專利名稱：可寫式光盤片寫入策略的調(diào)整方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種可寫式光盤片(Recordable Disc)寫入策略的調(diào)整 方法，且特別是有關(guān)于利用交互符號干擾(Inter-Symbol Interference,以下 簡稱ISI)表來調(diào)整可寫式光盤片寫入策略的方法。
背景技術(shù)：
一般來說，可寫式光盤片的規(guī)格書中會規(guī)劃一功率校正區(qū)域(Power Calibrating Area,簡稱PCA區(qū))。當(dāng)可寫式光盤片置入光盤刻錄機進行數(shù) 據(jù)寫入動作的前，光盤刻錄機的光學(xué)讀寫頭(Optical Pick-Up Head)會移動 至可寫式光盤片的PCA區(qū)執(zhí)行最佳化功率校正(Optimal Power Calibrating,簡稱OPC)動作。而OPC動作結(jié)束后，光盤刻錄機就會產(chǎn)生 一最佳寫入功率(Optimal Write Power),并利用此最佳寫入功率進行后續(xù)可 寫式光盤片的數(shù)據(jù)寫入動作。眾所周知，可寫式光盤片上的數(shù)據(jù)是形成于螺旋狀的軌道(Spiral Track) 上，也就是說，經(jīng)由光盤刻錄機的控制芯片進行寫入數(shù)據(jù)的編碼(Encode)后，光盤刻錄機即根據(jù)編碼后的信號驅(qū)動光學(xué)讀寫頭的激光二極管并于光 盤片軌道上形成亮暗相間的標記(Mark)。而亮的標記稱之為平部(Land)， 暗的標記稱之為凹部(Pit)。同理，光盤刻錄機進行OPC動作時，會直接控制光學(xué)讀寫頭的激光二極管于PCA區(qū)中產(chǎn)生平部與凹部相互交錯的測試圖樣(Test Pattern)。請參照圖1 ，其所顯示為可寫式DVD光盤片的寫入策略CWrite Strategy) 示意圖。由于熱擴散效應(yīng)會使得凹部IO長度變長，因此，為了要讓凹部 IO的長度更準確，以凹部10為nT的時間長度來說(n-3 11)，激光二極管 的驅(qū)動信號上升緣(Rising Edge)必須延后 一前緣延遲時間(tnl)且下降緣 (FallingEdge)必須提前一后緣提前時間(tn2)。再者，于形成凹部10的初期 與后期時，除了燒錄功率(Pw)的外必須再提供一過驅(qū)功率(Over drive Power, Po)迭加(Superpose)于燒錄功率(Pw)上，而前端過驅(qū)功率的時間長度可由驅(qū)動信號的上升緣開始計算一前端過驅(qū)時間(tn3)而后端過驅(qū)功率的 時間長度可由驅(qū)動信號的下降緣往前一后端過驅(qū)時間(U)。而于驅(qū)動信號的初期與后期之間，驅(qū)動信號僅提供燒錄功率(Pw)即可。舉例來說，3T的凹部的前緣延遲時間為t3,、后緣提前時間為t32、前端過驅(qū)時間為133與后端過驅(qū)時間為t34。 一般來說，nT時間長度(n-3T ll)的凹部10會有不 同的前緣延遲時間(XO、后緣提前時間&2)、前端過驅(qū)時間&3)與后端過驅(qū)時間(tn4)設(shè)定。而所有的前緣延遲時間(U)、后緣提前時間(tn2)、前端過驅(qū) 時間(tn3)與后端過驅(qū)時間(tn4)，即為寫入策略的時間參數(shù)組。一般來說，可寫式光盤片的軌道上會記錄可寫式光盤片的制造商序號(Manufacture ID)和盤片序號(Disc ID)。也就是說，由于制造商所制造的各 式可寫式光盤片之間由于染料的差異，所以不同制造商的可寫式光盤片的 寫入策略皆有所不同。就算同一家廠商所生產(chǎn)不同規(guī)格的寫入式光盤片之 間的寫入策略也會不同。因此，光盤刻錄機的研發(fā)工程師在光盤刻錄機出廠正式販賣之前，必須廣為搜集市面上所有的可寫式光盤片并進行寫入策 略驗證程序。所謂的寫入策略驗證程序就是光盤刻錄機的研發(fā)工程師針對不同的制造商序號(Manufacture ID)和盤片序號(Disc ID)進行各別寫入策 略的過驅(qū)功率與時間參數(shù)組調(diào)校，并將相對應(yīng)制造商序號、盤片序號、以 及調(diào)校后的過驅(qū)功率與時間參數(shù)組儲存于光盤刻錄機的只讀存儲器中。因 此，當(dāng)使用者將一片可寫式光盤片置入光盤刻錄機時，光盤刻錄機可以根 據(jù)記錄于可寫式光盤中的制造商序號以及盤片序號于只讀存儲器中獲得 相對應(yīng)的過驅(qū)功率與時間參數(shù)組定義一寫入策略，并利用該過驅(qū)功率與時 間參數(shù)組所定義的寫入策略于PCA區(qū)進行OPC動作。當(dāng)光盤刻錄機的只 讀存儲器并沒有相符的盤片序號，只讀存儲器會提供一組標準的過驅(qū)功率 以及標準的時間參數(shù)組，而光盤刻錄機即利用該標準的過驅(qū)功率與標準的 時間參數(shù)組所定義的寫入策略于PCA區(qū)進行OPC動作。而OPC動作就是提供不同的寫入功率于只讀存儲器所定義的寫入策 略上并于PCA區(qū)形成多組測試圖樣，之后，光盤刻錄機讀取由不同的寫 入功率所形成的測試圖樣并進行計算因而獲得一最佳寫入功率(Optimal Write Pmver)。而光盤刻錄機于進行數(shù)據(jù)寫入動作時即根據(jù)該最佳寫入功 率搭配該過驅(qū)功率與時間參數(shù)組所定義的該寫入策略產(chǎn)生不同時間長度 的凹部。也就是說，公知光盤刻錄機寫入策略的過驅(qū)功率與時間參數(shù)組系在出 廠前由研發(fā)工程師調(diào)校的后記錄于光盤刻錄機的只讀存儲器中，而PCA 區(qū)所進行的OPC動作是用來求取一最佳寫入功率。然而，由于制造商針對特定盤片序號的可寫式光盤片進行工藝改變時，由于光盤刻錄機中的只讀存儲器所儲存的過驅(qū)功率與時間參數(shù)組不適 用于更新工藝后的可寫式光盤片的寫入策略。因此，光盤刻錄機中只讀存 儲器中的過驅(qū)功率與時間參數(shù)組勢必要重新調(diào)整，否則，可寫式光盤片的 寫入質(zhì)量會變差，嚴重者甚至無法對數(shù)據(jù)寫入動作完成的可寫式光盤片進 行數(shù)據(jù)讀取。或者，使用者所加載的可寫式光盤片的盤片序號并沒有存在 于光盤刻錄機的只讀存儲器時，以標準的過驅(qū)功率以及時間參數(shù)組所定義 的寫入策略也會造成寫入質(zhì)量不佳的問題。因此，如何于可寫式光盤片上 動態(tài)的調(diào)整過驅(qū)功率或者時間參數(shù)組即為本發(fā)明的重點。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是提出一種可寫式光盤片寫入策略的調(diào)整方法，使得光 盤刻錄機于OPC動作時除了可找出最佳寫入功率之外，也可以找出最佳 寫入策略。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的可寫式光盤片寫入策略的調(diào)整方法， 包括下列步驟于一可寫式光盤片的一功率校正區(qū)以一第一寫入策略與一第一寫入 功率產(chǎn)生一測試圖樣；量測該測試圖樣的復(fù)數(shù)個時間長度不一的平部與凹部用以產(chǎn)生一平 部至凹部交互符號干擾表與一凹部至平部交互符號干擾表根據(jù)該平部至凹部交互符號干擾表與該凹部至平部交互符號干擾表 調(diào)整該第一寫入策略的一時間參數(shù)組進而產(chǎn)生一更新的時間參數(shù)組；根據(jù)該平部至凹部交互符號干擾表與該凹部至平部交互符號干擾表調(diào)整該第一寫入策略的一過驅(qū)功率進而產(chǎn)生一更新的過驅(qū)功率；以及根據(jù)該更新的該時間參數(shù)組與該更新的過驅(qū)功率定義一第二寫入策略。所述的方法，其中，還包括于該可寫式光盤片的一功率校正區(qū)以該第 二寫入策略、 一第二寫入功率產(chǎn)生該測試圖樣。所述的方法，其中，該時間參數(shù)組至少包括一前緣延遲時間、 一后緣 提前時間、 一前端過驅(qū)時間與 一后端過驅(qū)時間。本發(fā)明提供的可寫式光盤片寫入策略的調(diào)整方法，還包括下列步驟于一可寫式光盤片的一功率校正區(qū)以m個寫入策略與m個寫入功率 產(chǎn)生m個測試圖樣；量測m個測試圖樣相對應(yīng)的m個抖動值；暫存該m個抖動值及其相對應(yīng)的該m個寫入策略與該m個寫入功率；于該m個抖動值中選取一最小的抖動值及其一相對應(yīng)寫入策略與一 相對應(yīng)寫入功率；以及設(shè)定該一相對應(yīng)寫入策略為一最佳寫入策略且設(shè)定該相對應(yīng)寫入功 率為一最佳寫入功率；其中，該m個寫入策略中的一第一寫入策略形成于第二寫入策略的 前，且經(jīng)由量測該第一寫入策略所形成的一第一測試圖樣進而產(chǎn)生一第一 平部至凹部交互符號干擾表與一第一凹部至平部交互符號干擾表用以產(chǎn) 生一第二寫入策略。所述的方法，其中，經(jīng)由調(diào)整該第一寫入策略的一第一時間參數(shù)組以 及一第一過驅(qū)功率可以獲得該第二寫入策略。所述的方法，其中，該第一時間參數(shù)組至少包括一前緣延遲時間、一 后緣提前時間、 一前端過驅(qū)時間與一后端過驅(qū)時間。本發(fā)明提供的可寫式光盤片寫入策略的調(diào)整方法，還包括下列步驟于一可寫式光盤片以一第一寫入策略與一第一寫入功率產(chǎn)生復(fù)數(shù)個 時間長度不一的平部與凹部；量測該些平部與凹部用以產(chǎn)生一平部至凹部交互符號干擾表與一凹部至平部交互符號干擾表；根據(jù)該平部至凹部交互符號干擾表與該凹部至平部交互符號干擾表調(diào)整該第一寫入策略的一時間參數(shù)組進而產(chǎn)生一更新的時間參數(shù)組；根據(jù)該平部至凹部交互符號干擾表與該凹部至平部交互符號干擾表 調(diào)整該第一寫入策略的一過驅(qū)功率進而產(chǎn)生一更新的過驅(qū)功率；以及 根據(jù)該更新的時間參數(shù)組與該更新的過驅(qū)功率定義一第二寫入策略。 所述的方法，其中，還包括于該可寫式光盤片的一功率校正區(qū)以該第 二寫入策略、 一第二寫入功率產(chǎn)生該測試圖樣。所述的方法，其中，該時間參數(shù)組至少包括一前緣延遲時間、 一后緣 提前時間、 一前端過驅(qū)時間與一后端過驅(qū)時間。概括地說，本發(fā)明提出一種可寫式光盤片寫入策略的調(diào)整方法，包括 下列步驟于一可寫式光盤片的一功率校正區(qū)以一第一寫入策略與一第一 寫入功率產(chǎn)生一測試圖樣；量測該測試圖樣的復(fù)數(shù)個時間長度不一的平部 與凹部用以產(chǎn)生一平部至凹部交互符號干擾表與一凹部至平部交互符號 干擾表；根據(jù)該平部至凹部交互符號干擾表與該凹部至平部交互符號干擾 表調(diào)整該第一寫入策略的一時間參數(shù)組進而產(chǎn)生一更新的時間參數(shù)組；根據(jù)該平部至凹部交互符號干擾表與該凹部至平部交互符號干擾表調(diào)整該 第一寫入策略的一過驅(qū)功率進而產(chǎn)生一更新的過驅(qū)功率；以及，根據(jù)該些 更新的該時間參數(shù)組與該更新的過驅(qū)功率定義一第二寫入策略。再者，本發(fā)明還提出一種可寫式光盤片寫入策略的調(diào)整方法，包括下列步驟于一可寫式光盤片的一功率校正區(qū)以m個寫入策略與m個寫入 功率產(chǎn)生m個測試圖樣；量測m個測試圖樣相對應(yīng)的m個抖動值；暫存 該m個抖動值及其相對應(yīng)的該m個寫入策略與該m個寫入功率量；于該 m個抖動值中選取一最小的抖動值及其一相對應(yīng)寫入策略與一相對應(yīng)寫 入功率；以及，設(shè)定該一相對應(yīng)寫入策略為一最佳寫入策略且設(shè)定該相對 應(yīng)寫入功率為一最佳寫入功率；其中，該m個寫入策略中的一第一寫入策 略形成于第二寫入策略的前，且經(jīng)由量測該第一寫入策略所形成的一第一 測試圖樣進而產(chǎn)生一第一平部至凹部交互符號干擾表與一第一凹部至平 部交互符號干擾表用以產(chǎn)生一第二寫入策略。再者，本發(fā)明還提出一種可寫式光盤片寫入策略的調(diào)整方法，包括下列步驟于一可寫式光盤片以一第一寫入策略與一第一寫入功率產(chǎn)生復(fù)數(shù) 個時間長度不一的平部與凹部；量測該些平部與凹部用以產(chǎn)生一平部至凹 部交互符號干擾表與一凹部至平部交互符號干擾表；根據(jù)該平部至凹部交 互符號干擾表與該凹部至平部交互符號干擾表調(diào)整該第一寫入策略的一 時間參數(shù)組進而產(chǎn)生一更新的時間參數(shù)組；根據(jù)該平部至凹部交互符號干 擾表與該凹部至平部交互符號干擾表調(diào)整該第一寫入策略的一過驅(qū)功率 進而產(chǎn)生一更新的過驅(qū)功率；以及，根據(jù)該更新的時間參數(shù)組與該更新的 過驅(qū)功率定義一第二寫入策略。由本發(fā)明的實施，光盤刻錄機除了可在PCA區(qū)進行OPC動作找出最 佳寫入功率的外，也可以找出最佳寫入策略。因此，光盤刻錄機于可寫式 光盤片進行數(shù)據(jù)寫入動作后，可寫式光盤片的寫入質(zhì)量可以顯著地獲得改善。再者，本發(fā)明的OPC動作并不限定于可寫式光盤片的PCA區(qū)進行， 可寫式光盤片的其它區(qū)域，例如，數(shù)據(jù)區(qū)(ProgramArea)也可以利用本發(fā)明 來進行寫入策略的調(diào)整。


圖1所示為可寫式DVD光盤片的寫入策略示意圖。圖2所示為本發(fā)明可寫式光盤片寫入策略的調(diào)整方法流程圖。圖3(a)所示為測試圖樣的電信號示意圖。圖3(b)所示為平部至凹部ISI表。圖3(c)所示為凹部至平部ISI表。圖4所示為本發(fā)明調(diào)整寫入策略中的過驅(qū)功率的示意圖。
具體實施方式
為了能更進一步了解本發(fā)明特征及技術(shù)內(nèi)容，請參閱以下有關(guān)本發(fā)明 的詳細說明與附圖，然而附圖僅提供參考與說明，并非用來對本發(fā)明加以 限制。請參照圖2，其所示為本發(fā)明可寫式光盤片寫入策略的調(diào)整方法流程 圖。當(dāng)使用者將一片可寫式光盤片置入光盤刻錄機時，光盤刻錄機即根據(jù) 記錄于可寫式光盤片中的制造商序號以及盤片序號于只讀存儲器中獲得相對應(yīng)的過驅(qū)功率與時間參數(shù)組并且定義出一初始寫入策略，而光盤刻錄 機也會提供一初始寫入功率與一初始目標(3值(S10)。而在此步驟中，當(dāng)光 盤刻錄機的只讀存儲器并沒有相符的盤片序號，只讀存儲器會提供一組標 準的過驅(qū)功率以及標準的時間參數(shù)組來定義該初始寫入策略。再來，光盤刻錄機即于PCA區(qū)利用初始寫入策略以及該初始寫入功率形成一測試圖樣(S15)。接著，光盤刻錄機對測試圖樣進行卩值計算。所謂卩值計算就是將激光束照射于測試圖樣并將反射的激光束轉(zhuǎn)換成電信號并進行對稱性分析后的數(shù)值。當(dāng)計算后的(3值與目標卩值差異在一第一設(shè) 定值的外時(S20)，則進入調(diào)整寫入功率步驟(S25);當(dāng)計算后的(3值與目 標卩值差異在一第一設(shè)定值的內(nèi)時(S20)，則進行抖動值(Jitter)比較步驟 (S30)。根據(jù)本發(fā)明的實施例，該第一設(shè)定值為±1%，也就是說當(dāng)計算后的 卩值與目標P值差異在iP/。之外時，代表寫入功率必須調(diào)整；反之，代表 寫入功率已經(jīng)可以被接受。再者，于調(diào)整寫入功率步驟(S25)中，當(dāng)計算后 的(3值小于目標卩值時，調(diào)整后的寫入功率必須提高；反之，當(dāng)計算后的 卩值大于目標(3值時，調(diào)整后的寫入功率必須降低。于抖動值比較步驟(S30)時，光盤刻錄機對測試圖樣進行抖動值計算。 所謂抖動值計算就是將激光束照射于測試圖樣并將反射的激光束轉(zhuǎn)換成 具有高低準位的電信號，而高低準位的時間周期與精確的平部與凹部時間 長度的差異即為抖動值。當(dāng)計算后的抖動值低于在一第二設(shè)定值時(S30)， 則決定一最佳寫入策略以及一最佳寫入功率(S33)，并結(jié)束寫入策略的調(diào)整 流程。根據(jù)本發(fā)明的實施例，該第二設(shè)定值為9%，也就是說當(dāng)計算后的 抖動值低于9%時，代表此時的寫入功率以及寫入策略己可視為最佳寫入策略以及最佳寫入功率，并結(jié)束寫入策略的調(diào)整流程；反之，寫入策略可 能需要調(diào)整。接著，光盤刻錄機會將目前為止的寫入策略、寫入功率、以及計算出的抖動值暫時儲存于內(nèi)存中(S35)。之后，進入檢測交互符號干擾 (Inter-Symbol Interference,以下簡稱ISI)表步驟(S40)。請參照圖3(a)、圖3(b)與圖3(c)，其所示為測試圖樣與ISI表的示意 圖。 一般來說，光盤刻錄機于PCA區(qū)形成的測試圖樣包括復(fù)數(shù)個時間長 度不一(3T 11T)相互交錯的凹部與平部，而圖3(a)則以少許3T與4T的凹 部與平部來作說明。當(dāng)利用一寫入功率于PCA區(qū)形成測試圖樣后，光盤 刻錄機會由反射的激光束所獲得的電信號來分析測試圖樣中所有凹部與 平部與理想位置的差距并形成ISI表。如圖3(a)所示，根據(jù)反射的激光束 所獲得的電信號可知。測試圖樣依序為3T平部、3T凹部、3T平部、3T 凹部、4T平部、4T凹部、4T平部、4T凹部…。所謂的ISI表可以分為圖 3(b)的平部至凹部ISI表以及圖3(c)的凹部至平部ISI表。由圖3(a)的電信號可知，當(dāng)3T平部轉(zhuǎn)換成為3T凹部時，轉(zhuǎn)換位置提 前0.15T，于是圖3(b)中平部至凹部ISI表的參數(shù)a33即為+0.15T。接著， 3T凹部轉(zhuǎn)換成為3T平部時，轉(zhuǎn)換位置提前0.2T，于是圖3(c)中凹部至平 部ISI表的參數(shù)b33即為+0.2T，而此3T凹部的實際時間長度為2.95T。 接著，3T平部轉(zhuǎn)換成為3T凹部時，轉(zhuǎn)換位置提前0.2T，于是圖3(b)中平 部至凹部ISI表的參數(shù)a33即修改為平均值(+0.15T+0.2T)/2KU75T。接 著，3T凹部轉(zhuǎn)換成為4T平部時，轉(zhuǎn)換位置并無提前或延后，于是圖3(c) 中凹部至平部ISI表的參數(shù)b34即為0T，而此3T凹部的實際時間長度為3.2T。接著，4T平部轉(zhuǎn)換成為4T凹部時，轉(zhuǎn)換位置提前O.IT,于是圖3(b) 中平部至凹部ISI表的參數(shù)a44即成為+0.1T。接著，4T凹部轉(zhuǎn)換成為4T 平部時，轉(zhuǎn)換位置延后0.15T，于是圖3(c)中凹部至平部ISI表的參數(shù)b44 即為-1.5T，而此4T凹部的實際時間長度為4.25T。接著，4T平部轉(zhuǎn)換成 為4T凹部時，轉(zhuǎn)換位置延后0.05T，于是圖3(b)中平部至凹部ISI表的參 數(shù)a44即成為平均值(+0.1T-0.05T)/2^.025T，而此4T凹部的實際時間長 度為3.95T。所以，以圖3(a)的電信號為例，3T凹部的平均實際時間長度 為3.075T，而4T凹部的平均實際時間長度為4.1T。由于測試圖樣包括時間長度不一且相互交錯的平部與凹部，因此，光 盤刻錄機可以統(tǒng)計所有測試圖樣中的平部與凹部，并根據(jù)所有時間長度平 部至凹部的關(guān)系建立圖3(b)的平部至凹部ISI表，而記錄所有時間長度凹 部至平部的關(guān)系建立圖3(c)的凹部至平部ISI表。而由ISI表即可得知實際 的平部與凹部與理想的平部與凹部之間的差異并進行后續(xù)寫入策略的調(diào) 整步驟。請再參照圖2，于檢測交互符號干擾(ISI)表步驟(S40)中，ISI表中的參 數(shù)a33 al111以及b33 b1111內(nèi)的數(shù)值必須進行檢測，來確認ISI表中的 數(shù)值是否正常。 一般來說，所有的數(shù)值皆小于一第三設(shè)定值時，即可視為 ISI表為正常，根據(jù)本發(fā)明的實施例第三設(shè)定值可設(shè)定為T/12、 T/16、或 者T/32。當(dāng)ISI表中的數(shù)值為正常(S40)時，此時，代表寫入策略以及寫入 功率改善的空間已經(jīng)有限，所以不再進行寫入策略的調(diào)整，因此，將此時 的寫入功率以及寫入策略視為最佳寫入策略以及最佳寫入功率(S33)，并結(jié) 束調(diào)整流程。反之，當(dāng)ISI表中的數(shù)值為不正常(S40)且循環(huán)尚未到達一預(yù)設(shè)次數(shù)時(S45)，必須進行寫入策略調(diào)整步驟。當(dāng)ISI表中的數(shù)值為不正常(S40)且循環(huán)已經(jīng)到達一預(yù)設(shè)次數(shù)(S45)時， 代表內(nèi)存中已經(jīng)儲存了復(fù)數(shù)筆不同的抖動值以及相對應(yīng)的寫入策略與寫 入功率。根據(jù)本發(fā)明的實施例，為了不造成OPC動作時間太長而導(dǎo)致數(shù) 據(jù)寫入動作的總時間太長，該預(yù)定次數(shù)設(shè)定為12次，也就是說，當(dāng)ISI 表中的數(shù)值為不正常(S40)且循環(huán)已經(jīng)到達12次數(shù)(S45)時，必須選取內(nèi)存 中12筆抖動值中最低抖動值所相對應(yīng)的寫入策略與寫入功率為最佳寫入 策略以及最佳寫入功率(S50)，并結(jié)束調(diào)整流程。當(dāng)ISI表中的數(shù)值為不正斷S40)且循環(huán)尚未到達一預(yù)設(shè)次數(shù)時(S45)， 則進入調(diào)整時間參數(shù)組與過驅(qū)功率并獲得一更新的寫入策略步驟(S55)。首先，介紹時間參數(shù)組的調(diào)整，時間參數(shù)組包含nT時間長度(1^3 11) 的前緣延遲時間(tj、后緣提前時間(tj、前端過驅(qū)時間cu)與后端過驅(qū)時 間(U)，而本發(fā)明即根據(jù)ISI表來進行時間參數(shù)組的調(diào)整。舉例來說，3T凹部的平均前緣誤差為^ " ， 4T凹部的平均前緣誤差為^ /6 ，依此 類推。同理，3T凹部的平均后緣誤差為^ /8 ， 4T凹部的平均后緣誤差為^ /6，依此類推。所以利用上述的ISI表中的數(shù)據(jù)，更新后的3T凹部寫入策略的前緣延遲時間(t3小后緣提前時間(t32)即可由3T凹部的平均前緣誤差、3T凹部的平均后緣誤差、以及3T凹部平均實際時間長度來決 定。同理，更新后的4T凹部寫入策略的前緣延遲時間(t^、后緣提前時間 (t42)即可由4T凹部的平均前緣誤差、4T凹部的平均后緣誤差、以及4T凹 部平均實際時間長度來決定。依此類推，所有時間長度的凹部的寫入策略均可以依據(jù)上述的各個數(shù)值作適當(dāng)?shù)男薷摹Ｅe例來說，假設(shè)3T凹部的平均前緣誤差為+0.1T、 3T凹部的平均后緣誤差為-0.2T、以及3T凹部平均 實際時間長度為3.3T，因此，更新后的3T凹部寫入策略的前緣延遲時間(t3,)可較原前緣延遲時間更延遲0.1T、而后緣提前時間(t32)則可較原后緣提前時間更提前0.2T，如此，可使得更新后的3T凹部平均實際時間長度更 接近3T，而3T凹部的平均前緣誤差與3T凹部的平均后緣誤差更接近0。 同理，其它時間長度的凹部也可以根據(jù)上述的方式進行前緣延遲時間(tj、 后緣提前時間(tj的調(diào)整。接著，介紹時間參數(shù)組中前端過驅(qū)時間^3)與后端過驅(qū)時間^4:>的調(diào)整。本發(fā)明直接利用3T凹部的平均前緣誤差^ ",以及3T凹部的平均后緣誤差^ 76 ，來更新3T時間長度的前端過驅(qū)時間(t33)與后端過驅(qū)時間(t34)。同理，利用4T凹部的平均前緣誤差^ 7°,以及4T凹部的平均后緣誤差^ "，來更新4T時間長度的前端過驅(qū)時間(ta)與后端過驅(qū)時間 (t44)，并依此類推。也就是說，根據(jù)本發(fā)明的實施例，更新的前端過驅(qū)時間(t33)為原前端過驅(qū)時間加上3T凹部的平均前緣誤差^ /6 ;更新的后端過驅(qū)時間(t34)為原后端過驅(qū)時間加上3T凹部的平均后緣誤差^ /s 。例 如，假設(shè)3T凹部的前的前端過驅(qū)時間為0.5T，后端過驅(qū)時間為0.5T，而平均前緣誤差為+0.1T，平均后緣誤差為-0.1T，因此，更新的3T凹部的前 端過驅(qū)時間(t33)為0.5T+0.1T=0.6T，更新的3T凹部的后端過驅(qū)時間(^34)為0.5T-0.1T=0.4T。同理，所有時間長度的凹部也可以依此類推。再來，介紹過驅(qū)功率的調(diào)整。由于過驅(qū)功率(Po)的大小對于3T凹部影 響最大，因此，本發(fā)明即根據(jù)ISI表來統(tǒng)計3T凹部前后緣所有的誤差來決 定一更新的過驅(qū)功率。請參照圖4，其所示為本發(fā)明調(diào)整寫入策略中的過 驅(qū)功率的示意圖。當(dāng)圖3(b)的平部至凹部ISI表與圖3(c)的凹部至平部ISI表建立完成后。過驅(qū)功率的調(diào)整即可根據(jù)以下的公式來調(diào)整11 u<formula>formula see original document page 18</formula>由于3T凹部的前所有前緣誤差為a33 al13，而3T凹部之后所有后 緣誤差即為b33 b311，因此，根據(jù)3T凹部的前后緣不同時間長度誤差個 別提供一權(quán)重(Wdght)并加總。如圖4所示，根據(jù)本發(fā)明的實施例，3T凹 部前后所對應(yīng)的3T平部的前后緣誤差權(quán)重(w3)為24%， 3T凹部前后所對 應(yīng)的4T平部的前后緣誤差權(quán)重(w4)為16%, 3T凹部前后所對應(yīng)的5T平 部的前后緣誤差權(quán)重(w5)為8%, 3T凹部前后所對應(yīng)的6T平部的前后緣 誤差權(quán)重(w6)為2%， 3T凹部前后所對應(yīng)的其余平部的前后緣誤差權(quán)重 (w7 wll)為0。當(dāng)然，上述權(quán)重的數(shù)值僅為本發(fā)明的實施例而己，實際的 權(quán)重數(shù)值可以根據(jù)實際調(diào)整狀況來做適當(dāng)?shù)母?，使得調(diào)整后的過驅(qū)功率 更接近最佳值。將加總后的 一數(shù)值乘以一第一映射常數(shù)(Mapping constant)之后即為 過驅(qū)功率需要改變的比率值。根據(jù)本發(fā)明的實施例，假設(shè)加總后的數(shù)值為 +0.15T ，而第 一 映射常數(shù) CmappingI=l/10T 。因此， +0.15Tol/10T=+0.015=+1.5%。也就是說，更新的過驅(qū)功率(P。—一^)為原過 驅(qū)功率增加1.5%，即P。.updated=P0+(1.5%)Po。而所有時間長度(nT)的凹部皆利用此更新的過驅(qū)功率設(shè)定即可。根據(jù)上述方法，利用更新的時間參數(shù)組與更新的過驅(qū)功率即可以定義 一更新的寫入策略(S55)。接著，進入更新目標(3值步驟(S60)。根據(jù)本發(fā)明的實施例，比較更新后的3T凹部寫入策略的前緣延遲時間(&)、后緣提前時間(t32)與更新后的其它任一時間長度(4T llT)的凹部寫入策略的前緣延遲時間(td)、后緣提前時間(t^的大小來決定更新的目標卩值。舉例來說，更新后的3T凹部寫入策略的前緣延遲時間(t3,)為0.6T、后 緣提前時間(t32)為0.4T。而更新后的4T凹部寫入策略的前緣延遲時間(tn) 為0.5T、后緣提前時間(t42)為0.6T。因此，3T凹部寫入策略的前緣延遲時 間(t30減去后緣提前時間(t32)的結(jié)果大于4T凹部寫入策略的前緣延遲時間 (t4i)減去后緣提前時間(t42)的結(jié)果(
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)，因此，更新的 目標(3值必須小于原目標卩值。而將上述的結(jié)果差值(0.3T)乘上一第二映 像常數(shù)的后即為原目標P值需要改變的比率值。根據(jù)本發(fā)明的實施例，而 第二映射常數(shù)Cmapping2=l/20T。因此，0,3Tol/20TM).015=1.5%。也就是說， 更新的目標|3值為原目標(3值減少1.5%。反的，假設(shè)3T凹部寫入策略的前緣延遲時間(t30減去后緣提前時間(t32)的結(jié)果小于4T凹部寫入策略的前 緣延遲時間(t40減去后緣提前時間(t42)的結(jié)果，則更新的目標卩值必須大于原目標卩值。同理，根據(jù)第二映射常數(shù)也可以確定更新的目標(3值與原目 標(3值之間的關(guān)系。當(dāng)S55與S60步驟完成之后，代表更新的寫入策略以及更新的目標卩 值已經(jīng)確認，因此，再次回到S15步驟，也就是于PCA區(qū)形成測試圖樣 并進行后續(xù)步驟。綜上所述，雖然本發(fā)明已以較佳實施例描述如上，然其并非用以限定 本發(fā)明，本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種 更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍當(dāng)視權(quán)利要求所界定的內(nèi)容為準。
權(quán)利要求
1. 一種可寫式光盤片寫入策略的調(diào)整方法，包括下列步驟于一可寫式光盤片的一功率校正區(qū)以一第一寫入策略與一第一寫入功率產(chǎn)生一測試圖樣；量測該測試圖樣的復(fù)數(shù)個時間長度不一的平部與凹部用以產(chǎn)生一平部至凹部交互符號干擾表與一凹部至平部交互符號干擾表；根據(jù)該平部至凹部交互符號干擾表與該凹部至平部交互符號干擾表調(diào)整該第一寫入策略的一時間參數(shù)組進而產(chǎn)生一更新的時間參數(shù)組；根據(jù)該平部至凹部交互符號干擾表與該凹部至平部交互符號干擾表調(diào)整該第一寫入策略的一過驅(qū)功率進而產(chǎn)生一更新的過驅(qū)功率；以及根據(jù)該更新的該時間參數(shù)組與該更新的過驅(qū)功率定義一第二寫入策略。
2、 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，包括于該可寫式光盤片的一功 率校正區(qū)以該第二寫入策略、 一第二寫入功率產(chǎn)生該測試圖樣。
3、 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該時間參數(shù)組至少包括一前緣 延遲時間、 一后緣提前時間、 一前端過驅(qū)時間與一后端過驅(qū)時間。
4、 一種可寫式光盤片寫入策略的調(diào)整方法，包括下列步驟于一可寫式光盤片的一功率校正區(qū)以m個寫入策略與m個寫入功率 產(chǎn)生m個測試圖樣；量測m個測試圖樣相對應(yīng)的m個抖動值；暫存該m個抖動值及其相對應(yīng)的該m個寫入策略與該m個寫入功率;于該m個抖動值中選取一最小的抖動值及其一相對應(yīng)寫入策略與一 相對應(yīng)寫入功率；以及設(shè)定該一相對應(yīng)寫入策略為一最佳寫入策略且設(shè)定該相對應(yīng)寫入功 率為一最佳寫入功率；其中，該m個寫入策略中的一第一寫入策略形成于第二寫入策略的 前，且經(jīng)由量測該第一寫入策略所形成的一第一測試圖樣進而產(chǎn)生一第一 平部至凹部交互符號干擾表與一第一凹部至平部交互符號干擾表用以產(chǎn) 生一第二寫入策略。
5、 如權(quán)利要求4所述的方法，其中，經(jīng)由調(diào)整該第一寫入策略的一 第一時間參數(shù)組以及一第一過驅(qū)功率獲得該第二寫入策略。
6、 如權(quán)利要求5所述的方法，其中，該第一時間參數(shù)組至少包括一 前緣延遲時間、 一后緣提前時間、 一前端過驅(qū)時間與一后端過驅(qū)時間。
7、 一種可寫式光盤片寫入策略的調(diào)整方法，包括下列步驟 于一可寫式光盤片以一第一寫入策略與一第一寫入功率產(chǎn)生復(fù)數(shù)個時間長度不一的平部與凹部；量測該些平部與凹部用以產(chǎn)生一平部至凹部交互符號干擾表與一凹 部至平部交互符號干擾表；根據(jù)該平部至凹部交互符號干擾表與該凹部至平部交互符號干擾表 調(diào)整該第一寫入策略的一時間參數(shù)組進而產(chǎn)生一更新的時間參數(shù)組；根據(jù)該平部至凹部交互符號干擾表與該凹部至平部交互符號千擾表 調(diào)整該第一寫入策略的一過驅(qū)功率進而產(chǎn)生一更新的過驅(qū)功率；以及根據(jù)該更新的時間參數(shù)組與該更新的過驅(qū)功率定義一第二寫入策略。
8、 如權(quán)利要求7所述的方法，其中，包括于該可寫式光盤片的一功 率校正區(qū)以該第二寫入策略、 一第二寫入功率產(chǎn)生該測試圖樣。
9、 如權(quán)利要求7所述的方法，其中，該時間參數(shù)組至少包括一前緣 延遲時間、 一后緣提前時間、 一前端過驅(qū)時間與一后端過驅(qū)時間。
全文摘要
一種可寫式光盤片寫入策略的調(diào)整方法，包括下列步驟于一可寫式光盤片的一功率校正區(qū)以一第一寫入策略與一第一寫入功率產(chǎn)生一測試圖樣；量測該測試圖樣的復(fù)數(shù)個時間長度不一的平部與凹部用以產(chǎn)生一平部至凹部交互符號干擾表與一凹部至平部交互符號干擾表；根據(jù)該平部至凹部交互符號干擾表與該凹部至平部交互符號干擾表調(diào)整該第一寫入策略的一時間參數(shù)組進而產(chǎn)生一更新的時間參數(shù)組；根據(jù)該平部至凹部交互符號干擾表與該凹部至平部交互符號干擾表調(diào)整該第一寫入策略的一過驅(qū)功率進而產(chǎn)生一更新的過驅(qū)功率；以及，根據(jù)該更新的時間參數(shù)組與該更新的過驅(qū)功率定義一第二寫入策略。
文檔編號G11B7/125GK101246702SQ20071007934
公開日2008年8月20日 申請日期2007年2月15日 優(yōu)先權(quán)日2007年2月15日
發(fā)明者李易學(xué), 翁勢凱, 胡肇文, 陳凌風(fēng) 申請人:建興電子科技股份有限公司