專利名稱：光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器和其控制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，特別是關(guān)于改善播放率的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器及 其控制方法。
背景技術(shù)：
光盤(pán)包括只讀(read-only)種類(例如，CD-DA、 CD-ROM、 DD-ROM、 DVD-Video禾卩DVD-ROM)、 一次寫(xiě)入(write-once)記錄種類(例如，CD-R、 DD-R、 DVD-R和DVD+R)、以及可重寫(xiě)種類(CD-RW、 DD-RW、 DVD-RW、 DVD+RW、 DVD-RAM和Blue-rayDisc)。光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器使用激光存取光盤(pán)，該 激光是連續(xù)螺旋或同心圓圓圈的形式。其中對(duì)只讀媒體來(lái)說(shuō)數(shù)據(jù)會(huì)在制造程 序中預(yù)錄，對(duì)可記錄或可寫(xiě)入媒體來(lái)說(shuō)數(shù)據(jù)能夠?qū)懭?。在以下的敘述中，?放光盤(pán)將意指讀取以及寫(xiě)入(錄放)。
在光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器中，光學(xué)頭讀取軌道信息，使得伺服單元可以根據(jù)軌道信 息，不論在3維方向、徑向、聚焦或是旋轉(zhuǎn)速度上，都正確地追隨軌道。在 正常狀況下，伺服單元從光學(xué)頭獲取信息并且使用該信息來(lái)判定是否光學(xué)頭 在讀取正確的軌道，如果沒(méi)有，就需要執(zhí)行更正的動(dòng)作。當(dāng)使用激光循軌 (tracking)或聚焦(focusing)時(shí)，這個(gè)動(dòng)作會(huì)利用控制循環(huán)自動(dòng)執(zhí)行，而不需調(diào) 整伺服設(shè)定。
然而，光盤(pán)可能會(huì)受到缺陷的影響，例如抓痕、指紋、灰塵和骯臟的位 置，使得光盤(pán)上的數(shù)據(jù)模糊。這些缺陷不只影響擷取數(shù)據(jù)的解碼，也會(huì)干擾 伺服功能。光盤(pán)播放率可以經(jīng)由對(duì)缺陷部分分配特定的伺服單元的操作參數(shù) 改善，然而，這個(gè)方法不能最佳化光盤(pán)播放率。
有鑒于此，需要一種裝置和其方法，用以提供用來(lái)存取光盤(pán)上缺陷部分的最佳操作參數(shù)。

發(fā)明內(nèi)容
為克服上述不能最佳化光盤(pán)播放率的問(wèn)題，提供一種光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器及其控 制方法，通過(guò)分類光盤(pán)上的缺陷種類判定操作參數(shù)，從而提高光盤(pán)播放率。
本發(fā)明提出一種控制光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的方法，包括檢測(cè)光盤(pán)上的預(yù)定范圍的 缺陷，根據(jù)檢測(cè)的結(jié)果辨別缺陷種類，以及根據(jù)缺陷種類判定光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的 操作參數(shù)。
本發(fā)明另提出一種光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，包括旋轉(zhuǎn)裝置、光學(xué)頭、伺服單元、以 及控制器。旋轉(zhuǎn)裝置旋轉(zhuǎn)光盤(pán)。光學(xué)頭產(chǎn)生光線用以檢測(cè)光盤(pán)上的預(yù)定范圍 的缺陷。伺服單元，耦接光學(xué)頭，根據(jù)操作參數(shù)用以控制光學(xué)頭?？刂破鳎?耦接旋轉(zhuǎn)裝置、光學(xué)頭和伺服單元，根據(jù)檢測(cè)的結(jié)果辨別缺陷種類，以及根 據(jù)缺陷種類判定伺服單元的操作參數(shù)。
上述光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器及其控制方法可通過(guò)分類光盤(pán)上的缺陷種類判定操作參 數(shù)，從而提高光盤(pán)播放率。


圖1為本發(fā)明實(shí)施方式的光盤(pán)播放器的方塊圖。
圖2為本發(fā)明實(shí)施方式控制光盤(pán)播放器的方法的流程圖。 圖3a為本發(fā)明實(shí)施方式中分類缺陷種類方法的流程圖。 圖3b為圖3a中分類缺陷種類的方法。
圖4為本發(fā)明實(shí)施方式中另一個(gè)控制光盤(pán)播放器的方法的流程圖。 圖5a為本發(fā)明實(shí)施方式中分類缺陷種類方法的流程圖。 圖5b為圖5a中分類缺陷種類的方法。
具體實(shí)施例方式
.在此必須說(shuō)明的是，在下面所揭露內(nèi)容中提出的不同實(shí)施方式或范例，是用以說(shuō)明本發(fā)明所揭示的不同技術(shù)特征，其所描述的特定范例或排列是用 以簡(jiǎn)化本發(fā)明，然非用以限定本發(fā)明。此外，在不同實(shí)施方式或范例中可能 重復(fù)使用相同的參考數(shù)字與符號(hào)，這些重復(fù)使用的參考數(shù)字與符號(hào)是用以說(shuō) 明本發(fā)明所揭示的內(nèi)容，而非用以表示不同實(shí)施方式或范例間的關(guān)系。
圖1為本發(fā)明實(shí)施方式的光盤(pán)播放器的方塊圖，但是，本發(fā)明也同時(shí)可
以應(yīng)用于光盤(pán)記錄器。光盤(pán)播放器10包括光學(xué)頭100、控制器102、伺服單 元104、數(shù)據(jù)處理單元106、和旋轉(zhuǎn)裝置108。光學(xué)頭100耦接控制器102， 接著耦接伺服單元104、數(shù)據(jù)處理單元106、和旋轉(zhuǎn)裝置108。
光學(xué)頭100使用光線掃描光盤(pán)12的表面以由其得到讀取信號(hào)Sr。當(dāng)發(fā)現(xiàn) 光盤(pán)12的表面有如抓痕、指紋或灰塵的表面缺陷時(shí)，光學(xué)頭100會(huì)利用感應(yīng) 反射光的高反射率檢測(cè)到這些表面缺陷。從讀取信號(hào)Sr能夠推導(dǎo)出記錄數(shù)據(jù) A，以及相關(guān)于光盤(pán)12的軌道構(gòu)造信息，包括聚焦或循軌信息，代表光學(xué)頭 IOO是否從光盤(pán)12的軌道上偏離軌道或失焦。對(duì)于空白的光盤(pán)來(lái)說(shuō)，記錄數(shù) 據(jù)Dr包括時(shí)鐘信息(clock information)(又稱擺動(dòng)(wobble)信號(hào))，以及位置信 息，包括軌道數(shù)目和區(qū)塊數(shù)目。對(duì)于已記錄的光盤(pán)來(lái)說(shuō)，記錄數(shù)據(jù)Dr更包括 使用者數(shù)據(jù)。在正常運(yùn)作狀態(tài)下，控制器102接收讀取信號(hào)Sr以擷取給數(shù)據(jù) 處理單元106的記錄數(shù)據(jù)Dp以及給伺服單元104的聚焦誤差信息(Focus error information)FE和循軌誤差信息(Tracking error information)TE，由此存取數(shù)據(jù) 以及控制光學(xué)頭100的半徑位置以維持其在光盤(pán)12的軌道上。
當(dāng)光學(xué)頭100檢測(cè)到光盤(pán)12上的表面缺陷時(shí)，讀取信號(hào)Sr會(huì)失真 (distorted),使得讀取信號(hào)&上帶有的數(shù)據(jù)和信息不能使用?？刂破?02辨識(shí) 缺陷種類，以及根據(jù)缺陷種類判別一個(gè)或多個(gè)操作參數(shù)。缺陷種類可以通過(guò) 預(yù)定范圍Rd內(nèi)缺陷的缺陷數(shù)量Nd、缺陷的最大寬度Wdm^或兩者的組合來(lái)判 斷。操作參數(shù)可以是數(shù)據(jù)處理單元106中設(shè)定的聚焦誤差信息FE、循軌誤差 信息TE、聚焦增益、軌道增益、鎖相環(huán)(PhaseLockLoop，PLL)增益、操作帶 寬以及濾波器帶寬中之一或多個(gè)的組合?？刂破?02更可以存取查找表(圖未示)以根據(jù)缺陷種類判別一個(gè)或多個(gè)操作參數(shù)，查找表包括缺陷種類和相對(duì)應(yīng) 的操作參數(shù)的設(shè)定。
圖2為本發(fā)明實(shí)施方式控制光盤(pán)播放器的方法的流程圖，使用圖1的光 盤(pán)播放器。
一旦在步驟S200中播放光盤(pán)12之后，光學(xué)頭100就沿著光盤(pán)12上的軌 道尋找(步驟S202)，用以獲得地址信息，該地址信息能夠用于判斷光學(xué)頭 100讀取的光盤(pán)12的位置是多個(gè)預(yù)定同心圓范圍的哪里。
光盤(pán)12能夠分割為多個(gè)預(yù)定范圍(或區(qū)域)，通常光盤(pán)分為幾個(gè)詞心圓 的區(qū)域，例如，DVD光盤(pán)的第一范圍包括地址30000到64FFF、第二范圍包 括地址65000到99FFF，等等。在步驟S204中，控制器102判斷地址信息是 否已從一個(gè)預(yù)定范圍改變到另一個(gè)，以及如果如此，則初始一種曲線檢測(cè)程 序(步驟S206)。如果地址維持在同樣的預(yù)定范圍，控制器102控制伺服單 元104和光學(xué)頭100沿著軌道來(lái)尋找下個(gè)位置(步驟S202)。
在步驟S206中，光學(xué)頭100檢測(cè)到預(yù)定范圍里沿著軌道的所有缺陷，控
制器102利用計(jì)算缺陷的缺陷總數(shù)Nd和最大寬度Wdmax來(lái)獲得缺陷信息。在
一些實(shí)施方式中，也可以針對(duì)部分預(yù)定范圍執(zhí)行缺陷檢測(cè)，例如，只檢測(cè)每 個(gè)同心圓范圍的一圈軌道(one cycle)。
圖3a為本發(fā)明實(shí)施方式中分類缺陷種類方法的流程圖，使用圖1的光盤(pán) 播放器和圖2的控制方法。圖3b為圖3a中的分類缺陷種類的方法。如圖3b 所示，光盤(pán)12包括預(yù)定范圍Rl到R3，以及在范圍Rl到R3內(nèi)有許多檢測(cè) 到的缺陷300到312，光學(xué)頭100在預(yù)定范圍Rl內(nèi)沿著一圈軌道32檢測(cè)到
Nd個(gè)缺陷，以及最長(zhǎng)的缺陷寬度為Wdmax(例如缺陷312的缺陷寬度)。缺陷檢
測(cè)及分類請(qǐng)參考圖3a，在步驟S300中，光學(xué)頭100在預(yù)定范圍Rl內(nèi)沿著一 圈軌道32檢測(cè)所有的缺陷。在步驟S302中，控制器102計(jì)算缺陷的總共數(shù) 量Nd以及最大寬度Wdmax。在步驟S304中，控制器102根據(jù)最大寬度Wdmax
和最大寬度Wdn^對(duì)缺陷數(shù)量Nd的比值，來(lái)分類缺陷種類。參考圖2，在步驟S208中，控制器102根據(jù)缺陷的缺陷總數(shù)Nd和最大寬 度Wdm^對(duì)缺陷種類進(jìn)行分類。在一些實(shí)施方式中，缺陷種類可以利用單獨(dú)的 測(cè)量決定，例如缺陷的數(shù)量，或缺陷種類可以通過(guò)一些規(guī)定的組合來(lái)分類。 控制器102可以根據(jù)缺陷在預(yù)定范圍的軌道上的分布來(lái)進(jìn)行缺陷種類的分類。
例如，控制器102計(jì)算最大寬度Wdn^對(duì)缺陷數(shù)量Na的比值，如果比值超過(guò)
或等于預(yù)定比值臨界值時(shí)，則將缺陷種類分類為集中的缺陷種類，如果比值 小于預(yù)定比值臨界值時(shí)，則將缺陷種類分類為分散的缺陷種類。
在步驟S210中，控制器102檢査缺陷種類是否有改變，以及，如果有改 變，則根據(jù)改變的缺陷種類判斷一個(gè)或多操作參數(shù)(步驟S212)，以及，如 果并未改變，則維持原本的操作參數(shù)以及失能缺陷檢測(cè)程序(步驟S214)。
在步驟S212中，控制器102根據(jù)缺陷種類來(lái)判斷操作參數(shù)，由此最佳化 光盤(pán)播放器10的播放率。在一些實(shí)施方式中，操作參數(shù)包括伺服單元的參數(shù) (即伺服參數(shù))。操作參數(shù)的判斷可以包括，將聚焦誤差信息FE和循軌誤差信 息TE固定在預(yù)定值，該預(yù)定值為缺陷位置之前的立即數(shù)值，或通過(guò)低通濾波 器的數(shù)值；增加或減低聚焦誤差信息FE和循軌誤差信息TE的增益；將PLL 的增益以及帶寬固定在預(yù)定值或缺陷檢測(cè)之前的立即數(shù)值；以及將數(shù)據(jù)處理 單元106中低通濾波器的帶寬固定在預(yù)定值或缺陷檢測(cè)之前的立即數(shù)值?？?制器102可以使用控制器查找表(圖未示)根據(jù)缺陷種類來(lái)判斷操作參數(shù)的相 對(duì)應(yīng)設(shè)定。
在步驟S214中，控制器102將缺陷檢測(cè)失能，并且在步驟S202中致能 伺服單元104和光學(xué)頭100來(lái)尋找接下來(lái)的軌道位置。
圖4為本發(fā)明實(shí)施方式中另一個(gè)控制光盤(pán)播放器的方法的流程圖，使用 圖l的光盤(pán)播放器。
在步驟S400中，播放光盤(pán)12之后，控制器102初始缺陷檢測(cè)程序以及 重置計(jì)時(shí)器為預(yù)定超時(shí)(timeout)數(shù)值(超時(shí)窗格，timeout window)作為計(jì)時(shí) 器計(jì)數(shù)CT (S402)。計(jì)時(shí)器可以根據(jù)實(shí)現(xiàn)的電路，而為下數(shù)計(jì)時(shí)器或上數(shù)計(jì)時(shí)器。為了便于解釋，這里使用下數(shù)計(jì)時(shí)器來(lái)解釋本實(shí)施方式。
在步驟S404中，控制器102啟動(dòng)計(jì)時(shí)器。在步驟S406中，每到一個(gè)監(jiān) 控周期，例如，20ms，計(jì)時(shí)器都會(huì)將計(jì)時(shí)器計(jì)數(shù)CT減l,同時(shí)光學(xué)頭100沿 著光盤(pán)12上的軌道向前移動(dòng)來(lái)檢測(cè)其上的缺陷。
下一步在步驟S408中，控制器102判斷計(jì)時(shí)器計(jì)數(shù)CT是否己經(jīng)到達(dá)超 時(shí)(timeout)的狀態(tài)，例如，計(jì)時(shí)器計(jì)數(shù)CT二O。如果已經(jīng)到了，控制器102會(huì) 在步驟S410中分類缺陷種類，如果沒(méi)有，則回到步驟S404繼續(xù)下數(shù)CT。
在S410中，控制器102計(jì)算超時(shí)之前的缺陷數(shù)量Nd，并且根據(jù)缺陷數(shù)量 Nd分類缺陷種類。控制器102可以根據(jù)每個(gè)超時(shí)窗格中缺陷的出現(xiàn)頻率來(lái)分 類。例如，如果缺陷數(shù)量超過(guò)或等于預(yù)定缺陷臨界值，控制器102將判定上 述缺陷種類為嚴(yán)重缺陷種類，如果缺陷數(shù)量小于預(yù)定缺陷臨界值，控制器102 則判定上述缺陷種類為輕微缺陷種類，以及如果沒(méi)有缺陷則判定缺陷種類為 沒(méi)有缺陷種類。
圖5a為本發(fā)明實(shí)施方式中分類缺陷種類方法的流程圖，使用圖1的光盤(pán) 播放器和圖4的控制方法。在步驟S500中，控制器102利用計(jì)時(shí)器產(chǎn)生超時(shí) 窗格，并且在步驟S502中，為了收集每個(gè)超時(shí)窗格的缺陷統(tǒng)計(jì)，利用預(yù)定超 時(shí)的數(shù)值來(lái)分派超時(shí)窗格的寬度。接著在步驟S504中，控制器102計(jì)算超時(shí) 窗格中缺陷的總共數(shù)量Nd，并且在步驟S506中，根據(jù)缺陷的總共數(shù)量Nd分 類缺陷種類。
圖5b為圖5a中分類缺陷種類的方法，包括超時(shí)窗格50和52，超時(shí)窗格 50內(nèi)包括5個(gè)缺陷，缺陷500到508，以及超時(shí)窗格52內(nèi)包括2個(gè)缺陷，缺 陷520、 522。如果預(yù)定缺陷臨界值是3，控制器102會(huì)分類超時(shí)窗格50為嚴(yán) 重的缺陷種類，以及超時(shí)窗格52是輕微的缺陷種類。
參考圖4，在步驟S412中，控制器102檢査缺陷種類是否已被改變，以 及，如果改變，則在步驟S414中根據(jù)缺陷種類判斷一個(gè)或多個(gè)操作參數(shù)，以 及，如果沒(méi)有改變，則在步驟S416中維持原本的操作參數(shù)以及再次重設(shè)控制器102。
在步驟S414中，控制器102根據(jù)缺陷種類來(lái)判斷特定的操作參數(shù)，由此 最佳化光盤(pán)播放器10的播放率。在一些實(shí)施方式中，操作參數(shù)包括伺服單元 的參數(shù)。操作參數(shù)的判斷可以包括，將聚焦誤差信息FE和循軌誤差信息TE 固定在預(yù)定值，該預(yù)定值為缺陷位置之前的立即數(shù)值，或通過(guò)低通濾波器的 數(shù)值；增加或減低聚焦誤差信息FE和循軌誤差信息TE的增益；調(diào)整缺陷臨 界值水平；將PLL的增益以及帶寬固定在預(yù)定值或缺陷檢測(cè)之前的立即數(shù)值; 以及將數(shù)據(jù)處理單元106中低通濾波器的帶寬固定在預(yù)定值或缺陷檢測(cè)之前 的立即數(shù)值?？刂破?02可以使用控制器查找表(圖未示)根據(jù)缺陷種類來(lái)判斷 操作參數(shù)的相對(duì)應(yīng)設(shè)定。
在步驟S416中，計(jì)時(shí)器會(huì)被重設(shè)到預(yù)定超時(shí)的數(shù)值，使得可以對(duì)下一組 超時(shí)窗格繼續(xù)進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
圖2和圖4的方法只是兩個(gè)實(shí)施方式，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以推導(dǎo)出其 它類似的方法，例如根據(jù)一個(gè)或多個(gè)缺陷的結(jié)合來(lái)分類缺陷種類。
雖然本發(fā)明已以實(shí)施方式揭露如上，但是對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員，依據(jù) 本發(fā)明實(shí)施方式的思想，在具體實(shí)施方式
及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，綜 上所述，本說(shuō)明書(shū)內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
權(quán)利要求
1.一種控制光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的方法，其特征在于，所述的控制光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的方法包括檢測(cè)光盤(pán)上的預(yù)定范圍的缺陷；根據(jù)上述檢測(cè)的結(jié)果辨別缺陷種類；以及根據(jù)上述缺陷種類判定上述光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的操作參數(shù)。
2. 如權(quán)利要求1所述的控制光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的方法，其特征在于，上述辨別 步驟更包括-計(jì)算上述預(yù)定范圍內(nèi)的缺陷數(shù)量；以及 根據(jù)上述缺陷數(shù)量分類上述缺陷種類。
3. 如權(quán)利要求2所述的控制光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的方法，其特征在于，上述分類 步驟更包括如果上述缺陷數(shù)量超過(guò)或等于預(yù)定缺陷臨界值，則判定上述缺陷種類為 嚴(yán)重缺陷種類；如果上述缺陷數(shù)量小于上述預(yù)定缺陷臨界值，則判定上述缺陷種類為輕 微缺陷種類；以及如果沒(méi)有缺陷則判定上述缺陷種類為沒(méi)有缺陷種類。
4. 如權(quán)利要求1所述的控制光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的方法，其特征在于，上述辨別 步驟更包括計(jì)算上述預(yù)定范圍內(nèi)的缺陷數(shù)量； 判定上述預(yù)定范圍內(nèi)的缺陷的最大寬度；以及 根據(jù)上述缺陷數(shù)量和上述缺陷的最大寬度，分類上述缺陷種類。
5. 如權(quán)利要求4所述的控制光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的方法，其特征在于，上述分類 步驟更包括計(jì)算上述最大寬度對(duì)上述缺陷數(shù)量的比值；如果上述比值超過(guò)或等于預(yù)定比值臨界值，則判定上述缺陷種類為集中的缺陷種類；以及如果上述比值小于上述預(yù)定比值臨界值，則判定上述缺陷種類為分散的 缺陷種類。
6. 如權(quán)利要求1所述的控制光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的方法，其特征在于，上述預(yù)定范圍是上述光盤(pán)上的同心圓的范圍，以及上述檢測(cè)步驟更包括檢測(cè)上述同心 圓的范圍內(nèi)一圈軌道上的缺陷。
7. 如權(quán)利要求1所述的控制光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的方法，其特征在于，所述的控 制光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的方法更包括判定上述光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器讀取的光盤(pán)的目前位置是否 是在上述預(yù)定范圍內(nèi)，如果上述目前位置是在其它范圍，則檢測(cè)缺陷以及辨 識(shí)缺陷種類，用以判定上述操作參數(shù)，上述操作參數(shù)用于包括上述目前位置 的范圍。
8. 如權(quán)利要求7所述的控制光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的方法，其特征在于，當(dāng)伺服單 元在上述光盤(pán)的軌道間跳軌時(shí)，執(zhí)行上述判定上述目前位置是否是在上述預(yù) 定范圍內(nèi)的步驟。
9. 如權(quán)利要求1所述的控制光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器的方法，其特征在于，上述檢測(cè) 缺陷步驟更包括提供超時(shí)期間； 下數(shù)計(jì)時(shí)器計(jì)數(shù)；以及當(dāng)上述計(jì)時(shí)器計(jì)數(shù)到達(dá)上述超時(shí)期間時(shí)，判定上述缺陷種類。
10. —種光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，其特征在于，所述的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器包括 旋轉(zhuǎn)裝置，旋轉(zhuǎn)光盤(pán)；光學(xué)頭，產(chǎn)生光線用以檢測(cè)上述光盤(pán)上的預(yù)定范圍的缺陷； 伺服單元，耦接上述光學(xué)頭，根據(jù)操作參數(shù)用以控制上述光學(xué)頭；以及 控制器，耦接上述旋轉(zhuǎn)裝置、上述光學(xué)頭和上述伺服單元，辨別缺陷種 類，以及根據(jù)上述缺陷種類判定上述伺服單元的上述操作參數(shù)。
11. 如權(quán)利要求10所述的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，其特征在于，上述控制器計(jì)算上述預(yù)定范圍內(nèi)的缺陷數(shù)量，以及根據(jù)上述缺陷數(shù)量分類上述缺陷種類。
12. 如權(quán)利要求11所述的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，其特征在于，如果上述缺陷數(shù)量 超過(guò)或等于預(yù)定缺陷臨界值，則上述控制器判定上述缺陷種類為嚴(yán)重缺陷種類；如果上述缺陷數(shù)量小于上述預(yù)定缺陷臨界值，則上述控制器判定上述缺 陷種類為輕微缺陷種類；以及如果沒(méi)有缺陷，則上述控制器判定上述缺陷種 類為沒(méi)有缺陷種類。
13. 如權(quán)利要求10所述的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，其特征在于，上述控制器計(jì)算上 述預(yù)定范圍內(nèi)的缺陷數(shù)量，判定上述預(yù)定范圍內(nèi)的缺陷的最大寬度，以及根 據(jù)上述缺陷數(shù)量和上述缺陷的最大寬度，分類上述缺陷種類。
14. 如權(quán)利要求13所述的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，其特征在于，上述控制器計(jì)算上 述最大寬度對(duì)上述缺陷數(shù)量的比值；如果上述比值超過(guò)或等于預(yù)定比值臨界 值，則判定上述缺陷種類為集中的缺陷種類；以及如果上述比值小于上述預(yù) 定比值臨界值，則判定上述缺陷種類為分散的缺陷種類。
15. 如權(quán)利要求10所述的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，其特征在于，上述預(yù)定范圍是上 述光盤(pán)上的同心圓的范圍，以及上述光學(xué)頭檢測(cè)上述同心圓的范圍內(nèi)一圈軌 道上的缺陷。
16. 如權(quán)利要求10所述的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，其特征在于，上述控制器更判定 上述光盤(pán)讀取頭讀取的光盤(pán)的目前位置是否是在上述預(yù)定范圍內(nèi)，如果上述 目前位置是在其它范圍，則檢測(cè)缺陷以及辨識(shí)缺陷種類，用以判定上述操作 參數(shù)，上述操作參數(shù)用于包括上述目前位置的范圍。
17. 如權(quán)利要求16所述的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，其特征在于，當(dāng)上述伺服單元在 上述光盤(pán)的軌道間跳軌時(shí)，上述控制器判定上述目前位置是否是在上述預(yù)定 范圍內(nèi)。
18. 權(quán)利要求10所述的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，其特征在于，上述控制器更提供超 時(shí)期間，當(dāng)檢測(cè)到上述缺陷時(shí)，下數(shù)計(jì)時(shí)器計(jì)數(shù)，以及當(dāng)上述計(jì)時(shí)器計(jì)數(shù)到 達(dá)上述超時(shí)期間時(shí)，判定上述缺陷種類。
全文摘要
本發(fā)明揭示一種光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器和其控制方法。光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器包括旋轉(zhuǎn)裝置、光學(xué)頭、伺服單元以及控制器；旋轉(zhuǎn)裝置旋轉(zhuǎn)光盤(pán)；光學(xué)頭產(chǎn)生光線用以檢測(cè)光盤(pán)上的預(yù)定范圍的缺陷；伺服單元，耦接光學(xué)頭，根據(jù)操作參數(shù)用以控制光學(xué)頭；控制器，耦接旋轉(zhuǎn)裝置、光學(xué)頭和伺服單元，根據(jù)檢測(cè)的結(jié)果辨別缺陷種類，以及根據(jù)缺陷種類判定伺服單元的操作參數(shù)。上述光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器及其控制方法可通過(guò)分類光盤(pán)上的缺陷種類判定操作參數(shù)，從而提高光盤(pán)播放率。
文檔編號(hào)G11B7/09GK101295519SQ20071016964
公開(kāi)日2008年10月29日 申請(qǐng)日期2007年11月13日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月23日
發(fā)明者曾德旺, 朱自強(qiáng) 申請(qǐng)人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司