專利名稱：光盤再現(xiàn)裝置和光盤再現(xiàn)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光盤再現(xiàn)裝置和光盤再現(xiàn)方法，并且適用于例如從光盤再現(xiàn)信息的光
盤再現(xiàn)裝置。
背景技術(shù)：
到目前為止，從作為光信息記錄介質(zhì)的諸如CD(致密磁盤)、DVD(數(shù)字多功能光 盤)和藍(lán)光光盤(注冊(cè)商標(biāo))(藍(lán)光光盤在下文中將被稱為BD)的光盤讀取信息的光盤再 現(xiàn)裝置已經(jīng)廣泛推廣。 這樣的光盤再現(xiàn)裝置在光盤上存儲(chǔ)諸如音樂內(nèi)容、視頻內(nèi)容等的各種內(nèi)容，或者 存儲(chǔ)諸如各種用于計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)等的各種信息。 因?yàn)橛捎谝曨l的更高分辨率、音樂的更高音質(zhì)等使信息量增大，因此非常需要進(jìn) 一步提高光盤的容量。 相應(yīng)地，作為提高這樣的光盤的容量的方法，已經(jīng)提出的一種方法是在光盤的記 錄層中形成多種記錄標(biāo)記的結(jié)合，并且多路傳輸并調(diào)制用光束照射光盤時(shí)產(chǎn)生的返回光 束中的每個(gè)波長帶中的信號(hào)。在這種方法的情況中，光盤再現(xiàn)裝置分別檢測(cè)來自從光盤獲 得的返回光束中的多個(gè)頻帶的信號(hào)，并且基于該信號(hào)再現(xiàn)信息(例如參見IS0M/0DS' 08 WA02 TD05-31 "Plasmonic Nano-Structure for Optical Data Storage"。

發(fā)明內(nèi)容
上述光盤再現(xiàn)裝置用脈沖形式的光束照射光盤，并且需要使用所謂的皮秒激光器 或所謂的毫微微秒激光器作為光束的光源。 —般地，皮秒激光器或毫微微秒激光器具有相對(duì)較大的結(jié)構(gòu)。相應(yīng)地，光盤再現(xiàn)裝
置具有較大的裝置結(jié)構(gòu)，并且很難小型化到能用在房間中或用于移動(dòng)用途的程度。 鑒于上述提出本發(fā)明。希望提出一種光盤再現(xiàn)裝置和光盤再現(xiàn)方法，其能夠增大
光盤的容量并使裝置的結(jié)構(gòu)小型化。 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，提供了一種光盤再現(xiàn)裝置，包括半導(dǎo)體激光器，其在 被提供形成為脈沖形式并形成預(yù)定的奇異電壓的驅(qū)動(dòng)脈沖時(shí)，相繼將奇異峰值光束和奇異 斜坡光束作為激光發(fā)射，所述奇異峰值光束具有脈沖形式的光強(qiáng)特性并具有奇異峰值波 長，所述奇異斜坡光束具有比所述奇異峰值光束的光強(qiáng)低的斜坡形式的光強(qiáng)特性并具有不 同于所述奇異峰值波長的奇異斜坡波長；物鏡，其用于將所述激光匯聚到設(shè)置在光盤中的 記錄層上，并且轉(zhuǎn)變返回光束的發(fā)散角，所述記錄層中形成多種記錄標(biāo)記，所述返回光束的 光強(qiáng)按照多個(gè)波長帶中的每個(gè)波長帶獨(dú)立地被調(diào)制的光強(qiáng)，并且所述返回光束從所述記錄 層返回；檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分，其配置為分別檢測(cè)所述返回光束中的每個(gè)所述波長帶的光強(qiáng)， 并且根據(jù)相應(yīng)的光強(qiáng)分別產(chǎn)生多個(gè)檢測(cè)信號(hào)；以及再現(xiàn)過程部分，其配置為基于所述多個(gè) 檢測(cè)信號(hào)再現(xiàn)記錄在所述光盤上的信息。 從而，根據(jù)本發(fā)明上述實(shí)施例的光盤再現(xiàn)裝置能夠采用形成為較小尺寸的半導(dǎo)體激光器，用較短脈沖寬度的光束照射光盤的記錄層，并且基于從記錄層返回的返回光束在 每個(gè)波長帶中獲得檢測(cè)信號(hào)，并且再現(xiàn)信息。 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，提供了一種光盤再現(xiàn)方法，包括以下步驟在預(yù)定的半 導(dǎo)體激光器被提供形成為脈沖形式并形成預(yù)定的奇異電壓的驅(qū)動(dòng)脈沖時(shí)，相繼將奇異峰值 光束和奇異斜坡光束作為激光從所述半導(dǎo)體激光器發(fā)射，所述奇異峰值光束具有脈沖形式 的光強(qiáng)特性并具有奇異峰值波長，所述奇異斜坡光束具有比所述奇異峰值光束的光強(qiáng)低的 斜坡形式的光強(qiáng)特性并具有不同于所述奇異峰值波長的奇異斜坡波長；用預(yù)定的物鏡將所 述激光匯聚到設(shè)置在光盤中的記錄層上，所述記錄層中形成多種記錄標(biāo)記；用所述物鏡轉(zhuǎn) 變返回光束的發(fā)散角，所述返回光束包括多個(gè)波長帶，所述返回光束的光強(qiáng)按照每個(gè)所述 波長帶獨(dú)立地被調(diào)制，并且所述返回光束從所述記錄層返回；分別檢測(cè)所述返回光束中的 每個(gè)所述波長帶的光強(qiáng)，并且根據(jù)相應(yīng)的光強(qiáng)分別產(chǎn)生多個(gè)檢測(cè)信號(hào)；并且基于所述多個(gè) 檢測(cè)信號(hào)再現(xiàn)記錄在所述光盤上的信息。 從而，根據(jù)本發(fā)明上述實(shí)施例的光盤再現(xiàn)方法能夠采用形成為較小尺寸的半導(dǎo)體 激光器，用較短脈沖寬度的光束照射光盤的記錄層，并且基于從記錄層返回的返回光束在 每個(gè)波長帶中獲得檢測(cè)信號(hào)，并且再現(xiàn)信息。 根據(jù)本發(fā)明，能夠采用形成為較小尺寸的半導(dǎo)體激光器，用較短脈沖寬度的光束 照射光盤的記錄層，并且基于從記錄層返回的返回光束在每個(gè)波長帶中獲得檢測(cè)信號(hào)，并 且再現(xiàn)信息。因此，本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)能夠增大光盤的容量并使裝置的結(jié)構(gòu)小型化的光盤再 現(xiàn)裝置和光盤再現(xiàn)方法。


圖1是示出短脈沖光源的結(jié)構(gòu)的示意圖； 圖2A、2B和2C是示出脈沖信號(hào)和激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)的示意圖； 圖3是輔助說明注入載流子密度和光子密度之間的關(guān)系(1)的示意圖； 圖4是輔助說明注入載流子密度和載流子密度之間的關(guān)系的示意圖； 圖5是輔助說明注入載流子密度和光子密度之間的關(guān)系(2)的示意圖； 圖6是輔助說明點(diǎn)PT1處的光子密度的示意圖； 圖7是輔助說明點(diǎn)PT2處的光子密度的示意圖； 圖8是輔助說明點(diǎn)PT3處的光子密度的示意圖； 圖9是示出實(shí)際的光發(fā)射波形的示意圖； 圖10A、10B、圖10C、圖IOD和圖10E是示出驅(qū)動(dòng)信號(hào)和光強(qiáng)之間的關(guān)系的示意圖； 圖11是示出光測(cè)量裝置的結(jié)構(gòu)的示意圖； 圖12A、12B和12C是示出各個(gè)脈沖的形狀的示意圖； 圖13是示出脈沖信號(hào)和驅(qū)動(dòng)脈沖之間的關(guān)系的示意圖； 圖14A和14B是示出驅(qū)動(dòng)脈沖的電壓改變時(shí)的光強(qiáng)特性的示意圖； 圖15A和15B是示出驅(qū)動(dòng)脈沖的電壓為8. 8[V]時(shí)的波長特性和光強(qiáng)特性的示意
圖； 圖16A和16B是示出驅(qū)動(dòng)脈沖的電壓為13. 2[V]時(shí)的波長特性和光強(qiáng)特性的示意 圖17A和17B是示出驅(qū)動(dòng)脈沖的電壓為15. 6[V]時(shí)的波長特性和光強(qiáng)特性的示意 圖； 圖18A和18B是示出驅(qū)動(dòng)脈沖的電壓為17. 8[V]時(shí)的波長特性和光強(qiáng)特性的示意 圖； 圖19A和19B是示出驅(qū)動(dòng)脈沖的電壓為38. 4 [V]時(shí)的波長特性和光強(qiáng)特性的示意 圖； 圖20是示出具有和不具有BPF的光強(qiáng)特性之間的差異的示意圖； 圖21A和21B是示出具有和不具有BPF的波長特性之間的差異的示意圖； 圖22是示出奇異輸出光的光強(qiáng)特性的示意圖； 圖23是示出光盤的記錄層中的記錄標(biāo)記的結(jié)構(gòu)的示意圖； 圖24A、24B和24C是示出返回光束的光譜的示意圖； 圖25是示出光盤再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)的示意圖； 圖26是示出第一實(shí)施例中的光學(xué)拾取器的結(jié)構(gòu)的示意圖； 圖27是示出第二實(shí)施例中的光學(xué)拾取器的結(jié)構(gòu)的示意圖；并且 圖28是示出第三實(shí)施例中的光學(xué)拾取器的結(jié)構(gòu)的示意圖。
具體實(shí)施例方式
接下來，將參照附圖詳細(xì)描述實(shí)施本發(fā)明的方式(以下稱為實(shí)施例)。同時(shí)，將以
如下順序進(jìn)行描述。
1.半導(dǎo)體激光器的操作原理 2.第一實(shí)施例(光譜分析的示例) 3.第二實(shí)施例(按波長分離返回光束的示例) 4.第三實(shí)施例(按時(shí)間分離檢測(cè)信號(hào)的示例) 5.其它實(shí)施例 (1)半導(dǎo)體激光器的操作原理 (1-1)短脈沖光源的結(jié)構(gòu) 圖1示出了根據(jù)本實(shí)施例的短脈沖光源1的大體結(jié)構(gòu)。該短脈沖光源1包括激光 控制部分2和半導(dǎo)體激光器3。 半導(dǎo)體激光器3由用于半導(dǎo)體光發(fā)射的普通半導(dǎo)體激光器形成(例如索尼公司制 造的SLD3233)。激光控制部分2控制提供到半導(dǎo)體激光器3的驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD，以從而使脈沖 形狀的激光LL從半導(dǎo)體激光器3輸出。 激光控制部分2包括用于以預(yù)定的定時(shí)產(chǎn)生多種脈沖形狀的信號(hào)的脈沖信號(hào)發(fā) 生器4以及用驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體激光器3的驅(qū)動(dòng)電路6。 脈沖信號(hào)發(fā)生器4產(chǎn)生同步信號(hào)SS，該同步信號(hào)SS在脈沖信號(hào)發(fā)生器4內(nèi)由具有 預(yù)定周期TS的矩形波形成。脈沖信號(hào)發(fā)生器4以基于同步信號(hào)SS的定時(shí)來操作，并且能 夠?qū)⑼叫盘?hào)SS提供到外部測(cè)量裝置(未圖示)等。 此外，如圖2A所示，脈沖信號(hào)發(fā)生器4在每個(gè)周期TS中產(chǎn)生以脈沖形式變化的脈 沖信號(hào)SL，并且將該脈沖信號(hào)SL提供到驅(qū)動(dòng)電路6。該脈沖信號(hào)SL向驅(qū)動(dòng)電路6指示將 要向半導(dǎo)體激光器3供應(yīng)電力時(shí)的定時(shí)和周期以及電壓電平的大小。
驅(qū)動(dòng)電路6基于脈沖信號(hào)SL產(chǎn)生如圖2B所示的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD，并將該激光驅(qū) 動(dòng)信號(hào)SD提供到半導(dǎo)體激光器3。 此時(shí)，驅(qū)動(dòng)電路6通過將脈沖信號(hào)SL放大預(yù)定的放大系數(shù)產(chǎn)生激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD。 激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD的峰值電壓VD從而根據(jù)脈沖信號(hào)SL的峰值電壓VL而變化。同時(shí)，激光 驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD的波形由于驅(qū)動(dòng)電路6的放大特性而變形。 驅(qū)動(dòng)電路6配置為在接收到外部提供的脈沖信號(hào)SL時(shí)也通過將脈沖信號(hào)SL放大 預(yù)定的放大系數(shù)產(chǎn)生激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD。 當(dāng)提供了激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD時(shí)，如圖2C所示，半導(dǎo)體激光器3在發(fā)射激光LL的同 時(shí)改變脈沖形式的激光LL的光強(qiáng)LT。發(fā)射脈沖形式的激光在下文中將記載為"脈沖輸出" 激光。 因此，短脈沖光源1通過控制激光控制部分2而不使用其它光學(xué)部件等來從半導(dǎo) 體激光器3直接脈沖輸出激光LL。 (1-2)弛豫振蕩模式中的激光的脈沖輸出
熟知的是激光的特性通過所謂的速率公式來表示。例如，使用限制系數(shù)r、光子 壽命Tph[s]、載流子壽命、[s]、自發(fā)發(fā)射耦合系數(shù)Cs、活性層厚度d[mm]、基本電荷q[c]、 最大增益g^、載流子密度N、光子密度S、注入載流子密度J、光速c[m/s]、透明載流子密度 N。、群折射率rig以及面積Ag將速率公式表示為以下的公式(1)。
Ires!
dt Ts
dS — S
dt
res-
c
T
ph
dq 其中，
G=——A N-N
c
，max 接下來，圖3的曲線示出了基于公式(1)的速率公式的注入載流子密度J和光子 密度S之間的關(guān)系的計(jì)算結(jié)果，并且圖4的曲線示出了基于公式(1)的速率公式的注入載 流子密度J和載流子密度N之間的關(guān)系的計(jì)算結(jié)果。 同時(shí)，這些計(jì)算結(jié)果是限制系數(shù)r =0.3、光子壽命Tph= le—"[s]、載流子壽 命ts = le—9[s]、自發(fā)發(fā)射耦合系數(shù)Cs = 0.03、活性層厚度d = 0. 1[iim]、基本電荷q = 1.6e—,C]、并且面積Ag二 3e—16[cm2]時(shí)獲得的。 如圖4所示，通常的半導(dǎo)體層響應(yīng)于注入載流子密度J(即，激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD)的 增大在預(yù)飽和點(diǎn)Sl處開始發(fā)光，該預(yù)飽和點(diǎn)Sl在載流子密度N的飽和狀態(tài)之前一些。
此外，如圖3所示，隨著注入載流子密度J的增大，半導(dǎo)體激光器增大光子密度 S(即，光強(qiáng))。此外，對(duì)應(yīng)于圖3的圖5示出了隨著注入載流子密度J的增大，半導(dǎo)體激光 器進(jìn)一步增大光子密度S。 接下來，注入載流子密度J相對(duì)較高處的點(diǎn)PT1以及注入載流子密度J從點(diǎn)PT1 逐漸下降處的點(diǎn)PT2和PT3中的每個(gè)點(diǎn)在圖5所示的特性曲線上選取。
圖6、圖7和圖8分別示出點(diǎn)PT1、 PT2和PT3處光子密度S從施加激光驅(qū)動(dòng)信號(hào) SD開始變化的計(jì)算結(jié)果。同時(shí)，注入載流子密度J的大小對(duì)應(yīng)于提供到半導(dǎo)體激光器的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD的大小，并且光子密度S的大小對(duì)應(yīng)于光強(qiáng)的大小。 如圖6所示，可以肯定光子密度S在點(diǎn)PT1處通過所謂的弛豫振蕩的大幅振蕩增 大其振幅，并且光子密度S在點(diǎn)PT1處具有約60 [ps]的較小的振蕩周期，該振蕩周期是振 幅周期(即，從最小值到最小值)。此外，對(duì)于光子密度S的值，緊接著光發(fā)射后出現(xiàn)第一個(gè) 波具有最大振幅，第二個(gè)波和第三個(gè)波逐漸減弱，并且光子密度S的值隨后最終穩(wěn)定。
點(diǎn)PT1處光子密度S的第一個(gè)波的最大值約為3X 1016，其約為光子密度S變?yōu)榉€(wěn) 定的穩(wěn)定值(約1X1016)的三倍。 設(shè)從激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD開始施加至光發(fā)射開始的時(shí)間為發(fā)射開始時(shí)間t d，發(fā)射開 始時(shí)間Td可以由公式(1)的速率公式計(jì)算。 S卩，假設(shè)在振蕩前光子密度S = O，公式(1)的上述公式可以表達(dá)為如下。
dN N J

(2) dtus dq
假設(shè)載流子密度N是初始值Nth，則發(fā)射開始時(shí)間t d可以表達(dá)為如下公式' rd,一 (3)
T — dq、T 其中，」th:一Nth
從而示出發(fā)射開始時(shí)間Td與注入載流子密度J成反比。
如圖6所示，由公式(3)計(jì)算的點(diǎn)PT1處的發(fā)射開始時(shí)間id約為200[ps]。在該 點(diǎn)PT1，具有較高電壓值的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD施加到半導(dǎo)體激光器，因此從激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD 開始施加至光發(fā)射開始的發(fā)射開始時(shí)間Td較短。 如圖7所示，在激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD值比點(diǎn)PT1處小的點(diǎn)PT2處，產(chǎn)生明顯的弛豫振 蕩，但是振蕩的振幅與點(diǎn)PT1相比減小，并且振蕩周期增加到lOO[ps]。
在點(diǎn)PT2的情況下，由公式(3)計(jì)算的發(fā)射開始時(shí)間t d約為400[ps]，其與點(diǎn)PTl 相比有所增加。點(diǎn)PT2處光子密度S的第一個(gè)波的最大值約為8X 1015，其約為穩(wěn)定值(約 4X1015)的兩倍。 如圖8所示，在激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD值比點(diǎn)PT2處更小的點(diǎn)PT3處，幾乎觀察不到弛 豫振蕩。同樣可以肯定的是在點(diǎn)PT3的情況中，由公式(3)計(jì)算的發(fā)射開始時(shí)間Td約為 1 [ns]，其相對(duì)較長。點(diǎn)PT3處光子密度S的最大值約與穩(wěn)定值大致相同，約1. 2X 1015。
通常的激光光源向半導(dǎo)體激光器供應(yīng)具有相對(duì)較低的電壓的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD，如 在點(diǎn)PT3處幾乎不影響弛豫振蕩。即，通常的激光光源緊接著激光開始發(fā)射之后通過將光 強(qiáng)的變化寬度控制為較小的寬度來穩(wěn)定激光LL的輸出。 通過向半導(dǎo)體激光器3提供具有相對(duì)較低的電壓的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD，短脈沖光源 1輸出穩(wěn)定的光強(qiáng)的激光LL而不引起弛豫振蕩，這樣的操作模式在下文中將被稱為普通模 式。在該普通模式下提供到半導(dǎo)體激光器3的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD的值將被稱為普通電壓VN， 并且在該普通模式下從半導(dǎo)體激光器3輸出的激光LL被稱為普通輸出光LN。
此外，根據(jù)本實(shí)施例的短脈沖光源1的操作模式中，通過在點(diǎn)PT1和PT2處提供具 有相對(duì)較高電壓的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD，光強(qiáng)特性中產(chǎn)生弛豫振蕩(該模式在下文中將被稱為 弛豫振蕩模式)。
在弛豫振蕩模式中，短脈沖光源1從普通電壓VN提高(例如，乘以短脈沖光源1. 5
或更大的系數(shù))激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD的電壓V(該電壓在下文中將被稱為弛豫振蕩電壓VB)。
由此，與普通模式相比，短脈沖光源1能夠增大激光的光強(qiáng)LT的瞬時(shí)最大值。 S卩，當(dāng)在弛豫振蕩模式操作時(shí)，通過向半導(dǎo)體激光器3提供相對(duì)較高的振蕩電壓
VB，短脈沖光源1能夠發(fā)射具有對(duì)應(yīng)于振蕩電壓VB的較高光強(qiáng)的激光LL。 當(dāng)從另一個(gè)觀點(diǎn)看時(shí)，通過接收振蕩電壓VB的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD，半導(dǎo)體激光器3
與目前的具有普通電壓VN的半導(dǎo)體激光器相比能夠極大地增大激光LL的光強(qiáng)。 例如，點(diǎn)PT1處弛豫振蕩的第一個(gè)波所獲得的半導(dǎo)體激光器的光子密度S約
3X 1016。因此半導(dǎo)體激光器3的光強(qiáng)與點(diǎn)PT3的情況(約1. 2X 1015)相比增大了 20倍，點(diǎn)
PT3的情況代表了具有普通電壓VN的情況。 圖9示出了具有相對(duì)較高的電壓的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD實(shí)際施加到普通半導(dǎo)體激光 器(索尼公司制造的SLD3233VF)時(shí)測(cè)量的光強(qiáng)特性的波形。同時(shí)，圖9示出了由于向半導(dǎo) 體激光器提供矩形脈沖形的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD而獲得的激光LL的光強(qiáng)特性的波形。
從圖9可以肯定的是，隨實(shí)際光強(qiáng)的變化同樣產(chǎn)生圖6和圖7中的光子密度S的 計(jì)算結(jié)果所觀察到的弛豫振蕩。 提供到半導(dǎo)體激光器3的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD和激光LL的光強(qiáng)之間的關(guān)系將在以下 詳細(xì)描述。 圖IOA如圖7示出了光子密度S的瞬時(shí)變化。如圖IOB所示，例如短脈沖光源1 的激光控制部分2向半導(dǎo)體激光器3提供具有足夠的振蕩電壓VB1的脈沖形激光驅(qū)動(dòng)信號(hào) SD，以產(chǎn)生弛豫振蕩。 此時(shí)，在通過弛豫振蕩的振蕩周期ta和發(fā)射開始時(shí)間t d相加獲得的時(shí)間(即 id+ta，在下文中將被稱為提供時(shí)間tPD)中，通過將激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD從較低級(jí)別提高到 較高級(jí)別，激光控制部分2使激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD成為矩形脈沖信號(hào)。 同時(shí)，為了便于描述，以脈沖形式增大的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD的部分將被稱為驅(qū)動(dòng)脈 沖PDl。 由此，如圖10C所示，半導(dǎo)體激光器3能夠發(fā)射僅對(duì)應(yīng)于弛豫振蕩中的第一個(gè)波的 部分的脈沖形的激光LL(在下文中將被稱為振蕩輸出光LB)。 此時(shí)，由于激光控制部分2提供脈沖形的驅(qū)動(dòng)脈沖PD，則可以將較高的振蕩電壓 VB的施加時(shí)間控制為相對(duì)較短的時(shí)間。因此可以降低半導(dǎo)體激光器3的平均電力損耗，并 且防止由于過量的熱量產(chǎn)生等引起的半導(dǎo)體激光器3的故障或損壞。 另一方面，如圖10D所示，激光控制部分2能夠向半導(dǎo)體激光器3提供具有振蕩電 壓VB2的驅(qū)動(dòng)脈沖PD2，振蕩電壓VB2高到可以產(chǎn)生弛豫振蕩并且低于振蕩電壓VBl。
在這種情況下，如圖IOE所示，與提供驅(qū)動(dòng)脈沖PDI的情況相比，半導(dǎo)體激光器3 能夠發(fā)射具有較低光強(qiáng)的振蕩輸出光LB。 短脈沖光源1從而能夠以弛豫振蕩模式操作，該模式中具有較高振蕩電壓VB的驅(qū) 動(dòng)脈沖PD ( S卩，驅(qū)動(dòng)脈沖PDl或PD2)從激光控制部分2提供到半導(dǎo)體激光器3。此時(shí)，短脈 沖光源1能夠通過弛豫振蕩發(fā)射振蕩輸出光LB，該輸出光的光強(qiáng)以脈沖形式變化。
(1-3)奇異模式中的激光的脈沖輸出 此外，除普通模式和弛豫振蕩模式外，短脈沖光源1配備為在奇異模式中操作，其中具有高于振蕩電壓VB的奇異電壓VE的驅(qū)動(dòng)脈沖PD提供到半導(dǎo)體激光器3。 此時(shí)，短脈沖光源1能夠從半導(dǎo)體激光器3脈沖輸出至于具有比振蕩輸出光LB的
光強(qiáng)更高的光強(qiáng)的激光LL。 (1-3-1)光測(cè)量裝置的構(gòu)成 通過使用用于測(cè)量和分析從短脈沖光源1發(fā)射的激光LL的光測(cè)量裝置11 (圖 11)，來執(zhí)行當(dāng)短脈沖光源1中的驅(qū)動(dòng)脈沖PD的電壓V改變時(shí)用于測(cè)量激光LL的光強(qiáng)的實(shí) 驗(yàn)。 光測(cè)量裝置11使激光LL從短脈沖光源1的半導(dǎo)體激光器3發(fā)射，并且使激光LL 進(jìn)入準(zhǔn)直儀透鏡12。 接下來，光測(cè)量裝置ll通過準(zhǔn)直儀透鏡12將激光LL從發(fā)散光轉(zhuǎn)換為平行光，使 激光LL進(jìn)入聚光透鏡15，并且進(jìn)一步通過聚光透鏡15聚集激光LL。 光測(cè)量裝置11之后將激光LL提供到光脈沖示波器16 (HamamatsuPhotonics制造 的C8188-01)。光測(cè)量裝置11從而測(cè)量激光LL的光強(qiáng)并且將激光LL的光強(qiáng)的瞬時(shí)變化表 示為光強(qiáng)特性UT (將在下文中描述)。 此外，光測(cè)量裝置11將激光LL提供到光譜分析器17(ADCCororation制造的 Q8341)。光測(cè)量裝置11從而分析激光LL的波長并且將其分布特性表示為波長特性UW(將 在下文中描述)。光測(cè)量裝置11還具有安裝在準(zhǔn)直儀透鏡12和聚光透鏡15之間的功率計(jì)14(ADC
Cororation制造的Q8230)。光測(cè)量裝置11通過功率計(jì)14測(cè)量激光LL的光強(qiáng)LT。此外，光測(cè)量裝置11允許BPF(帶通濾光片)13按照需要安裝在準(zhǔn)直儀透鏡12和
聚光透鏡15之間。該BPF 13能夠減小激光LL中的具體波長成分的透射。 (1-3-2)置位脈沖和驅(qū)動(dòng)脈沖之間的關(guān)系 在短脈沖光源1中實(shí)際產(chǎn)生的脈沖信號(hào)SL、激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD等是所謂的高頻信
號(hào)。因此每個(gè)信號(hào)的波形應(yīng)當(dāng)是從理想的矩形波變形的所謂的"鈍"波形。 相應(yīng)地，如圖12A所示，脈沖信號(hào)發(fā)生器4配置為輸出包括脈沖寬度Ws為1. 5[ns]
的矩形置位脈沖PLs的脈沖信號(hào)SL。當(dāng)脈沖信號(hào)SL由預(yù)定的測(cè)量裝置測(cè)量時(shí)，獲得圖12B
中所示的測(cè)量結(jié)果。 產(chǎn)生的信號(hào)脈沖半寬度PLhalf約為1. 5 [ns]，是圖12B所示的脈沖信號(hào)SL中的置 位脈沖PLs相應(yīng)產(chǎn)生的脈沖(該脈沖在下文中將被稱為產(chǎn)生的脈沖PL)的寬度的一半。
此外，在類似地測(cè)量上述脈沖信號(hào)SL從脈沖信號(hào)發(fā)生器4提供到驅(qū)動(dòng)電路6時(shí)， 當(dāng)激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD從驅(qū)動(dòng)電路6實(shí)際提供到半導(dǎo)體激光器3時(shí)獲得如圖12C所示的測(cè)量 結(jié)果。 驅(qū)動(dòng)脈沖半寬度Pdhalf根據(jù)產(chǎn)生的脈沖PL的信號(hào)等級(jí)在約1. 5 [ns]至1. 7 [ns] 的范圍內(nèi)變化，是對(duì)應(yīng)激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD中的產(chǎn)生的脈沖PL出現(xiàn)的脈沖(即，驅(qū)動(dòng)脈沖PD) 的寬度的一半。 驅(qū)動(dòng)脈沖PD的電壓脈沖半寬度Pdhalf與此時(shí)的產(chǎn)生的脈沖PL的最大電壓值的 關(guān)系以及驅(qū)動(dòng)脈沖PD的最大電壓值Vmax與產(chǎn)生的脈沖PL的最大電壓值的關(guān)系均在圖13 中示出。 圖13示出了提供到驅(qū)動(dòng)電路6的產(chǎn)生的脈沖PL的最大電壓值增大，從驅(qū)動(dòng)電路6輸出的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD中的驅(qū)動(dòng)脈沖PD的最大電壓值Vmax也增大。 此外，圖13示出了提供到驅(qū)動(dòng)電路6的產(chǎn)生的脈沖PL的最大電壓值增大，驅(qū)動(dòng)脈
沖PD的驅(qū)動(dòng)脈沖半寬度Pdhalf也逐漸增大。 換言之，即使當(dāng)短脈沖光源1在脈沖信號(hào)發(fā)生器4中設(shè)定具有固定脈沖寬度的產(chǎn) 生的脈沖PL時(shí)，短脈沖光源1也可以通過改變提供到驅(qū)動(dòng)電路6的產(chǎn)生的脈沖PL的最大 電壓值來改變脈沖寬度和從驅(qū)動(dòng)電路6輸出的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD中的驅(qū)動(dòng)脈沖PD的最大電壓值。 (1-3-3)驅(qū)動(dòng)脈沖的電壓和輸出激光之間的關(guān)系 相應(yīng)地，當(dāng)驅(qū)動(dòng)脈沖PD的最大電壓值Vmax設(shè)為不同值時(shí)，根據(jù)驅(qū)動(dòng)脈沖PD從半 ^體激光器3輸出的激光LL的光強(qiáng)中的每個(gè)由光測(cè)量裝置11 (圖11)的光脈沖示波器16 圖14A和14B示出了該測(cè)量的結(jié)果。同時(shí)，在圖14A和14B中，時(shí)間軸(橫坐標(biāo)) 表示相對(duì)時(shí)間，并不表示絕對(duì)時(shí)間。此外，該測(cè)量中不配置BPF 13。 如圖14A所示，當(dāng)驅(qū)動(dòng)脈沖PD的最大電壓值Vmax為8. 8 [V]時(shí)，激光LL的光強(qiáng)特 性UT1僅具有寬度相對(duì)較大的較小的輸出峰值(時(shí)間1550[ps]附近)，并且不呈現(xiàn)弛豫振 蕩引起的振蕩。即，光強(qiáng)特性UTl表示短脈沖光源1在普通模式下操作并從半導(dǎo)體激光器 3輸出普通輸出光LN。 此外，如圖14A所示，當(dāng)驅(qū)動(dòng)脈沖PD的最大電壓值Vmax為13. 2[V]時(shí)，激光LL的 光強(qiáng)特性UT2具有弛豫振蕩引起的多個(gè)峰值。即，光強(qiáng)特性UT2表示短脈沖光源1在弛豫 振蕩模式下操作并從半導(dǎo)體激光器3輸出振蕩輸出光LB。 另一方面，如圖14B所示，當(dāng)驅(qū)動(dòng)脈沖PD的最大電壓值Vmax為17.8[V]、22.0[V]、
26. O[V]和29. 2 [V]時(shí)，激光LL的光強(qiáng)特性UT3、UT4、UT5和UT6具有在相對(duì)較早時(shí)間處表
現(xiàn)為第一峰值的峰值部分以及之后的具有較小的振蕩的緩慢減弱的斜坡部分。 光強(qiáng)特性UT3、 UT4、 UT5和UT6在第一峰值部分之后不呈現(xiàn)較高的峰值，并且從
而與在第一個(gè)波之后具有第二個(gè)波和第三個(gè)波的峰值的弛豫振蕩模式的光強(qiáng)特性UT2(圖
14A)相比具有明顯不同的波形趨勢(shì)。 同時(shí)，盡管圖14A和14B中沒有示出，由于光測(cè)量裝置11中的光脈沖示波器16的 分辨率約為30[ps]或更高，使用超高速掃描攝像機(jī)通過另外的實(shí)驗(yàn)確定第一個(gè)峰值部分 的峰的寬度(半寬度)為約10[ps]。 由于光脈沖示波器16的分辨率如此低，光測(cè)量裝置11可能不一定能測(cè)量校正光 強(qiáng)LT。在這種情況下，圖14A和14B等中的第一個(gè)峰值部分的最大光強(qiáng)顯示為低于實(shí)際值。
接下來，將進(jìn)一步具體分析驅(qū)動(dòng)脈沖PD的最大電壓值Vmax改變時(shí)的激光LL。
在這種情況下，當(dāng)驅(qū)動(dòng)脈沖PD的最大電壓值Vmax改變時(shí)，使用光測(cè)量裝置11分 別通過光脈沖示波器16和光譜分析器17來檢測(cè)從半導(dǎo)體激光器3發(fā)射的激光LL的光強(qiáng) 特性UT和波長特性UW。 圖15A至19B每個(gè)示出了該測(cè)量的結(jié)果。同時(shí)，圖15A、16A、17A、18A和19A示出 了光譜分析器17測(cè)得的激光LL的波長特性UW(即，用波長解析激光LL的結(jié)果)。如圖 14A和14B，圖15B、 16B、 17B、 18B和19B示出了光脈沖示波器16測(cè)得的激光LL的光強(qiáng)特性 UT(S卩，瞬時(shí)變化)。該測(cè)量中沒有配置BPF 13。
如圖15B所示，當(dāng)驅(qū)動(dòng)脈沖PD的最大電壓值Vmax為8. 8 [V]時(shí)，激光LL的光強(qiáng)特性UT11僅具有一個(gè)峰值。由此可以認(rèn)為此時(shí)短脈沖光源1在普通模式下操作并且激光LL是普通輸出光LN。 此外，如圖15A所示，此時(shí)的波長特性UW11僅在波長約404[nm]處具有一個(gè)峰值。這表示激光LL的波長約404 [nm]。 如圖16B所示，當(dāng)驅(qū)動(dòng)脈沖PD的最大電壓值Vmax為13. 2 [V]時(shí)，激光LL的光強(qiáng)特性UT12具有多個(gè)相對(duì)較高的峰值。由此可以認(rèn)為此時(shí)短脈沖光源1在弛豫振蕩模式下操作并且激光LL是振蕩輸出光LB。 此外，如圖16A所示，此時(shí)的波長特性UW12在波長約404[nm]和約407[nm]處具有兩個(gè)峰值。這表示激光LL的波長約404[nm]和約407 [nm]。 如圖17B所示，當(dāng)驅(qū)動(dòng)脈沖PD的最大電壓值Vmax為15. 6 [V]時(shí)，激光LL的光強(qiáng)特性UT13具有第一個(gè)峰值部分和緩慢減弱的斜坡部分。 此時(shí)，如圖17A所示，波長特性UW13在波長約404[nm]和約408[nm]處具有兩個(gè)峰值。在該波長特性UW13中，在弛豫振蕩模式中觀察到的約406[nm]的峰值向長波長側(cè)移動(dòng)了 2[nm]，并且398[nm]的區(qū)域略上升。 如圖18B所示，當(dāng)驅(qū)動(dòng)脈沖PD的最大電壓值Vmax為17. 8[V]時(shí)，激光LL的光強(qiáng)特性UT14具有第一個(gè)峰值部分和緩慢減弱的斜坡部分。 如圖18A所示，此時(shí)的波長特性UW14在波長約398[nm]和約403[nm]處具有兩個(gè)較高峰值。在該波長特性UW14中，約408[nm]的峰值與波長特性UW13(圖17A)相比極大降低，并且取代的是在約398[nm]處形成較高峰值。 如圖19B所示，當(dāng)驅(qū)動(dòng)脈沖PD的最大電壓值Vmax為38. 4[V]時(shí)，激光LL的光強(qiáng)特性UT15具有第一個(gè)峰值部分和緩慢減弱的斜坡部分，這些部分能夠清楚地看出。
如圖19A所示，此時(shí)的波長特性UW15在波長約398[nm]和約404[nm]處具有兩個(gè)峰值。在該波長特性UW15中，約408[nm]的峰值與波長特性UW14(圖18A)相比完全消失，并且在約398[nm]處形成清楚的峰值。 由以上可以確定，通過將具有高于振蕩電壓VB的奇異電壓VE(S卩，最大電壓值Vmax)的驅(qū)動(dòng)脈沖PD提供到半導(dǎo)體激光器3，短脈沖光源1能夠輸出波形和波長均不同于振蕩輸出光LB的激光LL。此外，激光LL的發(fā)射開始時(shí)間t d不符合從上述速率公式獲得的公式(3)。 現(xiàn)在將關(guān)注激光LL的波長。隨著最大電壓值Vmax增大，激光LL從普通輸出光LN(圖15A和15B)變化為振蕩輸出光LB(圖16A和16B)，并且進(jìn)一步從振蕩輸出光LB改變其波長。 具體地，波長特性UW12中的振蕩輸出光LB(圖16A和16B)具有波長大體上等于普通輸出光LN的波長的峰值(在普通輸出光LN的波長士2[nm]以內(nèi))，并且還具有從普通輸出光LN向長波長側(cè)移位約3[nm]的峰值(在3士2[nm]以內(nèi))。 另一方面，圖19A和19B所示的波長特性UW15中的激光LL具有波長大體上等于普通輸出光LN的波長的峰值(在普通輸出光LN的波長士2[nm]以內(nèi))，并且還具有從普通輸出光LN向短波長側(cè)移位約6[nm]的峰值(在6士2[nm]以內(nèi))。 相應(yīng)地，圖19A和19B中所示的激光LL在下文中將被稱為奇異輸出光LE，并且短脈沖光源1從半導(dǎo)體激光器3輸出奇異輸出光LE的操作模式在下文中將被稱為奇異模式。
(1-3-4)奇異模式下的激光的波長 最大電壓值Vmax為17. 8 [V]時(shí)的波長特性UW14(圖18A)與最大電壓值Vmax為15.6[V]時(shí)的波長特性UW13(圖17A)的比較示出了長波長側(cè)的峰值消失，短波長側(cè)的峰值代之以出現(xiàn)。 S卩，波長特性UW顯示，隨著最大電壓值Vmax上升，在激光LL從振蕩輸出光LB變化到奇異輸出光LE的過程中，長波長側(cè)的峰值逐漸減小，短波長側(cè)的峰值代之以增大。
相應(yīng)地，波長特性UW中短波長側(cè)的峰值區(qū)域等于或大于長波長側(cè)的峰值區(qū)域的激光LL在下文中將被定義為奇異輸出光LE，并且波長特性UW中短波長側(cè)的峰值區(qū)域小于長波長側(cè)的峰值區(qū)域的激光LL在下文中將被定義為振蕩輸出光LB。 同時(shí)，如圖18A中當(dāng)兩個(gè)峰值彼此重疊時(shí)，從普通輸出光LN的波長向短波長側(cè)移位6[nm]的波長設(shè)為短波長側(cè)的中心波長，并且中心波長的士3[nm]范圍內(nèi)的區(qū)域設(shè)為峰值區(qū)域。 因此，根據(jù)該定義，最大電壓值Vmax為15. 6 [V]時(shí)(圖17A和17B)的激光LL是振蕩輸出光LB，并且最大電壓值Vmax為17.8 [V]時(shí)(圖18A和18B)的激光LL是奇異輸出光LE。 接下來，在光測(cè)量裝置11中短脈沖光源1在奇異模式下操作，并且光束LL( S卩，奇異輸出光LE)的光強(qiáng)特性UT16和波長特性UW16被測(cè)量。此外，在光測(cè)量裝置11中安裝BPF 13使光束LL中的406士5[nm]波長的透射比下降的狀態(tài)下，同樣地測(cè)量光強(qiáng)特性UT17和波長特性UW17。 圖20示出了重疊狀態(tài)下的光強(qiáng)特性UT16和光強(qiáng)特性UT17。從圖20中可以理解，與光強(qiáng)特性UT16相比，當(dāng)安裝了 BPF 13時(shí)的光強(qiáng)特性UT17在峰值處具有大體上相等的光強(qiáng)，但是在斜坡部分處具有減小了很多的光強(qiáng)。這表明斜坡部分的光強(qiáng)由于BPF 13而減小，因?yàn)樾逼虏糠志哂屑s404[nm]的波
長，而峰值部分的光強(qiáng)不由于BPF 13而減小，因?yàn)榉逯挡糠值牟ㄩL約398[nm]。 圖21A和21B分別示出了波長特性UW16和UW17。同時(shí)，在圖21A和21B中，波長
特性UW16和UW17每個(gè)根據(jù)最大光強(qiáng)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化，并且縱坐標(biāo)上的光強(qiáng)是相對(duì)值。在波長特性UW16中(圖21A) ，404[nm]的波長的光強(qiáng)高于398 [nm]的波長的光強(qiáng)，
從而對(duì)應(yīng)在光強(qiáng)特性UT16中具有很大的區(qū)域的斜坡部分。 另一方面，在波長特性UW17中，由于斜坡部分的降低，404[nm]的波長的光強(qiáng)和398[nm]的波長的光強(qiáng)大體上彼此相等。 這也表明在圖22所示的光強(qiáng)特性UT中的奇異輸出光LE的奇異斜坡ESL具有約404[nm]的波長，并且奇異輸出光LE的奇異峰值EPK具有約398 [nm]的波長，即峰值部分的波長比斜坡部分的波長短。 換言之，與普通輸出光LN相比，奇異輸出光LE的光強(qiáng)特性UT的峰值部分的波長向短波長側(cè)移位約6[nm]。同時(shí)，當(dāng)在其它實(shí)驗(yàn)中使用其中普通輸出光LN具有不同的波長的其它的半導(dǎo)體激光器時(shí)，獲得類似的結(jié)果。 當(dāng)光測(cè)量裝置11使用索尼公司制造的SLD3233作為半導(dǎo)體激光器3測(cè)量奇異輸出光LE時(shí)，獲得如圖22所示的光強(qiáng)特性UT20。
當(dāng)用功率計(jì)14測(cè)量時(shí)，奇異輸出光LE的峰值部分(該峰值部分在下文中將被稱為奇異峰值EPK)的光強(qiáng)約12[W]。 12[W]的光強(qiáng)相對(duì)于振蕩輸出光LB的最大光強(qiáng)(約1至2[W])來說是非常大的值。同時(shí)，由于光脈沖示波器16的較低的分辨率，該光強(qiáng)在圖22中沒有示出。 此外，超高速掃描攝像機(jī)(未圖示)的分析結(jié)果確定奇異輸出光LE的光強(qiáng)特性UT在奇異峰值EPK處具有約10[ps]的峰值寬度，該峰值寬度與振蕩輸出光LB的峰值寬度(約30[ps])相比有所減小。同時(shí)，由于光脈沖示波器16的較低的分辨率，該峰值寬度在圖22中沒有示出。 另一方面，奇異輸出光LE的光強(qiáng)特性UT中的斜坡部分(該斜坡部分在下文中將被稱為奇異斜坡ESL)的波長與普通模式中的激光LL的波長相同，并且具有約約1至2[W]的最大光強(qiáng)。 對(duì)于激光控制部分2(圖1)，足以能夠通過脈沖信號(hào)發(fā)生器4產(chǎn)生幾十[ps]的脈沖寬度的脈沖信號(hào)SL，并且能夠通過驅(qū)動(dòng)電路6將脈沖信號(hào)SL的峰值電壓放大至約18至40 [V]。 S卩，激光控制部分2的脈沖信號(hào)發(fā)生器4和驅(qū)動(dòng)電路6能夠通過相對(duì)簡(jiǎn)單的電路結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)。因此，短脈沖光源1作為整體與普通的皮秒激光器和毫微微秒激光器相比能夠減小尺寸。 短脈沖光源1從而向半導(dǎo)體激光器3提供甚至高于振蕩電壓VB的奇異電壓VE的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD。短脈沖光源1從而能夠從半導(dǎo)體激光器3發(fā)射該奇異輸出光LE，以使奇異峰值EPK和奇異斜坡ESL相繼出現(xiàn)在光強(qiáng)特性UT中。
(2)第一實(shí)施例
(2-1)光盤的結(jié)構(gòu) 首先將描述光盤100的結(jié)構(gòu)。光盤100作為整體大體上形成為盤形，并且具有沿光盤100的厚度方向?qū)盈B的多個(gè)例如記錄層100S等的層。 記錄層100S具有形成為螺旋形的軌道。如圖23所示的由結(jié)合兩種記錄標(biāo)記RMA和RMB得到的記錄標(biāo)記組RM沿該軌道形成。同時(shí)，記錄標(biāo)記RMA和RMB通過電子束光刻系統(tǒng)等實(shí)體形成。 當(dāng)通過用預(yù)定波長的光束L照射記錄層100S形成光點(diǎn)Pl時(shí)，記錄層100S從光點(diǎn)Pl照射的位置產(chǎn)生返回光束Lr，并且使返回光束Lr沿與光束L相反的方向傳播。
記錄標(biāo)記組RM此時(shí)根據(jù)用光點(diǎn)Pl照射的位置處記錄標(biāo)記RMA和RMB的局部組合(該組合在下文中將被稱為局部標(biāo)記MP)以及光束L中的具體波長帶成分來增強(qiáng)返回光束Lr中的具體波長帶成分的光強(qiáng)。 例如，如圖24A所示，光束L包括第一波長帶B1，具有作為中心的預(yù)定的第一波長Wl時(shí)，返回光束Lr根據(jù)局部標(biāo)記MP改變光譜曲線中第一波長帶Bl的強(qiáng)度(該強(qiáng)度在下文中將被稱為第一強(qiáng)度V1)。 此外，如圖24B所示，光束L包括第二波長帶B2，具有作為中心的比第一波長Wl更長的第二波長W2時(shí)，返回光束Lr根據(jù)局部標(biāo)記MP改變光譜曲線中第二波長帶B2的強(qiáng)度(該強(qiáng)度在下文中將被稱為第二強(qiáng)度V2)。 此外，如圖24C所示，光束L包括第一波長帶Bl和第二波長帶B2兩者時(shí)，返回光束Lr根據(jù)局部標(biāo)記MP分別改變光譜曲線中第一強(qiáng)度VI和第二強(qiáng)度V2。
當(dāng)適當(dāng)?shù)卦O(shè)定局部標(biāo)記MP的記錄標(biāo)記RMA和RMB的比率、設(shè)置等時(shí)，局部標(biāo)記MP此時(shí)可以彼此獨(dú)立地改變返回光束Lr的光譜曲線中的第一強(qiáng)度VI和第二強(qiáng)度V2。
相應(yīng)地，在記錄層100S中，表示要存儲(chǔ)在光盤100上的信息的代碼劃分為兩個(gè)二進(jìn)制位的單位，并且兩個(gè)二進(jìn)制位代碼由記錄標(biāo)記組RM中的各局部標(biāo)記MP代表。
具體地，每個(gè)局部標(biāo)記MP根據(jù)兩個(gè)二進(jìn)制位代碼的較低階二進(jìn)制位的"O"或"l"值將第一強(qiáng)度VI改變?yōu)?低位"或"高位"，并且根據(jù)兩個(gè)二進(jìn)制位代碼的較高階二進(jìn)制位的"0"或"1"值將第二強(qiáng)度V2改變?yōu)?低位"或"高位"。 S卩，從記錄層100S獲得的返回光束Lr具有在每個(gè)波長帶中多路傳送并調(diào)制的兩個(gè)二進(jìn)制位的信息。 因此，由于記錄標(biāo)記組RM形成在記錄層100S中，所以光盤100根據(jù)包括在光束L中的波長帶和局部標(biāo)記MP來改變返回光束Lr的光譜特性。
(2-2)光盤再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu) 下面將描述第一實(shí)施例。圖25中的光盤再現(xiàn)裝置20使用上述的半導(dǎo)體激光器3從光盤100的記錄層IOOS(圖23)再現(xiàn)信息。 光盤再現(xiàn)裝置20形成在控制部分21的中心?？刂撇糠?1包括CPU(中央處理單元)、存儲(chǔ)各種程序等的ROM(只讀存儲(chǔ)器)以及用作為CPU等的工作區(qū)域的RAM(隨機(jī)訪問存儲(chǔ)器)，然而CPU、ROM和RAM在圖25中未示出。 當(dāng)從光盤100再現(xiàn)信息時(shí)，控制部分21經(jīng)由驅(qū)動(dòng)控制部分22旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)主軸電動(dòng)機(jī)25，并且從而以理想的速度轉(zhuǎn)動(dòng)安裝在轉(zhuǎn)臺(tái)(未圖示)上的光盤100。
此外，控制部分21經(jīng)由驅(qū)動(dòng)控制部分22驅(qū)動(dòng)滑車電動(dòng)機(jī)26，并且從而沿尋軌方向大量移動(dòng)光學(xué)拾取器27，即沿移動(dòng)軸Gl和G2向著光盤100的內(nèi)周側(cè)或外周側(cè)的方向。
光學(xué)拾取器27包括如物鏡28、半導(dǎo)體激光器3等的多個(gè)光學(xué)部件。光學(xué)拾取器27在控制部分21的控制下從半導(dǎo)體激光器3發(fā)射激光LL形成的光束L，并且用光束L照射光盤100。 此外，光學(xué)拾取器27檢測(cè)響應(yīng)于光束L從光盤100的記錄層100S返回的返回光束Lr，基于檢測(cè)結(jié)果產(chǎn)生多個(gè)檢測(cè)信號(hào)R，并且將這些檢測(cè)結(jié)果R提供到信號(hào)處理部分23 (將在下文中詳細(xì)描述)。 信號(hào)處理部分23對(duì)檢測(cè)信號(hào)R進(jìn)行預(yù)定的解調(diào)過程、解碼過程等，并且從而重建
在記錄層100S中存儲(chǔ)為光點(diǎn)位置標(biāo)記的信息(將在下文中詳細(xì)描述)。 此外，信號(hào)處理部分23通過使用提供的檢測(cè)信號(hào)R執(zhí)行預(yù)定的操作過程而產(chǎn)生
聚焦誤差信號(hào)和尋址誤差信號(hào)，并且將聚焦誤差信號(hào)和尋址誤差信號(hào)提供到驅(qū)動(dòng)控制部分22。 驅(qū)動(dòng)控制部分22基于聚焦誤差信號(hào)和尋址誤差信號(hào)，通過未圖示的致動(dòng)器來驅(qū)動(dòng)所述物鏡28以對(duì)物鏡28執(zhí)行聚焦控制和尋址控制。 驅(qū)動(dòng)控制部分22從而能夠使由物鏡28匯聚的光束L的焦點(diǎn)跟隨光盤100的記錄層100S中的理想的軌道。 光盤再現(xiàn)裝置20從而從光盤100的記錄層100S再現(xiàn)信息。
(2-3)光學(xué)拾取器的結(jié)構(gòu)
如圖26所示，光學(xué)拾取器27包括上述的短脈沖光源1的激光控制部分2和半導(dǎo)體激光器3(圖1)。 如上所述，短脈沖光源1作為整體與普通的皮秒激光器和毫微微秒激光器相比能夠小型化。因此，光學(xué)拾取器27和具有光學(xué)拾取器27的光盤再現(xiàn)裝置20作為整體與普通的皮秒激光器和毫微微秒激光器相比也能夠小型化。 激光控制部分2從信號(hào)處理部分23接收脈沖信號(hào)SL (圖2A)，產(chǎn)生奇異電壓VE的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD，并且將激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD提供到半導(dǎo)體激光器3。 半導(dǎo)體激光器3將奇異輸出光LE作為光束L輸出，并且使光束L進(jìn)入準(zhǔn)直儀透鏡31。同時(shí)，光束L由發(fā)散光形成，并且由偏振方向?yàn)閜偏振光的方向的線偏振光形成。
準(zhǔn)直儀透鏡31將光束L由發(fā)散光轉(zhuǎn)變?yōu)槠叫泄?，然后使光束L進(jìn)入偏振光束分光器32。 偏振光束分光器32在偏振反射表面32S處傳遞幾乎所有的p偏振光并反射幾乎所有的s偏振光。偏振光束分光器32在偏振反射表面32S處傳遞幾乎所有的p偏振光形成的光束L，然后使光束L進(jìn)入四分之一波片33。 四分之一波片33將光在線偏振光和圓偏振光之間相互轉(zhuǎn)換。四分之一波片33將P偏振光形成的光束L轉(zhuǎn)化為左回轉(zhuǎn)偏振光，然后使光束L進(jìn)入物鏡28。物鏡28會(huì)聚光束L并將光束L匯聚在光盤100的記錄層100S上。 此時(shí)，如上所述，記錄層100S根據(jù)用光束L照射的位置處的局部標(biāo)記MP和光束L中包括的波長帶來產(chǎn)生返回光束Lr，并且使返回光束Lr沿與光束L相反的方向傳播。返回光束Lr是與光束L相反的右回轉(zhuǎn)偏振光，并且是發(fā)散光。 作為光束L，波長約398[nm]的奇異峰值EPK和波長約404 [nm]的奇異斜坡ESL(圖22)相繼出現(xiàn)。因此，返回光束Lr的光譜曲線中的峰值強(qiáng)度和斜坡強(qiáng)度根據(jù)局部標(biāo)記MP相繼改變。 返回光束Lr通過物鏡28從發(fā)散光轉(zhuǎn)變?yōu)槠叫泄?，通過四分之一波片33從右回轉(zhuǎn)偏振光轉(zhuǎn)換為s偏振光(線偏振光)，然后進(jìn)入檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分30的偏振光束分光器32。
偏振光束分光器32在偏振反射表面32S處反射形為s偏振光的返回光束Lr，并且使返回光束Lr進(jìn)入檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分30中的匯聚透鏡35。 匯聚透鏡35匯聚返回光束Lr，并且用匯聚后的返回光束Lr照射光探測(cè)器36。光探測(cè)器36檢測(cè)返回光束Lr的光強(qiáng)，根據(jù)光強(qiáng)產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)R，然后將檢測(cè)信號(hào)R提供到信號(hào)處理部分23的光譜檢測(cè)器23A。 光譜檢測(cè)器23A對(duì)檢測(cè)信號(hào)R進(jìn)行光譜分析過程，并且從而獲得如圖24C中所示的光譜特性曲線。此外，光譜檢測(cè)器23A分別將第一波長Wl處的第一強(qiáng)度VI和第二波長W2處的第二強(qiáng)度V2設(shè)定為第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2。 第一檢測(cè)信號(hào)Rl的第一強(qiáng)度VI此時(shí)代表存儲(chǔ)在局部標(biāo)記MP中的代碼中的較低階二進(jìn)制位的"0"或"1"值。第二檢測(cè)信號(hào)R2的第二強(qiáng)度V2此時(shí)代表存儲(chǔ)在局部標(biāo)記MP中的代碼中的較高階二進(jìn)制位的"0"或"1"值。 檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分30從而通過執(zhí)行基于返回光束Lr獲得的檢測(cè)信號(hào)R的光譜分析來產(chǎn)生第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2。信號(hào)處理部分23基于第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2來提取存儲(chǔ)在局部標(biāo)記MP中的代碼中的較低階二進(jìn)制位和較高階二進(jìn)制位。信號(hào)處理部分23然后通過對(duì)提取的代碼進(jìn)行預(yù)定的解碼過程等來再現(xiàn)存儲(chǔ)在光盤100上的信息。 從而，光學(xué)拾取器27匯聚從半導(dǎo)體激光器3發(fā)射到局部標(biāo)記MP上的光束L，從而產(chǎn)生由兩個(gè)二進(jìn)制位信息在第一波長Wl和第二波長W2中的每個(gè)處調(diào)制的返回光束Lr，并且產(chǎn)生表示返回光束Lr的光強(qiáng)的檢測(cè)信號(hào)R。 相應(yīng)地，信號(hào)處理部分23產(chǎn)生第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2，并且通過執(zhí)行檢測(cè)信號(hào)R的光譜分析來分別在第一波長Wl處和第二波長W2處檢測(cè)第一強(qiáng)度VI和第二強(qiáng)度V2，并且基于第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2再現(xiàn)信息。
(2-4)操作和效果 在上述結(jié)構(gòu)中，光盤再現(xiàn)裝置20通過將奇異電壓VE的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)SD從結(jié)合在光學(xué)拾取器27中的激光控制部分2提供到半導(dǎo)體激光器3，使奇異輸出光LE的光束L輸出。 光學(xué)拾取器27通過物鏡28匯聚光束L，并且用光束L照射光盤100的記錄層IOOS。此時(shí)，通過兩個(gè)二進(jìn)制位的信息在每個(gè)波長帶中調(diào)制的返回光束Lr由形成在記錄層100S中的局部標(biāo)記MP產(chǎn)生。 檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分30通過光探測(cè)器36根據(jù)返回光束Lr的光強(qiáng)產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)R，并且通過光譜檢測(cè)器23A在檢測(cè)信號(hào)R中分別在第一波長Wl處和第二波長W2處產(chǎn)生表示光強(qiáng)的第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2。 信號(hào)處理部分23基于第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2識(shí)別第一強(qiáng)度VI和第二強(qiáng)度V2，提取存儲(chǔ)在局部標(biāo)記MP中的代碼，然后再現(xiàn)信息。 因此光盤再現(xiàn)裝置20可以將奇異輸出光LE作為光束L從半導(dǎo)體激光器3輸出，該奇異輸出光LE包括具有很短的脈沖寬度并具有類似于普通的皮秒激光器和毫微微秒激光器的足夠的光強(qiáng)的奇異峰值EPK。 從而光盤再現(xiàn)裝置20可以根據(jù)形成在用光束L照射的位置處的局部標(biāo)記MP來產(chǎn)生返回光束Lr，其光強(qiáng)在第一波長Wl和第二波長W2中的每個(gè)處調(diào)制。
如上所述，結(jié)合在光學(xué)拾取器27中的短脈沖光源1的激光控制部分2在這種情況下可以形成為較小的形狀。從而與使用通常的皮秒激光器和毫微微秒激光器的情形相比，光盤再現(xiàn)裝置20作為整體也可以形成較小的形狀。 此時(shí)，光盤再現(xiàn)裝置20僅從信號(hào)處理部分23向激光控制部分2提供脈沖信號(hào)SL即足夠。從而不必要執(zhí)行復(fù)雜的光發(fā)射控制等。 根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，光盤再現(xiàn)裝置20從結(jié)合在光學(xué)拾取器27中的半導(dǎo)體激光器3發(fā)射奇異輸出光LE的光束L，并且將光束L匯聚到形成在光盤100的記錄層100S中的局部標(biāo)記MP上。從而，光盤再現(xiàn)裝置20可以從局部標(biāo)記MP產(chǎn)生通過兩個(gè)二進(jìn)制位信息在每個(gè)波長帶中調(diào)制的返回光束Lr，通過光譜分析檢測(cè)第一強(qiáng)度VI和第二強(qiáng)度V2，提取代碼，并且再現(xiàn)信息。相應(yīng)地，如使用普通的皮秒激光器和毫微微秒激光器的情況，使用半導(dǎo)體激光器3的光盤再現(xiàn)裝置20能夠以較小的結(jié)構(gòu)再現(xiàn)在每個(gè)波長帶中調(diào)制的信息。
(3)第二實(shí)施例
(3-1)光盤的結(jié)構(gòu) 在第二實(shí)施例中，光盤100以與第一實(shí)施例大體上相同的方式形成，但是在記錄標(biāo)記組RM的結(jié)構(gòu)上部分不同。 具體地，記錄標(biāo)記組RM的記錄標(biāo)記薩和RMB設(shè)計(jì)為使得返回光束Lr的第一波長Wl約398 [nm]，等于奇異峰值EPK的波長；并且返回光束Lr的第二波長W2約404 [nm]，等于奇異斜坡ESL的波長。 返回光束Lr從而根據(jù)局部標(biāo)記MP形成的模式等，改變光譜曲線中以約398[nm]的波長作為中心的第一波長帶B1的強(qiáng)度以及在光譜曲線中以約404[nm]的波長作為中心的第二波長帶B2的強(qiáng)度。 (3-2)光盤再現(xiàn)裝置和光學(xué)拾取器的結(jié)構(gòu) 第二實(shí)施例中的光盤再現(xiàn)裝置120 (圖25)與第一實(shí)施例中的光盤再現(xiàn)裝置20的不同在于，光盤再現(xiàn)裝置120具有代替信號(hào)處理部分23和光學(xué)拾取器27的信號(hào)處理部分123和光學(xué)拾取器127。 如圖27所示，其中對(duì)應(yīng)于圖26中的部件由相同的附圖標(biāo)記表示，光盤再現(xiàn)裝置120具有代替檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分30的檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分130。此外，盡管光學(xué)拾取器127以與光學(xué)拾取器27類似的方式形成，光學(xué)拾取器127與光學(xué)拾取器27的不同在于，光學(xué)拾取器127具有波長選擇鏡134、匯聚透鏡137以及光探測(cè)器138。 如上所述，作為從半導(dǎo)體激光器3發(fā)射的光束L，波長約398[nm]的的奇異峰值EPK和波長約404[nm]的奇異斜坡ESL(圖22)相繼出現(xiàn)。 因此，如圖24A所示，當(dāng)首先用由奇異峰值EPK形成的光束(該光束在下文中將被稱為奇異峰值光束LEP)照射局部標(biāo)記MP時(shí)，返回光束Lr被改變的是波長約398[nm]的第一波長W1的第一強(qiáng)度V1。 然后，如圖24B所示，當(dāng)用由奇異斜坡ESL形成的光束(該光束在下文中將被稱為奇異斜坡光束LES)照射局部標(biāo)記MP時(shí)，返回光束Lr被改變的是波長約404[nm]的第二波長W2的第二強(qiáng)度V2。 因此，在第二實(shí)施例中，第一強(qiáng)度VI和第二強(qiáng)度V2 (光束L的奇異峰值光束LEP和奇異斜坡光束LES的相應(yīng)的波長處的光強(qiáng))的每個(gè)被改變，用以對(duì)應(yīng)光束L的奇異峰值光束LEP和奇異斜坡光束LES的不同波長。 返回光束Lr被偏振光束分光器32的偏振反射表面32S反射，并且進(jìn)入檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分130的波長選擇鏡134。 波長選擇鏡134在具有波長選擇性的鏡面134S處傳遞幾乎所有的波長小于
401[nm]的光并反射幾乎所有的波長等于或大于401[nm]的波長的光。 從而，波長選擇鏡134傳遞包含在返回光束Lr中的小于401 [nm]的波長的成分，
將所傳遞的成分設(shè)為第一返回光束Lrl，并使第一返回光束Lrl進(jìn)入?yún)R聚透鏡35。此外，波
長選擇鏡134反射包含在返回光束Lr中的等于或大于401 [nm]的波長的成分，將所反射的
成分設(shè)為第二返回光束Lr2，并使第二返回光束Lr2進(jìn)入?yún)R聚透鏡137。 匯聚透鏡35匯聚第一返回光束Lrl，并且用第一返回光束Lrl照射光探測(cè)器36。
光探測(cè)器36檢測(cè)第一返回光束Lrl的光強(qiáng)，產(chǎn)生具有對(duì)應(yīng)于第一返回光束Lrl的光強(qiáng)的信
號(hào)等級(jí)的第一檢測(cè)信號(hào)Rl，并且將第一檢測(cè)信號(hào)Rl發(fā)送到信號(hào)處理部分123 (圖25)。 此時(shí)，由于光束L中的波長約398[nm]的奇異峰值光束LEP，第一強(qiáng)度VI的大小在
第一檢測(cè)信號(hào)Rl中占主導(dǎo)，并且第一檢測(cè)信號(hào)Rl具有對(duì)應(yīng)于第一強(qiáng)度VI的大小的信號(hào)等級(jí)。 因此，第一檢測(cè)信號(hào)R1的信號(hào)等級(jí)代表存儲(chǔ)在局部標(biāo)記MP中的兩個(gè)二進(jìn)制位的 代碼中的較低階二進(jìn)制位的"0 "或"1"值。 同時(shí)，匯聚透鏡137匯聚第二返回光束Lr2，并且用第二返回光束Lr2照射光探測(cè) 器138。光探測(cè)器138檢測(cè)第二返回光束Lr2的光強(qiáng)，產(chǎn)生具有對(duì)應(yīng)于第二返回光束Lr2的 光強(qiáng)的信號(hào)等級(jí)的第二檢測(cè)信號(hào)R2，并且將第二檢測(cè)信號(hào)R2發(fā)送到信號(hào)處理部分123 (圖 25)。 此時(shí)，由于光束L中的波長約404 [nm]的奇異斜坡光束LES，第二強(qiáng)度V2的大小在 第二檢測(cè)信號(hào)R2中占主導(dǎo)，并且第二檢測(cè)信號(hào)R2具有對(duì)應(yīng)于第二強(qiáng)度V2的大小的信號(hào)等 級(jí)。 因此，第二檢測(cè)信號(hào)R2的信號(hào)等級(jí)代表存儲(chǔ)在局部標(biāo)記MP中的兩個(gè)二進(jìn)制位的 代碼中的較高階二進(jìn)制位的"0 "或"1"值。 因此，檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分130將從局部標(biāo)記MP獲得的返回光束Lr分為第一返回 光束Lrl和第二返回光束Lr2，然后分別產(chǎn)生表示第一返回光束Lrl和第二返回光束Lr2的 相應(yīng)的光強(qiáng)的第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2。 信號(hào)處理部分123 (圖25)相應(yīng)地對(duì)第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2進(jìn)行預(yù) 定的解調(diào)過程等，并且從而分別提取存儲(chǔ)在局部標(biāo)記MP中的代碼中的較低階二進(jìn)制位和 較高階二進(jìn)制位。 信號(hào)處理部分123還對(duì)所提取的代碼進(jìn)行預(yù)定的解碼過程等，并且從而再現(xiàn)存儲(chǔ) 在光盤100上的信息。
(3-3)操作和效果 在上述結(jié)構(gòu)中，根據(jù)第二實(shí)施例的光盤再現(xiàn)裝置120從包括在光學(xué)拾取器127中 的半導(dǎo)體激光器3輸出奇異輸出光LE的光束L。光學(xué)拾取器127用光束L照射形成在光盤 100的記錄層100S中的局部標(biāo)記MP。 此時(shí)，用奇異峰值光束LEP照射時(shí)，局部標(biāo)記MP改變約398 [nm]的波長處的第一 強(qiáng)度V1 ;并且用奇異斜坡光束LES照射時(shí)，局部標(biāo)記MP改變約404[nm]的波長處的第二強(qiáng) 度V2。 檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分130通過波長選擇鏡134將返回光束Lr分為第一返回光束Lrl 和第二返回光束Lr2，通過光探測(cè)器36和138檢測(cè)第一返回光束Lrl和第二返回光束Lr2 的相應(yīng)的光強(qiáng)，并且產(chǎn)生第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2。 信號(hào)處理部分123對(duì)第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2中的每個(gè)進(jìn)行預(yù)定的解 調(diào)過程等，從而提取存儲(chǔ)在局部標(biāo)記MP中的代碼中的較低階二進(jìn)制位和較高階二進(jìn)制位， 并且再現(xiàn)信息。 因此，如第一實(shí)施例，光盤再現(xiàn)裝置120能夠從半導(dǎo)體激光器3輸出作為光束L的 奇異輸出光LE。光盤再現(xiàn)裝置120從而與使用普通的皮秒激光器和毫微微秒激光器的情況 相比能夠極大的小型化。 此外，在第二實(shí)施例中，形成在光盤100中的局部標(biāo)記MP設(shè)計(jì)為對(duì)應(yīng)于奇異峰值 光束LEP和奇異斜坡光束LES的波長。 從而，光學(xué)拾取器127首先用包括第一波長W1的奇異峰值光束LEP照射局部標(biāo)記MP，奇異峰值光束LEP包括在奇異輸出光LE形成的光束L中。從而返回光束Lr中的第一 波長W1的第一強(qiáng)度Vl可以改變。 接下來，光學(xué)拾取器127用包括第二波長W2的奇異斜坡光束LES照射局部標(biāo)記 MP。從而返回光束Lr中的第二波長W2的第二強(qiáng)度V2可以改變。 從而，光學(xué)拾取器127可以通過波長選擇鏡134將返回光束Lr分為其中出現(xiàn)第一
強(qiáng)度VI的第一返回光束Lrl和其中出現(xiàn)第二強(qiáng)度V2的第二返回光束Lr2。 從而，光探測(cè)器36可以僅通過檢測(cè)第一返回光束Lrl的光強(qiáng)產(chǎn)生第一檢測(cè)信號(hào)
Rl，其中出現(xiàn)第一強(qiáng)度VI并且第二波長W2的成分從其中排除。此外，光探測(cè)器138可以僅
通過檢測(cè)第二返回光束Lr2的光強(qiáng)產(chǎn)生第二檢測(cè)信號(hào)R2，其中出現(xiàn)第二強(qiáng)度V2并且第一波
長Wl的成分從其中排除。 第二實(shí)施例從而可以不使用用于執(zhí)行如快速傅里葉變化的高級(jí)操作過程的如光 譜檢測(cè)器23A的高性能處理電路，通過普通的光探測(cè)器產(chǎn)生彼此獨(dú)立的第一檢測(cè)信號(hào)Rl和 第二檢測(cè)信號(hào)R2。 在其它方面，光盤再現(xiàn)裝置120可以產(chǎn)生與第一實(shí)施例的效果類似的效果。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，光盤再現(xiàn)裝置120從結(jié)合在光學(xué)拾取器127中的半導(dǎo)體激光器3 發(fā)射奇異輸出光LE的光束L，并且將光束L匯聚到形成在光盤100的記錄層100S中的局部 標(biāo)記MP上。此時(shí)，光盤再現(xiàn)裝置120從局部標(biāo)記MP產(chǎn)生返回光束Lr，其中在第一波長Wl 處的第一強(qiáng)度VI和在第二波長W2處的第二強(qiáng)度V2響應(yīng)于奇異輸出光LE相繼地改變，并 且將返回光束Lr分為第一返回光束Lrl和第二返回光束Lr2。此外，光盤再現(xiàn)裝置120檢 測(cè)第一返回光束Lrl和第二返回光束Lr2的每個(gè)的光強(qiáng)，并且產(chǎn)生第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二 檢測(cè)信號(hào)R2。從而光盤再現(xiàn)裝置120提取存儲(chǔ)在局部標(biāo)記MP中的代碼并且再現(xiàn)信息。由 此，光盤再現(xiàn)裝置120能夠以較小和簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)從光盤100再現(xiàn)信息。
(4)第三實(shí)施例 第三實(shí)施例中的光盤100的結(jié)構(gòu)與第二實(shí)施例的相同，并且從而省略對(duì)其的描 述。 (4-1)光盤再現(xiàn)裝置和光學(xué)拾取器的結(jié)構(gòu) 第三實(shí)施例中的光盤再現(xiàn)裝置220 (圖28)與第一實(shí)施例中的光盤再現(xiàn)裝置20的 不同在于，光盤再現(xiàn)裝置220具有代替信號(hào)處理部分23和光學(xué)拾取器27的信號(hào)處理部分 223和光學(xué)拾取器227。 如圖28所示，其中對(duì)應(yīng)于圖26和圖27中的部件由相同的附圖標(biāo)記表示，光盤再 現(xiàn)裝置220具有代替檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分30的檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分230。此外，檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生 部分230與檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分30的不同之處在于，檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分230具有取代光譜檢 測(cè)器23A的時(shí)分信號(hào)選擇器223A。然而，檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分230除此之外以類似于檢測(cè)信 號(hào)產(chǎn)生部分30的方式形成。 如上所述，作為從半導(dǎo)體激光器3發(fā)射的光束L，波長約398[nm]的的奇異峰值 EPK和波長約404[nm]的奇異斜坡ESL(圖22)相繼出現(xiàn)。 因此，如第二實(shí)施例中，如圖24A所示，當(dāng)首先用奇異峰值光束LEP照射局部標(biāo)記
MP時(shí)，返回光束Lr被改變的是波長約398[nm]的第一波長W1的第一強(qiáng)度V1。 然后，如圖24B所示，當(dāng)用奇異斜坡光束LES照射局部標(biāo)記MP時(shí)，返回光束Lr被改變的是波長約404[nm]的第二波長W2的第二強(qiáng)度V2。 S卩，返回光束Lr的第一強(qiáng)度VI和第二強(qiáng)度V2(在奇異峰值EPK和奇異斜坡 ESL(圖22)的相應(yīng)的波長處的光強(qiáng))相繼被改變，用以對(duì)應(yīng)光束光束L中不同波長的奇異 峰值EPK和奇異斜坡ESL的相繼出現(xiàn)。 返回光束Lr被偏振光束分光器32的偏振反射表面32S反射，由匯聚透鏡35所匯 聚，并且被提供到光探測(cè)器36。光探測(cè)器36檢測(cè)返回光束Lr的光強(qiáng)，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于返回光束 Lr的光強(qiáng)的檢測(cè)信號(hào)R，并且將檢測(cè)信號(hào)R供應(yīng)到檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分230的時(shí)分信號(hào)選擇 器223A。 對(duì)于從時(shí)間點(diǎn)t0 (將脈沖信號(hào)SL提供到激光控制部分2時(shí))至預(yù)定的時(shí)間點(diǎn)tl 的時(shí)期，時(shí)分信號(hào)選擇器223A將檢測(cè)信號(hào)R作為第一檢測(cè)信號(hào)Rl輸出。在時(shí)間點(diǎn)tl之后， 時(shí)分信號(hào)選擇器223A將檢測(cè)信號(hào)R作為第二檢測(cè)信號(hào)R2輸出。 在這種情況下，第一檢測(cè)信號(hào)Rl具有對(duì)應(yīng)于由光束L中的波長約398 [nm]的奇異 峰值光束LEP產(chǎn)生的第一強(qiáng)度V1的大小的信號(hào)等級(jí)。因此，第一檢測(cè)信號(hào)R1的信號(hào)等級(jí) 代表存儲(chǔ)在局部標(biāo)記MP中的兩個(gè)二進(jìn)制位的代碼中的較低階二進(jìn)制位的"0"或"1"值。
第二檢測(cè)信號(hào)R2具有對(duì)應(yīng)于由光束L中的波長約404[nm]的奇異斜坡光束LES 產(chǎn)生的第二強(qiáng)度V2的大小的信號(hào)等級(jí)。因此，第二檢測(cè)信號(hào)R2的信號(hào)等級(jí)代表存儲(chǔ)在局 部標(biāo)記MP中的兩個(gè)二進(jìn)制位的代碼中的較高階二進(jìn)制位的"0"或"1"值。
同時(shí)，基于半導(dǎo)體激光器3的光發(fā)射特性、光學(xué)拾取器227中的光路的長度、光探 測(cè)器36的響應(yīng)特性等來確定從時(shí)間點(diǎn)t0至?xí)r間點(diǎn)tl的時(shí)期A t。該時(shí)期A t大致對(duì)應(yīng)奇 異峰值EPK的時(shí)間寬度和各種延遲時(shí)間相加獲得的時(shí)間。 因此，檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分230通過瞬時(shí)地分開從局部標(biāo)記MP獲得的返回光束Lr， 將檢測(cè)信號(hào)R分為第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2。 接下來，信號(hào)處理部分223對(duì)第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2進(jìn)行預(yù)定的解 調(diào)過程等，并且從而分別提取存儲(chǔ)在局部標(biāo)記MP中的代碼中的較低階二進(jìn)制位和較高階 二進(jìn)制位。 信號(hào)處理部分223還對(duì)所提取的代碼進(jìn)行預(yù)定的解碼過程等，并且從而再現(xiàn)存儲(chǔ) 在光盤IOO上的信息。 [O^O] (4-2)操作和效果 在上述結(jié)構(gòu)中，根據(jù)第三實(shí)施例的光盤再現(xiàn)裝置220從包括在光學(xué)拾取器227中 的半導(dǎo)體激光器3輸出奇異輸出光LE的光束L。光學(xué)拾取器227用光束L照射形成在光盤 100的記錄層100S中的局部標(biāo)記MP。 此時(shí)，用奇異峰值光束LEP照射時(shí)，局部標(biāo)記MP改變約398 [nm]的波長處的第一強(qiáng)度 VI ;并且用奇異斜坡光束LES照射時(shí)，局部標(biāo)記MP改變約404[咖]的波長處的第二強(qiáng)度V2。
光學(xué)拾取器227通過光探測(cè)器36檢測(cè)返回光束Lr的光強(qiáng)，并且產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)R。 檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分230通過時(shí)分信號(hào)選擇器223A將檢測(cè)信號(hào)R分為對(duì)應(yīng)于奇異峰值EPK 的第一檢測(cè)信號(hào)Rl和對(duì)應(yīng)于奇異斜坡ESL的第二檢測(cè)信號(hào)R2。 此后，信號(hào)處理部分223基于第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2彼此獨(dú)立地提 取存儲(chǔ)在局部標(biāo)記MP中的代碼中的較低階二進(jìn)制位和較高階二進(jìn)制位，并且再現(xiàn)信息。
從而，如第一實(shí)施例和第二實(shí)施例，光盤再現(xiàn)裝置220能夠從半導(dǎo)體激光器3輸出作為光束L的奇異輸出光LE。光盤再現(xiàn)裝置220從而與使用普通的皮秒激光器和毫微微秒 激光器的情況相比能夠極大的小型化。 此外，在第三實(shí)施例中，如第二實(shí)施例，形成在光盤100中的局部標(biāo)記MP設(shè)計(jì)為對(duì) 應(yīng)于奇異峰值光束LEP和奇異斜坡光束LES的波長。 從而，光學(xué)拾取器227首先用包括第一波長W1的奇異峰值光束LEP照射局部標(biāo)記 MP，奇異峰值光束LEP包括在奇異輸出光LE形成的光束L中。從而返回光束Lr中的第一 波長W1的第一強(qiáng)度Vl可以改變。 接下來，光學(xué)拾取器227用包括第二波長W2的奇異斜坡光束LES照射局部標(biāo)記 MP。從而返回光束Lr中的第二波長W2的第二強(qiáng)度V2可以改變。 利用光束L和返回光束Lr的這樣的特性，時(shí)分信號(hào)選擇器223A能夠僅通過瞬時(shí) 地分開檢測(cè)信號(hào)R而將檢測(cè)信號(hào)R分為其中出現(xiàn)第一強(qiáng)度VI的第一檢測(cè)信號(hào)Rl和其中出 現(xiàn)第二強(qiáng)度V2的第二檢測(cè)信號(hào)R2。 此時(shí)，在從時(shí)間點(diǎn)t0 (信號(hào)處理部分223本身將脈沖信號(hào)SL提供到激光控制部分 2的時(shí)刻)經(jīng)過預(yù)定的時(shí)期At后，信號(hào)處理部分223僅通過時(shí)分信號(hào)選擇器223A改變檢 測(cè)信號(hào)R輸出的位置即足夠。不需要執(zhí)行復(fù)雜的信號(hào)同步過程等。 在其它方面，光盤再現(xiàn)裝置220可以產(chǎn)生與第一實(shí)施例和第二實(shí)施例的效果類似 的效果。 根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，光盤再現(xiàn)裝置220從結(jié)合在光學(xué)拾取器227中的半導(dǎo)體激光器3 發(fā)射奇異輸出光LE的光束L，并且將光束L匯聚到形成在光盤100的記錄層100S中的局部 標(biāo)記MP上。此時(shí)，光盤再現(xiàn)裝置220從局部標(biāo)記MP產(chǎn)生返回光束Lr (其中在第一波長Wl 處的第一強(qiáng)度VI和在第二波長W2處的第二強(qiáng)度V2響應(yīng)于奇異輸出光LE相繼地改變)，檢 測(cè)返回光束Lr的光強(qiáng)，并且產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)R。此外，光盤再現(xiàn)裝置220在時(shí)間點(diǎn)tl處將檢 測(cè)信號(hào)R分為第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2，并且基于第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè) 信號(hào)R2彼此獨(dú)立地識(shí)別第一強(qiáng)度VI和V2。從而光盤再現(xiàn)裝置220提取存儲(chǔ)在局部標(biāo)記 MP中的代碼并且再現(xiàn)信息。由此，光盤再現(xiàn)裝置220能夠以較小和簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)從光盤100 再現(xiàn)信息。 (5)其它實(shí)施例 同時(shí)，在上述第一實(shí)施例中，描述了檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分30通過光譜分析產(chǎn)生分別 表示第一波長Wl的第一強(qiáng)度VI和第二波長W2的第二強(qiáng)度V2的第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二 檢測(cè)信號(hào)R2的情形。此外，在第二實(shí)施例中，描述了檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分130根據(jù)波長將返 回光束Lr分為第一返回光束Lrl和第二返回光束Lr2，然后產(chǎn)生第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢 測(cè)信號(hào)R2的每個(gè)的情形。此外，在第三實(shí)施例中，描述了檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分230在時(shí)間點(diǎn) tl處將檢測(cè)信號(hào)R分為第一檢測(cè)信號(hào)Rl和第二檢測(cè)信號(hào)R2的情形。 本發(fā)明不限于此?？梢圆捎美缭跈z測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分中分離或分開返回光束Lr 或分析檢測(cè)信號(hào)R的不同的方法。在這種情況下，檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分能夠基于返回光束Lr 產(chǎn)生第一檢測(cè)信號(hào)Rl (其中在第一波長Wl處出現(xiàn)第一強(qiáng)度VI)和第二檢測(cè)信號(hào)R2 (其中 在第二波長W2處出現(xiàn)第二強(qiáng)度V2)的每個(gè)即足夠。 在上述的第一實(shí)施例中，描述了局部標(biāo)記MP形成為使得峰值出現(xiàn)在返回光束Lr 的光譜曲線上第一波長W1和第二波長W2的兩個(gè)位置處，并且基于第一波長W1的第一強(qiáng)度VI和第二波長W2的第二強(qiáng)度V2提取代碼。 本發(fā)明不限于此。例如通過增加記錄標(biāo)記組RM中的記錄標(biāo)記RM的種類，可以使 三個(gè)或更多的峰值出現(xiàn)在返回光束Lr的光譜曲線上，并且可以基于峰值的各個(gè)光強(qiáng)提取 代碼。在這種情況下，可以增加能夠存儲(chǔ)在光盤100上的信息量。 在上述的第二實(shí)施例中，描述了局部標(biāo)記MP被形成為根據(jù)從半導(dǎo)體激光器3發(fā) 射的奇異輸出光LE的奇異峰值EPK和奇異斜坡ESL來改變返回光束Lr的光譜曲線上約 398[nm]和約404[nm]的波長處的光強(qiáng)。 本發(fā)明不限于此。當(dāng)從半導(dǎo)體激光器3發(fā)射的奇異輸出光LE的奇異峰值EPK和 奇異斜坡ESL具有其它的波長時(shí)，局部標(biāo)記MP被形成為改變返回光束Lr的光譜曲線上其 它的波長處的光強(qiáng)。第三實(shí)施例也是這樣。 同時(shí)，在第二實(shí)施例的情況下，通過波長選擇鏡134的鏡面134S適當(dāng)調(diào)節(jié)波長特 性使得能使返回光束Lr分為包括奇異峰值EPK的波長的部分和包括奇異斜坡ESL的波長 的部分即可。 在上述第三實(shí)施例中，描述了從時(shí)間點(diǎn)tO(脈沖信號(hào)脈沖信號(hào)SL被提供到激光控 制部分2的時(shí)刻)經(jīng)過時(shí)期A t后在時(shí)間點(diǎn)tl時(shí)，時(shí)分信號(hào)選擇器223A改變檢測(cè)信號(hào)R 輸出的位置。 不發(fā)明不限于此。檢測(cè)信號(hào)R輸出的位置可以在從不同的時(shí)間點(diǎn)經(jīng)過適當(dāng)設(shè)定的 時(shí)期At后的時(shí)間處改變。此外，例如，檢測(cè)信號(hào)R輸出的位置可以在對(duì)應(yīng)于在檢測(cè)信號(hào)R 中檢測(cè)到奇異峰值EPK的峰值并同時(shí)核對(duì)檢測(cè)信號(hào)R的信號(hào)等級(jí)的時(shí)間點(diǎn)改變。
在上述的第一實(shí)施例中，描述了普通半導(dǎo)體激光器(索尼公司制造的SLD3233等) 用作為半導(dǎo)體激光器3。然而，本發(fā)明不限于此。簡(jiǎn)單地說，半導(dǎo)體激光器3是所謂的使用 p型半導(dǎo)體和n型半導(dǎo)體執(zhí)行激光振蕩的半導(dǎo)體激光器即可。更理想的是有意使用能夠形 成為將執(zhí)行較大的弛豫振蕩的半導(dǎo)體激光器。第二實(shí)施例和第三實(shí)施例也是如此。
在上述實(shí)施例中，描述了具有實(shí)體的開關(guān)的記錄標(biāo)記RMA和RMB。本發(fā)明不限于 此。記錄標(biāo)記RMA和RMB例如可以通過局部地改變光的反射率、折射率或者影響相改變來 形成。簡(jiǎn)單地說，產(chǎn)生響應(yīng)于光束L的返回光束Lr即可。 記錄標(biāo)記RM的形狀可以不只是圖23中所示的平面中的圓形，還可以是其它不同 的形狀?；蛘?，記錄標(biāo)記RM可以如條碼設(shè)置為一維。 在上述實(shí)施例中，描述了作為光盤再現(xiàn)裝置的光盤再現(xiàn)裝置20由作為半導(dǎo)體激 光器的半導(dǎo)體激光器3、作為物鏡的物鏡28、作為檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分的檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分 30以及作為信號(hào)處理部分的信號(hào)處理部分23形成。 然而，本發(fā)明不限于此。光盤再現(xiàn)裝置可以由具有其它不同結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體激光器、 物鏡、檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分和再現(xiàn)處理部分形成。 本發(fā)明還適用于例如用于在如光盤等的記錄介質(zhì)上記錄和再現(xiàn)大量信息(如視 頻內(nèi)容、音頻內(nèi)容等)的光信息記錄和再現(xiàn)裝置。 本申請(qǐng)包含了與2009年1月15日向日本專利局遞交的日本優(yōu)先權(quán)專利申請(qǐng)
JP2009-006930中公開的主題相關(guān)的主題，這里通過引用弓|入其全部內(nèi)容。 本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)理解，只要在所附權(quán)利要求或與其相當(dāng)?shù)姆秶鷥?nèi)，可以按照設(shè)
計(jì)要求等其它因素進(jìn)行各種改變、組合、變形和替代。
權(quán)利要求
一種光盤再現(xiàn)裝置，包括半導(dǎo)體激光器，其在被提供形成為脈沖形式并形成預(yù)定的奇異電壓的驅(qū)動(dòng)脈沖時(shí)，相繼將奇異峰值光束和奇異斜坡光束作為激光發(fā)射，所述奇異峰值光束具有脈沖形式的光強(qiáng)特性并具有奇異峰值波長，所述奇異斜坡光束具有比所述奇異峰值光束的光強(qiáng)低的斜坡形式的光強(qiáng)特性并具有不同于所述奇異峰值波長的奇異斜坡波長；物鏡，其用于將所述激光匯聚到設(shè)置在光盤中的記錄層上，并且轉(zhuǎn)變返回光束的發(fā)散角，所述記錄層中形成多種記錄標(biāo)記，所述返回光束的光強(qiáng)按照多個(gè)波長帶中的每個(gè)波長帶獨(dú)立地被調(diào)制，并且所述返回光束從所述記錄層返回；檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分，其配置為分別檢測(cè)所述返回光束中的每個(gè)所述波長帶的光強(qiáng)，并且根據(jù)相應(yīng)的光強(qiáng)分別產(chǎn)生多個(gè)檢測(cè)信號(hào)；以及再現(xiàn)過程部分，其配置為基于所述多個(gè)檢測(cè)信號(hào)再現(xiàn)記錄在所述光盤上的信息。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤再現(xiàn)裝置，其中所述檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分通過分別檢測(cè)所述返回光束中的所述奇異峰值波長的成分的 光強(qiáng)和所述奇異斜坡波長的成分的光強(qiáng)，根據(jù)相應(yīng)的光強(qiáng)產(chǎn)生第一檢測(cè)信號(hào)和第二檢測(cè)信 號(hào)，并且所述再現(xiàn)過程部分基于所述第一檢測(cè)信號(hào)和所述第二檢測(cè)信號(hào)再現(xiàn)記錄在所述光盤 上的信息。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤再現(xiàn)裝置，其中 所述檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分包括分光部分，其配置為將所述返回光束至少分為所述奇異峰值波長的成分和所述奇異斜 坡波長的成分；奇異峰值光束接收部分，其配置為接收所述奇異峰值波長的成分并產(chǎn)生所述第一檢測(cè) 信號(hào)，所述奇異峰值波長的成分通過所述分光部分從所述返回光束中分離；以及奇異斜坡光束接收部分，其配置為接收所述奇異斜坡波長的成分并產(chǎn)生所述第二檢測(cè) 信號(hào)，所述奇異斜坡波長的成分通過所述分光部分從所述返回光束中分離。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的光盤再現(xiàn)裝置，其中所述檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分的所述分光部分由波長選擇鏡形成，所述波長選擇鏡傳遞所述 返回光束中的所述奇異峰值波長的成分和所述奇異斜坡波長的成分中的一者并反射另一 者。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤再現(xiàn)裝置，其中 所述檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分包括光接收部分，其配置為相繼接收所述奇異峰值波長的成分和所述奇異斜坡波長的成 分，并且根據(jù)所述奇異峰值波長的成分和所述奇異斜坡波長的成分的光強(qiáng)產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)， 所述奇異峰值波長的成分和所述奇異斜坡波長的成分包括在所述返回光束中；以及信號(hào)分離部分，其配置為通過在預(yù)定的時(shí)間點(diǎn)處分離所述檢測(cè)信號(hào)，以分別產(chǎn)生所述 第一檢測(cè)信號(hào)和所述第二檢測(cè)信號(hào)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤再現(xiàn)裝置，其中所述信號(hào)分離部分根據(jù)從所述半導(dǎo)體激光器發(fā)射的所述激光從所述奇異峰值光束改 變?yōu)樗銎娈愋逼鹿馐臅r(shí)刻，將所述檢測(cè)信號(hào)分為所述第一檢測(cè)信號(hào)和所述第二檢測(cè)信號(hào)。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的光盤再現(xiàn)裝置，其中所述信號(hào)分離部分在從向所述半導(dǎo)體激光器提供所述驅(qū)動(dòng)脈沖的時(shí)間點(diǎn)開始經(jīng)過預(yù) 定的分離時(shí)間后的時(shí)間點(diǎn)處，將所述檢測(cè)信號(hào)分為所述第一檢測(cè)信號(hào)和所述第二檢測(cè)信號(hào)。
8. —種光盤再現(xiàn)方法，包括以下步驟發(fā)射步驟，在預(yù)定的半導(dǎo)體激光器被提供形成為脈沖形式并形成預(yù)定的奇異電壓的驅(qū) 動(dòng)脈沖時(shí)，相繼將奇異峰值光束和奇異斜坡光束作為激光從所述半導(dǎo)體激光器發(fā)射，所述 奇異峰值光束具有脈沖形式的光強(qiáng)特性并具有奇異峰值波長，所述奇異斜坡光束具有比所 述奇異峰值光束的光強(qiáng)低的斜坡形式的光強(qiáng)特性并具有不同于所述奇異峰值波長的奇異 斜坡波長；聚光步驟，用預(yù)定的物鏡將所述激光匯聚到設(shè)置在光盤中的記錄層上，所述記錄層中形成預(yù)定的記錄標(biāo)記；轉(zhuǎn)變步驟，用所述物鏡轉(zhuǎn)變返回光束的發(fā)散角，所述返回光束包括多個(gè)波長帶，所述返 回光束的光強(qiáng)按照每個(gè)所述波長帶獨(dú)立地被調(diào)制，并且所述返回光束從所述記錄層返回；檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生步驟，分別檢測(cè)所述返回光束中的每個(gè)所述波長帶的光強(qiáng)，并且根據(jù)相 應(yīng)的光強(qiáng)分別產(chǎn)生多個(gè)檢測(cè)信號(hào)；并且再現(xiàn)步驟，基于所述多個(gè)檢測(cè)信號(hào)再現(xiàn)記錄在所述光盤上的信息。
全文摘要
本發(fā)明涉及光盤再現(xiàn)裝置和光盤再現(xiàn)方法。光盤再現(xiàn)裝置包括半導(dǎo)體激光器，其在被提供形成為脈沖形式并形成預(yù)定的奇異電壓的驅(qū)動(dòng)脈沖時(shí)，相繼將奇異峰值光束和奇異斜坡光束作為激光發(fā)射；物鏡，其用于將激光匯聚到設(shè)置在光盤中的記錄層上，并且轉(zhuǎn)變從記錄層返回的返回光束的發(fā)散角；檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生部分，其配置為分別檢測(cè)返回光束中的每個(gè)波長帶的光強(qiáng)，并且根據(jù)相應(yīng)的光強(qiáng)分別產(chǎn)生多個(gè)檢測(cè)信號(hào)；以及再現(xiàn)過程部分，其配置為基于多個(gè)檢測(cè)信號(hào)再現(xiàn)記錄在光盤上的信息。
文檔編號(hào)G11B7/0045GK101783147SQ20101000440
公開日2010年7月21日 申請(qǐng)日期2010年1月15日 優(yōu)先權(quán)日2009年1月15日
發(fā)明者中沖有克, 川久保伸 申請(qǐng)人:索尼公司