專利名稱：光盤，檢查光盤的設(shè)備以及在光盤上記錄信息的設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及設(shè)計(jì)成能防止記錄在其上的信息(例如電視游戲或計(jì)算機(jī)游戲的信息)的非法復(fù)制的例如CD-ROM(光盤只讀存儲器)這樣的光盤。本發(fā)明還涉及對光盤進(jìn)行檢查以便確定該光盤是否包含非法復(fù)制信息的設(shè)備。本發(fā)明還涉及在這樣的光盤上記錄信息的設(shè)備。
CD-ROM等是根據(jù)公布的標(biāo)準(zhǔn)、例如“國際標(biāo)準(zhǔn)化組織”建立的ISO9660標(biāo)準(zhǔn)來制造的。為了依照該標(biāo)準(zhǔn)防止從合法光盤非法地復(fù)制信息，預(yù)先在該光盤上記錄了防復(fù)制碼。因此，包含這種防復(fù)制碼的光盤被認(rèn)為是合法的。反之，沒有防復(fù)制碼的光盤就被認(rèn)為是非法的。
由于以下原因，這種防復(fù)制方法的作用客受到了限制。當(dāng)合法光盤上的全部信息被復(fù)制和被轉(zhuǎn)移到另一光盤(第二光盤)時，該第二光盤同樣可被用作合法光盤。
“小光盤”(MD)使用稱為順序復(fù)制管理系統(tǒng)(SCMS)的另一種防復(fù)制技術(shù)。SCMS采用與復(fù)制數(shù)據(jù)的容許有關(guān)的防復(fù)制碼。為了防止以數(shù)字方式對記錄在MD上的數(shù)據(jù)進(jìn)行兩次或兩次以上的復(fù)制，SCMC借助該防復(fù)制碼。更準(zhǔn)確地說，該防復(fù)制碼被預(yù)先寫入到MD的TOC(內(nèi)容總和)區(qū)域中。
根據(jù)SCMS，如果第一MD中的防復(fù)制碼表示沒有防止要求，就允許從第一MD復(fù)制數(shù)據(jù)或信息至第二MD。在復(fù)制過程期間，表示有防止要求的防復(fù)制碼被寫入到第二MD的TOC區(qū)域中。反之，如果第一MD中的防復(fù)制碼表示有防止要求，就禁止從第一MD復(fù)制數(shù)據(jù)或信息至第二MD。
由于以下原因，基于SCMS的防復(fù)制方法的作用受到了限制。當(dāng)合法MD上的全部信息被復(fù)制和被轉(zhuǎn)移到另一MD(第二MD)時，該第二MD同樣可被用作合法MD。
本發(fā)明的第一個目的是提供改進(jìn)的光盤。
本發(fā)明的第二個目的是提供改進(jìn)的對光盤進(jìn)行檢查以便確定該光盤是否包含非法復(fù)制信息的設(shè)備。
本發(fā)明的第三個目的是提供改進(jìn)的在光盤上記錄信息的設(shè)備。
本發(fā)明的第一個方面提供了具有一系列沿著磁道的凹坑的光盤，凹坑序列表示劃分為數(shù)據(jù)塊的被記錄信號，凹坑序列包括正常凹坑序列(train)和異常凹坑序列(train)，正常凹坑序列相對磁道的中部對稱，異常凹坑序列至少在形狀和凹坑排列這兩方面之一與正常凹坑序列不同，異常凹坑序列處在和數(shù)據(jù)塊有預(yù)定關(guān)系的位置處。
本發(fā)明的第二個方面以本發(fā)明的第一個方面為基礎(chǔ)，提供了異常凹坑序列表示疊加在跟蹤誤差信號上的顫動信號的光盤。
本發(fā)明的第三個方面以本發(fā)明的第一個方面為基礎(chǔ)，提供了異常凹坑序列造成RF信號的對稱性變化的光盤。
本發(fā)明的第四個方面以本發(fā)明的第一個方面為基礎(chǔ)，提供了異常凹坑序列造成表示光量的信號的變化的光盤。
本發(fā)明的第五個方面以本發(fā)明的第二個方面為基礎(chǔ)，提供了被異常凹坑序列表示的顫動信號具有脈沖串形狀的光盤。
本發(fā)明的第六個方面提供了具有一系列沿著磁道的凹坑的光盤，凹坑序列表示劃分為數(shù)據(jù)塊的被記錄信號，凹坑序列包括正常凹坑序列和異常凹坑序列，正常凹坑序列相對磁道的中部對稱，異常凹坑序列至少在形狀和凹坑排列這兩方面之一與正常凹坑序列不同，異常凹坑序列處在和數(shù)據(jù)塊有預(yù)定關(guān)系的位置處，異常凹坑序列有間距地間隔開來。
本發(fā)明的第七個方面提供了檢查光盤的設(shè)備，該設(shè)備包括從該光盤再現(xiàn)信號的第一裝置；與第一裝置連接、通過參看由第一裝置再現(xiàn)的信號檢測在該光盤中是否存在異常凹坑序列的第二裝置，該異常凹坑序列至少在形狀和凹坑排列這兩方面之一與正常凹坑序列不同，正常凹坑序列相對磁道中部對稱；以及與第二裝置連接、根據(jù)第二裝置栓測的結(jié)果判斷該光盤是合法還是非法的第三裝置。
本發(fā)明的第八個方面提供了在光盤上記錄信息的設(shè)備，該設(shè)備包括發(fā)射第一激光束的第一裝置；產(chǎn)生與信息信號的數(shù)據(jù)塊單元同步的選通信號的第二裝置；與第一裝置和第二裝置連接、根據(jù)信息信號和選通信號將第一激光光束轉(zhuǎn)換為第二激光光束的第三裝置；以及與第三裝置連接、根據(jù)第二激光光束在光盤上提供一系列凹坑的第四裝置；其中的第三裝置包括根據(jù)信息信號調(diào)制第一激光光束的強(qiáng)度的裝置以及根據(jù)選通信號改變第一激光光束以便使第四裝置在光盤上提供異常凹坑序列的裝置，該異常凹坑序列至少在形狀和凹坑排列這兩方面之一與正常凹坑序列不同，正常凹坑序列相對磁道中部對稱。


圖1(A)是在本發(fā)明的第一實(shí)施例的光盤中的一系列凹坑的圖示。
圖1(B)是在圖1(A)的凹坑序列的掃描期間產(chǎn)生的跟蹤誤差信號的時域圖示。
圖2(A)是幀號的時域圖示。
圖2(B)是在第一實(shí)施例的記錄設(shè)備中產(chǎn)生的控制信號的時域圖示。
圖2(C)是在第一實(shí)施例的記錄設(shè)備中產(chǎn)生的選通信號的時域圖示。
圖2(D)是第一實(shí)施例的一系列凹坑的時域圖示。
圖2(E)是在圖2(D)的凹坑序列的掃描期間產(chǎn)生的跟蹤誤差信號的時域圖示。
圖3是第一實(shí)施例中的跟蹤誤差信號和顫動信號的頻譜的圖示。
圖4是第一實(shí)施例中的再現(xiàn)設(shè)備的方框圖。
圖5是圖4中的脈沖串跟蹤誤差檢測電路的方框圖。
圖6(A)、6(B)、6(C)、6(D)和6(E)是幀號和在圖5的脈沖串跟蹤誤差檢測電路中的信號的時域圖示。
圖7(A)是幀號的時域圖示。
圖7(B)是與圖7(A)的幀號有關(guān)的跟蹤誤差信號的時域圖示。
圖7(C)是由圖4和5的脈沖串跟蹤誤差檢測電路產(chǎn)生的脈沖串跟蹤誤差信號的時域圖示。
圖7(D)是被圖4的微計(jì)算機(jī)識別的幀號的時域圖示。
圖7(E)是在圖4的微計(jì)算機(jī)中的給定處理的開始的定時的圖示。
圖8是控制圖4的微計(jì)算機(jī)的一部分程序的流程圖。
圖9是第一實(shí)施例中的記錄設(shè)備的方框圖。
圖10(A)、10(B)和10(C)是在本發(fā)明的第二實(shí)施例的光盤中的一系列凹坑的圖示。
圖11是在信息的再現(xiàn)期間從圖10(B)的正常50％占空的凹坑序列產(chǎn)生的RF信號的波形。
圖12(A)是正常凹坑、粗凹坑和細(xì)凹坑序列的時域圖示。
圖12(B)是在圖12(A)的凹坑序列的掃描期間產(chǎn)生的RF信號和相關(guān)的限幅電平的時域圖示。
圖13是第二實(shí)施例中的再現(xiàn)設(shè)備的方框圖。
圖14是圖13中的RF對稱變化檢測電路的方框圖。
圖15(A)是限幅電平和圖14的RF對稱變化檢測電路中的上限和下限的時域圖示。
圖15(B)和15(C)是圖14的RF對稱變化檢測電路中的信號的時域圖示。
圖16是第二實(shí)施例中的記錄設(shè)備的方框圖。
圖17(A)是幀號的時域圖示。
圖17(B)是在圖16的記錄設(shè)備中產(chǎn)生的控制信號的時域圖示。
圖17(C)是在圖16的記錄設(shè)備中產(chǎn)生的選通信號的時域圖示。
圖17(D)是第二實(shí)施例中的一系列凹坑的圖示。
圖17(E)是在圖17(D)的凹坑序列的掃描期間產(chǎn)生的RF信號的時域圖示。
圖17(F)是在圖13的再現(xiàn)設(shè)備中根據(jù)圖17(E)的RF信號產(chǎn)生的檢測信號的時域圖示。
圖18(A)是在本發(fā)明的第三實(shí)施例的光盤中的一系列凹坑的圖示。
第18(B)是從圖18(A)的凹坑序列產(chǎn)生的信號的時域圖示。
圖19是第三實(shí)施例中的再現(xiàn)設(shè)備的方框圖。
圖20是圖19中的VAL檢測電路的方框圖。
圖21是第三實(shí)施例中的記錄設(shè)備的方框圖。
圖22(A)是幀號的時域圖示。
圖22(B)是在圖21的記錄設(shè)備中產(chǎn)生的控制信號的時域圖示。
圖22(C)是在圖21的記錄設(shè)備中產(chǎn)生的選通信號的時域圖示。
圖22(D)是第三實(shí)施例中的一系列凹坑的圖示。
圖22(E)是在圖22(D)的凹坑序列的掃描期間產(chǎn)生的RF信號的時域圖示。
圖22(F)是在圖19的再現(xiàn)設(shè)備中根據(jù)圖22(E)的RF信號產(chǎn)生的檢測信號的時域圖示。
圖23(A)是在本發(fā)明的第四實(shí)施例的光盤中的一系列凹坑的圖示。
圖23(B)是在圖23(A)的凹坑序列的掃描期間產(chǎn)生的跟蹤誤差信號的時域圖示。
圖24(A)是幀號的時域圖示。
圖24(B)是在第四實(shí)施例中產(chǎn)生的的控制信號的時域圖示。
圖24(C)是在第四實(shí)施例中產(chǎn)生的的選通信號的時域圖示。
圖24(D)是第四實(shí)施例中的一系列凹坑的圖示。
圖24(E)是在圖24(D)的凹坑序列的掃描期間產(chǎn)生的跟蹤誤差信號的時域圖示。
圖24(F)是根據(jù)圖24(E)的跟蹤誤差信號產(chǎn)生的檢測信號的時域圖示。
圖25(A)是第四實(shí)施例中的一系列凹坑的圖示。
圖25(B)是相應(yīng)于圖25(A)的凹坑列的EFM信號的時域圖示。
圖25(C)是根據(jù)圖25(B)的EFM信號產(chǎn)生的異常凹坑信號的時域圖示。
圖26是第四實(shí)施例中的記錄設(shè)備的方框圖。
圖27(A)是在本發(fā)明的第五實(shí)施例的光盤中的一系列凹坑的圖示。
圖27(B)是在圖27(A)的凹坑序列的掃描期間產(chǎn)生的跟蹤誤差信號的時域圖示。
圖27(C)是關(guān)于圖27(A)的凹坑序列產(chǎn)生的顫動信號的時域圖示。
圖28(A)是幀號的時域圖示。
圖28(B)是在第五實(shí)施例中產(chǎn)生的控制信號的時域圖示。
圖28(C)是在第五實(shí)施例中產(chǎn)生的選通信號的時域圖示。
圖28(D)是第五實(shí)施例中的一系列凹坑的圖示。
圖28(E)是在圖28(D)的凹坑序列的掃描期間產(chǎn)生的跟蹤誤差信號的時域圖示。
圖28(F)是根據(jù)圖28(E)的跟蹤誤差信號產(chǎn)生的檢測信號的時域圖示。
圖29是第五實(shí)施例中的記錄設(shè)備的方框圖。
圖30(A)是幀號的時域圖示。
圖30(B)、30(C)、30(D)、30(E)、30(F)和30(G)是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的不規(guī)則凹坑序列(異常凹坑序列)和正常凹坑序列的排列的時域圖示。
圖30(H)是與幀同步的脈沖信號的時域圖示。
圖30(I)和30(J)是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的不規(guī)則凹坑序列(異常凹坑序列)和正常凹坑序列的排列的時域圖示。
第一實(shí)施例1.光盤如圖1(A)所示，光盤具有沿著磁道的、部分地呈現(xiàn)徑向顫動的一系列凹坑或凹坑排列。換句話說，該光盤具有正常凹坑以及顫動凹坑(不規(guī)則凹坑或異常凹坑)。圖1(A)的凹坑排列分別包括在圖的左手側(cè)和右手側(cè)的正常凹坑序列和不規(guī)則凹坑序列(顫動凹坑序列或異常凹坑序列)。正常凹坑序列由正常凹坑組成。不規(guī)則凹坑序列由顫動凹坑(不規(guī)則坑凹或異常凹坑)組成。當(dāng)圖1(A)的凹坑序列被掃描時，產(chǎn)生的跟蹤誤差信號TE的波形如圖1(B)所示。圖1(A)左手側(cè)區(qū)域中的凹坑排列類似于(CD)中普通的凹坑排列或正常的凹坑排列。即圖1(A)中左手區(qū)域的凹坑排列的中心線與相關(guān)磁道的中心線重合。相反地，在圖1(A)的右手區(qū)域中的不規(guī)則凹坑(顫動凹坑)排列的中心線偏離相關(guān)磁道的虛擬中心線。更準(zhǔn)確地說，不規(guī)則凹坑(顫動凹坑)的中心相對于磁道的虛擬中心線顫動。
光拾取頭向光盤提供三個光束點(diǎn)。這三個光束點(diǎn)包括主光束點(diǎn)BS2以及側(cè)光束點(diǎn)BS1和BS3(見圖1(A))。側(cè)光束點(diǎn)BS1和BS3分別沿相反方向徑向地偏離主光束點(diǎn)BS2。根據(jù)分別與側(cè)光束點(diǎn)BS1和BS3相關(guān)的被反射光的大小之間的差產(chǎn)生跟蹤誤差信號TE。
在三個光束點(diǎn)BS1，BS2和BS3掃描正常排列的凹坑(見圖1(A)的左手區(qū)域)期間，與側(cè)光束點(diǎn)BS1和B相關(guān)的被反射光的大小基本上彼此相等。因此，在這種情況下，產(chǎn)生的跟蹤誤差信號TE的電平基本上為零(即“0”)。
在三個光束點(diǎn)BS1’，BS2’和BS3’掃描顫動凹坑(見圖1(A)的右手區(qū)域)期間，與側(cè)光束點(diǎn)BS1’和BS3’相關(guān)的被反射光的大小彼此不相等。因此，在這種情況下，產(chǎn)生的跟蹤誤差信號TE的電平就根據(jù)從磁道的虛擬中心線到每一個凹坑的徑向距離的變化而偏離了零電平。因此，在顫動凹坑的掃描期間，顫動信號疊加在生成的跟蹤誤差信號TE上。換句話說，在顫動凹坑的掃描期間，生成的跟蹤誤差信號TE具有依賴于顫動凹坑的排列的顫動分量。應(yīng)當(dāng)指出，從磁道的虛擬中心線到每一凹坑的徑向距離也被稱為偏離量。
正如從以上描述所知道的，顫動凹坑在光盤上的形成就在該光盤上記錄了顫動信號。這樣的顫動信號以數(shù)據(jù)塊單元的形式周期地和間斷地被記錄在合法光盤的一預(yù)定磁道或一些預(yù)定磁道上。在從光盤的這種磁道區(qū)域中再現(xiàn)信息期間，如果顫動信號與每一數(shù)據(jù)塊同步地被產(chǎn)生，則該光盤可被認(rèn)為是合法的。否則，可將該光盤判別為非法的。
為了防止查找錯誤和數(shù)據(jù)誤差，偏離量(即顫動凹坑和磁道的虛擬中心線之間的徑向距離)最好等于或小于磁道間距的約2％。還有，偏離量(即顫動凹坑和磁道的虛擬中心線之間的徑向距離)最好等于或小于沿徑向方向的凹坑寬度的約5％。
圖2(D)表示包括正常凹坑和不規(guī)則凹坑(顫動凹坑或異常凹坑)的光盤凹坑序列的一個例子。在光盤上有各具有相繼的不規(guī)則凹坑并各形成了顫動磁道部分的一些不規(guī)則凹坑組。如圖2(D)所示，這些不規(guī)則凹坑組以脈沖串的方式間斷地排列。不規(guī)則凹坑組的排列按照相關(guān)磁道的邏輯單元來進(jìn)行。例如，不規(guī)則凹坑組的排列與磁道的幀有已知的關(guān)系(見圖2(A))。更準(zhǔn)確地說，不規(guī)則凹坑組分別在偶數(shù)幀中而正常凹坑占據(jù)奇數(shù)幀。在從光盤再現(xiàn)信息期間，生成的跟蹤誤差信號TE具有圖2(E)的波形。如圖2(E)所示，每一不規(guī)則凹坑組(見圖2(D))周期地在跟蹤誤差信號TE中產(chǎn)生了顫動信號。
以下參看圖3說明由不規(guī)則凹坑(顫動凹坑或異常凹坑)產(chǎn)生的顫動信號的頻率。當(dāng)使用利用三光束的光拾取頭從普通光盤再現(xiàn)數(shù)據(jù)時，合成跟蹤誤差信號TE的頻譜就具有由圖3的實(shí)曲線GA表示的記錄信號分量。該記錄信號分量的電平在由側(cè)光束點(diǎn)BS1和BS3(見圖1(A))之間的距離確定的時間間隔內(nèi)增大或減小。記錄信號分量相對于顫動信號是噪聲。因此，在圖3的記錄信號分量的電平聳起的點(diǎn)A和C處，如圖3的曲線GB和GC所示，難于獲得顫動信號良好的C/N(良好的載波一噪聲比)。相反地，在圖3的記錄信號分量的電平下陷的點(diǎn)B處，如圖3的曲線GD所示，能夠獲得顫動信號良好的C/N。最好選擇顫動信號的頻率為相應(yīng)于記錄信號分量的電平下陷的點(diǎn)(例如圖3的點(diǎn)B)。
在具有數(shù)據(jù)“O”的光盤部分(例如讀入和讀出區(qū)域)中，如圖3的虛曲線GE所示，記錄信號分量的電平較低。因此，在這樣的部分中，能夠獲得顫動信號良好的C/N。因此最好用產(chǎn)生顫動信號的不規(guī)則凹坑來形成具有數(shù)據(jù)“O”的光盤部分(例如讀入或讀出區(qū)域)。2.再現(xiàn)設(shè)備參看圖4，從光盤30再現(xiàn)信息的設(shè)備包括后面有RF處理電路34和伺服處理電路36的光拾取頭32。RF處理電路34后面有信號處理電路38。信號處理電路38與微計(jì)算機(jī)40連接。伺服處理電路36后面有脈沖串跟蹤誤差檢測電路42。伺服處理電路36與信號處理電路38連接。脈沖串跟蹤誤差檢測電路42與微計(jì)算機(jī)40連接。
光拾取頭32從光盤30讀出的信號傳送給RF處理電路34和伺服處理電路36。RF處理電路34從光盤30的輸出信號中獲取RF信號，并將該RF信號傳送給信號處理電路38。信號處理電路38根據(jù)RF信號產(chǎn)生子代碼信息和幀信息，并輸出該子代碼信息和該幀信息給微機(jī)40。
伺服處理電路36具有跟蹤誤差信號檢測器，利用該檢測器從光拾取頭32的輸出信號中檢測跟蹤方面的偏離或誤差作為跟蹤誤差信號TE。伺服處理電路36輸出該跟蹤誤差信號TE給脈沖串跟蹤誤差檢測電路42。脈沖串跟蹤誤差檢測電路42從跟蹤誤差信號TE中提取脈沖串信號，并產(chǎn)生表示被提取的脈沖串信號的數(shù)字信號。脈沖串跟蹤誤差檢測電路42輸出脈沖串表示數(shù)字信號給微計(jì)算機(jī)40。
如圖5所示，脈沖串跟蹤誤差檢測電路42包括帶通濾波器42A，整流器電路42B，基準(zhǔn)電壓輸出電路42C，以及比較器42D。帶通濾波器42A從伺服處理電路36接收跟蹤誤差信號TE(見圖4)。帶通濾波器42A后面有整流器電路42B。整流器電路42B的輸出端與比較器42D的第一輸入端連接。基準(zhǔn)電壓輸出電路42C的輸出端與比較器42D的第二輸入端連接。比較器42D輸出脈沖串表示數(shù)字信號給微計(jì)算機(jī)40(見圖4)。
將帶通濾波器42A調(diào)諧到顫動信號的頻率。更準(zhǔn)確地說，按照圖3虛線GF所示的梯形設(shè)計(jì)濾波器42A的通帶特性。濾波器42A通帶的中心頻率與圖3中的頻率點(diǎn)B一致。濾波器42A的通帶可以具有顛倒的下凹形狀。
如圖6(A)和6(B)所示，伺服處理電路36輸出的跟蹤誤差信號TE具有由在偶數(shù)幀中出現(xiàn)的不規(guī)則凹坑組產(chǎn)生的脈沖串。跟蹤誤差信號TE輸入給脈沖串跟蹤誤差檢測電路42。在脈沖串跟蹤誤差檢測電路42中，帶通濾波器42A只選擇跟蹤誤差信號TE的顫動信號頻率分量。因此就從跟蹤誤差信號TE中消除了噪聲，帶通濾波器42A的輸出信號具有圖6(C)所示的波形。
脈沖串跟蹤誤差檢測電路42中的整流器電路42B整流帶通濾波器42A的輸出信號，由此產(chǎn)生和輸出表示帶通濾波器42A輸出信號的包絡(luò)的信號。整流器42B的輸出信號具有圖6(D)所示的波形。比較器42D接收整流器電路42B的輸出信號。比較器42D還接收表示預(yù)定基準(zhǔn)電壓VTH(見圖6(D))的基準(zhǔn)電壓輸出電路42C的輸出信號。部件42D比較包絡(luò)表示信號和基準(zhǔn)電壓VTH，由此將包絡(luò)表示信號轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的數(shù)字信號。如圖6(E)所示，比較器42D產(chǎn)生的數(shù)字信號在有脈沖串時取“高”的邏輯值，在無脈沖串時取“低”的邏輯值。脈沖串表示數(shù)字信號從比較器42D輸出給微計(jì)算機(jī)40。
顫動信號被記錄在光盤30的每隔一幀中。更準(zhǔn)確地說，顫動信號被記錄在每一偶數(shù)幀中，而在每一奇數(shù)幀中無顫動信號。因此，如圖7(A)和7(B)所示，伺服處理電路36輸出的跟蹤誤差信號TE在相應(yīng)于每一偶數(shù)幀的時間期間具有脈沖串。此外，如圖7(A)和7(C)所示，脈沖串跟蹤誤差檢測電路42輸出的脈沖串表示數(shù)字信號(脈沖串跟蹤誤差信號)在相應(yīng)于每一偶數(shù)幀的時間期間改變?yōu)椤案摺钡倪壿嬛挡⒈３衷谠摗案摺钡倪壿嬛怠?br> 微計(jì)算機(jī)40從信號處理電路38接收幀號信息(見圖7(D))。微計(jì)算機(jī)40從脈沖串跟蹤誤差檢測電路42接收脈沖串表示數(shù)字信號或脈沖串跟蹤誤差信號(見圖7(C))。微計(jì)算機(jī)40在圖7(E)的時間QA內(nèi)取樣幀號信息，然后在圖7(E)的隨后的時間QB內(nèi)識別幀號。在圖7(E)的在時間QB之后相隔給定間隔的時間QC內(nèi)，微計(jì)算機(jī)40讀或取樣脈沖串跟蹤誤差信號。當(dāng)讀出的脈沖串跟蹤誤差信號指出存在顫動信號以及被識別的幀號與偶數(shù)幀一致時，微計(jì)算機(jī)40執(zhí)行計(jì)數(shù)。當(dāng)讀出的脈沖串跟蹤誤差信號指出沒有顫動信號以及被識別的幀號與奇數(shù)幀一致時，微計(jì)算機(jī)40也執(zhí)行計(jì)數(shù)。在其它情況下，微計(jì)算機(jī)40不執(zhí)行計(jì)數(shù)。在與圖7(E)中的時間間隔QA、QB和QC不同的時間間隔內(nèi)，微計(jì)算機(jī)40執(zhí)行其它處理。
再現(xiàn)設(shè)備具有用于光盤30的光盤驅(qū)動器。該光盤驅(qū)動器與微計(jì)算機(jī)40連接，以便由此能夠以已知的方式控制該光盤驅(qū)動器。
微計(jì)算機(jī)40包括輸入/輸出端口、CPU、ROM和RAM的組合。微計(jì)算機(jī)40按照存儲在ROM中的程序進(jìn)行操作。該程序具有用于檢查或確定光盤30是合法還是非法的程序段。圖8就是這一程序段的流程圖。一接通再現(xiàn)設(shè)備的電源(未示出)就啟動圖8的程序段。
參看圖8，程序段的最初步驟S1按照已知的方式確定光盤30是否放置在再現(xiàn)設(shè)備的光盤驅(qū)動器內(nèi)。當(dāng)光盤30放置在光盤驅(qū)動器內(nèi)時，程序就從步驟S1前進(jìn)到步驟S2。否則，就重復(fù)步驟S1。
步驟S2以已知的方式從光盤30的TOC區(qū)域中讀出信息。步驟S2后的步驟S3通過參看TOC區(qū)域的信息確定光盤30是數(shù)據(jù)存儲器(例如CD這樣的DA)還是CD-ROM。當(dāng)光盤30是數(shù)據(jù)存儲器時，程序就從步驟S3前進(jìn)到步驟S4，執(zhí)行普通音頻再現(xiàn)。當(dāng)光盤30是CD-ROM時，程序就從步驟S3前進(jìn)到步驟S5。
步驟S5執(zhí)行查找在其中形成了不規(guī)則凹坑或顫動凹坑的預(yù)定磁道部分(預(yù)定地址)的過程。應(yīng)當(dāng)指出，預(yù)定磁道部分的信息預(yù)先存儲在微計(jì)算機(jī)40內(nèi)的ROM中。步驟S5后的步驟S6初始化或請零相應(yīng)于計(jì)數(shù)器的變量(計(jì)數(shù)器值)。在步驟S6之后，程序前進(jìn)到步驟S7。
步驟S7通過參看信號處理電路38的輸出信號讀出幀信息。步驟S7后的步驟S8讀出脈沖串跟蹤誤差檢測電路42輸出的脈沖串跟蹤誤差信號(脈沖串表示數(shù)字信號)。步驟S8后的步驟S9利用幀信息來確定當(dāng)前幀是偶數(shù)幀還是奇數(shù)幀。當(dāng)當(dāng)前幀是偶數(shù)幀時，程序從步驟S9前進(jìn)到步驟S10。當(dāng)當(dāng)前幀是奇數(shù)幀時，程序從步驟S9前進(jìn)到步驟S12。
步驟S10通過參看脈沖串跟蹤誤差信號確定是否存在脈沖串(顫動信號)。當(dāng)存在脈沖串時，程序從步驟S10前進(jìn)到步驟S11。否則，程序就從步驟S10跳到步驟S14。步驟S11將偶數(shù)幀的計(jì)數(shù)器值遞增“1”。在步驟S11之后，程序前進(jìn)到步驟S14。
步驟S12通過參看脈沖串跟蹤誤差信號確定是否存在脈沖串(顫動信號)。當(dāng)不存在脈沖串時，程序從步驟S12前進(jìn)到步驟S13。當(dāng)存在脈沖串時，程序就從步驟S12跳到步驟S14。步驟S13將奇數(shù)幀的計(jì)數(shù)器值遞增“1”。在步驟S13之后，程序前進(jìn)到步驟S14。
步驟S14確定預(yù)定數(shù)目的幀是否已被讀出。當(dāng)預(yù)定數(shù)目的幀已被讀出時，程序從步驟S14前進(jìn)到步驟S15。否則，程序就從步驟S14返回到步驟S7。
步驟S15將偶數(shù)幀的計(jì)數(shù)器值與預(yù)定數(shù)目比較。當(dāng)偶數(shù)幀的計(jì)數(shù)器值等于或大于預(yù)定數(shù)目時，程序從步驟S15前進(jìn)到步驟S16。否則程序就從步驟S15前進(jìn)到步驟S18。
步驟S16將奇數(shù)幀的計(jì)數(shù)器值與預(yù)定數(shù)目比較。當(dāng)奇數(shù)幀的計(jì)數(shù)器值等于或大于預(yù)定數(shù)目時，程序從步驟S16前進(jìn)到步驟S17。否則，程序就從步驟S16前進(jìn)到步驟S18。
步驟S17將光盤30判別為合法的。例如，步驟S17給表示當(dāng)前光盤30為合法光盤的狀態(tài)規(guī)定已知標(biāo)記。步驟S17之后是執(zhí)行普通的CD-ROM信息再現(xiàn)的步驟S21。步驟S18將光盤30判別為非法的。例如，步驟S18給表示當(dāng)前光盤30為非法復(fù)制光盤的狀態(tài)規(guī)定已知標(biāo)記。步驟S18之后是停業(yè)光盤30的步驟S19。步驟S19之后的步驟S20從光盤驅(qū)動器中彈出光盤30。在步驟S20之后，程序返回步驟S1。
合法光盤只有一個在其中周期地和間斷地形成了不規(guī)則凹坑組或顫動凹坑組的區(qū)域(一個磁道部分)?；蛘撸戏ü獗P可以有兩個或兩個以上在其中周期地和間斷地形成了不規(guī)則凹坑組或顫動凹坑組的單獨(dú)區(qū)域(兩個或兩個以上單獨(dú)的磁道部分)。
在具有多個單獨(dú)的、在其中周期地和間斷地形成了顫動凹坑組的磁道部分(多個單獨(dú)區(qū)域)的合法光盤的場合中，包括顫動凹坑附加磁道部分的地址的表的信息可預(yù)先存儲在光盤的預(yù)定區(qū)域中。在這種情況下，再現(xiàn)設(shè)備查找在該預(yù)定區(qū)域上的磁道，然后從該表中讀出顫動凹坑附加磁道部分的地址。此后，再現(xiàn)設(shè)備根據(jù)地址訪問顫動凹坑附加磁道部分。再現(xiàn)設(shè)備在訪問顫動凹坑附加磁道部分的同時檢測顫動信號。3.記錄設(shè)備參看圖9，記錄設(shè)備(制模設(shè)備)包括后面有光調(diào)制器驅(qū)動器52和子代碼閱讀器56的EFM編碼器50。光調(diào)制器驅(qū)動器52與光調(diào)制器54電連接。子代碼閱讀器56與CPU58和選通信號發(fā)生器60連接。CPU58與選通信號發(fā)生器60連接。選通信號發(fā)生器60的后面依次是頻率發(fā)生器62和光編轉(zhuǎn)器驅(qū)動器64。光偏轉(zhuǎn)器驅(qū)動器64與光偏轉(zhuǎn)器66電連接。
圖9的記錄設(shè)備包括后面依次跟有光調(diào)制器54、光偏轉(zhuǎn)器66和物鏡70的激光發(fā)生器68。母光盤72放置在受到物鏡70輸出的光束照射的位置。
表示例如電視游戲或計(jì)算機(jī)游戲軟件的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)輸入給EFM編碼器50，由此被編碼成為EFM信號。EFM編碼器50輸出EFM信號給光調(diào)制器驅(qū)動器52和子代碼閱讀器56。光調(diào)制器驅(qū)動器52根據(jù)EFM信號產(chǎn)生光調(diào)制器54的驅(qū)動信號。光調(diào)制器驅(qū)動器52輸出該驅(qū)動信號給光調(diào)制器54。
子代碼閱讀器56從EFM信號中提取子代碼信號。子代碼閱讀器56輸出子代碼信號給CPU58和選通信號發(fā)生器60。CPU58連續(xù)地監(jiān)測子代碼信號中的地址信息。CPU58在地址信息表示的當(dāng)前地址與應(yīng)當(dāng)記錄防復(fù)制碼(顫動信號)的預(yù)定地址一致時輸出控制信號脈沖給選通信號發(fā)生器60。CPU58的輸出信號具有例如如圖2(B)所示這樣的波形。
選通信號發(fā)生器60根據(jù)子代碼信號和控制信號脈沖產(chǎn)生選通信號。產(chǎn)生的選通信號與子代碼幀同步。產(chǎn)生的選通信號具有例如如圖2(C)所示這樣的波形。該選通信號相當(dāng)于防復(fù)制碼。如圖2(A)和2(C)所示，選通信號在每一偶數(shù)子代碼幀期間具有“高”的邏輯值，而現(xiàn)在每一奇數(shù)子代碼幀期間具有“低”的邏輯值。應(yīng)當(dāng)指出，選通信號可以分別在每一奇數(shù)子代碼幀和每一偶數(shù)子代碼幀期間具有“高”的邏輯值和“低”的邏輯值。選通信號發(fā)生器60輸出選通信號給頻率發(fā)生器62。
頻率發(fā)生器62在選通信號為“高”時、即當(dāng)當(dāng)前子代碼幀是偶數(shù)時輸出正弦波信號。該正弦波信號有預(yù)定的固定頻率。相反地，頻率發(fā)生器62在選通信號為“低”時、即當(dāng)當(dāng)前子代碼幀是奇數(shù)時不輸出這樣的信號。因此，頻率發(fā)生器62的輸出信號形成了與子代碼幀同步的脈沖串狀的顫動信號。頻率發(fā)生器62將該顫動信號輸入給光偏轉(zhuǎn)器驅(qū)動器64。光偏轉(zhuǎn)器驅(qū)動器64根據(jù)顫動信號產(chǎn)生光偏轉(zhuǎn)器66的驅(qū)動信號。光偏轉(zhuǎn)器驅(qū)動器64輸出該驅(qū)動信號給光偏轉(zhuǎn)器66。
激光發(fā)生器68連續(xù)地給光調(diào)制器54提供激光光束La。激光光束La在被根據(jù)光調(diào)制器驅(qū)動器52輸出的驅(qū)動信號進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制的同時通過光調(diào)制器54。因此，光調(diào)制器54將激光光束La轉(zhuǎn)換成為第二激光光束(調(diào)制生成激光光束)Lb。第二激光光束Lb從光調(diào)制器54傳播到光偏轉(zhuǎn)器66。第二激光光束Lb在被根據(jù)光偏轉(zhuǎn)器驅(qū)動器64輸出的驅(qū)動信號進(jìn)行偏轉(zhuǎn)的同時通過光偏轉(zhuǎn)器66。因此，光偏轉(zhuǎn)器66將第二激光光束Lb轉(zhuǎn)換成為第三激光光束(偏轉(zhuǎn)生成激光光束)Lc。
第三激光光束Lc從光偏轉(zhuǎn)器66傳播到物鏡70。第三激光光束LC在被聚焦成為在母光盤72上的光點(diǎn)之前通過物鏡70。光點(diǎn)在母光盤72被合適的驅(qū)動設(shè)備(未示出)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)的時候在母光盤72上形成凹坑。光偏轉(zhuǎn)器66根據(jù)光偏轉(zhuǎn)器驅(qū)動器64輸出的驅(qū)動信號使母光盤72上光點(diǎn)的位置徑向地偏離相關(guān)磁道的虛擬中心線。由于傳送給光偏轉(zhuǎn)器66的驅(qū)動信號依賴于顫動信號，所以母光盤72上光點(diǎn)的位置就徑向地偏離了相關(guān)磁道的虛擬中心線。這樣一來就如圖1(A)所示那樣在母光盤72上形成了不規(guī)則凹坑或顫動凹坑。
第二實(shí)施例1.光盤光盤具有一系列沿著磁道的凹坑。圖10(A)表示具有小于50％的占空因數(shù)的異常凹坑序列的一個例子。圖10(B)表示具有50％的占空因數(shù)的正常凹坑序列的一個例子。圖10(C)表示具有大于50％的占空因數(shù)的異常凹坑序列的一個例子。
圖11所示的RF信號波形是由從圖10(B)的50％占空因數(shù)的正常凹坑序列中再現(xiàn)信息而得到的。圖11的RF信號波形相對圖中的水平中心線對稱。限幅電平位于圖11的RF信號波形的中部。在圖11中，限幅電平穿過被稱為“眼孔”的RF信號波形的菱形陰影部分的中部。
圖10(A)的異常凹坑序列是由對記錄信號的占空因數(shù)進(jìn)行修改而產(chǎn)生的。圖10(A)每一凹坑水平方向(即切線方向)的長度比圖10(B)每一凹坑的長度短了兩倍值“a”。當(dāng)從圖10(A)的異常凹坑序列再現(xiàn)信息時，所獲RF信號的波形就不是對稱的，限幅電平在圖11中向上移動。
圖10(C)的異常凹坑序列是由對記錄信號的占空因數(shù)時行修改而產(chǎn)生的。圖10(C)每一凹坑水平方向(即切線方向)的長度比圖10(B)每一凹坑的長度長了兩倍值“b”。當(dāng)從圖10(C)的異常凹坑序列再現(xiàn)信息時，所獲RF信號的波形就不是對稱的，限幅電平在圖11中向下移動。
正如從以上說明所知道的，限幅電平隨凹坑序列占空因數(shù)的變化上移和下移，即成Z形。通常在光盤的給定區(qū)域(給定磁道部分)中交替地產(chǎn)生圖10(A)或10(C)的異常凹坑序列和圖10(B)的正常凹坑序列，所以限幅電平在從該給定區(qū)域再現(xiàn)信息期間將周期地發(fā)生變化。
圖12(A)表示使RF信號的限幅電平發(fā)生變化的凹坑序列的其它例子。在圖12(A)中，每一異常凹坑徑向方向的寬度(用虛線來表示)比用實(shí)線表示的每一正常凹坑的相應(yīng)寬度大或小。圖12(B)表示從圖12(A)的凹坑再現(xiàn)信息產(chǎn)生的RF信號的波形。更準(zhǔn)確地說，相應(yīng)于正常凹坑的RF信號具有如圖12(B)中曲線GH所示的波形，并與限幅電平SL1相關(guān)。在徑向?qū)挾却笥谡０伎拥拇职伎?異常凹坑)的情形中，反射系數(shù)相對較大，因此調(diào)制系數(shù)也相對較大。所以相應(yīng)于粗凹坑的RF信號具有如圖12(B)中曲線GI所示的波形，相關(guān)的限幅電平下降為SL2。在徑向?qū)挾刃∮谡０伎拥募?xì)凹坑(異常凹坑)的情形中，反射系數(shù)和調(diào)制系數(shù)相對較小。所以相應(yīng)于細(xì)凹坑的RF信號具有如圖12(B)中曲線GJ所示的波形，相關(guān)的限幅電平上移。一般來說，異常凹坑(粗凹坑或細(xì)凹坑)組和正常凹坑組交替地排列在光盤的給定區(qū)域中，所以限幅電平在從該給定區(qū)域再現(xiàn)信息期間將周期地發(fā)生變化。2.再現(xiàn)設(shè)備除RF對稱變化檢測電路80代替了脈沖串跟蹤誤差檢測電路42(見圖4)外，圖13的再現(xiàn)設(shè)備類似于圖4的再現(xiàn)設(shè)備。RF對稱變化檢測電路80連接在RF處理電路34和微計(jì)算機(jī)40之間。RF對稱變化檢測電路80從RF處理電路34接收RF信號，并檢測該RF信號限幅電平對稱性的變化。RF對稱變化檢測電路80給微計(jì)算機(jī)40提供表示檢測結(jié)果的檢測信號。
如圖14所示，RF對稱變化檢測電路80包括自動限幅電路80A，基準(zhǔn)電壓輸出電路80B，比較器80C，以及單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器80D。自動限幅電路80A從RF處理電路34接收RF信號(見圖13)。自動限幅電路80A的輸出端與比較器80C的第一輸入端連接?；鶞?zhǔn)電壓輸出電路80B的輸出端與比較器80C的第二輸入端連接。比較器80C之后是單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器80D。單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器80D的輸出端與微計(jì)算機(jī)40連接(見圖13)。
在從異常凹坑序列再現(xiàn)信息期間，RF處理電路34輸出的RF信號波形中的眼孔偏離正常位置上移或下移。與RF信號相關(guān)的限幅電平因此發(fā)生變化。圖15(A)說明限幅電平變化的例子。自動限幅電路80A檢測這種變化，并產(chǎn)生表示限幅電平的信號。自動限幅電路80A輸出限幅電平信號給比較器80C。
比較器80C接收表示預(yù)定上限和下限SLL1和SLL2的基準(zhǔn)電壓輸出電路80B的輸出信號(見圖15(A))。比較器80C將限幅電平與上限和下限SLL1和SLL2比較，產(chǎn)生并輸出限幅電平變化信號。如圖15(A)和15(B)所示，限幅電平變化信號在限幅電平高于上限SLL1或低于下限SLL2時為“高”。限幅電平變化信號在限幅電平位置于上限SLL1和下限SLL2之間時為“低”。比較器80C輸出限幅電平變化信號給單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器80D。
單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器80D被限幅電平變化信號從“低”至“高”的變化觸發(fā)，輸出圖15(C)所示的“高電平”脈沖。單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器80D具有確定輸出的“高電平”脈沖寬度的預(yù)定時間常數(shù)“T”。單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器80D是可再觸發(fā)型的。單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器80D的輸出信號形成了表示對稱變化的信號。對稱變化信號在從異常凹坑序列再現(xiàn)信息時為“高”，在從一系列正常凹坑序列再現(xiàn)信息時為“低”。單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器80D輸出對稱變化信號給微計(jì)算機(jī)40。
微計(jì)算機(jī)40對對稱變化信號而不是對脈沖串跟蹤誤差信號作出響應(yīng)。在圖7(E)的在時間QB之后相隔給定間隔的時間QC內(nèi)，微計(jì)算機(jī)40讀或取樣對稱變化信號。將圖8中的步驟S8修改成讀對稱變化信號。還將圖8中的步驟S10和S12修改為通過參看對稱變化信號確定是否存在對稱變化。
自動限幅電路80A的一實(shí)用例子是東芝公司制造的IC“TC9263F”，它能夠輸出表示限幅電平的信號。3.記錄設(shè)備參看圖16，記錄設(shè)備(制模設(shè)備)包括后面有子代碼閱讀器56和占空因數(shù)修改單元82的EFM編碼器50。子代碼閱讀器56與CPU58和選通信號發(fā)生器60連接。CPU58與選通信號發(fā)生器60連接。選通信號發(fā)生器60與占空因數(shù)修改單元82連接。占空因數(shù)修改單元82與光調(diào)制器驅(qū)動器52連接。光調(diào)制器驅(qū)動器52與光調(diào)制器54電連接。
圖16的記錄設(shè)備包括后面依次跟有光調(diào)制器54和物鏡70的激光發(fā)生器68。母光盤72放置在受到物鏡70輸出的光束照射的位置。
表示例如電視游戲或計(jì)算機(jī)游戲軟件的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)輸入給EFM編碼器50，由此被編碼成為EFM信號。EFM編碼器50輸出EFM信號給子代碼閱讀器56和占空因數(shù)修改單元82。子代碼閱讀器56從EFM信號提取子代碼信號。子代碼閱讀器56從EFM售中提取子代碼信號。子代碼閱讀器56輸出子代碼信號給CPU58和選通信號發(fā)生器60。CPU58連續(xù)地監(jiān)測子代碼信號中的地址信息。CPU58在地址信息表示的當(dāng)前地址與應(yīng)當(dāng)記錄防復(fù)制碼(對稱變化信號)的預(yù)定地址一致時輸出控制信號脈沖給選通信號發(fā)生器60。GPU S8的輸出信號具有例如如圖17(B)所示這樣的波形。
選通信號發(fā)生器比根據(jù)子代碼信號和控制信號脈沖產(chǎn)生選通信號。產(chǎn)生的選通信號與子代碼幀同步。產(chǎn)生的選通信號具有例如如圖17(C)所示，選通信號相當(dāng)于防復(fù)制瑪。如圖17(A)和17(C)所示，選通信號在每一偶數(shù)子代碼幀期間具有“高”的邏輯值，而在每一奇數(shù)子代碼幀期間具有“低”的邏輯值。應(yīng)當(dāng)指出，選通信號可以分別在每一奇數(shù)子代碼幀和每一偶數(shù)子代瑪幀期間具有“高”的邏輯值和“低”的邏輯值。選通信號發(fā)生器比輸出選通信號給占空因數(shù)修改單元82。
占空因數(shù)修改單元82在選通信號為“高”時、即當(dāng)當(dāng)前子代碼幀是偶數(shù)時對EFM信號的占空因數(shù)進(jìn)行預(yù)定的修改。占空因數(shù)修改單元82被設(shè)計(jì)成從50％開始改變占空因數(shù)。占空因數(shù)修改單元82輸出修改產(chǎn)生信號給光調(diào)制器驅(qū)動器52。相反地，占空因數(shù)修改單元82在選通信號為“低”時、即當(dāng)前子代碼幀是奇數(shù)時不修改EFM信號將EFM信號傳送給光調(diào)制器驅(qū)動器52。占空因數(shù)修改單元82的輸出信號形成了與子代碼幀同步的記錄信號。占空因數(shù)修改單元82將該記錄信號輸入給光調(diào)制器驅(qū)動器52。光調(diào)制驅(qū)動器52根據(jù)記錄信號產(chǎn)生光調(diào)制器54的驅(qū)動信號。光調(diào)制器驅(qū)動器52輸出該驅(qū)動信號給光調(diào)制器54。
激光發(fā)生器68連續(xù)地給光調(diào)制器54提供激光光束La。激光光束La在被根據(jù)光調(diào)制器驅(qū)動器52輸出的驅(qū)動信號進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制的同時通過光調(diào)制器54。因此，光調(diào)制器54將激光光束La轉(zhuǎn)換成為第二激光光束(調(diào)制生成激光光束)Ld。第二激光光束Ld從光調(diào)制器54傳播到物鏡70。第二激光光束Ld在被聚焦成為在母光盤72上的光點(diǎn)之前通過物鏡70。光點(diǎn)在母光盤72被合適的驅(qū)動設(shè)備(未示出)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)的時候在母光盤72上形成凹坑。由于占空因數(shù)修改單元82的操作，就如圖17(A)和17(D)所示地沿著相應(yīng)于每一偶數(shù)幀的磁道部分形成了異常凹坑。相反地，如圖17(A)和17(D)所示地沿著相應(yīng)于每一奇數(shù)幀的磁道部分形成了正常凹坑。
如圖17(A)和17(E)所示，從這樣的光盤再現(xiàn)的RF信號的限幅電平與子代碼幀同步地變化。在圖13的再現(xiàn)設(shè)備中的RF對稱變化檢測電路80將圖17(E)的限幅電平信號變換成為具有例如如圖17(E)所示這樣的波形的檢測信號(對稱變化信號)。
第三實(shí)施例1.光盤光盤具有一系列沿著磁道的凹坑，。圖18(A)說明具有異常凹坑序列和正常凹坑序列的凹坑序列的一個例子。正常凹坑被定義為具有標(biāo)準(zhǔn)徑向?qū)挾?正常徑向?qū)挾?。異常凹坑被定義為具有大于或小于標(biāo)準(zhǔn)徑向?qū)挾鹊膹较驅(qū)挾?。圖18(B)表示從圖18(A)的凹坑序列再現(xiàn)的信號的波形。被再現(xiàn)信號的電平作為光盤反射系數(shù)的函數(shù)而變化。在圖18(B)中，波形的上面部分相應(yīng)于光盤的較大反射系數(shù)，而波形的下面部分相應(yīng)于光盤的較小反射系數(shù)。
在圖18(A)的在前異常凹坑序列中的每一異常凹坑的徑向?qū)挾缺让恳徽０伎拥膹较驅(qū)挾却髢杀吨怠癮”。如圖18(B)所示，相應(yīng)于該在前異常凹坑序列的被再現(xiàn)信號的振幅相對較大，但光盤的反射系數(shù)相對較小。在圖18(A)的在后異常凹坑序列中的每一異常凹坑的徑向?qū)挾缺让恳徽０伎拥膹较驅(qū)挾刃杀吨怠癰”。如圖18(B)所示，相應(yīng)于該在后異常凹坑序列的被再現(xiàn)信號的振幅相對較小，但光盤的反射系數(shù)相對較大。
異常凹坑序列和正常凹坑序列通常交替地排列在光盤的給定區(qū)域中，所以被再現(xiàn)信號的與反射系數(shù)有關(guān)的分量在從該給定區(qū)域再現(xiàn)信息期間將周期地發(fā)生變化。2.再現(xiàn)設(shè)備圖19表示除VAL(光量變化)檢測電路90代替了脈沖串跟蹤誤差檢測電路42(見圖4)外類似于圖4的再現(xiàn)設(shè)備的再現(xiàn)設(shè)備。VAL檢測電路90連接在伺服處理電路36和微計(jì)算機(jī)40之間。VAL檢測電路90從伺服處理電路36接收光量信號，并該光量信號檢測光量變化。VAL檢測電路90給微計(jì)算機(jī)40提供表示檢測結(jié)果的檢測信號或VAL信號。
如圖20所示，VAL檢測電路90包括加法器90A，比較器90B，以及基準(zhǔn)電壓輸出電路90C。加法器90A通過伺服處理電路36(見圖19)接收來自光拾取頭32(見圖19)中的光檢測器E和F的光量信號。設(shè)置光檢測器E和F來檢測相應(yīng)于在光盤上的側(cè)光點(diǎn)(子光點(diǎn))的反射光束。加法器90A的輸出端與比較器90B的第一輸入端連接?；鶞?zhǔn)電壓輸出電路90C的輸出端與比較器90B的第二輸入端連接。比較器90B的輸出端與微計(jì)算機(jī)40連接(見圖19)。
加法器90A將光量信號組合或相加成為相當(dāng)于“E+F”的復(fù)合光量信號。加法器90A輸出該復(fù)合光量信號給比較器90B。加法器90A可以與包括用于檢測與光盤上的至光點(diǎn)相關(guān)的反射光束的4片傳感器的光檢測器A、B、C和D連接。在這種情況下，加法器90A的輸出信號相當(dāng)于“A+B+C+D”。
比較器90B接收表示預(yù)定基準(zhǔn)電平VT的基準(zhǔn)電壓輸出電路90C的輸出信號。比較器90B將復(fù)合光量信號與基準(zhǔn)電平VT比較，產(chǎn)生并輸出VAL信號。當(dāng)復(fù)合光量信號的電平超過基準(zhǔn)電平VT時，VAL信號為“高電平”。否則VAL信號為“低電平”。比較器90B輸出VAL信號給微計(jì)算機(jī)40。
微計(jì)算機(jī)40對VAL信號而不是對脈沖串跟蹤誤差信號作出響應(yīng)。在圖T(E)的在時間QB之后相隔給定時間的QC內(nèi)，微計(jì)算機(jī)40讀或取樣VAL信號。將圖8中的步驟58修改成為讀VAL信號。還將圖8中的步驟S10或S12修改成為通過參看VAL信號確定是否存在光量變化。3.記錄設(shè)備參看圖21，記錄設(shè)備(制模設(shè)備)包括后面有第一光調(diào)制器驅(qū)動器92和子代碼閱讀器56的EFM編碼器50。第一光調(diào)制器驅(qū)動器92與第一光調(diào)制器94電連接。子代碼閱讀器56與CPU58和遠(yuǎn)通信號發(fā)生器60連接。CPU58與選通信號發(fā)生器60連接。選通信號發(fā)生器后面有第二光調(diào)制器驅(qū)動器96。第二光調(diào)制器驅(qū)動器96與第二光調(diào)制器98電連接。
圖21的記錄設(shè)備包括后面依次跟有第一光調(diào)制器94，第二光調(diào)制器98，以及物鏡70的激光發(fā)生器68。母光盤72放置在受到物鏡70輸出的光束照射的位置。
表示例如電視游戲或計(jì)算機(jī)游戲軟件的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)輸入給EFM編碼器50，由此被編碼成為EFM信號。EFM編碼器50輸出EFM信號給第一光調(diào)制器驅(qū)動器92和子代碼閱讀器56。第一光調(diào)制器驅(qū)動器92根據(jù)EFM信號產(chǎn)生第一光調(diào)制器94的驅(qū)動信號。第一光調(diào)制器驅(qū)動器92輸出驅(qū)動信號給第一光調(diào)制器94。
子代碼閱讀器56從EFM信號中提取子代碼信號。子代碼閱讀器56輸出子代碼信號給CPU58和選通信號發(fā)生器60。CPU58連續(xù)地監(jiān)測子代碼信號中的地址信息。CPU58在地址信息表示的當(dāng)前地址與應(yīng)當(dāng)記錄防復(fù)制碼(VAL信號)的預(yù)定地址一致時輸出控制信號脈沖給選通信號發(fā)生器60。該CPU58的輸出信號具有例如表示在圖22(B)中那樣的波形。
選通信號發(fā)生器60根據(jù)子代碼信號和控制信號脈沖產(chǎn)生的選通信號。產(chǎn)生選能信號與子代碼幀同步。產(chǎn)生的選通信號具有例如如圖22(C)所示這樣的波形。選通信號相當(dāng)于防復(fù)制碼。如圖22(A)和22(C)所示，選通信號在每一偶數(shù)子代碼幀期間具有“高”的邏輯值，而在每一奇數(shù)子代碼幀期間具有“低”的邏輯值。應(yīng)當(dāng)指出，選通信號可以分別在每一奇數(shù)子代碼幀和每一偶數(shù)子代碼幀期間具有“高”的邏輯值和“低”的邏輯值。選通信號發(fā)生器60輸出選通信號給第二光調(diào)制器驅(qū)動器96。
第二光調(diào)制器驅(qū)動器96根據(jù)選通信號產(chǎn)生第二光調(diào)制器98的驅(qū)動信號。第二光調(diào)制器驅(qū)動器52輸出該驅(qū)動信號給第二光調(diào)制器98。
激光發(fā)生器68連續(xù)地給第一光調(diào)制器94提供激光光束La。激光光束La在被根據(jù)第一光調(diào)制器驅(qū)動器92輸出的驅(qū)動信號進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制的同時通過第一光調(diào)制器94。因此，第一光調(diào)制器94將激光光束La轉(zhuǎn)換成為第二激光光束(調(diào)制生成激光光束Le。第二激光光束Le從第一光調(diào)制器94傳播到第二光調(diào)制器98。第二激光光束Le在被根據(jù)第二光調(diào)制器驅(qū)動器96輸出的驅(qū)動信號進(jìn)行調(diào)制的同時通過第二光調(diào)制器98。因此，第二光調(diào)制器98將第二激光光束Le轉(zhuǎn)換成為第三激光光束(調(diào)制生成激光光束)Lf。第二光調(diào)制器98進(jìn)行的光束調(diào)制用來改變在母光盤72上的光點(diǎn)的徑向尺寸(徑向?qū)挾?。
第三激光光束Lf從第二光調(diào)制器98傳播到物鏡70。第三激光光束Lf在被聚焦成為在母光盤72上的光點(diǎn)之間通過物鏡70。光點(diǎn)在母光盤72被合適的驅(qū)動設(shè)備(未示出)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)的時候在母光盤72上形成凹坑。由于第二光調(diào)制器98的操作，就如圖22(A)和22(D)所示地沿著相應(yīng)于每一偶數(shù)幀的磁道部分形成了異常凹坑。相反地，如圖22(A)和22(D)所示地沿著相應(yīng)于每一奇數(shù)幀的磁道部分形成了正常凹坑。
如圖22(A)和22(E)所示，在VAL檢測電路(見圖19)中的加法器90A輸出的復(fù)合光量信號的包絡(luò)或電平與子代碼幀同步地變化。VAL檢測電路90將圖22(E)的復(fù)合光量信號變換成為具有例如如圖22(F)所示這樣的波形的檢則信號(VAL信號)。
第四實(shí)施例1.光盤如圖23(A)所示，光盤具有沿著磁道延伸的凹坑系列或排列。圖23(A)的凹坑排列分別包括在圖的左手側(cè)和右手側(cè)的正常凹坑序列和異常器凹坑序列。正常凹坑序列由正常凹坑組成。異常凹坑序列由正常凹坑和異常凹坑組成。沿相關(guān)磁道延伸的每一正常凹坑的中心線依照通常的標(biāo)準(zhǔn)與該磁道的中心線重合。此外，每一正常凹坑關(guān)于其中心線(即磁道的中心線)對稱。相反地，沿相關(guān)磁道延伸的每一異常凹坑的中心線向內(nèi)或向外地(徑向地)偏離該磁道的中以線。更準(zhǔn)確地說，在圖23(A)中，每一異常凹坑在磁道中心線以下的部分的徑向?qū)挾群兔娣e大于其剩余部分(在磁道中心線以上的部分)的徑向?qū)挾群兔娣e。當(dāng)圖23(A)的凹坑排列被沿著磁道掃描時，生成的跟蹤該差信號TE具有圖23(B)所示的波形。
光拾取頭向光盤提供三個光束點(diǎn)。這三個光束點(diǎn)包括主光束點(diǎn)BS2以及側(cè)光束點(diǎn)BS1和BS3(見圖23(A))。側(cè)光束點(diǎn)BS1和BS3分別沿相反方向徑向地偏離主光束BS2。根據(jù)分別與側(cè)光束點(diǎn)BS1和BS3相關(guān)的被反射光的大小之間的差產(chǎn)生跟蹤誤差信號TE。
在三個光束點(diǎn)BS1，BS2和BS3掃描正常凹坑序列(見圖23(A)的左手區(qū)域)期間，由于每一正常凹坑相對磁道中心線對稱，所以與側(cè)光束點(diǎn)BS1和BS3相關(guān)的被反射光的大小基本上彼此相等。因此，在這種情況下，生成的跟蹤誤差信號TE的電平基本上為零(即“0”)。
在三個光束點(diǎn)BS1’，BS2’和BS3’掃描異常凹坑序列(見圖23(A)的右手區(qū)域)期間，由于異常凹坑不相對磁道中心線對稱，所以異常凹坑周期地造成與側(cè)光束點(diǎn)BS1’和BS3’相關(guān)的被反射光的大小之間的顯著不同。因此，在這種情況下，生成的跟蹤誤差信號TE的電平以脈沖串的形式周期地比零電平大。
產(chǎn)生脈沖串狀的跟蹤誤差信號TE的這種異常凹坑序列以數(shù)據(jù)塊單元的形式被周期地和間斷地記錄在合法光盤的一預(yù)定磁道或一些預(yù)定磁道上。在從光盤的這種磁道區(qū)域中再現(xiàn)信息期間，如果脈沖串信號與每一數(shù)據(jù)塊同步地被產(chǎn)生，則光盤可被認(rèn)為是合法的。否則，可將該光盤判別為非法的。
圖24(D)表示包括正常凹坑序列和異常凹坑序列的一系列凹坑的一個例子。異常凹坑序列的排列按照相關(guān)磁道的邏輯單元來進(jìn)行。例如，異常凹坑序列的排列與磁道的幀有已知的關(guān)系(見圖24(A))。更準(zhǔn)確地說，異常凹坑序列分別在偶數(shù)幀中而正常凹坑序列分別占據(jù)奇數(shù)幀。在從光盤再現(xiàn)信息期間，生成的跟蹤誤差信號TE具有圖24(E)的波形。如圖24(E)所示，由每一異常凹坑序列(見圖24(D))在跟蹤誤差信號TE中產(chǎn)生了脈沖信號。2.再現(xiàn)設(shè)備這一實(shí)施例的再現(xiàn)設(shè)備類似于圖4的再現(xiàn)設(shè)備。因此省略對其的描述。3.記錄設(shè)備參看圖26，記錄設(shè)備(制模設(shè)備)包括后面跟有第一光調(diào)制器驅(qū)動器92、子代碼閱讀器56和異常凹坑信號發(fā)生器100的EFM編碼50。第一光調(diào)制器驅(qū)動器92與第一光調(diào)制器94電連接。子代碼閱讀器56與CPU58和選通信號發(fā)生器60連接。CPU58與選通信號發(fā)生器60連接。選通信號發(fā)生器60與異常凹坑信號發(fā)生器100連接。異常凹坑信號發(fā)生器100后面跟有第二光調(diào)制器驅(qū)動器96。第二光調(diào)制器驅(qū)動器96與第二光調(diào)制器98電連接。
圖26的記錄設(shè)備包括后面跟有光束分離器102的激光發(fā)生器68。光束分離器102后面跟有相互并行地設(shè)置的第一和第二光調(diào)制器94和98。第一和第二光調(diào)制器94和98的輸出側(cè)與包括極化光束分離器的光束合并單元104光連接。光束合并單元104后面跟有物鏡70。母光盤72放置在受到物鏡70輸出的光束照射的位置。
表示例如電視游戲或計(jì)算機(jī)游戲軟件的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)輸入給EFM編碼器50，由此被編碼成為EFM信號。EFM編碼50輸出EFM信號給第一光調(diào)制器驅(qū)動器92、子代碼閱讀器56以及異常凹坑信號發(fā)生器100。第一光調(diào)制器驅(qū)動器92根據(jù)EFM信號產(chǎn)生第一光調(diào)制器94的驅(qū)動信號。第一光調(diào)制器驅(qū)動器92輸出驅(qū)動信號給第一光調(diào)制器94。
子代碼閱讀器56從EFM信號中提取子代碼信號。子代碼閱讀器56輸出子代碼信號給CPU58和選通信號發(fā)生器60。CPU58連續(xù)地監(jiān)測子代碼信號中的地址信息。CPU58在地址信息表示的當(dāng)前地址與應(yīng)當(dāng)記錄防復(fù)制碼(脈沖串信號)的預(yù)定地址一致時輸出控制信號脈沖給選通信號發(fā)生器60。CP58的輸出信號具有例如如圖24(B)所示這樣的波形。
選通信號發(fā)生器60根據(jù)子代碼信號和控制信號脈沖產(chǎn)生選通信號。產(chǎn)生的選通信號與子代碼幀同步。產(chǎn)生的選通信號具有例如如圖24(C)所示這樣的波形。選通信號相當(dāng)天防復(fù)制碼。如圖24(A)和22(C)所示，選通信號在每一偶數(shù)子代碼幀期間具有“高”的邏輯值，而在每一奇數(shù)子代碼幀期間具有“低”的邏輯值。應(yīng)當(dāng)指出，選通信號可以分別在每一奇數(shù)子代碼幀和每一偶數(shù)子代碼幀期間具有“高”的邏輯值和“低”的邏輯值。選通信號發(fā)生器60輸出選通信號給異常凹坑信號發(fā)生器100。
圖25(B)表示EFM信號的波形的一個例子。在選通信號保持“高電平”期間(即在偶數(shù)幀期間)，異常凹坑信號發(fā)生器100從EFM信號(見圖25(B))的脈沖中選擇脈沖并只將選擇的脈沖傳送給第二光調(diào)制器驅(qū)動器96。因此，形成異常凹坑信號的異常凹坑信號發(fā)生器100的輸出信號具有例如如圖25(C)所示這樣的波形。以后將會看到，選擇的脈沖造成異常凹坑。在選通信號保持“低電平”期間(即在奇數(shù)幀期間)，異常凹坑信號發(fā)生器100一直禁止向第二光調(diào)制器驅(qū)動器96傳送EFM信號。第二光調(diào)制器驅(qū)動器96根據(jù)異常凹坑信號產(chǎn)生第二光調(diào)制器98的驅(qū)動信號。第二光調(diào)制器驅(qū)動96輸出驅(qū)動信號給第二光調(diào)制器98。
激光發(fā)生器68連接地給光束分離器102提供激光光束La。激光光束La被光束分離器102分離成為分別傳播到第一光調(diào)制器94和第二光調(diào)制器98的激光光束Lg和激光光束Lh。激光光束Lg在被根據(jù)第一光調(diào)制器驅(qū)動器92輸出的驅(qū)動信號進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制的同時通過第一光調(diào)制器94。激光光束Lg的調(diào)制依賴于EFM信號(見圖25(B))。因此，第一光調(diào)制器94將激光光束Lg轉(zhuǎn)換成為另一激光光束(調(diào)制生成激光光束)Li。激光光束Li從第一光調(diào)制器94傳播到光束合并單元104。激光光束Lh在被根據(jù)第二光調(diào)制器驅(qū)動器96輸出的驅(qū)動信號進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制的同時通過第二光調(diào)制器98。激光光束Lh的調(diào)制依賴于異常凹坑信號(見圖25(C))。因此，第二光調(diào)制器98將激光光束Lh轉(zhuǎn)換成為另一激光光束(調(diào)制生成激光光束)Lj。激光光束Lj從第二光調(diào)制器98傳播到光束合并單元104。
激光光束Li和激光光束Lj被光束合并單元104相加和合并，然后傳播到物鏡70。激光光束Li和Lj在被聚焦成為母光盤72上的光點(diǎn)之前通過物鏡70。光點(diǎn)在母光盤72被合適的驅(qū)動設(shè)備(未示出)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)的時候在母光盤72上產(chǎn)生凹坑。如圖25(A)所示，利用光調(diào)整使由激光光束Li和Lj產(chǎn)生的光點(diǎn)相互錯開。激光光束Li產(chǎn)生的光點(diǎn)的中心在磁道中心線上。每一個正常凹坑(例如，圖25(A)中的凹坑PA)只是由激光光束Li產(chǎn)生的。相反地，每一個異常凹坑(例如，圖25(A)的凹坑PB)由激光光束Li和Lj的組合來產(chǎn)生。
如圖24(A)和24(E)所示，在從這樣的光盤再現(xiàn)信息期間產(chǎn)生的跟蹤誤差信號TE呈現(xiàn)與子代碼幀同步的脈沖串狀的變化。再現(xiàn)設(shè)備將圖24(E)的跟蹤誤差信號TE轉(zhuǎn)換成為具有例如如圖24(F)所示這樣的波形的檢則信號。
第五實(shí)施例1.光盤如圖27(A)所示，光盤具有沿著磁道的、部分地呈現(xiàn)徑向顫動的一系列凹坑或凹坑排列。換句話說，該光盤具有正常凹坑以及顫動凹坑。圖27(A)的凹坑排列分別包括在圖的左手側(cè)和右手側(cè)的正常凹坑序列和不規(guī)則凹坑序列(顫動凹坑序列或異常凹坑序列)。正常凹坑序列由正常凹坑組成。不規(guī)則凹坑序列由顫動凹坑(不規(guī)則凹坑或異常凹坑)組成。沿相關(guān)磁道延伸的每一正常凹坑的中心線依照通常的標(biāo)準(zhǔn)與該磁道的中心線重合。相反地，雖然異常凹坑在形狀方面與正常凹坑相似，但異常凹坑圍繞磁道中心線顫動。當(dāng)圖27(A)的凹坑排列被沿著磁道掃描時，生成的跟蹤誤差信號TE具有圖27(B)所示的波形。
光拾取頭向光盤提供三個光束點(diǎn)。這三個光束點(diǎn)包括主光束點(diǎn)BS2以及側(cè)光束點(diǎn)BS1和BS3(見圖27(A))。側(cè)光束點(diǎn)BS1和BS3分別沿相反方向徑向地偏離主光束點(diǎn)BS2。根據(jù)分別與側(cè)光束點(diǎn)BS1和BS3相關(guān)的被反射光的大小之間的差產(chǎn)生跟蹤誤差信號TE。
在三個光束點(diǎn)BS1，BS2和BS3掃描正常凹坑序列(見圖27(A)的左手區(qū)域)相同，與側(cè)光束點(diǎn)BS1和BS3相關(guān)的被反射光的大小基本上彼此相等。因此，在這種情況下，生成的跟蹤誤差信號TE的電平如圖27(B)的左手區(qū)域所示基本上為零(即“0”)。
在三個光束點(diǎn)BS1’，BS2’和BS3’掃描異常凹序列(見圖27(A)大手區(qū)域)期間，由于異常凹坑圍繞磁道中心線顫動，所以異常凹坑造成與側(cè)光束點(diǎn)BS1’和BS3’相關(guān)的被反射光的大小之間的周期變化的差值。因此，在這種情況下，生成的跟蹤誤差信號TE的電平如圖27(B)的右手區(qū)域所示地以脈沖串的形式周期地改變。
產(chǎn)生脈沖串狀的跟蹤誤差信號TE的這種不規(guī)則凹坑序列以數(shù)據(jù)塊單元的形式被周期地和間斷地記錄在合法光盤的一預(yù)定磁道或一些預(yù)定磁道上。在從光盤的這種磁道區(qū)域中再現(xiàn)信息期間，如果脈沖串信號與每一數(shù)據(jù)塊同步地被產(chǎn)生，則光盤可被認(rèn)為是合法的。否則，可將該光盤判斷為非法的。
圖28(D)表示包括正常凹坑序列和不規(guī)則凹坑序列(異常凹坑或顫動凹坑序列)的一系列凹坑的一個例子。不規(guī)則凹坑序列的排列按照相關(guān)磁道的邏輯單元來進(jìn)行。例如，不規(guī)則凹坑序列的排列與磁道的幀有已知的關(guān)系(見圖28(A))。更準(zhǔn)確地說，不規(guī)則凹坑序列分別在偶數(shù)幀中而正常凹坑序列分別占據(jù)奇數(shù)幀。在從光盤再現(xiàn)信息期間，生成的跟蹤誤差信號TE具有圖28(E)的波形。如圖28(E)所示，每一不規(guī)則凹坑序列(見圖28(D))在跟蹤誤差信號TE中周期地產(chǎn)生了脈沖串信號。2.再現(xiàn)設(shè)備這一實(shí)施例的再現(xiàn)設(shè)備類似于圖4的再現(xiàn)設(shè)備。因此省略對其的描述。3.記錄設(shè)備參看圖29，記錄設(shè)備(制模設(shè)備)包括后面跟有光調(diào)制器驅(qū)動器52、子代碼閱讀器56和顫動信號發(fā)生器110的EFM編碼器50。光調(diào)制器驅(qū)動器52與光調(diào)制器54電連接。子代碼閱讀器56與CPU58和選通信號發(fā)生器60連接。CPU58與選通信號發(fā)生器60連接。選通信號發(fā)生器60與顫動信號發(fā)生器110連接。顫動信號發(fā)生器110后面跟有光偏轉(zhuǎn)器驅(qū)動器64。光偏轉(zhuǎn)器驅(qū)動器64與光偏轉(zhuǎn)器66電連接。
圖29的記錄設(shè)備包括后面依次跟有光調(diào)制器54、光偏轉(zhuǎn)器66和物鏡70的激光發(fā)生器68。母光盤72放置在受到物鏡70輸出的光束照射的位置。
表示例如電視游戲或計(jì)算機(jī)游戲軟件的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)輸入給EFM編碼器50，由此被編碼成為EFM信號。EFM編碼器50輸出EFM信號給光調(diào)制器驅(qū)動器52、子代碼閱讀器56和顫動信號發(fā)生器110。光調(diào)制器驅(qū)動器52根據(jù)EFM信號產(chǎn)生光調(diào)制器54的驅(qū)動信號。光調(diào)制器驅(qū)動器52輸出驅(qū)動信號給光調(diào)制器54。
子代碼閱讀器56從EFM信號中提取子代碼信號。子代碼閱讀器56輸出子代碼信號給CPU58和選通信號發(fā)生器60。CPU58連接地監(jiān)測子代碼信號中的地址信息。CPU58在地址信息表示的當(dāng)前地址與應(yīng)當(dāng)記錄防復(fù)制碼(顫動信號)的預(yù)定地址一致時輸出控制信號脈沖給選通信號發(fā)生器60。CPU58的輸出信號具有例如如圖28(B)所示這樣的波形。
選通信號發(fā)生器60根據(jù)子代碼信號和控制信號脈沖產(chǎn)生選通信號。產(chǎn)生的選通信號與子代碼幀同步。產(chǎn)生的選通信號具有例如如圖28(C)所示這樣的波形。選通信號相當(dāng)于防復(fù)制碼。如圖28(A)和28(C)所示，選通信號在每一偶數(shù)子代碼幀期間具有“高”的邏輯值，而在每一奇數(shù)子代碼幀期間具有“低”的邏輯值。應(yīng)當(dāng)指出，選通信號可以分別在每一奇數(shù)子代碼幀和每一偶數(shù)子代碼幀期間具有“高”的邏輯值和“低”的邏輯值。選通信號發(fā)生器60輸出選通信號給顫動信號發(fā)生器110。
分別在選通信號為“高電平”和“低電平”時啟動和停止顫動信號發(fā)生器110。在選通信號保持“高電平”期間(即在偶數(shù)幀期間)，顫動信號發(fā)生器110根據(jù)EFM信號產(chǎn)生二進(jìn)制顫動信號。如圖27(C)所示，顫動信號具有相應(yīng)于EFM信號的矩形波形。顫動信號發(fā)生器110輸出顫動信號給光偏轉(zhuǎn)器驅(qū)動器64。在選通信號保持“低電平”期間(即在奇數(shù)幀期間)，顫動信號發(fā)生器110保持不起作用的狀態(tài)，連續(xù)地輸出零信號而不是顫動信號。零信號輸入給光偏轉(zhuǎn)器驅(qū)動器64。光偏轉(zhuǎn)器驅(qū)動器64根據(jù)包括顫動信號的顫動信號發(fā)生器110的輸出信號產(chǎn)生光偏轉(zhuǎn)器66的驅(qū)動信號。光偏轉(zhuǎn)器驅(qū)動器64輸出驅(qū)動信號給光偏轉(zhuǎn)器66。
激光發(fā)生器68連接地給光調(diào)制器54提供激光光束La。激光光束La在被根據(jù)光調(diào)制器驅(qū)動器52輸出的驅(qū)動信號進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制的同時通過光調(diào)制器54。因此，光調(diào)制器54將激光光束La轉(zhuǎn)換成為第二激光光束(調(diào)制生成激光光束)Lb。第二激光光束Lb從光調(diào)制器54傳播到光偏轉(zhuǎn)回66。第二激光光束Lb在被根據(jù)光偏轉(zhuǎn)回驅(qū)動器64輸出的驅(qū)動信號偏轉(zhuǎn)的同時通過光偏轉(zhuǎn)器66。因此，光偏轉(zhuǎn)器66將第二激光光束Lb轉(zhuǎn)換成為第三激光光束(偏轉(zhuǎn)生成激光光束)Lc。
第三激光光束Lc從光偏轉(zhuǎn)器66傳播到物鏡后。第三激光光束Lc在被聚焦成為母光盤72上的光點(diǎn)之前通過物鏡70。光點(diǎn)在母光盤72被合適的驅(qū)動設(shè)備(未示出)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)的時候在母光盤72上產(chǎn)生凹坑。光偏轉(zhuǎn)器66根據(jù)光偏轉(zhuǎn)器驅(qū)動器64輸出的驅(qū)動信號使母光盤72上光點(diǎn)的位置徑向地偏離相關(guān)磁道的虛擬中心線。由于傳送給光偏轉(zhuǎn)器66的驅(qū)動信號依賴于顫動信號，所以母光盤72上光點(diǎn)的位置就徑向地偏離了相關(guān)磁道的虛擬中心線。因此，如圖27(A)所示，在母光盤72上形成了顫動凹坑。
如圖28(A)和28(E)所示，在從這樣的光盤再現(xiàn)信息期間產(chǎn)生的跟蹤誤差信號TE呈現(xiàn)與子代碼幀同步的脈沖串狀的變化。再現(xiàn)設(shè)備將圖28(E)的跟蹤誤差信號TE轉(zhuǎn)換成為具有例如如圖28(F)所示這樣的波形的檢測信號。
其它實(shí)施例在第一、第二、第三、第四和第五實(shí)施例之一的第一種改進(jìn)中，光盤的預(yù)定位置預(yù)先存儲了表示將形成不規(guī)則凹坑序列或異常凹坑序列的地址的信息。當(dāng)將光盤放入再現(xiàn)設(shè)備時，再現(xiàn)設(shè)備將首先訪問光盤的該預(yù)定位置并從中讀出信息。根據(jù)這第一種改進(jìn)，可以根據(jù)光盤類型的不同改變形成不規(guī)則凹坑序列或異常凹坑序列的地址。因此，對光盤中防復(fù)制的分析更加困難，可以有效地防止非法復(fù)制。
第一和第二實(shí)施例的第二種改進(jìn)是使第一實(shí)施例的不規(guī)則凹坑序列和第二實(shí)施例的異常凹坑序列的不規(guī)則凹坑序列和第二實(shí)施例的異常凹坑序列同時存在在一塊光盤中。第二種改進(jìn)增強(qiáng)了非法復(fù)制光盤的檢測的可靠性。
根據(jù)第一、第二、第三、第四和第五實(shí)施例之一的第三種改進(jìn)，檢查光盤是合法還是非法的過程是根據(jù)光盤重放指令來開始的。
在第一、第二、第三、第四和第五實(shí)施例之一的第四種改進(jìn)中，如圖30(A)和30(C)所示，不規(guī)則凹坑序列或異常凹坑序列(用圖30(C)中的陰影區(qū)域來表示)的位置分別相應(yīng)于奇數(shù)幀而正常凹坑序列分別占據(jù)偶數(shù)幀。應(yīng)當(dāng)指出，如圖30(A)和30(B)所示，不規(guī)則凹坑序列或異常凹坑序列(用圖30(B)中的陰影區(qū)域來表示)的位置分別相應(yīng)于第一、第二、第三、第四和第五實(shí)施例中的偶數(shù)幀。
在第一、第二、第三、第四和第五實(shí)施例之一的第五種改進(jìn)中，如圖30(A)和30(D)所示，每一第三幀相應(yīng)于不規(guī)則凹坑序列或異常凹坑序列(用圖30(D)中的陰影區(qū)域來表示)，而其它幀相應(yīng)于正常凹坑序列。
在第一、第二、第三、第四和第五實(shí)施例之一的第六種改進(jìn)中，如圖30(A)和30(E)所示，至少兩個相繼的幀被不規(guī)則凹坑序列或異常凹坑序列(用圖30(E)中的陰影區(qū)域來表示)占據(jù)。一般來說，按照給定數(shù)目的幀的間隔周期地提供這樣一組不規(guī)則凹坑序列或異常凹坑序列。
在第一、第二、第三、第四和第五實(shí)施例之一的第七種改進(jìn)中，如圖30(A)和30(F)所示，在以給定時間間隔周期地出現(xiàn)的幀中形成至少兩個不規(guī)則凹坑序列或異常凹坑序列(用圖30(F)中的陰影區(qū)域來表示)。
在第一、第二、第三、第四和第五實(shí)施例之一的改進(jìn)中，如圖30(A)和30(G)所示，不規(guī)則凹坑序列或異常凹坑序列(用圖30(G)中的陰影區(qū)域來表示)，占據(jù)一幀的后面部分。
在第一、第二、第三、第四和第五實(shí)施例之一的第九種改進(jìn)中，如圖30(H)和30(L)所示，每一偶數(shù)幀被劃分為時域中的4個區(qū)段。分別給偶數(shù)幀指定給定的4位碼字。此外，分別順序地將相關(guān)碼字的4個位指定給每一偶數(shù)幀的4個區(qū)段。在每一偶數(shù)幀中，相應(yīng)于相關(guān)碼字的一“高電平”位或一些“高電平”位的一個區(qū)段或一些區(qū)段被不規(guī)則凹坑序列(或異常凹坑序列)占據(jù)，而相應(yīng)于相關(guān)碼字的一“低電平”位或一些“低電平”位的一個區(qū)段或一些區(qū)段正常凹坑序列占據(jù)。
根據(jù)第一、第二、第三、第四和第五實(shí)施例之一的第十種改進(jìn)，如圖30(A)和30(J)所示，根據(jù)幀的更新逐步地增大不規(guī)則凹坑序列或異常凹坑序列的相對于幀的開始的開始的延遲，并且周期地按a1、a2、a3、a4、a5以及a1重新開始。
根據(jù)第一、第二、第三、第四和第五實(shí)施例之一的第十一種改進(jìn)，以不同于幀單元的數(shù)據(jù)塊單元的形式提供不規(guī)則凹坑序列或異常凹坑序列。
權(quán)利要求
1.具有沿著磁道的一系列凹坑的光盤，其中凹坑序列表示被劃分為數(shù)據(jù)塊的被記錄信號，凹坑序列包括正常凹坑序列和異常凹坑序列，正常凹坑序列相對磁道的中部對稱，異常凹坑序列至少在形狀和凹坑排列這兩方面之一與正常凹坑不同，異常凹坑序列處在和數(shù)據(jù)塊有預(yù)定關(guān)系的位置處。
2.權(quán)利要求1的光盤，其中的異常凹坑序列表示疊加在跟蹤誤差信號上的顫動信號。
3.權(quán)利要求1的光盤，其中的異常凹坑序列造成RF信號的對稱性的變化。
4.權(quán)利要求1的光盤，其中的異常凹坑序列造成表示光量的信號的變化。
5.權(quán)利要求2的光盤，其中由異常凹坑序列表示的顫動信號為脈沖串狀的。
6.具有沿著磁道的一系列凹坑的光盤，凹坑序列表示被劃分為數(shù)據(jù)塊的被記錄信號，凹坑序列包括正常凹坑序列和異常凹坑序列，正常凹坑序列相對磁道的中部對稱，異常凹坑序列至少在形狀和凹坑排列這兩方面之一與正常凹坑不同，異常凹坑序列處在和數(shù)據(jù)塊有預(yù)定關(guān)系的位置處，異常凹坑序列有間距地間隔開來。
7.檢查光盤的設(shè)備，包括從光盤再現(xiàn)信號的第一裝置；與第一裝置連接、通過參看由第一裝置再現(xiàn)的信號檢測在該光盤中是否存在異常凹坑序列的第二裝置，該異常凹坑序列至少在形狀和凹坑排列這兩方面之一與正常凹坑序列不同，正常凹坑序列相對磁道中部對稱；以及與第二裝置連接、根據(jù)第二裝置檢測的結(jié)果判斷該光盤是合法還是非法的第三裝置。
8.在光盤上記錄信息的設(shè)備，包括發(fā)射第一激光光束的第一裝置；產(chǎn)生與信息信號的數(shù)據(jù)塊單元同步的選通信號的第二裝置；與第一裝置和第二裝置連接、根據(jù)信息信號和選通信號將第一激光光束轉(zhuǎn)換為第二激光光束的第三裝置；以及與第三裝置連接、根據(jù)第二激光光束在光盤上提供一系列凹坑的第四裝置；其中的第三裝置包括根據(jù)信息信號調(diào)制第一激光光束的強(qiáng)度的裝置以及根據(jù)選通信號改變第一激光光束以便使第四裝置在光盤上提供異常凹坑序列的裝置，該異常凹坑序列至少在形狀和凹坑排列這兩方面中之一方面與正常凹坑序列不同，正常凹坑序列相對磁道中部對稱。
全文摘要
本發(fā)明的光盤具有沿著磁道的一系列凹坑。凹坑序列表示被劃分為數(shù)據(jù)塊的被記錄信號。凹坑序列包括正常凹坑序列和異常凹坑序列。正常凹坑序列相對磁道的中部對稱。異常凹坑序列至少在形狀和凹坑排列這兩方面中之一方面與正常凹坑序列不同。異常凹坑序列處在和數(shù)據(jù)塊有預(yù)定關(guān)系的位置處。
文檔編號G11B20/00GK1142663SQ9511688
公開日1997年2月12日 申請日期1995年9月21日 優(yōu)先權(quán)日1994年9月22日
發(fā)明者尾崎和義, 茅沼完治, 長野博文 申請人:日本勝利株式會社