專利名稱：光盤和物理地址格式的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于以高密度記錄信息(例如，數(shù)字視頻信息) 的光盤介質(zhì)以及用于該光盤介質(zhì)的一種光盤裝置和一種光盤再現(xiàn)方 法。
背景技術(shù)：
近來，光盤介質(zhì)的記錄密度已經(jīng)變得不斷增高。 一般地，可記錄 光盤介質(zhì)在其中事先有軌道凹槽，信息沿軌道凹槽記錄，即，記錄在 軌道凹槽或介于軌道凹槽之間的區(qū)域(稱為"凸區(qū)(land)")上。軌道 凹槽是正弦狀的擺動(dòng)(wobble)，并且與基于擺動(dòng)周期產(chǎn)生的時(shí)鐘同 步地記錄信息。沿著軌道凹槽提供地址，以便在光盤介質(zhì)的記錄表面 上的規(guī)定位置上記錄信息。下面將描述用于提供地址的三個(gè)例示結(jié) 構(gòu)。
(1) 日本公開文本No.6-309672公開了一種光盤，其中，在局部 間歇地形成擺動(dòng)的軌道凹槽，并可以將地址信息再現(xiàn)為所謂的預(yù)凹坑
(pre-pit)。在這種情況下，在軌道凹槽上存在用于記錄信息的單地 址區(qū)域和單數(shù)據(jù)區(qū)域。
(2) 日本公開文本No.5-189934公開了一種光盤，其中，提供了 頻率調(diào)制擺動(dòng)，并采用擺動(dòng)頻率記錄地址信息(子信息)。在這種情 況下，將數(shù)據(jù)信息重寫在地址信息上。
(3) 日本公開文本No.9-326138公開了一種光盤，其中，在相鄰 軌道凹槽之間形成預(yù)凹坑，并由預(yù)凹坑形成地址。
考慮到在將來可能需要的更高的記錄密度，所有上述結(jié)構(gòu)都有其自己的問題。
在(1)的結(jié)構(gòu)中，用于數(shù)據(jù)的空間由于地址所需的空間而減少 (所謂的"額外開銷")。于是，存儲(chǔ)容量不可避免地由于用于地址的 空間所減少。
(2)的結(jié)構(gòu)具有下列問題。擺動(dòng)最初主要是為產(chǎn)生用于記錄信 息的時(shí)鐘的目的而提供的，因此優(yōu)選以單一頻率來形成。當(dāng)擺動(dòng)以單 一頻率形成時(shí)，可以僅僅通過采用PLL等相乘并同步一個(gè)擺動(dòng)再現(xiàn) 信號(hào)來產(chǎn)生高度精確的記錄時(shí)鐘信號(hào)。然而，當(dāng)擺動(dòng)具有多個(gè)頻率分 量時(shí)，PLL可以自適應(yīng)的頻帶相對(duì)于擺動(dòng)具有單一頻率的情況需要被 減小，以避免PLL的偽鎖定。然后，可能出現(xiàn)不希望的情況，即PLL 不能充分地跟隨盤馬達(dá)抖動(dòng)或例如由盤的偏心產(chǎn)生的抖動(dòng)。這導(dǎo)致在 記錄信號(hào)中保留有抖動(dòng)。
在光盤的記錄表面上形成的記錄薄膜是一個(gè)相變薄膜的情況下， 隨著重寫被重復(fù)，記錄薄膜的S/N比會(huì)不合需要地被減小。即使在這 個(gè)出現(xiàn)時(shí)，對(duì)于一個(gè)較窄頻帶，具有單一頻率的擺動(dòng)允許采用帶通濾 波器去除噪聲分量。然而，當(dāng)擺動(dòng)是頻率調(diào)制的時(shí)，要通過的頻帶需 要被放大，以便考慮所調(diào)制的頻率。其結(jié)果是，噪聲分量與擺動(dòng)再現(xiàn) 信號(hào)混合，因此進(jìn)一步增大抖動(dòng)。抖動(dòng)的這種增大不可取，因?yàn)殡S著 記錄密度增大，抖動(dòng)余量減小。
在(3)的結(jié)構(gòu)中，預(yù)凹坑自然影響存儲(chǔ)在相鄰軌道凹槽中的信 息的讀取。因此，難以提供足夠數(shù)目的分別具有足夠長度的預(yù)凹坑。 因此，存在一種不希望的可能性，即檢測(cè)誤差的數(shù)目在記錄密度相當(dāng) 高時(shí)尤其增大。
考慮到上述問題，本發(fā)明的目的是提供一種用于使額外開銷最小 并以具有單一頻率的擺動(dòng)描述地址的光盤介質(zhì)、用于再現(xiàn)光盤介質(zhì)的
光盤裝置和光盤再現(xiàn)方法。

發(fā)明內(nèi)容
依據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，光盤介質(zhì)比較一個(gè)沿其記錄主信息的軌 道凹槽。將軌道凹槽分成多個(gè)塊。多個(gè)塊中的每一塊包括多個(gè)幀。多 個(gè)幀中的每一幀包括多個(gè)規(guī)定擺動(dòng)形狀中的指示子信息的一種擺動(dòng) 形狀。多個(gè)塊中的每一塊具有地址信息。地址信息由至少一條由多個(gè) 幀中的至少一幀的擺動(dòng)形狀所表示的子信息所組成的串來表示。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)塊中的每一塊包括多個(gè)扇區(qū)。多 個(gè)扇區(qū)包括多個(gè)幀。地址信息由至少一條由至少一個(gè)扇區(qū)中包括的多 個(gè)幀中的至少一幀的擺動(dòng)形狀所表示的子信息所組成的串來表示。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)塊中的至少一個(gè)包括多條地址信 息。多條地址信息是相同的。多條地址信息中的每一個(gè)由所述至少一 條子信息所組成的串來表示。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，多條地址信息中的每一個(gè)包括一個(gè)序 號(hào)，序號(hào)指示各條地址信息在多條地址信息中的次序。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，地址信息由多個(gè)位表示，多個(gè)位由所 述至少一個(gè)子信息串從低位到高位表示。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)塊中的每一塊包括多個(gè)扇區(qū)。多 個(gè)扇區(qū)包括多個(gè)幀。地址信息由多個(gè)扇區(qū)中包括的所述至少一個(gè)串表 示。指示在多個(gè)扇區(qū)中的扇區(qū)次序的信息由所述至少一條子信息的一 部分表示。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，指示誤差檢測(cè)代碼和誤差校正代碼中 的至少一個(gè)的信息由所述至少一條子信息的一部分表示。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，軌道凹槽具有在其中提供的指示多個(gè) 塊中的每一塊的前端的標(biāo)識(shí)標(biāo)記。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，標(biāo)識(shí)標(biāo)記通過切斷軌道凹槽來提供。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，標(biāo)識(shí)標(biāo)記通過局部改變軌道凹槽的寬 度來提供。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，標(biāo)識(shí)標(biāo)記通過局部改變擺動(dòng)形狀的振 幅來提供。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)擺動(dòng)形狀包括在上升梯度和下降 梯度的至少一個(gè)上彼此不同的第一擺動(dòng)形狀和第二擺動(dòng)形狀，第一擺 動(dòng)形狀和第二擺動(dòng)形狀指示彼此不同的子信息條。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)擺動(dòng)形狀包括在占空比上彼此不 同的第一擺動(dòng)形狀和第二擺動(dòng)形狀，第一擺動(dòng)形狀和第二擺動(dòng)形狀指 示彼此不同的子信息條。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)擺動(dòng)形狀在軌道凹槽的一個(gè)邊緣 上提供。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，軌道凹槽包括一個(gè)指示所述至少一個(gè) 子信息串的前端和后端中的至少一個(gè)的標(biāo)識(shí)標(biāo)記。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)塊中的至少一個(gè)包括多個(gè)所述至 少一個(gè)子信息串。標(biāo)識(shí)標(biāo)記指示所述至少一個(gè)子信息串的前端。標(biāo)識(shí) 標(biāo)記與一塊中的所述至少一個(gè)子信息串中的另一個(gè)標(biāo)識(shí)標(biāo)記具有相 同的形狀。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)塊中的至少一個(gè)包括多個(gè)所述至 少一個(gè)子信息串。標(biāo)識(shí)標(biāo)記指示所述至少一個(gè)子信息串的前端。至少 一個(gè)標(biāo)識(shí)標(biāo)記與一塊中的所述至少一個(gè)子信息串中的另一個(gè)標(biāo)識(shí)標(biāo) 記具有不同的形狀。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，標(biāo)識(shí)標(biāo)記指示所述至少一個(gè)子信息串 的后端。標(biāo)識(shí)標(biāo)記通過將在上升梯度和下降梯度中的至少一個(gè)上彼此 不同的第一擺動(dòng)形狀和第二擺動(dòng)形狀與具有正弦波形狀的第三擺動(dòng) 形狀組合來形成。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)塊中的至少一個(gè)包括多個(gè)所述至 少一個(gè)子信息串。標(biāo)識(shí)標(biāo)記指示所述至少一個(gè)子信息串的后端。標(biāo)識(shí) 標(biāo)記與一塊中的所述至少一個(gè)子信息串中的另一個(gè)標(biāo)識(shí)標(biāo)記具有相同的形狀。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)塊中的至少一個(gè)包括多個(gè)所述至 少一個(gè)子信息串。標(biāo)識(shí)標(biāo)記指示所述至少一個(gè)子信息串的后端。至少 一個(gè)標(biāo)識(shí)標(biāo)記與一塊中的所述至少一個(gè)子信息串中的另一個(gè)標(biāo)識(shí)標(biāo) 記具有不同的形狀。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，標(biāo)識(shí)標(biāo)記通過切斷軌道凹槽的相鄰部 分之間的凸區(qū)的一部分來提供。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，標(biāo)識(shí)標(biāo)記通過切斷軌道凹槽的相鄰部 分之間的凸區(qū)來提供。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，將單個(gè)頻率假數(shù)據(jù)記錄在標(biāo)識(shí)標(biāo)記上。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，指示地址信息的一個(gè)較低位的子信息 的條數(shù)大于指示地址信息的一個(gè)較高位的子信息的條數(shù)。
依據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，光盤介質(zhì)將一個(gè)記錄再現(xiàn)區(qū)域和一個(gè) 盤管理區(qū)域進(jìn)行比較。記錄再現(xiàn)區(qū)域包括沿其記錄主信息的第一軌道 凹槽。盤管理區(qū)域包括在光盤介質(zhì)的內(nèi)側(cè)區(qū)域和外側(cè)區(qū)域的至少一個(gè) 中提供的第二軌道凹槽。第二軌道凹槽包括多個(gè)規(guī)定擺動(dòng)形狀。光盤 介質(zhì)的管理信息由多個(gè)規(guī)定擺動(dòng)形狀的組合來表示。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)規(guī)定擺動(dòng)形狀包括在上升梯度和 下降梯度中的至少一個(gè)上彼此不同的第一擺動(dòng)形狀和第二擺動(dòng)形狀、 以及具有正弦波形狀的第三擺動(dòng)形狀。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，第一軌道凹槽包括多個(gè)規(guī)定擺動(dòng)形 狀。與在記錄和再現(xiàn)區(qū)域中相比，在盤管理區(qū)域中的指示l位信息的 擺動(dòng)形狀的數(shù)目不同。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，第一軌道凹槽包括多個(gè)規(guī)定擺動(dòng)形 狀。第一軌道凹槽和第二軌道凹槽在擺動(dòng)形狀的頻率上彼此不同。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，第一軌道凹槽包括多個(gè)規(guī)定擺動(dòng)形狀。第二軌道凹槽具有比第一軌道凹槽大的擺動(dòng)形狀振幅。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，第二軌道凹槽的相鄰部分在兀/2x(2n+l) 的擺動(dòng)形狀上具有一個(gè)恒定的相差，其中n是一個(gè)整數(shù)。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，第二軌道凹槽具有比第一軌道凹槽大 的軌道間距。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，標(biāo)識(shí)標(biāo)記通過改變軌道凹槽中的至少 一個(gè)擺動(dòng)形狀的相位來提供。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，標(biāo)識(shí)標(biāo)記通過改變軌道凹槽中的至少 一個(gè)擺動(dòng)形狀的頻率來提供。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)擺動(dòng)形狀以相同的周期提供。
依據(jù)本發(fā)明的又一個(gè)方面，提供了一種用于再現(xiàn)一個(gè)光盤介質(zhì)的 光盤裝置，所述光盤介質(zhì)包括沿其記錄主信息的軌道凹槽。將軌道凹 槽分成多個(gè)塊。多個(gè)塊中的每一塊包括多個(gè)幀。多個(gè)幀中的每一幀包 括多個(gè)規(guī)定擺動(dòng)形狀中的指示子信息的一種擺動(dòng)形狀，多個(gè)塊中的每 一塊具有地址信息。地址信息由至少一條由多個(gè)幀中的至少一幀的擺 動(dòng)形狀所表示的子信息所組成的串來表示。光盤裝置包括一個(gè)變換部 分，用于從光盤介質(zhì)讀取主信息和子信息并產(chǎn)生一個(gè)再現(xiàn)信號(hào)； 一個(gè) 再現(xiàn)信號(hào)計(jì)算部分，用于從再現(xiàn)信號(hào)產(chǎn)生一個(gè)TE信號(hào)和一個(gè)RF信 號(hào)； 一個(gè)基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)產(chǎn)生部分，用于從TE信號(hào)產(chǎn)生一個(gè)基準(zhǔn)時(shí)鐘 信號(hào)； 一個(gè)電平限幅脈沖信號(hào)產(chǎn)生部分，用于從TE信號(hào)產(chǎn)生一個(gè)電 平限幅脈沖信號(hào)； 一個(gè)塊標(biāo)記信號(hào)檢測(cè)部分，用于從RF信號(hào)檢測(cè)一 個(gè)塊標(biāo)記信號(hào)；以及， 一個(gè)子信息產(chǎn)生部分，用于從基準(zhǔn)脈沖信號(hào)、 電平限幅脈沖信號(hào)和塊標(biāo)記信號(hào)產(chǎn)生一個(gè)子信息信號(hào)。
依據(jù)本發(fā)明的又一個(gè)方面，提供了一種用于再現(xiàn)一個(gè)光盤介質(zhì)的 方法，所述光盤介質(zhì)包括沿其記錄主信息的軌道凹槽。將軌道凹槽分 成多個(gè)塊。多個(gè)塊中的每一塊包括多個(gè)幀。多個(gè)幀中的每一幀包括多 個(gè)規(guī)定擺動(dòng)形狀中的指示子信息的一種擺動(dòng)形狀，多個(gè)塊中的每一塊具有地址信息。地址信息由至少一條由多個(gè)幀中的至少一幀的擺動(dòng)形 狀所表示的子信息所組成的串來表示。該方法包括如下步驟從光盤 介質(zhì)讀取主信息和子信息并產(chǎn)生一個(gè)再現(xiàn)信號(hào)；從再現(xiàn)信號(hào)產(chǎn)生一個(gè) TE信號(hào)和一個(gè)RF信號(hào)；從TE信號(hào)產(chǎn)生一個(gè)基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)；從TE 信號(hào)產(chǎn)生一個(gè)電平限幅脈沖信號(hào)；從RF信號(hào)檢測(cè)一個(gè)塊標(biāo)記信號(hào)； 以及，從基準(zhǔn)脈沖信號(hào)、電平限幅脈沖信號(hào)和塊標(biāo)記信號(hào)產(chǎn)生一個(gè)子 信息信號(hào)。


圖1顯示了依據(jù)本發(fā)明的例1的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖2顯示了依據(jù)本發(fā)明的例1的光盤介質(zhì)； 圖3顯示了依據(jù)本發(fā)明的例2的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖4顯示了依據(jù)本發(fā)明的例3的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖5顯示了依據(jù)本發(fā)明的例4的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖6顯示了依據(jù)本發(fā)明的例5的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖7顯示了依據(jù)本發(fā)明的例6的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖8顯示了依據(jù)本發(fā)明的例7的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖9顯示了依據(jù)本發(fā)明的例7的光盤介質(zhì)； 圖10顯示了依據(jù)本發(fā)明的例7的光盤介質(zhì)的地址結(jié)構(gòu)； 圖11顯示了依據(jù)本發(fā)明的例8的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖12顯示了依據(jù)本發(fā)明的例8的光盤介質(zhì)的地址結(jié)構(gòu)； 圖13顯示了依據(jù)本發(fā)明的例9的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖14顯示了依據(jù)本發(fā)明的例9的光盤介質(zhì)的地址結(jié)構(gòu)； 圖15顯示了依據(jù)本發(fā)明的例10的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽; 圖16顯示了依據(jù)本發(fā)明的例7的光盤介質(zhì)的地址結(jié)構(gòu)； 圖17顯示了依據(jù)本發(fā)明的例12的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽; 圖18顯示了依據(jù)本發(fā)明的例12的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽;圖19顯示了依據(jù)本發(fā)明的例12的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖20顯示了依據(jù)本發(fā)明的例12的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖21顯示了依據(jù)本發(fā)明的例13的光盤介質(zhì)的地址結(jié)構(gòu)； 圖22顯示了依據(jù)本發(fā)明的例11的光盤介質(zhì)的地址結(jié)構(gòu)； 圖23A顯示了依據(jù)本發(fā)明的例14的光盤裝置的結(jié)構(gòu)； 圖23B是顯示依據(jù)本發(fā)明的例14的用于再現(xiàn)光盤介質(zhì)上的信息 的方法的流程圖24顯示了依據(jù)本發(fā)明的例15的光盤介質(zhì)； 圖25A顯示了依據(jù)本發(fā)明的例15的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖25B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例15的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖26A顯示了依據(jù)本發(fā)明的例15的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖26B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例15的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖27A顯示了依據(jù)本發(fā)明的例16的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖27B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例16的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖28A顯示了依據(jù)本發(fā)明的例17的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖28B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例17的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖29A顯示了依據(jù)本發(fā)明的例18的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖29B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例18的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖30顯示了一個(gè)常規(guī)光盤介質(zhì)；
圖31顯示了依據(jù)本發(fā)明的例20的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖32顯示了依據(jù)本發(fā)明的例21的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖33顯示了依據(jù)本發(fā)明的例22的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖34顯示了依據(jù)本發(fā)明的例14的光盤裝置； 圖35顯示了依據(jù)本發(fā)明的例19的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽；以及 圖36顯示了依據(jù)本發(fā)明的例15的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽。
具體實(shí)施方式
此后，將參考附圖以例示方式描述本發(fā)明。 (例1)
圖2顯示了依據(jù)本發(fā)明的例1的光盤介質(zhì)20。光盤介質(zhì)20具有 一個(gè)記錄表面101，在記錄表面101中形成有螺旋形軌道凹槽102。 如圖1所示，軌道凹槽102的形狀在逐塊基礎(chǔ)上不同。在圖1中，塊 標(biāo)記(標(biāo)識(shí)標(biāo)記)210是軌道凹槽102中的切斷部分，顯示出一個(gè)指
示每塊的前端的索引。
將每塊分成N個(gè)扇區(qū)25 (N-32或16)，將每個(gè)扇區(qū)25 (子塊) 分成]\4個(gè)幀#0到#25 (M=26)。每幀(基本單元)以周期方式具有規(guī) 定數(shù)目的擺動(dòng)26或27。擺動(dòng)26和27具有彼此不同的規(guī)定形狀，并 代表子信息("0"、 "1"或"S")。 一種類型的子信息("0"、 "1"或 "S")由一種擺動(dòng)形狀26或27表示。子信息的類型和擺動(dòng)形狀(擺 動(dòng)26或27)是一對(duì)一的關(guān)系。更具體地，擺動(dòng)26和27都具有通常 為鋸齒形的形狀，并具有不同的上升形狀(或上升梯度)和下降形狀 (下降梯度)。擺動(dòng)26或27根據(jù)子信息的類型("0"或"1")來形 成。 一串子信息由擺動(dòng)26和27的組合來表示。
擺動(dòng)26和27之間的上升梯度和下降梯度上的差別可以容易地由 差分推挽檢測(cè)信號(hào)如下來檢測(cè)。將掃描激光束指向軌道凹槽102，并 產(chǎn)生這樣一個(gè)差分信號(hào)(即，推挽信號(hào))，該差分信號(hào)指示由沿垂直 于光盤介質(zhì)20的軌道凹槽102的方向(徑向)劃分的光接收元件的 檢測(cè)區(qū)域接收的光量之間的差。因此，獲得具有根據(jù)子信息是"0" 還是"1"而變化的上升梯度和下降梯度的檢測(cè)信號(hào)。上升梯度和下 降梯度上的這個(gè)差別例如可以通過對(duì)檢測(cè)信號(hào)求差分來容易地識(shí)別。
于是，子信息的類型可以由作為差分結(jié)果而獲得的值的大小來檢 測(cè)。然而，當(dāng)使用差分時(shí)，噪聲分量也自然增大。在具有較差S/N比 的光盤介質(zhì)中，檢測(cè)誤差被合理地預(yù)期。在這個(gè)例子中，擺動(dòng)26和 27的每種模式被重復(fù)多次，以便增強(qiáng)檢測(cè)的可靠性。主信息(例如，可重寫用戶數(shù)據(jù))從塊標(biāo)記210開始沿軌道凹槽 102被記錄在塊單元241中。塊單元241具有規(guī)定長度，例如64kB (或32kB)。主信息可以被記錄為記錄標(biāo)記28。記錄標(biāo)記28通過執(zhí) 行記錄層的相變來記錄。塊單元是用于信息處理的單元，例如是ECC 塊。當(dāng)N-32時(shí)，塊單元241被分成32個(gè)扇區(qū)25 (或當(dāng)N=16時(shí)是 16個(gè)扇區(qū)25)。每個(gè)扇區(qū)25是具有2kB長度的子塊。當(dāng)M=26時(shí)， 將每個(gè)扇區(qū)25分成26個(gè)幀#0到#25。
幀是在軌道凹槽102上記錄的信息的基本單位。在圖1中，幀#0 由標(biāo)號(hào)22表示，幀#1由標(biāo)號(hào)23表示。如幀22和23所例示的，每 幀包括事先以周期方式形成的一種擺動(dòng)類型。這樣，在每幀22和23 中描述1位子信息"0"、 "1"或"S"。在每個(gè)扇區(qū)25中包括的26 位(M=26)子信息組指示對(duì)應(yīng)的塊單元241的塊ID (地址信息)。 在幀#0到#25的每一個(gè)的前端，記錄SYNC標(biāo)記。SYNC標(biāo)記是一個(gè) 被記錄的同步信號(hào)，在將主信息記錄為記錄標(biāo)記28時(shí)表示主信息的 每一幀的前端。擺動(dòng)周期用作用于使光盤介質(zhì)20的旋轉(zhuǎn)同步和記錄 信號(hào)的基準(zhǔn)時(shí)鐘，也用作再現(xiàn)地址信息時(shí)的同步信號(hào)。
除了表示地址的信息之外，塊ID可以包括用于校正或檢測(cè)檢測(cè) 信號(hào)的誤差校正代碼、誤差檢測(cè)代碼或奇偶校驗(yàn)碼等。
幀22只包括具有平緩上升梯度和陡峭下降梯度的擺動(dòng)26。幀23 只包括具有陡峭上升梯度和平緩下降梯度的擺動(dòng)27。例如，當(dāng)一幀 包括8個(gè)擺動(dòng)時(shí)， 一個(gè)扇區(qū)25包括8x26=208個(gè)擺動(dòng)(包括擺動(dòng)26 和27)。
不管由噪聲引起的一些檢測(cè)誤差，只要208個(gè)擺動(dòng)26和27之間 的上升梯度和下降梯度中的差別可以被作為整體檢測(cè)，記錄在扇區(qū) 25中的子信息組就可以被正確地識(shí)別。讀的可靠性通過重復(fù)同一塊 ID32次(當(dāng)N-32時(shí))或16次(當(dāng)N-16時(shí))來進(jìn)一步提高。依據(jù) 用于識(shí)別子信息組的例示特定技術(shù)，在每次上升和每次下降時(shí)采樣和保持推挽信號(hào)的差分波形，并將上升梯度的邏輯積和下降梯度的邏輯 積相互進(jìn)行比較。這樣，取消噪聲分量，可以只提取出子信息分量。
在這個(gè)例子中，塊標(biāo)記210是軌道凹槽102中的切斷部分，因此 重寫塊標(biāo)記210中的主信息不是最可取的。其原因是因?yàn)榉瓷涞墓饬?根據(jù)是否有凹槽而變化非常大，這個(gè)顯著差別充當(dāng)對(duì)再現(xiàn)信號(hào)的外部 干擾。在這個(gè)例子中，將包括塊標(biāo)記210的區(qū)域指定為VFO記錄區(qū) 域21。 VF0記錄區(qū)域21用于記錄VF0 211， VF0211是用于調(diào)整用 于再現(xiàn)記錄在VFO記錄區(qū)域21之后的主信息的PLL的頻率的單一 頻率信號(hào)。即使在有輕微的外部波動(dòng)時(shí)，VF0 211僅僅充當(dāng)局部抖動(dòng)， 不直接引起任何誤差。另夕卜，VF0211具有單一頻率，因此可以從頻 率上分離由塊標(biāo)記210引起的外部干擾。
在這個(gè)例子中， 一個(gè)塊單元241 (—塊)被分成32個(gè)(或16個(gè)) 扇區(qū)25，每個(gè)扇區(qū)25被分成26幀(幀#0到#25)。在幀#0至脾25的 每一個(gè)中，事先形成具有對(duì)應(yīng)于子信息的形狀的擺動(dòng)26或27。由于 記錄在一個(gè)扇區(qū)25中的子信息組表示塊ID，所以可以在塊單元241 中包括的32個(gè)(或16個(gè))扇區(qū)25中重復(fù)地形成同一塊ID (地址信 息)。
在這種情況下，子信息組可以包括指示重復(fù)的塊ID (地址信息) 的次序的序號(hào)，即每個(gè)塊ID是否是第五、第十、等等。這種序號(hào)可 用于根據(jù)大多數(shù)最終確定地址號(hào)。另外，這樣的序號(hào)提供用于信號(hào)處 理的有用信息，例如，塊中的哪個(gè)扇區(qū)25現(xiàn)在在被讀取，或塊中的 哪一子信息組是不正確的。
在光盤介質(zhì)具有多個(gè)記錄表面或?qū)拥那闆r下，記錄層的序號(hào)可以 被包括在子信息組中。這樣，記錄表面可以被容易地識(shí)別。
如上所述，在這個(gè)例子中，將一個(gè)信息塊分成32 (N=32)或16 (N=16)個(gè)扇區(qū)，將一個(gè)扇區(qū)分成26 (M=26)幀。在26幀的每一 幀中，事先形成對(duì)應(yīng)于子信息的擺動(dòng)形狀。在塊中的32 (或16)個(gè)扇區(qū)中重復(fù)地形成一個(gè)塊ID (地址信息)。因此，沒有任何額外開銷 地或不需要在凹槽之間所必需的預(yù)凹坑來形成地址。
雖然擺動(dòng)根據(jù)子信息類型而具有不同的上升梯度和下降梯度，這 個(gè)例子中所用的擺動(dòng)具有恒定的單一頻率。因此，具有減少的抖動(dòng)的 用于記錄的時(shí)鐘信號(hào)可以首先采用只允許擺動(dòng)頻率通過以便去除噪 聲分量的帶通濾波器，然后使用PLL同步并相乘所得的頻率來提取 出來。
塊ID的讀取可靠性可以通過重復(fù)同一塊ID來提高。
在這個(gè)例子中，與幀的數(shù)目一樣，塊ID具有26位。地址信息的 位數(shù)并不限于26個(gè)，而是可以是例如依據(jù)要記錄在光盤介質(zhì)上的數(shù) 據(jù)量或誤差校正代碼的類型和系統(tǒng)的任何所需數(shù)目。
在這個(gè)例子中，對(duì)于N=32，將塊單元分成32個(gè)扇區(qū)(或?qū)τ?N-16是16個(gè)扇區(qū))。本發(fā)明并不限于這樣一個(gè)扇區(qū)數(shù)。
在這個(gè)例子中，對(duì)于M=26，子信息被記錄在每個(gè)扇區(qū)中包括的 26幀中。本發(fā)明并不限于這樣一個(gè)幀數(shù)。
在這個(gè)例子中，子信息在被調(diào)制成鋸齒形狀的擺動(dòng)之后被記錄。 本發(fā)明并不限于這樣的擺動(dòng)形狀。如下所述，子信息可以在被調(diào)制成 具有例如如圖4或7中所示形狀的擺動(dòng)之后被記錄。
在這個(gè)例子中，塊標(biāo)記是軌道凹槽的切斷部分。本發(fā)明并不限于 這樣一種形式的塊標(biāo)記。例如，如下所述，塊標(biāo)記可以被調(diào)制成具有 例如如圖5或6中所示形狀的擺動(dòng)。 (例2)
圖3顯示了依據(jù)本發(fā)明的例2的軌道凹槽10。代替圖1所示的 軌道凹槽102，軌道凹槽10可以在圖2所示的光盤介質(zhì)20中形成。 在這個(gè)例子中，除了幀22中指示子信息"0"的擺動(dòng)26和幀23中指 示子信息"1"的擺動(dòng)27之外，軌道凹槽10具有指示記錄在幀24中 的子信息"S"的擺動(dòng)28。與在例1中一樣，地址信息由子信息"0"和子信息"1"的組合來表示。子信息"s"在塊的前端設(shè)置，用于代 替圖1所示的塊標(biāo)記210來指示塊的前端。這樣，可以消除塊標(biāo)記 210所需的額外開銷。在這個(gè)例子中，表示子信息"S"的擺動(dòng)28具 有陡峭的上升梯度和陡峭的下降梯度。 (例3)
圖4顯示了依據(jù)本發(fā)明的例3的軌道凹槽11。代替圖1所示的軌 道凹槽102，軌道凹槽11可以在圖2中所示的光盤介質(zhì)20中形成。 在第一和第二個(gè)例子中，對(duì)應(yīng)于一種子信息類型周期性地重復(fù)一種擺 動(dòng)類型，將具有不同上升梯度和不同下降梯度的擺動(dòng)用于不同類型的 子信息。在這個(gè)例子中，形成擺動(dòng)29和30，以便依據(jù)子信息的類型 具有不同的占空比。更具體地，如圖4所示，指示記錄在幀32中的 子信息"O"的擺動(dòng)29在波峰或波谷中的一個(gè)上較寬(在圖4的例子 中是波谷)，指示記錄在幀34中的子信息"1"的擺動(dòng)30在波峰或波 谷中的另一個(gè)上較寬(在圖4的例子中是波峰)。這樣的特征消除了 對(duì)用于識(shí)別子信息類型的再現(xiàn)信號(hào)差分的必要性。再現(xiàn)信號(hào)可以通過 采用時(shí)鐘定時(shí)器等測(cè)量占空比來簡(jiǎn)單地識(shí)別。因此，可以減輕噪聲的 影響。 (例4)
圖5顯示了依據(jù)本發(fā)明的例4的軌道凹槽200。代替圖1所示的 軌道凹槽102，軌道凹槽200可以在圖2中所示的光盤介質(zhì)20中形 成。在例1中，切斷軌道凹槽102的一部分，以便形成塊標(biāo)記210。 在這個(gè)例子中，采用通過局部增大軌道凹槽200的寬度而形成的塊標(biāo) 記212來替代塊標(biāo)記210。為了記錄或再現(xiàn)主信息，可以通過檢測(cè)塊 標(biāo)記212來識(shí)別塊的前端。塊標(biāo)記212的使用避免軌道凹槽200被切 斷，因此主信息也可以被記錄在塊標(biāo)記212中。其結(jié)果是，可以減少 額外開銷。 (例5)圖6顯示了依據(jù)本發(fā)明的例5的軌道凹槽201。代替圖1所示的 軌道凹槽102，軌道凹槽201可以在圖2中所示的光盤介質(zhì)20中形 成。在例1中，切斷軌道凹槽102的一部分，以便形成塊標(biāo)記210。 在這個(gè)例子中，采用通過局部增大擺動(dòng)的振幅而形成的塊標(biāo)記213來 替代塊標(biāo)記210。為了記錄或再現(xiàn)主信息，可以通過檢測(cè)塊標(biāo)記213 來識(shí)別塊的前端。與在例4中一樣，塊標(biāo)記213的使用避免軌道凹槽 201被切斷，因此主信息也可以被記錄在塊標(biāo)記213中。 (例6)
圖7顯示了依據(jù)本發(fā)明的例6的軌道凹槽202和凸區(qū)203。在這 個(gè)例子中，光盤介質(zhì)具有僅僅沿軌道凹槽202的一個(gè)邊緣形成的擺動(dòng) 220和230。例1到5涉及凹槽記錄類型的光盤介質(zhì)，其中，主信息 被記錄在軌道凹槽中。被稱為凸區(qū)-凹槽類型的另一種類型的光盤介 質(zhì)是可用的。在這種類型的光盤介質(zhì)中，主信息沿軌道凹槽202被記 錄在凹槽和凸區(qū)(放在兩個(gè)相鄰凹槽中間的區(qū)域)中。例1到5可以 與在這個(gè)例子中描述的凹槽-凸區(qū)類型的光盤介質(zhì)組合起來。
在圖7中，子信息"0"和子信息"1"沿軌道凹槽202的一個(gè)邊 緣被記錄。在幀221中形成的擺動(dòng)220指示子信息"0"，在幀231中 形成的擺動(dòng)230指示子信息"1"。以這種方式，軌道凹槽202和與軌 道凹槽202相鄰的凸區(qū)203用相同的地址表示。主信息被記錄在軌道 凹槽202和凸區(qū)203中。通過以這種方式記錄主信息，軌道間距變窄， 這樣實(shí)現(xiàn)了更高密度的記錄。 (例7)
圖9顯示了依據(jù)本發(fā)明的例7的光盤介質(zhì)800。光盤介質(zhì)800具 有在其中形成有螺旋形軌道凹槽802的記錄表面801 。如圖8中所示， 軌道凹槽802具有逐塊不同的形狀。在圖8中，塊標(biāo)記(標(biāo)識(shí)標(biāo)記) 810為軌道凹槽802中的切斷部分并且顯示指示每一個(gè)塊的前端的索 引。每一個(gè)塊被分成N個(gè)扇區(qū)825 (N=32或16)，并且每一個(gè)扇區(qū) 825被分成M個(gè)幀#0到#25 (M=26)。每一個(gè)幀具有規(guī)定數(shù)量的周期 方式的擺動(dòng)826或827。擺動(dòng)826和827具有彼此不同的規(guī)定形狀， 并表示子信息("0"、 "1"或"S")。 一種類型的子信息("0"、 "1" 或"S")由一種擺動(dòng)形狀826或827來表示。子信息的類型和擺動(dòng)形 狀(擺動(dòng)826或827)是一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。更具體地，擺動(dòng)826或827 都具有通常的鋸齒形狀，并且具有不同的上升形狀(或上升梯度)和 下降形狀(下降梯度)。擺動(dòng)826或827依據(jù)子信息的類型("0"或 "1")形成。子信息串由擺動(dòng)826和827的組合表示。子信息串由擺 動(dòng)826和827的組合表示。
擺動(dòng)826或827之間在上升梯度和下降梯度上的差別可以由差分 推挽檢測(cè)信號(hào)容易地檢測(cè)如下。掃描激光束射向軌道凹槽802，產(chǎn)生 了指示由沿垂直于光盤介質(zhì)800的軌道凹槽802的方向(徑向)劃分 的光接收元件的檢測(cè)區(qū)域接收的光量之間的差的差分信號(hào)(即推挽信 號(hào))。這樣，獲得了具有依據(jù)子信息是"0"或"1"來變化的上升梯 度和下降梯度的檢測(cè)信號(hào)。上升梯度和下降梯度中的這個(gè)差別例如可 以通過對(duì)檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行差分來容易地識(shí)別。
這樣，子信息的類型可以利用作為差分結(jié)果而獲得的值的大小來 檢測(cè)。但是，當(dāng)使用差分時(shí)，噪聲分量自然地增加了。在具有較差 S/N比的光盤介質(zhì)中，檢測(cè)錯(cuò)誤被合理地預(yù)期到。在這個(gè)例子中，擺 動(dòng)826或827的每一種模式被重復(fù)多次以增強(qiáng)檢測(cè)的可靠性。
主信息被記錄在從塊標(biāo)記810起沿軌道凹槽802的塊單元841中。 塊單元841具有規(guī)定長度，例如64kB (或32kB)。主信息可以被記 錄為記錄標(biāo)記28。塊單元是用于信息處理的單元，例如是ECC塊。 當(dāng)N=32時(shí)塊單元841被分成32個(gè)扇區(qū)825 (或當(dāng)N=16時(shí)分成16 個(gè)扇區(qū))。每一個(gè)扇區(qū)25是具有2kB長度的子塊。當(dāng)M=26時(shí)每一個(gè) 扇區(qū)25被分成#0到#25的26個(gè)幀。在每一個(gè)幀#0至U弁25的前端，SYNC標(biāo)記被記錄為用于再現(xiàn)數(shù)據(jù)的同步信號(hào)。
幀是記錄在軌道凹槽802上的信息的基本單位。在圖8中，幀#0 由標(biāo)號(hào)822表示，幀#1由標(biāo)號(hào)823表示。如幀822和823所示例， 每一個(gè)幀包括預(yù)先以周期方式形成的一種類型的擺動(dòng)。以這種方式， 在每一個(gè)幀822和823中描述1位子信息"0"、 "1"或"S"。包括在 每一個(gè)扇區(qū)825中的26位(M=26)子信息組指示對(duì)應(yīng)的塊單元841 的塊ID (地址信息)的至少一部分。
1位信息被分配給幀#0至1」#25中的每一個(gè)。例如，8幀(即8位) 被分配作為塊ID的1字節(jié)部分。接著的8幀被分配作為塊ID的1 字節(jié)奇偶校驗(yàn)。接著的5幀被分配作為5位字節(jié)扇區(qū)號(hào)。剩下的5幀 被分配作為扇區(qū)號(hào)的5位奇偶校驗(yàn)。扇區(qū)號(hào)指示多個(gè)扇區(qū)中扇區(qū)的次 序(即第5扇區(qū)、第IO扇區(qū)等)。每一個(gè)奇偶校驗(yàn)指示誤差檢測(cè)碼或 誤差校正碼中的至少一個(gè)。
例如，如上面所描述的被分配的一個(gè)扇區(qū)的子信息被排列在4個(gè) 扇區(qū)825 (即扇區(qū)組825，)上。通過排列塊ID的一部分，即4個(gè)扇 區(qū)的每一個(gè)l個(gè)字節(jié)，可以表示32位塊ID (8位><4=32位)。
圖10顯示了記錄在塊單元841中的扇區(qū)825和幀#0到#25中的 子信息的示例格式。在圖10中，最左部分顯示了扇區(qū)號(hào)。其右邊， 顯示了記錄在每一個(gè)扇區(qū)的幀中的子信息。假設(shè)塊單元841包括32 個(gè)扇區(qū)。括號(hào)"O"中的扇區(qū)號(hào)是在塊單元841包括16個(gè)扇區(qū)的情 況中的扇區(qū)號(hào)。幀#0到#25的每一個(gè)包括1位子信息。在這個(gè)例子中， 塊單元841是ECC塊。
將描述扇區(qū)0的內(nèi)容。在扇區(qū)0的幀#0到#25中，在幀#0到#7 中，從LSB開始順序地填蓋了 ECC塊地址的4字節(jié)(32位)中第一 個(gè)1字節(jié)。在幀#8到#15中，填蓋了 ECC塊地址的奇偶校驗(yàn)的4字 節(jié)中第一個(gè)1字節(jié)的子信息。在幀#16至1」#20中，填蓋了代表扇區(qū)號(hào) 的5位子信息。在幀#21至1」#25中，填蓋了代表扇區(qū)號(hào)的奇偶校驗(yàn)的5位子信息。如圖8中所示，在扇區(qū)0中，1字節(jié)"01h"被填蓋為塊 ID的一部分。
將描述扇區(qū)1的內(nèi)容。在扇區(qū)1的幀糾至U弁25中，在幀#0到#7 中，從最低位開始順序地填蓋了ECC塊地址的4字節(jié)(32位)中第 二個(gè)1字節(jié)。在幀#8至脾15中，填蓋了 ECC塊地址的奇偶校驗(yàn)的4 字節(jié)中第二個(gè)1字節(jié)的子信息。在幀#16到#20中，填蓋了代表扇區(qū) 號(hào)的5位子信息。在幀#21至1」#25中，填蓋了代表扇區(qū)號(hào)的奇偶校驗(yàn) 的5位子信息。如圖8中所示，在扇區(qū)1中，1字節(jié)"23h"信息被 填蓋為塊ID的一部分。
將描述扇區(qū)2的內(nèi)容。在扇區(qū)2的幀#0到#25中，在幀#0到#7 中，從最低位開始順序地填蓋了 ECC塊地址的4字節(jié)(32位)中第 三個(gè)1字節(jié)。在幀#8至U存15中，填蓋了 ECC塊地址的奇偶校驗(yàn)的4 字節(jié)中第三個(gè)1字節(jié)的子信息。在幀#16到#20中，填蓋了代表扇區(qū) 號(hào)的5位子信息。在幀#21至lj弁25中，填蓋了代表扇區(qū)號(hào)的奇偶校驗(yàn) 的5位子信息。如圖8中所示，在扇區(qū)2中，1字節(jié)"45h"信息被 填蓋為塊ID的一部分。
將描述扇區(qū)3的內(nèi)容。在扇區(qū)3的幀#0到#25中，在幀湘到#7 中，從最低位開始順序地填蓋了 ECC塊地址的4字節(jié)(32位)中第 四個(gè)1字節(jié)。在幀#8至1」#15中，填蓋了 ECC塊地址的奇偶校驗(yàn)的4 字節(jié)中第四個(gè)1字節(jié)的子信息。在幀#16至1」#20中，填蓋了代表扇區(qū) 號(hào)的5位子信息。在幀#21至1」#25中，填蓋了代表扇區(qū)號(hào)的奇偶校驗(yàn) 的5位子信息。如圖8中所示，在扇區(qū)3中，1字節(jié)"67h"信息被 填蓋為塊ID的一部分。
以這種方式，32位塊ID"76543210h"通過組合來自4個(gè)扇區(qū)825 中的每一個(gè)的1字節(jié)信息來表示。
扇區(qū)825中的4字節(jié)塊ID最好以讀取順序排列，即順序地從第 一個(gè)被讀取的扇區(qū)825到最后一個(gè)被讀取的扇區(qū)825，并且從塊ID的最低位到最高位。
將描述扇區(qū)4以及下列等等的內(nèi)容。在扇區(qū)4到7中，扇區(qū)0到 3的內(nèi)容將被重復(fù)地描述。類似地，在扇區(qū)8到11， 12到15， 16到 19， 20到23， 24到27以及28到31中，扇區(qū)0到3的內(nèi)容將被重 復(fù)描述。
以這種方式，在4個(gè)扇區(qū)中的信息被描述8次(當(dāng)塊單元841包 括16個(gè)扇區(qū)時(shí)是4次)。這樣，用于實(shí)現(xiàn)誤差校正的奇偶校驗(yàn)信息將 被加到每一個(gè)塊單元841中?？梢栽鰪?qiáng)塊ID的讀取可靠性。
由于描述了扇區(qū)號(hào)，即使當(dāng)塊ID的1字節(jié)丟失時(shí)，丟失的這個(gè)l 字節(jié)也可以通過讀取扇區(qū)號(hào)來容易地識(shí)別。這樣，可以增強(qiáng)塊ID的 讀取可靠性。
由于描述了扇區(qū)號(hào)，所以提供了下面的優(yōu)點(diǎn)。例如當(dāng)在搜索操作 后數(shù)據(jù)沒有被連續(xù)地讀取時(shí)，在搜索操作后扇區(qū)825的扇區(qū)號(hào)可以立 即被讀取，替代了在前端從塊標(biāo)記810開始讀取塊單元841。由于這 樣操作，塊ID可以通過讀取從任意扇區(qū)825開始的4個(gè)扇區(qū)825的 子信息來最終確定。
由于通過僅僅讀取每一個(gè)都包括4個(gè)扇區(qū)(8kB=2kBx4)的扇區(qū) 組825'的任意一個(gè)來最終確定塊ID,后處理(數(shù)據(jù)讀取、數(shù)據(jù)記錄 等)可以被迅速地完成。
即使當(dāng)由于盤劃痕(缺陷)造成塊ID的大約4個(gè)扇區(qū)被不正確 地讀取時(shí)，正確的塊ID也可以由沒有缺陷的扇區(qū)組來讀取。這樣， 保證了顯著高水平讀取塊ID的可靠性。
替代扇區(qū)號(hào)，將描述指示一個(gè)扇區(qū)組825'中的4個(gè)扇區(qū)825中扇 區(qū)的次序(即，第一扇區(qū)、第二扇區(qū)等)的ID號(hào)。其中圖IO顯示了 幀#16到#25中的5位扇區(qū)號(hào)和扇區(qū)號(hào)的5位奇偶校驗(yàn)，圖16顯示了 幀#16至1』#25中的指示重復(fù)的塊ID的次序的2位ID號(hào)、ID號(hào)的2位 奇偶校驗(yàn)和重復(fù)的塊ID的6位序號(hào)。當(dāng)使用ID號(hào)時(shí)，每一個(gè)扇區(qū)號(hào)需要的5位子信息可以減少到2 位。使用剩下的8位(幀#18到#25)，可以提高ID號(hào)的誤差校正能 力，或可以描述塊ID的序號(hào)。
由于描述了 ID號(hào)，可以提供如下的優(yōu)點(diǎn)。例如當(dāng)在搜索操作后 數(shù)據(jù)沒有被連續(xù)地讀取時(shí)，在搜索操作后扇區(qū)825的ID號(hào)可以立即 被讀取，替代了在前端從塊標(biāo)記810開始讀取塊單元841。由于這樣 操作，塊ID可以通過讀取從任意扇區(qū)825開始的4個(gè)扇區(qū)825的子 信息來最終確定。
在子信息包括塊ID的序號(hào)的情況中，序號(hào)可以根據(jù)大多數(shù)被用 于最終確定地址號(hào)。另外，這樣的序號(hào)提供了用于信號(hào)處理的有用信 息，例如，塊中的哪一個(gè)扇區(qū)825現(xiàn)在被讀取或塊中哪一個(gè)子信息組 是不正確的。
在光盤介質(zhì)具有多個(gè)記錄表面或?qū)拥那闆r中，記錄層的序號(hào)可以 包括在子信息組中。以這種方式，記錄表面可以被容易地識(shí)別。例如， 圖16中的四個(gè)相同序號(hào)中的一個(gè)可以用記錄層的序號(hào)替代。這樣， 記錄表面可以容易地識(shí)別。
在這個(gè)例子中，塊ID有32位。地址信息的位的數(shù)量不局限于32， 而是可以是依據(jù)例如將要記錄在光盤介質(zhì)上的數(shù)據(jù)量或誤差校正碼 的類型和系統(tǒng)的任何需要的數(shù)量。
在這個(gè)例子中，當(dāng)N-32時(shí)，塊單元被分為32個(gè)扇區(qū)(或當(dāng)N-16 時(shí)分為16個(gè)扇區(qū))。本發(fā)明不局限于這樣數(shù)量的扇區(qū)。
在這個(gè)例子中，當(dāng)M=26時(shí)子信息被記錄在包括在每一個(gè)扇區(qū)中 的26個(gè)幀中。本發(fā)明不限于這樣數(shù)量的幀。
在這個(gè)例子中，子信息在被調(diào)制為鋸齒狀擺動(dòng)之后被記錄。本發(fā) 明不局限于這樣的擺動(dòng)形狀。子信息可以在被調(diào)制為具有例如圖4或 7中所示的形狀的擺動(dòng)后被記錄。
在這個(gè)例子中，塊標(biāo)記是軌道凹槽的切斷部分。本發(fā)明不局限于這樣的塊標(biāo)記的形式。例如，塊標(biāo)記可以被調(diào)制為例如具有如圖5或 6中所示的形狀的擺動(dòng)。 (例8)
圖11顯示了依據(jù)本發(fā)明的例8的軌道凹槽1102。軌道凹槽1102 可以在圖2中所示的光盤介質(zhì)20中形成，來代替圖1中所示的軌道 凹槽102。如圖ll中所示，軌道凹槽1102具有逐塊不同的形狀。在 圖11中，塊標(biāo)記(標(biāo)識(shí)標(biāo)記)1110為軌道凹槽1102中的切斷部分， 并且顯示指示每一個(gè)塊的前端的索引。
每一個(gè)塊被分成N個(gè)扇區(qū)1125 (N-32或16)，并且每一個(gè)扇區(qū) 1125被分成M個(gè)幀糾到#25 (M=26)。每一個(gè)幀具有規(guī)定數(shù)量的周 期方式的擺動(dòng)1126或1127。擺動(dòng)1126或1127具有彼此不同的規(guī)定 形狀，并表示子信息("0"、 "1"或"S，，)。 一種類型的子信息("0"、
"1"或"S")由一種擺動(dòng)形狀1126或1127來表示。子信息的類型 和擺動(dòng)的形狀(擺動(dòng)1126或1127)是一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。更具體地， 擺動(dòng)1126和1127都具有通常的鋸齒形狀并且具有不同的上升形狀
(或上升梯度)和下降形狀(下降梯度)。擺動(dòng)1126或1127依據(jù)子 信息的類型("0"或"1")形成。子信息串由擺動(dòng)1126和1127的組 合表示。
擺動(dòng)1126和1127之間上升梯度和下降梯度的差別可以由差分推 挽檢測(cè)信號(hào)容易地檢測(cè)如下。掃描激光束射向軌道凹槽1102，產(chǎn)生 了指示由沿垂直于光盤介質(zhì)20的軌道凹槽1102的方向(徑向)劃分 的光接收元件的檢測(cè)區(qū)域接收的光量之間的差的差分信號(hào)(即推挽信 號(hào))。這樣，獲得了具有依據(jù)子信息是"0"或"1"來變化的上升梯 度和下降梯度的檢測(cè)信號(hào)。上升梯度和下降梯度中的差別例如可以通
過對(duì)檢測(cè)信號(hào)差分容易地識(shí)別。
這樣，子信息的類型可以利用作為差分的結(jié)果獲得的值的大小來 檢測(cè)。但是當(dāng)使用差分時(shí)，噪聲成分自然地增加了。在具有較差S/N比的光盤介質(zhì)中，檢測(cè)錯(cuò)誤被合理地預(yù)期。在這個(gè)例子中，擺動(dòng)1126 和1127的每一種模式被重復(fù)多次以增強(qiáng)檢測(cè)的可靠性。
主信息被記錄在從塊標(biāo)記1110起沿軌道凹槽1102的塊單元1141 中。塊單元1141具有規(guī)定長度，例如64kB (或32kB)。主信息可以 被記錄為記錄標(biāo)記28。塊單元是用于信息處理的單元，例如是ECC 塊。當(dāng)N=32時(shí)塊單元1141被分成32個(gè)扇區(qū)1125 (或當(dāng)N=16時(shí)分 成16個(gè)扇區(qū))。每一個(gè)扇區(qū)1125是具有2kB長度的子塊。當(dāng)IVN26 時(shí)每一個(gè)扇區(qū)1125被分成#0至1」#25的26個(gè)幀。在每一個(gè)幀#0到#25 的前端，SYNC標(biāo)記被記錄為用于再現(xiàn)數(shù)據(jù)的同步信號(hào)。
幀是記錄在軌道凹槽1102上的信息的基本單位。在圖1I中，幀 #0由標(biāo)號(hào)1122表示，幀#1由標(biāo)號(hào)1123表示。如幀1122和1123所 示例，每一個(gè)幀包括預(yù)先以周期方式形成的一種類型的擺動(dòng)。以這種 方式，1位子信息"0"、 "1"或"S"在每一個(gè)幀1122和1123中描 述。包括在每一個(gè)扇區(qū)1125中的26位(M=26)子信息組指示了對(duì) 應(yīng)的塊單元1141的塊ID (地址信息)的至少一部分。
除指示地址的信息外，塊ID可以包括用于校正或檢測(cè)檢測(cè)信號(hào) 的*差校正碼、誤差檢測(cè)碼或奇偶校驗(yàn)碼等。
例如，每一個(gè)扇區(qū)1125中的26幀被分成第一個(gè)13幀(幀#0到 #12;第一幀組)和第二個(gè)13幀(幀#13到#25;第二幀組)。1位子 信息被記錄在每13幀中作為塊ID的一部分。這樣，2位子信息被記 錄在每一個(gè)扇區(qū)1125中作為塊ID的一部分。
圖12顯示了記錄在塊單元1141中的扇區(qū)1125和幀#0到#25中的 子信息的示例格式。在圖12中，最左部分顯示了扇區(qū)號(hào)。其右邊， 顯示了記錄在每一個(gè)扇區(qū)的幀中的子信息。1位子信息被記錄在第一 個(gè)13幀中，以及1位子信息被記錄在第二個(gè)13幀(幀組)中。在這 個(gè)例子中，塊單元1141是ECC塊。BO到B31的每一個(gè)指示ECC塊 地址中的位的序號(hào)(即，對(duì)應(yīng)的位是否是第一位、第二位等)。將描述扇區(qū)0的內(nèi)容。在扇區(qū)0的幀#0到#25中，在幀#0至lj弁12 (第一幀組)中，填蓋了ECC塊地址(LSB)的32位中第一個(gè)1位。 在幀#13到#25 (第二幀組)中，填蓋了 ECC塊地址的32個(gè)位中第 二個(gè)1位的子信息。如圖11中所示，在扇區(qū)0中，2位信息("0"或 "1")被填蓋為塊地址的一部分。
在扇區(qū)0的第一幀組中，指示ECC塊地址的開始的SYNC碼"S" 被填蓋來替代ECC塊地址(LSB)的第一個(gè)1位。SYNC碼"S"可 以用作用于再現(xiàn)ECC塊地址的同步信號(hào)或用作用于檢測(cè)ECC塊地址 的開始的檢測(cè)標(biāo)記。
將描述扇區(qū)1的內(nèi)容。在扇區(qū)1的幀#0到#25中，在幀#0至1』#12 中，填蓋了 ECC塊地址的32位中的第三個(gè)1位。在幀#13到#25中， 填蓋了 ECC塊地址的32位中的第四個(gè)1位的子信息。如圖11中所 示，在扇區(qū)1中，2位信息("0"或"1")被填蓋為塊地址的一部 分。
以這種方式，32位塊ID通過組合來自16個(gè)扇區(qū)1125中的每一 個(gè)的2位信息來表示。
在ECC塊具有32kB的長度并且塊單元1141被分成16個(gè)扇區(qū) 1125的情況中，32位塊可以通過在每一個(gè)扇區(qū)1125中記錄2位子信 息來獲得。
在ECC塊具有32kB長度的情況中， 一個(gè)塊ID如上所述由16個(gè) 扇區(qū)表示。在ECC塊具有64kB長度的情況中， 一個(gè)塊單元1141具 有32個(gè)扇區(qū)1125。在扇區(qū)16到31中，扇區(qū)0到15的內(nèi)容被重復(fù) 地描述。即，在16個(gè)扇區(qū)中的信息(子信息組)被描述兩次。
因?yàn)樽有畔⒈恢貜?fù)記錄在塊單元1141中，塊ID通過僅僅讀取16 個(gè)扇區(qū)、即32kB (2kxl6)來最終確定。因此，后處理(數(shù)據(jù)讀取、 數(shù)據(jù)記錄等)可以迅速地完成。因?yàn)閴KID在塊單元1141中被重復(fù)兩 次，可以增強(qiáng)塊ID的讀取的可靠性。替代在塊單元1141中記錄兩次塊ID，可以包括除塊ID之外的信 息。例如，塊ID的序號(hào)可以包括在子信息組中。序號(hào)可以用于基于 大多數(shù)來最終確定地址號(hào)。另外，這樣的序號(hào)提供了對(duì)于信號(hào)處理有 用的信息，例如，塊中哪一個(gè)扇區(qū)1125現(xiàn)在被讀取或塊中哪一個(gè)子 信息組是不正確的。
在光盤介質(zhì)具有多個(gè)記錄表面或?qū)拥那闆r中，記錄層的序號(hào)可以 包括在子信息組中。以這種方法，記錄表面可以如上面參照?qǐng)D16所 描述的容易地被識(shí)別。
在這個(gè)例子中，塊ID具有32位。地址信息的位數(shù)不局限于32， 而可以是依據(jù)例如將要記錄在光盤介質(zhì)上的數(shù)據(jù)量或誤差校正碼的 類型和系統(tǒng)的任意需要的數(shù)量。
在這個(gè)例子中，N=32時(shí)塊單元被分成32個(gè)扇區(qū)(或N46時(shí)分 成16個(gè)扇區(qū))。本發(fā)明不局限于這樣的扇區(qū)數(shù)量。
在這個(gè)例子中，M=26時(shí)子信息被記錄在包括在每一個(gè)扇區(qū)中的 26個(gè)幀中。本發(fā)明不不局限于這樣的幀數(shù)量。
在這個(gè)例子中，子信息在被調(diào)制為鋸齒形狀的擺動(dòng)后被記錄。本 發(fā)明不局限于這樣的擺動(dòng)形狀。子信息可以在被調(diào)制為具有例如圖4 或7中顯示的形狀后被記錄。
在這個(gè)例子中，塊標(biāo)記是軌道凹槽的切斷部分。本發(fā)明不局限于 這種形式的塊標(biāo)記。例如，塊標(biāo)記可以被調(diào)制為具有例如圖5或6中 顯示的形狀的擺動(dòng)。 (例9)
圖13顯示了依據(jù)本發(fā)明的例9的軌道凹槽1302。軌道凹槽1302 可以在圖2中所示的光盤介質(zhì)20中形成來代替圖1中所示的軌道凹 槽102。如圖13中所示，軌道凹槽1302具有逐塊不同的形狀。在圖 13中，塊標(biāo)記(標(biāo)識(shí)標(biāo)記)1310為軌道凹槽1302中的切斷部分并且 顯示指示每一個(gè)塊的前端的索引。每一個(gè)塊被分成N個(gè)扇區(qū)1325 (N-32或16)，并且每一個(gè)扇區(qū) 1325被分成M個(gè)幀#0到#25 (M=26)。每一個(gè)幀具有規(guī)定數(shù)量的周 期方式的擺動(dòng)1326或1327。擺動(dòng)1326或1327具有彼此不同的規(guī)定 形狀，表示子信息("0"、 "1"或"S")。 一種類型的子信息("0"、
"1"或"S")由一種形狀的擺動(dòng)1326或1327來表示。子信息的類 型和擺動(dòng)的形狀(擺動(dòng)1326或1327)是一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。更具體地， 擺動(dòng)1326和1327都具有通常的鋸齒形狀并且具有不同的上升形狀
(或上升梯度)和下降形狀(下降梯度)。擺動(dòng)1326或1327依據(jù)子 信息的類型("0"或"1")形成。子信息串由擺動(dòng)1326和1327的組 合表示。
擺動(dòng)1326和1327之間的上升梯度和下降梯度的差別可以容易地 由差分推挽檢測(cè)信號(hào)來檢測(cè)如下。掃描激光束射到軌道凹槽1302， 產(chǎn)生了指示由沿著垂直于光盤介質(zhì)20的軌道凹槽1302的方向(徑向) 劃分的光接收元件的檢測(cè)區(qū)域接收的光量之間的差的差分信號(hào)(即， 推挽信號(hào))。這樣，獲得了具有依據(jù)子信息是"0"或"1"來變化的 上升梯度和下降梯度的檢測(cè)信號(hào)。例如，上升梯度和下降梯度中的這 個(gè)差別可以通過對(duì)檢測(cè)信號(hào)差分容易地識(shí)別。
這樣，子信息的類型可以利用作為差分的結(jié)果獲得的值的大小來 檢測(cè)。但是，當(dāng)使用差分時(shí)，噪聲成分自然地增加了。在具有較差 S/N比的光盤介質(zhì)中，檢測(cè)錯(cuò)誤被合理地預(yù)期。在這個(gè)例子中，擺動(dòng) 1326和1327的每一種模式被重復(fù)多次以增強(qiáng)檢測(cè)的可靠性。
主信息被記錄在從塊標(biāo)記1310開始沿軌道凹槽1302的塊單元 1341中。塊單元1341具有規(guī)定長度，例如64kB (或32 kB)。主信 息可以被記錄為記錄標(biāo)記28。塊單元是用于信息處理的單元，例如 是ECC塊。當(dāng)N-32時(shí)塊單元1341被分成32個(gè)扇區(qū)1325(或當(dāng)N-16 時(shí)分成16個(gè)扇區(qū)1325)。每一個(gè)扇區(qū)1325是具有2kB長度的子塊。 當(dāng)M=26時(shí)每一個(gè)扇區(qū)1325被分成26個(gè)幀#0到#25。在每一個(gè)幀糾到#25的前端，SYNC標(biāo)記被記錄為用于再現(xiàn)數(shù)據(jù)的同步信號(hào)。
幀是記錄在軌道凹槽1302上的信息的基本單位。在圖13中，幀 #0由標(biāo)號(hào)1322表示，幀#1由標(biāo)號(hào)1323表示。如幀1322和1323所 示例的，每一個(gè)幀包括預(yù)先以周期的形式形成的一種類型的擺動(dòng)。以 這種方式，1位子信息"0"、 "1"或"S"在每一個(gè)幀1322和1323 中描述。包括在每一個(gè)扇區(qū)1325中的26位(M=26)子信息組指示 對(duì)應(yīng)的塊單元1341的塊ID (地址信息)的至少一部分。
例如，每一個(gè)扇區(qū)1325中的26個(gè)幀被分成第一個(gè)13幀(幀#0 到#12;第一幀組)和第二個(gè)13幀(幀#13到#25;第二幀組)。在第 一幀組中的13個(gè)幀中，預(yù)先以周期的方式形成相同形狀的擺動(dòng)。在 第二幀組中的13個(gè)幀中，預(yù)先以周期的方式形成相同形狀的擺動(dòng)。 這樣，2位子信息"0"、 "1"或"S"在每一個(gè)扇區(qū)1325中描述。在 每一個(gè)扇區(qū)1325中的32位子信息指示對(duì)應(yīng)的塊單元1341的塊ID(地 址信息)的至少一部分。
除指示地址的信息外，塊ID還可以包括用于校正或檢測(cè)檢測(cè)信 號(hào)的誤差校正碼、誤差檢測(cè)碼或奇偶校驗(yàn)碼等。
圖14顯示了記錄在塊單元1341中的扇區(qū)1325和幀糾到#25中 的子信息的示例格式。在圖14中，最左邊部分顯示了扇區(qū)號(hào)。其右 邊顯示了記錄在每一個(gè)扇區(qū)的幀中的子信息。
將描述扇區(qū)0的內(nèi)容。在扇區(qū)0的所有幀#0到#25中，在ECC 塊地址(LSB)的32位中的第一個(gè)1位被填蓋。如圖14中所示，在 扇區(qū)0中，1位子信息B0 ("0"或"1")被填蓋。
將描述扇區(qū)1的內(nèi)容。在扇區(qū)1的所有幀#0到#25中，在ECC 塊地址(LSB)的32位中的第一個(gè)1位被填蓋。如圖14中所示，在 扇區(qū)1中，1位子信息B0 ("0"或"1")被填蓋。
在扇區(qū)1中，填蓋在扇區(qū)0中的子信息BO被重復(fù)描述。
接著將描述扇區(qū)2的內(nèi)容。在扇區(qū)2的所有幀糾到#25中，在ECC塊地址的32位中的第二個(gè)1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區(qū)2中， 1位子信息B1 ("0"或"1")被填蓋。
將描述扇區(qū)3的內(nèi)容。在扇區(qū)3的所有幀#0至1」#25中，在ECC 塊地址的32位中的第二個(gè)1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區(qū)3中， 1位子信息B1 ("0"或"1")被填蓋。
在扇區(qū)3中，填蓋在扇區(qū)2中的子信息B1被重復(fù)描述。
以這種方式，在直到扇區(qū)12的偶數(shù)扇區(qū)中，ECC塊地址的32位 中第三、第四、第五、第六和第七個(gè)1位分別地被填蓋。在直到扇區(qū) 13的奇數(shù)(N)扇區(qū)中，與偶數(shù)(N-l)扇區(qū)中相同的子信息被填蓋。
扇區(qū)14到24的內(nèi)容將被描述。
扇區(qū)14的內(nèi)容將被描述。在扇區(qū)14的所有幀#0到#25中，在ECC 塊地址的32位中的第8個(gè)1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區(qū)14 中，1位子信息B7 ("0"或"1")被填蓋。
扇區(qū)15的內(nèi)容將被描述。在扇區(qū)15的所有幀#0到#25中，在ECC 塊地址的32位中的第9個(gè)1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區(qū)15 中，1位子信息B8 ("0"或"1")被填蓋。
直到扇區(qū)24的1位子信息被類似地描述。
扇區(qū)25到31的內(nèi)容將被描述。
扇區(qū)25的內(nèi)容將被描述。在扇區(qū)25的幀#0至1」#25中，在幀#0到 #12(第一幀組)中，在ECC塊地址的32位中的第19個(gè)1位被填蓋。 如圖14中所示，在扇區(qū)25的第一幀組中，1位子信息B18 ("0"或 "1")被填蓋。
在扇區(qū)25的幀#0到#25中，在幀#13到#25 (第二幀組)中，在 ECC塊地址的32位中的第20個(gè)1位被填蓋。如圖14中所示，在扇 區(qū)25的第二幀組中，1位子信息B19 ("0"或"1")被填蓋。
扇區(qū)26的內(nèi)容將被描述。在扇區(qū)26的幀#0至1」#25中，在幀#0到 #12 (第一幀組)中，在ECC塊地址的32位中的第21個(gè)1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區(qū)26的第一幀組中，1位子信息B20 ("0"或 "1")被填蓋。
在扇區(qū)26的幀糾至U弁25中，在幀#13至1」#25 (第二幀組)中，在 ECC塊地址的32位中的第22個(gè)1位被填蓋。如圖14中所示，在扇 區(qū)26的第二幀組中，1位子信息B21 ("0"或"1")被填蓋。
直到扇區(qū)31的1位子信息被類似地描述。
如上所述，在這個(gè)例子中，其中描述子信息的扇區(qū)的數(shù)量和幀的 數(shù)量依據(jù)塊ID的位的位置(即，較低位或較高位)而變化。在這個(gè) 例子中，子信息BO是LSB，子信息B31是HSB。
在用于讀取存儲(chǔ)在例如光盤中的連續(xù)數(shù)據(jù)的系統(tǒng)中，被連續(xù)讀取 的數(shù)據(jù)的塊ID從較低位順序地增大。在兩個(gè)相鄰塊ID之間，塊ID 的值僅僅差"l"。因此，塊ID可以僅僅通過讀取所讀取的塊ID的幾 個(gè)較低位來確定，因?yàn)槭Ｏ碌妮^高位可以由從緊挨著的前一個(gè)塊ID 讀取的值或由從先于當(dāng)前塊ID —個(gè)確定數(shù)的塊ID讀取的值來估算。 在這種情況中，塊ID的幾個(gè)較低位的讀取可靠性很重要。在這個(gè)例 子中，塊ID的較低位被排列在多個(gè)扇區(qū)上，即以大于其他較高位的 數(shù)目來排列，如圖14所示。因此，可以提高塊ID的較低位的讀取可 靠性，因而提高塊ID的讀取效率。
在這個(gè)例子中，塊ID具有32位。地址信息的位數(shù)不局限于32， 而可以是依據(jù)例如將要被記錄在光盤介質(zhì)上的數(shù)據(jù)量或誤差校正碼 的類型和系統(tǒng)任意需要的數(shù)量。
在這個(gè)例子中，當(dāng)N-32時(shí)塊單元被分成32個(gè)扇區(qū)(N46時(shí)為 16個(gè)扇區(qū))。本發(fā)明不局限于這樣的扇區(qū)數(shù)量。
在這個(gè)例子中，M=26時(shí)子信息被記錄在包括在每一個(gè)扇區(qū)中的 26個(gè)幀中。本發(fā)明不局限于這樣的幀的數(shù)量。
在這個(gè)例子中，子信息在被調(diào)制為鋸齒形狀的擺動(dòng)后被記錄。本 發(fā)明不局限于這樣的擺動(dòng)形狀。子信息可以在被調(diào)制為具有例如圖4或7中顯示的形狀后被記錄。
在這個(gè)例子中，塊標(biāo)記是軌道凹槽的切斷部分。本發(fā)明不局限于 這種形式的塊標(biāo)記。例如，塊標(biāo)記可以被調(diào)制為具有例如圖5或6中 顯示的形狀的擺動(dòng)。 (例10)
圖15顯示了依據(jù)本發(fā)明的例10的軌道凹槽1502。軌道凹槽1502 可以在圖2中所示的光盤介質(zhì)20中形成來代替圖1中所示的軌道凹 槽102。如圖15中所示，軌道凹槽1502具有逐塊不同的形狀。在圖 15中，塊標(biāo)記(標(biāo)識(shí)標(biāo)記)1510為軌道凹槽1502中的切斷部分并且 顯示指示每一個(gè)塊的前端的索引。
每一個(gè)塊被分成N個(gè)扇區(qū)1525 (N-32或16)，每一個(gè)扇區(qū)1525 被分成M個(gè)幀糾到#25 (M=26)。每一個(gè)幀以周期的方式具有規(guī)定數(shù) 量的擺動(dòng)1526和1527。擺動(dòng)1526和1527彼此具有不同的規(guī)定形狀， 并且代表子信息("0"、 "1"或"S")。 一種類型的子信息("0"、 "1" 或"S")由一種形狀的擺動(dòng)1526或1527來表示。子信息的類型和擺 動(dòng)的形狀(擺動(dòng)1526和1527)具有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。更具體地，擺 動(dòng)1526和1527都具有通常的鋸齒形狀，并且具有不同的上升形狀(或 上升梯度)和下降形狀(或下降梯度)。擺動(dòng)1526或1527依據(jù)子信 息("0"或"1")的類型來形成。子信息串由擺動(dòng)1526和1527的組 合來表示。
在擺動(dòng)1526和1527之間的上升梯度和下降梯度中的差別可以由 差分推挽檢測(cè)信號(hào)容易地檢測(cè)如下。掃描激光束射向軌道凹槽1502， 產(chǎn)生了指示由沿垂直于光盤介質(zhì)20的軌道凹槽102的方向(徑向) 劃分的光接收元件的檢測(cè)區(qū)域接收的光量之間的差的差分信號(hào)(即推 挽信號(hào))。這樣，獲得了具有依據(jù)子信息是"0"或"1"來變化的上 升梯度和下降梯度的檢測(cè)信號(hào)。上升梯度和下降梯度中的差別例如可 以通過對(duì)檢測(cè)信號(hào)差分容易地識(shí)別。這樣，子信息的類型可以通過作為差分的結(jié)果獲得的值的大小來
檢測(cè)。但是，當(dāng)使用差分時(shí)，噪聲成分自然增加了。在具有較差S/N 比的光盤介質(zhì)中，檢測(cè)錯(cuò)誤被合理地預(yù)期到。在這個(gè)例子中，擺動(dòng) 1526和1527的每一個(gè)模式被重復(fù)多次以增強(qiáng)檢測(cè)的可靠性。
主信息從塊標(biāo)記1510沿著軌道凹槽1502被記錄在塊單元1541 中。塊單元1541具有規(guī)定長度，例如64kB (或32kB)。主信息可以 被記錄為記錄標(biāo)記28。塊單元是用于信息處理的單元，并且例如是 ECC塊。當(dāng)N=32時(shí)塊單元1541被分成32個(gè)扇區(qū)1525 (或當(dāng)N=16 時(shí)分成16個(gè)扇區(qū)1525)。每一個(gè)扇區(qū)1525都是具有2kB長度的子塊。 當(dāng)M=26時(shí)每一個(gè)扇區(qū)1525被分為26個(gè)幀#0至!]#25。在每一個(gè)幀#0 到#25的前端，SYNC標(biāo)記被記錄為用于再現(xiàn)數(shù)據(jù)的同步信號(hào)。
幀是記錄在軌道凹槽1502上的信息的基本單位。在圖15中，幀 #0由標(biāo)號(hào)1522表示，幀#1由標(biāo)號(hào)1523表示。如幀1522和1523所 示例，每一幀包括預(yù)先以周期的方式形成的一種類型的擺動(dòng)。以這種 方式，1位的子信息"0"、 "1"或"S"在每一個(gè)幀1522和1523中 描述。子信息被描述為SYNC信息。包括在每一個(gè)扇區(qū)1525中的26 位(M=26)子信息組指示了對(duì)應(yīng)的塊單元1541的塊ID (地址信息) 的至少一部分。
1位子信息被分配給一幀，這樣32位塊ID被填蓋在連續(xù)的32幀 (子信息組)中。
除了指示地址的信息外，塊ID可以包括用于校正或檢測(cè)檢測(cè)信 號(hào)的誤差校正碼、誤差檢測(cè)碼或奇偶校驗(yàn)碼等。
如上所述，塊ID通過組合分配給32幀中的每一個(gè)的1位信息來 表示。即整個(gè)塊ID由32位子信息組來表示。
當(dāng)ECC塊具有64kB的長度時(shí)，每一個(gè)塊包括32個(gè)扇區(qū)。因此， 一個(gè)塊包括832幀(=32x26)。當(dāng)塊ID由32幀(一個(gè)幀組)來表示 時(shí)，塊ID可以在塊單元1541中被重復(fù)26次(即相同的塊ID在26個(gè)幀組中描述)。
當(dāng)ECC塊具有32kB的長度時(shí)，每一個(gè)塊包括16個(gè)扇區(qū)。因此， 一個(gè)塊包括416個(gè)幀(=16x26)。當(dāng)塊ID由32個(gè)幀(一個(gè)幀組)來 表示時(shí)，塊ID可以在塊單元1541中被重復(fù)13次(即相同的塊ID在 13個(gè)幀組中描述)。
以這種方式，塊ID由32幀(一個(gè)幀組)來表示，并且該ID塊 在塊單元1541中被描述很多次。
這樣，塊ID最后通過僅僅讀取32幀來確定。因此，可以很快地 執(zhí)行后處理(數(shù)據(jù)讀取、數(shù)據(jù)記錄等)。
由于塊ID在塊單元1541中被重復(fù)多次，可以增強(qiáng)塊ID的讀取 可靠性。
如上面參照?qǐng)D16描述的，可以包括不同于塊ID的信息，盡管在 塊單元1541中重復(fù)塊ID的次數(shù)在這種情況中減少了。例如，塊ID 的序號(hào)可以包括在子信息組中。序號(hào)可以用于在大多數(shù)的基礎(chǔ)上最后 確定地址號(hào)。此外，這樣的號(hào)提供了用于信號(hào)處理的有用信息，例如， 塊中的哪一個(gè)扇區(qū)1525現(xiàn)在被讀取或塊中哪一個(gè)子信息組是不正確 的。
在光盤介質(zhì)具有多個(gè)記錄表面或?qū)拥那闆r中，記錄層的序號(hào)可以 包括在子信息組中。以這種方式，記錄表面可以容易地被識(shí)別。例如， 圖16中的四個(gè)相同序號(hào)中的一個(gè)可以用記錄層的序號(hào)替代。這樣， 記錄表面可以容易地識(shí)別。
在這個(gè)例子中，塊ID有32位。地址信息的位數(shù)不局限于32，而 是可以是依據(jù)例如將要記錄在光盤介質(zhì)上的數(shù)據(jù)量或誤差校正碼的 類型和系統(tǒng)的任何需要的數(shù)量。
在這個(gè)例子中，當(dāng)N=32時(shí)塊單元被分為32個(gè)扇區(qū)(或當(dāng)N=16 分為16個(gè)扇區(qū))。本發(fā)明不局限于這樣的扇區(qū)數(shù)量。
在這個(gè)例子中，當(dāng)M=26時(shí)子信息被記錄在包括在每一個(gè)扇區(qū)中的26幀中。本發(fā)明不限于這樣的幀數(shù)量。
在這個(gè)例子中，子信息在被調(diào)制為鋸齒狀擺動(dòng)后被記錄。本發(fā)明 不局限于這樣的擺動(dòng)形狀。子信息可以在被調(diào)制為具有例如圖4或7 中所示的形狀的擺動(dòng)后被記錄。
在這個(gè)例子中，塊標(biāo)記是軌道凹槽的切斷部分。本發(fā)明不局限于 這種塊標(biāo)記的形式。例如，塊標(biāo)記可以被調(diào)制為具有例如圖5或6中 所示的形狀的擺動(dòng)。 (例11)
圖22顯示了依據(jù)本發(fā)明的例11的軌道凹槽1602。軌道凹槽1602 可以在圖2中所示的光盤介質(zhì)20中形成來替代圖1中所示的軌道凹 槽102。如圖22中所示，軌道凹槽1602具有逐塊不同的形狀。
參照?qǐng)D22，作為形成塊地址的單元的ECC塊被分成4個(gè)PID部 分PIDO至lj PID3 。 PID部分PIDO、 PID1 、 PID 2禾口 PID3分另lj由標(biāo)號(hào) 2202、 2204、 2206和2208來指示。PID部分2202、 2204、 2206和 2208的前面分別是附加部分0到3。附加部分O、 1、 2和3分別由標(biāo) 號(hào)2201、 2203、 2205和2207來指示。附加部分2201、 2203、 2205 和2207的每一個(gè)都包括塊標(biāo)記(標(biāo)識(shí)標(biāo)記)2220。在圖22中，塊標(biāo) 記(標(biāo)識(shí)標(biāo)記)2220是軌道凹槽1602中的切斷部分并且顯示了指示 每一個(gè)PID部分的前端的索引。
如上所述，塊被分為四個(gè)PID部分(N=4),并且每一個(gè)PID部 分還被分成M幀(M=52)。每一幀(例如，每一幀2222、 2223、 2224 和2225)從塊標(biāo)記2220沿軌道凹槽1602具有規(guī)定數(shù)量的擺動(dòng)2226、 2227、 2229或2230。擺動(dòng)2226、 2227、 2229和2230具有彼此不同 的規(guī)定形狀，代表子信息("0"、 "1"、 "S"或"B")。 一種類型的子 信息("0"、 "1"、 "S"或"B，，)由一種擺動(dòng)形狀2226、 2227、 2229 或2230來表示。子信息的類型和擺動(dòng)的形狀(擺動(dòng)2226、 2227、 2229 或2230)是——對(duì)應(yīng)的關(guān)系。更具體地，擺動(dòng)2226、 2227和2228都具有通常的鋸齒形狀，擺動(dòng)2230具有正弦波形狀。擺動(dòng)2226、2227、 2228或2230具有不同的上升形狀(或上升梯度)和下降形狀(或下 降梯度)。擺動(dòng)2226、 2227、 2229或2230依據(jù)子信息("0"、 "1"、
"S"或"B")的類型來形成。
擺動(dòng)2226、 2227、 2229和2230中的上升梯度和下降梯度中的差 別可以通過差分推挽檢測(cè)信號(hào)容易地檢測(cè)如下。掃描激光束射向軌道 凹槽1602，產(chǎn)生了指示由沿垂直于光盤介質(zhì)20的軌道凹槽1602的 方向(徑向)劃分的光接收元件的檢測(cè)區(qū)域接收的光量之間的差的差 分信號(hào)(即推挽信號(hào))。這樣，獲得了具有依據(jù)子信息是"0"、 "1"、
"S"或"B"來變化的上升梯度和下降梯度的檢測(cè)信號(hào)。上升梯度 和下降梯度中的差別例如可以通過對(duì)檢測(cè)信號(hào)差分容易地識(shí)別。
這樣，子信息的類型可以通過作為差分結(jié)果獲得的值的大小來檢 測(cè)。但是，當(dāng)使用差分時(shí)，噪聲成分自然地增加了。在具有較差S/N 比的光盤介質(zhì)中，檢測(cè)錯(cuò)誤被合理地預(yù)期到。在這個(gè)例子中，擺動(dòng) 2226、 2227、 2229和2230的每一個(gè)模式被重復(fù)多次以增強(qiáng)檢測(cè)的可 靠性。
PID部分的內(nèi)容將被描述。每一個(gè)PID部分包括每一個(gè)都具有372 個(gè)字節(jié)的52幀，這樣具有19344字節(jié)的長度(=372字節(jié)x52)。 PID 部分2202 (PID0)包括8位PID信息2209、 24位塊地址信息2210、 16位IED信息2211和4位地址標(biāo)記(AM) 2212。
PID信息2209表示對(duì)應(yīng)的PID部分的號(hào)(即，PID部分是否是 PID0、 PID1、 PID2或PID3)。塊地址信息2210是分配給每一個(gè)塊的 地址信息，并且在相同的ECC塊的PIDO到PID3中是共同的。正D 信息2211是從PID信息2209和塊地址信息2210產(chǎn)生的ID誤差檢測(cè) 碼。
地址標(biāo)記2212位于PID部分2202的后端(后端)并且用于檢測(cè) 緊隨PID部分2202的PID部分2204的前端。除子信息"0"、 "1"或"S"之外，地址標(biāo)記2211包括使用正弦波形狀的擺動(dòng)、例如在幀 2225中的擺動(dòng)2230的子信息"B"。地址標(biāo)記2212通過組合由幀2224 中的擺動(dòng)2229記錄的子信息"S"和子信息"B"來表示。例如，地 址標(biāo)記2212具有4位信息"SBBS"。當(dāng)這種模式被檢測(cè)時(shí)，準(zhǔn)備下 面的附加部分或PID部分的檢測(cè)。
由于子信息"B"僅僅被用于地址標(biāo)記，地址標(biāo)記容易與具有其 他信息的部分區(qū)別開。這樣，可以增強(qiáng)地址標(biāo)記的檢測(cè)精度。
附加部分的內(nèi)容將被描述。不象PID部分，每一個(gè)附加部分具有 預(yù)先記錄在盤上的塊標(biāo)記2220。塊標(biāo)記2220例如是鏡像標(biāo)記，它是 如在下面描述的圖17中所示的軌道凹槽1602中的切斷部分。附加部 分2201位于PID部分2202 (PIDO)之前并且也是ECC塊的前端。
附加部分0到3預(yù)先分別在PIDO到PID3之前被提供，并且每一 個(gè)都具有93字節(jié)的長度。塊標(biāo)記(鏡像標(biāo)記)2220具有大約2個(gè)字 節(jié)的長度。在每一個(gè)附加部分，假數(shù)據(jù)可以被記錄以增加塊標(biāo)記2220 的檢測(cè)精度。
可使用的假數(shù)據(jù)例如可以是包括簡(jiǎn)單重復(fù)的4T標(biāo)記和4T空間的 信息。這樣，單個(gè)頻率分量的記錄標(biāo)記和塊標(biāo)記可以是在頻率上分開 的，以便更容易檢測(cè)。這樣，塊標(biāo)記可以更容易地被檢測(cè)。
如上所述， 一個(gè)ECC塊被分成4個(gè)PID部分，并且每一個(gè)PID 部分前面是附加部分。在每一個(gè)附加部分，形成了指示PID部分的前 端的塊標(biāo)記。在ECC塊中重復(fù)這樣的PID部分。因?yàn)閴KID最終通過 僅僅讀取ECC塊的1/4來確定，后處理(數(shù)據(jù)讀取，數(shù)據(jù)記錄等) 可以快速地執(zhí)行。
因?yàn)閴KID在ECC塊中重復(fù)多次，增強(qiáng)了塊ID的讀取可靠性。
在這個(gè)例子中， 一個(gè)ECC塊被分成4個(gè)PID部分。本發(fā)明不局 限于這樣數(shù)量的PID部分。一個(gè)ECC塊可以被分成任意整數(shù)多個(gè)PID 部分。在這個(gè)例子中，子信息在被調(diào)制成鋸齒形狀的擺動(dòng)后被記錄。本
發(fā)明不局限于這樣的擺動(dòng)形狀。子信息可以在被調(diào)制成具有例如圖4 或7中顯示的形狀的擺動(dòng)后被記錄。
在這個(gè)例子中，塊標(biāo)記是軌道凹槽的切斷部分。本發(fā)明不局限于 這樣的塊標(biāo)記的形式。例如，塊標(biāo)記可以被調(diào)制成具有例如圖5或6 中顯示的形狀的擺動(dòng)?；蛘撸瑝K標(biāo)記可以被調(diào)制成具有例如圖17、 18或19中顯示的形狀的擺動(dòng)。 (例12)
圖17顯示了依據(jù)本發(fā)明的例12的軌道凹槽1702。軌道凹槽1702 通過修改圖22中顯示的軌道凹槽1602的附加部分來獲得。
在圖17中，標(biāo)號(hào)1701表示附加部分0， 1705表示附加部分1到 3中的每一個(gè)。具有連續(xù)多個(gè)正弦波狀擺動(dòng)的形狀的軌道凹槽1702 預(yù)先在盤中形成，每一個(gè)附加部分具有93字節(jié)的長度。附加部分包 括9個(gè)擺動(dòng)。附加部分0具有每一個(gè)都作為軌道凹槽1702的切斷部 分的塊標(biāo)記1703和1704，附加部分1到3每一個(gè)都具有作為軌道凹 槽1702的切斷部分的塊標(biāo)記1706。
如例11中所描述的，附加部分0到3先于各自的PID部分并且 可以是地址信息的前端。因此，需要提供對(duì)附加部分0到3的令人滿 意的高水平的讀取可靠性。在塊標(biāo)記在附加部分中重復(fù)多次(例如， 兩次)的情況中，即在附加部分中提供了多個(gè)相同的塊標(biāo)記的情況中， 即使當(dāng)一個(gè)塊標(biāo)記由于外部干擾例如噪聲或故障而不能被檢測(cè)時(shí)，塊 標(biāo)記也能以高水平的可靠性被檢測(cè)。在塊標(biāo)記以特定的間隔被重復(fù)多 次的情況中，正確的塊標(biāo)記可以容易地區(qū)別于由噪聲、故障等產(chǎn)生的 假的塊標(biāo)記。
在附加部分0到3中形成的塊標(biāo)記的數(shù)量和形狀可以相同。例如， 一個(gè)塊標(biāo)記1703可以在附加部分0到3的每一個(gè)中提供。或者，如 圖17中所示，在附加部分0到3中形成的塊標(biāo)記的數(shù)量和形狀可以在附加部分0到3之間不同。例如，附加部分0中的塊標(biāo)記的數(shù)量可 以與附加部分1到3中的塊標(biāo)記的數(shù)量不同。在這種情況中，可以在 附加部分0中提供比其他附加部分中更多數(shù)量的塊標(biāo)記，以增強(qiáng)對(duì)作 為ECC塊的前端的附加部分O的讀取的可靠性。在圖17中，在附加 部分0中提供了兩個(gè)塊標(biāo)記1703和1704，而在附加部分1到3的每 一個(gè)中提供了一個(gè)塊標(biāo)記1706。當(dāng)在附加部分0中形成的塊標(biāo)記的 數(shù)量或形狀不同于附加部分1到3中形成的時(shí)，附加部分0中的塊標(biāo) 記可以容易地區(qū)別于其他附加部分的塊標(biāo)記。這樣，可以不用讀取 PID部分的全部而最終地確定ECC塊的前端地址。
在圖17中，按照擺動(dòng)的相位在相同的位置提供多個(gè)塊標(biāo)記?；?者，如圖18中所示，塊標(biāo)記可以在具有擺動(dòng)的180度相差的位置提 供(塊標(biāo)記1703和1804)。
在這個(gè)例子中，每一個(gè)塊標(biāo)記具有2個(gè)字節(jié)的物理長度，但是本 發(fā)明不局限于這樣的長度?？梢赃x擇基于光點(diǎn)直徑確定的最佳設(shè)計(jì)長 度。例如，如圖19中所示，塊標(biāo)記可以具有4個(gè)字節(jié)的物理長度。
當(dāng)塊標(biāo)記可以具有如圖19中所示的4個(gè)字節(jié)的物理長度時(shí)，附 加部分O中的塊標(biāo)記的物理長度可以與附加部分1到3中的不同。這 樣，附加部分O中的塊標(biāo)記的讀取可靠性可以被增強(qiáng)。當(dāng)在附加部分 0中形成的塊標(biāo)記的長度與附加部分1到3中形成的不同時(shí)，附加部 分0中的塊標(biāo)記可以容易地區(qū)別于其他附加部分的塊標(biāo)記。
參照?qǐng)D20，將描述其中塊標(biāo)記是在凸區(qū)中形成的預(yù)凹坑的光盤介 質(zhì)。圖20顯示了在這樣的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽2002。軌道凹槽2002 通過修改圖22中顯示的軌道凹槽1602的附加部分來獲得。在圖20 中，標(biāo)號(hào)2001表示附加部分0， 2005表示附加部分1到3中的每一 個(gè)。塊標(biāo)記2004在附加部分0的軌道凹槽2002的相鄰部分之間的凸 區(qū)2003中形成。塊標(biāo)記2004是凸區(qū)2003中的切斷部分。當(dāng)用光點(diǎn) 2007掃描軌道凹槽2002時(shí)，塊標(biāo)記2004在從光點(diǎn)2007的中心偏移了半個(gè)軌道的狀態(tài)被掃描。
如圖20中所示在凸區(qū)2003上形成的塊標(biāo)記2004可以使用指示 由光接收元件的兩個(gè)分開的檢測(cè)區(qū)域接收的光量之間的差的差分信 號(hào)(即，推挽信號(hào))來檢測(cè)。使用這樣的差分信號(hào)來檢測(cè)上述的PID 部分。塊地址可以使用類似的差分信號(hào)來檢測(cè)。因此，塊地址和PID 部分可以被檢測(cè)而不用將差分信號(hào)切換成總和信號(hào)。這樣，信號(hào)檢測(cè) 部分可以具有更簡(jiǎn)單的電路配置。
在類似圖20中的塊標(biāo)記2004的一個(gè)附加部分中提供多個(gè)相同的 塊標(biāo)記的情況中，塊標(biāo)記的數(shù)量可以在附加部分0中和在附加部分1 到3中之間存在差別。
例如，當(dāng)附加部分0包括兩個(gè)塊標(biāo)記2204并且附加部分1到3 中的每一個(gè)都具有一個(gè)塊標(biāo)記2204時(shí)，可以增強(qiáng)附加部分0中的塊 標(biāo)記的讀取可靠性。當(dāng)在附加部分O中形成的塊標(biāo)記的數(shù)量不同于在 附加部分1到3中形成的時(shí)，附加部分0中的塊標(biāo)記可以容易地區(qū)別 于其他附加部分的塊標(biāo)記。
在每一個(gè)附加部分中，假數(shù)據(jù)可以被記錄以增加塊標(biāo)記的檢測(cè)精度。
可使用的假數(shù)據(jù)例如可以是包括簡(jiǎn)單地重復(fù)的4T標(biāo)記和4T空間 的信息。這樣，單一頻率分量的記錄標(biāo)記和塊標(biāo)記可以是在頻率上分 開的，以便更容易檢測(cè)。這樣，塊標(biāo)記可以更容易地被檢測(cè)。 (例13)
圖21顯示了依據(jù)本發(fā)明的例13的光盤介質(zhì)的PID部分2100。PID 部分2100通過修改圖22中所示的PIDO到PID3來獲得。PID部分 2100包括每一個(gè)都具有372個(gè)字節(jié)的52幀，因此具有19344字節(jié)的 長度(=372字節(jié)x52)。 PID部分2100包括8位PID信息2209、 24 位塊地址信息2210、 16位正D信息2211和作為標(biāo)識(shí)標(biāo)記的4位地址 標(biāo)記(AM) 2212。 PID信息2209、塊地址信息2210和IED信息2211類似于例11中的對(duì)應(yīng)部分。
地址標(biāo)記2211位于PID部分2100的后端并且用于檢測(cè)緊隨PID 部分2100的PID部分的前端。地址標(biāo)記2211是除子信息"0"、 "1" 或"S"之外還包括子信息"B"的4信息單元。地址標(biāo)記2211通過 組合子信息"S"和子信息"B"來表示。地址標(biāo)記可以是每一個(gè)PID 部分2100中的子信息的不同組合。例如，如圖21中所示，PID3的 地址標(biāo)記2107包括4位信息"SSSS"。當(dāng)這種組合被檢測(cè)時(shí)，識(shí)別 出這是PID3的地址標(biāo)記2107。這樣，可以準(zhǔn)備緊隨其后的PIDO之
PIDO的地址標(biāo)記2101、 PID1的地址標(biāo)記2103和PID2的地址標(biāo) 記2105中的每一個(gè)都包括不同于PID3的地址標(biāo)記2107中的 "SBBS"。由于PID3的地址標(biāo)記的內(nèi)容不同于PIDO到PID2的地址 標(biāo)記的內(nèi)容，所以PID3的地址標(biāo)記容易地區(qū)別于其他PID部分的地 址標(biāo)記。這樣，增加了PID3的地址標(biāo)記的檢測(cè)精度。gp，塊的前端 可以更容易地由子信息的這樣的不同組合來檢測(cè)。
PID0到PID2的地址標(biāo)記可以由相同形狀的擺動(dòng)來形成(即，子 信息的相同組合)。例如，PIDO到PID2的地址標(biāo)記可以都包括 "SBBS"。
圖21中所示的具有用軌道凹槽的擺動(dòng)表示的信息的地址標(biāo)記 2101、 2103、 2105和2107可以使用指示由光接收元件的兩個(gè)分開的 檢測(cè)區(qū)域接收的光量之間的差的差分信號(hào)(即，推挽信號(hào))來檢測(cè)。 使用這樣的差分信號(hào)來檢測(cè)PID信息2209、塊地址信息2210和IED 信息2211。在每一個(gè)PID部分之前的塊地址或標(biāo)識(shí)標(biāo)記可以使用類 似的差分信號(hào)來檢測(cè)。因此，每一個(gè)PID部分的前端、塊的前端和塊 地址都可以被檢測(cè)而不用把差分信號(hào)切換成總和信號(hào)和差分信號(hào)。這 樣，信號(hào)檢測(cè)部分可以具有更簡(jiǎn)單的電路配置。
為了增加地址標(biāo)記2101、 2103、 2105和2107的檢測(cè)精度，假數(shù)據(jù)可以被記錄在對(duì)應(yīng)于地址標(biāo)記的軌道凹槽的部分。
可使用的假數(shù)據(jù)例如可以是包括簡(jiǎn)單地重復(fù)的4T標(biāo)記和4T空 間的信息。這樣，單一頻率分量的記錄標(biāo)記和塊標(biāo)記可以在頻率上分 開，以便更容易檢測(cè)。這樣，塊標(biāo)記可以更容易地被檢測(cè)。圖21中 顯示的地址標(biāo)記可以使用上述的差分信號(hào)來檢測(cè)。因此，地址標(biāo)記可 以通過在對(duì)應(yīng)于地址標(biāo)記的軌道凹槽的部分中記錄正確的用戶數(shù)據(jù) 以替代假數(shù)據(jù)來檢測(cè)。
附加部分中的標(biāo)識(shí)標(biāo)記和地址標(biāo)記可以組合使用。例如，附加部 分中的標(biāo)識(shí)標(biāo)記是2字節(jié)的鏡象標(biāo)記，這樣以非常高水平的位置精度 來提供。因此，這樣的組合使用可以增加在鏈接時(shí)開始記錄的位置的 精度以供額外地寫或重寫。 (例14)
圖23A顯示了依據(jù)本發(fā)明的例14的光盤裝置2300。光盤裝置 2300再現(xiàn)利用前面的例子中描述的多個(gè)擺動(dòng)形狀的組合記錄在光盤 介質(zhì)上的子信息，以便記錄和再現(xiàn)主信息。圖23是顯示在圖23A中 的光盤裝置2300的操作的流程圖。
光盤裝置2300包括變換部分2330、再現(xiàn)信號(hào)計(jì)算部分2308、聚 焦位置控制部分2309、跟蹤位置控制部分2310、子信息檢測(cè)部分 2312、激光驅(qū)動(dòng)部分2313、再現(xiàn)信號(hào)處理部分2314和地址信息/盤管 理信息處理部分2315。變換部分2330包括半導(dǎo)體激光器2302、準(zhǔn)直 透鏡2303、分束器2304、會(huì)聚部分2305、集光透鏡2306、光檢測(cè)部 分2307以及傳動(dòng)器2311。光盤裝置2300將光束射向光盤介質(zhì)2301 使得讀取記錄在光盤介質(zhì)2301上的主信息和子信息并且把該主信息 和子信息轉(zhuǎn)換為再現(xiàn)信號(hào)。
參照?qǐng)D23A和23B，半導(dǎo)體激光器2302發(fā)射出的光束通過準(zhǔn)直 透鏡2303、分束器2304和光會(huì)聚部分2305被收集在光盤介質(zhì)2301 的信息表面上。然后所收集的光被光盤介質(zhì)2301反射和折射并且通過光會(huì)聚部分2305、分束器2304和集光透鏡2306被收集在光檢測(cè) 部分2307上。光檢測(cè)部分2307的光接收元件A、 B、 C和D的每一 個(gè)都依據(jù)接收到的光的總量來輸出電壓信號(hào)作為再現(xiàn)信號(hào)2320 (步 驟S畫)。
再現(xiàn)信號(hào)計(jì)算部分2308利用加、減、乘或除來處理再現(xiàn)信號(hào)2320。 從再現(xiàn)信號(hào)計(jì)算部分2308輸出的作為這樣的計(jì)算結(jié)果的FE (聚焦誤 差)信號(hào)2321被發(fā)送到聚焦位置控制部分2309。從再現(xiàn)信號(hào)計(jì)算部 分2308輸出的作為這樣的計(jì)算結(jié)果的TE (跟蹤誤差)信號(hào)2322被 發(fā)送到跟蹤位置控制部分2310。從再現(xiàn)信號(hào)計(jì)算部分2308輸出的作 為這樣的計(jì)算結(jié)果的RF (射頻)信號(hào)2323被發(fā)送到子信息檢測(cè)部分 2312和再現(xiàn)信號(hào)處理部分2314 (步驟S200)。
聚焦位置控制部分2309通過依據(jù)FE信號(hào)2321輸出的電壓驅(qū)動(dòng) 傳動(dòng)器2311，以便控制在光盤介質(zhì)2301的信息表面上的光點(diǎn)的聚焦 位置。跟蹤位置控制部分2310通過依據(jù)TE信號(hào)2322輸出的電壓驅(qū) 動(dòng)傳動(dòng)器2311，以便控制在光盤介質(zhì)2301的信息表面上的光點(diǎn)的跟 蹤位置。根據(jù)聚焦位置和跟蹤位置控制的光點(diǎn)被用于讀取預(yù)凹坑或光 盤介質(zhì)2301上的標(biāo)記和空間。作為一種相差類型的光盤介質(zhì)2301中 的標(biāo)記和空間以不同的反射比反射光。這樣，記錄在光盤介質(zhì)2301 上的信息被讀取。在推挽系統(tǒng)的情況中，TE信號(hào)2322是由光檢測(cè)部 分2307的兩個(gè)光接收部分接收的光的總量之間的差的輸出。這兩個(gè) 光接收部分的每一個(gè)都包括四個(gè)光接收元件A、 B、 C和D中的兩個(gè) 并且由平行于跟蹤方向的一條線來定義。這里，差為(A+D)-(B+C)。 RF信號(hào)2323是由四個(gè)光接收元件A、 B、 C和D接收的光的總量的 和的輸出。這里，和為(A+ B+C + D)。在象散系統(tǒng)的情況中，F(xiàn)E 信號(hào)2321是(A+C) - (B+D)的輸出。
子信息用下面的方式再現(xiàn)。
由再現(xiàn)信號(hào)計(jì)算部分2308產(chǎn)生的TE信號(hào)2322和RF信號(hào)2323被輸出到子信息檢測(cè)部分2312并且被用于譯碼子信息。由子信息檢 測(cè)部分2312檢測(cè)的子信息被輸出到地址信息/盤管理信息處理部分 2315和激光驅(qū)動(dòng)部分2313。
如圖34中所示，子信息檢測(cè)部分2312包括基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生部分 3410、電平限幅脈沖信號(hào)產(chǎn)生部分(level-sliced pulse signal generation section) 3411、作為塊標(biāo)記信號(hào)檢測(cè)部分的第三BPF (帶通濾波器) 3403和子信息產(chǎn)生部分3412。
基準(zhǔn)時(shí)鐘產(chǎn)生部分3410包括第一 BPF 3401和同步檢測(cè)部分 3404。電平限幅脈沖信號(hào)產(chǎn)生部分3411包括第二 BPF 3402、比較器 3405和積分器3408。子信息產(chǎn)生部分3412包括多數(shù)確定部分3406 和子信息譯碼器3407。
第一 BPF 3401被設(shè)計(jì)為具有這樣的一個(gè)濾波常數(shù)，以便提取出 調(diào)制成TE信號(hào)2322的擺動(dòng)信號(hào)?；赥E信號(hào)2322，第一 BPF 3401 產(chǎn)生包含具有與軌道凹槽中的擺動(dòng)同步的正弦波形的基波分量的輸 出信號(hào)3401'。同步檢測(cè)部分3404接收輸出信號(hào)3401，并且產(chǎn)生與 從光盤介質(zhì)2301 (圖23A)讀取的信號(hào)同步的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)3404'(步 驟S300)?；鶞?zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)3404'被用于同步子信息信號(hào)。
第二 BPF 3402是用于檢測(cè)被調(diào)制為TE信號(hào)2322的鋸齒波形的 陡邊的差分濾波器。根據(jù)陡邊的相位(或方向)，第二 BPF 3402產(chǎn)生 一個(gè)向上或向下差分脈沖信號(hào)3402'。差分脈沖信號(hào)3402'被輸出到 比較器3405。比較器3405將通過積分器3408反饋的調(diào)節(jié)限幅電壓 和差分脈沖信號(hào)3402，相比較，并且產(chǎn)生電平限幅脈沖信號(hào)3405'， 差分脈沖信號(hào)3402，的向上狀態(tài)和向下狀態(tài)為"0"和"1"(步驟S400)。 電平限幅脈沖信號(hào)3405'被輸出到多數(shù)確定部分3406。
第三BPF 3403濾波RF信號(hào)2323以檢測(cè)塊標(biāo)記信號(hào)3403，并且最 終確定子信息組的前端(步驟S500)。所檢測(cè)的塊標(biāo)記信號(hào)3403'被 輸出到多數(shù)確定部分3406，在那里所檢測(cè)的塊標(biāo)記信號(hào)3403'被用于計(jì)時(shí)同歩。
基于從基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)3404，和塊標(biāo)記信號(hào)3403，產(chǎn)生的同步信號(hào)， 在特定的時(shí)間區(qū)間內(nèi)，多數(shù)確定部分3406比較電平限幅脈沖信號(hào) 3405'的"0"脈沖和"1"脈沖的數(shù)量。然后，多數(shù)確定部分3406把 在特定的時(shí)間區(qū)間內(nèi)占所有脈沖的大多數(shù)的脈沖輸出到子信息譯碼 器3407作為電平限幅數(shù)據(jù)信號(hào)3406'。子信息譯碼器3407檢查在電 平限幅數(shù)據(jù)信號(hào)3406'中是否有錯(cuò)誤。當(dāng)在電平限幅數(shù)據(jù)信號(hào)3406' 中沒有錯(cuò)誤時(shí)，子信息譯碼器3407輸出電平限幅數(shù)據(jù)信號(hào)3406'作為 子信息信號(hào)3420 (例如，地址信息)(步驟S600)。
通過上述過程，記錄在光盤介質(zhì)2301上的子信息信號(hào)3420被再 現(xiàn)。基于包括在再現(xiàn)的子信息信號(hào)3420中的地址信息，光盤裝置2300 可以確定在軌道凹槽中的信息的哪一塊現(xiàn)在被再現(xiàn)。當(dāng)在光盤介質(zhì) 2301上記錄主信息時(shí)，確定緊挨在要記錄主信息的塊之前的塊的地 址，然后預(yù)測(cè)出下一塊是要記錄主信息的塊。這樣，可以從目標(biāo)塊的 塊的前端開始記錄主信息。 (例15)
將描述依據(jù)本發(fā)明的例15的光盤介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)。 參照?qǐng)D30，常規(guī)的光盤介質(zhì)3001的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)將被描述。 光盤介質(zhì)3001包括在內(nèi)周邊區(qū)域中提供的導(dǎo)入?yún)^(qū)3003、在外周邊區(qū) 域中提供的導(dǎo)出區(qū)3004和在導(dǎo)入?yún)^(qū)3003和導(dǎo)出區(qū)3004之間提供的 記錄和再現(xiàn)區(qū)域。在圖30中，部分3007被放大了。導(dǎo)入?yún)^(qū)3003具 有預(yù)先形成的預(yù)凹坑3006。通過讀取在預(yù)凹坑和保留區(qū)域之間的反 射比之間的差，"0"和"1"的信息被讀取。導(dǎo)入?yún)^(qū)3003具有預(yù)先記 錄的盤管理信息。例如，盤管理信息包括盤再現(xiàn)功率信息、伺服信息 和最佳記錄功率的信息。記錄和再現(xiàn)區(qū)域3004具有預(yù)先形成的軌道 凹槽3002。通過沿軌道凹槽3002執(zhí)行跟蹤控制，可重寫數(shù)據(jù)被記錄 在軌道凹槽3002中或記錄在軌道凹槽3002中的數(shù)據(jù)被擦除。在常規(guī)的光盤介質(zhì)3001中，導(dǎo)入?yún)^(qū)3003和導(dǎo)出區(qū)3005與記錄 和再現(xiàn)區(qū)域3004在預(yù)凹坑3006的形狀和軌道凹槽3002的形狀方面 不同。因此，兩個(gè)跟蹤系統(tǒng)不得不以切換的方式使用。更具體地，差 分相位系統(tǒng)(DPD)的跟蹤被用于導(dǎo)入?yún)^(qū)3003和導(dǎo)出區(qū)3005，利用 軌道凹槽3002的衍射的推挽系統(tǒng)的跟蹤被用于記錄和再現(xiàn)區(qū)域 3004。
在本發(fā)明的例15中，提供了允許同樣的跟蹤系統(tǒng)被用于導(dǎo)入?yún)^(qū)、 導(dǎo)出區(qū)和記錄和再現(xiàn)區(qū)域的光盤介質(zhì)。這樣的光盤介質(zhì)可以簡(jiǎn)化跟蹤 操作。
下面，將描述依據(jù)例15的光盤介質(zhì)。
圖24顯示了依據(jù)例15的光盤介質(zhì)2400。光盤介質(zhì)2400包括導(dǎo) 入?yún)^(qū)2401、記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402和導(dǎo)出區(qū)2403。導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo) 出區(qū)2403具有預(yù)先記錄的盤管理信息。導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403 中的每一個(gè)可以進(jìn)一步具有不同于用于記錄用戶數(shù)據(jù)的區(qū)域的區(qū)域， 即用于試驗(yàn)記錄的區(qū)域。在圖24中，導(dǎo)入?yún)^(qū)2401可以在從具有距光 盤介質(zhì)2400的中心22.59mm的半徑的圓的邊緣到具有距光盤介質(zhì) 2400的中心24.02mm的半徑的圓的邊緣的區(qū)域中提供。導(dǎo)入?yún)^(qū)2401 包括具有預(yù)先記錄的盤管理信息的盤管理區(qū)域(從具有距中心 22.59mm的半徑的圓的邊緣到具有距中心24.000mm的半徑的圓的邊 緣的區(qū)域)。導(dǎo)入?yún)^(qū)2401還可以包括用于在光盤介質(zhì)或驅(qū)動(dòng)器上試驗(yàn) 記錄的可重寫區(qū)域。在盤管理區(qū)域中的信息原則上被禁止重寫。在這 個(gè)例子中，導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403意味著盤管理區(qū)域。
參照?qǐng)D36，將描述以螺旋方式在光盤介質(zhì)2400的記錄表面中形 成的軌道凹槽3631。軌道凹槽3631在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中 形成。軌道凹槽3631以周期方式帶有規(guī)定形狀的擺動(dòng)3626、 3627和 3628。擺動(dòng)3626、 3627和3628具有彼此不同的規(guī)定的形狀，表示子 信息("0"， "1"， "S"或"B")。 一種類型的子信息("0"， "1"， "S"或"B")由一種擺動(dòng)形狀3626、 3627或3628來表示。子信息的類 型和擺動(dòng)的形狀(擺動(dòng)3626、 3627或3628)是一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。更 具體地，具有通常的鋸齒形狀的擺動(dòng)3626和3627和具有通常的正弦 波形的擺動(dòng)3628具有如圖36中所示的不同的上升形狀(或上升梯度) 和下降形狀(下降梯度)。盤管理信息由擺動(dòng)3626、 3627和3628的 組合所示的子信息串表示。
在擺動(dòng)3626、 3627和3628中的上升梯度和下降梯度的差別可以 容易地被差分推挽檢測(cè)信號(hào)檢測(cè)如下。掃描激光束直射到軌道凹槽 3631，產(chǎn)生了指示由沿垂直于光盤介質(zhì)3400的軌道凹槽3631的方向 (徑向)劃分的光接收元件的檢測(cè)區(qū)域接收的光量之間的差的差分信 號(hào)(即，推挽信號(hào))。這樣，獲得了具有依據(jù)子信息是"0"還是"1" 變化的上升梯度和下降梯度的檢測(cè)信號(hào)。例如，這個(gè)上升梯度和下降 梯度的差可以由檢測(cè)信號(hào)的差分容易地確定。子信息的類型可以由作 為差分的結(jié)果獲得的值的大小來檢測(cè)。在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403 中，子信息被用作記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402的盤管理信息。
在圖36中，包括塊標(biāo)記3630的幀3620具有預(yù)先形成的9個(gè)擺 動(dòng)3628以指示子信息"B"。在塊標(biāo)記3630后的52個(gè)幀3621的每 一個(gè)具有總共36個(gè)擺動(dòng)3626和3627以指示子信息"O"和子信息"1 "。 在CLV格式的這個(gè)例子中的光盤介質(zhì)2400的情況中，形成擺動(dòng)3626 和3627的物理頻率從最里面的軌道到最外面的軌道恒定在fb。
參照?qǐng)D25A和25B，導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403將與記錄和再現(xiàn) 區(qū)域2402比較。
圖25A顯示了記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的軌道凹槽2502。包括塊 標(biāo)記2520的幀2510具有預(yù)先形成的9個(gè)擺動(dòng)2528 (正弦波形)以 指示子信息"B"。在塊標(biāo)記2520后的52個(gè)幀2511的每一個(gè)具有總 共36個(gè)擺動(dòng)2526和2527 (鋸齒波形)以指示子信息"0"和子信息 "1"。在CLV格式的這個(gè)例子中的光盤介質(zhì)2400的情況中，形成擺動(dòng)2526、 2527和2528的物理頻率從最里面的軌道到最外面的軌道(l 個(gè)擺動(dòng)124個(gè)信道位)恒定在fa。擺動(dòng)的擺動(dòng)量恒定在22.5nmpp。
在記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中，記錄標(biāo)記在調(diào)制后被記錄。在這個(gè) 例子中，運(yùn)行周期被限制為2T (最小長度)的46D調(diào)制的信號(hào)被記 錄在軌道凹槽2502中。在這點(diǎn)上信道位長度為0.0771 pm。用于記錄 和再現(xiàn)信號(hào)的激光具有405nm (+10 nm， -5 nm)的波長的平均值和 0.85±0.01的數(shù)值孔徑(NA)。
圖25B顯示了導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的軌道凹槽3631。軌 道凹槽3631的細(xì)節(jié)如上述參照?qǐng)D36所描述的。形成導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和 導(dǎo)出區(qū)2403中的擺動(dòng)3626、 3627和3628的物理頻率fb比形成記錄 和再現(xiàn)區(qū)域2402中的擺動(dòng)2526、 2527和2528的物理頻率fa高10 倍。通過把擺動(dòng)的頻率設(shè)置得更高，可以增加包括在單位區(qū)域中的信 息量。
在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中，多個(gè)擺動(dòng)指示1位子信息。在 導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403與記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402之間，指示作為 子信息的最小單元的1位信息的擺動(dòng)的數(shù)量可以不同。與記錄和再現(xiàn) 區(qū)域2402相比，通過減小導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中指示1位信 息的擺動(dòng)的數(shù)量，指示盤管理信息的擺動(dòng)可以在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出 區(qū)2403中相對(duì)小的區(qū)域中有效地形成。
如上所述，導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403包括具有規(guī)定的以周期形 式形成的擺動(dòng)形狀的軌道凹槽3631，并且在軌道凹槽3631中每一個(gè) 擺動(dòng)形狀表示盤管理信息。因?yàn)閿[動(dòng)也以周期形式在包括在記錄和再 現(xiàn)區(qū)域2402中的軌道凹槽2502中形成，因此相同系統(tǒng)的跟蹤可以用 于整個(gè)光盤介質(zhì)2400。因?yàn)樵趯?dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中擺動(dòng)的 頻率比記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的高10倍，并且一個(gè)擺動(dòng)指示1位子 信息，所以記錄在單位區(qū)域中的信息量增加了。這樣，指示盤管理信 息的擺動(dòng)可以有效地記錄在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的有限的區(qū)域內(nèi)。
在這個(gè)例子中，在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的擺動(dòng)的頻率比 記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的高10倍，本發(fā)明不局限于這樣的數(shù)值。
在這個(gè)例子中，描述了鋸齒形狀的擺動(dòng)。依據(jù)本發(fā)明擺動(dòng)不局限 于這樣的形狀。
在這個(gè)例子中， 一個(gè)擺動(dòng)指示l位信息。多個(gè)擺動(dòng)可以指示l位 信息。
或者，如圖26A和26B中所示，導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的 擺動(dòng)的頻率fb可以低于記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的擺動(dòng)的頻率fa。以 這種方式，可以增大在檢測(cè)導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的擺動(dòng)時(shí)的 S/N比。這樣，在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的盤管理信息的可靠 性可以被增強(qiáng)。
在這個(gè)例子中，在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的擺動(dòng)有相同的 頻率，該頻率與記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的擺動(dòng)的頻率不同。在盤管 理信息僅僅記錄在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401中的情況中，僅僅在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401中的 擺動(dòng)的頻率可以與記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的擺動(dòng)的頻率不同。
在這個(gè)例子中，光盤介質(zhì)2400包括導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403。 除記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402之外，光盤介質(zhì)2400可以僅僅包括導(dǎo)入?yún)^(qū) 2401或僅僅包括導(dǎo)出區(qū)2403。 (例16)
圖27A和27B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例16的光盤介質(zhì)的軌道凹槽 2502和2731。
在圖27A中所示的軌道凹槽2502與上面參照?qǐng)D25A描述的軌道 凹槽2502相同，是在圖24中所示的光盤介質(zhì)2400的記錄和再現(xiàn)區(qū) 域2402中形成的。圖27B中所示的軌道凹槽2731可以在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401 和導(dǎo)出區(qū)2403中形成。
包括塊標(biāo)記2520的幀2510具有9個(gè)正弦波形狀的擺動(dòng)2528，，以指示子信息"B"。跟在塊標(biāo)記2520之后的52幀2511中的每一個(gè) 具有總共36個(gè)鋸齒形狀的擺動(dòng)2526'和2527'，以指示子信息"0" 和子信息"1 "。在這個(gè)例子中的CLV格式的光盤介質(zhì)2400的情況下， 形成擺動(dòng)2526、 2527和2528的物理頻率從最內(nèi)側(cè)軌道向最外側(cè)軌道 恒定為fa (1個(gè)擺動(dòng)124個(gè)信道位)。表示擺動(dòng)的擺動(dòng)量的擺動(dòng)振幅 恒定為Ca。
圖27A和27B中所示的軌道凹槽在表示擺動(dòng)的擺動(dòng)量的擺動(dòng)振幅 上與圖25A和25B中所示的不同。其中，圖27A中的記錄和再現(xiàn)區(qū) 域2402中的軌道凹槽2502的擺動(dòng)振幅為Ca，圖27B中的導(dǎo)入?yún)^(qū)2401 和導(dǎo)出區(qū)2403中的軌道凹槽2731的擺動(dòng)振幅為Cb，其中Cb>Ca。
再現(xiàn)時(shí)的擺動(dòng)信號(hào)振幅與擺動(dòng)量成比例。因此，當(dāng)導(dǎo)入?yún)^(qū)2401 和導(dǎo)出區(qū)2403的擺動(dòng)振幅大于記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的擺動(dòng)振幅 時(shí)，提高了在再現(xiàn)的時(shí)候檢測(cè)擺動(dòng)時(shí)的S/N比。這樣，可以增強(qiáng)盤管 理信息的讀取可靠性。
在這個(gè)例子中，光盤介質(zhì)2400包括導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403。 除記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402之外，光盤介質(zhì)2400可以僅僅包括導(dǎo)入?yún)^(qū) 2401或僅僅包括導(dǎo)出區(qū)2403。 (例17)
圖28A和28B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例17的光盤介質(zhì)的軌道凹槽 2502禾卩2831。在圖28A中，擺動(dòng)2826用CLV格式形成，擺動(dòng)2826的物理頻 率從最里面的軌道到最外面的軌道是恒定的。因此，兩個(gè)相鄰擺動(dòng) 2826的相位依據(jù)軌道位置和徑向位置來偏移。在再現(xiàn)的時(shí)候，相鄰 軌道的干擾的影響由于相差而變得明顯，由再現(xiàn)信號(hào)檢測(cè)到的擺動(dòng)信 號(hào)振幅以周期的方式在相差上變化。在變化的擺動(dòng)信號(hào)振幅為最小的 擺動(dòng)中，S/N比減小了。
在圖28A和28B中所示的軌道凹槽與圖25A和25B中所示的軌道凹槽有下面幾點(diǎn)不同。在軌道凹槽2831中，擺動(dòng)2827由CAV格 式形成，這樣兩個(gè)相鄰軌道之間的擺動(dòng)2827的相差總是7i/2。
當(dāng)記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402、導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的擺動(dòng)由 CAV格式形成時(shí)，在再現(xiàn)時(shí)的擺動(dòng)信號(hào)振幅為常數(shù)。這樣，增強(qiáng)了 擺動(dòng)的檢測(cè)可靠性。
在這個(gè)例子中，相差是兀/2。在上升處在相位為0的位置上和在 下降處相位為兀的位置上擺動(dòng)通常具有陡峭的邊緣。當(dāng)在兀/2和3x兀/2 以及7t/2x(2n+l) (n是整數(shù))的位置安排陡峭邊緣時(shí)，可以減小來自 相鄰軌道的串?dāng)_的影響。相差不局限于這樣的值，而可以是任意其他 的常數(shù)值。
在記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402、導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的擺動(dòng)可 以由在DVD-RAM中使用的ZCLV格式替代CAV格式來形成。
通過由CAV格式或ZCLV格式替代CLV格式形成擺動(dòng)，從記錄 和再現(xiàn)區(qū)域2402再現(xiàn)的地址信息的可靠性可以被增強(qiáng)。
在這個(gè)例子中，光盤介質(zhì)2400包括導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403。 除記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402之外，光盤介質(zhì)2400可以僅僅包括導(dǎo)入?yún)^(qū) 2401或僅僅包括導(dǎo)出區(qū)2403。 (例18)
圖29A和29B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例18的光盤介質(zhì)的軌道凹槽 2502和2931。
圖29A中所示的軌道凹槽2502與上面參照?qǐng)D25A描述的相同并 且在圖24中所示的光盤介質(zhì)2400的記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中形成。 在圖29B中所示的軌道凹槽2931可以在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403 中形成。
在圖29A中所示的軌道凹槽2502具有TPa的軌道間距(兩個(gè)相 鄰軌道之間的距離)。主信息通過凹槽記錄系統(tǒng)記錄在軌道凹槽2502 中。在圖29A和29B中所示的軌道凹槽與圖25A和25B中所示的軌 道凹槽在軌道間距上不同。其中圖29A中記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的 軌道凹槽2502的軌道間距是TPa，圖29B中導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū) 2403中的軌道凹槽2931的軌道間距是TPb，其中TPb>TPa。例如， 當(dāng)使用具有405nrn的波長和0.85的NA作為光學(xué)常數(shù)的光點(diǎn)來再現(xiàn) 記錄在具有軌道間距TPa-0.32pm (兩個(gè)相鄰凹槽之間的距離)的凹 槽記錄系統(tǒng)光盤介質(zhì)上的信息時(shí)，由推挽系統(tǒng)獲得的跟蹤誤差信號(hào)的 振幅相當(dāng)小。當(dāng)軌道間距增大時(shí)，跟蹤誤差信號(hào)的振幅因此而增大。 當(dāng)擺動(dòng)的擺動(dòng)量恒定時(shí)，擺動(dòng)信號(hào)振幅基本上與跟蹤誤差信號(hào)的振幅 成比例地增大。因此，當(dāng)軌道間距增加時(shí)，再現(xiàn)時(shí)的擺動(dòng)信號(hào)振幅增 大了。
這樣，與記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的軌道間距TPa相比，通過增 加導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的軌道間距TPb，檢測(cè)擺動(dòng)時(shí)的S/N 比可以被增強(qiáng)。
或者，當(dāng)TPb〈TPa時(shí)，指示盤管理信息的擺動(dòng)可以有效地記錄在 導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的有限的區(qū)域中。
在例15到18中，導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的擺動(dòng)頻率、擺 動(dòng)振幅、相對(duì)于相鄰軌道中的相位的擺動(dòng)相差、軌道間距等與記錄和 再現(xiàn)區(qū)域2402中的不同。導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)2401和2403與記錄和再 現(xiàn)區(qū)域2402之間的多個(gè)這樣的因素可以不同。
在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403的盤管理區(qū)域中的軌道中，沒有形 成記錄標(biāo)記。這樣，盤管理區(qū)域的再現(xiàn)信號(hào)的S/N比可以被增加，其 結(jié)果是，盤管理區(qū)域的讀取可靠性可以被增強(qiáng)。
在這個(gè)例子中，光盤介質(zhì)2400包括導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403。 除記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402之外，光盤介質(zhì)2400可以僅僅包括導(dǎo)入?yún)^(qū) 2401或僅僅包括導(dǎo)出區(qū)2403。 (例19)圖35顯示了依據(jù)本發(fā)明的例19的光盤介質(zhì)的軌道凹槽3531。 在圖35中所示的軌道凹槽3531可以在圖24中所示的光盤介質(zhì) 2400的導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中形成。
在圖35中所示的軌道凹槽3531與圖25B中所示的軌道凹槽3631 不同，因?yàn)檐壍腊疾?531具有以一次寫入的方式記錄在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401 和導(dǎo)出區(qū)2403 (即，軌道凹槽3531)中的單頻率記錄標(biāo)記。例如， 具有0.0771pm的記錄信道位長度的記錄標(biāo)記以一次寫入的方式通過 提供具有在具有盤管理信息的軌道凹槽3531中重復(fù)的8T記錄標(biāo)記和 8T空間的信號(hào)來記錄。這樣，信息可以由不允許推挽系統(tǒng)的跟蹤的 再現(xiàn)裝置(DPD系統(tǒng)跟蹤的裝置)來再現(xiàn)。裝置之間的兼容性可以 提高。
在這個(gè)例子中，光盤介質(zhì)2400包括導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403。 除記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402之外，光盤介質(zhì)2400可以僅僅包括導(dǎo)入?yún)^(qū) 2401或僅僅包括導(dǎo)出區(qū)2403。 (例20)
圖31顯示了依據(jù)本發(fā)明的例20的光盤介質(zhì)的軌道凹槽3101。 在例1中，塊標(biāo)記210通過切斷軌道凹槽102來提供。在這個(gè)例 子中，塊標(biāo)記3104通過局部地反轉(zhuǎn)軌道凹槽3101中的擺動(dòng)3126的 相位來形成。這樣形成的塊標(biāo)記3104不切斷軌道凹槽3101，這樣信 息可以被記錄在塊標(biāo)記3104上。結(jié)果，額外開銷可以被減小。 (例21)
圖32顯示了依據(jù)本發(fā)明的例21的光盤介質(zhì)的軌道凹槽3201。 在例1中，塊標(biāo)記210通過切斷軌道凹槽102來提供。在這個(gè)例 子中，多個(gè)塊標(biāo)記3204a和3204b通過局部地反轉(zhuǎn)軌道凹槽3201中 的擺動(dòng)3226的相位來形成。這樣形成的塊標(biāo)記3204a和3204b不切 斷軌道凹槽3201，另外，除在塊標(biāo)記3204a和3204b之間插入的部 分外，保持?jǐn)[動(dòng)3226相位的連續(xù)性。因此，再現(xiàn)可以在沒有實(shí)質(zhì)地改變擺動(dòng)的時(shí)鐘的相位并且不在PLL中產(chǎn)生相差的情況下完成。主 信息可以被記錄在塊標(biāo)記3204a和3204b上。結(jié)果，額外開銷可以被 減小。 (例22)
圖33顯示了依據(jù)本發(fā)明的例22的光盤介質(zhì)的軌道凹槽3301。 在例1中，塊標(biāo)記210通過切斷軌道凹槽102來提供。在這個(gè)例 子中，塊標(biāo)記3304由具有比擺動(dòng)26的頻率局部增大的頻率的擺動(dòng) 3326來形成。這樣形成的塊標(biāo)記3304不切斷軌道凹槽3301，這樣信 息可以被記錄在塊標(biāo)記3304上。結(jié)果，額外開銷可以被減小。
在例l、 4、 5、 7到12、 15、 16以及19到22中，公開了具有塊 標(biāo)記的軌道凹槽。軌道凹槽可以在不具有塊標(biāo)記的光盤介質(zhì)上提供。
工業(yè)實(shí)用性
如上所述，依據(jù)本發(fā)明，在以逐塊為基礎(chǔ)記錄主信息的軌道凹槽 上形成多個(gè)規(guī)定形狀的擺動(dòng)。擺動(dòng)顯示出在通過以規(guī)定數(shù)K除所述 塊所獲得的一幀中描述的特定子信息。通過在該塊的多個(gè)幀中、即多 次形成指示子信息的擺動(dòng)，可以在沒有或幾乎沒有額外開銷的情況下 形成地址信息?？梢垣@得單頻率擺動(dòng)再現(xiàn)信號(hào)(即，同步信號(hào))。這 樣，可以提供適合于高密度記錄的光盤介質(zhì)。
作為子信息組的一部分的子信息指示一個(gè)ID號(hào)的扇區(qū)號(hào)。當(dāng)數(shù) 據(jù)未被連續(xù)讀取時(shí)，例如，在一個(gè)尋找操作之后，緊接在尋找操作之 后的扇區(qū)的扇區(qū)號(hào)或ID號(hào)可以被讀取，而不是在該塊的前端的塊標(biāo) 記。這樣，可以從一個(gè)任意扇區(qū)讀取塊ID。通過僅僅讀取包括塊中 的多個(gè)扇區(qū)的一個(gè)扇區(qū)組來最終確定塊ID，可以迅速地執(zhí)行后處理 (數(shù)據(jù)讀取、數(shù)據(jù)記錄等等)。
塊ID在一個(gè)塊中被重復(fù)多次。這樣，可以增強(qiáng)塊ID的讀取可靠性。在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)中，盤管理信息由預(yù)先形成的鋸齒形狀的擺動(dòng) 來指示。這樣，相同的跟蹤系統(tǒng)可以用于整個(gè)盤。光盤裝置可以被簡(jiǎn) 化。
使擺動(dòng)頻率在引入和導(dǎo)出區(qū)和記錄和再現(xiàn)區(qū)域之間不同。盤管理 區(qū)域可以被有效地記錄在盤內(nèi)側(cè)部分中的導(dǎo)入?yún)^(qū)和盤外側(cè)部分的導(dǎo) 出區(qū)的有限區(qū)域中。
權(quán)利要求
1. 一種光盤，包括軌道凹槽，其中所述軌道凹槽被分成多個(gè)塊，所述多個(gè)塊中的每一塊包括多個(gè)幀，所述多個(gè)幀中的每一幀包括多種擺動(dòng)形狀中的一種擺動(dòng)形狀的多個(gè)擺動(dòng)，所述多個(gè)擺動(dòng)表示子信息，所述多種擺動(dòng)形狀包括在上升梯度和下降梯度的至少一個(gè)上彼此不同的第一擺動(dòng)形狀和第二擺動(dòng)形狀，所述第一擺動(dòng)形狀和所述第二擺動(dòng)形狀指示彼此不同的子信息，所述多個(gè)塊中的每一塊具有地址信息，以及所述地址信息由所述多個(gè)幀中的至少一幀的所述擺動(dòng)形狀的多個(gè)擺動(dòng)所表示的至少一條子信息所組成的串來表示。
2. 如權(quán)利要求1所述的光盤的再現(xiàn)方法，該方法包括 用光照射所述光盤；基于從所述光盤反射的所述光的一部分，生成電信號(hào)；以及 基于所述電信號(hào)檢測(cè)所述子信息。
3. 如權(quán)利要求1所述的光盤的記錄方法，該方法包括-用光照射所述光盤；基于從所述光盤反射的所述光的一部分，生成電信號(hào)； 基于所述電信號(hào)檢測(cè)所述子信息；以及 基于所述子信息向所述光盤進(jìn)行記錄。
4. 一種光盤，包括記錄/再現(xiàn)區(qū)域，和盤管理區(qū)域，其中所述記錄/再現(xiàn)區(qū)域包括第一軌道凹槽， 所述盤管理區(qū)域包括第二軌道凹槽，所述第二軌道凹槽包括指示子信息的多種規(guī)定形狀的多個(gè)擺動(dòng)， 以及所述光盤的管理信息由所述多種規(guī)定形狀的多個(gè)擺動(dòng)的組合來表不。
5. 如權(quán)利要求4所述的光盤的再現(xiàn)方法，該方法包括-從所述光盤讀取信息以生成再現(xiàn)信號(hào)；以及 基于所述再現(xiàn)信號(hào)生成指示所述子信息的子信息信號(hào)。
6. 如權(quán)利要求4所述的光盤的記錄方法，該方法包括 從所述光盤讀取信息以生成再現(xiàn)信號(hào)；基于所述再現(xiàn)信號(hào)生成指示所述子信息的子信息信號(hào)；以及 基于所述子信息向所述光盤進(jìn)行記錄。
全文摘要
一種光盤介質(zhì)，包括一個(gè)沿其記錄主信息的軌道凹槽。將軌道凹槽分成多個(gè)塊。多個(gè)塊中的每一塊包括多個(gè)幀。多個(gè)幀中的每一幀包括多個(gè)規(guī)定擺動(dòng)形狀中的指示子信息的一種擺動(dòng)形狀。多個(gè)塊中的每一塊具有地址信息。地址信息由至少一條由多個(gè)幀中的至少一幀的擺動(dòng)形狀所表示的子信息所組成的串來表示。
文檔編號(hào)G11B7/007GK101447197SQ20081021596
公開日2009年6月3日 申請(qǐng)日期2001年8月29日 優(yōu)先權(quán)日2000年8月31日
發(fā)明者東海林衛(wèi), 中村敦史, 南野順一, 古宮成, 石橋広道, 石田隆 申請(qǐng)人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社