專利名稱：一種集成電路及方法
技術領域：
本發(fā)明涉及集成電路中的數據保護。
背景技術：
集成電路可存儲需要保密的安全數據。然而，在集成電路的掃描功能中，未授權人員可訪問這些安全數據。因此，有必要阻止未授權的人員訪問這些安全數據。

發(fā)明內容
以下將結合附圖和說明書對本發(fā)明的一個或多個實施方式進行詳細的闡述。依據本發(fā)明的一方面，其提供了一種集成電路，包括模式模塊，其配置成基于接收的數據輸入認定(assert)測試模式信號、掃描模式 信號和觸發(fā)信號；多個數據模塊，其中每個數據塊均包括配置成存儲數據的寄存器，多個數據模塊 中的每個數據模塊配置成改寫存儲在它們各自寄存器中的至少一部分數據，以響應接收的 改寫指令；以及復位節(jié)點，其配置成基于接收的第一復位輸入或第二復位輸入使所述的寄存器復 位；其中基于所述的測試模式信號，所述集成電路配置為進入測試模式；且基于以下使所述集成電路配置為進入掃描模式延遲掃描允許指令，當集成電路把改寫指令提供給多個數據塊中的每個數據塊以 改寫它們各自的寄存器之后，所述集成電路提供所述延遲掃描允許指令，所述集成電路基 于所述觸發(fā)信號提供改寫指令；所述掃描模式信號；當所述復位輸入節(jié)點接收所述第一復位信號時的所述測試模式信號；以及當所述復位輸入節(jié)點接收第二復位輸入而所述模式模塊不輸出所述測試模式信 號的情況下，所述集成電路配置為退出測試模式。優(yōu)選地，所述模式模塊包括聯(lián)合測試行動組(JTAG)數據寄存器。優(yōu)選地，所述多個數據模塊中的每個數據模塊配置為清除存儲在它們各自寄存器 中的數據，以響應接收的改寫指令。優(yōu)選地，所述多個數據模塊中的每個數據模塊配置為擾亂存儲在它們各自寄存器 中的至少一部分數據，優(yōu)選地，所述多個數據模塊中的每個數據模塊包括配置成改寫存儲在寄存器中的 數據的狀態(tài)機，以響應接收的改寫指令。優(yōu)選地，所述集成電路配置為進入所述測試模式，其中，所述測試模式包括面向測 試的設計(DFT)模式。優(yōu)選地，所述集成電路配置為進入所述掃描模式，其中，所述掃描模式包括執(zhí)行邏輯內置自測試(LBIST)。優(yōu)選地，所述集成電路進一步配置為當所述集成電路為所述掃描模式時，指示所述多個數據模塊中的每個數據模塊避開它們各自的寄存器。優(yōu)選地，所述集成電路進一步包括掃描允許輸入；其中，基于以下把所述集成電路配置為進入所述掃描信號延遲掃描允許指令，當所述集成電路提供所述改寫指令給所述多個數據模塊中的 每個數據模塊以改寫它們各自的寄存器之后，所述集成電路提供所述延遲掃描允許指令， 所述集成電路基于所述觸發(fā)信號提供所述改寫指令；掃描模式信號；當所述復位輸入節(jié)點接收所述復位信號時的測試模式輸出信號；以及從所述掃描允許輸入接收的掃描允許信號。優(yōu)選地，所述集成電路配置為在掃描模式中移動進出所述寄存器的數據。優(yōu)選地，所述集成電路進一步包括配置成接收所述觸發(fā)信號的狀態(tài)機，基于接收 所述觸發(fā)輸入發(fā)送所述擾亂指令到每個所述數據模塊，并在發(fā)送所述擾亂指令之后輸出所 述延遲掃描允許指令。優(yōu)選地，所述集成電路進一步包括雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器(flip-flop)，所述雙穩(wěn)態(tài)多 諧振蕩器包括配置成經過至少一個邏輯門接收來自所述模式模塊、連接到復位節(jié)點的時鐘 輸入以及連接到每個測試節(jié)點和掃描允許節(jié)點的輸出節(jié)點的測試模式信號。優(yōu)選地，所述集成電路進一步包括雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器，其包括配置成從所述模式塊接收測試模式信號的數據輸入；連接到復位節(jié)點的時鐘輸入；以及輸出接點，其經過至少一個或門連接測試節(jié)點，并經過至少一個與門連接到掃描 允許節(jié)點。依據一方面，本發(fā)明提供了一種方法，其包括當接收第一復位信號時，基于接收的測試模式信號通過集成電路進入測試模式；在進入所述測試模式之后，提供改寫指令給多個數據模塊的每個數據模塊以改寫 包括在所述各自數據模塊的每個數據模塊中的寄存器；在提供所述改寫指令之后，進入掃描模式；以及在接受第二復位信號而不接收所述模式信號的情況下，退出所述測試模式。優(yōu)選地，基于從聯(lián)合測試行動組(JTAG)數據寄存器接收觸發(fā)信號，所述提供所述 改寫指令包括提供所述改寫指令給所述多個數據模塊中的每個數據模塊。優(yōu)選地，所述提供所述改寫指令給所述多個數據模塊中的每個數據模塊包括通過 狀態(tài)機提供所述改寫指令給所述多個數據模塊中的每個數據模塊；以及進入掃描模式，其包括基于從所述狀態(tài)機接收的延遲掃描允許指令進入掃描模 式。優(yōu)選地，所述進入所述掃描模式包括指示多個數據模塊中的每個數據模塊執(zhí)行邏 輯內置自測試(LBIST)，所述邏輯內置自測試(LBIST)包括避開包括在所述各自數據模塊 中的存儲模塊。
優(yōu)選地，所述掃描模式包括把數據移出和移入包括在數據模塊中的寄存器。依據一方面，本發(fā)明的集成電路包括聯(lián)合測試行動組(JTAG)數據寄存器，其包括輸入節(jié)點、測試模式輸出節(jié)點、掃描模式輸出接點和觸發(fā)輸出節(jié)點，基于經輸入節(jié)點接收的輸入，所述JTAG數據寄存器配置為 通過所述各自輸出節(jié)點把測試模式信號輸出到雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器的數據輸入和測試或門 的第一輸入節(jié)點，把掃描信號輸出到掃描模式與門的第一輸入節(jié)點，并把觸發(fā)信號輸出到 狀態(tài)機的輸入；測試或門，其包括所述第一輸入節(jié)點、第二輸入節(jié)點和輸出節(jié)點，基于通過它的第 一輸入節(jié)點從JTAG數據寄存器的所述測試模式輸出節(jié)點接收所述測試模式信號或通過它 的第二輸入節(jié)點從所述雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器接收的輸出信號，所述測試或門配置為通過它的 輸出節(jié)點提供測試或門信號給測試模式輸入節(jié)點；雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器，其包括數據輸入節(jié)點、時鐘輸入節(jié)點和輸出節(jié)點，基于通過它 的數據輸入節(jié)點從所述測試模式輸出節(jié)點接收所述測試模式信號，同時通過它的時鐘輸入 從復位節(jié)點接收復位信號，所述雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器配置為把雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器信號發(fā)送到 所述測試或門的所述第二輸入節(jié)點和所述掃描節(jié)點與門的第二輸入節(jié)點；復位節(jié)點，其配置成提供所述復位輸入給所述雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器的時鐘輸入；狀態(tài)機，其包括所述輸入節(jié)點、多個數據塊輸出節(jié)點和延遲掃描輸出節(jié)點，其中所 述狀態(tài)機配置成 基于通過它的輸入從所述JTAG數據寄存器接收所述觸發(fā)信號，通過它的多個數 據模塊輸出節(jié)點提供改寫指令給多個數據塊中的每個數據模塊；以及在提供所述改寫指令之后，提供延遲掃描輸出給所述掃描模式與門的第三輸入節(jié)占.
^ \\\ 多個數據模塊，每個數據模塊包括用于存儲數據的寄存器，基于從所述狀態(tài)機接 收所述改寫指令，所述多個數據模塊中的每個數據模塊配置為改寫存儲在它們各自寄存器 中的至少一部分數據；掃描模式與門，所述掃描模式與門包括所述第一輸入節(jié)點、所述第二輸入節(jié)點、所 述第三輸入節(jié)點和所述輸出節(jié)點，基于從掃描模式的輸出節(jié)點，雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器和狀態(tài) 機接收的信號，把所述掃描模式與門配置成通過它的輸出節(jié)點提供掃描模式與門輸出給掃 描允許與門的第一輸入；掃描允許與門，所述掃描允許與門包括所述第一輸入節(jié)點、第二輸入節(jié)點和輸出 節(jié)點，基于通過它的第一輸入節(jié)點從所述掃描模式與門接收所述輸出和通過它的第二輸入 節(jié)點從掃描允許接點接收掃描允許信號，把所述掃描允許與門配置為提供掃描模式與門輸 出給掃描允許節(jié)點；以及掃描允許節(jié)點，其配置成提供所述掃描允許信號給所述掃描允許與門的第二輸入 節(jié)點。優(yōu)選地，所述集成電路進一步包括掃描或門，其包括連接到所述狀態(tài)機的所述延遲掃描輸出節(jié)點的輸入節(jié)點和連接 到所述掃描模式與門的所述第三輸入節(jié)點的輸出節(jié)點，其中所述狀態(tài)機配置為經所述掃描或門把所述延遲掃描輸出提供給所述掃描模式與門的所述第三輸入節(jié)點。通過說明書和附圖以及權利要求的詳細描述，將更容易理解本發(fā)明的其它特征。


圖1是依據本發(fā)明的例示性的實施例的集成電路的框圖。 圖2是依據本發(fā)明的例示性的實施例的數據模塊的框圖。圖3是依據本發(fā)明的例示性的實施例的方法的流程圖。
具體實施例方式圖1是依據本發(fā)明的示范性的實施例的集成電路100的框圖。例如，集成電路100 可包括用于存儲、提供和控制安全數據(如在移動或無線裝置、數字裝置或顯示單元，或音 頻單元如網絡電話(VoIP)中的安全密鑰)的訪問的集成電路。在一個示范性的實施例中，集成電路100可配置成設在測試模式或功能模式中。 測試模式可以是面向測試的設計(DFT)模式。DFT模式可以阻止在集成電路100中的裝置 執(zhí)行與集成電路的測試或掃描無關的功能。根據示范性的實施例，測試模式可包括子模式， 例如掃描模式、邏輯內置自測試(LBIST)模式、存儲器內置自測試(MBIST)模式和/或聯(lián)合 測試行動組(JTAG)模式。在掃描模式中，集成電路100可掃描存儲在雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器(如包括在集成電 路100的寄存器中)的雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器的數據或邏輯狀態(tài)。安全密鑰可存儲在這些寄存 器中，并在掃描模式中也可移出寄存器，用作串行輸出。在掃描模式期間，未授權人員需把 探測器或者其它輸出-探測裝置應用到雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器和/或寄存器的輸出，以獲取安 全密鑰。在LBIST模式中，集成電路100可掃描存儲在雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器的數據或邏輯狀 態(tài)，也可掃描包含在集成電路100中的邏輯門如與門、或門、非門、與非門、或非門或者異或 門的邏輯狀態(tài)。在MBIST模式中，集成電路100可掃描存儲器裝置，例如包含在集成電路 100中的數據模塊。在JTAG模式中，集成電路100可執(zhí)行邊界掃描，以測試集成電路100的 子模塊之間的相互連接關系。在示范性的實施例中，集成電路100可設在測試模式。在設在測試模式之后，集成 電路100可設在一個或多個子模式中。例如，在進入測試模式之后和在從復位節(jié)點接收輸 入或信號之后，集成電路100可設在掃描模式置。復位節(jié)點除了允許集成電路100進入測 試模式之外，其還可以使集成電路100中的裝置復位。復位集成電路100中的裝置可刪除 裝置中的數據，例如安全密鑰。僅僅在復位輸入引起集成電路100中的裝置復位之后，才可 把集成電路100配置成進入測試模式。因此僅僅在安全密鑰從集成電路中刪除之后，才允 許集成電路進入測試模式。在進入掃描模式之前，集成電路100可改寫存儲在集成電路中的數據，如安全密 鑰。根據示范性的實施例，安全密鑰包括加密密鑰，其用于集成電路100接收或從集成電路 100發(fā)送的數據的加密和/或解密，或者包括授權密鑰，其用于訪問存儲在集成電路100中 的數據或獲取集成電路100的控制。因此，僅僅在復位集成電路100中的裝置之后和在改 寫存儲在集成電路100中的數據(如安全密鑰)之后，集成電路100才可配置成進入掃描模式。而在掃描模式中，集成電路100可禁止訪問某些存儲模塊以阻止當集成電路100為掃描模式時從存儲模塊提取數據，如安全密鑰。集成電路100可退出測試模式，結果是接收第二復位輸入，這樣可使裝置復位，并 再次刪除或改寫數據。因此，在這個實施例中，集成電路100依次地使裝置復位、進入測試 模式、改寫數據、進入掃描模式、退出掃描模式、在退出測試模式和進入功能模式之前再次 使裝置復位。通過依次地執(zhí)行這些功能，可控制對存儲在集成電路中的敏感數據的訪問。在圖1所示的實施例中，集成電路100可包括模式模塊102。模式模塊102可包括 電路，以控制集成電路100在哪一個模式中，例如是在測試模式(或DFT模式)或功能模式 的哪一個模式中。根據示范性的實施例，模式模塊102也可控制集成電路100在測試模式 下的哪一個子模式中，例如，是在掃描模式、邏輯內置自測試(LBIST)模式、存儲器內置自 測試(MBIST)模式和/或聯(lián)合測試行動組(JTAG)模式中的哪一個模式中。在一個示范性 的實施例中，模式模塊102可包括JTAG數據寄存器。模式模塊102可從測試數據輸入(TDI)節(jié)點104接收輸入。TDI節(jié)點104可從集 成電路100之外接收輸入。TDI節(jié)點104可接收測試激勵，如經集成電路100的待掃描數據。模式模塊102也可經測試數據輸出(TDO)節(jié)點106把輸出發(fā)送到集成電路100之 夕卜。TDO節(jié)點106可提供輸出響應給TDI節(jié)點104提供的測試激勵。可以通過集成電路100 對TDI節(jié)點104到TDO節(jié)點106的數據進行掃描。在例示性的實施例中，TDO節(jié)點106的 輸出可表明集成電路100是否通過TDI節(jié)點104對提供給集成電路100的數據進行了適當 的處理。模式模塊102可與集成電路100中的其它裝置通信。為促進通信，模式模塊102可 包括多個輸入和/或輸出模塊。輸入或輸出模塊可接收來自集成電路100中其它裝置的輸 入或可給集成電路100中的其它裝置提供輸出。在圖1所示的實施例中，模式模塊102可 包括DFT模式模塊108、掃描模式模塊110、LBIST清除狀態(tài)模塊112、模擬覆蓋模塊114和 觸發(fā)模塊116。根據多個示范性的實施例，模式模塊102中可包括其它模塊，例如MBIST模 塊。在示范性的實施例中，DFT模式模塊108可包括配置成使集成電路進入測試模式 的電路。參見圖1所示的實施例，DFT模式模塊108可連接到測試或門118的第一輸入。測 試或門118的輸出可連接到DFT模塊120。例如，通過測試或門118，DFT模式模塊108可 把測試模式信號(如“1”)發(fā)送到DFT模塊120。當激活時，DFT模塊120可導致在集成電 路100中的其它裝置進入測試模式。因此，DFT模式模塊108可激活DFT模塊120并使得 集成電路100中的裝置進入測試模式。而在測試模式中，集成電路100中的裝置除了測試 功能或處理之外，不具有其它的功能或處理能力。在圖1所示的實施例中，DFT模式模塊108也可連接至雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122的 數據輸入(D)。在這個實施例中，雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122可包括帶有清除功能的正跳沿觸 發(fā)(positive-edge-triggered)的D雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器。雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122的時鐘輸 入可連接至集成電路100的復位節(jié)點124。復位節(jié)點124可連接到集成電路100以外的裝 置且受該裝置控制，或受集成電路100的使用者或安裝了集成電路100的裝置的使用者的 控制。復位節(jié)點124可包括電路，此電路配置成認定雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122的時鐘輸入端的復位輸入或信號(如“1”)，接著終止認定復位輸入或信號；雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122將復 位節(jié)點124的復位輸入或信號的缺失解釋為“O”。除了提供復位輸入或信號給雙穩(wěn)態(tài)多諧 振蕩器122的時鐘輸入端外，復位節(jié)點124可通過集成電路加快復位操作。復位操作可通 過諸如清除存儲在裝置的特殊數據，如安全數據(如安全密鑰或加密密鑰)以使集成電路 100中的裝置復位。雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122的輸出節(jié)點(Q)可連接至測試或門118的第二輸入。在正跳沿觸發(fā)的D雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器的實施例中，當觸發(fā)復位節(jié)點124時，雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器 122存儲從DFT模式模塊108接收的值。雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122也可把復位輸入或信號發(fā) 送到雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122的時鐘輸入端，并把存儲的值提供給測試或門118。除非雙穩(wěn)態(tài) 多諧振蕩器122從復位節(jié)點124接收別的復位信號，否則存儲在雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122的 值是不可更改的。因此，當DFT模式模塊108在認定測試模式信號或“1”到DFT模塊120 時，如果復位節(jié)點124發(fā)送復位輸入或信號給雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122的時鐘輸入端，雙穩(wěn)態(tài) 多諧振蕩器122將會存儲測試模式信號或“1”。當存儲測試模式信號或“1”時，雙穩(wěn)態(tài)多諧 振蕩器122將認定測試模式信號或“1”到第一測試門118，直到雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122從復 位節(jié)點124接收別的復位輸入或信號，此時，雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122將會存儲從DFT模式模 塊108接收的新信號。如果雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122從復位節(jié)點124接收第一復位信號，進 而從DFT模式模塊108接收測試模式信號(如“1”)，雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122可存儲測試模 式信號或“1”，直到從復位節(jié)點124接收第二復位信號進而從DFT模式模塊108接收不同信 號(例如，測試模式信號的缺失或“0”)。因此，在這個實施例中，當在測試模式時，如果集 成電路100接收復位信號，且當DFT模塊在認定不同信號(如測試模式信號的缺失或“0”) 為退出或中斷測試模式時，直到集成電路100接收別的復位信號之后，集成電路100才退出 測試模式。在裝置退出測試模式和進入激活模式之前，集成電路100可通過復位裝置從寄 存器中清除在激活模式下仍然保留在寄存器且可被未授權人員或實體訪問的安全數據。在圖1所示的實施例中，雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122也可包括連接至上電復位(POR) 輸入126的清除輸入端。上電復位輸入126可連接至集成電路100之外的一個或多個裝置， 當集成電路100斷電時，如當集成電路100電源不可用，上電復位輸入126可提供復位或清 除輸入給雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122的清除輸入端。在這個實施例中，當集成電路100電源不 可用時，上電復位輸入126可提供復位或清除輸入給雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122的清除輸入端， 從而使得雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122存儲非測試的或“0”值。在進入測試或DFT模式之后，集成電路100可設在掃描模式。在掃描模式期間，數 據可移入或移出集成電路100，例如移入或移出包括在集成電路100中的雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩 器122和/或寄存器。在圖1所示的實施例中，集成電路100可包括掃描允許與門128，掃 描允許與門128包括連接至掃描塊130的輸出。當掃描模塊130被掃描允許與門128激活 時，可加速集成電路100中其它裝置進入掃描模式。當集成電路100處于掃描模式，可在集 成電路100的一個或多個裝置上進行測試，以評估裝置的性能。例如，當集成電路在掃描模 式下，可執(zhí)行LBIST測試。掃描允許與門128可具有連接至掃描允許輸入端132的第一輸入，且與門128可 從掃描允許輸入端132接收輸入。掃描允許輸入端132可從集成電路100之外的裝置或使 用者接收輸入。當被外部裝置或使用者加快時，掃描允許輸入端132可提供掃描信號給掃描允許與門128。然而，當掃描允許與門128也從掃描模式與門134接收掃描信號時，掃描 模式與門I28僅僅為掃描模塊130提供掃描信號以促進掃描。這確保了集成電路100不進 入掃描模式，除非在集成電路100進入要求復位的測試模式之后。通過在進入掃描模式之 前所要求的復位，藉此在進入掃描模式之前消除存儲在集成電路裝置中的數據，在掃描模 式期間集成電路100阻止某人在裝置上利用探測器把數據從裝置中掃描出來。因為在掃描 模式之前在復位期間數據已經被消除，故在掃描模式期間數據不會從裝置中掃描出來。
掃描模式與門134的輸出可連接至掃描允許與門128的第二輸入。因此，當掃描 允許與門128從掃描允許輸入端132和掃描模式與門134接收掃描信號時，掃描允許與門 128可把掃描信號提供給掃描模塊130。掃描模式與門134可具有連接至雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122的輸出的第一輸入。該輸 入可要求雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122存儲掃描模式與門134的測試模式信號或“1”，以把掃描信 號發(fā)送給掃描允許與門128。根據示范性的實施例，如果雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122不存儲測試 模式信號或“1”，掃描模式與門134可不把掃描信號提供給掃描允許與門128。掃描模式與門134可具有連接至模式時鐘102的掃描模式時鐘110的第二輸入。 如下面的論述，基于通過TDI節(jié)點104接收的輸入或基于從狀態(tài)機136接收的輸入，掃描模 式模塊110可把掃描模式信號提供給掃描模式與門134?；谟蒚DI節(jié)點104接收的輸入， 掃描模式模塊110可把掃描模式信號提供給掃描模式與門134作為初始化過程的一部分。集成電路100可包括狀態(tài)機136。根據示范的性實施例，狀態(tài)機136可包括獨立 的狀態(tài)機或有限狀態(tài)機。狀態(tài)機136可基于連續(xù)的輸入來提供輸出。在圖1所示的實施例 中，狀態(tài)機136可基于輸入(如從模式塊102的觸發(fā)塊116接收的觸發(fā)信號)以提供輸出。 由觸發(fā)模塊116發(fā)送的觸發(fā)信號可為狀態(tài)機136提供指令，如下文所述的提供某些輸出的 指令?；谟蒚DI節(jié)點104經模式模塊102接收的輸入，觸發(fā)模塊116可把指令提供給狀 態(tài)機。例如，在DFT模式模塊108已把測試模式信號發(fā)送給測試或門118和雙穩(wěn)態(tài)多諧振 蕩器122之后，觸發(fā)模塊116可把指令提供給狀態(tài)機136，以利于掃描模式。這確保了集成 電路100不進入掃描模式，除非集成電路100進入要求復位的測試模式。因此，除非集成電 路已經復位之后，集成電路100才會進入掃描模式。由于復位刪除了某些數據，在掃描模式 期間這些數據將不會再被掃描出裝置。狀態(tài)機136可連接并提供指導給多個數據模塊138A、138B、138C、138D。雖然圖1 所示的集成電路100包括四個數據模塊138A、138B、138C、138D，但是集成電路100可包括任 何數目的數據模塊。數據模塊138A、138B、138C、138D可存儲數據。例如，數據模塊138A、 138B、138C、138D中的每個數據模塊都可包括多個存儲數據的寄存器。數據可包括安全密鑰?；趶挠|發(fā)模塊116接收的觸發(fā)信號，狀態(tài)機136可把改寫指令提供給數據模塊 138A、138B、138C、138D中的任何一個數據模塊。數據模塊138A、138B、138C、138D可改寫或 消除存儲在它們各自的寄存器和邏輯門中的數據，如安全密鑰，以響應接收的改寫指令。在 示范性的實施例中，通過將所有數據改寫為“ 1，，或將所有數據改寫為“0”，或通過將數據改 寫為偽隨機數據，數據模塊138A、138B、138C、138D可改寫或消除數據。圖2是依據本發(fā)明的一個示范性的實施例的數據模塊138的框圖。在該實施例 中，數據模塊138可從狀態(tài)機136接收輸入。數據模塊138可包括接收輸入的控制器202。控制器202可包括能夠接收和執(zhí)行指令(如從狀態(tài)機136接收的指令)的處理器?？刂破?202可接收指令以改寫數據，如安全密鑰?；诮邮盏母膶懼噶?，控制器202可指示偽隨機 模式產生器204將存儲在存儲器206中的數據改寫為偽隨機數據。存儲器206可包括存儲 數據或安全密鑰的寄存器。在示范性的實施例中，數據可移入或移出包括在存儲器206中 的寄存器。根據接收的改寫指令，控制器202也可將存儲在存儲器206的寄存器中的數據 改寫為“0”或“1”。根據從狀態(tài)機136接收的指令，控制器202也可令數據模塊138從存儲器206輸 出數據，或者避開存儲器206并從控制器202輸出數據。通過控制包括連接至每個存儲器 206和控制器202的輸入的多路器208，控制器202可避開存儲器206?？刂破?02可確定 多路器208是從存儲器206接收輸入還是從控制器202接收輸入。如果控制器202使得多 路器208從控制器202而非存儲器206接收輸入，那么就會認為是避開存儲器206。在掃描 模式期間，控制器202可使得多路器208從控制器接收輸入并避開存儲器206，使得可以通 過存儲器206和多路器208探測或檢測數據輸出的人或實體不能得到存儲在存儲器206中 的數據，如安全密鑰或加密密鑰。例如，在掃描功能期間，控制器202可避開存儲器206以 阻止安全密鑰從包含在存儲器中的寄存器中掃描出來。數據模塊138的輸出可連接至集成 電路100中或其之外的其它裝置。 回到圖1，在發(fā)送改寫指令給數據模塊138A、138B、138C、138D之后，狀態(tài)機通過掃 描或門140的第一輸入發(fā)送延遲掃描允許指令給LBIST清除狀態(tài)模塊112和掃描模式與門 134的第三輸入。LBIST清除狀態(tài)模塊112可從狀態(tài)機136接收輸入，表明數據模塊138A、 138B、138C、138D已經從狀態(tài)機136接收并完成改寫指令。根據示范性的實施例，基于LBIST 清除狀態(tài)模塊112從狀態(tài)機136接收延遲掃描允許指令或信號，掃描模式模塊110可把掃 描信號提供給掃描模式與門134。掃描或門140的輸出連接至掃描模式與門134的第三輸入。狀態(tài)機136在發(fā)送改 寫指令給數據模塊138A、138B、138C、138D之后可發(fā)送延遲掃描允許指令給數據模塊138A、 138B、138C、138D。在這個實施例中，在復位節(jié)點124已經使集成電路100中的裝置復位之 后，且在數據塊138A，138B, 138C，138D基于從狀態(tài)機136接收改寫指令以改寫了存儲在它 們各自寄存器中的數據之后，掃描模塊130可從掃描允許與門128接收掃描信號，藉此促進 集成電路100進入掃描模式。因此，在這個實施例中，僅僅在復位期間，安全數據已經被消 除之后和在存儲在數據模塊138A、138B、138C、138D的寄存器中的數據已經被改寫之后，集 成電路100才可進入掃描模式。根據示范性的實施例，當掃描允許節(jié)點132停止認定掃描 信號時，當雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器122停止存儲測試模式信號或“1”時，當掃描模式模塊110停 止認定掃描信號時，或當狀態(tài)機136停止提供延遲掃描允許指令時，集成電路100可退出掃 描模式。因此，如果集成電路100退出測試模式(可能要求復位)，集成電路100也可能會 退出掃描模式；當集成電路100可能不在測試模式，也不會在掃描模式。但是，集成電路100 可退出掃描模式，而處于測試模式中。在示范性的實施例中，集成電路100可包括模擬節(jié)點142。模擬節(jié)點142可連接至 集成電路100之外的裝置，或者被使用者控制，或者固定在一次性可編程存儲器位上，該一 次性可編程存儲器位在分配集成電路100之前是可編程的。接合了模擬覆蓋模塊114的模 擬節(jié)點142可把輸入提供給模擬與門144，并可使其在制造或測試期間對集成電路100進行測試。模擬與門144可具有提供信號給掃描或門140的第二輸入的輸出。通過提供輸入給掃描或門140，在不涉及狀態(tài)機136和不提供改寫指令給數據模塊138、138B、138C、138D的 情況下，模擬節(jié)點142和模擬覆蓋塊114可允許集成電路100進入掃描模式。這使得集成 電路100的制造商可在無需與改寫指令相關的處理開銷的情況下掃描集成電路100。在一 個示范性的實施例中，在發(fā)布集成電路100之前制造商可禁用模擬節(jié)點142和/或模擬覆 蓋塊114。通過禁用模擬節(jié)點142和/或模擬覆蓋塊114，在沒有狀態(tài)機136首先提供改寫 指令給數據塊138A、138B、138C、138D的情況下，制造商可阻止下游用戶的集成電路100進 入掃描模式。圖3是依據本發(fā)明的一個示范性的實施例的方法300的流程圖。在這個實施例中， 方法300可包括基于接收的第一測試模式信號而接收的第一復位信號，通過集成電路102 進入測試模式(302)。方法300也可包括提供改寫指令給多個數據模塊138A、138B、138C、 138D中的每個數據模塊以改寫包括在每個各自的數據模塊138A、138B、138C、138D中的寄 存器(304)。方法300也可包括在提供改寫指令之后，進入掃描模式(306)。方法300還可 包括，基于接收第二測試模式信號而接收的第二復位信號，退出測試模式(308)。在示范性的實施例中，提供改寫指令可包括基于接收從聯(lián)合測試行動組(JTAG) 數據寄存器接收的觸發(fā)信號把改寫指令提供給多個數據模塊138A、138B、138C、138D中的 每個數據模塊。在示范性的實施例中，把改寫指令提供給多個數據模塊138A、138B、138C、138D中 的每個數據模塊可包括通過狀態(tài)機136把改寫指令提供給多個數據模塊138A、138B、138C、 138D中的每個數據模塊。在這個實施例中，進入掃描模式可包括基于從狀態(tài)機136接收的 延遲掃描允許指令而進入掃描模式。在示范性的實施例中，進入掃描模式包括指示多個數據模塊138A、138B、138C、 138D中的每個數模據塊執(zhí)行邏輯內置自測試(LBIST)，其中LBIST包括避開分別包含在數 據模塊138A、138B、138C、138D中的存儲模塊206。在示范性的實施例中，掃描模式可包括把數據移入或移出包含在數據模塊138A、 138B、138C、138D 的寄存器。本文所描述的各種技術可以在數字電路，或者計算機硬件、固件、軟件或其組合中 實現。這些技術也可以作為計算機程序產品實現，即這些計算機程序嵌入信息載體中(例 如機器可讀的存儲裝置或者傳播的信號)，以通過數據處理裝置(如可編程處理器、計算 機、或者多個計算機)來執(zhí)行這些程序或者執(zhí)行這些程序以控制數據處理裝置(如可編程 處理器、計算機、或者多個計算機)?？蓤?zhí)行上述操作的計算機程序可用任何形式的編程語 言編寫，包括匯編或解釋語言，且可以以任何形式來配置，例如獨立程序，或者模塊、組件、 子程序或適于在計算環(huán)境中使用的其它單元。計算機程序可配置成在一個計算機或者多個 計算機上運行，所述多個計算機可以位于同一地點或者分布在多個地點并通過通信網絡互 連?？捎梢粋€或多個可編程處理器執(zhí)行本發(fā)明的方法步驟，該可編程處理器運行計算 機程序，對輸入數據進行操作并生成輸出數據，以執(zhí)行其功能。方法步驟也可以由專用邏輯 電路來執(zhí)行，裝置也可由專用邏輯電路實施，例如FPGA(現場可編程門陣列)或者ASIC(專 用集成電路)。
適于執(zhí)行計算機程序的處理器包括，例如通用和專用微處理器，以及任何種類的 數字計算機的任何一個或多個處理器。通常，處理器可從只讀存儲器或隨機存取存儲器或 兩者中接收指令和數據。計算機部件包括用于執(zhí)行指令的至少一個處理器以及用于存儲 指令和數據的一個或多個存儲裝置。通常，計算機也可包括一個或多個用于存儲數據的大 容量存儲裝置，或者可操控地連接到一個或多個用于存儲數據的大容量存儲裝置，以從中 接收數據或向其發(fā)射數據，例如，所述大容量存儲裝置是磁盤、磁光盤、或者光盤。適于包含 計算機程序指令和數據的信息載體包括所有形式的非易失存儲器，例如包括EPR0M、EEPR0M 和閃存之類的半導體存儲裝置、磁盤如內置硬盤或可移動磁盤、磁光盤、以及⑶-ROM和DVD-ROM光盤。處理器和存儲器可以由專用邏輯電路來實施，或者結合到專用邏輯電路中。為與用戶提供交互，可在具有顯示裝置如陰極射線管顯示器(CRT)或液晶顯示器 (LCD)的電腦上實施本發(fā)明。陰極射線管顯示器(CRT)或液晶顯示器(LCD)的電腦上實施是 為了給用戶顯示信息，用戶利用鍵盤和定位裝置，如鼠標或跟蹤球可給計算機提供輸入。同 樣，也可使用其它類型的裝置與用戶提供交互；例如，提供給用戶的反饋可以是任何形式的 感官反饋，例如，視覺反饋，聽覺反饋，或者是觸覺反饋；同時可接收任何形式的用戶輸入， 包括聲音、語音和觸摸輸入。雖然在本文中已經描述了所述實施方式的某些特征，但本技術領域的人員也可以 做出很多改型、變型和等同替換。因此，應該理解，權利要求要求保護覆蓋落入本發(fā)明的實 施例的實質范圍內的所有的改型和變型。
權利要求
一種集成電路，其特征在于，所述的集成電路包括模式模塊，其配置成基于接收的數據輸入認定測試模式信號、掃描模式信號和觸發(fā)信號；多個數據模塊，其中每個數據塊均包括配置成存儲數據的寄存器，多個數據模塊中的每個數據模塊配置成改寫存儲在它們各自的寄存器中的至少一部分數據，以響應接收的改寫指令；以及復位節(jié)點，其配置成基于接收的第一復位輸入或第二復位輸入使所述的寄存器復位；其中，所述集成電路基于所述的測試模式信號配置成進入測試模式；且基于以下使所述集成電路配置為進入掃描模式延遲掃描允許指令，當集成電路把改寫指令提供給多個數據模塊中的每個數據模塊以改寫它們各自的寄存器之后，所述集成電路提供所述延遲掃描允許指令，所述集成電路基于所述觸發(fā)信號提供改寫指令；掃描模式信號；和當所述復位輸入節(jié)點接收所述第一復位信號時的測試模式信號；以及其中當所述復位輸入節(jié)點接收第二復位輸入而在所述模式模塊不輸出所述測試模式信號的情況下，所述集成電路配置為退出測試模式。
2.如權利要求1所述的集成電路，其特征在于，所述模式模塊包括聯(lián)合測試行動組 (JTAG)數據寄存器。
3.如權利要求1所的述集成電路，其特征在于，所述多個數據模塊中的每個數據模塊 配置為清除存儲在它們各自寄存器中的數據，以響應接收的改寫指令。
4.如權利要求1所述的集成電路，其特征在于，所述多個數據模塊中的每個數據模塊 配置為擾亂存儲在它們各自寄存器中的至少一部分數據，以響應接收的改寫指令。
5.如權利要求1所述的集成電路，其特征在于，所述多個數據模塊中的每個數據模塊 包括配置成改寫存儲在寄存器中的數據的狀態(tài)機，以響應接收的改寫指令。
6.一種方法，其特征在于，所述的方法包括基于接收的第一復位信號而接收的測試模式信號，通過集成電路進入測試模式； 在進入所述測試模式之后，把改寫指令提供給多個數據模塊的每個數據模塊，以改寫 包括在所述各自數據模塊的每個數據模塊中的寄存器； 在提供所述改寫指令之后，進入掃描模式；以及 基于不接收所述模式信號而接收的第二復位信號，退出所述測試模式。
7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，基于從聯(lián)合測試行動組(JTAG)數據寄存器 接收的觸發(fā)信號，提供改寫指令包括把改寫指令提供給所述多個數據模塊中的每個數據模 塊。
8.如權利要求6所述的方法，其特征在于，把改寫指令提供給多個數據模塊中的每個 數據模塊包括通過狀態(tài)機把所述改寫指令提供給多個數據模塊中的每個數據模塊；以及進入所述掃描模式包括基于從狀態(tài)機接收的延遲掃描允許指令，進入掃描模式。
9.一種集成電路，其特征在于，包括聯(lián)合測試行動組(JTAG)數據寄存器，其包括輸入節(jié)點、測試模式輸出節(jié)點、掃描模式 輸出接點和觸發(fā)輸出節(jié)點，基于經輸入節(jié)點接收的輸入，所述JTAG數據寄存器配置為通過所述各自的輸出節(jié)點把測試模式信號輸出到雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器的數據輸入和測試或門的 第一輸入節(jié)點，把掃描信號輸出到掃描模式與門的第一輸入節(jié)點，并把觸發(fā)信號輸出到狀 態(tài)機的輸入；測試或門，其包括第一輸入節(jié)點、第二輸入節(jié)點和輸出節(jié)點，基于通過它的第一輸入節(jié) 點從JTAG數據寄存器的測試模式輸出節(jié)點接收測試模式信號或通過它的第二輸入節(jié)點從 雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器接收的輸出信號，所述測試或門配置為通過它的輸出節(jié)點把測試或門信 號提供給測試模式輸入節(jié)點； 雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器，其包括數據輸入節(jié)點、時鐘輸入節(jié)點和輸出節(jié)點，基于通過它的數 據輸入節(jié)點從所述測試模式輸出節(jié)點接收所述測試模式信號，同時通過它的時鐘輸入從復 位節(jié)點接收復位信號，所述雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器配置為把雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器信號發(fā)送到所述 測試或門的所述第二輸入節(jié)點和所述掃描節(jié)點與門的第二輸入節(jié)點；復位節(jié)點，其配置成把所述復位輸入提供給所述雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器的時鐘輸入； 狀態(tài)機，其包括輸入節(jié)點、多個數據模塊輸出節(jié)點和延遲掃描輸出節(jié)點，其中所述狀態(tài) 機配置為基于通過它的輸入從所述JTAG數據寄存器接收觸發(fā)信號，通過它的多個數據模塊輸 出節(jié)點把改寫指令提供給多個數據模塊中的每個數據模塊；以及在提供所述改寫指令之后，提供延遲掃描輸出給所述掃描模式與門的第三輸入節(jié)點； 多個數據模塊，每個數據模塊包括用于存儲數據的寄存器，基于從所述狀態(tài)機接收的 改寫指令，所述多個數據模塊中的每個數據模塊配置為改寫存儲在它們各自寄存器中的至 少一部分數據；掃描模式與門，所述掃描模式與門包括第一輸入節(jié)點、第二輸入節(jié)點、第三輸入節(jié)點和 所述輸出節(jié)點，基于從掃描模式的輸出節(jié)點、雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器和狀態(tài)機接收的信號，把所 述掃描模式與門配置成通過它的輸出節(jié)點提供掃描模式與門輸出給掃描允許與門的第一 輸入；掃描允許與門，所述掃描允許與門包括第一輸入節(jié)點、第二輸入節(jié)點和輸出節(jié)點，基 于通過它的第一輸入節(jié)點從所述掃描模式與門接收輸出和通過它的第二輸入節(jié)點從掃描 允許接點接收掃描允許信號，把掃描允許與門配置為提供掃描模式與門輸出到掃描允許節(jié) 點；以及掃描允許節(jié)點，其配置成把所述掃描允許信號提供給所述掃描允許與門的第二輸入節(jié)點ο
10.如權利要求9所述集成電路，其特征在手，所述集成電路進一步包括 掃描或門，其包括連接到所述狀態(tài)機的所述延遲掃描輸出節(jié)點的輸入節(jié)點和連接到所 述掃描模式與門的所述第三輸入節(jié)點的輸出節(jié)點，其中所述狀態(tài)機配置為經所述掃描或門把所述延遲掃描輸出提供給所述掃描模式與門的 所述第三輸入節(jié)點。
全文摘要
本發(fā)明揭露一種集成電路及其方法。本發(fā)明公開了多種示范性的實施例。依據一個示范性的實施例，集成電路可包括模式模塊，多個數據模塊，和復位節(jié)點。模式模塊可配置為基于接收的數據輸入而輸出測試模式信號、掃描模式信號和觸發(fā)信號。多個數據模塊的每個數據模塊可包括配置成存儲數據的寄存器，多個數據模塊中的每個數據模塊配置為改寫存儲在它們各自的存儲器中的至少一部分數據，以響應接收的改寫指令。基于接收的第一復位輸入或第二復位輸入，復位節(jié)點可配置為使寄存器復位。集成電路可配置為進入測試模式、進入掃描模式，并退出測試模式。
文檔編號G11C29/14GK101847446SQ20091020787
公開日2010年9月29日 申請日期2009年10月28日 優(yōu)先權日2008年10月28日
發(fā)明者洛夫·科薩瑞, 愛瑪·格塔夫 申請人:美國博通公司