專利名稱：光學拾取器及其制造方法和控制方法,以及光盤裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及用于針對諸如光盤之類的光學記錄介質(zhì)執(zhí)行信息的記錄和/或再現(xiàn) 的光學拾取器、使用該光學拾取器的光盤裝置、光學拾取器制造方法和光學拾取器控制方 法。
背景技術：
在現(xiàn)有技術中，具有CD (緊致盤)作為信息信號的記錄介質(zhì)，其使用具有約785nm 波長的光束。此外，具有諸如DVD (數(shù)字萬用盤)之類的光盤，其使用具有約660nm波長的 光束。與CD相比，DVD實現(xiàn)了高密度記錄。此外，具有能夠進行高密度記錄的光盤(此后， 稱為高密度記錄光盤)，其使用從藍紫色半導體激光器發(fā)射的具有約405nm波長的光束來 執(zhí)行信號的記錄和/或再現(xiàn)，這與DVD相比實現(xiàn)了更高密度的記錄。作為這種高密度記錄 光盤，例如提出了諸如BD (藍光盤，其為注冊商標)之類的光盤，其具有用于保護其上記錄 信號的記錄層的薄保護層(覆層)。作為在用于將信息信號記錄到諸如BD之類的光盤上或使被記錄在光盤中的信息 信號再現(xiàn)的光學拾取器中使用的物鏡，考慮到塑料制成的物鏡與玻璃制成的物鏡相比在制 造性和輕重量方面占優(yōu)，塑料物鏡已經(jīng)得到了研究。塑料物鏡具有如下特性其折射率由于熱而顯著變化，并因此可以根據(jù)其使用的 環(huán)境而產(chǎn)生顯著不必要的像差。具體而言，在現(xiàn)有技術中與玻璃物鏡相比，在塑料物鏡中由 于溫度變化導致的球面像差的變化較為明顯，這導致記錄特性的劣化。因此，使用塑料物鏡的光學拾取器通常采用如下方法準直透鏡在光軸方向上移 動以產(chǎn)生倍率球面像差，從而對由于溫度變化引起的球面像差進行校正。但是，在以此方式通過驅(qū)動準直透鏡來校正球面像差的情況下，存在如下問題作 為由于倍率變化引起的副作用，由于透鏡傾斜引起的慧形像差的敏感度(此后稱為透鏡傾 斜慧形像差敏感度)顯著地變化。另一方面，在現(xiàn)有技術中的光學拾取器采用如下方法通過以靜態(tài)或動態(tài)的方式 調(diào)節(jié)物鏡的傾斜度來校正由于物鏡或除物鏡以外的光學部件產(chǎn)生的慧形像差以及由于其 組裝精度產(chǎn)生的慧形像差。更具體而言，對保持物鏡的致動器在傾斜方向上的傾斜度進行 靜態(tài)或動態(tài)的調(diào)節(jié)以執(zhí)行對這種初始慧形像差等的校正。在使用環(huán)境的溫度范圍內(nèi)，存在如上所述塑料物鏡的透鏡傾斜慧形像差敏感度根 據(jù)其材料或形狀而顯著變化的問題，并且可以是在從0°c到約常溫的兩倍的狀況下。因此， 在低溫或高溫環(huán)境下，難以通過經(jīng)由致動器驅(qū)動調(diào)節(jié)傾斜度來校正慧形像差，因此盤記錄 特性會劣化。日本未經(jīng)審查的專利申請公開2008-112575是現(xiàn)有技術的示例。

發(fā)明內(nèi)容
期望提供光學拾取器、光盤裝置、光學拾取器制造方法和光學拾取器控制方法，其中光學拾取器使用塑料物鏡來增強制造性和減輕重量，并減小由于環(huán)境溫度變化引起的慧 形像差以提高記錄和/或再現(xiàn)特性。
根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，提供了一種光學拾取器，包括第一和第二物鏡，其 被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到具有不同厚度的保護層的第一和第二光盤上； 慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述第一和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差； 準直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述第一物鏡之間的光路上，并被配置 為變換經(jīng)過所述準直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被配置為使所述準 直透鏡沿著光軸方向移動，并改變進入所述第一物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中， 與所述第一物鏡對應的所述第一光盤的保護層厚度小于與所述第二物鏡對應的所述第二 光盤的保護層厚度；其中，所述第一物鏡在環(huán)境溫度是0°c至70°C、對應的所述第一光盤的 保護層厚度是70 μ m至105 μ m、并且對應的所述光束的波長λ 1是398nm至414nm的條件 下滿足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ λ rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是 在通過使所述準直透鏡移動來校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過使所述第一物鏡傾斜 而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的比率；其中，所述第一物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將 所述光束導引到所述第一物鏡的導光光學系統(tǒng)導引的所述光束的光軸與所述第一物鏡的 光軸基本一致；其中，所述光學拾取器相對于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述第一物鏡對 于所述第一光盤導致的初始慧形像差的角度傾斜；并且其中，當再現(xiàn)所述第一光盤時，不使 用所述慧形像差產(chǎn)生單元，而當再現(xiàn)所述第二光盤時，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元以獲得 最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。此外，根據(jù)本發(fā)明的另一個示例實施例，提供了一種光盤裝置，其包括通過將光束 發(fā)射到被驅(qū)動而轉(zhuǎn)動的光盤上來執(zhí)行信息信號的記錄和/或再現(xiàn)的光學拾取器。這里，所 述光學拾取器包括第一和第二物鏡，其被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到具有 不同厚度的保護層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述第一 和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源 與所述第一及第二物鏡之間的光路上，并被配置為變換經(jīng)過所述準直透鏡的光束的發(fā)散 角；以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被配置為使所述準直透鏡沿著光軸方向移動，并改變進入 所述物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，與所述第一物鏡對應的所述第一光盤的保 護層厚度小于與所述第二物鏡對應的所述第二光盤的保護層厚度；其中，所述第一物鏡在 環(huán)境溫度是0°c至70°C、對應的所述第一光盤的保護層厚度是70 μ m至105 μ m、并且對應 的所述光束的波長λ 1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至 0. 3[Xrms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過使所述準直透鏡移動來校正所產(chǎn) 生的球面像差的狀態(tài)下通過使所述第一物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的比率；其 中，所述第一物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導引到所述第一物鏡的導光光 學系統(tǒng)導引的所述光束的光軸與所述第一物鏡的光軸基本一致；其中，所述光學拾取器和 其上要安裝所述光盤的盤安裝單元中的至少一者傾斜，使得所述光學拾取器和安裝在所述 盤安裝單元上的所述光盤相對于彼此以最優(yōu)地校正由于所述第一物鏡對于所述第一光盤 導致的初始慧形像差的角度傾斜；并且其中，當再現(xiàn)所述第一光盤時，不使用所述慧形像差 產(chǎn)生單元，而當再現(xiàn)所述第二光盤時，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。此外，根據(jù)本發(fā)明的另一個示例實施例，提供了一種制造光學拾取器的方法。這里，所述光學拾取器包括第一和第二物鏡，其被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到具有不同厚度的保護層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述 第一和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的 光源與所述第一物鏡之間的光路上，并被配置為變換經(jīng)過所述準直透鏡的光束的發(fā)散角； 以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被配置為使所述準直透鏡沿著光軸方向移動，并改變進入所述 第一物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，與所述第一物鏡對應的所述第一光盤的保 護層厚度小于與所述第二物鏡對應的所述第二光盤的保護層厚度，并且其中，所述第一物 鏡在環(huán)境溫度是0°c至70°C、對應的所述第一光盤的保護層厚度是70 μ m至105 μ m、并且 對應的所述光束的波長λ 1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0 至0. 3[ λ rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過使所述準直透鏡移動來校正所 產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過使所述第一物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的比率。在 制造具有由塑料制成的所述第一物鏡的所述光學拾取器時，所述方法包括以下步驟將導 光光學系統(tǒng)安裝到基體構件，所述導光光學系統(tǒng)將所述光束導引到所述第一物鏡；將所述 第一物鏡保持于透鏡保持器，使得由所述導光光學系統(tǒng)導引到所述第一物鏡的所述光束的 光軸與所述第一物鏡的光軸基本一致；調(diào)節(jié)所述光學拾取器，使得所述光學拾取器相對于 所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述第一物鏡對于所述第一光盤導致的初始慧形像差的角度 傾斜；以及計算使用所述慧形像差產(chǎn)生單元最優(yōu)地校正由于所述第二物鏡對于所述第二光 盤導致的初始慧形像差的慧形像差校正量，并將計算得到的所述慧形像差校正量存儲在存 儲單元中。 此外，根據(jù)本發(fā)明的另一個示例實施例，提供了一種控制光學拾取器的方法。這 里，所述光學拾取器包括第一和第二物鏡，其被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到 具有不同厚度的保護層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述 第一和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的 光源與所述第一物鏡之間的光路上，并被配置為變換經(jīng)過所述準直透鏡的光束的發(fā)散角； 以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被配置為使所述準直透鏡沿著光軸方向移動，并改變進入所述 第一物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，與所述第一物鏡對應的所述第一光盤的保 護層厚度小于與所述第二物鏡對應的所述第二光盤的保護層厚度；其中，所述第一物鏡在 環(huán)境溫度是0°c至70°C、對應的所述第一光盤的保護層厚度是70 μ m至105 μ m、并且對應 的所述光束的波長λ 1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至 0. 3[Xrms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過使所述準直透鏡移動來校正所產(chǎn) 生的球面像差的狀態(tài)下通過使所述第一物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的比率；并且 其中，所述第一物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導引到所述第一物鏡和所述 第二物鏡的導光光學系統(tǒng)導引的所述光束的光軸與所述第一物鏡的光軸基本一致。在控制 所述光學拾取器使得所述光學拾取器相對于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述第一物鏡對 于所述第一光盤導致的初始慧形像差的角度傾斜時，所述方法包括以下步驟識別所安裝 的光盤的類型；當通過所述識別步驟識別出所述光盤是所述第一光盤時，在不使用所述慧 形像差產(chǎn)生單元的情況下對于所述第一光盤執(zhí)行信息信號的再現(xiàn)；以及當通過所述識別步 驟識別出所述光盤是所述第二光盤時，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元來對于所述第二光盤執(zhí) 行信息信號的再現(xiàn)。
此外，根據(jù)本發(fā)明的另一個示例實施例，提供了一種光學拾取器，包括單個物鏡， 其被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到具有不同厚度的保護層的第一和第二光盤 上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準直透鏡，其 被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的光路上，并被配置為變換經(jīng)過所述準 直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被配置為使所述準直透鏡沿著光軸方 向移動，并改變進入所述第一物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，所述第一光盤的保 護層厚度小于所述第二光盤的保護層厚度；其中，所述物鏡在環(huán)境溫度是0°c至70°C、對應 的所述第一光盤的保護層厚度是70 y m至105 y m、并且與所述第一光盤對應的所述光束的 波長入1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0. 3 [入rms/° ]， 所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過使所述準直透鏡移動來校正所產(chǎn)生的球面像差的 狀態(tài)下通過使所述物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的比率；其中，所述物鏡由塑料制 成并被安裝為使得由將所述光束導引到所述物鏡的導光光學系統(tǒng)導引的所述光束的光軸 與所述物鏡的光軸基本一致；其中，所述光學拾取器相對于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所 述物鏡對于所述第一光盤導致的初始慧形像差的角度傾斜；并且其中，當再現(xiàn)所述第一光 盤時，不使用所述慧形像差產(chǎn)生單元，而當再現(xiàn)所述第二光盤時，使用所述慧形像差產(chǎn)生單 元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。此外，根據(jù)本發(fā)明的另一個示例實施例，提供了一種光盤裝置，其包括通過將光束 發(fā)射到被驅(qū)動而轉(zhuǎn)動的光盤上來執(zhí)行信息信號的記錄和/或再現(xiàn)的光學拾取器。這里，所 述光學拾取器包括單個物鏡，其被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到具有不同厚 度的保護層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述物鏡的光束 中產(chǎn)生慧形像差；準直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的光路 上，并被配置為變換經(jīng)過所述準直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被配 置為使所述準直透鏡沿著光軸方向移動，并改變進入所述物鏡的光束的角度以校正球面像 差，其中，所述第一光盤的保護層厚度小于所述第二光盤的保護層厚度；其中，所述物鏡在 環(huán)境溫度是0°c至70°C、對應的所述第一光盤的保護層厚度是70 i! m至105 i! m、并且與所述 第一光盤對應的所述光束的波長\ 1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜慧形像差靈 敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過使所述準直透鏡移動 來校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過使所述物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的比 率；其中，所述物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導引到所述物鏡的導光光學 系統(tǒng)導引的所述光束的光軸與所述物鏡的光軸基本一致；其中，所述光學拾取器和其上要 安裝所述光盤的盤安裝單元中的至少一者傾斜，使得所述光學拾取器和安裝在所述盤安裝 單元上的所述光盤相對于彼此以最優(yōu)地校正由于所述物鏡對于所述第一光盤導致的初始 慧形像差的角度傾斜；并且其中，當再現(xiàn)所述第一光盤時，不使用所述慧形像差產(chǎn)生單元， 而當再現(xiàn)所述第二光盤時，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。此外，根據(jù)本發(fā)明的另一個示例實施例，提供了一種制造光學拾取器的方法。這 里，所述光學拾取器包括單個物鏡，其被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到具有不 同厚度的保護層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述物鏡的 光束中產(chǎn)生慧形像差；準直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的 光路上，并被配置為變換經(jīng)過所述準直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被配置為使所述準直透鏡沿著光軸方向移動，并改變進入所述物鏡的光束的角度以校正球面 像差，其中，所述第一光盤的保護層厚度小于所述第二光盤的保護層厚度，并且其中，所述 物鏡在環(huán)境溫度是0°c至70°C、對應的所述第一光盤的保護層厚度是70 i! m至105 i! m、并 且與所述第一光盤對應的所述光束的波長\ 1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜 慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過使所述準 直透鏡移動來校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過使所述物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧 形像差的比率。在制造具有由塑料制成的所述物鏡的所述光學拾取器時，所述方法包括以 下步驟將導光光學系統(tǒng)安裝到基體構件，所述導光光學系統(tǒng)將所述光束導引到所述物鏡； 將所述物鏡保持于透鏡保持器，使得由所述導光光學系統(tǒng)導引到所述物鏡的所述光束的光 軸與所述物鏡的光軸基本一致；調(diào)節(jié)所述光學拾取器，使得所述光學拾取器相對于所述光 盤以最優(yōu)地校正由于所述物鏡對于所述第一光盤導致的初始慧形像差的角度傾斜；以及計 算使用所述慧形像差產(chǎn)生單元最優(yōu)地校正由于所述物鏡對于所述第二光盤導致的初始慧 形像差的慧形像差校正量，并將計算得到的所述慧形像差校正量存儲在存儲單元中。此外，根據(jù)本發(fā)明的另一個示例實施例，提供了一種控制光學拾取器的方法。這 里，所述光學拾取器包括單個物鏡，其被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到具有不 同厚度的保護層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述物鏡的 光束中產(chǎn)生慧形像差；準直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的 光路上，并被配置為變換經(jīng)過所述準直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被 配置為使所述準直透鏡沿著光軸方向移動，并改變進入所述物鏡的光束的角度以校正球面 像差，其中，所述第一光盤的保護層厚度小于所述第二光盤的保護層厚度；其中，所述物鏡 在環(huán)境溫度是0°c至70°C、對應的所述第一光盤的保護層厚度是70 i! m至105 i! m、并且與所 述第一光盤對應的所述光束的波長\ 1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜慧形像差 靈敏度為0至0. 3 [ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過使所述準直透鏡移 動來校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過使所述物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的 比率；并且其中，所述物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導引到所述物鏡的導 光光學系統(tǒng)導引的所述光束的光軸與所述物鏡的光軸基本一致。在控制所述光學拾取器使 得所述光學拾取器相對于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述物鏡對于所述第一光盤的導致 的初始慧形像差的角度傾斜時，所述方法包括以下步驟識別所安裝的光盤的類型；當通 過所述識別步驟識別出所述光盤是所述第一光盤時，在不使用所述慧形像差產(chǎn)生單元的情 況下對于所述第一光盤執(zhí)行信息信號的再現(xiàn)；以及當通過所述識別步驟識別出所述光盤是 所述第二光盤時，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元來對于所述第二光盤執(zhí)行信息信號的再現(xiàn)。根據(jù)本發(fā)明的實施例，物鏡由塑料制成以增強制造性和減輕重量，并且減小了由 于環(huán)境溫度變化引起的慧形像差以改善記錄和/或再現(xiàn)特性。


圖1是圖示根據(jù)本發(fā)明的實施例的光盤裝置的框圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器的立體圖；圖3是圖示根據(jù)本發(fā)明的實施例保持被包括在光學拾取器中的物鏡的透鏡保持 器和支撐透鏡保持器的支撐體的平面圖4是圖示根據(jù)本發(fā)明的實施例被包括在光學拾取器中的光學系統(tǒng)的平面圖；圖5是根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器的剖視圖，其示意性地圖示了被包括在 光學拾取器中的第一光學系統(tǒng)的一部分；圖6A和6B是圖示根據(jù)本發(fā)明的實施例被包括在光學拾取器中的第一物鏡與第一 導光光學系統(tǒng)之間的關系，其中圖6A是圖示第一物鏡的光軸和第一導光光學系統(tǒng)的光軸 被布置為彼此一致的狀態(tài)的圖，圖6B是圖示在用于與本實施例比較的比較示例中，第一物 鏡的光軸和第一導光光學系統(tǒng)的光軸被布置為彼此傾斜的狀態(tài)的圖；圖7是圖示以相對于光盤的相對角度調(diào)節(jié)根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器的 狀態(tài)的圖；圖8是圖示在根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器如圖6A和圖7所示構造的情況 下當使用第二物鏡是由物鏡驅(qū)動單元在傾斜方向上驅(qū)動第二物鏡的狀態(tài)的圖；圖9A-9B是圖示當將光學拾取器中包括的第一和第二物鏡安裝在透鏡保持器中 時使慧形像差朝向徑向配置的平面圖；圖10是圖示根據(jù)環(huán)境溫度變化來改變透鏡傾斜慧形像差靈敏度的狀態(tài)的圖，其 圖示了在常溫以及高溫和低溫環(huán)境下所產(chǎn)生的慧形像差量相對于透鏡傾斜量的關系；圖11是圖示根據(jù)光學拾取器與光盤之間的相對傾斜角度改變慧形像差量的狀態(tài) 的圖，其圖示了所產(chǎn)生的慧形像差量相對于盤傾斜量的關系；圖12是光盤裝置的立體圖，用于圖示用于調(diào)節(jié)根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取 器的偏斜的偏斜調(diào)節(jié)機構；圖13是用于將在根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器中由于溫度變化引起的慧形 像差的改變與如圖6B所示調(diào)節(jié)的現(xiàn)有技術中的光學拾取器進行比較，其圖示了最優(yōu)盤傾 斜量相對于溫度變化而產(chǎn)生的變化；圖14A至14C是圖示在根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器中包括的第一和第二 物鏡的光束經(jīng)過區(qū)域中產(chǎn)生的溫度梯度的圖，其中圖14A是圖示在物鏡和透鏡保持器的區(qū) 域中的溫度分布的立體圖；圖14B是圖示在物鏡和透鏡保持器的區(qū)域中的溫度分布的平面 圖；并且圖14C圖示了在透鏡保持器的區(qū)域的截面位置中的溫度變化，其中縱軸表示在經(jīng) 過第一和第二物鏡的光軸的直線上的徑向位置，而橫軸表示溫度；圖15A至15C是用于圖示線圈電流量與慧形像差之間的關系的圖，其中圖15A圖 示了線圈電流量機器頻率，圖15B圖示了線圈電流量與慧形像差之間的關系，并且圖15C圖 示了慧形像差及其頻率；圖16A和16B是用于圖示在根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器中的各個物鏡的安 裝方向的圖，其中圖16A圖示了各個物鏡被安裝為使得在各個物鏡中產(chǎn)生的各種慧形像差 指向徑向的狀態(tài)，并且圖16B圖示了根據(jù)光學拾取器和光盤的相對角度的調(diào)節(jié)來減小第一 光盤的電流慧形像差和第三光盤的離軸慧形像差的狀態(tài)；圖17A至17D是用于圖示計算在根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器中、在使用第 一和第二物鏡的各個情況下使慧形像差減小的最優(yōu)相對角度的方法的圖，其中圖光線17a 圖示了通過圖17B中的測量裝置獲得的分布，圖17B圖示了包括干涉儀或波前傳感器的測 量裝置，而圖17C圖示了通過圖17D中的測量裝置獲得的分布，圖17D圖示了對光點進行監(jiān) 控的測量裝置；
圖18是用于圖示計算在根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器中、在使用第一和第 二物鏡的各個情況下使慧形像差減小的最優(yōu)相對角度的方法的圖，其圖示了波動、RF幅值、 TE幅值和誤差率；圖19是用于圖示根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器的制造方法的流程圖；圖20是用于圖示根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器的控制方法的記錄和/或再 現(xiàn)方法的流程圖；圖21是圖示根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的光學拾取器中包括的光學系統(tǒng)的平面 圖；圖22是圖示在圖21的光學拾取器中包括的物鏡的示例的剖視圖；圖23A至23C是用于圖示在圖21的光學拾取器中包括的物鏡與導光光學系統(tǒng)之 間的關系的圖，其中圖23A圖示了物鏡的光軸和導光光學系統(tǒng)的光軸彼此一致的狀態(tài)，圖 23B圖示了以相對于光盤的相對角度調(diào)節(jié)光學拾取器的狀態(tài)，并且圖23C圖示了在對于第 一波長如圖23A和圖23B所示構造關系的情況下，當使用第二波長等時由物鏡驅(qū)動單元沿 著傾斜方向驅(qū)動物鏡的狀態(tài)；并且圖24是圖示在根據(jù)本發(fā)明的又一實施例的光學拾取器中包括的光學系統(tǒng)的平面 圖。
具體實施例方式以下將按照以下順序參照附圖來說明根據(jù)
具體實施例方式1.光盤裝置的總體構造2.光學拾取器的總體構造(第一實施例)3.物鏡的透鏡傾斜慧形像差敏感度的溫度特性4.初始慧形像差的校正5.光學拾取器的相對于光盤的相對角度調(diào)節(jié)6.光學拾取器的作用和效果7.物鏡的慧形像差的方向和安裝方向8.光學拾取器的制造方法9.光學拾取器的控制方法10.光學拾取器的另一示例(第二實施例)11.光學拾取器的又一示例(第三實施例)12.光盤裝置的效果1.光盤裝置的總體構造此后，將參照

使用根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器的光盤裝置。如圖1所示，根據(jù)本發(fā)明的實施例的光盤裝置1包括光學拾取器3，其對光盤2執(zhí) 行信息的記錄和/或再現(xiàn)；以及芯軸電動機光線4，其是用于使光盤2轉(zhuǎn)動的驅(qū)動單元。此 外，光盤裝置1包括進給電動機5，其使光學拾取器3在光盤2的徑向上進給。光盤裝置1 是能夠針對其中層疊有不同格式的記錄層的三種光盤類型進行記錄和/或再現(xiàn)的、實現(xiàn)三 種標準之間的兼容的光盤裝置。上述光盤2是能夠使用具有約405nm波長(藍紫色)的半導體激光器作為光源進行高密度記錄的諸如BD (藍光盤(注冊商標))之類的高密度記錄第一光盤11。第一光盤11具有約IOOym的覆層(稱為“保護層”)并受到約400至410nm的第一波長的光束通過 覆層進行的照射。第一光盤包括具有單個記錄層的光盤(覆層的厚度約100 μ m)和具有 兩個記錄層的所謂雙層光盤，并還可以包括多個記錄層。在雙層光盤的情況下，記錄層LO 的覆層的厚度是約100 μ m,并且記錄層Ll的覆層的厚度是約75 μ m。此外，光盤2是使用約655nm波長的半導體激光器作為光源的諸如DVD (數(shù)字萬用 盤)、DVD-R(可記錄)、DVD-RW(可復寫)或DVD+RW(可復寫)之類的第二光盤12。第二光 盤12具有約0. 6mm的覆層，并受到約650至660nm的第二波長的光束通過覆層進行的照射。 多個記錄層可以安裝在第二光盤12中。此外，光盤2是使用約785nm波長的半導體激光器作為光源的諸如⑶(緊致盤)、 ⑶-R(可記錄)或⑶-RW(可復寫)之類的第三光盤13。第三光盤13具有約1.2mm的覆層， 并受到約760至SOOnm的第二波長的光束通過覆層進行的照射。此后，將并不特定為第一至第三光盤11、12和13的光盤簡稱為光盤2。在光盤裝置1中，由基于來自系統(tǒng)控制器7 (其是盤類型識別單元)的命令受到控 制的伺服控制單元9根據(jù)盤的類型來驅(qū)動芯軸電動機4和進給電動機5。根據(jù)例如第一光 盤11、第二光盤12和第三光盤13來以預定的轉(zhuǎn)數(shù)驅(qū)動芯軸電動機4和進給電動機5。光學拾取器3是具有兼容三種波長的光學系統(tǒng)的光學拾取器，并且用具有不同補 償?shù)墓馐ㄟ^光盤的保護層來照射具有不同標準的光盤的記錄層。光學拾取器3檢測來自 記錄層的光束的反射光。光學拾取器3根據(jù)檢測到的反射光來輸出與各光束對應的信號。光盤裝置1包括基于從光學拾取器3輸出的信號來產(chǎn)生聚焦誤差信號、尋軌誤差 信號和RF信號等的前置放大器14。此外，光盤裝置1包括用于對來自前置放大器14的信 號進行解調(diào)或?qū)碜酝獠坑嬎銠C17等的信號進行調(diào)制的信號調(diào)制解調(diào)器以及誤差校正編 碼模塊(此后，稱為信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊)15。此外，光盤裝置1包括接口 16、D/A及 A/D轉(zhuǎn)換器18、音視頻處理單元19、以及音視頻信號輸入輸出單元20。前置放大器14基于從光電檢測器輸出的信號使用象散法來產(chǎn)生聚焦誤差信號， 并還使用三光束法、DPD、DPP等來產(chǎn)生尋軌誤差信號。此外，前置放大器14產(chǎn)生RF信號并 將RF信號輸出到信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15。此外，前置放大器14將聚焦誤差信號和尋 軌誤差信號輸出到伺服控制單元9。當針對第一光盤11執(zhí)行數(shù)據(jù)記錄時，信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15對從接口 16或 D/A及A/D轉(zhuǎn)換器18輸出的數(shù)字信號進行如下處理。即，當針對第一光盤第一光盤11記錄 數(shù)據(jù)時，信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15通過諸如LDC-ECC和BIS之類的誤差校正方法對所 輸入的數(shù)字信號進行誤差校正處理。然后，信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15執(zhí)行諸如1-7PP 之類的調(diào)制處理。而且，當針對第二光盤12記錄數(shù)據(jù)時，信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15根 據(jù)諸如PC (乘積碼)之類的誤差校正方法執(zhí)行誤差校正處理，并接著執(zhí)行諸如8-16調(diào)制之 類的調(diào)制處理。此外，當針對第三光盤13記錄數(shù)據(jù)時，信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15根據(jù) 諸如CIRC之類的誤差校正方法執(zhí)行誤差校正處理，并接著執(zhí)行諸如8-14調(diào)制之類的調(diào)制 處理。此外，信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15向激光器控制單元21輸出調(diào)制數(shù)據(jù)。此外，當 針對各光盤執(zhí)行再現(xiàn)時，信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15基于從前置放大器14輸入的RF信 號來執(zhí)行與調(diào)制方法相對應的解調(diào)處理。此外，信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15執(zhí)行誤差校正處理以將數(shù)據(jù)輸出到接口 16或D/A及A/D轉(zhuǎn)換器18。當通過數(shù)據(jù)壓縮記錄數(shù)據(jù)時，可以在信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15與接口16或D/ A及A/D轉(zhuǎn)換器18之間安裝壓縮解壓單元。在此情況下，通過MPEG2或MPEG4來壓縮數(shù)據(jù)。聚焦誤差信號或?qū)ぼ壵`差信號從前置放大器14輸入到伺服控制單元9。伺服控 制單元9產(chǎn)生聚焦伺服信號或?qū)ぼ壦欧盘柺沟镁劢拐`差信號或?qū)ぼ壵`差信號變?yōu)?，并 基于伺服信號控制用于驅(qū)動物鏡的諸如雙軸致動器之類的物鏡驅(qū)動單元。此外，通過來自 前置放大器14的輸出來檢測同步信號等，并因此借助于CLV (恒定線速度)、CAV (恒定角速 度)或其組合來伺服控制芯軸電動機。激光器控制單元21控制光學拾取器3的激光源。具體而言，在具體示例中，激光 器控制單元21執(zhí)行控制使得激光源的輸出功率在記錄模式和再現(xiàn)模式下不同。此外，激光 器控制單元21執(zhí)行控制使得根據(jù)光盤2的類型改變激光源的輸出功率。激光器控制單元 21根據(jù)由盤類型識別單元22檢測到的光盤2的類型切換光學拾取器3的激光源。盤類型識別單元22可以檢測第一光盤11、第二光盤12和第三光盤13之間來自表 面反射的反射光量的變化、形狀和外觀的區(qū)別等，并可以檢測光盤2的不同格式。用于形成光盤裝置1的每個模塊被配置為使得根據(jù)盤類型識別單元22中的檢測 結果來執(zhí)行基于被安裝的光盤2的規(guī)格進行的信號處理。系統(tǒng)控制器7根據(jù)盤類型識別單元22中識別的光盤2的類型來控制整個裝置。 此外，系統(tǒng)控制器7基于位于光盤的最內(nèi)圈的預主凹坑或槽中記錄的地址信息或內(nèi)容表 (TOC)、根據(jù)來自用戶的操作輸入來控制各部分。即，系統(tǒng)控制器7基于上述信息來指定光 盤的記錄位置或再現(xiàn)位置以用于執(zhí)行記錄和再現(xiàn)，并根據(jù)指定位置控制各部分。具有這種構造的光盤裝置1通過芯軸電動機4使光盤2轉(zhuǎn)動。此外，光盤裝置1 根據(jù)來自伺服控制單元9的控制信號來控制進給電動機5的驅(qū)動，并將光學拾取器3移動 到與光盤2的期望記錄軌道相對應的位置，來因而針對光盤2執(zhí)行信息的記錄和再現(xiàn)。具體而言，當由光盤裝置1執(zhí)行信息的記錄和再現(xiàn)時，伺服控制單元9借助于CAV 或CLV或其組合來使光盤2轉(zhuǎn)動。光學拾取器3通過其光源發(fā)射光束并通過其光電檢測器 檢測從光盤2返回的光束，并產(chǎn)生聚焦誤差信號或?qū)ぼ壵`差信號。此外，光學拾取器3基于 聚焦誤差信號或?qū)ぼ壵`差信號來由物鏡驅(qū)動機構驅(qū)動物鏡，以執(zhí)行聚焦伺服和尋軌伺服。此外，當由光盤裝置1記錄信息時，來自外部計算機17的信號通過接口 16輸入到 信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15。信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15將上述預定的誤差校正編碼 添加到從接口 16或D/A及A/D轉(zhuǎn)換器18輸入的數(shù)字數(shù)據(jù)，并執(zhí)行預定的調(diào)制處理以接著 產(chǎn)生記錄信號。激光器控制單元21基于在信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15中產(chǎn)生的記錄信 號來控制光學拾取器3的激光源，以在預定光盤中記錄信息。此外，當由光盤裝置1再現(xiàn)光盤2中記錄的信息時，信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15 對由光電檢測器檢測到的信號執(zhí)行解調(diào)處理。如果由信號調(diào)制解調(diào)器&ECC模塊15解調(diào)得 到的記錄信號被用于計算機的數(shù)據(jù)存儲，則記錄信號通過接口 16輸出到外部計算機17。因 此，外部計算機17可以基于光盤2中記錄的信號進行操作。此外，如果由信號調(diào)制解調(diào)器 &ECC模塊15解調(diào)的記錄信號被用于音視頻，則記錄信號在D/A及A/D轉(zhuǎn)換器18中從數(shù)字 轉(zhuǎn)換為模擬，以供應到音視頻處理單元19。在音視頻處理單元19中執(zhí)行音視頻處理，并通 過音視頻信號輸入輸出單元20輸出到外部揚聲器或監(jiān)視器(未示出)。
2.光學拾取器的總體構造(第一實施例)接著，將相機說明根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器3。此后，光學拾取器3針對 三種類型的光盤11、12和13執(zhí)行信息信號的記錄或再現(xiàn)，但是這不是限制性的，而是被用 作示例。例如，可以針對兩種不同類型的光盤11和12執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。 根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器3包括第一和第二光源31和32，第一和第二光 源31和32包括發(fā)射具有上述不同波長的多種光束的半導體激光器等。此外，光學拾取器 3包括作為對從光盤2的信號記錄表面反射的反射光束進行檢測的光檢測元件的光電二極 管。此外，光學拾取器3包括將來自第一和第二光源31和32的光束導引到光盤2并將在 光盤2中反射的光束導引到光檢測元件的光學系統(tǒng)。這里，第一光源31包括發(fā)射具有第一波長的光束的發(fā)光單元，第一波長是與第一 光盤11對應的約405nm的設計波長。第二光源32包括發(fā)射具有第二波長的光束的發(fā)光單 元，第二波長是與第二光盤12對應的約655nm的設計波長。此外，第二光源32包括發(fā)射具 有第三波長的光束的發(fā)光單元，第三波長是與第三光盤13對應的約785nm的設計波長。在 第二光源32中，第二波長發(fā)光單元和第三波長發(fā)光單元在與將在下文說明的第二物鏡34 的慧形像差的方向?qū)姆较蛏喜⑿胁贾?。如圖2所示，光學拾取器3安裝在拾取器基體50上，拾取器基體50是各種部件的 安裝基體，并被安裝為在光盤裝置1的殼體內(nèi)沿著光盤2的徑向R移動。拾取器基體50用 作所謂滑動基體，并與主軸62和副軸63耦合，主軸62和副軸63是安裝在光盤裝置1的機 殼內(nèi)的導引軸。拾取器基體50被支撐在主軸62和副軸63上以在其徑向上移動。圖2和 隨后的圖中的箭頭RI表示徑向中朝向內(nèi)周的方向，并且箭頭R0表示徑向中朝向外周的方 向。此外，如圖3所示，光學拾取器3包括保持多個物鏡33和34的透鏡保持器52，其 使從光源發(fā)射的光束聚焦并使聚焦的光束向光盤出射。透鏡保持器52用作致動器驅(qū)動單 元并通過用作制動器支撐單元的支撐體53上的多個用作支撐臂的支持懸架54被支撐為在 尋軌方向或聚焦方向上進行位移。這里，支撐體53被布置為距透鏡保持器52具有在切線 方向Tz上的間隔，并安裝在拾取器基體50上。此外，作為支撐臂的懸架54將透鏡保持器 52支撐為相對支撐體53沿著聚焦方向F和尋軌方向T移動。透鏡保持器52、支撐體53和懸架54與將在下文說明的各個線圈56、57a至57d以 及磁體58組合形成了物鏡驅(qū)動單元51。物鏡驅(qū)動單元51沿著聚焦方向F和尋軌方向T驅(qū) 動物鏡33和34。此外，物鏡驅(qū)動單元51用作傾斜校正機構，其沿著傾斜方向Tir驅(qū)動對 第一和第二物鏡33和34進行支撐的透鏡保持器52以成為傾斜。以此方式，物鏡驅(qū)動單元 51是能夠沿著聚焦方向、尋軌方向和傾斜方向驅(qū)動透鏡保持器52和由透鏡保持器52支撐 的物鏡的所謂三軸致動器。此外，第一和第二物鏡33和34形成光學拾取器3的光學系統(tǒng)的一部分。第一物 鏡33是具有與0. 85的相對孔徑(NA)的由塑料制成的單個物鏡。第二物鏡34是對于第二 波長具有約0. 6至0. 65的相對孔徑(NA)并且具有第三波長具有約0. 45至0. 53的相對孔 徑(NA)的由塑料制成的單個物鏡。塑料的第一和第二物鏡33和34相比現(xiàn)有技術的玻璃透 鏡可以提高制造性或減輕重量。將在此后說明的光學拾取器3的構造被配置為解決在與諸 如BD之類的高密度記錄光盤對應的第一物鏡33由塑料制成的情況下產(chǎn)生的問題。因此，第二物鏡34不限于塑料，例如可以由玻璃形成。 在光學拾取器3中，多個物鏡33和34與徑向R(尋軌方向T)平行地布置，但是物 鏡的數(shù)量不限于此。例如，多個物鏡可以沿著切向Tz布置。作為將從第一和第二光源31和32發(fā)射的光束導引到光盤2的光學系統(tǒng)，以第一 和第二光學系統(tǒng)為例。第一光學系統(tǒng)將從第一光源31發(fā)射的第一波長的光束通過物鏡33 導引到作為第一光盤11的光盤2。如圖4所示，這樣的第一光學系統(tǒng)包括將第一波長的光 束導引到第一物鏡33的第導光光學系統(tǒng)28，以及第一物鏡33。第二光學系統(tǒng)將從第二光源32發(fā)射的光束 通過第二物鏡34導引到作為第二或第三光盤12或13的光盤2。如圖4所示，這樣的第二 光學系統(tǒng)包括將第二和第三波長的光束導引到第二物鏡34的第二導光光學系統(tǒng)29，以及 第二物鏡34。首先，將參照圖4說明形成第一光學系統(tǒng)的第一導光光學系統(tǒng)28。第一導光光學 系統(tǒng)28包括第一光柵35，第一光柵35使從第一光源31發(fā)射的第一波長的光束衍射并將 衍射光束劃分為至少三束以檢測尋軌誤差信號等。此外，第一導光光學系統(tǒng)28包括第一準 直透鏡36，第一準直透鏡36是將由第一光柵35延伸的光束的發(fā)散角變換為期望角度的例 如近似平行光束的發(fā)散角變換元件。此外，第一導光光學系統(tǒng)28包括第一立起反射鏡41， 第一立起反射鏡41使由第一準直透鏡36變換的近似平行光束反射，并將反射光束朝向第 一物鏡33和光盤2導引。此外，第一導光光學系統(tǒng)28包括四分之一波片49，四分之一波 片49安裝在第一立起反射鏡41與物鏡33之間并對入射光束提供1/4波長的相位差(見 圖5)。圖4是用于圖示各個光學部件和物鏡位置關系的平面圖，其為了圖4中的圖示簡單 的目的沒有圖示四分之一波片49，但是四分之一波片49被安排在圖5中示出。形成第一光 學系統(tǒng)的物鏡33將由第一立起反射鏡41建立并通過四分之一波片49的光束聚焦在光盤 的記錄表面上。此外，第一導光光學系統(tǒng)28包括偏振分束器38，偏振分束器38安裝在第一 光柵35與第一準直透鏡36之間。第一導光光學系統(tǒng)28的第一偏振分束器38用于將由物 鏡33聚焦并由光盤反射的光束的光路與由第一光源31發(fā)射的光束的光路分離。此外，第 一導光光學系統(tǒng)28包括第一光電檢測器39，第一光電檢測器39接收并檢測由偏振分束器 38分出的返回光束。此外，第一導光光學系統(tǒng)28包括多透鏡40，多透鏡40安裝在偏振分 束器38與第一光電檢測器39之間并將由偏振分束器38分出的防范會光束聚焦到第一光 電檢測器39的感光表面上。第一光電檢測器39在感光表面中感測由多透鏡40聚焦的光 束，并將信息信號(RF信號)輸出到前置放大器14，檢測諸如尋軌誤差信號和聚焦誤差信號 之類的各種信號，并將信號輸出到伺服控制單元9。被包括在第一導光光學系統(tǒng)28中的第一準直透鏡36移動以校正由例如溫度變 化、覆層的厚度誤差等所產(chǎn)生的球面像差，并根據(jù)第一物鏡33的位置變換入射到第一物鏡 33的光束的發(fā)散角。換言之，第一準直透鏡36可沿光軸方向運動。驅(qū)動第一準直透鏡36 以使其沿著光軸方向移動的準直透鏡驅(qū)動單元48安裝在光學拾取器3中。準直透鏡驅(qū)動 單元48可以例如通過進給電動機使導引螺桿轉(zhuǎn)動，以使第一準直透鏡36移動。準直透鏡 驅(qū)動單元48可以如物鏡驅(qū)動單元那樣通過與在磁體和線圈中流動的電流協(xié)作來使第一準 直透鏡36移動。此外，可以使用線性電動機等。第一準直透鏡36移動使得光束在與平行 光相比在略微匯聚的匯聚光束的狀態(tài)下或者略微發(fā)散的發(fā)散光束的狀態(tài)下進入第一物鏡33，從而減小所產(chǎn)生的球面像差。以此方式，準直透鏡驅(qū)動單元48通過使第一準直透鏡36 沿著光軸方向移動、改變進入物鏡33的光束的角度和改變?nèi)肷浔堵?，來對球面像差進行校 正。執(zhí)行用于根據(jù)溫度變化或覆層厚度的誤差來調(diào)節(jié)第一準直透鏡36的位置的計算 的控制單元27被安裝在光學拾取器3中。RF信號從第一光電檢測器39輸入到控制單元 27?？刂茊卧?7監(jiān)視輸入的RF信號的波動量，并驅(qū)動準直透鏡驅(qū)動單元48以使第一準直 透鏡36移動，從而執(zhí)行球面像差校正。為了根據(jù)溫度變化執(zhí)行第一準直透鏡36的位置調(diào) 節(jié)，可以與物鏡相鄰地安裝溫度檢測元件。在此情況下，來自溫度檢測元件的溫度信號被輸 入到控制單元27。在此情況下，控制單元27基于溫度信號或溫度信號的波動量以及RF信 號來驅(qū)動準直透鏡驅(qū)動單元48，以執(zhí)行球面像差校正。在光學拾取器針對具有多個記錄層的光盤執(zhí)行信息信號的記錄和再現(xiàn)的情況下， 第一準直透鏡36移動到對于各記錄層合適的位置。此時，第一準直透鏡36通過經(jīng)由聚焦 搜索檢測表面反射率的變化并讀取信息信號來移動到對于各記錄層合適的位置。此時，第 一準直透鏡36移動到根據(jù)每個記錄層的位置以減小由于從每個記錄層到光盤的光入射側 的表面的厚度(稱為“覆層厚度”)的不同導致的球面像差。即，第一準直透鏡36和準直 透鏡驅(qū)動單元48可以針對多個記錄層中的每個層合適地形成光束的光束點。以此方式，第 一準直透鏡36等可以被驅(qū)動以沿著光軸方向移動來改變引向第一物鏡33的光束的入射倍 率，從而減小由溫度變化或覆層厚度的變化導致的球面像差，并形成合適的光束點。如上所述，第一準直透鏡36和準直透鏡驅(qū)動單元48用作改變對于第一物鏡33的 光束入射倍率的入射倍率改變單元。這里，被包括在光學拾取器3中的入射倍率改變單元 不限于此，而可以是所謂光束擴展器、或液晶元件等。如上所述，被包括在第一光學系統(tǒng)的第一物鏡33由被安裝在光學拾取器3中的物 鏡驅(qū)動單元51保持以移動。由物鏡驅(qū)動單元51基于尋軌誤差信號和聚焦誤差信號(根據(jù) 由第一光電檢測器39檢測到的來自光盤2的返回光所產(chǎn)生)來使物鏡33進行位移。因此， 第一物鏡33可以在與光盤2相鄰地間隔的方向(聚焦方向)和光盤2的徑向(尋軌方向) 的雙軸方向上進行位移。物鏡33使光束聚焦，使得來自第一發(fā)光單元的光束被定常地聚焦 在光盤2的記錄表面上，并使得聚焦光束遵循光盤2的記錄表面上形成的記錄軌道。物鏡 驅(qū)動單元51用作使透鏡保持器52沿著傾斜方向傾斜但在使用第一物鏡33的情況下不執(zhí) 行沿著傾斜方向傾斜的傾斜校正機構。換言之，當對第一光盤進行記錄和再現(xiàn)時，不使用傾 斜校正機構，并且即使物鏡及其周邊部件的溫度環(huán)境發(fā)生變化，也維持其當前狀態(tài)。即，物 鏡驅(qū)動單元51不執(zhí)行透鏡保持器52在傾斜方向上的傾斜。此外，當通過記錄沖或制造誤差的轉(zhuǎn)換導致光盤2的覆層厚度的變化時，或者當 存在環(huán)境溫度變化時，已經(jīng)通過使準直透鏡36向光軸方向移動而改變了入射倍率的光束 進入第一物鏡33。第一物鏡33通過入射倍率的變化來恒定地校正(即減小)球面像差。此外，如圖5和圖6A所示，第一物鏡33被安裝為使得有第一導光光學系統(tǒng)28導 引的光束的光軸L28與第一物鏡33的光軸L33基本一致。這里，如上所述，第一導光光學 系統(tǒng)28表示在與第一光盤對應的第一光學系統(tǒng)中，除了被安裝為在物鏡驅(qū)動單元51中得 到驅(qū)動的第一物鏡33之外的光學部件。第一物鏡33的光軸表示將形成了第一物鏡33的 入射側和出射側的光學表面連接到軸線。當將第一物鏡33安裝在透鏡保持器52中時，不像現(xiàn)有技術中那樣通過考慮導光光學系統(tǒng)、物鏡等等初始慧形像差進行傾斜調(diào)節(jié)來安裝第 一物鏡33，而是將第一物鏡33安裝為與第一導光光學系統(tǒng)28的光軸一致。關于此，在現(xiàn) 有技術的“物鏡的組裝調(diào)節(jié)”中，如圖6B所示的比較示例進行調(diào)節(jié)。在如圖6B所示的比較 示例的情況下，物鏡133的光軸L133通過初試慧形像差而相對于導光光學系統(tǒng)128的光軸 L128傾斜，并被組裝在透鏡保持器52中。同時，在如圖6A所示的光學拾取器3中，第一物 鏡33調(diào)節(jié)第一物鏡33的光軸以將第一物鏡33在不偏移的基準狀態(tài)下安裝在透鏡保持器 52中。具體而言，第一物鏡33被安裝為使得有第一導光光學系統(tǒng)28導引并進入第一物鏡 33的光束的光軸與第一物鏡33的光軸基本一致。這里，基本一致包括安裝誤差的范圍，并 且在有第一導光光學系統(tǒng)28導引并進入第一物鏡33的光束的光軸與第一物鏡33的光軸 之間的角度在O士0.25°的情況下可以充分獲得將在下文說明的效果。可以通過使光學拾 取器3相對于光盤沿著相對傾斜方向傾斜來去除導光光學系統(tǒng)或物鏡33的各種光學部件 的所謂初始慧形像差，其將在下文說明。 以此方式，當具有第一光學系統(tǒng)的光學拾取器3形成光盤裝置1時，如圖7所示調(diào) 節(jié)光學拾取器3的傾斜角度，從而防止當使用第一物鏡33時產(chǎn)生的初始慧形像差。具體而 言，下文將在“5.光學拾取器的相對于光盤的相對角度調(diào)節(jié)”中詳細說明光學拾取器3的傾 斜角度的調(diào)節(jié)。此外，當使用第一物鏡33來再現(xiàn)具有厚度tl的覆層的光盤時，物鏡驅(qū)動單 元51不用做傾斜校正機構。在此情況下，即使第一物鏡33或其周邊部件的溫度環(huán)境發(fā)生 變化，光學拾取器3也在維持其當前狀態(tài)的同時執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。接著，將參照圖4說明被包括在第二光學系統(tǒng)中的第二導光光學系統(tǒng)29。第二導 光光學系統(tǒng)29至少包括第二光柵43，第二光柵43使第二光源32發(fā)射的第二和第三波長的 光束衍射，并將衍射光束劃分為至少三束。此外，第二導光光學系統(tǒng)29包括第二準直透鏡 44，第二準直透鏡44將有第二光柵43衍射的光束的發(fā)散角變換為近似平行光束。此外，第 二導光光學系統(tǒng)29包括彎折反射鏡45，彎折反射鏡45反射由第二準直透鏡44變換的近似 平行光束，并將光束的光路改變在與聚焦方向F基本垂直的平面中。此外，第二導光光學系 統(tǒng)29包括第二立起反射鏡42，第二立起反射鏡42再次反射從彎折反射鏡45反射的光束， 并將再次反射的光束朝向第二物鏡34和光盤2導引。如上述第一導光光學系統(tǒng)中那樣， 在第二導光光學系統(tǒng)29中，四分之一波片可以安裝在第二立起反射鏡42與第二物鏡34之 間。此外，被包括在第二光學系統(tǒng)中的第二物鏡34將由第二立起反射鏡42立起的光束聚 焦在光盤的信號記錄表面上。此外，第二導光光學系統(tǒng)29包括分束器46，分束器46被安 裝在第二光柵43與第二準直透鏡44之間的光路上。第二導光光學系統(tǒng)29的分束器46將 由第二物鏡34聚焦并由光盤反射的返回光束的光路與從第二光源32發(fā)射的光束的光路分 離。第二導光光學系統(tǒng)29包括第二光電檢測器47，第二光電檢測器47接收并檢測由分束 器46分出的返回光束。此外，第二光電檢測器47在接收表面中接收光束，將信息信號(RF 信號)輸出到前置放大器14，檢測諸如尋軌誤差信號和聚焦誤差信號之類的各種信號，并 將信號輸出到伺服控制單元9。如上所述，包括第二光學系統(tǒng)的第二物鏡34被安裝在光學拾取器3中的物鏡驅(qū)動 單元51保持以進行移動。通過物鏡驅(qū)動單元51基于由第二光電檢測器47檢測到的來自 光盤2的光盤2的返回光束所產(chǎn)生的尋軌誤差信號和聚焦誤差信號，來使第二物鏡34進行 位移。因此，第二物鏡34沿著聚焦方向和尋軌方向的雙軸方向進行位移。第二物鏡34對光束進行聚焦，以定常地將來自第二和第三發(fā)光單元的光束聚焦在光盤2的記錄表面上， 并使得聚焦光束遵循形成在光盤2的記錄表面上的記錄軌道。第二物鏡34可以沿著第二 物鏡34的傾斜方向以及上述雙軸方向傾斜，并可以如圖8所示通過物鏡驅(qū)動單元51沿著 傾斜方向Tir傾斜。換言之，第二物鏡34以預先確定的預定最優(yōu)角度被物鏡驅(qū)動單元51 沿傾斜角度傾斜以如下所述最大程度地減小慧形像差。沿著傾斜方向傾斜的第二物鏡34 可以將光學拾取器3設定為使得在兩個物鏡被安裝在透鏡保持器52中的情況下，第一物鏡 33處于如圖7所示的最優(yōu)狀態(tài)。即，在光學拾取器3被如圖7所示設定的狀態(tài)下使用第二 物鏡34時，第二物鏡34受到傾斜驅(qū)動，從而在最優(yōu)狀態(tài)下執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。這里，在使用 對應透鏡的情況下第二物鏡34受到靜態(tài)傾斜驅(qū)動，但是第二物鏡34可以受到動態(tài)傾斜驅(qū) 動。例如，可以通過物鏡驅(qū)動單元51基于由第二光電檢測器47檢測到的RF信號等使第二 物鏡34沿著傾斜方向傾斜。利用這樣的構造，第二物鏡34可以進一步減小慧形像差。此 外，作為上述傾斜校正機構的物鏡驅(qū)動單元51在進入第二物鏡34的光束中產(chǎn)生用于抵銷 的慧形像差，以減小慧形像差。即，物鏡驅(qū)動單元51用做慧形像差產(chǎn)生單元，但是可以通過 如下文所述安裝液晶元件等來調(diào)節(jié)慧形像差。以此方式，物鏡驅(qū)動單元51在使用第一物鏡33的情況下不執(zhí)行沿著傾斜方向的 傾斜，而在使用第二物鏡34的情況下執(zhí)行沿著傾斜方向的傾斜。換言之，當對于第二光盤 執(zhí)行記錄和再現(xiàn)時，使用作為傾斜校正機構的物鏡驅(qū)動單元51來使透鏡保持器52傾斜，以 獲得最優(yōu)記錄環(huán)境。這里，如圖2所示，傾斜方向表示所謂徑向傾斜方向Tir，其是繞與上述聚焦方向F 和尋軌方向T垂直的切向Tz為中心的軸線轉(zhuǎn)動方向。即，第二物鏡34可以沿著所謂切向 傾斜方向(其是繞尋軌方向為中心的軸線轉(zhuǎn)動方向)被驅(qū)動。但是，因為如下文所述物鏡 33和34的慧形像差沿著徑向布置在光學拾取器3中，所以需要沿著徑向傾斜方向Tir驅(qū)動 物鏡。此外，在動態(tài)進行傾斜校正的情況下，可以沿著四軸方向驅(qū)動物鏡，其中可以沿著徑 向傾斜方向和切向傾斜方向驅(qū)動物鏡。第二光學系統(tǒng)可以被構造為驅(qū)動準直透鏡，并可以被構造為與上述第一光學系統(tǒng) 相似校正溫度變化時的球面像差等。除了這樣的構造，當工具環(huán)境溫度變化存在入射倍率 的變化時，可以通過物鏡驅(qū)動單元51使第二物鏡34沿著傾斜方向傾斜，從而去除慧形像差。此外，第二物鏡34優(yōu)選地被安裝為使得由第二導光光學系統(tǒng)29導引到光束的光 軸與第二物鏡34的光束的光軸基本一致。這里，如下文所述，因為兩個物鏡被安裝在透鏡 保持器52中，所以首先調(diào)節(jié)上述第一物鏡33的光軸。在以上說明中，在與第一光盤對應的第一導光光學系統(tǒng)28以及與第二和第三光 盤對應的第二導光光學系統(tǒng)29中的每一者中安裝專用的光學部件，但是此構造不是限制 性的，而是用做示例。即，可以在第一和第二光學系統(tǒng)中共用兼容的光學部件。但是，上述第一物鏡33和第二物鏡34被組裝在透鏡保持器52中，使得慧形像差 的方向基本恒定。以此方式，安裝有兩個或更多個物鏡的光學拾取器3具有如下特征各個 物鏡33和34的慧形像差的方向被構造為基本相同，從而將第一物鏡33和第二物鏡34組 裝在作為致動器的物鏡驅(qū)動單元51中。利用這樣的構造，如圖7所示，光學拾取器3傾斜， 使得第一物鏡33處于最優(yōu)狀態(tài)，這也可以使第二物鏡34有利地進行工作(見圖16B)。換言之，可以有效地減小兩個物鏡的距最優(yōu)傾斜位置的誤差波動。
此外，在根據(jù)本實施例的光學拾取器3中，如圖9所示，第一物鏡33和第二物鏡34 中的每一者被組裝在透鏡保持器52中，使得慧形像差沿著徑向方向(例如朝向外側R0)布 置?？蛇x地，第一物鏡33和第二物鏡34可以被構造為使得慧形像差朝向內(nèi)側RI布置。這里，將對具體安裝方法進行說明。第一物鏡33和第二物鏡34檢測沿著周向以預 定劃分數(shù)量分別劃分的區(qū)域中慧形像差所指向的區(qū)域。例如，第一物鏡33和第二物鏡34檢 測在與光軸垂直的平表面中被均等劃分的區(qū)域中慧形像差所指向的區(qū)域，因此將對應區(qū)域 的中間位置的方向認定為慧形像差的方向。表示慧形像差的方向的諸如門切口(gate-cut) 之類的認定單元W和N2被安裝在第一物鏡33和第二物鏡34中除了光束經(jīng)過的有效區(qū)域 之外的區(qū)域中。在附圖中，附圖中的區(qū)域Rl表示第一物鏡33的對于第一波長的光束的有 效區(qū)域，區(qū)域R2和R3分別表示第二物鏡34的對于第二和第三波長的光束的有效區(qū)域。在 使用由塑料制成的物鏡的情況下，因為作為其制造因素的型腔是恒定的，所以對于每一批 產(chǎn)品而言慧形像差的方向是基本恒定的，因此，可以構思在每一批所制造的透鏡中測量多 個慧形像差的方向。在此情況下，對于其中門切口附和N2所安裝的方向，檢測門切口 m 和N2的中間位置相對于方向Cl和C2的角度θ 1、θ 2。這里，認定慧形像差沿著相對于門 切口附和Ν2偏離了預定角度Θ1和θ 2的方向布置，因此，第一物鏡33和第二物鏡34被 組裝在透鏡保持器52中。表示這樣的慧形像差的認定單元不限于門切口，而可以設置為比 例線(scale line)。此外，認定單元可以被構造為包括門切口和比例線兩者，并可以在這 種情況下以更高的精度進行安裝。此外，基于認定單元m和N2，將其中慧形像差的方向Cl 和C2被認定的第一物鏡33和第二物鏡34組裝在透鏡保持器52中，使得慧形像差的方向 指向徑向。但是，如圖3和5所示，產(chǎn)生沿著尋軌方向T (其基本是光盤2的徑向)的驅(qū)動力的 尋軌線圈56被安裝在其上保持上述物鏡33和34的透鏡保持器52中。此外，產(chǎn)生沿著接 近和原理光盤的聚焦方向的驅(qū)動力的聚焦線圈57a至57d被安裝在透鏡保持器52中。與 尋軌線圈56以及聚焦線圈57a至57d相對地布置在拾取器基體50上的磁體58向?qū)ぼ壘€ 圈56和聚焦線圈57a至57d提供了預定磁場。驅(qū)動電流被供應到尋軌線圈56以及聚焦線圈57a至57d。如果電流被供應到各個 線圈，則物鏡驅(qū)動單元51驅(qū)動以通過供應到各個線圈的電流與來自磁體的磁場的相互作 用使透鏡保持器52沿著尋軌方向T和聚焦方向F進行位移。結果，由透鏡保持器52支撐的第一物鏡33和第二物鏡34被驅(qū)動以沿著聚焦方向 F和/或?qū)ぼ壏较騎進行位移。即，執(zhí)行聚焦控制，使得通過第一物鏡33和第二物鏡34入 射到光盤的光束被聚焦在光盤的信號記錄表面上。此外，執(zhí)行尋軌控制，使得經(jīng)過第一物鏡 33和第二物鏡34的光束遵循形成在光盤中的記錄軌道。此外，物鏡驅(qū)動單元51引起與尋軌方向T平行地布置的聚焦線圈57a和57d與聚 焦線圈57b和57c的驅(qū)動力的差異，從而驅(qū)動透鏡保持器52沿著徑向傾斜方向Tir進行位 移。結果，由透鏡保持器52支撐的第二物鏡34被驅(qū)動以沿著傾斜方向進行位移，因此 可以減小在使用第二物鏡34來聚焦光束的情況下的慧形像差。即，由于通過第二物鏡34 入射到光盤的光束造成的光點形狀可以被調(diào)節(jié)為最優(yōu)狀態(tài)。
這里，通過使聚焦線圈57a至57d的驅(qū)動力產(chǎn)生差異來進行傾斜驅(qū)動，但是該構造 不是限制性的，而是用做示例。此外，可以安裝傾斜線圈和傾斜線圈磁體，并因而可以執(zhí)行 各種傾斜控制。具有這種構造的光學拾取器3根據(jù)所安裝的光盤的類型，從被安裝在第一光源31 和第二光源32中的發(fā)光單元發(fā)射屬于第一至第三波長的光束中的具有與光盤的類型相對 應的波長的光束。此外，光學拾取器3基于由第一光電檢測器39和第二光電檢測器47檢測 到的返回光束所產(chǎn)生的聚焦伺服信號和尋軌伺服信號，來驅(qū)動第一物鏡33或第二物鏡34。 因此，光學拾取器3執(zhí)行聚焦伺服和尋軌伺服。在光學拾取器3中，第一物鏡33和第二物 鏡34被驅(qū)動以進行位移，并移動到對于光盤2的信號記錄表面的聚焦位置。因此，光學拾 取器3在光束被聚焦在光盤2的記錄軌道上的情況下對于光盤2執(zhí)行信息信號的記錄或再 現(xiàn)。此外，光學拾取器3通過使用由塑料制成的第一物鏡33作為其部件提高了制造性 或減輕了重量。此外，光學拾取器3解決了由于通過使用與諸如BD之類的高密度記錄光盤 對應的塑料第一物鏡33而根據(jù)溫度變化產(chǎn)生的透鏡傾斜慧形像差的變化所導致的問題。 關于此，此后將對“3.物鏡的透鏡傾斜慧形像差敏感度的溫度特性”進行說明。3.物鏡的透鏡傾斜慧形像差敏感度的溫度特性接著，將說明被包括在根據(jù)本實施例的光學拾取器3中的第一物鏡33的透鏡傾斜 慧形像差靈敏度的溫度特性。如前所述，與玻璃產(chǎn)品相比，塑料物鏡具有由于環(huán)境溫度變化導致的顯著的球面 像差變化，并引起記錄和再現(xiàn)特性的劣化。具體而言，在能夠以大數(shù)值孔徑進行高密度記錄 的光盤中，這樣的特性劣化會引起顯著的問題。關于此，如上所述，通過驅(qū)動第一準直透鏡 36來改變?nèi)肷涞降谝晃镧R33的光束的入射角度，即，通過改變?nèi)肷浔堵剩梢孕Ｕ蛎嫦?差。此時，通過改變光束相對于第一物鏡33的入射角度，改變當物鏡傾斜(稱為“透鏡傾 斜”)時產(chǎn)生的慧形像差量。具體而言，如圖10所示，如果透鏡傾斜慧形像差靈敏度在約35°C的常溫的情況下 處于由LN表示的狀態(tài)，則透鏡傾斜慧形像差靈敏度在約70°C的情況下減小到LH。另一方 面，在約0°C的低溫情況下，透鏡傾斜慧形像差靈敏度增大到LC。以此方式，圖10表示在相 同透鏡傾斜角度的情況下產(chǎn)生的慧形像差根據(jù)驅(qū)動準直透鏡而產(chǎn)生的入射倍率的變化而 顯著地變化。換言之，與透鏡傾斜角度相對應的慧形像差隨著環(huán)境溫度變化而顯著地變化。此外，如果與現(xiàn)有技術的玻璃透鏡相似地將這樣的塑料物鏡在物鏡傾斜以校正慧 形像差的狀態(tài)下安裝在致動器的透鏡保持器中，則發(fā)生以下問題。即，在安裝現(xiàn)有技術的物 鏡時，使用物鏡傾斜以安裝在透鏡保持器中來去除由物鏡或包括在導光光學系統(tǒng)中的部件 產(chǎn)生或者由這些部件的組裝精度產(chǎn)生的慧形像差。這已經(jīng)參照圖6B進行了說明。因此，在 常溫的情況下，可以將慧形像差設定為幾乎0。即，在常溫的情況下，要校正的慧形像差量和 由物鏡的傾斜調(diào)節(jié)產(chǎn)生的慧形像差量相同。但是，如圖10所示，因為透鏡傾斜慧形像差靈敏度根據(jù)由于溫度變化引起的入射 倍率的變化而變化，所以在高溫和低溫環(huán)境下，由物鏡的傾斜調(diào)節(jié)產(chǎn)生的慧形像差量如實 線LH和LC表示發(fā)生變化。此外，如在高溫和低溫環(huán)境中，在透鏡傾斜慧形像差靈敏度發(fā)生 變化的情況下，結果仍存在慧形像差，或者產(chǎn)生更顯著的慧形像差。
關于此，更具體而言，假定由包括在光學拾取器中的光學部件產(chǎn)生或者由部件的 組裝誤差產(chǎn)生的慧形像差為Y。在此情況下，物鏡沿著抵消慧形像差的方向傾斜了透鏡傾 斜量a，以安裝在透鏡保持器中，其中使用0 1/a作為常溫靈敏度，透鏡傾斜量a滿足Y =3 1。在此情況下，在高溫的情況下，慧形像差被少校正了(日1' -0 1)的量。此外，在 低溫的情況下，慧形像差被多校正了(0 1" -0 1)的量。在過多量或不足量變大的情況下， 光盤的記錄和再現(xiàn)特性劣化。如圖6A所示，根據(jù)本實施例的光學拾取器3被布置在透鏡保持器52中，使得通過 第一導光光學系統(tǒng)28導引到第一物鏡33的光束的光軸與第一物鏡33的光軸一致。S卩，第 一物鏡33相對于透鏡保持器52不傾斜地布置。因此，在不會根據(jù)上述溫度變化影響透鏡 傾斜慧形像差靈敏度的情況下，可以防止由于溫度變化引起的慧形像差的變化。接著，在如 圖6A所示的構造中，將在“4.初始慧形像差的校正”中對象有技術中如圖6B所示通過使物 鏡傾斜來減小初始慧形像差的減小方法進行說明。4.初始慧形像差的校正在光學拾取器3中，通過在形成光盤裝置1時調(diào)節(jié)光盤2和光學拾取器3的相對 傾斜來執(zhí)行初始慧形像差的校正。具體而言，在形成光盤裝置1時光學拾取器3執(zhí)行如圖 7所示的沿著光學拾取器3的偏斜方向SK的偏斜調(diào)節(jié)，以調(diào)節(jié)光盤2和光學拾取器3的相 對傾斜，并限制初始慧形像差。這里，偏斜方向SK對應于上述傾斜方向Tir并與傾斜方向 Tir相似沿著繞切向Tz為中心的軸線旋轉(zhuǎn)方向傾斜。即，當光盤2和光學拾取器3相對傾 斜時產(chǎn)生慧形像差，并且在傾斜角度與慧形像差量之間存在特定關系。將在“5.光學拾取 器的相對于光盤的相對角度調(diào)節(jié)”中對沿著光學拾取器3的傾斜方向調(diào)節(jié)偏斜角度進行說 明。此外，為了調(diào)節(jié)這種相對傾斜，對其上安裝光盤2的盤安裝單元進行偏斜調(diào)節(jié)。 即，盤安裝單元67的盤安裝基準表面67a可以相對于光學拾取器3傾斜。在此情況下，光 學拾取器3和安裝在盤安裝單元67中的光盤以如下所述的角度相對傾斜所述角度使得盤 安裝單元傾斜來最優(yōu)地校正慧形像差。這里，將與上述圖10相比，參照圖11詳細說明對光盤2和光學拾取器3的相對傾 斜進行調(diào)節(jié)并校正初始慧形像差的處理。所產(chǎn)生的慧形像差的量相對于相對傾斜的比率被 稱為盤傾斜靈敏度。這里，圖10和11圖示了在第一光盤的覆層的厚度tl是100 i! m的情況 下在球面像差校正之后慧形像差的量。具體而言，圖10圖示了透鏡傾斜慧形像差靈敏度， 圖11圖示了盤傾斜慧形像差靈敏度。由光學拾取器3中包括的光學部件或者這些部件的組裝誤差所產(chǎn)生的慧形像差 如上所述由Y表示。在此情況下，透鏡傾斜量a被設定為零，接著在組裝光學拾取器時執(zhí) 行以下調(diào)節(jié)。即，光學拾取器3沿著徑向傾斜方向Tir傾斜，光學拾取器3沿著通過盤傾斜 量S抵消慧形像差的方向傾斜，其中利用由圖11中的實線LD表示的盤傾斜靈敏度32/ 6，盤傾斜量S滿足Y= 0 2。關于此，如上所述，光盤傾斜基準表面可以傾斜，使得光盤傾 斜。在此情況下，因為a竺0，(3 1' -3 1)竺0并且(3 1〃 -3 1)竺0。通常，盤傾斜靈 敏度根據(jù)溫度而基本恒定。通過采用如圖7所示的方法，即使存在溫度變化慧形像差也不 顯著變化，因此可以優(yōu)選地維持對于光盤的記錄和再現(xiàn)特性。但是，如圖7所示，光學拾取器3在約士0.5°的范圍內(nèi)受到傾斜調(diào)節(jié)，使得光學拾取器3以如下角度相對于光盤2相對傾斜，所述角度使得最優(yōu)地校正由于第一物鏡33引 起的對于第一光盤的初始慧形像差。具體而言，光學拾取器3被安裝為使得當?shù)谝晃镧R33 的中心軸線與光盤安裝基準表面之間的角度在約90士0. 5°的范圍內(nèi)時最優(yōu)地校正慧形像 差。此后，將對在約士0.5°的范圍內(nèi)最優(yōu)地校正慧形像差的處理進行說明。在與具有第一波長X 1和覆層厚度tl的第一光盤對應的第一物鏡中，將光學拾取 器3的慧形像差是0. 05 A rms且各傾斜靈敏度如下的情況作為示例進行說明。作為另一個 條件，高溫透鏡傾斜靈敏度是0.01入rms/°，常溫透鏡傾斜靈敏度是0.08入rms/°，低溫 透鏡傾斜靈敏度是0. 15入rms/°，而盤傾斜靈敏度是0. 10入rms/°。在現(xiàn)有技術中，如圖 6B所示，在常溫下，透鏡傾斜0. 05/0. 08 = 0. 625°來校正慧形像差。在此情況下，因為在 高溫下校正約0. 625X0.01 = 0. 006 A rms的慧形像差，所以產(chǎn)生了 0. 044 A rms的慧形像 差校正不足量。此外，因為在低溫下校正約0.625X0. 15 = 0. 094 A rms的慧形像差，所以 產(chǎn)生了 0. 044 A rms的慧形像差校正過多量。這里，如果將標準化的光盤的傾斜量0士0.35°轉(zhuǎn)換為盤傾斜靈敏度，則其為 0. 035 Arms 0在對于通常的馬雷查爾極限(Marechal limit) 0. 07 X rms考慮光盤的影響的 情況下，需要將光學拾取器的像差減小到馬雷查爾極限的一半或更小。但是，因為產(chǎn)生了超 過60%的像差，所以盤讀取能力會劣化超過馬雷查爾極限。在光盤讀取能力劣化的情況下， 可以構思利用作為傾斜校正機構的物鏡驅(qū)動單元51來動態(tài)地校正慧形像差。但是，因為透 鏡傾斜靈敏度在高溫下較低，所以即使傾斜校正機構動態(tài)地操作也難以校正慧形像差。在光學拾取器3中，如圖6A所示，在不使第一物鏡33傾斜的情況下，如圖7所示 的光盤的光盤安裝基準表面與光學拾取器之間的相對角度傾斜了慧形像差量/盤傾斜靈 敏度，即0.05/0. 1 = 0.5°。利用這種構造，校正了光學拾取器3的慧形像差。在此情況下，在與具有第二波長\ 2和覆層厚度t2的第二光盤對應的第二物鏡 中，光學拾取器3的慧形像差相對于在光盤安裝基準表面和光學拾取器的相對傾斜時產(chǎn)生 的慧形像差的關系不是彼此一致的。在此情況下，利用作為傾斜校正機構的物鏡驅(qū)動單元 51,優(yōu)選地在最優(yōu)再現(xiàn)條件下維持光盤讀取能力。5.光學拾取器的相對于光盤的相對角度調(diào)節(jié)接著，將參照圖12對用于調(diào)節(jié)光學拾取器與光盤之間的相對角度的方法進行說 明。具體而言，如圖12所示，在光盤裝置1中安裝有主軸62和副軸63，主軸62和副軸63 作為被插入到拾取器基體50中并支撐拾取器基體50沿著光盤的徑向的移動的導引軸，光 學拾取器3安裝在拾取器基體50上。此外，光盤裝置1包括偏斜調(diào)節(jié)機構64，偏斜調(diào)節(jié)機 構64安裝在主軸62和主軸62中每一者的相對兩個端部。每個偏斜調(diào)節(jié)機構64均包括例 如彈簧65和調(diào)節(jié)螺栓66，彈簧65從聚焦方向F的上側支撐主軸62和副軸63中相應一者 的，調(diào)節(jié)螺栓66與主軸62和副軸63中的相應一者的下部接觸并向?qū)бS中的相應一者施 壓以調(diào)節(jié)主軸62和副軸63中相應一者的豎直高度。根據(jù)主軸62和副軸63中每一者的相 對兩側的高度受到偏斜調(diào)節(jié)機構64的調(diào)節(jié)，光學拾取器3在調(diào)節(jié)徑向傾斜方向的傾斜角度 的情況下以預定的安裝高度安裝在光盤裝置1中。例如，在觀察光學拾取器3的輸出時，偏 斜調(diào)節(jié)機構64的調(diào)節(jié)螺栓進行轉(zhuǎn)動以調(diào)節(jié)作為導引軸的主軸62和副軸63中相應一者的 相對兩側的高度，因此，對光學拾取器3進行調(diào)節(jié)。用于確定偏斜量的方法不限于此，其將 參照圖17和18進行說明。即，根據(jù)借助于偏斜調(diào)節(jié)機構64進行的徑向傾斜方向的偏斜角，光學拾取器3在上述限制初始慧形像差的狀態(tài)下安裝在光盤裝置1中。偏斜調(diào)節(jié)機構的構 造不限于上述示例，而可以采用能夠進行光學拾取器3的偏斜調(diào)節(jié)的任意構造。此外，可以 采用其中可以對其上安裝光盤的盤安裝單元進行偏斜調(diào)節(jié)的構造。即，盤安裝單元67的盤 安裝基準表面67a可以相對于光學拾取器3傾斜。6.光學拾取器的作用和效果如上所述，根據(jù)本實施例的光學拾取器3對應于諸如BD之類的高密度記錄，并在 塑料第一物鏡33的光軸與第一導光光學系統(tǒng)28的光軸一致的狀態(tài)下安裝在透鏡保持器52 中。這里，第一導光光學系統(tǒng)28的光軸表示由第一導光光學系統(tǒng)28導引并入射到第一物鏡 33的光束的光軸。此外，相對于盤安裝基準表面67a，光學拾取器3被調(diào)節(jié)為傾斜以校正第 一物鏡33的初始慧形像差。以此方式，在考慮第一物鏡33的透鏡傾斜慧形像差靈敏度的溫 度特性的情況下對光學拾取器3進行構造。利用這樣的構造，當存在環(huán)境溫度變化事，光學 拾取器3可以減少慧形像差的改變，即可以在減少慧形像差的狀態(tài)下執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。因 此，光學拾取器3通過利用塑料的第一物鏡33提高了制造性并減輕了重量，并且利用在考 慮了透鏡傾斜慧形像差靈敏度的波動的情況下的構造，即使在存在環(huán)境溫度變化時也實現(xiàn) 了優(yōu)選地記錄和再現(xiàn)特性。對于這樣的構造，將參照圖13對減少慧形像差的波動的情況進行說明。圖13是圖 示具有如參照圖6A所述的構造的第一物鏡33以及作為比較示例的如參照圖6B所述的第 一物鏡133的情況下盤傾斜量根據(jù)溫度變化而變化的圖。橫軸表示溫度變化，縱軸表示通 過將慧形像差的剩余量轉(zhuǎn)換為盤傾斜量而獲得的值。換言之，由縱軸表示抵消剩余慧形像 差的盤傾斜量。標記LT133表示在比較示例的情況下的傾斜變化，并且基于溫度的傾斜變 化在這樣的比較示例中較大。這意味著在比較示例的構造中，在高溫情況下必須更大程度 地執(zhí)行傾斜校正，其可能超過根據(jù)物鏡驅(qū)動單元的構造的需要傾斜變化。此外，這意味著在 低溫下傾斜校正角度可以較小，但是靈敏度變高，因此不可以執(zhí)行精細的調(diào)節(jié)，或者可以在 由于沖擊等改變角度的情況下產(chǎn)生極顯著的慧形像差。此外，圖中的標記LT33表示在如用 于形成上述光學拾取器3的第一物鏡33中的構造的情況下的傾斜變化，并表示在本實施例 中基于溫度的傾斜變化較小。這意味著在本實施例中傾斜靈敏度的變化較小。這里，如圖 中的標記Zti所示，存在與0 °的偏差，但是如圖7所示，可以通過調(diào)節(jié)光學拾取器3與光盤 安裝基準表面之間的相對角度來校正該偏差量。換言之，利用如圖6A和7所示的構造，在 常溫下慧形像差的剩余量可以變小，并且可以減少由于溫度變化引起的慧形像差的改變。即，光學拾取器3被布置為使得在工作狀態(tài)下入射第一物鏡33的光束與將形成第 一物鏡33的光入射側和光出射側的光學表面的中心連接的軸線平行，并在工作狀態(tài)下維 持該關系。光學拾取器3可以防止環(huán)境溫度下慧形像差的變化。因此，光學拾取器3可以 防止當使用與高密度記錄光盤對應的第一物鏡33時在高溫和低溫環(huán)境下記錄和再現(xiàn)能力 的劣化。此外，光學拾取器3在再現(xiàn)第一光盤時即使環(huán)境溫度變化也不使用作為傾斜校 正 機構的物鏡驅(qū)動單元51，并在再現(xiàn)第二光盤時驅(qū)動傾斜校正機構以使透鏡保持器52傾斜 來獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。此外，光學拾取器3的第一物鏡33在環(huán)境溫度是0°C至70°C、第一光盤的保護層 厚度是70 μ m至105 μ m、并且光束的波長λ 1是398nm至414nm的條件下滿足預定的靈敏度。在這樣的條件下，在通過移動第一準直透鏡36來校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下，第 一物鏡33傾斜從而具有在具有對應的第一波長\ 1的光束中產(chǎn)生的慧形像差的比率范圍 內(nèi)的特征。具體而言，在這樣的條件下，作為與透鏡傾斜對應的慧形像差的比率的透鏡傾斜 慧形像差靈敏度滿足0至0.3入rms/°。這是因為，透鏡在該條件下具有超過0. 3入rms/° 的透鏡傾斜慧形像差靈敏度的情況下，在使得光束的光軸和透鏡的光軸彼此一致時產(chǎn)生 的制造誤差等可以忽略。此外，這還因為，這樣的透鏡被配置為使得由于時間變化或環(huán)境 變化引起的光束的光軸與透鏡的光軸之間的相對變化可以忽略。此外，這還因為，這樣的 透鏡被配置為當透鏡保持器沿著聚焦方向和尋軌方向發(fā)生位移時由于透鏡保持器的姿態(tài) 變化引起的光束的光軸與透鏡的光軸之間的相對變化可以忽略。以此方式，在上述條件 下，優(yōu)選地，透鏡傾斜慧形像差靈敏度是0至0.3入rms/°。此外，在上述條件下具有0至 0. 3入rms/°的透鏡傾斜慧形像差靈敏度的物鏡可以通過如參照圖6A和7所述的構造來獲 得上述效果。7.物鏡的慧形像差的方向和安裝方向接著，在光學拾取器3中，將對如參照圖9說明的在第一物鏡33和第二物鏡34的 慧形像差指向徑向方向的情況下的優(yōu)點進行說明。如上所述，在光學拾取器3中產(chǎn)生的慧 形像差包括物鏡本身的慧形像差、準直透鏡或其他光學部件的慧形像差、以及通過光學部 件的組裝誤差產(chǎn)生的慧形像差。此外，在由塑料制成的物鏡中，需要考慮在光束經(jīng)過區(qū)域中 存在溫度梯度的情況下產(chǎn)生的慧形像差。即，當在經(jīng)過區(qū)域中存在溫度梯度時，折射率對于 各個區(qū)域不同，因此產(chǎn)生慧形像差。此外，由于用于驅(qū)動透鏡致動器的線圈產(chǎn)生的熱以及通 過光盤的旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的風阻損耗，而產(chǎn)生溫度梯度。這里，將參照圖14A至14C對在光學拾取器3中包括的第一物鏡33和第二物鏡34 的光束經(jīng)過區(qū)域中產(chǎn)生的溫度梯度進行說明。參照圖14A和14B，相比與DVD等對應的第二 物鏡34，在與例如BD等對應的第一物鏡33中產(chǎn)生非對稱溫度分布。在物鏡中產(chǎn)生非對稱 溫度分布的情況下，折射率對于各分布位置產(chǎn)生變化。在存在如圖14A和14B所示的分布 的情況下，在徑向上產(chǎn)生慧形像差。此外，在線圈如圖3所示布置的情況下，產(chǎn)生如圖14A 和14B所示的溫度分布。在圖14A中，標記AT01至AT05分別表示預定溫度范圍的區(qū)域。 這里，標記AT05表示最高溫度，標記AT04、AT03和AT02分別表示逐漸降低的溫度，并且標 記AT01表示最低溫度。在圖14B中，標記AT11至AT15分別表示預定溫度范圍的區(qū)域。這 里，標記AT15表示最高溫度，標記AT14、AT13和AT12分別表示逐漸降低的溫度，并且標記 AT11表示最低溫度。圖14C圖示了在徑向上物鏡溫度分布的截面。在圖14C中，橫軸表示 截面位置，縱軸表示溫度。在圖14C中，在與第一物鏡33對應的截面位置中存在具有臺階 溫度差的溫度分布。由以下四個因素決定了在物鏡中產(chǎn)生的溫度差。第一因素是在保持物鏡的透鏡保 持器的形狀。第二因素是每個線圈與物鏡之間的相對位置關系。第三因素是在線圈中流動 的電流的量。第四因素是可以由光盤的旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的風阻損耗。這里，因為第三和第四因素 是隨著其工作狀態(tài)而顯著變化的，所以基于物鏡的溫度差的慧形像差產(chǎn)生量可以不具有恒 定值。但是，慧形像差的產(chǎn)生方向主要由第一和第二因素決定。因此，可以通過根據(jù)第三 和第四因素而根據(jù)經(jīng)驗假定的平均電流量和風阻損耗計算得到的慧形像差量，來增大芯軸電動機的光盤安裝基準表面與光學拾取器的主軸和副軸的基準表面之間的相對角度。因 此，可以減少基于透鏡溫度的慧形像差的影響。將參照圖15A至15C對此進行說明。圖15A至15C圖示了根據(jù)線圈電流量與慧形 像差之間的關系的慧形像差分布。圖15A圖示了由橫軸表示的線圈電流量和由縱軸表示的 頻率分布。圖15B圖示了線圈電流量與慧形像差之間的關系，其中橫軸表示線圈電流量的 平方值，縱軸表示慧形像差。線圈電流量的平方值與所產(chǎn)生的熱量成正比，并且慧形像差與 盤傾斜成正比。圖15C圖示了根據(jù)圖15A與圖15B之間的關系獲得的分布，其中橫軸表示 包括風阻損耗的慧形像差量，而縱軸表示其頻率。圖中的虛線表示平均慧形像差量。根據(jù)本實施例的光學拾取器3具有如下特性光學拾取器3安裝在透鏡保持器52 中，使得第一物鏡33和第二物鏡34的慧形像差指向同一方向，并沿著徑向。對于這樣的構 造，如圖7所示，由于在其中減小第一物鏡33的初始慧形像差的方向0 p上的相對傾斜，第 二物鏡34的初始慧形像差也可以得到一定程度的減小。即，在使用第二物鏡34的情況下 如參照圖8所述的傾斜角度減小的狀態(tài)下，實現(xiàn)優(yōu)選地記錄和/或再現(xiàn)特性。此外，光學拾取器3具有如下特性由于第一物鏡33和第二物鏡34的溫度差引起 的慧形像差的方向被設定在光盤的內(nèi)周和外周方向(徑向)上。具體而言，第一物鏡33和 第二物鏡34沿著徑向布置，并且線圈布置在第一物鏡33和第二物鏡34的切向方向的相對 兩側。利用這樣的構造，可以將由于第一物鏡33和第二物鏡34的溫度差引起慧形像差的 方向設定為徑向。因此，光學拾取器3可以在平均意義上抵消由于溫度差引起的慧形像差， 從而減少其影響。換言之，光學拾取器與光盤之間的相對角度被確定為傾斜，以預測由在實 際工作狀態(tài)下在物鏡附近產(chǎn)生的熱量或溫度分布所造成的慧形像差，并最大程度地減小在 這種使用狀態(tài)下的慧形像差。因此，光學拾取器3可以防止當使用與高密度記錄光盤對應 的第一物鏡33時由于諸如透鏡附近的線圈之類的熱源引起的記錄和/或再現(xiàn)特性的劣化。 此外，光學拾取器3具有這樣的構造以及物鏡的慧形像差在內(nèi)周和外周方向上相同的上述 構造。因此，光學拾取器3可以通過針對第一物鏡33的如圖7所示的相對角度調(diào)節(jié)來校正 慧形像差，并可以針對第二物鏡34通過如圖8所示借助于物鏡驅(qū)動單元51進行的傾斜調(diào) 節(jié)來校正慧形像差。此外，光學拾取器3具有如下特性在第二光源32中用于第二波長\ 2的發(fā)光單 元和用于第三波長、3的發(fā)光單元沿著與第二物鏡34的慧形像差的方向?qū)姆较蚱叫?地布置。具體而言，用于DVD等所用的第二波長的發(fā)光單元布置在第二光學系統(tǒng)的光軸上， 并且用于CD等所用的第三波長的發(fā)光單元布置為離開第二光學系統(tǒng)的光軸。此外，對于 這種發(fā)光點以離軸方式布置的發(fā)光單元，光束以傾斜方式入射第二物鏡34以將所產(chǎn)生的 離軸慧形像差的方向朝向光盤內(nèi)周和外周方向(徑向)配置。換言之，當將第二光源32形 成為用于DVD或CD的雙波長激光器時，考慮到以下因素來布置以離軸布置方式使用的發(fā) 光點。即，離軸慧形像差沿著其中在第一物鏡33中由通過光學拾取器的相對角度的偏斜調(diào) 節(jié)方向產(chǎn)生的慧形像差來抵消離軸慧形像差的方向布置。因此，光學拾取器3可以通過如 圖7所示的調(diào)節(jié)減小由于離軸布置的影響引起的慧形像差，并且在使用第三波長和第二物 鏡34的情況下可以通過如圖8所示借助于物鏡驅(qū)動單元51進行的傾斜調(diào)節(jié)來校正慧形像 差。利用物鏡本身的慧形像差的方向、由溫度變化引起的慧形像差的方向、以及離軸慧形像 差的方向沿著徑向上彼此一致的上述構造，光學拾取器3可以同時校正在以離軸方式布置的光路中的離軸慧形像差，以及獲得上述效果。即，光學拾取器3對光學拾取器3進行偏斜 調(diào)節(jié)，以對于第一物鏡33進行最優(yōu)化，從而減小由于第二光源32的用于第二和第三波長的 各個發(fā)光點的離軸布置的影響所產(chǎn)生的慧形像差。將參照圖16A和16B對此進一步說明。如圖16A所示，第一物鏡33和第二物鏡34 可以舉例表示為D1至D5的像差。在光學拾取器3中，每個像差的方向被配置在徑向上。 即，首先，當?shù)谝徊ㄩLXI的光束經(jīng)過第一物鏡33時，產(chǎn)生慧形像差D1。慧形像差D2是由 第一物鏡33中的溫度差產(chǎn)生的慧形像差平均值(這里，稱為“電流慧形像差”)。當?shù)诙?長入2經(jīng)過第二物鏡34時，產(chǎn)生慧形像差D3。當?shù)谌ㄩLX 3經(jīng)過第二物鏡34時，產(chǎn)生慧 形像差D4。慧形像差D5是當?shù)诙鈱W系統(tǒng)中第二光源32的用于第三波長的發(fā)光單元34b 以離軸方式布置時在第三波長的光束中產(chǎn)生的離軸慧形像差。在光學拾取器3中，第二光源32的用于第三波長的發(fā)光單元34b被布置為使慧形 像差D2和D5的方向?qū)?，從而獲得以下效果。即，利用這樣的構造，在第一波長的光束中產(chǎn) 生的慧形像差和在第三波長的光束中產(chǎn)生的慧形像差變得相對較小。這樣的構造表示使用 第一波長的情況和使用第三波長的情況的相對盤傾斜變小。光學拾取器3通過這樣的構造 以及如參照圖7所述對于第一物鏡33執(zhí)行最優(yōu)相對角度調(diào)節(jié)的構造而具有以下效果。艮口， 如圖16B所示，在光學拾取器3中，調(diào)節(jié)盤安裝基準表面與光學拾取器之間的相對角度e p 以去除慧形像差D1和D2。因此，光學拾取器3可以減小在第二物鏡34的第三波長的光束 中產(chǎn)生的傾斜剩余量。換言之，在使用第三波長的光束的情況下，光學拾取器3可以通過物 鏡驅(qū)動單元51來減小傾斜角度。8.光學拾取器的制造方法接著，將對根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器3的制造方法進行說明。光學拾取器3的制造方法包括如圖19所示的步驟S1至S6。在步驟S1，將第一導光光學系統(tǒng)28和第二導光光學系統(tǒng)29安裝在作為基體構件 的拾取器基體50中。換言之，在步驟S1，安裝用于形成第一導光光學系統(tǒng)28和第二導光光 學系統(tǒng)29的光學部件。具體而言，在步驟S1，調(diào)節(jié)并布置位于第一立起反射鏡41和第二立起反射鏡42上 的第一光源31和第二光源32，使得第一和第二波長的光束的光軸相對于光學拾取器3的主 軸副軸基準表面豎直地立起。此外，根據(jù)同樣的觀點來調(diào)節(jié)并布置其他光學部件。主軸副 軸基準表面是包括對光學拾取器3進行導引的主軸62和副軸63的中心線的平坦表面。在步驟S1，將第一光源31的用于第一波長的發(fā)光點調(diào)節(jié)為位于第一導光光學系 統(tǒng)28的光軸上。將第一光源31的用于第一波長的發(fā)光點調(diào)節(jié)為使得在經(jīng)過各個光學部件 的光軸之后由第一立起反射鏡41反射的光束被定為為相對于主軸副軸基準表面豎直地立 起。此外，將第二光源32的用于第二波長的發(fā)光點34a調(diào)節(jié)為位于第二導光光學系統(tǒng)29 的光軸上。此外，調(diào)節(jié)第二光源32的用于第二波長的發(fā)光點34a，使得由在經(jīng)過各個光學部 件的光軸之后由第二立起反射鏡42反射的光束定位為相對于主軸副軸基準表面豎直地立 起。但是，第二光源32的用于第三波長的發(fā)光點34b相對于位于光軸上的用于第二波長的 發(fā)光點以離軸的方式定位，并且被調(diào)節(jié)為沿著作為第二物鏡34的慧形像差的方向的徑向 定位(見圖16A和16B)。此外，將用于形成第一導光光學系統(tǒng)28和第二導光光學系統(tǒng)29 的其他部件布置為使得從第一光源31和第二光源32發(fā)射的光束經(jīng)過其他部件的中心。
在步驟S2，將第一物鏡33和第二物鏡34保持在物鏡驅(qū)動單元51的透鏡保持器 52中。 具體而言，在步驟S2，將第一物鏡33和第二物鏡34布置為使得各自慧形像差的方 向沿著徑向(例如，沿著向外方向)彼此一致，并被保持在物鏡驅(qū)動單元51的透鏡保持器 52中。此外，此時，使第一物鏡33和第二物鏡34的光軸盡可能平行地安裝。因此，如下文 所述，將第一物鏡33的光軸調(diào)節(jié)為使得第二物鏡34的光軸也可以成為期望狀態(tài)。在步驟S3，如圖6A所示，將物鏡驅(qū)動單元51安裝在光學拾取器3中，使得第一物 鏡33的光軸與第一導光光學系統(tǒng)28的光軸一致。即，調(diào)節(jié)物鏡的光軸。在步驟S3，將作為致動器保持單元的支撐體53安裝在光學拾取器3的拾取器基 體50中，以將物鏡驅(qū)動單元51安裝在光學拾取器3中。當安裝物鏡驅(qū)動單元51時，傾斜 校正機構處于關閉狀態(tài)。將物鏡驅(qū)動單元51調(diào)節(jié)為使得在作為致動器操作單元的透鏡保 持器52沒有相對于支撐體53沿著傾斜方向發(fā)生位移的狀態(tài)下第一物鏡33的光軸與從第 一導光光學系統(tǒng)28導引的光束的光軸一致。透鏡保持器52沒有沿著傾斜方向發(fā)生位移的 狀態(tài)表示在使用第一物鏡33的情況下成為透鏡保持器52和支撐體53的基準的位置關系。 例如，這樣的狀態(tài)表示相對于透鏡保持器52沒有相對于支撐體53發(fā)生位移的狀態(tài)，透鏡保 持器52沿著光軸方向發(fā)生位移的狀態(tài)。因此，第二物鏡34的光軸變得與第二導光光學系 統(tǒng)29的光軸近似一致，但是首先將執(zhí)行高密度記錄和再現(xiàn)的第一物鏡33的光軸調(diào)節(jié)為最 優(yōu)狀態(tài)。具體而言，將第一物鏡33的光軸調(diào)節(jié)為相對于光學拾取器3的主軸副軸基準表面 豎直。換言之，將該光軸調(diào)節(jié)為使得具有與透鏡的光軸垂直的表面的透鏡外周與主軸副軸 基準表面平行。在步驟S2和S3，調(diào)節(jié)物鏡。在這些步驟中，將第一物鏡33保持在光學拾取器3的 透鏡保持器52中，使得通過第一導光光學系統(tǒng)28導向第一物鏡33的光束的光軸與第一物 鏡33的光軸近似一致。在步驟S4，測量光學拾取器的安裝角度。這里，安裝角度表示用于調(diào)節(jié)光學拾取 器3與光盤安裝基本表面之間的相對角度的安裝角度，即偏斜量。在步驟S4中，測量在使 用第一物鏡33的情況下光學拾取器3與光盤安裝基準表面之間的相對角度的最優(yōu)值。這里，將參照圖17A至17D對用于計算需要偏斜量的方法進行說明。例如，在步驟 S4，使用如圖17B所示包括干涉儀或波前傳感器的測量裝置71來獲得如圖17A所示的輸 出。測量裝置71測量經(jīng)過光學拾取器3 (第一物鏡33如上所述安裝在光學拾取器3中) 的第一物鏡33的光束的慧形像差(入rms)。測量裝置71根據(jù)慧形像差及其盤傾斜靈敏度 來計算最優(yōu)相對角度。這里，獲得如下關系最優(yōu)相對角度(° )是慧形像差Urms)/盤 傾斜靈敏度U rms/° )。此外，將參照圖17C和17D對另一種用于計算需要偏斜量的方法進行說明。在此 方法中，使用如圖17D所示能夠執(zhí)行光點測量的測量裝置72來獲得如圖17C所示的輸出。 如圖17C所示，測量裝置72測量在使其中第一物鏡33如上所述安裝的光學拾取器3傾斜 的情況下經(jīng)過第一物鏡33的光束的光點的形狀。測量裝置72測量第一環(huán)72a的幅值得到 平衡的角度作為最優(yōu)相對角度。此外，將參照圖18對另一種用于計算需要偏斜量的方法進行說明。在此方法中， 0PU評估裝置在改變光學拾取器與光盤安裝基準表面之間的相對角度的情況下測量波動(jitter)等。將其中使波動最小最優(yōu)的相對角度計算作為最優(yōu)相對角度0p。在如圖18 所示的情況下，可以檢測出了波動之外的其他信號，例如，可以將在RF信號或?qū)ぼ壵`差信 號的幅值變?yōu)樽畲蟮那闆r下的相對角度計算作為最優(yōu)角度。此外，可以將當誤差率變得最 小時的角度？)檢測作為最優(yōu)角度。在步驟S4，利用任意方法，計算在使用第一物鏡33的情況下的最優(yōu)角度。此外，對 于步驟S6，測量并檢測在使用第二物鏡34的情況下的最優(yōu)角度。在步驟S5，安裝光學拾取器。在步驟S5，偏斜調(diào)節(jié)機構64調(diào)節(jié)對光學拾取器3進 行支撐的主軸62和副軸63的高度，使得盤安裝基準表面67a與光學拾取器3之間的相對 角度成為在步驟S4中計算得到的最優(yōu)角度。光學拾取器3在最優(yōu)相對角度的狀態(tài)下安裝 在光盤裝置1中。在步驟S4和S5中，調(diào)節(jié)光學拾取器的安裝角度。在這些步驟中，調(diào)節(jié)光學拾取器 3，使得光學拾取器的安裝角度成為相對于光盤的最優(yōu)相對角度。這里，將光學拾取器3調(diào) 節(jié)為在使用第一物鏡的情況下具有最優(yōu)角度。關于此，步驟S4和步驟S5可以被配置為相 同。具體而言，在此情況下，例如在改變光學拾取器3與盤基準表面之間的相對角度的同時 直接測量光學拾取器的像差，接著調(diào)節(jié)光學拾取器3使得像差成為最優(yōu)。步驟S6是最優(yōu)狀態(tài)計算存儲步驟，其中計算并存儲當使用第二物鏡34時代最優(yōu) 傾斜角度。在步驟S6，測量裝置71和72等基于步驟S4中的測量結果來計算當使用第二 物鏡34時代最優(yōu)傾斜角度。即，在S4中，計算當使用第一物鏡33時光學拾取器3的最優(yōu) 相對角度和當使用第二物鏡34時光學拾取器3的最優(yōu)相對角度。測量裝置71和72等基 于兩個最優(yōu)相對角度，計算在如圖7所示以0 p傾斜的光學拾取器3中，當使用第二物鏡 34時如圖8所示的最優(yōu)傾斜角度0A。計算得到的最優(yōu)傾斜角度e A是如下所述的傾斜角 度其使得利用作為傾斜校正機構的物鏡驅(qū)動單元51來最優(yōu)地校正由于第二物鏡34引起 的對于第二和第三光盤的初始慧形像差。在此步驟，光學拾取器3的作為存儲單元的內(nèi)部 存儲器26存儲傾斜角度0A。當執(zhí)行記錄和再現(xiàn)時，如圖8所示，在使用第二物鏡34的情 況下，基于存儲在內(nèi)部存儲器26中的傾斜角度0 A，光學拾取器3通過物鏡驅(qū)動單元51來 使第二物鏡34傾斜。這里，計算在步驟S4計算的第二物鏡34的最優(yōu)傾斜角度，并給予最 優(yōu)傾斜角度計算器資額角度9A，但是這不是限制性的而是用作示例。即，例如，在如圖7所 示安裝的光學拾取器3中，傾斜可以如圖8所示變化，因此，當由第二物鏡34聚焦的光束的 像差變?yōu)樽钚r的角度可以被設定為傾斜角度9 A。這里，關于傾斜角度e A的信息被存儲 在光學拾取器3中的內(nèi)部存儲器26中，但是這不是限制性的而是用作示例。即，作為存儲 傾斜角度e A的存儲單元，可以使用在光盤裝置1的系統(tǒng)控制器7中包括的存儲器或者與 系統(tǒng)控制器7連接的存儲器。以此方式，在光學拾取器3不具有存儲器的情況下，例如使用 二維條形碼等作為存儲單元來存儲在步驟S4計算得到的最優(yōu)傾斜角度e A以用于信息傳 輸。具體而言，能夠可選地讀取包括傾斜角度eA的信息的二維條形碼等通過制造設備產(chǎn) 生以粘附在光學拾取器3的殼體的表面上。當光學拾取器3被組裝在光盤裝置1中時，可 以通過制造設備讀取條形碼，從而將信息存儲在光盤裝置1的存儲單元(存儲器)中。根據(jù)上述光學拾取器制造方法，可以制造具有如下效果的光學拾取器3 在用于 上述高密度記錄光盤的物鏡由塑料制成的情況下，減小隨著溫度變化帶來的慧形像差的改 變。制造方法尤其包括步驟S3，以實現(xiàn)在使用第一物鏡33的情況下減小隨著溫度變化帶來的慧形像差的改變。此外，制造方法尤其包括步驟S6，以減小通過其中第一物鏡33被如上所述最優(yōu)化的光學拾取器而使用第二物鏡針對第二和第三光盤引起的慧形像差。9.光學拾取器的控制方法接著，將參照圖20對光學拾取器3的控制方法進行說明。具體而言，具有上述光 學拾取器3的光盤裝置1執(zhí)行如圖20的流程圖所示的記錄和再現(xiàn)方法，并在記錄和在線中 執(zhí)行光學拾取器3的控制。記錄和再現(xiàn)方法對應于步驟Sll至S17。在步驟S11，如果將光盤2安裝在光盤裝置1的盤安裝單元并操控用于記錄或再 現(xiàn)的開始按鈕，則系統(tǒng)控制器7驅(qū)動激光器控制單元21，使得從第一光源31或第二光源32 發(fā)射光束。此外，在步驟Sll中，系統(tǒng)控制器7驅(qū)動伺服控制單元9中的芯軸電動機4以使 得安裝在盤安裝單元中的光盤2旋轉(zhuǎn)。接著，在步驟S12中，光學拾取器3和盤類型識別單元22檢測由于表面反射率、形 狀和外觀等引起的反射光量的不同，以從而檢測并識別光盤2。根據(jù)光盤識別步驟的結果， 在使用第一波長的光束的情況下，不使用物鏡驅(qū)動單元51的傾斜校正功能，在使用第二和 第三波長的光束的情況下，使用物鏡驅(qū)動單元51的傾斜校正功能。此外，在步驟S12，在識 別為所安裝的光盤是第一光盤11的情況下，處理進行到步驟S13。此外，在步驟S12，在識 別為所安裝的光盤不是第一光盤11的情況下，處理進行到步驟S15。在所安裝的光盤不是 第一光盤11的情況下，所安裝的光盤對應于第二和第三光盤。關于此，所安裝的光盤可以 對應于第二光盤12和第三光盤13中的任一者。在步驟S13，調(diào)節(jié)光學拾取器3的各個部件(第一最優(yōu)化調(diào)節(jié))以利用第一物鏡33 執(zhí)行對于第一光盤的記錄和再現(xiàn)。在步驟S13，控制單元27執(zhí)行控制，使得從第一光源31 發(fā)射第一波長的光束，其具有與記錄或再現(xiàn)對應的強度。此外，控制單元27在系統(tǒng)控制器 7的控制下控制準直透鏡驅(qū)動單元48，以將第一準直透鏡36移動到預定位置。此時，第一 準直透鏡36根據(jù)由盤類型識別單元22檢測到的光盤2的類型而移動到基準位置。此外， 控制單元27通過準直透鏡驅(qū)動單元48使第一準直透鏡36沿著光軸方向略微地移動以校 正球面像差。具體而言，控制單元27使第一準直透鏡36沿著增強由第一光電檢測器39檢 測到的RF信號的質(zhì)量水平的方向(即，沿著使由第一光電檢測器39檢測到的RF信號的波 動量變得最小的方向)移動。在此步驟中，伺服控制單元9基于聚焦誤差信號驅(qū)動物鏡驅(qū) 動單元51，以使第一物鏡33沿著聚焦方向移動，從而執(zhí)行聚焦控制。在此步驟中，控制單元 27不使用物鏡驅(qū)動單元51的傾斜校正功能。換言之，物鏡驅(qū)動單元51不沿著傾斜方向驅(qū) 動透鏡保持器52和第一物鏡33。然后，處理進行到步驟S14。在步驟S14，控制單元27開始對于光盤2進行信息信號的記錄或再現(xiàn)。此時，光 學拾取器3在不使用傾斜校正機構的狀態(tài)下對于第一光盤執(zhí)行信息信號的記錄和再現(xiàn)。此 夕卜，在此步驟，伺服控制單元9基于尋軌誤差信號驅(qū)動物鏡驅(qū)動單元51，以使得第一物鏡33 沿著尋軌方向移動，從而執(zhí)行尋軌控制。在由系統(tǒng)控制器7判定為記錄和再現(xiàn)操作完成的 情況下，處理進行到步驟S17。在步驟S15，調(diào)節(jié)光學拾取器3的每個部件(第二最優(yōu)化調(diào)節(jié))，以使用第二物鏡 34對于第二或第三光盤執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。此后，將說明對于第二光盤執(zhí)行記錄和再現(xiàn)的情 況。在對于第三光盤執(zhí)行記錄和再現(xiàn)的情況，與后述情況相似，執(zhí)行與第三光盤對應的最優(yōu) 化調(diào)節(jié)，并使用傾斜校正機構來執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。在步驟S15，控制單元27執(zhí)行控制，使得從第二光源32的用于第二波長的發(fā)光單元發(fā)射第二波長的光束，其具有與記錄或再現(xiàn)對 應的強度。在步驟S15，例如，控制單元27基于存儲在內(nèi)部存儲器26中的如圖8所示的最優(yōu) 傾斜角度來驅(qū)動物鏡驅(qū)動單元51，以前沿著傾斜方向驅(qū)動透鏡保持器52和第二物鏡34。第 二物鏡34在如上所述減小慧形像差的狀態(tài)下如圖8所示傾斜。在此步驟，伺服控制單元9 基于聚焦誤差信號驅(qū)動物鏡驅(qū)動單元51，以使第二物鏡34沿著聚焦方向移動，從而執(zhí)行聚 焦控制。處理進行到步驟S16。在步驟S16，光學拾取器3開始對于光盤2進行信息信號的記錄或再現(xiàn)。此時，光 學拾取器3使用作為傾斜校正機構的物鏡驅(qū)動單元51以對于第二光盤執(zhí)行信息信號的記 錄或再現(xiàn)。此外，在動態(tài)地執(zhí)行傾斜校正的情況下，伺服控制單元9確定透鏡傾斜校正的量 以減小對于光盤2的翹曲引起的慧形像差，并驅(qū)動物鏡驅(qū)動單元51使第二物鏡34沿著傾 斜方向發(fā)生位移。此外，在此步驟中，伺服控制單元9基于尋軌誤差信號來驅(qū)動物鏡驅(qū)動單 元51，以使得第二物鏡34沿著尋軌方向移動，從而執(zhí)行尋軌控制。在由系統(tǒng)控制器7判定 為記錄和再現(xiàn)操作完成的情況下，處理進行到步驟S17。在步驟S17，激光器控制單元21停止從第一光源31或第二光源32發(fā)射光束，并且 伺服控制單元9停止芯軸電動機4的驅(qū)動。根據(jù)如圖20所示的上述處理，可以基于光盤的類型，針對所使用的各物鏡，在最 優(yōu)化慧形像差時分別執(zhí)行記錄和再現(xiàn)，因此實現(xiàn)了優(yōu)選地記錄和再現(xiàn)特性。即，包括步驟S12至S16的光學拾取器控制方法具有如下特性在使用第一物鏡的 情況下和在使用第二物鏡的情況下判定是否使用物鏡驅(qū)動單元51的傾斜校正功能。即，在 對于第一光盤執(zhí)行記錄或再現(xiàn)的情況下，如圖7所示，光學拾取器3在不使用傾斜校正機構 的狀態(tài)下對于第一光盤執(zhí)行信息信號的記錄或再現(xiàn)。另一方面，在對于第二和第三光盤執(zhí) 行記錄或再現(xiàn)的情況下，如圖8所示，光學拾取器3使用傾斜校正機構對于第二和第三光盤 執(zhí)行信息信號的記錄或再現(xiàn)。上述光學拾取器方法減少了由使用塑料透鏡作為用于高密度記錄的物鏡的光學 拾取器3在存在環(huán)境溫度變化的情況下的慧形像差，從而實現(xiàn)了期望的記錄和再現(xiàn)特性。如上所述，根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器3使用由塑料制成的物鏡來增強制 造性并減輕重量，并且減小了在存在環(huán)境溫度變化的情況下的慧形像差，而實現(xiàn)了期望的 記錄和再現(xiàn)特性。即，光學拾取器3實現(xiàn)了制造性或重量減輕，并同時實現(xiàn)了期望的記錄和 再現(xiàn)特性。在以上說明中，對具有兩個物鏡的光學拾取器3進行了說明，但是本發(fā)明的實施 例不限于此，而可以應用于僅具有一個物鏡的光學拾取器。10.光學拾取器的另一示例(第二實施例)將參照圖21對作為根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器的另一個示例的具有單個 物鏡的光學拾取器80進行說明。這里，因為具有不同數(shù)量物鏡的此實施例的構造與上述光 學拾取器3的相同，所以將相似的附圖標記給予相似的元件，并可以省略其詳細說明。光學拾取器80包括第一光源31、第二光源32和分束器81，分束器81是將來自第 一光源31和第二光源32的光束的光路組合的光路組合元件。此外，光學拾取器80包括替 代上述第一物鏡33和第一準直透鏡36的物鏡82和準直透鏡83，物鏡82和準直透鏡83被配置為具有與第一物鏡33和第一準直透鏡36相同的功能以對于三個波長共用。此外，光 學拾取器80包括替代上述偏振分束器38、多透鏡40和光電檢測器39的偏振分束器84、多 透鏡85和光電檢測器86，偏振分束器84、多透鏡85和光電檢測器86被配置為與上述偏振 分束器38、多透鏡40和光電檢測器39具有相同功能以對于三個波長共用。與第一準直透鏡36相似，用于沿著光軸方向驅(qū)動第一準直透鏡36的準直透鏡驅(qū) 動單元48被安裝在準直透鏡83中。準直透鏡83和準直透鏡驅(qū)動單元48可以減小基于溫 度變化、覆層的厚度變化或盤的類型所產(chǎn)生的球面像差，從而形成合適的光束點。物鏡82是將具有三個不同波長的光束聚焦在具有不同覆層的第一至第三光盤的 信號記錄表面上的物鏡。如圖22所示，物鏡82例如包括具有折射功能的第一元件82A以 及具有衍射功能的第二元件82B，并通過保持器82c將第一元件82A和第二元件82B組合 而具有三波長兼容性。物鏡82例如在安裝在第二元件82B中的衍射單元82B1和82B2對 于第一波長LB1不衍射的狀態(tài)下借助于第一元件82A的折射功能來將第一波長的光束適 當?shù)鼐劢乖诘谝还獗P的信號記錄表面lis上。物鏡82例如被構造為使得安裝在第二元件 82B的光入射表面中的衍射單元82B1對于第二波長LB2執(zhí)行預定的衍射。物鏡82通過第 一元件82A的預定衍射和折射操作來適當?shù)貙⒌诙ㄩL的光束聚焦在第二光盤的信息記 錄表面12s上。此外，物鏡82被構造為使得安裝在第二元件82B的光入射表面中的衍射單 元82B2對于第三波長執(zhí)行預定的衍射。物鏡82通過第一元件82A的衍射操作來適當?shù)貙?第二波長的光束LB3聚焦在第三光盤的信息記錄表面13s上。這里，由于第二元件82B引 起的衍射操作不限于此，并且可以對于第一波長執(zhí)行預定衍射操作。此外，安裝在第二元件 82B中的衍射單元例如具有在多個區(qū)域的每個中的輪匝帶(zona orbicularis)形狀的衍 射結構，并可以被構造為使得在每個區(qū)域?qū)τ诟鞑ㄩL的光束執(zhí)行預定衍射操作。物鏡通過 第二元件82B的衍射功能和第一元件82A的折射功能實現(xiàn)了三波長兼容性。具有三波長兼 容性的物鏡不限于上述兩組構造，例如，具有上述衍射功能的衍射單元可以被安裝為疊置 在具有折射功能的非球表面的透鏡的表面上。與第一物鏡33相似，物鏡82由塑料制成，并被保持以通過物鏡驅(qū)動單元51而進 行移動。由物鏡驅(qū)動單元51基于通過來自光盤2的反射光(其由光電檢測器86檢測)所 產(chǎn)生的尋軌誤差信號和聚焦誤差信號來使物鏡82發(fā)生位移。物鏡82使來自第一至第三 發(fā)光單元的光束遵循形成在對應光盤的記錄表面中的記錄軌道。安裝在光學拾取器80中 的物鏡驅(qū)動單元51在對于第一光盤執(zhí)行記錄或再現(xiàn)時不執(zhí)行使物鏡82沿著傾斜方向的傾 斜。換言之，當對于第一光盤執(zhí)行記錄和再現(xiàn)時，不使用傾斜就校正機構，即使物鏡及其周 圍部件的溫度環(huán)境發(fā)生變化，仍維持其當前狀態(tài)。另一方面，當對于第二和第三光盤執(zhí)行記錄和再現(xiàn)時，與上述第二物鏡34相似， 物鏡驅(qū)動單元51用做傾斜校正機構。即，在第二和第三波長的光束入射的情況下，如圖23C 所示，物鏡驅(qū)動單元51使物鏡82沿著對應傾斜方向傾斜預定最優(yōu)角度0 A，使得最大程度 地減小慧形像差。換言之，當對于第二和第三光盤執(zhí)行記錄和再現(xiàn)時，使用傾斜校正機構， 并因此可以獲得最優(yōu)的記錄環(huán)境和再現(xiàn)環(huán)境。此外，在使用第二和第三光盤的情況下的傾 斜驅(qū)動可以是靜態(tài)的或動態(tài)的。如上所述，能夠在使用第二和第三波長的情況下沿著傾斜方向傾斜的物鏡82在 安裝了對于多個波長具有兼容性的兼容物鏡的構造中具有以下效果。這樣的構造可以允許物鏡82在如圖23B所示使用第一波長的情況下以最優(yōu)狀態(tài)安裝。即，在兼容物鏡中，可以 存在在每個波長的情況下改變對于慧形像差的最優(yōu)安裝角度的情況。此外，可以存在由于 第一至第三波長的光束所經(jīng)過的光學部件的制造誤差或布置誤差等在各波長的光束中產(chǎn) 生的慧形像差發(fā)生變化的情況。此外，在兼容物鏡由塑料制成的情況下，考慮到透鏡傾斜慧 形像差靈敏度的溫度特性，需要首先在使用與高密度記錄對應的第一波長的情況下調(diào)節(jié)安 裝角度。因此，參照圖23B如下文所述對光學拾取器80進行偏斜調(diào)節(jié)，使得減小對于第一 波長的初始慧形像差。利用這樣的構造，如果使用在此狀態(tài)下的物鏡82，則會對于第二和第 三波長產(chǎn)生慧形像差。關于此，在使用第二和第三波長的情況下，能夠沿著傾斜方向傾斜的 物鏡82即使在使用第二和第三波長的情況下也允許在最優(yōu)狀態(tài)下進行記錄和再現(xiàn)。此外，物鏡82被安裝為使得與參照圖6A所述的實施例相似，導光光學系統(tǒng)與光軸 對準。即，如圖23A所示，物鏡82被安裝為使得由導光光學系統(tǒng)87導引的第一波長的光束 的光軸L87與物鏡82的光軸L82近似一致。這里，導光光學系統(tǒng)87表示除了安裝在物鏡 驅(qū)動單元51中以被驅(qū)動的物鏡82之外的光學部件。物鏡82對于第一波長具有與上述第 一物鏡33幾乎相同的特性。即，在上述條件下對于第一波長的透鏡傾斜慧形像差靈敏度被 設定為 0 至 0.3[Xrms/° ]。在具有這種構造的光學拾取器80中，根據(jù)所安裝的光盤的類型，從安裝在第一光 源31和第二光源32中的發(fā)光單元發(fā)射在第一至第三波長的光束中與所安裝的光盤的類型 相對應的波長的光束。此外，光學拾取器80基于通過由第一光電檢測器86檢測到的返回 光束所產(chǎn)生的聚焦伺服信號和尋軌伺服信號來使物鏡82發(fā)生位移。如上所述，通過聚焦在 光盤2的記錄軌道上的伺服信號來使物鏡82發(fā)射位移，光學拾取器80執(zhí)行信息信號的記 錄或再現(xiàn)。因為光學拾取器80中包括的物鏡82的對于第一光盤和第一波長的透鏡傾斜慧形 像差靈敏度的溫度特性與如在“3.物鏡的透鏡傾斜慧形像差敏感度的溫度特性”中說明的 第一物鏡33相同，所以將省略其詳細說明。接著，在光學拾取器80中，將對初始慧形像差的校正、光學拾取器的相對角度調(diào) 節(jié)、以及光學拾取器的功能和效果進行說明，其與以上所述的“4.初始慧形像差的校正”、 “5.光學拾取器的相對于光盤的相對角度調(diào)節(jié)”和“6.光學拾取器的作用和效果”基本相 同。在光學拾取器80中，通過在形成光盤裝置1時調(diào)節(jié)光盤2與光學拾取器80之間 的相對傾斜來執(zhí)行對于第一波長的初始慧形像差的校正。即，如圖23B所示，與參照圖7的 說明相似，對光學拾取器80進行偏斜調(diào)節(jié)，從而限制初始慧形像差。此時，因為物鏡82對 于雙波長和三波長共用，所以對于與作為高密度記錄光盤的第一光盤對應的第一波長執(zhí)行 偏斜調(diào)節(jié)以限制初始像差。根據(jù)本實施例的光學拾取器80具有如下特性塑料物鏡82對應于諸如BD之類的 高密度記錄，并在物鏡82的光軸與導光光學系統(tǒng)87的光軸一致的狀態(tài)下安裝在透鏡保持 器52中。此外，光學拾取器80具有如下特性相對于盤安裝基準表面67a，將光學拾取器80 調(diào)節(jié)以傾斜，使得校正物鏡82對于第一波長的初始慧形像差。以此方式，考慮到物鏡82的 透鏡傾斜慧形像差靈敏度的溫度特性來構造光學拾取器80。利用這樣的構造，光學拾取器 80可以在使用作為短波長的第一波長的光束時在存在環(huán)境溫度變化的情況下減小慧形像差的改變，并因此可以在減小慧形像差的狀態(tài)下執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。因此，光學拾取器80采 用與高密度記錄光盤相對應的塑料物鏡82，從而增強制造性或減輕重量。此外，光學拾取器 80采用考慮了透鏡傾斜慧形像差靈敏度的改變的構造，從而即使在存在環(huán)境溫度變化的情 況下也實現(xiàn)了期望的記錄和再現(xiàn)特性。此外，在光學拾取器80中，除了物鏡的數(shù)量為一個之外，物鏡的慧形像差的方向 和安裝方向與“7.物鏡的慧形像差的方向和安裝方向”中相同。此外，除了物鏡的數(shù)量為 一個之外，光學拾取器80的制造方法與“8.光學拾取器的制造方法”中基本相同。在步驟 S4,與使用第一物鏡33和第二物鏡34的情況下的最優(yōu)角度計算不同的是，計算在使用第一 和第二波長的情況下的最優(yōu)角度。在步驟S5，在使用第一波長的情況下將光學拾取器80調(diào) 節(jié)為最優(yōu)，并且其被安裝至光盤裝置1。此外，在步驟S6，計算在使用第二波長的情況下的 最優(yōu)傾斜角度以存儲在內(nèi)部存儲器26中。根據(jù)這樣的光學拾取器制造方法，可以制作具有如下效果的光學拾取器80 在將 塑料透鏡用做高密度記錄所用的兼容物鏡的情況下慧形像差隨著溫度變化產(chǎn)生的改變得 到減小。此外，除了物鏡的數(shù)量為一個之外，光學拾取器80的控制方法與“9.光學拾取器 的控制方法”中相同。在步驟S14，光學拾取器80在不使用傾斜校正機構的狀態(tài)下對于第 一光盤發(fā)射第一波長的光束以執(zhí)行信息信號的記錄和再現(xiàn)。即，物鏡82不沿著傾斜方向傾 斜。在步驟S16，光學拾取器80利用作為傾斜校正機構的物鏡驅(qū)動單元51對于第二光盤發(fā) 射第二波長的光束以執(zhí)行信息信號的記錄和再現(xiàn)。即，如圖23C所示，物鏡82沿著傾斜方 向傾斜。根據(jù)這樣的光學拾取器控制方法，借助于使用塑料透鏡(其是高密度記錄所用的 兼容物鏡)的光學拾取器80來減小由于環(huán)境溫度變化引起的慧形像差，從而實現(xiàn)了期望的 記錄和再現(xiàn)特性。如上所述，根據(jù)本實施例的光學拾取器80采用塑料物鏡82，以增強制造性并減輕 重量，來減小由于環(huán)境溫度變化引起的慧形像差，從而實現(xiàn)期望的記錄和再現(xiàn)特性。即，光 學拾取器80實現(xiàn)了制造性和重量減輕，并還是先了期望的記錄和再現(xiàn)特性。此外，光學拾 取器80通過共用光學系統(tǒng)或光學部件實現(xiàn)了小型化。在上述光學拾取器3和光學拾取器80中，在執(zhí)行第二和第三光盤的記錄和再現(xiàn)時 通過作為傾斜校正機構的物鏡驅(qū)動單元51來使物鏡傾斜，以減小慧形像差，但是這不是限 制性的，而是用做示例。即，作為傾斜校正機構的物鏡驅(qū)動單元51通過使物鏡傾斜來在由 物鏡聚焦的光束中產(chǎn)生慧形像差，以調(diào)節(jié)信號記錄表面上的慧形像差。換言之，光學拾取器 3和光學拾取器80包括作為對由物鏡聚焦的光束的慧形像差進行調(diào)節(jié)的慧形像差調(diào)節(jié)單 元的物鏡驅(qū)動單元51，但是安裝在光學拾取器中的慧形像差調(diào)節(jié)單元不限于此。即，本發(fā)明 可以應用于具有液晶元件作為慧形像差調(diào)節(jié)單元的光學拾取器。11.光學拾取器的又一示例(第三實施例)此后，將參照圖24對根據(jù)本發(fā)明的實施例的光學拾取器的又一示例并包括液晶 元件作為慧形像差調(diào)節(jié)單元的光學拾取器90進行說明。這里，因為除了安裝液晶元件且物 鏡驅(qū)動單元51是所謂雙軸致動器之外，光學拾取器90的其余構造與光學拾取器3相同，所 以將相似的附圖標記給予相似的元件，并會省略其詳細說明。
如圖24所示，光學拾取器90包括第一光源31和第二光源32、以及第一物鏡33和 第二物鏡34。此外，與光學拾取器3相似，光學拾取器90包括物鏡驅(qū)動單元51，物鏡驅(qū)動 單元51包括透鏡保持器52、支撐體53和懸架54等。但是，為方便解釋，在光學拾取器90 中使用的物鏡驅(qū)動單元51是僅能夠沿著尋軌方向和沿著聚焦方向驅(qū)動物鏡的所謂雙軸致 動器。此外，光學拾取器90包括作為第一導光光學系統(tǒng)28的如下部件第一光柵35、第 一準直透鏡36、第一立起反射鏡41、四分之一波片49、偏振分束器38、第一光電檢測器39 和多透鏡40。此外，光學拾取器90包括作為第二導光光學系統(tǒng)91的如下部件第二光柵43、第 二準直透鏡44、彎折反射鏡45、第二立起反射鏡42、分束器46和第二光電檢測器47。此外， 光學拾取器90包括作為第二導光光學系統(tǒng)91的部件的、安裝在第二準直透鏡44與彎折反 射鏡45之間的液晶元件92。液晶元件92包括具有能夠產(chǎn)生慧形像差的電極圖案的一對電 極，以及通過對準層等夾置于一對電極之間的液晶分子。這樣的液晶元件92可以在預定電 流施加到液晶元件92時在經(jīng)過液晶元件92的光束中產(chǎn)生預定強度的慧形像差，從而調(diào)節(jié) 光盤的慧形像差。換言之，液晶元件92產(chǎn)生將通過如圖7所示對光學拾取器本身的相對偏 斜調(diào)節(jié)得到的慧形像差抵消的慧形像差，從而減小慧形像差。由于第二導光光學系統(tǒng)91或 第二物鏡34的制造誤差或布置誤差產(chǎn)生的慧形像差可以被包括在抵消慧形像差中。與其中第二物鏡34如圖8所示沿著傾斜方向傾斜的光學拾取器3不同，包括液晶 元件92的光學拾取器90向入射第二和第三光盤的光束提供了預定的慧形像差?；坌蜗癫?的量與當在上述光學拾取器3中第二物鏡34傾斜了適當傾斜角度θ A時產(chǎn)生的慧形像差 量相同。因此，在第二和第三光盤的記錄和/或再現(xiàn)時，光學拾取器90可以利用液晶元件 92在最優(yōu)狀態(tài)下執(zhí)行記錄和/或再現(xiàn)。具有上述構造構造的90根據(jù)所安裝的光盤的類型，從安裝在第一光源31和第二 光源32中的發(fā)光單元發(fā)射在具有第一至第三波長的光束中具有與所安裝的光盤的類型相 對應的波長的光束。此外，光學拾取器90基于通過由第一和第二光電檢測器39和47檢測 到的返回光束所產(chǎn)生的聚焦伺服信號和尋軌伺服信號來驅(qū)動第一物鏡33和第二物鏡34以 發(fā)生位移。因此，在如上所述通過伺服信號驅(qū)動各透鏡以發(fā)生位移時，光學拾取器90對于 光盤2執(zhí)行信息信號的記錄或再現(xiàn)。在這樣的光學拾取器90中，因為透鏡傾斜慧形像差靈敏度的溫度特性、慧形像差 校正量、光學拾取器的相對角度調(diào)節(jié)、以及光學拾取器的功能和效果與上述“3.物鏡的透 鏡傾斜慧形像差敏感度的溫度特性”至“6.光學拾取器的作用和效果”中相同，所以將省略 其詳細說明。此外，光學拾取器90具有如下特性光學拾取器90對應于諸如BD之類的高 密度記錄，并且由塑料制成的第一物鏡33在第一物鏡33和第一導光光學系統(tǒng)28的光軸彼 此一致的狀態(tài)下由透鏡保持器52保持。此外，光學拾取器90具有如下特性相對于盤安裝 基準表面67a，將光學拾取器90調(diào)節(jié)以傾斜，使得校正第一物鏡33的初始慧形像差。以此 方式，考慮到第一物鏡33的透鏡傾斜慧形像差靈敏度的溫度特性來構造光學拾取器90。利 用這樣的構造，即使在存在環(huán)境溫度變化時，光學拾取器90也減小了慧形像差的改變，并 因此可以在減小慧形像差的狀態(tài)下執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。因此，光學拾取器90采用塑料第一物 鏡33以增強制造性或減輕重量，并采用考慮了透鏡傾斜慧形像差靈敏度的改變的構造，從而即使在存在環(huán)境溫度變化的情況下也實現(xiàn)了期望的記錄和再現(xiàn)特性。此外，光學拾取器90在執(zhí)行第一光盤的再現(xiàn)時即使環(huán)境溫度發(fā)生變化也不使用 作為慧形像差產(chǎn)生單元的液晶元件92，而在第二和第三光盤的再現(xiàn)時驅(qū)動液晶元件92以 產(chǎn)生慧形像差來獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。因此，光學拾取器90可以對于第二和第三光盤在減小 慧形像差的狀態(tài)下執(zhí)行記錄和再現(xiàn)。此外，在光學拾取器90中，通過液晶元件92的安裝， 物鏡驅(qū)動單元51可以被構造為雙軸致動器，而不是三軸致動器，從而可以實現(xiàn)裝置的簡化 和小型化。此外，在光學拾取器90中，物鏡的慧形像差的方向和安裝方向與“7.物鏡的慧形 像差的方向和安裝方向”中相同。此外，除了安裝液晶元件替代傾斜校正機構之外，光學拾 取器90的制造方法與“8.光學拾取器的制造方法”中基本相同。在步驟S6，與在使用第二 物鏡34的情況下的最優(yōu)傾斜角度計算不同的是，計算在使用第二物鏡34的情況下在液晶 元件92中產(chǎn)生的慧形像差量。該慧形像差量與如圖8所示由最優(yōu)傾斜角度0 A產(chǎn)生的慧形 像差量相同。此外，在步驟S6，將計算得到的慧形像差量存儲在諸如存儲器26等等存儲單 元中。根據(jù)光學拾取器制造方法，在使用上述高密度記錄光盤所用的塑料物鏡的情況下，可 以制造具有如下效果的光學拾取器90 減小隨著溫度變化引起的慧形像差的改變。此外， 除了安裝液晶元件替代傾斜校正機構之外，光學拾取器90的制造方法與“9.光學拾取器的 控制方法”中基本相同。在步驟S14，光學拾取器90在作為慧形像差產(chǎn)生單元的液晶元件 92不使用的狀態(tài)下對于第一光盤發(fā)射第一波長的光束以執(zhí)行信息信號的記錄和再現(xiàn)。此 外，在步驟S16，光學拾取器90在使用作為慧形像差產(chǎn)生單元的光學拾取器90來減小慧形 像差的狀態(tài)下對于第二光盤發(fā)射第二波長的光束以執(zhí)行信息信號的記錄和再現(xiàn)。根據(jù)光學 拾取器控制方法，借助于使用作為高密度記錄所用的物鏡的塑料透鏡的光學拾取器90，減 小由于環(huán)境溫度變化引起的慧形像差以實現(xiàn)優(yōu)選的記錄和再現(xiàn)特性。如上所述，根據(jù)本實施例的光學拾取器90采用塑料物鏡以增強制造性或減輕重 量，并減小由于環(huán)境溫度變化引起的慧形像差以實現(xiàn)優(yōu)選的記錄和再現(xiàn)特性。即，光學拾取 器90實現(xiàn)了制造性或重量減輕，并實現(xiàn)了優(yōu)選的記錄和再現(xiàn)特性。此外，光學拾取器90中 的物鏡驅(qū)動單元51可以被構造為雙軸致動器，從而與三軸致動器相比實現(xiàn)構造的簡化和 小型化。此前，對根據(jù)對于光學拾取器3的修改示例的、設置有作為慧形像差產(chǎn)生單元的 液晶元件92的光學拾取器90進行了說明，但是可以作為光學拾取器80的修改示例安裝液 晶元件。在此情況下，例如，將上述液晶元件92安裝在準直透鏡83與立起反射鏡41之間， 因此，物鏡驅(qū)動單元51被設置為雙軸致動器。這樣的光學拾取器具有光學拾取器80和光 學拾取器90兩者的效果。12.光盤裝置的效果此外，根據(jù)本發(fā)明的實施例的光盤裝置1包括對于被驅(qū)動旋轉(zhuǎn)的光盤2發(fā)射光束 以執(zhí)行信息信號的記錄和/或再現(xiàn)的光學拾取器，并利用上述光學拾取器3等作為該光學 拾取器。因此，光盤裝置1實現(xiàn)了制造性或重量減輕，并還實現(xiàn)了隨著溫度變化引起的慧形 像差的減小，從而實現(xiàn)優(yōu)選的記錄和再現(xiàn)特性。本發(fā)明包含與2009年4月27日遞交給日本專利局的日本在先專利申請 JP2009-108248中揭示的主題相關的主題，其全文通過引用結合于此。
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本領域的技術人員應該理解的是，只要在所附權利要求及其等同方案的范圍內(nèi)， 可以根據(jù)設計要求和其他因素進行各種修改、組合、子組合和替換。
權利要求
一種光學拾取器，包括第一和第二物鏡，其被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到具有不同厚度的保護層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述第一和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述第一物鏡之間的光路上，并被配置為變換經(jīng)過所述準直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被配置為使所述準直透鏡沿著光軸方向移動，并改變進入所述第一物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，與所述第一物鏡對應的所述第一光盤的保護層厚度小于與所述第二物鏡對應的所述第二光盤的保護層厚度；其中，所述第一物鏡在環(huán)境溫度是0℃至70℃、對應的所述第一光盤的保護層厚度是70μm至105μm、并且對應的所述光束的波長λ1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0.3[λrms/°]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過使所述準直透鏡移動來校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過使所述第一物鏡傾斜而在光束中產(chǎn)生的慧形像差的比率；其中，所述第一物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導引到所述第一物鏡的導光光學系統(tǒng)導引的所述光束的光軸與所述第一物鏡的光軸基本一致；其中，所述光學拾取器相對于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述第一物鏡對于所述第一光盤導致的初始慧形像差的角度傾斜；并且其中，當再現(xiàn)所述第一光盤時，不使用所述慧形像差產(chǎn)生單元，而當再現(xiàn)所述第二光盤時，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。
2.根據(jù)權利要求1所述的光學拾取器，其中，所述慧形像差產(chǎn)生單元具有保持所述第 一和第二物鏡的透鏡保持器，所述慧形像差產(chǎn)生單元是沿著傾斜方向驅(qū)動所述透鏡保持器 并使所述透鏡保持器傾斜的傾斜校正機構，并且其中，當再現(xiàn)所述第一光盤時，不使用所述 傾斜校正機構，而當再現(xiàn)所述第二光盤時，使用所以傾斜校正機構使所述透鏡保持器傾斜 以獲得所述最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。
3.根據(jù)權利要求1所述的光學拾取器，其中，所述慧形像差產(chǎn)生單元是液晶元件。
4.根據(jù)權利要求2或3所述的光學拾取器，其中，所述第一和第二物鏡朝向所述光盤的 徑向布置，使得所述第一和第二物鏡的慧形像差具有相同的方向。
5.一種光盤裝置，其包括通過將光束發(fā)射到被驅(qū)動而轉(zhuǎn)動的光盤上來執(zhí)行信息信號的 記錄和/或再現(xiàn)的光學拾取器，所述光學拾取器包括第一和第二物鏡，其被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到具有不同厚度的保護 層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述第一和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述第一及第二物鏡之間的光路 上，并被配置為變換經(jīng)過所述準直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被配置為使所述準直透鏡沿著光軸方向移動，并改變進入所述 物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，與所述第一物鏡對應的所述第一光盤的保護層厚度小于與所述第二物鏡對應的 所述第二光盤的保護層厚度；其中，所述第一物鏡在環(huán)境溫度是0°C至70°C、對應的所述第一光盤的保護層厚度是 70 ii m至105 ii m、并且對應的所述光束的波長入1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾 斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過使所述 準直透鏡移動來校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過使所述第一物鏡傾斜而在光束中產(chǎn) 生的慧形像差的比率；其中，所述第一物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導引到所述第一物鏡的 導光光學系統(tǒng)導引的所述光束的光軸與所述第一物鏡的光軸基本一致；其中，所述光學拾取器和其上要安裝所述光盤的盤安裝單元中的至少一者傾斜，使得 所述光學拾取器和安裝在所述盤安裝單元上的所述光盤相對于彼此以最優(yōu)地校正由于所 述第一物鏡對于所述第一光盤導致的初始慧形像差的角度傾斜；并且其中，當再現(xiàn)所述第一光盤時，不使用所述慧形像差產(chǎn)生單元，而當再現(xiàn)所述第二光盤 時，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。
6. 一種制造光學拾取器的方法， 所述光學拾取器包括第一和第二物鏡，其被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到具有不同厚度的保護 層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述第一和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述第一物鏡之間的光路上，并被 配置為變換經(jīng)過所述準直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被配置為使所述準直透鏡沿著光軸方向移動，并改變進入所述 物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，與所述第一物鏡對應的所述第一光盤的保護層厚度小于與所述第二物鏡對應的 所述第二光盤的保護層厚度，并且其中，所述第一物鏡在環(huán)境溫度是0°C至70°C、對應的所述第一光盤的保護層厚度是 70 ii m至105 ii m、并且對應的所述光束的波長入1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾 斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過使所述 準直透鏡移動來校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過使所述第一物鏡傾斜而在光束中產(chǎn) 生的慧形像差的比率，在制造具有由塑料制成的所述第一物鏡的所述光學拾取器時，所述方法包括以下步驟將導光光學系統(tǒng)安裝到基體構件，所述導光光學系統(tǒng)將所述光束導引到所述第一物鏡；將所述第一物鏡保持于透鏡保持器，使得由所述導光光學系統(tǒng)導引到所述第一物鏡的 所述光束的光軸與所述第一物鏡的光軸基本一致；調(diào)節(jié)所述光學拾取器，使得所述光學拾取器相對于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述第 一物鏡對于所述第一光盤導致的初始慧形像差的角度傾斜；以及計算使用所述慧形像差產(chǎn)生單元最優(yōu)地校正由于所述第二物鏡對于所述第二光盤導 致的初始慧形像差的慧形像差校正量，并將計算得到的所述慧形像差校正量存儲在存儲單 元中。
7.—種控制光學拾取器的方法， 所述光學拾取器包括第一和第二物鏡，其被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到具有不同厚度的保護 層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述第一和/或第二物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差；準直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述第一物鏡之間的光路上，并被 配置為變換經(jīng)過所述準直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被配置為使所述準直透鏡沿著光軸方向移動，并改變進入所述 第一物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，與所述第一物鏡對應的所述第一光盤的保護層厚度小于與所述第二物鏡對應的 所述第二光盤的保護層厚度；其中，所述第一物鏡在環(huán)境溫度是0°C至70°C、對應的所述第一光盤的保護層厚度是 70 ii m至105 ii m、并且對應的所述光束的波長入1是398nm至414nm的條件下滿足透鏡傾 斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過使所述 準直透鏡移動來校正所產(chǎn)生的球而像差的狀態(tài)下通過使所述第一物鏡傾斜而在光束中產(chǎn) 生的慧形像差的比率；并且其中，所述第一物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導引到所述第一物鏡和 所述第二物鏡的導光光學系統(tǒng)導引的所述光束的光軸與所述第一物鏡的光軸基本一致；在控制所述光學拾取器使得所述光學拾取器相對于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述 第一物鏡對于所述第一光盤導致的初始慧形像差的角度傾斜時，所述方法包括以下步驟 識別所安裝的光盤的類型；當通過所述識別步驟識別出所述光盤是所述第一光盤時，在不使用所述慧形像差產(chǎn)生 單元的情況下對于所述第一光盤執(zhí)行信息信號的再現(xiàn)；以及當通過所述識別步驟識別出所述光盤是所述第二光盤時，使用所述慧形像羞產(chǎn)生單元 來對于所述第二光盤執(zhí)行信息信號的再現(xiàn)。
8.一種光學拾取器，包括單個物鏡，其被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到具有不同厚度的保護層的第 一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差； 準直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的光路上，并被配置 為變換經(jīng)過所述準直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被配置為使所述準直透鏡沿著光軸方向移動，并改變進入所述 物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，所述第一光盤的保護層厚度小于所述第二光盤的保護層厚度； 其中，所述物鏡在環(huán)境溫度是0°C至70°C、對應的所述第一光盤的保護層厚度是70 y m 至105 u m、并且與所述第一光盤對應的所述光束的波長\ 1是398nm至414nm的條件下滿 足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通 過使所述準直透鏡移動來校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過使所述物鏡傾斜而在光束 中產(chǎn)生的慧形像差的比率；其中，所述物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導引到所述物鏡的導光光學 系統(tǒng)導引的所述光束的光軸與所述物鏡的光軸基本一致；其中，所述光學拾取器相對于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述物鏡對于所述第一光盤 導致的初始慧形像差的角度傾斜；并且其中，當再現(xiàn)所述第一光盤時，不使用所述慧形像差產(chǎn)生單元，而當再現(xiàn)所述第二光盤 時，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。
9.根據(jù)權利要求8所述的光學拾取器，其中，所述慧形像差產(chǎn)生單元具有保持所述物 鏡的透鏡保持器，所述慧形像差產(chǎn)生單元是沿著傾斜方向驅(qū)動所述透鏡保持器并使所述透 鏡保持器傾斜的傾斜校正機構，并且其中，當再現(xiàn)所述第一光盤時，不使用所述傾斜校正機 構，而當再現(xiàn)所述第二光盤時，使用所以傾斜校正機構使所述透鏡保持器傾斜以獲得所述 最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。
10.根據(jù)權利要求8所述的光學拾取器，其中，所述慧形像差產(chǎn)生單元是液晶元件。
11.一種光盤裝置，其包括通過將光束發(fā)射到被驅(qū)動而轉(zhuǎn)動的光盤上來執(zhí)行信息信號 的記錄和/或再現(xiàn)的光學拾取器，所述光學拾取器包括單個物鏡，其被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到具有不同厚度的保護層的第 一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差； 準直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的光路上，并被配置 為變換經(jīng)過所述準直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被配置為使所述準直透鏡沿著光軸方向移動，并改變進入所述 物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，所述第一光盤的保護層厚度小于所述第二光盤的保護層厚度； 其中，所述物鏡在環(huán)境溫度是0°C至70°C、對應的所述第一光盤的保護層厚度是70 y m 至105 u m、并且與所述第一光盤對應的所述光束的波長\ 1是398nm至414nm的條件下滿 足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通 過使所述準直透鏡移動來校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過使所述物鏡傾斜而在光束 中產(chǎn)生的慧形像差的比率；其中，所述物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導引到所述物鏡的導光光學 系統(tǒng)導引的所述光束的光軸與所述物鏡的光軸基本一致；其中，所述光學拾取器和其上要安裝所述光盤的盤安裝單元中的至少一者傾斜，使得 所述光學拾取器和安裝在所述盤安裝單元上的所述光盤相對于彼此以最優(yōu)地校正由于所 述物鏡對于所述第一光盤導致的初始慧形像差的角度傾斜；并且其中，當再現(xiàn)所述第一光盤時，不使用所述慧形像差產(chǎn)生單元，而當再現(xiàn)所述第二光盤 時，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。
12.一種制造光學拾取器的方法， 所述光學拾取器包括單個物鏡，其被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到具有不同厚度的保護層的第 一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差； 準直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的光路上，并被配置 為變換經(jīng)過所述準直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被配置為使所述準直透鏡沿著光軸方向移動，并改變進入所述 物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，所述第一光盤的保護層厚度小于所述第二光盤的保護層厚度，并且 其中，所述物鏡在環(huán)境溫度是0°C至70°C、對應的所述第一光盤的保護層厚度是70 y m 至105 u m、并且與所述第一光盤對應的所述光束的波長\ 1是398nm至414nm的條件下滿 足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通 過使所述準直透鏡移動來校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過使所述物鏡傾斜而在光束 中產(chǎn)生的慧形像差的比率，在制造具有由塑料制成的所述物鏡的所述光學拾取器時，所述方法包括以下步驟 將導光光學系統(tǒng)安裝到基體構件，所述導光光學系統(tǒng)將所述光束導引到所述物鏡； 將所述物鏡保持于透鏡保持器，使得由所述導光光學系統(tǒng)導引到所述物鏡的所述光束 的光軸與所述物鏡的光軸基本一致；調(diào)節(jié)所述光學拾取器，使得所述光學拾取器相對于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述物 鏡對于所述第一光盤導致的初始慧形像差的角度傾斜；以及計算使用所述慧形像差產(chǎn)生單元最優(yōu)地校正由于所述物鏡對于所述第二光盤導致的 初始慧形像差的慧形像差校正量，并將計算得到的所述慧形像差校正量存儲在存儲單元 中。
13.—種控制光學拾取器的方法， 所述光學拾取器包括單個物鏡，其被配置為分別將具有不同波長的光束聚焦到具有不同厚度的保護層的第 一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其被配置為在經(jīng)過所述物鏡的光束中產(chǎn)生慧形像差； 準直透鏡，其被安裝在用于發(fā)射所述光束的光源與所述物鏡之間的光路上，并被配置 為變換經(jīng)過所述準直透鏡的光束的發(fā)散角；以及準直透鏡驅(qū)動單元，其被配置為使所述準直透鏡沿著光軸方向移動，并改變進入所述 物鏡的光束的角度以校正球面像差，其中，所述第一光盤的保護層厚度小于所述第二光盤的保護層厚度； 其中，所述物鏡在環(huán)境溫度是0°C至70°C、對應的所述第一光盤的保護層厚度是70 y m 至105 u m、并且與所述第一光盤對應的所述光束的波長\ 1是398nm至414nm的條件下滿 足透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0. 3[ X rms/° ]，所述透鏡傾斜慧形像差靈敏度是在通過使所述準直透鏡移動來校正所產(chǎn)生的球面像差的狀態(tài)下通過使所述物鏡傾斜而在光束 中產(chǎn)生的慧形像差的比率；并且其中，所述物鏡由塑料制成并被安裝為使得由將所述光束導引到所述物鏡的導光光學 系統(tǒng)導引的所述光束的光軸與所述物鏡的光軸基本一致；在控制所述光學拾取器使得所述光學拾取器相對于所述光盤以最優(yōu)地校正由于所述 物鏡對于所述第一光盤的導致的初始慧形像差的角度傾斜時，所述方法包括以下步驟 識別所安裝的光盤的類型；當通過所述識別步驟識別出所述光盤是所述第一光盤時，在不使用所述慧形像差產(chǎn)生 單元的情況下對于所述第一光盤執(zhí)行信息信號的再現(xiàn)；以及當通過所述識別步驟識別出所述光盤是所述第二光盤時，使用所述慧形像差產(chǎn)生單元 來對于所述第二光盤執(zhí)行信息信號的再現(xiàn)。
全文摘要
本發(fā)明提供了光學拾取器及其制造方法和控制方法，以及光盤裝置。光學拾取器包括第一和第二物鏡，其將不同波長的光束聚焦到具有不同厚度的保護層的第一和第二光盤上；慧形像差產(chǎn)生單元，其在光束中產(chǎn)生慧形像差；準直透鏡，其位于光源與第一物鏡之間；以及準直透鏡驅(qū)動單元。塑料的第一光盤的保護層厚度小于第二光盤的保護層厚度。第一物鏡具有的透鏡傾斜慧形像差靈敏度為0至0.3[λrms/°]。光束的光軸與第一物鏡的光軸基本一致。光學拾取器相對于光盤以最優(yōu)地校正對于第一光盤的初始慧形像差的角度傾斜。當再現(xiàn)所述第二光盤時，使用慧形像差產(chǎn)生單元以獲得最優(yōu)再現(xiàn)環(huán)境。
文檔編號G11B7/13GK101872625SQ20101015420
公開日2010年10月27日 申請日期2010年4月20日 優(yōu)先權日2009年4月27日
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