專利名稱：光拾取裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光拾取裝置，尤其涉及光拾取裝置的讀取光學(xué)系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
對于光盤技術(shù)，現(xiàn)在普遍都在為增加容量而推進(jìn)多層化技術(shù)。但是，常規(guī)光驅(qū)裝置 尚存層間串音問題。參照圖3，說明了光拾取裝置檢測光學(xué)系統(tǒng)中的多層光盤的串音問題。循跡誤差 信號檢測通常采用DPP (Differential Push-Pul 1)法。DPP法中，通過衍射光柵將激光分 離成1束主光線和2束子光線，以這3束光線對光盤進(jìn)行照射。在圖3中僅示出了主光線 80。為簡化計(jì)，501為2層的光盤，511和512為信息記錄層。來自物鏡401的主光線的最 小光斑位置位于主光線80所示的信息記錄層511上，以讀取信息記錄層511的信息。如圖 4所示，在信息記錄層511上，形成循跡用導(dǎo)槽，主光線作為光斑94照射到該槽中，同時(shí)，子 光線以照射光斑95、96的形狀照射到剛好錯(cuò)開半個(gè)磁跡節(jié)距的位置。照射光的焦點(diǎn)在記錄 層511處重合，所以，該反射光沿著和入射光原路相反的方向返回到圖3的物鏡401上。然 后，透過檢測透鏡402，變成光束801入射到光檢測器51上。檢測透鏡402存在像散，光檢 測器51設(shè)置在最小彌散圓的位置。圖5示出了光檢測器的形狀和來自光盤的反射光的入射狀態(tài)。中央四分離成田字 型的檢測器541檢測主光線，主光線作為光斑811照射到檢測器541上。子光線反射光分別 作為光斑812、813各自入射到2分離檢測器M2、543之上。來自4分離檢測器541的信號 記為A、B、C、D，來自2分離檢測器M2的信號記為E、F，將來自2分離檢測器M3的信號記 為G、H。此時(shí)，循跡誤差信號TR表示為TR= (A+B) - (C+D)-k{ (E-F) +(G-H) }。其中，k為常 數(shù)，由主光線和子光線的強(qiáng)度比等決定。通常，設(shè)定主光線比子光線強(qiáng)度大10倍以上。另 外，聚焦誤差信號記為AF，數(shù)據(jù)信號記為RF，AF = A+C- (B+D)、RF = A+C+B+D。TR和AF信 號在激光照射位置控制時(shí)使用。在對多層光盤照射激光時(shí)，各層反射的光檢測器檢測出的反射光量設(shè)計(jì)成基本相 同。為此，離物鏡近的層的透過率大，離物鏡遠(yuǎn)的層也能夠照射到激光。在這種條件下，如 果激光焦點(diǎn)對焦到圖3所示的信息讀取目標(biāo)層即511上，則部分激光作為光束82透過該層 511，由相鄰層512反射，成為雜光的反射光束83。該反射光束83返回物鏡401，在入射到 檢測透鏡402上之后，在光檢測器51的正前暫時(shí)聚光，如光束804般擴(kuò)束并入射到光檢測 器51上。光束804在光檢測器面上如圖5所示成為擴(kuò)束光斑841，并呈覆蓋光檢測器Ml、 542、543的狀態(tài)。為此，光束811和812、813彼此形成干涉。該干涉受到因?qū)娱g隔變動(dòng)導(dǎo)致 的光斑841的相位變化的影響，而產(chǎn)生變化。光束811的全部光量即RF信號強(qiáng)度的變動(dòng)引起RF信號的抖動(dòng)而變差，將使得數(shù) 據(jù)讀取時(shí)的出錯(cuò)率增加。另外，光束812和813的干涉引起TR信號的變動(dòng)。衍射光柵分離生 成的子光線的強(qiáng)度設(shè)計(jì)上設(shè)定得較小，和來自相鄰層的主光線的反射光的功率密度大致相 同，因此干涉效果很好。該干涉也受光盤的傾角和層間隔等影響，不均勻?qū)娱g隔光盤轉(zhuǎn)動(dòng)會導(dǎo)致光斑812或者813的光量分布發(fā)生改變。結(jié)果，對TR信號的差動(dòng)信號部分(E-F) + (G-H) 產(chǎn)生影響，循跡信號平衡打破。這樣，軌跡會發(fā)生偏離，從而產(chǎn)生故障。同樣，在相鄰層512 位于讀取對象層511的物鏡上的場合，同樣從相鄰層產(chǎn)生反射光，產(chǎn)生存在問題的干涉。所以，專利文獻(xiàn)1提出了一種降低串音的技術(shù)。在專利文獻(xiàn)1中，在圖7所示的光 拾取光學(xué)系統(tǒng)中，使用反射區(qū)域限制反射鏡43。下面對光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行說明。半導(dǎo)體激光器 101射出的激光通過準(zhǔn)直透鏡403和三角棱鏡102，轉(zhuǎn)換成圓形的準(zhǔn)直光束。準(zhǔn)直光束通過 衍射光柵103分離成3束光束，1束主光線和2束子光線。主光線的前進(jìn)方向和入射光束 相同，而子光線則成為和光軸的兩側(cè)存在傾角的出射光。3束光束透過偏光束分光鏡104， 通過λ /4板105轉(zhuǎn)換成圓偏光，在物鏡透鏡404處照射到由轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)動(dòng)的多層光盤501 上。其中，多層光盤501圖示為2層光盤，但是也可以用3層以上的多層光盤。讀取對象層 (所述層)為511，激光的最小光斑位置位于511上。鄰接層512產(chǎn)生反射光83，這也是產(chǎn) 生串音的原因，即產(chǎn)生雜光。來自多層光盤的反射光也含雜光，返回物鏡404，通過λ /4板105，轉(zhuǎn)換成與最初 偏光方向正交的方向的線偏光。為此，被偏光分束器104反射，射向λ/4板106，轉(zhuǎn)換成圓 偏光。之后，由反射光聚光透鏡405聚光，被來自所述層即記錄層511的反射光的最小光斑 位置處設(shè)置的反射板43反射。反射板43的形狀如圖8所示。831為主光線的最小光斑， 832,833為子光線的最小光斑。各最小光斑被由反射區(qū)域限制的反射區(qū)域431、432、433反 射。該反射區(qū)域的外側(cè)是反射率低的部分。由反射板43反射的來自所述層的反射光返回 反射光聚光透鏡405，通過λ /4板106成為與入射時(shí)偏光方向正交的偏光方向的線偏光， 并透過分束器104。406為具有像散的聚光透鏡，在最小彌散圓的位置上放置光檢測器42。 光檢測器52的具有感度的部分的形狀如圖5所示。來自光檢測器52的信號由信號處理回 路53處理，形成控制光斑位置的AF信號和TR信號、數(shù)據(jù)信號即RF信號。在先技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)1日本特開2008-135097號公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容
然而，在圖8中，作為串音的主要原因的來自其他層的雜光841照射很寬的區(qū)域， 所以，反射率低的部分也受到照射，使得射向檢測器的反射光量減少。而且，因?yàn)榉瓷鋮^(qū)域 431、432、433也受到照射，所以，該區(qū)域的反射光返回檢測器而作為另一導(dǎo)致串音的原因。本發(fā)明的目的在于提供一種光拾取裝置，通過提供除去殘存的所述層間串音的手 段，從而得到穩(wěn)定的循跡信號及聚焦誤差信號，進(jìn)一步防止RF信號的信噪比降低。為了解決所述問題，本發(fā)明提供一種通過防止來自其他層的反射光照射于反射區(qū) 域限制反射面中的反射區(qū)域，使得層間串音減少的技術(shù)。圖9和圖10示出將來自多層光盤的反射光分離成2份并由反射光聚光透鏡進(jìn)行 聚光的狀態(tài)。為了說明容易理解，在各圖中將來自所述層的反射光和其他層的反射光分別 在不同的圖中進(jìn)行描述，但是，實(shí)際上它們二者是同時(shí)重合在一起的。在兩圖的左側(cè)，來自 分離成的所述層的反射光812由反射光聚光透鏡405進(jìn)行聚光，在聚光面5Μ形成最小光 斑。在圖9的右圖中示出了來自比所述層更靠近物鏡的層的雜光的反射光，由反射光聚光透鏡405聚光的狀態(tài)。入射到反射聚光透鏡405的反射光851被分離。由于反射層離物鏡 很近，在離所述層的聚光面5M更遠(yuǎn)的位置525進(jìn)行聚光。在圖10的右圖中，示出了反射 層位于比所述層更遠(yuǎn)的場合的聚光狀態(tài)，分離的反射光852，在比所述層的聚光面5M更靠 近反射光聚光透鏡405的位置5 進(jìn)行聚光。圖11示出了圖9或者圖10中的聚光面524的光的分布。來自所述層的反射光的 主光線為1束，子光線為2束，主光線作為光斑821而射入，子光線作為光斑822和823而射 入。來自所述層的反射光一分為二，呈從中間分開的光量分布。例如，主光線的其他層的反 射光成816那樣的光線，而子光線的其他層的反射光分布則如817和818那樣的分布。無 論如何，中心區(qū)域都是來自其他層的反射光所不能照射到的區(qū)域。其中，以將反射區(qū)域限定 成531、532、533那樣的方式設(shè)置反射板431的話，則僅會反射來自所述層的反射光，而來自 其他層的反射光則基本上不會被反射。通過這樣的方式限定反射區(qū)域，從而能夠使所述層 的反射光免遭其他層雜光的影響而被檢測出來。本發(fā)明的光拾取裝置具有激光光源、將來自激光光源的激光聚光于多層光信息記 錄介質(zhì)中的一個(gè)記錄層上的照射光聚光光學(xué)系統(tǒng)、和檢測從多層光信息記錄介質(zhì)的記錄層 反射的反射光的檢測光學(xué)系統(tǒng)。檢測光學(xué)系統(tǒng)包含將來自記錄層的反射光進(jìn)行平行分離的 分離光學(xué)系統(tǒng)，將分離的反射光射入的反射光聚光透鏡，設(shè)于由反射光聚光透鏡射入的反 射光中的來自目標(biāo)記錄層的反射光的最小光斑位置的反射區(qū)域限制反射面、以及檢測反射 光的光檢測器，所述光檢測器檢測由反射面反射的反射光。或者，在照射光聚光光學(xué)系統(tǒng)的光路中設(shè)置分束器和物鏡，照射光聚光光學(xué)系統(tǒng) 和檢測光學(xué)系統(tǒng)共有分束器和所述物鏡，照射光聚光光學(xué)系統(tǒng)使來自激光光源的激光作為 發(fā)散光而通過分束器。而且，檢測光學(xué)系統(tǒng)包含將來自記錄層的反射光以在剛分離之后不 通過光軸然后逐漸會聚在光軸上的方式分離在光軸兩側(cè)的分離光學(xué)系統(tǒng)，通過分離光學(xué)系 統(tǒng)的反射光中的來自目標(biāo)記錄層的反射光的最小光斑位置上設(shè)置的反射區(qū)域限制反射面、 和檢測反射光的光檢測器，光檢測器檢測由反射面反射的反射光。位于來自所述層的反射光的焦點(diǎn)位置的反射區(qū)域限制反射面起到了反射來自所 述層的反射光，不反射來自其他層的反射光的作用。[發(fā)明效果]根據(jù)本發(fā)明，因?yàn)閬碜云渌麑拥姆瓷涔鉀]有入射到光檢測器上，所以，能夠降低由 于循跡誤差信號、聚焦誤差信號和RF信號層間串音所帶來的影響。另外，通過增大光線分離間隔，從而增大透鏡移動(dòng)，能夠防止層間串音增加，還起 到了同時(shí)滿足窄層間隔多層光盤的要求的效果。


圖1示出本發(fā)明光拾取裝置的光學(xué)系統(tǒng)的一例的圖。圖2示出本發(fā)明光拾取裝置的光學(xué)系統(tǒng)的一例的圖。圖3示出來自鄰接層反射光影響圖。圖4示出1束主光線和2束子光線照射帶槽記錄面的狀態(tài)的圖。圖5示出光檢測器形狀和來自光盤反射光的光斑位置的寬度的圖。圖6示出光柵鋸齒形狀的圖。
圖7示出采用限制反射區(qū)域的反射板的光拾取光學(xué)系統(tǒng)的圖。圖8示出限制反射區(qū)域的反射板的圖。圖9示出分離的反射光的聚光狀態(tài)的圖。圖10示出分離的反射光的聚光狀態(tài)的圖。圖11示出由所述層反射的主光線和子光線的分離平行光由反射聚光透鏡聚光時(shí) 的聚光狀態(tài)和各其他層上反射光分布狀態(tài)的圖。圖12示出采用本發(fā)明光拾取裝置的光盤驅(qū)動(dòng)裝置的一例的圖。圖13示出光柵鋸齒形狀的圖。圖14示出采用2塊雙棱鏡的分離光學(xué)系統(tǒng)圖。圖15示出采用2塊分離光柵的分離光學(xué)系統(tǒng)圖。圖16示出采用2塊平行平板的分離光學(xué)系統(tǒng)的圖。圖17示出信號處理回路的外觀圖。符號說明43:反射板52:檢測器53:信號處理回路101 半導(dǎo)體激光器103 衍射光柵 104 偏光分束器105 λ /4板106 λ /4板107 分離光學(xué)系統(tǒng)404 物鏡405 反射光聚 光透鏡406:像散聚光透鏡45:反射區(qū)域限制反射板501 多層光盤534:帶狀反射區(qū)域 541 四分離檢測器Μ2 2分離檢測器Μ3 2分離檢測器81 來自所述層的反射光811 主 光線光斑812 子光線光斑813 子光線光斑841 來自鄰接層的主光線的光
具體實(shí)施例方式首先對分離光學(xué)系統(tǒng)作出說明。圖14示出采用2塊雙棱鏡分離光束的分離光學(xué) 系統(tǒng)的示例圖。平行光線入射到第1雙棱鏡408上，光軸的垂線作為分離線，形成相對光軸 以相同角度對稱的前進(jìn)方向的平行光線。第2雙棱鏡409，將相對光軸具有一定角度的平行 光線的前進(jìn)方向，變成相對光軸平行。這樣，通過使用2個(gè)雙棱鏡，從而能夠?qū)⒊Ｒ?guī)光束轉(zhuǎn) 換成分離平行光線。圖15示出采用透過光柵41和42進(jìn)行平行分離的分離光學(xué)系統(tǒng)的示例圖。光柵 41和42分別由通過光柵而使得衍射光的方向不同的2個(gè)區(qū)域構(gòu)成，2個(gè)區(qū)域的光柵均具有 和分離線相同和槽方向相同的槽節(jié)距，并且為不產(chǎn)生0次光的槽深1/(η-1)的鋸齒狀光柵。 η為光柵的折射率，空氣中的折射率。槽深為其整數(shù)倍時(shí)不產(chǎn)生0次光。圖13示出光柵41 的鋸齒形狀，410和411區(qū)域中的鋸齒呈現(xiàn)彼此反轉(zhuǎn)的形狀，所以衍射光產(chǎn)生于與光軸對稱 的方向上。這樣，入射光的2個(gè)區(qū)域的光在不同的方向上射出。圖6中示出光柵42的鋸齒 的形狀。光從上方進(jìn)行入射。421中鋸齒的形狀和410的形狀和420的鋸齒的形狀和411 的形狀均相同，所以，透過光柵41而相對光軸具有角度的2束光束在透過光柵42之后，成 為相對間隔一定空間的光軸平行的光。圖16示出使用平行平板的分離光學(xué)系統(tǒng)的例子的圖。分離平板元件44由2塊平 行平板441和442構(gòu)成，各平行平板相對光軸傾斜相同的角度，另外，相對光軸位于對稱的 位置上。2個(gè)平行平板的接合部形成的棱線與光軸垂直相交，平行平板的接合部形成的棱線 或者底線通過主光線和子光線的中心，并且具有和垂直于光軸的直線大致相同的方向。從 紙面上方射來的入射平行光在底線的位置一分為二，分別入射到不同的平行平板上。平行平板如果采用透明玻璃或者塑料制成的話則折射率比空氣的大，所以，在入射面上，光線沿 著離開含底線和光軸的平面的方向，在出射面成為和光軸平行的光束。如上所述的分離光學(xué)系統(tǒng)假定入射的是平行光束，但是，也可以是經(jīng)過反射光聚 光透鏡聚光之后的會聚光。例如圖16所示的光學(xué)元件的場合，入射面的角度和出射面的角 度相同，而在入射會聚光的場合，即使相對光軸的角度，入射面和出射面設(shè)計(jì)得各不相同， 也能夠得到相同的效果。下面根據(jù)實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行說明。[實(shí)施例1]圖1示出本發(fā)明實(shí)施例1光拾取裝置的光學(xué)系統(tǒng)的圖。圖7所示光學(xué)系統(tǒng)中，插 入分離光學(xué)系統(tǒng)107。這樣，來自多層光盤501的反射光轉(zhuǎn)換成中心部空心的狀態(tài)的光束。 盡管也可使用反射板43，但是可以被反射區(qū)域限制反射板45替換掉，反射區(qū)域例如如534 示出的那樣，呈帶狀矩形形狀，反射來自所述層的反射光。矩形的長度方向的長度即使長但 只要不照射雜光就沒有問題。來自所述層的主光線和子光線以圖中黑圓圈示出的光斑形態(tài) 照射到該矩形反射區(qū)域上，所以這些光斑被反射。來自所述層的反射光在被平行分離的狀 態(tài)下返回反射光聚光透鏡405，在通過了分離光學(xué)系統(tǒng)107之后，返回常規(guī)未分離狀態(tài)。分 離光學(xué)系統(tǒng)107射出的反射光在透過偏光分束器104、存在像散的聚光透鏡406之后，由光 檢測器52檢測出。來自其他層的反射光沒有照射到矩形反射區(qū)域，所以，也沒有返回到反 射光聚光透鏡405。因此，不能到達(dá)光檢測器52，所以不會產(chǎn)生層間串音。另外，到達(dá)光檢 測器的光通過信號處理回路53生成RF信號等。矩形形狀的反射區(qū)域的寬度，在所述層位于至少焦點(diǎn)的進(jìn)入范圍，都需要比該反 射光的光斑要大。光斑越大進(jìn)入范圍越窄，層間跳躍和焦點(diǎn)變得越不穩(wěn)定。如果進(jìn)入范圍 為3 μ m，物鏡和反射光聚光透鏡的光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)倍率為10倍，則需要帶狀寬度為60 μ m。 隨之而來的是，對于其他層的反射光則需要設(shè)置避開該矩形形狀的雙棱鏡。對于分離光學(xué)系統(tǒng)107，可以使用圖14-16所示的光學(xué)系統(tǒng)。如圖15所示的分離 光學(xué)系統(tǒng)的光柵還可以是偏光性衍射元件。此時(shí)，僅僅對從偏光分束器104射向分離光學(xué) 系統(tǒng)107的光線具有衍射效果，對于從106的λ/4板返回的偏光方向相差90度的光線并 不起作用。盡管光束是在分離的狀態(tài)下被檢測出，但是與入射到各分離檢測器(圖幻的光 量的光束沒有被分離的場合相同，對于RF信號和控制信號并不產(chǎn)生問題。因此，存在這樣 的優(yōu)點(diǎn)，即通過使用偏光性衍射光柵，對于反射板45的傾角和光軸方向的位置偏離，也能 夠減少分離元件的影響。其中，矩形反射面構(gòu)成為矩形的長度方向和所述分離光學(xué)系統(tǒng)的 分離方向大致一致。圖17中示出信號處理用電子回路。光檢測器541和討2、543和圖5所示的相同。 4分離檢測器541檢測主光線、2分離檢測器542、543分別檢測子光線。551到555為差動(dòng) 增幅器，561到566為加法回路。580為k倍的增幅器，k為參考主光線和子光線的強(qiáng)度比 后確定的值。來自各檢測器的信號在前置放大器增幅之后，利用這些電子回路進(jìn)行處理，最 終成為控制信號或者數(shù)據(jù)信號。從4分離檢測器輸出的A和B、C、D全部累加合成的信號 572為數(shù)據(jù)信號。574為像散法形成的AF信號。573為主光線產(chǎn)生的推挽信號，571為子光 線產(chǎn)生的子推挽信號。信號571被增幅器580增幅k倍，和主光線產(chǎn)生的推挽信號573 — 起，被差動(dòng)增幅器555處理，生成TR信號575。
根據(jù)本實(shí)施例，因?yàn)閷F信號的層間串音降低，所以，RF信號的信噪比提高，能夠 得到錯(cuò)誤降低的數(shù)據(jù)信號。同時(shí)，本方式隨著層間隔的變動(dòng)能夠減少循跡誤差信號的變動(dòng) 現(xiàn)象。換言之，從鄰接層射來的主光線的反射光，和用于循跡的所述層來的子光線的反射光 相互干涉，該相位差隨著層間隔的變化而變化，所以，盡管子推挽信號變動(dòng)，但是根據(jù)本發(fā) 明，能夠減少來自鄰接層的反射光的影響，所以，循跡誤差信號變動(dòng)變小。因此，能夠高精度 控制激光照射位置，而因?yàn)槟軌蛘_確定讀取及寫入時(shí)的激光照射位置，所以信號品質(zhì)得 到提高。本實(shí)施例中，盡管采用偏光光學(xué)系統(tǒng)，但是，在半導(dǎo)體激光的最大輸出非常充裕的 場合，也可以用常規(guī)分束器置換偏光分束器104，使用拆除了 λ/4板105、106的光學(xué)系統(tǒng)。[實(shí)施例2]圖2示出本發(fā)明實(shí)施例2的光拾取裝置的光學(xué)系統(tǒng)圖。在本實(shí)施例中，衍射光柵 103和偏光分束器104設(shè)置在從準(zhǔn)直透鏡407靠半導(dǎo)體激光101側(cè)。因此，從半導(dǎo)體激光 101射出的激光以發(fā)散光的狀態(tài)透過偏光分束器104，之后，被準(zhǔn)直透鏡407準(zhǔn)直，入射到 λ/4板105。在多層光盤中，如果所述層到光盤表面的深度不同，則產(chǎn)生的球面像差將不 同，而該像差通過在光軸上移動(dòng)準(zhǔn)直透鏡407而得到補(bǔ)償。在實(shí)施例1中，衍射光柵103和 偏光分束器104由于設(shè)置于準(zhǔn)直透鏡403和物鏡404之間，所以需要聚光透鏡405，而在實(shí) 施例2中，如圖2所示，從多層光盤501的讀取目標(biāo)層511反射的光束通過準(zhǔn)直透鏡407成 為會聚光，所以無須聚光透鏡。這樣，起到了能夠減少部件數(shù)量的效果。和實(shí)施例1 一樣，分離光學(xué)系統(tǒng)107可以使用圖14到16所示的光學(xué)系統(tǒng)。還可以 如圖15所示，和實(shí)施例1 一樣，分離光學(xué)系統(tǒng)的光柵采用偏光性衍射光柵。在實(shí)施例1中， 從所述層511來的反射光作為平行光從分離光學(xué)系統(tǒng)107中射出，而在本實(shí)施例的場合，來 自所述層511的反射光作為會聚光從分離光學(xué)系統(tǒng)107中射出。[實(shí)施例3]圖12示出了能夠減少層間串音的光盤驅(qū)動(dòng)裝置的實(shí)施例?；芈?11 714為用 于在多層光盤501中記錄數(shù)據(jù)的回路。錯(cuò)誤修正用符號化回路711中，對數(shù)據(jù)附加上誤差 修正符號。記錄符號化回路712以1-7ΡΡ方式對數(shù)據(jù)進(jìn)行調(diào)制。記錄補(bǔ)償電路713產(chǎn)生與 標(biāo)記長度適配的用于輸寫的脈沖，基于產(chǎn)生的脈沖列，通過半導(dǎo)體激光驅(qū)動(dòng)回路714，驅(qū)動(dòng) 光拾取裝置60內(nèi)的半導(dǎo)體激光，對來自物鏡射出的激光80進(jìn)行調(diào)制。在通過馬達(dá)502轉(zhuǎn) 動(dòng)驅(qū)動(dòng)的光盤501上形成相變化膜，用激光加熱，如果急劇冷卻則成為非結(jié)晶狀態(tài)，如果緩 慢冷卻則成為結(jié)晶狀態(tài)。在這2個(gè)狀態(tài)下反射率不同，可以形成標(biāo)記。在輸寫的狀態(tài)下，由 于不進(jìn)行使激光的相干性降低的高頻波重疊，所以來自鄰接層的反射光和來自所述層的反 射光呈容易干涉的狀態(tài)。為此，在不采取降低SPP變動(dòng)的對策的場合，軌跡將發(fā)生偏移，鄰 接軌跡的數(shù)據(jù)相消，從而產(chǎn)生故障。在本實(shí)施例中，光拾取裝置60可以采用實(shí)施例1、2所 示的光拾取裝置的某一種，即使對于多層光盤也不會產(chǎn)生循跡故障?；芈?21 7 用于讀取數(shù)據(jù)。均衡器721用于改善最短標(biāo)記長度附近的信噪比。 該信號被輸入到PLL回路722中，取出時(shí)鐘數(shù)據(jù)。另外，被均衡器處理過的數(shù)據(jù)信號在時(shí)鐘 周期中被 A-D 轉(zhuǎn)換器 723 數(shù)字化。在 PRML (PertialPesponse Maximum Likelyhood 局部響 應(yīng)最大相似技術(shù))信號處理回路724中進(jìn)行維特比(viterbi)解碼。在記錄解碼回路725 中基于1-7PP方式的調(diào)制規(guī)則進(jìn)行解碼，在誤差修正回路726中對數(shù)據(jù)進(jìn)行復(fù)原。
另外，在實(shí)施例中盡管是對2層的例子做出的說明，無庸置疑，對3層以上也能得 到同樣的效果。產(chǎn)業(yè)上利用可能性根據(jù)本發(fā)明，在光拾取裝置中，能夠回避多層間串音的問題。這樣，能夠提高RF信 號的信噪比，相應(yīng)其他層串音除去效果，可以將數(shù)據(jù)信號品質(zhì)誤差保持在很小的狀態(tài)。
權(quán)利要求
1.一種光拾取裝置，其特征在于，具有 激光光源；將來自所述激光光源的激光聚光于多層光信息記錄介質(zhì)中的一個(gè)記錄層上的照射光 聚光光學(xué)系統(tǒng)；以及檢測從所述多層光信息記錄介質(zhì)的所述記錄層反射的反射光的檢測光學(xué)系統(tǒng)， 所述檢測光學(xué)系統(tǒng)包含將來自所述記錄層的反射光平行分離于光軸兩側(cè)以使分離后的光束不通過光軸的分 離光學(xué)系統(tǒng)；射入所述分離光學(xué)系統(tǒng)分離后的反射光的反射光聚光透鏡；設(shè)于由所述反射光聚光透鏡射入的所述反射光中的來自所述一個(gè)記錄層的反射光的 最小光斑位置的反射區(qū)域限制反射面；以及檢測由所述反射區(qū)域限制反射面的反射面反射后的反射光的光檢測器，其中， 所述反射區(qū)域限制反射面反射來自所述一個(gè)記錄層的反射光而不反射來自其他記錄 層的反射光。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光拾取裝置，其特征在于，進(jìn)一步包含將所述激光分離成主光線和子光線的光學(xué)元件，在所述反射區(qū)域限制反射 面進(jìn)行反射的區(qū)域反射各聚光光斑。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光拾取裝置，其特征在于， 所述檢測光學(xué)系統(tǒng)具有像散。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光拾取裝置，其特征在于， 所述分離光學(xué)系統(tǒng)由沿著光軸配置的2個(gè)雙棱鏡構(gòu)成。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光拾取裝置，其特征在于，所述分離光學(xué)系統(tǒng)由沿著光軸配置的2個(gè)光柵元件構(gòu)成，所述2個(gè)光柵元件被含光軸 的面一分為二，所述光柵元件的槽形狀為鋸齒狀，槽深度為抑制0次光的深度，相對所述含 光軸的面對稱。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光拾取裝置，其特征在于，所述分離光學(xué)系統(tǒng)中將垂直于光軸的直線作為棱線，由相對光軸成相同角度的兩個(gè)平 面和將該兩個(gè)平面在光軸方向平行移動(dòng)的兩個(gè)平面構(gòu)成光學(xué)面。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光拾取裝置，其特征在于，所述反射面為矩形，矩形的長度方向和所述分離光學(xué)系統(tǒng)的分離方向大致一致。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光拾取裝置，其特征在于，所述反射面的反射區(qū)域的大小包含所述反射光在所述一個(gè)記錄層上聚光時(shí)的照射區(qū) 域，而不包含來自所述記錄層以外的反射光的照射區(qū)域。
9.一種光拾取裝置，其特征在于，具有 激光光源；將來自所述激光光源的激光聚光于多層光信息記錄介質(zhì)中的一個(gè)記錄層上的照射光 聚光光學(xué)系統(tǒng)；以及檢測從所述多層光信息記錄介質(zhì)的所述記錄層反射的反射光的檢測光學(xué)系統(tǒng)， 在所述照射光聚光光學(xué)系統(tǒng)的光路中設(shè)置分束器和物鏡，所述照射光聚光光學(xué)系統(tǒng)和所述檢測光學(xué)系統(tǒng)共有所述分束器和所述物鏡，所述照射光聚光光學(xué)系統(tǒng)使來自所述激光 光源的激光作為發(fā)散光而通過所述分束器，所述檢測光學(xué)系統(tǒng)包含將來自所述記錄層的反射光分離于光軸兩側(cè)以使剛分離后不通過光軸然后逐漸會聚 于光軸的分離光學(xué)系統(tǒng)；通過了所述分離光學(xué)系統(tǒng)的所述反射光中的來自所述一個(gè)記錄層的反射光的最小光 斑位置上設(shè)置的反射區(qū)域限制反射面；以及檢測由所述反射區(qū)域限制反射面的反射面反射后的反射光的光檢測器，其中，所述反射區(qū)域限制反射面反射來自所述一個(gè)記錄層的反射光而不反射來自其他記錄 層的反射光。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光拾取裝置，其特征在于，所述分離光學(xué)系統(tǒng)由沿著光軸配置的2個(gè)雙棱鏡構(gòu)成。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光拾取裝置，其特征在于，所述分離光學(xué)系統(tǒng)由沿著光軸配置的2個(gè)光柵元件構(gòu)成，所述2個(gè)光柵元件被含光軸 的面一分為二，所述光柵元件的槽形狀為鋸齒狀，槽深度為抑制0次光的深度，相對所述含 光軸的面對稱。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光拾取裝置，其特征在于，所述分離光學(xué)系統(tǒng)設(shè)置于將所述反射光向所述反射區(qū)域限制反射面會聚的光學(xué)元件 和所述反射區(qū)域限制反射面之間。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光拾取裝置。光拾取裝置中除去因控制信號的變動(dòng)及數(shù)據(jù)信號的誤差率導(dǎo)致的多層間串音，確保窄層間隔下的穩(wěn)定的運(yùn)行。將來自多層光盤(501)的反射光以中心線分開的方式，被分離光學(xué)系統(tǒng)(107)平行分離成2份，并進(jìn)行聚光。被聚光的來自所述層的反射光被限制反射區(qū)域的反射板(534)反射，并被光檢測器(52)檢測，來自其他層的反射光不被反射板(534)反射，所以層間串音降低。
文檔編號G11B7/135GK102081937SQ20101052094
公開日2011年6月1日 申請日期2010年10月15日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月27日
發(fā)明者木村茂治 申請人:日立視聽媒體股份有限公司