專利名稱：內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及計(jì)算機(jī)領(lǐng)域，特別涉及一種內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板。
背景技術(shù)：
隨著時(shí)鐘速率和數(shù)據(jù)傳輸速度不斷增加和性能的提高，必須保證系統(tǒng)的性能指標(biāo)，或確保系統(tǒng)內(nèi)部存儲(chǔ)器和存儲(chǔ)器控制設(shè)備的互操作性，存儲(chǔ)器子系統(tǒng)的模擬信號(hào)完整性已成為設(shè)計(jì)工程師越來(lái)越多重點(diǎn)考慮的問(wèn)題。許多性能問(wèn)題，甚至在協(xié)議層發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題， 也可以追溯到信號(hào)完整性問(wèn)題。因此，存儲(chǔ)器的模擬信號(hào)完整性驗(yàn)證的重要性已經(jīng)成為很多電子設(shè)計(jì)驗(yàn)證的關(guān)鍵一步。需要對(duì)內(nèi)存數(shù)據(jù)傳輸中的抖動(dòng)、定時(shí)和電氣信號(hào)質(zhì)量進(jìn)行測(cè)試，但這些測(cè)試是一個(gè)大大的挑戰(zhàn)，因?yàn)檫M(jìn)行這些測(cè)試很可能是一個(gè)復(fù)雜而又耗時(shí)的任務(wù)。 現(xiàn)有的服務(wù)器系統(tǒng)中，為了實(shí)現(xiàn)對(duì)內(nèi)存信號(hào)的測(cè)試，要么事先在內(nèi)存條上預(yù)留測(cè)試點(diǎn)或拆下內(nèi)存顆粒，很不方便。更何況在某些情況下，最終產(chǎn)品設(shè)計(jì)不允許電路板上留有探接測(cè)試點(diǎn)，這就給內(nèi)存信號(hào)的測(cè)試帶來(lái)更多的麻煩。

實(shí)用新型內(nèi)容針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的相關(guān)技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型的目的在于提供一種內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板，以改善現(xiàn)有技術(shù)中內(nèi)存信號(hào)測(cè)試?yán)щy的問(wèn)題。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供一種內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板，包括內(nèi)存條接口，以可插拔方式與內(nèi)存條電連接；內(nèi)存槽接口，以可插拔方式與主板的內(nèi)存槽電連接；其中，內(nèi)存條接口和內(nèi)存槽接口的對(duì)應(yīng)管腳之間通過(guò)連接線電連接，并且在連接線上電連接有內(nèi)存信號(hào)測(cè)試點(diǎn)。優(yōu)選地，內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板為印刷電路板。優(yōu)選地，內(nèi)存信號(hào)包括數(shù)據(jù)輸入輸出信號(hào)(DQ0-DQ63)、數(shù)據(jù)選通信號(hào)(DQS)、電源信號(hào)(VDD)、時(shí)鐘信號(hào)(CK)、地址信號(hào)(A0-A15)、數(shù)據(jù)寫信號(hào)(WE#)、選通信號(hào)(CS#)、和/ 或地信號(hào)(GND)。優(yōu)選地，內(nèi)存信號(hào)測(cè)試探頭點(diǎn)觸或者焊接在所述內(nèi)存信號(hào)測(cè)試點(diǎn)上。優(yōu)選地，內(nèi)存條接口位于內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板的一側(cè)，內(nèi)存槽接口位于內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板的另一側(cè)。相比于現(xiàn)有技術(shù)而言，本實(shí)用新型的有益效果在于由于印刷電路板的走線長(zhǎng)度比較短，對(duì)信號(hào)衰減的影響很小。在印刷電路板上探測(cè)到的待測(cè)內(nèi)存條的測(cè)試信號(hào)的完整性通常是很好的，完全可以進(jìn)行電氣特性的測(cè)試。本實(shí)用新型利用印刷電路板與主板和內(nèi)存條分別以可插拔方式電連接，并在該印刷電路板上設(shè)置內(nèi)存信號(hào)測(cè)試點(diǎn)，使得測(cè)試探頭可以很方便地點(diǎn)觸或者焊接在內(nèi)存信號(hào)測(cè)試點(diǎn)3上，從而進(jìn)行內(nèi)存信號(hào)的測(cè)試。這種測(cè)試方式既不破壞主板，也不破壞內(nèi)存條，又能方便地進(jìn)行內(nèi)存信號(hào)測(cè)試，是對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的有效改善。
圖1是本實(shí)用新型內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板的立體圖。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型具體實(shí)施方式
進(jìn)行描述。參考圖1，本實(shí)用新型提供一種內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板。根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例，該內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板為印刷電路板。該內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板的一側(cè)為內(nèi)存條接口 1，另一側(cè)為內(nèi)存槽接口 2。其中，內(nèi)存條接口 1以可插拔方式與待測(cè)的內(nèi)存條(未示出)電連接，內(nèi)存槽接口 2以可插拔方式與主板(未示出)的內(nèi)存槽電連接。并且，根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例，內(nèi)存條接口 1和內(nèi)存槽接口 2均為標(biāo)準(zhǔn)件。其中，內(nèi)存條接口 1和內(nèi)存槽接口 2的對(duì)應(yīng)管腳之間通過(guò)印刷電路板的布線實(shí)現(xiàn)電連接。如此，當(dāng)內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板的內(nèi)存槽接口 2插入主板的內(nèi)存槽中、內(nèi)存條的金手指插入內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板的內(nèi)存條接口 1中時(shí)，主板可以通過(guò)內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板對(duì)待測(cè)的內(nèi)存模塊進(jìn)行讀寫。在讀寫的過(guò)程中，在印刷電路板上可產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)。印刷電路板的走線長(zhǎng)度比較短，對(duì)信號(hào)衰減的影響很小。在印刷電路板上探測(cè)到的待測(cè)內(nèi)存的測(cè)試信號(hào)的完整性通常是很好的，可以進(jìn)行電氣特性的測(cè)試。根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例，在內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板布線時(shí)，對(duì)需要測(cè)試的關(guān)鍵信號(hào)，例如數(shù)據(jù)輸入輸出信號(hào)(DQ0-DQ63)、數(shù)據(jù)選通信號(hào)(DQS)、電源信號(hào)(VDD)、時(shí)鐘信號(hào)(CK)、地址信號(hào)(A0-A15)、數(shù)據(jù)寫信號(hào)(WE#)、選通信號(hào)(CS#)、和/或地信號(hào)(GND)等，預(yù)留內(nèi)存信號(hào)測(cè)試點(diǎn)3。該內(nèi)存信號(hào)測(cè)試點(diǎn)3與內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板的布線電連接。這樣，就可以將測(cè)試探頭點(diǎn)觸或者焊接在內(nèi)存信號(hào)測(cè)試點(diǎn)3上，進(jìn)行內(nèi)存信號(hào)的測(cè)試。這種測(cè)試方式既不破壞主板，也不破壞內(nèi)存條，又能方便地進(jìn)行內(nèi)存信號(hào)測(cè)試。以上所述僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本實(shí)用新型，對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，本實(shí)用新型可以有各種更改和變化。凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板，其特征在于，包括內(nèi)存條接口(1)，以可插拔方式與內(nèi)存條電連接；內(nèi)存槽接口 O)，以可插拔方式與主板的內(nèi)存槽電連接；其中，所述內(nèi)存條接口(1)和內(nèi)存槽接口( 的對(duì)應(yīng)管腳之間通過(guò)連接線電連接，并且在所述連接線上電連接有內(nèi)存信號(hào)測(cè)試點(diǎn)(3)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板，其特征在于，所述內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板為印刷電路板。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板，其特征在于，所述內(nèi)存信號(hào)包括數(shù)據(jù)輸入輸出信號(hào)(DQ0-DQ63)、數(shù)據(jù)選通信號(hào)(DQS)、電源信號(hào)(VDD)、時(shí)鐘信號(hào)(CK)、地址信號(hào) (A0-A15)、數(shù)據(jù)寫信號(hào)(WE#)、選通信號(hào)(CS#)、和/或地信號(hào)(GND)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板，其特征在于，內(nèi)存信號(hào)測(cè)試探頭點(diǎn)觸或者焊接在所述內(nèi)存信號(hào)測(cè)試點(diǎn)( 上。
5.根據(jù)權(quán)利要求1、2、和4中任一項(xiàng)所述的內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板，其特征在于，所述內(nèi)存條接口(1)位于所述內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板的一側(cè)，所述內(nèi)存槽接口( 位于所述內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板的另一側(cè)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種內(nèi)存信號(hào)測(cè)試板，包括內(nèi)存條接口，以可插拔方式與內(nèi)存條電連接；內(nèi)存槽接口，以可插拔方式與主板的內(nèi)存槽電連接；其中，內(nèi)存條接口和內(nèi)存槽接口的對(duì)應(yīng)管腳之間通過(guò)連接線電連接，并且在連接線上電連接有內(nèi)存信號(hào)測(cè)試點(diǎn)。本實(shí)用新型既不破壞主板，也不破壞內(nèi)存條，又能方便地進(jìn)行內(nèi)存信號(hào)測(cè)試，是對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的有效改善。
文檔編號(hào)G11C29/56GK202332304SQ20112047294
公開日2012年7月11日 申請(qǐng)日期2011年11月24日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月24日
發(fā)明者李華 申請(qǐng)人:曙光信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司