專利名稱：光記錄方法和光記錄裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于對(duì)光盤進(jìn)行信息記錄的光記錄方法和光記錄裝置，特別涉及在記錄時(shí)使用的寫策略(在記錄中使用的激光器的發(fā)光控制設(shè)定值)或在記錄功率的最佳控制 (OPC =Optimum Power Control)中使用的OPC用設(shè)定值等記錄參數(shù)的決定方法。
背景技術(shù)：
為了對(duì)光盤進(jìn)行信息記錄，需要結(jié)合光盤的特性適當(dāng)?shù)卣{(diào)整作為在記錄時(shí)使用的記錄參數(shù)的寫策略和OPC(記錄功率的最佳控制)用的設(shè)定值。通常，在光盤中記錄有由盤生產(chǎn)商確定的記錄參數(shù)的推薦值，但是，用于決定所述推薦值的光記錄裝置的光拾取器與一般的光記錄裝置的光拾取器的規(guī)格不同的情況占絕大多數(shù)，所以在這種情況下，即使使用記錄參數(shù)的推薦值也無(wú)法正常記錄的情況較多。因此，一般地，光記錄裝置按照每個(gè)光盤的ID (識(shí)別信息)保持最佳的記錄參數(shù)(寫策略和OPC用設(shè)定值)并用于記錄。但是，這樣，為了使光記錄裝置針對(duì)光盤保持固有的最佳記錄參數(shù)，需要按照每個(gè)光盤預(yù)先求出最佳的記錄參數(shù)，例如存在如下問題在光記錄裝置出廠后，針對(duì)新發(fā)售的光盤，不能具有最佳的記錄參數(shù)。作為其對(duì)應(yīng)策略，存在如下技術(shù)讀取由于試寫而形成的坑(標(biāo)記)部分，對(duì)讀取出的坑部分的信號(hào)的偏差進(jìn)行評(píng)價(jià)，反復(fù)調(diào)整寫策略的修正使得所述偏差處于規(guī)定范圍內(nèi) (例如參照專利文獻(xiàn)1 5)。并且，存在如下技術(shù)讀出在光盤中記錄的寫策略的推薦值， 根據(jù)寫策略的開頭脈沖寬度的推薦值，通過計(jì)算而求出在記錄中使用的開頭脈沖寬度(例如專利文獻(xiàn)6)。現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)1 日本特開2006-004601號(hào)公報(bào)(第1-14頁(yè)、第1-16圖)專利文獻(xiàn)2 日本特開2006-031915號(hào)公報(bào)(第1-13頁(yè)、第1-10圖)專利文獻(xiàn)3 日本特開2006-048907號(hào)公報(bào)(第1-16頁(yè)、第1-19圖)專利文獻(xiàn)4 日本特開2006-164486號(hào)公報(bào)(第1-13頁(yè)、第1-17圖)專利文獻(xiàn)5 日本特開2007-018582號(hào)公報(bào)(第1-11頁(yè)、第1-11圖)專利文獻(xiàn)6 日本特許第3907630號(hào)公報(bào)(第1-15頁(yè)、第1-11圖)

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的課題在上述現(xiàn)有的光記錄裝置中，在反復(fù)調(diào)整寫策略的修正的情況下，到記錄開始之前需要時(shí)間，大量消耗了有限的光盤的測(cè)試記錄區(qū)域。并且，由于寫策略的發(fā)光規(guī)則，需要調(diào)整的寫策略的參數(shù)較多，僅變更各個(gè)參數(shù)，有時(shí)無(wú)法進(jìn)行適當(dāng)?shù)卣{(diào)整。并且，在通過計(jì)算而求出寫策略的情況下，根據(jù)在光盤中記錄的寫策略的推薦值的開頭脈沖寬度的推薦值，通過計(jì)算而求出在記錄中使用的開頭脈沖寬度，存在只能夠?qū)?yīng)特定的發(fā)光規(guī)則而無(wú)法對(duì)應(yīng)不同的發(fā)光規(guī)則的問題。本發(fā)明是為了解決上述問題而完成的，其目的在于，得到如下的光記錄方法和光記錄裝置針對(duì)預(yù)先未判明最佳的記錄參數(shù)的光盤，也能夠求出可進(jìn)行適當(dāng)記錄的記錄參數(shù)，而不會(huì)在記錄開始之前花費(fèi)較長(zhǎng)時(shí)間。并且，其目的在于，得到如下的光記錄方法和光記錄裝置與寫策略的發(fā)光規(guī)則或記錄倍速無(wú)關(guān)，能夠求出可進(jìn)行適當(dāng)記錄的記錄參數(shù)。用于解決課題的手段本發(fā)明的光記錄方法按照由與記錄數(shù)據(jù)長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)的多個(gè)參數(shù)構(gòu)成的記錄參數(shù)，在光記錄介質(zhì)上照射激光，從而在光記錄介質(zhì)中記錄信息，其特征在于，該光記錄方法具有以下步驟記錄條件推薦值讀取步驟，從記錄有記錄參數(shù)的推薦值的光記錄介質(zhì)中讀取所述記錄參數(shù)的推薦值；記錄參數(shù)決定步驟，使用在所述記錄參數(shù)推薦值讀取步驟中讀取出的所述記錄參數(shù)推薦值、預(yù)先求出的矢量信息和近似系數(shù)，求出在記錄中應(yīng)該使用的記錄參數(shù)；以及寫入步驟，使用所求出的記錄參數(shù)，通過所述記錄方法進(jìn)行針對(duì)所述光記錄介質(zhì)的寫入，所述矢量信息是按照使參數(shù)相互間的相關(guān)較強(qiáng)的方式對(duì)針對(duì)多個(gè)光記錄介質(zhì)的記錄參數(shù)最佳值與所述記錄參數(shù)推薦值之間的各個(gè)參數(shù)差分值統(tǒng)計(jì)求出的各參數(shù)的矢量成分，所述近似系數(shù)是通過對(duì)轉(zhuǎn)換信息與表示各光記錄介質(zhì)的特征的特征信息之間的關(guān)系進(jìn)行近似而求出的近似系數(shù)，該轉(zhuǎn)換信息表示所述矢量信息與所述參數(shù)差分值之間的關(guān)系，該特征信息是根據(jù)所述記錄參數(shù)推薦值和所述矢量信息求出的。發(fā)明效果根據(jù)本發(fā)明，在與光盤對(duì)應(yīng)的最佳的記錄參數(shù)不明的情況下，也能夠迅速地求出最佳的記錄參數(shù)。


圖1是示出在本發(fā)明的實(shí)施方式的光記錄方法和裝置中使用的光盤的結(jié)構(gòu)的一例的圖。圖2是示出本發(fā)明的實(shí)施方式的光記錄裝置的框圖。圖3(a) (c)是示出在圖2的再現(xiàn)特性測(cè)定部150中測(cè)定的再現(xiàn)信號(hào)的不對(duì)稱的例子的圖。圖4是示出在圖2的再現(xiàn)特性測(cè)定部150中測(cè)定的再現(xiàn)信號(hào)的調(diào)制度的例子的圖。圖5(a) (e)是示出在本發(fā)明的實(shí)施方式的光記錄裝置中、在針對(duì)光盤的記錄為 EFM+(8-16)調(diào)制的情況(DVD的情況)下生成的寫策略的一例的圖。圖6是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的光記錄裝置中的記錄順序的一例的流程圖。圖7是示出實(shí)施方式1的記錄參數(shù)決定的處理(圖6的步驟S14)的順序的流程圖。
圖8是示出實(shí)施方式1的光記錄裝置中的光盤500為DVD-R時(shí)的特征參數(shù)D與轉(zhuǎn)換參數(shù)X之間的關(guān)系(實(shí)測(cè)結(jié)果)的圖。圖9是示出實(shí)施方式1的光記錄裝置中的光盤500為BD-R時(shí)的特征參數(shù)D與轉(zhuǎn)換參數(shù)X之間的關(guān)系(實(shí)測(cè)結(jié)果)的圖。圖10是示出現(xiàn)有的記錄參數(shù)的列表的圖。圖11是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的包含特征參數(shù)D和針對(duì)該特征參數(shù)D的記錄參數(shù)的偏置量的列表的圖。圖12是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的記錄參數(shù)決定的處理(圖6的步驟S14)的順序的流程圖。圖13是示出本發(fā)明的實(shí)施方式3的記錄參數(shù)決定(圖6的步驟S14)的處理的順序的流程圖。圖14是示出本發(fā)明的實(shí)施方式4的光記錄裝置中的記錄順序的流程圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明的光記錄方法和光記錄裝置針對(duì)預(yù)先記錄有記錄參數(shù)推薦值的光盤進(jìn)行記錄。通過該光盤的制造生產(chǎn)商，將記錄參數(shù)推薦值作為適于在記錄中使用的記錄參數(shù)記錄在光盤的規(guī)定區(qū)域、例如圖1的導(dǎo)入?yún)^(qū)域中。并且，根據(jù)光盤的種類來(lái)決定用于決定記錄參數(shù)推薦值的條件、例如光記錄裝置的光拾取器的規(guī)格(例如物鏡的數(shù)值孔徑NA或激光器的波長(zhǎng)等)。這里，光盤的種類具有Blu-ray Disc (BD)、DVD、⑶等，還分別被分類為改寫型和補(bǔ)記型。光盤所記錄的記錄參數(shù)推薦值包含寫策略(脈沖寬度或邊緣位置的設(shè)定值、記錄功率和消去功率的比率等用于決定激光器的發(fā)光模式的記錄參數(shù)的設(shè)定值)的推薦值和用于通過OPC對(duì)記錄功率進(jìn)行優(yōu)化的推薦設(shè)定值(例如不對(duì)稱值等)。進(jìn)而，按照針對(duì)光盤進(jìn)行記錄時(shí)的記錄速度或?qū)懖呗缘陌l(fā)光規(guī)則(例如呈多脈沖狀發(fā)光的規(guī)則、呈非多脈沖狀發(fā)光的規(guī)則等)，將記錄參數(shù)推薦值記錄在光盤中。所述記錄參數(shù)推薦值假設(shè)在規(guī)定條件下進(jìn)行記錄。因此，如果記錄條件不同，則優(yōu)選利用與記錄參數(shù)推薦值不同的記錄參數(shù)進(jìn)行記錄。在本發(fā)明中，利用基于從光盤中讀取出的記錄參數(shù)推薦值和由在記錄中使用的光記錄裝置的光拾取器求出的最佳記錄參數(shù)之間的關(guān)系的系數(shù)，根據(jù)記錄參數(shù)推薦值，決定在記錄中使用的記錄參數(shù)并進(jìn)行記錄。實(shí)施方式1以下說明的實(shí)施方式中的光記錄方法進(jìn)行標(biāo)記邊緣記錄(PWM記錄)。而且，根據(jù)要在光盤上記錄的數(shù)據(jù)，按照寫策略(在記錄中使用的激光器發(fā)光波形規(guī)則)使半導(dǎo)體激光器發(fā)光，形成記錄標(biāo)記，由此進(jìn)行信息記錄。圖2是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的光記錄裝置100的基本結(jié)構(gòu)例的圖。這里，圖2 的光記錄裝置100示出向光盤500記錄進(jìn)行了 EFM+(8-16)調(diào)制后的記錄數(shù)據(jù)的情況(例如光盤500是DVD的情況)。伺服控制部180對(duì)用于使光盤500旋轉(zhuǎn)的主軸電動(dòng)機(jī)181、用于使光頭300的位置移動(dòng)的螺旋電動(dòng)機(jī)182、以及光頭300的致動(dòng)器(未圖示)進(jìn)行控制。來(lái)自光頭300的再現(xiàn)信號(hào)利用前置放大電路110放大，被輸入到中央控制部200。
9所輸入的信號(hào)利用中央控制部200進(jìn)行地址信息的解碼，得到光頭300的當(dāng)前位置(表示光頭300的當(dāng)前位置的地址信息)。通過對(duì)伺服控制部180賦予表示當(dāng)前位置的地址信息與應(yīng)該存取的位置(存取對(duì)象位置)的地址信息之間的差分，伺服控制部180控制螺旋電動(dòng)機(jī)182，使光頭300向存取對(duì)象位置移動(dòng)。進(jìn)而，伺服控制部180根據(jù)來(lái)自前置放大器110的伺服錯(cuò)誤信號(hào)，進(jìn)行對(duì)焦控制、循軌控制。在數(shù)據(jù)再現(xiàn)時(shí)，從激光器驅(qū)動(dòng)部320所驅(qū)動(dòng)的半導(dǎo)體激光器310出射的具有數(shù)據(jù)再現(xiàn)所需要的輸出值(再現(xiàn)功率)的激光經(jīng)由準(zhǔn)直透鏡330、光束分離器340和物鏡350聚光照射到光盤500。來(lái)自光盤500的反射光通過物鏡350后，由光束分離器340使其與入射光分離，經(jīng)由檢測(cè)透鏡360被受光元件370接受。利用上述的半導(dǎo)體激光器310、準(zhǔn)直透鏡330、光束分離器340、物鏡350和檢測(cè)透鏡360構(gòu)成光學(xué)系統(tǒng)，利用該光學(xué)系統(tǒng)、受光元件370、激光器驅(qū)動(dòng)部320和致動(dòng)器(未圖示)構(gòu)成光拾取器300。受光元件370將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。關(guān)于在受光元件370中轉(zhuǎn)換的電信號(hào)，除了如上所述經(jīng)由前置放大器110輸入到中央控制部200以外，還輸入到再現(xiàn)信號(hào)處理部120。再現(xiàn)信號(hào)處理部120對(duì)來(lái)自前置放大器110的電信號(hào)進(jìn)行均衡化處理(波形整形)，將其輸入到記錄質(zhì)量測(cè)定部130和數(shù)據(jù)解碼器140。并且，再現(xiàn)信號(hào)處理部120將均衡化處理之前的信號(hào)輸入到再現(xiàn)特性測(cè)定部150。再現(xiàn)特性測(cè)定部150求出不對(duì)稱值或調(diào)制度值等的再現(xiàn)特性，用于調(diào)整記錄時(shí)所需要的記錄功率。并且，記錄質(zhì)量測(cè)定部130測(cè)定再現(xiàn)信號(hào)的抖動(dòng)值和錯(cuò)誤率等信號(hào)質(zhì)量。數(shù)據(jù)解碼器140對(duì)所輸入的再現(xiàn)信號(hào)進(jìn)行二值化，進(jìn)行解調(diào)和糾錯(cuò)等處理，由此， 生成(再現(xiàn))記錄在光盤500中的數(shù)據(jù)。光記錄裝置100與上位控制器400連接，中央控制部200將所生成的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在緩存器190中后，發(fā)送到上位控制器400。在再現(xiàn)特性測(cè)定部150求解不對(duì)稱值的情況下，再現(xiàn)特性測(cè)定部150對(duì)所輸入的電信號(hào)(從前置放大器110輸出的信號(hào))進(jìn)行AC(交流)耦合，根據(jù)AC耦合后的電信號(hào)來(lái)計(jì)算不對(duì)稱值β。圖3(a) (c)示出上述AC耦合后的電信號(hào)的例子。再現(xiàn)特性測(cè)定部 150檢測(cè)圖3(a) (c)所例示的信號(hào)的峰值電平Al和谷值電平Α2。根據(jù)檢測(cè)到的峰值電平Al和谷值電平Α2，使用下式(1)計(jì)算不對(duì)稱值β。β = (A1+A2)/(A1-A2) · · · (1)其中，在最長(zhǎng)間隔(space)和最長(zhǎng)標(biāo)記(mark)交替出現(xiàn)的部分產(chǎn)生峰值電平Al 和谷值電平A2，這些值將最短間隔和最短標(biāo)記交替出現(xiàn)的部分的峰值電平和谷值電平的平均值表示為零電平。如上所述，圖3(a) (c)示出在再現(xiàn)特性測(cè)定部150中檢測(cè)到的再現(xiàn)信號(hào)(從前置放大器110輸出的信號(hào))的不對(duì)稱的檢測(cè)例，其中，圖3(a)示出β值< 0的情況，圖 3 (b)示出β值=0的情況，圖3 (c)示出β值> 0的情況。并且，在再現(xiàn)特性測(cè)定部150求解調(diào)制度值的情況下，再現(xiàn)特性測(cè)定部150檢測(cè)所輸入的電信號(hào)的峰值電平1 和谷值電平BT。該情況下，與求解不對(duì)稱的情況不同，不進(jìn)行 AC耦合，直接檢測(cè)(通過DC耦合)得到的信號(hào)的峰值電平1 和谷值電平BT，根據(jù)該峰值電平1 和谷值電平BT，使用下式⑵計(jì)算調(diào)制度。
調(diào)制度=(PK-BT)/PK. . . (2)圖4示出這種通過DC耦合得到的信號(hào)的一例。如圖所示，峰值PK、谷值BT以零電平(沒有針對(duì)受光元件370的輸入(沒有來(lái)自光盤的反射光輸入)時(shí)的輸出偏置值)為基準(zhǔn)。峰值Hi、谷值BT分別對(duì)應(yīng)于最長(zhǎng)間隔、最長(zhǎng)標(biāo)記的電平。在數(shù)據(jù)記錄時(shí)，中央控制部200將來(lái)自所述上位控制器400的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在緩存器 190中后，利用數(shù)據(jù)編碼器160附加糾錯(cuò)碼，按照調(diào)制規(guī)則進(jìn)行調(diào)制，按照光盤500的格式生成記錄數(shù)據(jù)。寫策略控制部170根據(jù)記錄數(shù)據(jù)生成寫策略信號(hào)。即，在從中央控制部200設(shè)定了寫策略后，當(dāng)從數(shù)據(jù)編碼器160賦予用于指定表示標(biāo)記長(zhǎng)度的周期數(shù)η的記錄數(shù)據(jù)時(shí)，寫策略控制部170輸出與這種記錄數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的寫策略信號(hào)(按照寫策略生成的、具有與發(fā)光脈沖串的波形大致相同的波形的信號(hào))。激光器驅(qū)動(dòng)部320通過與所生成的寫策略信號(hào)對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)電流，驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體激光器310。從半導(dǎo)體激光器310出射的具有數(shù)據(jù)記錄所需要的輸出值(記錄功率)的激光經(jīng)由準(zhǔn)直透鏡330、光束分離器340和物鏡350聚光照射到光盤500。由此，形成標(biāo)記，形成由標(biāo)記和位于標(biāo)記相互間的間隔構(gòu)成的記錄部。圖5 (a) (e)示出在圖2所示的光記錄裝置100中由寫策略控制部170生成的寫策略信號(hào)的例子。圖5(a)示出由標(biāo)記部MA和間隔部SA構(gòu)成的記錄數(shù)據(jù)的例子。圖5 (b) 示出在向光盤500記錄圖5(a)的記錄數(shù)據(jù)時(shí)形成的光盤上的標(biāo)記MK和位于標(biāo)記MK相互間的間隔SP。進(jìn)行EFM+(8-16)調(diào)制后的記錄數(shù)據(jù)從與用于記錄最短標(biāo)記的周期數(shù)η = 3 即3Τ對(duì)應(yīng)的長(zhǎng)度起，具有與周期數(shù)η = 11即IlT對(duì)應(yīng)的長(zhǎng)度、以及與用于記錄最長(zhǎng)標(biāo)記的周期數(shù)η = 14即14Τ對(duì)應(yīng)的長(zhǎng)度。圖5(a) (e)假設(shè)了如下情況記錄最短標(biāo)記、即3T的標(biāo)記，接著記錄第2短的標(biāo)記、即4T的標(biāo)記，接著記錄第4短的標(biāo)記、即6T的標(biāo)記。圖5 (c)示出在光盤500向可改寫的記錄介質(zhì)(例如DVD-RW)記錄數(shù)據(jù)的情況下由寫策略控制部170生成的寫策略信號(hào)的例子。并且，圖5(d)和圖5(e)示出在光盤500 向可補(bǔ)記的記錄介質(zhì)(例如DVD-R)記錄數(shù)據(jù)的情況下由寫策略控制部170生成的寫策略信號(hào)的例子，圖5 (d)的寫策略信號(hào)用于低倍速(例如1倍速 4倍速)的記錄，圖5 (e)的寫策略信號(hào)用于高倍速(例如4倍速以上)的記錄。為了由寫策略控制部170生成圖5(c) (e)這種寫策略信號(hào)，中央控制部200需要設(shè)定多個(gè)寫策略參數(shù)，寫策略信號(hào)的形式越復(fù)雜，其種類越增加。中央控制部200在光記錄裝置100進(jìn)行針對(duì)光盤500的寫入或讀出時(shí)控制裝置全體，接受來(lái)自記錄質(zhì)量測(cè)定部130的抖動(dòng)等記錄質(zhì)量、來(lái)自再現(xiàn)特性測(cè)定部150的不對(duì)稱值或調(diào)制度值、來(lái)自數(shù)據(jù)解碼器140的再現(xiàn)數(shù)據(jù)，另一方面，對(duì)數(shù)據(jù)編碼器160、寫策略控制部 170、激光器驅(qū)動(dòng)部320、伺服控制部180賦予控制信號(hào)。中央控制部200還進(jìn)行以下參照?qǐng)D6 圖9說明的記錄參數(shù)的決定、特別是記錄參數(shù)的設(shè)定值的計(jì)算、使用計(jì)算出的記錄參數(shù)進(jìn)行的試寫的控制等。中央控制部200例如具有CPU 210、存儲(chǔ)該CPU 210的動(dòng)作用的程序的非易失性存儲(chǔ)器例如ROM 220、以及存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器例如RAM 230。存儲(chǔ)在ROM 220中的程序包含以下參照?qǐng)D6說明的記錄參數(shù)的運(yùn)算、以及定義了運(yùn)算或記錄功率調(diào)整所需要的設(shè)定值等的部分。并且，如后所述，ROM 220還用于存儲(chǔ)預(yù)先確定的系數(shù)等，優(yōu)選為可改寫型的存儲(chǔ)器。一般地，通過在記錄信息之前進(jìn)行試寫，進(jìn)行記錄功率的優(yōu)化。下面說明該順序。最初，例如使用隨機(jī)的記錄數(shù)據(jù)模式，改變記錄功率來(lái)進(jìn)行針對(duì)光盤500的試寫， 接著，再現(xiàn)光盤500上的記錄了該測(cè)試模式的區(qū)域，通過再現(xiàn)特性測(cè)定部150檢測(cè)不對(duì)稱值，在中央控制部200中對(duì)檢測(cè)到的不對(duì)稱值與作為目標(biāo)的不對(duì)稱值進(jìn)行比較，求出最佳的記錄功率。一般地，如果增大記錄功率，則不對(duì)稱值變大，如果減小記錄功率，則不對(duì)稱值變小。這里，不對(duì)稱值大多用于在補(bǔ)記型光盤(DVD-R或BD-R等)中對(duì)記錄功率進(jìn)行優(yōu)化的情況，與此相對(duì)，在改寫型盤(DVD-RW或BD-RE等)中，多使用調(diào)制度。一般地，如果增大記錄功率，則調(diào)制度的值也變大，如果減小記錄功率，則調(diào)制度的值也變小。在中央控制部200中，對(duì)與彼此不同的多個(gè)記錄功率對(duì)應(yīng)的不對(duì)稱值的檢測(cè)值與目標(biāo)值進(jìn)行比較，將生成最接近目標(biāo)值的檢測(cè)值的記錄功率設(shè)定為最佳的記錄功率。另外，也可以取而代之利用一個(gè)記錄功率進(jìn)行針對(duì)光盤500的試寫，然后進(jìn)行再現(xiàn)，根據(jù)再現(xiàn)結(jié)果檢測(cè)不對(duì)稱值，將檢測(cè)到的不對(duì)稱值與作為目標(biāo)的不對(duì)稱值進(jìn)行比較，根據(jù)比較結(jié)果來(lái)增減記錄功率，求出最佳值。并且，在改寫型盤的情況下，有時(shí)使用如下方法不是將作為最佳記錄功率的調(diào)制度作為目標(biāo)值，而是針對(duì)記錄功率，將調(diào)制度的變化大的記錄功率的區(qū)域(記錄功率小于最佳記錄功率的區(qū)域)中的調(diào)制度作為目標(biāo)值，對(duì)所求出的記錄功率乘以預(yù)先設(shè)定的系數(shù)，從而計(jì)算最佳記錄功率。下面，參照?qǐng)D6說明本實(shí)施方式的光記錄方法的順序。最初，當(dāng)將光盤500插入光再現(xiàn)裝置100中時(shí)，通過未圖示的傳感器檢測(cè)該情況 (步驟S10)，傳遞到中央控制部200，中央控制部200借助伺服控制部180驅(qū)動(dòng)光頭300，判別插入光再現(xiàn)裝置100中的光盤500的種類(⑶、DVD、BD等種類)以及光盤500是幾層盤等(步驟Sll)。接著，在步驟S12中，調(diào)整與光盤500之間的傾斜角度、伺服條件等后，在步驟S13 中，從光盤500中讀出由盤生產(chǎn)商預(yù)先記錄的記錄參數(shù)推薦值。并且，在步驟S13中，還同時(shí)讀出要讀出的記錄參數(shù)推薦值的發(fā)光規(guī)則和記錄速度的信息。在光盤500中記錄有與多個(gè)發(fā)光規(guī)則和記錄速度對(duì)應(yīng)的記錄參數(shù)推薦值的情況下，選擇針對(duì)光盤500進(jìn)行記錄時(shí)實(shí)際使用的發(fā)光規(guī)則和記錄速度，從光盤500中讀出記錄參數(shù)推薦值。所讀出的記錄參數(shù)推薦值WR例如保持在中央控制部200的RAM 230中。接著，在步驟S14中，使用所讀出的記錄參數(shù)推薦值和預(yù)先存儲(chǔ)在中央控制部200 內(nèi)(例如ROM 220)的記錄參數(shù)計(jì)算用的系數(shù)，計(jì)算并設(shè)定在記錄中使用的記錄參數(shù)。之后參照?qǐng)D7對(duì)其進(jìn)行詳細(xì)說明。然后，當(dāng)通過未圖示的單元賦予記錄的指示時(shí)(步驟S15)，在步驟S16中，使用在步驟S14中設(shè)定的記錄參數(shù)，進(jìn)行針對(duì)所述光盤500的試寫。S卩，在步驟S14中，在寫策略控制部170中設(shè)定在中央控制部200內(nèi)設(shè)定的記錄參數(shù)的寫策略，由此，在寫策略控制部 170中生成基于測(cè)試模式的寫策略，使用光頭300進(jìn)行針對(duì)光盤500的試寫。然后，利用光頭300再現(xiàn)光盤500上的記錄了測(cè)試模式的區(qū)域，在中央控制部200中對(duì)由再現(xiàn)特性測(cè)定部150檢測(cè)到的再現(xiàn)特性(不對(duì)稱值或調(diào)制度)與在步驟S14中設(shè)定的記錄參數(shù)的OPC設(shè)定值(不對(duì)稱值或調(diào)制度)進(jìn)行比較，并進(jìn)行控制以使兩者一致，由此，決定最佳的記錄功率。最后，在步驟S17中，根據(jù)在步驟S14中設(shè)定的記錄參數(shù)的寫策略和在步驟S16中決定的記錄功率，開始針對(duì)光盤500的真正的數(shù)據(jù)寫入(正式寫入)。上述的步驟SlO的處理通過中央控制部200和未圖示的對(duì)光盤的插入進(jìn)行檢測(cè)的傳感器進(jìn)行，步驟Sll和步驟S12的處理通過光頭300、前置放大器110、伺服控制部180和中央控制部200進(jìn)行，步驟S13的處理通過光頭300、伺服控制部180、前置放大器110、再現(xiàn)信號(hào)處理部120、數(shù)據(jù)解碼器140和中央控制部200進(jìn)行，步驟S14的處理通過中央控制部 200進(jìn)行，步驟S15的處理通過中央控制部200和未圖示的接受記錄的指示的單元(接口) 進(jìn)行，步驟S16的處理通過伺服控制部180、前置放大器110、再現(xiàn)信號(hào)處理部120、再現(xiàn)特性測(cè)定部150、中央控制部200、寫策略控制部170和光頭300進(jìn)行，步驟S17以后的數(shù)據(jù)記錄處理通過中央控制部200、數(shù)據(jù)編碼器160、寫策略控制部170、伺服控制部180和光頭300 進(jìn)行。圖7詳細(xì)示出圖6的步驟S14的記錄參數(shù)決定用的處理。在步驟S20中，從中央控制部200的ROM 220中讀出與在步驟S13中從光盤中讀出的記錄參數(shù)推薦值的發(fā)光規(guī)則和記錄速度對(duì)應(yīng)的記錄參數(shù)計(jì)算系數(shù)。并且，還讀出在步驟S13中讀出并保持在RAM 230中的記錄參數(shù)推薦值WR。作為記錄參數(shù)計(jì)算系數(shù)，讀出主成分矢量PC和系數(shù)Ca、Cb。系數(shù)Ca、Cb也被稱為近似系數(shù)。主成分矢量PC是通過對(duì)記錄參數(shù)推薦值與記錄參數(shù)最佳值的差分量應(yīng)用主成分分析而得到的主成分矢量，如下表示。PCl = [PC11, PC12, —, PCln]PC2 = [PC21, PC22,…，PC2n] PCm = [PCml，PCm2，—, PCmn]... (3)其中，m與進(jìn)行了主成分分析的記錄參數(shù)的數(shù)量η相同，m越小，作用率越大(作用率越大，相關(guān)越強(qiáng))。主成分分析是針對(duì)多個(gè)變量統(tǒng)計(jì)求出無(wú)偏方差最大的新變量(主成分)的分析。 針對(duì)殘差同樣求出無(wú)偏方差最大的主成分，按照作用率(影響度)的順序求出第1主成分、
第2主成分、第3主成分......的主成分(求出數(shù)量與參數(shù)相同的主成分)。該主成分作
為由原來(lái)的變量的合成變量表示的主成分矢量示出，由于是以變量的無(wú)偏方差最大的方式求出的，因此，作為原來(lái)變量相互間的相關(guān)較強(qiáng)的矢量成分求出。這里，關(guān)于針對(duì)記錄參數(shù)推薦值與記錄參數(shù)最佳值的各個(gè)參數(shù)的差分量進(jìn)行主成分分析，所以，按照各個(gè)參數(shù)相互間的相關(guān)從強(qiáng)到弱的順序求出主成分矢量。并且，系數(shù)Ca和Cb是求解記錄參數(shù)推薦值與記錄參數(shù)最佳值的差分時(shí)使用的系數(shù)，分別按照記錄參數(shù)的數(shù)量存儲(chǔ)在中央控制部200的ROM 220中。具體而言如下表示(m 是主成分矢量的數(shù)量)。
CaCb
權(quán)利要求
1.一種光記錄方法，該光記錄方法按照由與記錄數(shù)據(jù)長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)的多個(gè)參數(shù)構(gòu)成的記錄參數(shù)，在光記錄介質(zhì)上照射激光，從而在光記錄介質(zhì)中記錄信息，其特征在于，該光記錄方法具有以下步驟記錄條件推薦值讀取步驟，從記錄有記錄參數(shù)的推薦值的光記錄介質(zhì)中讀取所述記錄參數(shù)的推薦值；記錄參數(shù)決定步驟，使用在所述記錄參數(shù)推薦值讀取步驟中讀取出的所述記錄參數(shù)推薦值、預(yù)先求出的矢量信息和近似系數(shù)，求出在記錄中應(yīng)該使用的記錄參數(shù)；以及寫入步驟，使用所求出的記錄參數(shù)，通過所述記錄方法進(jìn)行針對(duì)所述光記錄介質(zhì)的寫入，所述矢量信息是按照使參數(shù)相互間的相關(guān)較強(qiáng)的方式對(duì)針對(duì)多個(gè)光記錄介質(zhì)的記錄參數(shù)最佳值與所述記錄參數(shù)推薦值之間的各個(gè)參數(shù)差分值統(tǒng)計(jì)求出的各參數(shù)的矢量成分， 所述近似系數(shù)是通過對(duì)轉(zhuǎn)換信息與表示各光記錄介質(zhì)的特征的特征信息之間的關(guān)系進(jìn)行近似而求出的近似系數(shù)，該轉(zhuǎn)換信息表示所述矢量信息與所述參數(shù)差分值之間的關(guān)系，該特征信息是根據(jù)所述記錄參數(shù)推薦值和所述矢量信息而求出的。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光記錄方法，其特征在于，所述轉(zhuǎn)換信息是將所述矢量信息作為線性方程式的系數(shù)、將所述參數(shù)差分值作為所述線性方程式的常數(shù)時(shí)的線性方程式的解，所述特征信息是通過對(duì)所述記錄參數(shù)推薦值的各參數(shù)進(jìn)行基于所述矢量信息的加權(quán)而求出的、表示各光記錄介質(zhì)的特征的特征信息，所述近似系數(shù)是針對(duì)多個(gè)光記錄介質(zhì)求出的、通過對(duì)所述轉(zhuǎn)換信息與所述特征信息之間的關(guān)系進(jìn)行近似而求出的近似系數(shù)。
3.—種光記錄方法，該光記錄方法按照由與記錄數(shù)據(jù)長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)的多個(gè)參數(shù)構(gòu)成的記錄參數(shù)，在光記錄介質(zhì)上照射激光，從而在光記錄介質(zhì)中記錄信息，其特征在于，該光記錄方法具有以下步驟記錄條件推薦值讀取步驟，從記錄有記錄參數(shù)的推薦值的光記錄介質(zhì)中讀取所述記錄參數(shù)的推薦值；特征信息計(jì)算步驟，根據(jù)在所述記錄參數(shù)推薦值讀取步驟中讀取出的記錄參數(shù)推薦值與預(yù)先求出的矢量信息之積，計(jì)算表示各光記錄介質(zhì)的特征的特征信息；差分值提取步驟，從存儲(chǔ)單元中提取對(duì)應(yīng)于在所述特征信息計(jì)算步驟中計(jì)算出的所述特征信息而預(yù)先確定并存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)單元中的、光記錄介質(zhì)的所述記錄參數(shù)推薦值與在記錄中應(yīng)該使用的記錄參數(shù)最佳值之間的差分值；記錄參數(shù)決定步驟，通過對(duì)在所述差分值提取步驟中提取出的所述差分值加上所述記錄參數(shù)推薦值，決定在記錄中使用的記錄參數(shù)；以及寫入步驟，使用所求出的記錄參數(shù)，通過所述記錄方法進(jìn)行針對(duì)所述光記錄介質(zhì)的寫入，所述矢量信息是按照加強(qiáng)參數(shù)相互間的相關(guān)性的方式對(duì)針對(duì)多個(gè)光記錄介質(zhì)的記錄參數(shù)最佳值與所述記錄參數(shù)推薦值之間的各個(gè)參數(shù)差分值統(tǒng)計(jì)求出的各參數(shù)的矢量成分。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的光記錄方法，其特征在于，所述矢量信息是通過對(duì)多個(gè)光記錄介質(zhì)預(yù)先調(diào)查光記錄介質(zhì)的所述記錄參數(shù)最佳值與所述記錄參數(shù)推薦值之間的各個(gè)參數(shù)差分值并對(duì)所述差分值進(jìn)行主成分分析而求出的主成分矢量。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光記錄方法，其特征在于，用于決定所述矢量信息的所述記錄參數(shù)最佳值是以如下方式進(jìn)行了優(yōu)化的值使記錄功率的變動(dòng)在可容許的范圍內(nèi)，并且能夠以低記錄功率得到良好的記錄性能。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光記錄方法，其特征在于，用于決定所述矢量信息的所述記錄參數(shù)最佳值是以如下方式進(jìn)行了優(yōu)化的值使記錄功率或由寫策略規(guī)定的脈沖寬度的參數(shù)在多個(gè)光記錄介質(zhì)相互間為彼此接近的值。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光記錄方法，其特征在于，事先在多個(gè)光記錄介質(zhì)中求出轉(zhuǎn)換信息與表示各光記錄介質(zhì)的特征的特征信息之間的關(guān)系，該轉(zhuǎn)換信息表示所述矢量信息與所述參數(shù)差分值之間的關(guān)系，該特征信息是根據(jù)所述記錄參數(shù)推薦值和所述矢量信息而求出的，所述近似系數(shù)是通過對(duì)所述特征信息與所述轉(zhuǎn)換信息之間的關(guān)系進(jìn)行線性近似而求出的斜率和偏置。
8.—種光記錄方法，該光記錄方法按照由與記錄數(shù)據(jù)長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)的多個(gè)參數(shù)構(gòu)成的記錄參數(shù)，在光記錄介質(zhì)上照射激光，從而在光記錄介質(zhì)中記錄信息，其特征在于，該光記錄方法具有以下步驟記錄條件推薦值讀取步驟，從記錄有所述記錄參數(shù)的推薦值的光記錄介質(zhì)中讀取所述記錄參數(shù)的推薦值；記錄參數(shù)決定步驟，使用在所述記錄參數(shù)推薦值讀取步驟中讀取出的所述記錄參數(shù)推薦值和近似系數(shù)，求出在記錄中應(yīng)該使用的記錄參數(shù)；以及寫入步驟，使用所求出的記錄參數(shù)，通過所述記錄方法進(jìn)行針對(duì)所述光記錄介質(zhì)的寫入，所述近似系數(shù)是通過對(duì)如下差分量與記錄參數(shù)的推薦值之間的關(guān)系進(jìn)行近似而求出的，該差分量是多個(gè)光記錄介質(zhì)的記錄參數(shù)的推薦值與在記錄中應(yīng)該使用的記錄參數(shù)的最佳值之間的差分量。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光記錄方法，其特征在于，所述近似系數(shù)是通過對(duì)所述差分量與所述記錄參數(shù)的推薦值之間的關(guān)系進(jìn)行線性近似而求出的斜率和偏置。
10.根據(jù)權(quán)利要求1或8所述的光記錄方法，其特征在于，該光記錄方法還具有以下步驟記錄性能判斷步驟，通過使用在所述記錄參數(shù)決定步驟中決定的記錄參數(shù)進(jìn)行試寫， 確認(rèn)記錄性能，判斷該記錄性能優(yōu)于預(yù)先確定的基準(zhǔn)記錄性能還是差于預(yù)先確定的基準(zhǔn)記錄性能；以及記錄參數(shù)修正步驟，當(dāng)在所述記錄性能判斷步驟中判斷為差于基準(zhǔn)記錄性能的情況下，修正所述記錄參數(shù)，當(dāng)在所述記錄性能判斷步驟中判斷為優(yōu)于基準(zhǔn)記錄性能的情況下，在所述寫入步驟中使用在該試寫中使用的記錄參數(shù)進(jìn)行針對(duì)所述光記錄介質(zhì)的寫入，在求出所述近似系數(shù)時(shí)，事先求出針對(duì)各個(gè)記錄參數(shù)的近似精度，在所述記錄參數(shù)修正步驟中，優(yōu)先從所述近似精度差的記錄參數(shù)開始進(jìn)行記錄參數(shù)的修正。
11.一種光記錄裝置，該光記錄裝置按照由與記錄數(shù)據(jù)長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)的多個(gè)參數(shù)構(gòu)成的記錄參數(shù)，在光記錄介質(zhì)上照射激光，從而在光記錄介質(zhì)中記錄信息，其特征在于，該光記錄裝置具有記錄條件推薦值讀取單元，其從記錄有記錄參數(shù)的推薦值的光記錄介質(zhì)中讀取所述記錄參數(shù)的推薦值；記錄參數(shù)決定單元，其使用由所述記錄參數(shù)推薦值讀取單元讀取出的所述記錄參數(shù)推薦值、預(yù)先求出的矢量信息和近似系數(shù)，求出在記錄中應(yīng)該使用的記錄參數(shù)；以及寫入單元，其使用所求出的記錄參數(shù)，通過所述記錄裝置進(jìn)行針對(duì)所述光記錄介質(zhì)的寫入，所述矢量信息是按照使參數(shù)相互間的相關(guān)較強(qiáng)的方式對(duì)針對(duì)多個(gè)光記錄介質(zhì)的記錄參數(shù)最佳值與所述記錄參數(shù)推薦值之間的各個(gè)參數(shù)差分值統(tǒng)計(jì)求出的各參數(shù)的矢量成分， 所述近似系數(shù)是通過對(duì)轉(zhuǎn)換信息與表示各光記錄介質(zhì)的特征的特征信息之間的關(guān)系進(jìn)行近似而求出的近似系數(shù)，該轉(zhuǎn)換信息表示所述矢量信息與所述參數(shù)差分值之間的關(guān)系，該特征信息是根據(jù)所述記錄參數(shù)推薦值和所述矢量信息求出的。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的光記錄裝置，其特征在于，所述轉(zhuǎn)換信息是將所述矢量信息作為線性方程式的系數(shù)、將所述參數(shù)差分值作為所述線性方程式的常數(shù)時(shí)的線性方程式的解，所述特征信息是通過對(duì)所述記錄參數(shù)推薦值的各參數(shù)進(jìn)行基于所述矢量信息的加權(quán)而求出的、表示各光記錄介質(zhì)的特征的特征信息，所述近似系數(shù)是針對(duì)多個(gè)光記錄介質(zhì)求出的、通過對(duì)所述轉(zhuǎn)換信息與所述特征信息之間的關(guān)系進(jìn)行近似而求出的近似系數(shù)。
13.—種光記錄裝置，該光記錄裝置按照由與記錄數(shù)據(jù)長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)的多個(gè)參數(shù)構(gòu)成的記錄參數(shù)，在光記錄介質(zhì)上照射激光，從而在光記錄介質(zhì)中記錄信息，其特征在于，該光記錄裝置具有記錄條件推薦值讀取單元，其從記錄有記錄參數(shù)的推薦值的光記錄介質(zhì)中讀取所述記錄參數(shù)的推薦值；特征信息計(jì)算單元，其根據(jù)由所述記錄參數(shù)推薦值讀取單元讀取出的記錄參數(shù)推薦值與預(yù)先求出的矢量信息之積，計(jì)算表示各光記錄介質(zhì)的特征的特征信息；差分值提取單元，其從存儲(chǔ)單元中提取對(duì)應(yīng)于由所述特征信息計(jì)算單元計(jì)算出的所述特征信息而預(yù)先確定并存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)單元中的、光記錄介質(zhì)的所述記錄參數(shù)推薦值與在記錄中應(yīng)該使用的記錄參數(shù)最佳值之間的差分值；記錄參數(shù)決定單元，其通過對(duì)由所述差分值提取單元提取出的所述差分值加上所述記錄參數(shù)推薦值，決定在記錄中使用的記錄參數(shù)；以及寫入單元，其使用所求出的記錄參數(shù)，通過所述記錄裝置進(jìn)行針對(duì)所述光記錄介質(zhì)的寫入，所述矢量信息是按照加強(qiáng)參數(shù)相互間的相關(guān)性的方式對(duì)針對(duì)多個(gè)光記錄介質(zhì)的記錄參數(shù)最佳值與所述記錄參數(shù)推薦值之間的各個(gè)參數(shù)差分值統(tǒng)計(jì)求出的各參數(shù)的矢量成分。
14.根據(jù)權(quán)利要求11、12或13所述的光記錄裝置，其特征在于，所述矢量信息是通過對(duì)多個(gè)光記錄介質(zhì)預(yù)先調(diào)查光記錄介質(zhì)的所述記錄參數(shù)最佳值與所述記錄參數(shù)推薦值之間的各個(gè)參數(shù)差分值并對(duì)所述差分值進(jìn)行主成分分析而求出的主成分矢量。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的光記錄裝置，其特征在于，用于決定所述矢量信息的所述記錄參數(shù)最佳值是以如下方式進(jìn)行了優(yōu)化的值使記錄功率的變動(dòng)在可容許的范圍內(nèi)，并且能夠以低記錄功率得到良好的記錄性能。
16.根據(jù)權(quán)利要求14所述的光記錄裝置，其特征在于，用于決定所述矢量信息的所述記錄參數(shù)最佳值是以如下方式進(jìn)行了優(yōu)化的值使記錄功率或由寫策略規(guī)定的脈沖寬度的參數(shù)在多個(gè)光記錄介質(zhì)相互間為彼此接近的值。
17.根據(jù)權(quán)利要求11或12所述的光記錄裝置，其特征在于，事先在多個(gè)光記錄介質(zhì)中求出轉(zhuǎn)換信息與表示各光記錄介質(zhì)的特征的特征信息之間的關(guān)系，該轉(zhuǎn)換信息表示所述矢量信息與所述參數(shù)差分值之間的關(guān)系，該特征信息是根據(jù)所述記錄參數(shù)推薦值和所述矢量信息求出的，所述近似系數(shù)是通過對(duì)所述特征信息與所述轉(zhuǎn)換信息之間的關(guān)系進(jìn)行線性近似而求出的斜率和偏置。
18.—種光記錄裝置，該光記錄裝置按照由與記錄數(shù)據(jù)長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)的多個(gè)參數(shù)構(gòu)成的記錄參數(shù)，在光記錄介質(zhì)上照射激光，從而在光記錄介質(zhì)中記錄信息，其特征在于，該光記錄裝置具有記錄條件推薦值讀取單元，其從記錄有所述記錄參數(shù)的推薦值的光記錄介質(zhì)中讀取所述記錄參數(shù)的推薦值；記錄參數(shù)決定單元，其使用由所述記錄參數(shù)推薦值讀取單元讀取出的所述記錄參數(shù)推薦值和預(yù)先求出的近似系數(shù)，求出在記錄中應(yīng)該使用的記錄參數(shù)；以及寫入單元，其使用所求出的記錄參數(shù)，通過所述記錄裝置進(jìn)行針對(duì)所述光記錄介質(zhì)的寫入，所述近似系數(shù)是通過對(duì)如下差分量與記錄參數(shù)的推薦值之間的關(guān)系進(jìn)行近似而求出的，該差分量是多個(gè)光記錄介質(zhì)的記錄參數(shù)的推薦值與在記錄中應(yīng)該使用的記錄參數(shù)的最佳值之間的差分量。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的光記錄裝置，其特征在于，所述近似系數(shù)是通過對(duì)所述差分量與所述記錄參數(shù)的推薦值之間的關(guān)系進(jìn)行線性近似而求出的斜率和偏置。
20.根據(jù)權(quán)利要求11或18所述的光記錄裝置，其特征在于，該光記錄裝置還具有記錄性能判斷單元，其通過使用由所述記錄參數(shù)決定單元決定的記錄參數(shù)進(jìn)行試寫， 確認(rèn)記錄性能，判斷該記錄性能優(yōu)于預(yù)先確定的基準(zhǔn)記錄性能還是差于預(yù)先確定的基準(zhǔn)記錄性能；以及記錄參數(shù)修正單元，其在由所述記錄性能判斷單元判斷為差于基準(zhǔn)記錄性能的情況下，修正所述記錄參數(shù)，所述寫入單元在由所述記錄性能判斷單元判斷為優(yōu)于基準(zhǔn)記錄性能的情況下，使用在該試寫中使用的記錄參數(shù)進(jìn)行針對(duì)所述光記錄介質(zhì)的寫入，在求出所述近似系數(shù)時(shí)，事先求出針對(duì)各個(gè)記錄參數(shù)的近似精度， 在所述記錄參數(shù)修正單元中，優(yōu)先從所述近似精度差的記錄參數(shù)開始進(jìn)行記錄參數(shù)的修正。
全文摘要
使用從光記錄介質(zhì)中讀取出的記錄參數(shù)推薦值(WR)、預(yù)先求出的矢量信息(PC)和近似系數(shù)(Ca、Cb)，求出在記錄中應(yīng)該使用的記錄參數(shù)(WU)(S24)，使用所求出的記錄參數(shù)，進(jìn)行針對(duì)光記錄介質(zhì)的寫入(S17)。矢量信息(PC)是按照使參數(shù)相互間的相關(guān)較強(qiáng)的方式對(duì)針對(duì)多個(gè)光記錄介質(zhì)的記錄參數(shù)最佳值(WO)與記錄參數(shù)推薦值(WR)之間的各個(gè)參數(shù)差分值(DF)統(tǒng)計(jì)求出的各參數(shù)的矢量成分，近似系數(shù)(Ca、Cb)是通過對(duì)轉(zhuǎn)換信息(X)與表示各光記錄介質(zhì)的特征的特征信息(D)之間的關(guān)系進(jìn)行近似而求出的，該轉(zhuǎn)換信息(X)表示矢量信息(PC)與參數(shù)差分值(DF)之間的關(guān)系，該特征信息(D)是根據(jù)記錄參數(shù)推薦值(WR)和矢量信息(PC)求出的。
文檔編號(hào)G11B7/125GK102428516SQ20108002168
公開日2012年4月25日 申請(qǐng)日期2010年4月23日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月18日
發(fā)明者岸上智, 竹下伸夫 申請(qǐng)人:三菱電機(jī)株式會(huì)社