光學(xué)頭裝置及光盤裝置制造方法【專利摘要】光學(xué)頭裝置(11)具有：光學(xué)元件(36)，其使從半導(dǎo)體激光器(34)射出的光束透射式衍射，生成0次衍射光束和±1次衍射光束；以及光檢測元件(40)，其接收被光盤(2)反射的0次衍射光束和+1次衍射光束。光檢測元件(40)包含接收0次衍射光束的主受光部(400)、和比主受光部(400)靠外側(cè)配置的第1副受光部(401)。第1副受光部(401)被配置于檢測+1次衍射光束的受光光斑的外側(cè)的一部分的位置處，對這一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換而輸出副檢測信號?！緦＠f明】光學(xué)頭裝置及光盤裝置【
技術(shù)領(lǐng)域：
】[0001]本發(fā)明涉及用于對光記錄再現(xiàn)介質(zhì)執(zhí)行信息的記錄或者再現(xiàn)的光學(xué)頭裝置及具有該光學(xué)頭裝置的光盤裝置。【
背景技術(shù)：
】[0002]通過減小在光盤的信息軌道上記錄的記錄標(biāo)記的尺寸，并通過縮短在進(jìn)行信息的記錄或者再現(xiàn)時使用的激光的波長以及提高物鏡的數(shù)值孔徑，減小在該物鏡的焦平面上的會聚光斑尺寸，而實現(xiàn)了光盤的大容量化。[0003]例如，在CD(緊湊型光盤)中，作為光盤的光透過層(覆蓋信息記錄層的透明保護(hù)層及空間層)的盤片基板的厚度約為1.2mm、激光波長約為780nm、物鏡的數(shù)值孔徑(NA:NumericalAperture)為0.45，能夠?qū)崿F(xiàn)650MB的記錄容量。另外，在DVD(數(shù)字多用途光盤)中，光透過層的厚度約為0.6mm、激光波長約為650nm、NA為0.6，能夠?qū)崿F(xiàn)4.7GB的記錄容量。此外，在高密度的BD(藍(lán)光光盤；注冊商標(biāo))中，通過將光透過層的厚度設(shè)為約0.1mm、激光波長設(shè)為約405nm、NA設(shè)為0.85，而能夠?qū)崿F(xiàn)每一層為25GB的大容量化。另外，關(guān)于BD的詳細(xì)情況例如在下述的非專利文獻(xiàn)I中已被公開。[0004]另外，通過增加每一張光盤的信息記錄層的數(shù)量，能夠?qū)崿F(xiàn)光盤的大容量化。但是，在具有多個信息記錄層的多層光盤中存在如下的層間串?dāng)_的問題:即由于不僅檢出來自作為信息的記錄或者再現(xiàn)的對象的信息記錄層(以下稱為“對象層”)的反射光、而且也檢出來自對象層以外的信息記錄層的反射光(以下稱為“其它層雜散光”)，因而再現(xiàn)RF信號的質(zhì)量以及循軌誤差信號等伺服信號的質(zhì)量劣化。關(guān)于抑制如上所述的層間串?dāng)_的技術(shù)，例如在日本特開2011—86354號公報(專利文獻(xiàn)I)中被公開。[0005]而近年來在光記錄的【
技術(shù)領(lǐng)域：
】中正在研究使用成膜有超分辨(super-resolut1n)功能層的光盤的高密度記錄方式，該超分辨功能層具有折射率根據(jù)光的強(qiáng)度而局部變化的非線性光吸收特性或者非線性光透過特性。在該高密度記錄方式中，通過在光盤中使會聚光斑內(nèi)的光強(qiáng)度較大或者在溫度較高的局部部位產(chǎn)生超分辨現(xiàn)象(折射率變化等)，能夠根據(jù)尺寸小于分辨極限λ/4ΝΑ的記錄標(biāo)記來再現(xiàn)信息，其中，該分辨極限λ/4ΝΑ是由作為光盤裝置的光學(xué)要素的會聚透鏡的數(shù)值孔徑NA和光的波長λ決定的。使得產(chǎn)生這樣的超分辨現(xiàn)象的光盤被稱為超分辨光盤。有關(guān)超分辨光盤的現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)，例如可以舉出下述的非專利文獻(xiàn)2?5。[0006]例如，在下述的非專利文獻(xiàn)2中公開了具有產(chǎn)生超分辨現(xiàn)象的超分辨掩模(mask)層的光盤。在該超分辨掩模層中，作為超分辨現(xiàn)象是產(chǎn)生折射率變化，產(chǎn)生該超分辨現(xiàn)象的局部區(qū)域有時也被簡稱為“開口”。另外，下述的非專利文獻(xiàn)2及非專利文獻(xiàn)3公開了基于產(chǎn)生超分辨現(xiàn)象的Super-RENS(SuperResolut1nNearfieldStructure:超分辨近場結(jié)構(gòu))方式的光盤。另外，在下述的非專利文獻(xiàn)4中還提出了利用具有折射率根據(jù)光的強(qiáng)度而變化的非線性光吸收特性或者非線性光透過特性的材料形成的光盤。下面，將上述的產(chǎn)生超分辨現(xiàn)象的光盤統(tǒng)稱為“超分辨光盤”。超分辨光盤的一大特點在于，能夠直接沿用作為現(xiàn)有技術(shù)的BD等光盤的再現(xiàn)技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)在全息記錄方式或近場光記錄方式等其它大容量化技術(shù)中比較困難的、與BD等現(xiàn)行光盤的向下兼容性(downwardcompatibility)。[0007]【現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)】[0008]【專利文獻(xiàn)】[0009]【專利文獻(xiàn)I】日本特開2011-86354號公報(圖5和圖6、第0040段~第0046段等)[0010]【非專利文獻(xiàn)】[0011]【非專利文獻(xiàn)I】Blu_rayDiscWhitepaper1.CPhysicalFormatSpecificat1nsforBD-R0M5thEdit1nMarch,2007.[0012]【非專利文獻(xiàn)2】“Observat1nofEyePatternonSuper-Resolut1nNear-FieldStructureDiskwithWrite-StrategyTechnique，，，Jpn.J.Appl.Phys.，Vol?43，N0.7A,pp.4212-4215(2004).[0013]【非專利文獻(xiàn)3】“LowFrequencyNoiseReduct1nofSuper-Resolut1nNear-FieldStructureDiskwithPlatinum-OxideLayer，，，ODSTechnicalDigest,ThC3(2005).[0014]【非專利文獻(xiàn)4】“Sub-Terabyte-Data-CapacityOpticalDiscsRealizedbyThree-Dimens1nalPitSelect1n”,Jpn.J.Appl.Phys.,Vol.45,N0.4A,pp.2593-2597(2006).[0015]【非專利文獻(xiàn)5】“FirstProposalof100GBRewritableTriple-layerOpticalDiskusingaGeTe-richGeSbTeFilmandaNewDielectricFilmwithaHighRefractiveIndex”，Tech.Dig.0fIS0M2009,Mo-D-03(2009).【
發(fā)明內(nèi)容】[0016]發(fā)明要解決的問題[0017]專利文獻(xiàn)I公開的光學(xué)頭具有:光學(xué)元件，其使來自光盤的返回光束透射式衍射，生成O次衍射光束和土I次衍射光束；以及光檢測元件，其接收從光學(xué)元件射出的O次衍射光束和±1次衍射光束。該光檢測元件具有接收該O次衍射光束的主受光部、和接收該+1次衍射光束的副受光部，副受光部被配置在接收該+1次衍射光束的半圓弧狀或者半橢圓弧狀的受光光斑的一部分的位置處，因而不易受到以主受光部為中心分布的其它層雜散光的影響。因此，能夠抑制層間串?dāng)_。[0018]在專利文獻(xiàn)I公開的光學(xué)頭中，由副受光部檢測出的受光光斑的形狀被限定為半圓弧狀或者半橢圓弧狀，該受光光斑的光強(qiáng)度分布隨著物鏡移位(距物鏡相對于光檢測元件的基準(zhǔn)位置的相對移位)而移位。起因于物鏡移位的偏置成分的去除精度尤其依賴于該光強(qiáng)度分布的強(qiáng)度中心的移位，因而其去除精度是有界限的。因此，存在當(dāng)產(chǎn)生了物鏡移位時不能生成穩(wěn)定的循軌誤差信號的情況。[0019]另外，通常再現(xiàn)信號的質(zhì)量由于信息再現(xiàn)時或者信息記錄時的光盤的傾斜(盤傾斜)而劣化。尤其是在超分辨光盤中具有傾斜裕度(盤傾斜的容許誤差度)變窄的傾向。傾斜裕度與覆蓋光盤的信息記錄層的保護(hù)層的厚度成反比例，因而即使是超分辨光盤的情況下，也能夠通過使保護(hù)層變薄來確保規(guī)定的傾斜裕度。但是，在具有多個信息記錄層的超分辨光盤中，在使保護(hù)層變薄時，需要使信息記錄層的層間隔變窄，以保證與BD等現(xiàn)行光盤的向下兼容性。如果層間隔變窄，則如上面所述不能忽視層間串?dāng)_的影響。[0020]鑒于上述情況，本發(fā)明的目的在于，提供如下的光學(xué)頭裝置及光盤裝置，即使是對多層光盤進(jìn)行信息的記錄或者再現(xiàn)的情況下，也能夠有效地抑制層間串?dāng)_，并且能夠從循軌誤差信號中高精度地去除起因于物鏡移位的偏置成分。[0021]用于解決問題的手段[0022]本發(fā)明的第一方式的光學(xué)頭裝置的特征在于，該光學(xué)頭裝置具有:半導(dǎo)體激光器；光學(xué)元件，其使從所述半導(dǎo)體激光器射出的光束透射式衍射，生成O次衍射光束、+1次衍射光束和-1次衍射光束；物鏡，其使所述+1次衍射光束和所述O次衍射光束會聚，在光盤的信息記錄層形成會聚光斑；以及光檢測元件，其接收被所述光盤反射的所述O次衍射光束和所述+1次衍射光束，所述光檢測元件包含:主受光部，其具有沿著與所述光盤的徑向?qū)?yīng)的第I方向排列的第I主受光面和第2主受光面；第I副受光部，其被配置于在所述第I方向的正方向外側(cè)離開該主受光部的位置處；以及第I非光檢測區(qū)域，其介于所述主受光部和所述第I副受光部之間，從所述主受光部的所述第I方向的正方向上的端部起連續(xù)地延伸到所述第I副受光部的所述第I方向的負(fù)方向上的端部，所述第I主受光面和所述第2主受光面對所述O次衍射光束的受光光斑進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，分別輸出第I主檢測信號和第2主檢測信號，所述第I副受光部被配置在檢測所述+1次衍射光束的受光光斑中位于所述第I方向的正方向上的外側(cè)的一部分的位置處，對這一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換而輸出第I副檢測信號，所述+1次衍射光束的受光光斑的剩余部分照射在所述第I非光檢測區(qū)域中。[0023]本發(fā)明的第二方式的光盤裝置的特征在于，該光盤裝置具有:光學(xué)頭裝置；盤驅(qū)動部，其使光盤旋轉(zhuǎn)；信號處理部，其根據(jù)由所述光學(xué)頭裝置檢測到的信號生成循軌伺服控制信號；以及伺服控制部，其根據(jù)所述循軌伺服控制信號進(jìn)行使所述物鏡沿所述光盤的徑向移位的控制，所述光學(xué)頭裝置具有:半導(dǎo)體激光器；光學(xué)元件，其使從所述半導(dǎo)體激光器射出的光束透射式衍射，生成O次衍射光束、+1次衍射光束和-1次衍射光束；物鏡，其使所述+1次衍射光束和所述O次衍射光束會聚，在光盤的信息記錄層形成會聚光斑；以及光檢測元件，其接收被所述光盤反射的所述O次衍射光束和所述+1次衍射光束，所述光檢測元件包含:主受光部，其具有沿著與所述光盤的徑向?qū)?yīng)的第I方向排列的第I主受光面和第2主受光面；以及第I副受光部，其被配置于在所述第I方向的正方向外側(cè)離開該主受光部的位置處，所述第I主受光面和所述第2主受光面對所述O次衍射光束的受光光斑進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，分別輸出第I主檢測信號和第2主檢測信號，所述第I副受光部具有沿著所述第I方向排列的多個副受光面，所述多個副受光面包含被配置于在所述第I方向的正方向上最遠(yuǎn)離所述主受光部的位置處的第I外側(cè)副受光面，所述第I外側(cè)副受光面對所述+1次衍射光束的受光光斑中位于所述第I方向的正方向上的外側(cè)的一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，生成第I副檢測信號，所述信號處理部根據(jù)所述第I主檢測信號和所述第2主檢測信號生成主推挽信號，并且根據(jù)所述第I副檢測信號檢測因所述物鏡相對于所述光檢測元件的相對移位而引起的偏置成分，并從所述主推挽信號中去除所述偏置成分，由此生成所述循軌伺服控制信號。[0024]本發(fā)明的第三方式的光學(xué)頭裝置的特征在于，該光學(xué)頭裝置具有:半導(dǎo)體激光器；物鏡，其使從所述半導(dǎo)體激光器射出的單一的光束會聚，在光盤的信息記錄層形成會聚光斑；光學(xué)元件，其使被所述光盤反射的返回光束透射式衍射；以及光檢測元件，其接收所述透射衍射光束，所述返回光束包括被所述光盤衍射的反射衍射光，所述光學(xué)元件包含:主衍射區(qū)域，其被配置于所述反射衍射光的O次光成分的一部分和所述反射衍射光的±1次光成分的全部或一部分入射的位置處，具有O次衍射作用和土I次衍射作用；以及一對副衍射區(qū)域，其具有O次衍射作用和±1次衍射作用，被配置于，在設(shè)所述反射衍射光的O次光成分與所述反射衍射光的±1次光成分所成的列的方向為第I方向時，在與所述第I方向垂直的第2方向上的所述主衍射區(qū)域的外側(cè)、且所述反射衍射光的O次光成分的剩余部分入射的位置處，所述光檢測元件包含:主受光部，其具有沿著與所述光盤的徑向?qū)?yīng)的第I方向排列的第I主受光面和第2主受光面；第I副受光部,其被配置于在所述第I方向的正方向外側(cè)離開該主受光部的位置處；以及第I非光檢測區(qū)域，其介于所述主受光部和所述第I副受光部之間，從所述主受光部的所述第I方向的正方向上的端部起連續(xù)地延伸到所述第I副受光部的所述第I方向的負(fù)方向上的端部，所述第I主受光面和所述第2主受光面對透過所述主衍射區(qū)域和所述一對副衍射區(qū)域雙方的O次衍射光束的受光光斑進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，分別輸出第I主檢測信號和第2主檢測信號，所述第I副受光部被配置在檢測通過所述一對副衍射區(qū)域的該+1次衍射作用生成的+1次衍射光束的受光光斑中位于所述第I方向的正方向上的外側(cè)的一部分的位置處，對這一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換而輸出第I副檢測信號，所述+1次衍射光束的受光光斑的剩余部分照射在所述第I非光檢測區(qū)域中。[0025]本發(fā)明的第四方式的光盤裝置的特征在于，該光盤裝置具有:上述第三方式的光學(xué)頭裝置；盤驅(qū)動部，其使所述光盤旋轉(zhuǎn)；信號處理部，其根據(jù)由所述光學(xué)頭裝置檢測到的信號生成循軌伺服控制信號；以及伺服控制部，其根據(jù)所述循軌伺服控制信號進(jìn)行使所述物鏡沿所述光盤的徑向移位的控制，所述信號處理部根據(jù)所述第I主檢測信號和所述第2主檢測信號生成主推挽信號，并且根據(jù)所述第I副檢測信號檢測因所述物鏡相對于所述光檢測元件的相對移位而引起的偏置成分，并從所述主推挽信號中去除所述偏置成分，由此生成所述循軌伺服控制信號。[0026]發(fā)明效果[0027]根據(jù)本發(fā)明，即使是對多層光盤進(jìn)行信息的記錄或者再現(xiàn)的情況下，也能夠有效地抑制層間串?dāng)_，能夠從循軌誤差信號中高精度地去除起因于物鏡移位的偏置變動量(偏置成分)。【專利附圖】【附圖說明】[0028]圖1是概要示出本發(fā)明的實施方式I的光盤裝置的主要結(jié)構(gòu)的圖。[0029]圖2是概要示出實施方式I的光學(xué)頭裝置的基本結(jié)構(gòu)的圖。[0030]圖3是概要示出光盤的信息記錄層處的會聚光斑的形態(tài)的圖。[0031]圖4是概要示出實施方式I的照射到光檢測元件的返回光束的光斑的圖。[0032]圖5是概要示出實施方式I的物鏡偏離基準(zhǔn)位置時的光檢測元件上的光斑的圖。[0033]圖6是示出其它層雜散光與實施方式I的光檢測元件之間的位置關(guān)系的一例的圖。[0034]圖7是概要示出作為圖4所示的光檢測元件的變形例的光檢測元件的結(jié)構(gòu)的圖。[0035]圖8是概要示出本發(fā)明的實施方式2的光檢測元件的結(jié)構(gòu)的圖。[0036]圖9是示出其它層雜散光與實施方式2的光檢測元件之間的位置關(guān)系的一例的圖。[0037]圖10是概要示出作為圖8所示的光檢測元件的變形例的光檢測元件的結(jié)構(gòu)的圖。[0038]圖11是概要示出本發(fā)明的實施方式3的光學(xué)頭裝置的基本結(jié)構(gòu)的圖。[0039]圖12是概要示出實施方式3的光學(xué)元件的衍射光柵面的構(gòu)造的俯視圖。[0040]圖13是概要示出實施方式3的光檢測元件的受光面的一例的圖。[0041]圖14是概要示出作為圖12所示的光學(xué)元件的變形例的光學(xué)元件的衍射光柵面的結(jié)構(gòu)的圖。[0042]圖15是概要示出作為圖13所示的光檢測元件的變形例的光檢測元件的受光面形式的圖?！揪唧w實施方式】[0043]下面，參照【專利附圖】【附圖說明】本發(fā)明的各種實施方式。另外，在附圖中對相同的構(gòu)成要素標(biāo)注相同的標(biāo)號，而不重復(fù)其詳細(xì)說明。[0044]實施方式I[0045]圖1是概要示出本發(fā)明的實施方式I的光盤裝置I的主要結(jié)構(gòu)的圖。如圖1所示，該光盤裝置I具有光學(xué)頭裝置11、伺服控制電路12、信號處理電路13、調(diào)制電路14、激光器控制電路15、解調(diào)電路16,MPU(MicroProcessorUnit:微處理器)17及存儲器18。MPU17是依照通過接口(I/F)23從主機(jī)設(shè)備(未圖示)提供的指令執(zhí)行各種控制處理的控制器。[0046]伺服控制電路12包含主軸電機(jī)控制部121、螺旋電機(jī)控制部123及光學(xué)頭控制部122，這些主軸電機(jī)控制部121、螺旋電機(jī)控制部123及光學(xué)頭控制部122獨立地從MPU17接收指令進(jìn)行動作。此外，信號處理電路13包含擺動信號檢測部132、再現(xiàn)信號檢測部(RF信號檢測部)131及伺服信號檢測部133。[0047]光盤2以裝卸自如的方式裝配在固定于主軸電機(jī)19的驅(qū)動軸(主軸)的轉(zhuǎn)臺上。主軸電機(jī)19在主軸電機(jī)控制部121的控制下驅(qū)動該光盤2旋轉(zhuǎn)。在此，主軸電機(jī)控制部121依照來自MPU17的指令進(jìn)行動作，根據(jù)從主軸電機(jī)19提供的表示實際轉(zhuǎn)速的脈沖信號執(zhí)行主軸伺服，以使實際轉(zhuǎn)速與目標(biāo)轉(zhuǎn)速一致。[0048]光學(xué)頭裝置11向該光盤2照射激光光束IL，接收被光盤2的信息記錄層反射的返回光束而生成電信號，并將該電信號輸出給信號處理電路13。光盤2可以是具有單一信息記錄層的單層光盤、或具有多個信息記錄層的多層光盤。作為光盤2的具體例，例如可以舉出⑶(CompactDisc:緊湊型光盤)、DVD(DigitalVersatileDisc:數(shù)字多功能光盤)或者BD(Blu_rayDisc:藍(lán)光光盤)，但不限于這些。另外,光盤2也可以是超分辨光盤。[0049]螺旋電機(jī)控制部123依照來自MPU17的指令控制螺旋電機(jī)22的動作。螺旋電機(jī)22受到螺旋電機(jī)控制部123的控制而進(jìn)行動作。具體而言，螺旋電機(jī)22例如向齒條和小齒輪等進(jìn)給機(jī)構(gòu)21傳遞旋轉(zhuǎn)驅(qū)動力，由此使框架20沿光盤2的徑向(光盤2的半徑方向)移動。光學(xué)頭裝置11被固定于框架20，因而與框架20—起移動并被定位。[0050]由光學(xué)頭裝置11檢測到的信號通過總線(未圖示)被提供給信號處理電路13。在信號處理電路13中，再現(xiàn)信號檢測部131根據(jù)由光學(xué)頭裝置11提供的檢測信號生成再現(xiàn)RF信號(再現(xiàn)信號)，并將該再現(xiàn)RF信號輸出給解調(diào)電路16。并且，再現(xiàn)信號檢測部131生成表示再現(xiàn)RF信號的信號振幅值的信號和表示再現(xiàn)RF信號的質(zhì)量等狀態(tài)的信號，并將這些信號提供給MPU17。另外，在光盤2具有以規(guī)定的空間頻率進(jìn)行蛇形(wobble，擺動)的引導(dǎo)軌道槽的圖案(wobblepattern，擺動圖案)的情況下，擺動信號檢測部132根據(jù)來自該引導(dǎo)軌道槽的反射光的檢測成分生成擺動信號。該擺動信號被輸出給解調(diào)電路16。在此，在光盤2是不具有擺動圖案的再現(xiàn)專用ROM(ReadOnlyMemory:只讀存儲器)型光盤的情況下，不需要擺動信號檢測部132的功能。[0051]伺服信號檢測部133能夠根據(jù)從光學(xué)頭裝置11接收到的檢測信號，生成反饋控制用的各種伺服信號(例如，聚焦誤差信號及循軌誤差信號)Ds。這些伺服信號Ds通過MPU17被提供給光學(xué)頭控制部122。[0052]MPU17具有根據(jù)從信號處理電路13內(nèi)的構(gòu)成要素131?133及伺服控制電路12內(nèi)的構(gòu)成要素121?123提供的信號，控制光盤裝置I的整體動作的功能。MPU17能夠?qū)?gòu)成要素131?133、121?123提供控制數(shù)據(jù)并單獨控制它們的動作。另外，MPU17也可以具有信號處理電路13的構(gòu)成要素131?133的一部分功能。[0053]解調(diào)電路16具有如下功能:對從再現(xiàn)信號檢測部131提供的再現(xiàn)RF信號實施二值化處理而生成二值數(shù)據(jù)組，對該二值數(shù)據(jù)組實施例如RLL(RunLengthLimited:運行長度限制)解碼及糾錯，而生成再現(xiàn)數(shù)據(jù)Da。該再現(xiàn)數(shù)據(jù)Da被提供給MPU17。MPU17能夠通過I/F23將再現(xiàn)數(shù)據(jù)Da傳送給主機(jī)設(shè)備。并且，解調(diào)電路16具有如下功能:對從擺動信號檢測部132提供的擺動信號實施例如MSK(Minimum-Shift-Keying:最小頻移鍵控)解調(diào)或者STW(Saw-Tooth-WobbIe:鋸齒擺動)解調(diào)，而生成表示地址信息及同步信息的數(shù)據(jù)Db。該數(shù)據(jù)Db被提供給MPU17和伺服控制電路12。[0054]如圖1所示，在存儲器18設(shè)有程序區(qū)域18P和數(shù)據(jù)區(qū)域18D。MPU17能夠讀取在存儲器18的程序區(qū)域18P中存儲的程序的數(shù)據(jù)，并使用數(shù)據(jù)區(qū)域18D執(zhí)行該程序。由此，MPU17能夠控制光盤裝置I內(nèi)的各構(gòu)成要素的動作，并且根據(jù)從各構(gòu)成要素輸出的信號進(jìn)行控制用的判斷。[0055]光學(xué)頭控制部122依照來自MPU17的指令進(jìn)行動作，并控制光學(xué)頭裝置11的動作。具體而言，光學(xué)頭控制部122根據(jù)伺服信號Ds中包含的聚焦誤差信號和循軌誤差信號，生成與將照射光盤2的光束IL相關(guān)的聚焦用和循軌用的驅(qū)動信號，并將該驅(qū)動信號提供給光學(xué)頭裝置11內(nèi)的致動器。[0056]圖2是概要示出實施方式I的光學(xué)頭裝置11的基本結(jié)構(gòu)的圖。如圖2所示，光學(xué)頭裝置11具有半導(dǎo)體激光器34、光學(xué)元件36、光束分離器33、物鏡35、致動器39、柱面透鏡37和光檢測元件40。另外，圖2是以說明本實施方式的光學(xué)頭裝置11的基本結(jié)構(gòu)及其動作原理為目的來示出檢測光學(xué)系統(tǒng)的構(gòu)成部件的圖，因而光學(xué)頭裝置11的結(jié)構(gòu)并不限于圖2所示的結(jié)構(gòu)。例如，光學(xué)頭裝置11也可以具有用于檢測物鏡35相對于光盤2的信息記錄層的焦點誤差量或者循軌誤差量的傳感器光學(xué)系統(tǒng)。[0057]在對光盤2進(jìn)行數(shù)據(jù)再現(xiàn)時，圖1的激光器控制電路15依照來自MPU17的指令進(jìn)行動作，控制光學(xué)頭裝置11內(nèi)的半導(dǎo)體激光器34(圖2)，使從該半導(dǎo)體激光器34射出具有數(shù)據(jù)再現(xiàn)所需要的發(fā)光功率的激光EL。另一方面，在對光盤2進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄時，圖1的調(diào)制電路14對從MPU17輸出的數(shù)據(jù)賦予糾錯碼，實施數(shù)據(jù)調(diào)制而生成記錄數(shù)據(jù)。調(diào)制電路14還根據(jù)該記錄數(shù)據(jù)生成寫策略信號。激光器控制電路15根據(jù)該寫策略信號，控制光學(xué)頭裝置11內(nèi)的半導(dǎo)體激光器34，使從該半導(dǎo)體激光器34射出具有數(shù)據(jù)記錄所需要的發(fā)光功率的激光EL。[0058]從半導(dǎo)體激光器34射出的光束EL入射到作為透射型衍射光柵的光學(xué)元件36。光學(xué)兀件36由玻璃材料或透明樹脂材料構(gòu)成,在光學(xué)兀件36的光入射面和光出射面的一方或雙方形成有主要提供O次光衍射效率和土I次光衍射效率的衍射光柵構(gòu)造。光學(xué)兀件36使來自半導(dǎo)體激光器34的光束EL透射式衍射，生成O次衍射光束D0、+1次衍射光束Dlb和-1次衍射光束Dla。這些O次衍射光束D0、+1次衍射光束Dlb和-1次衍射光束Dla被光束分離器33反射,而向物鏡35的方向射出。作為光束分離器33,例如可使用如圖2所示的立方體型的半透半反鏡，但不限于此。也可以使用平行平板形狀的光束分離器替代圖2所示的光束分離器33。[0059]物鏡35是使來自光束分離器33的入射光會聚而在光盤2的信息記錄層形成會聚光斑的光學(xué)部件。圖3是概要示出光盤2的信息記錄層Lx處的會聚光斑的形式(pattern)的圖。信息記錄層Lx具有沿光盤2的徑向X有規(guī)則地排列的多個信息軌道2T、2T、…，各信息軌道2Τ沿著光盤2的切線方向Y延伸。并且，這些信息軌道2Τ、2Τ、…形成為相對于光盤2的中心呈同心圓狀或者螺旋狀。如圖3所示，O次衍射光束DO在成為信息的記錄或再現(xiàn)的對象的信息軌道2Τ上形成會聚光斑，-1次衍射光束Dla和+1次衍射光束Dlb分別在相對于O次衍射光束DO的會聚光斑在徑向X上錯位大致半個軌道的位置處形成會聚光斑。[0060]圖2的致動器39能夠驅(qū)動物鏡35使會聚光斑追隨信息記錄層的信息軌道。如圖2所概要示出的那樣，致動器39具有磁路39Α、39Β、以及配置在這些磁路39Α、39Β之間的可動部39C?？蓜硬?9具有固定物鏡35的透鏡架(未圖示)、以及卷繞在該透鏡架上的聚焦線圈和循軌線圈(均未圖示)。通過向聚焦線圈提供驅(qū)動電流(驅(qū)動信號)，能夠沿聚焦方向(物鏡35的光軸方向)驅(qū)動物鏡35,通過向循軌線圈提供驅(qū)動電流(驅(qū)動信號)，能夠沿光盤2的徑向驅(qū)動物鏡35。由此，通過光學(xué)頭裝置11、伺服信號檢測部133和光學(xué)頭控制部122形成聚焦伺服環(huán)和循軌伺服環(huán)。[0061]被光盤2反射的返回光束通過物鏡35而成為會聚光束,透射過光束分離器33后入射到柱面透鏡37。柱面透鏡37是對透射過該柱面透鏡37的光賦予像散的光學(xué)部件。如圖2所示，柱面透鏡37具有作為光入射面的柱面37s，該柱面37s具有不產(chǎn)生曲率的方向并將該方向作為母線方向，在與該母線方向大致垂直的方向上具有曲率。因此，在母線方向上和與其大致垂直的方向上，透鏡面的曲率存在差異。由此，柱面透鏡37使得在與母線方向平行的面內(nèi)的光束的會聚位置和與母線方向垂直的面內(nèi)的光束的會聚位置之間產(chǎn)生偏移。設(shè)計并配置柱面透鏡37，使得在物鏡35的位置與對光盤2的信息記錄層的對焦位置一致時，柱面37s的母線方向上的像高和與該母線方向大致垂直的方向上的像高彼此大致相等，由此能夠在光檢測元件40的受光面形成大致圓形狀的受光光斑。另外，根據(jù)物鏡35的位置相對于對焦位置的偏移即離焦量，受光光斑的形狀變形而成為大致橢圓形狀?；谶@種原理的聚焦誤差信號的檢測方法是被稱為像散法的通用方法?；谙裆⒎ǖ木劢拐`差信號的生成能夠使用后述圖7的受光面形式(pattern)來實現(xiàn)。[0062]在此，關(guān)于聚焦伺服控制，例如也能夠使用SSD(SpotSizeDetect1n:光斑尺寸檢測)法。在SSD法的情況下，能夠使用全息元件取代柱面透鏡37。[0063]透射過柱面透鏡37后的返回光束照射到光檢測元件40。此時，光檢測元件40的主受光部400接收作為被光盤2反射的O次衍射光束DO的返回光束RL0。并且，光檢測元件40的第I副受光部401和第2副受光部402分別接收作為被光盤2反射的+1次衍射光束Dlb和-1次衍射光束Dla的返回光束RLlb和返回光束RLla。[0064]圖4是概要示出照射到光檢測元件40的返回光束RLO、RLlb,RLla的光斑的圖。光檢測元件40例如使用光電二極管構(gòu)成。如圖4所示，光檢測元件40包含:主受光部400，其接收作為O次衍射光的返回光束RLO的光斑；第I副受光部401，其利用單一受光面接收作為+1次衍射光的返回光束RLlb的光斑的一部分；以及第2副受光部402，其利用單一受光面接收作為-1次衍射光的返回光束RLla的光斑的一部分。[0065]另外，光檢測元件40具有:非光檢測區(qū)域501，其介于主受光部400和第I副受光部401之間；以及非光檢測區(qū)域502，其介于主受光部400和第2副受光部402之間。這些非光檢測區(qū)域501、502是不對照射到該非光檢測區(qū)域501、502的光進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換的區(qū)域。如圖4所示，一方的非光檢測區(qū)域501從主受光部400的Xl軸方向的正方向(圖中左方)上的端部起連續(xù)地延伸到第I副受光部401的Xl軸方向的負(fù)方向(圖中右方)上的端部。另一方的非光檢測區(qū)域502從主受光部400的Xl軸方向的負(fù)方向(圖中右方)上的端部起連續(xù)地延伸到第2副受光部402的Xl軸方向的正方向(圖中左方)上的端部。[0066]主受光部400被劃分為第I主受光面4001和第2主受光面4002，這些第I主受光面4001和第2主受光面4002沿著與物鏡移位方向?qū)?yīng)的Xl軸方向排列。Xl軸方向與基于光學(xué)元件36的光的衍射方向?qū)?yīng)。主受光部400在這些第I主受光面4001和第2主受光面4002接收O次衍射光的返回光束RL0，并分別生成與該受光量對應(yīng)的電信號MR、ML，將這些電信號MR、ML提供給信號處理電路13。在此，第I主受光面4001輸出電信號MR，第2主受光面4002輸出電信號ML。[0067]另外，第I副受光部401相比主受光部400靠Xl軸方向的正方向(左方)外側(cè)配置，第2副受光部402相比主受光部400靠Xl軸方向的負(fù)方向(右方)外側(cè)配置。第I副受光部401接收+1次衍射光的返回光束RLlb的一部分，并生成與該受光量對應(yīng)的電信號SL，將該電信號SL提供給信號處理電路13。在此，如圖4所示，第I副受光部401配置在僅檢測返回光束RLlb的受光光斑的外側(cè)的一部分的位置處，對這一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換而輸出電信號SL。返回光束RLlb的受光光斑的剩余部分照射到非光檢測區(qū)域501，因而不進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換。[0068]另一方面，第2副受光部402接收-1次衍射光的返回光束RLla的一部分，生成與該受光量對應(yīng)的電信號SR，并將該電信號SR提供給信號處理電路13。如圖4所示，第2副受光部402配置在僅檢測返回光束RLla的受光光斑的外側(cè)的一部分的位置處，對這一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換而輸出電信號SR。返回光束RLla的受光光斑的剩余部分照射到非光檢測區(qū)域502，因而不進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換。如下文所述，信號處理電路13根據(jù)電信號MR、ML、SR、SL生成伺服信號Ds。該伺服信號Ds通過MPU17被提供給光學(xué)頭控制部122。[0069]被光盤2的信息記錄層反射的返回光束包含因該信息記錄層的信息軌道的周期性構(gòu)造引起的衍射光(以下稱為“反射衍射光”)。因此，如圖4所示，照射到光檢測元件40的主受光部400的返回光束RLO包含大致圓形狀的O次反射衍射光成分RL00，并且包含疊加在該O次反射衍射光成分RLOO中的+1次反射衍射光成分RLOl和-1次反射衍射光成分RL02。[0070]+1次反射衍射光成分RLOl和-1次反射衍射光成分RL02分別與O次反射衍射光成分RLOO干涉，因而在這些干涉區(qū)域中，根據(jù)該信息記錄層處的會聚光斑和信息軌道的位置關(guān)系而產(chǎn)生光密度的強(qiáng)弱。通過將該光密度的強(qiáng)弱(以下稱為“推挽”)檢測為循軌誤差量，而生成循軌伺服控制信號。此時，+1次反射衍射光成分RLOl和-1次反射衍射光成分RL02是正好相反的相位，因而例如存在如下這樣的關(guān)系:當(dāng)O次反射衍射光成分RLOO和+1次反射衍射光成分RLOl彼此增強(qiáng)時，O次反射衍射光成分RLOO和-1次反射衍射光成分RL02彼此削弱。[0071]另外，在分別照射到第I副受光部401和第2副受光部402的返回光束RLlb和RLla中雖然也包含反射衍射光成分，但是返回光束RLO是在成為信息的記錄或再現(xiàn)的對象的信息軌道2T上反射的光，而返回光束RLlb、RLla是在相對于該信息軌道2T錯位了大致半個軌道的位置處反射的光。因此，例如形成如下的關(guān)系:當(dāng)返回光束RLla的O次反射衍射光成分RLlaO和+1次反射衍射光成分RLlal彼此增強(qiáng)時，O次反射衍射光成分RLOO和+1次反射衍射光成分RLOl彼此削弱。并且，返回光束RLla、RLlb相對于該信息軌道2T保持大致相同的相對位置關(guān)系。因此，例如形成如下的關(guān)系:當(dāng)O次反射衍射光成分RLlaO和+1次反射衍射光成分RLlal彼此增強(qiáng)時，返回光束RLlb的O次反射衍射光成分RLlbO和+1次反射衍射光成分RLlbl也同樣彼此增強(qiáng)。[0072]然后，下面說明循軌伺服控制信號的生成方法。在使照射光盤2的照射光束IL追隨信息軌道的循軌伺服中，使用信號電平根據(jù)照射光束IL的會聚點與光盤2的信息軌道之間的位置關(guān)系而變化的推挽信號。在本實施方式中，伺服信號檢測部133能夠依照下面的運算式(I)、(Ia)，生成推挽信號PP作為循軌伺服控制信號。[0073]PP=MPP+kX(Se-Sh)......(I)[0074]MPP=Sad-Sbc......(Ia)[0075]在式(I)中，Sad表不從第I主受光面4001的輸出信號MR得到的檢測信號，Sbc表不從第2主受光面4002的輸出信號ML得到的檢測信號，Se表不從第I副受光部401的輸出信號SL得到的檢測信號，Sh表示從第2副受光部402的輸出信號SR得到的檢測信號。k表示增益系數(shù)。另外，在式(Ia)中，MPP表示主推挽信號。[0076]圖5是概要示出物鏡35通過追隨信息軌道而從基準(zhǔn)位置移位時的光檢測元件40的受光面上的光斑的圖。另外，圖4示出了物鏡35位于大致中心的基準(zhǔn)位置時的光斑。如圖5所不,如果返回光束RL0、RLla、RLlb的光斑整體由于物鏡移位而相對于光檢測兀件40從基準(zhǔn)位置向左方移動，則主推挽信號MPP(=Sad-Sb。)的信號電平減小。同時，第I副受光部401的受光量增大，而且第2副受光部402的受光量減小，因而(Se-Sh)的信號電平增大。[0077]因此，可知關(guān)于物鏡移位，主推挽信號MPP和信號成分Se具有彼此相反的相位，主推挽信號MPP和信號成分-Sh也具有彼此相反的相位。因此，通過適當(dāng)調(diào)整增益系數(shù)k，將(Se-Sh)的信號成分放大，能夠生成因物鏡移位引起的偏置成分即_kX(Se-Sh)。另外，按照上式(I)，能夠從主推挽信號MPP去除該偏置成分。[0078]或者，也可以使用由下面的式(IA)或(IB)給出的主推挽信號PPL、PPR，替代上式⑴。[0079]PPL=MPP+kXSe......(IA)[0080]PPR=MPP+kX(_SH)......(IB)[0081]其中，偏置成分為_kXSE、kXSH。[0082]光學(xué)頭控制部122通過控制致動器39的動作，使得由上式(I)、(IA)或(IB)給出的推挽信號的信號電平接近零，能夠使照射光束IL追隨光盤2的信息軌道。[0083]另外，再現(xiàn)信號Skf能夠按照下面的運算式(2)生成。[0084]Sef=SAD+SBC......(2)[0085]再現(xiàn)信號Skf的信號成分SAD、Sbc關(guān)于物鏡移位具有彼此相反的相位。即，在產(chǎn)生物鏡移位使得信號成分Sad的信號電平增大時，信號成分SB。的信號電平減小。另一方面，在產(chǎn)生物鏡移位使得信號成分Sad的信號電平減小時，信號成分SB。的信號電平增大。因此，通過兩個信號成分SAD、Sbc的相加，能夠消除因物鏡移位引起的偏置。[0086]在以上說明的實施方式I中，信號處理電路13能夠根據(jù)由第I副受光部401和第2副受光部402檢測到的電信號SL、SR，生成與因物鏡移位引起的偏置成分相當(dāng)?shù)男盘柍煞?kX(Se-Sh)、-kXSE或者kXSH，并生成去除了該偏置成分的推挽信號PP、PPL或PPR。通過使用具有如圖4所示的簡單結(jié)構(gòu)的受光面形式的光檢測元件40，能夠容易生成這些信號成分。[0087]另外，如圖4所示，由第I副受光部401接收的光斑的一部分包含O次反射衍射光成分RLlbO和+1次反射衍射光成分RLlbl的重疊部分，但是不包含-1次反射衍射光成分RLlb2。另一方面，由第2副受光部402接收的光斑的一部分包含O次反射衍射光成分RLlaO和-1次反射衍射光成分RLla2的重疊部分，但是不包含+1次反射衍射光成分RLlal。因此，關(guān)于會聚光斑相對于信息軌道的脫軌(會聚光斑從作為目標(biāo)的信息軌道的中心向盤片內(nèi)周側(cè)或盤片外周側(cè)的移位)，在第I副受光部401中的推挽成分的相位與在第I主受光面4001中的推挽成分的相位成為相同相位，在第2副受光部402中的推挽成分的相位與在第I主受光面4001中的推挽成分的相位成為相反相位。另外，所謂“推挽成分”意味著受光量由于會聚光斑的脫軌而變動的成分，主要指O次反射衍射光成分和+1次反射衍射光成分的重疊部分的光成分、或者O次反射衍射光成分和-1次反射衍射光成分的重疊部分的光成分。[0088]因此,可知關(guān)于會聚光斑的脫軌,主推挽信號MPP(=Sad-Sbc)和信號成分Se具有彼此相同的相位，主推挽信號MPP和信號成分-Sh也具有彼此相同的相位。因此，在按照上式(I)、(IA)、(IB)生成推挽信號PP、PPL或PPR時，推挽成分的檢測信號成分被按照相同相位進(jìn)行相加，因而能夠得到具有足夠高的振幅的循軌伺服控制信號。[0089]另外，如圖4所示，第I副受光部401和第2副受光部402各自的受光面是單一受光面，因而具有能夠使光檢測元件40的受光面形式成為簡單構(gòu)造的優(yōu)點。[0090]可是，如上所述，雖然能夠使用基于替代上式(I)的上式(IA)、(IB)的推挽信號PPL、PPR作為循軌伺服控制信號，但是從提高對外部干擾、溫度變化或者光束的波長變動的耐受性的角度考慮，相比上式(IA)或(1B)，優(yōu)選使用上式(I)。關(guān)于外部干擾，由于上式(I)的信號成分SE、SH具有相同的相位，信號成分SE、SH各自的變化量也大致相同，因而通過取信號成分SE、Sh之差(=Se-Sh),能夠消除外部干擾、溫度變化或者光束的波長變動的影響。并且，由于光學(xué)元件36的光柵間距因溫度變化而變化或者由于產(chǎn)生光束的波長變動，有時衍射角的絕對值存在偏差。在這種情況下，將導(dǎo)致圖4的返回光束RLla、RLlb的光斑的照射位置變動，進(jìn)而受光量在第I副受光部401和第2副受光部402的一方或者雙方發(fā)生變動。這種受光量的變動也能夠利用信號成分SE、Sh之差(=Se-Sh)來消除。[0091]另外，如上所述，在專利文獻(xiàn)I公開的現(xiàn)有的光學(xué)頭中，由副受光部檢測到的受光光斑的形狀限定于半圓弧狀或者半橢圓弧狀，在副受光部檢測不到該受光光斑的推挽成分。該現(xiàn)有的光學(xué)頭根據(jù)半圓弧狀或者半橢圓弧狀的受光光斑的光強(qiáng)度分布的強(qiáng)度中心的移位，檢測與因物鏡移位引起的偏置相當(dāng)?shù)男盘柍煞?。該受光光斑?nèi)的光強(qiáng)度分布與光的會聚性相關(guān)聯(lián)，在想要減小會聚光斑的尺寸來提高偏置去除性能的情況下，優(yōu)選在減小會聚光斑直徑的同時，使會聚光斑內(nèi)的光強(qiáng)度分布盡可能均勻(平坦化)。但是，會聚光斑的直徑減小與光強(qiáng)度分布的均勻性存在相互制約的關(guān)系，因而消除被疊加在推挽信號中的偏置成分與會聚性能的提高的并存是有界限的。尤其是在光盤2是多層光盤的情況下，由于因疊加在受光光斑中的其它層雜散光而引起的噪聲成分的存在，難以消除偏置成分，推挽信號的S/N比降低。另外，在專利文獻(xiàn)I公開的現(xiàn)有的光學(xué)頭中，因物鏡移位引起的偏置成分的去除精度取決于半圓形狀或者半橢圓形狀的受光光斑的光強(qiáng)度中心的移位，因而專利文獻(xiàn)I的光檢測元件的設(shè)計的自由度較低，設(shè)計上的制約比較大。[0092]與此相對，在本實施方式的光學(xué)頭裝置11中，如上所述，關(guān)于會聚光斑的脫軌，主推挽信號MPP和信號成分Se具有彼此相同的相位，主推挽信號MPP和信號成分-Sh也具有彼此相同的相位，因而能夠得到振幅較高的推挽信號PP、PPL或PPR，不易受到因其它層雜散光引起的噪聲的影響。而且，如圖4所示，第I副受光部401被配置在接收返回光束RLlb的受光光斑的外側(cè)部分的位置處，第2副受光部402被配置在接收返回光束RLla的受光光斑的外側(cè)部分的位置處，因而能夠高效抑制因以主受光部400的中心點為中心而分布的其它層雜散光引起的噪聲成分。[0093]尤其是由多層光盤2的與對象層(成為信息的記錄或再現(xiàn)的對象的信息記錄層)相鄰的信息記錄層反射的其它層雜散光的影響，比由其它信息記錄層反射的其它層雜散光的影響大，因而如圖6所示，優(yōu)選第I副受光部401和第2副受光部402被配置在來自與對象層相鄰的信息記錄層的其它層雜散光SLl不會入射的位置處。[0094]另外，在本實施方式中，如圖4所示，第I副受光部401和第2副受光部402分別僅檢測包含推挽成分的受光光斑的外側(cè)部分，因而能夠生成因多層雜散光引起的噪聲成分較少、而且振幅比較高的偏置成分-kX(Se-Sh)、-kXSE或者kXSH。因此,能夠減小增益系數(shù)k。由此，能夠有效抑制因其它層雜散光而引起的層間串?dāng)_，能夠從主推挽信號MPP中高精度地去除偏置成分。[0095]可是，如上所述，在光盤2是超分辨光盤的情況下，雖然通過使覆蓋信息記錄層的保護(hù)層變薄能夠確保規(guī)定的傾斜裕度，但是在光盤2是具有多個信息記錄層的超分辨光盤的情況下，在使保護(hù)層變薄時，需要使信息記錄層的層間隔變窄，以保證與BD等現(xiàn)行光盤的向下兼容性。在超分辨光盤中，在產(chǎn)生因盤片傾斜而引起的彗差時，除了因串?dāng)_(包括光盤2的軌道方向或徑向中的任何方向的情況)的增大而導(dǎo)致的再現(xiàn)信號的劣化之外，會聚光斑的峰值強(qiáng)度也同時下降，該串?dāng)_是由于隨著該彗差而產(chǎn)生的會聚光斑直徑的增大和會聚光斑的閃爍增大而導(dǎo)致的。該峰值強(qiáng)度的下降使得作為超分辨再現(xiàn)的起源的開口部(產(chǎn)生超分辨現(xiàn)象的局部區(qū)域)的狀態(tài)惡化，導(dǎo)致超分辨再現(xiàn)性能的下降。因此，關(guān)于盤片傾斜的再現(xiàn)性能的惡化程度大于過去的BD。這樣，在依據(jù)于BD的標(biāo)準(zhǔn)的再現(xiàn)裝置或者記錄再現(xiàn)裝置中，存在超分辨光盤的再現(xiàn)裕度比BD窄的問題。[0096]在BD的標(biāo)準(zhǔn)中，如在非專利文獻(xiàn)I中說明的那樣，在單層BD中，作為覆蓋信息記錄面的保護(hù)層的透明層的厚度被設(shè)定為0.1mm。關(guān)于光盤相對于光軸的傾斜角，在隔著透明層而配置的信息記錄面的會聚性能變差，但是該現(xiàn)象是因為彗差導(dǎo)致的。通常，該彗差具有與透明層的厚度大致成比例的大小。在BD中，透明層的厚度被標(biāo)準(zhǔn)化為前述的值，以便相對于能夠滿足某種程度的精度的傾斜角的偏差范圍能夠得到足夠的再現(xiàn)性能。但是，如上所述，在超分辨光盤中，優(yōu)選BD的透明層的厚度比0.1mm薄。另外，在還考慮具有兩面的信息記錄面的雙層盤的情況下，在BD的雙層光盤中，相對于覆蓋第一層的透明層的厚度0.1mm,覆蓋第二層的透明層的厚度為0.075mm,兩個層之間的距離是0.025mm。假設(shè)在超分辨光盤中原樣采用該值，則為了在超分辨光盤中確保兼容性，需要使覆蓋第二層的透明層的厚度比0.075mm還薄。并且，對于三層盤或者四層盤，同樣需要使超分辨光盤的透明層比BD的透明層更薄。[0097]如果使超分辨光盤的透明層比在BD中采用的透明層薄，相應(yīng)地從光盤表面到信息記錄面的距離變短，因而可以想象到抗外傷性減弱，而且透明層變薄，相應(yīng)地制造性下降。另外，一般的BD的再現(xiàn)裝置具有使消除因透明層的厚度的變化而產(chǎn)生的球面像差的功能，但是對于超分辨光盤，如果產(chǎn)生了超過在BD中采用的校正范圍的球面像差，將導(dǎo)致產(chǎn)生規(guī)格變更，而破壞與BD的再現(xiàn)裝置的兼容性的問題。因此，在具有多個信息記錄層的超分辨光盤中，需要縮窄信息記錄層的層間隔，以保證與BD等現(xiàn)行光盤的向下兼容性。[0098]但是，在使信息記錄層的層間隔變窄時，同時層間串?dāng)_有可能成為問題。此時，如果對象層和與其相鄰的信息記錄層的間隔變窄，則相應(yīng)地不需要的反射光的光密度也增大，因而導(dǎo)致串?dāng)_成分增大至成為問題的程度。[0099]與此相對，在本實施方式中，在光盤2具有多個信息記錄層的超分辨光盤中，即使是信息記錄層的間隔比現(xiàn)行的BD的信息記錄層的間隔窄的情況下，也能夠有效抑制因其它層雜散光而引起的層間串?dāng)_，能夠從主推挽信號MPP中高精度地去除偏置成分。[0100]實施方式I的變形例[0101]圖7是概要示出作為圖4所示的光檢測元件40的變形例的光檢測元件40A的結(jié)構(gòu)的圖。圖7的光檢測元件40A的結(jié)構(gòu)除了主受光部400A的受光面被一分為四之外，其它與圖4的光檢測元件40的結(jié)構(gòu)相同。[0102]如圖7所示，光檢測元件40A的主受光部400A被分割成4個主受光面4001a、4001b、4002a、4002b。主受光面4001a、4001b沿著與光盤2的切線方向Y對應(yīng)的Yl軸方向排列，主受光面4002a、4002b也沿著與切線方向Y對應(yīng)的Yl軸方向排列。主受光面4001a、4001b的組對應(yīng)于圖4的第I主受光面4001，主受光面4002a、4002b的組對應(yīng)于圖4的第2主受光面4002。[0103]在該變形例中，伺服信號檢測部133能夠按照以下的運算式(3)和(3a)生成推挽信號PP作為循軌伺服控制信號。[0104]PP=MPPa+kX(Se-Sh)......(3)[0105]MPPa=(SA+SD)-(SB+SC)......(3a)[0106]在式(3)中，Sa表不從主受光面4001b的輸出信號MA得到的檢測信號，Sb表不從主受光面4002b的輸出信號MB得到的檢測信號，Sc表不從主受光面4002a的輸出信號MC得到的檢測信號，Sd表示從主受光面4001a的輸出信號MD得到的檢測信號，Se表示從第I副受光部401的輸出信號SL得到的檢測信號，Sh表不從第2副受光部402的輸出信號SR得到的檢測信號。k表示增益系數(shù)。另外，式(3a)中的MPPa表示主推挽信號。[0107]或者，也可以按照以下的運算式(3A)或者(3B)生成推挽信號PPLa或者PPRa。[0108]PPLa=MPPa+kXSe......(3A)[0109]PPRa=MPPa+kX(_SH)......(3B)[0110]另外，也能夠按照以下的運算式(4)求出基于像散法的聚焦誤差信號FES。[0111]FES=(SA+SC)-(SB+SD)……(4)[0112]另外，也能夠按照以下的運算式(5)生成再現(xiàn)信號SKF。[0113]Sef=SA+SB+SC+SD……(5)[0114]實施方式2[0115]下面，說明本發(fā)明的實施方式2。圖8是概要示出實施方式2的光檢測元件40B的結(jié)構(gòu)的圖。實施方式2的光學(xué)頭裝置及光盤裝置的結(jié)構(gòu)除了圖8的光檢測元件40B的結(jié)構(gòu)之外，其它與實施方式2的光學(xué)頭裝置11及光盤裝置I的結(jié)構(gòu)大致相同。在本實施方式中，使用具有在三光束推挽法中使用的通用的受光面形式的光檢測元件40B替代圖4的光檢測元件40。[0116]如圖8所示，光檢測元件40B包含:主受光部400A，其接收作為O次衍射光的返回光束RLO的光斑；第I副受光部401B，其接收作為+1次衍射光的返回光束RLlb的光斑；第2副受光部402B，其接收作為-1次衍射光的返回光束RLla的光斑。主受光部400A的結(jié)構(gòu)與上述圖7的主受光部400A的結(jié)構(gòu)相同。[0117]在本實施方式中，第I副受光部401B被分割成外側(cè)副受光面4011和內(nèi)側(cè)副受光面4012這兩部分，這些外側(cè)副受光面4011和內(nèi)側(cè)副受光面4012沿著Xl軸方向排列。另一方面，第2副受光部402B被分割成內(nèi)側(cè)副受光面4021和外側(cè)副受光面4022這兩部分，這些內(nèi)側(cè)副受光面4021和外側(cè)副受光面4022沿著Xl軸方向排列。并且，第I副受光部401B相比于主受光部400靠Xl軸方向的正方向(左方)外側(cè)配置，第2副受光部402B相比于主受光部400靠Xl軸方向的負(fù)方向(右方)外側(cè)配置。[0118]如圖8所示，在第I副受光部40IB中，外側(cè)副受光面4011是第I副受光部40IB的一分為二的受光面中被配置于最遠(yuǎn)離主受光部400的位置處的受光面，對作為+1次衍射光的返回光束RLlb的受光光斑的外側(cè)的一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，生成對應(yīng)于該受光量的電信號SLa，并將該電信號SLa提供給信號處理電路13。另外，內(nèi)側(cè)副受光面4012是第I副受光部401B的一分為二的受光面中被配置于最接近主受光部400的位置處的受光面，對作為+1次衍射光的返回光束RLlb的受光光斑的內(nèi)側(cè)的一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，生成對應(yīng)于該受光量的電信號SLb，并將該電信號SLb提供給信號處理電路13。[0119]另一方面，在第2副受光部402B中，外側(cè)副受光面4022是第2副受光部402B的一分為二的受光面中被配置于最遠(yuǎn)離主受光部400的位置處的受光面，對作為-1次衍射光的返回光束RLla的受光光斑的外側(cè)的一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換,生成對應(yīng)于該受光量的電信號SRb，并將該電信號SRb提供給信號處理電路13。另外，內(nèi)側(cè)副受光面4021是第2副受光部402B的一分為二的受光面中被配置于最接近主受光部400的位置處的受光面，對作為-1次衍射光的返回光束RLla的受光光斑的內(nèi)側(cè)的一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，生成對應(yīng)于該受光量的電信號SRa，并將該電信號SRa提供給信號處理電路13。[0120]伺服信號檢測部133具有選擇性地生成兩種推挽信號PPl、PP2中的任意一方作為循軌伺服控制信號的功能。推挽信號PPl是根據(jù)實質(zhì)上與上式(3)、(3b)相同的下式(6)、(6a)給出的。[0121]PPl=MPPa+αX(SEa_SHb)......(6)[0122]MPPa=(SA+SD)-(SB+SC)......(6a)[0123]其中，Sa表不從主受光面4001b的輸出信號MA得到的檢測信號，Sb表不從主受光面4002b的輸出信號MB得到的檢測信號，Sc表示從主受光面4002a的輸出信號MC得到的檢測信號，Sd表不從主受光面4001a的輸出信號MD得到的檢測信號,SEa表不從外側(cè)副受光面4011的輸出信號SLa得到的檢測信號,Ssb表不從外側(cè)副受光面4022的輸出信號SRb得到的檢測信號。另外，α表示增益系數(shù)。式(6a)中的MPPa表示主推挽信號。[0124]另外，第2推挽信號PP2是根據(jù)下式(7)給出的。[0125]PP2=PPl-βX(Sf-Sg)......(7)[0126]其中，Sf表不從內(nèi)側(cè)副受光面4012的輸出信號SLb得到的檢測信號，Se表不從內(nèi)側(cè)副受光面4021的輸出信號SRa得到的檢測信號。另外，β表示增益系數(shù)。[0127]伺服信號檢測部133分別將增益系數(shù)α、β設(shè)定為最佳的值。因此，伺服信號檢測部133能夠從主推挽信號MPPa中分別去除因物鏡移位而引起的第I偏置成分即-aX(SEa_SHb)、和因物鏡移位而引起的第2偏置成分即βX(Sp-Se)，生成高質(zhì)量的推挽信號ΡΡ2。[0128]在光盤2是多層光盤的情況下，在信息記錄層的間隔狹窄時，如圖9所示，由光盤2的多個信息記錄層中與對象層相鄰而且距光軸方向最近的信息記錄層反射的其它層雜散光SL2被照射到光檢測元件40Β。光盤2的多個信息記錄層中與對象層最近的其它層雜散光SL2，形成以主受光部400Α的中心點(主受光部400Α的兩條分割線的大致交叉點)為中心、且比來自其它信息記錄層的其它層雜散光(未圖示)狹窄的區(qū)域的光斑。另外，該其它層雜散光SL2的光強(qiáng)度比來自該其它信息記錄層的其它層雜散光的光強(qiáng)度大，因而其它層雜散光SL2由于物鏡移位而帶給主推挽信號MPPa的偏置成分，大于來自該其它信息記錄層的其它層雜散光帶給主推挽信號MPPa的偏置成分。在一方的內(nèi)側(cè)副受光面4012接收的光包含由-1次反射衍射光成分RLlb2和O次反射衍射光成分RLlbO形成的推挽成分,在另一方的內(nèi)側(cè)副受光面4021接收的光包含由+1次反射衍射光成分RLlal和O次反射衍射光成分RLlaOa形成的推挽成分。一方的內(nèi)側(cè)副受光面4012中的推挽成分和另一方的內(nèi)側(cè)副受光面4021中的推挽成分成為彼此相反的相位。由此，兩者的推挽成分大致抵消，上式(7)的信號成分(SF-Se)成為主要體現(xiàn)了基于其它雜散光的偏置成分、基于O次反射衍射光成分RLlaO的偏置成分、和基于O次反射衍射光成分RLlbO的偏置成分的信號成分。[0129]根據(jù)這種觀點，優(yōu)選將增益系數(shù)α設(shè)定為消除由來自對象層的返回光束RLlb、RLla帶來的偏置成分的值，將增益系數(shù)β設(shè)定為消除由其它層雜散光SL2帶來的偏置成分的值。由此，能夠分別生成由在對象層反射的返回光束RLlb、RLla帶來的偏置成分-αX(SEa-SHb)、和由多層雜散光帶來的偏置成分βX(Sf-Sg)。因此，即使是針對多層光盤的信息記錄時或者信息再現(xiàn)時，也能夠以非常高的精度從主推挽信號MPPa中去除偏置成分。[0130]另外，伺服信號檢測部133能夠按照下式(8)生成再現(xiàn)RF信號SKFb。[0131]SEFb=SA+SB+SC+SD-YX(SF+SG)……(8)[0132]其中，Y表示用于從再現(xiàn)信號的主成分Skf(=SA+SB+SC+SD)中去除基于多層雜散光的信號成分的增益系數(shù)。通過使用式(8)，能夠從再現(xiàn)信號的主成分Skf中高精度地去除因其它層雜散光而引起的噪聲成分。[0133]另外，基于像散法的聚焦誤差信號FES根據(jù)以下的運算式(9)給出。[0134]FES=(SA+SC)-(SB+SD)......(9)[0135]在以上說明的實施方式3的光學(xué)頭裝置中，能夠使用通用的且具有簡單結(jié)構(gòu)的受光面形式的光檢測元件40B，生成高精度地去除了因物鏡移位而引起的偏置成分的推挽信號PP1、PP2作為循軌伺服控制信號。尤其通過使用上式(7)，能夠以非常高的精度去除因物鏡移位而引起的偏置成分。[0136]另外，在使用式(7)的情況下，如圖9示例的那樣，外側(cè)副受光面4011和外側(cè)副受光面4022相比于其它層雜散光SL2的外徑線靠外側(cè)配置，而且內(nèi)側(cè)副受光面4012和內(nèi)側(cè)副受光面4021相比于其它層雜散光SL2的外徑線靠內(nèi)側(cè)配置。尤其為了最大限度地得到偏置成分的去除效果，優(yōu)選使其它層雜散光的外徑線與外側(cè)副受光面4011和內(nèi)側(cè)副受光面4012之間的邊界線(分割線)大致一致，而且與外側(cè)副受光面4022和內(nèi)側(cè)副受光面4021之間的邊界線(分割線)大致一致。[0137]實施方式2的變形例[0138]圖10是概要示出作為圖8所示的光檢測元件40B的變形例的光檢測元件40C的結(jié)構(gòu)的圖。[0139]如圖10所示，該光檢測元件40C具有主受光部400，并且具有分別配置在該主受光部400的Xl軸方向兩側(cè)的第I副受光部401B和第2副受光部402B。第I副受光部401B包含一對外側(cè)副受光面4011和內(nèi)側(cè)副受光面4012C，第2副受光部402B包含一對的外側(cè)副受光面4022和內(nèi)側(cè)副受光面4021C。[0140]本實施方式的光檢測元件40C的結(jié)構(gòu)除了內(nèi)側(cè)副受光面4012C和內(nèi)側(cè)副受光面4021C的尺寸之外，其它與圖8的光檢測元件40B的結(jié)構(gòu)相同。如圖10所示，第I副受光部401B的內(nèi)側(cè)副受光面4012C具有比外側(cè)副受光面4011大的受光面積，第2副受光部402B的內(nèi)側(cè)副受光面4021C具有比外側(cè)副受光面4022大的受光面積。內(nèi)側(cè)副受光面4012C對作為+1次衍射光的返回光束RLlb的受光光斑的內(nèi)側(cè)的一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，生成與該受光量對應(yīng)的電信號SLb,并將該電信號SLb提供給信號處理電路13。另一方面，內(nèi)側(cè)副受光面4021C對作為-1次衍射光的返回光束RLla的受光光斑的內(nèi)側(cè)的一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，生成與該受光量對應(yīng)的電信號SLa，并將該電信號SLa提供給信號處理電路13。[0141]這樣，在本實施方式中，內(nèi)側(cè)副受光面4012C、4021C的受光面積大于圖8的內(nèi)側(cè)副受光面4012、4021。因此，在光盤2是多層光盤的情況下，能夠增加其它層雜散光在內(nèi)側(cè)副受光面4012C、4021C的受光量。由此，即使是減小上式(7)的增益系數(shù)β的值，也能夠生成偏置成分βX(SF-Se)。并且，也能夠高精度地消除在內(nèi)側(cè)副受光面4012C、4021C接收的推挽成分。[0142]實施方式3[0143]下面，說明本發(fā)明的實施方式3。圖11是概要示出實施方式3的光學(xué)頭裝置IlB的基本結(jié)構(gòu)的圖。本實施方式的光學(xué)頭裝置的結(jié)構(gòu)除了該光學(xué)頭裝置IlB的結(jié)構(gòu)的一部分之外，其它與實施方式I的光學(xué)頭裝置11的結(jié)構(gòu)大致相同。如圖11所示，光學(xué)頭裝置IlB具有光束分離器33、半導(dǎo)體激光器34、物鏡35、柱面透鏡37、致動器39和光檢測元件40A。這些構(gòu)成要素33、34、35、37、39的基本功能分別與圖2所示的實施方式I的構(gòu)成要素33、34、35、37、39的功能相同。[0144]另外，圖11是以說明本實施方式的光學(xué)頭裝置IlB的基本結(jié)構(gòu)及其動作原理為目的來示出構(gòu)成部件的圖，因而光學(xué)頭裝置IlB的結(jié)構(gòu)不限于圖11的結(jié)構(gòu)。例如，光學(xué)頭裝置IlB也可以具有用于檢測物鏡35相對于光盤2的信息記錄層的焦點誤差量或循軌誤差量的傳感器光學(xué)系統(tǒng)。[0145]本實施方式的光學(xué)頭裝置IlB具有使被光盤2反射的返回光束透射式衍射的光學(xué)元件36B。在上述實施方式I中，光學(xué)頭裝置11如圖2所示具有光學(xué)元件36，該光學(xué)元件36使從半導(dǎo)體激光器34射出的激光光束EL透射式衍射，生成3條衍射光束DO、Dlb、Dla,因而如圖3所示在光盤2的目標(biāo)層Lx形成衍射光束DO、Dlb、Dla的3個會聚光斑。[0146]與此相對，在本實施方式中，在半導(dǎo)體激光器34和光盤2之間沒有設(shè)置使產(chǎn)生衍射光束的光學(xué)兀件，因而在光盤2的目標(biāo)層Lx形成一個會聚光斑。被光盤2反射的返回光束通過物鏡35成為會聚光束，透射光束分離器33后入射到作為透射型衍射光柵(全息光學(xué)元件)的光學(xué)元件36B。光學(xué)元件36B使入射光透射式衍射而生成O次衍射光束D0B、+1次衍射光束DlBb和-1次衍射光束DIBa。[0147]圖12是概要示出光學(xué)元件36B的衍射光柵面的構(gòu)造的俯視圖。如圖12所示，光學(xué)元件36B包含主要具有O次衍射作用及土I次衍射作用的主衍射區(qū)域603、和主要具有O次衍射作用及±1次衍射作用的一對副衍射區(qū)域604、605這三種衍射區(qū)域。例如，使用由樹脂材料或玻璃材料構(gòu)成的板狀的透光性基材，在該透光性基材的光入射面和光出射面的一方或雙方形成多個衍射光柵槽，由此制得光學(xué)元件36。通過按照每個該衍射區(qū)域單獨設(shè)定衍射光柵槽的形狀和方向、以及衍射光柵槽間隔，能夠單獨地形成主衍射區(qū)域603和一對副衍射區(qū)域604、605的衍射形式。副衍射區(qū)域604、605被配置于在與光盤2的切線方向?qū)?yīng)的Y2軸方向上的主衍射區(qū)域603的外側(cè)。另外，副衍射區(qū)域604、605具有相對于與Y2軸方向垂直的X2軸方向(與光盤2的徑向?qū)?yīng)的方向)的中心線彼此線對稱的形狀。并且，主衍射區(qū)域603和副衍射區(qū)域605被與X2軸方向平行的邊界線600而相互分開，主衍射區(qū)域603和副衍射區(qū)域604被與X2軸方向平行的邊界線601而相互分開。[0148]如圖12所不,在光學(xué)兀件36B的衍射光柵面形成有返回光束RLB的光斑。被光盤2的信息記錄層反射的返回光束包含因該信息記錄層的信息軌道的周期構(gòu)造而引起的反射衍射光。因此，如圖12所示，返回光束RLB的光斑包含大致圓形狀的O次反射衍射光成分(反射衍射光的O次光成分)RLB0，并且包含重疊在該O次反射衍射光成分RLBO的一端部的+1次反射衍射光成分(反射衍射光的+1次光成分)RLBl、和重疊在O次反射衍射光成分RLBO的另一端部的-1次反射衍射光成分(反射衍射光的-1次光成分)RLB2。其中，O次反射衍射光成分RLBO和土I次反射衍射光成分RLB1、RLB2所成的列的方向與X2軸方向大致一致。[0149]主衍射區(qū)域603配置在O次反射衍射光成分RLBO的一部分和土I次反射衍射光成分RLB1、RLB2的全部或者中央部分(Y2軸方向兩端部除外的部分)入射的位置處即可。另一方面，副衍射區(qū)域604、605配置在O次反射衍射光成分RLBO的剩余部分入射、而且土I次反射衍射光成分RLB1、RLB2的全部或者中央部分不入射的位置處即可。[0150]如圖11所示，透過主衍射區(qū)域603和副衍射區(qū)域604、605后的O次衍射光束DOB照射到光檢測元件40A的主受光部400。并且，通過一對副衍射區(qū)域604、605的+1次衍射作用而生成的+1次衍射光束DlBb照射到光檢測元件40A的第I副受光部401，通過一對副衍射區(qū)域604、605的-1次衍射作用而生成的-1次衍射光束DlBa照射到光檢測元件40A的第2副受光部402。另外，衍射區(qū)域603生成±1次衍射光束，然而這些±1次衍射光束作為不需要的衍射光，只要照射到光檢測元件40A內(nèi)的沒有形成受光部(光電轉(zhuǎn)換部)的區(qū)域或者光檢測元件40的外部即可。[0151]圖13是概要示出光檢測元件40A的受光面的一例的圖。圖13的光檢測元件40A的受光面形式與作為實施方式I的變形例的圖7的光檢測元件40A的受光面形式相同。[0152]如圖13所示，主受光部400A上的O次衍射光束DOB的光斑QM具有大致圓形或者橢圓的形狀。光斑QM包含O次反射衍射光成分QM0、以及與其重疊的+1次反射衍射光成分QMla和-1次反射衍射光成分QMlb。這些O次反射衍射光成分QMO和土I次反射衍射光成分QMla、QMlb是因光盤2的信息軌道的構(gòu)造而引起的成分。O次反射衍射光成分QMO被主受光部400B的4個受光面400la、400lb、4002a、4002b接收。-1次反射衍射光成分QMlb被受光面4002a、4002b接收，+1次反射衍射光成分QMla被受光面4001a、4001b接收。[0153]另一方面，+1次衍射光束DlBb的光斑QSla、QSlb被第I副受光部401檢出。如圖13所示，光斑QSla、QSlb成對且具有圓弧狀或者橢圓弧狀的外形。并且，這些光斑QSla、QSlb包含作為主成分的O次反射衍射光成分，而幾乎不包含±1次反射衍射光成分。第I副受光部401被配置在僅檢測+1次衍射光束DlBb的光斑QSla、QSlb的外側(cè)的一部分的位置處，對這一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換而輸出電信號SL。光斑QSla、QSlb的剩余部分照射非光檢測區(qū)域501，因而不被進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換。[0154]另一方面，-1次衍射光束DlBa的光斑QS2a、QS2b被第2副受光部402檢出。這些光斑QS2a、QS2b也成對且具有圓弧狀或者橢圓弧狀的外形。并且，這些光斑QS2a、QS2b包含作為主成分的O次反射衍射光成分，而幾乎不包含±1次反射衍射光成分。第2副受光部402被配置在僅檢測-1次衍射光束DlBa的光斑QS2a、QS2b的外側(cè)的一部分的位置處，對這一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換而輸出電信號SR。光斑QS2a、QS2b的剩余部分照射非光檢測區(qū)域502，因而不被進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換。另外，從主衍射區(qū)域603射出的±1次衍射光束的光斑QSl1、QSll在主受光部400A、第I副受光部401及第2副受光部402都沒有被檢測到。[0155]在主受光部400A中，4個受光面4001a、4001b、4002a、4002b分別輸出與各自的受光量對應(yīng)的電信號MD、MA、MC、MB。另一方面，第I副受光部401輸出與光斑QSla、QSlb的受光量對應(yīng)的電信號SL,第2副受光部402輸出與光斑QS2a、QS2b的受光量對應(yīng)的電信號SR。[0156]然后，下面說明本實施方式的推挽信號的生成方法。在本實施方式中，能夠使用在上述實施方式I的變形例中使用的運算式(3)生成推挽信號PP，將其作為循軌伺服控制信號。如上所述，照射到第I副受光部401的光斑QSla、QSlb和照射到第2副受光部402的光斑QS2a、QS2b幾乎不包含推挽成分，因而推挽成分主要是根據(jù)上式(3a)的主推挽信號MPP(=(SA+SD)-(SB+SC))給出的。[0157]另外，在物鏡35由于追隨信息軌道而偏離大致中心位置時，如圖5所例示的那樣，受光光斑整體根據(jù)物鏡移位而進(jìn)行移位。如果由于這樣的物鏡移位使得光斑QM0、QS1、QS2整體上相對于光檢測元件40從圖9所示的基準(zhǔn)位置向左方移動，則主推挽信號MPP的信號電平減小。同時，第I副受光部401的受光量增大，而且第2副受光部402的受光量減小，因而推挽信號PP的信號成分(Se-Sh)的信號電平增大。另一方面，如果由于物鏡移位使得光斑QM0、QS1、QS2整體上相對于光檢測元件40從基準(zhǔn)位置向右方移動，則主推挽信號MPP的信號電平增大。同時，第I副受光部401的受光量減小，而且第2副受光部402的受光量增大，因而推挽信號PP的信號成分(Se-Sh)的信號電平減小。[0158]因此，可知關(guān)于物鏡移位，主推挽信號MPP和信號成分Se具有彼此相反的相位，主推挽信號MPP和信號成分(-Sh)也具有彼此相反的相位。因此，能夠使用與實施方式I的變形例相同的式(3)，通過適當(dāng)調(diào)整增益系數(shù)(Se-Sh)的信號成分放大，由此能夠消除因物鏡移位引起的偏置成分。另外，也可以使用按照替代上式(3)的式(3A)或(3B)給出的主推挽信號PPL、PPR。[0159]在實施方式3中，與實施方式I的情況相比，具有光學(xué)元件36B的衍射構(gòu)造的參數(shù)(衍射效率、衍射角及衍射方向等)的設(shè)計制約少的優(yōu)點。例如，在實施方式I中，為了提高O次衍射光束DO的利用效率，以使O次衍射光束DO的光強(qiáng)度比土I次衍射光束Dla、Dlb的光強(qiáng)度高出數(shù)倍的方式，設(shè)定光學(xué)元件36的O次衍射效率和I次衍射效率，但是如果提高±1次衍射光束Dla、Dlb的光強(qiáng)度，則照射到作為信息的記錄或者再現(xiàn)的對象的信息軌道的O次衍射光束DO的光強(qiáng)度減小，因而存在光的利用效率下降的制約。與此相對，在本實施方式中，只有一個會聚光斑照射到作為信息的記錄或者再現(xiàn)的對象的信息軌道，因而不存在那樣的制約。因此，能夠優(yōu)化光學(xué)元件36B的衍射效率，使得在第I副受光部401、402的受光量增大。由此，能夠減小上式(3)、(3A)、(3B)的增益系數(shù)k的值，檢測出噪聲成分較小的偏置成分。因此，能夠從主推挽信號MPP中高精度地去除偏置成分。[0160]因此，即使是對多層光盤進(jìn)行信息的記錄或者再現(xiàn)的情況下，也能夠降低因其它層雜散光而引起的噪聲成分，有效抑制層間串?dāng)_，也能夠從循軌誤差信號中高精度地去除因物鏡移位引起的偏置變動量(偏置成分)。[0161]實施方式3的變形例[0162]圖14是概要示出作為光學(xué)元件36B的變形例的光學(xué)元件36BM的衍射光柵面的結(jié)構(gòu)的圖。如圖14所示，光學(xué)元件36BM具有主衍射區(qū)域603B、副衍射區(qū)域604B和副衍射區(qū)域605B。在上述實施方式3中，光學(xué)元件36B的衍射構(gòu)造的參數(shù)的制約比較小，因而通過改變該參數(shù)，能夠優(yōu)化主受光部400、第I副受光部401和第2副受光部402的配置。本變形例的光學(xué)元件36BM的主衍射區(qū)域603B及副衍射區(qū)域604B、605B的配置，與圖12的主衍射區(qū)域603及副衍射區(qū)域604、605的配置相同，但是主衍射區(qū)域603B及副衍射區(qū)域604B、605B的衍射構(gòu)造在衍射角及衍射方向方面與圖12的主衍射區(qū)域603及副衍射區(qū)域604、605不同。在其它方面，兩者的衍射構(gòu)造相同。[0163]圖15是概要示出接收從圖14的光學(xué)元件36BM射出的衍射光束的光檢測元件40AM的受光面形式的圖。圖15的光檢測元件40AM的結(jié)構(gòu)除了第I副受光部401及第2副受光部402的配置不同之外，其它與圖13的光檢測元件40A的結(jié)構(gòu)相同。[0164]如圖15所示，即使在光盤2是多層光盤的情況下，第I副受光部401及第2副受光部402也被配置在不接收其它層雜散光SL3、SL4的位置。在此，光盤2具有至少3層的信息記錄層。一方的其它層雜散光SL3是來自在光盤2的光入射面?zhèn)扰c光盤2的對象層相鄰的信息記錄層的反射光，另一方的其它層雜散光SL4是來自在光盤2的光入射面的相反側(cè)與光盤2的對象層相鄰的信息記錄層的反射光。[0165]這樣，通過以避開其它層雜散光SL3、SL4的方式配置第I副受光部401及第2副受光部402，能夠減小其它層雜散光在第I副受光部401及第2副受光部402的受光量，減小再現(xiàn)信號及伺服信號中的噪聲成分。[0166]標(biāo)號說明[0167]1:光盤裝置；2:光盤；11、11B:光學(xué)頭裝置；12:伺服控制電路；121:主軸電機(jī)控制部；122:光學(xué)頭控制部；123:螺旋電機(jī)控制部；13:信號處理電路；131:再現(xiàn)信號檢測部；132:擺動信號檢測部；133:伺服信號檢測部；14:調(diào)制電路；15:激光器控制電路；16:解調(diào)電路；17:MPU(MicroProcessorUnit:微處理器)；18:存儲器；19:主軸電機(jī)；22:螺旋電機(jī)；23:接口(I/F)；33:光束分離器；34:半導(dǎo)體激光器；35:物鏡；36:光學(xué)元件；36B、36BM:全息光學(xué)元件；603、603B:主衍射區(qū)域；604、604B:副衍射區(qū)域；605、605B:副衍射區(qū)域；37:柱面透鏡；39:致動器;40、40A、40AM、40B、40C:光檢測元件;400、400A:主受光部；40U401B--第I副受光部;4011、4022:外側(cè)副受光面；4012、4012C:內(nèi)側(cè)副受光面；402、402B:第2副受光部；4021、4021C:內(nèi)側(cè)副受光面；501、502:非光檢測區(qū)域?！緳?quán)利要求】1.一種光學(xué)頭裝置，其特征在于，該光學(xué)頭裝置具有:半導(dǎo)體激光器；光學(xué)元件，其使從所述半導(dǎo)體激光器射出的光束透射式衍射，生成O次衍射光束、+1次衍射光束和-1次衍射光束；物鏡，其使所述+1次衍射光束和所述O次衍射光束會聚，在光盤的信息記錄層形成會聚光斑；以及光檢測元件，其接收被所述光盤反射的所述O次衍射光束和所述+1次衍射光束，所述光檢測元件包含:主受光部，其具有沿著與所述光盤的徑向?qū)?yīng)的第I方向排列的第I主受光面和第2主受光面；第I副受光部，其被配置于在所述第I方向的正方向外側(cè)離開該主受光部的位置處；以及第I非光檢測區(qū)域，其介于所述主受光部和所述第I副受光部之間，從所述主受光部的所述第I方向的正方向上的端部起連續(xù)地延伸到所述第I副受光部的所述第I方向的負(fù)方向上的端部，所述第I主受光面和所述第2主受光面對所述O次衍射光束的受光光斑進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，分別輸出第I主檢測信號和第2主檢測信號，所述第I副受光部被配置在檢測所述+1次衍射光束的受光光斑中位于所述第I方向的正方向上的外側(cè)的一部分的位置處，對這一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換而輸出第I副檢測信號，所述+1次衍射光束的受光光斑的剩余部分照射在所述第I非光檢測區(qū)域中。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)頭裝置，其特征在于，所述第I副受光部具有接收所述+1次衍射光束的受光光斑的該一部分的單一受光面。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光學(xué)頭裝置，其特征在于，所述光檢測元件還包含:第2副受光部，其被配置于在所述第I方向的負(fù)方向外側(cè)離開所述主受光部的位置處；以及第2非光檢測區(qū)域，其介于所述主受光部和所述第2副受光部之間，從所述主受光部的所述第I方向的負(fù)方向上的端部起連續(xù)地延伸到所述第2副受光部的所述第I方向的正方向上的端部，所述第2副受光部被配置在檢測所述-1次衍射光束的受光光斑中位于所述第I方向的負(fù)方向上的外側(cè)的一部分的位置處，對所述-1次衍射光束的受光光斑的該一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換而輸出第2副檢測信號，所述-1次衍射光束的受光光斑的剩余部分照射在所述第2非光檢測區(qū)域中。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光學(xué)頭裝置，其特征在于，所述第2副受光部具有接收所述-1次衍射光束的受光光斑的該一部分的單一受光面。5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的光學(xué)頭裝置，其特征在于，所述光盤是具有多個信息記錄層的多層光盤，所述第I副受光部及所述第2副受光部分別被配置于來自所述多個信息記錄層中的、與作為信息記錄或者再現(xiàn)的對象的信息記錄層相鄰的信息記錄層的反射光不會入射的位置處。6.根據(jù)權(quán)利要求1~5中任意一項所述的光學(xué)頭裝置，其特征在于，所述第I主受光面及所述第2主受光面分別具有沿著與所述光盤的切線方向?qū)?yīng)的第2方向排列的多個受光面。7.—種光盤裝置，其特征在于，該光盤裝置具有:光學(xué)頭裝置；盤驅(qū)動部，其使光盤旋轉(zhuǎn)；信號處理部，其根據(jù)由所述光學(xué)頭裝置檢測到的信號生成循軌伺服控制信號；以及伺服控制部，其根據(jù)所述循軌伺服控制信號進(jìn)行使所述物鏡沿所述光盤的徑向移位的控制，所述光學(xué)頭裝置具有:半導(dǎo)體激光器；光學(xué)元件，其使從所述半導(dǎo)體激光器射出的光束透射式衍射，生成O次衍射光束、+1次衍射光束和-1次衍射光束；物鏡，其使所述+1次衍射光束和所述O次衍射光束會聚，在光盤的信息記錄層形成會聚光斑；以及光檢測元件，其接收被所述光盤反射的所述O次衍射光束和所述+1次衍射光束，所述光檢測元件包含:主受光部，其具有沿著與所述光盤的徑向?qū)?yīng)的第I方向排列的第I主受光面和第2主受光面；以及第I副受光部，其被配置于在所述第I方向的正方向外側(cè)離開該主受光部的位置處，所述第I主受光面和所述第2主受光面對所述O次衍射光束的受光光斑進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，分別輸出第I主檢測信號和第2主檢測信號，所述第I副受光部具有沿著所述第I方向排列的多個副受光面，所述多個副受光面包含被配置于在所述第I方向的正方向上最遠(yuǎn)離所述主受光部的位置處的第I外側(cè)副受光面，所述第I外側(cè)副受光面對所述+1次衍射光束的受光光斑中位于所述第I方向的正方向上的外側(cè)的一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，生成第I副檢測信號，所述信號處理部根據(jù)所述第I主檢測信號和所述第2主檢測信號生成主推挽信號，并且根據(jù)所述第I副檢測信號檢測因所述物鏡相對于所述光檢測元件的相對移位而引起的偏置成分，并從所述主推挽信號中去除所述偏置成分，由此生成所述循軌伺服控制信號。8.—種光盤裝置，其特征在于，該光盤裝置具有:光學(xué)頭裝置；盤驅(qū)動部，其使光盤旋轉(zhuǎn)；信號處理部，其根據(jù)由所述光學(xué)頭裝置檢測到的信號生成循軌伺服控制信號；以及伺服控制部，其根據(jù)所述循軌伺服控制信號進(jìn)行使所述物鏡沿所述光盤的徑向移位的控制，所述光學(xué)頭裝置具有:半導(dǎo)體激光器；光學(xué)元件，其使從所述半導(dǎo)體激光器射出的光束透射式衍射，生成O次衍射光束、+1次衍射光束和-1次衍射光束；物鏡，其使所述+1次衍射光束和所述O次衍射光束會聚，在光盤的信息記錄層形成會聚光斑；以及光檢測元件，其接收被所述光盤反射的所述O次衍射光束、所述+1次衍射光束和所述-1次衍射光束，所述光檢測元件包含:主受光部，其具有沿著與所述光盤的徑向?qū)?yīng)的第I方向排列的第I主受光面和第2主受光面；以及第I副受光部，其被配置于在所述第I方向的正方向外側(cè)離開該主受光部的位置處；以及第2副受光部，其被配置于在所述第I方向的負(fù)方向外側(cè)離開所述主受光部的位置處，所述第I主受光面和所述第2主受光面對所述O次衍射光束的受光光斑進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，分別輸出第I主檢測信號和第2主檢測信號，所述第I副受光部具有沿著所述第I方向排列的多個副受光面，所述多個副受光面包含被配置于在所述第I方向的正方向上最遠(yuǎn)離所述主受光部的位置處的第I外側(cè)副受光面，所述第2副受光部具有沿著所述第I排列方向排列的多個副受光面，所述第2副受光部的該多個副受光面包含被配置于在所述第I方向的負(fù)方向上最遠(yuǎn)離所述主受光部的位置處的第2外側(cè)副受光面，所述第I外側(cè)副受光面對所述+1次衍射光束的受光光斑中位于所述第I方向的正方向上的外側(cè)的一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，生成第I副檢測信號，所述第2外側(cè)副受光面對所述-1次衍射光束的受光光斑中位于所述第I方向的負(fù)方向上的外側(cè)的一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，生成第2副檢測信號，所述信號處理部根據(jù)所述第I主檢測信號和所述第2主檢測信號生成主推挽信號，并且根據(jù)所述第I副檢測信號和所述第2副檢測信號檢測因所述物鏡相對于所述光檢測元件的相對移位引起的偏置成分，并從所述主推挽信號中去除所述偏置成分，由此生成所述循軌伺服控制信號。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光盤裝置，其特征在于，所述第I內(nèi)側(cè)副受光面具有比所述第I副受光部中包含的該多個副受光面中所述第I內(nèi)側(cè)副受光面以外的其它副受光面大的受光面積，所述第2內(nèi)側(cè)副受光面具有比所述第2副受光部中包含的該多個副受光面中所述第2內(nèi)側(cè)副受光面以外的其它副受光面大的受光面積。10.一種光學(xué)頭裝置，其特征在于，該光學(xué)頭裝置具有:半導(dǎo)體激光器；物鏡，其使從所述半導(dǎo)體激光器射出的單一的光束會聚，在光盤的信息記錄層形成會聚光斑；光學(xué)元件，其使被所述光盤反射的返回光束透射式衍射；以及光檢測元件，其接收所述透射衍射光束，所述返回光束包括被所述光盤衍射的反射衍射光，所述光學(xué)元件包含:主衍射區(qū)域，其被配置于所述反射衍射光的O次光成分的一部分和所述反射衍射光的±1次光成分的全部或一部分入射的位置處，具有O次衍射作用和±1次衍射作用；以及一對副衍射區(qū)域，其具有O次衍射作用和±1次衍射作用，被配置于，在設(shè)所述反射衍射光的O次光成分與所述反射衍射光的±1次光成分所成的列的方向為第I方向時，在與所述第I方向垂直的第2方向上的所述主衍射區(qū)域的外側(cè)、且所述反射衍射光的O次光成分的剩余部分入射的位置處，所述光檢測元件包含:主受光部，其具有沿著與所述光盤的徑向?qū)?yīng)的第I方向排列的第I主受光面和第2主受光面；第I副受光部，其被配置于在所述第I方向的正方向外側(cè)離開該主受光部的位置處；以及第I非光檢測區(qū)域，其介于所述主受光部和所述第I副受光部之間，從所述主受光部的所述第I方向的正方向上的端部起連續(xù)地延伸到所述第I副受光部的所述第I方向的負(fù)方向上的端部，所述第I主受光面和所述第2主受光面對透過所述主衍射區(qū)域和所述一對副衍射區(qū)域雙方的O次衍射光束的受光光斑進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，分別輸出第I主檢測信號和第2主檢測信號，所述第I副受光部被配置在檢測通過所述一對副衍射區(qū)域的該+1次衍射作用生成的+1次衍射光束的受光光斑中位于所述第I方向的正方向上的外側(cè)的一部分的位置處，對這一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換而輸出第I副檢測信號，所述+1次衍射光束的受光光斑的剩余部分照射在所述第I非光檢測區(qū)域中。11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的光學(xué)頭裝置，其特征在于，所述光檢測元件還包含:第2副受光部，其被配置于在所述第I方向的負(fù)方向外側(cè)離開所述主受光部的位置處；以及第2非光檢測區(qū)域，其介于所述主受光部和所述第2副受光部之間，從所述主受光部的所述第I方向的負(fù)方向上的端部起連續(xù)地延伸到所述第2副受光部的所述第I方向的正方向上的端部，所述第2副受光部被配置在檢測通過所述一對副衍射區(qū)域的該-1次衍射作用生成的-1次衍射光束的受光光斑中位于所述第I方向的負(fù)方向上的外側(cè)的一部分的位置處，對所述-1次衍射光束的受光光斑的這一部分進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換而輸出第2副檢測信號，所述-1次衍射光束的受光光斑的剩余部分照射在所述第2非光檢測區(qū)域中。12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的光學(xué)頭裝置，其特征在于，所述光盤是具有多個信息記錄層的多層光盤，所述第I副受光部及所述第2副受光部分別被配置于來自所述多個信息記錄層中的、與作為信息記錄或者再現(xiàn)的對象的信息記錄層相鄰的信息記錄層的反射光不會入射的位置處。13.—種光盤裝置，其特征在于，該光盤裝置具有:權(quán)利要求10所述的光學(xué)頭裝置；盤驅(qū)動部，其使所述光盤旋轉(zhuǎn)；信號處理部，其根據(jù)由所述光學(xué)頭裝置檢測到的信號生成循軌伺服控制信號；以及伺服控制部，其根據(jù)所述循軌伺服控制信號進(jìn)行使所述物鏡沿所述光盤的徑向移位的控制，所述信號處理部根據(jù)所述第I主檢測信號和所述第2主檢測信號生成主推挽信號，并且根據(jù)所述第I副檢測信號檢測因所述物鏡相對于所述光檢測元件的相對移位而引起的偏置成分，并從所述主推挽信號中去除所述偏置成分，由此生成所述循軌伺服控制信號。14.一種光盤裝置，其特征在于，該光盤裝置具有:權(quán)利要求11所述的光學(xué)頭裝置；盤驅(qū)動部，其使所述光盤旋轉(zhuǎn)；信號處理部，其根據(jù)由所述光學(xué)頭裝置檢測到的信號生成循軌伺服控制信號；以及伺服控制部，其根據(jù)所述循軌伺服控制信號進(jìn)行使所述物鏡沿所述光盤的徑向移位的控制，所述信號處理部根據(jù)所述第I主檢測信號和所述第2主檢測信號生成主推挽信號，并且根據(jù)所述第I副檢測信號和所述第2副檢測信號檢測因所述物鏡相對于所述光檢測元件的相對移位引起的偏置成分，并從所述主推挽信號中去除所述偏置成分，由此生成所述循軌伺服控制信號。【文檔編號】G11B7/1353GK104081459SQ201280065953【公開日】2014年10月1日申請日期:2012年11月26日優(yōu)先權(quán)日:2012年1月6日【發(fā)明者】大牧正幸,中井賢也,竹下伸夫申請人:三菱電機(jī)株式會社