專(zhuān)利名稱(chēng)：將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法以及光驅(qū)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法及光驅(qū)。
背景技術(shù)：
目前的技術(shù)可利用光驅(qū)將資料寫(xiě)入光盤(pán)上(如CD、DVD、藍(lán)光光盤(pán)(BD)、 HD DVD等等，統(tǒng)稱(chēng)為光盤(pán))，要從光盤(pán)讀寫(xiě)資料時(shí)，主要利用激光光學(xué)讀 寫(xiě)單元(optical pick-up unit， 0PU)產(chǎn)生激光束，并掃描光盤(pán)表面反射 的激光束，便可讀寫(xiě)光盤(pán)的資料。
光盤(pán)由數(shù)個(gè)層所構(gòu)成，其中至少包含兩層功能層，第一層是信息層， 第二層是保護(hù)層，保護(hù)層基本上是一塊基材，保護(hù)信息層避免與外界接觸， 光學(xué)讀寫(xiě)單元的激光束可以穿透保護(hù)基材對(duì)光盤(pán)的信息層進(jìn)行讀寫(xiě)。
將光盤(pán)放置于光驅(qū)中，便形成可置換且便宜的資料儲(chǔ)存媒體。 世界各地生產(chǎn)光盤(pán)媒體的廠商眾多，因?yàn)榇罅可a(chǎn)，光盤(pán)的品質(zhì)差異
很大，雖然光盤(pán)必須符合嚴(yán)謹(jǐn)?shù)囊?guī)格，然而光驅(qū)制造商并無(wú)法完全控制所
讀寫(xiě)光盤(pán)的品質(zhì)。
因?yàn)楣獗P(pán)上的資料只有受到保護(hù)層保護(hù)，如果沒(méi)有使用其它針對(duì)保護(hù) 層的保護(hù)措施(如光盤(pán)盒)，當(dāng)保護(hù)層受損(如灰塵或刮痕)的話，會(huì)不容易 從光盤(pán)讀寫(xiě)資料，甚至可能無(wú)法讀寫(xiě)光盤(pán)。
因?yàn)楣獗P(pán)的制作及處理方式等問(wèn)題，將資料寫(xiě)入光盤(pán)信息層的程序便 不是完全可靠的。常見(jiàn)的解決方法是重新讀出剛寫(xiě)入的資料，比較讀出的 資料和原始資料，將錯(cuò)誤或有疑問(wèn)的資料重新放到不同的位置，這個(gè)方法 又稱(chēng)為"寫(xiě)后校驗(yàn)"(verify after write)功能，例如，針對(duì)藍(lán)光光盤(pán)， 藍(lán)光光盤(pán)格式有指定資料重新放置的區(qū)域，以配合缺陷管理(defect management)來(lái)處理?yè)Q位后的資料。要確保資料完整性，光驅(qū)有一處理模式，可以在將資料寫(xiě)入光盤(pán)之后， 立即啟動(dòng)寫(xiě)后校驗(yàn)的功能以校驗(yàn)寫(xiě)入的資料，如果對(duì)寫(xiě)入的資料有疑問(wèn) 時(shí)，資料便會(huì)放到重新放置的區(qū)域。
因此，為了要增加寫(xiě)入資料的完整性，便要開(kāi)啟"寫(xiě)后校驗(yàn)"功能， 不過(guò)"寫(xiě)后校驗(yàn)"功能會(huì)降低光驅(qū)的有效寫(xiě)入速度，為了了解"寫(xiě)后校驗(yàn)" 功能如何降低有效寫(xiě)入速度，下面提供一個(gè)簡(jiǎn)單的計(jì)算范例。 范例
假設(shè)寫(xiě)入及讀取速度為藍(lán)光光盤(pán)參考速度的2倍，"寫(xiě)后校驗(yàn)"程序
包括寫(xiě)入30個(gè)糾錯(cuò)碼(error correction code, ECC)區(qū)塊以及校驗(yàn)30 個(gè)糾錯(cuò)碼區(qū)塊等等，另外假設(shè)寫(xiě)入和校驗(yàn)動(dòng)作的整體時(shí)間等于150ms (結(jié)束 寫(xiě)入程序、跳回己寫(xiě)入糾錯(cuò)碼區(qū)塊的開(kāi)端、跳回開(kāi)始下一個(gè)要寫(xiě)入的糾錯(cuò) 碼區(qū)塊、回到寫(xiě)入程序等時(shí)間)，整體時(shí)間與讀或?qū)懙乃俣汝P(guān)系不大，于 參考速度下，要讀或?qū)懸粋€(gè)糾錯(cuò)碼區(qū)塊的時(shí)間大約為14.6ms。
因此，可以計(jì)算寫(xiě)入30個(gè)糾錯(cuò)碼區(qū)塊的所需時(shí)間，如果不校驗(yàn)資料，
則2 (寫(xiě)入程序還未結(jié)束)，如果校驗(yàn)資料，則219+ 219+150
為588ms(為寫(xiě)入時(shí)間+讀取時(shí)間+整體時(shí)間)。
根據(jù)計(jì)算的結(jié)果，如果使用「寫(xiě)后校驗(yàn)」功能，則有效寫(xiě)入速度從2X
219
2x^ = 0.751 一 掉到 588 寫(xiě)入速度。
對(duì)于較高的寫(xiě)入速度而言，整體時(shí)間所占的比重變大，效能也掉得更 多，例如以12X寫(xiě)入及12X讀取速度來(lái)做相同的計(jì)算，則有效寫(xiě)入速度從 12X掉到2X。
為了要改善"寫(xiě)后校驗(yàn)"功能的效率，有一種方式是在驅(qū)動(dòng)器中加入 容量大但昂貴的存儲(chǔ)器，如此可以一次寫(xiě)入大量的糾錯(cuò)碼區(qū)塊，不過(guò)這會(huì) 增加成本，同時(shí)在較高的寫(xiě)入速度下，能夠改善的效能有限。
另外，"寫(xiě)后校驗(yàn)"功能使得光驅(qū)需要更多的時(shí)間和動(dòng)作來(lái)將資料寫(xiě) 入光盤(pán)，這也減少光驅(qū)的壽命。
本發(fā)明的目的在于提供具有較高效率的資料寫(xiě)入方式。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的概念，提供一種將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法，該方法包括步
驟
a) 執(zhí)行一寫(xiě)入動(dòng)作，將一第一資料部分寫(xiě)入該光盤(pán)； a2)判斷是否要執(zhí)行步驟b);
b) 校驗(yàn)至少部分已寫(xiě)入該光盤(pán)的該第一資料部分，并判斷是否要改變
已寫(xiě)入該光盤(pán)的該第一資料部分的位置；以及
C)執(zhí)行另一寫(xiě)入動(dòng)作，將一第二資料部分寫(xiě)入該光盤(pán)。 根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一方法，其中該光盤(pán)上定義有多個(gè)區(qū)域，
同時(shí)步驟a2)包括檢查與該第一資料部分相同區(qū)域的先前寫(xiě)入資料是否
已執(zhí)行過(guò)步驟b)，如果不需要改變?cè)撓惹皩?xiě)入資料的位置，則判斷不執(zhí)行
步驟b)。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一方法，其中該光盤(pán)上定義有多個(gè)區(qū)域，
同時(shí)步驟a2)包括檢查與該第一資料部分相同區(qū)域的先前寫(xiě)入資料是否
已執(zhí)行過(guò)步驟b)，如果該先前寫(xiě)入資料不符合預(yù)定品質(zhì)條件，則判斷不執(zhí) 行步驟b)。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一方法，其中該預(yù)定品質(zhì)條件包括該寫(xiě)入 資料的一邊界。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一方法，其中如果在該第一資料部分進(jìn)行
步驟a)之前的預(yù)定時(shí)間內(nèi)，與該第一資料部分相同區(qū)域的先前寫(xiě)入資料己 進(jìn)行過(guò)步驟b)，則不對(duì)該第一資料部分執(zhí)行步驟b)。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一方法，其中步驟a2)包括使用先前搜集 的信息，該信息來(lái)自于預(yù)掃描至少部分的光盤(pán)。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一方法，其中該光盤(pán)上定義有多個(gè)區(qū)域， 該預(yù)掃描步驟預(yù)掃描每一區(qū)域的至少部分區(qū)域。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一方法，其中步驟a2)包括執(zhí)行一監(jiān)測(cè)功 能，其中該監(jiān)測(cè)功能包括監(jiān)測(cè)循軌錯(cuò)誤信號(hào)及聚焦錯(cuò)誤信號(hào)中的至少一個(gè) 信號(hào)或監(jiān)測(cè)震動(dòng)或監(jiān)測(cè)光盤(pán)錯(cuò)誤或監(jiān)測(cè)溫度。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一方法，其中步驟a2)包括于預(yù)備寫(xiě)入 該第一資料部分的光盤(pán)位置，檢査其預(yù)定距離內(nèi)的先前寫(xiě)入資料是否執(zhí)行過(guò)步驟b),如果不需要改變?cè)撓惹皩?xiě)入資料的位置，則不執(zhí)行步驟b)。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一方法，其中步驟a2)包括于預(yù)備寫(xiě)入 該第一資料部分的光盤(pán)位置，檢查其預(yù)定距離內(nèi)的先前寫(xiě)入資料是否執(zhí)行 過(guò)步驟b)，如果該先前寫(xiě)入資料不符合預(yù)定品質(zhì)條件，則判斷不執(zhí)行步驟 b)。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一方法，其中該預(yù)定品質(zhì)條件包括該寫(xiě)入 資料的邊界。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一方法，其中步驟a2)包括檢查該第一 資料部分是否將寫(xiě)入該光盤(pán)的特定位置，如果是，不執(zhí)行步驟b)。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一方法，其中步驟a2)包括檢查該第一
資料部分是否為一特定種類(lèi)資料，如果是，不執(zhí)行步驟b)。
根據(jù)本發(fā)明的概念，提供一種可接收光盤(pán)的光驅(qū)，該光驅(qū)包括一光學(xué) 讀寫(xiě)單元，用于產(chǎn)生一光束，經(jīng)該光盤(pán)表面反射后進(jìn)行掃描，讀寫(xiě)該光盤(pán) 的資料， 一控制單元，控制該光盤(pán)讀寫(xiě)單元，其中該控制單元包含一存儲(chǔ) 器或與一存儲(chǔ)器連接，該存儲(chǔ)器包含該控制單元可讀取及執(zhí)行的程序命令
列，該光驅(qū)用于
a) 執(zhí)行一寫(xiě)入動(dòng)作，將一第一資料部分寫(xiě)入該光盤(pán)； a2)決定是否要執(zhí)行步驟b);
b) 校驗(yàn)至少部分己寫(xiě)入該光盤(pán)的該第一資料部分，并判斷是否要改變 已寫(xiě)入該光盤(pán)的該第一資料部分的位置；以及
c) 執(zhí)行另一寫(xiě)入動(dòng)作，將一第二資料部分寫(xiě)入該光盤(pán)。 根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一光驅(qū)，其中該光盤(pán)上定義有多個(gè)區(qū)域，
步驟a2)包括檢査與該第一資料部分相同區(qū)域的先前寫(xiě)入資料是否已執(zhí) 行過(guò)步驟b)，如果不需要改變?cè)撓惹皩?xiě)入資料的位置，則判斷不執(zhí)行歩驟 b)。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一光盤(pán)，其中該光盤(pán)上定義有多個(gè)區(qū)域， 步驟a2)包括檢查與該第一資料部分相同區(qū)域的先前寫(xiě)入資料是否已執(zhí) 行過(guò)步驟b)，如果該先前寫(xiě)入資料不符合預(yù)定品質(zhì)條件，則判斷不執(zhí)行步 驟b)。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一光驅(qū)，其中該預(yù)定品質(zhì)條件包括該寫(xiě)入資料的邊界。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一光驅(qū)，其中如果在該第一資料部分進(jìn)行
過(guò)步驟a)之前的預(yù)定時(shí)間內(nèi)，與該第一資料部分相同區(qū)域的先前寫(xiě)入資料
已進(jìn)行過(guò)步驟b)，則不對(duì)該第一資料部分執(zhí)行步驟b)。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一光驅(qū)，其中步驟a2)包括使用先前搜集
的信息，該信息來(lái)自于預(yù)掃描至少部分的光盤(pán)。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一光驅(qū)，其中該光盤(pán)上定義有多個(gè)區(qū)域， 該預(yù)掃描步驟預(yù)掃描每一區(qū)域的至少部分區(qū)域。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一光驅(qū)，其中步驟a2)包括執(zhí)行一監(jiān)測(cè)功 能，其中該監(jiān)測(cè)功能包括監(jiān)測(cè)循軌錯(cuò)誤信號(hào)及聚焦錯(cuò)誤信號(hào)中的至少一個(gè) 信號(hào)或監(jiān)測(cè)震動(dòng)或監(jiān)測(cè)光盤(pán)錯(cuò)誤或包括監(jiān)測(cè)溫度。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一光驅(qū)，其中步驟a2)包括于預(yù)備寫(xiě)入 該第一資料部分的光盤(pán)位置，檢査其預(yù)定距離內(nèi)的先前寫(xiě)入資料是否執(zhí)行 過(guò)步驟b)，如果不需要改變?cè)撓惹皩?xiě)入資料的位置，則不執(zhí)行步驟b)。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一光驅(qū)，其中步驟a2)包括于預(yù)備寫(xiě)入 該第一資料部分的光盤(pán)位置，檢查其預(yù)定距離內(nèi)的先前寫(xiě)入資料是否執(zhí)行 過(guò)步驟b)，如果該先前寫(xiě)入資料不符合預(yù)定品質(zhì)條件，則判斷不執(zhí)行步驟 b)。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一光驅(qū)，其中該預(yù)定品質(zhì)條件包括該寫(xiě)入 資料的邊界。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一光驅(qū)，其中步驟a2)包括檢查該第一 資料部分是否將寫(xiě)入該光盤(pán)的特定位置，如果是，不執(zhí)行步驟b)。
根據(jù)一實(shí)施例，本發(fā)明提供一光驅(qū)，其中步驟a2)包括檢查該第一 資料部分是否為一特定種類(lèi)資料，如果是，不執(zhí)行步驟b)。


圖1為一示意圖，顯示已置入一光盤(pán)的光驅(qū)。 圖2為本發(fā)明實(shí)施例的流程圖。 圖3為本發(fā)明實(shí)施例的流程圖。 圖4為一光盤(pán)的上視圖。圖5為本發(fā)明實(shí)施例的流程圖。 圖6為本發(fā)明實(shí)施例的流程圖。
具體實(shí)施方式
圖1顯示一光驅(qū)ODD以及一光盤(pán)0D部分示意圖，光盤(pán)0D的種類(lèi)有CD、 DVD、藍(lán)光光盤(pán)(BD)、 HD-DVD等，光盤(pán)OD通常是圓盤(pán)形狀，即圓形物中間 有一孔洞，如此可讓光驅(qū)ODD接收及驅(qū)動(dòng)(旋轉(zhuǎn))該光盤(pán)0D。光驅(qū)0DD包含一光學(xué)讀寫(xiě)單元0PU，用于產(chǎn)生一光束，如激光束LB， 由掃描光盤(pán)OD表面的反射，可擦寫(xiě)光盤(pán)OD的資料，光學(xué)讀寫(xiě)單元OPU可 以產(chǎn)生用于寫(xiě)入數(shù)據(jù)的寫(xiě)入光束以及用于讀取資料的讀取光束，寫(xiě)入光束 和讀取光束可以有不同的強(qiáng)度。光學(xué)讀寫(xiě)單元0PU沿著平行于光盤(pán)0D表面的方向移動(dòng)，如圖1中水 平方向的虛線箭頭所指，另外，光學(xué)讀寫(xiě)單元0PU還可沿著垂直于光盤(pán)0D 表面的方向移動(dòng)，使激光束LB的聚焦平面定位于該光盤(pán)0D的信息層。光驅(qū)ODD包含至少一個(gè)驅(qū)動(dòng)器，例如使光盤(pán)0D沿著旋轉(zhuǎn)軸RA旋轉(zhuǎn)的 旋轉(zhuǎn)組件R，還可以提供其它的驅(qū)動(dòng)器以正確定位光盤(pán)0D和激光束LB間 的相對(duì)位置，這里的"驅(qū)動(dòng)器"泛指所有可以調(diào)整運(yùn)動(dòng)的裝置，例如液壓 系統(tǒng)、機(jī)械手臂等等?？刂茊卧狢U控制光學(xué)讀寫(xiě)單元0PU和旋轉(zhuǎn)組件R的動(dòng)作，使激光束 LB能以適當(dāng)?shù)姆绞綊呙韫獗P(pán)0D表面，例如沿著光盤(pán)上的螺旋軌跡掃描。控制單元CU更用于控制光學(xué)讀寫(xiě)單元0P(J讀寫(xiě)光盤(pán)0D的資料，在寫(xiě) 入操作時(shí)，控制單元CU提供要寫(xiě)入的數(shù)據(jù)給光學(xué)讀寫(xiě)單元OPU，在讀取操 作時(shí)，光學(xué)讀寫(xiě)單元OPU可傳送從光盤(pán)OD讀出的資料給控制單元CU，以便進(jìn)行后續(xù)的處理?？刂茊卧狢U可包含存儲(chǔ)器或連接一存儲(chǔ)器ME，存儲(chǔ)器ME內(nèi)含有可供 控制單元CU讀取及執(zhí)行的程序命令列，以進(jìn)行說(shuō)明書(shū)中的一個(gè)或多個(gè)實(shí) 施例，存儲(chǔ)器ME還可以含有要寫(xiě)入光盤(pán)0D的資料，存儲(chǔ)器ME可選擇任 何適合的種類(lèi)，例如R0M、 RAM、 EPR0M等；于一實(shí)施例中還提供了一種計(jì) 算機(jī)程序，當(dāng)計(jì)算機(jī)裝置加載該計(jì)算機(jī)程序，可進(jìn)行說(shuō)明書(shū)中的一個(gè)或多 個(gè)實(shí)施例；另外亦提供一種資料載體，內(nèi)含該計(jì)算機(jī)程序，該資料載體可為儲(chǔ)存資料的用的媒體，例如光盤(pán)、CD、 DVD等等。 位置控制光驅(qū)ODD通常沿著光盤(pán)上的螺旋軌跡將資料寫(xiě)入，要保持光學(xué)讀寫(xiě)單 元0PU所產(chǎn)生的激光束LB沿著正確軌跡并適當(dāng)聚焦，便需要驅(qū)動(dòng)器移動(dòng) 光盤(pán)0D及光學(xué)讀寫(xiě)單元OPU的相對(duì)位置，使得光盤(pán)OD位于激光束LB的 焦點(diǎn)處，同時(shí)亦控制光盤(pán)OD及激光束LB的相對(duì)徑向位置。為了控制驅(qū)動(dòng)器的移動(dòng)，從光盤(pán)OD反射的激光光線獲得位置錯(cuò)誤信 號(hào)，該信號(hào)用于控制驅(qū)動(dòng)器的徑向位移的稱(chēng)為循軌錯(cuò)誤信號(hào)(tracking error signal)TE，用于控制驅(qū)動(dòng)器的聚焦方向位移的稱(chēng)為聚焦錯(cuò)誤信號(hào) (focus error signal)FE。要達(dá)到穩(wěn)定的循軌性能，循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE和 聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE都要控制在一定的范圍內(nèi)?？商峁┮环答伝芈芬越档脱?軌錯(cuò)誤信號(hào)TE及聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE。 實(shí)施例請(qǐng)注意這里所提供的實(shí)施例也可應(yīng)用至光盤(pán)OD以外的儲(chǔ)存媒體，如 可寫(xiě)入資料并進(jìn)行校驗(yàn)的資料儲(chǔ)存器等等。根據(jù)傳統(tǒng)的"寫(xiě)后校驗(yàn)"功能，會(huì)檢查寫(xiě)入光盤(pán)的全部資料，本發(fā)明 實(shí)施例提供的"寫(xiě)后校驗(yàn)"功能則是預(yù)測(cè)及/或偵測(cè)何時(shí)寫(xiě)入光盤(pán)的資料 是"可能有問(wèn)題的"，沒(méi)有疑問(wèn)的資料就不校驗(yàn)，如此可以節(jié)省時(shí)間并減 少光驅(qū)的動(dòng)作，包括停止、跳回、開(kāi)始、讀取等等動(dòng)作，這個(gè)技術(shù)稱(chēng)為"寫(xiě) 后快速校驗(yàn)"功能。因此，本發(fā)明提供將資料寫(xiě)入光盤(pán)OD的方法，該方法包括步驟a) 執(zhí)行一寫(xiě)入動(dòng)作，將一第一資料部分寫(xiě)入該光盤(pán)； a2)判斷是否要執(zhí)行步驟b);b) 校驗(yàn)至少部分已寫(xiě)入該光盤(pán)的該第一資料部分，并判斷是否要改變 已寫(xiě)入該光盤(pán)的該第一資料部分的位置；以及c) 執(zhí)行另一寫(xiě)入動(dòng)作，將一第二資料部分寫(xiě)入該光盤(pán)。 如果產(chǎn)生讀回問(wèn)題或資料毀損的風(fēng)險(xiǎn)較高，寫(xiě)入的資料便視為可能有問(wèn)題的資料，有疑問(wèn)的資料不一定需要改變位置，只是表示資料要先經(jīng)過(guò) 校驗(yàn)，如果寫(xiě)入的資料不能讀回的風(fēng)險(xiǎn)較低，則寫(xiě)入的資料便當(dāng)做沒(méi)有問(wèn) 題。實(shí)施例同時(shí)提供一基本原則，說(shuō)明如何偵測(cè)或預(yù)測(cè)寫(xiě)入的資料有/無(wú) 問(wèn)題。對(duì)于大多數(shù)的光盤(pán)，只有非常小部份的資料可能會(huì)有問(wèn)題，因此校驗(yàn) 寫(xiě)入資料其實(shí)不需要那么頻繁，因此，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)有 因?yàn)?寫(xiě)后校驗(yàn)"功能會(huì)降低效率，利用"寫(xiě)后快速校驗(yàn)"功能可 減少所降低的效率； 不需要新增存儲(chǔ)器，因此節(jié)省成本；以及 因?yàn)橛涗浺粡埞獗P(pán)所需的動(dòng)作及時(shí)間都減少了，因此增加光驅(qū)的壽人叩o"寫(xiě)后快速校驗(yàn)"功能只有當(dāng)資料可能有問(wèn)題時(shí)才會(huì)中斷寫(xiě)入程序， 先搜集信息來(lái)判斷寫(xiě)入資料是否有問(wèn)題，以避免讀回過(guò)程發(fā)生錯(cuò)誤，下面 將說(shuō)明如何進(jìn)行預(yù)測(cè)，控制單元CU要能使用這些信息，例如可將信息儲(chǔ) 存于存儲(chǔ)器ME中，供控制單元CU存取。 流程圖1圖2顯示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的控制單元CU所執(zhí)行的流程圖。 根據(jù)第一歩驟100，控制單元CU開(kāi)始寫(xiě)入動(dòng)作；于步驟101中，將資 料寫(xiě)入光盤(pán)0D，控制單元CU可控制光學(xué)讀寫(xiě)單元OPU及驅(qū)動(dòng)器，于光盤(pán) 0D中寫(xiě)入第一資料部分(如30個(gè)糾錯(cuò)碼區(qū)塊)；寫(xiě)入第一資料部分之后， 于步驟102中，控制單元CU檢查是否需要進(jìn)行校驗(yàn)，亦即資料是否可能有問(wèn)題，這可能需要根據(jù)先前搜集的信息來(lái)進(jìn)行判斷，先前搜集的信息可 以?xún)?chǔ)存于存儲(chǔ)器ME，供控制單元CU存取。如果不需要校驗(yàn)，控制單元CU回到步驟lOl，寫(xiě)入資料的次一資料部 分，如果不需要校驗(yàn)，就不會(huì)因校驗(yàn)而中斷寫(xiě)入程序，因?yàn)閷?xiě)入程序持續(xù) 進(jìn)行，便不會(huì)降低效率；如果需要校驗(yàn)，控制單元CU前進(jìn)到步驟103，讀 回寫(xiě)入資料并與原始資料比較。于步驟104中，判斷是否要改變資料的位 置。如果寫(xiě)入資料沒(méi)有偵測(cè)到錯(cuò)誤，或是寫(xiě)入資料符合預(yù)定品質(zhì)要求，像 是包含寫(xiě)入資料應(yīng)有的邊界，控制單元CU便回到歩驟lOl，寫(xiě)入次一資料 部分。如果在寫(xiě)入資料內(nèi)偵測(cè)到錯(cuò)誤(或是邊界太低)，控制單元CU進(jìn)行歩驟105，將寫(xiě)入資料重新放到光盤(pán)的其它位置，然后，控制單元CU回到步 驟101，寫(xiě)入資料的次一部分，即使資料沒(méi)有錯(cuò)誤，但是邊界太小，控制 單元CU也可以決定改變資料的位置。換位的資料也是由步驟102判斷是否需要再校驗(yàn)，因此步驟105之后， 控制單元CU —樣回到步驟102，事實(shí)上，控制單元CU也可以在步驟102 中判斷一定要校驗(yàn)換位的資料。當(dāng)然，如果沒(méi)有數(shù)據(jù)要寫(xiě)入了，控制單元CU便結(jié)束進(jìn)行圖2的流程圖。下列實(shí)施例中提供數(shù)種選項(xiàng)及可能，說(shuō)明控制單元CU如何于步驟102 中判斷是否要進(jìn)行校驗(yàn)。 實(shí)施例1本發(fā)明可以偵測(cè)或預(yù)測(cè)寫(xiě)入資料是否可能有問(wèn)題，我們先討論為什么 光盤(pán)0D的資料品質(zhì)會(huì)改變，再來(lái)討論如何偵測(cè)或預(yù)測(cè)有問(wèn)題資料的方法。 通常影響寫(xiě)入資料品質(zhì)的原因有三1) 光盤(pán)屬性；2) 光驅(qū)屬性；以及3) 外部事件。以下將分項(xiàng)討論 l)光盤(pán)屬性因?yàn)楫a(chǎn)品制程的公差(tolerance)，整片光盤(pán)OD的某些屬性會(huì)不一致， 最典型的例子便是基材(保護(hù)層)厚度，這類(lèi)變動(dòng)的屬性會(huì)影響寫(xiě)入資料的 品質(zhì)，不過(guò)通常是以漸進(jìn)的方式，當(dāng)?shù)谝毁Y料部分寫(xiě)入光盤(pán)0D某位置的 品質(zhì)良好，于次一軌寫(xiě)入的次一資料部分通常也有良好的品質(zhì)，這里所定 義的資料軌是指一整圈的螺旋溝紋，通常接近次一軌的寫(xiě)入也有良好品 質(zhì)，這里所謂的接近其定義和儲(chǔ)存媒體有關(guān)，通?？梢?.5mm為標(biāo)準(zhǔn)。另一種影響光盤(pán)屬性的便是光盤(pán)缺陷(defect)，嚴(yán)重缺陷像是基材 (保護(hù)層)上的灰塵，會(huì)漸漸改變光盤(pán)屬性，局部缺陷像是指印、黑點(diǎn)、氣 泡、或刮痕，可能突然改變或逐漸改變(兩種情況都有可能)一個(gè)位置與下 一位置或相鄰位置的資料品質(zhì)，另外，局部缺陷也使得徑向或聚焦循軌的 效能不再可靠。2) 光驅(qū)屬性與光盤(pán)屬性相同，光驅(qū)屬性可能是突然改變或逐漸改變。 大部分的光驅(qū)ODD屬性會(huì)隨著時(shí)間、溫度或位置慢慢改變，例如光學(xué) 讀寫(xiě)單元OPU的屬性變化呈一溫度函數(shù)。典型的光驅(qū)ODD屬性快速變化發(fā)生于讀寫(xiě)模式的切換，從讀取模式切換到寫(xiě)入模式，許多參數(shù)(像是激光功率)會(huì)急速改變。因?yàn)榧す夤β实娜菰S誤差小，同時(shí)切換的時(shí)間很短(通常使用一反饋 信號(hào))，讀/寫(xiě)轉(zhuǎn)換間可能出現(xiàn)問(wèn)題，如果這個(gè)程序能正確進(jìn)行，那么下一 次通常也不會(huì)有問(wèn)題，所以校驗(yàn)第一次的讀寫(xiě)轉(zhuǎn)換便可知道之后的讀/寫(xiě) 轉(zhuǎn)換會(huì)不會(huì)有問(wèn)題。另外，讀/寫(xiě)信號(hào)在某些時(shí)候會(huì)破壞循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE和聚焦錯(cuò)誤信號(hào) FE，影響的情況常常不同(通常跟光盤(pán)位置有關(guān))，但是可以測(cè)得，例如 監(jiān)測(cè)循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE和聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE、或監(jiān)測(cè)缺陷大小。3) 外部事件外部事件包括震動(dòng)、搖晃、或是電源供應(yīng)突然不足，通常無(wú)法預(yù)測(cè)。 偵測(cè)/預(yù)側(cè)可能有問(wèn)題的資料實(shí)施例中的一個(gè)重要概念便是屬性變化或外部事件可能會(huì)影響光盤(pán) 上的資料品質(zhì)，因此影響到寫(xiě)入資料的讀回能力。即便光盤(pán)內(nèi)有糾錯(cuò)(error correction),屬性變化或是外部事件還是可能使得光盤(pán)上的資料無(wú)法再讀出。這里所使用的"糾錯(cuò)"是指光盤(pán)格式的糾錯(cuò)，例如藍(lán)光光盤(pán)使用32 個(gè)極性位更正1個(gè)LDC字符，1個(gè)糾錯(cuò)碼中有304個(gè)LDC字符，如果LDC 字符內(nèi)有太多錯(cuò)誤，用于糾錯(cuò)的極性位可能無(wú)法更正LDC字符，便造成資 料損毀。在寫(xiě)入動(dòng)作時(shí)，屬性變化或外部事件可能造成其它的錯(cuò)誤，像是離軌 (off-track)情況或是失焦，大部分這類(lèi)錯(cuò)誤對(duì)正確寫(xiě)入資料及讀回寫(xiě)入 資料的能力有嚴(yán)重的影響。要檢查寫(xiě)入資料是否可能有問(wèn)題，可利用幾個(gè)偵測(cè)原則，可以同時(shí)使 用這些原則以確保有較佳的預(yù)測(cè)/偵測(cè)效果，再來(lái)將討論幾種偵測(cè)及/或預(yù) 測(cè)資料是否有問(wèn)題的方法，步驟102便可使用這些方法來(lái)判斷是否需要校驗(yàn)。光盤(pán)區(qū)域方法根據(jù)第一種方法，考慮光盤(pán)屬性的緩慢變化，根據(jù)此方法，將光盤(pán)0D 分成多個(gè)區(qū)域，如果于某個(gè)特定時(shí)段中寫(xiě)入特定區(qū)域的資料沒(méi)有問(wèn)題，則 屬性的緩慢變化(例如溫度變化)在同樣時(shí)段內(nèi)并不會(huì)在這個(gè)區(qū)域形成有 問(wèn)題的資料。這些區(qū)域?qū)⒃谡f(shuō)明圖4時(shí)做進(jìn)一步的說(shuō)明。屬性緩慢變化包括光盤(pán)本身的品質(zhì)(如基材厚度變化)、光盤(pán)上的灰塵、不同組件的溫度如光盤(pán)0D、光學(xué)讀寫(xiě)單元OPU等組件的溫度。根據(jù)系統(tǒng)(光驅(qū))及應(yīng)用程序定義各區(qū)域，另外還可根據(jù)(或預(yù)估)特定 屬性(如溫度)的變化速度及系統(tǒng)可以處理的缺陷大小來(lái)定義區(qū)域。 根據(jù)這些信息及其它因素，光驅(qū)的制造商可以定義區(qū)域大小，如一個(gè)區(qū)域從內(nèi)資料區(qū)開(kāi)始算半徑為0.5mm， 一個(gè)區(qū)域可能是具有一寬度(半徑) 的完整環(huán)狀。其它因素包括可讓系統(tǒng)檢查區(qū)域的時(shí)間有多久、以及有多少存儲(chǔ)器可 使用，較多的區(qū)域會(huì)需要較多的量測(cè)(較多的時(shí)間)，并且要儲(chǔ)存較多的信 息(需要較多的存儲(chǔ)器)。所以本發(fā)明提供一方法，其中光盤(pán)OD上定義有多個(gè)區(qū)域，其中步驟 a2)包括檢査與該第一資料部分相同區(qū)域的先前寫(xiě)入資料是否已執(zhí)行過(guò) 步驟b)，如果不需改變?cè)撓惹皩?xiě)入資料的位置，則判斷不執(zhí)行步驟b); 或是步驟a2)包括檢查與該第一資料部分相同區(qū)域的先前寫(xiě)入資料是否 己執(zhí)行過(guò)步驟b)，如果該先前寫(xiě)入資料不符合預(yù)定品質(zhì)條件，則判斷不執(zhí) 行步驟b)，預(yù)定品質(zhì)條件可包括該寫(xiě)入資料的邊界。同樣地，其中如果在該第一資料部分進(jìn)行步驟a)之前的預(yù)定時(shí)間內(nèi)，與該第一資料部分相同區(qū)域的先前寫(xiě)入資料己進(jìn)行過(guò)歩驟b)，則不對(duì)該第 一資料部分執(zhí)行步驟b)。此部分將于稍后解釋。 預(yù)掃描方法要了解寫(xiě)入資料的品質(zhì)或偵測(cè)光盤(pán)屬性，可以在寫(xiě)入程序前先進(jìn)行掃 描，這稱(chēng)為預(yù)掃描，根據(jù)預(yù)掃描的結(jié)果，可定義光盤(pán)的區(qū)域并標(biāo)示要進(jìn)行"寫(xiě)后校驗(yàn)"功能的區(qū)域。當(dāng)然，預(yù)掃描會(huì)花去相當(dāng)?shù)臅r(shí)間，因而影響效率，不過(guò)總體來(lái)說(shuō)，跟 之前描述的"寫(xiě)后校驗(yàn)"功能相比，光驅(qū)ODD還是進(jìn)行了比較少的動(dòng)作(停止及跳回動(dòng)作)，所以這個(gè)方法仍舊延長(zhǎng)了光驅(qū)ODD的壽命，另外，當(dāng)光 驅(qū)0DD閑置時(shí)，也可以進(jìn)行預(yù)掃描。要限制效率降低的程度，也可以不要預(yù)掃描整個(gè)光盤(pán)，僅預(yù)掃描部分 光盤(pán)，如每個(gè)區(qū)域只掃描一圈(再次說(shuō)明，區(qū)域是圓形環(huán)狀區(qū)域)。這個(gè)方法可用于測(cè)量特定區(qū)域的資料品質(zhì)，也可以測(cè)量其它光盤(pán)屬 性，例如光盤(pán)缺陷(指印、刮痕、黑點(diǎn))，同樣地，預(yù)掃描方法也需要定義 區(qū)域。因此本發(fā)明提供一方法，其中步驟a2)包括使用先前搜集的信息，該 信息來(lái)自于預(yù)掃描至少部分的光盤(pán)OD，同時(shí)本發(fā)明提供一方法，其中于該 光盤(pán)上定義有多個(gè)區(qū)域，該預(yù)掃描步驟預(yù)掃描每一區(qū)域的至少部分區(qū)域， 這部分將于稍后做更進(jìn)一步的說(shuō)明。 監(jiān)測(cè)功能進(jìn)一步可利用監(jiān)測(cè)功能偵測(cè)或測(cè)量隨時(shí)間變化的屬性，例如外部震 動(dòng)、局部光盤(pán)缺陷、溫度變化等等。利用震動(dòng)檢測(cè)器(加速度計(jì))可以偵測(cè)外部震動(dòng)，當(dāng)偵測(cè)到震動(dòng)，震動(dòng) 檢測(cè)器發(fā)送一信號(hào)給控制單元CU，指示需要進(jìn)行校驗(yàn)。利用溫度計(jì)可偵測(cè)溫度變化，當(dāng)偵測(cè)到溫度變化超過(guò)預(yù)定范圍，溫度 計(jì)傳送一信號(hào)給控制單元CU，指示需要進(jìn)行校驗(yàn)。所以本發(fā)明提供一方法，其中步驟a2)包括執(zhí)行一監(jiān)測(cè)功能，該監(jiān)測(cè) 功能可以包括 監(jiān)測(cè)循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE及聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE中的至少一個(gè)信號(hào)； 監(jiān)測(cè)震動(dòng)； 監(jiān)測(cè)光盤(pán)錯(cuò)誤；或 監(jiān)測(cè)溫度。這部份將于稍后做進(jìn)一步的說(shuō)明。于某些情況下，可以事先知道某些寫(xiě)入動(dòng)作危險(xiǎn)性比較高，亦即以某些寫(xiě)入動(dòng)作寫(xiě)入的資料比較可能會(huì)有問(wèn)題，例如，在調(diào)整光學(xué)讀寫(xiě)單元0PU 產(chǎn)生的激光功率當(dāng)時(shí)或之后所進(jìn)行的寫(xiě)入動(dòng)作，所寫(xiě)入的資料可能會(huì)有問(wèn)題。另外，光盤(pán)中重新放置的區(qū)域或其它預(yù)定區(qū)域(光盤(pán)信息顯示這部分 狀況比較差)的寫(xiě)入資料也可能是有問(wèn)題的。換位資料放在光盤(pán)的特定區(qū)域， 一次換位能的寫(xiě)入的資料有限(如寫(xiě) 入l糾錯(cuò)碼區(qū)塊)，因?yàn)閾Q位資料包含很多的短糾錯(cuò)碼區(qū)塊，這些區(qū)塊的 寫(xiě)入可能經(jīng)過(guò)多個(gè)區(qū)段，因此在這個(gè)區(qū)域中，光驅(qū)無(wú)法以最佳效率進(jìn)行， 依照需求，對(duì)于重新放置區(qū)域的寫(xiě)入資料總是需要進(jìn)行校驗(yàn)。于藍(lán)光光盤(pán)中，可以指示特定區(qū)域是否正常，如果因?yàn)槟承┰虻玫?光盤(pán)信息(其它光驅(qū)編輯)指示某些區(qū)域不正常，那么在這個(gè)區(qū)域的寫(xiě)入動(dòng) 作都要經(jīng)過(guò)校驗(yàn)。對(duì)于某些種類(lèi)的資料，因?yàn)槭潜容^重要的資料，所以也當(dāng)成可能有問(wèn) 題的資料。所以，利用上述技術(shù)，可偵測(cè)哪些資料可能有問(wèn)題和哪些資料沒(méi)問(wèn)題。因此本發(fā)明提供一方法，其中步驟a2)包括檢查第一資料部分是否位于光盤(pán)OD的特定位置，如果是，執(zhí)行步驟b);同時(shí)提供一方法，其中歩驟a2)包括檢查第一資料部分是否為一特定種類(lèi)資料，如果是，不執(zhí)行歩 驟b)，這部份將于稍后做更進(jìn)一步的說(shuō)明。 流程圖2圖3顯示"寫(xiě)后快速校驗(yàn)"功能的可能實(shí)施例，說(shuō)明控制單元CU可 執(zhí)行的流程圖，當(dāng)校驗(yàn)值為T(mén)RUE時(shí)，便會(huì)校驗(yàn)寫(xiě)入資料，當(dāng)校驗(yàn)值為FALSE 時(shí)，不會(huì)校驗(yàn)資料，控制單元CU根據(jù)旗標(biāo)為T(mén)RUE或FALSE來(lái)判斷是否要 校驗(yàn)資料，旗標(biāo)只是用來(lái)指示資料是否可能有問(wèn)題。開(kāi)始之后，將光盤(pán)OD分成多個(gè)(假想)光盤(pán)區(qū)域，如圖4所示的圓形 環(huán)狀區(qū)域，圖4顯示光盤(pán)0D的上視圖，其中光盤(pán)OD被分成四個(gè)光盤(pán)區(qū)域 21、 22、 23、 24，當(dāng)然光盤(pán)區(qū)域的數(shù)量可以自己選定。啟動(dòng)之后，因?yàn)檫€不知道光盤(pán)的品質(zhì)，所以所有光盤(pán)區(qū)域21、 22、 23、 24的校驗(yàn)值為T(mén)RUE，表示所有的寫(xiě)入資料都要經(jīng)過(guò)校驗(yàn)，當(dāng)資料的第一 部分寫(xiě)入第一區(qū)域21，讀出資料進(jìn)行校驗(yàn)，根據(jù)校驗(yàn)結(jié)果，可判斷在區(qū)域21的資料是否有問(wèn)題，如果資料沒(méi)有問(wèn)題，就不用在校驗(yàn)這個(gè)區(qū)域21的 其它資料。有很多方法可判斷資料是否有問(wèn)題，當(dāng)然，如果偵測(cè)到一個(gè)錯(cuò)誤，那 么資料便是有問(wèn)題，不過(guò)還有另一種檢查是確認(rèn)是否有足夠的邊界，也可 以用來(lái)預(yù)測(cè)資料是否品質(zhì)良好，但是有其限制，他們常常變動(dòng)，這些變動(dòng) 必須要比測(cè)量邊界小得多。一種可用來(lái)測(cè)量邊界的方法為相關(guān)領(lǐng)域技術(shù)人員所知的錯(cuò)誤統(tǒng)計(jì)，也 可使用其它方法，但是上述方法相當(dāng)適合用來(lái)測(cè)量邊界，因?yàn)榭蓽y(cè)得絕對(duì) 屬性，可知何時(shí)發(fā)生問(wèn)題，事實(shí)上，可將邊界轉(zhuǎn)換成實(shí)際測(cè)量。當(dāng)資料寫(xiě)入光盤(pán)0D而不需校驗(yàn)時(shí)，快速監(jiān)測(cè)回路檢查是否有不利的 情況(如局部光盤(pán)缺陷)發(fā)生，如果偵測(cè)到不利的情況，會(huì)將區(qū)域標(biāo)示成問(wèn)題區(qū)域，資料仍?xún)?chǔ)存在存儲(chǔ)器ME中供控制單元CU存取，可以用來(lái)進(jìn)行校 驗(yàn)，區(qū)域的剩余部分繼續(xù)寫(xiě)入并進(jìn)行校驗(yàn)，于圖3中，流程圖顯示開(kāi)始步 驟200，開(kāi)始步驟200之后，于步驟201中，光盤(pán)OD的所有區(qū)域都設(shè)為校 驗(yàn)值為T(mén)RUE，在下一步驟202中，檢查寫(xiě)入動(dòng)作正發(fā)生的目前區(qū)域21的 校驗(yàn)值為T(mén)RUE或是FALSE,控制單元CU也可以檢查是否正進(jìn)行寫(xiě)入動(dòng)作。如果校驗(yàn)值為FALSE,表示不需要進(jìn)行校驗(yàn)，控制單元CU可以前進(jìn)到 步驟203、 204、 205，因?yàn)樵谧x或?qū)憰r(shí)可以同時(shí)進(jìn)行監(jiān)測(cè)功能，所以步驟 203檢查的同時(shí)還是持續(xù)執(zhí)行寫(xiě)入動(dòng)作，如果在讀取時(shí)偵測(cè)到不利情況(步 驟204)，并不會(huì)標(biāo)示該區(qū)域?yàn)閱?wèn)題區(qū)域(針對(duì)特定的演算)。監(jiān)測(cè)回路并不知道光驅(qū)現(xiàn)在正在讀或?qū)?為快速輪詢(xún)(polling)回 路)，所以當(dāng)切換到讀取模式或需要進(jìn)行步驟204(可一直執(zhí)行步驟204)， 控制單元CU必須停止監(jiān)測(cè)。如此，可進(jìn)行步驟204，檢查是否發(fā)生任何不利情況，可利用前述方 法的輸入來(lái)進(jìn)行判斷，如果沒(méi)有出現(xiàn)不利情況，控制單元CU進(jìn)行步驟 205(該回路為監(jiān)測(cè)回路，所以步驟204、 204、 205的檢查非常快速，大約 22ms，步驟204不用等待)，檢查寫(xiě)入動(dòng)作是否仍在同樣的區(qū)域21 ，如果 是，便不需要校驗(yàn)，控制單元CU回到步驟203，步驟204、 204、 205形成 一個(gè)回路，直到所有的資料已寫(xiě)入完畢、或是偵測(cè)到不利情況而需要進(jìn)行 校驗(yàn)、或是前進(jìn)下一區(qū)域等等，所有的情況都會(huì)使控制單元CU回到步驟202。如果步驟202因?yàn)樾ｒ?yàn)值為T(mén)RUE而判斷需要校驗(yàn)，控制單元CU繼續(xù) 步驟209-213。于步驟209測(cè)量資料的品質(zhì)，于下一個(gè)步驟211中，判斷資料是否可 能有問(wèn)題。如果于步驟211中判斷寫(xiě)入資料沒(méi)有問(wèn)題，于步驟212中，改變這個(gè) 區(qū)域的設(shè)定校驗(yàn)值為FALSE，然后控制單元CU回到步驟202;如果步驟 211認(rèn)為資料有問(wèn)題，控制單元CU進(jìn)行歩驟213，校驗(yàn)資料，如果有需要， 改變資料的位置，之后回到步驟202，但不改變這個(gè)區(qū)域的設(shè)定，所以校 驗(yàn)值保持TRUE。不管判斷資料是否有問(wèn)題(步驟211)，都要分析寫(xiě)入資料并測(cè)量邊界， 該判斷區(qū)域的邊界要大于寫(xiě)入資料的邊界。上述演算為"寫(xiě)后快速校驗(yàn)"功能的一個(gè)實(shí)施范例，當(dāng)然可使用其它 更復(fù)雜的算法則。請(qǐng)注意，監(jiān)測(cè)功能或是前述預(yù)測(cè)方法所得的信息可輸入步驟204，其 中步驟209-212主要是根據(jù)上述的光盤(pán)區(qū)域法。 實(shí)施例2如前所述，先掃描光盤(pán)OD尋找光盤(pán)缺陷或光盤(pán)錯(cuò)誤可能會(huì)降低效率， 另外，無(wú)法預(yù)測(cè)的事件(如外部震動(dòng))和光盤(pán)上無(wú)法偵測(cè)的缺陷會(huì)立即影響 寫(xiě)入資料(已經(jīng)于實(shí)施例1中說(shuō)明)。因此，于此實(shí)施例中，可于寫(xiě)入動(dòng)作時(shí)偵測(cè)此不利情況(如偵測(cè)可能 有問(wèn)題的資料)，此實(shí)施例討論無(wú)法預(yù)測(cè)的情況(已于實(shí)施例1中說(shuō)明，參 考步驟204)，本實(shí)施例可為上述步驟204的一個(gè)可能實(shí)施方式，也可以是無(wú)關(guān)的實(shí)施例。不可預(yù)測(cè)的情況分為兩類(lèi)。 l)外部事件典型的外部事件為外部震動(dòng)，這類(lèi)事件無(wú)法預(yù)測(cè)，并會(huì)導(dǎo)致寫(xiě)入資料 產(chǎn)生問(wèn)題。因?yàn)橥獠空饎?dòng)有可能導(dǎo)致離軌狀況或聚焦失敗，所以寫(xiě)入的資料可能 會(huì)有問(wèn)題，有可能局部性降低聚焦和徑向方向的循軌品質(zhì)，而損壞資料品質(zhì)。2)未偵測(cè)到的光盤(pán)缺陷寫(xiě)入程序可能會(huì)進(jìn)入光盤(pán)缺陷部分，這是因?yàn)轭A(yù)掃描沒(méi)有偵測(cè)到這個(gè) 缺陷或是沒(méi)有先做預(yù)掃描。寫(xiě)入資料會(huì)發(fā)生問(wèn)題的原因和前面所述外部事件的原因相同，另外， 缺陷也會(huì)妨礙光盤(pán)寫(xiě)入程序，此類(lèi)的缺陷有氣泡、刮痕和黑點(diǎn)等。對(duì)于外部事件及未偵測(cè)到的光盤(pán)缺陷，資料是否會(huì)有問(wèn)題的主要原因 是循軌或聚焦的能力(后者針對(duì)藍(lán)光光盤(pán)而非CD)，這稱(chēng)為循軌性能，包含循軌及聚焦能力。如前所述，為了得到穩(wěn)定的循軌性能，循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE和聚焦錯(cuò)誤 信號(hào)FE都要保持在范圍內(nèi)，當(dāng)循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE或聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE超過(guò) 預(yù)定的門(mén)檻值，便表示發(fā)生不可預(yù)測(cè)的事件，因此偵測(cè)到不利狀況，導(dǎo)致 寫(xiě)入資料有問(wèn)題。監(jiān)測(cè)循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE及/或聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE有很多種方式，這里敘述一種可能的實(shí)施方式。首先，循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE及/或聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE通過(guò)低通濾波器，形成FE^為聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE的低通濾波信號(hào) TEw為循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE的低通濾波信號(hào)用于偵測(cè)不穩(wěn)定循軌性能的門(mén)檻值可以設(shè)為FEum和TEHm，當(dāng)循軌錯(cuò) 誤信號(hào)TE的低通濾波信號(hào)或聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE的低通濾波信號(hào)分別超過(guò) TEn,n或FE^，表示發(fā)生不利狀況而且資料可能有問(wèn)題，因此進(jìn)行校驗(yàn)寫(xiě)入 資料(步驟103)。所以在寫(xiě)入資料時(shí)可以重復(fù)下列監(jiān)測(cè)回路 讀取TEw; 如果|TELP| 〉 TElira，送出校驗(yàn)中斷信號(hào)； 讀取FElp; 如果|FELP| 〉 FElim，送出校驗(yàn)中斷信號(hào)；以及 如果收到校驗(yàn)中斷信號(hào)，即刻開(kāi)始校驗(yàn)寫(xiě)入資料。 在偵測(cè)當(dāng)時(shí)以及之前的剛寫(xiě)入資料必須要經(jīng)過(guò)校驗(yàn)，光驅(qū)0DD的反應(yīng)速度有多快，以及如何控制光驅(qū)ODD的存儲(chǔ)器ME，可由以下指出有問(wèn)題的資料依然要能被提取(如光驅(qū)ODD能從存儲(chǔ)器ME獲得)以便校驗(yàn)寫(xiě)入 資料。這個(gè)監(jiān)測(cè)回路的執(zhí)行速度要夠快，才能實(shí)時(shí)偵測(cè)不利的狀況。 因此可以利用監(jiān)測(cè)回路提供輸入，讓控制單元CU于圖2的判別步驟102(或步驟204)中進(jìn)行判斷，如果超出至少一個(gè)門(mén)檻值FE^和TE^，控制單元CU判斷需要校驗(yàn)，進(jìn)行步驟103、 104、 105。監(jiān)測(cè)缺陷檢測(cè)器如果循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE及聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE可信賴(lài)，便可透過(guò)監(jiān)測(cè)這些 信號(hào)來(lái)偵測(cè)循軌性能問(wèn)題，某些光盤(pán)缺陷會(huì)形成循軌性能問(wèn)題，但是也可 能破壞循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE及聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE，如此便不能再利用循軌錯(cuò)誤 信號(hào)TE及聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE來(lái)偵測(cè)循軌性能問(wèn)題。典型的光盤(pán)缺陷便是黑點(diǎn)，黑點(diǎn)會(huì)(部分)阻擋激光光，因此循軌錯(cuò)誤 信號(hào)TE及聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE便會(huì)變得非常小。黑點(diǎn)的定義如下觀察反射信號(hào)(從光盤(pán)回來(lái)的光束或是二極管信號(hào) 總和)，當(dāng)碰到黑點(diǎn)，反射信號(hào)的準(zhǔn)位明顯降低，黑點(diǎn)是局部性的問(wèn)題， 在下一圈還會(huì)碰到，通常是在光盤(pán)的基材上有個(gè)不會(huì)反射的點(diǎn)，黑點(diǎn)有可 能是光盤(pán)上的黑墨水、刮痕(阻礙光線)、光盤(pán)上的灰塵(很多非常小的黑 點(diǎn)等等)。要能夠偵測(cè)這些不利狀況，這里提供另一種監(jiān)測(cè)功能，可在寫(xiě)入動(dòng)作 的同時(shí)使用。為了順利播放光盤(pán)，現(xiàn)在的光驅(qū)ODD已經(jīng)內(nèi)建有缺陷檢測(cè)器，缺陷檢 測(cè)器會(huì)偵測(cè)循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE及聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE是否有問(wèn)題，當(dāng)偵測(cè)到信 號(hào)TE或FE有問(wèn)題，便會(huì)啟動(dòng)特定動(dòng)作以保持循軌或聚焦。缺陷檢測(cè)器的原理很簡(jiǎn)單監(jiān)測(cè)回路檢査反射信號(hào)(使用適當(dāng)?shù)臑V波 器)的準(zhǔn)位是否下降，當(dāng)偵測(cè)到下降情形，將缺陷信號(hào)設(shè)成高準(zhǔn)位，釆取 特定的動(dòng)作以改善循軌效能。缺陷檢測(cè)器可以是控制單元CU的一部分，但是也可以是單獨(dú)的模塊 (圖中未繪出)，缺陷檢測(cè)器可用于監(jiān)測(cè)是否有良好的循軌效能。較嚴(yán)重的缺陷(如黑點(diǎn))會(huì)影響循軌性能，這里將討論無(wú)法利用循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE及聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE所偵測(cè)的缺陷，但是可用缺陷檢測(cè)器測(cè)得。 因此建議監(jiān)測(cè)該缺陷檢測(cè)器偵測(cè)到缺陷的時(shí)間，使用這個(gè)信息判斷是否要校驗(yàn)在這段時(shí)間內(nèi)寫(xiě)入的資料， 一個(gè)大約0. lmm的簡(jiǎn)單小黑點(diǎn)(缺陷 檢測(cè)器事件)并不會(huì)影響資料，即使偵測(cè)到這樣的小黑點(diǎn)也不需要進(jìn)行校 驗(yàn)，不過(guò)lmm的黑點(diǎn)會(huì)影響資料(離軌高風(fēng)險(xiǎn))，因此監(jiān)測(cè)該缺陷檢測(cè)器偵 測(cè)到缺陷的時(shí)間，當(dāng)時(shí)間超過(guò)一預(yù)定時(shí)間，那么這個(gè)時(shí)段中寫(xiě)入的資料就 要經(jīng)過(guò)校驗(yàn)，如果該缺陷檢測(cè)器偵測(cè)到缺陷的時(shí)間小于該預(yù)定時(shí)間，便不 需要校驗(yàn)，除非有其它需要校驗(yàn)的原因(震動(dòng)、預(yù)掃描等等)，所以控制單 元CU可以利用從缺陷檢測(cè)器所得到的信息來(lái)判斷是否需要進(jìn)行步驟102 或204的校驗(yàn)動(dòng)作。另外，叢聚的小缺陷也會(huì)破壞循軌性能，但是無(wú)法利用循軌錯(cuò)誤信號(hào) TE及聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE來(lái)偵測(cè)這種不利狀況，監(jiān)測(cè)回路監(jiān)測(cè)循軌錯(cuò)誤信號(hào) TE及聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE的同時(shí)也會(huì)在移除噪聲時(shí)過(guò)濾掉這些信號(hào)，當(dāng)通過(guò) 叢聚的小缺陷，循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE及聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE會(huì)從正確信號(hào)準(zhǔn)位迅 速降低，因?yàn)槭褂昧藶V波器的關(guān)系，無(wú)法偵測(cè)到這種不良循軌性能，藉由 監(jiān)測(cè)缺陷檢測(cè)器偵測(cè)到缺陷的時(shí)間便可克服此問(wèn)題。有很多方式可以監(jiān)測(cè)該缺陷檢測(cè)器偵測(cè)到缺陷的時(shí)間，下面詳細(xì)介紹 其中一種方式。利用低通濾波器過(guò)濾該缺陷檢測(cè)器偵測(cè)到缺陷的時(shí)間Defecttirae，可偵測(cè)到嚴(yán)重缺陷和聚集的(小)缺陷，利用低通濾波器過(guò)濾該缺陷檢測(cè)器偵測(cè)到缺陷的時(shí)間，下列參數(shù)定義為Defects為缺陷檢測(cè)器偵測(cè)到缺陷的時(shí)間的低通濾波信號(hào) Defect 為DefecUp信號(hào)的門(mén)檻值，用以偵測(cè)不良循軌性能 控制單元CU可用于檢查DefectLP信號(hào)是否超過(guò)門(mén)檻值Defect ,判斷寫(xiě)入資料是否需要經(jīng)過(guò)校驗(yàn)，圖5顯示其流程圖。流程圖3圖5顯示控制單元CU可進(jìn)行的流程圖，如果缺陷檢測(cè)器是單獨(dú)的模 塊，那么這個(gè)流程圖便是由該單獨(dú)模塊配合連接的控制單元CU共同執(zhí)行?？刂茊卧狢U開(kāi)始步驟300，于步驟301中，根據(jù)缺陷檢測(cè)器的偵測(cè)決 定Defectt,，舉個(gè)例子，缺陷檢測(cè)器的輸出可為"缺陷"或"無(wú)缺陷"(高輸出或低輸出)，于次一步驟302中，低通濾波器過(guò)濾Defectt^生成 DefectLP，于次一步驟303中，比較過(guò)濾時(shí)間DefectLP以及門(mén)檻值DefectTH。 如果低通濾波時(shí)間Defects沒(méi)有超過(guò)門(mén)檻值Defect ,控制單元CU 回到步驟301，如果低通濾波時(shí)間Defects超過(guò)門(mén)檻值Defect ,控制單 元CU于步驟304中判斷需要校驗(yàn)寫(xiě)入資料，之后回到步驟301。步驟303和304的輸出可用于圖2的步驟102或圖3的步驟204。 如果流程圖是由缺陷檢測(cè)器執(zhí)行而非控制單元CU，則步驟304可改為 發(fā)送一訊息給控制單元CU，通知需要校驗(yàn)寫(xiě)入資料。 圖5的流程圖的執(zhí)行速度足以實(shí)時(shí)偵測(cè)錯(cuò)誤情況。 本實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)便是可利用光驅(qū)ODD原本就有的功能(缺陷檢測(cè)器)。 針對(duì)"寫(xiě)后快速校驗(yàn)"功能，監(jiān)測(cè)功能提供一警告信號(hào)，指示資料可 能有問(wèn)題，因應(yīng)此信號(hào)，控制結(jié)束寫(xiě)入程序(如完成某個(gè)糾錯(cuò)碼區(qū)塊之后)， 并校驗(yàn)資料，如果在讀回資料時(shí)沒(méi)有發(fā)生任何問(wèn)題，便不需要改變寫(xiě)入資 料的位置。根據(jù)本實(shí)施例，監(jiān)測(cè)功能利用循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE、聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE、 缺陷檢測(cè)器中的一種或多種方式，當(dāng)然也可使用其它適于偵測(cè)不良循軌性 能的信號(hào)，例如偵測(cè)抖動(dòng)(wobble)品質(zhì)、進(jìn)行循軌或聚焦的所需功率、循 軌錯(cuò)誤信號(hào)TE及/或聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE的功率等等。另外，沒(méi)有用來(lái)監(jiān)測(cè)循軌性能的參數(shù)還是可用來(lái)指示資料是否有問(wèn)題 而需要校驗(yàn)，這類(lèi)參數(shù)有監(jiān)測(cè)電源供應(yīng)的變化、HF的變化、抖動(dòng)品質(zhì)等 等，HF是高頻信號(hào)，內(nèi)含預(yù)備寫(xiě)入光盤(pán)的資料，請(qǐng)注意，在寫(xiě)入時(shí)并不能 知道寫(xiě)入資料的品質(zhì)，只能在寫(xiě)入時(shí)分析其高頻信息(從光盤(pán)返回的光 束)，抖動(dòng)品質(zhì)便是資料軌上的抖動(dòng)品質(zhì)，光驅(qū)ODD可利用抖動(dòng)來(lái)控制光 盤(pán)的徑向速度，有多種方法可測(cè)量抖動(dòng)品質(zhì)，如強(qiáng)度變化、錯(cuò)誤更正 (ADER)、遺失同步等等。這些說(shuō)明是表示我們可使用多種監(jiān)測(cè)方式，來(lái)測(cè)量光盤(pán)OD或光驅(qū)ODD 的屬性變化。當(dāng)然，可利用其它的監(jiān)測(cè)裝置，例如溫度傳感器，以感測(cè)光盤(pán)OD、光 驅(qū)0DD、光學(xué)讀寫(xiě)單元OPU等等的溫度。根據(jù)本實(shí)施例，由監(jiān)測(cè)參數(shù)，控制單元CU便可判斷資料是否可能有問(wèn)題而需要校驗(yàn)，可監(jiān)測(cè)的參數(shù)有循軌錯(cuò)誤信號(hào)TE、聚焦錯(cuò)誤信號(hào)FE、 缺陷檢測(cè)器、溫度等。實(shí)施例3根據(jù)本實(shí)施例，本發(fā)明提供預(yù)測(cè)寫(xiě)入資料是否有問(wèn)題的另一原則，如果于特定時(shí)段寫(xiě)入光盤(pán)OD的特定位置的資料有較高品質(zhì)，那么在特定位置的附近以及于該特定時(shí)段的預(yù)定時(shí)間內(nèi)寫(xiě)入的資料也沒(méi)有問(wèn)題，不需要經(jīng)過(guò)校驗(yàn)，這個(gè)原則可應(yīng)用于步驟102或211，判斷是否需要進(jìn)行校驗(yàn)。要預(yù)測(cè)于光盤(pán)的特定位置上是否能寫(xiě)入正確的資料，必須要知道光驅(qū) ODD是否能在光盤(pán)OD的這個(gè)位置寫(xiě)入品質(zhì)良好的資料，同時(shí)，不允許嚴(yán)重 的光盤(pán)缺陷，可以利用先前寫(xiě)入資料來(lái)預(yù)測(cè)資料品質(zhì)及缺陷大小。 預(yù)測(cè)資料品質(zhì)光盤(pán)OD和光驅(qū)ODD屬性可能逐漸變化，大部分的光盤(pán)OD屬性會(huì)隨著 位置改變，光驅(qū)ODD的屬性則隨著時(shí)間(或溫度)改變。當(dāng)光驅(qū)ODD寫(xiě)入光盤(pán)0D的資料有良好的品質(zhì)，靠近已寫(xiě)入資料的新 資料也會(huì)有良好的資料品質(zhì)，不需要經(jīng)過(guò)校驗(yàn)，另一種情況則是兩次寫(xiě)入 的中間間隔時(shí)間沒(méi)有太長(zhǎng)，其時(shí)間間隔沒(méi)有超過(guò)預(yù)定門(mén)檻間隔，當(dāng)兩次寫(xiě) 入動(dòng)作的時(shí)間間隔低于門(mén)檻值，光驅(qū)ODD和光盤(pán)0D的屬性變動(dòng)不會(huì)太大， 所以寫(xiě)入資料的品質(zhì)也差不多。利用此原則可以預(yù)測(cè)預(yù)備寫(xiě)入光盤(pán)OD的資料品質(zhì)，首先必須能測(cè)量 已寫(xiě)入資料的資料品質(zhì)，另外，還要知道光驅(qū)ODD和光盤(pán)OD的屬性變動(dòng) 有多快。 資料品質(zhì)光盤(pán)OD上的HF包含的信息比資料內(nèi)容還多，HF中的其它信息還包含 抖動(dòng)(jitter)、 HF圖樣的不對(duì)稱(chēng)、HF的信號(hào)準(zhǔn)位、區(qū)塊錯(cuò)誤率等等。因此當(dāng)讀回寫(xiě)入資料，不只是校驗(yàn)寫(xiě)入資料是否符合原本欲寫(xiě)入的資 料(比較"0值"及"l值")，同時(shí)考慮前述的參數(shù)，如果從光盤(pán)OD讀回 的HF顯示相當(dāng)?shù)牟粚?duì)稱(chēng)情況，就表示這些資料的品質(zhì)較差。對(duì)于藍(lán)光光盤(pán)，每一個(gè)糾錯(cuò)碼區(qū)塊分成304個(gè)LDC字符，其中LDC字 符為同位(parity)保護(hù)的長(zhǎng)距碼(long distance code)字符。糾錯(cuò)必須利用同位碼更正每一個(gè)LDC字符內(nèi)的所有錯(cuò)誤，只要有一個(gè)不能更正的LDC字符就會(huì)損毀資料，之后利用更正所有LDC字符所需要的最大同位碼數(shù)量來(lái)代表資料品質(zhì)，如果所有LDC字符有足夠的邊界(不需要所有的同位碼)，表示資料的品質(zhì)良好。 變動(dòng)的光驅(qū)屬性光驅(qū)ODD屬性會(huì)隨溫度和時(shí)間變化，這些參數(shù)的影響和如何考慮這些 參數(shù)會(huì)因光驅(qū)ODD而有不同，因?yàn)闇囟雀淖兿鄬?duì)緩慢，因此其中一種方式 便是根據(jù)先前寫(xiě)入資料的品質(zhì)來(lái)預(yù)測(cè)現(xiàn)在寫(xiě)入光盤(pán)OD的資料品質(zhì)，而先 前寫(xiě)入動(dòng)作和目前寫(xiě)入動(dòng)作的時(shí)間間隔必須小于預(yù)定門(mén)檻時(shí)間間隔。光驅(qū)ODD的屬性也會(huì)因?yàn)榧す馐诠獗P(pán)OD上的位置而不同，因此其 中一種方式便是根據(jù)先前寫(xiě)入資料的品質(zhì)來(lái)預(yù)測(cè)之后寫(xiě)入光盤(pán)OD的資料 品質(zhì)，而先前寫(xiě)入動(dòng)作和目前寫(xiě)入動(dòng)作的距離必須小于預(yù)定門(mén)檻距離。 測(cè)量缺陷大小要測(cè)量光盤(pán)OD上缺陷的大小，可以利用寫(xiě)入資料，光盤(pán)缺陷會(huì)局部 損毀資料，而糾錯(cuò)(利用叢發(fā)指針信號(hào)(burst indicator signal, BIS)信 息)可以修正遺失的資料，根據(jù)同步/叢發(fā)指針信號(hào)勘誤表，可以估計(jì)最 大缺陷長(zhǎng)度。如果在一個(gè)位置里沒(méi)有缺陷或僅有小缺陷，那么在這個(gè)位置附近區(qū)域 的缺陷規(guī)模應(yīng)該也在可以接受的范圍內(nèi)，通常區(qū)域的規(guī)模等于最大可接受 缺陷的一半半徑，而最大可接受的缺陷大小也與光驅(qū)和光盤(pán)有關(guān)。因此，如果判定某個(gè)位置里沒(méi)有缺陷，那么這個(gè)位置周?chē)膱A形范圍 也被視做安全區(qū)域，亦即沒(méi)有會(huì)影響資料的缺陷，根據(jù)這個(gè)原則，控制單 元CU便可判斷不要校驗(yàn)這個(gè)區(qū)域里的寫(xiě)入資料，除非有其它的因素影響。 要儲(chǔ)存測(cè)量信息(品質(zhì)及缺陷大小)，可在存儲(chǔ)器ME內(nèi)儲(chǔ)存一信息表，當(dāng) 寫(xiě)入資料沒(méi)有問(wèn)題，則儲(chǔ)存下列信息測(cè)量時(shí)間以及測(cè)量位置，信息表可 以是一種先進(jìn)先出(first in first out, FIFO)緩沖區(qū)，新的測(cè)量信息會(huì) 加在表頭，太舊的測(cè)量信息則移除，如此在判斷資料品質(zhì)之后，再利用這 個(gè)信息判斷附近寫(xiě)入資料品質(zhì)不需經(jīng)過(guò)校驗(yàn)(即資料沒(méi)有問(wèn)題)，中間所 需的時(shí)間不會(huì)太久。 流程圖4圖6為控制單元CU可用來(lái)執(zhí)行前述實(shí)施例的流程圖，該流程圖可與圖2的流程圖交替使用，控制單元CU也可更動(dòng)此流程圖來(lái)協(xié)助圖2及3的流程圖中的步驟102或204判斷是否需要校驗(yàn)資料。流程圖的開(kāi)始步驟400，接著于步驟401中，控制單元CU接收一寫(xiě)入 命令，寫(xiě)入命令包括開(kāi)始地址W和結(jié)束地址S1，因此資料會(huì)寫(xiě)在開(kāi)始地址 W和結(jié)束地址S1之間。于步驟402中，根據(jù)這些地址計(jì)算光盤(pán)OD的相關(guān)半徑(開(kāi)始半徑、結(jié) 束半徑)，于此實(shí)施例中，利用已寫(xiě)入資料來(lái)預(yù)測(cè)鄰近資料的品質(zhì)，如此 需要將相關(guān)信息轉(zhuǎn)換成位置及距離(mm)，資料和位置的關(guān)系與半徑有關(guān)， 因此步驟403中使用的信息為半徑，不過(guò)這只是其中一種方式。于步驟403中，計(jì)算控制單元CU可以將資料寫(xiě)入不會(huì)產(chǎn)生問(wèn)題的地 址，此步驟需要檢查儲(chǔ)存在存儲(chǔ)器ME的信息表，根據(jù)信息表，計(jì)算要寫(xiě) 入的地址是否太靠近先前判定的缺陷(可將地址轉(zhuǎn)換成半徑)，同時(shí)檢查要 寫(xiě)入的地址與先前具有良好品質(zhì)的寫(xiě)入資料的位置距離及時(shí)間間隔是否 太遠(yuǎn)。步驟403的輸出為地址信號(hào)(nojerify—stop)，這代表有多少資料是 沒(méi)有問(wèn)題的，在這個(gè)位置之前的寫(xiě)入程序都沒(méi)有問(wèn)題， 一直持續(xù)到如果開(kāi) 始地址可能有問(wèn)題，則nojerify一st叩與開(kāi)始半徑的值相同，如果要寫(xiě) 入資料的整個(gè)區(qū)域都沒(méi)有問(wèn)題，nojerify一stop的值會(huì)等于或大于結(jié)束地 址S1。根據(jù)步驟403的輸出，步驟404會(huì)計(jì)算可以連續(xù)寫(xiě)入資料(即不需校 驗(yàn))的范圍(從W到S2)，于步驟404中，計(jì)算目前寫(xiě)入動(dòng)作的結(jié)束位置S2， S2是目前寫(xiě)入動(dòng)作的結(jié)束位置，而Sl則是步驟401所定義的結(jié)束位置(要 到達(dá)這個(gè)寫(xiě)入位置可能會(huì)經(jīng)過(guò)數(shù)個(gè)寫(xiě)入及校驗(yàn)的動(dòng)作)。于步驟405中，在起始地址W及結(jié)束地址S2間寫(xiě)入資料，步驟406 檢査是否完成寫(xiě)入動(dòng)作(即到達(dá)結(jié)束地址S2)，如果是，控制單元CU進(jìn)行 步驟407，檢査結(jié)束地址S2是否小于一開(kāi)始的結(jié)束地址Sl，如果不小于 結(jié)束地址S1，控制單元回到步驟403，同時(shí)于步驟408中設(shè)定開(kāi)始地址W 為前次停止地址S2。如果步驟407的判斷結(jié)果是結(jié)束地址S2小于結(jié)束地址Sl，則表示還 未到達(dá)最終結(jié)束地址，而最近的寫(xiě)入資料可能有問(wèn)題而需要進(jìn)行校驗(yàn)，因此，于步驟409中，校驗(yàn)最后N個(gè)糾錯(cuò)碼區(qū)塊并檢查資料品質(zhì)，校驗(yàn)步驟可以依照前述步驟103-105來(lái)進(jìn)行，同時(shí)測(cè)量最后N個(gè)糾錯(cuò)碼區(qū)塊的品質(zhì)， 并將品質(zhì)信息等儲(chǔ)存在存儲(chǔ)器ME的信息表中。如果步驟407判斷結(jié)束地址S2等于(或大于)初始的結(jié)束地址Sl，這 表示完成寫(xiě)入動(dòng)作，控制單元CU便進(jìn)行與步驟409相似的步驟411，校驗(yàn) 最后N個(gè)糾錯(cuò)碼區(qū)塊，檢查其品質(zhì)并根據(jù)檢査結(jié)果更新存儲(chǔ)器ME內(nèi)的信 息表，當(dāng)然，如果確定與S2相關(guān)的半徑?jīng)]有問(wèn)題，便可省略步驟411，這 在步驟410會(huì)確定，步驟411之后，從步驟401接收到的寫(xiě)入命令便算告 一段落(步驟412)。這個(gè)實(shí)施例讀回資料并從HF接收信息，當(dāng)然此實(shí)施例也可配合其它 實(shí)施例，例如利用缺陷檢測(cè)器、循軌穩(wěn)定度、溫度量測(cè)、抖動(dòng)量測(cè)等等。因此，本發(fā)明提供一方法，其中步驟a2)包括于預(yù)備寫(xiě)入該第一資 料部分的光盤(pán)位置，檢查其預(yù)定距離內(nèi)的先前寫(xiě)入資料是否執(zhí)行過(guò)歩驟 b)，如果不需要改變?cè)撓惹皩?xiě)入資料的位置，則不執(zhí)行步驟b)。另外，本發(fā)明提供一方法于預(yù)備寫(xiě)入該第一資料部分的光盤(pán)位置， 檢查其預(yù)定距離內(nèi)的先前寫(xiě)入資料是否執(zhí)行過(guò)步驟b)，如果該先前寫(xiě)入資 料不符合預(yù)定品質(zhì)條件，則判斷不執(zhí)行步驟b)，該預(yù)定品質(zhì)條件包括該寫(xiě) 入資料的邊界。 實(shí)施例4根據(jù)另一實(shí)施例，本發(fā)明提供一方法預(yù)測(cè)寫(xiě)入資料是否可能有問(wèn)題， 根據(jù)本實(shí)施例，控制單元CU可以根據(jù)寫(xiě)入資料的內(nèi)容及/或預(yù)定位置(地 址)來(lái)判斷是否要校驗(yàn)寫(xiě)入資料，本實(shí)施例的原則是某些資料部分的判斷 標(biāo)準(zhǔn)要比其它資料部分來(lái)的嚴(yán)格，如1. 檔案系統(tǒng)區(qū)域；2. 備用的區(qū)域；3. 缺陷表；4. 前一缺陷的鄰近地址(其它實(shí)施例已說(shuō)明過(guò))；5. 缺陷表中列出為缺陷或可能為缺陷的地址的鄰近地址；6. 記錄開(kāi)始地址(通常為寫(xiě)入光盤(pán)OD的第一個(gè)糾錯(cuò)碼區(qū)塊，其風(fēng)險(xiǎn)較高是因?yàn)榧す夤β室芸斓膹淖x取功率切換到正確的寫(xiě)入功率，轉(zhuǎn)換時(shí)造成資料可能有問(wèn)題(與光驅(qū)/光盤(pán)有關(guān))， 一種解決方式便是總是將寫(xiě)入光盤(pán)0D的第一個(gè)糾錯(cuò)碼區(qū)塊儲(chǔ)存于光驅(qū)ODD的存儲(chǔ)器ME中，等到正常區(qū)域的寫(xiě)入動(dòng)作結(jié)束，可以校驗(yàn)第一個(gè)糾錯(cuò)碼區(qū)塊，必要時(shí)改變寫(xiě)入位置)；7. 經(jīng)常存取的區(qū)域(控制單元CU具有學(xué)習(xí)機(jī)制，會(huì)記錄經(jīng)常存取的地 址并將其視為可能有問(wèn)題的資料，經(jīng)常存取的資料通常是"重要"資料(如 檔案系統(tǒng)資料))；8. 讀取時(shí)發(fā)現(xiàn)可疑的地址(重試、錯(cuò)誤率、不能更正計(jì)數(shù)等等)，當(dāng)讀 取光盤(pán)0D時(shí)可一面搜集光盤(pán)狀態(tài)的信息，這個(gè)信息可用來(lái)判斷光盤(pán)的哪 一個(gè)部分可能有問(wèn)題，將信息儲(chǔ)存在控制單元CU的存儲(chǔ)器中，或者是儲(chǔ) 存在光盤(pán)OD的缺陷表中，于下一個(gè)步驟，控制單元CU便可決定改變資料 的儲(chǔ)存位置；9. 掃描光盤(pán)時(shí)發(fā)現(xiàn)的區(qū)域(請(qǐng)見(jiàn)實(shí)施例5);以及10. 使用者指定為重要的區(qū)域。第l、 2、 3項(xiàng)與資料內(nèi)容有關(guān)，因其重要性而將校驗(yàn)視為必要，項(xiàng)目 4、 5、 6、 7、 8、 9、 IO則與在特定地址的寫(xiě)入動(dòng)作有關(guān)，這些地址被視為 比較容易出錯(cuò)，因此可能會(huì)影響資料。如果其中有一個(gè)區(qū)域不能讀出資料(因?yàn)槿毕?，那么光盤(pán)0D當(dāng)作不 可使用或損毀，因此當(dāng)光驅(qū)ODD需要寫(xiě)入這些區(qū)域，控制單元CU就會(huì)判 斷在寫(xiě)入資料之后要進(jìn)行校驗(yàn)。根據(jù)本實(shí)施例，主應(yīng)用程序或光驅(qū)ODD判斷是否需要校驗(yàn)資料，主應(yīng) 用程序會(huì)發(fā)出指令給控制單元CU開(kāi)始寫(xiě)入程序。主應(yīng)用程序針對(duì)資料區(qū)域發(fā)出普通寫(xiě)入命令(通常是沒(méi)有問(wèn)題的資 料，所以不需要校驗(yàn))，但是碰到較為關(guān)鍵的區(qū)域(檔案系統(tǒng)區(qū)域、使用者 指定為重要信息)，寫(xiě)入命令會(huì)指示需要校驗(yàn)資料，因此控制單元CU接收 的資料已經(jīng)包含指示，指示在寫(xiě)入某些資料后一定要進(jìn)行校驗(yàn)。光驅(qū)也可判斷是否需要校驗(yàn)資料，光驅(qū)ODD可以根據(jù)光盤(pán)0D上的資 料寫(xiě)入地址來(lái)做判斷，己知某些地址比較關(guān)鍵，便可將相關(guān)資料儲(chǔ)存于存 儲(chǔ)器ME中供控制單元CU存取，存儲(chǔ)器ME存儲(chǔ)器有光驅(qū)用區(qū)域、缺陷表及其它關(guān)鍵區(qū)域等信息。 實(shí)施例5根據(jù)另一實(shí)施例，光盤(pán)OD分成多個(gè)(假想)光盤(pán)區(qū)域，如圖4的圓形環(huán)狀區(qū)域，圖4顯示一光盤(pán)0D的上視圖，其中光盤(pán)被分成四個(gè)光盤(pán)區(qū)域 21、 22、 23、 24，當(dāng)然光盤(pán)區(qū)域的數(shù)量可以自己選定。本實(shí)施例提供不用校驗(yàn)整片光盤(pán)OD的高可信度方法，比演算校驗(yàn)整 片光盤(pán)OD快速。要達(dá)成這個(gè)目的，先搜集光盤(pán)OD的各種信息，這些信息可用于判斷 光盤(pán)OD的缺陷，這些信息也可供控制單元CU利用來(lái)判斷是否需要校驗(yàn)資 料(前述的歩驟102或204)。要進(jìn)行本實(shí)施例，先將光盤(pán)分成多個(gè)光盤(pán)區(qū)域21-24，區(qū)域2卜24的 大小可設(shè)定為大約涵蓋平常使用時(shí)可能碰到的一個(gè)缺陷。假設(shè)缺陷基本上是圓的，先預(yù)掃描區(qū)域的中間(即沿著區(qū)域中間的圓 形)，區(qū)域的尺寸大概與可容許的最大缺陷一樣大，當(dāng)然可以小一點(diǎn)以增 加邊界(降低風(fēng)險(xiǎn))，如果沿著區(qū)域的中間測(cè)量而未碰到可能的缺陷，那么 "測(cè)量位置一(可允許缺陷大小/2)」以及「測(cè)量位置+(可允許缺陷大小 /2)"之間應(yīng)該沒(méi)問(wèn)題。如果測(cè)量是針對(duì)區(qū)域的開(kāi)始位置(不是中間)，那么區(qū)域大小就要小于 "可允許缺陷大小/2" 了。在下一步驟中，控制單元CU可讓每一個(gè)區(qū)域21-24在寫(xiě)入前幾個(gè)區(qū) 塊后進(jìn)行校驗(yàn)，如果在這前幾個(gè)區(qū)塊中發(fā)現(xiàn)缺陷，那么在這個(gè)區(qū)域的所有 區(qū)塊都要經(jīng)過(guò)校驗(yàn)，如果在前幾個(gè)區(qū)塊中沒(méi)有發(fā)現(xiàn)缺陷，整個(gè)區(qū)域都不用 校驗(yàn)(除非有其它的理由顯示需要校驗(yàn))。根據(jù)本實(shí)施例，將所有區(qū)域分類(lèi)成未知、干凈、可疑， 一開(kāi)始，光盤(pán) OD的所有區(qū)域都標(biāo)示為未知。請(qǐng)注意，本實(shí)施例可事先預(yù)掃描所有區(qū)域，如果還沒(méi)執(zhí)行過(guò)寫(xiě)入動(dòng)作， 便針對(duì)所有未進(jìn)行過(guò)寫(xiě)入動(dòng)作的區(qū)域進(jìn)行預(yù)掃描。當(dāng)?shù)谝粎^(qū)塊資料寫(xiě)入光盤(pán)后OD后，光驅(qū)ODD檢查寫(xiě)入第一區(qū)塊資料 的區(qū)域21-24狀態(tài)，如果區(qū)域標(biāo)示為未知，光驅(qū)就必須要掃描或校驗(yàn)寫(xiě)入 資料，這和圖3的步驟209、 211、 212相同。如果狀態(tài)是可疑，光驅(qū)ODD需校驗(yàn)寫(xiě)入資料；如果狀態(tài)是干凈，這表 示這個(gè)區(qū)域的先前寫(xiě)入資料沒(méi)有問(wèn)題，或是這個(gè)區(qū)域在所有寫(xiě)入動(dòng)作之前的預(yù)掃描未發(fā)現(xiàn)任何缺陷，因此不需要校驗(yàn)。
根據(jù)本實(shí)施例，決定區(qū)域21-24狀態(tài)的方法可自由決定，區(qū)域21-24 的狀態(tài)可以利用預(yù)先掃描來(lái)決定(在各區(qū)域21-24的第一寫(xiě)入動(dòng)作之前)， 或是校驗(yàn)己寫(xiě)入特定區(qū)域21-24的資料，當(dāng)然還有其它的方式，如測(cè)試寫(xiě) 入動(dòng)作。
于此實(shí)施例中，缺陷就意謂著可能有問(wèn)題的資料，掃描演算偵測(cè)所有 的信息，這些信息適用于指出光盤(pán)0D的特定區(qū)域21-24中的缺陷或可能 有問(wèn)題的資料，掃描的長(zhǎng)度不到整個(gè)區(qū)域21-24，但卻足以偵測(cè)小缺陷， 如果掃描發(fā)現(xiàn)缺陷、邊界區(qū)域或可能有問(wèn)題的資料，更新區(qū)域狀態(tài)，將區(qū) 域標(biāo)示為可疑，之后將進(jìn)行校驗(yàn)動(dòng)作。
如果光驅(qū)ODD并不忙碌，便可在所有的寫(xiě)入動(dòng)作之前先掃描光盤(pán)0D， 根據(jù)掃描的輸出，更新儲(chǔ)存在存儲(chǔ)器ME里的區(qū)域表，供后續(xù)的寫(xiě)入動(dòng)作 使用。
掃描必須利用所有信息判斷區(qū)域是否可能損壞，偵測(cè)出在已寫(xiě)入或未 寫(xiě)入?yún)^(qū)域的所有缺陷。
也可以在讀/寫(xiě)光盤(pán)0D的同時(shí)更新區(qū)域表，光驅(qū)ODD也可以在讀取或
寫(xiě)入動(dòng)作的同時(shí)測(cè)量用來(lái)指示后面缺陷的信息。
當(dāng)發(fā)現(xiàn)其中一個(gè)問(wèn)題區(qū)域，控制單元CU更新區(qū)域表，表示在這個(gè)區(qū) 域里寫(xiě)入的所有區(qū)塊都要進(jìn)行校驗(yàn)動(dòng)作。
根據(jù)另一概念，區(qū)域表可儲(chǔ)存在光盤(pán)0D本身，在光盤(pán)0D移出光驅(qū)ODD 之前進(jìn)行儲(chǔ)存，可從存儲(chǔ)器ME取出區(qū)域表并將其寫(xiě)入光盤(pán)0D的專(zhuān)用位置， 如果在下一次寫(xiě)入動(dòng)作時(shí)將光盤(pán)0D放入光驅(qū)ODD,光驅(qū)ODD讀取并使用光 盤(pán)0D的區(qū)域表，以便在下一次的寫(xiě)入動(dòng)作時(shí)使用，這樣便能實(shí)時(shí)更新區(qū) 域表而不會(huì)漏失信息。
本發(fā)明提供的實(shí)施例可讓控制單元CU判斷是否需要校驗(yàn)動(dòng)作，如果 不需要，寫(xiě)入動(dòng)作便持續(xù)寫(xiě)入下一個(gè)資料部分，跳過(guò)(不進(jìn)行)校驗(yàn)先前 寫(xiě)入資料的動(dòng)作，下列討論的方法可提供信息給控制單元CIJ，根據(jù)該信息 可判斷是否需要執(zhí)行校驗(yàn)動(dòng)作。
這里描述光盤(pán)區(qū)域方法，其中將光盤(pán)0D分成多個(gè)區(qū)域，針對(duì)每一個(gè) 區(qū)域判斷是否需要校驗(yàn)動(dòng)作，校驗(yàn)寫(xiě)入一區(qū)域的資料及/或判斷寫(xiě)入資料的品質(zhì)，根據(jù)結(jié)果判斷同一區(qū)域之后來(lái)寫(xiě)入資料是否需要經(jīng)過(guò)校驗(yàn)，根據(jù) 一實(shí)施例，可另外考慮時(shí)間對(duì)參數(shù)變動(dòng)的影響，如溫度變化，根據(jù)本實(shí)施 例，如果校驗(yàn)及/或判斷資料品質(zhì)已超過(guò)一段時(shí)間，便需再次進(jìn)行校驗(yàn)及/ 或判斷資料品質(zhì)。
根據(jù)另一實(shí)施例，于真實(shí)寫(xiě)入動(dòng)作之前先預(yù)掃描光盤(pán)OD，根據(jù)預(yù)掃描 的輸出，判斷資料寫(xiě)入光盤(pán)OD的位置是否需要進(jìn)行校驗(yàn)。
另外，可配合使用光盤(pán)區(qū)域?qū)嵤├c預(yù)掃描實(shí)施例，例如，預(yù)掃描光 盤(pán)0D每一個(gè)區(qū)域的一小部分，根據(jù)其結(jié)果判斷個(gè)別光盤(pán)區(qū)域是否需要進(jìn) 行校驗(yàn)。
根據(jù)另一實(shí)施例，在執(zhí)行寫(xiě)入動(dòng)作時(shí)，可以搜集有關(guān)光盤(pán)0D的缺陷
以及寫(xiě)入資料品質(zhì)等信息，這些信息可用于判斷目前寫(xiě)入位置附近的區(qū)域 或目前寫(xiě)入動(dòng)作的特定時(shí)間內(nèi)所寫(xiě)入的資料需不需要經(jīng)過(guò)校驗(yàn)。
根據(jù)另一實(shí)施例，于寫(xiě)入動(dòng)作的同時(shí)監(jiān)測(cè)參數(shù)，根據(jù)其結(jié)果判斷是否 需要進(jìn)行校驗(yàn)，例如監(jiān)測(cè)到溫度改變及/或震動(dòng)，可將結(jié)果發(fā)送給控制單
元cu以便判斷需要進(jìn)行校驗(yàn)。
根據(jù)另一實(shí)施例，控制單元CU知道針對(duì)光盤(pán)0D的特定位置及/或特 定種類(lèi)資料的寫(xiě)入動(dòng)作總是需要進(jìn)行校驗(yàn)，這是因?yàn)楣獗P(pán)0D上的某些區(qū) 域容易發(fā)生寫(xiě)入錯(cuò)誤，另外，某些資料因其重要性而要求一定要進(jìn)行校驗(yàn)。
當(dāng)然，另外可結(jié)合前述實(shí)施例進(jìn)行應(yīng)用。
本文提供的實(shí)施例可應(yīng)用的光盤(pán)OD包括藍(lán)光光盤(pán)、HD-DVD、 DVD、 CD 等，也可應(yīng)用至其它的儲(chǔ)存媒體種類(lèi)，如資料儲(chǔ)存驅(qū)動(dòng)器等，可寫(xiě)入資料 并進(jìn)行校驗(yàn)，這些實(shí)施例可應(yīng)用至任何將資料寫(xiě)入儲(chǔ)存裝置的系統(tǒng)。
上述實(shí)施例僅用于說(shuō)明的用而非限制，因此相關(guān)領(lǐng)域技術(shù)人員可對(duì)本 發(fā)明進(jìn)行修改，然皆不脫如附權(quán)利要求書(shū)的范圍。
權(quán)利要求
1. 一種將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法，其特征在于，該方法包括步驟a)執(zhí)行一寫(xiě)入動(dòng)作，將一第一資料部分寫(xiě)入該光盤(pán)；a2)判斷是否要執(zhí)行步驟b)；b)校驗(yàn)至少部分已寫(xiě)入該光盤(pán)的該第一資料部分，并判斷是否要改變已寫(xiě)入該光盤(pán)的該第一資料部分的位置；以及c)執(zhí)行另一寫(xiě)入動(dòng)作，將一第二資料部分寫(xiě)入該光盤(pán)。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于該光盤(pán)上定義有多個(gè)區(qū)域， 同時(shí)步驟a2)包括檢查與該第一資料部分相同區(qū)域的先前寫(xiě)入資料是否已執(zhí)行過(guò)歩驟 b)，如果不需要改變?cè)撓惹皩?xiě)入資料的位置，則判斷不執(zhí)行步驟b)。
3. 如權(quán)利要求1所述的將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法，其特征在于，該光盤(pán) 上定義有多個(gè)區(qū)域，同時(shí)步驟a2)包括檢查與該第一資料部分相同區(qū)域的先前寫(xiě)入資料是否已執(zhí)行過(guò)步驟 b)，如果該先前寫(xiě)入資料不符合預(yù)定品質(zhì)條件，則判斷不執(zhí)行步驟b)。
4. 如權(quán)利要求3所述的將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法，其特征在于，該預(yù)定品質(zhì)條件包括該寫(xiě)入資料的邊界。
5. 如權(quán)利要求2-4任一項(xiàng)所述的將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法，其特征在于，如果在該第一資料部分進(jìn)行步驟a)之前的預(yù)定時(shí)間內(nèi)，與該第一資料部分 同一區(qū)域的先前寫(xiě)入資料已進(jìn)行過(guò)歩驟b)，則不對(duì)該第一資料部分執(zhí)行步 驟b)。
6. 如權(quán)利要求1所述的將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法，其特征在于，步驟a2) 包括使用先前搜集的信息，該信息來(lái)自于預(yù)掃描至少部分的該光盤(pán)。
7. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于步驟a2)包括執(zhí)行一監(jiān)測(cè)功能。
8. 如權(quán)利要求7所述的將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法，其特征在于，該監(jiān)測(cè) 功能包括監(jiān)測(cè)循軌錯(cuò)誤信號(hào)及聚焦錯(cuò)誤信號(hào)中的至少一個(gè)信號(hào)。
9. 如權(quán)利要求7所述的將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法，其特征在于，該監(jiān)測(cè) 功能包括監(jiān)測(cè)震動(dòng)或監(jiān)測(cè)光盤(pán)錯(cuò)誤或監(jiān)測(cè)溫度。
10. 如權(quán)利要求1所述的將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法，其特征在于，步驟a2)包括于預(yù)備寫(xiě)入該第一資料部分的光盤(pán)位置，檢查其預(yù)定距離內(nèi)的先前寫(xiě)入資料是否執(zhí)行過(guò)步驟b)，如果不需要改變?cè)撓惹皩?xiě)入資料的位置，則不執(zhí)行步驟b)。
11. 如權(quán)利要求1所述的將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法，其特征在于，步驟a2)包括于預(yù)備寫(xiě)入該第一資料部分的光盤(pán)位置，檢查其預(yù)定距離內(nèi)的先前寫(xiě)入資料是否執(zhí)行過(guò)步驟b),如果該先前寫(xiě)入資料不符合預(yù)定品質(zhì)條件，則 判斷不執(zhí)行步驟b)。
12. 如權(quán)利要求11所述的將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法，其特征在于,該預(yù) 定品質(zhì)條件包括該寫(xiě)入資料的邊界。
13. 如權(quán)利要求1所述的將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法，其特征在于，步驟a2) 包括檢查該第一資料部分是否將寫(xiě)入該光盤(pán)的特定位置，如果是，不執(zhí)行 步驟b)。
14. 如權(quán)利要求1所述的將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法，其特征在于，步驟a2) 包括檢查該第一資料部分是否為一特定種類(lèi)資料，如果是，不執(zhí)行步驟b)。
15. —種光驅(qū)，可接收一光盤(pán)，其特征在于，該光驅(qū)包括一光學(xué)讀寫(xiě) 單元，用于產(chǎn)生一光束，經(jīng)該光盤(pán)表面反射后進(jìn)行掃描，讀寫(xiě)該光盤(pán)的資 料； 一控制單元，控制該光學(xué)讀寫(xiě)單元，該控制單元包含一存儲(chǔ)器或與一 存儲(chǔ)器連接，該存儲(chǔ)器包含該控制單元可讀取及執(zhí)行的程序命令列，該光 驅(qū)用于a) 執(zhí)行一寫(xiě)入動(dòng)作，將一第一資料部分寫(xiě)入該光盤(pán)； a2)判斷是否要執(zhí)行步驟b);b) 校驗(yàn)至少部分已寫(xiě)入該光盤(pán)的該第一資料部分，并判斷是否要改變 已寫(xiě)入該光盤(pán)的該第一資料部分的位置；以及c) 執(zhí)行另一寫(xiě)入動(dòng)作，將一第二資料部分寫(xiě)入該光盤(pán)。
16. 如權(quán)利要求15所述的光驅(qū)，其特征在于，該光盤(pán)上定義有多個(gè)區(qū)域，步驟a2)包括檢查與該第一資料部分相同區(qū)域的先前寫(xiě)入資料是否已執(zhí)行過(guò)步驟b)，如果不需要改變?cè)撓惹皩?xiě)入資料的位置，則判斷不執(zhí)行步驟b)。
17. 如權(quán)利要求15所述的光驅(qū)，其特征在于，該光盤(pán)上定義有多個(gè)區(qū) 域，步驟a2)包括檢査與該第一資料部分相同區(qū)域的先前寫(xiě)入資料是否已執(zhí)行過(guò)步驟 b)，如果該先前寫(xiě)入資料不符合預(yù)定品質(zhì)條件，則判斷不執(zhí)行步驟b)。
18. 如權(quán)利要求17所述的光驅(qū)，其特征在于，該預(yù)定品質(zhì)條件包括該 寫(xiě)入資料的邊界。
19. 如權(quán)利要求15-18任一項(xiàng)所述的光驅(qū)，其特征在于，如果在該第 一資料部分進(jìn)行步驟a)之前的預(yù)定時(shí)間內(nèi)，與該第一資料部分相同區(qū)域的 先前寫(xiě)入資料已進(jìn)行過(guò)步驟b)，則不對(duì)該第一資料部分執(zhí)行歩驟b)。
20. 如權(quán)利要求15-17任一項(xiàng)所述的光驅(qū)，其特征在于，步驟a2)包括使用先前搜集的信息，該信息來(lái)自于預(yù)掃描至少部分的該光盤(pán)。
21. 如權(quán)利要求15所述的光驅(qū)，其特征在于，歩驟a2)包括執(zhí)行一監(jiān)測(cè)功能。
22. 如權(quán)利要求21所述的光驅(qū)，其特征在于，該監(jiān)測(cè)功能包括監(jiān)測(cè)循 軌錯(cuò)誤信號(hào)及聚焦錯(cuò)誤信號(hào)中的至少一個(gè)信號(hào)。
23. 如權(quán)利要求21所述的光驅(qū)，其特征在于，該監(jiān)測(cè)功能包括監(jiān)測(cè)震動(dòng)或監(jiān)測(cè)光盤(pán)錯(cuò)誤或監(jiān)測(cè)溫度。
24. 如權(quán)利要求15所述的光驅(qū)，其特征在于，步驟a2)包括于預(yù)備寫(xiě)入該第一資料部分的光盤(pán)位置，檢查其預(yù)定距離內(nèi)的先前寫(xiě) 入資料是否執(zhí)行過(guò)步驟b)，如果不需要改變?cè)撓惹皩?xiě)入資料的位置，則不 執(zhí)行步驟b)。
25. 如權(quán)利要求15所述的光驅(qū)，其特征在于，步驟a2)包括于預(yù)備寫(xiě)入該第一資料部分的光盤(pán)位置，檢查其預(yù)定距離內(nèi)的先前寫(xiě) 入資料是否執(zhí)行過(guò)步驟b)，如果該先前寫(xiě)入資料不符合預(yù)定品質(zhì)條件，則 判斷不執(zhí)行歩驟b)。
26. 如權(quán)利要求25所述的光驅(qū)，其特征在于，該預(yù)定品質(zhì)條件包括該寫(xiě)入資料的邊界。
27. 如權(quán)利要求15所述的光驅(qū)，其特征在于，步驟a2)包括檢查該第 一資料部分是否預(yù)備寫(xiě)入該光盤(pán)的一特定位置，如果是，不執(zhí)行步驟b)。
28. 如權(quán)利要求15所述的光驅(qū)，其特征在于，步驟a2)包括檢查該第 一資料部分是否為一特定種類(lèi)資料，如果是，不執(zhí)行步驟b)。
全文摘要
一種將資料寫(xiě)入光盤(pán)的方法，該方法包括步驟a)執(zhí)行一寫(xiě)入動(dòng)作，將一第一資料部分寫(xiě)入該光盤(pán)；a2)判斷是否要執(zhí)行步驟b)；以及b)校驗(yàn)寫(xiě)入該光盤(pán)的該第一資料部分的至少部分資料，并判斷是否要改變已寫(xiě)入該光盤(pán)的該第一資料部分的位置，最后，該方法包括步驟c)執(zhí)行另一寫(xiě)入動(dòng)作，將一第二資料部分寫(xiě)入該光盤(pán)。
文檔編號(hào)G11B7/0045GK101546565SQ200810214910
公開(kāi)日2009年9月30日 申請(qǐng)日期2008年8月28日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月28日
發(fā)明者史塔分·吉森, 漢·克萊斯, 馬克·卡斯 申請(qǐng)人:飛利浦建興數(shù)位科技股份有限公司