專利名稱：磁頭的生產(chǎn)方法以及磁記錄設(shè)備的生產(chǎn)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于裝配有記錄(寫)元件和回放(讀)元件的磁頭的低成本生 產(chǎn)方法。還涉及一種用于并入以低成本生產(chǎn)的磁頭的磁記錄設(shè)備的生產(chǎn)方法。
背景技術(shù)：
近來，磁記錄設(shè)備的表面記錄密度已增大，這需要購買并使用大量昂貴的測試設(shè) 備(測試器)，以便選擇能夠?qū)崿F(xiàn)這些高記錄密度的磁頭。同時(shí)，磁記錄設(shè)備的成本降低了， 并且制造成本的降低成為磁記錄設(shè)備的制造商必須解決的重要問題。因此，本發(fā)明人研究出這樣的方法，S卩，在將磁頭從磁頭生產(chǎn)工廠傳送到磁記錄設(shè) 備裝配工廠之前，從對磁頭所執(zhí)行的窮舉測試轉(zhuǎn)換為選擇測試中的抽樣測試，從而降低了 磁頭測試設(shè)備的數(shù)目并且降低制造成本。相似問題存在于半導(dǎo)體生產(chǎn)廠以及磁頭生產(chǎn)廠中。例如，在專利參考文獻(xiàn)1中，為 了降低對半導(dǎo)體芯片進(jìn)行測試所需的時(shí)間，僅對在預(yù)定抽樣位置所形成的芯片進(jìn)行測試， 而不是對晶片表面上所形成的所有芯片進(jìn)行測試，然后根據(jù)這些測試的結(jié)果來決定是否對 其他芯片進(jìn)行測試。在作該決定的過程中所使用的準(zhǔn)則是每個(gè)晶片的成品率；如果晶片具 有高成品率，那么信賴該抽樣測試結(jié)果并且對芯片進(jìn)行運(yùn)送而無需進(jìn)一步測試。[現(xiàn)有技術(shù)參考文獻(xiàn)][專利參考文獻(xiàn)][專利參考文獻(xiàn)1]未經(jīng)審查的專利申請公開No.H8-274139[專利參考文獻(xiàn)2]未經(jīng)審查的專利申請公開No.2009-205774[專利參考文獻(xiàn)3]未經(jīng)審查的專利申請公開No.2009-211758

發(fā)明內(nèi)容
[本發(fā)明要解決的問題]在專利參考文獻(xiàn)1中，僅基于抽樣測試來信賴具有高成品率的晶片，因此在該晶 片的表面上所形成的所有半導(dǎo)體芯片被認(rèn)為是好的并且被運(yùn)送。然而，不可能避免的是在 所運(yùn)送的芯片之中包含相當(dāng)大數(shù)量的次品部件。當(dāng)對磁頭施加抽樣測試時(shí)，必須對在磁頭生產(chǎn)工廠與磁記錄設(shè)備裝配工廠之間所 運(yùn)送的磁頭之中包含的次品部件的比例進(jìn)行量化，并且根據(jù)次品部件的比例來確定每個(gè)磁 頭的單位成本。當(dāng)次品部件的比例增大時(shí)，所裝配的磁記錄設(shè)備的次品率變高了，這導(dǎo)致磁 記錄設(shè)備的生產(chǎn)成本更高。另一方面，與磁頭受到窮舉測試相比，磁頭受到抽樣測試這可以 降低磁頭生產(chǎn)成本，因此可以降低每個(gè)磁頭的單位成本。為了對該權(quán)衡關(guān)系進(jìn)行適當(dāng)?shù)毓?理，必須盡可能地降低次品包含率，并且將該比率調(diào)節(jié)為適當(dāng)值。當(dāng)磁頭受到抽樣測試時(shí)，如專利參考文獻(xiàn)2和專利參考文獻(xiàn)3中所公開的，向前饋 送該磁頭測試結(jié)果，并且不可能將控制技術(shù)應(yīng)用到磁記錄設(shè)備生產(chǎn)處理。因此，本發(fā)明的目的是提供一種用于在上述情況下降低在所運(yùn)送的物品之中包含的次品比例并且允許對該比例進(jìn)行控制的抽樣測試的方法。[oo15] 還提供了一種用于當(dāng)執(zhí)行抽樣測試時(shí)對所有磁頭的測試結(jié)果進(jìn)行估計(jì)的方法，從而可以利用專利參考文獻(xiàn)2和專利參考文獻(xiàn)3的磁記錄設(shè)備生產(chǎn)方法。[oo16] [解決該問題的方式][oo17] 為了解決上述問題，根據(jù)本發(fā)明的權(quán)利要求l所述的磁頭生產(chǎn)方法包括第一分類步驟，其中將多個(gè)磁頭分類為第一測試頭類別和非測試候選頭類別；第一測試步驟，其中對分類為所述第一測試頭類別的特征值進(jìn)行測量；估計(jì)步驟，其中估計(jì)在第一分類步驟中被分類為非測試候選頭類別的磁頭的特征值；第二分類步驟，其中使在所述估計(jì)步驟中所估計(jì)的磁頭特征值用于將在第一分類步驟中所分類的多個(gè)非測試候選頭分類為非測試頭類別和第二測試頭類別；以及第二測試步驟，其中測量并選擇所述第二測試頭類別的特征值。[oo18] [本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)][oo19] 通過應(yīng)用根據(jù)本發(fā)明的磁頭生產(chǎn)方法，可以保持運(yùn)送到裝配工廠的物品之中的次品物品的比率很低，即使當(dāng)利用抽樣測試時(shí)，也使得可以降低對測試裝置的投資。還可以調(diào)節(jié)在運(yùn)往裝配工廠的物品之中包含的次品物品的比率。此外，即使當(dāng)執(zhí)行抽樣測試時(shí)，也可以采用使用磁頭測試結(jié)果的磁記錄設(shè)備生產(chǎn)技術(shù)，并且可以保持磁記錄設(shè)備次品率下降至低級別。此外，通過將本發(fā)明應(yīng)用到批量生產(chǎn)工廠，可以解決通過與一年的其他時(shí)間相比(例如年末)需求增大時(shí)傳統(tǒng)窮舉測試所需的昂貴測試設(shè)備數(shù)目不足所引起的生產(chǎn)率瓶頸的問題，從而使得可以避免喪失機(jī)會(huì)。


圖l是示出磁頭測試過程的示例的示意圖。
圖2是示出磁記錄設(shè)備的示意性示例的示意圖。
圖3是示出磁記錄設(shè)備的示意性示例的示意圖。
圖4是示出磁頭的示意性示例的示意圖。
圖5是示出磁記錄設(shè)備生產(chǎn)處理的示意性示例的示意圖。
圖6是示出品片的示意性示例的示意圖。
圖7是示出長形條的示意性示例的示意圖。
圖8是示出分類步驟5；300的過程的示意圖。
圖9是示出估計(jì)步驟$600的過程的示意圖。
圖lo是示出分類步驟$500和$50l的過程的示意圖。
圖11是示出分類步驟S．700的過程的示意圖。
圖12是示出用于靜態(tài)電磁測試的標(biāo)準(zhǔn)值的示例的示意圖。
圖13是示出抽樣規(guī)則的示例的示意圖。
圖14是示出用于動(dòng)態(tài)電磁測試的標(biāo)準(zhǔn)值的示例的示意圖。
圖15是示出預(yù)測值的標(biāo)準(zhǔn)值的示例的示意圖。
圖16是示出磁頭特征表的示例的示意圖。
圖17是示出磁頭特征表的示例的示意圖。
圖18是示出磁頭特征表的示例的示意圖。
圖19是示出磁頭特征表的示例的示意圖。圖20是示出磁頭特征表的示例的示意圖。圖21是示出用于說明記錄元件的特征值的波形信號的示例的示意圖。圖22是示出靜態(tài)電磁測試設(shè)備的示例的示意圖。圖23是示出動(dòng)態(tài)電磁測試設(shè)備的示例的示意圖。圖M是示出硬件配置的示例的示意圖。圖25是示出用于對相同長形條上的相鄰頭中的記錄元件的特征值進(jìn)行比較的圖 表的示例的示意圖。圖沈是示出用于對相同長形條上的相鄰頭中的回放元件的特征值進(jìn)行比較的圖 表的示例的示意圖。圖27是示出次品頭的包含率如何隨第一抽樣率以及用于估計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)值而變化的 示例的示意圖。圖觀是示出全面抽樣率如何隨第一抽樣率以及用于估計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)值而變化的示例 的示意圖。圖四是示出當(dāng)全面抽樣率是固定時(shí)的次品頭的包含率的示例的示意圖。圖30是示出當(dāng)次品頭的包含率是固定時(shí)的全面抽樣率的示例的示意圖。圖31是示出估計(jì)概圖(profile)的示例的示意圖。圖32是示出測試結(jié)果數(shù)據(jù)庫中的表的示例的示意圖。圖33是示出磁頭的組合的示例的示意圖。圖34是示出半導(dǎo)體測試過程的示例的示意圖。
具體實(shí)施例方式首先，給出根據(jù)本發(fā)明的磁記錄設(shè)備和磁頭以及其生產(chǎn)方法的簡要描述。圖2是示出磁記錄設(shè)備的示意性配置的示例，其中磁記錄設(shè)備的外殼向上開口并 且從上方在平面視圖中可見。將磁頭70固定到旋轉(zhuǎn)式致動(dòng)器82所支撐的懸臂81的端部。 位于磁頭70尖端的記錄(寫)元件和回放(讀)元件將數(shù)據(jù)寫入到通過主軸馬達(dá)85而旋 轉(zhuǎn)的磁盤84以及從磁盤84讀取數(shù)據(jù)。磁頭70、懸臂81以及旋轉(zhuǎn)式致動(dòng)器82 —起被稱為 頭堆疊組件83。圖3示出從磁記錄設(shè)備的側(cè)面所看的磁記錄設(shè)備的示意性示例。根據(jù)磁記錄設(shè)備 的記錄容量，頭堆疊組件83裝配有一個(gè)或多個(gè)磁頭70以及懸臂81 ；所說明的示例具有單 個(gè)旋轉(zhuǎn)式致動(dòng)器82以及四個(gè)懸臂和四個(gè)磁頭。磁記錄設(shè)備還裝配有一個(gè)或多個(gè)磁盤84 ； 所說明的示例具有兩個(gè)磁盤并且將數(shù)據(jù)記錄到其兩側(cè)。圖4是示出磁頭的凸出部件。有時(shí)將磁頭70稱為滑動(dòng)器。磁頭70在空氣軸承表 面71中裝配有軌道72和73，并且當(dāng)靠近旋轉(zhuǎn)磁盤84時(shí)，從空氣流入端74到空氣流出端 75的氣流可以使磁頭浮在盤表面上方?？諝饬鞒龆搜b配有記錄(寫)元件76和回放(讀) 元件77，并且具有用于將數(shù)據(jù)輸入到所述記錄元件和回放元件/從所述記錄元件和回放元 件輸出數(shù)據(jù)的電極78。圖5是示出從磁頭70和磁盤84的相應(yīng)生產(chǎn)處理開始并以磁記錄設(shè)備的裝配處理 結(jié)束的生產(chǎn)處理的凸出部件的示例。在步驟S101，通過涉及諸如涂敷、曝光、顯影、蝕刻以及沉積的步驟的重復(fù)的薄膜處理技術(shù)在襯底(晶片)上形成大量的回放元件和記錄元件對。 在步驟S102，將晶片切成被稱為長形條的長片，并且通過拋光處理在長形條單元中形成空 氣軸承表面71。接下來，與上述薄膜處理相似，通過對涂敷、曝光、顯影以及蝕刻處理的組合來形 成軌道72和73。在形成了軌道72和73之后，將長形條切成各個(gè)磁頭。在步驟S103，每個(gè) 磁頭受到靜態(tài)電磁測試，該靜態(tài)電磁測試主要涉及通過對其回放元件的特征進(jìn)行測量來篩 選磁頭。靜態(tài)電磁測試涉及使磁頭接近磁場，并且評價(jià)回放元件是否可以正確地感測該場 的強(qiáng)度以及將它轉(zhuǎn)換成電信號。因此，目前實(shí)際上不可能執(zhí)行對記錄元件的特征值進(jìn)行測 量的靜態(tài)電磁測試。接下來，在步驟S104，每個(gè)磁頭受到動(dòng)態(tài)電磁測試，該動(dòng)態(tài)電磁測試主要涉及通過 對其記錄元件的特征值進(jìn)行測量來篩選磁頭。該動(dòng)態(tài)電磁測試涉及實(shí)際上使磁頭浮在磁盤 上方，并且評價(jià)所述記錄元件是否可以將數(shù)據(jù)寫入到磁盤以及回放元件是否可以正確地讀 回該數(shù)據(jù)。因?yàn)閯?dòng)態(tài)電磁測試要求磁頭實(shí)際上浮在磁盤上方，因此需要昂貴的測試裝置執(zhí) 行該測試。雖然還可以在動(dòng)態(tài)電磁測試期間對回放元件的特征值進(jìn)行測量，但是該測量結(jié) 果取決于記錄元件的特征值，因?yàn)樵摐y試涉及讀入記錄元件所寫的數(shù)據(jù)。因此，通常將該測 試分成通過對回放元件的特征值進(jìn)行測量來篩選磁頭的靜態(tài)電磁測試以及通過對記錄元 件的特征值進(jìn)行測量來篩選磁頭的動(dòng)態(tài)電磁測試。將在步驟S104的篩選過程中判斷為具 有可接受質(zhì)量的磁頭被組合成包括有多個(gè)磁頭的成批，并且將其發(fā)送到磁記錄設(shè)備裝配處 理。同時(shí)，在步驟S105中，盤受到薄膜處理以形成能夠記錄數(shù)據(jù)的磁盤。雖然進(jìn)來已 進(jìn)展到對利用與用于磁頭的曝光和蝕刻處理相似的曝光和蝕刻處理所生產(chǎn)的圖案化磁盤， 但是對于使用傳統(tǒng)表面記錄的磁盤而言，該處理基本上僅由薄膜沉積組成。在步驟S106，通過執(zhí)行電磁測試來篩選磁盤。將在步驟S106的篩選過程中判斷為 具有可接受質(zhì)量的磁盤被組合成包括多個(gè)磁盤的成批，并且將其發(fā)送到磁記錄設(shè)備裝配處 理。在步驟S107，對頭堆疊組件83進(jìn)行裝配。在這里，如在專利參考文獻(xiàn)2和專利參 考文獻(xiàn)3中所公開的，通過在基于步驟S103和步驟S104中的電磁測試結(jié)果而考慮到磁頭 的組合的同時(shí)執(zhí)行該裝配，可以保持具有可接受質(zhì)量的磁記錄設(shè)備的高比率。在步驟S108，將包括頭堆疊組件83、磁盤84以及主軸馬達(dá)85的部件安裝在設(shè)備 外殼中。類似地，在這點(diǎn)上還可以通過在考慮到對磁頭和磁盤的組合的同時(shí)執(zhí)行該裝配，來 保持具有可接受質(zhì)量的磁記錄設(shè)備的高比率。在步驟S109，將用于對磁頭進(jìn)行定位的伺服信號寫入到磁盤84上，并且基于諸如 磁頭的磁寫入寬度(MWW)以及當(dāng)磁盤通過主軸馬達(dá)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)所發(fā)生的波動(dòng)量的因素來調(diào)節(jié) 磁記錄設(shè)備的各種參數(shù)。在步驟Sl 10，對磁記錄設(shè)備進(jìn)行測試和篩選。對在步驟SllO處判斷為具有可接受 質(zhì)量的磁記錄設(shè)備進(jìn)行運(yùn)送。圖6是示出已形成了大量磁頭的晶片的凸出部件的示例。圓形邊緣1001表示晶 片。晶片具有凹口 1002，該凹口用作參考點(diǎn)以對晶片表面上的坐標(biāo)位置進(jìn)行限定。在晶片 表面中形成大量的細(xì)長的矩形長形條?；谄湓诰系淖鴺?biāo)對每個(gè)長形條給定序列號。在所說明的示例中，在單個(gè)晶片的表面中形成560個(gè)長形條，并且對這些長形條給定范圍 從ROOl至R560的序列號。圖7是示出由ROOl至R560所示的長形條的凸出部件。在細(xì)的長形條中形成大 量磁頭。在所說明的示例中，在單個(gè)長形條中形成60個(gè)磁頭，并且對這些磁頭給定范圍從 COl至C60的序列號。換句話說，使用編號系統(tǒng)，使得基于晶片表面上的長形條的序列號以 及長形條內(nèi)的磁頭的序列號可一目了然地理解在晶片表面上所形成的磁頭的坐標(biāo)。通過向 晶片、這些晶片上的長形條以及這些長形條內(nèi)的磁頭分配序列號，可以基于其自己的各個(gè) 序列號來對所有制造的磁頭進(jìn)行管理。接下來，對與本發(fā)明有關(guān)的磁頭測試方法進(jìn)行描述。圖1是磁頭的靜態(tài)電磁測試和動(dòng)態(tài)電磁測試的過程的示例。在靜態(tài)電磁測試步驟 S103，首先在步驟S200對回放元件的特征值進(jìn)行測量?；胤糯蓬^77的特征值包括回放元件 的電阻(MRDCI )、由于回放元件(AMP)所接收到的磁場而從端子78輸出的電壓幅值(AMP) 以及該電壓的不對稱性(ASYM)。接下來，在步驟S300，基于測量值、標(biāo)準(zhǔn)值以及動(dòng)態(tài)電磁測試的抽樣規(guī)則，將磁頭 分成廢品、測試頭以及非測試候選頭。接下來，測試頭和非測試候選頭進(jìn)入到動(dòng)態(tài)電磁測試 步驟S104。在動(dòng)態(tài)電磁測試步驟S104中，首先在步驟S400中對在步驟S300中分類為測試頭 的磁頭的記錄元件特征值進(jìn)行測量。記錄元件的特征值是在記錄元件兩次將信號寫入到磁 盤并且此后利用回放元件讀回該信號之后對電極78輸出的信號的進(jìn)行分析的結(jié)果。具體 地說，這些值包括第二信號波形的平均寬度(MWff)、信號波形的上部的寬度(SQZ)以及第二 信號與第二信號蓋寫了第一信號之后的第一信號的剩余部分的幅值比(OW)。通過取這兩個(gè) 值的對數(shù)并且使該結(jié)果乘以20來以分貝表示該幅值比。在步驟S500，對所測量的記錄元件特征值與標(biāo)準(zhǔn)特征值進(jìn)行比較，并且將測試頭 分類成廢品或者分類為屬于合格類別的合格-A或合格-B中的一個(gè)。同時(shí)，在步驟S600，在 步驟S400處所測量的測試頭的特征值用于估計(jì)非測試候選類別中的記錄元件的特征值。在步驟S700，對非測試候選頭所估計(jì)的記錄元件的特征值與用于估計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn) 行比較，并且將其分類為測試頭或者分類為屬于合格類別的合格-C和合格-D中的一個(gè)。在 步驟S401，通過與步驟S400相同的方法來對測試頭的記錄元件的特征值進(jìn)行測量。在步 驟S501，通過與步驟S500相同的方法，將測試頭分類為廢品或者分類為屬于合格類別的合 格-A和合格-B中的一個(gè)。將通過上述過程而分類為合格類別的合格-A、合格-B、合格-C以及合格-D的頭 中的每一個(gè)發(fā)送到裝配工廠。也就是說，將可接受質(zhì)量的磁頭運(yùn)往裝配工廠。雖然在該示 例中將可接受部件分類為四個(gè)類別A、B、C以及D，但是本發(fā)明并不局限于這種分類。雖然 將實(shí)際上已測量了其特征值的磁頭分類為類別的合格-A和合格-B，并且將僅估計(jì)了其特 征值的磁頭分類為類別的合格-C和合格-D，但是還可以將合格-C類別與合格-A組合，并 且將合格-D類別與合格-B組合。圖8是用于步驟S300的詳細(xì)過程的示例。在步驟S300中，基于測量值、標(biāo)準(zhǔn)值 以及動(dòng)態(tài)電磁測試的抽樣規(guī)則，將磁頭分為廢品、測試頭以及非測試候選頭。首先，在步驟 S301，讀入記錄有在步驟S200所測量的回放元件的特征值的磁頭特征表1010，并且在步驟S302，讀入標(biāo)準(zhǔn)值1020。在步驟S303，對用于每個(gè)磁頭的在步驟S301中所讀入的回放元件 的測量值與在步驟S302所讀入的標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較，判斷磁頭具有可接受質(zhì)量(合格)或者 不能接受(不合格)，并且將判斷結(jié)果寫入到磁頭特征表。在步驟S304，讀入用于動(dòng)態(tài)電磁 測試的抽樣規(guī)則1030。在步驟S305，將在步驟S303判斷為具有可接受質(zhì)量的磁頭分類為 測試頭或非測試候選頭，并且將分類結(jié)果寫入到磁頭特征表。在步驟S306，基于磁頭特征 表，將磁頭分類為廢品或者分類為屬于測試頭或非測試候選頭類別，并將其卸載。圖9是用于步驟S600的詳細(xì)過程的示例。在步驟S601，讀入在步驟S300更新的 磁頭特征表1011。接下來，在步驟S602，根據(jù)從測試頭所測量的記錄元件的特征值，通過 (公式1)或通過(公式2)與(公式3)的組合來估計(jì)非測試候選頭的記錄元件的特征值。 當(dāng)利用(公式1)時(shí)，對于位于相同長形條上的位置Ci和 .的磁頭(其中Ci是表示第i位 置的長形條坐標(biāo)，Cj表示第j位置，并且i乒j)，線性地插入所測量的特征值Hl(Ci)和Hl(Cj) (其中Hl(Ci)和Hl(Cj)分別是在長形條上的位置Ci和Cj處所測量的特征值)，以估計(jì)位于 Ct (表示長形條上的第t位置)的磁頭的特征值。另一方面，當(dāng)利用(公式2)與(公式3)的組合時(shí)，概圖1080用于計(jì)算實(shí)際上測 量的相同長形條上的磁頭的特征值與從概圖1080所測量的相同位置處的磁頭的值之間的 相應(yīng)的差，并且對特征值進(jìn)行估計(jì)以作為將從概圖1080的位置Ct處的值加到該差的中值 的結(jié)果，所述概圖1080由從在過去所生產(chǎn)的大量磁頭所獲得的每個(gè)晶片坐標(biāo)位置處的特 征值的平均值或中值。接下來，在步驟S603，將所估計(jì)的特征值寫入到磁頭特征表。雖然這 里所示的示例描述了通過(公式1)或者通過(公式2)與(公式3)的組合來估計(jì)非測試 候選磁頭的記錄元件的特征值的實(shí)現(xiàn)，但是本發(fā)明并不局限于這些系統(tǒng)。例如，還可以使用 如下系統(tǒng)，在所述系統(tǒng)中利用諸如樣條曲線的近似曲線來近似相同長形條上的磁頭的所有 測量特征值。然而，作為由本發(fā)明人所執(zhí)行的測試的結(jié)果，已發(fā)現(xiàn)當(dāng)在步驟S300處判斷出 相同長形條上的許多磁頭是次品時(shí)，用于非測試候選頭的特征值的樣條曲線的準(zhǔn)確度顯著 減小，因此不推薦樣條曲線。[公式1]
權(quán)利要求
1.一種用于并入到磁記錄設(shè)備中的磁頭的生產(chǎn)方法，其特征在于，所述生產(chǎn)方法包括第一分類步驟，在所述第一分類步驟中將多個(gè)磁頭分類為第一測試頭類別和非測試候 選頭類別；第一測試步驟，在所述第一測試步驟中對分類為所述第一測試頭類別的所述磁頭的特 征值進(jìn)行測量；估計(jì)步驟，在所述估計(jì)步驟中，根據(jù)在所述第一測試步驟處被分類為所述第一測試頭 類別的所述頭的所述特征值來估計(jì)在所述第一分類步驟中被分類為所述非測試候選頭類 別的所述磁頭的特征值；第二分類步驟，在所述第二分類步驟中，在所述估計(jì)步驟中所估計(jì)的所述磁頭特征值 用于將在所述第一分類步驟中所分類的多個(gè)非測試候選頭分類為非測試頭類別和第二測 試頭類別；以及第二測試步驟，在所述第二測試步驟中測量并篩選所述第二測試頭類別的特征值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于磁頭的生產(chǎn)方法，其特征在于在所述第二分類步驟中，與用于在所述第一和第二測試步驟中進(jìn)行篩選所使用的標(biāo)準(zhǔn) 值不同的標(biāo)準(zhǔn)值被用于將所述頭分類為所述非測試頭類別和所述第二測試頭類別。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于磁頭的生產(chǎn)方法，其特征在于在所述估計(jì)步驟中，長形條中的所述第一測試頭類別的特征值以及所述長形條中的其 他特征值分別用于通過內(nèi)插對所述非測試候選頭的所述特征值進(jìn)行估計(jì)，所述長形條包括 多個(gè)所述磁頭的線性布置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于磁頭的生產(chǎn)方法，其特征在于在所述估計(jì)步驟中，在過去所生產(chǎn)的磁頭的特征值的概圖以及長形條中的所述第一測 試頭類別的特征值被用于基于與所述長形條中的相同位置相對應(yīng)的特征值對之間的差來 估計(jì)所述非測試候選頭的特征值，所述長形條包括多個(gè)所述磁頭的線性布置。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于磁頭的生產(chǎn)方法，其特征在于將用于表示對組件進(jìn)行測試的標(biāo)記信息施加到所述測試頭類別中的磁頭的特征值，將表示組件不被測試的標(biāo)記信息施加到非測試頭類別中的組件的特征值，所述非測試 頭類別中的組件的特征值根據(jù)所述測試頭類別中的磁頭的特征值所估計(jì)，以及通過利用施加到所述多個(gè)磁頭中的每個(gè)的序列號作為搜索關(guān)鍵字，來讀取所述測試組 件和非測試組件的特征值以及這些組件的相應(yīng)標(biāo)記信息。
6.一種用于磁記錄設(shè)備的生產(chǎn)方法，其中磁頭被并入到磁記錄設(shè)備中，所述生產(chǎn)方法 包括制備襯底以用于形成所述磁頭的處理；對所述制備的襯底進(jìn)行處理以在所述襯底上形成所述磁頭的處理；以及將所述磁頭裝配到磁記錄設(shè)備中的裝配處理，其特征在于，所述裝配處理包括分類步驟，在所述分類步驟中，通過對所述磁頭進(jìn)行測試所獲得的測試的磁頭的特征 值被用于對不執(zhí)行所述磁頭測試的非測試頭的特征值進(jìn)行估計(jì)，并且基于這些估計(jì)的特征 值來對所述非測試頭進(jìn)行分類；裝配步驟，在所述裝配步驟中，根據(jù)裝配規(guī)則，在所述分類步驟處分類為所述非測試頭 的頭被裝配到所述磁記錄設(shè)備中；以及測試步驟，在所述測試步驟中，對在所述裝配步驟中裝配的所述磁記錄設(shè)備的性能進(jìn) 行測量和篩選。
全文摘要
本發(fā)明涉及磁頭的生產(chǎn)方法以及磁記錄設(shè)備的生產(chǎn)方法，本發(fā)明提供了一種磁頭的生產(chǎn)方法以及磁記錄設(shè)備的生產(chǎn)方法，本發(fā)明提供了一種可以縮減對用于裝配有記錄元件和回放元件的磁頭的測試設(shè)備中的投資量，降低磁頭的生產(chǎn)成本，并且即使當(dāng)利用低成本生產(chǎn)的磁頭時(shí)，也可以使用而不會(huì)降低磁記錄設(shè)備的成品率。在使多個(gè)磁頭受到動(dòng)態(tài)電磁測試之前，將它們分類成測試頭和非測試候選頭(S300)，測試頭受到動(dòng)態(tài)電磁測試(S400)，然后對測試頭所計(jì)算的特征值用于估計(jì)非測試候選頭的特征值(S600)，所估計(jì)的特征值用于將非測試候選頭分類成非測試頭和測試頭(S700)，然后使在步驟S700分類為測試頭的磁頭受到動(dòng)態(tài)電磁測試(S401)，其結(jié)果是，對在步驟S700處分類為非測試頭的磁頭進(jìn)行運(yùn)送用于裝配在磁記錄設(shè)備中而無需受到動(dòng)態(tài)電磁測試。
文檔編號G11B7/22GK102097112SQ20101056340
公開日2011年6月15日 申請日期2010年11月25日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月9日
發(fā)明者上田文臣, 小野真 申請人:日立環(huán)球儲(chǔ)存科技荷蘭有限公司