本發(fā)明涉及存儲器，尤其是涉及一種存儲器測試方法、存儲器測試裝置、存儲介質(zhì)和電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、相關(guān)技術(shù)中，通過測試算法對存儲器的故障進(jìn)行內(nèi)建自測試，即將邏輯值與期望值進(jìn)行比較分析來對存儲器進(jìn)行故障檢測，但是測試算法的可靠性較差，目前測試算法主要分為線性測試算法和非線性測試算法，線性算法包括check?board(棋盤)算法、march(行進(jìn))算法及衍生算法如mats算法，非線性算法如gallop(跨步)算法基本覆蓋固定型故障、跳轉(zhuǎn)型故障以及耦合型故障的測試。但是，check?board算法的測試時間短且故障覆蓋率較低。march算法及其衍生算法對于不同的故障類型、覆蓋率和測試時間都不相同。非線性算法如gallop算法基本可以覆蓋固定型故障、跳轉(zhuǎn)型故障以及耦合型故障測試，gallop算法在測試過程中需要i/0(輸入/輸出，input/output))漫游整個存儲單元陣列，從而導(dǎo)致故障測試效率較低。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一。為此，本發(fā)明的一個目的在于提出一種存儲器測試方法，采用該方法可以通過實際邏輯關(guān)系值來檢測到存儲器的故障情況，測試算法的可靠性較高，同時兼顧故障覆蓋率和測試復(fù)雜度，且故障測試效率較高。

2、本發(fā)明的目的之二在于提出一種存儲器測試裝置。

3、本發(fā)明的目的之三在于提出一種計算機存儲介質(zhì)。

4、本發(fā)明的目的之四在于提出一種電子設(shè)備。

5、為了解決上述問題，本發(fā)明第一方面實施例提供一種存儲器測試方法，包括：遍歷待測存儲器的每個存儲單元，在遍歷過程中，按照預(yù)設(shè)行進(jìn)規(guī)則對遍歷到的目標(biāo)存儲單元以及與所述目標(biāo)存儲單元相鄰的相鄰存儲單元進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫操作；對所述目標(biāo)存儲單元的讀取數(shù)據(jù)和所述相鄰存儲單元的讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值；若所述實際邏輯關(guān)系值與標(biāo)準(zhǔn)邏輯關(guān)系值不一致，則確定所述待測存儲器存在故障。

6、根據(jù)本發(fā)明實施例的存儲器測試方法，在對每個存儲單元進(jìn)行遍歷時，按照預(yù)設(shè)行進(jìn)規(guī)則對遍歷到的目標(biāo)存儲單元及其相鄰存儲單元重新寫入不同邏輯值，以使得存儲器內(nèi)存儲單元更容易發(fā)生故障，并通過讀取到的目標(biāo)存儲單元的讀取數(shù)據(jù)和相鄰存儲單元的讀取數(shù)據(jù)計算得到其實際邏輯關(guān)系值，再將實際邏輯關(guān)系值與標(biāo)準(zhǔn)邏輯關(guān)系值進(jìn)行對比來檢測每個存儲單元的故障情況，由此相較于現(xiàn)有算法中將邏輯值與期待值進(jìn)行比較得到待測存儲器的故障情況的方式，本技術(shù)中通過實際邏輯關(guān)系值來檢測每個存儲單元故障更能提高測試算法的可靠性，此外，相較于march算法本技術(shù)中的算法具有更低的測試復(fù)雜度，以預(yù)設(shè)行進(jìn)規(guī)則對目標(biāo)存儲單元及其相鄰存儲單元進(jìn)行讀寫操作，以該行進(jìn)方式可以更好的敏化存儲單元的耦合故障，從而能夠達(dá)到更高的故障覆蓋率。

7、在一些實施例中，在遍歷所述存儲器的每個存儲單元之前，還包括：向所述待測存儲器的每個存儲單元寫入測試數(shù)據(jù)。

8、在一些實施例中，所述測試數(shù)據(jù)包括預(yù)設(shè)邏輯值和所述預(yù)設(shè)邏輯值的相反值，向所述待測存儲器的每個存儲單元寫入測試數(shù)據(jù)，包括：向所述待測存儲器的每個存儲單元交替寫入所述預(yù)設(shè)邏輯值和所述預(yù)設(shè)邏輯值的相反值。

9、在一些實施例中，遍歷待測存儲器的每個存儲單元，在遍歷過程中，按照預(yù)設(shè)行進(jìn)規(guī)則對遍歷到的目標(biāo)存儲單元以及與所述目標(biāo)存儲單元相鄰的相鄰存儲單元進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫操作，包括：沿第一順序?qū)γ總€存儲單元進(jìn)行第一次遍歷；在所述第一次遍歷中，按照預(yù)設(shè)行進(jìn)規(guī)則對遍歷到的目標(biāo)存儲單元以及與所述目標(biāo)存儲單元相鄰的相鄰存儲單元進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫操作，直至遍歷完所述待測存儲器的所有存儲單元。

10、在一些實施例中，所述沿第一順序?qū)γ總€存儲單元進(jìn)行第一次遍歷之后，包括：沿第二順序?qū)γ總€存儲單元進(jìn)行第二次遍歷；在所述第二次遍歷中，按照預(yù)設(shè)行進(jìn)規(guī)則對遍歷到的目標(biāo)存儲單元以及與所述目標(biāo)存儲單元相鄰的相鄰存儲單元進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫操作，直至遍歷完所述待測存儲器的所有存儲單元。

11、在一些實施例中，所述第一順序為從低地址位的存儲單元開始遞增，直至高地址位的存儲單元結(jié)束；所述第二順序與所述第一順序一致。

12、在一些實施例中，所述第一順序為從低地址位的存儲單元開始遞增，直至高地址位的存儲單元結(jié)束；所述第二順序為從高地址位的存儲單元開始遞減，直至低地址位的存儲單元結(jié)束。

13、在一些實施例中，所述預(yù)設(shè)行進(jìn)規(guī)則包括：對所述目標(biāo)存儲單元以及對所述目標(biāo)存儲單元的相鄰存儲單元進(jìn)行讀操作。

14、在一些實施例中，所述相鄰存儲單元包括所述目標(biāo)存儲單元的后一存儲單元；對所述目標(biāo)存儲單元的讀取數(shù)據(jù)和所述相鄰存儲單元的讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值，包括：對第一讀取數(shù)據(jù)和第二讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯與運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值，其中，所述第一讀取數(shù)據(jù)由對翻轉(zhuǎn)前的所述目標(biāo)存儲單元進(jìn)行讀操作獲得，所述第二讀取數(shù)據(jù)由對翻轉(zhuǎn)前的所述后一存儲單元進(jìn)行讀操作獲得。

15、在一些實施例中，所述相鄰存儲單元包括所述目標(biāo)存儲單元的后一存儲單元；對所述目標(biāo)存儲單元的讀取數(shù)據(jù)和所述相鄰存儲單元的讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值，包括：對第一讀取數(shù)據(jù)和第二讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯或運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值，其中，所述第一讀取數(shù)據(jù)由對所述目標(biāo)存儲單元進(jìn)行讀操作獲得，所述第二讀取數(shù)據(jù)由對所述后一存儲單元進(jìn)行讀操作獲得。

16、在一些實施例中，所述相鄰存儲單元包括所述目標(biāo)存儲單元的前一存儲單元；對所述目標(biāo)存儲單元的讀取數(shù)據(jù)和所述相鄰存儲單元的讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值，包括：對第一讀取數(shù)據(jù)和第三讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯異或運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值，其中，所述第一讀取數(shù)據(jù)由對所述目標(biāo)存儲單元進(jìn)行讀操作獲得，所述第三讀取數(shù)據(jù)由對所述前一存儲單元進(jìn)行讀操作獲得。

17、在一些實施例中，所述預(yù)設(shè)行進(jìn)規(guī)則還包括：對所述目標(biāo)存儲單元進(jìn)行數(shù)據(jù)翻轉(zhuǎn)操作。

18、在一些實施例中，所述相鄰存儲單元包括所述目標(biāo)存儲單元的后一存儲單元；對所述目標(biāo)存儲單元的讀取數(shù)據(jù)和所述相鄰存儲單元的讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值，包括：對第四讀取數(shù)據(jù)和第二讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯異或運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值，其中，所述第四讀取數(shù)據(jù)由對翻轉(zhuǎn)后的所述目標(biāo)存儲單元進(jìn)行讀操作獲得，所述第二讀取數(shù)據(jù)由對所述后一存儲單元進(jìn)行讀操作獲得。

19、在一些實施例中，所述相鄰存儲單元包括所述目標(biāo)存儲單元的前一存儲單元；對所述目標(biāo)存儲單元的讀取數(shù)據(jù)和所述相鄰存儲單元的讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值，包括：對第四讀取數(shù)據(jù)與第三讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯與運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值，其中，所述第四讀取數(shù)據(jù)由對翻轉(zhuǎn)后的所述目標(biāo)存儲單元進(jìn)行讀操作獲得，所述第三讀取數(shù)據(jù)由對所述前一存儲單元進(jìn)行讀操作獲得。

20、在一些實施例中，所述相鄰存儲單元包括所述目標(biāo)存儲單元的前一存儲單元；對所述目標(biāo)存儲單元的讀取數(shù)據(jù)和所述相鄰存儲單元的讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值，包括：對第四讀取數(shù)據(jù)和第三讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯或運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值，其中，所述第四讀取數(shù)據(jù)由對翻轉(zhuǎn)后的所述目標(biāo)存儲單元進(jìn)行讀操作獲得，所述第三讀取數(shù)據(jù)由對所述前一存儲單元進(jìn)行讀操作獲得。

21、在一些實施例中，所述預(yù)設(shè)行進(jìn)規(guī)則還包括：對翻轉(zhuǎn)后的存儲單元以預(yù)設(shè)行進(jìn)單元為單位進(jìn)行讀操作。

22、在一些實施例中，以兩個相鄰的存儲單元作為所述預(yù)設(shè)行進(jìn)單元。

23、在一些實施例中，所述存儲器測試方法還包括：對第五讀取數(shù)據(jù)和第六讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯與運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值，其中，所述第五讀取數(shù)據(jù)由對所述預(yù)設(shè)行進(jìn)單元中低地址位的存儲單元進(jìn)行讀操作獲得，所述第六讀取數(shù)據(jù)由對所述預(yù)設(shè)行進(jìn)單元中高地址位的存儲單元進(jìn)行讀操作獲得。

24、在一些實施例中，所述存儲器測試方法還包括：對第五讀取數(shù)據(jù)和第六讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯或運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值，其中，所述第五讀取數(shù)據(jù)由對所述預(yù)設(shè)行進(jìn)單元中低地址位存儲單元進(jìn)行讀操作獲得，所述第六讀取數(shù)據(jù)由對所述預(yù)設(shè)行進(jìn)單元中高地址位的存儲單元進(jìn)行讀操作獲得。

25、在一些實施例中，還包括：若所述實際邏輯關(guān)系值與標(biāo)準(zhǔn)邏輯關(guān)系值一致，則確定所述待測存儲器正常。

26、在一些實施例中，在遍歷過程中，根據(jù)所述目標(biāo)存儲單元的讀取數(shù)據(jù)和所述目標(biāo)存儲單元對應(yīng)的期望數(shù)據(jù)確定所述待測存儲器的測試結(jié)果。

27、在一些實施例中，根據(jù)所述目標(biāo)存儲單元的讀取數(shù)據(jù)和期望數(shù)據(jù)確定所述待測存儲器的測試結(jié)果，包括：確定第一讀取數(shù)據(jù)與所述目標(biāo)存儲單元對應(yīng)的第一期望數(shù)據(jù)一致，則確定所述待測存儲器正常，其中，所述第一讀取數(shù)據(jù)由對翻轉(zhuǎn)前的所述目標(biāo)存儲單元進(jìn)行讀操作獲得。

28、在一些實施例中，根據(jù)所述目標(biāo)存儲單元的讀取數(shù)據(jù)和期望數(shù)據(jù)確定所述待測存儲器的測試結(jié)果，包括：確定第一讀取數(shù)據(jù)與所述目標(biāo)存儲單元對應(yīng)的第一期望數(shù)據(jù)不一致，則確定所述待測存儲器存在故障，其中，所述第一讀取數(shù)據(jù)由對翻轉(zhuǎn)前的所述目標(biāo)存儲單元進(jìn)行讀操作獲得。

29、在一些實施例中，根據(jù)所述目標(biāo)存儲單元的讀取數(shù)據(jù)和所述目標(biāo)存儲單元對應(yīng)的期望數(shù)據(jù)確定所述待測存儲器的測試結(jié)果，包括：確定第四讀取數(shù)據(jù)與所述目標(biāo)存儲單元對應(yīng)的第二期望數(shù)據(jù)一致，則確定所述待測存儲器正常，其中，所述第四讀取數(shù)據(jù)由對翻轉(zhuǎn)后的所述目標(biāo)存儲單元進(jìn)行讀操作獲得。

30、在一些實施例中，根據(jù)所述目標(biāo)存儲單元的讀取數(shù)據(jù)和所述目標(biāo)存儲單元對應(yīng)的期望數(shù)據(jù)確定所述待測存儲器的測試結(jié)果，包括：確定第四讀取數(shù)據(jù)與所述目標(biāo)存儲單元對應(yīng)的第二期望數(shù)據(jù)不一致，則確定所述待測存儲器存在故障，其中，所述第四讀取數(shù)據(jù)由對翻轉(zhuǎn)后的所述目標(biāo)存儲單元進(jìn)行讀操作獲得。

31、本發(fā)明第二方面實施例提供一種存儲器測試裝置，包括：遍歷模塊，用于遍歷待測存儲器的每個存儲單元，在遍歷過程中，按照預(yù)設(shè)行進(jìn)規(guī)則對遍歷到的目標(biāo)存儲單元以及與所述目標(biāo)存儲單元相鄰的相鄰存儲單元進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫操作；獲得模塊，確定所述目標(biāo)存儲單元的讀取數(shù)據(jù)與所述相鄰存儲單元的讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值；確定模塊，在所述實際邏輯關(guān)系值與標(biāo)準(zhǔn)邏輯關(guān)系值不一致時，確定所述待測存儲器存在故障。

32、根據(jù)本發(fā)明實施例的存儲器測試裝置，可以通過實際邏輯關(guān)系值來檢測到存儲器的故障情況，測試算法的可靠性較高，同時兼顧故障覆蓋率和測試復(fù)雜度，且故障測試效率較高。

33、本發(fā)明第三方面實施例提供一種計算機存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機程序，其中，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)上述實施例中所述的存儲器測試方法。

34、本發(fā)明第四方面實施例提供一種電子設(shè)備，包括：至少一個處理器；與至少一個所述處理器通信連接的存儲器；其中，所述存儲器中存儲有可被至少一個所述處理器執(zhí)行的計算機程序，至少一個所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)上述實施例中所述的存儲器測試方法。

35、根據(jù)本發(fā)明實施例的電子設(shè)備，可以通過實際邏輯關(guān)系值來檢測到存儲器的故障情況，測試算法的可靠性較高，同時兼顧故障覆蓋率和測試復(fù)雜度，且故障測試效率較高。

36、本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實踐了解到。