專利名稱：空傳振動管理的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本公開涉及對空傳振動(air-borne vibration)的管理,具體地講,涉及對存儲設(shè)備測試系統(tǒng)中的空傳振動的管理。
背景技術(shù)：
存儲設(shè)備，例如硬盤驅(qū)動器，在運(yùn)行和制造期間易受振動影響。此外，硬盤驅(qū)動器 可在運(yùn)行期間生成其自身的振動。為了減輕振動的沖擊，在制造和測試期間硬盤驅(qū)動器經(jīng)常安裝在軟隔離器或彈簧上的框架內(nèi)，以減少傳遞通過機(jī)械底的振動量。過度振動可影響測試結(jié)果的可靠性和電連接的完整性。在測試條件下，驅(qū)動器自身可通過支承結(jié)構(gòu)或固定裝置將振動傳播到相鄰單元。此振動“串?dāng)_”和外部振動源一起會造成碰撞故障、磁頭松動和非重復(fù)性脫離磁道(NRRO)，從而可能導(dǎo)致較低的產(chǎn)量和增加的制造成本。當(dāng)前的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)采用自動化和結(jié)構(gòu)化支承系統(tǒng)，所述自動化和結(jié)構(gòu)化支承系統(tǒng)會造成系統(tǒng)中的過度振動并且/或者需要大的占用空間。在一些制造步驟過程中，磁盤驅(qū)動器媒體表面上記錄的伺服軌道品質(zhì)或其他數(shù)據(jù)直接受到在記錄期間傳遞到驅(qū)動器的振動量的影響。振動可借由驅(qū)動器電連接的機(jī)械方面(如，通過電纜)傳遞通過底座中驅(qū)動器的機(jī)械底托，或傳遞通過空氣。通過空氣的振動傳遞實(shí)質(zhì)上可為聲學(xué)振動或流體振動，并且可以直接傳遞到驅(qū)動器，或借由中間機(jī)械連接間接傳遞。磁盤驅(qū)動器制造系統(tǒng)內(nèi)部的空氣中振動的常見來源為系統(tǒng)冷卻風(fēng)扇；磁盤驅(qū)動器本地的任何冷卻風(fēng)扇；自動化的運(yùn)動(如果有的話)；壓縮機(jī)、泵或其他冷卻組件；以及來自工廠其余部分的環(huán)境噪聲。由這些來源產(chǎn)生的振動在實(shí)質(zhì)上通常為寬頻的，從而影響磁盤驅(qū)動器的許多操作。

發(fā)明內(nèi)容
本公開整體上涉及對空傳振動的管理，具體地講，涉及對存儲設(shè)備測試系統(tǒng)中的空傳振動的管理。本公開的一個方面提供了一種存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括支架和振動管理材料。支架包括至少一個被構(gòu)造為接納要測試的存儲設(shè)備的測試槽。測試槽在至少一側(cè)大體暴露于空氣。振動管理材料能夠吸收和/或擴(kuò)散空傳振動。設(shè)置振動管理材料，以便對耦合(如，聲學(xué)耦合)到測試槽的空傳振動進(jìn)行衰減。本公開的具體實(shí)施可以包括以下一個或多個特征。在一些具體實(shí)施中，存儲設(shè)備測試系統(tǒng)還包括被布置在空傳振動路徑內(nèi)的障礙物，并且振動管理材料被施加到障礙物表面。在一些情況下，障礙物為存儲設(shè)備測試系統(tǒng)內(nèi)的另一個支架、與存儲設(shè)備測試系統(tǒng)相連的自動化機(jī)械或包封存儲設(shè)備測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。在一些具體實(shí)施中，振動管理材料包括吸收片和/或擴(kuò)散片。在某些具體實(shí)施中，存儲設(shè)備測試系統(tǒng)還包括空傳振動的來源?？諅髡駝拥膩碓纯蔀楣娘L(fēng)機(jī)、泵、壓縮機(jī)和/或空調(diào)通風(fēng)口。在一些具體實(shí)施中，支架包括出口，以及至少一個被構(gòu)造為將空氣流移出支架出口的鼓風(fēng)機(jī)。振動管理材料可以設(shè)置在從支架出口排出的空氣流路徑內(nèi)。存儲設(shè)備測試系統(tǒng)還可包括與所述至少一個測試槽流體連通的空氣導(dǎo)管，并且所述至少一個鼓風(fēng)機(jī)可以被構(gòu)造為將空氣流從空氣導(dǎo)管移出并且朝著支架出口移動。在某些具體實(shí)施中，存儲設(shè)備測試系統(tǒng)還包括沿著支架出口設(shè)置并且被布置為將 從支架出口排出的空氣流朝著振動管理材料導(dǎo)向的管道。在一些具體實(shí)施中，振動管理材料包括沿著支架出口設(shè)置的擴(kuò)散片。在某些具體實(shí)施中，存儲設(shè)備測試系統(tǒng)還包括被布置為抵消空傳振動的聲學(xué)設(shè)備(如，揚(yáng)聲器)。本公開的另一方面提供了包括支架和聲學(xué)設(shè)備的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)。支架包括至少一個被構(gòu)造為接納要測試的存儲設(shè)備的測試槽、空氣導(dǎo)管、出口、以及至少一個被構(gòu)造為將空氣流從支架出口移出的鼓風(fēng)機(jī)。聲學(xué)設(shè)備被布置為抵消源自所述至少一個鼓風(fēng)機(jī)的空傳振動。本公開的具體實(shí)施可以包括以下一個或多個特征。在某些具體實(shí)施中，存儲設(shè)備測試系統(tǒng)還包括與至少一個測試槽流體連通的空氣導(dǎo)管。所述至少一個鼓風(fēng)機(jī)被構(gòu)造為將空氣流從空氣導(dǎo)管中移出并且朝著支架出口移動。在一些具體實(shí)施中，聲學(xué)設(shè)備包括揚(yáng)聲器。在某些具體實(shí)施中，聲學(xué)設(shè)備沿著支架出口設(shè)置。本公開的又一方面提供了包括空傳振動的來源以及被設(shè)置在從所述來源發(fā)出的空傳振動路徑內(nèi)的振動管理材料的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)。振動管理材料能夠吸收和/或擴(kuò)散空傳振動。本公開的具體實(shí)施可以包括以下一個或多個特征。在一些具體實(shí)施中，振動管理材料包括鄰近空傳振動的來源設(shè)置的擴(kuò)散片。在某些具體實(shí)施中，振動管理材料包括吸收片和/或擴(kuò)散片。在某些具體實(shí)施中，存儲設(shè)備測試系統(tǒng)還包括被布置在從空傳振動的來源發(fā)出的空傳振動路徑內(nèi)的障礙物，并且振動管理材料被施加到該障礙物的表面。在一些例子中，障礙物為存儲設(shè)備測試系統(tǒng)內(nèi)的支架、與存儲設(shè)備測試系統(tǒng)相連的自動化機(jī)械或包封存儲設(shè)備測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。在一些具體實(shí)施中，存儲設(shè)備測試系統(tǒng)包括被布置為抵消從所述來源發(fā)出的空傳振動的聲學(xué)設(shè)備。在某些具體實(shí)施中，所述來源包括鼓風(fēng)機(jī)、泵、壓縮機(jī)和/或空調(diào)通風(fēng)口。在一些具體實(shí)施中，存儲設(shè)備測試系統(tǒng)包括支架，該支架包括至少一個被構(gòu)造為接納要測試的存儲設(shè)備的測試槽，并且所述來源與支架相連(如，設(shè)置在支架內(nèi))。在某些具體實(shí)施中，存儲設(shè)備測試系統(tǒng)包括被布置為將從空傳振動的來源排出的空氣流朝著振動管理材料導(dǎo)向的管道。根據(jù)另一方面，存儲設(shè)備測試系統(tǒng)包括空傳振動的來源以及被布置為抵消從所述來源發(fā)出的空傳振動的聲學(xué)設(shè)備。本公開的具體實(shí)施可以包括以下一個或多個特征。
在一些具體實(shí)施中，聲學(xué)設(shè)備包括揚(yáng)聲器。在某些具體實(shí)施中，聲學(xué)設(shè)備鄰近空傳振動的來源設(shè)置。在又一方面，本公開提供了包括支架和振動管理材料的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)。支架包括至少一個被構(gòu)造為接納要測試的存儲設(shè)備的測試槽。振動管理材料設(shè)置在至少一個測試槽附近。振動管理材料能夠吸收和/或擴(kuò)散空傳振動。附圖和如下實(shí)施方式示出了本公開的一個或多個具體實(shí)施的詳細(xì)信息。通過所述實(shí)施方式和附圖以及通過權(quán)利要求書，其他特征、對象和優(yōu)點(diǎn)將顯而易見。


圖I為存儲設(shè)備測試系統(tǒng)的透視圖，該測試系統(tǒng)具有以大致環(huán)形構(gòu)型布置的支架。圖2為圖I所示存儲設(shè)備測試系統(tǒng)的俯視圖。圖3為存儲設(shè)備測試系統(tǒng)和轉(zhuǎn)運(yùn)站的透視圖。圖4A為存儲設(shè)備輸送器的側(cè)面透視圖。圖4B為圖4A所示存儲設(shè)備輸送器的前透視圖。圖4C為攜帶有存儲設(shè)備的存儲設(shè)備輸送器的底部透視圖。圖4D為接納存儲設(shè)備的存儲設(shè)備輸送器的側(cè)面透視圖。圖5A和5B為測試槽的透視圖，此測試槽正接納攜帶有存儲設(shè)備的存儲設(shè)備輸送器。圖5C為測試槽的后部透視圖。圖6A和6B為支架的透視圖，此支架正接納裝有測試槽的測試槽托架。圖7A和7B為存儲設(shè)備測試系統(tǒng)的支架的透視圖，其展示了經(jīng)由支架和支架所容納的測試槽的空氣流動路徑。圖8-10示出了用于對存儲設(shè)備測試系統(tǒng)中的空傳振動進(jìn)行衰減和/或分散的被動技術(shù)。圖11示出了用于消除存儲設(shè)備測試系統(tǒng)中的空傳振動的主動技術(shù)。圖12A和12B示出了包括空調(diào)通風(fēng)口作為空傳振動的來源的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)。圖13示出了包括液體泵作為空傳振動的來源的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)。圖14示出了包括基于壓縮機(jī)的空氣制冷單元作為空傳振動的來源的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)。不同附圖中的類似參考符號表示類似的元件。
具體實(shí)施例方式存儲設(shè)備(例如硬盤驅(qū)動器)的振動靈敏度已增加到了這樣的程度，使得經(jīng)空氣的振動傳遞現(xiàn)在對性能具有顯著影響。如將詳細(xì)所述，可以(如，在測試系統(tǒng)的測試槽附近)采用一種或多種被動振動衰減和/或分散技術(shù)和/或主動振動消除技術(shù)，以減小空傳振動對測試系統(tǒng)內(nèi)磁盤驅(qū)動器操作的影響。如本文所用，“附近”意指足夠近以有效管理來自一個或多個來源的空傳振動。如本文所用的存儲設(shè)備包括磁盤驅(qū)動器、固態(tài)驅(qū)動器、存儲器設(shè)備以及受益于異步驗(yàn)證測試的任何設(shè)備。磁盤驅(qū)動器通常為在具有磁性表面的快速轉(zhuǎn)動盤片上存儲數(shù)字編碼數(shù)據(jù)的非易失性存儲設(shè)備。固態(tài)驅(qū)動器(SSD)為使用固態(tài)存儲器存儲永久性數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)存儲設(shè)備。使用SRAM或DRAM (而非閃存)的SSD通常稱為RAM驅(qū)動器。術(shù)語“固態(tài)”一般來講用于區(qū)分固態(tài)電子器件和機(jī)電器件。如本文所用的空傳振動包括聲學(xué)振動和流體所傳振動,后者有時稱為風(fēng)振。參見圖1-3，在一些具體實(shí)施中，存儲設(shè)備測試系統(tǒng)100包括至少一個自動輸送器200 (如，自動控制裝置、機(jī)械臂、龍門系統(tǒng)或多軸線性致動器)，該輸送器限定了基本垂直于地面10的第一軸線205(參見圖3)。在所示例子中，自動輸送器200包括機(jī)械臂200，可操作該臂旋轉(zhuǎn)通過圍繞第一軸線205的預(yù)定弧線以及從第一軸線205徑向延伸?？刹僮鳈C(jī)械臂200，使其圍繞第一軸線205旋轉(zhuǎn)約360°，并且該機(jī)械臂包括設(shè)置在機(jī)械臂200的遠(yuǎn)端202的機(jī)械手210，以控制一個或多個存儲設(shè)備500和/或攜帶存儲設(shè)備500的存儲設(shè)備輸送器800(參見如圖4A-4D)。多個支架300圍繞機(jī)械臂200布置，以便由機(jī)械臂200提供服務(wù)。每個支架300容納多個測試槽330，這些測試槽被構(gòu)造為接納要測試的存儲設(shè)備500。機(jī)械臂200限定了大致圓柱形的工作包封空間220，支架300布置在工作包封220內(nèi)以使每個測試槽330可接近，以便由機(jī)械臂200提供服務(wù)。大致圓柱形的工作包封空間220提供緊湊的占有面積，并且通常僅在由高度約束的容量方面有所限制。在一些例子中，機(jī)械臂200被地面10上的基座250抬高并由其支承?；?50增大了工作包封空間220的尺寸，方式是允許機(jī)械臂200不僅向上伸出，而且向下伸出，以便為測試槽330提供服務(wù)?？赏ㄟ^為基座250添加垂直致動器進(jìn)一步增大工作包封空間220的尺寸?？刂破?00(如，計算機(jī)設(shè)備)與每個自動輸送器200和支架300連通。控制器400通過自動輸送器200協(xié)調(diào)測試槽330的服務(wù)。機(jī)械臂200被構(gòu)造為獨(dú)立地服務(wù)于每個測試槽330，以提供經(jīng)過測試系統(tǒng)100的存儲設(shè)備500連續(xù)流。單個存儲設(shè)備500組成的經(jīng)過測試系統(tǒng)100的連續(xù)流允許每個存儲設(shè)備500的開始時間和結(jié)束時間有所不同，而對于其他要求一次運(yùn)行一批存儲設(shè)備500作為整個測試負(fù)載的系統(tǒng)，必須全部具有相同的開始時間和結(jié)束時間。因此，形成連續(xù)的流時，不同容量的存儲設(shè)備500可根據(jù)需要同時運(yùn)行并接受服務(wù)(裝載/卸載)。參見圖1-3，存儲設(shè)備測試系統(tǒng)100包括轉(zhuǎn)運(yùn)站600，其被構(gòu)造用于將存儲設(shè)備500批量送入機(jī)械臂200。機(jī)械臂200通過在轉(zhuǎn)運(yùn)站600與測試槽330之間輸送存儲設(shè)備500，獨(dú)立地為每個測試槽330提供服務(wù)。轉(zhuǎn)運(yùn)站600容納有一個或多個裝載箱700，該裝載箱運(yùn)送多個存儲設(shè)備500以便由機(jī)械臂200提供服務(wù)。轉(zhuǎn)運(yùn)站600是用于將存儲設(shè)備500傳送到存儲設(shè)備測試系統(tǒng)100和將存儲設(shè)備從該存儲設(shè)備測試系統(tǒng)取回的服務(wù)點(diǎn)。裝載箱700
允許操作者將一組存儲設(shè)備500傳送到轉(zhuǎn)運(yùn)站600和從該轉(zhuǎn)運(yùn)站取回這組存儲設(shè)備。在圖3所示的例子中，可從遞送位置處的各自裝載箱遞送支承系統(tǒng)720接近每個裝載箱700，每個裝載箱可以指定為源裝載箱700以提供一組用于測試的存儲設(shè)備500，或指定為目的地裝載箱700以接納所測試的存儲設(shè)備500 (或同時指定為兩者)。目的地裝載箱700可以分類為“通過的回程裝載箱”或“失敗的回程裝載箱”，用于分別接納功能測試通過或失敗的各自存儲設(shè)備500。在使用存儲設(shè)備輸送器800 (圖4A-4D)來操縱存儲設(shè)備500的具體實(shí)施中，機(jī)械臂200被構(gòu)造為使用機(jī)械手210從其中一個測試槽330中移除存儲設(shè)備輸送器800，然后使用存儲設(shè)備輸送器800從轉(zhuǎn)運(yùn)站600或其他遞送系統(tǒng)(如，傳送帶、裝載/卸載工作站等)遞送的其中一個裝載箱700中拾取存儲設(shè)備500，然后使存儲設(shè)備輸送器800以及其中的存儲設(shè)備500返回測試槽330，以測試存儲設(shè)備500。測試完成后，機(jī)械臂200從測試槽330中取回已測試的存儲設(shè)備500，方式是從測試槽330中移除攜帶所測試存儲設(shè)備500的存儲設(shè)備輸送器800 (即，使用機(jī)械手210)，將存儲設(shè)備輸送器800中的所測試存儲設(shè)備500攜帶到轉(zhuǎn)運(yùn)站600，然后操縱存儲設(shè)備輸送器800以使所測試的存儲設(shè)備500返回轉(zhuǎn)運(yùn)站600或其他系統(tǒng)(如，傳送帶、裝載/卸載工作站等)的其中一個裝載箱700。如圖4A-4D所示，存儲設(shè)備輸送器800包括具有第一部分802和第二部分804的輸送器主體810。輸送器主體810的第一部分802包括被構(gòu)造為接納或以其他方式接合機(jī) 械手210來進(jìn)行輸送的操縱結(jié)構(gòu)812 (如，凹陷、凸出、孔洞等)。輸送器主體810的第二部分804被構(gòu)造為接納存儲設(shè)備500。圖4C-4D示出了示例性存儲設(shè)備500，其包括具有上表面512、下表面514、前表面516、后表面518、左表面520和右表面522的殼體510。存儲設(shè)備500通常以其后表面518基本上面向存儲設(shè)備輸送器主體810的第一部分802的方式被接納。輸送器主體810的第一部分802包括空氣導(dǎo)向器830，其限定了至少一個空氣入口832 (如孔洞、槽等)，用于將空氣接納到輸送器主體810的第一部分802以及將空氣導(dǎo)出到輸送器主體800的第二部分804，使得空氣可在所接納存儲設(shè)備500的至少上表面512和下表面514上方移動。參見圖5A-5C，每個測試槽330均包括測試槽殼體340。測試槽殼體340具有第一部分342和第二部分344。測試槽殼體340的第一部分342限定了設(shè)備開口 346，此開口的尺寸適于接納存儲設(shè)備500和/或攜帶存儲設(shè)備500的存儲設(shè)備輸送器800。測試槽殼體340的第二部分344包括空氣出口 348、電子器件390(如，電路板)和可選的鼓風(fēng)機(jī)900。電子器件390與測試槽連接器392連通，該連接器被構(gòu)造為接納存儲設(shè)備500的存儲設(shè)備連接器532并與其建立電氣連通。電子器件390還包括用于建立與支架300的電氣連通的槽支架連接器394?？蓪⒁苿哟┻^測試槽300的空氣導(dǎo)向至電子器件390上方。在圖6A和6B所示的例子中，每個支架300包括一個或多個托架容器310，每個托架容器都被構(gòu)造為接納攜帶一個或多個測試槽330的測試槽托架320。參見圖6B，每個支架300還包括空氣導(dǎo)管340 (也在圖7A和7B中示出)，此空氣導(dǎo)管提供各自支架300的每個測試槽330與支架300的出口 353之間的氣動連通。在一些具體實(shí)施中，空氣導(dǎo)管304由測試槽330與支架300的后壁303之間的空間形成?？諝鈱?dǎo)管304也可附接到支架300的外部，例如圖6B中所示的楔形導(dǎo)管304。在圖6B所示的例子中，空氣導(dǎo)管304 (也在圖7A和7B中示出)提供各自支架300的每個測試槽330與空氣熱交換器350之間的氣動連通?？諝鉄峤粨Q器350設(shè)置在遠(yuǎn)離所接納測試槽330的托架容器310的下方?？諝鉄峤粨Q器350包括限定了入口 351、出口 353和兩者間空氣流動路徑305的空氣熱交換器殼體352。在一些具體實(shí)施中，冷卻元件354設(shè)置在空氣流動路徑305中的殼體352內(nèi)，泵356用于將從空氣熱交換器350累積的冷凝傳送到蒸發(fā)器360 (蒸發(fā)器可以設(shè)置在空氣熱交換器350的各自支架300上，如，在托架容器310的上方)或傳送到排出裝置。空氣熱交換器350可以包括鼓風(fēng)機(jī)358，此鼓風(fēng)機(jī)使空氣從空氣導(dǎo)管304進(jìn)入冷卻元件354 (如果有)上方的空氣熱交換器殼體352的入口 351，然后將空氣移出空氣熱交換器殼體出口 353并移出支架300。圖7A-7B示出了空氣經(jīng)由測試槽330和支架300的流動路徑305，該路徑用于調(diào)節(jié)存儲設(shè)備測試系統(tǒng)100中接納的存儲設(shè)備500的溫度。支架300中容納的每個測試槽330的鼓風(fēng)機(jī)900幫助將空氣流從支架300的外部空間移入測試槽330中所接納存儲設(shè)備輸送器800的空氣導(dǎo)向器830的至少一個入口 832?？諝饬鲙缀跬瑫r被導(dǎo)向至存儲設(shè)備輸送器800中接納的存儲設(shè)備500的至少上表面512和下表面514上方。鼓風(fēng)機(jī)900使空氣移動穿過測試槽殼體340的第二部分344并從測試槽330的空氣出口 348 (圖5C)移出進(jìn)入空氣導(dǎo)管304?？諝饨?jīng)由空氣導(dǎo)管304移動至空氣熱交換器350或支架300外部的環(huán)境。穿過空氣熱交換器350之后，空氣經(jīng)由支架鼓風(fēng)機(jī)358被釋放回支架300的外部空間內(nèi)(圖6B)?！?br> 存儲設(shè)備測試系統(tǒng)100內(nèi)的空氣流可增大傳遞到受測試存儲設(shè)備500的振動。如上所述，每個支架300可包括從支架底部排出空氣流的鼓風(fēng)機(jī)358。障礙物可使空氣流轉(zhuǎn)向返回到支架，在這種情況下由鼓風(fēng)機(jī)358引起的振動可以直接傳遞到存儲設(shè)備或通過沖擊連接到存儲設(shè)備的支架300的機(jī)械部件而間接傳遞到存儲設(shè)備?？赡艿恼系K物可包括其中另一個支架300、自動化機(jī)械(如，機(jī)械臂200和/或基座250)、從旁邊走過的一個人、包封系統(tǒng)的壁或工廠中的一些其他結(jié)構(gòu)或設(shè)備。為了抑制空傳振動向正被測試的存儲設(shè)備500傳遞,可以米用一種或多種技術(shù)來裳減、消除和/或分散存儲設(shè)備測試系統(tǒng)100內(nèi)部的空傳振動?？諅髡駝拥纳褱p或分散可以通過被動技術(shù)進(jìn)行，例如使用吸收或分散材料，和/或通過主動技術(shù)進(jìn)行，例如主動振動消除。被動技術(shù)在一些情況下，可以通過在存儲設(shè)備測試系統(tǒng)內(nèi)或附近使用振動擴(kuò)散和/或振動吸收材料而被動地衰減和/或分散空傳振動。振動吸收材料對某頻率范圍內(nèi)的振動總體量級進(jìn)行衰減，而振動擴(kuò)散材料降低系統(tǒng)中節(jié)點(diǎn)的影響和量級，此時相長干涉增大振動的本地量級。振動吸收材料的例子是StudiofoamR。商用振動擴(kuò)散材料的例子是得自AuralexAcoustics 公司的 Q’ Fusor 聲音擴(kuò)散板(Q，F(xiàn)usor Sound Diffusor)。將這些材料中的一者或兩者放置在存儲設(shè)備測試系統(tǒng)內(nèi)或附近可吸收或散射各種頻率的空傳振動。對材料類型和/或放置的選擇允許人員對要減小的振動的量和頻率進(jìn)行調(diào)整。相長干涉的區(qū)域可以減小，和/或可以被重新定位到更為良性的位置。圖8示出了一種具體實(shí)施，其中振動管理材料1010(如，吸收片、擴(kuò)散片或它們的組合)被施加到障礙物的表面。在這種情況下，障礙物被示出為機(jī)械臂200的基座250。該材料1010要么吸收從熱交換器殼體352的出口 353發(fā)出的空傳振動，要么朝若干方向擴(kuò)散該空傳振動，或者這兩者。吸收將減小某頻率范圍內(nèi)的振動量級，而擴(kuò)散將圍繞系統(tǒng)散射空氣，從而減小任何指定位置的空傳振動的量級，并減小顯著相長干涉區(qū)域形成的可能性。作為另外一種選擇或除此之外，可以設(shè)計障礙物的形狀和/或材料，使得其固有地為吸收片、擴(kuò)散片或兩者，而不出于此目的施加單獨(dú)的材料。
圖9示出了另一個具體實(shí)施，其可以用于例如障礙物的性質(zhì)未知或可變的情況。將擴(kuò)散片1020放置在振動源附近，而不是使用一些材料對障礙物進(jìn)行處理以吸收或擴(kuò)散空傳振動。這樣還具有擴(kuò)散被反射和未被反射振動(如，圖9中穿過徑直向上流動的空氣流的振動)兩者的優(yōu)點(diǎn)。圖10示出了如何用管道輸送空氣流以向受測試存儲設(shè)備傳遞較少振動的例子。在該例子中，經(jīng)由管道1030更直接地向上導(dǎo)向空氣流，從而使來自障礙物的反射降到最小。圖10還示出了空氣流導(dǎo)向路徑中的振動管理材料1040 (如，吸收片、擴(kuò)散片或它們的組合)的可供選擇的放置。通過在空氣路徑中放置多個此類元件(其中任何一個均不完全阻塞路徑)可以減小空氣流的速度，同時可以增大對振動的擴(kuò)散和吸收。需仔細(xì)操作，以便不引起任何新出現(xiàn)的不期望反射。圖8-10中示出的具體實(shí)施的組合也是可能的?？梢岳鐚⑷鐖D9中的擴(kuò)散片與 如圖8中所設(shè)置的吸收片組合起來。其他具體實(shí)施也是可能的。此外，雖然所示具體實(shí)施示出了這樣的單一支架，其具有一個或多個存儲設(shè)備以及單一鼓風(fēng)機(jī)358 (如，風(fēng)扇)作為振動源，但可存在多個振動源，包括但不限于周圍的自動化機(jī)械(如，機(jī)械臂200)、其他存儲設(shè)備以及環(huán)境聲學(xué)噪聲和空氣流。還可存在可以反射振動的其他表面或結(jié)構(gòu)，正如可存在多個振動的直接路徑一樣。如上所述，振動實(shí)質(zhì)上可為聲學(xué)振動和/或流體所傳振動(風(fēng)振)。豐動摶術(shù)圖11示出了包括在振動源(鼓風(fēng)機(jī)358 (圖6B))附近添加主動振動消除的具體實(shí)施。在這種情況下，噪聲源的頻譜和相位要么是此前已知的，要么是主動測量的，并例如使用聲學(xué)設(shè)備1050 (如，揚(yáng)聲器)抵消振動而生成180°反相空氣流。也可以將此技術(shù)與上述任一項(xiàng)被動技術(shù)結(jié)合。已經(jīng)描述了多個具體實(shí)施。然而，應(yīng)當(dāng)理解，可以在不脫離本公開精神和范圍的前提下進(jìn)行多種修改。例如，參見圖12A和12B，一些存儲設(shè)備測試系統(tǒng)可以使環(huán)境空氣穿過系統(tǒng)而循環(huán)。為了保持環(huán)境空氣的溫度，可以將存儲設(shè)備測試系統(tǒng)放置在容納有存儲設(shè)備測試系統(tǒng)的房間的地板、墻壁或天花板1062中的空調(diào)通風(fēng)口 1060附近。排出空氣的空調(diào)通風(fēng)口1060可為源自建筑物中其他位置的空傳振動的托架。如圖12A所示，可以提供振動管理材料1064 (如，吸收片和/或擴(kuò)散片)以吸收和/或擴(kuò)散從空調(diào)通風(fēng)口 1060發(fā)出的空傳振動。作為另外一種選擇或除此之外，可以提供聲學(xué)設(shè)備1066 (如，揚(yáng)聲器)以抵消從空調(diào)通風(fēng)口1060發(fā)出的空傳振動，如圖12B所示。一些存儲設(shè)備測試系統(tǒng)可以包括冷水冷卻系統(tǒng)，該系統(tǒng)可包括泵1070(如圖13所示)以對系統(tǒng)內(nèi)的水進(jìn)行循環(huán)。其他存儲設(shè)備測試系統(tǒng)可以包括基于壓縮機(jī)的空氣制冷單元1080，如圖14所示。此類存儲設(shè)備測試系統(tǒng)內(nèi)的泵1070和基于壓縮機(jī)的空氣制冷單元1080均可為空傳振動的來源。如圖13和14所示，可以提供振動管理材料1090 (如吸收片和/或擴(kuò)散片)以吸收和/或擴(kuò)散從泵1070或基于壓縮機(jī)的空氣制冷單元1080發(fā)出的空傳振動。因此，其他具體實(shí)施在以下權(quán)利要求書的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，包括 支架，所述支架包括至少一個被構(gòu)造為接納要測試的存儲設(shè)備的測試槽，其中所述測試槽在至少一側(cè)大體暴露于空氣；以及 能夠吸收和/或擴(kuò)散空傳振動的振動管理材料，其中對所述振動管理材料進(jìn)行設(shè)置，以便對耦合到所述測試槽的空傳振動進(jìn)行衰減。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的存儲設(shè)備測試系 統(tǒng)，還包括被布置在空傳振動路徑內(nèi)的障礙物，其中所述振動管理材料被施加到所述障礙物的表面。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，其中所述障礙物為所述存儲設(shè)備測試系統(tǒng)內(nèi)的另一個支架、與所述存儲設(shè)備測試系統(tǒng)相連的自動化機(jī)械或包封所述存儲設(shè)備測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，其中所述振動管理材料包括擴(kuò)散片。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，其中所述振動管理材料包括吸收片和/或擴(kuò)散片。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，還包括空傳振動的來源。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，其中所述空傳振動的來源包括鼓風(fēng)機(jī)、泵、壓縮機(jī)和/或空調(diào)通風(fēng)口。
8.根據(jù)權(quán)利要求I所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)， 其中所述支架包括出口，以及至少一個被構(gòu)造為將空氣流從所述支架的所述出口移出的鼓風(fēng)機(jī)，并且 其中所述振動管理材料設(shè)置在從所述支架的所述出口排出的所述空氣流的路徑內(nèi)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，還包括沿著所述支架的所述出口設(shè)置并且被布置為將從所述支架的所述出口排出的所述空氣流朝著所述振動管理材料導(dǎo)向的管道。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，其中所述振動管理材料包括沿著所述 支架的所述出口設(shè)置的擴(kuò)散片。
11.根據(jù)權(quán)利要求I所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，還包括被布置為抵消空傳振動的聲學(xué)設(shè)備。
12.—種存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，包括 空傳振動的來源；以及 設(shè)置在從所述來源發(fā)出的空傳振動的路徑內(nèi)的振動管理材料，其中所述振動管理材料能夠吸收和/或擴(kuò)散所述空傳振動。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，其中所述振動管理材料包括吸收片和/或擴(kuò)散片。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，還包括被布置在從所述空傳振動的來源發(fā)出的空傳振動路徑內(nèi)的障礙物，其中所述振動管理材料被施加到所述障礙物的表面。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，其中所述障礙物為所述存儲設(shè)備測試系統(tǒng)內(nèi)的支架、與所述存儲設(shè)備測試系統(tǒng)相連的自動化機(jī)械或包封所述存儲設(shè)備測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。
16.根據(jù)權(quán)利要求12所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，還包括被布置為抵消從所述來源發(fā)出的空傳振動的聲學(xué)設(shè)備。
17.根據(jù)權(quán)利要求12所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，其中所述來源包括鼓風(fēng)機(jī)、泵、壓縮機(jī)和/或空調(diào)通風(fēng)口。
18.根據(jù)權(quán)利要求12所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，還包括支架，所述支架包括至少一個被構(gòu)造為接納要測試的存儲設(shè)備的測試槽，其中所述來源與所述支架相關(guān)。
19.根據(jù)權(quán)利要求12所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，還包括被布置為將從所述空傳振動的來源排出的空氣流朝著所述振動管理材料導(dǎo)向的管道。
20.一種存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，包括 空傳振動的來源； 被布置為抵消從所述來源發(fā)出的空傳振動的聲學(xué)設(shè)備。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，其中所述聲學(xué)設(shè)備包括揚(yáng)聲器。
22.根據(jù)權(quán)利要求20所述的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)，其中所述聲學(xué)設(shè)備鄰近所述空傳振動的來源設(shè)置。
全文摘要
本公開提供了一種包括支架和振動管理材料的存儲設(shè)備測試系統(tǒng)。所述支架包括至少一個被構(gòu)造為接納要測試的存儲設(shè)備的測試槽。所述測試槽在至少一側(cè)大體暴露于空氣。所述振動管理材料能夠吸收和/或擴(kuò)散空傳振動。對所述振動管理材料進(jìn)行設(shè)置，以便對耦合到所述測試槽的空傳振動進(jìn)行衰減。
文檔編號G11B33/08GK102939629SQ201180029470
公開日2013年2月20日 申請日期2011年6月10日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月14日
發(fā)明者布萊恩·S·梅洛, 彼得·馬蒂諾, 朗達(dá)·L·阿蘭 申請人:泰拉丁公司