專利名稱：光學(xué)拾象裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光學(xué)拾象裝置，用以將光源發(fā)射的光會(huì)聚在光記錄介質(zhì)，如光盤(pán)的信號(hào)記錄面上。
近來(lái)，高密盤(pán)形記錄介質(zhì)或者磁光盤(pán)已在計(jì)算機(jī)用的記錄介質(zhì)或儲(chǔ)存聲音或圖象用的小型介質(zhì)領(lǐng)域得到應(yīng)用。有人提出一種實(shí)現(xiàn)這種記錄介質(zhì)高密化的方法，包括增大光學(xué)拾象裝置所用物鏡的數(shù)值孔徑和減小聚焦于光盤(pán)信號(hào)記錄面上的光的光斑尺寸(直徑)。
例如，在用光學(xué)拾象裝置讀取已經(jīng)以信息點(diǎn)形式存于光盤(pán)上的高密信息的信號(hào)的情況下，就需要讀出的上述光斑尺寸盡可能的小，以便從光盤(pán)上的精密記錄符號(hào)所形成的麻點(diǎn)中重現(xiàn)信息，從而可實(shí)現(xiàn)高密度記錄。
附帶而言，隨著光學(xué)拾象裝置所用物鏡的數(shù)值孔徑變大，物鏡本身就難以制作，進(jìn)而就導(dǎo)致制作成本加高。
另外，當(dāng)上述光盤(pán)的厚度偏離規(guī)定值時(shí)，就會(huì)發(fā)生球差。這種球差W40由下述方程(1)表示W(wǎng)40=Δt8·N2-1N3NA4---(1)]]>其中Δt表示光盤(pán)厚度的誤差，N表示折射率，NA表示數(shù)值孔徑。
正如從方程(1)所能理解的那樣，球差W40與數(shù)值孔徑成比例。這就是說(shuō)，隨著數(shù)值孔徑變大，就可能發(fā)生大的球面像差。由于這個(gè)原因，必須嚴(yán)格控制光盤(pán)的厚度。然而，這種控制有害地導(dǎo)致生產(chǎn)率低下和生產(chǎn)成本加高。
于是，本發(fā)明的目的在于提供一種光學(xué)拾象裝置，它不僅表現(xiàn)出其中所用物鏡的數(shù)值孔徑大和達(dá)到會(huì)聚于光學(xué)記錄介質(zhì)上的讀/寫(xiě)光束的光斑尺寸小，以實(shí)現(xiàn)高密度記錄，而且還減小了因光學(xué)記錄介質(zhì)厚度誤差所發(fā)生的球面象差。
按照本發(fā)明，提供一種將光源發(fā)射的光束會(huì)聚在光學(xué)光記錄介質(zhì)上的光學(xué)拾象裝置，它包括一個(gè)凸透鏡，該凸透鏡具有與光學(xué)記錄介質(zhì)之光入射面相對(duì)的平面，并有預(yù)定的折射率；一個(gè)物鏡，被布置得使凸透鏡被插在光學(xué)記錄介質(zhì)與該物鏡之間；一個(gè)聚光系統(tǒng)，用于會(huì)聚自光學(xué)記錄介質(zhì)的光入射面和凸透鏡的平面反射的光；第一光檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)自光學(xué)記錄介質(zhì)的光入射面反射并通過(guò)聚光系統(tǒng)的光，從而產(chǎn)生第一檢測(cè)信號(hào)；第二光檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)自凸透鏡的平面反射并通過(guò)聚光系統(tǒng)的光，從而產(chǎn)生第二檢測(cè)信號(hào)；一個(gè)位置檢測(cè)裝置，用于根據(jù)第一和第二檢測(cè)信號(hào)測(cè)定光學(xué)記錄介質(zhì)的光入射面與凸透鏡的平面間的位置關(guān)系；以及一個(gè)驅(qū)動(dòng)裝置，用于根據(jù)第一和第二檢測(cè)信號(hào)驅(qū)動(dòng)凸透鏡，使凸透鏡按反方向沿其光軸向著光學(xué)記錄介質(zhì)或者物鏡移動(dòng)，從而控制光學(xué)記錄介質(zhì)的光入射面與所述凸透鏡的平面間的距離。
在這種情況下，第一光檢測(cè)裝置被布置在與來(lái)自光學(xué)記錄介質(zhì)光入射面的反射光會(huì)聚點(diǎn)之共軛點(diǎn)相符的位置，而第二光檢測(cè)裝置被布置在與來(lái)自凸透鏡平面的反射光會(huì)聚點(diǎn)之共軛點(diǎn)相符的位置。
于是，在本發(fā)明的光學(xué)拾象裝置中，由于具有給定折射率的凸透鏡位于物鏡和光學(xué)記錄介質(zhì)之間，所以可使此光學(xué)系統(tǒng)的總數(shù)值孔徑增大。另外，光學(xué)記錄介質(zhì)的光入射面與凸透鏡的平面間的位置關(guān)系根據(jù)各光檢測(cè)裝置的檢測(cè)信號(hào)來(lái)確定，以致可很好地控制其間的距離。由于這個(gè)原因，使得出現(xiàn)在光學(xué)記錄介質(zhì)信號(hào)記錄面上的球面像差顯著地減少，因而可使本光學(xué)記錄介質(zhì)重現(xiàn)性能得到提高。


圖1是表示本發(fā)明一種優(yōu)選具體實(shí)施例的光學(xué)拾象裝置的示意圖；圖2是本發(fā)明光學(xué)拾象裝置中所用凸透鏡的制作步驟說(shuō)明圖；圖3是表示與本發(fā)明光學(xué)拾象裝置之半球形凸透鏡鄰接的詳細(xì)結(jié)構(gòu)縱向視圖；圖4是說(shuō)明來(lái)自光學(xué)記錄介質(zhì)和半球形凸透鏡之反射光的縱向視圖；圖5是表示本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例中作為光檢測(cè)裝置的光探測(cè)器之間位置關(guān)系的視圖；圖6A和6B是表示半球形凸透鏡反射光的檢測(cè)輸出與半球形凸透鏡位置之間關(guān)系曲線；圖7是表示光學(xué)記錄介質(zhì)與半球形凸透鏡之間間隙(空氣層)與控制該間隙的間隙誤差信號(hào)之間關(guān)系的曲線。
本發(fā)明的光學(xué)拾象裝置用于重現(xiàn)已經(jīng)存儲(chǔ)于光學(xué)記錄介質(zhì)20，如光盤(pán)的信號(hào)記錄面上的高密信息信號(hào)。如圖1所示，光學(xué)拾象裝置包括(1)一個(gè)半球形透鏡(凸透鏡)，它具有給定的折射率并提供一個(gè)平面7b，該平面面對(duì)光盤(pán)20的光入射面20a；(2)會(huì)聚光學(xué)系統(tǒng)23，用于會(huì)聚來(lái)自光學(xué)記錄介質(zhì)20的光入射面20a和半球形透鏡7的平面7b的反射光；(3)作為第一光檢測(cè)裝置的第一光探測(cè)器15(下面僅稱為“PD”)用于檢測(cè)自光入射面20a反射并通過(guò)會(huì)聚光學(xué)系統(tǒng)23的光R2；(4)作為第二光檢測(cè)裝置的第二光探測(cè)器(PD)19用于檢測(cè)自半球形透鏡7的平面7b反射并通過(guò)會(huì)聚光學(xué)系統(tǒng)23的光R3；(5)減法器21，用于根據(jù)對(duì)第一PD15和第二PD19輸出Pb和Pc的檢測(cè)確定光學(xué)記錄介質(zhì)20的光入射面20a與半球形透鏡7的平面7b間的位置關(guān)系；還包括執(zhí)行機(jī)構(gòu)31，用以根據(jù)減法器21的輸出(Pb-Pc)沿著半球形透鏡7的光軸以相反方向向著光學(xué)記錄介質(zhì)20或物鏡6驅(qū)動(dòng)半球形透鏡7，以控制光學(xué)記錄介質(zhì)20的光入射面20a與半球形透鏡7的平面7b間空氣層(氣隙)AG的間隔。
既然如此，就將第一光探測(cè)器(PD)15布置在與從光學(xué)記錄介質(zhì)20的光入射面20a反射并通過(guò)聚光系統(tǒng)23的光之會(huì)聚點(diǎn)的共軛點(diǎn)相符的位置，而將第二光探測(cè)器(PD)19布置在與從半球形透鏡7的平面7b反射并通過(guò)聚光系統(tǒng)23的光之會(huì)聚點(diǎn)的共軛點(diǎn)相符的位置。第一光探測(cè)器(PD)15和第二光探測(cè)器(PD)19都由譬如四個(gè)分立的光探測(cè)元件組成，并且以有如采用象散方法一樣的方式檢測(cè)誤差。將此二光探測(cè)器(PD)檢測(cè)的輸出加給減法器21，以測(cè)定光學(xué)記錄介質(zhì)20的光入射面20a與半球形透鏡7的平面7b間的位置關(guān)系。
以下說(shuō)明光學(xué)拾象裝置的詳細(xì)結(jié)構(gòu)。本光學(xué)拾象裝置包括一個(gè)激光二極管1作為光源，從這里向著準(zhǔn)直儀物鏡2發(fā)射一束線偏振激光束。通過(guò)準(zhǔn)直儀物鏡2的激光束成為平行射線形式，然后再通過(guò)衍射光柵3被衍射。被衍射的激光束再繼續(xù)通過(guò)偏振束分束裝置(下面僅稱為“PBS”)和1/4波片5，然后入射到物鏡6上，激光束在此被會(huì)聚，并使之能朝著光學(xué)記錄介質(zhì)(光盤(pán))20的信號(hào)記錄面20b透過(guò)半球形透鏡7。順便要說(shuō)的是，將在光學(xué)記錄介質(zhì)20的信號(hào)記錄面上聚焦的激光束通過(guò)1/4波片5時(shí)被從線偏振光變成圓偏振光。
從光學(xué)記錄介質(zhì)20的信號(hào)記錄面20b反射的光通過(guò)半球形透鏡7和物鏡6又被入射到1/4波片5上。此1/4波片5用于旋轉(zhuǎn)從信號(hào)記錄面20b反射回來(lái)的線偏振激光束，使得激光束通過(guò)此1/4波片后的偏振方向從通過(guò)該1/4波片前的方向變換90度角。旋轉(zhuǎn)了的線偏振激光束再被入射到偏振束分束裝置(PBS)上，在此它被按90度角反射，變成朝向半透明反射鏡8。半透明反射鏡8用于朝聚光鏡9反射50％的激光束同時(shí)透射其余50％的激光束。具有相同光學(xué)特性的偏振束分束裝置(PBS)可被用來(lái)替代半透明反射鏡8。通過(guò)聚光鏡9的激光束被會(huì)聚并變成朝向多透鏡10，激光束在此被進(jìn)一步會(huì)聚在光探測(cè)器11上。
這套偏振束分束裝置(PBS)4、半透明反射鏡8、聚光鏡9和多透鏡10與另一套半透明反射鏡12、聚光鏡13和多頭鏡14以及再一套反射鏡16、聚光鏡17和多頭鏡18一起構(gòu)成聚光(會(huì)聚)光學(xué)系統(tǒng)23；后兩套以下會(huì)詳細(xì)描述。
光探測(cè)器11也由四個(gè)光探測(cè)元件組成，它們的輸出被送給一個(gè)重現(xiàn)處理單元(未示出)，以產(chǎn)生一個(gè)得到重現(xiàn)數(shù)據(jù)的RF信號(hào)、一個(gè)跟蹤誤差信號(hào)和一個(gè)聚焦誤差信號(hào)。在此重現(xiàn)處理單元中，RF信號(hào)二元化，并隨之將所得到的二元化了的數(shù)據(jù)受到EFM解調(diào)處理和CIRC解碼處理，從而由RF信號(hào)得到重現(xiàn)數(shù)據(jù)。跟蹤誤差信號(hào)和聚焦誤差信號(hào)被送給伺服電路(未示出)。該伺服電路根據(jù)所述跟蹤誤差信號(hào)和聚焦誤差信號(hào)利用二軸執(zhí)行機(jī)構(gòu)12實(shí)現(xiàn)跟蹤控制和聚焦控制。
如圖2所示，可以通過(guò)截割一部分球形透鏡30來(lái)制得半球形透鏡7。半球形透鏡7的截割面被鏡面拋光，形成平面7b。球形透鏡30可由具有與光學(xué)記錄介質(zhì)20的透光層相同折射率的材料制成。
物鏡6的數(shù)值孔徑NA可由下式表示NA＝nsinθ其中θ是從物鏡出射之光束角孔徑的一半，n是光傳播介質(zhì)的折射率。既然這樣，半球形透鏡7的折射率被設(shè)定為比如1.5，光學(xué)記錄介質(zhì)20的透光層相似。因此，本光學(xué)拾象裝置的總數(shù)值孔徑就是普通光學(xué)拾象裝置的譬如1.5倍，所述普通光學(xué)拾象裝置中，只用物鏡會(huì)聚通過(guò)具有折射率n為1的傳播介質(zhì)的激光束。由此，激光束在信號(hào)記錄面20b上的光斑尺寸被設(shè)定為1/1.5，從而可實(shí)現(xiàn)高密度記錄。
同時(shí)，在驅(qū)動(dòng)光學(xué)記錄介質(zhì)20時(shí)，為防止半球形透鏡7的平面7b與光學(xué)記錄介質(zhì)20的光入射面20a間的滑動(dòng)摩擦，在它們之間形成一個(gè)空氣層(氣隙)AG。
圖3詳細(xì)表示空氣層AG、半球形透鏡7、光學(xué)記錄介質(zhì)20以及物鏡6之間的相互關(guān)系。半球形透鏡7被支持于第一支架31上。此第一支架31帶有共軸地安裝于其上的第一驅(qū)動(dòng)線圈32。另一方面，物鏡6由第二支架33所支持，所述第二支架上固定有磁鐵34。第一支架31通過(guò)板彈簧35可動(dòng)地支承在第二支架33上。也即磁鐵34的磁通量與第一驅(qū)動(dòng)線圈32的勵(lì)磁之間的相互作用，使半球形透鏡7和物鏡6能夠沿著它們的光軸方向彼此無(wú)關(guān)地運(yùn)動(dòng)。進(jìn)而，物鏡6受到卡在第二支架33上的第二驅(qū)動(dòng)線圈36和磁鐵37之間的電磁作用而被驅(qū)動(dòng)。當(dāng)空氣層AG沿光學(xué)記錄介質(zhì)20厚度方向的寬度變化時(shí)，就發(fā)生球面象差。這種球面象差W′40由下述方程(2)表示W(wǎng)′40=-Δh8n2(n2-1)sin4θ---(2)]]>這里的Δh是空氣層AG厚度的改變量，n是光學(xué)記錄介質(zhì)20與半球形透鏡7的復(fù)合折射系數(shù)，sinθ是它們的復(fù)合數(shù)值孔徑。
隨著由方程(2)所表示的球差W′40變大，當(dāng)由本光學(xué)拾象裝置讀出存于光學(xué)記錄介質(zhì)上的信息信號(hào)時(shí)，重現(xiàn)特性會(huì)大大降低。
在本發(fā)明這種優(yōu)選實(shí)施例的光學(xué)拾象裝置中，采用由第一支架31、第一驅(qū)動(dòng)線圈32、磁鐵34和片簧35構(gòu)成的半球形透鏡執(zhí)行機(jī)構(gòu)，使由方程(2)表示的球差W′40被限制于最小的程度。所述半球形透鏡-執(zhí)行機(jī)構(gòu)沿著半球形透鏡的光軸向著光學(xué)記錄介質(zhì)20或物鏡6驅(qū)動(dòng)該半球形透鏡，從而使空氣層AG的厚度得以被高精度地控制。
下面參照?qǐng)D4描述本發(fā)明光學(xué)拾象裝置的結(jié)構(gòu)和基本動(dòng)作。如圖4所示，從光學(xué)記錄介質(zhì)20反射的光由來(lái)自信號(hào)記錄面20b的第一反射光組分R1、來(lái)自光入射面20a的第二反射光組分R2和來(lái)自半球形透鏡7之平面7b的第三反射光組分R3組成。第一反射光組分R1被引入到如圖1所示的光探測(cè)器(PD)11中。只有50％的第二反射光組分R2透過(guò)半透明反射鏡8。另外，只有50％第二反射光組分R2之半可以透過(guò)半透明反射鏡12并隨后被引入光探測(cè)器(PD)15。這些半透明反射鏡可由射束分離器代替。類似地，只有50％的第三反射光組分R3透過(guò)半透明反射鏡8，而且只有50％第三反射光組分R3之半可以透過(guò)半透明反射鏡12。一部分從半透明反射鏡12反射的第三反射光組分R3變成朝向反射鏡16，在此出現(xiàn)第三反射光組分R3的全部，從而第三反射光組分R3通過(guò)聚光鏡17和多透鏡18被引入光探測(cè)器(PD)19。光探測(cè)器(PD)15和19類似地也由四個(gè)分立的光探測(cè)元件組成。多透鏡10、14和18有如在象散法中所用，各包括一個(gè)圓柱形透鏡和一個(gè)聚光鏡。
光探測(cè)器(PD)15檢測(cè)來(lái)自光學(xué)記錄介質(zhì)20的光入射面20a的第二反射光組分R2的輸出。這種情況下，擬檢測(cè)之輸出等同于有如象散法中所用的輸出。類似地，光探測(cè)器(PD)19檢測(cè)第三反射光組分R3的輸出，它也等同于有如象散法中所用的輸出。減法器21進(jìn)行從所測(cè)得的PD15的輸出Pb減去所測(cè)得的PD19Pc的輸出。將如此得到的差值信號(hào)Pb-Pc送給驅(qū)動(dòng)器22，由此，該差值信號(hào)進(jìn)一步被送給半球形透鏡執(zhí)行機(jī)構(gòu)的驅(qū)動(dòng)線圈32。
每個(gè)光探測(cè)器11、15和19被放在預(yù)先根據(jù)第一、第二和第三反射光組分R1、R2和R3的聚焦點(diǎn)被調(diào)整的位置處。以下通過(guò)參照?qǐng)D5說(shuō)明各個(gè)光探測(cè)器(PD)的位置調(diào)整。圖5中，為清楚計(jì)，以重疊的方式關(guān)于同一光軸表示第一到第三反射光組分R1-R3的光程。
光探測(cè)器(PD)11被布置在與光學(xué)記錄介質(zhì)20的信號(hào)記錄面20b上的聚焦點(diǎn)Fa之共軛點(diǎn)fa相符的位置。關(guān)于聚焦點(diǎn)Fa的共軛點(diǎn)fa位置通過(guò)其間所插入的PBS4、半透明反射鏡8、聚光鏡9和多透鏡10的布置來(lái)確定。類似地，光探測(cè)器(PD)15被布置在與來(lái)自光學(xué)記錄介質(zhì)20的光入射面20a的第二反射光組分R2的會(huì)聚點(diǎn)Fb之共軛點(diǎn)fb相符的位置。關(guān)于聚焦點(diǎn)Fb的共軛點(diǎn)fb位置通過(guò)其間所插入的PBS4、半透明反射鏡8、聚光鏡13和多透鏡14的布置來(lái)確定。此外，光探測(cè)器(PD)19被布置在與關(guān)于來(lái)自半球形透鏡7的平面7b的第三反射光組分R3的聚焦點(diǎn)Fc之共軛點(diǎn)fc相符的位置。關(guān)于聚焦點(diǎn)Fc的共軛點(diǎn)fc位置通過(guò)其間所插入的PBS4、半透明反射鏡8和12、反射鏡16、聚光鏡17和多透鏡18的布置來(lái)確定。
特別地，采用象散法，將物鏡6的焦點(diǎn)調(diào)整在光探測(cè)器11處。同時(shí)，將聚焦偏壓定為零。在保持聚焦條件的同時(shí)半球形透鏡7逐漸接近的情況下，光探測(cè)器(PD)15和19分別檢測(cè)各反射光組分的成S形的信號(hào)輸出Pb和Pc。兩個(gè)8形信號(hào)輸出Pb和Pc受到電控制，使得它們的距離，換句話說(shuō)就是峰-峰寬度變得恒等。將半球形透鏡7固定在一個(gè)位置附近，在這里，兩個(gè)8形信號(hào)輸出Pb和Pc各自的波形都穿過(guò)零點(diǎn)。當(dāng)使半球形透鏡7保持于這種固定條件下時(shí)，多透鏡14和多透鏡18的Z-距離是互相補(bǔ)償?shù)?，致使光探測(cè)器(PD)15的輸出Pb和光探測(cè)器(PD)19的輸出Pc二者均為零。多透鏡14和18之Z-距離的這種補(bǔ)償意味著從光探測(cè)器(PD)15和19所得到的兩個(gè)S形信號(hào)輸出(它們對(duì)應(yīng)于光記錄介質(zhì)20之光入射面20a的位置和半球形透鏡7之平面7a的位置)的相位是互相補(bǔ)償?shù)摹Ｓ谑?，使光探測(cè)器(PD)11、15和19關(guān)于它們的位置被校準(zhǔn)。
接下去說(shuō)明空氣層AG控制過(guò)程。
為保持空氣層AG的恒定，必須控制光探測(cè)器(PD)15和19的輸出Pb和Pc，使作為來(lái)自減法器21的位置檢測(cè)信號(hào)的差值信號(hào)“Pb-Pc”變?yōu)榱恪榇?，通過(guò)利用驅(qū)動(dòng)器22激勵(lì)半球形執(zhí)行機(jī)構(gòu)的驅(qū)動(dòng)線圈32調(diào)整半球形透鏡7的位置。
光探測(cè)器(PD)15的輸出Pb和光探測(cè)器(PD)19的輸出Pc分別對(duì)應(yīng)于會(huì)聚點(diǎn)Fb和Fc相對(duì)于物鏡6的位置。特別地，當(dāng)光學(xué)記錄介質(zhì)20的光入射面20a與半球形透鏡7的平面7b是互相偏移時(shí)，焦點(diǎn)Fb和Fc也互相偏移，致使光探測(cè)器(PD)15和19的信號(hào)輸出Pb和Pc被引起相應(yīng)的變化。此時(shí)，若保持空氣層AG的厚度不變，則焦點(diǎn)Fb和Fc相對(duì)于物鏡6的偏移就是一樣的，以致光探測(cè)器(PD)15和19的信號(hào)輸出Pb和Pc是成具有幾乎相同位相的S形信號(hào)輸出。相應(yīng)地，如果來(lái)自減法器21的輸出Pb-Pc為零，則認(rèn)為空氣層AG的厚度保持恒定。因此，差值信號(hào)Pb-Pc起間隙誤差信號(hào)的作用。
下面說(shuō)明氣隙變化的情況。
如圖6A和6B所示，光探測(cè)器(PD)15的輸出Pb和光探測(cè)器(PD)19的輸出Pc被表示為S形波形。當(dāng)空氣層AG的厚度較大時(shí)，如圖6A所見(jiàn)者，光探測(cè)器(PD)19之輸出Pc的波形向右偏離光探測(cè)器(PD)15之輸出Pb的波形。另一方面，當(dāng)空氣層AG的厚度較小時(shí)，如圖6B所見(jiàn)者，光探測(cè)器(PD)19之輸出Pc的波形向左偏離光探測(cè)器(PD)15之輸出Pb的波形。因此，由減法器21算得的間隙誤差信號(hào)Pb-Pc有如圖7所示那樣變化。也就是，當(dāng)空氣層AG的厚度變大時(shí)，間隙誤差信號(hào)Pb-Pc為負(fù)。另一方面，當(dāng)空氣層AG的厚度變小時(shí)，間隙誤差信號(hào)Pb-Pc為正。相應(yīng)地，如果通過(guò)激勵(lì)半球形透鏡-執(zhí)行機(jī)構(gòu)的驅(qū)動(dòng)線圈32來(lái)驅(qū)動(dòng)半球形透鏡7，使間隙誤差信號(hào)Pb-Pc變小，則空氣層AG的厚度可幾乎保持不變。
因而，按照本發(fā)明，可以高精度地控制半球形透鏡7與光學(xué)記錄介質(zhì)(光盤(pán))20之間的空氣層(氣隙)AG的厚度，從而防止球差的發(fā)生。結(jié)果，就能實(shí)現(xiàn)光學(xué)記錄介質(zhì)的高重現(xiàn)特性。
同時(shí)，商業(yè)上所能得到的光盤(pán)不可避免地表現(xiàn)出其間厚度方面的偏差(厚度誤差)。這種厚度誤差也會(huì)引起球面象差。按照本發(fā)明，由于對(duì)這種厚度誤差的控制，就可以類似的方式有效地防止這種球面象差。
特別是，或者給光探測(cè)器(PD)15或者給光探測(cè)器(PD)19加以電偏壓，以便確定由光探測(cè)器(PD)11的檢測(cè)輸出所得RF信號(hào)的最佳重現(xiàn)特性。結(jié)果，出現(xiàn)一個(gè)與這些電偏壓相應(yīng)的氣隙偏壓，從而可以高精度地控制空氣層AG。具體地說(shuō)，這種控制引起一個(gè)按與由光盤(pán)厚度誤差所引起的球差相反關(guān)系起作用的球面象差，致使這兩種具有不同正負(fù)號(hào)的球面象差互相平衡，從而消除源于厚度誤差的球面象差。因而可以理解，即使光盤(pán)有厚度誤差，也會(huì)因采用本發(fā)明之光學(xué)拾象裝置而消除球面象差的發(fā)生，從而可得到優(yōu)良的重現(xiàn)特性。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)拾象裝置，用以將光源發(fā)射的光會(huì)聚在光記錄介質(zhì)上，它包括一個(gè)凸透鏡，該凸透鏡具有與光學(xué)記錄介質(zhì)之光入射面相對(duì)的平面，并有預(yù)定的折射率；一個(gè)物鏡，被布置得使所述凸透鏡被插在所述光學(xué)記錄介質(zhì)與該物鏡之間；一個(gè)聚光系統(tǒng)，用于會(huì)聚自光學(xué)記錄介質(zhì)的光入射面和所述凸透鏡的平面反射的光；第一光檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)自所述光學(xué)記錄介質(zhì)的光入射面反射并通過(guò)所述聚光系統(tǒng)的光，并產(chǎn)生第一檢測(cè)信號(hào)；第二光檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)自所述凸透鏡的平面反射并通過(guò)所述聚光系統(tǒng)的光，并產(chǎn)生第二檢測(cè)信號(hào)；一個(gè)位置檢測(cè)裝置，用于根據(jù)所述第一和第二檢測(cè)信號(hào)測(cè)定所述光學(xué)記錄介質(zhì)的光入射面與所述凸透鏡的平面間的位置關(guān)系；以及一個(gè)驅(qū)動(dòng)裝置，用于沿著凸透鏡的光軸驅(qū)動(dòng)所述凸透鏡，使所述凸透鏡沿著相反方向向著所述光學(xué)記錄介質(zhì)或者所述物鏡移動(dòng)，從而對(duì)應(yīng)于所述第一和第二檢測(cè)信號(hào)控制所述光學(xué)記錄介質(zhì)的光入射面與所述凸透鏡的平面間的距離。
2.一種如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾象裝置，其特征在于所述第一光檢測(cè)裝置被布置在與關(guān)于從所述光學(xué)記錄介質(zhì)的光入射面反射并通過(guò)所述聚光系統(tǒng)的光會(huì)聚點(diǎn)之共軛點(diǎn)處，而所述第二光檢測(cè)裝置被布置在與關(guān)于從所述凸透鏡的平面反射并通過(guò)所述聚光系統(tǒng)的光會(huì)聚點(diǎn)之共軛點(diǎn)處。
全文摘要
一種光學(xué)拾象裝置，能消除因光盤(pán)厚度誤差所致的球面象差。該裝置包括一個(gè)凸透鏡；一個(gè)物鏡；一個(gè)聚光系統(tǒng)；第一光檢測(cè)裝置，用于產(chǎn)生第一檢測(cè)信號(hào)；第二光檢測(cè)裝置，用于產(chǎn)生第二檢測(cè)信號(hào)；一個(gè)位置檢測(cè)裝置，用于根據(jù)第一和第二檢測(cè)信號(hào)測(cè)定光學(xué)記錄介質(zhì)的光入射面與凸透鏡的平面間的位置關(guān)系；以及一個(gè)驅(qū)動(dòng)裝置，用于沿其光軸驅(qū)動(dòng)凸透鏡，使凸透鏡引起按反方向向著光學(xué)記錄介質(zhì)或者物鏡移動(dòng)。
文檔編號(hào)G11B7/125GK1138727SQ9610402
公開(kāi)日1996年12月25日 申請(qǐng)日期1996年2月15日 優(yōu)先權(quán)日1995年2月15日
發(fā)明者山本健二, 前田史貞, 市村功, 大里潔, 渡邊俊夫 申請(qǐng)人:索尼公司