存儲(chǔ)器地址的測試方法及測試裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種存儲(chǔ)器地址的測試方法，其包括將所述存儲(chǔ)器的地址空間轉(zhuǎn)換為二進(jìn)制的M位地址；指定所述二進(jìn)制的M位地址中特定的N位均為1時(shí)或特定的N位均為0時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址為所述地址空間中需跳過測試的地址；將該N位地址分配至第一地址組，將剩余M-N位地址分配至第二地址組；以及將所述第一地址組的N位地址和所述第二地址組的M-N位地址按所述二進(jìn)制的M位地址的位階順序，以特定規(guī)則對(duì)所述第一地址組和第二地址組遍歷以對(duì)對(duì)應(yīng)的地址進(jìn)行測試。本發(fā)明使得測試機(jī)臺(tái)能夠?qū)Υ鎯?chǔ)器空間地址進(jìn)行測試的時(shí)候跳過特定地址。
【專利說明】存儲(chǔ)器地址的測試方法及測試裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及存儲(chǔ)器測試【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種存儲(chǔ)器地址的測試方法及測試裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]存儲(chǔ)器作為能夠存放數(shù)據(jù)、指令、程序等信息，并能根據(jù)需要讀取或存取這些信息的集成電路元器件，正得到越來越廣泛的應(yīng)用。為了保證存儲(chǔ)器能夠穩(wěn)定可靠地工作，需要對(duì)其進(jìn)行許多必要的測試。大多數(shù)測試機(jī)臺(tái)，如Mosaid機(jī)臺(tái)，雖然可以對(duì)各種存儲(chǔ)器如DRAM或SRAM提供功能、時(shí)序等測試，但在進(jìn)行測試時(shí)是依次對(duì)存儲(chǔ)器地址空間中的各個(gè)地址進(jìn)行測試，不支持對(duì)存儲(chǔ)器地址空間中某些特定地址跳過的測試方式。具體來說，通常Mosaid機(jī)臺(tái)會(huì)將存儲(chǔ)器的地址空間劃分為前后兩部分，前半部分的地址和后半部分的地址分別從最小地址遍歷至最大地址來對(duì)每個(gè)地址進(jìn)行測試，但如果想要跳過某些特定地址不對(duì)其測試，依據(jù)現(xiàn)有的測試機(jī)臺(tái)則無法實(shí)現(xiàn)。
[0003]因此，有必要提出一種存儲(chǔ)器測試方法，能夠?qū)崿F(xiàn)利用測試機(jī)臺(tái)對(duì)存儲(chǔ)器空間地址進(jìn)行測試的時(shí)候跳過特定地址。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種能夠跳過存儲(chǔ)器地址空間中特定地址的存儲(chǔ)器測試方法。
[0005]本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
[0006]一種存儲(chǔ)器地址的測試方法，其包括以下步驟:
[0007]S1:將所述存儲(chǔ)器的地址空間轉(zhuǎn)換為二進(jìn)制的M位地址；
[0008]S2:指定所述二進(jìn)制的M位地址中特定的N位均為I時(shí)或特定的N位均為O時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址為所述地址空間中需跳過測試的地址，M、N和M-N為正整數(shù)；
[0009]S3:將該N位地址分配至第一地址組，將剩余M-N位地址分配至第二地址組；
[0010]S4:將所述第一地址組的N位地址和所述第二地址組的M-N位地址按所述二進(jìn)制的M位地址的位階順序，以特定規(guī)則對(duì)所述第一地址組和第二地址組遍歷以對(duì)對(duì)應(yīng)的地址進(jìn)行測試；
[0011]其中所述特定規(guī)則為:對(duì)于所述第一地址組，對(duì)除N位均為I或均為O的地址外的其他各地址進(jìn)行遍歷；對(duì)于所述第二地址組，對(duì)全部地址進(jìn)行遍歷。
[0012]優(yōu)選的，對(duì)于所述第一地址組，當(dāng)指定所述二進(jìn)制的M位地址中N位均為I時(shí)對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址時(shí)，從該第一地址組的最小地址至僅小于最大地址的次最大地址依次遍歷，當(dāng)指定所述二進(jìn)制的M位地址中N位均為O時(shí)對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址時(shí)從該第一地址組的僅大于所述最小地址的次最小地址至所述最大地址依次遍歷。
[0013]優(yōu)選的，對(duì)于所述第二地址組從其最小地址至其最大地址依次遍歷。
[0014]優(yōu)選的，在所述第一地址組中，該特定的N位地址從低位至高位依次排列；在所述第二地址組中，該剩余的M-N位地址從低位至高位依次排列。
[0015]優(yōu)選的，若步驟S2中指定所述二進(jìn)制的M位地址中最高位為I時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲(chǔ)器全部地址的第2m/2?2m-1個(gè)地址；若步驟S2中指定所述二進(jìn)制的M位地址中最高位為O時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲(chǔ)器全部地址的第O?2m/2-1個(gè)地址。
[0016]優(yōu)選的，若步驟S2中指定所述二進(jìn)制的M位地址中最低位為I時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲(chǔ)器全部地址的奇數(shù)位的地址；若步驟S2中指定所述二進(jìn)制的M位地址中最低位為O時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲(chǔ)器全部地址的偶數(shù)位的地址。
[0017]進(jìn)一步的，本發(fā)明還提供了一種存儲(chǔ)器地址的測試裝置，包括:
[0018]轉(zhuǎn)換模塊，用于將所述存儲(chǔ)器的地址空間轉(zhuǎn)換為二進(jìn)制的M位地址；
[0019]指定模塊，用于指定所述二進(jìn)制的M位地址中特定的N位均為I時(shí)或特定的N位均為O時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址為所述地址空間中需跳過測試的地址，M、N和M-N為正整數(shù)；
[0020]分配模塊，用于將該特定的N位地址分配至第一地址組，將剩余M-N位地址分配至第二地址組；以及
[0021]測試模塊，用于將所述第一地址組的N位地址和所述第二地址組的M-N位地址按所述二進(jìn)制的M位地址的位階順序，以特定規(guī)則對(duì)所述第一地址組和第二地址組遍歷并對(duì)對(duì)應(yīng)的地址進(jìn)行測試；其中所述特定規(guī)則為:對(duì)于所述第一地址組，對(duì)除N位均為I或均為O的地址外的其他各地址進(jìn)行遍歷；對(duì)于所述第二地址組，對(duì)全部地址進(jìn)行遍歷。
[0022]優(yōu)選的，當(dāng)所述指定模塊指定所述二進(jìn)制的M位地址中N位均為I時(shí)對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址時(shí)，所述測試模塊從該第一地址組的最小地址至僅小于最大地址的次最大地址依次遍歷，當(dāng)所述指定模塊指定所述二進(jìn)制的M位地址中N位均為O時(shí)對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址時(shí)，所述測試模塊從該第一地址組的僅大于所述最小地址的次最小地址至所述最大地址依次遍歷。
[0023]優(yōu)選的，所述測試模塊從所述第二地址組的最小地址至其最大地址依次遍歷。
[0024]優(yōu)選的，所述分配模塊將所述第一地址組中的該特定的N位地址從低位至高位依次排列；將所述第二地址組中的該剩余的M-N位地址從低位至高位依次排列。
[0025]本發(fā)明的有益效果在于，通過將地址空間轉(zhuǎn)換為二進(jìn)制的地址位并對(duì)地址位的重新分組，將原本跳躍性分散在地址空間中的不進(jìn)行測試的特殊地址轉(zhuǎn)換至連續(xù)的地址，能夠根據(jù)需求僅對(duì)需要測試的存儲(chǔ)器地址測試，有效降低了測試成本提高了測試效率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0026]圖1是本發(fā)明一實(shí)施例存儲(chǔ)器地址的測試方法的流程圖；
[0027]圖2是本發(fā)明一實(shí)施例存儲(chǔ)器地址的測試裝置的方塊圖。

【具體實(shí)施方式】
[0028]為使本發(fā)明的內(nèi)容更加清楚易懂，以下結(jié)合說明書附圖，對(duì)本發(fā)明的內(nèi)容作進(jìn)一步說明。當(dāng)然本發(fā)明并不局限于該具體實(shí)施例，本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員所熟知的一般替換也涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
[0029]圖1所示為本發(fā)明存儲(chǔ)器地址的測試方法的流程圖，以下將結(jié)合圖2以一具體實(shí)施例詳細(xì)描述本發(fā)明能夠跳過特定地址的存儲(chǔ)器地址的測試方法，該實(shí)施例中應(yīng)用Mosaid機(jī)臺(tái)對(duì)存儲(chǔ)器地址進(jìn)行測試。
[0030]首先，執(zhí)行步驟S1:將存儲(chǔ)器的地址空間轉(zhuǎn)換為二進(jìn)制的M位地址。該步驟中，根據(jù)存儲(chǔ)器地址空間的大小進(jìn)行二進(jìn)制轉(zhuǎn)換，得到M位地址。本實(shí)施例中，以存儲(chǔ)器地址空間具有128個(gè)地址(O~127)為例，轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制的6位地址AO~A5 (000000~111111)。
[0031]接著，進(jìn)行步驟S2:指定二進(jìn)制的M位地址中特定的N位均為I時(shí)或特定的N位均為O時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址為地址空間中需跳過測試的地址。該步驟中，在二進(jìn)制的M位地址中，以其中特定某一位或幾位地址均為I或均為O時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址作為不需要進(jìn)行測試的地址。而特定的N位地址可以是連續(xù)分布的，也可以是分散跳躍式分布在地址空間中的。本實(shí)施例中假設(shè)6位地址AO~A5中最低位AO和最高位A5均為I時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址需跳過測試。
[0032]之后，進(jìn)行步驟S3:將該特定的N位地址分配至第一地址組，將剩余M-N位地址分配至第二地址組。這里的M、N和M-N都是正整數(shù)。該步驟中，對(duì)M位地址進(jìn)行拆分，將其中特定的N位地址和剩余的M-N位地址分成兩組。較佳的，在第一地址組和第二地址組中，特定的N位地址仍從低位至高位依次排列，剩余的M-N位地址也是從低位至高位依次排列。本實(shí)施例中，將AO和A5分配至第一地址組，將Al~A4分配至第二地址組。
[0033]然后，進(jìn)行步驟S4:將第一地址組的N位地址和第二地址組的M-N位地址按二進(jìn)制的M位地址的位階順序，并以特定規(guī)則對(duì)第一地址組和第二地址組遍歷以對(duì)對(duì)應(yīng)的地址進(jìn)行測試。
[0034]該步驟中，首先需保證第一地址組的N位地址和第二地址組的M-N位地址所形成的M位地址與步驟SI中的M位地址的位階順序應(yīng)一致，如在本實(shí)施例中雖然將AO和A5分配至第一地址組，將Al~A4分配至第二地址組，但進(jìn)行地址測試時(shí)六位地址仍按照AO~A5的位階順序排列來得到實(shí)際地址。但對(duì)于第一地址組和第二地址組來說，則是按照特定規(guī)則分別遍歷(或訪問)，對(duì)遍歷結(jié)果結(jié)合后得到不同的地址，并對(duì)該些地址進(jìn)行測試。具體來說，特定規(guī)則為:對(duì)于第一地址組，對(duì)除N位均為I或均為O的地址外的其他各地址進(jìn)行遍歷；對(duì)于第二地址組，對(duì)全部地址進(jìn)行遍歷。因此，將第一地址組和第二地址組的遍歷結(jié)果重新組合后，所得到的地址可以排除需跳過測試的地址。在一較佳實(shí)施例中，當(dāng)指定二進(jìn)制的M位地址中N位均為I時(shí)對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址時(shí)，從該第一地址組的最小地址至僅小于最大地址的次最大地址(即最大地址-1)依次遍歷，當(dāng)指定二進(jìn)制的M位地址中N位均為O時(shí)對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址時(shí)從該第一地址組的僅大于最小地址的次最小地址(最小地址+1)至最大地址依次遍歷。而對(duì)于第二地址組，則從其最小地址至其最大地址依次遍歷。
[0035]下表為本實(shí)施例中第一地址組和第二地址組依次遍歷得到的結(jié)果。
[0036]

【權(quán)利要求】
1.一種存儲(chǔ)器地址的測試方法，其特征在于，包括以下步驟: 51:將所述存儲(chǔ)器的地址空間轉(zhuǎn)換為二進(jìn)制的M位地址； 52:指定所述二進(jìn)制的M位地址中特定的N位均為I時(shí)或特定的N位均為O時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址為所述地址空間中需跳過測試的地址，M、N和M-N為正整數(shù)； 53:將該N位地址分配至第一地址組，將剩余M-N位地址分配至第二地址組； 54:將所述第一地址組的N位地址和所述第二地址組的M-N位地址按所述二進(jìn)制的M位地址的位階順序，以特定規(guī)則對(duì)所述第一地址組和第二地址組遍歷以對(duì)對(duì)應(yīng)的地址進(jìn)行測試; 其中所述特定規(guī)則為:對(duì)于所述第一地址組，對(duì)除N位均為I或均為O的地址外的其他各地址進(jìn)行遍歷；對(duì)于所述第二地址組，對(duì)全部地址進(jìn)行遍歷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器地址的測試方法，其特征在于，在所述第一地址組中，該特定的N位地址從低位至高位依次排列；在所述第二地址組中，該剩余的M-N位地址從低位至高位依次排列。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的存儲(chǔ)器地址的測試方法，其特征在于，對(duì)于所述第一地址組，當(dāng)指定所述二進(jìn)制的M位地址中N位均為I時(shí)對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址時(shí)，從該第一地址組的最小地址至僅小于最大地址的次最大地址依次遍歷，當(dāng)指定所述二進(jìn)制的M位地址中N位均為O時(shí)對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址時(shí)從該第一地址組的僅大于所述最小地址的次最小地址至所述最大地址依次遍歷。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的存儲(chǔ)器地址的測試方法，其特征在于，對(duì)于所述第二地址組從其最小地址至其最大地址依次遍歷。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器地址的測試方法，其特征在于，若步驟S2中指定所述二進(jìn)制的M位地址中最高位為I時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲(chǔ)器全部地址的第2M/2?2m-1個(gè)地址；若步驟S2中指定所述二進(jìn)制的則立地址中最高位為O時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲(chǔ)器全部地址的第O?2m/2-1個(gè)地址。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器地址的測試方法，其特征在于，若步驟S2中指定所述二進(jìn)制的M位地址中最低位為I時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲(chǔ)器全部地址的奇數(shù)位的地址；若步驟S2中指定所述二進(jìn)制的M位地址中最低位為O時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址，該需跳過測試的地址為所述存儲(chǔ)器全部地址的偶數(shù)位的地址。
7.一種存儲(chǔ)器地址的測試裝置，其特征在于，包括: 轉(zhuǎn)換模塊，用于將所述存儲(chǔ)器的地址空間轉(zhuǎn)換為二進(jìn)制的M位地址； 指定模塊，用于指定所述二進(jìn)制的M位地址中特定的N位均為I時(shí)或特定的N位均為O時(shí)所對(duì)應(yīng)的地址為所述地址空間中需跳過測試的地址，M、N和M-N為正整數(shù)； 分配模塊，用于將該特定的N位地址分配至第一地址組，將剩余M-N位地址分配至第二地址組；以及 測試模塊，用于將所述第一地址組的N位地址和所述第二地址組的M-N位地址按所述二進(jìn)制的M位地址的位階順序，以特定規(guī)則對(duì)所述第一地址組和第二地址組遍歷并對(duì)對(duì)應(yīng)的地址進(jìn)行測試；其中所述特定規(guī)則為:對(duì)于所述第一地址組，對(duì)除N位均為I或均為O的地址外的其他各地址進(jìn)行遍歷；對(duì)于所述第二地址組，對(duì)全部地址進(jìn)行遍歷。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試裝置，其特征在于，所述分配模塊將所述第一地址組中的該特定的N位地址從低位至高位依次排列；將所述第二地址組中的該剩余的M-N位地址從低位至高位依次排列。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試裝置，其特征在于，當(dāng)所述指定模塊指定所述二進(jìn)制的M位地址中N位均為I時(shí)對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址時(shí)，所述測試模塊從該第一地址組的最小地址至僅小于最大地址的次最大地址依次遍歷，當(dāng)所述指定模塊指定所述二進(jìn)制的M位地址中N位均為O時(shí)對(duì)應(yīng)的地址為需跳過測試的地址時(shí),所述測試模塊從該第一地址組的僅大于所述最小地址的次最小地址至所述最大地址依次遍歷。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測試裝置，其特征在于，所述測試模塊從所述第二地址組的最小地址至其最大地址依次遍歷。
【文檔編號(hào)】G11C29/56GK104200847SQ201410428598
【公開日】2014年12月10日 申請(qǐng)日期:2014年8月27日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月27日
【發(fā)明者】柯遙 申請(qǐng)人:上海華力微電子有限公司