并且再次記錄包含在缺陷信息DFL#1中的信息。其后，用于管理臨時(shí)缺陷信息TDFL#1的管理信息被作為臨時(shí)缺陷管理信息#1記錄在TDMA中。
圖8是示出根據(jù)本發(fā)明一方面的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的有效使用的示圖。圖8顯示了采用在用戶數(shù)據(jù)區(qū)A中最后記錄的用戶數(shù)據(jù)的地址和在備用區(qū)B中最后記錄的替換的地址可容易地檢測(cè)到用戶數(shù)據(jù)區(qū)的可用部分。具體地講，當(dāng)分別地用戶數(shù)據(jù)從用戶數(shù)據(jù)區(qū)A的內(nèi)側(cè)部分/外側(cè)部分向其外側(cè)部分/內(nèi)側(cè)部分被記錄，并且作為出現(xiàn)在用戶數(shù)據(jù)區(qū)A中的缺陷的替換數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)從備用區(qū)B的外側(cè)部分/內(nèi)側(cè)部分向其內(nèi)側(cè)部分/外側(cè)部分被記錄時(shí)，可以更容易地檢測(cè)到可用部分。換言之，根據(jù)本發(fā)明的一方面，用戶數(shù)據(jù)和替換數(shù)據(jù)優(yōu)選地以相反的記錄方向被記錄。
對(duì)于如圖2B所示的盤100，當(dāng)用戶數(shù)據(jù)的物理地址從第一記錄層L0的內(nèi)側(cè)部分向其外側(cè)部分增加，并從第二記錄層L1的外側(cè)部分向內(nèi)側(cè)部分增加時(shí)，在記錄層L0和L1的對(duì)應(yīng)的用戶數(shù)據(jù)區(qū)A中最后記錄的最后數(shù)據(jù)的物理地址具有最大號(hào)。另外，當(dāng)替換的物理地址從在第一記錄層L0的備用區(qū)B中的外側(cè)部分向內(nèi)側(cè)部分減少，并且從在第二記錄層L1的備用區(qū)B中的內(nèi)側(cè)部分向外側(cè)部分增加時(shí)，最后記錄的替換數(shù)據(jù)具有最小號(hào)的物理地址。因此，如前所述，如果最后記錄的數(shù)據(jù)和最后記錄的替換數(shù)據(jù)的地址被包括在臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i中，則能夠無(wú)需完全地讀取臨時(shí)缺陷信息TDFL#i和估計(jì)缺陷和替換數(shù)據(jù)的位置來(lái)檢測(cè)將被新記錄的數(shù)據(jù)和替換數(shù)據(jù)的位置。另外，用戶數(shù)據(jù)區(qū)A和備用區(qū)B的可用部分被連續(xù)地布置，從而有效使用用戶數(shù)據(jù)區(qū)A。
圖9A和9B示出如關(guān)于圖7解釋的記錄的臨時(shí)缺陷信息TDFL#0和TDFL#1的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。圖10示出關(guān)于如關(guān)于圖7的解釋記錄的缺陷#i的信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
參照?qǐng)D9A和9B，臨時(shí)缺陷信息TDFL#0包含關(guān)于缺陷#1、#2和#3的信息。關(guān)于缺陷#1的信息指示在其中存在缺陷#1的區(qū)的位置和在其中記錄替換#1的區(qū)的位置。關(guān)于缺陷#1的信息還可包括指示缺陷#1是連續(xù)缺陷塊還是單個(gè)缺陷塊的信息。同樣地，關(guān)于缺陷#2的信息指示缺陷#2是連續(xù)缺陷塊還是單個(gè)缺陷塊，在其中存在缺陷#2的區(qū)的位置和在其中記錄替換#2的區(qū)的位置。關(guān)于缺陷#3的信息指示缺陷#3是連續(xù)缺陷塊還是單個(gè)缺陷塊，在其中存在缺陷#3的區(qū)的位置和在其中記錄替換#3的區(qū)的位置。
臨時(shí)缺陷信息TDFL#1除了包含在臨時(shí)缺陷信息TDFL#0中的信息之外還包含關(guān)于缺陷#4和#5的信息。更具體地講，臨時(shí)缺陷信息TDFL#1包括關(guān)于缺陷#1的信息、關(guān)于缺陷#2的信息、關(guān)于缺陷#3的信息、關(guān)于缺陷#4的信息和關(guān)于缺陷#5的信息。
參照?qǐng)D10，關(guān)于缺陷#i的信息包括指示缺陷#i是連續(xù)缺陷塊還是單個(gè)缺陷塊的狀態(tài)信息、指向缺陷#i的指針和指向?qū)?yīng)的替換#i的指針。當(dāng)確定缺陷#i在連續(xù)缺陷塊中時(shí)，狀態(tài)信息還表示用于缺陷#i的指針是指向連續(xù)缺陷塊的開始處還是結(jié)束處，和用于替換#i的指針是指向替換缺陷#i的替換塊的開始處還是結(jié)束處。當(dāng)狀態(tài)信息指示用于缺陷#i的指針作為連續(xù)缺陷塊的開始并且用于替換#i的指針作為替換塊的開始時(shí)，用于缺陷#i的指針表示連續(xù)缺陷塊的開始物理扇區(qū)號(hào)并且用于替換#i的指針表示替換#i的開始物理扇區(qū)號(hào)。
相反，當(dāng)狀態(tài)信息指示用于缺陷#i的指針作為連續(xù)缺陷塊的結(jié)束并且用于替換#i的指針作為替換塊的結(jié)束時(shí)，用于缺陷#i的指針表示連續(xù)缺陷塊的結(jié)束物理扇區(qū)號(hào)并且用于替換#i的指針表示替換#i的結(jié)束物理扇區(qū)號(hào)。即使關(guān)于缺陷的信息不以塊為單位來(lái)記錄，使用狀態(tài)信息的連續(xù)缺陷塊的限定也能有效地記錄信息和節(jié)省記錄的空間。
用于缺陷#i的指針指定缺陷#i的開始點(diǎn)和/或結(jié)束點(diǎn)。根據(jù)本發(fā)明的一方面，用于缺陷#i的指針可包括缺陷#i的開始PSN。用于替換#i的指針指定替換#i的開始和/或結(jié)束點(diǎn)。根據(jù)本發(fā)明的一方面，用于替換#i的指針還可包括替換#i的開始PSN。
以下，將參照附11和圖12來(lái)描述根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的盤缺陷管理方法。
圖11是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的盤缺陷管理方法的流程圖。在步驟1101中，記錄設(shè)備將關(guān)于根據(jù)第一記錄操作記錄的數(shù)據(jù)的缺陷信息作為第一臨時(shí)缺陷信息記錄在盤的TDMA中。這個(gè)過(guò)程的作用是管理盤缺陷。在步驟1102中，記錄設(shè)備將用于管理第一臨時(shí)缺陷信息的管理信息作為第一臨時(shí)缺陷管理信息記錄在TDMA中。
在步驟1103中，檢查盤是否需要完成。在步驟1104，如果在步驟1103中確定不需要完成盤，則重復(fù)步驟1101和1102，同時(shí)對(duì)每個(gè)記錄操作、臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的索引增加1。然而，應(yīng)該理解其它數(shù)字可用于該索引到該數(shù)字用于區(qū)分記錄的數(shù)據(jù)集的程度。
如果在步驟1103確定需要完成盤，則最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息和最后記錄的臨時(shí)缺陷信息被記錄在DMA中(步驟1105)。即，最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息和最后記錄的臨時(shí)缺陷信息作為最終缺陷管理信息和缺陷信息被分別記錄在DMA中。最終缺陷信息和缺陷管理信息可被重復(fù)地記錄以增加數(shù)據(jù)檢測(cè)的可靠性。
另外，根據(jù)本發(fā)明的一方面，可對(duì)最終臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息執(zhí)行寫入后校驗(yàn)的方法。如果從這個(gè)信息中檢測(cè)到缺陷，則盤中具有缺陷的區(qū)和包含數(shù)據(jù)的下一個(gè)區(qū)可被認(rèn)為不可用(即，它們被指定為缺陷區(qū))，并且最終臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息可被再次記錄在該缺陷區(qū)之后。
圖12是示出根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的盤缺陷管理方法的流程圖。在步驟1201中，記錄設(shè)備以數(shù)據(jù)的單位將用戶數(shù)據(jù)記錄在盤的數(shù)據(jù)區(qū)中以便于寫入后校驗(yàn)的方法。在步驟1202，在步驟1201記錄的數(shù)據(jù)被校驗(yàn)以檢測(cè)盤中具有缺陷的區(qū)。在步驟1203，圖1中的控制器2指定具有缺陷的區(qū)為缺陷區(qū)，控制記錄/讀單元1將記錄在缺陷區(qū)中的數(shù)據(jù)重新寫入到備用區(qū)以創(chuàng)建替換區(qū)，并且創(chuàng)建指定缺陷區(qū)是單個(gè)缺陷塊還是連續(xù)缺陷塊的狀態(tài)信息、和指向缺陷區(qū)和替換區(qū)的位置的指針信息。在步驟1204，狀態(tài)信息和指針信息作為第一臨時(shí)缺陷信息被存儲(chǔ)。
在步驟1205，檢查第一記錄操作是否期望被結(jié)束。如果在步驟1205確定第一記錄操作不期望被結(jié)束，則重復(fù)步驟1201至1204。在步驟1206，如果在步驟1205確定第一記錄操作希望被結(jié)束(即，當(dāng)通過(guò)用戶輸入或根據(jù)第一記錄操作用戶數(shù)據(jù)的記錄被完成時(shí))，存儲(chǔ)的臨時(shí)缺陷信息被讀取并且作為第一臨時(shí)缺陷信息TDFL#0被重復(fù)幾次記錄在TDMA中。在操作1207，用于管理第一臨時(shí)缺陷信息TDFL#0的管理信息作為第一臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0被記錄在TDMA中。
在步驟1208，檢查數(shù)據(jù)是否需要被完成。如果在步驟1208確定不需要完成該盤，則重復(fù)步驟1201和1207。在步驟1209，每當(dāng)步驟1201至1207被重復(fù)時(shí)，對(duì)對(duì)應(yīng)的記錄操作、臨時(shí)缺陷信息TDFL、和臨時(shí)缺陷管理信息TDDS的索引增加1。然而，應(yīng)該理解其它數(shù)字可用于該索引到該數(shù)字用于區(qū)分記錄的數(shù)據(jù)集的程度。
在步驟1210，如果在步驟1208確定需要完成該盤，則最后記錄的臨時(shí)缺陷信息TDFL#i和最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i作為最終缺陷信息DFL和最終缺陷管理信息DDS被記錄在DMA中。最終缺陷信息DFL和最終缺陷管理信息DDS的記錄可被重復(fù)幾次以增加數(shù)據(jù)檢測(cè)的可靠性。同樣地，可對(duì)最終缺陷信息和缺陷管理信息執(zhí)行寫入后校驗(yàn)的方法。如果在這個(gè)信息中檢測(cè)到缺陷，則盤中具有缺陷的區(qū)和包含數(shù)據(jù)的下一個(gè)區(qū)可被認(rèn)為不可用(即，它們被指定為缺陷區(qū))，并且最終臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息可被再次記錄在該缺陷區(qū)之后。
以上提及的缺陷管理可被實(shí)現(xiàn)為可由計(jì)算機(jī)運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，該計(jì)算機(jī)可是通用或特殊的計(jì)算機(jī)。因此，可以理解控制器2可以是這種計(jì)算機(jī)。組成計(jì)算機(jī)程序的代碼和代碼段可以被本領(lǐng)域的計(jì)算機(jī)程序員輕松地推導(dǎo)出。該程序存儲(chǔ)在由計(jì)算機(jī)可讀的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)中。當(dāng)該程序被讀取并由計(jì)算機(jī)運(yùn)行時(shí)，執(zhí)行該缺陷管理。這里，計(jì)算機(jī)讀介質(zhì)可以是磁記錄介質(zhì)、光記錄介質(zhì)、載波、固件或其它可記錄介質(zhì)。
另外，可以理解為了實(shí)現(xiàn)幾百億字節(jié)的記錄容量，記錄和/或再現(xiàn)單元1可包括用于在盤100上記錄幾百億字節(jié)數(shù)據(jù)的短波長(zhǎng)、高數(shù)值孔徑型單元。這種單元的例子包括但并不限于此的使用405nm光波長(zhǎng)并且具有0.85數(shù)值孔徑的那些單元，與藍(lán)光盤兼容的那些單元、和/或與先進(jìn)的光盤(AOD)兼容的那些單元。
產(chǎn)業(yè)上的可利用性如上所述，本發(fā)明提供了一種可應(yīng)用于一次性寫入盤的盤缺陷管理方法。根據(jù)本發(fā)明，在盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)和/或?qū)С鰠^(qū)中存在至少一個(gè)臨時(shí)缺陷信息區(qū)，從而關(guān)于在盤中存在的缺陷的信息可被累積地記錄。另外，易于通過(guò)從臨時(shí)缺陷信息區(qū)只讀取最后記錄的臨時(shí)缺陷信息并將讀取的信息記錄在缺陷管理區(qū)中來(lái)完成盤，由此能夠有效使用DMA。因此，用戶數(shù)據(jù)可被記錄在一次性寫入盤同時(shí)執(zhí)行盤缺陷管理，由此無(wú)中斷地更穩(wěn)定地執(zhí)行備份操作。
盡管根據(jù)一次性寫入盤的使用來(lái)描述，但是應(yīng)該理解本發(fā)明可以被用于其它可寫盤，包括可反復(fù)擦寫記錄介質(zhì)。
盡管參照本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例已經(jīng)具體地示出和描述了本發(fā)明，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該可以理解在不脫離由所附權(quán)利要求及其等同物所限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以對(duì)其作出形式和細(xì)節(jié)的改變。
權(quán)利要求
1.一種管理在盤中的缺陷的方法，該盤包括用戶數(shù)據(jù)區(qū)和除了用戶數(shù)據(jù)區(qū)之外的備用區(qū)，該方法包括將用戶數(shù)據(jù)記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中；將記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)的存在缺陷的缺陷區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)再次記錄在備用區(qū)中以產(chǎn)生記錄在缺陷區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)的替換數(shù)據(jù)；和將在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中最后記錄的最后用戶數(shù)據(jù)的地址和在備用區(qū)中記錄的最后替換數(shù)據(jù)的地址記錄在在盤上的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中，該臨時(shí)缺陷管理區(qū)由該設(shè)備使用以針對(duì)該盤執(zhí)行盤缺陷管理。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，記錄地址還包括將最后記錄的數(shù)據(jù)的地址和最后記錄的替換數(shù)據(jù)的地址彼此對(duì)應(yīng)的記錄在盤的記錄層中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，記錄地址還包括將最后記錄的數(shù)據(jù)的地址和最后記錄的替換數(shù)據(jù)的地址作為臨時(shí)缺陷信息記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中，記錄地址還包括重復(fù)地記錄臨時(shí)缺陷信息。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中，記錄地址還包括將指向缺陷區(qū)的缺陷位置指針和指向替換數(shù)據(jù)的位置的替換位置指針記錄在臨時(shí)缺陷信息中。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中，記錄地址還包括將指定缺陷區(qū)的狀態(tài)的狀態(tài)信息記錄在臨時(shí)缺陷信息中。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其中，記錄地址還包括將指定缺陷區(qū)是延伸超過(guò)一個(gè)塊的連續(xù)缺陷塊還是單個(gè)缺陷塊的塊信息記錄在狀態(tài)信息中。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中，記錄地址還包括記錄指定缺陷區(qū)是連續(xù)缺陷塊的塊信息、指示缺陷區(qū)的開始位置的對(duì)應(yīng)的缺陷位置指針和指示替換數(shù)據(jù)的開始位置的替換位置指針。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中，記錄地址還包括記錄指定缺陷區(qū)是連續(xù)缺陷塊的塊信息、指示缺陷區(qū)的結(jié)束位置的對(duì)應(yīng)的缺陷位置指針和指示替換數(shù)據(jù)的結(jié)束位置的替換位置指針記錄。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，盤是具有在數(shù)據(jù)被記錄在盤的區(qū)上之后防止新數(shù)據(jù)被寫入該盤的該區(qū)的屬性的一次性寫入存儲(chǔ)介質(zhì)。
全文摘要
提供了一種管理盤中的缺陷的方法，該盤包括用戶數(shù)據(jù)區(qū)和除了用戶數(shù)據(jù)區(qū)之外的備用區(qū)，該方法包括將用戶數(shù)據(jù)記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中；將記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)的存在缺陷的缺陷區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)再次記錄在備用區(qū)中以產(chǎn)生記錄在缺陷區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)的替換數(shù)據(jù)；和將在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中最后記錄的最后用戶數(shù)據(jù)的地址和在備用區(qū)中記錄的最后替換數(shù)據(jù)的地址記錄在在盤上的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中，該臨時(shí)缺陷管理區(qū)由該設(shè)備使用以針對(duì)該盤執(zhí)行盤缺陷管理。
文檔編號(hào)G11B7/24GK1975907SQ20061016823
公開日2007年6月6日 申請(qǐng)日期2003年9月22日 優(yōu)先權(quán)日2002年10月18日
發(fā)明者黃盛凞, 高禎完, 李坰根 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社