專(zhuān)利名稱(chēng)：可自動(dòng)化測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)與固態(tài)硬盤(pán)的自動(dòng)化測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是相關(guān)于一種固態(tài)硬盤(pán)(solid-state disk, SSD)的測(cè)試機(jī)制，尤指一種可自動(dòng)化測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)與其測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
一般的固態(tài)硬盤(pán)在出廠時(shí)需要經(jīng)過(guò)許多測(cè)試過(guò)程以確保在上市之后能提供使用者正確的數(shù)據(jù)存取功能。請(qǐng)參照?qǐng)D1，其為習(xí)知固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試系統(tǒng)100的示意圖。在圖1中， 固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試系統(tǒng)100包含有一傳輸接口 120以及一測(cè)試平臺(tái)130，用來(lái)測(cè)試一固態(tài)硬盤(pán) 110。固態(tài)硬盤(pán)110經(jīng)過(guò)傳輸接口 120(例如符合序列式進(jìn)階技術(shù)附加(Serial Advanced Technology Attachment, SATA)規(guī)格的一連結(jié)接頭)與測(cè)試平臺(tái)130(例如一個(gè)人電腦) 相連結(jié)。測(cè)試平臺(tái)130會(huì)透過(guò)傳輸接口 120來(lái)驅(qū)動(dòng)固態(tài)硬盤(pán)110，以測(cè)試固態(tài)硬盤(pán)110的各種存取功能是否正常，并將測(cè)試的結(jié)果顯示于測(cè)試平臺(tái)130上。然而，由于測(cè)試平臺(tái)130 需要持續(xù)地監(jiān)控整個(gè)測(cè)試的流程，當(dāng)固態(tài)硬盤(pán)大量生產(chǎn)并等待測(cè)試時(shí)，測(cè)試流程亦需要大量的個(gè)人電腦長(zhǎng)時(shí)間地運(yùn)作來(lái)作為測(cè)試平臺(tái)。舉例來(lái)說(shuō)，假設(shè)每臺(tái)個(gè)人電腦可以負(fù)責(zé)測(cè)試四個(gè)固態(tài)硬盤(pán)，而每個(gè)固態(tài)硬盤(pán)需要四小時(shí)的測(cè)試時(shí)間，對(duì)一條每日生產(chǎn)4000臺(tái)固態(tài)硬盤(pán)的產(chǎn)線來(lái)說(shuō)，每個(gè)工作日(八小時(shí))所需要的個(gè)人電腦數(shù)量需要0000)/((8/4)*4) = 500 臺(tái)，此外，在測(cè)試過(guò)程中，這些個(gè)人電腦亦須持續(xù)監(jiān)控所有測(cè)試中的固態(tài)硬盤(pán)而無(wú)法進(jìn)行其它工作。對(duì)于大量生產(chǎn)固態(tài)硬盤(pán)的產(chǎn)業(yè)而言，傳統(tǒng)的測(cè)試方式會(huì)花費(fèi)不少的成本在這些測(cè)試平臺(tái)上，因此如何改進(jìn)現(xiàn)有的固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試方法以節(jié)省成本與測(cè)試效率亦是此領(lǐng)域仍待解決的一大課題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種可自動(dòng)化測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)與其測(cè)試方法，以節(jié)省成本與提高測(cè)試效率。依據(jù)本發(fā)明一方面提供一種可自動(dòng)化測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)，該固態(tài)硬盤(pán)包含有至少一儲(chǔ)存元件、一傳輸接口以及一控制電路。該控制電路耦接于該傳輸接口與該至少一儲(chǔ)存元件，用以通過(guò)該傳輸接口下載一自動(dòng)化測(cè)試固件，并執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試固件來(lái)測(cè)試該至少一儲(chǔ)存元件的功能以產(chǎn)生一測(cè)試輸出。依據(jù)本發(fā)明另一方面提供一種固態(tài)硬盤(pán)的自動(dòng)化測(cè)試方法，該固態(tài)硬盤(pán)包含有至少一儲(chǔ)存元件，該自動(dòng)化測(cè)試方法包含有下載一自動(dòng)化測(cè)試固件至該固態(tài)硬盤(pán)；以及執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試固件來(lái)測(cè)試該至少一儲(chǔ)存元件的功能以產(chǎn)生一測(cè)試輸出。本發(fā)明的有益技術(shù)效果是本發(fā)明的可自動(dòng)化測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)以及相關(guān)的測(cè)試方法，通過(guò)下載一自動(dòng)化測(cè)試固件來(lái)進(jìn)行測(cè)試，故本發(fā)明的固態(tài)硬盤(pán)可大幅減少對(duì)測(cè)試平臺(tái)的需求，進(jìn)而降低測(cè)試所需的整體成本。


圖1為現(xiàn)有固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試系統(tǒng)的示意圖。圖2為本發(fā)明可自動(dòng)化測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)的第一實(shí)施例的示意圖。圖3為本發(fā)明可自動(dòng)化測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)的第二實(shí)施例的示意圖。圖4為本發(fā)明可自動(dòng)化測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)的第三實(shí)施例的示意圖。
具體實(shí)施例方式請(qǐng)參照?qǐng)D2，其為本發(fā)明可自動(dòng)化測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)的第一實(shí)施例的示意圖。在圖2 中，固態(tài)硬盤(pán)200包含有一儲(chǔ)存元件210 (亦即待測(cè)的由非易失性存儲(chǔ)器所組成的固態(tài)硬盤(pán)元件)、一控制電路220以及一傳輸接口 230。在固態(tài)硬盤(pán)200開(kāi)始運(yùn)作之前，固態(tài)硬盤(pán)200 會(huì)先與一固件來(lái)源MO(例如一個(gè)人電腦)進(jìn)行短時(shí)間的連結(jié)，而控制電路220便由傳輸接口 230從固件來(lái)源MO的中下載一自動(dòng)化測(cè)試固件FW，并執(zhí)行自動(dòng)化測(cè)試固件FW來(lái)測(cè)試儲(chǔ)存元件210的功能(例如讀取、寫(xiě)入等存取功能)以產(chǎn)生一測(cè)試輸出T_0UT。接著，控制電路220會(huì)通過(guò)傳輸接口 230將測(cè)試輸出T_0UT傳送至固件來(lái)源亦即個(gè)人電腦)， 并顯示其測(cè)試結(jié)果。在本發(fā)明中，所使用的個(gè)人電腦并不需要持續(xù)地作為監(jiān)控整個(gè)測(cè)試流程的測(cè)試平臺(tái)，而僅需要在測(cè)試開(kāi)始前提供自動(dòng)化測(cè)試固件FW給固態(tài)硬盤(pán)200來(lái)使用，并在測(cè)試完成后顯示其測(cè)試結(jié)果即可達(dá)到目的，在固態(tài)硬盤(pán)200進(jìn)行測(cè)試的期間，可將該個(gè)人電腦的處理能力轉(zhuǎn)移到其它應(yīng)用上，如此一來(lái)，對(duì)大量生產(chǎn)并等待測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)生產(chǎn)線來(lái)說(shuō)，其所需要的測(cè)試平臺(tái)可以大幅地減少，進(jìn)而在維持固態(tài)硬盤(pán)產(chǎn)量以及良好品質(zhì)管理的情況之下，大幅降低測(cè)試所需要的硬件成本。請(qǐng)?jiān)賲⒄請(qǐng)D3，其為本發(fā)明可自動(dòng)化測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)的第二實(shí)施例的示意圖。在圖 3中，固態(tài)硬盤(pán)300包含有一儲(chǔ)存元件310、一控制電路320、一傳輸接口 330以及一顯示元件350。圖3中的儲(chǔ)存元件310、控制電路320、傳輸接口 330以及固件來(lái)源340與圖2中其所分別相對(duì)應(yīng)的元件的功能與結(jié)構(gòu)大致相同，在此便不再贅述。然而，圖3所示的固態(tài)硬盤(pán) 300與圖2所示的固態(tài)硬盤(pán)200的主要不同之處在于，固態(tài)硬盤(pán)300另包含有顯示元件350。 如前所述，固態(tài)硬盤(pán)200需要經(jīng)過(guò)作為固件來(lái)源240的個(gè)人電腦來(lái)顯示其測(cè)試結(jié)果，而對(duì)于固態(tài)硬盤(pán)300而言，控制電路320可直接將測(cè)試輸出T_0UT通過(guò)顯示元件350(例如設(shè)置于固態(tài)硬盤(pán)上的發(fā)光二極管(light emitting diode，LED))顯示給使用者參考，如此一來(lái)， 可再進(jìn)一步降低固態(tài)硬盤(pán)300對(duì)固件來(lái)源340的使用需求。此外，本發(fā)明亦可分別針對(duì)多個(gè)儲(chǔ)存單位進(jìn)行測(cè)試并顯示其結(jié)果。請(qǐng)參照?qǐng)D4，其為本發(fā)明可自動(dòng)化測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)的第三實(shí)施例的示意圖。固態(tài)硬盤(pán)400包含有多個(gè)儲(chǔ)存元件(例如第一儲(chǔ)存元件411與第二儲(chǔ)存元件41 、一控制電路420、一傳輸接口 430以及一顯示元件450。圖4中的控制電路420、傳輸接口 430、顯示元件450以及固件來(lái)源440 與圖3中相對(duì)應(yīng)的元件的功能與結(jié)構(gòu)大致相同，在此便不再贅述。在圖4中，固態(tài)硬盤(pán)400 包含有多個(gè)儲(chǔ)存元件，例如第一儲(chǔ)存元件411與第二儲(chǔ)存元件412分別為固態(tài)硬盤(pán)400的多個(gè)儲(chǔ)存區(qū)塊中兩個(gè)不同的儲(chǔ)存區(qū)塊，然而，此僅作為范例說(shuō)明的用，而非本發(fā)明的限制條件。此外，圖4僅顯示出兩個(gè)儲(chǔ)存元件，然而，實(shí)際上，固態(tài)硬盤(pán)400中儲(chǔ)存元件的個(gè)數(shù)可依據(jù)需求而定?？刂齐娐?20除了可測(cè)試出固態(tài)硬盤(pán)400是否有功能異常之外，亦可進(jìn)一步地偵測(cè)出異常的部分是位于該些儲(chǔ)存區(qū)塊中哪些特定儲(chǔ)存區(qū)塊，并通過(guò)顯示元件450來(lái)顯
4示每一儲(chǔ)存區(qū)塊的數(shù)據(jù)存取能力。于本實(shí)施例中，測(cè)試輸出T_0UT系包含有多個(gè)儲(chǔ)存元件中每一儲(chǔ)存元件的數(shù)據(jù)存取能力的測(cè)試結(jié)果，舉例來(lái)說(shuō)，當(dāng)?shù)谝粌?chǔ)存元件411經(jīng)測(cè)試發(fā)現(xiàn)有讀取異常的現(xiàn)象時(shí)，控制電路420會(huì)將第一儲(chǔ)存元件411異常的信息加入所產(chǎn)生的測(cè)試輸出T_0UT中，并由顯示元件450來(lái)顯示該異常訊息。如此一來(lái)，固態(tài)硬盤(pán)400便可精確地測(cè)試出內(nèi)部異常的部分，并輕易地通過(guò)顯示元件450來(lái)告知異常的部分于固態(tài)硬盤(pán)400中的位置。綜上所述，本發(fā)明提供了一種可自動(dòng)化測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)以及相關(guān)的測(cè)試方法，通過(guò)下載一自動(dòng)化測(cè)試固件來(lái)進(jìn)行測(cè)試，本發(fā)明的固態(tài)硬盤(pán)可大幅減少對(duì)測(cè)試平臺(tái)的需求， 進(jìn)而降低測(cè)試所需的整體成本。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明申請(qǐng)專(zhuān)利范圍所做的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種可自動(dòng)化測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)，包含有 至少一儲(chǔ)存元件；一傳輸接口；一控制電路，耦接于該傳輸接口與該至少一儲(chǔ)存元件，用以通過(guò)該傳輸接口下載一自動(dòng)化測(cè)試固件，并執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試固件來(lái)測(cè)試該至少一儲(chǔ)存元件的功能以產(chǎn)生一測(cè)試輸出O
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤(pán)，其特征在于，另包含有 一顯示元件，耦接于該處理電路，用以顯示該測(cè)試輸出。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤(pán)，其特征在于，該固態(tài)硬盤(pán)包含有多個(gè)儲(chǔ)存元件，而該測(cè)試輸出包含有該多個(gè)儲(chǔ)存元件中每一儲(chǔ)存元件的數(shù)據(jù)存取能力的測(cè)試結(jié)果。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤(pán)，其特征在于，該控制電路系通過(guò)該傳輸接口而自一個(gè)人電腦下載該自動(dòng)化測(cè)試固件。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的固態(tài)硬盤(pán)，其特征在于，該控制電路另通過(guò)該傳輸接口將該測(cè)試輸出傳送至該個(gè)人電腦。
6.一種固態(tài)硬盤(pán)的自動(dòng)化測(cè)試方法，該固態(tài)硬盤(pán)包含有至少一儲(chǔ)存元件，該自動(dòng)化測(cè)試方法包含有下載一自動(dòng)化測(cè)試固件至該固態(tài)硬盤(pán)；以及執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試固件來(lái)測(cè)試該至少一儲(chǔ)存元件的功能以產(chǎn)生一測(cè)試輸出。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，另包含有 使用該固態(tài)硬盤(pán)的一顯示元件來(lái)顯示該測(cè)試輸出。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，該固態(tài)硬盤(pán)包含有多個(gè)儲(chǔ)存元件，而該測(cè)試輸出包含有該多個(gè)儲(chǔ)存元件中每一儲(chǔ)存元件的數(shù)據(jù)存取能力的測(cè)試結(jié)果。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，下載該自動(dòng)化測(cè)試固件至該固態(tài)硬盤(pán)的步驟包含有自一個(gè)人電腦下載該自動(dòng)化測(cè)試固件至該固態(tài)硬盤(pán)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，另包含有 將該測(cè)試輸出傳送至該個(gè)人電腦。
全文摘要
本發(fā)明是一種可自動(dòng)化測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)與固態(tài)硬盤(pán)的自動(dòng)化測(cè)試方法，該可自動(dòng)化測(cè)試的固態(tài)硬盤(pán)，包含有至少一儲(chǔ)存元件、一傳輸接口以及一控制電路。該控制電路耦接于該傳輸接口與該至少一儲(chǔ)存元件，用以通過(guò)該傳輸接口下載一自動(dòng)化測(cè)試固件，并執(zhí)行該自動(dòng)化測(cè)試固件來(lái)測(cè)試該至少一儲(chǔ)存元件的功能以產(chǎn)生一測(cè)試輸出。
文檔編號(hào)G11C29/08GK102446558SQ20101050951
公開(kāi)日2012年5月9日 申請(qǐng)日期2010年10月9日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月9日
發(fā)明者劉嘉樺, 李振榮, 王勝鉉 申請(qǐng)人:智微科技股份有限公司