專利名稱：一種多片閃存檢測方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于檢測領(lǐng)域，具體地講是一種多片閃存檢測方法及裝置。
背景技術(shù)：
閃存(FLASH MEMORY,快閃存儲器)作為固態(tài)存儲器件，在單板和嵌 入式場景中有較多的應(yīng)用。在產(chǎn)品出廠時為保證閃存的穩(wěn)定可靠，需要對單 板所帶的閃存在單板環(huán)境下進(jìn)行測試。而隨著對存儲容量的需求不斷增加， 受閃存存儲空間大小和成本的影響，往往采用多片閃存的形式提供大容量的 存儲空間，在這種情況下，需要對每片閃存都進(jìn)行檢測。
發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下問題目前對多片閃存進(jìn)行檢測 采用的方法是按照順序逐一對每片閃存進(jìn)行檢測。即先對第一片閃存進(jìn)行檢 測，檢測完以后再對第二片閃存進(jìn)行檢測，以此類推直到完成對所有閃存芯 片的檢測。但是由于閃存檢測速度很慢，在多片閃存的情況下，檢測閃存的 時間很長，檢測效率低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種多片閃存檢測方法及裝置，能解決現(xiàn)有技術(shù) 中閃存檢測速度慢、耗時長的問題。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的， 一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種多片閃存檢測方法， 該方法包括在多片閃存中查找已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存；對已完 成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存進(jìn)行檢測獲得檢測結(jié)果數(shù)據(jù)；在未進(jìn)行檢測的 閃存中查找已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存并進(jìn)行檢測直到獲得所述多片
4閃存中所有閃存的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)。
另一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種多片閃存檢測裝置，該裝置包括査 找單元，用于在多片閃存中査找己完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存；檢測單 元，用于對已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存進(jìn)行檢測獲得檢測結(jié)果數(shù)據(jù)； 所述查找單元還用于在未進(jìn)行檢測的閃存中查找已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù) 的閃存直到所述檢測單元獲得所述多片閃存中所有閃存的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)。
上述技術(shù)方案的有益效果在于，充分利用等待閃存進(jìn)行寫操作或擦除操 作的時間，在這段時間內(nèi)進(jìn)行其余閃存芯片的檢測，通過這種多任務(wù)或多線 程調(diào)度的方式，達(dá)到多片閃存的并行檢測，縮短檢測多片閃存所消耗的時間。


為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí) 施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面 描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講， 在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。 圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種多片閃存檢測方法的流程圖； 圖2為本發(fā)明另一實(shí)施例提供的一種多片閃存檢測方法的流程圖； 圖3為本發(fā)明另一實(shí)施例提供的一種多片閃存檢測方法的流程圖； 圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種多片閃存檢測裝置的結(jié)構(gòu)圖； 圖5為本發(fā)明另一實(shí)施例提供的一種多片閃存檢測裝置的結(jié)構(gòu)圖； 圖6為本發(fā)明另一實(shí)施例提供的一種多片閃存檢測裝置的結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施例方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行 清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而 不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。 本發(fā)明實(shí)施例提供一種多片閃存檢測方法，如圖1所示，該方法包括-
步驟100，在執(zhí)行寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的多片閃存中査找已完成寫入數(shù)據(jù) 或擦除數(shù)據(jù)的閃存；
步驟102;對已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存進(jìn)行檢測獲得檢測結(jié)果數(shù) 據(jù)，例如該片閃存每比特存儲單位的好壞、總線的好壞等；
步驟103，在未進(jìn)行檢測的閃存中查找已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存 并進(jìn)行檢測直到獲得所述多片閃存中所有閃存的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)。
上述技術(shù)方案的有益效果在于，提供了一種多片閃存的檢測方法，充分 利用等待進(jìn)行閃存寫操作或擦除操作的時間，在這段時間內(nèi)進(jìn)行其余閃存芯 片的檢測，通過這種多任務(wù)或多線程調(diào)度的方式，達(dá)到多片閃存的并行檢測， 縮短檢測多片閃存所消耗的時間。
本發(fā)明實(shí)施例還提供一種多片閃存檢測方法，如圖2所示，該方法包括-
步驟201，向所述多片閃存中所有閃存發(fā)送寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的命令。
步驟202，在執(zhí)行寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的多片閃存中查找已完成寫入數(shù)據(jù) 或擦除數(shù)據(jù)的閃存，包括判斷一片閃存是否正在寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)，如 果否，則執(zhí)行步驟203;如果是，則繼續(xù)對下一片閃存進(jìn)行判斷，同時釋放對 該片閃存進(jìn)行判斷所占用的處理器資源。
步驟203，對已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存進(jìn)行檢測獲得檢測結(jié)果數(shù) 據(jù)，例如該片閃存每比特存儲單位的好壞、總線的好壞等。
步驟204，將獲得的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)加入統(tǒng)計結(jié)果數(shù)據(jù)中，該統(tǒng)計結(jié)果數(shù)據(jù) 包括多片閃存每比特存儲單位的好壞、總線的好壞等；
步驟205,判斷是否還有需要檢測的閃存，如果是，則執(zhí)行步驟202，繼 續(xù)查找已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存，如果否，則執(zhí)行歩驟206。
步驟206，發(fā)送所述的統(tǒng)計結(jié)果數(shù)據(jù)。
其中，在上述實(shí)施例實(shí)施時，可以采用多任務(wù)或多線程調(diào)度的方式，例如啟動多個子任務(wù)對多片閃存進(jìn)行檢測。每一個子任務(wù)所檢測的閃存芯片數(shù) 目可以根據(jù)需要進(jìn)行劃分， 一般每個子任務(wù)檢測一片閃存芯片，啟動一個主 任務(wù)對各子任務(wù)進(jìn)行調(diào)度、并接收各個子任務(wù)對閃存的檢測結(jié)果。
當(dāng)某一個子任務(wù)發(fā)送完寫或擦除閃存命令字時首先檢查是否擦寫已經(jīng)結(jié)
束，如果沒有結(jié)束則主動釋放該子任務(wù)所占用的CPU，由主任務(wù)調(diào)度下一個子 任務(wù)進(jìn)行其余閃存芯片的檢視，如果已經(jīng)結(jié)束則不釋放CPU而繼續(xù)執(zhí)行檢測，
當(dāng)再次遇到閃存擦寫時重復(fù)判斷的步驟。
被調(diào)度到的子任務(wù)如果不在等待閃存擦寫結(jié)束則進(jìn)行檢測，如果在等待 閃存擦寫結(jié)束則判斷閃存擦寫是否結(jié)束，如果擦寫沒有結(jié)束則主動釋放該子
任務(wù)所占用的CPU，如果擦寫結(jié)束則不釋放CPU繼續(xù)執(zhí)行檢測，直到檢測完整
片閃存。
各子任務(wù)將檢測結(jié)果發(fā)給專門負(fù)責(zé)接收檢測結(jié)果的主任務(wù)。主任務(wù)在確 認(rèn)收到所有任務(wù)的檢測結(jié)果以后，將檢測結(jié)果統(tǒng)一上報或記錄。
上述技術(shù)方案的有益效果在于，充分利用的閃存寫操作和擦除操作的的 等待時間，在這段時間內(nèi)進(jìn)行其余閃存芯片的檢測，通過這種多任務(wù)或多線 程調(diào)度的方式，達(dá)到多片閃存的并行檢測，縮短檢測多片閃存所消耗的時間， 并可對閃存的檢測結(jié)果進(jìn)行匯總、發(fā)送。
本發(fā)明實(shí)施例還提供一種多片閃存檢測方法，如圖3所示，該方法包括-步驟301，向所述多片閃存中所有閃存發(fā)送寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的命令。 步驟302，在執(zhí)行寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的多片閃存中査找已完成寫入數(shù)據(jù) 或擦除數(shù)據(jù)的閃存，包括判斷一片閃存是否正在寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)，如 果否，則執(zhí)行步驟303;，如果是，則繼續(xù)對下一片閃存進(jìn)行判斷，同時釋放
對該片閃存進(jìn)行判斷所占用的處理器資源。
步驟303，對己完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存進(jìn)行檢測獲得檢測結(jié)果數(shù) 據(jù)，例如該片閃存每比特存儲單位的好壞、總線的好壞等。
步驟304，判斷是否還有需要檢測的閃存，如果是，則執(zhí)行步驟202，繼續(xù)査找己完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存，如果否，則執(zhí)行步驟206。
步驟305，在所有閃存片都檢測完畢后，將對多片閃存進(jìn)行檢測獲得的檢
測結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計以獲得統(tǒng)計結(jié)果數(shù)據(jù)，并發(fā)送該統(tǒng)計結(jié)果數(shù)據(jù)。
上述技術(shù)方案的有益效果在于，充分利用的閃存寫操作和擦除操作的的
等待時間，在這段時間內(nèi)進(jìn)行其余閃存芯片的檢測，通過這種多任務(wù)或多線
程調(diào)度的方式，達(dá)到多片閃存的并行檢測，縮短檢測多片閃存所消耗的時間，
并可對閃存的檢測結(jié)果進(jìn)行匯總、發(fā)送。
本發(fā)明實(shí)施例提供一種多片閃存檢測裝置，如圖4所示，該裝置包括 査找單元401，用于在執(zhí)行寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的多片閃存中查找已完成
寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存；
檢測單元402，用于對已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存進(jìn)行檢測獲得檢
測結(jié)果數(shù)據(jù)；
所述査找單元401所述査找單元還用于在未進(jìn)行檢測的閃存中查找已完 成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存直到所述檢測單元獲得所述多片閃存中所有閃 存的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)。
上述技術(shù)方案的有益效果在于，提供了一種多片閃存的檢測裝置，充分 利用的閃存寫操作和擦除操作的等待時間，在這段時間內(nèi)進(jìn)行其余閃存芯片 的檢測，通過這種多任務(wù)或多線程調(diào)度的方式，達(dá)到多片閃存的并行檢測， 縮短檢測多片閃存所消耗的時間。
本發(fā)明實(shí)施例還提供一種多片閃存檢測裝置，如圖5所示，該裝置包括-
命令發(fā)送單元501，用于向所述多片閃存中所有閃存發(fā)送寫入數(shù)據(jù)或擦除 數(shù)據(jù)的命令。
査找單元502，用于在執(zhí)行寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的多片閃存中查找已完成 寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存；
檢測單元503，用于對已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存進(jìn)行檢測獲得檢 測結(jié)果數(shù)據(jù)；所述査找單元502還用于在未進(jìn)行檢測的閃存中查找己完成寫入數(shù)據(jù)或 擦除數(shù)據(jù)的閃存直到所述檢測單元獲得所述多片閃存中所有閃存的檢測結(jié)果 數(shù)據(jù)。該查找單元502包括判斷模塊，用于判斷一片閃存是否正在寫入數(shù) 據(jù)或擦除數(shù)據(jù)，如果是，則繼續(xù)對下一片閃存進(jìn)行判斷；如果否，則調(diào)用所 述檢測單元503對該閃存迸行檢測以獲得檢測結(jié)果數(shù)據(jù)。
第一統(tǒng)計單元504，用于將對多片閃存進(jìn)行檢測獲得的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行 統(tǒng)計以獲得統(tǒng)計結(jié)果數(shù)據(jù)。
發(fā)送單元505，用于在所述第一統(tǒng)計單元獲得所有閃存的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)后 發(fā)送所述的統(tǒng)計結(jié)果數(shù)據(jù)。
上述技術(shù)方案的有益效果在于，提供了一種多片閃存的檢測裝置，充分 利用的閃存寫操作和擦除操作的等待時間，在這段時間內(nèi)進(jìn)行其余閃存芯片 的檢測，通過這種多任務(wù)或多線程調(diào)度的方式，達(dá)到多片閃存的并行檢測， 縮短檢測多片閃存所消耗的時間，并可對每片閃存的檢測結(jié)果進(jìn)行匯總、發(fā) 送。
本發(fā)明實(shí)施例還提供一種多片閃存檢測裝置，如圖6所示，該裝置包括 命令發(fā)送單元601，用于向所述多片閃存中所有閃存發(fā)送寫入數(shù)據(jù)或擦除 數(shù)據(jù)的命令。
査找單元602，用于在執(zhí)行寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的多片閃存中查找已完成
寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存；
檢測單元603，用于對已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存進(jìn)行檢測獲得檢
測結(jié)果數(shù)據(jù)；
所述查找單元602還用于在未進(jìn)行檢測的閃存中查找已完成寫入數(shù)據(jù)或 擦除數(shù)據(jù)的閃存直到所述檢測單元獲得所述多片閃存中所有閃存的檢測結(jié)果 數(shù)據(jù)，該查找單元602包括判斷模塊，用于判斷一片閃存是否正在寫入數(shù) 據(jù)或擦除數(shù)據(jù)，如果是，則繼續(xù)對下一片閃存進(jìn)行判斷；如果否，則調(diào)用所 述檢測單元603對該閃存進(jìn)行檢測以獲得檢測結(jié)果數(shù)據(jù)。第二統(tǒng)計單元6Q4，用于將所述檢測單元獲得的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)加入到統(tǒng)計 結(jié)果數(shù)據(jù)中；
發(fā)送單元605，用于在所述第二統(tǒng)計單元獲得所有閃存的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)后 發(fā)送所述的統(tǒng)計結(jié)果數(shù)據(jù)。
上述技術(shù)方案的有益效果在于，提供了一種多片閃存的檢測裝置，充分 利用的閃存寫操作和擦除操作的等待時間，在這段時間內(nèi)迸行其余閃存芯片 的檢測，通過這種多任務(wù)或多線程調(diào)度的方式，達(dá)到多片閃存的并行檢測， 縮短檢測多片閃存所消耗的時間，并可對每片閃存的檢測結(jié)果進(jìn)行匯總、發(fā) 送。
以上所述的具體實(shí)施方式
，對本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行 了進(jìn)一步詳細(xì)說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式
而 已，并不用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所做 的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1、一種多片閃存檢測方法，其特征在于，該方法包括在多片閃存中查找已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存；對已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存進(jìn)行檢測獲得檢測結(jié)果數(shù)據(jù)；在未進(jìn)行檢測的閃存中查找已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存并進(jìn)行檢測直到獲得所述多片閃存中所有閃存的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述在執(zhí)行寫入數(shù)據(jù)或擦 除數(shù)據(jù)的多片閃存中查找已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存的步驟前還包 括向所述多片閃存中所有閃存發(fā)送寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的命令。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述在執(zhí)行寫入數(shù)據(jù)或擦 除數(shù)據(jù)的多片閃存中查找已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存的步驟包括-判斷一片閃存是否正在寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)，如果是，則繼續(xù)對下一片 閃存進(jìn)行判斷；如果否，則判定該閃存已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括將對多 片閃存進(jìn)行檢測獲得的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計以獲得統(tǒng)計結(jié)果數(shù)據(jù)。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對已完成寫入數(shù)據(jù)或 擦除數(shù)據(jù)的閃存進(jìn)行檢測獲得檢測結(jié)果數(shù)據(jù)的步驟后還包括將獲得的檢測 結(jié)果數(shù)據(jù)加入到統(tǒng)計結(jié)果數(shù)據(jù)中；所述的方法還包括在獲得所有閃存的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)后發(fā)送所述的統(tǒng)計結(jié)果數(shù)據(jù)。
6、 一種多片閃存檢測裝置，其特征在于，該裝置包括查找單元，用于在多片閃存中查找已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存；檢測單元，用于對已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存進(jìn)行檢測獲得檢測結(jié)果數(shù)據(jù)；所述查找單元還用于在未進(jìn)行檢測的閃存中查找已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除 數(shù)據(jù)的閃存直到所述檢測單元獲得所述多片閃存中所有閃存的檢測結(jié)果數(shù) 據(jù)。
7、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括 命令發(fā)送單元，用于向所述多片閃存中所有閃存發(fā)送寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的命令。
8、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述查找單元包括-判斷模塊，用于判斷一片閃存是否正在寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)，如果是，則繼續(xù)對下一片閃存進(jìn)行判斷；如果否，則調(diào)用所述檢測單元對該閃存進(jìn)行 檢測以獲得檢測結(jié)果數(shù)據(jù)。
9、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括 第一統(tǒng)計單元，用于將對多片閃存進(jìn)行檢測獲得的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計以獲得統(tǒng)計結(jié)果數(shù)據(jù)；發(fā)送單元，用于在所述第一統(tǒng)計單元獲得所有閃存的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)后發(fā) 送所述的統(tǒng)計結(jié)果數(shù)據(jù)。
10、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括第二統(tǒng)計單元，用于將所述檢測單元獲得的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)加入到統(tǒng)計結(jié) 果數(shù)據(jù)中；發(fā)送單元，用于在所述第二統(tǒng)計單元獲得所有閃存的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)后發(fā) 送所述的統(tǒng)計結(jié)果數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種多片閃存檢測方法及裝置，該方法包括在多片閃存中查找已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存；對已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存進(jìn)行檢測獲得檢測結(jié)果數(shù)據(jù)；在未進(jìn)行檢測的閃存中查找已完成寫入數(shù)據(jù)或擦除數(shù)據(jù)的閃存并進(jìn)行檢測直到獲得所述多片閃存中所有閃存的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)。
文檔編號G11C29/00GK101540201SQ200910135070
公開日2009年9月23日 申請日期2009年4月22日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月22日
發(fā)明者徐勝新 申請人:華為技術(shù)有限公司