專利名稱：用于循環(huán)調(diào)整器件的方法和電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種形成在芯片上的用于使其符合規(guī)范的調(diào)整電路部件，特別地，涉 及用于使其符合規(guī)范的共享調(diào)整值或者代碼的網(wǎng)絡(luò)。
背景技術(shù)：
芯片的制備過程中，微小的工藝改變就會(huì)引起變化，隨著時(shí)間的流逝和/或其它 環(huán)境條件，這種變化造成芯片上的電路不能符合其規(guī)范。這樣的變化可能包括，但是不限 于，化學(xué)和成分差異、芯片的物理差異、光刻的差異、壓力以及溫度的差異等。這些差異中的 每一種都可能是微小的，但是它們會(huì)以這樣的方式累加而使電路超出規(guī)范。用于恢復(fù)超出規(guī)范的芯片的一種方法是調(diào)整芯片上的部件。通常在有問題的芯片 上測量一個(gè)參數(shù)，如電壓、電流、電阻或者頻率，并且，如果測量結(jié)果不符合規(guī)范，就對(duì)電路 的部件中施加調(diào)整以使該參數(shù)符合其規(guī)范。調(diào)整通常通過金屬連接對(duì)電阻的串聯(lián)布置施加 作用，或者對(duì)短路一些部件的熔絲施加作用。熔絲可以選擇性地被斷開來改變最終電阻。例 如，一個(gè)VC0(電壓控制振蕩器)可具有一個(gè)RC(電阻/電容)延遲，其決定了 VCO的頻率。 可調(diào)整電阻以使VCO符合其頻率規(guī)范。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明包括一個(gè)包含有并聯(lián)路徑的部件的網(wǎng)絡(luò)。每一個(gè)路徑包括通過一個(gè)或者多 個(gè)熔絲使其長度的一部分物理短路的部件。該部件未被短路的部分的值可被測量并且與規(guī) 范比較。如果超出規(guī)范，就通過選擇性地?cái)嚅_熔絲來改變部件的值?？赏ㄟ^代碼來識(shí)別要被斷開的特定的熔絲，稱為TRIM CODE (調(diào)整代碼)。代碼可 以是二進(jìn)制代碼，但是其它的代碼也是可用的，如一對(duì)一的代碼，其中每個(gè)代碼比特標(biāo)識(shí)一 個(gè)熔絲，并且1可表示要被斷開的熔絲。相同的代碼然后被用于并聯(lián)路徑中的部件，這樣并聯(lián)的部件的百分比改變與被首 次調(diào)整的部件的百分比改變匹配。而且，相同的代碼還可用于相同的芯片上其它可調(diào)整的 網(wǎng)絡(luò)。作為例示，可測量一個(gè)不在網(wǎng)絡(luò)中的部件的值，當(dāng)與規(guī)范比較時(shí)，該部件的值表示 可對(duì)其它部件網(wǎng)絡(luò)中的熔絲應(yīng)用的一個(gè)特定的調(diào)整代碼，使它們符合其規(guī)范。一個(gè)或者多個(gè)可編程的開關(guān)可串聯(lián)設(shè)置在部件網(wǎng)絡(luò)的每個(gè)并聯(lián)路徑中，其中關(guān)閉 開關(guān)使被調(diào)整部件互相并聯(lián)。本發(fā)明可應(yīng)用于電阻、FET、電容，事實(shí)上可以應(yīng)用于由芯片上的物理長度所限定 的任何的部件，其中通過可隨后斷開的熔絲把所述長度的一部分短路連接。


本發(fā)明的描述結(jié)合下述附圖來說明圖1是本發(fā)明的一個(gè)示例的示意圖；以及
圖2是圖1中的部件的詳細(xì)示意圖，以及圖3示出了多組可調(diào)整網(wǎng)絡(luò)。
具體實(shí)施方式
本發(fā)明記載了一種開關(guān)并聯(lián)路徑的可調(diào)整部件網(wǎng)絡(luò)，其中每一個(gè)并聯(lián)路徑含有部 件(典型地為電阻)，所述部件的一部分通過熔絲被旁路連接。對(duì)于并聯(lián)的路徑中每一個(gè)可 調(diào)整部件，被旁路的部分表示該部件值的相同的百分比。部件被測量并與規(guī)范比較，如果不 符合規(guī)范，規(guī)定數(shù)量的熔絲就被斷開，從而使該部件符合其規(guī)范。TRIM CODE用于標(biāo)識(shí)要被 斷開的特定的熔絲，同樣也用于標(biāo)識(shí)保持未斷開的熔絲。對(duì)并聯(lián)路徑中的部件采用相同的 TRIM CODE。圖1是一個(gè)包含輸入IN、輸出OUT和三個(gè)并聯(lián)路徑(路徑A，路徑B和路徑C)的 RC(電阻電容)延遲電路的示意圖。開關(guān)SO是可編程的，并且當(dāng)連通時(shí)，路徑B與路徑A并 聯(lián)。同樣開關(guān)Sl使路徑C并聯(lián)于路徑A。當(dāng)SO和Sl都連通時(shí)，路徑A，B，和C都是并聯(lián)的。 如圖所示，這些路徑在各自路徑的兩端連接在一起，但是這些路徑也可以只在一端連接，而 另一端可與地或者其它節(jié)點(diǎn)連接。雖然只有三個(gè)路徑A，B，和C會(huì)在下文中進(jìn)一步討論，但是注意到可能存在額外的 路徑(具有額外的開關(guān)Sn的路徑η)。在路徑A中，電阻Rl包括一個(gè)部分AR1，如圖2中所示，該部分通過熔絲破旁路。 路徑B中的R2，路徑C中的R3也同樣分別具有被旁路的部分AR2和AR3。在圖1的實(shí)施例中，在使用完好的熔絲將ARl短路的情況下從IN到OUT測量路 徑A中的電阻R1。在這個(gè)實(shí)例中，SO和Sl是斷開的，所測得的IN和OUT之間的電阻只是 Rl的未被旁路的部分2的電阻。測量可通過將一個(gè)隨著時(shí)間變化的信號(hào)引入IN節(jié)點(diǎn)，并 且在OUT處測量輸出信號(hào)來實(shí)現(xiàn)。輸出信號(hào)所造成的時(shí)間延遲波形可能會(huì)顯示出R1，C1電 路可能不符合規(guī)范。如果這樣，就可以許可改變從IN到OUT的電阻R1。在圖1中，電容Cl 可以被分開測量，這樣就可以確定Rl值的百分比改變，來使電路符合規(guī)范。需要指出，電阻Rl可通過一個(gè)歐姆計(jì)或者本領(lǐng)域技術(shù)人員熟知的其它方法來測 量。圖2示出了圖1中的Rl的細(xì)節(jié)。在圖2中，Rl被假定具有一個(gè)符合規(guī)范的標(biāo)稱 值。Rl的未被旁路的部分2設(shè)定為0.9R1，并且ARl的值(如果未被旁路)將使Rl的值 提高到1. IRl (比標(biāo)稱值Rl高出10%)。如圖所示，兩個(gè)熔絲Fl和F2旁路了 ARl的多 個(gè)部分。如果Fl斷開，Rl的結(jié)果值就是1. 0R1，并且如果隨后F2也斷開，則該結(jié)果值就變 成1.1R1。需要注意的是圖2是示例性的，可以使用更多的熔絲來旁路ARl部分。例如， 可以在ARl上使用256個(gè)熔絲，要被斷開的或者維持完好的具體的熔絲可以被保持為叫做 TRIMC0DE的代碼。類似地，同樣的TRIM CODE也可用于AR2和Δ R3，或者同一芯片上的其它的可調(diào)
整網(wǎng)絡(luò)。所得到的調(diào)整代碼的間隔性允許非常精細(xì)的調(diào)節(jié)和總的調(diào)節(jié)。例如，如果ARl包 含Rl的最大值的20%，那么這20%可通過8比特或者256比特來劃分，其中Rl的改變的 選擇間隔就會(huì)小于0.01% (20%/256)。需要注意到，ARl可實(shí)際上被設(shè)置為由設(shè)計(jì)者決定的總的Rl值的任何比例的部分。例如，ARl可以大于50%，或者小于1%。對(duì)AR2和 AR3也是一樣。需要說明，TRIM CODE可以具有8比特的寬度，其中TRIM CODE中每一個(gè)位置代表 一個(gè)特定的熔絲。也就是說沿著ARl的長度可以布置8個(gè)熔絲，每個(gè)熔絲一對(duì)一地對(duì)應(yīng)著 八個(gè)比特位置之一。在一個(gè)比特位置的1可表示該熔絲被斷開，而零代表保持熔絲完好。
為了 R1，C1電路符合規(guī)范，Rl所需要的改變量直接取決于測量的值偏離規(guī)范的程 度。例如，如果測量延遲比規(guī)范限制長10%，可以通過減小Rl的值超過10%，從而使延遲 在規(guī)范范圍內(nèi)。仍然參考圖1，TRIM CODE與使電路符合規(guī)范所需要的改變相關(guān)。在這個(gè)示例中， TRIM CODE用于所有三個(gè)電阻，Rl, R2和R3。在操作中，假定Rl通過TRIM CODE已經(jīng)改變?yōu)樘幱谝?guī)范的范圍內(nèi)。作用在ARl 的TRIM CODE同樣作用于AR2和AR3。使用相同的TRIM CODE意味著調(diào)整的電阻R2和調(diào) 整的電阻R3跟隨調(diào)整的電阻Rl。相似地，通過閉合開關(guān)SO和Sl而使路徑B和/或路徑C 被設(shè)置為并聯(lián)于路徑A時(shí)，將單獨(dú)跟隨路徑A的調(diào)整延遲。這樣的操作可減小失配。需要說明，參考圖2，當(dāng)通過Fl被斷開以及路徑B和途徑C中相應(yīng)的熔絲被斷開來 進(jìn)行調(diào)整后，Rl可標(biāo)定為值Rl =1 2 =札而1 3為1 /2。當(dāng)SO閉合而Sl斷開時(shí)，從IN到 OUT的電阻為R/2，當(dāng)SO斷開而Sl閉合時(shí)，從IN到OUT的電阻為大約R/3。當(dāng)SO和Sl都 閉合時(shí)，從IN到OUT的電阻為大約R/4。如上文中所述，因?yàn)橛糜赗1，R2和R3的TRIM CODE 是相同的，多個(gè)路徑可以很好地相配。圖3示出了另外一種電路結(jié)構(gòu)。設(shè)置有若干個(gè)如圖1所示的電路，每個(gè)電路都具 有不同的SO和Sl的開關(guān)狀態(tài)。其中對(duì)所有的電路使用相同的TRIMC0DE使其適配，但是對(duì) SO和Sl的操作允許在輸出端(OUT，OUTA和0UTB)存在一個(gè)不同的延遲的范圍。圖1中所示的并聯(lián)布置，節(jié)約芯片空間，同時(shí)允許一定范圍的TRIM CODE的使用。 需要說明，使用8比特的TRIMC0DE可能是有利的，但是使用更多的比特或者更少的比特也 可能是有利的。
權(quán)利要求
一種對(duì)芯片上的部件網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行調(diào)整的方法，所述方法包括以下步驟把所述部件網(wǎng)絡(luò)設(shè)置為至少兩個(gè)并聯(lián)路徑，所述路徑在每個(gè)路徑的至少一端連接，每個(gè)路徑包括至少一個(gè)部件；使用一個(gè)或者多個(gè)熔絲將每個(gè)部件的一部分通過熔絲連接，其中所述熔絲連接旁路或者短路每個(gè)部件的一部分；確定部件網(wǎng)絡(luò)不符合其規(guī)范；斷開每個(gè)并聯(lián)的路徑中的一個(gè)或者多個(gè)熔絲，使每個(gè)部件的百分比改變都相同。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中確定部件網(wǎng)絡(luò)不符合其規(guī)范的步驟包括測量所述部 件網(wǎng)絡(luò)中的部件并將所測量的部件與其規(guī)范相比較的步驟。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中位于所述部件網(wǎng)絡(luò)之外的部件被測量并且與其規(guī)范 相比較。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括將改變的量表達(dá)為所述部件值的百分比的步驟
5.如權(quán)利要求4所述的方法，進(jìn)一步包括將所述百分比表達(dá)為調(diào)整代碼的步驟。
6.如權(quán)利要求4所述的方法，進(jìn)一步包括將所述調(diào)整代碼保持為數(shù)字值的步驟。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其中使用熔絲連接的步驟進(jìn)一步包括設(shè)置多個(gè)熔絲中的 每一個(gè)以將所述部件的相同比例的部分旁路，以及使用調(diào)整代碼標(biāo)識(shí)所述多個(gè)熔絲中的第一個(gè)。
8.如權(quán)利要求3所述的方法，進(jìn)一步包括使用開關(guān)斷開或者連接所述至少兩個(gè)并聯(lián)路 徑中的每一個(gè)，使一個(gè)路徑?jīng)]有開關(guān)，其中所述部件互相并聯(lián)。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其中每個(gè)部件百分比改變的范圍為從小于到大于 50%。
10.一種調(diào)整芯片上的電阻網(wǎng)絡(luò)的方法，所述方法包括如下步驟把部件網(wǎng)絡(luò)設(shè)置為至少兩個(gè)并聯(lián)路徑在每個(gè)路徑的至少一端連接，每個(gè)路徑包括至少 一個(gè)電阻；使用熔絲連接每個(gè)部件的一部分，其中所述熔絲連接旁路或者短路每個(gè)電阻的一部分；測量電阻網(wǎng)絡(luò)中部件的值；將所測量的值與規(guī)范比較；根據(jù)比較結(jié)果來確定電阻值不符合所述規(guī)范；根據(jù)比較結(jié)果得出將使電阻值符合規(guī)范的電阻的一個(gè)百分比改變；將所述百分比改變表達(dá)為調(diào)整代碼；斷開每個(gè)并聯(lián)的路徑中的熔絲，使得在所述每個(gè)并聯(lián)的路徑中的每個(gè)電阻的百分比改 變都相同，其中所述每個(gè)路徑中的每個(gè)電阻都符合其規(guī)范；以及使用開關(guān)連接或者斷開除了一個(gè)并聯(lián)路徑之外的每一個(gè)并聯(lián)路徑，其中所述部件互相 并聯(lián)。
11.一種部件網(wǎng)絡(luò)，包括至少兩個(gè)并聯(lián)路徑，所述并聯(lián)路徑在每個(gè)路徑的端部連接，每個(gè)路徑包括至少一個(gè)部件；將每個(gè)路徑中每個(gè)部件的相同百分比值旁路連接的熔絲，具有每個(gè)部件的參數(shù)值的規(guī)范，其中通過斷開每個(gè)路徑中的每個(gè)部件的特定的熔絲來 符合該規(guī)范。
12.如權(quán)利要求11所述的部件網(wǎng)絡(luò)，進(jìn)一步包括另外的并聯(lián)部件，每個(gè)所述另外的并 聯(lián)部件各自具有將該另外的并聯(lián)部件中的每個(gè)部件的一部分旁路連接的一個(gè)或者多個(gè)熔絲。
13.如權(quán)利要求11所述的部件網(wǎng)絡(luò)，進(jìn)一步包括調(diào)整代碼，其中部件值的百分比表達(dá) 為所述調(diào)整代碼。
14.如權(quán)利要求13所述的部件網(wǎng)絡(luò)，其中所述的調(diào)整代碼是標(biāo)識(shí)每個(gè)熔絲的數(shù)字值。
15.如權(quán)利要求11所述的部件網(wǎng)絡(luò)，其中旁路熔絲包括多個(gè)熔絲，所述多個(gè)熔絲中的 每一個(gè)將每個(gè)部件的相同的百分比旁路連接。
16.如權(quán)利要求11所述的部件網(wǎng)絡(luò)，進(jìn)一步包括開關(guān)，所述開關(guān)位于除了一個(gè)并聯(lián)路 徑之外的每個(gè)所述并聯(lián)路徑中，其中閉合各個(gè)開關(guān)使得所述部件互相并聯(lián)。
17.如權(quán)利要求11所述的部件網(wǎng)絡(luò)，其中通過斷開所有的熔絲而實(shí)現(xiàn)的部件的百分比 改變的范圍在小于到大于50%之間。
18.如權(quán)利要求11所述的部件網(wǎng)絡(luò)，其中所述規(guī)范是位于所述部件網(wǎng)絡(luò)內(nèi)的部件的規(guī)范。
19.如權(quán)利要求11所述的部件網(wǎng)絡(luò)，其中所述規(guī)范是位于所述部件網(wǎng)絡(luò)外部的部件的規(guī)范。
20.—種電阻網(wǎng)絡(luò)，包括至少兩個(gè)并聯(lián)路徑，所述并聯(lián)路徑在每個(gè)路徑的至少一端連接，每個(gè)路徑包括至少一 個(gè)電阻；一個(gè)或者多個(gè)將每個(gè)電阻的一部分旁路連接的完好的熔絲； 用于標(biāo)識(shí)所述完好的熔絲的調(diào)整代碼；開關(guān)，位于除了所述并聯(lián)路徑中的一個(gè)之外的每個(gè)并聯(lián)路徑內(nèi)，其中閉合所述開關(guān)將 相應(yīng)的并聯(lián)的路徑與沒有開關(guān)的那條路徑并聯(lián)地連接；規(guī)范，具有每個(gè)電阻的參數(shù)值，其中完好準(zhǔn)確的熔絲代表每個(gè)電阻的相同的電阻值的 百分比，其中符合所述規(guī)范。
全文摘要
本發(fā)明涉及用于循環(huán)調(diào)整器件的方法和電路。本發(fā)明記載了一種開關(guān)并聯(lián)路徑的可調(diào)整的部件網(wǎng)絡(luò)，每個(gè)路徑含有一個(gè)部件，典型地為電阻，該部件的一部分通過熔絲被旁路。旁路的部分代表并聯(lián)的路徑中每個(gè)可調(diào)整部件的部件值的相同的百分比。部件被測量并與規(guī)范比較，如果不符合規(guī)范，則一定數(shù)量的熔絲就斷開使部件符合其規(guī)范。TRIM CODE用于標(biāo)識(shí)斷開的特定的熔絲，同樣用于標(biāo)識(shí)完好的特定的熔絲。相同的TRIM CODE用于所有并聯(lián)的路徑中的部件。
文檔編號(hào)G11C17/16GK101989462SQ20101027477
公開日2011年3月23日 申請(qǐng)日期2010年7月29日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月29日
發(fā)明者G·A·馬赫 申請(qǐng)人:快捷半導(dǎo)體有限公司