本技術(shù)屬于服務(wù)器，具體涉及一種固態(tài)硬盤的誤碼率測(cè)試冶具。

背景技術(shù)：

1、隨著時(shí)代的發(fā)展，產(chǎn)品對(duì)信號(hào)速率的需求越來(lái)越快，研發(fā)過(guò)程中對(duì)信號(hào)完整性的關(guān)注力度也越來(lái)越大，而誤碼測(cè)試作為pcie高速信號(hào)質(zhì)量的檢驗(yàn)手段之一，其準(zhǔn)確度對(duì)整個(gè)產(chǎn)品的生命周期都有著十分重要的意義。在高速信號(hào)測(cè)試過(guò)程中，為保證信號(hào)的傳輸質(zhì)量，一般測(cè)試儀器的線纜都比較沉重，搭建環(huán)境時(shí)如果不給線纜提供可支撐的平臺(tái)，就會(huì)對(duì)測(cè)試治具上的連接器造成物理?yè)p耗，且在測(cè)試過(guò)程中也可能因?yàn)榫€纜長(zhǎng)時(shí)間懸空，導(dǎo)致連接處不緊密，造成測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)偏差。

2、現(xiàn)有的ssd誤碼測(cè)試，過(guò)程中主要存在以下問(wèn)題：

3、（1）u.2接口的ssd盤在進(jìn)行rx性能測(cè)試時(shí)需要增加轉(zhuǎn)接卡連接，市面上一部分ssd轉(zhuǎn)接卡并沒(méi)有設(shè)計(jì)固定的槽位，測(cè)試過(guò)程會(huì)受到重力影響，導(dǎo)致測(cè)試盤有偏移，影響連接器的緊密連接狀態(tài)，且在長(zhǎng)時(shí)間重力的影響下，對(duì)治具板的金手指插槽也會(huì)造成物理?yè)p害；還有一部分轉(zhuǎn)接卡固定卡槽，這種轉(zhuǎn)接板又存在部分debug測(cè)試任務(wù)無(wú)法適用的情況，比如外接電源驗(yàn)證電源影響時(shí)，需要將板卡電源引出測(cè)試，排除是否為電源設(shè)計(jì)的影響，這種情況下，卡槽就會(huì)影響外界電源線的引出，如果換沒(méi)有卡槽的轉(zhuǎn)接板進(jìn)行高速信號(hào)debug，又會(huì)因?yàn)檫B接器不同引入新的變量，增加了debug的難度；

4、（2）在測(cè)試過(guò)程中，運(yùn)行一次測(cè)試程序大概需要20min,在測(cè)試過(guò)程中若有連接部分出現(xiàn)松動(dòng)目前的治具也無(wú)法及時(shí)的提醒測(cè)試人員，會(huì)導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)異常，且只能等到測(cè)試程序運(yùn)行完一遍后看到測(cè)試結(jié)果才能發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，再去排查是否為環(huán)境問(wèn)題，這一過(guò)程增加測(cè)試周期以及人力成本；

5、（3）如前文提到的，在測(cè)試過(guò)程中，如果測(cè)試人員環(huán)境布置不合理，或是忽略了轉(zhuǎn)接頭會(huì)受到線纜過(guò)多的拉力，沒(méi)有選擇合適高度的物品墊在線纜下面分擔(dān)其重力，就會(huì)導(dǎo)致測(cè)試治具板的轉(zhuǎn)接頭有物理?yè)p耗，減少了測(cè)試治具的適用壽命的同時(shí)還會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度產(chǎn)生不良影響。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述不足，本實(shí)用新型提供一種固態(tài)硬盤的誤碼率測(cè)試冶具，以解決上述技術(shù)問(wèn)題。

2、本實(shí)用新型提供一種固態(tài)硬盤的誤碼率測(cè)試冶具，包括：

3、測(cè)試板，所述測(cè)試板的一側(cè)連接多個(gè)線纜固定支架，所述測(cè)試板的另一端設(shè)有多個(gè)測(cè)試接口；

4、所述測(cè)試板的中間區(qū)域通過(guò)活動(dòng)支架連接固定卡槽，所述固定卡槽與待測(cè)固態(tài)硬盤可拆卸連接；所述活動(dòng)支架包括多根折疊桿，多根所述折疊桿的一端活動(dòng)連接測(cè)試板，多根所述折疊桿的另一端活動(dòng)連接固定卡槽；

5、多個(gè)所述測(cè)試接口均勻排列，且每個(gè)測(cè)試接口的上方均對(duì)應(yīng)設(shè)置一個(gè)狀態(tài)顯示燈；測(cè)試接口與對(duì)應(yīng)的狀態(tài)顯示燈并聯(lián)。

6、在一個(gè)可選的實(shí)施方式中，所述線纜固定支架包括第一伸縮桿、第二伸縮桿和抓夾，所述第一伸縮桿的一端連接測(cè)試板，所述第一伸縮桿的另一端通過(guò)第一轉(zhuǎn)軸連接第二伸縮桿的一端；所述第二伸縮桿的另一端通過(guò)第二轉(zhuǎn)軸連接抓夾。

7、在一個(gè)可選的實(shí)施方式中，所述測(cè)試板包括多個(gè)容納腔，所述第一伸縮桿的一端連接在所述容納腔的底部。

8、在一個(gè)可選的實(shí)施方式中，所述第一轉(zhuǎn)軸和所述第二轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)接觸面均包括限位齒。

9、在一個(gè)可選的實(shí)施方式中，測(cè)試接口為金手指或連接器。

10、在一個(gè)可選的實(shí)施方式中，所述折疊桿包括一段桿和二段桿，所述一段桿的一端活動(dòng)連接測(cè)試板，所述一段桿的另一端活動(dòng)連接二段桿的一端，二段桿的另一端活動(dòng)連接固定卡槽。

11、在一個(gè)可選的實(shí)施方式中，所述一段桿的一端通過(guò)第一活動(dòng)軸連接測(cè)試板，所述一段桿的另一端通過(guò)第二活動(dòng)軸連接二段桿的一端；二段桿的另一端通過(guò)第三活動(dòng)軸連接固定卡槽。

12、在一個(gè)可選的實(shí)施方式中，所述第一活動(dòng)軸、第二活動(dòng)軸和第三活動(dòng)軸的軸心接觸面設(shè)有阻力層，所述阻力層為硅膠層。

13、在一個(gè)可選的實(shí)施方式中，所述狀態(tài)顯示燈為led燈。

14、在一個(gè)可選的實(shí)施方式中，所述固定卡槽的尺寸與固態(tài)硬盤的尺寸匹配，且所述固定卡槽上設(shè)有多個(gè)卡扣。

15、本實(shí)用新型的有益效果在于，本實(shí)用新型提供的固態(tài)硬盤的誤碼率測(cè)試冶具，通過(guò)提供固定支撐抓手支架，解決了因測(cè)試環(huán)境布置不合理，轉(zhuǎn)接頭受到線纜過(guò)多拉力的問(wèn)題，減少了測(cè)試治具板mmpx轉(zhuǎn)接頭的物理?yè)p耗，增加了測(cè)試治具的適用壽命，增加了測(cè)試的準(zhǔn)確性；通過(guò)可上下移動(dòng)的固定卡槽，不僅解決了ssd測(cè)試時(shí)固定不穩(wěn)定的問(wèn)題，同時(shí)擴(kuò)展了同一塊轉(zhuǎn)接板的適用場(chǎng)景，減少了測(cè)試環(huán)境的變量，增加了測(cè)試環(huán)境的穩(wěn)定性以及測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性；通過(guò)可及時(shí)反饋測(cè)試環(huán)境連接狀態(tài)的led燈，在測(cè)試過(guò)程中如果出現(xiàn)連接異常，及時(shí)反饋給測(cè)試人員，減少了后期排查測(cè)試異常原因的環(huán)節(jié)，提高了測(cè)試效率，縮短了測(cè)試時(shí)間，降低了人力成本。

16、此外，本實(shí)用新型設(shè)計(jì)原理可靠，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，具有非常廣泛的應(yīng)用前景。

技術(shù)特征：

1.一種固態(tài)硬盤的誤碼率測(cè)試冶具，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的誤碼率測(cè)試冶具，其特征在于，所述線纜固定支架包括第一伸縮桿、第二伸縮桿和抓夾，所述第一伸縮桿的一端連接測(cè)試板，所述第一伸縮桿的另一端通過(guò)第一轉(zhuǎn)軸連接第二伸縮桿的一端；所述第二伸縮桿的另一端通過(guò)第二轉(zhuǎn)軸連接抓夾。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的固態(tài)硬盤的誤碼率測(cè)試冶具，其特征在于，所述測(cè)試板包括多個(gè)容納腔，所述第一伸縮桿的一端連接在所述容納腔的底部。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的固態(tài)硬盤的誤碼率測(cè)試冶具，其特征在于，所述第一轉(zhuǎn)軸和所述第二轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)接觸面均包括限位齒。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的誤碼率測(cè)試冶具，其特征在于，測(cè)試接口為金手指或連接器。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的誤碼率測(cè)試冶具，其特征在于，所述折疊桿包括一段桿和二段桿，所述一段桿的一端活動(dòng)連接測(cè)試板，所述一段桿的另一端活動(dòng)連接二段桿的一端，二段桿的另一端活動(dòng)連接固定卡槽。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的固態(tài)硬盤的誤碼率測(cè)試冶具，其特征在于，所述一段桿的一端通過(guò)第一活動(dòng)軸連接測(cè)試板，所述一段桿的另一端通過(guò)第二活動(dòng)軸連接二段桿的一端；二段桿的另一端通過(guò)第三活動(dòng)軸連接固定卡槽。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的固態(tài)硬盤的誤碼率測(cè)試冶具，其特征在于，所述第一活動(dòng)軸、第二活動(dòng)軸和第三活動(dòng)軸的軸心接觸面設(shè)有阻力層，所述阻力層為硅膠層。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的誤碼率測(cè)試冶具，其特征在于，所述狀態(tài)顯示燈為led燈。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的誤碼率測(cè)試冶具，其特征在于，所述固定卡槽的尺寸與固態(tài)硬盤的尺寸匹配，且所述固定卡槽上設(shè)有多個(gè)卡扣。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)涉及服務(wù)器技術(shù)領(lǐng)域，具體提供一種固態(tài)硬盤的誤碼率測(cè)試冶具，包括：測(cè)試板，所述測(cè)試板的一側(cè)連接多個(gè)線纜固定支架，所述測(cè)試板的另一端設(shè)有多個(gè)測(cè)試接口；所述測(cè)試板的中間區(qū)域通過(guò)活動(dòng)支架連接固定卡槽，所述固定卡槽與待測(cè)固態(tài)硬盤可拆卸連接；所述活動(dòng)支架包括多根折疊桿，多根所述折疊桿的一端活動(dòng)連接測(cè)試板，多根所述折疊桿的另一端活動(dòng)連接固定卡槽；多個(gè)所述測(cè)試接口均勻排列，且每個(gè)測(cè)試接口的上方均對(duì)應(yīng)設(shè)置一個(gè)狀態(tài)顯示燈；測(cè)試接口與對(duì)應(yīng)的狀態(tài)顯示燈并聯(lián)。本技術(shù)增加了測(cè)試治具的適用壽命，增加了測(cè)試的準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員：宋焱成
受保護(hù)的技術(shù)使用者：蘇州元腦智能科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240430
技術(shù)公布日：2024/12/19