專利名稱：一種芯片測試系統(tǒng)及自動測試向量發(fā)生器atpg的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種芯片測試系統(tǒng)，它具有自動測試向量發(fā)生器ATPG功能，尤其 適合對不同型號的閃存芯片進行測試與軟件加載。
背景技術(shù)：
目前，閃存芯片的測試與軟件加載主要通過邊界掃描測試與加載設(shè)備進行。使用 者要針對不同型號的閃存芯片分別編寫測試腳本，通過測試腳本產(chǎn)生相應(yīng)的測試向量，才 能進行測試。但測試腳本編寫有一定難度，工作量大，通用性差，延長了測試周期，加大了測 試成本。
發(fā)明內(nèi)容為了克服現(xiàn)有的邊界掃描測試與加載設(shè)備測試腳本編寫困難的不足，本實用新型 提供一種測試系統(tǒng)和自動測試向量發(fā)生器ATPG，該測試系統(tǒng)能對不同型號的閃存芯片進行 自動測試。本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是利用現(xiàn)場可編程門陣列FPGA 芯片，設(shè)計一個引腳可配置芯片測試座，使FPGA芯片10引腳與芯片測試座引腳固定連接， 通過配置芯片，對FPGA芯片10引腳功能與輸入/輸出屬性進行重新配置，從而與不同型號 被測閃存芯片交互數(shù)據(jù)。自動測試向量發(fā)生器ATPG根據(jù)被測閃存型號，產(chǎn)生相應(yīng)測試向量，通過現(xiàn)場可編 程門陣列FPGA芯片10引腳送入被測閃存芯片，把閃存輸出數(shù)據(jù)與期望值對比，達到故障診 斷與定位的目的。本實用新型的有益效果是，用戶只需把被測閃存芯片型號輸入計算機，不用編寫 測試腳本，大幅縮短了測試周期，降低了測試成本。
以下結(jié)合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。

圖1是本實用新型的系統(tǒng)框圖。圖2是引腳可配置芯片測試座的電路原理框圖。
具體實施方式
在圖1中，在控制軟件模塊控制下，通過所述控制計算機USB接口，向所述配置芯 片發(fā)送配置數(shù)據(jù)，向所述Nand Flash發(fā)送待加載數(shù)據(jù)，從被測閃存芯片數(shù)據(jù)總線讀出閃存 輸出數(shù)據(jù)，把該輸出數(shù)據(jù)送回計算機并與期望值對比。若輸出數(shù)據(jù)與期望值相同，則被測 存儲單元正常；若不相同，則被測存儲單元損壞；若被測閃存是Nor Flash，則判定整個芯 片損壞；若被測閃存是Nand Flash，則進行壞塊標注，若損壞單元超過限度，判定整個Nand Flash芯片損壞。[0011]在圖2中，USB接口控制器首先接收控制計算機發(fā)送的現(xiàn)場可編程門陣列FPGA 配置文件，并將其寫入配置芯片；USB接口控制器再接收控制計算機發(fā)送的待加載數(shù)據(jù)，并 將其寫入Nand Flash;最后，USB接口控制器接收控制計算機發(fā)送的自動測試向量發(fā)生器 ATPG產(chǎn)生的測試向量，并將其寫入Nand Flash。配置芯片對FPGA進行配置。FPGA正常工作后，向被測閃存地址總線、數(shù)據(jù)總線、控 制總線寫入測試向量，從數(shù)據(jù)總線讀出被測閃存輸出數(shù)據(jù)。該輸出數(shù)據(jù)由USB接口控制器 送回控制計算機，由控制計算機進行數(shù)據(jù)分析，給出故障診斷與定位結(jié)果。若被測閃存沒有故障，F(xiàn)PGA則將Nand Flash中的待加載數(shù)據(jù)寫入被測閃存。至 此閃存的測試與加載結(jié)束。
所述自動測試向量發(fā)生器ATPG可產(chǎn)生4種長度可變的測試向量 00000000 全0序列 00000001 走步1序列，只有一個1.其余位均為0 00000010 走步1序列 10000000 走步1序列 11111110 走步0序列，只有一個0，其余位均為1 11111101 走步0序列 01111111 走步0序列 11111111 全1序列 以上4種序列產(chǎn)生容易，測試完備性較好，非常適合閃存芯片的測試。
權(quán)利要求一種引腳可配置芯片測試座，包括1組IO口；一個邊界掃描JTAG接口；一個通用串行總線USB接口；其特征在于，所述引腳可配置芯片測試座還包括一個現(xiàn)場可編程門陣列FPGA芯片；一個配置芯片；一個Nand Flash閃存芯片；一個自動測試向量發(fā)生器ATPG。
2.如權(quán)利要求1所述的引腳可配置芯片測試座，其特征在于，所述10口功能與輸入/ 輸出屬性可通過現(xiàn)場可編程門陣列FPGA芯片重新配置。
3.如權(quán)利要求1所述的引腳可配置芯片測試座，其特征在于，所述10口功能可被重新 配置，用于與不同型號被測閃存芯片交互數(shù)據(jù)。
4.如權(quán)利要求1所述的引腳可配置芯片測試座，其特征在于，所述自動測試向量發(fā)生 器ATPG可自動產(chǎn)生被測芯片地址向量、數(shù)據(jù)向量、控制向量。
5.如權(quán)利要求1所述的引腳可配置芯片測試座，其特征在于，所述通用串行總線USB接 口用于與控制計算機進行配置與控制數(shù)據(jù)交互。
6.一種芯片測試系統(tǒng)，包括1臺具有USB接口的控制計算機；被測閃存芯片；控制軟件模塊；一個引腳可配置芯片 測試座；其特征在于，所述芯片測試系統(tǒng)，在控制軟件模塊控制下，通過控制計算機USB接 口，與引腳可配置芯片測試座交互數(shù)據(jù)，達到重新配置引腳功能與輸入/輸出屬性，并向自 動測試向量發(fā)生器ATPG發(fā)送控制數(shù)據(jù)。
專利摘要一種能對不同型號的閃存芯片進行測試與軟件加載的系統(tǒng)。它利用現(xiàn)場可編程門陣列FPGA芯片設(shè)計一個引腳可配置芯片測試座，結(jié)合自動測試向量發(fā)生器ATPG功能，克服了現(xiàn)有邊界掃描測試與加載設(shè)備測試腳本編寫困難的不足，大幅縮短了測試周期，降低了測試成本。
文檔編號G11C29/56GK201600928SQ20092013119
公開日2010年10月6日 申請日期2009年5月8日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月8日
發(fā)明者吳薇, 黃建軍 申請人:黃建軍;吳薇