專利名稱：光拾取器裝置和光盤(pán)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是涉及光拾取器裝置和光盤(pán)裝置的發(fā)明。
背景技術(shù)：
作為本技術(shù)領(lǐng)域的背景技術(shù)，例如有專利文獻(xiàn)1 (特開(kāi)2004-281026號(hào)公報(bào))。在 本專利文獻(xiàn)1中，作為課題記載有“將TE信號(hào)振幅的變動(dòng)量定義為ΔΡΡ=(振幅a_振幅 b) / (振幅a+振幅b)，利用上述的現(xiàn)有結(jié)構(gòu)檢測(cè)TE信號(hào)的情況下，變量Δ PP為0. 69，偏差 oftl為+33nm，偏差oft2為-33nm，顯示較大的值。像這樣當(dāng)TE信號(hào)振幅的變動(dòng)量Δ PP較 大變動(dòng)時(shí)，在軌道Tn-I和Tn上跟蹤控制的獲益降低，跟蹤控制變得不穩(wěn)定，存在不能夠可 靠性高地進(jìn)行記錄和再現(xiàn)信息的問(wèn)題”。作為解決方法記載有“本發(fā)明的其它的光信息裝置 的特征在于，包括射出光束的光源；將從上述光源射出的光束聚光在具有軌道的光存儲(chǔ) 介質(zhì)上的聚光單元；將由所述光存儲(chǔ)介質(zhì)反射·衍射的光束分支的分支單元；由多個(gè)區(qū)域 將上述被分支的光束分割的分割單元；具有多個(gè)用于檢測(cè)由上述分割單元分割的光束，并 根據(jù)檢測(cè)的光量輸出電流信號(hào)的檢測(cè)區(qū)域的光檢測(cè)單元；將從上述光檢測(cè)單元輸出的電流 信號(hào)變換成電壓信號(hào)的多個(gè)變換單元；和跟蹤誤差信號(hào)生成單元，其在配置于上述分割單 元中的多個(gè)區(qū)域中，將主要包括跟蹤誤差信號(hào)成分的區(qū)域作為第一區(qū)域，將主要包括跟蹤 誤差信號(hào)的偏移成分的區(qū)域作為第二區(qū)域，從由第一區(qū)域獲得的電壓信號(hào)，將由上述第二 區(qū)域獲得的電壓信號(hào)附加系數(shù)并減去而生成跟蹤誤差信號(hào)，與通過(guò)上述第一區(qū)域的光束到 達(dá)上述光檢測(cè)單元的效率相比，通過(guò)上述第二區(qū)域的光述到達(dá)上述光檢測(cè)單元的效率高?！?br>
發(fā)明內(nèi)容
由于光拾取器裝置，一般對(duì)光盤(pán)內(nèi)某規(guī)定的記錄軌道上正確地照射光點(diǎn)，通過(guò)聚 焦誤差信號(hào)的檢測(cè)使物鏡變位到焦點(diǎn)方向向焦點(diǎn)方向進(jìn)行調(diào)整，此外檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)使 物鏡向盤(pán)狀記錄介質(zhì)的半徑方向變位進(jìn)行跟蹤調(diào)整。利用這些信號(hào)進(jìn)行物鏡的位置控制。在專利文獻(xiàn)1中記載有對(duì)光盤(pán)上照射一個(gè)光束，利用衍射光柵分割并檢測(cè)由盤(pán)產(chǎn) 生的衍射光。由此即使是兩層盤(pán)也能夠進(jìn)行穩(wěn)定的跟蹤控制。但是，在如專利文獻(xiàn)1那樣 的結(jié)構(gòu)中存在會(huì)在聚焦誤差信號(hào)中產(chǎn)生噪聲的問(wèn)題。在此，本發(fā)明的目的是提供減低聚焦誤差信號(hào)的噪聲，對(duì)于具有兩層以上的記錄 面的盤(pán)能夠進(jìn)行穩(wěn)定的焦點(diǎn)控制和跟蹤控制的光拾取器裝置或光盤(pán)裝置。上述目的能夠通過(guò)權(quán)利要求的范圍中記載的發(fā)明而實(shí)現(xiàn)。簡(jiǎn)單說(shuō)明在本申請(qǐng)中揭 示的發(fā)明中具有代表性的內(nèi)容的概要如下。依照本發(fā)明的光拾取器裝置，其包括半導(dǎo)體激光器；用于將從該半導(dǎo)體激光器 射出的光束聚光并照射到光盤(pán)上的物鏡；為使聚光后的所述光束照射到所述光盤(pán)上的規(guī)定的位置而使所述物鏡移動(dòng)的致動(dòng)器；和接受從所述光盤(pán)上的軌道衍射后的所述光束的光檢 測(cè)器，所述光檢測(cè)器具有受光部，該受光部包括第一區(qū)域、第二區(qū)域、第三區(qū)域、第四區(qū)域這 四個(gè)區(qū)域，所述第一區(qū)域和第三區(qū)域相對(duì)于所述受光部的中心軸為軸對(duì)稱，所述第二區(qū)域 和第四區(qū)域相對(duì)于所述受光部的中心軸為軸對(duì)稱，所述第二區(qū)域和第四區(qū)域從所述受光部 的中心軸離開(kāi)也具有相同寬度，或隨著離開(kāi)而寬度變窄，在由所述光盤(pán)上的軌道衍射的衍 射光中，0次衍射光入射在所述第一區(qū)域、第三區(qū)域，0次、士 1次衍射光入射在所述第二區(qū) 域、第四區(qū)域，利用由所述第一區(qū)域、第三區(qū)域檢測(cè)的信號(hào)生成從所述光盤(pán)得到的基于象散 方式的聚焦誤差信號(hào)。
依據(jù)本發(fā)明能夠提供，在對(duì)具有多個(gè)信息記錄面的信息記錄介質(zhì)進(jìn)行記錄再現(xiàn)的 情況下，能夠獲得穩(wěn)定的伺服信號(hào)的光拾取器裝置和搭載該光拾取器裝置的光盤(pán)裝置。


圖1是說(shuō)明象散方式的聚焦誤差信號(hào)檢測(cè)的圖。
圖2是說(shuō)明象散方式的聚焦誤差信號(hào)檢測(cè)的圖。
圖3是說(shuō)明聚焦誤差信號(hào)檢測(cè)的漏入的圖。
圖4是說(shuō)明聚焦誤差信號(hào)檢測(cè)的漏入的圖。
圖5是說(shuō)明實(shí)施例1的光拾取器裝置和光盤(pán)的配置的圖。
圖6是說(shuō)明實(shí)施例1的本發(fā)明的光學(xué)系統(tǒng)的圖。
圖7是表示實(shí)施例1的本發(fā)明的受光部的圖。
圖8是表示實(shí)施例1的圖7以外的受光部的圖。
圖9是說(shuō)明實(shí)施例2的本發(fā)明的光學(xué)系統(tǒng)的圖。
圖10是表示實(shí)施例2的本發(fā)明的衍射光柵面的圖。
圖11是表示實(shí)施例2的本發(fā)明的檢測(cè)部的圖。
圖12是表示實(shí)施例2的圖10以外的衍射光柵面的圖。
圖13是表示實(shí)施例3的本發(fā)明的檢測(cè)部的圖。
圖14是表示實(shí)施例4的本發(fā)明的檢測(cè)部的圖。
圖15是表示實(shí)施例5的本發(fā)明的檢測(cè)部的圖。
圖16是表示實(shí)施例5的本發(fā)明的部分波長(zhǎng)板的圖。
圖17是表示實(shí)施例6的本發(fā)明的檢測(cè)部的圖。
圖18是說(shuō)明實(shí)施例7的光學(xué)的信息再現(xiàn)裝置的圖。
圖19是說(shuō)明實(shí)施例8的光學(xué)的信息記錄再現(xiàn)裝置的圖。
具體實(shí)施方式
以下，說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式。
圖5是表示本發(fā)明的第一實(shí)施例的光拾取器裝置的一個(gè)例子的概略結(jié)構(gòu)圖。
如圖5所示，光拾取器裝置1構(gòu)成為能夠利用驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)7沿光盤(pán)100的半徑方向 進(jìn)行驅(qū)動(dòng)的結(jié)構(gòu)。而且在光拾取器裝置上的致動(dòng)器5上搭載有物鏡2，從該物鏡2對(duì)光盤(pán)上 照射光。從物鏡2射出的光在光盤(pán)100上形成光點(diǎn)，在光盤(pán)100進(jìn)行反射。通過(guò)檢測(cè)該反 射光生成聚焦誤差信號(hào)，跟蹤誤差信號(hào)。
在如上所述的光拾取器裝置中，圖6表示了光學(xué)系統(tǒng)。在此關(guān)于BD進(jìn)行說(shuō)明，但 即使是HD DVD或其他的記錄方式也可以。
從半導(dǎo)體激光50，作為發(fā)散光射出波長(zhǎng)405nm的光束。從半導(dǎo)體激光器50射出 的光束由分束器(beam splitter) 52反射。并且一部分的光束透過(guò)分束器52入射到前置 監(jiān)視器53。一般地在BD-RE、BD-R等的記錄型的光盤(pán)中記錄信息的情況下，由于使規(guī)定的 光量照射在光盤(pán)的記錄面，所以需要高精度地控制半導(dǎo)體激光器的光量。為此，前置監(jiān)視器 53在記錄型的光盤(pán)中記錄信息時(shí)，檢測(cè)出半導(dǎo)體激光器50的光量的變化，并反饋到半導(dǎo)體 激光器50的驅(qū)動(dòng)電路(圖中未示)。由此能夠監(jiān)視光盤(pán)上的光量。
由分束器52反射的光束利用準(zhǔn)直透鏡51變化為大致平行的光束。透過(guò)準(zhǔn)直透鏡 51的光束入射到光束擴(kuò)展器M。光束擴(kuò)展器M用于，通過(guò)改變光束的發(fā)散 收斂狀態(tài)，修 正由于光盤(pán)100的覆蓋層的厚度誤差引起的球面像差。從光束擴(kuò)展器M射出的光束由豎起 反射鏡陽(yáng)反射，透過(guò)1/4波長(zhǎng)板56后，由搭載在致動(dòng)器5上的物鏡2聚光在光盤(pán)100上。
由光盤(pán)100反射的光束透過(guò)物鏡2、1/4波長(zhǎng)板56、豎起反射鏡55、光束擴(kuò)展器54、 準(zhǔn)直透鏡51、分束器52。透過(guò)分束器52的光束經(jīng)由檢測(cè)透鏡57入射到檢測(cè)器10。這時(shí)， 由于由檢測(cè)透鏡57提供規(guī)定的象散像差，所以能夠構(gòu)成通過(guò)象散方式檢測(cè)聚焦誤差信號(hào) 的結(jié)構(gòu)。
首先，關(guān)于跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)的問(wèn)題進(jìn)行說(shuō)明。作為一般的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)方 法，公知的是差動(dòng)推挽方式。該差動(dòng)推挽方式(DPP differential Push Pull)是利用衍射 光柵將光束分割為主光束和子光束+1次、子光束-1次，將由半徑方向的主光束獲得的推挽 (MPP)信號(hào)、和由子光束+1次與子光束-1次獲得的推挽(SPP)信號(hào)通過(guò)進(jìn)行以下的運(yùn)算降 低 DC 偏移(DC offset)。
公式1
DPP = MPP-kXSPP
其中，k是修正主光束和子光束的光量比的系數(shù)。
但是，DPP方式在再現(xiàn)BD或HD DVD等的2層盤(pán)的情況下發(fā)生問(wèn)題。關(guān)于該問(wèn)題 進(jìn)行說(shuō)明。
2層盤(pán)是存在2個(gè)記錄面的光盤(pán)，在各個(gè)記錄面發(fā)生反射光。因此，在2層盤(pán)中光 束由光盤(pán)分離為2個(gè)，沿著兩個(gè)光路入射到檢測(cè)器。例如在使焦點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)一個(gè)層的情況下，該 光束在檢測(cè)器面上形成光點(diǎn)(信號(hào)光)，而由另一個(gè)層反射的光束(stray light:干擾光) 以模糊狀態(tài)入射在檢測(cè)器上。這時(shí)，在檢測(cè)器上由各個(gè)層反射的信號(hào)光和干擾光在檢測(cè)器 面上重合，發(fā)生干涉。原本，頻率相同的激光器射出的光束在時(shí)間上不發(fā)生變化，但是由于 光盤(pán)的旋轉(zhuǎn)各個(gè)層的間隔發(fā)生變化，所以兩個(gè)光的相位關(guān)系隨時(shí)間變化，引起作為跟蹤誤 差信號(hào)的DPP信號(hào)的變動(dòng)。該DPP信號(hào)的變動(dòng)主要較大地由SPP信號(hào)引起。這時(shí)由于，主 光束和子光束+1次光和子光束-1次的光量比一般為10 1 1 20 1 1，由于相對(duì) 于主光束光量小，因此子光束的信號(hào)光和主光束的干擾光的干涉相對(duì)于信號(hào)光發(fā)生很大影 響。由于干涉是公知的所以省略說(shuō)明。由此，SPP信號(hào)發(fā)生很大變動(dòng)，結(jié)果是作為跟蹤誤差 信號(hào)的DPP信號(hào)發(fā)生很大變動(dòng)。當(dāng)跟蹤誤差信號(hào)的變動(dòng)發(fā)生時(shí)，光盤(pán)上的光點(diǎn)不能夠沿著 軌道追隨，主要引起記錄·再現(xiàn)信號(hào)劣化的問(wèn)題。
對(duì)于該問(wèn)題，在專利文獻(xiàn)1中在光盤(pán)上形成一個(gè)光點(diǎn)，通過(guò)將其反射光分為多個(gè)區(qū)域分離并檢測(cè)信號(hào)光和干擾光而檢測(cè)出穩(wěn)定的跟蹤誤差信號(hào)。另外，在專利文獻(xiàn)1中由 于同時(shí)檢測(cè)聚焦誤差信號(hào)和成為再現(xiàn)信號(hào)的RF信號(hào)所以采用象散方式的聚焦誤差檢測(cè)。 但是，象散方式會(huì)產(chǎn)生由軌道切線方向的檢測(cè)器面偏差或象散引起的聚焦誤差信號(hào)中發(fā)生 誤差成分的問(wèn)題。以下，包括象散方式的原理進(jìn)行簡(jiǎn)單說(shuō)明。
圖1表示象散方式的檢測(cè)系統(tǒng)。由盤(pán)100反射，透過(guò)物鏡71、準(zhǔn)直透鏡72、檢測(cè)透 鏡73，入射到檢測(cè)器74。在此如果關(guān)注聚焦誤差信號(hào)檢測(cè)，由于檢測(cè)透鏡73具有圓柱面， 所以在光盤(pán)100上對(duì)準(zhǔn)光點(diǎn)的焦點(diǎn)時(shí)，檢測(cè)器面上的光點(diǎn)成為圖2( 所示的圓形。與此相 對(duì)，在焦點(diǎn)沒(méi)有對(duì)準(zhǔn)時(shí)，如圖2(1)、(3)所示在檢測(cè)器面上的光點(diǎn)成為對(duì)角方向上的橢圓狀 的光點(diǎn)。并且，圖2(1)是物鏡71比焦點(diǎn)位置更靠近光盤(pán)100的狀態(tài)，圖2(3)是表示比焦 點(diǎn)位置遠(yuǎn)的狀態(tài)。
在此聚焦誤差信號(hào)(FES)由以下的公式表示。
公式2
FES = (A+C) - (B+D)
A、B、C、D表示從各個(gè)檢測(cè)面a、b、c、d獲得的信號(hào)強(qiáng)度。通過(guò)這樣的檢測(cè)能夠獲得聚焦誤差信號(hào)。
但是如上所述的象散方式存在如下問(wèn)題，S卩，在聚焦誤差信號(hào)中由軌道切線方向 的檢測(cè)器面偏差或象散引起噪聲成分，不能夠生成穩(wěn)定的聚焦誤差信號(hào)。關(guān)于這一點(diǎn)在以 下進(jìn)行說(shuō)明。
在入射到檢測(cè)器73的光點(diǎn)中，除由光盤(pán)100反射的信號(hào)光以夕卜，也入射由光盤(pán)100 的溝衍射的衍射光。由此，發(fā)生信號(hào)光和衍射光的干涉。圖3表示由光盤(pán)100反射的信號(hào) 光和由光盤(pán)100衍射的衍射光的干涉狀態(tài)。區(qū)域Zl和區(qū)域Z2是干涉區(qū)域。包括該干涉區(qū) 域，由以下的公式進(jìn)行檢測(cè)能夠獲得作為跟蹤誤差信號(hào)(TES)的推挽信號(hào)(PP)。
公式3
TES = (A+B) - (C+D)
該P(yáng)P信號(hào)是橫切溝時(shí)發(fā)生的橫切溝信號(hào)，是為了追隨盤(pán)上的軌道必須的信號(hào)。但 是，造成在聚焦誤差信號(hào)中產(chǎn)生該信號(hào)問(wèn)題。
這里，圖4表示光盤(pán)上光點(diǎn)的焦點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)時(shí)檢測(cè)器面上的情況，(1)表示入射到檢測(cè) 器中心的情況，(2)表示與對(duì)應(yīng)于光盤(pán)切線方向的方向偏離入射的情況。如圖4(1)所示， 入射到檢測(cè)器中心的光點(diǎn)中的聚焦誤差信號(hào)，由于對(duì)A和B進(jìn)行減法運(yùn)算為0，對(duì)C和D進(jìn) 行減法運(yùn)算為0，所以不能檢測(cè)到推挽信號(hào)。但是如圖4( 所示，相對(duì)于光點(diǎn)當(dāng)檢測(cè)器面發(fā) 生偏離時(shí)，即使對(duì)A和B進(jìn)行減法運(yùn)算，對(duì)C和D進(jìn)行減法運(yùn)算，殘留區(qū)域Z3相當(dāng)于區(qū)域Z4 的區(qū)域。其結(jié)果是，對(duì)區(qū)域Z3和區(qū)域Z4的信號(hào)進(jìn)行減法運(yùn)算，檢測(cè)出不發(fā)生DC的偏移卻 相當(dāng)于PP信號(hào)的AC的信號(hào)。該AC的信號(hào)成為噪聲成分(以下稱為“漏入(leak in)”)， 在該光盤(pán)100上進(jìn)行查找時(shí)等不能夠追隨聚焦伺服，引起該電路振蕩的問(wèn)題。
另外，在象散的情況下由于在檢測(cè)器面上焦點(diǎn)控制時(shí)的光點(diǎn)不是圓而是橢圓因而 發(fā)生漏入。像這樣，當(dāng)發(fā)生檢測(cè)器面偏離或象散引起聚焦伺服振蕩的問(wèn)題。
而且，由于近年期待實(shí)用化、能夠以低成本制作的有機(jī)色素的BD、HD DVD盤(pán)，其PP 信號(hào)的調(diào)制度大的盤(pán)，所以橫切溝信號(hào)向聚焦誤差信號(hào)的漏入進(jìn)一步增加。
因此，如專利文獻(xiàn)1的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)中，以向聚焦誤差信號(hào)的漏入為課題。為了光學(xué)性地減低該漏入，必須提高拾取器的調(diào)整精度，造成成本上升。但是，由于經(jīng)時(shí)變化檢測(cè) 器發(fā)生偏離而發(fā)生漏入，所以需要根本性的對(duì)策。
在降低向聚焦誤差信號(hào)的漏入的方面，有日本專利特開(kāi)8-63761(以下稱作專利 文獻(xiàn)2、。這不是將盤(pán)上的依存軌道的干涉區(qū)域的區(qū)域1和區(qū)域2作為聚焦誤差信號(hào)進(jìn)行檢 測(cè)。但是，在如專利文獻(xiàn)2的結(jié)構(gòu)中，可以明白在物鏡發(fā)生變位的情況下，在由聚焦誤差信 號(hào)檢測(cè)的區(qū)域中由于入射干涉區(qū)域而發(fā)生漏入。而且與此同時(shí)，在跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)中存 在問(wèn)題。專利文獻(xiàn)2的結(jié)構(gòu)，考慮1個(gè)光束或者3個(gè)光束的結(jié)構(gòu)。在1個(gè)光束的情況下，記 載有由包括作為干涉區(qū)域的區(qū)域1和區(qū)域2的區(qū)域的差動(dòng)檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)，如果考慮光 束的強(qiáng)度分布實(shí)際上伴隨物鏡的變位發(fā)生DC偏移，存在不能夠穩(wěn)定的進(jìn)行跟蹤控制的問(wèn) 題。而與此相對(duì)，為了抑制伴隨物鏡的變位的DC偏移使用3個(gè)光束的情況(DPP方式)下， 如上所述由于在2層盤(pán)中跟蹤誤差信號(hào)發(fā)生變動(dòng)而成為問(wèn)題。
像這樣，在如專利文獻(xiàn)1、專利文獻(xiàn)2的結(jié)構(gòu)中存在，在BD的2層盤(pán)等中滿足聚焦 誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)的伺服信號(hào)檢測(cè)方式不可行的問(wèn)題。
對(duì)于該課題，在本實(shí)施方式中，作為一個(gè)例子，使用如圖7所示的8分割的構(gòu)造的 檢測(cè)器10。在圖7所示的檢測(cè)器10中，在由檢測(cè)面al、dl (第一區(qū)域)和bl、Cl (第三區(qū) 域)構(gòu)成的區(qū)域中僅照射由光盤(pán)上軌道衍射的衍射光中的0次衍射光，而在由檢測(cè)面el、 hi (第二區(qū)域)和f l、gl (第四區(qū)域)構(gòu)成的區(qū)域中照射0次衍射光和士 1次衍射光。第一 區(qū)域和第三區(qū)域相對(duì)于中心軸500成軸對(duì)稱。另外第一區(qū)域和第三區(qū)域相對(duì)于中心軸500 成軸對(duì)稱。在此，中心軸500通過(guò)檢測(cè)器10的整個(gè)受光面的中心，是與整個(gè)受光面的一個(gè)邊 平行的直線，當(dāng)光拾取器組裝在光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器中時(shí)，成為與光盤(pán)的軌道半徑方向正交的方向。 如圖7所示配置為，由檢測(cè)面al、dl構(gòu)成的第一區(qū)域和由檢測(cè)面bl、cl構(gòu)成的第三區(qū)域與 中心軸500相接，由檢測(cè)面el、hl構(gòu)成的第二區(qū)域和由檢測(cè)面fl、gl構(gòu)成的第四區(qū)域與中 心軸500不相接。
并且從檢測(cè)器10 的檢測(cè)面 al、bl、cl、dl、el、fl、gl、hl 獲得的 A1、B1、C1、D1、E1、 FUGUHl的信號(hào)通過(guò)以下的運(yùn)算生成聚焦誤差信號(hào)(FEQ、跟蹤誤差信號(hào)(TES)、RF信號(hào)。
公式4:
FES = (A1+C1)-(B1+D1)
TES = {(E1+H1)-(F1+G1)}
-ktlX {(A1+D1)-(B1+C1)}
RF = A1+B1+C1+D1+E1+F1+G1+H1
其中，ktl是物鏡變位時(shí)使在跟蹤誤差信號(hào)中不發(fā)生DC成分的系數(shù)。
根據(jù)上述運(yùn)算公式可知，沒(méi)有將因盤(pán)上軌道的干涉區(qū)域的區(qū)域1和區(qū)域2用于聚 焦誤差信號(hào)的檢測(cè)信號(hào)。由此，能夠檢測(cè)出漏入少的穩(wěn)定的聚焦誤差信號(hào)。另外，即使物鏡 變位由于干涉區(qū)域沒(méi)有作為聚焦誤差信號(hào)而進(jìn)行檢測(cè)，所以即使物鏡變位也能夠進(jìn)行漏入 少的穩(wěn)定的聚焦誤差信號(hào)檢測(cè)。
跟蹤誤差信號(hào)，在物鏡變位時(shí)與(E1+H1)_(F1+G1)的信號(hào)發(fā)生AC成分和DC成分 相對(duì)，(A1+D1)-(B 1+C1)的信號(hào)僅發(fā)生DC成分。因此，即使物鏡變位也能夠獲得不發(fā)生DC 成分的穩(wěn)定的跟蹤誤差信號(hào)。而且，如DPP方式那樣由于沒(méi)有使用子信號(hào)所以很難受到2 層盤(pán)引起的干涉信號(hào)的影響。
此外，這里將檢測(cè)器的模式與軌道半徑方向平行地分割，但是也可以如圖8所示 與半徑方向具有角度。即，如圖8所示，構(gòu)成為檢測(cè)面al和el的邊界線、檢測(cè)面bl和fl 的邊界線、檢測(cè)面Cl和gl的邊界線、檢測(cè)面dl和hi的邊界線均不與盤(pán)半徑方向平行，而 是具有規(guī)定的角度。如圖8所示的例子中，以檢測(cè)面el、fl、gl、hl的中心軸方向的寬度隨 著遠(yuǎn)離中心軸而變得狹窄的角度而形成各檢測(cè)面的邊界線。
(實(shí)施例2)
圖9是本發(fā)明的第二實(shí)施例的光拾取器的光學(xué)系統(tǒng)的一例的概略結(jié)構(gòu)圖。在與實(shí) 施例1不同特征是，在多路光學(xué)系統(tǒng)中設(shè)置有衍射光柵11。而且其特征還在于檢測(cè)器10的 模式不同。
衍射光柵11例如成為圖10所示的模式，入射到衍射光柵11的光束射出0次光和 +1次光。衍射光柵11的分光比例如為0次光+1次光=7 3。
在圖10所示的模式的衍射光柵11中，在利用光柵區(qū)域Da、Dd(第一區(qū)域)和Db、 Dc (第三區(qū)域)構(gòu)成的區(qū)域中，僅照射由光盤(pán)上軌道衍射的衍射光中的0次衍射光照射，而 在由光柵區(qū)域Deh (第二區(qū)域)、Dfg(第四區(qū)域)構(gòu)成的區(qū)域中，照射0次衍射光和士1次 衍射光。由光柵區(qū)域Da和Dc構(gòu)成的區(qū)域與由光柵區(qū)域Db和Dd構(gòu)成的區(qū)域相對(duì)于中心軸 501為軸對(duì)稱。而且，光柵區(qū)域Deh和光柵區(qū)域Dfg相對(duì)于中心軸501為軸對(duì)稱。在此，中 心軸501通過(guò)衍射光柵11的中心，是與衍射光柵的一邊平行的直線，當(dāng)光拾取器組裝在光 盤(pán)驅(qū)動(dòng)器中時(shí)，成為與光盤(pán)的軌道半徑方向正交的方向。如圖10所示構(gòu)成為，按照光柵區(qū) 域Da、Db、Dc、Dd與中心軸501相接，光柵區(qū)域Deh、Dfg與中心軸501不相接。
另夕卜，由衍射光柵的Da、Db、Dc、Dd、Deh、Dfg區(qū)域衍射后的+1次光分別入射到圖 11所示的檢測(cè)器的檢測(cè)面al2、bl2、cl2、dl2、ehl2、fgl2，0次光入射到8分割檢測(cè)面a2、 b2、c2、d2、e2、f2、g2、h2。對(duì)由檢測(cè)面 a2、b2、c2、d2、e2、f2、g2、h2、al2、bl2、cl2、dl2、 ehl2、fgl2 獲得的 A2、B2、C2、D2、E2、F2、G2、H2、A12、B12、C12、D12、EH12、FG12 的信號(hào)通 過(guò)以下的運(yùn)算生成聚焦誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)、RF信號(hào)。
公式5
FES = (A2+C2) - (B2+D2)
TES = (EH12-FG12)
-kt2X {(A12+D12)-(B12+C12)}
RF = A2+B2+C2+D2+E2+F2+G2+H2
其中，kt2是物鏡變位時(shí)使跟蹤誤差信號(hào)中不發(fā)生DC成分的系數(shù)。另外，例如檢 測(cè)面a2和c2、b2和d2、e2和g2、f2、h2也可以接線。
像這樣通過(guò)不檢測(cè)因盤(pán)上軌道的干涉區(qū)域，能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的聚焦誤差信號(hào)。另 外，即使物鏡變位由于干涉區(qū)域沒(méi)有作為聚焦誤差信號(hào)被檢測(cè)，所以即使物鏡變位也能夠 檢測(cè)漏入少的穩(wěn)定的聚焦誤差信號(hào)。
跟蹤誤差信號(hào)是，在物鏡的變位時(shí)，與(EH2-FG2)信號(hào)發(fā)生AC成分和DC成分相 對(duì)，(Α2+^)-(Β2+α)信號(hào)僅發(fā)生DC成分。因此，即使物鏡變位也能夠獲得不發(fā)生DC成分 的穩(wěn)定的跟蹤誤差信號(hào)。而且，由于檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)的檢測(cè)面構(gòu)成為不使來(lái)自其他層的 干擾光入射的結(jié)構(gòu)，所以能夠很大程度抑制跟蹤誤差信號(hào)的變動(dòng)。
通過(guò)構(gòu)成為如上所述的結(jié)構(gòu)，能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的聚焦誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)。
此外，這里將檢測(cè)器的模式沿與軌道半徑方向平行地分割，但是也可以如圖12(a) 所示，不與盤(pán)半徑方向平行，而構(gòu)成為具有規(guī)定的角度。另外也可以如圖12(b)、(c)所示成 為具有X區(qū)域(第五區(qū)域)的衍射光柵模式。并且關(guān)于衍射光柵的分光比始終是參考值， 也可以除此以外的分光比。另外，在說(shuō)明中使用+1次光但是也可以使用-1次光。
(實(shí)施例3)
圖13是表示本發(fā)明的第三實(shí)施例的光拾取器的檢測(cè)器的一例的概略結(jié)構(gòu)圖。光 學(xué)系統(tǒng)是與圖9同樣的結(jié)構(gòu)，與實(shí)施例2的不同的特征是，在多個(gè)光學(xué)系統(tǒng)中衍射光柵11 是偏振衍射光柵。另外，其特征還在于檢測(cè)器10的模式不同。
偏振衍射光柵11，例如成為圖10或圖12的模式，入射到偏振衍射光柵11的光束 根據(jù)其偏振方向作為透過(guò)光和衍射+1次光、-1次光而射出。因此，透過(guò)偏振衍射光柵11的 光和衍射的光的偏光面正交。并且，能夠利用偏振衍射光柵的光軸方向的旋轉(zhuǎn)角度改變分 光比。在此，是使分光比為例如透過(guò)光+1次光(或者-1次光)=7 3的旋轉(zhuǎn)角。這 里偏振衍射光柵11的Da、Db、Dc、Dd區(qū)域射出+1次光，Deh,Dfg區(qū)域射出_1次光。并且， 在衍射光柵11的Da、Db、DC、Dd、Deh、Dgf區(qū)域衍射的+1次光(或者_(dá)1次光)分別入射到 圖13所示的檢測(cè)器的檢測(cè)面al3、bl3、cl3、dl3、ehl3、fgl3，透過(guò)光入射到8分割檢測(cè)面 a3、b3、c3、d3、e3、f3、g3、h3。
從檢測(cè)面a3、b3、c3、d3、e3、f3、g3、h3、al3、bl3、cl3、dl3、ehl3、fgl3 獲得的 A3、 B3、C3、D3、E3、F3、G3、H3、A13、B13、C13、D13、EH13、FG13 的信號(hào)通過(guò)以下的運(yùn)算生成聚焦 誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)、RF信號(hào)。
公式6
FES = (A3+C3) - (B3+D3)
TES = (EH13-FG13)
-kt3X {(A13+D13)-(B13+C13)}
RF = A3+B3+C3+D3+E3+F3+G3+H3
其中，kt3是物鏡變位時(shí)使跟蹤誤差信號(hào)中不發(fā)生DC成分的系數(shù)。另外，例如檢 測(cè)面a3和c3、b3和d3、e3和g3、f3和h3也可以接線。
在跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)中利用兩個(gè)正交的直線偏振光不發(fā)生干涉的偏振光特性。例 如，圖13中的0次光入射到檢測(cè)器al3、bl3、fgl3、ehl3但是由于透過(guò)光和衍射+1次光、透 過(guò)光和衍射-1次光的偏振光正交，所以不發(fā)生干涉，能夠檢測(cè)到穩(wěn)定的跟蹤誤差信號(hào)。另 外，由于靠近檢測(cè)面檢測(cè)器變得小型化。由此，不單是部件成本，檢測(cè)器和衍射光柵的調(diào)整 變得簡(jiǎn)單，所以能夠抑制因調(diào)整造成的成本上升。
通過(guò)如上所述的結(jié)構(gòu)能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的聚焦誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)。
在此，基于偏振衍射光柵11的光軸方向的旋轉(zhuǎn)角的分光比始終是參考值，也可以 是除此以外的分光比。
(實(shí)施例4)
圖14是表示本發(fā)明的第四實(shí)施例的光拾取器的檢測(cè)器的一例的概略結(jié)構(gòu)圖。光 學(xué)系統(tǒng)與圖9是相同的結(jié)構(gòu)，與實(shí)施例2的不同特征是，多路光學(xué)系統(tǒng)的衍射光柵11是炫 耀(blazed)衍射光柵。另外，其特征還在于檢測(cè)器10的模式不同。炫耀衍射光柵11，例如 成為圖10或圖12的模式，Dfg和Deh是柵格形狀，除此以外不成為柵格形狀。因此，入射到11Dfg和Deh以外的區(qū)域的光束保持原狀透過(guò)。與此相對(duì)，入射到Dfg和Deh區(qū)域的光束被 衍射，這里例如，Dfg和Deh區(qū)域的分光比為0次光-1次光-2次光=20 54 20。 另外，在炫耀衍射光柵11的Dfg和Deh區(qū)域衍射的-1次光入射到圖14所示的檢測(cè)器的檢 測(cè)面s4，-2次光入射到檢測(cè)面i4、j4、k4、14。并且Dfg和Deh以外的區(qū)域的光保持原狀透 過(guò)，入射到檢測(cè)面a4、b4、c4、d4。從檢測(cè)器10的檢測(cè)面a4、b4、c4、d4、i4、j4、k4、14、s4 獲得的々444、(4、04、14、4、1(4、1^、34的信號(hào)通過(guò)以下的運(yùn)算生成聚焦誤差信號(hào)、跟蹤誤 差信號(hào)、RF信號(hào)。
公式7:
FES = {A4+C4) - (B4+D4)
TES = {(A4+D4) - (B4+C4)}
-kt4 X {(I4+L4) - (J4+K4)}
RF = A4+B4+C4+D4+S4
其中，kt4是物鏡變位時(shí)使跟蹤誤差信號(hào)中不發(fā)生DC成分的系數(shù)。
跟蹤誤差信號(hào)能夠通過(guò)從檢測(cè)面a4、b4、c4、d4和檢測(cè)面14、J4、K4、L4獲得的信 號(hào)進(jìn)行檢測(cè)。這里，入射到檢測(cè)面a4、b4、c4、d4的光束在檢測(cè)器上與干擾光重疊，但是由 于信號(hào)光的光量大，所以幾乎不發(fā)生變動(dòng)。另外，由于在檢測(cè)面14、J4、K4、L4上信號(hào)光和 干擾光不發(fā)生重疊，所以不發(fā)生跟蹤誤差信號(hào)的變動(dòng)。
聚焦誤差信號(hào)由檢測(cè)面a4、b4、c4、d4檢測(cè)。在該檢測(cè)面，由于包括盤(pán)上軌道的干 涉區(qū)域的區(qū)域wl的光量小，所以能夠降低聚焦誤差信號(hào)的漏入。
通過(guò)如上所述的結(jié)構(gòu)能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的聚焦誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)。
這里，炫耀衍射光柵11的分光比始終是參考值，也可以是除此以外的分光比。而 且，在說(shuō)明中使用-1次光但也可以使用+1次光。
(實(shí)施例5)
圖15是表示本發(fā)明的第四實(shí)施例的光拾取器的檢測(cè)器的一例的概略結(jié)構(gòu)圖。光 學(xué)系統(tǒng)與圖9是同樣的結(jié)構(gòu)，與實(shí)施例2的不同特征是，多路光學(xué)系統(tǒng)的衍射光柵11是部 分波長(zhǎng)板和偏振衍射光柵的一體型元件。另外，其特征還在于檢測(cè)器10的模式不同。
衍射光柵11的部分波長(zhǎng)板，例如成為圖16那樣的模式，區(qū)域冊(cè)1、冊(cè)2成為1/2波 長(zhǎng)板，透過(guò)該區(qū)域HW1、HW2的光束與透過(guò)其他的區(qū)域的光束偏振光大致正交的結(jié)構(gòu)。另外， 偏振衍射光柵是僅對(duì)由區(qū)域HW1、HW2的波長(zhǎng)板變換的偏振光進(jìn)行衍射的衍射光柵。這里例 如，偏振衍射光柵的分光比為0次光+1次光-1次光=0 7 3。
在衍射光柵11的部分波長(zhǎng)板HWl和冊(cè)2區(qū)域衍射的+1次光入射到圖15所示的 檢測(cè)器的檢測(cè)面s5，-1次光入射到檢測(cè)面i5、j5、k5、15。并且，HWl和冊(cè)2以外的區(qū)域的 光保持原狀透過(guò)，入射到檢測(cè)面a5、b5、c5、d5。
從檢測(cè)面a5、b5、c5、d5、i5、j5、k5、15、s5 獲得的 A5、B5、C5、D5、15、J5、K5、L5、 S5的信號(hào)通過(guò)以下的運(yùn)算生成聚焦誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)、RF信號(hào)。
公式8:
FES = (A5+C5) - (B5+D5)
TES = {(A5+D5) - (B5+C5)}
-kt5 X {(I5+L5) - (J5+K5)}
RF = A5+B5+C5+D5+S5
其中，其中，kt5是物鏡變位時(shí)使跟蹤誤差信號(hào)中不發(fā)生DC成分的系數(shù)。
跟蹤誤差信號(hào)能夠通過(guò)從檢測(cè)面a5、b5、c5、d5和檢測(cè)面15、J5、K5、L5獲得的信 號(hào)進(jìn)行檢測(cè)。這里，入射到檢測(cè)面a5、b5、c5、d5的光束在檢測(cè)器上信號(hào)光與干擾光重疊， 但是由于信號(hào)光的光量大，所以幾乎不發(fā)生變動(dòng)。另外，由于在檢測(cè)面15、J5、K5、L5上信 號(hào)光和干擾光發(fā)生重疊但是由于偏振光正交，所以不發(fā)生變動(dòng)。通過(guò)構(gòu)成為這樣的結(jié)構(gòu)能 夠降低跟蹤誤差信號(hào)的變動(dòng)。
聚焦誤差信號(hào)通過(guò)檢測(cè)面a5、b5、c5、d5進(jìn)行檢測(cè)。在該檢測(cè)面，由于不檢測(cè)因盤(pán) 上軌道的干涉區(qū)域，所以能夠降低聚焦誤差信號(hào)的漏入。
通過(guò)構(gòu)成如上所述的結(jié)構(gòu)能夠檢測(cè)出穩(wěn)定聚焦誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)。
這里，偏振衍射光柵11的分光比始終是參考值，也可以是除此以外的分光比。另 外，這里以1/2波長(zhǎng)板進(jìn)行說(shuō)明，但是也可以使用其他的分光比。并且，也可以使偏振衍射 光柵沒(méi)有衍射的一部分的偏振光入射到檢測(cè)面a5、b5、c5、d5。而且也可以使波長(zhǎng)板和偏振 衍射光柵分離。
(實(shí)施例6)
圖17是表示本發(fā)明的第三實(shí)施例的光拾取器的檢測(cè)器的一例的概略結(jié)構(gòu)圖。光 學(xué)系統(tǒng)與圖9是同樣的結(jié)構(gòu)，與實(shí)施例2的不同特征是多路光學(xué)系統(tǒng)的衍射光柵11是偏振 衍射光柵。另外，其特征還在于檢測(cè)器10的模式不同。
偏振衍射光柵11，例如成為圖10或圖12所示的模式，入射到偏振衍射光柵11的 光束根據(jù)其偏振方向成為透過(guò)光 衍射光。這里，由于能夠利用偏振衍射光柵11的光軸方 向的旋轉(zhuǎn)角度改變分光比，所以例如是形成為透過(guò)光+1次光-1次光=15 1 1的 旋轉(zhuǎn)角度。另外，透過(guò)光和衍射光是偏振光正交。
這里在偏振衍射光柵11的Da、Db、Dc、Dd區(qū)域衍射的光束是信號(hào)光、干擾光都不入 射到檢測(cè)器。另外，在Deh、Dfg區(qū)域衍射的+1次光入射到檢測(cè)面m6、n6、06、p6，-1次光入射 到檢測(cè)面i6、j6、lc6、16。并且，沒(méi)有由偏振衍射光柵衍射的光束入射到檢測(cè)面a6、b6、c6、d6。
從檢測(cè)面a6、b6、c6、d6、i6、j6、k6、16、m6、n6、06、p6 獲得的 A6、B6、C6、D6、E6、 16、J6、K6、L6、M6、N6、06、P6的信號(hào)通過(guò)以下的運(yùn)算生成聚焦誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)、RF 信號(hào)。
公式9:
FES = (A6+C6) - (B6+D6) +kf 6
X {(I6+K6+M6+06)-(J6+L6+N6+P6)}
TES = {(A6+D6) - (B6+C6)} _kt6
X {(I6+L6+M6+P6)-(J6+K6+N6+06)}
RF = A6+B6+C6+D6
其中，kf6是修正因偏振衍射光柵的分光比產(chǎn)生的光量差的系數(shù)。kt6是物鏡發(fā)生 變位時(shí)使在跟蹤誤差信號(hào)不發(fā)生DC成分的系數(shù)。另外，例如檢測(cè)面16和M6、J6和N6、K6 和06、L6和P6也可以接線。
跟蹤誤差信號(hào)是通過(guò)從檢測(cè)面a6、b6、c6、d6和檢測(cè)面16、J6、K6、L6、M6、N6、06、Ρ6獲得的信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)。這里，入射到檢測(cè)面a6、b6、c6、d6的光束在檢測(cè)器上信號(hào)光和干擾光重疊，但是由于信號(hào)光的光量大，所以幾乎不發(fā)生變動(dòng)。另外在檢測(cè)面16、J6、K6、L6、 M6、N6、06、P6上信號(hào)光和干擾光重疊但是偏振光正交，所以不發(fā)生變動(dòng)。通過(guò)這樣的結(jié)構(gòu) 能降低跟蹤誤差信號(hào)的變動(dòng)。
聚焦誤差信號(hào)通過(guò)從檢測(cè)面a6、b6、c6、d6和檢測(cè)面16、J6、K6、L6、M6、N6、06、Ρ6獲得的信號(hào)被檢測(cè)。這里，由于從檢測(cè)面a6、b6、c6、d6獲得的信號(hào)是通常的象散方式所以 發(fā)生漏入。但是，從檢測(cè)面16、J6、K6、L6、M6、N6、06、P6獲得的信號(hào)，由于不檢測(cè)因盤(pán)上軌 道的干涉區(qū)域，所以不發(fā)生聚焦誤差信號(hào)的漏入。因此最終獲得的信號(hào)，相對(duì)于通常的象散 方式漏入降低。
通過(guò)構(gòu)成如上所述的結(jié)構(gòu)能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的聚焦誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)。
這里，基于偏振衍射光柵11的光軸方向的旋轉(zhuǎn)角的分光比始終是參考值，也可以 是除此以外的分光比。
(實(shí)施例7)
在實(shí)施例7中，關(guān)于搭載有光拾取器裝置1的光學(xué)的信息再現(xiàn)裝置進(jìn)行說(shuō)明。圖 18是光學(xué)的信息再現(xiàn)裝置的概略結(jié)構(gòu)。光拾取器裝置1設(shè)置有能夠沿著光盤(pán)100的半徑方 向驅(qū)動(dòng)的機(jī)構(gòu)，根據(jù)來(lái)自訪問(wèn)控制電路173的訪問(wèn)控制信號(hào)進(jìn)行位置控制。
從激光器點(diǎn)亮電路177對(duì)光拾取器裝置1內(nèi)的半導(dǎo)體激光器供給規(guī)定的激光器驅(qū) 動(dòng)電流，根據(jù)再現(xiàn)從半導(dǎo)體激光器以規(guī)定的光量射出激光。其中，激光器點(diǎn)亮電路177能夠 組裝在光拾取器裝置1內(nèi)。
從光拾取器裝置1內(nèi)的光檢測(cè)器輸出的信號(hào)，被傳送至伺服信號(hào)生成電路174和 信息信號(hào)再現(xiàn)電路175。在伺服信號(hào)生成電路174中根據(jù)來(lái)自上述光檢測(cè)器的信號(hào)生成聚 焦誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)和傾斜控制信號(hào)等的伺服信號(hào)，以此為根據(jù)經(jīng)由致動(dòng)器驅(qū)動(dòng)電 路173驅(qū)動(dòng)光拾取器裝置1內(nèi)的致動(dòng)器，控制物鏡的位置。
在上述信息信號(hào)再現(xiàn)電路175中，根據(jù)來(lái)自上述光檢測(cè)器的信號(hào)再現(xiàn)光盤(pán)100中 記錄的信息信號(hào)。
通過(guò)上述伺服信號(hào)生成電路174和信息信號(hào)再現(xiàn)電路175獲得的信號(hào)的一部分被 傳送到控制電路176。在該控制電路176上連接有主軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電路171、訪問(wèn)控制電路 173、伺服信號(hào)生成電路174、激光器點(diǎn)亮電路177、球面像差修正元件驅(qū)動(dòng)電路179等，進(jìn)行 使光盤(pán)100旋轉(zhuǎn)的主軸馬達(dá)180的旋轉(zhuǎn)控制、訪問(wèn)方向和訪問(wèn)位置的控制、物鏡的伺服控 制、光拾取器裝置1內(nèi)的半導(dǎo)體激光器發(fā)光光量的控制、由于盤(pán)基板厚度的不同引起的球 面像差的修正等。
(實(shí)施例8)
在實(shí)施例8中，關(guān)于搭載有光拾取器裝置1的光學(xué)的信息記錄再現(xiàn)裝置(光盤(pán)裝 置)進(jìn)行說(shuō)明。圖19表示光學(xué)的信息記錄再現(xiàn)裝置的概略結(jié)構(gòu)。在該裝置中與上述圖19 中已說(shuō)明的光學(xué)信息記錄再現(xiàn)裝置的不同點(diǎn)是，在控制電路17和激光器點(diǎn)亮電路177之間 設(shè)置有信息信號(hào)記錄電路178，根據(jù)來(lái)自信息信號(hào)記錄電路178的記錄控制信號(hào)進(jìn)行激光 器點(diǎn)亮電路177的點(diǎn)亮控制，添加有向光盤(pán)100寫(xiě)入所希望的信息的功能。
以上，關(guān)于依照本發(fā)明的光拾取器和光盤(pán)裝置的實(shí)施方式進(jìn)行了說(shuō)明，但是本發(fā) 明不局限于上述實(shí)施方式，在不脫離本發(fā)明的主要內(nèi)容的范圍內(nèi)能夠進(jìn)行各種的改良和變 形。
權(quán)利要求
1.一種光拾取器裝置，其特征在于，包括 半導(dǎo)體激光器；用于將從該半導(dǎo)體激光器射出的光束聚光并照射到光盤(pán)上的物鏡；為使被聚光的所述光束照射到所述光盤(pán)上的規(guī)定的位置而使所述物鏡移動(dòng)的致動(dòng)器；對(duì)從所述光盤(pán)衍射后的所述光束進(jìn)行衍射的衍射光柵；和 接受由所述衍射光柵衍射后的所述光束的光檢測(cè)器， 所述衍射光柵包括第一區(qū)域、第二區(qū)域、第三區(qū)域、第四區(qū)域這四個(gè)區(qū)域， 所述第一區(qū)域和第三區(qū)域相對(duì)于所述衍射光柵的中心軸為軸對(duì)稱， 所述第二區(qū)域和第四區(qū)域相對(duì)于所述衍射光柵的中心軸為軸對(duì)稱， 所述第二區(qū)域和第四區(qū)域無(wú)論它們與所述受光部的中心軸相距的距離增大與否均為 相同寬度，或者隨著它們與所述受光部的中心軸相距的距離的增大而寬度變窄， 在由所述光盤(pán)上的軌道衍射的衍射光中， 0次衍射光入射在所述第一區(qū)域、第三區(qū)域， 0次、士 1次衍射光入射在所述第二區(qū)域、第四區(qū)域，從所述光盤(pán)得到的聚焦誤差信號(hào)，利用由所述光檢測(cè)器對(duì)在所述衍射光柵的第一區(qū) 域、第三區(qū)域衍射的所述光束進(jìn)行檢測(cè)而得到的信號(hào)生成。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于所述衍射光柵的第一區(qū)域和第三區(qū)域與所述衍射光柵的所述中心軸相接， 所述衍射光柵的第一區(qū)域、第二區(qū)域、第三區(qū)域、第四區(qū)域相對(duì)于與所述中心軸大致垂 直的軸被分割成軸對(duì)稱。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于 所述衍射光柵為炫耀偏振衍射光柵。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于 所述衍射光柵為偏振衍射光柵，透過(guò)所述偏振衍射光柵的光束的直線偏振光與在所述偏振衍射光柵衍射后的光束的 直線偏振光正交。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于 所述偏振衍射光柵，在衍射光柵面上層疊有波長(zhǎng)板， 使入射到所述第一區(qū)域和第三區(qū)域的光透過(guò)，使入射到所述第二區(qū)域和第四區(qū)域的光衍射，透過(guò)所述第一區(qū)域和第三區(qū)域的光束的直線偏振光與在所述第二區(qū)域和第四區(qū)域衍 射后的光束的直線偏振光正交。
6.一種光拾取器裝置，其特征在于，包括 半導(dǎo)體激光器；用于將從該半導(dǎo)體激光器射出的光束聚光并照射到光盤(pán)上的物鏡； 為使被聚光后的光束照射到所述光盤(pán)上的規(guī)定的位置而使所述物鏡移動(dòng)的致動(dòng)器； 對(duì)從所述光盤(pán)衍射后的所述光束進(jìn)行衍射的衍射光柵；和 接受由所述衍射光柵衍射后的所述光束的光檢測(cè)器，所述衍射光柵具有第一區(qū)域、第二區(qū)域、第三區(qū)域、第四區(qū)域、第五區(qū)域這五個(gè)區(qū)域， 所述第一區(qū)域和第三區(qū)域相對(duì)于所述衍射光柵的中心軸為軸對(duì)稱， 所述第二區(qū)域和第四區(qū)域相對(duì)于所述衍射光柵的中心軸為軸對(duì)稱， 所述第二區(qū)域和第四區(qū)域無(wú)論它們與所述受光部的中心軸相距的距離增大與否均為 相同寬度，或者隨著它們與所述受光部的中心軸相距的距離的增大而寬度變窄， 在由所述光盤(pán)上的軌道衍射的衍射光中， 0次衍射光入射在所述第一區(qū)域、第三區(qū)域， 0次、士 1次衍射光入射在所述第二區(qū)域、第四區(qū)域，從所述光盤(pán)得到的聚焦誤差信號(hào)，利用由所述光檢測(cè)器對(duì)在所述衍射光柵的第一區(qū) 域、第三區(qū)域衍射的所述光束進(jìn)行檢測(cè)而得到的信號(hào)生成。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光拾取器裝置，其特征在于所述衍射光柵的第一區(qū)域和第三區(qū)域與所述衍射光柵的所述中心軸相接， 所述衍射光柵的第一區(qū)域、第二區(qū)域、第三區(qū)域、第四區(qū)域相對(duì)于與所述中心軸大致垂 直的軸被分割成軸對(duì)稱。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光拾取器裝置，其特征在于 所述衍射光柵為炫耀偏振衍射光柵。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光拾取器裝置，其特征在于 所述衍射光柵為偏振衍射光柵，透過(guò)所述偏振衍射光柵的光束的直線偏振光與在所述偏振衍射光柵衍射后的光束的 直線偏振光正交。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光拾取器裝置，其特征在于 所述偏振衍射光柵，在衍射光柵面上層疊有波長(zhǎng)板， 使入射到所述第一區(qū)域和第三區(qū)域的光透過(guò)，使入射到所述第二區(qū)域和第四區(qū)域的光衍射，透過(guò)所述第一區(qū)域和第三區(qū)域的光束的直線偏振光與在所述第二區(qū)域和第四區(qū)域衍 射后的光束的直線偏振光正交。
11.一種光盤(pán)裝置，其特征在于，搭載有光拾取器裝置，其包括半導(dǎo)體激光器；用于將從該半導(dǎo)體激光器射出的光束聚光并 照射到光盤(pán)上的物鏡；為使聚光后的所述光束照射到所述光盤(pán)上的規(guī)定的位置而使所述物 鏡移動(dòng)的致動(dòng)器；對(duì)從所述光盤(pán)衍射后的所述光束進(jìn)行衍射的衍射光柵；和接受由所述衍 射光柵衍射后的所述光束的光檢測(cè)器，所述衍射光柵包括第一區(qū)域、第二區(qū)域、第三區(qū)域、 第四區(qū)域這四個(gè)區(qū)域，所述第一區(qū)域和第三區(qū)域相對(duì)于所述衍射光柵的中心軸為軸對(duì)稱， 所述第二區(qū)域和第四區(qū)域相對(duì)于所述衍射光柵的中心軸為軸對(duì)稱，所述第二區(qū)域和第四區(qū) 域無(wú)論它們與所述受光部的中心軸相距的距離增大與否均為相同寬度，或者隨著它們與所 述受光部的中心軸相距的距離的增大而寬度變窄，在由所述光盤(pán)上的軌道被衍射的衍射光 中，0次衍射光入射在所述第一區(qū)域、第三區(qū)域，0次、士 1次衍射光入射在所述第二區(qū)域、第 四區(qū)域，利用由所述光檢測(cè)器對(duì)在所述衍射光柵的第一區(qū)域、第三區(qū)域衍射的所述光束進(jìn) 行檢測(cè)而得到的信號(hào)，生成從所述光盤(pán)得到的聚焦誤差信號(hào)；驅(qū)動(dòng)所述光拾取器裝置內(nèi)的所述半導(dǎo)體激光器的激光器點(diǎn)亮電路；使用由所述光拾取器裝置內(nèi)的所述光檢測(cè)器檢測(cè)出的信號(hào)生成聚焦誤差信號(hào)和跟蹤 誤差信號(hào)的伺服信號(hào)生成電路；以及對(duì)記錄在光盤(pán)中的信息信號(hào)進(jìn)行再現(xiàn)的信息信號(hào)再現(xiàn)電路。
12. 一種光盤(pán)裝置，其特征在于，搭載有光拾取器裝置，其包括半導(dǎo)體激光器；用于將從該半導(dǎo)體激光器射出的光束聚光并 照射到光盤(pán)上的物鏡；為使聚光后的光束照射到所述光盤(pán)上的規(guī)定的位置而使所述物鏡移 動(dòng)的致動(dòng)器；對(duì)從所述光盤(pán)衍射后的所述光束進(jìn)行衍射的衍射光柵；和接受由所述衍射光 柵被衍射后的所述光束的光檢測(cè)器，所述衍射光柵具有第一區(qū)域、第二區(qū)域、第三區(qū)域、第 四區(qū)域、第五區(qū)域這五個(gè)區(qū)域，所述第一區(qū)域和第三區(qū)域相對(duì)于所述衍射光柵的中心軸為 軸對(duì)稱，所述第二區(qū)域和第四區(qū)域相對(duì)于所述衍射光柵的中心軸為軸對(duì)稱，所述第二區(qū)域 和第四區(qū)域無(wú)論它們與所述受光部的中心軸相距的距離增大與否均為相同寬度，或者隨著 它們與所述受光部的中心軸相距的距離的增大而寬度變窄，在由所述光盤(pán)上的軌道衍射的 衍射光中，0次衍射光入射在所述第一區(qū)域、第三區(qū)域，0次、士 1次衍射光入射在所述第二 區(qū)域、第四區(qū)域，利用由所述光檢測(cè)器對(duì)在所述衍射光柵的第一區(qū)域、第三區(qū)域衍射的所述 光束進(jìn)行檢測(cè)而得到的信號(hào)，生成從所述光盤(pán)得到的聚焦誤差信號(hào)； 驅(qū)動(dòng)所述光拾取器裝置內(nèi)的所述半導(dǎo)體激光器的激光器點(diǎn)亮電路； 使用由所述光拾取器裝置內(nèi)的所述光檢測(cè)器檢測(cè)出的信號(hào)生成聚焦誤差信號(hào)和跟蹤 誤差信號(hào)的伺服信號(hào)生成電路；以及對(duì)記錄在光盤(pán)中的信息信號(hào)進(jìn)行再現(xiàn)的信息信號(hào)再現(xiàn)電路。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光拾取器裝置和光盤(pán)裝置。依照本發(fā)明的光拾取器裝置，對(duì)信號(hào)光進(jìn)行分割并檢測(cè)。光檢測(cè)區(qū)域具有區(qū)域A和區(qū)域B的兩個(gè)區(qū)域，由光盤(pán)上的軌道衍射的衍射光中，僅有0次衍射光入射到區(qū)域A，0次、±1次衍射光入射到區(qū)域B。從該檢測(cè)器聚焦誤差信號(hào)根據(jù)由該檢測(cè)器檢測(cè)的信號(hào)生成，跟蹤誤差信號(hào)根據(jù)在區(qū)域A、B北檢測(cè)的信號(hào)生成。對(duì)于2層盤(pán)或2層以上層數(shù)的盤(pán)，能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的聚焦誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)。
文檔編號(hào)G11B7/09GK102034498SQ20101051724
公開(kāi)日2011年4月27日 申請(qǐng)日期2008年11月25日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月26日
發(fā)明者山崎和良 申請(qǐng)人:日立視聽(tīng)媒介電子股份有限公司