本申請涉及存儲，具體涉及一種閃存測試方法、裝置、存儲介質(zhì)及計算機(jī)設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、在存儲技術(shù)領(lǐng)域的制作流程中，一塊晶圓可得到多個閃存顆粒（存儲芯片）。這些閃存顆粒的顆粒受限于制程、工藝等緣故會出現(xiàn)不同的die?之間的質(zhì)量參差不一，存儲性能之間可能存在較大差異。

2、目前，存儲需求存在不同的級別區(qū)分，包括企業(yè)級、工業(yè)級、汽車級和消費(fèi)級存儲等，不同的級別對閃存顆粒的顆粒質(zhì)量要求不同，若在企業(yè)級存儲的級別選用到顆粒質(zhì)量較差的閃存顆粒，會造成嚴(yán)重的安全隱患問題，若在消費(fèi)級存儲的級別選用顆粒質(zhì)量非常好的閃存顆粒，會造成一定的存儲性能浪費(fèi)。因此，當(dāng)前對閃存顆粒的劃分是比較粗糙和不準(zhǔn)確的，顆粒等級劃分的準(zhǔn)確度較低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請實(shí)施例提供一種閃存測試方法、裝置、存儲介質(zhì)及計算機(jī)設(shè)備，可以對閃存顆粒的錯誤比特數(shù)和讀取電壓的偏移量數(shù)據(jù)進(jìn)行歸一化加權(quán)平均，從而計算對應(yīng)的分值，并基于該分值進(jìn)行分類，提升了閃存顆粒劃分的準(zhǔn)確性。

2、本申請實(shí)施例提供了一種閃存測試方法，應(yīng)用于閃存測試裝置，所述閃存測試裝置包括處理器和存儲控制器，包括：

3、通過所述存儲控制器獲取多個閃存顆粒各自對應(yīng)的錯誤比特數(shù)和讀取電壓的偏移量數(shù)據(jù)；

4、通過所述處理器獲取每個所述閃存顆粒的錯誤比特數(shù)的歸一化值和偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值；

5、獲取所述錯誤比特數(shù)和偏移量數(shù)據(jù)的權(quán)重值，根據(jù)所述錯誤比特數(shù)的歸一化值、偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值以及所述權(quán)重值獲取每個所述閃存顆粒的評估值；

6、根據(jù)每個所述閃存顆粒的評估值而得到所述多個閃存顆粒的測試結(jié)果。

7、在一實(shí)施例中，獲取每個所述閃存顆粒的錯誤比特數(shù)的歸一化值和偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值，包括：

8、獲取多個閃存顆粒中的錯誤比特數(shù)最大值、錯誤比特數(shù)最小值以及偏移量數(shù)據(jù)最大值和偏移量數(shù)據(jù)最小值；

9、根據(jù)每個所述閃存顆粒的錯誤比特數(shù)、錯誤比特數(shù)最大值和錯誤比特數(shù)最小值計算所述錯誤比特數(shù)的歸一化值；

10、根據(jù)每個所述閃存顆粒的偏移量數(shù)據(jù)、偏移量數(shù)據(jù)最大值和偏移量數(shù)據(jù)最小值計算所述偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值。

11、在一實(shí)施例中，獲取所述錯誤比特數(shù)和偏移量數(shù)據(jù)的權(quán)重值，根據(jù)所述錯誤比特數(shù)的歸一化值、偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值以及所述權(quán)重值獲取每個所述閃存顆粒的評估值，包括：

12、根據(jù)所述閃存顆粒的應(yīng)用類型分別為所述錯誤比特數(shù)和偏移量數(shù)據(jù)分配權(quán)重值；

13、計算每個所述閃存顆粒中錯誤比特數(shù)歸一化值與對應(yīng)權(quán)重值的第一乘積；

14、計算每個所述閃存顆粒中偏移量數(shù)據(jù)歸一化值與對應(yīng)權(quán)重值的第二乘積；

15、將所述第一乘積和所述第二乘積之和作為所述閃存顆粒的評估值。

16、在一實(shí)施例中，根據(jù)每個所述閃存顆粒的評估值而得到所述多個閃存顆粒的測試結(jié)果，包括：

17、在所有閃存顆粒的評估值中隨機(jī)選擇預(yù)設(shè)數(shù)量個評估值作為初始質(zhì)心；

18、計算每個評估值到所有初始質(zhì)心的距離，并將所有評估值分配到所述距離最近的初始質(zhì)心，以得到預(yù)設(shè)數(shù)量個簇；

19、計算每個簇中全部評估值的均值，并將所述均值作為第二質(zhì)心，以對質(zhì)心進(jìn)行迭代；

20、當(dāng)所述迭代完成時，將最終的簇作為所述預(yù)設(shè)數(shù)量的分類。

21、在一實(shí)施例中，所述迭代過程包括：

22、計算每個評估值到所有第二質(zhì)心的距離，并將所有評估值分配到所述距離最近的第二質(zhì)心，以得到預(yù)設(shè)數(shù)量個簇；

23、計算每個簇中全部評估值的均值，并將所述均值作為第三質(zhì)心；

24、重復(fù)計算所述質(zhì)心直到質(zhì)心不再變化，則確認(rèn)所述迭代完成。

25、在一實(shí)施例中，將最終的簇作為所述預(yù)設(shè)數(shù)量的分類，包括：

26、將數(shù)值最小的質(zhì)心對應(yīng)的簇中的閃存顆粒確定為一等顆粒；

27、將數(shù)值次小的質(zhì)心對應(yīng)的簇中的閃存顆粒確定為二等顆粒；

28、將數(shù)值最大的質(zhì)心對應(yīng)的簇中的閃存顆粒確定為三等顆粒。

29、在一實(shí)施例中，所述方法還包括：

30、計算每個分類當(dāng)中閃存顆粒評估值的方差，以及不同分類之間閃存顆粒分值的均值差；

31、根據(jù)所述方差和均值差，調(diào)整所述分類的數(shù)量。

32、本申請實(shí)施例還提供一種閃存測試裝置，所述閃存測試裝置包括處理器和存儲控制器，包括：

33、獲取單元，用于通過所述存儲控制器獲取多個閃存顆粒各自對應(yīng)的錯誤比特數(shù)和讀取電壓的偏移量數(shù)據(jù)；

34、第一計算單元，用于通過所述處理器獲取每個所述閃存顆粒的錯誤比特數(shù)的歸一化值和偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值；

35、第二計算單元，用于獲取所述錯誤比特數(shù)和偏移量數(shù)據(jù)的權(quán)重值，根據(jù)所述錯誤比特數(shù)的歸一化值、偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值以及所述權(quán)重值獲取每個所述閃存顆粒的評估值；

36、劃分單元，用于根據(jù)每個所述閃存顆粒的評估值而得到所述多個閃存顆粒的測試結(jié)果。

37、本申請實(shí)施例還提供一種計算機(jī)可讀的存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機(jī)程序，當(dāng)所述計算機(jī)程序在計算機(jī)上執(zhí)行時，使得所述計算機(jī)執(zhí)行如上所述的閃存測試方法。

38、本申請實(shí)施例還提供一種計算機(jī)設(shè)備，包括存儲器和處理器，所述處理器通過調(diào)用所述存儲器中存儲的計算機(jī)程序，以執(zhí)行如上所述的閃存測試方法。

39、本申請實(shí)施例提供的閃存測試方法、裝置、存儲介質(zhì)及計算機(jī)設(shè)備，可以通過存儲控制器獲取多個閃存顆粒各自對應(yīng)的錯誤比特數(shù)和讀取電壓的偏移量數(shù)據(jù)，再由處理器獲取每個閃存顆粒的錯誤比特數(shù)的歸一化值和偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值，獲取錯誤比特數(shù)和偏移量數(shù)據(jù)的權(quán)重值，根據(jù)錯誤比特數(shù)的歸一化值、偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值以及權(quán)重值獲取每個閃存顆粒的評估值，根據(jù)每個閃存顆粒的評估值而得到多個閃存顆粒的測試結(jié)果。本申請實(shí)施例提供的方案可以對閃存顆粒的錯誤比特數(shù)和讀取電壓的偏移量數(shù)據(jù)進(jìn)行歸一化加權(quán)平均，從而計算對應(yīng)的評估值，并基于該分值進(jìn)行分類，提升了閃存顆粒劃分的準(zhǔn)確性。

技術(shù)特征：

1.一種閃存測試方法，應(yīng)用于閃存測試裝置，所述閃存測試裝置包括處理器和存儲控制器，其特征在于，包括：

2.如權(quán)利要求1所述的閃存測試方法，其特征在于，獲取每個所述閃存顆粒的錯誤比特數(shù)的歸一化值和偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值，包括：

3.如權(quán)利要求2所述的閃存測試方法，其特征在于，獲取所述錯誤比特數(shù)和偏移量數(shù)據(jù)的權(quán)重值，根據(jù)所述錯誤比特數(shù)的歸一化值、偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值以及所述權(quán)重值獲取每個所述閃存顆粒的評估值，包括：

4.如權(quán)利要求1所述的閃存測試方法，其特征在于，根據(jù)每個所述閃存顆粒的評估值而得到所述多個閃存顆粒的測試結(jié)果，包括：

5.如權(quán)利要求4所述的閃存測試方法，其特征在于，所述迭代過程包括：

6.如權(quán)利要求4所述的閃存測試方法，其特征在于，將最終的簇作為預(yù)設(shè)數(shù)量的分類，包括：

7.如權(quán)利要求4所述的閃存測試方法，其特征在于，所述方法還包括：

8.一種閃存測試裝置，所述閃存測試裝置包括處理器和存儲控制器，其特征在于，包括：

9.一種計算機(jī)可讀的存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機(jī)程序，其特征在于，當(dāng)所述計算機(jī)程序在計算機(jī)上執(zhí)行時，使得所述計算機(jī)執(zhí)行如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的方法。

10.一種計算機(jī)設(shè)備，包括存儲器和處理器，其特征在于，所述處理器通過調(diào)用所述存儲器中存儲的計算機(jī)程序，以執(zhí)行如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請實(shí)施例公開了一種閃存測試方法、裝置、存儲介質(zhì)及計算機(jī)設(shè)備。該方法包括：通過存儲控制器獲取多個閃存顆粒各自對應(yīng)的錯誤比特數(shù)和讀取電壓的偏移量數(shù)據(jù)，再由處理器獲取每個閃存顆粒的錯誤比特數(shù)的歸一化值和偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值，獲取錯誤比特數(shù)和偏移量數(shù)據(jù)的權(quán)重值，根據(jù)錯誤比特數(shù)的歸一化值、偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值以及權(quán)重值獲取每個閃存顆粒的評估值，根據(jù)每個閃存顆粒的評估值而得到多個閃存顆粒的測試結(jié)果。本申請實(shí)施例提供的方案可以對閃存顆粒的錯誤比特數(shù)和讀取電壓的偏移量數(shù)據(jù)進(jìn)行歸一化加權(quán)平均，從而計算對應(yīng)的評估值，并基于該分值進(jìn)行分類，提升了閃存顆粒劃分的準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員：請求不公布姓名,夏嵩,郭航旗,請求不公布姓名,請求不公布姓名,請求不公布姓名
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳宏芯宇電子股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19