專利名稱：內(nèi)存條參數(shù)的測試方法及其測試設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于測試內(nèi)存條參數(shù)的測試方法及其測試設(shè)備。
背景技術(shù)：
通常，內(nèi)存條以及其他具有數(shù)據(jù)存儲功能的集成芯片正常工作的性能參數(shù)，如電壓、電流、功率等標(biāo)稱值，均標(biāo)示在廠家提供的該芯片的資料庫(Database)中。然而，標(biāo)示在資料庫中的性能參數(shù)的標(biāo)稱值往往與內(nèi)存條實際工作時的所展現(xiàn)的工作性能參數(shù)有一定出入，尤其是內(nèi)存條電源性能參數(shù)，例如輸入電流或者輸入功率，其往往標(biāo)定的是內(nèi)存條工作時的最大參數(shù)，例如最大輸入功率或者輸入電流。若直接采用所列性能參數(shù)的標(biāo)稱值，則在后續(xù)采用該內(nèi)存條進行電路板設(shè)計時，則不能完全利用內(nèi)存條的資源，造成資源的浪費。再或者技術(shù)人員為了防止后續(xù)設(shè)計出的電路板能夠可靠地工作，則保守地按照比標(biāo)稱值小較多的性能參數(shù)進行設(shè)計，有可能與該內(nèi)存條配合的電路模塊或者內(nèi)存條本身會出現(xiàn)工作不穩(wěn)定的情形，導(dǎo)致該后續(xù)設(shè)計出的電路板的準(zhǔn)確性與可靠性較差。。因此，為合理的設(shè)計具備該等內(nèi)存條的電路板，通常會對該電路板的電壓與電流輸入端進行測量，以測量值估算該內(nèi)存條的功耗。然而，由于電路板上設(shè)置有眾多的電路及布線，測量值實際體現(xiàn)的是這個電路板的總體功耗，而不能準(zhǔn)確的體現(xiàn)內(nèi)存條的實際功耗，且該總功耗也無法準(zhǔn)確地了解到該等內(nèi)存條所涉及到的不同工作狀態(tài)時的電壓或電流的情況。因此，此種測試方法仍然存在無法準(zhǔn)確、可靠地獲得芯片各性能參數(shù)的實際值，導(dǎo)致電路的準(zhǔn)確性與可靠性不高。

發(fā)明內(nèi)容
為解決現(xiàn)有技術(shù)中內(nèi)存條電源性能參數(shù)測試的準(zhǔn)確性與可靠性較差的技術(shù)問題，提供一種可提高內(nèi)存條電源性能參數(shù)的準(zhǔn)確性與可靠性的測試方法以及測試設(shè)備。ー種測試設(shè)備，其包括一主電路板、一連接器與ー測試模組，該連接器與該測試模組設(shè)置于該主電路板上，該測試模組經(jīng)由該連接器與主電路板電連接，該主電路板、該連接器與測試模組配合用于測試一待測試的內(nèi)存條的電源性能參數(shù)，該連接器包括若干連接端，該若干連接端中包括至少ー第一電源端，該至少一電源端用于連接對應(yīng)該內(nèi)存條的至少ー電源引腳，該測試模組用于測試該內(nèi)存條對應(yīng)該至少一第一電源端的電源性能參數(shù)。一種測試方法，以用于測試ー內(nèi)存條的電源性能參數(shù)，包括以下步驟
提供ー測試設(shè)備；
將該內(nèi)存條與該測試設(shè)備連接；
提供ー電源信號至該測試設(shè)備與該內(nèi)存條；及 該測試設(shè)備測試該內(nèi)存條的電源性能參數(shù)。相較于現(xiàn)有技術(shù)，在電路設(shè)計之前，通過將測試設(shè)備對內(nèi)存條不同工作狀態(tài)的性能參數(shù)進行測試，充分了解該內(nèi)存條的各個性能參數(shù)，從而有效提高后續(xù)電路設(shè)計的準(zhǔn)確性與可靠性。


圖1是為本發(fā)明ー實施方式中內(nèi)存條參數(shù)測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是如圖1所示測試設(shè)備的功能方框圖。圖3是本發(fā)明另ー實施方式中內(nèi)存條參數(shù)測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。圖4是本發(fā)明一內(nèi)存條參數(shù)測試方法的流程圖。主要元件符號說明
權(quán)利要求
1.一種測試設(shè)備，其特征在于，其包括一主電路板、一連接器與一測試模組，該連接器與該測試模組設(shè)置于該主電路板上，該測試模組經(jīng)由該連接器與主電路板電連接，該主電路板、該連接器與測試模組配合用于測試一待測試的內(nèi)存條的電源性能參數(shù)，該連接器包括若干連接端，該若干連接端中包括至少一第一電源端，該至少一電源端用于連接對應(yīng)該內(nèi)存條的至少一電源引腳，該測試模組用于測試該內(nèi)存條對應(yīng)該至少一第一電源端的電源性能參數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備，其特征在于，該測試模組包括有至少一測試端，該測試端電連接于該第一電源端，并且該至少一測試端的數(shù)目大于或等于該至少一第一電源端的數(shù)目。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試設(shè)備，其特征在于，除與該至少一第一電源端相連的該至少一測試端以外，該測試模組的其他測試端處于懸空狀態(tài)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試設(shè)備，其特征在于，該測試模組的該至少一測試端與連接器的該至少一第一電源端的設(shè)置位置相對應(yīng)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試設(shè)備，其特征在于，該連接器的若干連接端與該內(nèi)存條的若干引腳的功能保持一致，該測試模組插接于該連接器，該測試模組用于連接該內(nèi)存條。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任意一項所述的測試設(shè)備，其特征在于，該測試設(shè)備提供一預(yù)定程序使得該內(nèi)存條處于不同的工作狀態(tài)，該測試模組測試該該內(nèi)存條處于不同工作狀態(tài)的電源性能參數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試設(shè)備，其特征在于，該測試設(shè)備還包括一采樣單元、一處理單元以及一顯示單元，該采樣單元用于在計時完成后自該至少一測試端采集對應(yīng)該內(nèi)存條的電源性能參數(shù)，并且將采集結(jié)果輸出至該處理單元，該處理單元用于對該采集結(jié)果進行運算處理，該顯示單元用于對該采樣結(jié)果進行顯示。
8.—種測試方法，以用于測試一內(nèi)存條的電源性能參數(shù)，其特征在于，包括以下步驟 提供一如權(quán)利要求1所述的測試設(shè)備； 將該內(nèi)存條與該測試設(shè)備連接； 提供一電源信號至該測試設(shè)備與該內(nèi)存條；及 該測試設(shè)備測試該內(nèi)存條的電源性能參數(shù)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試方法，其特征在于，該電源性能參數(shù)包括有該內(nèi)存條至該至少一電源引腳輸入的電壓值與電流值以及將該電流值與該電壓值作運算處理后的功率值。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試方法，其特征在于，該測試設(shè)備提供預(yù)定程序至該內(nèi)存條以使得該內(nèi)存條分別處于不同的工作階段，該測試設(shè)備分別測試該內(nèi)存條處于不同工作狀態(tài)的電源性能參數(shù)。
全文摘要
本發(fā)明提供一種內(nèi)存條電源性能參數(shù)的測試設(shè)備與測試方法。測試設(shè)備包括主電路板、連接器與測試模組，該連接器與該測試模組設(shè)置于該主電路板上，該測試模組經(jīng)由該連接器與主電路板電連接，該主電路板、該連接器與測試模組配合用于測試待測試的內(nèi)存條的電源性能參數(shù)。該連接器包括若干連接端，該若干連接端中包括至少一第一電源端，該至少一電源端用于連接對應(yīng)該內(nèi)存條的至少一電源引腳，該測試模組用于測試該內(nèi)存條對應(yīng)該至少一第一電源端的電源性能參數(shù)。
文檔編號G11C29/56GK103035301SQ201110292899
公開日2013年4月10日 申請日期2011年10月6日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月6日
發(fā)明者陳鵬, 羅奇艷, 童松林 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司