一種自動(dòng)測(cè)試閃存的系統(tǒng)及方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種自動(dòng)測(cè)試閃存的系統(tǒng)，其特征在于包括主機(jī)、機(jī)械手、測(cè)試架及測(cè)試座。所述主機(jī)內(nèi)預(yù)置有量產(chǎn)工具，所述主機(jī)與所述機(jī)械手之間設(shè)置有第一數(shù)據(jù)傳輸接口，所述主機(jī)與所述測(cè)試架之間設(shè)置有第二數(shù)據(jù)傳輸接口，所述量產(chǎn)工具通過(guò)所述第一數(shù)據(jù)傳輸接口發(fā)送移動(dòng)指令給所述機(jī)械手，所述機(jī)械手根據(jù)所述移動(dòng)指令移動(dòng)閃存，所述量產(chǎn)工具通過(guò)所述第二數(shù)據(jù)傳輸接口發(fā)送測(cè)試指令給所述測(cè)試架，所述測(cè)試架根據(jù)所述測(cè)試指令測(cè)試閃存，所述測(cè)試座安裝在測(cè)試架上。由于采用了機(jī)械手替代人工操作，使整個(gè)測(cè)試過(guò)程自動(dòng)完成，可以有效的提高生產(chǎn)效率，節(jié)省人工成本，減少出錯(cuò)率。
【專利說(shuō)明】一種自動(dòng)測(cè)試閃存的系統(tǒng)及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本技術(shù)主要應(yīng)用于閃存測(cè)試領(lǐng)域，特別是一種自動(dòng)化測(cè)試閃存的系統(tǒng)及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]通常情況下，閃存在焊貼到主控芯片上之前，都需要進(jìn)行閃存的測(cè)試及量產(chǎn)，通過(guò)了測(cè)試和量產(chǎn)的閃存才能被貼到主控芯片上，該過(guò)程目前一般采用的方法是，工廠操作人員在電腦上使用各個(gè)主控廠商提供的量產(chǎn)工具軟件，通過(guò)電腦usb 口通信連接到各個(gè)主控廠商提供的量產(chǎn)測(cè)試架上，然后啟動(dòng)量產(chǎn)工具軟件進(jìn)行測(cè)試，由測(cè)試員通過(guò)肉眼看量產(chǎn)工具軟件在電腦上的顯示來(lái)判斷測(cè)試結(jié)果，在測(cè)試完一片閃存后由操作人員手動(dòng)更換閃存再進(jìn)行測(cè)試，此過(guò)程不僅效率較低，而且存在較大的人為誤判風(fēng)險(xiǎn)。人工操作容易導(dǎo)致閃存管腳損壞變形，并且主控廠商的硬件測(cè)試平臺(tái)不統(tǒng)一，更換和維護(hù)的成本都較大。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003]本發(fā)明的目的是提供一種自動(dòng)測(cè)試閃存的系統(tǒng)及方法，可以有效的提高生產(chǎn)效率，降低測(cè)試成本。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種自動(dòng)測(cè)試閃存的系統(tǒng)，其特征在于包括主機(jī)、機(jī)械手、測(cè)試架及測(cè)試座。所述主機(jī)內(nèi)預(yù)置有量產(chǎn)工具，所述主機(jī)與所述機(jī)械手之間設(shè)置有第一數(shù)據(jù)傳輸接口，所述主機(jī)與所述測(cè)試架之間設(shè)置有第二數(shù)據(jù)傳輸接口，所述量產(chǎn)工具通過(guò)所述第一數(shù)據(jù)傳輸接口發(fā)送移動(dòng)指令給所述機(jī)械手，所述機(jī)械手根據(jù)所述移動(dòng)指令移動(dòng)閃存，所述量產(chǎn)工具通過(guò)所述第二數(shù)據(jù)傳輸接口發(fā)送測(cè)試指令給所述測(cè)試架，所述測(cè)試架根據(jù)所述測(cè)試指令測(cè)試閃存，所述測(cè)試座安裝在測(cè)試架上。
[0005]較佳的，所述機(jī)械手頂部設(shè)置有吸盤，用于吸住閃存。
[0006]較佳的，所述機(jī)械手頂部還設(shè)置有以與所述測(cè)試座形狀一致的壓頭，所述壓頭用于壓緊閃存。
[0007]較佳的，所述機(jī)械手能夠上下左右前后移動(dòng)。
[0008]較佳的，所述測(cè)試座可拆卸。
[0009]較佳的，所述測(cè)試架上設(shè)置有測(cè)試電路，在所述機(jī)械手將閃存放入所述測(cè)試座后，所述主機(jī)發(fā)送測(cè)試指令至所述測(cè)試架進(jìn)行測(cè)試。
[0010]本發(fā)明還提供了一種自動(dòng)測(cè)試閃存的方法，其特征在于包括以下步驟:
[0011]A啟動(dòng)量產(chǎn)工具
[0012]B主機(jī)發(fā)送移入指令給機(jī)械手
[0013]C機(jī)械手吸取閃存放入測(cè)試座
[0014]D機(jī)械手發(fā)送完成指令給主機(jī)
[0015]E主機(jī)發(fā)送測(cè)試指令給測(cè)試架
[0016]F測(cè)試架對(duì)閃存進(jìn)行測(cè)試
[0017]G測(cè)試結(jié)束后測(cè)試架發(fā)送完成測(cè)試指令給主機(jī)[0018]H主機(jī)發(fā)送移出指令給機(jī)械手
[0019]I機(jī)械手吸取閃存移出測(cè)試座并根據(jù)測(cè)試結(jié)果將閃存放入相應(yīng)位置
[0020]J詢問(wèn)是否繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試
[0021]是則重復(fù)步驟B
[0022]否則結(jié)束測(cè)試，機(jī)械手歸位
[0023]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的一種自動(dòng)測(cè)試閃存的系統(tǒng)和方法，由于采用了機(jī)械手替代人工操作，使整個(gè)測(cè)試過(guò)程自動(dòng)完成，可以有效的提高生產(chǎn)效率，節(jié)省人工成本，減少出錯(cuò)率。
[0024]通過(guò)以下的描述并結(jié)合附圖，本發(fā)明將變得更加清晰，這些附圖用于解釋本發(fā)明?！緦＠綀D】
【附圖說(shuō)明】
[0025]圖1為本發(fā)明系統(tǒng)框圖
[0026]圖2為本發(fā)明流程圖
【具體實(shí)施方式】
[0027]現(xiàn)在參考附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行描述。如上所述，本發(fā)明提供了一種自動(dòng)測(cè)試閃存的系統(tǒng)和方法，該方法采用機(jī)械手代替人工，使整個(gè)測(cè)試過(guò)程自動(dòng)完成，節(jié)省了成本，提聞了生廣效率。
[0028]請(qǐng)參看圖1，圖1為本發(fā)明一種自動(dòng)測(cè)試閃存的系統(tǒng)的框圖。如圖所示，本發(fā)明一種自動(dòng)測(cè)試閃存的系統(tǒng)包括主機(jī)、機(jī)械手、測(cè)試架及測(cè)試座。所述主機(jī)內(nèi)預(yù)置有量產(chǎn)工具，所述量產(chǎn)工具與芯片型號(hào)對(duì)應(yīng)，不同型號(hào)的芯片所使用的量產(chǎn)工具不同，所述主機(jī)與所述機(jī)械手之間設(shè)置有第一數(shù)據(jù)傳輸接口，所述主機(jī)與所述測(cè)試架之間設(shè)置有第二數(shù)據(jù)傳輸接口，所述量產(chǎn)工具通過(guò)所述第一數(shù)據(jù)傳輸接口發(fā)送移動(dòng)指令給所述機(jī)械手，所述機(jī)械手根據(jù)所述移動(dòng)指令移動(dòng)閃存，所述移動(dòng)指令包括但不限于移入指令、移出指令、放置指令等。所述放置指令是指機(jī)械手根據(jù)測(cè)試結(jié)果將芯片放置在對(duì)應(yīng)的位置，即將通過(guò)測(cè)試的芯片和未通過(guò)測(cè)試的芯片放置在不同的地方。所述量產(chǎn)工具通過(guò)所述第二數(shù)據(jù)傳輸接口發(fā)送測(cè)試指令給所述測(cè)試架，所述測(cè)試架根據(jù)所述測(cè)試指令測(cè)試閃存，所述測(cè)試座安裝在測(cè)試架上。所述機(jī)械手頂部設(shè)置有吸盤，用于吸住閃存，所述吸盤可以是橡皮吸碗或者其他有相同功能的部件。所述機(jī)械手頂部還設(shè)置有與所述測(cè)試座形狀一致的壓頭，所述壓頭用于壓緊閃存，并且可拆卸，不同的芯片使用不同的壓頭，與測(cè)試座對(duì)應(yīng)。所述機(jī)械手能夠上下左右前后全方位的移動(dòng)。所述測(cè)試座可拆卸，不同型號(hào)的芯片使用不同的測(cè)試座。所述測(cè)試架上設(shè)置有測(cè)試電路，在所述機(jī)械手將閃存放入所述測(cè)試座后，所述主機(jī)發(fā)送測(cè)試指令至所述測(cè)試架進(jìn)行測(cè)試。
[0029]請(qǐng)參照?qǐng)D2，圖2為本發(fā)明一種自動(dòng)測(cè)試閃存的方法的流程圖，如圖所示，本發(fā)明一種自動(dòng)測(cè)試閃存的方法的流程包括以下步驟:
[0030]A啟動(dòng)量產(chǎn)工具
[0031 ] B主機(jī)發(fā)送移入指令給機(jī)械手
[0032]C機(jī)械手吸取閃存放入測(cè)試座
[0033]D機(jī)械手發(fā)送完成指令給主機(jī)[0034]E主機(jī)發(fā)送測(cè)試指令給測(cè)試架
[0035]F測(cè)試架對(duì)閃存進(jìn)行測(cè)試
[0036]G測(cè)試結(jié)束后測(cè)試架發(fā)送完成測(cè)試指令給主機(jī)
[0037]H主機(jī)發(fā)送移出指令給機(jī)械手
[0038]I機(jī)械手吸取閃存移出測(cè)試座并根據(jù)測(cè)試結(jié)果將閃存放入相應(yīng)位置
[0039]J詢問(wèn)是否繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試
[0040]是則重復(fù)步驟B
[0041]否則結(jié)束測(cè)試，機(jī)械手歸位
[0042]以上結(jié)合最佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了描述，但本發(fā)明并不局限于以上揭示的實(shí)施例，而應(yīng)當(dāng)涵蓋各種根據(jù)本發(fā)明的本質(zhì)進(jìn)行的修改、等效組合。
【權(quán)利要求】
1.一種自動(dòng)測(cè)試閃存的系統(tǒng)，其特征在于:包括主機(jī)、機(jī)械手、測(cè)試架及測(cè)試座，所述主機(jī)內(nèi)預(yù)置有量產(chǎn)工具，所述主機(jī)與所述機(jī)械手之間設(shè)置有第一數(shù)據(jù)傳輸接口，所述主機(jī)與所述測(cè)試架之間設(shè)置有第二數(shù)據(jù)傳輸接口，所述量產(chǎn)工具通過(guò)所述第一數(shù)據(jù)傳輸接口發(fā)送移動(dòng)指令給所述機(jī)械手，所述機(jī)械手根據(jù)所述移動(dòng)指令移動(dòng)閃存，所述量產(chǎn)工具通過(guò)所述第二數(shù)據(jù)傳輸接口發(fā)送測(cè)試指令給所述測(cè)試架，所述測(cè)試架根據(jù)所述測(cè)試指令測(cè)試閃存，所述測(cè)試座安裝在測(cè)試架上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種自動(dòng)測(cè)試閃存的系統(tǒng)，其特征在于:所述機(jī)械手頂部設(shè)置有吸盤，用于吸住閃存。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種自動(dòng)測(cè)試閃存的系統(tǒng)，其特征在于:所述機(jī)械手頂部還設(shè)置有以與所述測(cè)試座形狀一致的壓頭，所述壓頭用于壓緊閃存。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種自動(dòng)測(cè)試閃存的系統(tǒng)，其特征在于:所述機(jī)械手能夠上下左右前后移動(dòng)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種自動(dòng)測(cè)試閃存的系統(tǒng)，其特征在于:所述測(cè)試座可拆卸。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種自動(dòng)測(cè)試閃存的系統(tǒng)，其特征在于:所述測(cè)試架上設(shè)置有測(cè)試電路，在所述機(jī)械手將閃存放入所述測(cè)試座后，所述主機(jī)發(fā)送測(cè)試指令至所述測(cè)試架進(jìn)行測(cè)試。
7.一種自動(dòng)測(cè)試閃存的方法，其特征在于包括以下步驟: A啟動(dòng)量產(chǎn)工具 B主機(jī)發(fā)送移入指令給機(jī)械手 C機(jī)械手吸取閃存放入測(cè)試座 D機(jī)械手發(fā)送完成指令給主機(jī) E主機(jī)發(fā)送測(cè)試指令給測(cè)試架 F測(cè)試架對(duì)閃存進(jìn)行測(cè)試 G測(cè)試結(jié)束后測(cè)試架發(fā)送完成測(cè)試指令給主機(jī) H主機(jī)發(fā)送移出指令給機(jī)械手 I機(jī)械手吸取閃存移出測(cè)試座并根據(jù)測(cè)試結(jié)果將閃存放入相應(yīng)位置 J詢問(wèn)是否繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試 是則重復(fù)步驟B 否則結(jié)束測(cè)試，機(jī)械手歸位。
【文檔編號(hào)】G11C29/56GK103971753SQ201410228310
【公開(kāi)日】2014年8月6日 申請(qǐng)日期:2014年5月27日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月27日
【發(fā)明者】徐正元 申請(qǐng)人:成都市中州半導(dǎo)體科技有限公司