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      信息記錄介質(zhì)、記錄重放裝置及其記錄標(biāo)記形成方法

      文檔序號:6768948閱讀:151來源:國知局
      專利名稱:信息記錄介質(zhì)、記錄重放裝置及其記錄標(biāo)記形成方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種用于進行信息記錄/重放的記錄參數(shù)設(shè)定裝置、記錄參數(shù)設(shè)定程 序、記錄有該程序的計算機可讀取的記錄介質(zhì)、信息記錄介質(zhì)和記錄重放裝置以及記錄參 數(shù)設(shè)定方法。
      背景技術(shù)
      對于記錄有大容量數(shù)據(jù)的信息記錄介質(zhì)(例如,光盤)的記錄重放裝置,一般采用 如下的現(xiàn)有技術(shù),即,使激光聚光于信息記錄介質(zhì)上,通過對信息記錄介質(zhì)進行加熱,從而 使記錄介質(zhì)的物理特性發(fā)生變化來進行信息記錄的技術(shù)。在上述信息記錄介質(zhì)上記錄有2 值化的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù),以該2值化數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)來表示2種狀態(tài)以及上述2種狀態(tài)的長度,其中,2種 狀態(tài)是指,在上述信息記錄介質(zhì)上形成有記錄標(biāo)記的狀態(tài)(以下稱之為“標(biāo)記”)和未形成 有記錄標(biāo)記的狀態(tài)(以下稱之為“空白”)。在此,將上述數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)稱之為記錄信息。實際 中將記錄信息記錄在信息記錄介質(zhì)上時,根據(jù)要記錄的記錄信息來設(shè)定記錄參數(shù),并利用 該記錄參數(shù)使激光發(fā)生變化,從而在信息記錄介質(zhì)上形成記錄標(biāo)記,實現(xiàn)記錄信息的記錄。另外,近年來,隨著處理數(shù)據(jù)容量的增加,為縮短記錄重放裝置的處理時間,對高 速化記錄提出了更高的要求。對于可高速記錄的信息記錄介質(zhì),由于下位互換而要求其也 能以低速進行記錄,此時,要提高記錄的靈敏度時,導(dǎo)致可高速記錄的信息記錄介質(zhì)具有容 易蓄熱的特性。由于上述蓄熱有可能使得記錄標(biāo)記發(fā)生變形從而惡化重放信號的品質(zhì),因 此,在可高速記錄的信息記錄介質(zhì)上形成記錄標(biāo)記時,對其形成記錄標(biāo)記時的熱量實施控 制是尤為重要的。作為對形成記錄標(biāo)記的熱量實施控制的技術(shù),諸如有高激光輸出控制技術(shù)等的寫 策略(Write Strategy),該寫策略已為公眾所知。在寫策略中,基于上述記錄參數(shù)對激光 輸出進行控制,從而對形成記錄標(biāo)記的熱量予以控制。因此,記錄參數(shù)的數(shù)量越多,對形成 記錄標(biāo)記時的熱量的控制就越復(fù)雜。另外,預(yù)先將記錄參數(shù)作為參照表記錄于信息記錄介 質(zhì),記錄重放裝置讀取該參照表并進行設(shè)定時,若記錄參數(shù)的數(shù)量較多,記錄重放裝置用于 讀取參照表中的信息的時間就會變長,從而導(dǎo)致至記錄開始為止消耗較長的時間。因此,所 使用的記錄參數(shù)的數(shù)量優(yōu)選盡可能少。對此,在專利文獻1(日本國專利申請公開公報“2005-92942號公報”,
      公開日
      2005年4月7日)中揭示了一種參照所具有的對記錄參數(shù)已定義的參照表來控制用于形成 記錄標(biāo)記的熱量的光盤記錄方法。具體而言,在專利文獻1中,關(guān)于用于控制前邊緣的熱量的前端脈沖,利用了參照 表(參照圖17),在該參照表中,將記錄標(biāo)記的前空白長度分為2T、3T、4T、大于或等于5T的4種,將記錄標(biāo)記長度分為2T、3T、大于或等于4T的3種,其中,前邊緣為記錄標(biāo)記的形成開始位置。另外,關(guān)于用于控制后邊緣的熱量的后端脈沖,利用了參照表(參照圖18),在該參 照表中,將記錄標(biāo)記的后空白長度分為2Τ、3Τ、4Τ、大于或等于5Τ的4種,將記錄標(biāo)記長度分 為3Τ、大于或等于4Τ的2種,后邊緣為記錄標(biāo)記的形成結(jié)束位置。也就是說,在專利文獻1 中,參照表中的大于或等于4Τ的標(biāo)記長度被分為同一類,大于或等于5Τ的前空白長度以及 后空白長度也被分為同一類。通過這種分類,減少了對形成記錄標(biāo)記的前邊緣的熱量以及 后邊緣的熱量進行控制的記錄參數(shù)的數(shù)量。在此,T是表示1時鐘周期的時間。由此,例如 2Τ標(biāo)記長度是表示在2時鐘周期的時間內(nèi)形成“1”的記錄標(biāo)記的區(qū)域、即記錄區(qū)域,而2Τ 空白長度是指在2時鐘周期的時間內(nèi)未形成記錄標(biāo)記的區(qū)域。隨著記錄的高速化,需要進一步提高在信息記錄介質(zhì)上形成記錄標(biāo)記的記錄靈敏 度。在利用激光來形成記錄標(biāo)記時,由于熱量分布集中于記錄標(biāo)記的形成結(jié)束位置、即記錄 標(biāo)記的后邊緣,因此,隨著記錄的高速化,后邊緣的熱量的蓄積傾向?qū)⒆兊酶鼜?。由此,需?通過記錄參數(shù)更嚴(yán)密地控制后邊緣的熱量。然而,在專利文獻1中,用于控制記錄標(biāo)記的形成開始位置、即前邊緣的熱量的記 錄參數(shù)分類和需更嚴(yán)密控制后邊緣的熱量的記錄參數(shù)分類被同樣地設(shè)定。也就是說,兩者 均利用了以大于或等于4Τ的記錄標(biāo)記長度為同一類的參照表。而且,在已定義了記錄參數(shù) 的參照表中,也沒有具體揭示要減少記錄參數(shù)的數(shù)量而對記錄標(biāo)記長度和前后空白長度進 行分類的依據(jù)。因此,雖抑制使得記錄參數(shù)的數(shù)量變少,但存在這樣的問題,即,在實際讀取 記錄標(biāo)記時并不能保證得到良好的重放信號品質(zhì)(不能保證得到預(yù)定的重放信號品質(zhì))。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明是鑒于上述問題而進行開發(fā)的,目的在于提供一種能夠抑制所使用的記錄 參數(shù)的數(shù)量且能更確實地形成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記的記錄參數(shù)設(shè)定裝置、記 錄參數(shù)設(shè)定裝置程序、記錄有該程序的計算機可讀取的記錄介質(zhì)、信息記錄介質(zhì)、記錄重放 裝置以及記錄參數(shù)設(shè)定方法。為了解決上述問題,本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置用于設(shè)定記錄參數(shù),上述記錄參 數(shù)用于根據(jù)記錄信息在信息記錄介質(zhì)上形成記錄標(biāo)記,該記錄參數(shù)設(shè)定裝置具備試驗記 錄(trial recording)參數(shù)設(shè)定部,根據(jù)上述記錄信息對存儲有記錄參數(shù)組的存儲部進行 查詢并設(shè)定用于進行試驗記錄的試驗記錄參數(shù),其中,上述記錄參數(shù)組用于控制上述記錄 標(biāo)記的至少后邊緣的熱量,該后邊緣是上述記錄標(biāo)記的形成結(jié)束區(qū)域,上述記錄參數(shù)組至 少根據(jù)上述記錄信息中的記錄標(biāo)記長度進行分類,并且,上述記錄參數(shù)組中,記錄標(biāo)記長度 大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù)被分為同一類;以及重放信號品質(zhì)判斷部,當(dāng)重 放信號不能滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)時,對上述記錄參數(shù)組中的記錄標(biāo)記長度大于或等于 預(yù)定記錄標(biāo)記長度的分類進一步實施細分并再次進行試驗記錄、當(dāng)上述重放信號滿足預(yù)定 的重放信號品質(zhì)時,將試驗記錄參數(shù)設(shè)定為上述記錄參數(shù),其中,上述重放信號是通過重放 基于上述試驗記錄參數(shù)的試驗記錄所得到的信號。根據(jù)上述發(fā)明,用于控制記錄標(biāo)記的至少后邊緣的熱量的記錄參數(shù)組中,記錄標(biāo) 記長度大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù)被分為同一類,所以,較之于依據(jù)上述記 錄標(biāo)記長度的不同而一一分類,可減少總體的記錄參數(shù)的數(shù)量。
      在此,上述分類是指,根據(jù)記錄標(biāo)記長度所進行的分類。具體而言,對于被歸為一 種分類的記錄標(biāo)記長度,與這些記錄標(biāo)記長度對應(yīng)的記錄參數(shù)被賦予相同的值或相同的變化量。另外,在上述發(fā)明中,基于記錄信息,并通過記錄參數(shù)設(shè)定部對用于進行試驗記錄的試驗記錄參數(shù)進行設(shè)定,然后,根據(jù)上述試驗記錄參數(shù)進行試驗記錄,并重放該試驗記錄 從而得到重放信號,通過重放信號品質(zhì)判斷部來判斷該重放信號是否滿足預(yù)定的重放信號 品質(zhì)。在重放信號品質(zhì)判斷部中,當(dāng)重放信號不能滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)時,根據(jù)記錄標(biāo) 記長度對上述記錄參數(shù)組中的記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的分類進一步 實施細分并再次進行試驗記錄、當(dāng)上述重放信號滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)時,將試驗記錄 參數(shù)設(shè)定為上述記錄參數(shù),因此,在增加上述記錄參數(shù)的同時,決定出滿足預(yù)定的重放信號 品質(zhì)的記錄參數(shù)。此時,能夠抑制使得用于滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)的記錄參數(shù)的分類數(shù) 較少。而且,由于在滿足了預(yù)定的重放信號品質(zhì)條件下來決定用于控制后邊緣的熱量的記 錄參數(shù),記錄標(biāo)記的后邊緣較記錄標(biāo)記的其他記錄區(qū)域更容易受熱量的影響,所以,可以減 小蓄積在后邊緣的熱量的影響,形成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。其結(jié)果,能夠抑制所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有良好重放 信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。另外,為了解決上述問題,本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置用于設(shè)定記錄參數(shù),上述記 錄參數(shù)用于根據(jù)記錄信息在信息記錄介質(zhì)上形成記錄標(biāo)記,上述記錄參數(shù)包括用于控制 上述記錄標(biāo)記的前邊緣熱量的記錄參數(shù)組,該記錄參數(shù)組至少根據(jù)上述記錄信息中的記錄 標(biāo)記長度進行分類,而且,該記錄參數(shù)組中,記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的 記錄參數(shù)被分為同一類;以及用于控制上述記錄標(biāo)記的后邊緣熱量的記錄參數(shù)組,該記錄 參數(shù)組至少根據(jù)上述記錄信息中的記錄標(biāo)記長度進行分類,而且,較之于上述用于控制記 錄標(biāo)記的前邊緣熱量的記錄參數(shù)組,該記錄參數(shù)組中的記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定記錄 標(biāo)記長度的分類被進一步細分。因此,與用于控制記錄標(biāo)記的前邊緣熱量的記錄參數(shù)組進行比較,能夠?qū)τ糜诳?制記錄標(biāo)記的后邊緣熱量的記錄參數(shù)組進行細分類。較之于同時增加用于控制記錄標(biāo)記的 前邊緣熱量的記錄參數(shù)組和用于控制記錄標(biāo)記的后邊緣熱量的記錄參數(shù)組兩者的分類數(shù) 量,能夠減少總體的記錄參數(shù)的數(shù)量。另外,記錄標(biāo)記的后邊緣較記錄標(biāo)記的其他記錄區(qū)域 更容易受熱量的影響,所以,通過對用于控制記錄標(biāo)記的后邊緣熱量的記錄參數(shù)組進行細 分類,可以嚴(yán)密地控制記錄標(biāo)記的形成結(jié)束地點、即后邊緣的熱量,也可以減小蓄積的熱量 的影響,形成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。其結(jié)果,能夠抑制所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有良好重放 信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。為了解決上述問題,本發(fā)明的信息記錄介質(zhì)在預(yù)定區(qū)域內(nèi)記錄了用于根據(jù)記錄信 息來形成記錄標(biāo)記的記錄參數(shù),該記錄參數(shù)包括用于控制上述記錄標(biāo)記的前邊緣熱量的 記錄參數(shù)組,該記錄參數(shù)組至少根據(jù)上述記錄信息中的記錄標(biāo)記長度進行分類,而且,該記 錄參數(shù)組中,記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù)被分為同一類;以及 用于控制上述記錄標(biāo)記的后邊緣熱量的記錄參數(shù)組,該記錄參數(shù)組至少根據(jù)上述記錄信息 中的記錄標(biāo)記長度進行分類,而且,該記錄參數(shù)組中,記錄標(biāo)記長度大于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù)被分為同一類。根據(jù)上述發(fā)明,由于用于控制記錄標(biāo)記的前邊緣的熱量的記錄參數(shù)組中,記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù)被分為同一類,且用于控制記錄標(biāo)記的后 邊緣的熱量的記錄參數(shù)組中,記錄標(biāo)記長度大于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù)被分為同一 類,所以,較之于根據(jù)上述記錄標(biāo)記長度的不同而一一分類,可減少總體的記錄參數(shù)的數(shù)量。其結(jié)果,能夠抑制所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有良好重放 信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。為了解決上述問題,本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定方法是用于設(shè)定記錄參數(shù)的方法,上 述記錄參數(shù)用于根據(jù)記錄信息在信息記錄介質(zhì)上形成記錄標(biāo)記,該記錄參數(shù)設(shè)定方法包 括試驗記錄參數(shù)設(shè)定步驟,根據(jù)上述記錄信息對存儲有記錄參數(shù)組的存儲部進行查詢并 設(shè)定用于進行試驗記錄的試驗記錄參數(shù),其中,上述記錄參數(shù)組用于控制上述記錄標(biāo)記的 至少后邊緣的熱量,該后邊緣是上述記錄標(biāo)記的形成結(jié)束區(qū)域,上述記錄參數(shù)組至少根據(jù) 上述記錄信息中的記錄標(biāo)記長度進行分類,并且,上述記錄參數(shù)組中,記錄標(biāo)記長度大于或 等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù)被分為同一類;以及重放信號品質(zhì)判斷步驟,當(dāng)重放信 號不能滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)時,對上述記錄參數(shù)組中的記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定 記錄標(biāo)記長度的分類進一步實施細分并再次進行試驗記錄、當(dāng)上述重放信號滿足預(yù)定的重 放信號品質(zhì)時,將試驗記錄參數(shù)設(shè)定為上述記錄參數(shù),其中,上述重放信號是通過重放基于 上述試驗記錄參數(shù)的試驗記錄所得到的信號。根據(jù)上述發(fā)明,能夠抑制所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有良 好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。另外,為了解決上述問題,本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定方法是用于設(shè)定記錄參數(shù)的記 方法,上述記錄參數(shù)用于根據(jù)記錄信息在信息記錄介質(zhì)上形成記錄標(biāo)記,該記錄參數(shù)設(shè)定 方法包括第一記錄參數(shù)組分類步驟,控制上述記錄標(biāo)記的前邊緣熱量的記錄參數(shù)組至少 根據(jù)上述記錄信息中的記錄標(biāo)記長度進行分類,而且,上述記錄參數(shù)組中,記錄標(biāo)記長度大 于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù)被分為同一類;以及第二記錄參數(shù)組分類步驟,控 制上述記錄標(biāo)記的后邊緣熱量的記錄參數(shù)組至少根據(jù)上述記錄信息中的記錄標(biāo)記長度進 行分類,而且,較之于上述用于控制記錄標(biāo)記的前邊緣熱量的記錄參數(shù)組,該記錄參數(shù)組中 的記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的分類被進一步細分。根據(jù)上述發(fā)明,能夠抑制所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有良 好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。


      圖1是表示本發(fā)明中的光盤裝置的控制部的一實施方式的功能結(jié)構(gòu)框圖。圖2是表示上述光盤裝置的一實施方式的結(jié)構(gòu)框圖。圖3是表示通過上述光盤裝置記錄了信息的光盤的斜視圖。圖4是對與記錄信息對應(yīng)的脈沖列的設(shè)定進行說明的時序圖。圖5是對形成2T標(biāo)記長度至9T標(biāo)記長度的記錄標(biāo)記時所利用的脈沖列及記錄脈 沖參數(shù)進行說明的時序圖。
      圖6是對本發(fā)明中記錄參數(shù)的設(shè)定動作的動作流程進行說明的流程圖。圖7是表示本發(fā)明的參照表的一實施方式的圖。圖8是表示本發(fā)明的參照表的一實施方式的圖。圖9是表示本發(fā)明的參照表的一實施方式的圖。圖10是表示本發(fā)明的參照表的一實施方式的圖。圖11是表示本發(fā)明的參照表的一實施方式的圖。圖12是表示記錄參數(shù)條件與抖動變化之間的關(guān)系的圖。圖13是對形成2T標(biāo)記長度至9T標(biāo)記長度的記錄標(biāo)記時所利用的脈沖列及記錄 脈沖參數(shù)的一個示例進行說明的時序圖。圖14是對形成2T標(biāo)記長度至9T標(biāo)記長度的記錄標(biāo)記時所利用的脈沖列及記錄 脈沖參數(shù)的一個示例進行說明的時序圖。圖15是表示本發(fā)明的記錄參數(shù)條件與抖動變化之間的關(guān)系的圖。圖16(a)是表示本發(fā)明的被記錄在光盤上的參照表的一個示例的圖。圖16(b)是表示本發(fā)明的被記錄在光盤上的參照表的另一個示例的圖。圖17是表示現(xiàn)有技術(shù)的參照表的圖。圖18是表示現(xiàn)有技術(shù)的參照表的圖。
      具體實施例方式下面,參照附圖1至16(b)說明本發(fā)明的一實施方式。首先,作為本實施方式的記錄重放裝置,以光盤裝置(記錄重放裝置)1為例進行 說明。如圖2所示,本實施方式的光盤裝置1具有光拾取頭(光拾取裝置)11、拾取裝置12、 拾取裝置驅(qū)動電路13、激光驅(qū)動電路14、重放電路15及控制部20。另外,記錄重放電路組 10由拾取裝置驅(qū)動電路13、激光驅(qū)動電路14和重放電路15構(gòu)成。光盤裝置1是對光盤2 進行信息的記錄和讀取的裝置。光盤2只要是光學(xué)盤即可,例如光磁盤等,并不限定其種 類。光拾取頭11被安裝在拾取裝置12上,且光拾取頭11向光盤2照射用于記錄重放 信息的光束(激光束),同時,檢測出從光盤2反射來的反射光后并輸出給重放電路15。拾 取裝置12具備光拾取頭11,對數(shù)據(jù)進行記錄和重放,且可相對于光軸方向以及光盤2的半 徑方向、即徑向方向作移動。拾取裝置驅(qū)動電路13根據(jù)控制部20發(fā)出的控制信號來驅(qū)動拾取裝置12,并使拾 取裝置12相對光盤2的軌道(未圖示)進行移動,即,相對于上述徑向方向以及上述光軸 方向進行移動。另外,激光驅(qū)動電路14對光拾取頭11照射出的光束輸出進行控制。重放 電路15將光拾取頭11檢測出的反射光轉(zhuǎn)換為重放信號,并向控制部20輸出該信號??刂撇?0對記錄標(biāo)記的記錄參數(shù)進行設(shè)定,其中,記錄標(biāo)記為記錄在光盤2上的 信息。另外,通過拾取裝置驅(qū)動電路13,控制部20可使拾取裝置12進行移動,并通過激光 驅(qū)動電路14使光拾取頭11照射光束。另外,控制部20通過重放電路15取得重放信號,該 重放信號是由重放電路15對光拾取頭11檢測出的反射光進行變換所得的信號。關(guān)于控制 部20,詳見后述。其次,參照圖3對用于記錄信息的光盤2的概要進行說明。該信息是通過光盤裝置1被記錄在光盤2上的信息。如圖3所示,光盤2具有設(shè)定用區(qū)域41和用戶區(qū)域42。設(shè) 定用區(qū)域41是進行信息試驗記錄的區(qū)域(部位),用戶區(qū)域42是用于記錄用戶所要信息的 區(qū)域。另外,設(shè)定用區(qū)域41也為參照表(詳見后述)所記錄的區(qū)域。設(shè)定用區(qū)域41的位置并不只限于圖3所示的位置,也可以存在于光盤2的任意半 徑位置上,也可以有復(fù)數(shù)個存在。以下簡單說明通過光盤裝置1在光盤2上記錄信息的動作以及通過光盤裝置1重 放在光盤2上所記錄的信息的動作。
      通過光盤裝置1在光盤2上記錄信息時,首先控制部20基于記錄信息來設(shè)定記錄 參數(shù),然后從光拾取頭11發(fā)出的記錄用光束被照射在光盤2的設(shè)定用區(qū)域41上,這樣,信 息被記錄在光盤2的設(shè)定用區(qū)域41的軌道上。另外,通過光盤裝置1重放已記錄在光盤2 上的信息時,控制部20通過拾取裝置驅(qū)動電路13,使拾取裝置12移動到光盤2的設(shè)定用 區(qū)域41或用戶區(qū)域42的記錄有信息的記錄部位。然后,控制部20通過激光驅(qū)動電路14, 經(jīng)由光拾取頭11對光盤2的記錄有信息的記錄部位的軌道照射重放用的光束。光拾取頭 11所檢測出的反射光在重放電路15被轉(zhuǎn)變?yōu)橹胤判盘柡蟊惠斎胫量刂撇?0。由此,上述 光盤裝置1可重放已記錄在光盤2的軌道上的信息。在此,記錄信息是指2值化的數(shù)字?jǐn)?shù) 據(jù),以在光盤2 (信息記錄介質(zhì))上記錄的該2值化的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)來表示2種狀態(tài)以及2種狀 態(tài)的長度,其中,2種狀態(tài)是指,在光盤2上形成有記錄標(biāo)記的狀態(tài)(標(biāo)記)和未形成有記錄 標(biāo)記的狀態(tài)(空白)。所以,記錄信息指定了光盤2上形成有記錄標(biāo)記的狀態(tài)(標(biāo)記)和未 形成有記錄標(biāo)記的狀態(tài)(空白)這2種狀態(tài)、以及上述2種狀態(tài)的長度。另外,如上所述,本實施方式的光盤裝置1首先在光盤2的設(shè)定用區(qū)域41上進行 記錄(試驗記錄),然后基于對試驗記錄的信息進行重放所得到的重放信號的值并通過控 制部20來設(shè)定記錄參數(shù)。然后,根據(jù)設(shè)定的該記錄參數(shù),在用戶區(qū)域42的各軌道上記錄信 息。另外,在光盤裝置1的記錄參數(shù)被設(shè)定后,對用戶區(qū)域42進行記錄動作,該記錄動作與 一般所知的記錄動作相同,所以在此省略其說明。對控制部20以及控制部20中的記錄參數(shù)的設(shè)定進行詳述之前,先參照圖4及圖 5對記錄參數(shù)進行說明。在以下說明中,以(1,7)RLL(RunLength Limited code 行程長度 限制碼)的調(diào)制方式為例進行說明,但調(diào)制方式并不限于(1,7)RLL的調(diào)制方式。其中,(1, 7)RLL碼是指,磁性、光學(xué)性數(shù)字記錄中的用于限制反轉(zhuǎn)間隔的最小值和最大值的編碼。另外,在該(1,7)RLL調(diào)制方式(詳見后述)中,關(guān)于記錄脈沖的脈沖列,最短的 記錄標(biāo)記2T由前端部和終端部構(gòu)成,記錄標(biāo)記長于最短記錄標(biāo)記時,在該前端部和終端部 之間加入與該記錄標(biāo)記長度對應(yīng)的中間部。此外,在其他調(diào)制方式中,例如也有最短記錄 標(biāo)記是從3T開始的情形,此時的最短記錄標(biāo)記長度由前端部、中間部、終端部構(gòu)成(例如, DVD-Rff等)。也有只由前端部構(gòu)成的記錄標(biāo)記(例如,DVD-R等)。在此,T表示1個時鐘 周期的時間。因此,例如記錄標(biāo)記長度是3T時,就表示在3個時鐘周期的時間內(nèi)形成記錄 標(biāo)記的記錄區(qū)域。如圖4所示,考慮到記錄時介質(zhì)的溫度分布,在光盤2上設(shè)定有與記錄信息對應(yīng)的 記錄脈沖的脈沖列。在圖4中,以記錄信息為5T的記錄標(biāo)記長度為例,表示了與記錄信息 對應(yīng)的記錄脈沖。其中,通過時間和記錄脈沖的功率(power)來表示記錄脈沖的脈沖列,圖 4的橫方向表示照射時間,圖4的縱方向表示記錄脈沖的功率。
      如上所述,上述脈沖列由前端部和終端部、中間部構(gòu)成。在此,如圖4所示,由前端 上升位置以及前端脈沖構(gòu)成的部分為前端部;由終端脈沖、終端下降位置、冷卻期間、以及 冷卻結(jié)束位置構(gòu)成的部分為終端部;由前端脈沖和終端脈沖之間的中間期間構(gòu)成的部分為 中間部。另外,如圖4所示,上述脈沖列還由記錄功率、空白功率、中間功率以及偏壓(冷 卻)功率構(gòu)成。在本實施方式中,將構(gòu)成脈沖列的記錄功率、空白功率、中間功率以及偏壓 (冷卻)功率稱為記錄功率參數(shù)。這些記錄功率參數(shù)被包含在上述記錄參數(shù)中。另外,在 圖4中雖然前端部、終端部的記錄脈沖的記錄功率相同,但本發(fā)明并不限定于此,前端部和 終端部各自可為不同的記錄功率。另外,在圖4中,功率以記錄功率、空白功率、中間功率、 偏壓(冷卻)功率的順序依次由大變小,但本發(fā)明并不限定于此。優(yōu)選的是,前端部或終端 部的記錄脈沖的記錄功率為最大、冷卻功率為最小。另外,圖5表示了形成2T至9T的各種記錄標(biāo)記長度時所利用的脈沖列以及記錄脈沖參數(shù)。在圖5中還例示了 記錄標(biāo)記長度為2T及3T的記錄標(biāo)記由前端脈沖及冷卻期 間構(gòu)成;記錄標(biāo)記長度大于或等于4T(4T以上)的記錄標(biāo)記由前端脈沖、中間期間、終端脈 沖、以及冷卻期間構(gòu)成。此外,在圖5中,dTtop表示前端部的脈沖開始位置、即前端上升位 置;Ttop表示前端脈沖的脈寬;dTe表示終端部的冷卻期間結(jié)束時的冷卻結(jié)束位置;Tlp表 示終端脈沖的脈寬;dTlp表示終端脈沖的下降位置(終端下降位置)。dTlp表示終端脈沖 的下降位置,也表示脈沖列的、位于終端部的冷卻期間的冷卻開始位置。dTe表示終端部的 冷卻期間結(jié)束時的冷卻結(jié)束位置,也表示在冷卻期間后的照射空白功率Ps的期間的開始 位置。dTtop、dTe、dTlp被設(shè)定為從各自的時鐘基準(zhǔn)定時起的時間,具體而言,以與各記錄 標(biāo)記長度對應(yīng)的記錄信息的上升位置(從O變?yōu)?的位置)為基準(zhǔn),根據(jù)該基準(zhǔn)的時間來 設(shè)定dTtop ;以與各記錄標(biāo)記長度對應(yīng)的記錄信息的下降位置(從1變?yōu)镺的位置)為基 準(zhǔn),根據(jù)該基準(zhǔn)的時間來設(shè)定dTe和dTlp。此時,對于各種記錄標(biāo)記長度,都使用同一基準(zhǔn)。 另外,在圖5中,以記錄信息的上升位置為基準(zhǔn),根據(jù)該基準(zhǔn)的時間來設(shè)定dTtop,也能以從 記錄信息的上升位置起錯開預(yù)定時鐘間隔的位置為基準(zhǔn)來設(shè)定dTtop。同樣地,在圖5中, 以記錄信息的下降位置為基準(zhǔn),根據(jù)該基準(zhǔn)的時間來設(shè)定dTe和dTlp,也能夠以從記錄信 息下降位置起錯開預(yù)定時鐘間隔的位置為基準(zhǔn)來設(shè)定dTe和dTlp,也能夠以從記錄信息下 降位置起錯開不同錯開量的位置為基準(zhǔn)來分別設(shè)定dTe和dTlp。在本實施方式中,將用于 定義記錄脈沖定時的dTtop、Ttop, dTe、Tip、dTlp稱為記錄脈沖參數(shù)。這些記錄脈沖參數(shù) 被包含在上述記錄參數(shù)中。另外,在圖5中,通過Ttop來設(shè)定前端脈沖的脈寬,即使將前端脈沖的下降位置設(shè) 定為記錄脈沖參數(shù),也可表示前端脈沖的期間。同樣地,通過Tlp來設(shè)定終端脈沖的脈寬, 即使將終端脈沖的上升位置設(shè)定為記錄脈沖參數(shù),也可表示終端脈沖的期間。使記錄脈沖參數(shù)的值發(fā)生變化,從而使得形成的記錄標(biāo)記的形狀也發(fā)生變化。構(gòu) 成前端部的dTtop和Ttop由于可以使記錄標(biāo)記的形成開始位置、即前邊緣的形狀發(fā)生變 化,所以,可以通過記錄參數(shù)中的dTtop和Ttop的參數(shù)來控制前邊緣的熱量。此外,構(gòu)成終 端部的dTe、Tip和dTlp由于可以使記錄標(biāo)記的形成結(jié)束位置、即后邊緣的形狀發(fā)生變化, 所以,可以通過記錄參數(shù)中的dTe、Tip和dTlp的參數(shù)來控制后邊緣的熱量。另外,由于記 錄功率參數(shù)中的中間功率值的變化可使中間部熱量的蓄積發(fā)生變化,所以,可以通過記錄 功率參數(shù)中的中間功率的參數(shù)來控制前邊緣到后邊緣之間的記錄標(biāo)記的形狀。
      另外,由上述記錄功率參數(shù)和記錄脈沖參數(shù)構(gòu)成記錄參數(shù),記錄參數(shù)的值以參照表的形式被記錄于設(shè)定用區(qū)域41中,且通過光盤裝置1讀取后存儲(記錄)于存儲部3中。 存儲部3可以是存儲器等的信息記錄介質(zhì),或者服務(wù)器,也可以是光盤裝置1中所具備的信 息記錄介質(zhì),也可以是光盤裝置1的外部的且可與光盤裝置1連接的信息記錄介質(zhì)。另外, 關(guān)于參照表,將在后面詳細說明。接著,詳細說明在光盤裝置1的控制部20中的記錄參數(shù)的設(shè)定。參照圖1說明控 制部20的結(jié)構(gòu)概要。圖1是表示本實施方式中控制部20的結(jié)構(gòu)的功能框圖。如圖1所示,控制部20具有記錄參數(shù)設(shè)定部(記錄參數(shù)設(shè)定裝置)21。記錄參數(shù) 設(shè)定部21可執(zhí)行控制部20的功能中的以下動作,即,設(shè)定記錄標(biāo)記的記錄參數(shù),該記錄參 數(shù)為在光盤2上記錄的信息;通過激光驅(qū)動電路14從光拾取頭11照射光束;從重放電路 15取得重放信號,該重放信號是光拾取頭11檢測出的反射光經(jīng)變換所得到的信號。另外, 記錄參數(shù)設(shè)定部21具有記錄信息取得部22、試驗記錄參數(shù)設(shè)定部(試驗記錄參數(shù)設(shè)定裝 置)23、試驗記錄指示部24、重放信號取得部25、重放信號品質(zhì)判斷部(重放信號品質(zhì)判斷 裝置)26、以及記錄指示部27。記錄參數(shù)設(shè)定部21通過上述各部進行上述動作。記錄信息取得部22取得光盤2上所記錄的記錄信息。作為記錄信息的取得處,也 可以是控制部20上位的控制部、也可以是存儲了記錄信息的存儲器或者服務(wù)器等,記錄信 息的取得處可被安裝在光盤裝置1中,也可以是可與光盤裝置1連接的光盤裝置1的外部
      直ο另外,基于記錄信息取得部22所取得的記錄信息對存儲部3進行查詢,試驗記錄 參數(shù)設(shè)定部23可得到在存儲部3的參照表內(nèi)所定義的、與該記錄信息對應(yīng)的記錄參數(shù),并 設(shè)定用于試驗記錄動作的試驗記錄參數(shù)。另外,試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23從后述的重放信號 品質(zhì)判斷部26接收到再設(shè)定試驗記錄動作的試驗記錄參數(shù)的命令(試驗記錄參數(shù)變更命 令)時,將再進行試驗記錄參數(shù)的設(shè)定。關(guān)于上述試驗記錄參數(shù)的再設(shè)定,詳見后述。另外,試驗記錄指示部24對拾取裝置驅(qū)動電路13以及激光驅(qū)動電路14發(fā)出指 示,使得基于由試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23所設(shè)定的試驗記錄參數(shù)在光盤2的設(shè)定用區(qū)域41 上進行試驗記錄動作。根據(jù)試驗記錄指示部24的指示,對光盤2的設(shè)定用區(qū)域41進行試驗記錄且形成 記錄標(biāo)記,重放信號取得部25從重放電路15取得該記錄標(biāo)記的重放信號。重放信號品質(zhì)判斷部26根據(jù)重放信號取得部25取得的重放信號來判斷用于該試 驗記錄的試驗記錄參數(shù)的優(yōu)劣。在重放信號品質(zhì)判斷部26中,根據(jù)重放信號取得部25所 取得的重放信號是否滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)來判斷用于該試驗記錄的試驗記錄參數(shù)的 優(yōu)劣。該重放信號如果滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì),重放信號品質(zhì)判斷部26就將該試驗記錄 的試驗記錄參數(shù)確定(設(shè)定)為記錄參數(shù),并送至記錄指示部27。另外,該重放信號如果 不滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì),重放信號品質(zhì)判斷部26進行判斷,判斷試驗記錄參數(shù)設(shè)定部 23所查詢的參照表的分類數(shù)是否大于或等于預(yù)定值。該參照表的分類數(shù)如果小于預(yù)定值, 重放信號品質(zhì)判斷部26將再設(shè)定試驗記錄參數(shù)的試驗記錄參數(shù)變更命令送至試驗記錄參 數(shù)設(shè)定部23,同時將存儲在存儲部3中的參照表的分類進行細分類;參照表的分類數(shù)如果 大于或等于預(yù)定值,重放信號品質(zhì)判斷部26判斷發(fā)生了記錄參數(shù)設(shè)定錯誤,在顯示部(未 圖示)顯示錯誤,并結(jié)束記錄參數(shù)的設(shè)定動作。關(guān)于預(yù)定值,將在后面進行說明。在此,預(yù)定的重放信號品質(zhì)是指,利用記錄重放裝置(本實施方式中的光盤裝置1)的糾錯功能,可充分糾正的范圍內(nèi)的重放信號品質(zhì);也指對記錄重放裝置和光學(xué)盤(本實施方式的光盤2) 等在制造上的偏差予以考慮而任意設(shè)定的值??墒褂米鳛橹胤判盘柶焚|(zhì)的抖動(jitter)、 誤差率等,如果光學(xué)盤存在抖動、誤差率等的底限標(biāo)準(zhǔn)時,也可以將上述標(biāo)準(zhǔn)所確定的底限 值作為預(yù)定的重放信號品質(zhì)來利用。記錄指示部27根據(jù)由重放信號品質(zhì)判斷部26送至的記錄參數(shù),對拾取裝置驅(qū)動 電路13以及激光驅(qū)動電路14發(fā)出在光盤2的用戶區(qū)域42上進行記錄動作的指示。以下,利用圖6至11來說明在光盤裝置1中的記錄參數(shù)的設(shè)定動作。圖6為本實 施方式中對記錄參數(shù)的設(shè)定動作的動作流程進行說明的流程圖。圖7至圖11是表示本實 施方式的參照表的圖。首先,在步驟Sl中,記錄信息取得部22取得光盤2上記錄的記錄信息。然后在步 驟S2中,試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23根據(jù)記錄信息取得部22所取得的記錄信息對存儲部3進 行查詢并設(shè)定試驗記錄參數(shù)。詳細而言,根據(jù)記錄信息,首先,參照圖7和圖11的參照表, 取得與該記錄信息對應(yīng)的記錄參數(shù),然后進行試驗記錄參數(shù)的設(shè)定。圖7表示記錄脈沖參 數(shù)中終端脈沖的下降位置dTlp的參照表,該參照表是控制記錄標(biāo)記的形成結(jié)束位置、即后 邊緣的熱量的參照表。在圖7的參照表中,將大于或等于4T的記錄標(biāo)記長度只分為一種分 類。此時,記錄信息的記錄標(biāo)記長度在未滿4T時,將缺省(default)所設(shè)定的記錄參數(shù)設(shè)定 為記錄參數(shù),記錄信息的記錄標(biāo)記長度在大于或等于4T時,將參照表中相應(yīng)分類的值(此 時為b4)設(shè)定為記錄參數(shù)。例如,作為缺省的設(shè)定,此時,可以預(yù)先設(shè)定Ttop、或者dTlp的 值。另外,圖11作為控制記錄標(biāo)記的形成開始位置、即前邊緣的熱量的參照表,表示 了記錄脈沖參數(shù)中的前端上升位置dTtop的參照表。在圖11中,將記錄標(biāo)記長度分為2T、 3T、大于或等于4T的3種分類。以后的試驗記錄中,不變更該分類數(shù)。因此,用于控制前邊 緣熱量的記錄參數(shù)的數(shù)量不會再增加。如上所述,圖7和圖11的參照表被記錄在盤片的設(shè)定用區(qū)域41,光盤裝置1讀取 上述參照表并將其存儲于存儲部3。之后,試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23參照存儲部3的參照表 來設(shè)定試驗記錄參數(shù)。此時,對于大于4T的記錄標(biāo)記長度(5T以上)的終端脈沖下降位置 dTlp,將與4T時相同的值,也就是b4設(shè)定到試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23。另外,對于大于4T的 記錄標(biāo)記長度(5T以上)時的前端上升位置dTtop,將與4T同樣的值,也就是c4設(shè)定到試 驗記錄參數(shù)設(shè)定部23。由于在試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23中,大于或等于5T與4T同樣,記錄 參數(shù)的值被設(shè)定為相同的值,所以,較之于讀取到9T為止各種不同的記錄參數(shù),可縮短讀 取的時間。試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23對4T到9T設(shè)定相同的記錄參數(shù)的值,在試驗記錄時, 賦于相同的變化量。也就是說,以4T的變化量的值作為4T到9T在試驗記錄時的變化量的 值來使用。在步驟S3中,試驗記錄指示部24基于在試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23所設(shè)定的試驗記 錄參數(shù),對拾取裝置驅(qū)動電路13以及激光驅(qū)動電路14發(fā)出在光盤2的設(shè)定用區(qū)域41上進 行試驗記錄動作的指示。然后在步驟S4中,通過拾取裝置驅(qū)動電路13和激光驅(qū)動電路14, 使光拾取頭11對光盤2的設(shè)定用區(qū)域進行基于該試驗記錄參數(shù)的信息記錄。之后,在步驟 S5中,通過光拾取頭11進行該信息的重放,通過重放電路15取得重放信號。
      在步驟S6中,重放信號取得部25取得該重放信號,并將其送至重放信號品質(zhì)判斷部26。接著,在步驟S7中,重放信號品質(zhì)判斷部26對重放信號取得部26取得的重放信號 是否滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)進行判斷。此時,如果該重放信號滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì) (在步驟S7中為“是”)時,移至步驟S8。如果該重放信號未滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)(在 步驟S7中為“否”)時,移至步驟S9。具體來說,作為重放信號品質(zhì),根據(jù)抖動是否滿足預(yù) 定值(例如6. 5%以下)來判斷重放信號是否滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)。在步驟S9中,通過重放信號品質(zhì)判斷部26進行判斷,判斷試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23 所查詢的參照表中的分類數(shù)是否大于或等于預(yù)定值。該參照表中的分類數(shù)大于或等于預(yù)定 值(在步驟S9中為“是”)時,移至步驟S10。另外,該參照表中的分類數(shù)小于預(yù)定值(在步 驟S9為“否”)時,移至步驟S11。以下說明上述預(yù)定值。具體來說,例如圖7中的參照表的 分類數(shù)為1種。而本實施方式中,由于最大的記錄標(biāo)記長度為9T,所以,如果將4T到9T逐 一進行分類,參照表的分類數(shù)最大為6種。此時,重放信號品質(zhì)判斷部26在步驟S9中判斷 出試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23所查詢的參照表中的分類數(shù)為7種時,就會與圖7中參照表的最 大分類數(shù)為6種的情況發(fā)生矛盾。由此,在記錄參數(shù)設(shè)定動作中發(fā)生錯誤。另外,重放信號 品質(zhì)判斷部26在步驟S9時,判斷出試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23所查詢的參照表中的分類數(shù)為 6種時,由于和圖7中參照表的分類數(shù)的最大值相同,所以不能增加分類數(shù),從而會在記錄 參數(shù)設(shè)定動作中發(fā)生錯誤。由此,在本實施方式中,為能檢測出在記錄參數(shù)設(shè)定動作中發(fā)生 的錯誤,將試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23所查詢的參照表中分類數(shù)的最大值設(shè)定為上述預(yù)定值。 此外,每次再設(shè)定用于試驗記錄動作的試驗記錄參數(shù)時,試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23所查詢的 參照表會發(fā)生變更,而隨著上述參照表的變更,參照表的分類數(shù)的最大值會發(fā)生變化,上述 預(yù)定值與參照表的分類數(shù)的最大值對應(yīng)地變動。在步驟SlO中,記錄參數(shù)設(shè)定動作中發(fā)生錯誤時,重放信號品質(zhì)判斷部26在顯示 部(未圖示)顯示該錯誤,同時使記錄參數(shù)的設(shè)定動作結(jié)束。在步驟Sll中,將進行試驗記錄參數(shù)再設(shè)定的試驗記錄參數(shù)變更命令送至試驗記 錄參數(shù)設(shè)定部23,同時,進行設(shè)定使得存儲在存儲部3的參照表的分類被進一步細分。具 體而言,對于大于或等于4T的記錄標(biāo)記長度,參照表的分類只有一種分類,如圖8所示,將 其分成4T以及大于或等于5T的2種分類,并將該分類設(shè)定于試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23。這 樣,可以獨立地控制4T和大于或等于5T的試驗記錄參數(shù)的設(shè)定值,從而進行試驗記錄。然 后,試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23接受試驗記錄參數(shù)變更命令后重新對存儲部3進行查詢,從圖8 的參照表所定義的記錄參數(shù)中得到與該記錄信息對應(yīng)的記錄參數(shù),再設(shè)定用于試驗記錄動 作的試驗記錄參數(shù)。此時,對于5T至9T,被設(shè)定為相同的值,試驗記錄時被賦予同樣的變化 量。也就是說,5T的值作為從5T至9T的共通值來使用。在進行參照表的變更后,返回到 步驟S2重復(fù)動作流程。另外,每次返回到步驟S2重復(fù)動作流程時,如上所述,進行設(shè)定使 得存儲在存儲部3的參照表的分類被進一步細分。具體而言,在圖8的參照表之后,使用圖 9中所示的參照表,該參照表被分類成4T、5T、大于或等于6Τ的3種分類。在圖9的參照表 之后,使用圖10中所示的參照表,該參照表被分類成4Τ、5Τ、6Τ,大于或等于7Τ的4種分類。 這樣,將參照表的分類階段性地進一步細分。另外,在本實施方式中,用于控制前邊緣熱量的參照表和用于控制后邊緣熱量的 參照表兩者均將大于或等于4Τ (預(yù)定記錄標(biāo)記長度以上)的記錄標(biāo)記長度被分為同一類,但本發(fā)明并不限定于此。例如優(yōu)選的是,在用于控制前邊緣熱量的參照表和用于控制后邊緣熱量的參照表中,上述用于控制后邊緣熱量的參照表較上述用于控制前邊緣熱量的參照 表被進一步細分類,其中,所述的參照表在試驗記錄動作開始時被存入存儲部3。另外,如上所述,用于控制前邊緣熱量的參照表和用于控制后邊緣熱量的參照表 中,上述用于控制后邊緣熱量的參照表較上述用于控制前邊緣熱量的參照表被進一步細分 類。也可以把這些參照表記錄在光盤2的設(shè)定用區(qū)域41。此時,通過光盤裝置1讀取參照表 后將其存儲(記錄)至存儲部3,而且,在用于控制前邊緣熱量的參照表和用于控制后邊緣 熱量的參照表兩者之中,上述用于控制后邊緣熱量的參照表較上述用于控制前邊緣熱量的 參照表被進一步細分類,其中,所述的參照表在試驗記錄動作開始時被存儲于存儲部3中。 也就是說,包含了以下的參照表,即,用于控制前邊緣熱量的參照表,其中,大于或等于預(yù)定 的記錄標(biāo)記長度的分類被分成同一類;以及用于控制后邊緣熱量的參照表,其中,大于預(yù)定 的記錄標(biāo)記長度的分類被分成同一類(即分成等于預(yù)定的記錄標(biāo)記長度的一種分類,和大 于預(yù)定的記錄標(biāo)記長度的一種分類)。由此,較之于用于控制記錄標(biāo)記前邊緣熱量的記錄參數(shù),可以更詳細地對控制記 錄標(biāo)記的后邊緣熱量的記錄參數(shù)進行細分類。較之于同時增加前邊緣和后邊緣兩者的記錄 參數(shù)的分類數(shù),可以減少總體的記錄參數(shù)的數(shù)量。另外,由于記錄標(biāo)記的后邊緣較記錄標(biāo)記 的其他記錄區(qū)域更容易受熱量的影響,所以,通過對用于控制記錄標(biāo)記的后邊緣熱量的記 錄參數(shù)進行細分類,可以更嚴(yán)密地控制記錄標(biāo)記的形成結(jié)束地點,即后邊緣的熱量,減小蓄 積熱量的影響,從而形成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。另外,在本實施方式中,再設(shè)定試驗記錄參數(shù)時,在結(jié)構(gòu)上對存儲在存儲部3的參 照表進行細分類設(shè)定,但并不限定于此。例如,預(yù)先在存儲部3中存儲具有不同分類數(shù)的復(fù) 數(shù)個參照表(例如,將圖7、圖8、圖9及圖10的參照表全部存儲在存儲部3中),在進行試 驗記錄參數(shù)的再設(shè)定時,在結(jié)構(gòu)上變更試驗記錄參數(shù)設(shè)定部23所查詢的參照表的種類即可。例如,關(guān)于終端脈沖的下降位置dTlp,如果最后決定的記錄參數(shù)參照表為圖10的 參照表時,如圖10所示,用于控制記錄標(biāo)記的后邊緣熱量的記錄參數(shù)dTlp在記錄標(biāo)記長度 大于或等于4T時被設(shè)定分類成4T、5T、6T、大于或等于7Τ的4種分類。另外,關(guān)于用于控 制記錄標(biāo)記的前邊緣熱量的記錄參數(shù)dTtop,由于不通過試驗記錄進行再設(shè)定,所以維持步 驟S2的設(shè)定,如圖11所示,dTtop被設(shè)定分成其記錄標(biāo)記長度為2T、3T、大于或等于4Τ的 3種分類。另外,參照表被記錄于光盤的設(shè)定用區(qū)域41時,例如,記錄脈沖參數(shù)dTtop、dTlp 與記錄標(biāo)記長度對應(yīng)的值將會被記錄,如圖16(a)及圖16(b)所示的記錄脈沖參數(shù)dTtop、 dTlp的值將會被記錄于光盤的設(shè)定用區(qū)域41。通過圖16 (a)及圖16 (b)可知記錄脈沖參數(shù)dTtop被分類成2T、3T、大于或等于 4Τ的3個區(qū)域,而記錄脈沖參數(shù)dTlp被分類成2T、3T、4T、大于或等于5Τ的4個區(qū)域。也 就是說,與記錄標(biāo)記長度對應(yīng)地分配用于存儲記錄脈沖參數(shù)dTtop的值的區(qū)域,在大于或 等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度(在圖16(a)中大于或等于4T)時,記錄脈沖參數(shù)dTtop的值的存 儲區(qū)域為同一個區(qū)域。與記錄標(biāo)記長度對應(yīng)地分配用于存儲記錄脈沖參數(shù)dTlp的值的區(qū) 域,在大于預(yù)定的記錄標(biāo)記長度(在圖16(b)中為大于或等于5T)時,記錄脈沖參數(shù)dTlp的值的存儲區(qū)域為同一個區(qū)域。如上所述,在參照表被記錄于光盤2的設(shè)定用區(qū)域41時,較之于用于控制前邊緣 熱量的參照表,控制后邊緣熱量的參照表被進一步細分類。因此,能夠通過從光盤2的設(shè)定 用區(qū)域讀取出參照表來得到本發(fā)明的作用效果。此外,光盤2的設(shè)定用區(qū)域41所記錄的參照表的各個值既可以是通過上述試驗寫 入而記錄的值,也可以是商品出廠時作為預(yù)先記錄而記錄的值。接著,參照圖12對本發(fā)明的作用效果進行說明。圖12表示參照表的分類狀況和 記錄標(biāo)記重放信號的抖動之間的相關(guān)關(guān)系。作為終端脈沖的下降位置dTlp的記錄參數(shù),在條件1中,使用了圖7的參照表(對 應(yīng)記錄標(biāo)記長度,將記錄脈沖參數(shù)分為大于或等于4T的1種分類);在條件2中,使用了圖 8的參照表(對應(yīng)記錄標(biāo)記長度,將記錄脈沖參數(shù)分為4T和大于或等于5T的2種分類); 在條件3中,使用了圖9的參照表(對應(yīng)記錄標(biāo)記長度,將記錄脈沖參數(shù)分為4T、5T和大于 或等于6T的3種分類);在條件4中,使用了圖10的參照表(對應(yīng)記錄標(biāo)記長度,將記錄 脈沖參數(shù)分為4T、5T、6T和大于或等于7T的4種分類)。例如,如果預(yù)定的重放信號品質(zhì)被 定為6. 5%以下的抖動時,根據(jù)圖12可知只有條件4能滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)。也就 是說,為減少記錄參數(shù)的數(shù)量而將記錄標(biāo)記長度的分類歸納得太大時,如條件1、條件2、及 條件3那樣不能滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)。對此,在本發(fā)明中,當(dāng)使用條件1的參照表時, 不能滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì),就使用條件2的參照表,重新設(shè)定使得對參照表的分類進 行細分類,直到滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)為止。另外,預(yù)定的重放信號品質(zhì)并不只限定為6. 5%以下的抖動。在此,預(yù)定的重放信 號品質(zhì)是表示記錄重放裝置的可糾錯等級,且在大量制造光盤裝置1和光盤2時出現(xiàn)偏差 的情況也能充分確保重放信號品質(zhì)。例如,將預(yù)定的重放信號品質(zhì)設(shè)定為7%以下的抖動 時,根據(jù)圖12可知,條件2、3、4成為滿足重放信號品質(zhì)的條件。接著,參照圖15對本發(fā)明的作用效果進行說明。在圖15中,使用圖8的參照表 (對應(yīng)記錄標(biāo)記長度,將記錄脈沖參數(shù)分為4T和大于或等于5T的2種分類)作為終端脈沖 的下降位置dTlp的記錄參數(shù),相對4T的dTlp的位置,使大于或等于5T的dTlp的位置相 對地朝時間軸方向的前方向(即,時間行進方向的反方向)變化時,對dTlp的相對位置與 記錄標(biāo)記重放信號的抖動之間的關(guān)系進行表示。也就是說,在圖4、圖5中,時間行進方向是 從圖的左側(cè)至右側(cè)的方向,所以,大于或等于5T的dTlp向左側(cè)變化。dTlp的值是以記錄信 息的下降位置為基準(zhǔn)的時間來設(shè)定的,其中,該記錄信息與各記錄標(biāo)記長度對應(yīng)。此時,時 鐘間隔T約為3. 8ns、以T/16為單位錯開(移動)dTlp的位置。如圖15所示,相對4T的 dTlp的位置,使大于或等于5T的dTlp的位置相對地朝時間軸的前方向(即,時間行進方向 的反方向)變化時,可知隨著大于或等于5T的dTlp的位置相對地朝時間軸的前方向變化 時,抖動先變好,之后惡化變差(詳細而言,到相對位置“_3”為止抖動逐漸變好,而在相對 位置“_3”以后,抖動逐漸惡化)。另外,在使dTlp變化時,并不使終端脈沖的脈寬Tip的值 發(fā)生變化。由此,如果使dTlp變化,那么Tip的上升位置將接近前端脈沖脈寬Ttop的下降 位置。此時,到Ttop的下降位置和Tip的上升位置發(fā)生重合的位置之前,可以使大于或等 于5T的dTlp朝與時間的行進方向相反的方向發(fā)生變化。上述抖動的變化理由如下。首先,當(dāng)記錄標(biāo)記長度的變長時,前端脈沖和終端脈沖
      15之間的中間期間會變長。因此,記錄標(biāo)記后邊緣熱量的蓄積會增大。所以,通過使記錄標(biāo)記 長度例如大于或等于5T的dTlp的位置向前方向移動,使得中間期間縮短從而可減輕后邊 緣熱量的蓄積,這樣,較之于不縮短中間期間的情況,抖動會變好。但是,如果dTlp的位置 較大地向前方向移動,使得中間期間變得過短,那么,用于形成記錄標(biāo)記后邊緣的熱量出現(xiàn) 不足,也會導(dǎo)致抖動惡化。如圖15表示的結(jié)果可知以4T的dTlp為基準(zhǔn),大于或等于5T 的dTlp的相對位置如果在-T/16到-5T/16之間(在此,把時間軸的后方向(時間行進方 向)設(shè)為+)時,抖動將變?yōu)橐韵拢秳幼兒?。如上所述,具有至少對用于控制記錄?biāo)記的后邊緣熱量的記錄參數(shù)進行定義的參 照表,在上述參照表中,至少與上述記錄信息中的標(biāo)記長度對應(yīng)地進行分類,且,大于或等 于預(yù)定標(biāo)記長度的標(biāo)記長度被分為同一類?;谏鲜鰠⒄毡碓O(shè)定試驗記錄參數(shù),根據(jù)該試 驗記錄參數(shù)進行試驗記錄、并重放試驗記錄,如果不滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)時,根據(jù)標(biāo)記 長度將參照表中的大于或等于上述預(yù)定標(biāo)記長度的分類進一步進行細分類,然后再進行試 驗記錄、并重放試驗記錄,決定出滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)的參照表。由此,盡可能地減少 所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,并通過控制記錄標(biāo)記的形成結(jié)束位置、即后邊緣的熱量,減小蓄 積的熱量的影響,從而形成可得到良好重放信號品質(zhì)(滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì))的記錄 標(biāo)記。另外,較之于記錄標(biāo)記的其他記錄區(qū)域,記錄標(biāo)記的后邊緣容易受熱量的影響,所 以,在形成大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄標(biāo)記時,只要通過控制后邊緣的熱量就能 夠形成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。所以,在本發(fā)明中,至少通過設(shè)定控制后邊緣熱 量的記錄參數(shù),就能夠確實地形成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。另外,在使用參照表已預(yù)先確定的結(jié)構(gòu)的情況下,如果隨著時間的經(jīng)過,光盤2的 軌道的記錄條件發(fā)生變化時,由于不能對應(yīng)軌道記錄條件的變化來頻繁地變更參照表,所 以,不能對應(yīng)軌道記錄條件的變化來形成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。對此,在本發(fā) 明中,具有與試驗記錄的結(jié)果對應(yīng)地重新設(shè)定參照表的分類的結(jié)構(gòu),即使隨著時間的經(jīng)過, 光盤2的軌道的記錄條件發(fā)生了變化,也可以對應(yīng)軌道記錄條件的變化來重新設(shè)定參照表 的分類。由此,即使隨著時間的經(jīng)過,光盤2的軌道的記錄條件發(fā)生了變化,也能夠形成具 有良好重放信號品質(zhì)(滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì))的記錄標(biāo)記。另外,也可以是這樣的結(jié)構(gòu),即,將所設(shè)定的記錄參數(shù)的參照表記錄在光盤2的設(shè) 定用區(qū)域41中,要設(shè)定此后的記錄參數(shù)時,通過光盤裝置1讀取出記錄在設(shè)定用區(qū)域41中 的該參照表。關(guān)于終端脈沖的下降位置dTlp,例如,所決定的記錄參數(shù)的參照表為圖10的 情況時,將該信息記錄在光盤2的設(shè)定用區(qū)域41。這樣,光盤裝置1要設(shè)定此后的記錄參數(shù) dTlp時,可從設(shè)定用區(qū)域41中讀取出圖10的參照表的信息。根據(jù)以上結(jié)構(gòu),可以利用預(yù)先進行試驗記錄所得到的記錄參數(shù)的參照表,作為新 的記錄時的試驗記錄參數(shù)。所以,到記錄參數(shù)被決定為止,可以減少重復(fù)試驗記錄的回數(shù)。 而且,由于所設(shè)定的記錄參數(shù)的參照表被記錄在光盤2的設(shè)定用區(qū)域41,所以,無需另設(shè)置 存儲器等的記憶裝置。在本實施方式中,通過以表的形式形成的參照表來利用記錄參數(shù),但本發(fā)明并不 限于此,也可以將記錄參數(shù)的集合存儲在存儲部中。另外,在本實施方式中,作為參照表的分類方法,說明了從短的標(biāo)記長度開始進行
      16階段性分類的方法,但并不限定于此。不過,記錄標(biāo)記長度越短,其在記錄于用戶區(qū)域42的 數(shù)據(jù)中發(fā)生頻度越高。另外,在試驗記錄中,沒有必要直接使用用戶區(qū)域42中所記錄的數(shù) 據(jù),而是通過使用隨機的數(shù)據(jù),從短的記錄標(biāo)記長度向長的記錄標(biāo)記長度進行階段性分類 時,具有易于得到良好重放信號品質(zhì)的利點。此外,從短的記錄標(biāo)記長度向長的記錄標(biāo)記長 度進行階段性分類時,還可以得到滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)的最小分類數(shù)。由此,具有以下 優(yōu)點,即,能夠容易地設(shè)定使得參照表的記錄參數(shù)的數(shù)量為滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)的最 小分類數(shù)。此外,在本實施方式中,作為參照表中所分類的記錄信息,使用了記錄標(biāo)記長度, 但并不限定于此。例如,也可以將記錄標(biāo)記長度和空白長度作為記錄信息在參照表中進行 分類。此時,只使記錄標(biāo)記長度的分類發(fā)生變化,而不對空白長度進行分類,這樣可以和本 實施方式一樣抑制記錄參數(shù)的數(shù)量。另外,在本實施方式中,作為參照表的一個示例,使用了終端脈沖的下降位置dTlp 進行了說明,但并不限定于此。即使使用終端脈沖脈寬的Tip或冷卻期間的冷卻結(jié)束位置 dTe所分類的參照表,也可以控制記錄標(biāo)記后邊緣的熱量,并得到同樣效果。此外,如圖5 所示,在大于或等于4T時,具有前端脈沖和終端脈沖的2個脈沖,除該2個脈沖的脈沖列以 外,還可以為其他的脈沖列,例如,圖13表示的脈沖列,該脈沖列是通過使中間功率Pm和記 錄功率Pw相等,用1個記錄脈沖構(gòu)成記錄標(biāo)記的脈沖列;以及圖14表示的脈沖列,該脈沖 列是終端脈沖的記錄功率Pw和中間功率Pm相等的脈沖列。由于圖13和圖14中不存在表 示終端脈沖脈寬的Tip,可使用圖13和圖14所示的終端脈沖下降位置dTlp。也就是說,在 使用其生成有圖13和圖14所示的脈沖列的記錄介質(zhì)時,可采用終端脈沖的下降位置dTlp 的參照表。此時,在圖13中,使dTlp變化時,可以使dTlp朝與時間方向相反的方向發(fā)生變 化,且不使dTtop的位置和dTlp的位置發(fā)生重合。另外,在圖14中,使dTlp變化時,可以 使dTlp朝與時間方向相反的方向發(fā)生變化,且不使Ttop的下降位置和dTlp的位置發(fā)生重
      1=1 o此外,在本實施方式中,使用了前端上升位置dTtop作為控制前邊緣熱量的記錄 參數(shù),但并不限定于此。也可以使用前端脈沖的脈寬Ttop作為記錄參數(shù)。另外,在本實施方式中,說明了這樣的結(jié)構(gòu),即不通過試驗記錄來再設(shè)定用于控制 前邊緣熱量的記錄參數(shù),但并不限定于此。例如,也可以是這樣的結(jié)構(gòu),即,可以通過試驗記 錄來再設(shè)定用于控制后邊緣熱量的記錄參數(shù),也可以通過試驗記錄來再設(shè)定用于控制前邊 緣熱量的記錄參數(shù)。此時,可與再設(shè)定用于控制后邊緣熱量的記錄參數(shù)相同地,再設(shè)定用于 控制前邊緣熱量的記錄參數(shù)。另外,在本實施方式中,第1步驟和第2步驟均在記錄參數(shù)設(shè)定部21中進行,其 中,在第1步驟中,對用于控制前邊緣熱量的記錄參數(shù)組,將大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度 的記錄參數(shù)分為同一類,在第2步驟中,對用于控制后邊緣熱量的記錄參數(shù)組,至少根據(jù)上 述記錄信息中的記錄標(biāo)記長度進行分類,同時較之于用于控制上述前邊緣熱量的記錄參數(shù) 的分類,將大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄標(biāo)記長度更進一步細分類。也可以與各步 驟(第1及第2步驟)對應(yīng)地在不同的設(shè)定部中進行。此外,在本實施方式中,關(guān)于最初使用于試驗記錄的參照表,將大于或等于4T的 記錄標(biāo)記長度設(shè)為同一類,但并不限定于此,只要是大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度即可,預(yù)定記錄標(biāo)記長度可以取任意正的整數(shù)值。在此,大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度是指,預(yù)測記錄標(biāo)記的后邊緣不受前邊緣的蓄熱影響的記錄標(biāo)記長度,即,預(yù)測能獨立地對后邊緣的記 錄參數(shù)和前邊緣的記錄參數(shù)進行控制的記錄標(biāo)記長度以上的記錄標(biāo)記長度。根據(jù)信息記錄 介質(zhì)(在本實施方式中的光盤2)的種類來任意設(shè)定。另外,在本實施方式中,舉例說明了使用抖動來評價試驗記錄的重放信號品質(zhì),但 并不限定于此,例如,也可以使用誤差率來評價試驗記錄的重放信號品質(zhì)。只要是能用來評 價試驗記錄的重放信號品質(zhì)的指標(biāo)即可。此外,在本實施方式中,作為d= 1的行程長度限制符號,使用了(1,7)RLL碼,但 并不限定于此。也可以使用其他調(diào)制方式及其他編碼。另外,在本實施方式中,使用了光調(diào)制記錄的光盤裝置1,但并不限定于此,也可使 用光磁性調(diào)制記錄的光盤裝置。除此之外,在本實施方式中,作為記錄重放裝置的一例,使 用了光盤裝置1,但并不限定于此。例如,只要是通過對信息記錄介質(zhì)進行加熱而使該信息 記錄介質(zhì)的物理特性發(fā)生變化從而進行信息記錄的裝置即可。與光盤裝置1相同地,可利 用磁性記錄裝置、光磁性記錄裝置等。最后,上述實施方式中的記錄參數(shù)設(shè)定部21的各部和各處理步驟可通過下述處 理來實現(xiàn),即,CPU等的演算部執(zhí)行ROM (Read Only Memory)或RAM等存儲部中所存儲的程 序,并控制鍵盤等的輸入部、顯示屏等的輸出部或者接口電路等的通信部等。由此,計算機 具有上述各部,其讀取記錄于記錄介質(zhì)的上述程序并實行該程序,從而可實現(xiàn)本實施方式 中的記錄參數(shù)設(shè)定部21的各種功能及各種處理。另外,也可以將上述程序記錄于可移動的 記錄介質(zhì)上,通過任意的計算機來實現(xiàn)上述的各種功能及各種處理。作為該記錄介質(zhì),可以是微型計算機進行處理的存儲器(未圖示),例如ROM的程 序介質(zhì),或者,也可以是這樣的程序介質(zhì),即,被設(shè)置于程序讀取裝置的、通過插入記錄介質(zhì) 而可讀取的程序介質(zhì),該程序讀取裝置作為外部存儲裝置。另外,不論是哪種情況,被存儲的程序優(yōu)選微型處理器可存取并執(zhí)行的程序。另 外,優(yōu)選這樣的方式,即,讀取出程序,將所讀取出的程序被下載至微型計算機的程序存儲 區(qū),然后實行該程序。其中,下載用的程序被預(yù)先存儲在主體裝置。另外,作為上述程序介質(zhì),可以是能與主體分離的記錄介質(zhì)、例如,可以是包含半 導(dǎo)體存儲器在內(nèi)的、固定地保持程序的記錄介質(zhì),其中,半導(dǎo)體存儲器諸如有磁帶、盒式帶 等的帶類、包括軟盤、硬盤等磁盤以及⑶-ROM、M0、MD、DVD、⑶-R等光盤的盤類、IC卡(包 括存儲卡)、光卡等的卡類或掩膜型R0M、EPR0M(可編程只讀存儲器)、EEPR0M(電可編程只 讀存儲器)、閃存(Flash ROM)等的半導(dǎo)體存儲器。另外,如果是系統(tǒng)結(jié)構(gòu)上能夠連接包括互聯(lián)網(wǎng)在內(nèi)的通信網(wǎng)絡(luò),也可以是這樣的 記錄介質(zhì),即,像從通信網(wǎng)絡(luò)下載程序那樣,可流動性地保持程序的記錄介質(zhì)。如上所述,優(yōu)選的是,從通信網(wǎng)絡(luò)下載程序時,該下載用的程序被預(yù)先存儲在主體 裝置中,或者從別的記錄介質(zhì)中取得。根據(jù)本發(fā)明,增加記錄參數(shù)組的分類數(shù),決定用于滿足預(yù)定重放信號品質(zhì)的記錄 參數(shù)。所以,決定用于滿足預(yù)定重放信號品質(zhì)的記錄參數(shù)時,可抑制使得記錄參數(shù)組的分類 數(shù)為較少。另外,至少決定用于控制后邊緣熱量的記錄參數(shù)以使得滿足預(yù)定重放信號品質(zhì), 所以,可減小蓄積在后邊緣的熱量的影響,并能形成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。由此,可取得這樣的效果,即,可抑制所使用記錄參數(shù)的數(shù)量,可確實地形成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置用于設(shè)定記錄參數(shù),該記錄參數(shù)用于根據(jù)記錄信息在 信息記錄介質(zhì)上形成記錄標(biāo)記,該記錄參數(shù)設(shè)定裝置具備試驗記錄參數(shù)設(shè)定部,根據(jù)上述 記錄信息對存儲有記錄參數(shù)組的存儲部進行查詢并設(shè)定用于進行試驗記錄的試驗記錄參 數(shù),其中,上述記錄參數(shù)組用于控制上述記錄標(biāo)記的至少后邊緣的熱量,該后邊緣是上述記 錄標(biāo)記的形成結(jié)束區(qū)域,上述記錄參數(shù)組至少根據(jù)上述記錄信息中的記錄標(biāo)記長度進行分 類,并且,上述記錄參數(shù)組中,記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù)被分 為同一類;以及重放信號品質(zhì)判斷部,當(dāng)重放信號不能滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)時,對上述 記錄參數(shù)組中的記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的分類進一步實施細分并再 次進行試驗記錄、當(dāng)上述重放信號滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)時,將試驗記錄參數(shù)設(shè)定為上 述記錄參數(shù),其中,上述重放信號是通過重放基于上述試驗記錄參數(shù)的試驗記錄所得到的 信號。另外,在本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置中,優(yōu)選的是,當(dāng)上述重放信號不能滿足預(yù)定 的重放信號品質(zhì)時,上述重放信號品質(zhì)判斷部對上述記錄參數(shù)組中的記錄標(biāo)記長度大于或 等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的分類進行重新分類,并分成預(yù)定記錄標(biāo)記長度的分類和非預(yù)定記 錄標(biāo)記長度的分類。由此,階段性地逐漸增加記錄參數(shù)的分類數(shù),決定用于滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì) 的記錄參數(shù)。所以,決定用于滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)的記錄參數(shù)時,對于記錄參數(shù)組的分 類數(shù)量,在可確實地取到滿足預(yù)定重放信號品質(zhì)的記錄參數(shù)組中,其分類數(shù)量為最小值。因 此,可以抑制使得所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量為最小值,而且可更確實地形成具有良好重放 信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。另外,在本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置中,優(yōu)選的是,上述記錄參數(shù)是脈沖列的終端 下降位置,該脈沖列用于形成上述記錄標(biāo)記。由此,以用于形成記錄標(biāo)記的脈沖列的終端下降位置作為記錄參數(shù),能夠抑制所 使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。另外,在本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置中,優(yōu)選的是,上述記錄參數(shù)是脈沖列的終端 脈沖的脈寬,該脈沖列用于形成上述記錄標(biāo)記。因此,以用于形成記錄標(biāo)記的脈沖列的終端脈沖的脈寬作為記錄參數(shù),能夠抑制 所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。另外,本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置用于設(shè)定記錄參數(shù),該記錄參數(shù)用于根據(jù)記錄 信息在信息記錄介質(zhì)上形成記錄標(biāo)記,上述記錄參數(shù)包括用于控制上述記錄標(biāo)記的前邊 緣的熱量的記錄參數(shù)組,該記錄參數(shù)組至少根據(jù)上述記錄信息中的記錄標(biāo)記長度進行分 類,而且,該記錄參數(shù)組中,記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù)被分為 同一類;以及用于控制上述記錄標(biāo)記的后邊緣的熱量的記錄參數(shù)組,該記錄參數(shù)組至少根 據(jù)上述記錄信息中的記錄標(biāo)記長度進行分類,而且,較之于上述用于控制記錄標(biāo)記的前邊 緣的熱量的記錄參數(shù)組,該記錄參數(shù)組中的記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的 分類被進一步細分。另外,在本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置中,優(yōu)選的是,對上述記錄標(biāo)記的后邊緣的熱量進行控制的記錄參數(shù)是脈沖列的終端下降位置,該脈沖列用于形成上述記錄標(biāo)記。由此,以用于形成記錄標(biāo)記的脈沖列的終端下降位置作為用于控制記錄標(biāo)記的后 邊緣熱量的記錄參數(shù),能夠抑制所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有良好 重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。另外,在本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置中,優(yōu)選的是,對上述記錄標(biāo)記的后邊緣的熱 量進行控制的記錄參數(shù)是脈沖列的終端脈沖的脈寬,該脈沖列用于形成上述記錄標(biāo)記。由此,以用于形成記錄標(biāo)記的脈沖列的終端脈沖的脈寬作為用于控制記錄標(biāo)記的 后邊緣熱量的記錄參數(shù),能夠抑制所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有良 好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。另外,在本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置中,優(yōu)選的是,對上述記錄標(biāo)記的后邊緣的熱 量進行控制的記錄參數(shù)是脈沖列的冷卻期間結(jié)束的冷卻結(jié)束位置,該脈沖列用于形成上述
      記錄標(biāo)記。由此,以用于形成記錄標(biāo)記的脈沖列的冷卻期間結(jié)束的冷卻結(jié)束位置作為控制記 錄標(biāo)記的后邊緣熱量的記錄參數(shù),能夠抑制所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形 成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。另外,在本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置中,優(yōu)選的是,對上述記錄標(biāo)記的前邊緣的熱 量進行控制的記錄參數(shù)是脈沖列的前端上升位置,該脈沖列用于形成上述記錄標(biāo)記。由此,以用于形成記錄標(biāo)記的脈沖列的前端上升位置作為控制記錄標(biāo)記的前邊緣 熱量的記錄參數(shù),能夠抑制所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有良好重放 信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。另外,在本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置中,優(yōu)選的是,對上述記錄標(biāo)記的前邊緣的熱 量進行控制的記錄參數(shù)是脈沖列的前端脈沖的脈寬,該脈沖列用于形成上述記錄標(biāo)記。由此,以用于形成記錄標(biāo)記的脈沖列的前端脈沖的脈寬作為控制記錄標(biāo)記的前邊 緣熱量的記錄參數(shù),能夠抑制所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有良好重 放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。另外,在本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置中,優(yōu)選的是,在對上述記錄標(biāo)記的后邊緣的 熱量進行控制的記錄參數(shù)組中,記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的分類被進一 步細分,分成預(yù)定記錄標(biāo)記長度的分類和非預(yù)定記錄標(biāo)記長度的分類。由此,較之于用于控制記錄標(biāo)記的前邊緣熱量的記錄參數(shù)組的分類數(shù),用于控制 記錄標(biāo)記的后邊緣熱量的記錄參數(shù)組的分類數(shù)將多細分出1個種類。所以,能夠抑制所使 用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。另外,在本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置中,優(yōu)選的是,在對上述記錄標(biāo)記的后邊緣的 熱量進行控制的記錄參數(shù)組中,記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的分類被進一 步細分,分成預(yù)定記錄標(biāo)記長度的分類和非預(yù)定記錄標(biāo)記長度的分類,上述預(yù)定記錄標(biāo)記 長度的記錄參數(shù)和上述非預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù)被設(shè)定為不同的值。由此,上述預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù)和上述非預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù) 被設(shè)定為不同的值,即使非預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄標(biāo)記長度變長時導(dǎo)致抖動惡化,也可 以使非預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù)獨立于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù)地進行設(shè)定使 得減輕后邊緣的熱量。所以,能夠抑制所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有
      20良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。另外,在本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置中,優(yōu)選的是,對上述記錄標(biāo)記的后邊緣的熱 量進行控制的記錄參數(shù)是脈沖列的終端下降位置,該脈沖列用于形成上述記錄標(biāo)記,而且, 以各記錄標(biāo)記長度所對應(yīng)的記錄信息的下降位置為基準(zhǔn),相對用于形成上述預(yù)定記錄標(biāo)記 長度的記錄標(biāo)記的脈沖列的終端下降位置,在時間軸方向的與時間行進方向相反的方向 上,錯開地設(shè)定用于形成上述非預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄標(biāo)記的脈沖列的終端下降位置。隨著記錄標(biāo)記長度的變長,前端脈沖和終端脈沖之間的中間期間會變長,從而記 錄標(biāo)記的后邊緣的蓄熱量增大,根據(jù)上述結(jié)構(gòu),能減輕記錄標(biāo)記的后邊緣熱量的增大。也就 是說,在時間軸方向的與時間行進方向相反的方向上,錯開地設(shè)定用于形成非預(yù)定記錄標(biāo) 記長度的記錄標(biāo)記的脈沖列的終端下降位置,從而,能縮短中間期間,減輕記錄標(biāo)記的后邊 緣的蓄熱量、使抖動變得良好。另外,在本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置中,優(yōu)選的是,上述預(yù)定記錄標(biāo)記長度大于或 等于4T。因此,對于不受前邊緣蓄熱影響的記錄標(biāo)記的后邊緣,S卩,對于能獨立于前邊緣的 記錄參數(shù)來控制記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄標(biāo)記的后邊緣的記錄 參數(shù),從而可進行設(shè)定使得減輕后邊緣的蓄熱量。所以,能夠抑制所使用的記錄參數(shù)的數(shù) 量,而且能更確實地形成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。此外,可以利用計算機并通過程序來執(zhí)行上述記錄參數(shù)設(shè)定裝置中的各部的功 能。而且,通過將上述程序記錄在計算機可讀取的記錄介質(zhì)上,則可利用任意的計算機執(zhí)行 上述程序。上述記錄參數(shù)設(shè)定裝置所設(shè)定的記錄參數(shù)被記錄在本發(fā)明中的信息記錄介質(zhì)的 預(yù)定區(qū)域。根據(jù)上述發(fā)明,能夠抑制所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有良 好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。本發(fā)明的記錄重放裝置包括對信息記錄介質(zhì)進行記錄/重放的光拾取裝置;以 及上述記錄參數(shù)設(shè)定裝置。根據(jù)上述發(fā)明,能夠抑制所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有良 好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。本發(fā)明并不限于上述各實施方式,可以根據(jù)權(quán)利要求所示的范圍進行各種的變 化,適當(dāng)?shù)亟M合不同實施方式所揭示的技術(shù)手段而得到的實施方式也包含于本發(fā)明的技術(shù) 范圍之內(nèi)。工業(yè)可利用性通過本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置、記錄參數(shù)設(shè)定裝置的程序、記錄有該程序的計 算機可讀取的記錄介質(zhì)、信息記錄介質(zhì)、記錄重放裝置以及記錄參數(shù)設(shè)定方法,能夠抑制所 使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,而且能更確實地形成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。因此,本 發(fā)明適用于利用光盤、光磁性盤等信息記錄介質(zhì)的工業(yè)領(lǐng)域,特別適用于利用可高速記錄 的信息記錄介質(zhì)的工業(yè)領(lǐng)域。
      權(quán)利要求
      一種記錄重放裝置,該記錄重放裝置從在預(yù)定區(qū)域中記錄有脈沖列的記錄參數(shù)的信息記錄介質(zhì)讀取出該記錄參數(shù)來進行記錄動作,其中,上述脈沖列用于對應(yīng)記錄信息來形成記錄標(biāo)記,該記錄重放裝置的特稱在于用以從第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度起形成最大記錄標(biāo)記長度的記錄標(biāo)記的、上述脈沖列含有,包含了前端脈沖的前端部、包含了冷卻期間的終端部、由上述前端部與上述終端部之間的中間期間所構(gòu)成的中間部,上述記錄參數(shù)含有,上述前端部的、從上述第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度起最大記錄標(biāo)記長度被分為同類的記錄參數(shù)群,其中,該記錄參數(shù)群對應(yīng)上數(shù)記錄信息中的至少記錄標(biāo)記長度被分類,該記錄參數(shù)群用以控制上述記錄標(biāo)記中的前邊緣的熱;上述冷卻期間的、從第2預(yù)定記錄標(biāo)記長度起最大記錄標(biāo)記長度被分為同類的冷卻開始位置,其中,該冷卻開始位置對應(yīng)上數(shù)記錄信息中的至少記錄標(biāo)記長度被分類,該冷卻開始位置用以控制上述記錄標(biāo)記中的后邊緣的熱,上述第2預(yù)定記錄標(biāo)記長度比上述第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度長。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記錄重放裝置,其特稱在于用以形成上述中間期間的中間功率比用以形成上述冷卻期間的冷卻功率大。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記錄重放裝置,其特征在于將上述第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度以上時的上述冷卻開始位置按該第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度 和、除該第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度之外的記錄標(biāo)記長度來分類。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的記錄重放裝置,其特征在于將上述第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度以上時的上述冷卻開始位置按該第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度 和、除該第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度之外的記錄標(biāo)記長度來分類;相對于該第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度時的冷卻開始位置,把除該第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度之 外的記錄標(biāo)記長度時的冷卻開始位置設(shè)定成不同的值。
      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的記錄重放裝置,其特征在于相對于用以對上述第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄標(biāo)記進行形成的冷卻開始位置,以 對應(yīng)了各記錄標(biāo)記長度的記錄信息中的下降位置為基準(zhǔn),向時間軸的時間行進方向的逆方 向,相對錯開地設(shè)定用以對除上述第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度之外的記錄標(biāo)記長度的記錄標(biāo)記 進行形成的冷卻開始位置。
      6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記錄重放裝置,其特征在于上述前端部的記錄參數(shù)表示了用以對上述記錄標(biāo)記進行形成的脈沖列的、前端上升位置。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記錄重放裝置,其特征在于上述前端部的記錄參數(shù)表示了用以對上述記錄標(biāo)記進行形成的脈沖列的、前端脈沖幅。
      8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記錄重放裝置,其特征在于 上述第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度大于等于4T。
      9.一種信息記錄介質(zhì),其特征在于權(quán)利要求1所述的記錄重放裝置將記錄信息記錄于該信息記錄介質(zhì)的用戶區(qū)域。
      10.一種重放裝置,其特征在于對權(quán)利要求9所述的信息記錄介質(zhì)進行重放。
      11.一種、記錄重放裝置的記錄標(biāo)記形成方法,其中,上述記錄重放裝置在信息記錄介質(zhì)上形成記錄標(biāo)記,上述信息記錄介質(zhì)的預(yù)定 區(qū)域中記錄有脈沖列的記錄參數(shù),上述脈沖列用以對應(yīng)記錄信息來形成記錄標(biāo)記,該記錄重放裝置的記錄標(biāo)記形成方法的特征在于用以從第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度起形成最大記錄標(biāo)記長度的記錄標(biāo)記的、上述脈沖列含 有,包含了前端脈沖的前端部、包含了冷卻期間的終端部、由上述前端部與上述終端部之間 的中間期間所構(gòu)成的中間部,上述記錄參數(shù)含有,上述前端部的、從上述第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度起最大記錄標(biāo)記長度被分為同類的記錄 參數(shù)群,其中,該記錄參數(shù)群對應(yīng)上數(shù)記錄信息中的至少記錄標(biāo)記長度被分類,該記錄參數(shù) 群用以控制上述記錄標(biāo)記中的前邊緣的熱;上述冷卻期間的、從第2預(yù)定記錄標(biāo)記長度起最大記錄標(biāo)記長度被分為同類的冷卻開 始位置,其中,該冷卻開始位置對應(yīng)上數(shù)記錄信息中的至少記錄標(biāo)記長度被分類,該冷卻開 始位置用以控制上述記錄標(biāo)記中的后邊緣的熱,上述記錄參數(shù)被從上述信息記錄介質(zhì)讀取出,并被用以進行記錄動作,上述第2預(yù)定記錄標(biāo)記長度比上述第1預(yù)定記錄標(biāo)記長度長。
      全文摘要
      本發(fā)明的記錄參數(shù)設(shè)定裝置具備試驗記錄參數(shù)設(shè)定部(23),根據(jù)記錄信息對存儲有記錄參數(shù)組的存儲部進行查詢并設(shè)定用于進行試驗記錄的試驗記錄參數(shù),其中,該記錄參數(shù)組用于至少控制后邊緣的熱量,該記錄參數(shù)組至少根據(jù)記錄標(biāo)記長度進行分類,并且,上述記錄參數(shù)組中,記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的記錄參數(shù)被分為同一類;以及重放信號品質(zhì)判斷部(26),當(dāng)重放信號不能滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)時,對上述記錄參數(shù)組中的記錄標(biāo)記長度大于或等于預(yù)定記錄標(biāo)記長度的分類進一步實施細分并再次進行試驗記錄、當(dāng)上述重放信號滿足預(yù)定的重放信號品質(zhì)時,將試驗記錄參數(shù)設(shè)定為上述記錄參數(shù),其中,上述重放信號是重放基于試驗記錄參數(shù)的試驗記錄所得到的信號。由此,能抑制所使用的記錄參數(shù)的數(shù)量,并能更確實地形成具有良好重放信號品質(zhì)的記錄標(biāo)記。
      文檔編號G11B7/005GK101826339SQ20101015758
      公開日2010年9月8日 申請日期2007年3月27日 優(yōu)先權(quán)日2006年4月28日
      發(fā)明者前田茂己, 榮藤淳, 足立佳久 申請人:夏普株式會社
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