專利名稱：用于在存儲(chǔ)介質(zhì)上確定缺陷位置的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本公開總體上涉及盤存儲(chǔ)設(shè)備，并且更特別地，涉及在盤上檢測(cè)缺陷的位置。
背景技術(shù)：
出于總體上提供該公開的上下文的目的，在此提供了背景描述。對(duì)于當(dāng)前具名的發(fā)明人的工作，在該背景部分對(duì)其描述的程度中、以及在提交時(shí)可能不作為現(xiàn)有技術(shù)的描述的多個(gè)方面，對(duì)于本公開而言，既不明示地也不暗示地被承認(rèn)為現(xiàn)有技術(shù)?？梢允褂眉す馄飨蚬獯鎯?chǔ)介質(zhì)寫入數(shù)據(jù)，該激光器在光存儲(chǔ)介質(zhì)的聚碳酸酯襯底的頂部形成極小的刻痕或凹痕的圖案。凹痕之間的區(qū)域被稱為凸面，并且凹痕和凸面一起表示寫到光存儲(chǔ)介質(zhì)的數(shù)據(jù)。將可以包括激光器和光傳感器的光學(xué)拾取單元(OPU)用于讀取數(shù)據(jù)。例如，可以將OPU的激光引導(dǎo)到期望從其讀取數(shù)據(jù)的光存儲(chǔ)介質(zhì)上的軌道處。凹痕相對(duì)于凸面的刻痕使得光從凹痕的反射與從凸面的反射不同。在讀取操作期間，光存儲(chǔ)介質(zhì)由主軸馬達(dá)/進(jìn)給馬達(dá)(FM)驅(qū)動(dòng)器旋轉(zhuǎn)，以允許光傳感器讀取凹痕和凸面。該光傳感器感測(cè)來自于凹痕和凸面的反射中的差異，以便讀取由凹痕和凸面表示的數(shù)據(jù)。因?yàn)閺墓獯鎯?chǔ)介質(zhì)準(zhǔn)確讀取數(shù)據(jù)取決于對(duì)反射中的差異的準(zhǔn)確感測(cè)，并且因?yàn)榘己凼菢O小的刻痕，所以寫在光存儲(chǔ)介質(zhì)上的數(shù)據(jù)的完整性容易受到諸如劃痕或指印之類的缺陷的影響。此類缺陷可以干擾凸面和凹痕的圖案，并且可以損害光存儲(chǔ)介質(zhì)的反射性質(zhì)， 從而阻止準(zhǔn)確地讀取數(shù)據(jù)或甚至根本無法讀取數(shù)據(jù)。結(jié)果可以包括在對(duì)光存儲(chǔ)介質(zhì)用戶的音頻或視頻回放中的“跳過”或“尖峰信號(hào)(blip)，，以及難于讀取數(shù)據(jù)以供處理。圖1示出了具有缺陷108(諸如劃痕或指印)的光存儲(chǔ)介質(zhì)104(諸如數(shù)字多功能盤(DVD)介質(zhì))，該缺陷108始于光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的缺陷起始區(qū)域112中。缺陷起始區(qū)域 112可以包括多個(gè)軌道116，如圖1中缺陷起始區(qū)域112的放大視圖中所示。多個(gè)軌道116 中的每個(gè)其上寫有數(shù)據(jù)。稍后，可以從多個(gè)軌道116讀取數(shù)據(jù)以供進(jìn)一步處理、向光存儲(chǔ)介質(zhì)104的用戶顯示、向用戶進(jìn)行音頻或視頻回放等。隨著缺陷徑向延伸跨越光存儲(chǔ)介質(zhì)，光存儲(chǔ)介質(zhì)上的缺陷有時(shí)會(huì)增加大小。如圖 1中所示，隨著缺陷108徑向延伸跨越缺陷起始區(qū)域112內(nèi)的多個(gè)軌道116，其在大小上增加。缺陷108引起光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的數(shù)據(jù)層的劣化，在該光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的多個(gè)軌道 116上寫有數(shù)據(jù)，尤其是當(dāng)缺陷108在大小上增加時(shí)更是如此，并且不利地影響讀通道(諸如DVD播放器的讀通道)從缺陷108所延伸跨越的每個(gè)軌道讀取數(shù)據(jù)的能力。圖2示出了來自于光存儲(chǔ)設(shè)備的輸出信號(hào)200。輸出信號(hào)200可以是例如讀通道信號(hào)，該讀通道信號(hào)對(duì)應(yīng)于通過從光存儲(chǔ)介質(zhì)(諸如光存儲(chǔ)介質(zhì)104)讀取數(shù)據(jù)而生成的信號(hào)。輸出信號(hào)200包括具有由指印引起的劣化的劣化區(qū)域204。劣化區(qū)域204的特征在于低信號(hào)水平和對(duì)應(yīng)于指印脊部的脊部208。圖3示出了來自光存儲(chǔ)設(shè)備的另一輸出信號(hào) 300。輸出信號(hào)300包括具有由劃痕引起的嚴(yán)重劣化的劣化區(qū)域304。劣化區(qū)域304的特征在于幾乎完全劣化的信號(hào)水平和因此損失幾乎全部數(shù)據(jù)?？梢愿鶕?jù)糾錯(cuò)編碼(ECC)方案(諸如Reed-Solomon編碼方案)對(duì)寫在光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的數(shù)據(jù)進(jìn)行編碼。在某些情況中，盡管存在缺陷108，但是ECC的使用將允許讀通道確定在缺陷(諸如缺陷108)位置處的寫在光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的數(shù)據(jù)。然而，如果缺陷 108足夠嚴(yán)重或足夠大，則ECC可能不足以補(bǔ)償數(shù)據(jù)的損失。而且，即使ECC足以補(bǔ)償數(shù)據(jù)的損失，缺陷108也可能引起附加的問題。即，讀通道使用各種控制環(huán)路以持續(xù)監(jiān)視并調(diào)整參數(shù)，諸如按照其從光存儲(chǔ)介質(zhì)104讀取數(shù)據(jù)的定時(shí)以及應(yīng)用于讀取信號(hào)的增益和dc偏移量。例如，根據(jù)光存儲(chǔ)介質(zhì)104的通道時(shí)鐘來讀取數(shù)據(jù)。光數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)基于例如光存儲(chǔ)介質(zhì)104的旋轉(zhuǎn)速度來確定期望的通道時(shí)鐘。然而，各種因素可以使得期望的通道時(shí)鐘不準(zhǔn)確。例如，光存儲(chǔ)介質(zhì)104偏心或橢圓旋轉(zhuǎn)、光存儲(chǔ)介質(zhì)104旋轉(zhuǎn)速度的變化，并且正在被讀取的軌道的曲率中心與光存儲(chǔ)介質(zhì)104的旋轉(zhuǎn)軸之間的差異都可能促成定時(shí)誤差。因此，使用定時(shí)控制環(huán)路來恢復(fù)實(shí)際的通道時(shí)鐘，以確保讀取操作期間的適當(dāng)信號(hào)定時(shí)。類似地，使用增益和dc偏移控制控制來自O(shè)PU的讀取信號(hào)的放大并且補(bǔ)償dc偏移，該dc偏移可能被引入到讀取信號(hào)中，以作為包括一個(gè)或多個(gè)引起定時(shí)控制問題的因素的因素結(jié)果。然而，在存在缺陷108時(shí)，光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的數(shù)據(jù)的劣化引起對(duì)定時(shí)、增益和dc 偏移控制環(huán)路的非期望輸入，并且因此引起對(duì)信號(hào)定時(shí)、增益和dc偏移補(bǔ)償?shù)姆瞧谕筒粶?zhǔn)確的控制。作為結(jié)果，甚至在已經(jīng)通過了包括缺陷108的光存儲(chǔ)介質(zhì)104的區(qū)域之后，缺陷108的不利影響(即，跳過、尖峰信號(hào)等)可能繼續(xù)，直到基于足夠的可靠數(shù)據(jù)量更新了控制環(huán)路以再次生成適合的輸出為止。就控制OPU的定位以從光存儲(chǔ)介質(zhì)104讀取數(shù)據(jù)而言，當(dāng)存在缺陷108時(shí)可能出現(xiàn)類似的問題。由于包括例如關(guān)于定時(shí)控制的以上討論的那些因素的因素，OPU的位置可能發(fā)生不期望的改變。因此，正如定時(shí)、增益和dc偏移一樣，OPU的定位也可以由附加的控制環(huán)路監(jiān)視并且更新。然而，正如定時(shí)、增益和dc偏移控制環(huán)路一樣，可能基于存在缺陷108 時(shí)的不準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)來更新用于定位OPU的控制環(huán)路，這引起對(duì)OPU的位置的不準(zhǔn)確調(diào)整，其甚至在OPU已經(jīng)通過了缺陷108結(jié)尾之后也可能繼續(xù)。一個(gè)已知的系統(tǒng)可以檢測(cè)諸如缺陷108之類的缺陷，并且對(duì)例如由讀通道使用的控制環(huán)路進(jìn)行某些改變。例如，可以禁用定時(shí)環(huán)路以便最小化利用源自缺陷108的不準(zhǔn)確數(shù)據(jù)對(duì)定時(shí)環(huán)路的更新。該系統(tǒng)還可以確定ECC塊的光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的地址，在該ECC 塊內(nèi)檢測(cè)到缺陷108。如果稍后嘗試重新讀取ECC塊，則系統(tǒng)對(duì)缺陷的靈敏度在ECC塊的開始處開始增加，以便增加將較早檢測(cè)到缺陷108的可能性，其結(jié)果在于將較早禁用定時(shí)環(huán)路并且將進(jìn)一步減少利用不準(zhǔn)確數(shù)據(jù)對(duì)其進(jìn)行的更新。

發(fā)明內(nèi)容
在一個(gè)實(shí)施方式中，一種方法，包括在盤驅(qū)動(dòng)器的存儲(chǔ)介質(zhì)上檢測(cè)缺陷。該方法還包括在存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的最小可尋址單元內(nèi)確定缺陷的位置。此外，該方法包括在存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)位置的指示。該方法還包括監(jiān)視盤驅(qū)動(dòng)器的傳感器相對(duì)于存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的位置。該方法還包括基于傳感器相對(duì)于存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的位置和存儲(chǔ)的缺陷的位置的指示，改變盤驅(qū)動(dòng)器的缺陷檢測(cè)器、盤驅(qū)動(dòng)器的讀通道控制器和盤驅(qū)動(dòng)器的伺服器控制器中至少一個(gè)的響應(yīng)。在另一實(shí)施方式中，改變讀通道控制器對(duì)缺陷的響應(yīng)包括增加應(yīng)用于讀取信號(hào)的增益。在一個(gè)實(shí)施方式中，增加應(yīng)用于讀取信號(hào)的增益包括響應(yīng)于確定存儲(chǔ)介質(zhì)上缺陷位置處存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的幅度高于閾值來增加增益。在其他實(shí)施方式中，一種裝置，包括計(jì)數(shù)器，被配置用于生成與盤驅(qū)動(dòng)器的存儲(chǔ)介質(zhì)上的不同位置相關(guān)聯(lián)的計(jì)數(shù)。該裝置還包括缺陷檢測(cè)器，被配置用于在存儲(chǔ)介質(zhì)上檢測(cè)缺陷。該裝置還包括缺陷邊界控制器，被配置用于確定對(duì)應(yīng)于缺陷的位置的計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)。該缺陷邊界控制器還被配置用于基于計(jì)數(shù)和計(jì)數(shù)器來改變?nèi)毕輽z測(cè)器、盤驅(qū)動(dòng)器的讀通道控制器以及盤驅(qū)動(dòng)器的伺服器控制器中至少一個(gè)的響應(yīng)。在一個(gè)實(shí)施方式中，該裝置還包括計(jì)數(shù)器重置模塊，被配置用于在一個(gè)或多個(gè)計(jì)數(shù)器重置位置處重置計(jì)數(shù)器。缺陷邊界控制器還被配置用于確定對(duì)應(yīng)于缺陷的特定計(jì)數(shù)器重置位置。此外，該缺陷邊界控制器被配置用于基于對(duì)應(yīng)于缺陷的計(jì)數(shù)器重置位置，改變?nèi)毕輽z測(cè)器、讀通道控制器以及伺服器控制器中至少一個(gè)的響應(yīng)。在另一實(shí)施方式中，計(jì)數(shù)指示對(duì)應(yīng)于缺陷的計(jì)數(shù)器重置位置和缺陷位置之間的、 存儲(chǔ)介質(zhì)的通道時(shí)鐘的周期數(shù)量。在又一實(shí)施方式中，缺陷邊界控制器還被配置用于在計(jì)數(shù)器重置位置處對(duì)計(jì)數(shù)器重置之后，當(dāng)計(jì)數(shù)器達(dá)到對(duì)應(yīng)于缺陷的位置的調(diào)整計(jì)數(shù)時(shí)，使得讀通道控制器進(jìn)入缺陷模式。在又一實(shí)施方式中，缺陷邊界控制器還被配置用于在計(jì)數(shù)器重置位置處對(duì)計(jì)數(shù)器重置之后，當(dāng)計(jì)數(shù)器指示接近缺陷時(shí)，改變?nèi)毕輽z測(cè)器的缺陷檢測(cè)靈敏度。在又一實(shí)施方式中，缺陷的位置在存儲(chǔ)介質(zhì)的第一軌道上。缺陷邊界控制器還被配置用于基于缺陷的位置計(jì)算補(bǔ)償值。缺陷邊界控制器還被配置用于將該補(bǔ)償值與對(duì)應(yīng)于缺陷的位置的計(jì)數(shù)相加，以在存儲(chǔ)介質(zhì)的第二軌道上預(yù)測(cè)缺陷的第二位置。在進(jìn)一步的實(shí)施方式中，一種方法，包括運(yùn)行計(jì)數(shù)器。計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)與盤驅(qū)動(dòng)器的存儲(chǔ)介質(zhì)上的不同位置相關(guān)聯(lián)。該方法還包括使用缺陷檢測(cè)器在存儲(chǔ)介質(zhì)上檢測(cè)缺陷。 此外，該方法包括確定對(duì)應(yīng)于缺陷的位置的計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)。該方法還包括基于計(jì)數(shù)和計(jì)數(shù)器，改變?nèi)毕輽z測(cè)器、盤驅(qū)動(dòng)器的讀通道控制器以及盤驅(qū)動(dòng)器的伺服器控制器中至少一個(gè)的響應(yīng)。在另一實(shí)施方式中，該方法還包括在一個(gè)或多個(gè)計(jì)數(shù)器重置位置處重置計(jì)數(shù)器， 以及確定對(duì)應(yīng)于缺陷的計(jì)數(shù)器重置位置。此外，進(jìn)一步基于對(duì)應(yīng)于缺陷的計(jì)數(shù)器重置位置， 改變?nèi)毕輽z測(cè)器、讀通道控制器以及伺服器控制器中至少一個(gè)的響應(yīng)。在又一實(shí)施方式中，計(jì)數(shù)指示對(duì)應(yīng)于缺陷的計(jì)數(shù)器重置位置和缺陷位置之間發(fā)生的、存儲(chǔ)介質(zhì)的通道時(shí)鐘的周期數(shù)量。在又一實(shí)施方式中，對(duì)應(yīng)于缺陷的計(jì)數(shù)器重置位置是存儲(chǔ)介質(zhì)上的糾錯(cuò)編碼塊的邊界。在又一實(shí)施方式中，對(duì)應(yīng)于缺陷的計(jì)數(shù)器重置位置是存儲(chǔ)介質(zhì)上的數(shù)據(jù)扇區(qū)的邊界。在又一實(shí)施方式中，對(duì)應(yīng)于缺陷的計(jì)數(shù)器重置位置是存儲(chǔ)介質(zhì)上的預(yù)定角度位置。在又一實(shí)施方式中，改變?nèi)毕輽z測(cè)器的響應(yīng)包括在計(jì)數(shù)器重置位置處對(duì)計(jì)數(shù)器重置之后，當(dāng)計(jì)數(shù)器指示接近缺陷時(shí)，改變?nèi)毕輽z測(cè)器的缺陷檢測(cè)靈敏度。在又一實(shí)施方式中，改變讀通道控制器的響應(yīng)包括在計(jì)數(shù)器重置位置處對(duì)計(jì)數(shù)器重置之后，當(dāng)計(jì)數(shù)器達(dá)到對(duì)應(yīng)于缺陷的位置的調(diào)整計(jì)數(shù)時(shí)，使得讀通道控制器進(jìn)入缺陷模式。


圖1示出了具有缺陷的光存儲(chǔ)介質(zhì)；圖2示出了來自包括由指印引起的劣化的光存儲(chǔ)設(shè)備的輸出信號(hào)；圖3示出了來自包括由劃痕引起的嚴(yán)重劣化的光存儲(chǔ)設(shè)備的輸出信號(hào)；圖4是根據(jù)一個(gè)實(shí)施方式的盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的框圖；圖5是根據(jù)另一實(shí)施方式的、管理盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的光存儲(chǔ)介質(zhì)上的缺陷的方法的流程圖；圖6是根據(jù)另一實(shí)施方式的、包括缺陷管理模塊的實(shí)現(xiàn)的盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的框圖；圖6A示出了根據(jù)又一實(shí)施方式的、缺陷管理模塊的缺陷邊界控制器的詳細(xì)視圖；圖7是根據(jù)又一實(shí)施方式的、在盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的光存儲(chǔ)介質(zhì)上確定缺陷位置的方法的流程圖；圖8描繪了根據(jù)又一實(shí)施方式的、光存儲(chǔ)介質(zhì)的軌道的兩個(gè)圖示；圖9是根據(jù)另一實(shí)施方式的、改變對(duì)盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的光存儲(chǔ)介質(zhì)上的缺陷的響應(yīng)的方法的流程圖；圖10是根據(jù)另一實(shí)施方式的、包括缺陷管理模塊的另一實(shí)現(xiàn)的備選盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的框圖；圖11是根據(jù)又一實(shí)施方式的、用于在光存儲(chǔ)介質(zhì)的第三軌道上預(yù)測(cè)缺陷位置的方法的流程圖；圖12示出了根據(jù)又一實(shí)施方式的、具有多個(gè)軌道的光存儲(chǔ)介質(zhì)；以及圖13示出了根據(jù)另一實(shí)施方式的、光存儲(chǔ)介質(zhì)的兩個(gè)軌道上的計(jì)數(shù)器重置位置和缺陷檢測(cè)位置。
具體實(shí)施例方式雖然將在此描述的缺陷檢測(cè)和響應(yīng)技術(shù)公開為在使用一個(gè)或多個(gè)數(shù)字多功能盤 (DVD)格式規(guī)范(例如，DVD只讀存儲(chǔ)器(DVD-ROM)、可記錄格式DVD-R和DVD+R、可重寫格式DVD-RW和DVD+RW以及DVD隨機(jī)訪問存儲(chǔ)器(DVD-RAM))的光盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)中使用，但是這些技術(shù)也可以在各種其他類型的光盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)中使用，諸如使用藍(lán)光盤(BD)格式規(guī)范和壓縮盤(CD)格式規(guī)范的那些光盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)，并且不被限制到符合DVD格式規(guī)范的一個(gè)或多個(gè)光盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)。而且，在此描述的技術(shù)還可以應(yīng)用于其他數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備和驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)，諸如磁盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)。圖4是根據(jù)一個(gè)實(shí)施方式的盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400的框圖。盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400可以是例如藍(lán)光盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、DVD盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)等，諸如可以在藍(lán)光盤播放器、DVD播放器、個(gè)人計(jì)算機(jī)或膝上型計(jì)算機(jī)、或可以使用光驅(qū)動(dòng)器的多個(gè)設(shè)備和裝置的任意一個(gè)中找到的。盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng) 400包括光存儲(chǔ)介質(zhì)104、OPU 408附接到的移動(dòng)臂404、伺服器412、伺服器控制器416、讀通道420、存儲(chǔ)器424、讀通道控制器432、缺陷管理模塊436、盤控制器440和接口 444。讀通道控制器432包括偏移和增益控制器43 以及定時(shí)控制器432b。在另一實(shí)施方式中，偏移和增益控制器43 被實(shí)現(xiàn)為兩個(gè)不同的控制器；S卩，一個(gè)dc偏移控制器(未示出)和一個(gè)增益控制器(未示出)。在又一實(shí)施方式中，如以下詳細(xì)討論的，壓控振蕩器(VCO)(圖4 中未示出)可以與定時(shí)控制器432b結(jié)合或通信地耦合到定時(shí)控制器432b。此外，參考圖5，現(xiàn)在將更詳細(xì)地描述盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400的操作。圖5是根據(jù)一個(gè)實(shí)施方式的、管理盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的光存儲(chǔ)介質(zhì)上的缺陷的方法500的流程圖。為了解釋的簡(jiǎn)便性，將參考盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400描述方法500。然而，應(yīng)該理解，方法500可以由除盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng) 400之外的系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)。在504處，從光存儲(chǔ)介質(zhì)104檢測(cè)數(shù)據(jù)。在一個(gè)實(shí)施方式中，上述計(jì)算設(shè)備(可以在其中找到盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400)中的一個(gè)的微處理器(未示出)可以向接口 444提供指示待讀取數(shù)據(jù)的讀取數(shù)據(jù)請(qǐng)求，諸如將從其讀取數(shù)據(jù)的光存儲(chǔ)介質(zhì)104上第一軌道的指示。接口 444向盤控制器440傳輸待讀取數(shù)據(jù)的指示，該盤控制器440繼而向伺服器控制器416傳輸信號(hào)以指示例如將從其讀取數(shù)據(jù)的第一軌道。響應(yīng)于來自于盤控制器440的信號(hào)，伺服器控制器416控制伺服器412的操作以將移動(dòng)臂404和OPU 408定位在第一軌道上。盡管在此的討論指的是將OPU 408定位在第一軌道上，但是應(yīng)該理解，伺服器控制器416和伺服器412可以被用于將OPU 408定位在如由讀取數(shù)據(jù)請(qǐng)求所指示的光存儲(chǔ)介質(zhì)104的任何合適位置上，諸如第一軌道上的特定數(shù)據(jù)扇區(qū)。OPU 408可以包括激光器和光傳感器，以感測(cè)來自于第一軌道上凸面和凹痕的不同反射，并且從而讀取光存儲(chǔ)介質(zhì)104上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。繼續(xù)參考504，在一個(gè)實(shí)施方式中，對(duì)光存儲(chǔ)介質(zhì)104上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的檢測(cè)可以進(jìn)一步如下實(shí)現(xiàn)。讀通道420從OPU 408接收模擬讀取信號(hào)、基于該模擬讀取信號(hào)生成數(shù)字信號(hào)，以及檢測(cè)由該數(shù)字信號(hào)表示的數(shù)據(jù)。在一個(gè)實(shí)施方式中，可以將檢測(cè)的數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器 424，以供由其中布置有盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400的計(jì)算設(shè)備進(jìn)一步使用，存儲(chǔ)器4M可以包括RAM、 ROM、閃存和/或任何其他合適的電子數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)。在另一實(shí)施方式中，可以向盤控制器 440提供檢測(cè)的數(shù)據(jù)，并且轉(zhuǎn)而可以從盤控制器440向接口 444提供該檢測(cè)的數(shù)據(jù)。接口 444繼而可以進(jìn)一步向上述微處理器提供該檢測(cè)的數(shù)據(jù)。讀通道420可以基于從光存儲(chǔ)介質(zhì)104讀取的位置信息來進(jìn)一步生成位置信號(hào)，并且向伺服器控制器416提供這些位置信號(hào)。因此，伺服器控制器416可以響應(yīng)于來自讀通道420的位置信號(hào)來進(jìn)一步地控制伺服器412的操作。接著，在508處，更新盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400內(nèi)的控制器以便調(diào)整向讀通道420提供的各種參數(shù)。這些參數(shù)可以包括例如用于在讀操作期間確保適合的定時(shí)、放大和dc偏移補(bǔ)償?shù)男盘?hào)定時(shí)、增益和dc偏移參數(shù)。在盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400中，數(shù)字信號(hào)和檢測(cè)的數(shù)據(jù)中的一個(gè)或兩者被用于更新讀通道控制器432內(nèi)的控制器43 和43 。控制器43 和43 響應(yīng)于來自數(shù)字信號(hào)和/或檢測(cè)的數(shù)據(jù)的更新，調(diào)整向讀通道420提供的上述參數(shù)?？梢皂憫?yīng)于變化來調(diào)整這些參數(shù)，該變化是由例如光存儲(chǔ)介質(zhì)104的偏心或橢圓旋轉(zhuǎn)、光存儲(chǔ)介質(zhì)104旋轉(zhuǎn)速度的變化、光存儲(chǔ)介質(zhì)104的旋轉(zhuǎn)軸與第一軌道或正被讀取的任何其他軌道的曲率中心之間的差異等引起的。此外，數(shù)字信號(hào)和檢測(cè)的數(shù)據(jù)中的一個(gè)或兩者可以被用于響應(yīng)于例如前述因素的一個(gè)或多個(gè)，更新伺服器控制器416，以便提供對(duì)伺服器412的準(zhǔn)確控制。接下來，在512處，確定在光存儲(chǔ)介質(zhì)104上是否已經(jīng)檢測(cè)到缺陷的第一邊緣，諸如關(guān)于圖1討論的缺陷108的開始?？梢园凑崭鞣N方式中的任意方式在盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400內(nèi)檢測(cè)缺陷108的第一邊緣。例如，可以向缺陷管理模塊436提供來自于讀通道420的數(shù)字信號(hào)和檢測(cè)的數(shù)據(jù)之一或兩者。而且，在一個(gè)實(shí)施方式中，定時(shí)控制器432b可以向缺陷管理模塊436提供定時(shí)控制。而且，盤控制器440可以向缺陷管理模塊436提供缺陷檢測(cè)設(shè)置，并且缺陷管理模塊436可以使用該缺陷檢測(cè)設(shè)置來檢測(cè)缺陷108的第一邊緣。盤控制器440可以是例如執(zhí)行機(jī)器可讀指令的控制器。機(jī)器可讀指令可以被存儲(chǔ)為固件、軟件等。 缺陷檢測(cè)設(shè)置可以指定例如數(shù)字信號(hào)中指示缺陷的劣化量。在一個(gè)實(shí)施方式中，缺陷管理模塊436基于以下確定檢測(cè)缺陷108的第一邊緣，該確定例如是光存儲(chǔ)介質(zhì)104的特定位置處的數(shù)字信號(hào)的包絡(luò)的幅度低于由盤控制器440設(shè)置的閾值。在另一實(shí)施方式中，可以通過基于從伺服器412接收的信號(hào)的幅度、使用伺服器控制器416檢測(cè)缺陷，來在盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400內(nèi)檢測(cè)缺陷108的第一邊緣。如果在512處確定已經(jīng)檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣，則流程進(jìn)行到516。如果尚未檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣，則流程返回到504，如在此所述，方法可以從該點(diǎn)繼續(xù)。在516處，盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400對(duì)缺陷108的第一邊緣進(jìn)行響應(yīng)。在一個(gè)實(shí)施方式中， 缺陷管理模塊436可以通過響應(yīng)于檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣而禁用控制器43 和432b 中的一個(gè)或多個(gè)，對(duì)缺陷108的第一邊緣進(jìn)行響應(yīng)，以便避免向控制器43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)引入不準(zhǔn)確的更新。在另一實(shí)施方式中，如果缺陷管理模塊436基于來自讀通道 420的檢測(cè)的數(shù)據(jù)或基于從伺服器412接收的信號(hào)幅度，確定缺陷108正引起OPU 408的操作中的徑向追蹤問題，則代替或除了控制器43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)之外，響應(yīng)于缺陷 108的第一邊緣的檢測(cè)而類似地禁用伺服器控制器416。如在此參考控制器43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)以及參考伺服器控制器416，而使用的術(shù)語“禁用”指的是防止對(duì)控制器416、 432a和432b中的一個(gè)或多個(gè)控制器的輸出的進(jìn)一步更新，從而防止信號(hào)定時(shí)、增益、dc偏移等的進(jìn)一步調(diào)整。接下來，在520處，確定檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣的位置。在一個(gè)實(shí)施方式中，缺陷管理模塊436在光存儲(chǔ)介質(zhì)104上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的最小可尋址單元內(nèi)確定檢測(cè)到缺陷108 的第一邊緣的位置。缺陷管理模塊436可以但不必確定或標(biāo)識(shí)在其中檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣的數(shù)據(jù)的特定最小可尋址單元。例如，在DVD介質(zhì)中，數(shù)據(jù)的最小可尋址單元是八到十四調(diào)制(EFM)幀，其包括1，488比特。因此，舉例來說，缺陷管理模塊436可以使用以下更詳細(xì)地討論的技術(shù)來確定EFM幀內(nèi)的位置或比特號(hào)，但是不必是特別標(biāo)識(shí)的EFM幀，在該幀處，在第一軌道上檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣。接著，在5 處，確定是否已經(jīng)檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣或結(jié)尾。可以按照各種方式中的任意一種在盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400內(nèi)檢測(cè)缺陷108的第二邊緣。例如，缺陷管理模塊436 可以如上所述使用由盤控制器440提供的缺陷檢測(cè)設(shè)置來檢測(cè)缺陷108的第二邊緣。更特別地，在一個(gè)實(shí)施方式中，缺陷管理模塊436基于以下確定來檢測(cè)缺陷108的第二邊緣，該確定為從讀通道420提供的數(shù)字信號(hào)的包絡(luò)的幅度處于或高于用于在512處檢測(cè)缺陷108 的第一邊緣的閾值。在另一實(shí)施方式中，伺服器控制器416可以基于例如從伺服器412所接收信號(hào)的幅度的增加來檢測(cè)缺陷108的第二邊緣，其中該幅度是相對(duì)于OPU處于檢測(cè)到缺陷108第一邊緣的位置處時(shí)從伺服器412所接收信號(hào)的幅度而增加的。如果在5M處確定了已經(jīng)檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣，則流程進(jìn)行到528。如果尚未檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣，則流程保持在5M處直到檢測(cè)到第二邊緣。在5 處，盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400對(duì)缺陷108的第二邊緣進(jìn)行響應(yīng)。在一個(gè)實(shí)施方式中， 缺陷管理模塊436可以通過重新使能在516處被禁用的控制器43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)，對(duì)缺陷的第二邊緣進(jìn)行響應(yīng)。如參考控制器43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)在此使用的， 術(shù)語“重新使能”或“重新使能的”指的是允許在禁用控制器43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)之后對(duì)控制器43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)的輸出的進(jìn)一步更新。在另一實(shí)施方式中，如果缺陷管理模塊436基于來自于讀通道420的檢測(cè)的數(shù)據(jù)或基于從伺服器412所接收的信號(hào)的幅度，確定缺陷108不再在OPU 408的操作中引起徑向追蹤問題，則缺陷管理模塊436 類似地響應(yīng)于檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣來重新使能伺服器控制器416。接著，在532處，確定檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣的位置。如在520中一樣，如以下一步描述的，缺陷管理模塊436可以在光存儲(chǔ)介質(zhì)104上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的最小可尋址單元內(nèi)確定檢測(cè)到缺陷的108第二邊緣的位置。缺陷管理模塊436可以但不必確定或標(biāo)識(shí)數(shù)據(jù)的特定最小可尋址單元，缺陷108的第二邊緣位于該單元內(nèi)。接著，在536處，預(yù)測(cè)缺陷108的實(shí)際位置。為了缺陷管理模塊436檢測(cè)缺陷108 的第一邊緣，讀通道420必須處理從光存儲(chǔ)介質(zhì)104讀取的數(shù)據(jù)。因此，缺陷管理模塊436 一般將不檢測(cè)缺陷108的第一邊緣，直到缺陷108實(shí)際開始的稍后位置。類似地，由于該處理延遲，缺陷管理模塊436 —般將不檢測(cè)缺陷108的第二邊緣，直到缺陷108實(shí)際結(jié)束的稍后位置。因此，缺陷管理模塊436可以在光存儲(chǔ)介質(zhì)104上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的最小可尋址單元內(nèi)預(yù)測(cè)缺陷108的實(shí)際位置。例如，缺陷管理模塊436可以預(yù)測(cè)缺陷108第一邊緣的實(shí)際位置和缺陷108第二邊緣的實(shí)際位置。缺陷管理模塊436存儲(chǔ)所預(yù)測(cè)位置的指示以供稍后使用，如下所述。缺陷管理模塊436可以根據(jù)在下面更詳細(xì)討論的技術(shù)來進(jìn)行該預(yù)測(cè)。接著，在540處，在隨后嘗試從受到缺陷108影響的光存儲(chǔ)介質(zhì)104的區(qū)域讀取數(shù)據(jù)的期間，盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400改變其對(duì)于缺陷108的響應(yīng)。更具體地，在一個(gè)實(shí)施方式中，在隨后的嘗試期間，盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400可以基于OPU 408的位置來改變其對(duì)于缺陷108的響應(yīng)， 該OPU 408的位置相對(duì)于存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和存儲(chǔ)的缺陷108位置的指示。如以下進(jìn)一步討論的，盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400因此可以在例如OPU 408處于缺陷108的預(yù)測(cè)位置處時(shí)(如關(guān)于536所討論的)或當(dāng)OPU 408處于光存儲(chǔ)介質(zhì)104中接近該預(yù)測(cè)位置的位置處時(shí)，改變其響應(yīng)。在一個(gè)實(shí)施方式中，并且繼續(xù)參考M0，在即使在利用糾錯(cuò)編碼(ECC)方案之后也無法讀取在缺陷108的位置處存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的情況下，讀通道控制器432可以向伺服器控制器416提供重新讀取信號(hào)，以便控制伺服器412的操作來使得OPU 408嘗試重新讀取受到缺陷108影響的數(shù)據(jù)。因此，在重新讀取的嘗試期間，缺陷管理模塊436可以監(jiān)視OPU 408 相對(duì)于光存儲(chǔ)介質(zhì)104上存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的位置，如以下進(jìn)一步討論的一樣。在一個(gè)實(shí)施方式中， 當(dāng)OPU 408處于缺陷108的預(yù)測(cè)位置處時(shí)、或當(dāng)OPU 408處于光存儲(chǔ)介質(zhì)104中接近該預(yù)測(cè)位置的位置處時(shí)，缺陷管理模塊436在重新讀取嘗試期間改變其自身對(duì)缺陷108的響應(yīng)。 在另一實(shí)施方式中，除了或代替改變其自身對(duì)缺陷108的響應(yīng)，缺陷管理模塊436還改變讀通道控制器432和伺服器控制器416中一個(gè)或兩者的響應(yīng)。
仍參考M0，缺陷管理模塊436可以按照各種方式中的任意一個(gè)改變其自身、和/ 或讀通道控制器432響應(yīng)和/或伺服器控制器416對(duì)于缺陷108的響應(yīng)。例如，當(dāng)在嘗試重新讀取期間OPU 408處于缺陷108第一邊緣的預(yù)測(cè)位置處時(shí)，缺陷管理模塊436可以生成缺陷檢測(cè)信號(hào)。而且，在一個(gè)實(shí)施方式中，缺陷檢測(cè)信號(hào)使得讀通道控制器432和伺服器控制器416中一個(gè)或兩者進(jìn)入缺陷模式。缺陷模式可以是或可以不是讀通道控制器432的相同操作模式、或伺服器控制器416的相同操作模式，該缺陷模式用于在初始數(shù)據(jù)讀取期間對(duì)缺陷108的第一邊緣進(jìn)行響應(yīng)。例如，響應(yīng)于缺陷檢測(cè)信號(hào)，可以禁用控制器43 和 432b中的一個(gè)或多個(gè)。在另一實(shí)施方式中，代替或除了控制器43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)，可以禁用伺服器控制器416。作為結(jié)果，可以最小化對(duì)伺服器控制器416和/或控制器 43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)的不準(zhǔn)確更新，從而增加讀通道420將在重新讀取嘗試期間準(zhǔn)確檢測(cè)受到缺陷108影響的數(shù)據(jù)的可能性。此外，由于對(duì)伺服器控制器416和/或控制器 43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)的不準(zhǔn)確更新的最小化，在缺陷108結(jié)束之后，對(duì)伺服器控制器416和/或控制器43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)的準(zhǔn)確更新將變得更快。
在另一實(shí)施方式中，控制器43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)可以從缺陷管理模塊436 接收強(qiáng)制更新。在又一實(shí)施方式中，代替或除了控制器43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)，伺服器控制器416可以從缺陷管理模塊436接收強(qiáng)制更新。此類更新可以是對(duì)伺服器控制器 416和/或控制器43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)的適合輸入，其將例如在進(jìn)行了對(duì)在缺陷 108位置處重新讀取數(shù)據(jù)的嘗試之后，優(yōu)化讀通道420的性能和/或伺服器控制器416和伺服器412的性能。仍然關(guān)于M0，讀通道控制器432和伺服器控制器416的各種缺陷模式(諸如上述模式)可以受到控制器43 和432b和/或伺服器控制器416的一個(gè)或多個(gè)設(shè)置的影響， 例如可以由盤控制器440向控制器43 和432b和/或伺服器控制器416提供這些設(shè)置。 通過適當(dāng)?shù)厣扇毕輽z測(cè)信號(hào)，缺陷管理模塊436選擇將使用哪個(gè)設(shè)置或哪些設(shè)置。在關(guān)于MO的另一實(shí)施方式中，如果對(duì)來自于光存儲(chǔ)介質(zhì)104的數(shù)據(jù)的音頻或視頻回放的連續(xù)性的要求規(guī)定不能進(jìn)行重新讀取操作，則缺陷管理模塊436可以在合適的時(shí)段內(nèi)(或無限期地)存儲(chǔ)缺陷108第一邊緣的預(yù)測(cè)位置存儲(chǔ)該預(yù)測(cè)位置，并且在稍后嘗試重新讀取受到缺陷108影響的數(shù)據(jù)期間，OPU 408處于例如缺陷108第一邊緣的預(yù)測(cè)位置處時(shí)，生成缺陷檢測(cè)信號(hào)。在關(guān)于MO的又一實(shí)施方式中，并且如以下更詳細(xì)地討論的那樣，缺陷管理模塊 436可以通過在OPU 408處于缺陷108第一邊緣的預(yù)測(cè)位置處時(shí)或處于接近缺陷108的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置的位置處時(shí)改變其檢測(cè)靈敏度，來改變其對(duì)于缺陷108的響應(yīng)。例如，接近缺陷108的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置的位置可以是遠(yuǎn)離缺陷108第一邊緣的預(yù)測(cè)位置大約10 或100比特?cái)?shù)量級(jí)的位置。在一個(gè)實(shí)施方式中，可以憑經(jīng)驗(yàn)確定接近的位置。以這種方式， 可以針對(duì)所使用類型的光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的某些普通類型的缺陷來優(yōu)化性能。在另一實(shí)施方式中，缺陷管理模塊436可以在嘗試讀取受到缺陷108影響的數(shù)據(jù)期間嘗試附近的不同位置。例如，在某些情況下，由缺陷108引起的錯(cuò)誤數(shù)量可能多于糾錯(cuò)碼可以處理的數(shù)量。 通過作為重新讀取策略的部分的對(duì)附近的位置的調(diào)整，缺陷管理模塊436在嘗試找到對(duì)于缺陷108而言工作良好的附近位置中嘗試附近的不同位置。在缺陷108的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置與附近位置之間的默認(rèn)比特?cái)?shù)量對(duì)于某些缺陷而不是其他缺陷(諸如缺陷108)而言工作良好時(shí)，這可能是有幫助的。在一個(gè)實(shí)施方式中，缺陷管理模塊436可以根據(jù)由例如盤控制器440向其提供的設(shè)置、通過指定在數(shù)字信號(hào)中指示缺陷的降級(jí)的減少量來改變其缺陷檢測(cè)靈敏度。以這種方式，在嘗試重新讀取受到缺陷108影響的數(shù)據(jù)期間，缺陷管理模塊436將比缺陷管理模塊436處于常規(guī)響應(yīng)時(shí)更可能檢測(cè)到更靠近缺陷108實(shí)際開始位置處的缺陷108的第一邊緣。此外，缺陷管理模塊436可以例如禁用更靠近缺陷108的第一邊緣的實(shí)際位置的控制器43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)。在另一實(shí)施方式中，代替或除了控制器43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)，缺陷管理模塊436可以禁用更靠近缺陷108的第一邊緣的實(shí)際位置的伺服器控制器416。因而，可以最小化對(duì)控制器43 和43 和/或416的不準(zhǔn)確更新，并且避免了此類不準(zhǔn)確更新的負(fù)面后果。在關(guān)于MO的又一實(shí)施方式中，并且如以下更詳細(xì)地討論的那樣，缺陷管理模塊 436可以基于以下確定來改變其對(duì)缺陷108的響應(yīng)、和/或讀通道控制器432的響應(yīng)、和/ 或伺服器控制器416的響應(yīng)，該確定為缺陷108具有相對(duì)最小的嚴(yán)重性(諸如由指印引起) 并且受缺陷108影響的數(shù)據(jù)更可能通過調(diào)整或維持控制器43 和432b的設(shè)置和/或調(diào)整或維持伺服器控制器416的設(shè)置，來被成功地重新讀取。例如，缺陷管理模塊436可以使能偏移和增益控制器43 的設(shè)置，在OPU 408處于缺陷108的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置處時(shí)、 或處于接近缺陷108的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置的位置處時(shí)，該設(shè)置引起由偏移和增益控制器 432a向讀取信號(hào)應(yīng)用的增益的增加。例如，接近缺陷108的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置的位置可以是遠(yuǎn)離缺陷的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置大約10或100比特?cái)?shù)量級(jí)的位置，并且可以按照類似于關(guān)于在其中缺陷管理模塊436可以改變其缺陷檢測(cè)靈敏度的實(shí)施方式的以上描述的方式來確定該位置。例如，如果檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣的位置處的數(shù)字信號(hào)的包絡(luò)的幅度高于由盤控制器440設(shè)置的閾值，則缺陷管理模塊436可以確定缺陷108具有相對(duì)最小的嚴(yán)重性。在一個(gè)實(shí)施方式中，缺陷管理模塊436雖然禁用定時(shí)控制器432b和伺服器控制器416中的一個(gè)或兩者，但是增加由偏移和增益控制器43 應(yīng)用的增益。在另一實(shí)施方式中，鑒于缺陷108的相對(duì)最小嚴(yán)重性，不禁用伺服器控制器416和定時(shí)控制器432b中的一個(gè)或兩者。此外，在將偏移和增益控制器43 實(shí)現(xiàn)為兩個(gè)不同的控制器(即，一個(gè)dc偏移控制器和一個(gè)增益控制器)的實(shí)施方式中，缺陷管理模塊436可以禁用dc偏移控制器而增加由增益控制器應(yīng)用的增益。在關(guān)于MO的又一實(shí)施方式中，并且如以下關(guān)于圖11-圖13更詳細(xì)地討論的那樣，缺陷管理模塊436可以相對(duì)于光存儲(chǔ)介質(zhì)104的其他數(shù)據(jù)軌道(諸如第二軌道)，改變其對(duì)缺陷108的響應(yīng)、和/或讀通道420的響應(yīng)、和/或伺服器控制器416的響應(yīng)。例如，如上所述，缺陷管理模塊436可以確定在第一軌道上檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣的EFM幀內(nèi)的位置或比特號(hào)，以及確定在第一軌道上檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣的同一 EFM幀或另一 EFM幀內(nèi)的位置或比特號(hào)?？赡芷谕藐P(guān)于在第一軌道上檢測(cè)的缺陷108的位置的信息， 來準(zhǔn)確預(yù)測(cè)在光存儲(chǔ)介質(zhì)104的另一軌道上該缺陷的另一位置，諸如第二軌道上該缺陷的第二位置。即，缺陷管理模塊436可以利用在第一軌道上檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣和第二邊緣的位置，預(yù)測(cè)第二軌道上缺陷108的第二位置。以下詳細(xì)討論除了用于預(yù)測(cè)在另一軌道(諸如第二軌道)上的缺陷108的位置方法之外的方法。然而，僅作為一個(gè)示例，可以通過假設(shè)缺陷108從第一軌道上的缺陷108的檢測(cè)位置徑向跨越光存儲(chǔ)介質(zhì)104傳播來預(yù)測(cè)第二軌道上缺陷108的第二位置。可以通過結(jié)合根據(jù)例如以下關(guān)于圖6和圖7描述的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式的對(duì)光存儲(chǔ)介質(zhì)104的旋轉(zhuǎn)角的追蹤而在第一軌道上檢測(cè)缺陷108，來確定假設(shè)缺陷108跨越其傳播的光存儲(chǔ)介質(zhì)104的半徑。進(jìn)一步參考M0，在預(yù)測(cè)第二軌道上的缺陷108的第二位置之后，缺陷管理模塊 436可以按照上述方式之一或按照任何合適的方式來對(duì)第二軌道上的缺陷108進(jìn)行響應(yīng)。 例如，在第二軌道上，缺陷管理模塊436可以在OPU 408被定位在缺陷108的預(yù)測(cè)的第二位置處時(shí)，生成缺陷檢測(cè)信號(hào)并且禁用伺服器控制器416和/或控制器43 和432b中的一個(gè)或多個(gè)。備選地，缺陷管理模塊436在OPU 408被定位在預(yù)測(cè)的第二位置處或附近時(shí)增加其缺陷檢測(cè)靈敏度，或可以在當(dāng)OPU 408被定位在預(yù)測(cè)的第二位置處或附近時(shí)增加由偏移和增益控制器43 應(yīng)用的增益。根據(jù)以下的教示，對(duì)第二軌道上的缺陷108的第二位置的準(zhǔn)確預(yù)測(cè)在從第二軌道讀取數(shù)據(jù)時(shí)可以產(chǎn)生益處，諸如上述那些。例如，如關(guān)于圖1所討論的，缺陷108隨著其徑向跨越多個(gè)軌道116延伸而在大小上頻繁增加。因此，缺陷管理模塊436可以確定當(dāng)缺陷108對(duì)第一軌道上的穩(wěn)定操作施加較小威脅時(shí)缺陷108從何處開始；并且隨著讀取光存儲(chǔ)介質(zhì)104的第二和隨后軌道、并且缺陷108隨著其大小的增加而變成更大問題，可以因而改變其對(duì)缺陷108的響應(yīng)?，F(xiàn)在參考圖6，其示出了根據(jù)一個(gè)實(shí)施方式的、包括缺陷管理模塊436的實(shí)現(xiàn)的盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600。如圖6中所示，盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600包括光存儲(chǔ)介質(zhì)104、移動(dòng)臂404、0PU 408、 伺服器412、伺服器控制器416、讀通道420、讀通道控制器432、缺陷管理模塊436以及盤控制器440。為了簡(jiǎn)便起見，已經(jīng)從圖6省略了存儲(chǔ)器似4和接口 444，但是應(yīng)該理解，盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600可以諸如以關(guān)于盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)400所討論的方式進(jìn)一步包括存儲(chǔ)器4 和接口 444 中的一個(gè)或兩者。在盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600中，讀通道420包括模擬前端(AFE)604、模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 608以及數(shù)據(jù)檢測(cè)器612。讀通道控制器432包括偏移和增益控制器43 、定時(shí)控制器43 以及壓控振蕩器(VC0)620。此外，在盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600中，缺陷管理模塊436包括缺陷響應(yīng)模塊6 和缺陷邊界控制器632。缺陷響應(yīng)模塊6 還包括缺陷管理器636、計(jì)數(shù)器 640以及計(jì)數(shù)器重置模塊644。再次參考504，現(xiàn)在將更詳細(xì)地描述讀通道420的操作。如以上關(guān)于圖4所討論的， 當(dāng)從光存儲(chǔ)介質(zhì)104讀取數(shù)據(jù)時(shí)，從OPU 408接收模擬讀取信號(hào)。更特別地，在盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng) 600中，在AFE 604處接收模擬讀取信號(hào)。偏移和增益控制器43 通信地耦合至AFE604， 以將模擬讀取信號(hào)的幅度調(diào)整到適于由讀通道420的其余部分處理的水平，并且移除由例如OPU 408在軌道上的偏心位置引入到模擬讀取信號(hào)中的dc偏移。繼而，由ADC 608接收 AFE 604的模擬輸出，該ADC 608根據(jù)通道時(shí)鐘對(duì)模擬輸出進(jìn)行采樣。通道時(shí)鐘是基于寫在光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的比特間隔生成的，并且因此對(duì)應(yīng)于從光存儲(chǔ)介質(zhì)104所讀取的數(shù)據(jù)的定時(shí)。例如，在圖6中示出的實(shí)施方式中，VCO 620生成向ADC 608提供的通道時(shí)鐘。在該實(shí)施方式中，定時(shí)控制器432b可以將合適的電壓應(yīng)用于VCO 620的輸入，以響應(yīng)于光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的比特間隔的變化來改變VCO 620的振蕩頻率。在一個(gè)實(shí)施方式中，VCO 620 不向伺服器控制器416提供時(shí)鐘。而是，伺服器控制器416可以包括由固定時(shí)鐘(未示出) 控制的獨(dú)立的ADC (未示出)。繼續(xù)參考504，ADC 608對(duì)AFE 604的模擬輸出進(jìn)行采樣，以生成以上關(guān)于圖4所討論的數(shù)字信號(hào)。該數(shù)字信號(hào)表示從光存儲(chǔ)介質(zhì)104讀取的數(shù)據(jù)，繼而向數(shù)據(jù)檢測(cè)器612提供該數(shù)字信號(hào)。數(shù)據(jù)檢測(cè)器612對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行解調(diào)以檢測(cè)最初寫到光存儲(chǔ)介質(zhì)104的數(shù)據(jù)比特。再次參考508，數(shù)字信號(hào)和檢測(cè)的數(shù)據(jù)中的一個(gè)或兩者被用于更新伺服器控制器 416、偏移和增益控制器43 以及定時(shí)控制器432b中的一個(gè)或多個(gè)。在圖6的盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600中，將來自ADC 608的數(shù)字信號(hào)用于更新伺服器控制器416以及偏移和增益控制器 43加。伺服器控制器416監(jiān)視數(shù)字信號(hào)的幅度，并且偏移和增益控制器43 監(jiān)視數(shù)字信號(hào)的幅度和dc偏移，以確定將分別輸入到伺服器412和AFE 604的合適信號(hào)，從而分別確保發(fā)生在光存儲(chǔ)介質(zhì)104的后續(xù)讀取期間發(fā)生的適合的追蹤和適合的放大和dc偏移補(bǔ)償。 此外，在圖6中示出的實(shí)施方式中，從數(shù)據(jù)檢測(cè)器612向定時(shí)控制器432b輸入檢測(cè)的數(shù)據(jù)。 定時(shí)控制器432b基于該檢測(cè)的數(shù)據(jù)確定確保ADC608在合適的時(shí)間對(duì)AFE 604的模擬輸出進(jìn)行采樣所必需的定時(shí)調(diào)整，確保ADC 608在合適的時(shí)間對(duì)AFE 604的模擬輸出進(jìn)行采樣是為了數(shù)據(jù)檢測(cè)器612適當(dāng)?shù)亟庹{(diào)ADC 608的數(shù)字輸出。在確定必需的定時(shí)調(diào)整之后，定時(shí)控制器432b因而調(diào)整對(duì)VCO 620的電壓輸入，從而調(diào)整由VCO 620向ADC 608提供的通道時(shí)鐘。繼續(xù)參考508，盡管已經(jīng)公開的盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600將來自ADC 608的數(shù)字信號(hào)用于調(diào)整伺服器控制器416以及偏移和增益控制器43 ，并且將來自數(shù)據(jù)檢測(cè)器612的檢測(cè)的數(shù)據(jù)用于調(diào)整定時(shí)控制器432b，但是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將按照在此提供的公開和教示構(gòu)思出合適的變化。例如，可以由定時(shí)控制器432b評(píng)估來自ADC 608的數(shù)字信號(hào)的質(zhì)量，以便確定必需的定時(shí)調(diào)整，而不是基于來自數(shù)據(jù)檢測(cè)器612的檢測(cè)的數(shù)據(jù)確定此類調(diào)整。此外參考圖6A、圖7和圖8，現(xiàn)在將更詳細(xì)地描述盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600的操作。圖7是根據(jù)一個(gè)實(shí)施方式的、在盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的光存儲(chǔ)介質(zhì)上確定缺陷位置的方法700的流程圖。 為了解釋的簡(jiǎn)便性，將參考盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600來描述方法700。然而，應(yīng)該理解，方法700可以由除盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600之外的系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)。在704處，確定是否已經(jīng)在光存儲(chǔ)介質(zhì)104上檢測(cè)到缺陷的第一邊緣，諸如缺陷 108的開始。在一個(gè)實(shí)施方式中，在盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600中，來自ADC 608的數(shù)字信號(hào)和來自數(shù)據(jù)檢測(cè)器612的檢測(cè)的數(shù)據(jù)兩者都輸入到缺陷管理器636。缺陷管理器636檢查數(shù)字信號(hào)和檢測(cè)的數(shù)據(jù)兩者以檢測(cè)缺陷。更特別地，缺陷管理器636可以包括缺陷檢測(cè)器(未示出)， 該缺陷檢測(cè)器使用由盤控制器440提供的設(shè)置來檢測(cè)缺陷，如關(guān)于圖4和圖5所進(jìn)一步討論的那樣。使用由盤控制器440提供的設(shè)置，缺陷管理器636可以檢測(cè)缺陷的第一邊緣。備選地，缺陷管理器636可以檢查數(shù)字信號(hào)或檢測(cè)的數(shù)據(jù)，而不是同時(shí)檢驗(yàn)兩者來檢測(cè)缺陷。 在又一實(shí)施方式中，可以通過將伺服器控制器416用于基于從伺服器412接收的信號(hào)幅度來檢測(cè)缺陷，而在盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600內(nèi)檢測(cè)缺陷108的第一邊緣。如果在704處確定已經(jīng)檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣，則流程進(jìn)行到708。如果尚未檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣，則流程保持在704處，直到檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣。在708處，缺陷管理器636可以通過禁用偏移和增益控制器43 以及定時(shí)控制器 432b中的一個(gè)或兩者，對(duì)缺陷108的第一邊緣進(jìn)行響應(yīng)；而在一個(gè)實(shí)施方式中，伺服器控制器416代替或除了控制器43 以及定時(shí)控制器43 中的一個(gè)或兩者。接著，在712處，確定計(jì)數(shù)器640的第一計(jì)數(shù)和第一計(jì)數(shù)器重置位置。第一計(jì)數(shù)對(duì)應(yīng)于檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣的光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的位置。更具體地，計(jì)數(shù)器640可以生成與光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的不同位置相關(guān)聯(lián)的計(jì)數(shù)。特別地，如以下更詳細(xì)討論的，計(jì)數(shù)器 640的每個(gè)計(jì)數(shù)都可以對(duì)應(yīng)于光存儲(chǔ)介質(zhì)104的通道時(shí)鐘的預(yù)定數(shù)量的周期。繼續(xù)參考712，可以由計(jì)數(shù)器重置模塊644確定第一計(jì)數(shù)器重置位置，如圖8中最佳示出的。圖8示出了光存儲(chǔ)介質(zhì)104(未示出)的軌道800的兩個(gè)圖示。將在以下解釋第二或底部圖示的重要性。關(guān)于第一圖示，圖8示出了軌道800上的位置804、808、812、816 和820。在一個(gè)實(shí)施方式中，位置804是第一計(jì)數(shù)器重置位置，并且位置808和812是附加的計(jì)數(shù)器重置位置。更具體地，計(jì)數(shù)器重置位置804、808和812中的每個(gè)都可以是光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的可識(shí)別數(shù)據(jù)邊界的位置。例如，在DVD介質(zhì)上，將數(shù)據(jù)布置到每個(gè)都為1488 比特長的幀中。將幀布置到每個(gè)都包括沈個(gè)幀的扇區(qū)中，并且將扇區(qū)進(jìn)一步布置到ECC塊中，每個(gè)ECC塊包括16個(gè)扇區(qū)。通過監(jiān)視如由數(shù)據(jù)檢測(cè)器612提供的來自光存儲(chǔ)介質(zhì)104 的檢測(cè)的數(shù)據(jù)，計(jì)數(shù)器重置模塊644可以確定數(shù)據(jù)的任何此類分組的邊界何時(shí)出現(xiàn)，并且隨即在相應(yīng)的計(jì)數(shù)器重置位置處執(zhí)行計(jì)數(shù)器640的重置，將計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)返回到零。而且，將認(rèn)識(shí)到，此類邊界的檢測(cè)既不限于對(duì)幀、扇區(qū)和ECC塊的邊界的檢測(cè)，也不限于在DVD 介質(zhì)上對(duì)此類邊界的檢測(cè)。而是，本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式預(yù)期了對(duì)任何可識(shí)別數(shù)據(jù)邊界的檢測(cè)，該可識(shí)別數(shù)據(jù)邊界諸如DVD-RAM介質(zhì)上的報(bào)頭的邊界、藍(lán)光盤介質(zhì)上的ECC簇的邊界、或在任何合適的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)上的任何合適的邊界。圖8的軌道800上的位置816和820是分別檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣和第二邊緣的位置。如圖8中所示，在檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣的位置816之前定位第一計(jì)數(shù)器重置位置804(即，在該位置816之前讀取)。以下將解釋圖8中的計(jì)數(shù)器640的各種描述的重要性。進(jìn)一步參考712和圖8，在本發(fā)明的另一實(shí)施方式中，計(jì)數(shù)器重置位置804、808和 812可以是在光存儲(chǔ)介質(zhì)104的第一軌道上的預(yù)定角位置。例如，用于驅(qū)動(dòng)主軸/進(jìn)給(FM) 驅(qū)動(dòng)器的主軸馬達(dá)在讀取操作期間可以生成周期性脈沖，該主軸/進(jìn)給(FM)驅(qū)動(dòng)器旋轉(zhuǎn)光存儲(chǔ)介質(zhì)104。計(jì)數(shù)器重置模塊644可以電耦合至主軸馬達(dá)/進(jìn)給馬達(dá)驅(qū)動(dòng)器以檢測(cè)并處理脈沖，以便追蹤光存儲(chǔ)介質(zhì)104的旋轉(zhuǎn)角度并在光存儲(chǔ)介質(zhì)104的第一軌道上的預(yù)定角位置處執(zhí)行計(jì)數(shù)器640的重置。在一個(gè)實(shí)施方式中，可以響應(yīng)于每90度旋轉(zhuǎn)之后的脈沖來重置計(jì)數(shù)器640，并且因此計(jì)數(shù)器重置位置804、808和812可以對(duì)應(yīng)于第一軌道上關(guān)于彼此呈90度角的位置(雖然未在圖8中沒有這樣示出)。在另一實(shí)施方式中，可以代之以使用計(jì)數(shù)器640來追蹤光存儲(chǔ)介質(zhì)104的旋轉(zhuǎn)角，諸如通過將計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)與光存儲(chǔ)介質(zhì)104 的已知數(shù)量的通道時(shí)鐘進(jìn)行比較，該已知數(shù)量的通道時(shí)鐘發(fā)生在光存儲(chǔ)介質(zhì)104的特定旋轉(zhuǎn)角度。繼續(xù)參考712和圖8，當(dāng)在第一計(jì)數(shù)器重置位置804處重置計(jì)數(shù)器640之后，計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)為零，如圖8中在第一計(jì)數(shù)器重置位置804下面的計(jì)數(shù)器640的描述中指明的。 計(jì)數(shù)器640從第一計(jì)數(shù)器重置位置804開始計(jì)數(shù)。如上所述，計(jì)數(shù)器640的每個(gè)計(jì)數(shù)都對(duì)應(yīng)于光存儲(chǔ)介質(zhì)104的通道時(shí)鐘的預(yù)定數(shù)量的周期。例如，計(jì)數(shù)器640可以從VCO 620的輸出接收通道時(shí)鐘。在該實(shí)施方式中，計(jì)數(shù)器640的每個(gè)計(jì)數(shù)指示通道時(shí)鐘的一個(gè)周期的發(fā)生。備選地，可以通過在計(jì)數(shù)器640內(nèi)包括時(shí)鐘分頻器而將計(jì)數(shù)器640實(shí)現(xiàn)為更小并且因此更便宜的計(jì)數(shù)器，時(shí)鐘分頻器可以例如將到計(jì)數(shù)器640的通道時(shí)鐘輸入分頻為2、4、8、 16等。在該實(shí)施方式中，計(jì)數(shù)器640的每個(gè)計(jì)數(shù)分別指示通道時(shí)鐘的2、4、8、16等個(gè)周期。然而，優(yōu)選地，如果第一計(jì)數(shù)器重置位置804是光存儲(chǔ)介質(zhì)104的第一軌道上的預(yù)定角位置 (如通過追蹤光存儲(chǔ)介質(zhì)104的旋轉(zhuǎn)角而確定的)，則計(jì)數(shù)器640不包括時(shí)鐘分頻器。在該實(shí)施方式中可以省略該時(shí)鐘分頻器。例如，上述用于追蹤光存儲(chǔ)介質(zhì)104的旋轉(zhuǎn)角的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)，可能不能夠利用足夠高的解析度來實(shí)現(xiàn)此類追蹤以支持計(jì)數(shù)器640的精度的降低。繼續(xù)712和圖8，將缺陷管理器636檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣時(shí)的計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)確定為第一計(jì)數(shù)，該第一計(jì)數(shù)對(duì)應(yīng)于檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣的位置816。更特別地，由于第一計(jì)數(shù)對(duì)應(yīng)于光存儲(chǔ)介質(zhì)104通道時(shí)鐘的周期數(shù)量(該通道時(shí)鐘的周期是由于計(jì)數(shù)器重置模塊644在第一計(jì)數(shù)器重置位置804處執(zhí)行計(jì)數(shù)器640的重置而發(fā)生的)，所以應(yīng)該理解，第一計(jì)數(shù)因此指示光存儲(chǔ)介質(zhì)104上第一計(jì)數(shù)器重置位置804與檢測(cè)到缺陷108 的第一邊緣的位置816之間存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量，諸如數(shù)據(jù)比特的數(shù)量。因此，計(jì)數(shù)器640的第一計(jì)數(shù)對(duì)應(yīng)于光存儲(chǔ)介質(zhì)104上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的最小可尋址單元內(nèi)的位置，在該位置檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣。例如，在圖8的實(shí)施方式中，計(jì)數(shù)器的第一計(jì)數(shù)是十進(jìn)制數(shù)400，000,如由圖8中的位置816下面的計(jì)數(shù)器640的描述所示，因此其指示400，000數(shù)據(jù)比特存儲(chǔ)在光存儲(chǔ)介質(zhì)104的上第一計(jì)數(shù)器重置位置804與位置816之間。作為參考圖6A的最佳描述，第一計(jì)數(shù)器重置位置804和計(jì)數(shù)器640的第一計(jì)數(shù)可以存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中。圖6A示出了根據(jù)一個(gè)實(shí)施方式的缺陷邊界控制器632的詳細(xì)視圖。如圖6A中所示，缺陷邊界控制器632包括處理器648和存儲(chǔ)器652。存儲(chǔ)器652包括第一寄存器(“寄存器1”)656和第二寄存器(“寄存器2”)660。在操作中，當(dāng)缺陷管理器636檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣時(shí)，缺陷管理器636可以例如向缺陷邊界控制器632的處理器648 提供缺陷檢測(cè)信號(hào)。該缺陷檢測(cè)信號(hào)可以由前述缺陷檢測(cè)器(未示出)來生成，該缺陷檢測(cè)器可以包括在缺陷管理器636內(nèi)。處理器648從缺陷管理器636接收缺陷檢測(cè)信號(hào)并且隨即在存儲(chǔ)器652 (諸如在第一寄存器656)中記錄如從計(jì)數(shù)器640接收的第一計(jì)數(shù)。進(jìn)一步關(guān)于圖6A，每次重置計(jì)數(shù)器640并且向處理器648提供所得的零計(jì)數(shù)，處理器648都可以將相應(yīng)的計(jì)數(shù)器重置位置的指示存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器652中(諸如第二寄存器660 中)。在一個(gè)實(shí)施方式中，處理器648結(jié)合關(guān)于正在從其讀取數(shù)據(jù)的軌道長度的已知信息來處理關(guān)于計(jì)數(shù)器640的重置的信息，以便確定相應(yīng)的計(jì)數(shù)器重置位置。對(duì)應(yīng)于計(jì)數(shù)器640 的每個(gè)重置的計(jì)數(shù)器重置位置的指示的該存儲(chǔ)可以是臨時(shí)的或無限期的。然而，在一個(gè)實(shí)施方式中，當(dāng)處理器648從缺陷管理器636接收缺陷檢測(cè)信號(hào)時(shí)，處理器648使得無限地存儲(chǔ)對(duì)應(yīng)于計(jì)數(shù)器640的最近重置的計(jì)數(shù)器重置位置的指示。如本領(lǐng)域普通技術(shù)人員按照在此提供的公開和教示將認(rèn)識(shí)到的那樣，該計(jì)數(shù)器重置位置是第一計(jì)數(shù)器重置位置804。在712之后，在716處，確定是否已經(jīng)在光存儲(chǔ)介質(zhì)104上檢測(cè)到了缺陷的第二邊緣，諸如缺陷108的結(jié)尾。例如，可以使用由盤控制器440向缺陷管理器636或其缺陷檢測(cè)器(未示出)提供的設(shè)置，或使用伺服器控制器416來進(jìn)行該確定，如以上關(guān)于704所討論的。如果在716處確定已經(jīng)檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣，則流程進(jìn)行到720。如果尚未檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣，則流程保持在716處，直到檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣。在720處，缺陷管理器636可以通過重新使能在708處被禁用的伺服器控制器416 和/或控制器43 和432b中的一個(gè)或兩者，以對(duì)缺陷108的第二邊緣進(jìn)行響應(yīng)。接著，在7M處，確定計(jì)數(shù)器640的第二計(jì)數(shù)和第二計(jì)數(shù)器重置位置。取決于缺陷108的位置和缺陷108的寬度，第一計(jì)數(shù)器重置位置804和第二計(jì)數(shù)器重置位置可以是相同的或不同的。通過示例的方法，在其中第一計(jì)數(shù)器重置位置804對(duì)應(yīng)于數(shù)據(jù)邊界的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式中，第二數(shù)據(jù)邊界以及因此的不同的第二計(jì)數(shù)器重置位置(諸如計(jì)數(shù)器重置位置808)可以偶爾地被定位在光存儲(chǔ)介質(zhì)104的、受到缺陷108影響的區(qū)域內(nèi)；S卩，在分別檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣和第二邊緣的位置816和820之間。在該情況下，在確定對(duì)應(yīng)于缺陷檢測(cè)位置的計(jì)數(shù)器640的第一計(jì)數(shù)之后，計(jì)數(shù)器重置模塊644檢測(cè)第二數(shù)據(jù)邊界， 并且在檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣并確定計(jì)數(shù)器640的第二計(jì)數(shù)之前重置計(jì)數(shù)器640。如果沒有數(shù)據(jù)邊界或其他計(jì)數(shù)器重置位置定位在位置816和820之間，則第一計(jì)數(shù)器重置位置804和第二計(jì)數(shù)器重置位置相同。在一個(gè)實(shí)施方式中，當(dāng)?shù)诙?jì)數(shù)器重置位置以上述方式不同于第一計(jì)數(shù)器重置位置804時(shí)，缺陷邊界控制器632可以在存儲(chǔ)器652中(諸如在寄存器660中)進(jìn)一步記錄第二計(jì)數(shù)器重置位置。計(jì)數(shù)器640的第二計(jì)數(shù)指示光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的第二計(jì)數(shù)器重置位置與檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣的位置之間存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量，諸如數(shù)據(jù)比特的數(shù)量。計(jì)數(shù)器640的第二計(jì)數(shù)可以進(jìn)一步記錄在存儲(chǔ)器652中，諸如在寄存器660中。接著，在7 處，確定第一調(diào)整計(jì)數(shù)，以供在從光存儲(chǔ)介質(zhì)104中受到缺陷108影響的區(qū)域讀取數(shù)據(jù)的后續(xù)嘗試中使用。更特別地，第一調(diào)整計(jì)數(shù)對(duì)應(yīng)于缺陷108第一邊緣的預(yù)測(cè)位置(在圖8中的軌道800的第二圖示中被示出為擬4)，或?qū)?yīng)于接近于缺陷108 的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置的位置。如在位置擬4下面的計(jì)數(shù)器640的描述中所示，第一調(diào)整計(jì)數(shù)稍小于第一計(jì)數(shù)。如圖8中所示，第一調(diào)整計(jì)數(shù)是十進(jìn)制數(shù)399，985，而如圖8中所示的第一計(jì)數(shù)是400，000。因此，第一調(diào)整計(jì)數(shù)可以被用于確定在后續(xù)嘗試期間何時(shí)改變?nèi)毕莨芾砥?36的響應(yīng)。在一個(gè)實(shí)施方式中，缺陷邊界控制器632可以通過首先確定第一計(jì)數(shù)調(diào)整值與計(jì)數(shù)器640的第一計(jì)數(shù)相加來確定第一調(diào)整計(jì)數(shù)，其中計(jì)數(shù)器640的第一計(jì)數(shù)對(duì)應(yīng)于檢測(cè)到缺陷108第一邊緣的位置。第一計(jì)數(shù)調(diào)整值和第一計(jì)數(shù)的和是第一調(diào)整計(jì)數(shù)。 第一計(jì)數(shù)調(diào)整值表示檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣的位置與缺陷108的第一邊緣的實(shí)際位置之間的比特或通道時(shí)鐘的估計(jì)數(shù)量。第一計(jì)數(shù)調(diào)整值可以是例如10比特或100比特?cái)?shù)量級(jí)，并且可以依賴于所使用的光存儲(chǔ)介質(zhì)104的類型來改變。例如，可以憑經(jīng)驗(yàn)確定第一計(jì)數(shù)調(diào)整值，從而使得針對(duì)所使用的光存儲(chǔ)介質(zhì)104的類型上的某些普通類型的缺陷來優(yōu)化性能。在另一實(shí)施方式中，缺陷邊界控制器632可以在嘗試讀取受到缺陷108影響的數(shù)據(jù)期間嘗試不同的計(jì)數(shù)調(diào)整值。例如，在某些情況下，由缺陷108引起的錯(cuò)誤數(shù)量可以多于糾錯(cuò)碼可以處理的數(shù)量。通過調(diào)整作為重新讀取策略的部分的計(jì)數(shù)調(diào)整值，缺陷邊界控制器 632可以在嘗試找到對(duì)于缺陷108而言工作良好的第一計(jì)數(shù)調(diào)整值中嘗試不同的計(jì)數(shù)調(diào)整值。當(dāng)默認(rèn)的計(jì)數(shù)調(diào)整值對(duì)于某些缺陷而不是其他缺陷(諸如缺陷108)而言工作良好時(shí)， 這可能是有幫助的。而且，第一計(jì)數(shù)調(diào)整值可以是負(fù)的或正的。在一個(gè)實(shí)施方式中，第一計(jì)數(shù)調(diào)整值是負(fù)的，從而使得第一調(diào)整計(jì)數(shù)低于計(jì)數(shù)器640的第一計(jì)數(shù)。繼續(xù)參考728，第一調(diào)整計(jì)數(shù)可以存儲(chǔ)在缺陷邊界控制器632的存儲(chǔ)器652中，諸如第一寄存器656中。接著，在732處，確定第二調(diào)整計(jì)數(shù)，以供在從光存儲(chǔ)介質(zhì)104中受到缺陷108影響的區(qū)域讀取數(shù)據(jù)的后續(xù)嘗試中使用。更特別地，第二調(diào)整計(jì)數(shù)對(duì)應(yīng)于缺陷108的第二邊緣的預(yù)測(cè)位置(在圖8中的軌道800的第二圖示中示出為828)，或?qū)?yīng)于接近于缺陷108的第二邊緣的預(yù)測(cè)位置的位置。如位置擬8下面的計(jì)數(shù)器640的描述中所示的，第二調(diào)整計(jì)數(shù)稍小于第二計(jì)數(shù)。如圖8中所示，第二調(diào)整計(jì)數(shù)是十進(jìn)制數(shù)449，987，而如圖8中所示的第二計(jì)數(shù)是450，000。因此，第二調(diào)整計(jì)數(shù)可以被用于確定在后續(xù)嘗試期間何時(shí)改變?nèi)毕莨芾砥?36的響應(yīng)。與關(guān)于7 所描述的對(duì)第一調(diào)整計(jì)數(shù)的確定類似，缺陷邊界控制器632 可以通過首先確定第二計(jì)數(shù)調(diào)整值與計(jì)數(shù)器640的第二計(jì)數(shù)相加來確定第二調(diào)整計(jì)數(shù)，其中計(jì)數(shù)器640的第二計(jì)數(shù)對(duì)應(yīng)于檢測(cè)到缺陷108第二邊緣的位置。第二計(jì)數(shù)調(diào)整值和第二計(jì)數(shù)的和是第二調(diào)整計(jì)數(shù)。第二計(jì)數(shù)調(diào)整值表示檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣的位置與缺陷 108的第二邊緣的實(shí)際位置之間的比特或通道時(shí)鐘的估計(jì)數(shù)量。正如關(guān)于7 所描述的第一計(jì)數(shù)調(diào)整值，第二計(jì)數(shù)調(diào)整值可以是例如10比特或100比特?cái)?shù)量級(jí)(如以關(guān)于7 所描述的方式確定的)，并且可以依賴于所使用的光存儲(chǔ)介質(zhì)104的類型來改變。此外，第二計(jì)數(shù)調(diào)整值可以是負(fù)的或正的。在一個(gè)實(shí)施方式中，第二計(jì)數(shù)調(diào)整值是負(fù)的，從而使得第二調(diào)整計(jì)數(shù)低于計(jì)數(shù)器640的第二計(jì)數(shù)。繼續(xù)參考732，第二調(diào)整計(jì)數(shù)可以存儲(chǔ)在缺陷邊界控制器632的存儲(chǔ)器652中，諸如第一寄存器656中?，F(xiàn)在參考圖9，現(xiàn)在將更詳細(xì)地描述盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600的進(jìn)一步的操作。圖9是根據(jù)一個(gè)實(shí)施方式的、改變對(duì)盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的光存儲(chǔ)介質(zhì)上的缺陷的響應(yīng)的方法900的流程圖。 為便于示出，將參考盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600來描述方法900。然而，應(yīng)該理解，方法900可以由除盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600之外的系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)。在904處，確定在數(shù)據(jù)讀取操作之后從光存儲(chǔ)介質(zhì)104讀取數(shù)據(jù)的操作期間，是否已經(jīng)達(dá)到第一計(jì)數(shù)器重置位置804，其中該數(shù)據(jù)讀取操作導(dǎo)致對(duì)缺陷108的檢測(cè)。通過示例的方式，并且再次參考圖6A，缺陷邊界控制器632的處理器648可以接收計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)，并且從而確定何時(shí)重置計(jì)數(shù)器640。如關(guān)于圖6A所進(jìn)一步討論的，第一計(jì)數(shù)器重置位置 804的指示可以存儲(chǔ)在缺陷邊界控制器632的存儲(chǔ)器652中。通過使用存儲(chǔ)的第一計(jì)數(shù)器重置位置，并且結(jié)合關(guān)于正從其重新讀取數(shù)據(jù)的軌道的長度的已知信息來監(jiān)視計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)，處理器648可以確定是否已經(jīng)達(dá)到第一計(jì)數(shù)器重置位置804。如果確定已經(jīng)達(dá)到第一計(jì)數(shù)器重置位置804，則流程進(jìn)行到908。如果尚未達(dá)到第一計(jì)數(shù)器重置位置804，則流程保持在904，直到已經(jīng)達(dá)到第一計(jì)數(shù)器重置位置804。在908處，確定計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)是否已經(jīng)達(dá)到以上討論的第一調(diào)整計(jì)數(shù)。例如， 處理器648可以接收計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)，并且從而確定計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)何時(shí)達(dá)到第一調(diào)整計(jì)數(shù)。如上所述，第一調(diào)整計(jì)數(shù)可以存儲(chǔ)在缺陷邊界控制器的存儲(chǔ)器652中，并且因此由處理器648使用以供與由處理器648接收的計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)進(jìn)行比較。如本領(lǐng)域普通技術(shù)人員按照在此提供的公開和教示將認(rèn)識(shí)到的那樣，當(dāng)計(jì)數(shù)器640達(dá)到第一調(diào)整計(jì)數(shù)時(shí)， OPU 408被定位在缺陷108的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置處、或定位在接近于缺陷108的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置的位置處。如果確定計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)已經(jīng)達(dá)到第一調(diào)整計(jì)數(shù)，則流程進(jìn)行到912。如果計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)尚未達(dá)到第一調(diào)整計(jì)數(shù)，則流程保持在908處，直到計(jì)數(shù)器 640的計(jì)數(shù)已經(jīng)達(dá)到第一調(diào)整計(jì)數(shù)。在912處，根據(jù)定位在缺陷108的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置處或定位在接近于缺陷108 第一邊緣的預(yù)測(cè)位置的位置處的OPU 408，改變?nèi)毕莨芾砟K436對(duì)于缺陷108的響應(yīng)。因此，在圖6的實(shí)施方式中，并且如關(guān)于圖4和圖5所討論的，缺陷邊界控制器632可以使得
19缺陷管理器636在隨后從光存儲(chǔ)介質(zhì)104中受到缺陷108影響的區(qū)域嘗試讀取數(shù)據(jù)期間改變其對(duì)缺陷108的響應(yīng)。在一個(gè)實(shí)施方式中，代替或除了改變?nèi)毕莨芾砥?36自身的響應(yīng)， 缺陷邊界控制器632可以使得缺陷管理器636改變讀通道控制器432和/或伺服器控制器 416中一個(gè)或兩者的響應(yīng)。如本領(lǐng)域普通技術(shù)人員按照在此提供的公開和教示將認(rèn)識(shí)到的那樣，缺陷邊界控制器632因此基于計(jì)數(shù)器640的第一計(jì)數(shù)并且基于計(jì)數(shù)器640本身，確定何時(shí)改變?nèi)毕莨芾砥?36和/或讀通道控制器432和/或伺服器控制器416的響應(yīng)；S卩，在隨后嘗試讀取受到缺陷108影響的數(shù)據(jù)期間生成的計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)。繼續(xù)參考912，盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600使得缺陷管理器636和/或包括在其中的缺陷檢測(cè)器(未示出)和/或讀通道控制器432和/或伺服器控制器416能夠按照各種方式中的任意方式，在隨后從受到缺陷108影響的光存儲(chǔ)介質(zhì)104中的區(qū)域嘗試讀取數(shù)據(jù)期間，改變其對(duì)缺陷108的響應(yīng)，其中該各種方式包括諸如關(guān)于圖4和圖5所討論的那些方式。繼續(xù)關(guān)于912，在一個(gè)實(shí)施方式中，如上所述，缺陷邊界控制器632可以使得缺陷管理器636在缺陷108的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置處生成缺陷檢測(cè)信號(hào)。更具體地，缺陷邊界控制器632可以使得缺陷管理器636生成缺陷檢測(cè)信號(hào)。缺陷管理器636可以適當(dāng)?shù)厣扇毕輽z測(cè)信號(hào)，以便選擇由盤控制器440提供的合適設(shè)置(如關(guān)于圖4和圖5所討論的)， 以供用于操作伺服器控制器416、偏移和增益控制器43 以及定時(shí)控制器432b中的一個(gè)或多個(gè)，以最小化對(duì)其引入的不準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。以這種方式，缺陷管理器636的靈敏度不必增加并且可以降低檢測(cè)假缺陷的危險(xiǎn)。在一個(gè)實(shí)施方式中，缺陷邊界控制器632還可以確定不同的計(jì)數(shù)調(diào)整值以確定計(jì)數(shù)器640的不同調(diào)整計(jì)數(shù)，該計(jì)數(shù)器640的不同調(diào)整計(jì)數(shù)可以由缺陷邊界控制器632使用，以使得缺陷管理器636獨(dú)立于偏移和增益控制器43 以及定時(shí)控制器432b的操作，改變伺服器控制器416的操作。繼續(xù)參考912，并且如上所述，缺陷邊界控制器632可以改變?nèi)毕莨芾砥?36的缺陷檢測(cè)靈敏度。更特別地，在其中缺陷管理器636包括缺陷檢測(cè)器(未示出)的實(shí)施方式中，如上所述，缺陷邊界控制器632可以改變?nèi)毕輽z測(cè)器的缺陷檢測(cè)靈敏度。在其中更難精確預(yù)測(cè)缺陷108的實(shí)際位置的使用光存儲(chǔ)介質(zhì)104的某些應(yīng)用中，諸如在缺陷108的第一邊緣相對(duì)較小或并未明確限定的應(yīng)用中，可以優(yōu)選地改變?nèi)毕莨芾砥?36的缺陷檢測(cè)靈敏度，而不是使得缺陷管理器636在計(jì)數(shù)器640達(dá)到調(diào)整計(jì)數(shù)時(shí)生成缺陷檢測(cè)信號(hào)。以這種方式，方法900提供對(duì)缺陷108的更靈活的檢測(cè)。進(jìn)一步關(guān)于912，在又一實(shí)施方式中，如上所述，缺陷邊界控制器632可以基于以下確定來改變?nèi)毕莨芾砥?36的響應(yīng)、和/或讀通道控制器432的響應(yīng)和/或伺服器控制器416的響應(yīng)，其中該確定為缺陷108具有相對(duì)最小的嚴(yán)重性，并且受到缺陷108影響的數(shù)據(jù)可以通過調(diào)整或維持盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600的控制器416、43加和432b中的一個(gè)或多個(gè)的設(shè)置來成功重新讀取。該確定可以基于來自ADC 608的數(shù)字信號(hào)、和/或來自數(shù)據(jù)檢測(cè)器612 的檢測(cè)數(shù)據(jù)。控制器416、43加和432b中的一個(gè)或多個(gè)的設(shè)置可以按照例如以上關(guān)于方法 500所討論的方式來調(diào)整。在該實(shí)施方式中，如在之前的示例中一樣，缺陷邊界控制器632 可以通過確定在計(jì)數(shù)器重置模塊644已經(jīng)在第一計(jì)數(shù)器重置位置處執(zhí)行了計(jì)數(shù)器640的重置之后計(jì)數(shù)器640何時(shí)達(dá)到調(diào)整計(jì)數(shù)，來確定OPU 408定位在接近于缺陷108第一邊緣的預(yù)測(cè)位置的位置處。在缺陷邊界控制器632的控制下，缺陷管理器636可以隨即調(diào)整控制器416、43加和432b中的一個(gè)或多個(gè)的設(shè)置。在一個(gè)實(shí)施方式中，缺陷管理器636內(nèi)的缺陷檢測(cè)器(未示出)可以生成合適的信號(hào)，以調(diào)整控制器416、43加和432b中的一個(gè)或多個(gè)的設(shè)置。接著，在916處，確定計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)是否已經(jīng)達(dá)到以上討論的第二調(diào)整計(jì)數(shù)。 例如，處理器648可以接收計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)，并且從而確定計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)何時(shí)達(dá)到第二調(diào)整計(jì)數(shù)。如上所述，第二調(diào)整計(jì)數(shù)可以存儲(chǔ)在缺陷邊界控制器632的存儲(chǔ)器652中，并且因此由處理器648使用以供與由處理器648接收的計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)進(jìn)行比較。如本領(lǐng)域普通技術(shù)人員按照在此提供的公開和教示將認(rèn)識(shí)到的那樣，當(dāng)計(jì)數(shù)器640達(dá)到第二調(diào)整計(jì)數(shù)時(shí)，0PU408定位在缺陷108的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置處或定位在接近于缺陷108的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置的位置處。進(jìn)一步參考916并且再次參考724，計(jì)數(shù)器640可以在不同于關(guān)于框904所討論的第一計(jì)數(shù)器重置位置804的第二計(jì)數(shù)器重置位置處被重置。在該實(shí)施方式中，計(jì)數(shù)器640 從不同的第二計(jì)數(shù)器重置位置開始計(jì)數(shù)，以便達(dá)到第二調(diào)整計(jì)數(shù)。如果在916處確定計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)已經(jīng)達(dá)到第二調(diào)整計(jì)數(shù)，則流程進(jìn)行到920。 如果計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)尚未達(dá)到第二調(diào)整計(jì)數(shù)，則流程保持在916處，直到計(jì)數(shù)器640的計(jì)
數(shù)已經(jīng)達(dá)到第二調(diào)整計(jì)數(shù)。在920處，根據(jù)定位在缺陷108的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置處或定位在接近于缺陷108 的第一邊緣的預(yù)測(cè)位置的位置處的OPU 408，來改變?nèi)毕莨芾砟K436對(duì)于缺陷108的響應(yīng)。更具體地，缺陷邊界控制器632可以使得缺陷管理器636在隨后嘗試從光存儲(chǔ)介質(zhì)104的受到缺陷108影響的區(qū)域讀取數(shù)據(jù)期間改變其對(duì)缺陷108的響應(yīng)。在一個(gè)實(shí)施方式中，代替或除了改變?nèi)毕莨芾砥?36自身的響應(yīng)，缺陷邊界控制器632可以使得缺陷管理器636改變讀通道控制器432和/或伺服器控制器416中一個(gè)或兩者的響應(yīng)，諸如通過生成合適的信號(hào)以重新使能任何被禁用的控制器，或通過降低之前增加的缺陷檢測(cè)靈敏度， 以便將盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600返回到?jīng)]有缺陷108時(shí)的其常規(guī)操作模式?，F(xiàn)在參考912和920兩者，除了重新讀取數(shù)據(jù)的任何立即嘗試之外，盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng) 600可以進(jìn)一步被用于改進(jìn)對(duì)讀取受到缺陷108影響的數(shù)據(jù)的稍后嘗試。例如，缺陷邊界控制器632可以在合適的時(shí)間長度內(nèi)或無限期地存儲(chǔ)第一計(jì)數(shù)器重置位置804、第一調(diào)整計(jì)數(shù)、第二計(jì)數(shù)器重置位置和第二調(diào)整計(jì)數(shù)，并且按照上述方式在讀取受到缺陷108影響的數(shù)據(jù)的稍后嘗試期間，改變?nèi)毕莨芾砥?36和/或讀通道620和/或伺服器控制器416的響應(yīng)。在一個(gè)實(shí)施方式中，如果對(duì)重新讀取數(shù)據(jù)已經(jīng)進(jìn)行了預(yù)定數(shù)量的嘗試，并且音頻和/ 或視頻回放連續(xù)性要求在當(dāng)前回放會(huì)話期間禁止任何附加的嘗試，則缺陷邊界控制器632 可以存儲(chǔ)第一計(jì)數(shù)器重置位置804、第一調(diào)整計(jì)數(shù)、第二計(jì)數(shù)器重置位置和第二調(diào)整計(jì)數(shù)， 以供在讀取數(shù)據(jù)的稍后嘗試中使用。繼續(xù)參考912和920，在又一備選實(shí)施方式中，如圖10的備選盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)1000的框圖中所示，缺陷邊界控制器632可以改變其自身對(duì)缺陷108的響應(yīng)，而不是改變?nèi)毕莨芾砥?36的響應(yīng)。例如，缺陷邊界控制器632自身可以選擇由盤控制器440提供的適當(dāng)設(shè)置， 以用于操作伺服器控制器416、偏移和增益控制器43 以及定時(shí)控制器432b中的每個(gè)，以便實(shí)現(xiàn)關(guān)于用于管理光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的缺陷檢測(cè)的方法500所公開的功能中的任意一個(gè)或多個(gè)。
如以上進(jìn)一步所述，可以諸如由缺陷邊界控制器632通過假設(shè)缺陷108從第一軌道上的缺陷108的檢測(cè)位置跨越光存儲(chǔ)介質(zhì)104徑向傳播，來預(yù)測(cè)第二軌道上的缺陷108 的第二位置。然而，在另一實(shí)施方式中，缺陷邊界控制器632可以利用關(guān)于多個(gè)軌道上的缺陷108的檢測(cè)位置的信息，以便準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)另一軌道上的缺陷108的另一位置。例如，缺陷邊界控制器632可以利用關(guān)于第一軌道上的缺陷108的檢測(cè)位置和第二軌道上的缺陷108 的第二檢測(cè)位置的信息，來預(yù)測(cè)光存儲(chǔ)介質(zhì)104的第三軌道上的缺陷108的第三位置。圖11是可以被用于例如在光存儲(chǔ)介質(zhì)104的第三軌道上預(yù)測(cè)缺陷108的第三位置的方法1100的流程圖。為便于示出，將參考盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600來描述方法1100。然而，應(yīng)該理解，方法1100可以由除盤驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)600之外的系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)。在1104處，確定第一軌道和第三軌道之間的軌道長度差。例如，在圓形光存儲(chǔ)介質(zhì)104的情況下，可以將兩個(gè)連續(xù)軌道之間的軌道長度差表示為2 · 31 · Tp(公式 1)其中Tp是軌道間距。參考圖12，圖12示出了具有多個(gè)軌道的光存儲(chǔ)介質(zhì)104，該多個(gè)軌道包括可以是上述第一軌道的第一軌道1204，以及第二軌道1208。徑向線1212的長度是軌道間距。例如，在DVD介質(zhì)上，軌道間距Tp是0. 74 μ m,并且因此兩個(gè)連續(xù)軌道之間的軌道長度差是2 · π · 0. 74μπι = 4· 65μπι。繼續(xù)參考1104，取決于第一軌道和第三軌道之間的軌道數(shù)量，兩個(gè)連續(xù)軌道之間的軌道長度差的合適倍數(shù)被用于確定第一軌道和第三軌道之間的軌道長度差。如果是第一軌道、第二軌道和第三軌道被連續(xù)地布置在光存儲(chǔ)介質(zhì)104上，則該倍數(shù)是二。接著，在1108處，計(jì)算第三軌道上的第三計(jì)數(shù)器重置位置。第三計(jì)數(shù)器重置位置在光存儲(chǔ)介質(zhì)104上可以不處于與第一計(jì)數(shù)器重置位置804相同的角位置處。即，光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的軌道可以按照螺旋形狀布置，諸如圖12中所示。因此，如上所述，在其中光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的每個(gè)計(jì)數(shù)器重置位置都是光存儲(chǔ)介質(zhì)104上的可識(shí)別數(shù)據(jù)邊界的位置的實(shí)施方式中，該螺旋布置以及隨著該布置向光存儲(chǔ)介質(zhì)104的外緣發(fā)展的每個(gè)螺旋的長度增加，可以使得不同軌道上的計(jì)數(shù)器重置位置具有不同的角位置。例如，圖13示出了圖8的軌道800以及第二軌道1300。軌道800和第二軌道1300 可以是例如上述的第一軌道和第二軌道。第二軌道1300包括計(jì)數(shù)器重置位置1304、1308 和1312，以及在第二軌道1300上分別檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣和第二邊緣的位置1316 和1320。如可以從圖13中看到的，雖然軌道800上的位置816和820以及第二軌道1300 上的位置1316和1320可以在徑向方向上對(duì)齊，但是軌道800上的計(jì)數(shù)器重置位置804、808 和812以及第二軌道1300上的計(jì)數(shù)器重置位置1304、1308和1312可以不在徑向方向上對(duì)齊。繼續(xù)參考1108，缺陷邊界控制器632可以利用第一軌道和第三軌道之間的軌道長度差(如在1104處確定的)，計(jì)算第三軌道上的第三計(jì)數(shù)器重置位置。缺陷邊界控制器632 可以基于以下計(jì)算第三軌道上的第三計(jì)數(shù)器重置位置(i)第一軌道上的上述第一計(jì)數(shù)器重置位置804; (ii)數(shù)據(jù)塊的已知長度，諸如ECC塊，其邊界由計(jì)數(shù)器重置模塊644檢測(cè)，以便重置計(jì)數(shù)器640 ；以及(iii)第一軌道和第三軌道之間的軌道長度差。備選地，在其中第一計(jì)數(shù)器重置位置是光存儲(chǔ)介質(zhì)104的第一軌道上的預(yù)定角位置的實(shí)施方式中，缺陷邊界控制器632可以基于第一軌道上的計(jì)數(shù)器重置位置來對(duì)第三軌道上的第三計(jì)數(shù)器重置位置執(zhí)行更簡(jiǎn)單的計(jì)算。接著，在1112處，在第一軌道上檢測(cè)缺陷108。通過示例的方式，可以刪除缺陷 108，并且可以確定并存儲(chǔ)第一計(jì)數(shù)器重置位置804和第一計(jì)數(shù)，正如方法700中那樣。類似地，如方法700中那樣，可以確定并存儲(chǔ)第二計(jì)數(shù)器重置位置和第二計(jì)數(shù)。接著，在1116處，在第二軌道上檢測(cè)缺陷108。如本領(lǐng)域普通技術(shù)人員按照在此提供的公開和教示將認(rèn)識(shí)到的那樣，可以按照類似于關(guān)于方法700描述的方式來確定第二軌道上的缺陷108的第一邊緣和第二邊緣，以及第二軌道上的相應(yīng)的計(jì)數(shù)器重置位置。接著，在1120處，計(jì)算第一軌道補(bǔ)償值。第一軌道補(bǔ)償值可以是負(fù)的或正的，并且表示以下之間估計(jì)的比特?cái)?shù)量差(i)第三軌道上的第三計(jì)數(shù)器重置位置與第三軌道上的缺陷108的第一邊緣的實(shí)際位置；以及(ii)第一軌道上的第一計(jì)數(shù)器重置位置804與在第一軌道上檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣的位置。以下詳細(xì)描述用于計(jì)算第一軌道補(bǔ)償值的各種技術(shù)。接著，在IlM處，計(jì)算第二軌道補(bǔ)償值。第二軌道補(bǔ)償值可以是負(fù)的或正的，并且表示以下之間估計(jì)的比特?cái)?shù)量差(i)第三軌道上的第三計(jì)數(shù)器重置位置與第三軌道上的缺陷108的第二邊緣的實(shí)際位置；以及(ii)第一計(jì)數(shù)器重置位置與在第一軌道上檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣的位置。參考1120和1124，現(xiàn)在將描述用于計(jì)算第一和第二軌道補(bǔ)償值的各種技術(shù)。在一個(gè)實(shí)施方式中，讀通道420可以從第二軌道讀取數(shù)據(jù)。缺陷管理器636可以按照與可以關(guān)于第一軌道發(fā)生的此類檢測(cè)相同的方式來在第二軌道上檢測(cè)缺陷108的第一邊緣。缺陷管理器636可以以與缺陷管理器636在第一軌道上檢測(cè)缺陷108的第二邊緣的位置的相同方式，類似地在第二軌道上檢測(cè)缺陷108的第二邊緣。缺陷邊界控制器632繼而可以記錄對(duì)應(yīng)于在第二軌道上檢測(cè)的缺陷108的第一邊緣的位置的計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)，并且可以記錄相應(yīng)的計(jì)數(shù)器重置位置。此外，缺陷邊界控制器632可以記錄對(duì)應(yīng)于在第二軌道上檢測(cè)的缺陷108的第二邊緣的位置的計(jì)數(shù)器640的計(jì)數(shù)，并且可以記錄相應(yīng)的計(jì)數(shù)器重置位置。 缺陷邊界控制器632隨即可以計(jì)算軌道補(bǔ)償值，并且如果期望，則作為變量的函數(shù)來計(jì)算第二軌道補(bǔ)償值，變量包括但不限于(i)以下中的一個(gè)或多個(gè)在第一軌道上檢測(cè)到缺陷 108的第一邊緣的位置、在第一軌道上檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣的位置、在第二軌道上檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣的位置以及在第二軌道上檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣的位置，以及(ii)第一軌道和第三軌道之間的軌道數(shù)量。繼續(xù)參考1120和IlM，缺陷邊界控制器632可以基于以下假設(shè)來計(jì)算第一軌道補(bǔ)償值和第二軌道補(bǔ)償值，該假設(shè)是缺陷108徑向地、非徑向地或以直線或彎曲的方式傳播。 例如，缺陷邊界控制器632可以假設(shè)缺陷108非徑向地、但仍是線性地傳播，這是因?yàn)楫?dāng)關(guān)于光存儲(chǔ)介質(zhì)104的其他軌道進(jìn)行預(yù)測(cè)時(shí)，所討論的缺陷類型通常相對(duì)于軌道間距相對(duì)較長。因此，舉例來說，缺陷邊界控制器632可以假設(shè)缺陷108在由以下位置限定的方向上線性地傳播，在該位置處在第一軌道上檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣，并且在該位置處在第二軌道上檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣。缺陷邊界控制器632可以構(gòu)造用于計(jì)算軌道補(bǔ)償值和 /或相應(yīng)的第二軌道補(bǔ)償值的函數(shù)，諸如通過使用第一軌道和第三軌道之間的軌道數(shù)量，作為在第一軌道上檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣的位置與在第二軌道上檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣的位置之間距離的倍數(shù)。在另一實(shí)施方式中，缺陷邊界控制器632可以使用上述變量構(gòu)造例如多項(xiàng)式函數(shù)，以計(jì)算軌道補(bǔ)償值和/或第二軌道補(bǔ)償值。在另一實(shí)施方式中，缺陷邊界控制器632可以通過利用存儲(chǔ)的歷史數(shù)據(jù)和附加數(shù)據(jù)(諸如在光存儲(chǔ)介質(zhì)104的第四軌道上的缺陷108的檢測(cè)位置，該第四軌道無需以關(guān)于第一軌道、第二軌道和第三軌道連續(xù)的方式進(jìn)行布置)中的一個(gè)或兩者來構(gòu)造用于確定軌道補(bǔ)償值和/或第二軌道補(bǔ)償值的函數(shù)。例如，缺陷邊界控制器632可以利用此類數(shù)據(jù)來構(gòu)造另一線性函數(shù)，或備選地可以利用此類數(shù)據(jù)來構(gòu)造更復(fù)雜但是更精確的函數(shù)，諸如多項(xiàng)式函數(shù)，以確定軌道補(bǔ)償值。而且，如本領(lǐng)域普通技術(shù)人員按照在此提供的公開和教示將認(rèn)識(shí)到的那樣，可以利用任何合適的數(shù)據(jù)來構(gòu)造任何合適的函數(shù)，以利用期望水平的精確度和復(fù)雜性來針對(duì)任何特定軌道計(jì)算軌道補(bǔ)償值。此外，盡管在此具體描述的實(shí)施方式涉及結(jié)合預(yù)測(cè)第三軌道上的缺陷108的位置來計(jì)算軌道補(bǔ)償值，但是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員按照在此提供的公開和教示將認(rèn)識(shí)到，可以如在此所述來計(jì)算并且結(jié)合在光存儲(chǔ)介質(zhì)104的其他軌道(諸如第二軌道)上預(yù)測(cè)缺陷108的位置來使用軌道補(bǔ)償值。接著，在11 處，確定第一軌道調(diào)整計(jì)數(shù)。該第一軌道調(diào)整計(jì)數(shù)表示第三軌道上的第三計(jì)數(shù)器重置位置與第三軌道上的缺陷108的第一邊緣的實(shí)際位置之間的估計(jì)的比特?cái)?shù)量。因此，由于在第一軌道上檢測(cè)到缺陷108的第一邊緣的位置對(duì)應(yīng)于上述計(jì)數(shù)器 640的第一計(jì)數(shù)，所以如關(guān)于1120所公開的第一軌道補(bǔ)償值可以與計(jì)數(shù)器640的第一計(jì)數(shù)相加，以確定第一軌道調(diào)整計(jì)數(shù)。接著，在1132處，確定第二軌道調(diào)整計(jì)數(shù)。第二軌道調(diào)整計(jì)數(shù)表示第三軌道上的第三計(jì)數(shù)器重置位置與第三軌道上的缺陷108的第二邊緣的實(shí)際位置之間的估計(jì)的比特?cái)?shù)量。因此，由于在第一軌道上檢測(cè)到缺陷108的第二邊緣的位置對(duì)應(yīng)于上述計(jì)數(shù)器640的第二計(jì)數(shù)，所以如關(guān)于IlM所公開的第二軌道補(bǔ)償值可以與計(jì)數(shù)器640的第二計(jì)數(shù)相加， 確定第二軌道調(diào)整計(jì)數(shù)。一旦已經(jīng)在1130和1132處計(jì)算了第一軌道調(diào)整計(jì)數(shù)和第二軌道調(diào)整計(jì)數(shù)，則缺陷邊界控制器632可以在嘗試從受到缺陷108影響的第三軌道的區(qū)域讀取數(shù)據(jù)期間，在如由第一軌道調(diào)整計(jì)數(shù)和第二軌道調(diào)整計(jì)數(shù)指示的、第三軌道上的缺陷108的預(yù)測(cè)第三位置處或附近，改變?nèi)毕莨芾砥?36的響應(yīng)、和/或讀通道420的響應(yīng)和/或伺服器控制器416 的響應(yīng)?？梢园凑绽珀P(guān)于方法500討論的類似方式，改變?nèi)毕莨芾砥?36的響應(yīng)、和/或讀通道420的響應(yīng)和/或伺服器控制器416的響應(yīng)。例如，在計(jì)數(shù)器640已經(jīng)由計(jì)數(shù)器重置模塊644在第三計(jì)數(shù)器重置位置重置之后，當(dāng)計(jì)數(shù)器640達(dá)到第一軌道調(diào)整計(jì)數(shù)時(shí)，缺陷邊界控制器632可以使得缺陷管理器636在第三軌道上生成缺陷檢測(cè)信號(hào)。如本領(lǐng)域普通技術(shù)人員按照在此提供的公開和教示將認(rèn)識(shí)到的那樣，當(dāng)計(jì)數(shù)器640達(dá)到第一軌道調(diào)整計(jì)數(shù)時(shí)，OPU 408被定位在第三軌道上的缺陷108的預(yù)測(cè)第三位置處。在各種其他實(shí)施方式中，當(dāng)計(jì)數(shù)器640以此方式達(dá)到第一軌道調(diào)整計(jì)數(shù)時(shí)，缺陷邊界控制器632可以代之以改變?nèi)毕莨芾砥?36的缺陷檢測(cè)靈敏度、控制缺陷管理器636 以引起由偏移和增益控制器43 應(yīng)用的增益和/或dc偏移的增加，或以任何其他合適的方式改變?nèi)毕莨芾砥?36對(duì)缺陷108的響應(yīng)。在每個(gè)實(shí)施方式中，缺陷邊界控制器632可以按照上述方式，通過使得缺陷管理器636從由例如盤控制器440向控制器416以及43 和432b提供的合適設(shè)置中進(jìn)行選擇，以操作控制器416以及43 和432b，來改變?nèi)毕莨芾砥?36的響應(yīng)，以便實(shí)現(xiàn)上述功能中的任意一個(gè)或多個(gè)。備選地，如關(guān)于圖10所討論的，缺陷邊界控制器632可以改變其自身對(duì)于缺陷108 的響應(yīng)，而不是改變例如缺陷管理器636的響應(yīng)。例如，缺陷邊界控制器632自身可以選擇由盤控制器440提供的合適的設(shè)置，以用于操作伺服器控制器416、偏移和增益控制器43 以及定時(shí)控制器432b中的每個(gè)。關(guān)于在此描述的方法500、700、900和1100中的每個(gè)，應(yīng)當(dāng)理解，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員按照在此提供的公開和教示將構(gòu)思出多個(gè)附加變化。特別地，上述方法中任意一個(gè)或多個(gè)的步驟可以按照任何特定順序?qū)崿F(xiàn)，并且可以按需從上述方法中的任意一個(gè)或多個(gè)省略一個(gè)或多個(gè)步驟。僅作為一個(gè)示例，方法500、700、900和1100可以不包括涉及以下內(nèi)容的步驟中的一個(gè)或多個(gè)檢測(cè)缺陷108的第二邊緣、確定第二調(diào)整計(jì)數(shù)、確定第二軌道調(diào)整計(jì)數(shù)等。例如，在此類實(shí)施方式中，在預(yù)定時(shí)間周期流逝之后，可以將缺陷管理器636的響應(yīng)、和/或讀通道420的響應(yīng)、和/或伺服器控制器416的響應(yīng)，返回到它們?cè)跊]有缺陷108 的情況下的狀態(tài)。上述各種框、操作和技術(shù)可以以硬件、固件、軟件或硬件、固件和/或軟件的任何組合來實(shí)現(xiàn)。當(dāng)以軟件實(shí)現(xiàn)時(shí)，軟件可以存儲(chǔ)在任何計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)器中，諸如磁盤、光盤、 或其他存儲(chǔ)介質(zhì)，可以存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)的RAM或ROM或閃存、處理器、硬盤驅(qū)動(dòng)器、光盤驅(qū)動(dòng)器、磁帶驅(qū)動(dòng)器等中。同樣，可以經(jīng)由任何已知的或期望的遞送方法來向用戶或系統(tǒng)遞送軟件，遞送方法包括例如在計(jì)算機(jī)可讀盤或其他可傳輸計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)機(jī)制上或經(jīng)由通信介質(zhì)。 通信介質(zhì)通常包含計(jì)算機(jī)可讀指令、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)、程序模塊或經(jīng)調(diào)制的數(shù)據(jù)信號(hào)中的其他數(shù)據(jù)，諸如載波或其他傳輸機(jī)制。術(shù)語“經(jīng)調(diào)制的數(shù)據(jù)信號(hào)”表示具有其特性集合中的一個(gè)或多個(gè)，或以關(guān)于信號(hào)中的編碼信息的此類方式改變的信號(hào)。通過示例的方式并且并非限制， 通信介質(zhì)包括有線介質(zhì)(諸如有線網(wǎng)絡(luò)或直線連接)，以及無線介質(zhì)(諸如聽覺、射頻、紅外和其他無線介質(zhì))。因此，可以經(jīng)由通信信道向用戶或系統(tǒng)遞送軟件，通信信道諸如電話線、DSL線、有線電視線、無線通信信道、因特網(wǎng)等(它們被視為與經(jīng)由可傳輸存儲(chǔ)介質(zhì)來提供此類軟件是相同的或可互換的)。當(dāng)以硬件實(shí)現(xiàn)時(shí)，硬件可以包括分立組件、集成電路、專用集成電路(ASIC)等的一個(gè)或多個(gè)。雖然已經(jīng)參考具體示例描述了本發(fā)明，這些具體示例僅旨在示范并且不限制本發(fā)明，但是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員應(yīng)該理解，除了以上明確描述的那些，可以對(duì)公開的實(shí)施方式進(jìn)行改變、添加或刪除而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種方法，包括在盤驅(qū)動(dòng)器的存儲(chǔ)介質(zhì)上檢測(cè)缺陷；在所述存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的最小可尋址單元內(nèi)，確定所述缺陷的位置； 在存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)所述位置的指示；監(jiān)視所述盤驅(qū)動(dòng)器的傳感器相對(duì)于所述存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)的所述數(shù)據(jù)的位置；以及基于所述傳感器相對(duì)于所述存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)的所述數(shù)據(jù)的所述位置和存儲(chǔ)的所述缺陷的位置的指示，改變所述盤驅(qū)動(dòng)器的缺陷檢測(cè)器、所述盤驅(qū)動(dòng)器的讀通道控制器和所述盤驅(qū)動(dòng)器的伺服器控制器中至少一個(gè)的響應(yīng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述缺陷的位置在所述存儲(chǔ)介質(zhì)的第一軌道上， 其中所述方法還包括基于存儲(chǔ)的所述缺陷位置的指示，預(yù)測(cè)所述存儲(chǔ)介質(zhì)的第二軌道上的所述缺陷的第二位置，并且其中改變所述缺陷檢測(cè)器、所述讀通道控制器和所述伺服器控制器中所述至少一個(gè)的所述響應(yīng)包括當(dāng)所述傳感器在所述第二軌道上的所述第二位置處時(shí)改變所述響應(yīng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述缺陷的位置在所述存儲(chǔ)介質(zhì)的第一軌道上， 并且其中所述方法還包括在所述存儲(chǔ)介質(zhì)的第二軌道上確定所述缺陷的第二位置；以及基于存儲(chǔ)的所述缺陷位置的指示和所述第二位置，在所述存儲(chǔ)介質(zhì)的第三軌道上預(yù)測(cè)所述缺陷的第三位置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中改變所述讀通道控制器對(duì)所述缺陷的響應(yīng)包括 增加應(yīng)用于所讀取信號(hào)的增益。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中增加所述增益包括響應(yīng)于確定所述存儲(chǔ)介質(zhì)上所述缺陷的位置處存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的幅度高于閾值，增加所述增益。
6.一種裝置，包括計(jì)數(shù)器，被配置用于生成與盤驅(qū)動(dòng)器的存儲(chǔ)介質(zhì)上的不同位置相關(guān)聯(lián)的計(jì)數(shù)； 缺陷檢測(cè)器，被配置用于在所述存儲(chǔ)介質(zhì)上檢測(cè)缺陷；以及缺陷邊界控制器，被配置用于 確定對(duì)應(yīng)于缺陷的位置的所述計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)；以及基于所述計(jì)數(shù)和所述計(jì)數(shù)器，改變所述缺陷檢測(cè)器、所述盤驅(qū)動(dòng)器的讀通道控制器以及所述盤驅(qū)動(dòng)器的伺服器控制器中至少一個(gè)的響應(yīng)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，還包括計(jì)數(shù)器重置模塊，被配置用于在一個(gè)或多個(gè)計(jì)數(shù)器重置位置處重置所述計(jì)數(shù)器；其中所述缺陷邊界控制器被配置用于 確定對(duì)應(yīng)于所述缺陷的特定計(jì)數(shù)器重置位置；以及進(jìn)一步基于對(duì)應(yīng)于所述缺陷的所述計(jì)數(shù)器重置位置，改變所述缺陷檢測(cè)器、所述讀通道控制器以及所述伺服器控制器中至少一個(gè)的響應(yīng)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其中所述計(jì)數(shù)指示對(duì)應(yīng)于所述缺陷的所述計(jì)數(shù)器重置位置和所述缺陷位置之間的、所述存儲(chǔ)介質(zhì)的通道時(shí)鐘的周期數(shù)量。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其中所述缺陷邊界控制器被配置用于在所述計(jì)數(shù)器重置位置處對(duì)所述計(jì)數(shù)器重置之后，當(dāng)所述計(jì)數(shù)器達(dá)到對(duì)應(yīng)于所述缺陷位置的調(diào)整計(jì)數(shù)時(shí)，使得所述讀通道控制器進(jìn)入缺陷模式。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其中所述缺陷邊界控制器被配置用于在所述計(jì)數(shù)器重置位置處對(duì)所述計(jì)數(shù)器重置之后，當(dāng)所述計(jì)數(shù)器指示接近所述缺陷時(shí)，改變所述缺陷檢測(cè)器的缺陷檢測(cè)靈敏度。
11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其中所述缺陷的位置在所述存儲(chǔ)介質(zhì)的第一軌道上， 并且其中所述缺陷邊界控制器被配置用于基于所述缺陷的位置來計(jì)算補(bǔ)償值；以及將所述補(bǔ)償值與對(duì)應(yīng)于所述缺陷位置的計(jì)數(shù)相加，以在所述存儲(chǔ)介質(zhì)的第二軌道上預(yù)測(cè)所述缺陷的第二位置。
12.一種方法，包括運(yùn)行計(jì)數(shù)器，其中所述計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)與盤驅(qū)動(dòng)器的存儲(chǔ)介質(zhì)上的不同位置相關(guān)聯(lián)；使用缺陷檢測(cè)器在所述存儲(chǔ)介質(zhì)上檢測(cè)缺陷；確定對(duì)應(yīng)于所述缺陷的位置的所述計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)；以及基于所述計(jì)數(shù)和所述計(jì)數(shù)器，改變所述缺陷檢測(cè)器、所述盤驅(qū)動(dòng)器的讀通道控制器以及所述盤驅(qū)動(dòng)器的伺服器控制器中至少一個(gè)的響應(yīng)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，還包括在一個(gè)或多個(gè)計(jì)數(shù)器重置位置處重置所述計(jì)數(shù)器；以及確定對(duì)應(yīng)于所述缺陷的計(jì)數(shù)器重置位置；其中進(jìn)一步基于對(duì)應(yīng)于所述缺陷的所述計(jì)數(shù)器重置位置，改變所述缺陷檢測(cè)器、所述讀通道控制器以及所述伺服器控制器中至少一個(gè)的響應(yīng)。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中所述計(jì)數(shù)指示對(duì)應(yīng)于所述缺陷的所述計(jì)數(shù)器重置位置和所述缺陷位置之間發(fā)生的、所述存儲(chǔ)介質(zhì)的通道時(shí)鐘的周期數(shù)量。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中對(duì)應(yīng)于所述缺陷的所述計(jì)數(shù)器重置位置是所述存儲(chǔ)介質(zhì)上的糾錯(cuò)編碼塊的邊界。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中對(duì)應(yīng)于所述缺陷的所述計(jì)數(shù)器重置位置是所述存儲(chǔ)介質(zhì)上的數(shù)據(jù)扇區(qū)的邊界。
17.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中對(duì)應(yīng)于所述缺陷的所述計(jì)數(shù)器重置位置是所述存儲(chǔ)介質(zhì)上的預(yù)定角度位置。
18.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中改變所述缺陷檢測(cè)器的響應(yīng)包括在所述計(jì)數(shù)器重置位置處對(duì)所述計(jì)數(shù)器重置之后，當(dāng)所述計(jì)數(shù)器指示接近所述缺陷時(shí)，改變所述缺陷檢測(cè)器的缺陷檢測(cè)靈敏度。
19.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中改變所述讀通道控制器的響應(yīng)包括在所述計(jì)數(shù)器重置位置處對(duì)所述計(jì)數(shù)器重置之后，當(dāng)所述計(jì)數(shù)器達(dá)到對(duì)應(yīng)于所述缺陷位置的調(diào)整計(jì)數(shù)時(shí)，使得所述讀通道控制器進(jìn)入缺陷模式。
20.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中所述缺陷的位置在所述存儲(chǔ)介質(zhì)的第一軌道上，并且其中所述方法還包括確定所述計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)，所述計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)對(duì)應(yīng)于所述存儲(chǔ)介質(zhì)的第二軌道上所述缺陷的第二位置；以及基于對(duì)應(yīng)于所述第二軌道上的所述缺陷的所述第二位置的所述計(jì)數(shù)，改變所述缺陷檢測(cè)器、所述讀通道控制器以及所述伺服器控制器中至少一個(gè)的響應(yīng)。
全文摘要
在盤驅(qū)動(dòng)器的存儲(chǔ)介質(zhì)上檢測(cè)缺陷。在存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的最小可尋址單元內(nèi)確定缺陷的位置。位置的指示存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中。監(jiān)視盤驅(qū)動(dòng)器的傳感器相對(duì)于存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的位置?；趥鞲衅飨鄬?duì)于存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的位置和存儲(chǔ)的缺陷位置的指示，改變盤驅(qū)動(dòng)器的缺陷檢測(cè)器、盤驅(qū)動(dòng)器的讀通道控制器和盤驅(qū)動(dòng)器的伺服器控制器中至少一個(gè)的響應(yīng)。
文檔編號(hào)G11B7/09GK102282616SQ201080004501
公開日2011年12月14日 申請(qǐng)日期2010年1月8日 優(yōu)先權(quán)日2009年1月14日
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