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      光盤介質(zhì)類型確定方法

      文檔序號:6776650閱讀:362來源:國知局
      專利名稱:光盤介質(zhì)類型確定方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種方法,它通過提出了在介質(zhì)運作于驅(qū)動器之前確認介質(zhì)種類的方法來防止光學(xué)系統(tǒng)和介質(zhì)之間碰撞的問題,所述驅(qū)動器對于使用SIL存儲近場 光學(xué)信息的方法和存儲低于現(xiàn)存藍光盤的遠場光學(xué)信息的方法具有兼容性。
      背景技術(shù)
      根據(jù)在光學(xué)存儲設(shè)備領(lǐng)域內(nèi)各種技術(shù)的發(fā)展,已研發(fā)出各種光學(xué)存儲設(shè)備。 當前研發(fā)出的光學(xué)存儲設(shè)備大體上被分成使用遠場方法的一部分和使用近場方法 的另一部分。 一般來說, 一種光學(xué)存儲設(shè)備支持兩種方法之一。最近出現(xiàn)與兩種方 法具有兼容性的光學(xué)存儲設(shè)備?,F(xiàn)在描述這種近場方法和遠場方法的光學(xué)存儲設(shè)備 的特征。
      圖1是使用遠場方法的光學(xué)存儲設(shè)備構(gòu)成的光學(xué)拾取單元的框圖。該光學(xué)拾 取單元包括激光二極管(101)、準直透鏡(102)、分光儀(103)、物鏡(104)、柱面透鏡(105) 和光敏二極管(106)。
      圖1示出DVD的第一代光學(xué)拾取器的構(gòu)成,其光路被分成光發(fā)射器,所述 光發(fā)射器處于從激光二極管(101)產(chǎn)生的光傳輸至物鏡(104)之前;以及光敏二極管(106) 的光接收器,在那里由物鏡(104)聚集的光線被反射入盤片并檢測光信號。 光發(fā)射器的原理如下。 一般來說,從激光二極管(101)產(chǎn)生的光以橢圓形的強度分布發(fā)射。由于物鏡(104)具有圓形入射平面,因此應(yīng)當使用光束成形棱鏡將發(fā) 射光的強度分布改變?yōu)閳A形以有效地將光聚集至物鏡(104)。
      由于從激光二極管(101)輸出的光成為線性偏振光,使用分光儀(103)以使光損 失最小化。分光儀(103)不是發(fā)射器中必需的功能,而是用來檢測從盤片反射回來 的光。應(yīng)用激光二極管(101)以使其線性偏振光的方向平行于底面并使光發(fā)射至分 光儀(103),沿水平方向偏振的光可具有97%以上的透射率。如果發(fā)射的光通過入/4 波長板(未示出),則線性偏振光通過波長板改變?yōu)閳A形偏振光并由用來降低拾取 高度的反射鏡反射并被輸入到物鏡(104)。
      輸入到物鏡(104)的光被反射到盤片(107)并且被反射到盤片(107)的光再次透 過物鏡(104)。光在低折射率的空氣中以高折射率反射到盤片(107)的反射層,并且 在光頻率中,相位改變180。。在這種情形下,如果以入/4波長板偏振為圓形的光 再次透過A/4波長板,則它改變?yōu)榇怪庇谠计穹较虻木€性偏振光。根據(jù)偏振分 光儀(103)的特性,在光敏二極管(106)中有效地檢測光,換句話說,透射了大部分 水平偏振光,然而反射了大部分垂直偏振光。
      在當前光學(xué)存儲技術(shù)的發(fā)展中,相繼研發(fā)了 CD、 DVD和BD以增加記錄容 量。用來增加記錄容量的原則是縮短激光波長或增加物鏡上的數(shù)值孔徑(N/A)。在 藍光盤中,確定縮短波長的方法使之到達極限。確定難以通過現(xiàn)有遠場方法進一步 發(fā)展物鏡的數(shù)值孔徑(N/A)。
      最近,使用近幾年內(nèi)新研發(fā)的SIL的近場記錄方法開始受到關(guān)注,因為這種 方法能顯著地增加記錄容量。在這種方法中,在物鏡下設(shè)置由折射率顯著大于1 的介質(zhì)形成的半球形SIL以使實質(zhì)數(shù)值孔徑(WNA)大于1。
      圖2是支持近場方法的光學(xué)存儲裝置的光學(xué)拾取單元的橫截面。在使用近場 方法的記錄介質(zhì)的裝置中,光學(xué)拾取器包括與使用遠場方法的光學(xué)存儲裝置相反的 固體浸沒透鏡(SIL)(202)。使用涉及固體浸沒透鏡(SIL)(202)的近場方法的光學(xué)拾取 器的原理如下。
      參照圖2,如果激光通過物鏡(201)聚集到固體浸沒透鏡(SIL)(202),則以高折射 率在固體浸沒透鏡(SIL)(202)的底表面上形成聚焦。經(jīng)聚焦的點鏡像與固體浸沒透 鏡(SIL)(202)的折射率成反比地減少以獲得比衍射極限更低的光點。
      光點以易消失光的形式被傳送至介質(zhì)以對表面加熱并通過對使線圈磁化的域 層加熱而沿特定方向磁化的方法來存儲比特信息。在該方法中,在探測方法中通過 浮動頭自動控制沿水平方向的位置以獲得如硬盤那樣的高速度。
      總的來說,光學(xué)系統(tǒng)由兩個透鏡構(gòu)成,換句話說,就是與傳統(tǒng)光學(xué)磁盤裝置 的物鏡(202)對應(yīng)的、裝載在浮動頭前表面上的自由聚焦透鏡以及被稱為固體浸沒 透鏡(SIL)(202)的半球形或超球形透鏡。固體浸沒透鏡(SIL)(202)由具有與安裝在浮 動頭下表面上的玻璃相同的高絕對折射率(n)的材料制成,并設(shè)置一線圈以包圍其 本身。記錄再現(xiàn)系統(tǒng)主要使用如迷你盤的磁性解調(diào)系統(tǒng)的光學(xué)磁性記錄。在這種方 法中,聚束光點中的記錄層的溫度由于激光束的輻射暫時增加以使用局限于高于磁 性容易受損的居里溫度的線圈的磁力進行記錄。
      在研發(fā)新型光學(xué)記錄裝置過程中被認為重要的是與已有方法的兼容性。用戶
      避免使用與現(xiàn)有方法不兼容的新方法,并且不兼容的方法難以進入已經(jīng)成形的市 場。因此,兼容性驅(qū)動器工作時所要考慮的最重要的問題是插入到加載器中的介質(zhì) 是否適用于兼容性驅(qū)動器的當前方法。尤其,由于固體浸沒透鏡(SIL)的底表面和 用于近場方法的光學(xué)系統(tǒng)的介質(zhì)的表面之間的距離只有幾十納米,如果用戶沒有辦 法準確地了解當前插入的介質(zhì),例如,如果兼容性驅(qū)動器是近場光學(xué)系統(tǒng)然而之前 沒有注意這一點而將遠場介質(zhì)插入,則光學(xué)系統(tǒng)或介質(zhì)會在接觸介質(zhì)以搜索記錄表 面的操作中因為碰撞而受損。
      為了避免這種情況,需要設(shè)定一種新處理以在兼容性驅(qū)動器工作之前快速和 簡單地弄清介質(zhì)的類型。

      發(fā)明內(nèi)容
      提供本發(fā)明以便解決上述問題,本發(fā)明的目的是提供一種方法及其裝置,用 于防止光學(xué)系統(tǒng)和介質(zhì)之間碰撞的問題,這是通過相對于使用固體浸沒透鏡(SIL) 的近場光學(xué)信息存儲方法和低于現(xiàn)存藍光盤的遠場光學(xué)信息存儲方法而提出在介 質(zhì)運作于兼容性驅(qū)動器之前弄清所插入的介質(zhì)的類型的方法實現(xiàn)的。
      根據(jù)本發(fā)明為達到上述目的而提供的確認記錄介質(zhì)的方法包括用至少兩個 光學(xué)拾取器中的至少一個光學(xué)拾取器檢測預(yù)定的區(qū)別信號;根據(jù)是否檢測到區(qū)別信 號判斷是否再次檢測到預(yù)定的記錄介質(zhì)區(qū)別信號;以及如果檢測到預(yù)定的記錄介質(zhì) 區(qū)別信號則使用相應(yīng)光學(xué)拾取器開始記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)的記錄/再現(xiàn)。
      較佳地,用至少一個光學(xué)拾取器檢測預(yù)定的區(qū)別信號的方法的特征在于判斷 當前插入的光學(xué)拾取器并根據(jù)相應(yīng)光學(xué)拾取器檢測當前搭載的記錄介質(zhì)中的預(yù)定 的區(qū)別信號。
      較佳地,如果未檢測到預(yù)定的區(qū)別信息,則當前光學(xué)拾取器可改變?yōu)榱硪还?學(xué)拾取器并再次檢測預(yù)定的記錄介質(zhì)區(qū)別信號。
      較佳地,如果數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)是不可行的,則當前光學(xué)拾取器被改變?yōu)榱硪还?學(xué)拾取器并且使用相應(yīng)光學(xué)拾取器再次檢測預(yù)定的記錄介質(zhì)區(qū)別信號和開始在記 錄介質(zhì)上記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)。
      較佳地,即使當前光學(xué)拾取器改變?yōu)榱硪还鈱W(xué)拾取器,如果再次檢測記錄介 質(zhì)區(qū)別信號達到預(yù)定次數(shù)仍未檢測到,則將相應(yīng)記錄介質(zhì)從盤架中彈出。
      較佳地,在當前光學(xué)拾取器是基于遠場方法的情況下,使用再現(xiàn)在記錄介質(zhì) 的頭部處的自由坑道的信號來檢測當前插入的記錄介質(zhì)區(qū)別信號。
      較佳地,在當前光學(xué)拾取器是基于近場方法的情況下,使用推挽信號檢測當 前插入記錄介質(zhì)的區(qū)別信號。較佳地,在當前光學(xué)拾取器是基于近場方法的情況下, 使用再現(xiàn)在記錄介質(zhì)的頭部處的自由坑道的信號來檢測當前插入的記錄介質(zhì)區(qū)別 信號。
      較佳地,區(qū)別當前光學(xué)拾取器是否基于近場方法的方法取決于光學(xué)拾取器中 是否設(shè)有固體浸沒透鏡。
      根據(jù)本發(fā)明的確認記錄介質(zhì)的方法包括確定光學(xué)拾取器上是否設(shè)有固體浸 沒透鏡(SIL);根據(jù)是否設(shè)有固體浸沒透鏡檢測記錄介質(zhì)上的預(yù)定的區(qū)別信號;根 據(jù)是否檢測到區(qū)別信號確定是否再次檢測預(yù)定的記錄介質(zhì)區(qū)別信號;以及如果檢測 到預(yù)定的記錄介質(zhì)區(qū)別信號則使用相應(yīng)光學(xué)拾取器開始在記錄介質(zhì)上記錄/再現(xiàn)數(shù) 據(jù)。
      有利的效果如上所述,本發(fā)明可以從插入的光盤區(qū)別兼容性驅(qū)動器/拾取器是 是否為基于近場方法的,,以及同樣地,事先確認所插入的光盤是否在基于近場方 法的驅(qū)動器/拾取器中工作。
      另外,即使兼容性驅(qū)動器/拾取器是低于已有藍光盤的遠場方法,本發(fā)明也能 區(qū)別所插入的光盤。使用上述方法緊接在兼容性驅(qū)動器/拾取器工作之前自動確認 光盤,從而設(shè)置一處理以進入實質(zhì)操作(再現(xiàn)/記錄)。
      此外,本發(fā)明具有能夠穩(wěn)定地使用基于每種方法的光盤而不存在與近場方法 和低于已有藍光盤的遠場方法相兼容的驅(qū)動器/拾取器中碰撞之類的危險的效果, 以及增加近場光學(xué)信息存儲方法的實用性的效果。


      圖1是在遠場方法中的光學(xué)拾取單元的結(jié)構(gòu)的框圖。
      圖2是近場方法中的光學(xué)拾取單元的結(jié)構(gòu)的框圖。
      圖3A是近場方法中光學(xué)拾取單元的結(jié)構(gòu)的橫截面圖。
      圖3B是遠場方法中光學(xué)拾取單元的結(jié)構(gòu)的橫截面圖。
      圖4A示出在物鏡連接于固體浸沒透鏡(SIL)的近場光學(xué)系統(tǒng)中再現(xiàn)近場表面 記錄光盤的方法。
      圖4B示出在物鏡連接于固體浸沒透鏡(SIL)的近場光學(xué)系統(tǒng)中再現(xiàn)遠場表面
      記錄光盤的方法。
      圖5A示出在遠場光學(xué)系統(tǒng)中再現(xiàn)近場表面記錄光盤的方法。
      圖5B示出在遠場光學(xué)系統(tǒng)中再現(xiàn)遠場表面記錄光盤的方法。
      圖6是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的基于當前插入的光盤控制光學(xué)拾取器的方法 的流程圖7是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的圖6中的步驟601—602的詳細流程圖8是根據(jù)本發(fā)明另一實施例的圖6中的步驟601—602的詳細流程圖。
      具體實施例方式
      在下文中,將參照附圖詳細描述本發(fā)明的實施例?,F(xiàn)在對附圖進行說明,在 本發(fā)明下面的描述中,在不同的附圖中用相同的附圖標號來指相同或相似的部件, 如果確定現(xiàn)有的公知功能和結(jié)構(gòu)的詳細說明會使本發(fā)明的要點變得不清楚,則可將 詳細說明省去。
      適用于近場方法和遠場方法的光盤具有圖3A和3B所示的特征。如圖3A所 示,近場方法光盤的表面上具有坑道(ROM)或槽道(-R, RW) (301)的結(jié)構(gòu),相反 如圖3B所示,遠場方法光盤在介質(zhì)的中間層具有坑道/槽道結(jié)構(gòu)(302)以及具有某 一厚度的覆層(303)。因此,在近場拾取單元接近遠場光盤的情形下,它在接觸再 現(xiàn)結(jié)構(gòu)前與光盤碰撞。在遠場拾取單元碰上近場光盤的情形下,即使再現(xiàn)是可行的, 由于存在球面像差,也不可能獲得想要的信號。
      因此,根據(jù)當前光盤使光學(xué)拾取器正確定位是重要的?,F(xiàn)在詳細描述在支持 遠場方法的光盤裝置和支持近場方法的光盤裝置中識別光盤的方法。
      圖4A和4B示出在結(jié)合有物鏡和固體浸沒透鏡(SIL)的近場光學(xué)系統(tǒng)中再現(xiàn)近 場表面記錄光盤和遠場表面記錄光盤的方法。
      參照圖4A和4B,在拾取單元是基于近場方法的情形下,拾取單元沿磁道垂 直方向掃描光盤表面以確認是否產(chǎn)生拾取推挽信號(左右光電二極管的差分信號) 以確認光盤。近場方法光盤在表面上具有坑道/槽道結(jié)構(gòu),因此它產(chǎn)生相對于磁道 橫向掃描的推挽信號,相反,遠場方法光盤由于存在覆層而具有平坦的表面,因此 沒有在光電二極管差分信號電路中獲得信號。圖5A示出在遠場光學(xué)系統(tǒng)中再現(xiàn)近 場表面記錄光盤的方法而圖5B示出在遠場光學(xué)系統(tǒng)中再現(xiàn)遠場表面記錄光盤的方 法。
      如果拾取單元具有遠場方法,則再現(xiàn)光盤頭部中存儲光盤信息的自由坑道部 分。然而,即使近場光盤存在自由坑道,近場光盤也具有遠場光盤的1/2-1/4的長度以超過低于遠場光學(xué)拾取單元的衍射極限的解析功率以及由于不存在覆層而由 技術(shù)發(fā)展水平所致的球面像差,因此不可能再現(xiàn)信息。在遠場光盤的情形下,再現(xiàn) 自由坑道以獲得光盤的信息。
      圖6是示出根據(jù)本發(fā)明一個實施例的、用近場方法和遠場方法確認兼容性光 盤驅(qū)動器中的光盤介質(zhì)的方法的流程圖。參照圖6,在兼容性拾取單元和驅(qū)動器工 作之前確認光盤的處理如下。
      步驟601示出根據(jù)當前光學(xué)拾取器檢測區(qū)別信號的處理而步驟602示出確定 是否檢測到區(qū)別信號,并根據(jù)結(jié)果結(jié)束測試或移動當前光學(xué)拾取器的處理。根據(jù)本 發(fā)明,能在兩種方法中實現(xiàn)步驟601和602,并且詳細內(nèi)容示出于圖7A-8B中。
      參照圖7A,步驟701確定由當前光學(xué)拾取器支持的光盤模式(S701)。設(shè)置在 當前光盤中的光學(xué)拾取器被分成遠場方法和近場方法,并讀取一預(yù)定信號以使相應(yīng) 光學(xué)拾取器從光盤獲得區(qū)別信號。
      步驟702是讀取推挽信號的處理并在光學(xué)拾取器被設(shè)為近場光學(xué)拾取器的情 形下從相應(yīng)光盤讀取推挽信號。如果光學(xué)拾取器被設(shè)為基于遠場的,則讀出自由坑 道信號(S703)。
      步驟704和705示出搜索是否檢測到預(yù)定信號的處理。如果沒有檢測出預(yù)定 區(qū)別信號,則請求再次運行對光盤的確認(S706),并執(zhí)行步驟603。
      如果請求再次運行對光盤的確認,則確定再次運行的請求次數(shù)是否為2(S707)。 在再次運行光盤的請求次數(shù)大于2的情形下,由于不讀取當前插入的光盤,當前光 盤自盤架彈出(S708)。在本發(fā)明的一個實施例中,限制該次數(shù)為2,然而也可考慮 盤識別的錯誤次數(shù)將其設(shè)置成大于2。
      圖7B示出除處理(S710)以外的與圖7A相同的處理,如果相應(yīng)光學(xué)拾取器被 設(shè)為基于近場方法則處理(S710)用來檢測光盤頭部中的自由坑道信號。
      圖8A示出步驟601和602的另一實施例以確認采用近場方法或遠場方法中的 哪一個。為了確認拾取單元的方法,確認光軸上是否存在固體浸沒透鏡(SIL)(S801)。 例如,在固體浸沒透鏡(SIL)以機械方式移動的情形下,則根據(jù)位置回憶拾取單元 模式并根據(jù)該模式確認拾取單元方法。
      如果已確認拾取單元模式,則根據(jù)每個拾取單元模式通過光盤區(qū)別方法區(qū)別 光盤。在近場拾取單元中,在用作根據(jù)信號的安全度區(qū)別光盤的方法的每個光盤中 再現(xiàn)自由坑道(S702和S703)(圖8B)。
      如果通過上述方法確認光盤方法并且當前拾取單元與光盤方法相同,則結(jié)束分處理并繼續(xù)再現(xiàn)/記錄操作。如果拾取單元與光盤方法不同,則將拾取單元的正 式模式(例如帶固體浸沒透鏡(SIL)的近場拾取單元)改變?yōu)檫h場拾取單元(不具有固體浸沒透鏡(SIL))并且重復(fù)確認光盤方法的處理以使拾取單元與光盤相同。
      在本實施例中,如果請求再次運行對光盤的確認,則確定請求再次運行的次數(shù)是否為2(S707)。在請求再次運行光盤的次數(shù)大于2的情形下,由于當前插入的 光盤不可讀,當前光盤從盤架彈出(S708)。在本實施例中,該次數(shù)被限制為2,但 也可考慮判識別中的錯誤次數(shù)而將其設(shè)置成大于2。
      如果步驟601和602由上述方法執(zhí)行,則執(zhí)行步驟603或604。
      換句話說,如上所述,如果檢測到相應(yīng)區(qū)別信號并識別一信號,則結(jié)束光學(xué) 拾取器和光盤的兼容性測試(S604),并且開始記錄和再現(xiàn)操作(S605)。然而,如果 無法識別頭部信息,則移動光學(xué)拾取器(S603),并再次重復(fù)步驟S601和S602。
      由于建立這種處理,新研發(fā)的近場方法拾取單元和光盤與已有的遠場方法拾 取單元和光盤可兼容而無碰撞的可能,從而形成新的市場。
      前面的較佳實施例僅為示例性的并且不構(gòu)成對本發(fā)明的限制。本領(lǐng)域內(nèi)技術(shù) 人員清楚地知道許多修改和變化落在權(quán)利要求書所述的本發(fā)明的范圍和精神內(nèi)。
      工業(yè)應(yīng)用
      本發(fā)明涉及一種光盤在驅(qū)動器中工作前確認所插入的介質(zhì)的方法,所述驅(qū)動 器對使用SIL的近場光學(xué)信息存儲方法和低于已有藍光盤的遠場光學(xué)信息存儲方 法具有兼容性,并且可望在光學(xué)信息存儲裝置方面取得巨大的發(fā)展。
      權(quán)利要求
      1.一種確認記錄介質(zhì)的方法,包括用至少兩個光學(xué)拾取器中的至少一個光學(xué)拾取器檢測預(yù)定的區(qū)別信號;根據(jù)是否檢測到所述區(qū)別信號來確定是否再次檢測所述預(yù)定的記錄介質(zhì)區(qū)別信號;以及如果檢測到所述預(yù)定的記錄介質(zhì)區(qū)別信號則使用相應(yīng)光學(xué)拾取器開始記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)。
      2. 如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述用至少一個光學(xué)拾取器檢測預(yù)定的區(qū) 別信號的方法的特征在于當前設(shè)置的光學(xué)拾取器被確定,并且根據(jù)在當前裝載的記 錄介質(zhì)中的相應(yīng)光學(xué)拾取器檢測預(yù)定的區(qū)別信號。
      3. 如權(quán)利要求l所述的方法,其特征在于,如果沒有檢測到所述預(yù)定區(qū)別信 號,則當前光學(xué)拾取器被改變?yōu)榱硪还鈱W(xué)拾取器并且再次檢測預(yù)定的記錄介質(zhì)區(qū)別 信號。
      4. 如權(quán)利要求l所述的方法,其特征在于,如果所述數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)是不可行 的,則當前光學(xué)拾取器被改變?yōu)榱?一光學(xué)拾取器并且使用相應(yīng)光學(xué)拾取器再次檢測 預(yù)定的記錄介質(zhì)區(qū)別信號并開始在記錄介質(zhì)上記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)。
      5. 如權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,如果再次檢測所述記錄介質(zhì)區(qū)別 信號達到預(yù)定次數(shù)仍未檢測到,則即使當前光學(xué)拾取器被改變?yōu)榱硪环N光學(xué)拾取 器,相應(yīng)記錄介質(zhì)還是從盤架中彈出。
      6. 如權(quán)利要求l所述的方法,其特征在于,在當前光學(xué)拾取器是遠場方法的 情形中,使用再現(xiàn)在記錄介質(zhì)的頭部處的自由坑道的信號來檢測當前插入的記錄介 質(zhì)的區(qū)別信號。
      7. 如權(quán)利要求l所述的方法,其特征在于,在當前光學(xué)拾取器是近場方法的 情形中,使用推挽信號檢測當前插入的記錄介質(zhì)的區(qū)別信號。
      8. 如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在當前光學(xué)拾取器是近場方法的 情形中,使用再現(xiàn)在記錄介質(zhì)頭部處的自由坑道的信號來檢測當前插入的記錄介質(zhì) 的區(qū)別信號。
      9. 如權(quán)利要求l所述的方法,其特征在于,所述區(qū)別當前光學(xué)拾取器是否為 近場方法的方法取決于所述光學(xué)拾取器中是否設(shè)置了固體浸沒透鏡。
      10. —種確認記錄介質(zhì)的方法,包括 確定光學(xué)拾取器上是否設(shè)有固體浸沒透鏡(SIL); 根據(jù)是否設(shè)有固體浸沒透鏡檢測記錄介質(zhì)上的預(yù)定的區(qū)別信號; 根據(jù)是否檢測到所述區(qū)別信號確定是否要再次檢測預(yù)定的記錄介質(zhì)區(qū)別信號;以及如果檢測到所述預(yù)定的記錄介質(zhì)區(qū)別信號則使用相應(yīng)光學(xué)拾取器開始在記錄 介質(zhì)上記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)。
      11. 如權(quán)利要求IO所述的方法,其中所述用至少一個光學(xué)拾取器檢測預(yù)定的 區(qū)別信號的方法的特征在于,當前設(shè)置的光學(xué)拾取器被確定,并根據(jù)在當前裝載的 記錄介質(zhì)中的相應(yīng)光學(xué)拾取器檢測預(yù)定的區(qū)別信號。
      12. 如權(quán)利要求IO所述的方法,其特征在于,如果沒有檢測到預(yù)定區(qū)別信號,則當前光學(xué)拾取器被改變?yōu)榱硪还鈱W(xué)拾取器并再次檢測預(yù)定的記錄介質(zhì)區(qū)別信號。
      13. 如權(quán)利要求IO所述的方法,其特征在于,如果數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)是不可行的, 則當前光學(xué)拾取器被改變?yōu)榱硪还鈱W(xué)拾取器,并且使用相應(yīng)光學(xué)拾取器再次檢測預(yù) 定的記錄介質(zhì)區(qū)別信號并開始在記錄介質(zhì)上記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)。
      14. 如權(quán)利要求12所述的方法,其特征在于,如果再次檢測所述記錄介質(zhì)區(qū) 別信號達到預(yù)定次數(shù)仍未檢測到,則即使當前光學(xué)拾取器被改變?yōu)榱硪环N光學(xué)拾取 器,相應(yīng)記錄介質(zhì)還是從盤架中彈出。
      15. 如權(quán)利要求10所述的方法,其特征在于,在當前光學(xué)拾取器處未設(shè)置固 體浸沒透鏡(SOL)的情形中,使用再現(xiàn)在記錄介質(zhì)的頭部處的自由坑道的信號來檢 測當前插入的記錄介質(zhì)的區(qū)別信號。
      16. 如權(quán)利要求10所述的方法,其特征在于,在當前光學(xué)拾取器中未設(shè)置固 體浸沒透鏡(SOL)的情形下,使用推挽信號來檢測當前插入的記錄介質(zhì)的區(qū)別信 號。
      17. 如權(quán)利要求IO所述的方法,其特征在于,在當前光學(xué)拾取器處未設(shè)置固 體浸沒透鏡(SOL)的情形中,使用再現(xiàn)在記錄介質(zhì)頭部處的自由坑道的信號來檢測 當前插入的記錄介質(zhì)的區(qū)別信號。
      18. 如權(quán)利要求IO所述的方法,其特征在于,所述轉(zhuǎn)換成另一光學(xué)拾取器的 方法是通過切換固體浸沒透鏡實現(xiàn)的。
      19. 如權(quán)利要求10所述的方法,其特征在于,所述光學(xué)拾取器包括遠場方法 和近場方法兼容的光學(xué)拾取器。
      全文摘要
      本發(fā)明涉及一種方法,該方法通過給出在介質(zhì)工作于驅(qū)動器之前確認介質(zhì)類型的方法而防止光學(xué)系統(tǒng)和介質(zhì)之間的碰撞問題,所述驅(qū)動器對使用SIL存儲近場光學(xué)信息的方法以及存儲低于已有藍光盤的遠場光學(xué)信息的方法具有兼容性。如果兼容性驅(qū)動器/拾取器是基于近場方法的,本發(fā)明對插入的光盤進行區(qū)別,并事先確認插入的光盤是否工作在近場方法驅(qū)動器/拾取器中。
      文檔編號G11B19/12GK101203916SQ200680022185
      公開日2008年6月18日 申請日期2006年6月26日 優(yōu)先權(quán)日2005年6月24日
      發(fā)明者申允燮 申請人:Lg電子株式會社
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