專利名稱：改進的從多層光盤進行的信息讀/寫的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明總的涉及一種用于向/從光學存儲盤寫/讀信息的方法，以
及執(zhí)行這種方法的盤驅(qū)動裝置；下文中這種盤驅(qū)動裝置也表示為"盤 驅(qū)動器"。
本發(fā)明更具體地涉及一種用于從多數(shù)據(jù)層盤(比如雙層盤)寫/讀 信息的方法，以及執(zhí)行這種方法的盤驅(qū)動器。雙層盤驅(qū)動器包括透鏡 系統(tǒng)和致動器，所述透鏡系統(tǒng)包含至少一個用于將光分別地聚焦到盤 的至少一個數(shù)據(jù)層上的透鏡，所述致動器用于至少沿盤的徑向移動該 透鏡系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
眾所周知，光學存儲盤包括存儲空間的至少一個軌跡，軌跡的形 式要么是連續(xù)的螺旋，要么是多個同心圓，信息可按照數(shù)據(jù)圖案的形 式存儲在存儲空間中。光盤可以是只讀型的，其中信息在制造期間被 記錄，所述信息可由用戶讀出。光學存儲盤也可以是可寫型的，其中 信息也可由用戶存儲。光盤的實例比如CD-R0M、 CD-R、 CD-RW、 DVD、 DVD土RW藍光光盤(BD) 、 HD-DVD等等。
為了在光學存儲盤的存儲空間中寫入信息，或者為了從盤讀出信 息，光盤驅(qū)動器包括用于接收和旋轉(zhuǎn)光盤的旋轉(zhuǎn)裝置以及用于產(chǎn)生光 束(通常為激光光束)并利用所述激光光束掃描存儲軌跡的光學裝置。 盤驅(qū)動設(shè)備包括光學頭或光學拾音(pickup)單元(0PU)，用于將光 學激光束引導向(旋轉(zhuǎn)中的)盤表面，接收由盤反射的反射束，并將 接收到的反射束引導到產(chǎn)生電信號的光檢測器(例如光電檢測器)。 因此，光學拾音單元包括光束產(chǎn)生器、用于將光束引導向光盤的光學 系統(tǒng)、用于將光轉(zhuǎn)換為電信號的光檢測器、以及用于接收反射光并將 該反射光引導向光檢測器的光學系統(tǒng)。
光檢測器需要相對于返回光束非常精確地定位，并且在傳統(tǒng)的光 路幾何學中，通過在Z方向上(即沿著光軸)相對于光學系統(tǒng)中余下 的光學器件調(diào)整光檢測器的位置并且沿著垂直于光軸的X-Y方向調(diào)整 光檢測器的位置，非常仔細地將返回光點對準在光檢測器上。為了旋轉(zhuǎn)光盤，光盤驅(qū)動器通常包括電機，該電機驅(qū)動嚙合光盤
中心部分的軸心(hub)。通常，電機實施為主軸(spindle)電機， 由電機驅(qū)動的軸心可直接設(shè)置在電機的主軸輪軸(spindle axle)上。
在工作期間，光束將保持聚焦在盤上。為此，物鏡被設(shè)置成在軸 向上可位移，并且光盤驅(qū)動器包括聚焦致動裝置，用于控制物鏡的軸 向位置。此外，焦斑應保持與軌跡對準，或者焦斑應能夠相對于新軌 跡被定位。為此，至少物鏡被安裝得徑向可位移，并且光盤驅(qū)動器包 括用于控制物鏡的徑向位置的徑向致動裝置。
對于便攜式應用，光盤和光盤驅(qū)動器都需要具有小的尺寸。為了 在小盤上實現(xiàn)足夠的數(shù)據(jù)容量，對于這種應用采用雙層盤是非常有利 的。
圖1的左邊部分部分地顯示出一個雙層光盤系統(tǒng)。透鏡系統(tǒng)包括 用于將光聚焦到第二數(shù)據(jù)層Ll上的物鏡0L。透鏡系統(tǒng)連在致動器AC 上，以便為了循跡和聚焦的目的而分別徑向運動和/或垂直運動。在雙 層盤DSC中，第一數(shù)據(jù)層L0位于盤DSC的入射表面S之下深度d處。 第二數(shù)據(jù)層Ll處于深度d+s處。厚度d的頂層稱為覆蓋層CL。厚度為 s的中間層稱為間隔區(qū)(spacer)層SL。當焦距最佳時，物鏡0L在第 二數(shù)據(jù)層Ll上具有焦點FP1。理想地，來自物鏡0L的光將僅僅到達第 二數(shù)據(jù)層L1。然而實際上也有部分光無意地到達第一數(shù)據(jù)層LO,如虛 線箭頭示意性所示，第一數(shù)據(jù)層L0將光反射回物鏡OL中。該反射光 看上去聚焦在第一數(shù)據(jù)層LO上某處的虛焦點VFP1處。因此，該反射 光在光檢測器上產(chǎn)生相對大的(因為失焦)光點，這破壞了正確的聚 焦或和/或徑向循跡，這是由在光檢測器上成像的焦點和/或任何伴隨 光斑的干擾引起的。
圖1右側(cè)部分顯示光聚焦在笫一數(shù)據(jù)層LO上時類似的情形。參見 焦點FPO。在這種情形下，看上去在第二數(shù)據(jù)層L1之下某處存在虛焦 點VFP0。當然在這種情形下，反射光也在光檢測器上產(chǎn)生相對大的失 焦光點。
光檢測器的電信號包含與循跡誤差有關(guān)的信息，即，從焦斑中心 到被跟隨的軌跡的中心的徑向距離。該電信號被饋送到控制電路，該 控制電路對電信號進行處理，以便產(chǎn)生用于徑向致動裝置的控制信號。
一種眾所周知的處理電信號的方法是產(chǎn)生所謂的推挽信號。該推 挽方法存在一些缺點。該推挽方法的一個缺點在于對(可變的)束著 落誤差(beam landing error)的敏感性，所述誤差即光點相對于光 檢測器的位移，其由致動器AC在徑向方向上的運動導致。 一種熟知的解決該問題的方法是三光點推挽方法。在三光點推挽方法中，在盤上
成像三個點應聚焦在軌跡上的主光點，應聚焦在所述軌跡和所述軌 跡的第一相鄰軌跡之間的第一伴隨光點，應聚焦在所述軌跡和所述軌 跡的第二 ("另一個")相鄰軌跡之間的第二伴隨光點。(參見圖2) 圖2顯示盤上的軌跡和掃描光點的示意性視圖。信息層包括主軌跡l、 第一相鄰軌跡2和第二相鄰軌跡3，這些軌跡由距離p (軌跡間距)間 隔。信息用主掃描光點4讀/寫，為了循跡的目的，還有在主軌跡和相 鄰軌跡之間一半距離處的第一伴隨光點5和第二伴隨光點6。如圖3的 用于三光點推挽式循跡誤差信號的方案中所表示的，通過獲得光檢測 器的各檢測器部分的差異信號，找到推挽信號。在額定(nominal)的情 況下，掃描光點相對于軌跡的徑向位置呈周期性變化
<formula>formula see original document page 5</formula>
其中尸戶a是對應于主光點的推挽信號，A是幅度，0=2ttx/p , x是 徑向位置，而p是軌跡間距。顯而易見，當掃描光點在軌跡上時，推 挽信號為零。由于光點相對于光檢測器的位移而引起可能產(chǎn)生偏移量，
其稱為束著落。那么推挽信號是
其中B是由致動器AC的徑向動程(radial stroke)而引起的束 著落貢獻。為了克服束著落導致的循跡偏移量，實踐中采用所謂的三 光點推挽(3SPP)誤差信號。這個信號是三個推挽信號的加權(quán)總和， 三個信號源于主掃描光點和兩個(第一和第二)伴隨光點。(參見圖2 和3。)伴隨光點包含系數(shù)C15的功率，小于主光點的功率，并且 當主光點位于軌跡上時，兩個伴隨光點處在這個中央軌跡和相鄰軌跡 的中途。第一 (戶戶6)和第二 (尸戶c;)伴隨推挽信號是
<formula>formula see original document page 5</formula>
循跡誤差信號(TES)定義為
<formula>formula see original document page 5</formula>
顯而易見，全部的束著落效應被抵消了。
當伴隨光點相對于軌跡沒有正確取向時會出現(xiàn)問題。圖4示意性 地顯示所謂的y誤差額定情況(左)下，主光點處在通過螺旋軌跡 中心的線(沒有y誤差)上，而在y誤差(右)情況下，主光點到通 過螺旋軌跡中心的原始線的距離為y。在名義的、良好對準的情況下，(P是軌跡間距，t是光點距離)。因為盤偏心或未對準，盤可能偏移
距離y。軌跡則相對于光柵旋轉(zhuǎn)如下角度
R是在光點位置上的螺旋軌跡半徑。伴隨光點則不再在軌跡和相鄰軌跡
之間的中途。因此主信號和伴隨信號之間的相位偏移不再是7T，而是
兀+z，其中
即，幅度取決于穿過;r的y誤差。作為y誤差的函數(shù)的誤差信號幅度的 這種變化必須足夠小。因此，對于BD的光點距離被限制為大約t-10Am。
如已經(jīng)參考圖1簡短地指出的，在讀取雙層盤時出現(xiàn)另一個問題。 從失焦的信息層發(fā)出的信號可以在檢測器部分a、 b和c處終止(參見 圖3)，并且可以在那里引起干涉。圖5顯示重疊光點的圖。舉例來說， 光點處于檢測器平面，盤上伴隨光點距離約為10//m。上面的圖對應于 聚焦在第一層LO上，下面的圖對應于聚焦在第二層Ll上。主光點和 兩個伴隨光點被畫出，而由主光點反射而產(chǎn)生的光點在另一層即失焦 層上。顯而易見，盤上的光點距離太小而無法避免伴隨光點和這個失 焦的光點之間發(fā)生重疊。
圖6顯示由于失焦光和像散伴隨光點之間的干涉引起的三光點像
散聚焦系統(tǒng)的伴隨光點的干涉圖案。干涉圖案包括交替的明區(qū)和暗區(qū) ，取決于這個圖案，推挽信號的凈效應是一個偏移量。該偏移量可以 根據(jù)間隔區(qū)厚度變化而變化。圖中顯示出了光檢測器的伴隨部分上的 伴隨光點和主失焦光點的典型干涉圖案。x和y坐標以/,m為單位，因此 檢測器面積通過例如100^m乘以100/zm測量，并且在這個例子中，中心 到光軸的距離為150^m。符號和大小取決于兩個干涉束之間的全部相位 差。這導致產(chǎn)生推挽信號的噪聲的波動，該波動被稱作相干串擾(CCT )。這對于兩個伴隨光點特別重要，其中伴隨束的總功率是系數(shù)C 其小于由失焦層反射的主光點的總功率。
因此，本發(fā)明的目的是提供一種用于解決y誤差問題和伴隨CCT問
義=27T—sin^
2對y
產(chǎn)生的誤差信號變?yōu)?
7^2 a—sin2 (義/2)) Jsin^題的方法，該方法不存在上述兩個問題或者其中之一，或者較少程度 地具有上述問題。

發(fā)明內(nèi)容
為了實現(xiàn)本發(fā)明目的，提供一種用于從光學存儲盤中讀取信息的
方法，該方法包含步驟
-在光學存儲盤的目標軌跡上產(chǎn)生主光點，
-產(chǎn)生以假想直線近似貫穿主光點中心和兩個伴隨光點中心的方式對
準的一對伴隨光點，兩個伴隨光點到主光點的光點距離近似相等并
被定義為伴隨光點距離， -在光檢測器上檢測從光學存儲盤反射回來的、由來自光學存儲盤的
信息所調(diào)制的光點，所述光檢測器具有對準的部分以便分別檢測反
射光點，以及
-以這樣一種方式產(chǎn)生這對伴隨光點由光檢測器對應于伴隨光點對 的部分所提供的歸一化推挽信號的幅度比由光檢測器對應于主光點 的部分所提供的歸一化推挽信號的幅度小至少五倍。 優(yōu)選地以這樣一種方式產(chǎn)生這對伴隨光點對應于伴隨光點對的
歸一化推挽信號的幅度比對應于主光點的歸一化推挽信號的幅度小至
少20倍。
本發(fā)明還提供一種采用本發(fā)明方法的并限定在所附的權(quán)利要求3 和4中的盤驅(qū)動裝置。
為了解決y誤差問題以及伴隨CCT問題，可采用具有細微間距的 光柵(眾所周知，在光學存儲領(lǐng)域中用于從單個激光束產(chǎn)生多個束)， 以使得盤上主光點和伴隨光點之間的距離t足夠大。圖IO顯示在光檢 測器處的光點，盤上伴隨光點距離約為40//m。上面的圖對應于在LO 層上的聚焦，下面的圖對應于在L1層上的聚焦。主光點和兩個伴隨光 點被繪出，而因主光點反射而產(chǎn)生的光點在另一層即失焦層上。顯然， 盤上的光點距離足夠大，以便避免在伴隨光點和這個失焦的光點之間 的重疊。
這會產(chǎn)生以下結(jié)果。第一，物鏡的場使用增加了。場角定義為伴 隨光點-巨離t除以物鏡焦距。例如假定焦距l(xiāng). Omm，則光點距離t-40;/m 對應于2. 3度的場角。大的場應用的主要影響是所謂的場曲率，該場曲 率即為隨著場角呈二次方增大的散焦。這表明徑向誤差信號的幅度隨 著散焦增大而減小，并且對于特定的散焦值而言，幅度甚至為零。該零徑向調(diào)制意味著伴隨推挽信號現(xiàn)在僅測量束著落，使得誤差信號幅
度不再取決于光點相對于軌跡的取向。這解決了y誤差問題。第二個結(jié) 果是在檢測器平面上的主光點和伴隨光點之間的距離也增大。在某一 數(shù)值以上，在伴隨光點和由失焦層的反射而產(chǎn)生的光點之間不再有重 疊。這消除了兩個光點之間的任何干擾效應，因此解決了伴隨CCT問題 。這表明可以在狀態(tài)(regime) t〉33^m (在這個例子中)中找到盤上 光點距離的值，從而解決了y誤差問題和伴隨CCT問題。


將參考附圖更詳細地描述本發(fā)明，其中
圖1部分地顯示雙層光盤系統(tǒng)；
圖2顯示光盤上的軌跡和掃描光點的示意圖3顯示用于三光點推挽循跡誤差信號的方案；
圖4示意性地顯示所謂的y誤差；
圖5顯示對于約為10^m的盤上伴隨光點距離，在光檢測器處的光
占*
< 、、、賃
圖6顯示光檢測器的伴隨部分上的伴隨光點和主失焦光點的典型
干涉圖案；
圖7顯示作為伴隨光點距離的函數(shù)的伴隨光點的物鏡的象差；
圖8顯示作為對于BD參數(shù)的散焦的函數(shù)的光學傳遞函數(shù)(0TF);
圖9顯示作為光點距離的函數(shù)的模擬的歸一化推挽幅度(ppn);
圖IO顯示作為對于伴隨光點距離40/ym的切向傾斜的函數(shù)的用于 在第一 (LO)和第二 (Ll)層上聚焦的兩個伴隨的推挽幅度變化；以 及
圖11顯示根據(jù)本發(fā)明方法，對于約為40//m的盤上伴隨光點距離， 在光檢測器處的光點。
在這些圖中，具有類似功能和目的的部件或者元件具有相同的附 圖標記。
具體實施例方式
為了解決y誤差問題以及伴隨CCT問題，可采用具有細微間距以 使盤上主光點和伴隨光點之間的距離t足夠大的光柵(眾所周知，在 光學存儲領(lǐng)域中用于從單個激光束產(chǎn)生多個束)。圖ll顯示在光檢測 器處的光點，盤上伴隨光點距離約為40pm。上面的圖對應于聚焦在LO層上，下面的圖對應于聚焦在L1層上。主光點和兩個伴隨光點被繪出， 而由主光點反射而產(chǎn)生的光點在另一層即失焦層上。顯然，盤上的光 點距離足夠大，以避免在伴隨光點和這個失焦的光點之間的重疊。
這具有下列結(jié)果。第一，物鏡的場使用增加了。場角定義為伴隨 光點距離t除以物鏡焦距。例如假定焦距1. Omm,則光點距離t=40^m 對應于2. 3度的場角。大的場使用的主要效果就是所謂的場曲率(field curvature),該場曲率是隨著場角呈二次方地增大的散焦。這表明徑 向誤差信號的幅度隨著散焦增大而減小，并且對于特定的散焦值而言， 幅度甚至為零。這個零徑向調(diào)制意味著伴隨推挽信號現(xiàn)在逸測量束著 落，使得誤差信號幅度不再取決于光點相對于軌跡的取向。這解決了 y 誤差問題。第二個結(jié)果是在檢測器平面上的主光點和伴隨光點之間的 距離也增大。在某數(shù)值以上，在伴隨光點和因失焦層的反射而產(chǎn)生的 光點之間不再存在重疊。這消除了兩個光點之間的任何干擾效應，因 此解決了伴隨CCT問題。盤上的光點距離的數(shù)值可以例如，根據(jù)光學 拾音單元的設(shè)計，在t"3/zm狀態(tài)中找到，從而解決了 y誤差問題和伴 隨cct問題。
本發(fā)明由數(shù)值計算支持。圖7顯示了作為盤上光點距離的函數(shù)的 物鏡象差(其與場角成比例)。這些象差由"Zemax raytracing"軟 件計算。看來好像最大的效應實際上是場曲率(散焦，系數(shù)A20，取決 于t的二次方)，但是其他的象差也很重要。這些象差是象散(A")、 球面象差(A40)、高階象散(A42)和彗形象差(A31)。除此之外， 這表明用于聚焦在L0層上的象差(深度100//m)和用于聚焦在Ll層上 的象差(深度75^m)稍有不同。
通過計算所謂的作為散焦的函數(shù)的OTF(光學傳遞函數(shù))，可以用 分析法估計出用于實現(xiàn)零徑向調(diào)制的所需散焦。在文獻中多次提到采 用所謂的MTF(調(diào)制傳遞函數(shù))代替0TF。 MTF是0TF的模數(shù)(modulus )。 0tf/mtf是對于推挽幅度的度量，因此0TF/MTF為零對應于零徑向調(diào) 制。圖8顯示作為散焦A20的函數(shù)的0TF曲線圖，假定BD參數(shù)在0. 4 n a 和0.72(u處為零。(對應于0.249a和0.416a的均方根值)。使用圖 7的數(shù)據(jù)，可以發(fā)現(xiàn)第一個零對應于盤上大約41^m的光點距離，第二 個零對應于盤上大約52#m的光點距離。通過對于光點距離的特定值的 實際象差集合的推挽幅度的模型計算，可數(shù)值上研究其他象差效應。 (ppn意思是歸一化的推挽信號)。圖9表示這種計算的結(jié)果。兩個零 對于光點距離被偏移到更小的值，并且對于兩個層不一致(對于LO和 Ll情況的象差不完全相同)。對于光點距離的最佳值約為31^m和^//m，與對于僅有散焦的情況的41//m和52^m完全不同。對于光點 距離40//!11而言，在兩種情況下，幅度在無象差的主光點的推挽幅度的 2%以下。這足以解決y誤差問題。
提及的是，數(shù)值計算的主要缺點是未考慮兼容性板(plate)的影 響。這是一種放在透鏡前面的衍射結(jié)構(gòu)，其使BD物鏡與DVD和CD兼 容。對于法線入射而言，它對用于BD的藍光沒有影響。然而，當采用 透鏡場時，板上的入射束不是法線入射，產(chǎn)生(還不知道大小的)象 差。這與這里提出的數(shù)值計算相比較，對于光點距離可以導致產(chǎn)生不 同的最佳值。然而，根據(jù)實踐，已知將這個板傾斜超過約1度并不會 導致顯著的象差。這個l度的值處于本發(fā)明想要的場角的狀態(tài)中。存 在一些公差(tolerance)問題。第一，光點距離以大約4的系數(shù)而增 大，以相同的約為4的系數(shù)減少沿光軸放置光柵的裕度(margin)。 第二，當切線方向的盤傾斜^角時，+lst伴隨將是更靠近透鏡的距離 ta，而-1st伴隨將是更遠離透鏡的距離t"。這意味著對于伴隨之一 而言，散焦將增大，而對于另一個伴隨而言散焦將減少。這會影響推 挽幅度。圖IO顯示出這種效應的數(shù)值計算結(jié)果。+181和181伴隨的偏 差部分地抵銷，使得這兩個光點的平均值保持在對于小于0. 4度的傾 斜角的主光點幅度的2%之內(nèi)。這個平均值被用作誤差信號的輸入，因 此可得出結(jié)論用于切線方向的盤傾斜的裕度足夠大。
幸好，這些值對于光點距離而言足夠大，使得在檢測器上的光點 不重疊。圖11顯示用于36^m的光點距離的盤上的光點圖(采用"Zemax raytracing，，軟件計算)。顯然，這大得足以避免重疊，因而避免了 干涉效應。這表明t〉33/im的任何值都足夠大以解決伴隨CCT問題。這 個下限可通過如下分析進行估計。檢測器上主光點和伴隨光點的半徑 是r，來自失焦層的光點的半徑是R，其中r和R由公式給出
其中s是間隔區(qū)厚度，n是間隔區(qū)折射率，l是聚焦s-曲線長度，NA 是物鏡的數(shù)值孔徑，而M是盤到檢測器的放大倍數(shù)。對于盤上的光點 距離t而言，檢測器上的光點距離是Mt。由此可見，我們必須讓Mt>R+r， 或者
當NA-O. 85， n=l-6, s=25//m，以及l(fā)-4/zin時，該最小值為30〃m。 實際上，檢測器上的光點不是圓形的，需要考慮若干象差。這導致產(chǎn) 生約33^m的稍微不同的值。
r = /賤圖9顯示作為光點距離函數(shù)的模擬的歸一化推挽幅度(ppn)。該 數(shù)據(jù)點被歸一化為對于主光點的零象差值。歸一化的推挽信號除以其 中心孔徑(中心孔徑還將表示為CA)，在這個意義而言，推挽信號也 被歸一化。(如光學存儲設(shè)備領(lǐng)域技術(shù)人員所公知的，光點(或者主 光點或者伴隨光點)的CA被定義為由光檢測器的對應于相應光點(或 者主光點或者伴隨光點)的全部部分所產(chǎn)生的信號總和)。使用"Zemax raytracing"軟件計算對于聚焦在L0層上和聚焦在Ll層上的象差。 如果這對伴隨的歸一化推挽信號比主光點(圖9中指示為100%)的歸 一化推挽幅度低至少5倍(factor)，那么本發(fā)明才起作用。在這個 實例中，這意味著28/^m的伴隨光點距離將足夠了。然而優(yōu)選地，這對 伴隨的歸一化推挽信號比主光點的歸一化推挽幅度低至少20倍?；驌Q 言之優(yōu)選地，這對伴隨的歸一化推挽信號盡可能接近于零。在這個 實例中，這意味著對于伴隨光點距離的最佳值是約31^m和40^m。對 于40Am的伴隨光點距離而言，在兩種情況下，幅度在主光點推挽幅度 的2%以下。
應當注意，本文給出的光點距離只是示例，并且因為該距離取決 于光學存儲設(shè)備(特別是物鏡0L)的總體設(shè)計，例如取決于所使用的 軌跡間距p (參見圖2)，所以所述距離可以有4艮大的不同。
簡短總結(jié)提出了具有間距的三光點光柵，所述間距導致物鏡的 大的場使用，典型地約為2.3度。涉及場曲率的散焦以及其他象差使 得徑向調(diào)制為零，這解決了y誤差問題。得到的盤上的大的光點距離 (典型地為大約40#m)導致失焦層(對于雙層盤讀出)的伴隨和反射 光點在檢測器處的空間間隔，這解決了伴隨相干串擾問題。
應當注意，上述實施例是對本發(fā)明進行說明而不是進行限制，并 且本領(lǐng)域技術(shù)人員在不脫離由所附權(quán)利要求限定的本發(fā)明范圍下能夠 設(shè)計出替換的實施例。"包括"等措辭不排除存在除了任何權(quán)利要求 中或整個申請中所列的那些元件之外的元件。引用單個元件不排除引 用多個這種元件。
權(quán)利要求
1、用于從光學存儲盤讀信息的方法，包括步驟-在光學存儲盤的目標軌跡上產(chǎn)生主光點；-產(chǎn)生以假想直線近似貫穿主光點中心和兩個伴隨光點中心的方式對準的伴隨光點對，兩個伴隨光點到主光點的光點距離近似相等并被定義為伴隨光點距離，-在光檢測器上檢測由來自光學存儲盤的信息所調(diào)制的、從光學存儲盤反射回來的光點，所述光檢測器具有為了分別地檢測反射光點而對準的部分，以及-以這樣一種方式產(chǎn)生這對伴隨光點由光檢測器對應于所述伴隨光點對的部分所提供的歸一化推挽信號的幅度比由光檢測器對應于主光點的部分所提供的歸一化推挽信號的幅度小至少五倍。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l的方法，其特征在于，以這樣一種方式產(chǎn)生這對 伴隨光點對應于所述伴隨光點對的歸一化推挽信號的幅度比對應于 主光點的歸一化推挽信號的幅度小至少20倍。
3、 一種用于從光學存儲盤讀信息的盤驅(qū)動裝置，包括用于在光學 存儲盤的目標軌跡上產(chǎn)生主光點的裝置；用于產(chǎn)生以假想直線近似貫 穿主光點中心和伴隨光點對的兩個伴隨光點中心的方式對準的伴隨光 點對的裝置，伴隨光點對的兩個伴隨光點到主光點的光點距離近似相 等并被定義為伴隨光點距離；光檢測器，用于檢測從光學存儲盤反射 回來的光點，所述光點由來自光學存儲盤的信息調(diào)制，光檢測器具有 為分別地檢測所述反射光點而對準的部分，并且以這樣一種方式實現(xiàn) 所述伴隨光點對的產(chǎn)生伴隨光點距離足夠大，使得由光檢測器對應 于伴隨光點對的部分所提供的歸一化推挽信號的幅度比由光檢測器對 應于主光點的部分所提供的歸一化推挽信號的幅度小至少5倍。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3的光盤驅(qū)動裝置，其特征在于，以這樣一種方式 產(chǎn)生所述伴隨光點對對應于伴隨光點對的歸一化推挽信號的幅度比 對應于主光點的歸一化推挽信號的幅度小至少20倍。
全文摘要
本發(fā)明提出了一種具有間距的三光點光柵，所述間距導致物鏡大的場使用，典型地約為2.3度。涉及場曲率的散焦以及其他象差使得徑向調(diào)制為零，這解決了y誤差問題。得到的盤上的大的光點距離(典型地為大約40μm)導致失焦層(用于雙層盤讀出)的伴隨和反射光點在檢測器處的空間間隔，這解決了伴隨相干串擾問題。
文檔編號G11B7/09GK101438347SQ200780016205
公開日2009年5月20日 申請日期2007年4月23日 優(yōu)先權(quán)日2006年5月5日
發(fā)明者S·斯塔林加 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司