內(nèi)存測試方法及裝置制造方法
【專利摘要】一種內(nèi)存測試方法及裝置，適于由電子裝置測試內(nèi)存。此方法先掃描用以測試內(nèi)存的時(shí)鐘脈沖訊號(hào)的第一波形的左右邊界，以取得所述左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的最大寬度。接著，取得內(nèi)存輸出的數(shù)據(jù)訊號(hào)的中央?yún)⒖茧妷?，并取得此中央?yún)⒖茧妷号c數(shù)據(jù)訊號(hào)的第二波形的左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的數(shù)據(jù)寬度。最后，判斷數(shù)據(jù)寬度與最大寬度的差值是否大于門檻值，而當(dāng)所述差值大于門檻值時(shí)，判斷內(nèi)存損壞。
【專利說明】內(nèi)存測試方法及裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明是有關(guān)于一種測試方法及裝置，且特別是有關(guān)于一種內(nèi)存測試方法及裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]雙倍數(shù)據(jù)率(Double Data Rate，DDR)是一種基于同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取內(nèi)存(Synchronous Dynamic Random Access Memory, SDRAM)的革命性內(nèi)存技術(shù),其提供一種高性能、低成本的內(nèi)存解決方案。由于DDRSDRAM的數(shù)據(jù)傳送發(fā)生在時(shí)鐘脈沖訊號(hào)的兩個(gè)邊沿，而SDRAM僅在時(shí)鐘脈沖訊號(hào)的上升沿傳送數(shù)據(jù)，因此DDR SDRAM的訪問速度可達(dá)到SDRAM的兩倍。與傳統(tǒng)的SDRAM相比，DDR還具有更低的功耗。
[0003]DDR SDRAM主要用于個(gè)人計(jì)算機(jī)、服務(wù)器等產(chǎn)品，一般是設(shè)計(jì)成雙行內(nèi)存模塊(Dual In-Line Memory Module, DIMM)的形式,用來插在計(jì)算機(jī)主板的內(nèi)存插槽上。而為了節(jié)省配置空間及成本，近來個(gè)人計(jì)算機(jī)的設(shè)計(jì)上，逐漸采用內(nèi)建(On-board)的形式將內(nèi)存直接燒在主板上。然而，當(dāng)此內(nèi)建內(nèi)存發(fā)生損壞時(shí)，由于現(xiàn)行做法無法判別發(fā)生錯(cuò)誤的內(nèi)存顆粒，因此只能透過硬件的方式重新上過新的內(nèi)存顆粒，結(jié)果往往導(dǎo)致整片主板作廢。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供一種內(nèi)存測試方法及裝置，可在內(nèi)存初始化的過程中判斷內(nèi)存是否損壞。
[0005]本發(fā)明提出一種內(nèi)存測試方法，適于由電子裝置測試內(nèi)存。此方法先掃描用以測試內(nèi)存的時(shí)鐘脈沖訊號(hào)(DQS)的第一波形的左右邊界，以取得所述左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的最大寬度。接著，取得內(nèi)存輸出的數(shù)據(jù)訊號(hào)(DQ)的中央?yún)⒖茧妷海⑷〉么酥醒雲(yún)⒖茧妷号c數(shù)據(jù)訊號(hào)的第二波形的左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的數(shù)據(jù)寬度。最后，判斷數(shù)據(jù)寬度與最大寬度的差值是否大于門檻值，而當(dāng)所述差值大于門檻值時(shí)，判斷內(nèi)存損壞。
[0006]在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的時(shí)鐘脈沖訊號(hào)包括兩個(gè)差分訊號(hào)，而上述掃描用以測試內(nèi)存的時(shí)鐘脈沖訊號(hào)的第一波形的左右邊界，以取得左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的最大寬度的步驟包括掃描兩個(gè)差分訊號(hào)的左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)，以取得左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的最大寬度。
[0007]在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述判斷數(shù)據(jù)寬度與最大寬度的差值是否大于門檻值的步驟更包括判斷數(shù)據(jù)寬度是否大于最大寬度，其中若數(shù)據(jù)寬度大于最大寬度，則直接以數(shù)據(jù)寬度與最大寬度的差值和門檻值比較，以判斷此差值是否大于門檻值；若數(shù)據(jù)寬度小于最大寬度，則計(jì)算數(shù)據(jù)寬度與最大寬度的差值的絕對(duì)值，用以和門檻值比較，以判斷此差值的絕對(duì)值是否大于門檻值。
[0008]在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的內(nèi)存測試方法適于在電子裝置的基本輸入/輸出系統(tǒng)(B1S)執(zhí)行內(nèi)存初始化時(shí)實(shí)施。
[0009]在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述取得中央?yún)⒖茧妷号c數(shù)據(jù)訊號(hào)的第二波形的左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的數(shù)據(jù)寬度，判斷數(shù)據(jù)寬度與最大寬度的差值是否大于門檻值，以判斷內(nèi)存是否損壞的步驟包括針對(duì)內(nèi)存中多個(gè)內(nèi)存顆粒，依序取得中央?yún)⒖茧妷号c各個(gè)內(nèi)存顆粒輸出的數(shù)據(jù)訊號(hào)的第二波形的左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的數(shù)據(jù)寬度，并判斷此數(shù)據(jù)寬度與最大寬度的差值是否大于門檻值，而當(dāng)所述差值大于門檻值時(shí)，即可判斷內(nèi)存顆粒損壞。
[0010]本發(fā)明提出一種內(nèi)存測試裝置，其包括時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器、波形掃描器、數(shù)據(jù)分析器及比較器。其中，時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器耦接內(nèi)存，產(chǎn)生用以測試內(nèi)存的時(shí)鐘脈沖訊號(hào)，并輸出至內(nèi)存。波形掃描器耦接時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器，用以掃描時(shí)鐘脈沖訊號(hào)的第一波形的左右邊界，以取得此左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的最大寬度。數(shù)據(jù)分析器耦接內(nèi)存，用以取得內(nèi)存輸出的數(shù)據(jù)訊號(hào)的中央?yún)⒖茧妷?，并取得此中央?yún)⒖茧妷号c數(shù)據(jù)訊號(hào)的第二波形的左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的數(shù)據(jù)寬度。比較器耦接波形產(chǎn)生器及數(shù)據(jù)分析器，用以判斷數(shù)據(jù)寬度與最大寬度的差值是否大于門檻值，并在判斷差值大于門檻值時(shí)，判斷內(nèi)存損壞。
[0011]在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的時(shí)鐘脈沖訊號(hào)包括兩個(gè)差分訊號(hào)，而上述的波形掃描器系掃描這兩個(gè)差分訊號(hào)的左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)，以取得左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的最大寬度。
[0012]在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的比較器更判斷數(shù)據(jù)寬度是否大于最大寬度，若數(shù)據(jù)寬度大于最大寬度，則直接以數(shù)據(jù)寬度與最大寬度的差值和門檻值比較，以判斷此差值是否大于門檻值，而若數(shù)據(jù)寬度小于最大寬度，則計(jì)算數(shù)據(jù)寬度與最大寬度的差值的絕對(duì)值，用以和門檻值比較，以判斷此差值的絕對(duì)值是否大于門檻值。
[0013]在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的內(nèi)存測試裝置是在配置所述內(nèi)存的電子裝置的基本輸入/輸出系統(tǒng)執(zhí)行內(nèi)存初始化時(shí)實(shí)施內(nèi)存測試。
[0014]在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器及數(shù)據(jù)分析器分別耦接內(nèi)存的多個(gè)內(nèi)存顆粒，其中，時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器將時(shí)鐘脈沖訊號(hào)輸出至各個(gè)內(nèi)存顆粒。數(shù)據(jù)分析器依序取得中央?yún)⒖茧妷号c各個(gè)內(nèi)存顆粒輸出的數(shù)據(jù)訊號(hào)的第二波形的左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的數(shù)據(jù)寬度。比較器則判斷數(shù)據(jù)分析器所取得的數(shù)據(jù)寬度與最大寬度的差值是否大于門檻值，并在差值大于門檻值時(shí)，判斷內(nèi)存顆粒損壞。
[0015]在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的門檻值為時(shí)鐘脈沖訊號(hào)與數(shù)據(jù)訊號(hào)之間的偏斜的正負(fù)值或是其倍數(shù)。
[0016]基于上述，本發(fā)明的內(nèi)存測試方法及裝置藉由掃描時(shí)鐘脈沖波形，以獲得其有效數(shù)據(jù)窗口的最大寬度，并與內(nèi)存輸出的數(shù)據(jù)訊號(hào)的寬度進(jìn)行比較，當(dāng)數(shù)據(jù)訊號(hào)的寬度溢出此最大寬度時(shí)，即判定該內(nèi)存損壞。本發(fā)明的方式可進(jìn)一步用于測試內(nèi)存中的不同內(nèi)存顆粒，以找出損壞顆粒以進(jìn)行更換，從而降低內(nèi)建此內(nèi)存的主板的作廢率。
[0017]為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合所附附圖作詳細(xì)說明如下。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0018]圖1是依照本發(fā)明一實(shí)施例所繪示的DQS訊號(hào)和DQ訊號(hào)之間偏斜的示意圖。
[0019]圖2是依照本發(fā)明一實(shí)施例所繪示的DQS訊號(hào)和DQ訊號(hào)的有效數(shù)據(jù)寬度的示意圖。
[0020]圖3是依照本發(fā)明一實(shí)施例所繪示的內(nèi)存測試裝置的方塊圖。
[0021]圖4是依照本發(fā)明一實(shí)施例所繪示之內(nèi)存測試方法的流程圖。
[0022]其中，附圖標(biāo)記說明如下:
[0023]10:內(nèi)存
[0024]30:內(nèi)存測試裝置
[0025]32:時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器
[0026]34:波形掃描器
[0027]36:數(shù)據(jù)分析器
[0028]38:比較器
[0029]A、B、C、D:交叉點(diǎn)
[0030]tDQSQ:偏斜
[0031]tQH:對(duì)齊延時(shí)
[0032]tValid、tDQ:寬度
[0033]VREF:中央?yún)⒖茧妷?br> [0034]S402?S412:本發(fā)明一實(shí)施例的內(nèi)存測試方法的各步驟

【具體實(shí)施方式】
[0035]由于DDR的時(shí)鐘脈沖訊號(hào)米用差分訊號(hào)(包括DQS和/DQS訊號(hào)),并以此差分訊號(hào)的交叉點(diǎn)(cross-point)作為數(shù)據(jù)(DQ)訊號(hào)的參考時(shí)鐘脈沖。此差分信號(hào)兩個(gè)邊界的交叉點(diǎn)則定義了有效數(shù)據(jù)的寬度。另一方面，當(dāng)DQS訊號(hào)和DQ訊號(hào)的斜率存在時(shí)，DQS訊號(hào)的起始交叉點(diǎn)與DQ訊號(hào)的起始點(diǎn)會(huì)存在一個(gè)有限的偏斜(skew)，其稱為DQS訊號(hào)和DQ訊號(hào)的偏斜(DQ-DQS skew)ο
[0036]舉例來說，圖1是依照本發(fā)明一實(shí)施例所繪示的DQS訊號(hào)和DQ訊號(hào)之間偏斜的示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D1，DQS訊號(hào)的起始點(diǎn)(即DQS訊號(hào)和/DQS訊號(hào)的交叉點(diǎn))和DQ訊號(hào)的起始點(diǎn)之間存在偏斜tDQSQ，而DQ訊號(hào)的第一個(gè)有效數(shù)據(jù)線和最后一個(gè)有效數(shù)據(jù)線之間存在對(duì)齊延時(shí)，此參數(shù)稱為tQH。若將參數(shù)tQH減去偏斜tDQSQ，則可得到DQ訊號(hào)的有效數(shù)據(jù)寬度。本發(fā)明即根據(jù)上述原理，設(shè)法找出用以測試內(nèi)存的時(shí)鐘脈沖訊號(hào)(DQS)的最大寬度，并利用數(shù)據(jù)訊號(hào)(DQ)的中央?yún)⒖茧妷海页鰯?shù)據(jù)訊號(hào)的數(shù)據(jù)寬度，兩相比較之下，當(dāng)數(shù)據(jù)寬度溢出最大寬度時(shí)，貝Ij可判定數(shù)據(jù)無效，進(jìn)而判定內(nèi)存損壞。
[0037]圖2是依照本發(fā)明一實(shí)施例所繪示的DQS訊號(hào)和DQ訊號(hào)的有效數(shù)據(jù)寬度的示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D2，DQS訊號(hào)和/DQS訊號(hào)的兩個(gè)交叉點(diǎn)A、B之間的寬度tValid可決定了 DQS訊號(hào)的有效數(shù)據(jù)寬度。而DQ訊號(hào)與中央?yún)⒖茧妷?VREF)訊號(hào)的交點(diǎn)C、D之間的寬度tDQ則決定DQ訊號(hào)的有效數(shù)據(jù)寬度。若進(jìn)一步考慮DQS訊號(hào)和DQ訊號(hào)之間的偏斜(DQ-DQS skew),則可得出若DQ訊號(hào)的寬度tDQ溢出DQS訊號(hào)和/DQS訊號(hào)之間可能的最大寬度tValid且超出預(yù)設(shè)的門檻值時(shí)，則可判定DQ訊號(hào)的波形無效，進(jìn)而判定內(nèi)存損壞。其中，上述的門檻值例如是DQS訊號(hào)和DQ訊號(hào)之間的偏斜或是其倍數(shù)，在此不設(shè)限。
[0038]根據(jù)上述，圖3是依照本發(fā)明一實(shí)施例所繪示的內(nèi)存測試裝置的方塊圖。請(qǐng)參照?qǐng)D3，本實(shí)施例的內(nèi)存測試裝置30包括時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器32、波形掃描器34、數(shù)據(jù)分析器36及比較器38。其中，時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器32耦接內(nèi)存10，其用以產(chǎn)生用以測試內(nèi)存10的時(shí)鐘脈沖訊號(hào)(DQS)。其中，時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器32例如會(huì)產(chǎn)生一個(gè)差分時(shí)鐘脈沖訊號(hào)送入內(nèi)存10，而由內(nèi)存10中的一個(gè)延遲鎖相回路(Delay-Locked Loop, DLL)生成DQS訊號(hào)。波形掃描器34耦接時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器32，用以決定時(shí)鐘脈沖訊號(hào)的最大有效數(shù)據(jù)寬度。另一方面，數(shù)據(jù)分析器36亦耦接內(nèi)存10，用以決定內(nèi)存10輸出的數(shù)據(jù)訊號(hào)(DQ)的有效數(shù)據(jù)寬度。比較器38則分別耦接時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器32及數(shù)據(jù)分析器36，用以比較兩者決定的數(shù)據(jù)寬度，從而判定所測試的內(nèi)存是否損壞。
[0039]圖4是依照本發(fā)明一實(shí)施例所繪示的內(nèi)存測試方法的流程圖。請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D3及圖4，本實(shí)施例的方法適用于上述的內(nèi)存測試裝置30，適于在配置有內(nèi)存10的電子裝置的基本輸入/輸出系統(tǒng)(B1S)執(zhí)行內(nèi)存10的初始化時(shí)實(shí)施。以下即搭配圖3中內(nèi)存測試裝置30的各項(xiàng)組件，說明本實(shí)施例方法的詳細(xì)流程。
[0040]首先，由波形掃描器34掃描由時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器32產(chǎn)生，用以測試內(nèi)存10的時(shí)鐘脈沖訊號(hào)(DQS)的第一波形的左右邊界，以取得此左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的最大寬度(步驟S402)。其中，上述的時(shí)鐘脈沖訊號(hào)包括兩個(gè)差分訊號(hào)，而波形掃描器34即是掃描這兩個(gè)差分訊號(hào)的左右邊界的交點(diǎn)，從而取得所需的最大寬度。此外，波形掃描器34例如會(huì)在預(yù)定時(shí)間內(nèi)重復(fù)掃描由時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器32產(chǎn)生的多個(gè)波形，從而取得這些波形左右交點(diǎn)的寬度，并取其中的最大值做為用以判斷數(shù)據(jù)訊號(hào)是否有效的依據(jù)。也就是說，數(shù)據(jù)訊號(hào)必須在此最大寬度內(nèi)送完才會(huì)被視為有效。
[0041]接著，由數(shù)據(jù)分析器36取得內(nèi)存10輸出的數(shù)據(jù)訊號(hào)(DQ)的中央?yún)⒖茧妷?步驟S404)，并取得此中央?yún)⒖茧妷号c數(shù)據(jù)訊號(hào)的第二波形的左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的數(shù)據(jù)寬度(步驟S406)。此數(shù)據(jù)寬度即可視為是數(shù)據(jù)訊號(hào)的有效數(shù)據(jù)寬度。
[0042]然后，由比較器38計(jì)算上述數(shù)據(jù)寬度與最大寬度的差值，并與一個(gè)預(yù)設(shè)的門檻值比較，以判斷此差值是否大于門檻值(步驟S408)。其中，由于時(shí)鐘脈沖訊號(hào)(DQS)與數(shù)據(jù)訊號(hào)(DQ)之間存在偏斜(如圖1所示的偏斜tDQSQ)，因此本實(shí)施例即以此偏斜的正負(fù)值，或其倍數(shù)做為門檻值，以判斷數(shù)據(jù)寬度溢出最大寬度的幅度是否在可接受的范圍內(nèi)。
[0043]最后，當(dāng)比較器38判斷上述的差值大于門檻值時(shí)，即可判斷所測試的內(nèi)存損壞(步驟S410)。反之，則可判斷所測試的內(nèi)存未損壞(步驟S412)。其中，比較器38在計(jì)算數(shù)據(jù)寬度與最大寬度的差值時(shí)，例如會(huì)先判斷數(shù)據(jù)寬度是否大于最大寬度，而若數(shù)據(jù)寬度大于最大寬度，比較器38將會(huì)直接以此數(shù)據(jù)寬度與最大寬度的差值和門檻值比較，以判斷此差值是否大于門檻值；若數(shù)據(jù)寬度小于最大寬度，比較器38則會(huì)計(jì)算此數(shù)據(jù)寬度與最大寬度的差值的絕對(duì)值，并用以和門檻值比較，以判斷此差值的絕對(duì)值是否大于門檻值。
[0044]需說明的是，在本實(shí)施例中，所述的內(nèi)存測試方法是以單一內(nèi)存為例做說明，而在另一實(shí)施例中，此方法亦可用于測試內(nèi)存中的多個(gè)內(nèi)存顆粒。詳言之，上述的波形掃描器34、數(shù)據(jù)分析器36可依序連接至內(nèi)存10的多個(gè)內(nèi)存顆粒，并分別掃描這些內(nèi)存顆粒。當(dāng)單
個(gè)內(nèi)存顆粒掃描完成后，再接續(xù)掃描其他內(nèi)存顆粒。而當(dāng)完成所有內(nèi)存顆粒的判讀后，亦可接著判斷其他信道的內(nèi)存，直到所有信道的內(nèi)存均完成判讀為止。
[0045]綜上所述，本發(fā)明的內(nèi)存測試方法及裝置藉由掃描內(nèi)存輸出的數(shù)據(jù)訊號(hào)波形以獲得其數(shù)據(jù)寬度，并與預(yù)先測定的最大寬度比較，從而根據(jù)數(shù)據(jù)寬度是否溢出最大寬度以判定內(nèi)存是否損壞，此測試安插在內(nèi)存初始化的過程中，可避免內(nèi)存在初始化過程中發(fā)生錯(cuò)誤造成后續(xù)無法判讀的情況。此外，藉由本發(fā)明的軟件測試方式，也可幫助測試工程師找出損壞的內(nèi)存顆粒以進(jìn)行更換，從而降低內(nèi)建此內(nèi)存的主板的作廢率。
[0046]雖然本發(fā)明已以實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何所屬【技術(shù)領(lǐng)域】中的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的構(gòu)思和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動(dòng)與潤飾，故本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視權(quán)利要求書所界定者為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種內(nèi)存測試方法，適于由一電子裝置測試一內(nèi)存，其特征在于，該方法包括下列步驟: 掃描用以測試該內(nèi)存的一時(shí)鐘脈沖訊號(hào)的一第一波形的左右邊界，以取得該左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的一最大寬度； 取得該內(nèi)存輸出的一數(shù)據(jù)訊號(hào)的一中央?yún)⒖茧妷海? 取得該中央?yún)⒖茧妷号c該數(shù)據(jù)訊號(hào)的一第二波形的左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的一數(shù)據(jù)寬度； 判斷該數(shù)據(jù)寬度與該最大寬度的一差值是否大于一門檻值；以及 當(dāng)該差值大于該門檻值時(shí)，判斷該內(nèi)存損壞。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的內(nèi)存測試方法，其中，該時(shí)鐘脈沖訊號(hào)包括兩個(gè)差分訊號(hào)，而掃描用以測試該內(nèi)存的該時(shí)鐘脈沖訊號(hào)的該第一波形的該左右邊界，以取得該左右邊界的該兩個(gè)交點(diǎn)之間的該最大寬度的步驟包括: 掃描該兩個(gè)差分訊號(hào)的該左右邊界的該兩個(gè)交點(diǎn)，以取得該左右邊界的該兩個(gè)交點(diǎn)之間的該最大寬度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的內(nèi)存測試方法，其中，判斷該數(shù)據(jù)寬度與該最大寬度的該差值是否大于該門檻值的步驟還包括: 判斷該數(shù)據(jù)寬度是否大于該最大寬度； 若該數(shù)據(jù)寬度大于該最大寬度，直接以該數(shù)據(jù)寬度與該最大寬度的該差值和該門檻值比較，以判斷該差值是否大于該門檻值；以及 若該數(shù)據(jù)寬度小于該最大寬度，計(jì)算該數(shù)據(jù)寬度與該最大寬度的該差值的一絕對(duì)值，用以和該門檻值比較，以判斷該差值的該絕對(duì)值是否大于該門檻值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的內(nèi)存測試方法，其中，所述方法適于在該電子裝置的一基本輸入/輸出系統(tǒng)執(zhí)行該內(nèi)存初始化時(shí)實(shí)施。
5.根據(jù)權(quán)利要求1的內(nèi)存測試方法，其中，取得該中央?yún)⒖茧妷号c該數(shù)據(jù)訊號(hào)的該第二波形的該左右邊界的該兩個(gè)交點(diǎn)之間的該數(shù)據(jù)寬度，判斷該數(shù)據(jù)寬度與該最大寬度的該差值是否大于該門檻值，以判斷該內(nèi)存是否損壞的步驟包括: 針對(duì)該內(nèi)存中多個(gè)內(nèi)存顆粒，依序取得該中央?yún)⒖茧妷号c各所述內(nèi)存顆粒輸出的該數(shù)據(jù)訊號(hào)的該第二波形的該左右邊界的該兩個(gè)交點(diǎn)之間的該數(shù)據(jù)寬度； 判斷該數(shù)據(jù)寬度與該最大寬度的該差值是否大于該門檻值；以及 當(dāng)該差值大于該門檻值時(shí)，判斷該內(nèi)存顆粒損壞。
6.根據(jù)權(quán)利要求1的內(nèi)存測試方法，其中，該門檻值為該時(shí)鐘脈沖訊號(hào)與該數(shù)據(jù)訊號(hào)之間的一偏斜的正負(fù)值或是其倍數(shù)。
7.—種內(nèi)存測試裝置，其特征在于，包括: 一時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器，耦接一內(nèi)存，產(chǎn)生用以測試該內(nèi)存的一時(shí)鐘脈沖訊號(hào)，并輸出至該內(nèi)存； 一波形掃描器，稱接該時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器，掃描該時(shí)鐘脈沖訊號(hào)的一第一波形的左右邊界，以取得該左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的一最大寬度； 一數(shù)據(jù)分析器，耦接該內(nèi)存，取得該內(nèi)存輸出的一數(shù)據(jù)訊號(hào)的一中央?yún)⒖茧妷?，并取得該中央?yún)⒖茧妷号c該數(shù)據(jù)訊號(hào)的一第二波形的左右邊界的兩個(gè)交點(diǎn)之間的一數(shù)據(jù)寬度；以及 一比較器，耦接該波形產(chǎn)生器及該數(shù)據(jù)分析器，判斷該數(shù)據(jù)寬度與該最大寬度的一差值是否大于一門檻值，并在判斷該差值大于該門檻值時(shí)，判斷該內(nèi)存損壞。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的內(nèi)存測試裝置，其中，該時(shí)鐘脈沖訊號(hào)包括兩個(gè)差分訊號(hào)，而該波形掃描器掃描該兩個(gè)差分訊號(hào)的該左右邊界的該兩個(gè)交點(diǎn)，以取得該左右邊界的該兩個(gè)交點(diǎn)之間的該最大寬度。
9.根據(jù)權(quán)利要求7的內(nèi)存測試裝置，其中，該比較器更判斷該數(shù)據(jù)寬度是否大于該最大寬度，若該數(shù)據(jù)寬度大于該最大寬度，直接以該數(shù)據(jù)寬度與該最大寬度的該差值和該門檻值比較，以判斷該差值是否大于該門檻值，而若該數(shù)據(jù)寬度小于該最大寬度，計(jì)算該數(shù)據(jù)寬度與該最大寬度的該差值的一絕對(duì)值，用以和該門檻值比較，以判斷該差值的該絕對(duì)值是否大于該門檻值。
10.根據(jù)權(quán)利要求7的內(nèi)存測試裝置，其中，該內(nèi)存測試裝置是在配置該內(nèi)存的一電子裝置的一基本輸入/輸出系統(tǒng)執(zhí)行該內(nèi)存初始化時(shí)實(shí)施內(nèi)存測試。
11.根據(jù)權(quán)利要求7的內(nèi)存測試裝置，其中，該時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器及該數(shù)據(jù)分析器分別耦接該內(nèi)存的多個(gè)內(nèi)存顆粒，其中， 該時(shí)鐘脈沖產(chǎn)生器輸出該時(shí)鐘脈沖訊號(hào)至各所述內(nèi)存顆粒； 該數(shù)據(jù)分析器依序取得該中央?yún)⒖茧妷号c各所述內(nèi)存顆粒輸出的該數(shù)據(jù)訊號(hào)的該第二波形的該左右邊界的該兩個(gè)交點(diǎn)之間的該數(shù)據(jù)寬度；以及 該比較器判斷該數(shù)據(jù)分析器所取得的該數(shù)據(jù)寬度與該最大寬度的該差值是否大于該門檻值，并在該差值大于該門檻值時(shí)，判斷該內(nèi)存顆粒損壞。
12.根據(jù)權(quán)利要求7的內(nèi)存測試裝置，其中，該門檻值為該時(shí)鐘脈沖訊號(hào)與該數(shù)據(jù)訊號(hào)之間的一偏斜的正負(fù)值或是其倍數(shù)。
【文檔編號(hào)】G11C29/56GK104517655SQ201310465831
【公開日】2015年4月15日 申請(qǐng)日期:2013年10月8日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月1日
【發(fā)明者】謝旻樺 申請(qǐng)人:緯創(chuàng)資通股份有限公司