專利名稱：硬盤性能的測試方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及計算機領(lǐng)域，并且特別地，涉及一種硬盤性能的測試方法和裝置。
背景技術(shù)：
目前，已經(jīng)提出了一些針對硬盤的IO性能進行測試的方案，這些方案可從不同角度進行測試并在不同程度上滿足對硬盤IO性能進行測試的要求，例如，能夠測試硬盤的順序讀寫速度、隨機讀寫速度、對指令的響應時間、尋道時間、潛伏時間、功耗等。但是這些測試方法和思路均需要人工手動操作相關(guān)軟件來完善。為了減少硬盤測試過程中人工操作量，目前也已經(jīng)提出了用于進行硬盤IO測試的軟件，這些測試軟件能夠?qū)τ脖P下達相應指令，并根據(jù)其反饋的結(jié)果進行分析與處理來判斷其性能。但是，這些軟件同樣需要借助操作員的手工操作才能夠完成相應的功能。由于已有的測試方案都依賴于人工參與，因此，這些方案只適用于小規(guī)模，實驗室級別的測試驗證，不適合生產(chǎn)線大規(guī)模部署。針對相關(guān)技術(shù)中硬盤IO測試需要借助人工操作而導致測試效率較低的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發(fā)明內(nèi)容
針對相關(guān)技術(shù)中硬盤IO測試需要借助人工操作而導致測試效率較低的問題，本發(fā)明提出一種硬盤性能的測試方法和裝置，能夠有效提高測試的效率。本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種硬盤性能的測試方法。該方法包括獲取需要測試的至少一個硬盤的參數(shù)信息；在預先配置的測試環(huán)境下對硬盤進行測試，讀取測試得到的測試結(jié)果、參數(shù)信息以及硬盤所在計算機的系統(tǒng)參數(shù)信息；根據(jù)讀取的參數(shù)信息、測試結(jié)果以及計算機的系統(tǒng)參數(shù)信息判斷硬盤的性能是否正
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巾ο在配置硬盤的測試環(huán)境之前，該方法進一步包括確定需要測試的每個硬盤的參數(shù)信息，并判斷需要測試的每個硬盤是否是磁盤冗余陣列RAID。并且，對于是RAID的硬盤，確定的該硬盤的參數(shù)信息包括以下至少之一 RAID卷數(shù)量、RAID級別、每卷中包含的磁盤數(shù)量；對于不是RAID的硬盤，確定的該硬盤的參數(shù)信息包括以下至少之一硬盤的型號、廠商信息。此外，在配置的測試環(huán)境下對硬盤進行測試包括對測試的硬盤進行數(shù)據(jù)寫入操作，硬盤以預定時間間隔返回寫入速率，將硬盤返回的寫入速率作為測試結(jié)果保存在預定日志文件中。其中，判斷硬盤的性能是否正常包括對于測試的每個硬盤，將該硬盤返回的寫入速率進行平均，得到平均速率；對于每個硬盤，將預定速率與該硬盤的平均速率進行比較， 其中，預定速率為與系統(tǒng)參數(shù)信息和該硬盤的參數(shù)信息所對應的速率閾值。
此外，在預先配置的測試環(huán)境下對硬盤進行測試包括如果一個被測硬盤為系統(tǒng)盤，則針對該硬盤的指定分區(qū)進行測試；如果一個被測硬盤為非系統(tǒng)盤，則針對該硬盤的全部分區(qū)進行測試。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種硬盤性能的測試裝置。根據(jù)本發(fā)明實施例的硬盤性能的測試裝置包括獲取模塊，用于獲取需要測試的至少一個硬盤的參數(shù)信息；測試模塊，用于在預先配置的測試環(huán)境下對硬盤進行測試；讀取模塊，用于讀取測試得到的測試結(jié)果、參數(shù)信息以及硬盤所在計算機的系統(tǒng)參數(shù)信息；分析模塊，用于根據(jù)讀取的參數(shù)信息、測試結(jié)果以及計算機的系統(tǒng)參數(shù)信息判斷硬盤的性能是否正常。其中，該裝置可以進一步包括確定模塊，用于在配置硬盤的測試環(huán)境之前，確定需要測試的每個硬盤的參數(shù)信息，并判斷需要測試的每個硬盤是否是RAID。此外，對于是RAID的硬盤，確定的該硬盤的參數(shù)信息包括以下至少之一 RAID卷數(shù)量、RAID級別、每卷中包含的磁盤數(shù)量；對于不是RAID的硬盤，確定的該硬盤的參數(shù)信息包括以下至少之一硬盤的型號、廠商信息。另外，測試模塊用于確定至少一個硬盤的寫入速率；并且，分析模塊用于對于測試的每個硬盤，將該硬盤返回的寫入速率進行平均，得到平均速率；并且，還用于對于每個硬盤，將預定速率與該硬盤的平均速率進行比較，其中，預定速率為與系統(tǒng)參數(shù)信息和該硬盤的參數(shù)信息所對應的速率閾值。本發(fā)明通過獲取硬盤的參數(shù)信息和系統(tǒng)信息，并根據(jù)該參數(shù)信息和系統(tǒng)信息判斷實際測得的硬盤性能是否正常，能夠?qū)崿F(xiàn)硬盤的自動化測試，提高測試的效率，同時保證測試的準確性。


圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的硬盤性能的測試方法的流程圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的硬盤性能的測試裝置的框圖。
具體實施例方式根據(jù)本發(fā)明的實施例，提供了一種硬盤性能的測試方法。如圖1所示，根據(jù)本發(fā)明實施例的硬盤性能的測試方法包括步驟S101，獲取需要測試的至少一個硬盤的參數(shù)信息；步驟S103，在預先配置的測試環(huán)境下對硬盤進行測試，讀取測試得到的測試結(jié)果、 參數(shù)信息以及硬盤所在計算機的系統(tǒng)參數(shù)信息；步驟S105，根據(jù)讀取的參數(shù)信息、測試結(jié)果以及計算機的系統(tǒng)參數(shù)信息判斷硬盤的性能是否正常。其中，在配置硬盤的測試環(huán)境之前，該方法可以進一步包括確定需要測試的每個硬盤的參數(shù)信息，并判斷需要測試的每個硬盤是否是磁盤冗余陣列(Redundant Array of Independent Disk，簡稱為 RAID)。并且，對于是RAID的硬盤，確定的該硬盤的參數(shù)信息包括以下至少之一 RAID卷數(shù)量、RAID級別、每卷中包含的磁盤數(shù)量；另一方面，對于不是RAID的硬盤，確定的該硬盤的參數(shù)信息包括以下至少之一硬盤的型號、廠商信息。當在配置的測試環(huán)境下對硬盤進行測試時，可以對測試的硬盤進行數(shù)據(jù)寫入操作，硬盤以預定時間間隔返回寫入速率，將硬盤返回的寫入速率作為測試結(jié)果保存在預定日志文件中。并且，在判斷硬盤的性能是否正常時，可以執(zhí)行以下處理對于測試的每個硬盤， 將該硬盤返回的寫入速率進行平均，得到平均速率；對于每個硬盤，將預定速率與該硬盤的平均速率進行比較，其中，預定速率為與系統(tǒng)參數(shù)信息和該硬盤的參數(shù)信息所對應的速率閾值。此外，如果一個被測硬盤為系統(tǒng)盤，則在測試時，需要針對該硬盤的指定分區(qū)進行測試，避免損壞系統(tǒng)文件；如果一個被測硬盤為非系統(tǒng)盤，則可以針對該硬盤的全部分區(qū)進行測試。在實際應用中，可以通過以下步驟來實現(xiàn)根據(jù)本發(fā)明實施例的硬盤測試方案步驟1 判斷系統(tǒng)中的硬盤數(shù)量和所對應盤符(這里的盤符可以是硬盤的位置符)；步驟2 判斷硬盤的型號與廠商信息，并根據(jù)此信息判斷硬盤是否已經(jīng)做了 RAID (是否已經(jīng)是RAID)。步驟3 根據(jù)步驟2讀取的信息，調(diào)用相關(guān)廠商提供的命令接口，讀取相關(guān)RAID陣列的具體信息，例如，可以讀取RAID卷數(shù)量，RAID級別，每卷中包含的硬盤數(shù)量等，之后將 RAID信息寫入記錄文件，為之后判斷通過與否做準備。步驟4 如果是非RAID，則根據(jù)廠商不同，進行相應硬盤型號的判斷。并寫入記錄文件。(通過步驟3和步驟4，相當于獲取了硬盤的參數(shù)信息)步驟5 將所需庫拷貝到相應目錄，為運行測試程序做準備。步驟6 先進行系統(tǒng)盤的測試，將待測硬盤掛在到之前設(shè)定好的制定目錄，運行測試程序，數(shù)據(jù)塊大小為64MB(也可以是其他大小的數(shù)據(jù)塊)，順序?qū)懭?，?0秒反饋一次結(jié)果(也可以根據(jù)其他長度的時間周期反饋結(jié)果)，并將結(jié)果寫入到指定日志中，運行5分鐘 (測試的執(zhí)行時間長度可以根據(jù)實際需要改變)之后結(jié)束。步驟7 如有非系統(tǒng)盤，則依次在每個非系統(tǒng)盤上運行一次測試程序。測試過程同上，5分鐘后結(jié)束(測試的執(zhí)行時間長度可以根據(jù)實際需要改變)，并將結(jié)果寫入對應的日志文件。步驟8 依次讀出系統(tǒng)盤與非系統(tǒng)盤的測試結(jié)果日志，并對結(jié)果求平均值，將求平均的結(jié)果寫入指定文件。步驟9 讀取系統(tǒng)的硬件信息，判斷主板、CPU、主機序列號等信息，并寫入相應文件。步驟10 讀取出之前記錄在日志中的硬盤型號，RAID級別，RAID卷數(shù)量，RAID卷中的磁盤數(shù)量信息，并同時讀取硬盤速度閾值信息，步驟8的結(jié)果取出，與對應型號硬盤或?qū)腞AID卷的閥值進行比較。其中，上述的速率閾值信息可以以表格的形式進行預先保存，例如，其中可以包含各種系統(tǒng)參數(shù)和硬盤參數(shù)的組合以及所對應的速率閾值，通過將表格中的速率閾值與測試得到的平均速率值進行比較就能夠結(jié)合實際的硬盤型號和系統(tǒng)狀況判斷硬盤的速率是否正常。
步驟11 顯示步驟10的比較結(jié)果，對通過測試和未通過測試的硬盤進行標識，例如，可以通過不同顏色的標識來表示硬盤是否通過測試，例如，通過的硬盤用藍色顯示，未通過測試的硬盤用紅色警示顯示，并將各個硬盤的測試結(jié)果寫入日志文件。步驟12 :(可選)將日志結(jié)果上傳至相關(guān)服務(wù)器，方便判斷與診斷。通過上述處理，相比于相關(guān)技術(shù)中通過手工運行測試程序針對各個硬盤進行逐個測試，并手工比較閥值進行判斷的方案，能夠顯著提高了測試的執(zhí)行效率，單位時間內(nèi)進行測試的系統(tǒng)數(shù)量比手工運行測試提高10倍以上，并且有助于結(jié)合生產(chǎn)自動化部署系統(tǒng)進行自動化部署，可以進一步提高測試效率，實現(xiàn)整個系統(tǒng)的全自動測試。除了上述實現(xiàn)方式之外，還可以采用鍵盤鼠標記錄的方式進行自動化運行與自動化比較結(jié)果。并且，可以使用程序語言(如C，C++, VB, Java等)進行結(jié)構(gòu)化編程，直接創(chuàng)造出一塊進行自動化硬盤IO性能測試的軟件。采用上述方案的邏輯與思路，可直接實現(xiàn)相應功能。根據(jù)本發(fā)明的實施例，還提供了一種硬盤性能的測試裝置。如圖2所示，根據(jù)本發(fā)明實施例的硬盤性能的測試裝置包括獲取模塊21，用于獲取需要測試的至少一個硬盤的參數(shù)信息；測試模塊22，用于在預先配置的測試環(huán)境下對硬盤進行測試；讀取模塊23，連接至獲取模塊21和測試模塊22，用于讀取測試得到的測試結(jié)果、 參數(shù)信息以及硬盤所在計算機的系統(tǒng)參數(shù)信息；分析模塊M，連接至讀取模塊23，用于根據(jù)讀取的參數(shù)信息、測試結(jié)果以及計算機的系統(tǒng)參數(shù)信息判斷硬盤的性能是否正常。該裝置可以進一步包括確定模塊(未示出)，用于在配置硬盤的測試環(huán)境之前， 確定需要測試的每個硬盤的參數(shù)信息，并判斷需要測試的每個硬盤是否是RAID。此外，對于是RAID的硬盤，確定的該硬盤的參數(shù)信息包括以下至少之一 RAID卷數(shù)量、RAID級另I」、每卷中包含的磁盤數(shù)量；而對于不是RAID的硬盤，確定的該硬盤的參數(shù)信息包括以下至少之一硬盤的型號、廠面信息。應當注意，盡管之前以測試硬盤IO速率性能為例進行了描述，但是，本發(fā)明的測試方案還可以統(tǒng)計和測試硬盤的其他方面性能，只需要配置不同硬盤參數(shù)信息、系統(tǒng)參數(shù)信息所對應的該性能指標的對應關(guān)系，即可根據(jù)對應關(guān)系對實際測得的指標進行比較，并判斷該指標是否正常。此外，測試模塊用于確定至少一個硬盤的寫入速率；并且，分析模塊用于對于測試的每個硬盤，將該硬盤返回的寫入速率進行平均，得到平均速率；并且，分析模塊還用于對于每個硬盤，將預定速率與該硬盤的平均速率進行比較，其中，預定速率為與系統(tǒng)參數(shù)信息和該硬盤的參數(shù)信息所對應的速率閾值。綜上所述，借助于本發(fā)明的上述技術(shù)方案，通過獲取硬盤的參數(shù)信息和系統(tǒng)信息， 并根據(jù)該參數(shù)信息和系統(tǒng)信息判斷實際測得的硬盤性能是否正常，能夠?qū)崿F(xiàn)硬盤的自動化測試，提高測試的效率，同時保證測試的準確性。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種硬盤性能的測試方法，其特征在于，包括 獲取需要測試的至少一個硬盤的參數(shù)信息；在預先配置的測試環(huán)境下對所述硬盤進行測試，讀取測試得到的測試結(jié)果、所述參數(shù)信息以及所述硬盤所在計算機的系統(tǒng)參數(shù)信息；根據(jù)讀取的所述參數(shù)信息、所述測試結(jié)果以及所述計算機的系統(tǒng)參數(shù)信息判斷所述硬盤的性能是否正常。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，在配置硬盤的測試環(huán)境之前，所述方法進一步包括確定需要測試的每個硬盤的參數(shù)信息，并判斷需要測試的每個硬盤是否是磁盤冗余陣列 RAID。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，對于是RAID的硬盤，確定的該硬盤的參數(shù)信息包括以下至少之一 RAID卷數(shù)量、RAID 級別、每卷中包含的磁盤數(shù)量；對于不是RAID的硬盤，確定的該硬盤的參數(shù)信息包括以下至少之一硬盤的型號、廠商信息。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，在配置的所述測試環(huán)境下對所述硬盤進行測試包括對測試的硬盤進行數(shù)據(jù)寫入操作，所述硬盤以預定時間間隔返回寫入速率，將所述硬盤返回的寫入速率作為測試結(jié)果保存在預定日志文件中。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試方法，其特征在于，判斷所述硬盤的性能是否正常包括 對于測試的每個硬盤，將該硬盤返回的寫入速率進行平均，得到平均速率；對于每個硬盤，將預定速率與該硬盤的平均速率進行比較，其中，所述預定速率為與所述系統(tǒng)參數(shù)信息和該硬盤的參數(shù)信息所對應的速率閾值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，在預先配置的測試環(huán)境下對所述硬盤進行測試包括如果一個被測硬盤為系統(tǒng)盤，則針對該硬盤的指定分區(qū)進行測試； 如果一個被測硬盤為非系統(tǒng)盤，則針對該硬盤的全部分區(qū)進行測試。
7.—種硬盤性能的測試裝置，其特征在于，包括獲取模塊，用于獲取需要測試的至少一個硬盤的參數(shù)信息； 測試模塊，用于在預先配置的測試環(huán)境下對所述硬盤進行測試； 讀取模塊，用于讀取測試得到的測試結(jié)果、所述參數(shù)信息以及所述硬盤所在計算機的系統(tǒng)參數(shù)信息；分析模塊，用于根據(jù)讀取的所述參數(shù)信息、所述測試結(jié)果以及所述計算機的系統(tǒng)參數(shù)信息判斷所述硬盤的性能是否正常。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試裝置，其特征在于，進一步包括確定模塊，用于在配置硬盤的測試環(huán)境之前，確定需要測試的每個硬盤的參數(shù)信息，并判斷需要測試的每個硬盤是否是RAID。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試裝置，其特征在于，對于是RAID的硬盤，確定的該硬盤的參數(shù)信息包括以下至少之一 RAID卷數(shù)量、RAID級別、每卷中包含的磁盤數(shù)量；對于不是RAID的硬盤，確定的該硬盤的參數(shù)信息包括以下至少之一硬盤的型號、廠商信息。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試方法，其特征在于， 所述測試模塊用于確定所述至少一個硬盤的寫入速率；并且，所述分析模塊用于對于測試的每個硬盤，將該硬盤返回的寫入速率進行平均，得到平均速率；并且，還用于對于每個硬盤，將預定速率與該硬盤的平均速率進行比較，其中， 所述預定速率為與所述系統(tǒng)參數(shù)信息和該硬盤的參數(shù)信息所對應的速率閾值。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種硬盤性能的測試方法和裝置，其中，該方法包括獲取需要測試的至少一個硬盤的參數(shù)信息；在預先配置的測試環(huán)境下對硬盤進行測試，讀取測試得到的測試結(jié)果、參數(shù)信息以及硬盤所在計算機的系統(tǒng)參數(shù)信息；根據(jù)讀取的參數(shù)信息、測試結(jié)果以及計算機的系統(tǒng)參數(shù)信息判斷硬盤的性能是否正常。本發(fā)明通過獲取硬盤的參數(shù)信息和系統(tǒng)信息，并根據(jù)該參數(shù)信息和系統(tǒng)信息判斷實際測得的硬盤性能是否正常，能夠?qū)崿F(xiàn)硬盤的自動化測試，提高測試的效率，同時保證測試的準確性。
文檔編號G11B20/18GK102568522SQ201110456279
公開日2012年7月11日 申請日期2011年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月31日
發(fā)明者劉建鋒, 劉流, 趙雷 申請人:曙光信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司