專利名稱：一種光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于把信息記錄到光盤及從光盤中讀出的光盤裝置，特別是涉及一種能夠正確地訪問形成于所述光盤上的記錄道而不受光盤跟蹤系統(tǒng)電失真的影響的光盤裝置。
背景技術(shù)：
近年來，光盤作為一種大容量的存取數(shù)據(jù)的工具得到了蓬勃地發(fā)展。為了提高容量，現(xiàn)在已經(jīng)開發(fā)出許多提高記錄密度的方法。而為了達(dá)到高記錄密度，就要求減小記錄刻痕之間的干擾，提高信噪比，并且補(bǔ)償由于光盤介質(zhì)及光盤裝置不穩(wěn)定所引起的信號(hào)失真。特別地，這種不穩(wěn)定現(xiàn)象主要是由于光盤的物理變形及用于光盤裝置的電路性能所引起的。
現(xiàn)在參照?qǐng)D44說明關(guān)于光盤物理變形的第一種情形。首選，當(dāng)光盤D放于光盤電機(jī)Md上時(shí)要求光盤D保持為平面狀，這樣光讀出裝置Os在存取操作中能夠保持其光軸垂直于盤D的記錄面。該光讀出裝置Os沿徑向在與光盤半徑其線的一條直線LR上移動(dòng)(如圖中箭頭Dr所示)以掃描記錄道。
但是，放置于光盤電機(jī)Md上的光盤D的外沿會(huì)因其自重而下垂。換句話說，光盤D會(huì)形成一個(gè)圓錐狀而不是保持平面狀。嚴(yán)格地說，光盤D沿徑向及切線方向都會(huì)發(fā)生彎曲。因此，由于光盤D會(huì)發(fā)生這樣的形變，則光讀出裝置Os就不能在掃描記錄道時(shí)保持其光軸與光盤D的記錄面垂直。而且，光軸與盤面的交角隨著光讀出裝置Os相對(duì)于光盤D的不同位置(于直線LR上)而變化。
在這種情況下，光軸Ax與光盤D記錄面之間所形成的角θr稱為“徑向傾角”。光軸Ax與光盤D記錄道的切線(或垂直于半徑的直線)LD之間所形成的角θt稱為“切向傾角”。一盤來說，光盤(如CD)的徑向傾角θr大小為-0.5°至0.5°之間。
關(guān)于電路性能的第二種情形是這樣的，即使在聚焦和跟蹤信號(hào)表明激光點(diǎn)已正確聚焦及跟蹤時(shí)，激光束也不能正確地聚焦及跟蹤于目標(biāo)記錄道上。因此除了象徑向傾角或切向傾角這樣的物理形變外，還要補(bǔ)償這種聚焦誤差及跟蹤誤差。
由于上述的不穩(wěn)定情況，當(dāng)讀出裝置不能使激光點(diǎn)聚焦在所對(duì)準(zhǔn)的記錄道上或跟蹤該記錄道。尤其是，激光點(diǎn)會(huì)聚焦于兩相鄰道之間，并以變化的交叉角掃描記錄道，而且只是掃描被對(duì)準(zhǔn)的記錄道上的一小部分。進(jìn)而，激光點(diǎn)不能夠跟蹤該記錄道，并可能跟丟了被對(duì)準(zhǔn)的記錄道。因此，信號(hào)的讀取面臨著串?dāng)_、振幅不足、噪音、波形干擾以及抖動(dòng)(與原始信號(hào)異步)等問題。這樣所讀出的記錄信號(hào)就會(huì)抖動(dòng)。當(dāng)該抖動(dòng)變大時(shí)，讀出信號(hào)的質(zhì)量就會(huì)大大下降。而且光讀出裝置的讀出錯(cuò)誤會(huì)隨之增加。
在圖45中展示了由實(shí)驗(yàn)獲得的抖動(dòng)量(％)與徑向傾角(θr)之間的關(guān)系。在相對(duì)于零徑向傾斜位置+0.1至-0.1度的范圍內(nèi)，抖動(dòng)量有最小值。當(dāng)徑向傾角θr變大時(shí)，抖動(dòng)就會(huì)明顯地以增加的步調(diào)變大。換句話說，當(dāng)徑向傾角θr設(shè)為最小時(shí)抖動(dòng)也最小。
因此，為了在這種不穩(wěn)定因素下從記錄道中讀出原始信號(hào)就要求根據(jù)物理的變動(dòng)(如徑向傾斜和切向傾斜)和電的方面的起伏(如聚焦誤差和跟蹤誤差)來調(diào)整光盤裝置。
下面參考圖46說明一種傳統(tǒng)的用于補(bǔ)償徑向傾斜的光盤裝置。該傳統(tǒng)光盤裝置中包括一個(gè)光盤8101、一個(gè)光頭8102、一個(gè)傾斜傳感器8103、一個(gè)前置放大器8104、一個(gè)徑向傾斜控制器8105以及一個(gè)徑向傾斜調(diào)整器8106。
在這種結(jié)構(gòu)的傳統(tǒng)光盤裝置的操作中，傾斜傳感器8103輸出一個(gè)具有對(duì)應(yīng)于光盤8101相對(duì)于光頭8102的傾斜量的電壓的傾斜信號(hào)Sr。前置放大器8104放大該傾斜信號(hào)Sr。徑向傾斜控制器8105驅(qū)動(dòng)徑向傾斜調(diào)整器8106使得該放大后的傾斜信號(hào)變?yōu)榱?。這樣，光頭8102就能夠保持在與光盤8101平行的位置，從而就能夠?qū)獗P進(jìn)行優(yōu)質(zhì)信號(hào)的存取。
但是，在上述的構(gòu)造中，傾斜傳感器(8103)是一個(gè)基本的部件，它會(huì)使生產(chǎn)成本增高，而且由于它要放在光頭(8103)旁，這樣就防礙了光盤裝置的小型化。另外，傾斜傳感器應(yīng)準(zhǔn)確地平行于光頭，否則光頭與光盤之間的平行關(guān)系就不能得到正確地調(diào)節(jié)。
發(fā)明公開本發(fā)明的目的之一在于提供一種能夠解決上述問題的光盤裝置。
本發(fā)明是針對(duì)解決上述缺點(diǎn)而作出改進(jìn)，其基本目的是提供一種改進(jìn)的光盤裝置。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，在此提供一種通過把光點(diǎn)聚焦于光盤的記錄道上而從該記錄道讀取信號(hào)的光盤裝置，該裝置中包括一個(gè)用于產(chǎn)生一個(gè)引起所述讀出信號(hào)抖動(dòng)的第一圖案的第一圖案發(fā)生器，以及一個(gè)用于把所述第一圖案寫入所述光盤的一個(gè)第一記錄道的寫入裝置。
附圖簡(jiǎn)述在如下結(jié)合附圖的最佳實(shí)施例中，本發(fā)明的上述和其它目的和特點(diǎn)將變得清楚明白。在各附圖中，對(duì)相似的部分標(biāo)以相同的參考數(shù)字，其中

圖1A為簡(jiǎn)要表示根據(jù)本發(fā)明的一種帶有一個(gè)校正數(shù)據(jù)區(qū)的光盤的俯視圖；圖1B為簡(jiǎn)要表示圖1A所示的光盤的一種變型的俯視圖；圖1C為簡(jiǎn)要表示根據(jù)本發(fā)明的一種帶有兩個(gè)校正數(shù)據(jù)區(qū)的光盤的俯視圖；圖2示意性地表示一種可擦除(可重寫)的光盤的圖形；圖3為圖1A中用圓圈R圈起來的部分校正數(shù)據(jù)區(qū)的放大圖；圖4是示意性地表示記錄于圖1A、1B和1C中的校正數(shù)據(jù)區(qū)中的信號(hào)的第一個(gè)例子的視圖。
圖5A是表示圖3中特定圖案信號(hào)的記錄刻痕分布情況的示意圖；圖5B是表示圖5A中刻痕分布的一個(gè)特例的示意圖；圖6表示圖4中特定圖案信號(hào)的一個(gè)扇區(qū)結(jié)構(gòu)；圖7是表示記錄刻痕的圖形以及從該記錄刻痕中讀出的信號(hào)之間關(guān)系的示意圖；圖8為表示本發(fā)明第一實(shí)施例中的光盤裝置的方框圖；
圖9為表示圖8所示的抖動(dòng)量測(cè)量器和鎖相環(huán)電路單元(PLL)的方框圖；圖10是表示圖8所示的徑向傾斜調(diào)整器的結(jié)構(gòu)的示意圖；圖11為表示帶有圖1A中的光盤的圖8中的光盤裝置的主要操作流程的流程圖；圖12是輔助說明根據(jù)本發(fā)明的徑向傾斜調(diào)整方法的圖形；圖13為表示圖11的塊#5及圖14的塊#15和#23的徑向傾斜估計(jì)流程的流程圖；圖14為表示帶有圖1C的光盤的圖8中光盤裝置的主要操作流程的流程圖；圖15是表示地址與最佳徑向傾斜調(diào)整位置之間的關(guān)系的視圖；圖16簡(jiǎn)要表示記錄于圖1A、1B和1C的校正數(shù)據(jù)區(qū)中的信號(hào)的第二個(gè)例子；圖17是表示圖16的11T信號(hào)一個(gè)扇區(qū)結(jié)構(gòu)的圖形；圖18為表示記錄于圖1A、1B和1C的校正數(shù)據(jù)區(qū)中的信號(hào)的第三個(gè)例子的示意圖；圖19是表示圖3中校正數(shù)據(jù)區(qū)的一種變型的圖形；圖20為表示記錄于圖19中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第一個(gè)例子的示意圖；圖21為表示記錄于圖19中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第二個(gè)例子的示意圖；圖22為表示記錄于圖19中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第三個(gè)例子的示意圖；圖23是表示圖3中校正數(shù)據(jù)區(qū)的另一種變型的示意圖；圖24為表示記錄于圖23中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第一個(gè)例子的示意圖；圖25是表示記錄于圖23中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第二個(gè)例子的示意圖；圖26是表示記錄于圖23中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第三個(gè)例子的示意圖；圖27是圖3中校正數(shù)據(jù)區(qū)的第三種變型的圖形；
圖28是表示記錄于圖27中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第一個(gè)例子的示意圖；圖29是表示記錄于圖27中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第二個(gè)例子的示意圖；圖30是表示記錄于圖27中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第三個(gè)例子的示意圖；圖31為表示本發(fā)明第二實(shí)施例中的一種光盤裝置的方框圖；圖32為表示圖31中切向傾斜調(diào)整器的結(jié)構(gòu)的示意圖；圖33輔助說明根據(jù)本發(fā)明的切向傾斜調(diào)整方法的圖形；圖34為表示本發(fā)明第三實(shí)施例中的一種光盤裝置的方框圖；圖35為表示本發(fā)明第四實(shí)施例中的一種光盤裝置的方框圖；圖36為表示圖37中光盤裝置所用的光盤的校正數(shù)據(jù)區(qū)的第一個(gè)例子的圖形；圖37為表示本發(fā)明第五實(shí)施例中的一種光盤裝置的方框圖；圖38為表示圖37中光盤裝置的徑向傾斜調(diào)整操作的流程圖；圖39為表示根據(jù)本發(fā)明的一種改動(dòng)后的光盤的圖形；圖40A和40B是表示圖39中光盤的校正數(shù)據(jù)區(qū)的例子的圖形；圖41為表示本發(fā)明第六實(shí)施例中的一種光盤裝置的方框圖；圖42為表示圖41中光盤裝置的徑向傾斜調(diào)整操作的流程圖；圖43為表示本發(fā)明第八實(shí)施例中的一種光盤裝置的方框圖；圖44為輔助說明光盤的徑向傾斜的圖形；圖45為輔助說明徑向傾斜與抖動(dòng)量之間的關(guān)系的圖形；圖46為表示傳統(tǒng)光盤裝置的方框圖。
最佳實(shí)施例在圖1A中簡(jiǎn)要表示一種用于本發(fā)明的光盤裝置上的光盤的一個(gè)實(shí)例。光盤1具有形成于引導(dǎo)區(qū)上的一個(gè)數(shù)據(jù)記錄區(qū)2和一個(gè)校正數(shù)據(jù)區(qū)3。在該校正數(shù)據(jù)區(qū)3中記錄著預(yù)定的校正數(shù)據(jù)。
在圖1B中表示類似于圖1A中所示光盤的光盤1的一個(gè)特例。在本例中，該光盤1上另外帶有位于校正數(shù)據(jù)區(qū)3內(nèi)一個(gè)偽數(shù)據(jù)區(qū)Dd，以及位于校正數(shù)據(jù)區(qū)3與記錄區(qū)2之間的控制數(shù)據(jù)區(qū)Dc。Dd、3和Dc這些區(qū)域都形成于光盤1的引導(dǎo)區(qū)內(nèi)。
偽數(shù)據(jù)區(qū)Dd向光盤1的中心延伸到某個(gè)光盤裝置的光讀出裝置能夠訪問的位置。在偽數(shù)據(jù)區(qū)Dd中記錄著偽數(shù)據(jù)，該偽數(shù)據(jù)僅用于由光讀出裝置訪問使得該光讀出裝置置于校正數(shù)據(jù)區(qū)3以內(nèi)的區(qū)域。
校正數(shù)據(jù)區(qū)3中記錄著校正數(shù)據(jù)，該區(qū)域最好(但不限于)大于四分之一圓周。在控制數(shù)據(jù)區(qū)Dc中記錄著各種關(guān)于光盤1的信息，如校正數(shù)據(jù)區(qū)3的地址。
在圖2中展示了圖1A中形成于一種可擦除或可改寫的光盤上并由圓圈R圈起來的校正數(shù)據(jù)區(qū)3。校正數(shù)據(jù)區(qū)3中至少有一條記錄著校正數(shù)據(jù)的校正數(shù)據(jù)道區(qū)23。該校正數(shù)據(jù)道區(qū)23最好由三條記錄道組成。
每條道上有多個(gè)用于記錄信息，并與相鄰道獨(dú)立的多個(gè)刻痕。為了便于識(shí)別，在圖2中相鄰道的邊界上用虛線24表示。記錄道由臺(tái)狀部分PL和凹刻痕部分PG確定。
上方的線L1表示光盤的表面輪廓線，其中信息只記錄于凹刻痕部分PG中。在這里，凹刻痕部分PG由邊界線24確定。當(dāng)信息只記錄于凹刻痕部分PG時(shí)(未在圖2中展示)，臺(tái)狀部分由邊界線24確定。
下方的線L2也是表示光盤的表面輪廓線，其中信息記錄于臺(tái)狀部分和凹刻痕部分中。在這里，相鄰的前沿和后沿之間的區(qū)域?qū)?yīng)于凹刻痕部分PG或臺(tái)狀部分PL的記錄區(qū)。
在圖3中展示了校正數(shù)據(jù)區(qū)3的放大圖。數(shù)據(jù)區(qū)3具有三條道32、33和34。在本實(shí)施例中，第一、第二和第三條道32、33和34按次序在光盤1上從內(nèi)朝外排列。在校正數(shù)據(jù)道區(qū)23兩側(cè)分別提供道20和21兩條道。每條道中有用于記錄信息的多個(gè)刻痕22。
由虛線24表示的邊界線可以由合適的指示方式(如凹刻痕或圖形)實(shí)際確定。在下文中刻痕和在一個(gè)道內(nèi)相鄰兩個(gè)刻痕的間距分別稱為“凹刻痕”和“刻痕間隔”。另外，對(duì)應(yīng)于相鄰兩條邊界線24的間距的相鄰兩條道的間距在本說明書中稱為“道寬”。請(qǐng)注意，所有道32、33和34具有與形成光盤1記錄區(qū)2上的記錄道相同的道寬T1(如圖3所示)。
請(qǐng)注意，在本說明書中“凹刻痕”表示在光盤的基質(zhì)上具有不同于其他部位的光反射特性的特定部位，并且用于記錄數(shù)字信息。例如，在激光唱盤系統(tǒng)中，通過刻入或削去光盤基質(zhì)的對(duì)應(yīng)部分形成凹刻痕。另外，在相變光盤中，通過對(duì)光盤基質(zhì)上的對(duì)應(yīng)部分進(jìn)行非晶態(tài)化而形成刻痕，使得刻痕部位不同于處于結(jié)晶結(jié)構(gòu)的其他基質(zhì)。還有在磁性光盤中，通過連結(jié)對(duì)應(yīng)部位的晶格平面的方向形成刻痕。這樣，顯然任何合適的結(jié)構(gòu)或物質(zhì)具有與基質(zhì)其他部位的光反射性能不同的特性。
在圖4中展示了表示記錄于圖3中校正數(shù)據(jù)道區(qū)域23(3)的信號(hào)的第一個(gè)例子。請(qǐng)注意為了簡(jiǎn)明起見圖中沒有把刻痕表示出來。第一條道32記錄著隨機(jī)信號(hào)SR。第二條道33記錄著特定的圖案信號(hào)SP。第三條道34記錄著隨機(jī)信號(hào)SR。
隨機(jī)信號(hào)SR是根據(jù)一種(2，10)有限游程代碼產(chǎn)生的，其中包括3T信號(hào)S3T至11T信號(hào)S11T。請(qǐng)注意在這里“T”代表根據(jù)ISO/IEC13963的一個(gè)信道的比特長(zhǎng)度。
下面根據(jù)光盤1上的凹刻痕和刻痕間隔說明這種情況。該隨機(jī)信號(hào)為多個(gè)凹刻痕和刻痕間隔的集合。該凹刻痕實(shí)有預(yù)定的數(shù)目(比如9個(gè))，每個(gè)凹刻痕的長(zhǎng)度不同，分別對(duì)應(yīng)于3T信號(hào)S3T至11T信號(hào)S11T的不同長(zhǎng)度。該刻痕間隔也具有預(yù)定的數(shù)目(比如9個(gè))，每個(gè)刻痕間隔的長(zhǎng)度不同，分別對(duì)應(yīng)于信號(hào)S3T至信號(hào)S11T的不同長(zhǎng)度。在下文中將參照?qǐng)D5A說明記錄于第二道33中的第一個(gè)具體的刻痕圖案。
下面將說明一種用于把校正信號(hào)(如信號(hào)SR和SP)記錄于校正數(shù)據(jù)道區(qū)23中的裝置。通過利用這種校正數(shù)據(jù)記錄裝置(圖43)，賣主或用戶可以在光盤出售給用戶之前或之后在該光盤中記錄校正數(shù)據(jù)。
請(qǐng)注意，光盤1的記錄區(qū)2記錄著一個(gè)(2，10)有限游程編碼信號(hào)(在下文中稱為“2-10調(diào)制”)。對(duì)于本發(fā)明也可以用除2-10調(diào)制以外的任何其他調(diào)制方法。例如，根據(jù)2-10調(diào)制方法的3T信號(hào)S3T對(duì)應(yīng)于根據(jù)(1，7)有限游程編碼(在下文中稱為“1-7調(diào)制”)的2T信號(hào)S2T。根據(jù)2-10調(diào)制的11T信號(hào)S11T對(duì)應(yīng)于根據(jù)1-7調(diào)制的8T信號(hào)S8T。根據(jù)其他調(diào)制方法3T信號(hào)S3T和11T信號(hào)S11T分別對(duì)應(yīng)最小游程和最大游程。
在圖5A中簡(jiǎn)要地展示了特定圖案信號(hào)SP的刻痕圖案的一個(gè)例子。該特定圖案信號(hào)SP是通過重復(fù)第一和第二刻痕圖案3207和3208之間的結(jié)合形成的。換句話說，把第一和第二刻痕圖案3207和3208交替地記錄于被對(duì)準(zhǔn)的記錄道上，例如校正數(shù)據(jù)區(qū)23的第二記錄道33。
第一圖案3207中包括一個(gè)較小的凹刻痕(刻痕)3202和兩個(gè)按照記錄次序分別排在該較小凹刻痕3202前面和后面的兩個(gè)較大刻痕間隔3201和3203。較小凹刻痕3202比圖5中由點(diǎn)狀線表示的激光點(diǎn)Ls小，并可以對(duì)應(yīng)于最小的游程。較大的刻痕間隔3201和3203大于激光點(diǎn)Ls，并可以對(duì)應(yīng)于最大游程。
第二刻痕圖案3208中包括一個(gè)較小刻痕間隔3205和兩個(gè)分別分布于該較小刻痕間隔3205前后的較大凹刻痕3204和3206。該較小刻痕間隔3205小于激光點(diǎn)Ls，并可以對(duì)應(yīng)于最小游程。較大凹刻痕3204和3206都大于激光點(diǎn)Ls，并可以對(duì)應(yīng)于最大的游程。
請(qǐng)注意，激光點(diǎn)Ls的直徑是這樣確定的，使得該激光點(diǎn)Ls的光強(qiáng)是中心強(qiáng)度的1/e2倍(其中e表示自然對(duì)數(shù)的底)。也可以把地址數(shù)據(jù)和糾錯(cuò)碼(在下文中稱為ECC)加到在單個(gè)扇區(qū)內(nèi)特定圖案信號(hào)SP中。
圖6中展示了在單個(gè)扇區(qū)內(nèi)特定圖案SP的一個(gè)例子。其中地址數(shù)據(jù)和糾錯(cuò)碼分別加到該特定圖案信號(hào)SP的兩端。
圖7中簡(jiǎn)要地展示了一個(gè)從具有圖5A的刻痕圖案的數(shù)據(jù)道33中還原的信號(hào)。實(shí)線Wc表示從圖5A的刻痕圖案3207中還原的信號(hào)，其中比激光點(diǎn)Ls小的凹刻痕3202夾在比激光點(diǎn)Ls大的兩個(gè)刻痕間隔3201和3203之間。虛線Ws表示從大于激光點(diǎn)Ls的凹刻痕3202L中還原的信號(hào)。凹刻痕3202L是以凹刻痕3202的形狀但是向刻痕間隔3201方向延伸而形成的。
水平中心線S1為分割該還原信號(hào)的振幅的切線。由于從記錄道33上反射的激光束根據(jù)刻痕的面積而改變，則來自凹刻痕3202L的還原信號(hào)的振幅變化量大于來自凹刻痕3002的還原信號(hào)的振幅變化量。在此，凹刻痕3202L所反射出的信號(hào)Wc的振幅的減小速度比凹刻痕3202所反射出的信號(hào)Ws的振幅的減小速度快。
結(jié)果，還原信號(hào)Ws比信號(hào)Wc早一個(gè)抖動(dòng)量Δj與切線S1相交(如圖7中所示)。交點(diǎn)之間的距離代表本發(fā)明所要求的還原信號(hào)中的抖動(dòng)。為了形成這些凹刻痕，可以使用任何使得凹刻痕部分區(qū)別于基質(zhì)部分的方法如波形表面(從基質(zhì)部分的凸起或凹陷)、磁化方向、以及結(jié)晶狀態(tài)(結(jié)晶態(tài)或非結(jié)晶態(tài))。
除了圖5A中所示的圖案以外，也可以形成特定的圖案信號(hào)SP以比較小于激光點(diǎn)的凹刻痕或刻痕間隔的再生放大器與大于激光點(diǎn)的凹刻痕或刻痕間隔的再生放大器。這種圖案在信號(hào)處理電路的優(yōu)化(如均衡器系數(shù)的調(diào)節(jié))方面是有效的，這在下文中將有詳細(xì)說明。請(qǐng)注意校正數(shù)據(jù)區(qū)23只需要一個(gè)道，即記錄著用于在信號(hào)還原中產(chǎn)生抖動(dòng)的特定圖案信號(hào)SP。
圖5B中展示了圖5A的特定圖案信號(hào)SP的刻痕圖案的一個(gè)典型例子。其中第一刻痕圖案3207是這樣形成的，使得第一較大刻痕間隔3201、較小凹刻痕3202、和第二較大刻痕間隔3203分別沿著記錄道的縱向方向延伸6T、3T和7T的長(zhǎng)度。換句話說，較大凹刻痕3202與相鄰的凹刻痕之間分別被6T和7T的間隔分隔開，如圖5B所示，第一刻痕圖案的長(zhǎng)度為16T。
第二刻痕圖案是這樣形成的，即使得第一較大凹刻痕3204、較小刻痕間隔3205和第二較大凹刻痕3206分別沿著道的縱向延伸6T、3T和7T的長(zhǎng)度。換句話說，兩個(gè)較大凹刻痕3204和3206被長(zhǎng)度為3T的較小刻痕間隔3205所分隔開。第二刻痕圖案3208的長(zhǎng)度為16T。
在本例中，通過重復(fù)這兩個(gè)名為16T長(zhǎng)的刻痕圖案3207和3208形成特定的圖案信號(hào)SP并記錄在記錄道33上。但是，顯然從對(duì)圖7的說明中可以看出，只要重復(fù)這兩個(gè)刻痕圖案3207和3208之一而形成的特定圖案信號(hào)SP就足夠產(chǎn)生還原信號(hào)中的抖動(dòng)。當(dāng)然不用說如果把這兩個(gè)刻痕圖案3207和3208結(jié)合起來的話就能更加有效地產(chǎn)生抖動(dòng)。第一實(shí)施例在圖8中展示了一種根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的光盤裝置。光盤裝置P1中包括一個(gè)用于把激光束打到光盤1以在其上記錄信息以及從其上還原信息的光讀出裝置122。為了這一目的，該光讀出裝置122中包括一個(gè)用于打出激光束的激光二極管123、用于把激光束聚焦于光盤1的記錄道上以及把從光盤1反射回來的激光束聚焦于某一位置的光學(xué)儀器、一個(gè)用于接收被反射的激光束以產(chǎn)生指示激光打在記錄道上的情況的針狀光電二極管。
所提供的轉(zhuǎn)運(yùn)裝置58用于沿光盤1的徑向方向移動(dòng)光讀出裝置122，并通過把激光束打到光盤上來掃描形成于光盤上的記錄道。這樣，光讀出裝置122和轉(zhuǎn)動(dòng)裝置58就構(gòu)成了光讀出系統(tǒng)Os。該轉(zhuǎn)運(yùn)裝置58置于一個(gè)能夠相對(duì)于光盤1沿徑向方向傾斜的傾斜裝置60上。
在圖10中展示了該傾斜裝置60。在該傾斜裝置60中有一塊用于支持其上的轉(zhuǎn)動(dòng)裝置58的底板Pr和一個(gè)支點(diǎn)部分Fr。底板Pr的一端以懸臂方式與支點(diǎn)部分Fr可彎折地連接起來，而其另一端置于垂直往復(fù)式部件Tr的一端上。該垂直往復(fù)式部件Tr的另一端與徑向傾斜調(diào)整器67之間滑動(dòng)連接。在本例中，該垂直往復(fù)式部件Tr由一個(gè)可被徑向傾斜調(diào)整器67所轉(zhuǎn)動(dòng)的螺桿制成，并可沿著箭頭DZ所示的垂直方向往復(fù)運(yùn)動(dòng)。
在每次通過轉(zhuǎn)動(dòng)往復(fù)式部件Tr使得底板傾斜時(shí)，都要測(cè)量通過光讀出裝置122從校正數(shù)據(jù)道區(qū)域23還原的信號(hào)的抖動(dòng)量。相應(yīng)于底板Pr傾角的改變，讀出裝置122的光軸Ax相對(duì)于光盤1記錄表面的夾角也改變了。結(jié)果，來自于第二記錄道33相鄰接的第一和第三記錄道32和34的串?dāng)_發(fā)生了變化，而且來自這些校正數(shù)據(jù)道33的還原信號(hào)的抖動(dòng)也發(fā)生了變化。請(qǐng)注意，使得還原信號(hào)的抖動(dòng)量為最小值的位置為徑向傾斜的最佳位置。
再參考圖8，一個(gè)前置放大器125連接到光讀出裝置122，用于增加來自于針狀光電二極管124的信號(hào)的振幅，并產(chǎn)生還原信號(hào)。該還原信號(hào)根據(jù)形成于光盤1記錄道上的刻痕的長(zhǎng)度而變化。
一個(gè)均衡器126連接到前置放大器125用于接收還原信號(hào)，并減小還原信號(hào)的波干涉。一個(gè)二進(jìn)制電路127連接到均衡器126用于把該還原信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字化的還原信號(hào)Sd。請(qǐng)注意，該數(shù)字化的還原信號(hào)Sd會(huì)受到上述的串?dāng)_、振幅不足、噪聲、波形干涉、以及抖動(dòng)的影響。
一個(gè)鎖相環(huán)單元(PLL)129連接到二進(jìn)制化電路127，用于接收來自該二進(jìn)制化電路的數(shù)據(jù)還原信號(hào)Sd，并產(chǎn)生同步信號(hào)S510。在下文中將參照?qǐng)D9說明該同步信號(hào)的產(chǎn)生過程。
一個(gè)采樣電路1210連接到二進(jìn)制化電路127和鎖相環(huán)單元129，分別用于接收數(shù)字化還原信號(hào)Sd和同步信號(hào)S510。這樣，該采樣電路1210根據(jù)同步信號(hào)S510對(duì)該數(shù)字化還原信號(hào)Sd進(jìn)步采樣以產(chǎn)生通道數(shù)據(jù)S511。
一個(gè)解碼器1211連接到采樣電路1210，用于接收其中的通道數(shù)據(jù)S511，并通過應(yīng)用糾錯(cuò)進(jìn)行解碼以還原原始信號(hào)Srp。接著該解碼后的信號(hào)Srp進(jìn)一步傳輸?shù)讲僮鞯南乱患?jí)。
一個(gè)抖動(dòng)量測(cè)量器41連接到二進(jìn)制化電路127和鎖相環(huán)單元129，用于分別接收其中的信號(hào)Sd和S510。抖動(dòng)量測(cè)量器41根據(jù)這二個(gè)信號(hào)Sd和S510測(cè)量從校正數(shù)據(jù)道區(qū)23還原的信號(hào)的抖動(dòng)量，并產(chǎn)生抖動(dòng)信號(hào)Sj。
在圖9中詳細(xì)說明了鎖相環(huán)單元129和抖動(dòng)量測(cè)量器41的組成。該鎖相環(huán)單元129中包括相互連接在一起的一個(gè)第一相位比較器131、一個(gè)低通濾波器132、一個(gè)電壓控制振蕩器(VCO)133、一個(gè)分頻器134、一個(gè)門電路135和一個(gè)D型觸發(fā)電路138(如圖9所示)。該抖動(dòng)量測(cè)量器41中包括相互連接的一個(gè)第二相位比較器53、一個(gè)高通濾波器51、一個(gè)檢波器54和一個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器52(如圖9所示)。第一相位比較器131連接到二進(jìn)制化電路127，用于接收其中的數(shù)字還原信號(hào)Sd；并且連接到門電路135，用接收其中的信號(hào)S141。第二相位比較器53連接到二進(jìn)制化電路127和D型觸發(fā)器138，用于分別接收其中的信號(hào)Sd和S510。
在操作中，第一相位比較器131檢測(cè)還原信號(hào)Sd和來自門電路135的信號(hào)S141之間的相位差以產(chǎn)生表示這兩個(gè)信號(hào)Sd和S141之間的相位差和頻率差的第一相位差信號(hào)S139。低通濾波器132只從相位差信號(hào)S139中提取低頻成分以產(chǎn)生一個(gè)具有控制電壓控制振蕩器(VCO)133的電壓的VCO控制信號(hào)。VCO133根據(jù)該VCO控制信號(hào)產(chǎn)生一個(gè)時(shí)鐘信號(hào)S137。分頻器134把該時(shí)鐘信號(hào)S137分為預(yù)定的頻率。門電路135根據(jù)輸入其中的還原信號(hào)Sd導(dǎo)通從分頻器134輸出的信號(hào)。
換句話說，只有當(dāng)還原信號(hào)存在時(shí)，被分頻的信號(hào)S141才被傳輸?shù)较辔槐容^器131和D型觸發(fā)電路138作為信號(hào)S139。此時(shí)，VCO133的操作使得兩個(gè)輸入信號(hào)Sd和S141(S139)同相。結(jié)果就獲得了與數(shù)字化的還原信號(hào)Sd的基本周期同步的同步信號(hào)S510。
第二相位比較器53檢測(cè)信號(hào)Sd和S510之間的相位差，并產(chǎn)生一個(gè)表示所檢測(cè)的相位差的第二相位差信號(hào)S140。
高通濾波器51從第二相位差信號(hào)S140中提取高頻成分并把它傳輸?shù)綑z波器54。
檢波器54檢測(cè)該高頻成分并產(chǎn)生信號(hào)S53。還原信號(hào)Sd的抖動(dòng)越大，信號(hào)S53就越大。A/D轉(zhuǎn)換器52把該信號(hào)S53數(shù)字化以產(chǎn)生表示(對(duì)應(yīng)于)當(dāng)前的徑向傾斜量θr的抖動(dòng)信號(hào)Sj。
如圖8所示，徑向傾斜估計(jì)器50中包括連接到抖動(dòng)量測(cè)量器41的第一和第二存儲(chǔ)器51和52，用于接收抖動(dòng)信號(hào)Sj以檢測(cè)徑向傾斜量θr。徑向傾斜估計(jì)器50產(chǎn)生一個(gè)用于控制徑向傾斜調(diào)整器67的徑向傾斜調(diào)整控制信號(hào)St1，以便以預(yù)定的傾斜角來調(diào)整傾斜裝置60。估計(jì)器50通過一條用于傳輸信號(hào)St1的線路Lr1連接到徑向傾斜調(diào)整器67。
一個(gè)帶有第三存儲(chǔ)器55的徑向傾斜控制器54通過線路Lr2和Lr3連接到徑向傾斜估計(jì)器50上。該控制器54還通過線路Lr4連接到徑向傾斜調(diào)整器67，以及通過線路Lr5和Lr6連接到轉(zhuǎn)動(dòng)裝置58。
當(dāng)徑向傾斜校正操作啟動(dòng)時(shí)，徑向傾斜控制器54產(chǎn)生一個(gè)啟動(dòng)指令并通過線路Lr2向徑向傾斜估計(jì)器50傳輸。在接收信號(hào)Sc時(shí)，徑向傾斜估計(jì)器50產(chǎn)生徑向傾斜調(diào)整控制信號(hào)St1。接著，光讀出系統(tǒng)Os開始掃描校正數(shù)據(jù)區(qū)并以上述的方式還原信號(hào)Sj。徑向傾斜估計(jì)器50根據(jù)信號(hào)Sj和St1在當(dāng)前傾角下檢測(cè)當(dāng)前的抖動(dòng)量。這樣，被檢測(cè)的地址和抖動(dòng)量被分別存于存儲(chǔ)器51和52中，并且在每次傾斜裝置60根據(jù)當(dāng)前信號(hào)Sj和St1改變傾角時(shí)更新。
根據(jù)所更新的數(shù)據(jù)，徑向傾斜估計(jì)器50確定使得徑向傾斜θr最小的最佳傾角，并產(chǎn)生一個(gè)最佳傾角信號(hào)Sθa。該信號(hào)Sθa被通過線路Lr3傳輸?shù)綇较騼A斜控制器54，并被存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器55中。
徑向傾斜控制器54根據(jù)表示當(dāng)前傾角與所確定的最佳傾角之差的信號(hào)Sθa產(chǎn)生一個(gè)徑向傾斜補(bǔ)償信號(hào)St2。該徑向傾斜補(bǔ)償信號(hào)St2通過線路Lr4傳輸?shù)綇较騼A斜調(diào)整器67，這樣徑向傾斜調(diào)整器67驅(qū)動(dòng)傾斜裝置60來設(shè)定光讀出系統(tǒng)Os于最佳徑向傾斜位置。
控制器54進(jìn)一步產(chǎn)生一個(gè)用于驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)運(yùn)裝置58的轉(zhuǎn)運(yùn)驅(qū)動(dòng)信號(hào)Sm1以移動(dòng)光讀出系統(tǒng)Os去掃描光盤進(jìn)行信號(hào)的存取。轉(zhuǎn)運(yùn)裝置58產(chǎn)生一個(gè)表示系統(tǒng)Os相對(duì)于光盤1的當(dāng)前位置的地址信號(hào)Sm2，并通過線路Lr6傳輸?shù)娇刂破?4。
下面參照?qǐng)D11說明圖8中帶有圖1A中的光盤1的光盤裝置P1的徑向傾斜調(diào)整操作。流程圖中的每個(gè)塊表示一個(gè)流程步驟。
在塊#1中，當(dāng)操作開始時(shí)，控制器54控制轉(zhuǎn)運(yùn)裝置58把光讀出裝置122的光頭移動(dòng)到光盤1的引導(dǎo)區(qū)。光讀出裝置122先讀引導(dǎo)區(qū)取得校正數(shù)據(jù)道區(qū)23的地址。徑向傾斜控制器54進(jìn)一步根據(jù)該地址數(shù)據(jù)，控制轉(zhuǎn)運(yùn)裝置58把光頭(光讀出裝置122)移動(dòng)蘭光盤1的校正數(shù)據(jù)道區(qū)23下方。光讀出裝置122從數(shù)據(jù)道區(qū)23讀出校正數(shù)據(jù)。在本例中，校正數(shù)據(jù)道區(qū)23位于某一內(nèi)圓周上，但并不僅限于該圓周。在光盤1上任何合適的位置都可以用作為校正數(shù)據(jù)道區(qū)23。接著，程序進(jìn)入下一流程塊#3。
在塊#3中，徑向傾斜控制器54產(chǎn)生啟動(dòng)指令信號(hào)Sc，并把它傳輸?shù)綇较騼A斜估計(jì)器50，以啟動(dòng)徑向傾斜估計(jì)操作。接著，執(zhí)行塊#5的操作。
在塊#5中，徑向傾斜估計(jì)器50執(zhí)行徑向傾斜估計(jì)操作以取得最佳徑向傾斜θr。對(duì)于這一流程塊操作將在下文中參照?qǐng)D13進(jìn)行詳細(xì)說明。此后，執(zhí)行塊#7的操作。
在塊#7中，徑向傾斜控制器54在第三存儲(chǔ)器3存儲(chǔ)塊#5中獲得的最佳傾角信號(hào)Sθa。接著，該徑向傾斜控制器54進(jìn)一步驅(qū)動(dòng)徑向傾斜調(diào)整器67以根據(jù)最佳傾角信號(hào)Sθ把傾斜裝置60的底板Pr設(shè)置于最佳位置。此后，光讀出裝置122的光頭在具有最佳徑向傾斜量θr的傾斜裝置60的低板上沿徑向Dr移動(dòng)，以進(jìn)行存取操作。
清注意，帶有圖1B中的光盤1的裝置P1的徑向傾斜調(diào)整操作除了塊#1中的操作外基本上與上述參照?qǐng)D11，所描述的操作相同。在塊#1中，光讀出裝置122首先讀引導(dǎo)區(qū)的控制數(shù)據(jù)區(qū)Dc以取得校正數(shù)據(jù)道23的地址。接著，光讀出裝置122根據(jù)所讀取的地址數(shù)據(jù)移動(dòng)到空數(shù)據(jù)區(qū)Dd，以保證該光頭能夠訪問整個(gè)校正數(shù)據(jù)區(qū)3。
在圖12中簡(jiǎn)要地展示傾斜裝置60的底板Pr與光盤1的徑向傾斜之間的關(guān)系。當(dāng)光盤1沒有徑向傾斜時(shí)(如實(shí)線所示)，則底板Pr被設(shè)置為平行于光盤1的表面，使得激光束Lb沿著軸垂直地打在光盤1上。但是，當(dāng)光盤1具有如虛線所示的徑向傾斜θr時(shí)，該光盤表面相對(duì)于光軸Ax有徑向傾角大小的傾斜。為了補(bǔ)償這一傾角θr，徑向傾斜調(diào)整器67的螺桿電機(jī)MS把底板Pr的自由端下拉，根據(jù)徑向傾角θr使底板傾斜預(yù)定的角度。
在圖13中展示了圖11中徑向傾斜校正塊#5的操作過程。
在步驟S100中，在從徑向傾斜控制器54接收啟動(dòng)指令信號(hào)Sc時(shí)，徑向傾斜估計(jì)器50驅(qū)動(dòng)徑向傾斜調(diào)整器67使設(shè)定于初始位置。該初始位置是這樣一個(gè)位置使得傾斜裝置60的底板Pr與光盤電機(jī)Md的轉(zhuǎn)軸基本上成一直角。換句話說，最好把基座60設(shè)置于頂端與底端位置之間的中央位置上。該頂端與底端位置根據(jù)圖45來確定，這樣基座60可以在最大的徑向傾角范圍內(nèi)傾斜(最好為+0.5°至-0.5°)。接著，執(zhí)行下一步驟S102。
在步驟S102中，徑向傾斜估計(jì)器50根據(jù)抖動(dòng)信號(hào)Sj檢測(cè)對(duì)應(yīng)于當(dāng)前傾斜角θa的抖動(dòng)。接著，表示傾斜角θa和抖動(dòng)量Sj的當(dāng)前值分別存儲(chǔ)于第二存儲(chǔ)器52和第一存儲(chǔ)器51的地址“0”中。在下文中，為了便于識(shí)別在對(duì)應(yīng)的每個(gè)存儲(chǔ)器的地址的傾角和抖動(dòng)量之后加上“地址數(shù)字”后綴，例如θa0和Sj0。接著執(zhí)行步驟S104。
在步驟S104中，徑向傾斜估計(jì)器40驅(qū)動(dòng)徑向傾斜調(diào)整器67向下移動(dòng)(或順時(shí)鐘方向)預(yù)定Δt角，使得基座60下傾斜θa角。Δt是根據(jù)其分辨率確定的，根據(jù)圖45所示Δt最好為0.1度。這是因?yàn)楣獗P1被置于光盤電機(jī)Mb上時(shí)，該光盤的外沿余下垂(如上面根據(jù)圖44的說明中所述)。因此，通過把基座60下移可以改善徑向傾斜θr。在下文中，向下方向通過在移動(dòng)量之前加前綴“-”表示，如-Δt；而對(duì)于向上方向(或逆時(shí)鐘方向)用前綴“+”表示，如+Δt。接著，執(zhí)行步驟S106。
在步驟S106中，當(dāng)基座沿順時(shí)鐘方向轉(zhuǎn)動(dòng)分辨角-Δt(圖44)時(shí)，徑向傾斜估計(jì)器50檢測(cè)對(duì)應(yīng)于當(dāng)前徑向傾斜的當(dāng)前抖動(dòng)量。接著，所檢測(cè)到的當(dāng)前抖動(dòng)量Sj1和傾斜θa1分別存儲(chǔ)于第一存儲(chǔ)器51和第二存儲(chǔ)器52的地址“1”中。請(qǐng)注意，每當(dāng)基座60被向上或向下移動(dòng)分辨角Δt時(shí)都要檢測(cè)抖動(dòng)量Sj。因此，在下文中把基座60移動(dòng)Δt的時(shí)間間隔定義為一個(gè)徑向傾斜估計(jì)周期。接著，執(zhí)行下一步驟S108。
在步驟S108中，判斷當(dāng)前估計(jì)周期的抖動(dòng)量Sj1是否等于或小于前一個(gè)估計(jì)周期的抖動(dòng)量Sj0。當(dāng)徑向傾斜改善了，則抖動(dòng)量Sj變小，判斷為“是”。接著，執(zhí)行下一步驟S110。
在步驟S110中，在前一估計(jì)周期內(nèi)分別存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器1和2中的抖動(dòng)量Sj0。和傾斜角θa0分別被當(dāng)前抖動(dòng)量Sj1和當(dāng)前傾角θa1所代替。接著，返回到步驟S104。請(qǐng)注意，步驟S110、S104、S106和S108的操作重復(fù)進(jìn)行直到在步驟S108的判斷為“否”時(shí)為止。這樣就可以沿著順時(shí)鐘方向找到使得抖動(dòng)量Sj最小(這意味著徑向傾斜也最小)的最佳位置。
但是，當(dāng)在步驟S108中判斷為“否”時(shí)，這意味著把基座60向下傾斜后徑向傾斜變得比前一周期更差。因此，這一個(gè)使基座60傾斜的操作被放棄，接著，進(jìn)入下一步驟S112。
在步驟S112中，徑向傾斜估計(jì)器50驅(qū)動(dòng)徑向傾斜調(diào)整器67向上移動(dòng)最小分辨量+Δt，以便在這一方向上檢測(cè)最佳位置。接著進(jìn)入下一步驟S114。
在步驟S114中，以類似于步驟S106的方式把當(dāng)前抖動(dòng)量Sj1和傾斜θa1分別存儲(chǔ)于第一存儲(chǔ)器51和第二存儲(chǔ)器52的地址“1”中。接著進(jìn)入下一步驟S116。
在步驟S116，判斷當(dāng)前估計(jì)周期的抖動(dòng)量Sj1是否等于或小于前一估計(jì)周期的抖動(dòng)量Sj0。當(dāng)判斷為“是”時(shí)，這意味著徑向傾斜已得到改進(jìn)，并且進(jìn)入步驟S118。
在步驟S118中，分別存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器51和存儲(chǔ)器52中的抖動(dòng)量Sj0和傾角θa0分別被當(dāng)前抖動(dòng)量Sj1和傾角θa1以類似于步驟S110的方式所代替。接著程序返回到步驟S112。請(qǐng)注意步驟S118、S112、S114和S116中的操作重復(fù)進(jìn)行直到在步驟S116中的判斷為“否”時(shí)為止，這一過程與步驟S108相同。這樣就可以沿著逆時(shí)鐘方向搜索使得徑向傾斜最小的最佳位置。
當(dāng)在步驟S116的判斷為“否”時(shí)，這意味著在前一估計(jì)周期中的傾斜角作為沿著順時(shí)鐘和逆時(shí)鐘兩個(gè)方向搜索的結(jié)果是使得徑向傾斜最小的最佳位置。接著進(jìn)入步驟S120。
在步驟S120中，當(dāng)前存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器2內(nèi)的傾斜角θa0作為最佳傾斜角信號(hào)Sθa被傳輸?shù)綇较騼A斜控制器54中。然后終止程序。
在圖1C中展示了圖1A中的光盤的另一個(gè)實(shí)例。在該實(shí)例中，光盤1上除了具有圖1A中的校正數(shù)據(jù)區(qū)3外，還具有一個(gè)校正數(shù)據(jù)記錄區(qū)4。盡管在圖1C中這兩個(gè)區(qū)域3和4分別形成于光盤的內(nèi)圓周和外圓周上，但是如上文所述，這兩個(gè)區(qū)域3和4也可以形成于光盤1上的其他部位。
在圖14中展示了一個(gè)帶有圖1C中的光盤1的圖8中光盤裝置的徑向傾斜調(diào)整操作過程。除了關(guān)于對(duì)第二記錄區(qū)4的操作外，圖14中的其他操作與圖11中的操作基本相同。
例如，塊#11、#13和#15分別對(duì)應(yīng)于塊#1、#3和#5。
但是在塊#17中，徑向傾斜控制器54把在塊#5中作為第一最佳傾斜角信號(hào)S1獲得的最佳傾斜角信號(hào)Sθa存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器55中。
塊#19、#21、#23和#25涉及關(guān)于第二數(shù)據(jù)區(qū)4的第二徑向傾斜估計(jì)操作。因此，塊#19、#21和#23分別對(duì)應(yīng)于塊#11、#13和#15。接著，在塊#25中，在塊#23取得的最佳傾斜角信號(hào)Sθa被作為第二最佳傾斜角信號(hào)S2存儲(chǔ)于控制器54的第三存儲(chǔ)器55中。
在塊#27中，徑向傾斜控制器54推出在內(nèi)圓圍區(qū)(3)和外圓圍區(qū)(4)之間的最佳傾斜角。然后，控制器54控制徑向傾斜調(diào)整器67把光讀出裝置Os(122和58)設(shè)置為每個(gè)這樣根據(jù)光讀出裝置122在徑向方向上的位置而插入的傾斜角。
在圖15中簡(jiǎn)要地展示了塊#27插入傾斜角的原理。一般來說，在內(nèi)圓圍(L3)上最佳傾角Sθ(對(duì)出于徑向傾斜)有最小值(S1)，該最佳傾角向外逐漸增大并在外圓周(L4)上達(dá)到最大值(S2)。基于這一事實(shí)，在光盤1的內(nèi)圓周之間的任何位置(X)上的最佳傾角(Sx)可以通過數(shù)字插值方法來確定。
在圖15中，垂直軸代表用于最小在徑向傾斜的最佳傾角(θ)，水平軸代表光讀出裝置(光頭)對(duì)應(yīng)于掃描方向Dr的地址?，F(xiàn)在分別根據(jù)第一和第二校正數(shù)據(jù)3和4檢測(cè)第一個(gè)最佳傾角S1和S2，并把它們用圓點(diǎn)標(biāo)在地址3和地址4上。這兩個(gè)圓點(diǎn)之間可以用一條曲線7301連接起來，這條曲線可以定義為位置與傾角之間的函數(shù)。通過確定這條曲線的函數(shù)系數(shù)可以模擬在第一和第二數(shù)據(jù)區(qū)3和4之間的記錄區(qū)2的實(shí)際徑向傾斜。這條模擬線7301的函數(shù)系數(shù)可以用理論和實(shí)驗(yàn)方法來確定。
進(jìn)一步地，可以把這樣確定的模擬成7301的函數(shù)系數(shù)記錄于光盤1上適當(dāng)?shù)膮^(qū)域。本發(fā)明的光盤裝置即使在更換光盤時(shí)也能夠迅速方便地動(dòng)態(tài)校正徑向傾斜。
另外，通過根據(jù)形成于光盤1上的校正數(shù)據(jù)道區(qū)計(jì)算光盤1的徑向傾斜，這樣在讀取所對(duì)準(zhǔn)的記錄道的記錄信號(hào)時(shí)減少了來自與所對(duì)準(zhǔn)記錄道相鄰的記錄道的串?dāng)_。因此，進(jìn)一步提高了讀取操作的可靠性。
另外，由于最佳傾角θa被作為最佳傾角信號(hào)Sθa存儲(chǔ)于徑向傾斜控制器54的第三存儲(chǔ)器55中，這樣，有可能比較本光盤裝置與過去的光盤裝置的徑向傾斜量，例如在把該裝置向終端用戶提供之前對(duì)該光盤裝置進(jìn)行功能檢測(cè)。
本發(fā)明的徑向傾斜校正可以在任何需要徑向傾斜校正的時(shí)候進(jìn)行。例如，當(dāng)光盤受到強(qiáng)烈的振動(dòng)時(shí)，光盤可以改變其相對(duì)于光讀出裝置或光頭的位置。
當(dāng)均衡器126把還原信號(hào)的抖動(dòng)減少到不可檢測(cè)出來的程度時(shí)，可以把該均衡器126從圖8的光盤裝置中除去。這樣的話，前置放大器125輸出的信號(hào)直接輸入到二進(jìn)制化電路127。
對(duì)于抖動(dòng)量測(cè)量器11，可以采用任何其他能夠檢測(cè)還原信號(hào)Sd的抖動(dòng)量的裝置。當(dāng)光盤在許可的范圍內(nèi)存在尺寸誤差時(shí)，在光盤的內(nèi)圓周和外圓周的徑向傾斜也可能表現(xiàn)為不同的數(shù)值。這種誤差可能是由于反射面不平整、變形或形成過程不當(dāng)引起的。在這種情形下，最好通過調(diào)整光讀出裝置Os(122和58)的傾角對(duì)光盤的整個(gè)記錄區(qū)補(bǔ)償徑向傾斜。為了這一目的，根據(jù)本發(fā)明在光盤的內(nèi)圓周和外圓周分別提供兩個(gè)校正數(shù)據(jù)區(qū)，如上文中對(duì)圖1C的說明所述。
在圖16中展示了圖4的校正數(shù)據(jù)道區(qū)的第二個(gè)實(shí)例。在本實(shí)例中，第一和第二道中都記錄著11T信號(hào)S11T。第二道33中記錄著隨機(jī)信號(hào)SR。
該隨機(jī)信號(hào)SR根據(jù)2-10調(diào)制產(chǎn)生，其中包括3T信號(hào)S3T至11T信號(hào)S11T。下面參照光盤1上的凹刻痕和刻痕間隔說明這一情形。該隨機(jī)信號(hào)SR為多個(gè)凹刻痕和刻痕間隔的結(jié)合。該凹刻痕具有預(yù)定的數(shù)目(例如九個(gè))，其長(zhǎng)度各不相同，分別對(duì)應(yīng)于3T信號(hào)S3T至11T信號(hào)S11T的長(zhǎng)度?？毯坶g隔也具有預(yù)定的數(shù)目(例如九個(gè))，其長(zhǎng)度各不相同分別對(duì)應(yīng)于信號(hào)S3T至信號(hào)S11T的長(zhǎng)度。
第一和第三道32和34中只記錄著11T信號(hào)S11T，該信號(hào)是一個(gè)由長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)于11T信號(hào)S11T的一個(gè)凹刻痕與長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)于11T信號(hào)S11T的一個(gè)刻痕間隔組成的連續(xù)圖案。只要已包含足夠多的11T信號(hào)成份，也可以在11T信號(hào)的單個(gè)扇區(qū)內(nèi)把地址和ECC加到11T信號(hào)中。
在圖17中展示了在單個(gè)扇區(qū)內(nèi)的11T信號(hào)S11T的一個(gè)實(shí)例。其中地址數(shù)據(jù)和糾錯(cuò)碼分別加到11T信號(hào)S11T的兩端。
在圖18中展示了一個(gè)類似于圖15的校正數(shù)據(jù)道區(qū)23的第三實(shí)例。在本實(shí)例中，第二道33中記錄著特定圖案信號(hào)SP。該特定的圖案信號(hào)SP的構(gòu)成如上文中參照?qǐng)D5A和5B的說明所述。
在圖19中展示了另一種圖3中所示的校正數(shù)據(jù)道區(qū)23。盡管在圖3中的數(shù)據(jù)中，所有的道32、33和34具有相同的道寬下，但是在本實(shí)例中第二道33的道寬T2小于其他道32和34的道寬T1。
在圖20中展示了圖19的校正數(shù)據(jù)道區(qū)23的第一個(gè)實(shí)例。第一和第三道32和34記錄著隨機(jī)信號(hào)SR。第二道33記錄著特定圖案信號(hào)SP。
在本例中，由于第二道33的道寬比其他道32和34的道寬窄，則對(duì)于第二道33來說來自相鄰的道32和34的串?dāng)_比圖4中的情況要大。因此，由于徑向傾斜所引起的抖動(dòng)量也較大，這樣就進(jìn)一步提高了檢測(cè)徑向傾斜的精度。除此以外，由于校正數(shù)據(jù)道區(qū)23占據(jù)了較小的空間，則有更多的空間用于記錄信息。
在圖21中展示了類似于圖19中所示的校正數(shù)據(jù)道區(qū)23的第二實(shí)例，在本實(shí)例中，第一和第三道32和34記錄著11T信號(hào)S11T，第二道33記錄著隨機(jī)信號(hào)SR。
在圖22中展示了類似于圖18中所示的校正數(shù)據(jù)區(qū)的第三實(shí)例。在本實(shí)例中，第一和第三道32和34記錄著11T信號(hào)S11T，第二道33記錄著特定圖案信號(hào)SP。
在圖23中展示了類似于圖19中所示的另一種圖3中的校正數(shù)據(jù)道區(qū)23。在圖19中，盡管第二道33的道寬小于其他道的道寬，但是在本實(shí)例中第一和第三道32和34，具有相同的道寬T3，且小于第二道33的道寬T1。
在圖24中展示了類似于圖20中所示的圖17中的數(shù)據(jù)道區(qū)23的第一實(shí)例。第一和第三道32和34中記錄著隨機(jī)信號(hào)SR，第二道33記錄著特定圖案信號(hào)SP。
在本實(shí)例中，由于第一和第三道32和34的道寬比第二道33的道寬窄，則對(duì)于第二道33來說，來自相鄰道32和34的串?dāng)_比圖4中的情形要大。因此，由于徑向傾斜而導(dǎo)致的抖動(dòng)量也較大，從而進(jìn)一步提高了徑向傾斜檢測(cè)的精確度。除此以外，由于校正數(shù)據(jù)區(qū)23占據(jù)了較小的空間，則可以有更多的空間用于記錄信息。
在圖25中展示了類似于圖21所示的圖17中的數(shù)據(jù)道區(qū)23的第二實(shí)例。第一和第三道32和34記錄著11T信號(hào)S11T，第二道33記錄著隨機(jī)信號(hào)SP。
在圖26中展示了類似于圖22所示的圖23中的數(shù)據(jù)道區(qū)23的第三實(shí)例，第一和第三道32和34記錄著11T信號(hào)S11T，第二道33記錄著特定圖案信號(hào)SP。
在圖27中展示了類似于圖3所示的另一種圖3中的校正數(shù)據(jù)道區(qū)23。其中所有道32、33和34的道寬T4小于光盤1的記錄區(qū)2中的道寬T1。
在圖28中展示了類似于圖20所示的圖27中的數(shù)據(jù)道區(qū)23的第一實(shí)例。第一和第三道32和34記錄著隨機(jī)信號(hào)SR，第二道33記錄著特定圖案信號(hào)SP。
在本例中，所有校正數(shù)據(jù)道32、33和34的道寬T4小于形成于光盤1的記錄區(qū)2中的記錄道的道寬。因此，對(duì)于第二道33來說，來自于相鄰道32和34的串?dāng)_比圖4中的情形要大。因此，由于徑向傾斜所導(dǎo)致的抖動(dòng)量也較大，這樣就提高了檢測(cè)徑向傾斜的精確度。除此以外，由于校正數(shù)據(jù)道區(qū)23占據(jù)了較少的空間，從而有更多的空間用于記錄信息。
在圖29中展示了類似于圖21所示的圖27中的數(shù)據(jù)道區(qū)23的第二實(shí)例。第一和第三道32和34記錄著11T信號(hào)S11T，第二道33記錄著隨機(jī)信號(hào)SR。
在圖30中展示了類似于圖22所示的圖27中的數(shù)據(jù)道區(qū)23的第三實(shí)例。第一和第三道32和34記錄著11T信號(hào)S11T，第二道33記錄著特定圖案信號(hào)SP。第二實(shí)施例在圖31中展示了根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的一種光盤裝置。該光盤裝置P2的結(jié)構(gòu)與圖8中所示的結(jié)構(gòu)十分相似，其中的徑向傾斜估計(jì)器50、徑向傾斜控制器54和徑向傾斜調(diào)整器67分別被切向傾斜估計(jì)器70、切向傾斜控制器74和切向傾斜調(diào)整器82所代替。
如圖31所示，切向傾斜估計(jì)器70和切向傾斜控制器74的結(jié)構(gòu)基本上分別與徑向傾斜估計(jì)器50和經(jīng)向傾斜控制54的結(jié)構(gòu)相同。切向傾斜調(diào)整器73的結(jié)構(gòu)除了傾斜裝置73外類似于圖10中的徑向傾斜調(diào)整器60的結(jié)構(gòu)。
在圖32中展示了傾斜裝置73。該傾斜裝置73具有一個(gè)用于支承位于其上面的轉(zhuǎn)運(yùn)裝置58的底板Pt和一個(gè)支點(diǎn)部件Fr。底板Pt的一端以懸臂方式與支點(diǎn)部分Fr可彎析地連接起來。另一端置于垂直往復(fù)部件Tt的一端上。該垂直往復(fù)部件Tt與徑向傾斜調(diào)整器82之間滑動(dòng)連接。在本例中，垂直住復(fù)部件Tr由可被徑向傾斜調(diào)整器82所旋轉(zhuǎn)的螺桿構(gòu)成，并可以往復(fù)地沿著箭頭Dz所示的垂直方向往復(fù)運(yùn)動(dòng)。
隨著螺桿部件Tt的往復(fù)運(yùn)動(dòng)，包括轉(zhuǎn)運(yùn)裝置58和光讀出裝置122在內(nèi)的底板Pt相對(duì)于支點(diǎn)部件Ft沿箭頭方向Dr繞軸旋轉(zhuǎn)。換句話來說，光讀出系統(tǒng)Os的徑向傾斜可以由切向傾斜調(diào)整器82來確定。請(qǐng)注意徑向傾斜和切向傾斜裝置60和73的底板Pr和Pt可以形成于一個(gè)具有兩個(gè)支點(diǎn)Fr的Ft的裝置中。
根據(jù)本實(shí)施例，使得抖動(dòng)量最小的位置對(duì)應(yīng)于使得切向傾斜最小的最佳傾角?；谶@一事實(shí)，切向傾斜可以通過對(duì)光讀出裝置Os的傾角進(jìn)行調(diào)整而得到補(bǔ)償。由于本實(shí)施例基本上與參照?qǐng)D11、13和14對(duì)圖1A、1B和1C中的光盤1的說明相似，因而為了簡(jiǎn)單起見在此略去進(jìn)一步的說明。
在圖33中簡(jiǎn)要地展示了傾斜裝置73的底板與光盤1的切向傾斜之間的關(guān)系。當(dāng)光盤1沒有切向傾斜時(shí)，底板Pt被設(shè)置為平行于光盤1的表面使得激光束Lb沿著光軸垂直地打在光盤1上。但是，當(dāng)光盤1沿著任何一個(gè)箭頭方向切向傾斜θt時(shí)，光盤表面相對(duì)于光軸傾斜該切向傾角。為了補(bǔ)償該切向傾角θt，切向傾斜調(diào)整器73的螺桿電機(jī)Mt根據(jù)該切向傾角θt沿著對(duì)應(yīng)的方向精確地調(diào)整底板Pt的自由端。第三實(shí)施例在圖34中展示了根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的光盤裝置。該光盤裝置P3的結(jié)構(gòu)類似于圖8中的裝置，其中的徑向傾斜估計(jì)器50、徑向傾控制器54和包括傾斜裝置60在內(nèi)的徑向傾斜調(diào)整器67分別被聚焦位置估計(jì)器90、聚焦控制器94、聚焦伺服電路100和通過線路Lr7連接到聚焦伺服電路100的聚焦位置調(diào)整器110所代替。請(qǐng)注意包括傾斜裝置60的傾斜調(diào)整器67和包括傾斜裝置73的切向調(diào)整器82可以同時(shí)用于本實(shí)施例中，但是簡(jiǎn)單起見在此省略。
如圖34所示，聚焦位置估計(jì)器90和聚焦控制器94的結(jié)構(gòu)分別與徑向傾斜估計(jì)器50和徑向傾斜控制器54的結(jié)構(gòu)基本相同。聚焦位置估計(jì)器90產(chǎn)生一個(gè)用于控制聚焦伺服電路100的聚焦伺服電路控制信號(hào)Sfs取代徑向傾斜調(diào)整控制信號(hào)St1(該信號(hào)由徑向傾斜估計(jì)器50產(chǎn)生)。
根據(jù)本實(shí)施例，使得抖動(dòng)量最小的位置對(duì)應(yīng)于使得聚焦誤差信號(hào)最小的最佳聚焦位置。關(guān)于這一事實(shí)，聚焦伺服電路100產(chǎn)生一個(gè)表示當(dāng)前位置為最佳位置(在此位置上誤差信號(hào)應(yīng)為零或?yàn)樽钚≈?的聚焦補(bǔ)償信號(hào)Sf。該聚焦補(bǔ)償信號(hào)Sf通過線路Lr7傳輸聚焦位置調(diào)整器110，這樣聚焦位置調(diào)整器97調(diào)整光讀出裝置以補(bǔ)償在當(dāng)前位置檢測(cè)到的聚焦誤差信號(hào)使其為零或最小值。這樣由電路特性所決定的聚焦誤差就能得到補(bǔ)償。
如上文所述，由于聚焦位置可以通過調(diào)整光讀出裝置Os的傾斜角而得到補(bǔ)償，則本實(shí)施例的操作過程基本上與參照?qǐng)D11、13和14的說明相類似。第四實(shí)施例在圖35中展示了根據(jù)本發(fā)明第四實(shí)施例的一種光盤裝置。該光盤裝置P4的結(jié)構(gòu)與圖34中的十分相似，其中的聚焦位置估計(jì)器90、聚焦控制器94、聚焦伺服電路100和聚焦位置調(diào)整器110分別被跟蹤位置估計(jì)器120、跟蹤控制器124、跟蹤伺服電路120和跟蹤位置調(diào)整器140所代替。
跟蹤位置估計(jì)器120、跟蹤控制器124、跟蹤伺服電路130和跟蹤位置調(diào)整器140的結(jié)構(gòu)分別與聚焦位置估計(jì)器90、聚焦控制器94、聚焦伺服電路100和聚焦位置調(diào)整器110的結(jié)構(gòu)十分相似。只是跟蹤位置估計(jì)器120產(chǎn)生一個(gè)用于控制跟蹤伺服電路130的跟蹤伺服電路控制信號(hào)Sts，而不是徑向傾斜調(diào)整控制信號(hào)St1。
根據(jù)本實(shí)施例，使得抖動(dòng)量最小的位置對(duì)應(yīng)于最佳跟蹤位置，在該位置上跟蹤誤差信號(hào)應(yīng)為零或?yàn)樽钚≈?。基于這一事實(shí)，跟蹤伺服電路130產(chǎn)生一個(gè)表示當(dāng)前位置為跟蹤的最佳位置的跟蹤補(bǔ)償信號(hào)Str。該跟蹤補(bǔ)償信號(hào)通過線路Lr7傳輸?shù)礁櫸恢谜{(diào)整器140，這樣跟蹤位置調(diào)整器140調(diào)整光讀出裝置Os(122和58)以補(bǔ)償在當(dāng)前位置檢測(cè)到的跟蹤誤差信號(hào)，使其變?yōu)榱慊驗(yàn)樽钚≈怠Ｒ蚨?，由電路特性所決定的跟蹤誤差就能得到補(bǔ)償。
如上文所述，由于可以通過調(diào)整光讀出裝置Os的傾角來對(duì)跟蹤位置進(jìn)行補(bǔ)償，所以本實(shí)施例的操作過程基本上與上文中參照?qǐng)D11、13和14的說明相同。第五實(shí)施例在圖36中展示了圖3中的校正數(shù)據(jù)道區(qū)23的另一種變形。請(qǐng)注意，在圖3中的第一、第二和第三校正數(shù)據(jù)道32、33和34分別對(duì)應(yīng)于圖36中的道3702、3701和3703。另外，道間距Tp(代替圖3中的道寬T1)定義為兩相鄰道中心線之間的距離。每條道的中心線由點(diǎn)劃線表示。而且在本實(shí)施例中，第一、第二和第三道3702、3701和3703按順序地從光盤1的內(nèi)側(cè)向外側(cè)排列。
在本例中，第二道3701中沒有記錄著任何凹刻痕。第二道3702記錄著由第三刻痕圖案3704所表示的第一周期信號(hào)。通過重復(fù)地在22TW周期內(nèi)形成一對(duì)凹刻痕和刻痕間隔而把第三刻痕圖案3704記錄道3702上，其中“TW”為窗寬。第三道3703記錄著由第四刻痕圖案3705表示的第二周期信號(hào)。通過重復(fù)地在20TW的周期內(nèi)形成一對(duì)凹刻痕和刻痕間隔，而把第四刻痕圖案3705記錄于道3703上。
換句話說，第一校正數(shù)據(jù)道3702記錄著以t1＝1/22TW周期重復(fù)的由一對(duì)凹刻痕和刻痕間隔組成的刻痕圖案。第三校正數(shù)據(jù)道3703記錄著以t2＝1/22TW周期重復(fù)的由一對(duì)凹刻痕和刻痕間隔組成的刻痕圖案。請(qǐng)注意，t2≠t1、t2≠n.t1以及t2≠t1/m，其中“n”和“m”為正整數(shù)。
為形成這些凹刻痕，可以使用任何使得凹刻痕部分區(qū)別于基質(zhì)部分的方法，如波形表面(從基質(zhì)表面的凸起或凹陷)、磁化方向、以及結(jié)晶狀態(tài)(結(jié)晶態(tài)或非結(jié)晶態(tài))。也可以把道地址信息重復(fù)地加到這些信號(hào)中，在下文中將對(duì)本實(shí)施例的這種重復(fù)地加入道地址信息的情況加以說明。請(qǐng)注意，如圖1A、1B和1C所示，在本實(shí)施例中分別使用具有一個(gè)和兩個(gè)校正數(shù)據(jù)道區(qū)23的光盤。
在圖37中展示了根據(jù)本發(fā)明第五實(shí)施例的一種光盤裝置。該光盤裝置15中包括一個(gè)用于把激光束打到光盤3800上以從上面存取信息的光讀出裝置3801。在該光盤裝置中提供一個(gè)對(duì)應(yīng)于圖8的徑向傾斜調(diào)整器67和傾斜裝置60的徑向傾斜調(diào)整裝置3809以調(diào)整光讀出裝置3801的傾斜位置。
一個(gè)徑向傾斜控制器3811連接到徑向傾斜裝置3809，用于向其傳輸徑向傾斜調(diào)整控制信號(hào)St1。
一個(gè)徑向傾斜校正器3808連接到徑向傾斜控制器3811，用于接收其啟動(dòng)指令Sc；另外還連接到徑向傾斜調(diào)整裝置3809，用于向其傳輸徑向傾斜補(bǔ)償信號(hào)St2。
一個(gè)前置放大器3802連接到光讀出裝置3801用于增大從光盤3800還原的信號(hào)的振幅，并產(chǎn)生還原信號(hào)。該還原信號(hào)根據(jù)形成于光盤3800記錄道上的刻痕長(zhǎng)度而變化。
一個(gè)具有頻率F1的第一帶通濾波器3803連接到前置放大器3802，用于接收其還原信號(hào)。當(dāng)?shù)谝粠V波器3803設(shè)置使得頻率為f1＝1/22TW的信號(hào)可通過時(shí)，則來自第一道3702的串?dāng)_成份與來自第二道3701的還原信號(hào)的主要成份一同通過該濾波器。
一個(gè)第一檢波器3805連接到該帶通濾波器3803，用于接收通過該第一帶通濾波器3803的還原信號(hào)以把它轉(zhuǎn)變?yōu)榈谝浑妷骸?br> 一個(gè)放大器3812連接到第一檢波器，用于接收并放大該第一電壓。該放大器3812可以由一個(gè)衰減器所代替。當(dāng)在第三和第四刻痕圖案3704和3705中的不同長(zhǎng)度的凹刻痕有可能分別使得從道3702和3703中還原的信號(hào)的振幅不同時(shí)，可以使用放大器(衰減器)3812來補(bǔ)償這一振幅的差別。
一個(gè)具有頻率f2的第二帶通濾波器3804連接到前置放大器3802，用于接收其還原信號(hào)。當(dāng)該第二帶通濾波器3804設(shè)置為使得頻率為f2＝1/20TW的信號(hào)通過時(shí)，則來自第二道3703的串?dāng)_成分與來自第二道3701的還原信號(hào)的主要成分一同通過該濾波器。
一個(gè)第二檢波器連接到第二帶通濾波器3804，用于接收通過第二帶通濾波器3804的還原信號(hào)，以把它轉(zhuǎn)變?yōu)榈诙妷骸?br> 一個(gè)帶有連接到放大器3812和第二檢波器3806的兩個(gè)輸入端的比較器3807，用于分別接收放大的第一電壓和第二電壓。該比較器3807檢測(cè)這兩個(gè)電壓之差并產(chǎn)生一個(gè)差信號(hào)Sy。請(qǐng)注意，這一差信號(hào)Sy代表來自第一和第三道3703的兩個(gè)串?dāng)_成分之差。
因此，當(dāng)差信號(hào)為正值時(shí)，來自第一道3702的串?dāng)_比來自第三道3703的串?dāng)_要大。在這種情況中，這意味著徑向傾斜向著某個(gè)方向偏斜，在這一方向上位于內(nèi)圓周一側(cè)的光讀出裝置3801部分與光盤3800相接近。在下文中這一方向稱為“負(fù)傾斜方向”。
另一方面，當(dāng)差信號(hào)Sy為負(fù)值時(shí)，來自第一道3702的串?dāng)_比來自第三道3703的串?dāng)_要小。在這種情況中，這意味著徑向傾斜向著某一方向偏斜，在這一方向上位于外圓周一側(cè)的光讀出裝置3801部分與光盤3800相接近。在下文中這一方向稱為“正傾斜方向”。
另外，當(dāng)差信號(hào)Sy為零時(shí)，這意味著對(duì)于第二道3701來說來自相鄰的道3702和3703的串?dāng)_相同。請(qǐng)注意，這一位置為使得徑向傾斜最小的最佳位置。
為了實(shí)用的目的，當(dāng)差信號(hào)Sy處于許可的范圍內(nèi)時(shí)，則判斷當(dāng)前位置為最佳徑向傾斜位置。
由于串?dāng)_成分的增益由形成于該道上的刻痕圖案的頻率所確定。因此，來自道3702和3703的串?dāng)_成分具有不同的增益，這是由于比較器3807的比較不當(dāng)所引起的。為了補(bǔ)償這種兩串?dāng)_成分之間的增益差別，在比較器3807之前提供放大器3812(如上文所述)。該放大器3812的放大系數(shù)可以根據(jù)刻痕圖案的頻率來確定。
徑向傾斜校正器3808連接到比較器3807，用于接收來自該比較器的差信號(hào)Sy，以根據(jù)該信號(hào)Sy產(chǎn)生徑向傾斜補(bǔ)償信號(hào)St2。
一個(gè)地址讀取器3810連接到前置放大器3802，用于接收其還原信號(hào)，以產(chǎn)生一個(gè)表示當(dāng)前估計(jì)徑向傾斜的地址的地址信號(hào)；并且連接到徑向傾斜控制器3811，用于向其傳輸該地址信號(hào)。
在圖38中展示了圖37的光盤裝置執(zhí)行徑向傾斜校正的操作過程。在下文中將說明這種帶有如圖1C所示的具有兩個(gè)校正數(shù)據(jù)區(qū)的光盤3800的光盤裝置的操作過程。而帶有只有一個(gè)校正數(shù)據(jù)區(qū)的光盤的光盤裝置的操作過程很簡(jiǎn)單，并且十分類似于圖11中的過程，在此為簡(jiǎn)單起見予以省略。
首先，為圖37中的光盤3800放置于圖31的光盤裝置中時(shí)，該徑向傾斜校正流程啟動(dòng)如下。
在步驟S200中，光讀出裝置3801讀取形成于光盤3800內(nèi)圓周上的第一校正數(shù)據(jù)道區(qū)23中的第二校正數(shù)據(jù)道3701，以從其中讀取信號(hào)。接著執(zhí)行步驟S202。
在步驟S202中，判斷差信號(hào)Sy是否在-ε～ε的范圍內(nèi)。其中“ε”為一個(gè)確定最佳徑向傾斜位置的許可范圍的預(yù)定數(shù)值，其大小最好為2Db。如果判斷為“否”，這意味著執(zhí)行步驟S204。
在步驟S204中，判斷差信號(hào)Sy是否為正數(shù)。如果判斷為“是”，這表示當(dāng)前的徑向傾斜偏向于負(fù)方向，接著，執(zhí)行步驟S206。
在步驟S206中，把光讀出裝置3801傾斜一預(yù)定量Δt，接著執(zhí)行步驟S202。
然而，當(dāng)在步驟S204中判斷為“否”時(shí)，這表示徑向傾斜目前偏置于正方向，那么執(zhí)行步驟S208。
在步驟S208中，把光讀出裝置3801傾斜一預(yù)定量-Δt，接著返回步驟S202。循環(huán)執(zhí)行步驟S202、S204、S206和S208直到在步驟S202判斷當(dāng)前徑向傾斜已處于許可范圍內(nèi)時(shí)為止。
在步驟S202的判斷為“是”時(shí)，執(zhí)行步驟S210。
在步驟S210中，存儲(chǔ)當(dāng)前傾角和地址存儲(chǔ)作為第一傾角信號(hào)Sθ1和第一地址信號(hào)Sa1。接著，執(zhí)行步驟S212。
在步驟S212中，光讀出裝置3801讀取形成于光盤3800外圓周上的第二校正數(shù)據(jù)道區(qū)23中的第二校正數(shù)據(jù)道3701，以從其中讀取信號(hào)。接著執(zhí)行步驟S214。
在步驟S214中，判斷差信號(hào)Sy是否處于-ε～ε的范圍內(nèi)。如果判斷為“否”，則執(zhí)行步驟S216。
在步驟S216中，判斷差信號(hào)Sy是否為正值。如果判斷為“是”，則執(zhí)行步驟S218，在這一步驟中把光讀出裝置3801傾斜一預(yù)定量-Δt，接著返回步驟S214。
然而，當(dāng)在步驟S216判斷為“否”時(shí)，進(jìn)到步驟S220，其中光讀出裝置3801按一預(yù)定量-Δt傾斜，然后回到步驟S214。
如在步驟S214的判斷為“是”，則執(zhí)行步驟S222，在這一步驟中把當(dāng)前傾角和地址存儲(chǔ)為第二傾角信號(hào)Sθ2和第二地址信號(hào)Sa2。然后終止程序。第六實(shí)施例在圖39中展示了類似于圖1C中的光盤的另一種光盤。類似地，在光盤1501中包括一個(gè)數(shù)據(jù)記錄區(qū)1502、一個(gè)形成于其引導(dǎo)區(qū)內(nèi)的第一校正數(shù)據(jù)區(qū)C3、以及第二校正數(shù)據(jù)區(qū)C4。請(qǐng)注意這些區(qū)域1502、C3和C4分別對(duì)應(yīng)于圖1C中的區(qū)域2、3和4。盡管在此只參照?qǐng)D39說明這種具有兩個(gè)校正數(shù)據(jù)區(qū)的光盤1501，但是本發(fā)明也可以應(yīng)用于只有一個(gè)校正數(shù)據(jù)區(qū)的光盤。
每個(gè)第一和第二校正數(shù)據(jù)區(qū)C3和C4被分割為多個(gè)扇區(qū)。例如，第一校正數(shù)據(jù)區(qū)C3可以按適當(dāng)?shù)谋壤指顬樗膫€(gè)扇區(qū)1507、1508、1509和1510。換句話說，該校正數(shù)據(jù)區(qū)C3可以等分或不等分地分割為兩個(gè)或多個(gè)扇區(qū)。為了便于識(shí)別，在此把所分割的扇區(qū)1507、1508、1509和1510分別定義為第一、第二、第三和第四內(nèi)部校正扇區(qū)。
每個(gè)內(nèi)部校正扇區(qū)進(jìn)一步分為兩個(gè)部分，第一部分為用于記錄校正數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)，第二部分為用于記錄如扇區(qū)地址和道地址這樣的地址信息的地址區(qū)。具體地說，該內(nèi)部校正扇區(qū)1507中包括一個(gè)第一內(nèi)部地址區(qū)1507a和一個(gè)第一內(nèi)部數(shù)據(jù)區(qū)1507b。其他內(nèi)部校正扇區(qū)1508、1509和1510中分別包括一個(gè)第二內(nèi)部地址區(qū)1508a和一個(gè)第二內(nèi)部數(shù)據(jù)區(qū)1508b、一個(gè)第三內(nèi)部地址區(qū)1509a和第三內(nèi)部數(shù)據(jù)區(qū)1509b、以及一個(gè)第四內(nèi)部數(shù)據(jù)區(qū)1510a和一個(gè)第四內(nèi)部數(shù)據(jù)區(qū)1510b。
類似地，第二校正數(shù)據(jù)區(qū)C4也包括第一、第二、第三和第四外部校正扇區(qū)1503、1504、1505和1506。另外，這些外部校正扇區(qū)1503、1504、1505和1506中包括一個(gè)第一外部地址區(qū)1503a和一個(gè)外部數(shù)據(jù)區(qū)1503b、一個(gè)第二外部地址區(qū)1504a和一個(gè)第二外部數(shù)據(jù)區(qū)1504b、一個(gè)第三外部地址區(qū)1505a和一個(gè)第三數(shù)據(jù)區(qū)1505b，以及一個(gè)第四外部地址區(qū)1506a和一個(gè)第四外部數(shù)據(jù)區(qū)1506b。
第一校正數(shù)據(jù)區(qū)C3的每個(gè)分割扇區(qū)似乎在徑向方向上與第二校正數(shù)據(jù)區(qū)C4的對(duì)應(yīng)分割扇區(qū)相對(duì)齊。但是，如上文所述，每個(gè)校正數(shù)據(jù)區(qū)C3和C4可以以任何合適的比例分割為不同數(shù)目的部分。因此，這些扇區(qū)并不要求分布在相對(duì)于其他扇區(qū)的預(yù)定位置上。
下面將參照?qǐng)D40A和40B說明記錄于每個(gè)內(nèi)部數(shù)據(jù)區(qū)1507b、1508b、1509b和1510b以及外部數(shù)據(jù)區(qū)1503b、1504b、1505b和1506b內(nèi)的校正信號(hào)。兩個(gè)不同的校正信號(hào)記錄于不同的扇區(qū)。
在圖40A中展示了第一和第三內(nèi)部數(shù)據(jù)扇區(qū)1507b和1509b(1503b和1505b)的一個(gè)實(shí)例。道5102、5101和5103對(duì)應(yīng)于圖4中的第三數(shù)據(jù)道32、33和34。第一道5102記錄著帶有對(duì)應(yīng)于圖36的第三刻痕圖案3704的一個(gè)刻痕圖案5104的第一周期信號(hào)。如圖40A所示第二和第三道5101和5103沒有被記錄。
在圖40B中展示了第二和第四內(nèi)部數(shù)據(jù)扇區(qū)1508b和1510b(1504b和1506b)的一個(gè)實(shí)例。道5106、5105和5107對(duì)應(yīng)于圖4中的第一、第二和第三數(shù)據(jù)道32、33和34。第一和第二數(shù)據(jù)道5106和5105中沒有記錄。但是，第三道5107記錄著帶有對(duì)應(yīng)于圖36中的第三刻痕圖案3704的一個(gè)刻痕圖案5108的第一周期信號(hào)。
在圖41中展示了一種根據(jù)本發(fā)明第六實(shí)施例的光盤裝置。該光盤裝置P6中包括一個(gè)用于把激光束打到光盤1501上以在其上存取信息的光讀出裝置5201。在光盤裝置中提供一個(gè)用于調(diào)整光讀出裝置5201的傾斜位置的徑向傾斜調(diào)整裝置5211，其對(duì)應(yīng)于圖8中的徑向傾斜調(diào)整器67和傾斜裝置60。
一個(gè)徑向傾斜控制器5212連接到徑向傾斜調(diào)整裝置5211，用于向其傳輸徑向傾斜控制信號(hào)St1。
一個(gè)徑向傾斜估計(jì)器5210連接到徑向傾斜控制器5212，用于接收其啟動(dòng)指令信號(hào)Sc；并且連接到徑向傾斜調(diào)整裝置5211，用向其傳輸徑向傾斜補(bǔ)償信號(hào)St2。
一個(gè)前置放大器5202連接到光讀出裝置5201，用于增加從光盤1501還原的信號(hào)的振幅，并產(chǎn)生還原信號(hào)。該還原信號(hào)隨著形成于光盤1501上記錄道的槽長(zhǎng)度的不同而變化。
一個(gè)濾波頻率為f1的帶通濾波器5204連接到前置放大器5202，用于接收其中的還原信號(hào)。當(dāng)帶通濾波器5202的導(dǎo)通頻率設(shè)置為f1＝1/22TW，則來自第一和第三數(shù)據(jù)扇區(qū)1507b和1509b的第一道5102(圖40A)或第二和第四數(shù)據(jù)扇區(qū)1508b和1510b的第三道5107(圖40B)的串?dāng)_成分與來自第二道5101(圖40A)或5105(圖40B)的還原信號(hào)的主要成分一起通過。
一個(gè)檢波器5205連接到帶通濾波器5204，用于把通過帶通濾波器3803的還原信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)殡妷骸?br> 一個(gè)地址讀取器5203連接到前置放大器5202，用于讀取來自放大的還原信號(hào)的地址信息以產(chǎn)生開關(guān)信號(hào)SW。
該徑向傾斜控制器5212還連接到該地址讀取器5203，用于接收該開關(guān)信號(hào)Sw。
在該光盤裝置中提供一個(gè)帶有一個(gè)輸入端口和兩個(gè)輸出端口的選擇開關(guān)5206，該選擇開關(guān)由控制信號(hào)所操作以有選擇地把其中一個(gè)輸出端口與該輸入端口連接起來。該輸入端口連接到檢波器5205，用于接收其中的轉(zhuǎn)換電壓。其中一個(gè)輸出端口連接到一個(gè)第一采樣保持器5207，另一個(gè)連接到一個(gè)第二采樣保持器5208。
一個(gè)帶有兩個(gè)輸入端連接到第一采樣保持器5207和第二采樣保持器5208的比較器5209，用于接收所保持的來自相鄰道5101和5107的串?dāng)_成分。比較器5209檢測(cè)這兩電壓之差并產(chǎn)生差信號(hào)Sy。請(qǐng)注意，該差信號(hào)Sy代表來自第一或第三和第二或第四扇區(qū)的兩個(gè)串?dāng)_成分的差值。
該徑向傾斜估計(jì)器5210還連接到比較器5209，用于接收該差信號(hào)Sy。
在圖42中展示了上述光盤裝置P6的操作流程。下面就簡(jiǎn)要地介紹該操作過程。
首先，光盤讀出裝置5301訪問第一扇區(qū)1507的第二道，例如從其中讀取信息。接著，前置放大器5202放大來自光讀出裝置5301的還原信號(hào)，并把放大后的還原信號(hào)傳輸?shù)降刂纷x取器5203和帶通濾波器5204。
地址讀取器5203，讀取光讀出裝置當(dāng)前訪問的扇區(qū)(1507)中地址區(qū)(1507a)的地址信息。基于所檢測(cè)到的當(dāng)前扇區(qū)地址，地址讀取器1507進(jìn)一步產(chǎn)生兩個(gè)開關(guān)信號(hào)Sw1和Sw2之一。具體地說，當(dāng)檢測(cè)到奇數(shù)扇區(qū)時(shí)，則表明當(dāng)前訪問的扇區(qū)為第一扇區(qū)1707或第三扇區(qū)1709，這時(shí)產(chǎn)生第一開關(guān)信號(hào)Sw1。當(dāng)檢測(cè)到偶數(shù)扇區(qū)時(shí)，則表明當(dāng)前訪問的扇區(qū)為第二扇區(qū)1708或第四扇區(qū)1710，這時(shí)產(chǎn)生第二開關(guān)信號(hào)Sw2。
把帶通濾波器的導(dǎo)通頻率設(shè)置為f1＝1/22TW，這樣來自第一和第三扇區(qū)1507和1509的第一道5102以及來自第二和第四扇區(qū)1508和1510的第三道5107的串?dāng)_成分導(dǎo)通并傳到檢波器5205。檢波器分別把各串?dāng)_成分轉(zhuǎn)變?yōu)殡妷骸?br> 在接收到第一信號(hào)Sw1后，選擇開關(guān)把檢波器5205連接到第一采樣保持器5207，使得來自奇數(shù)(第一和第二)扇區(qū)(1507和1509)的串?dāng)_電壓傳輸?shù)降谝徊蓸颖３制?207。在接收第一信號(hào)Sw2后，選擇開關(guān)把檢波器5205連接到采樣保持器5208，使得來自偶數(shù)(第二和第四)扇區(qū)(1508和1510)的串?dāng)_電壓傳輸?shù)降诙蓸颖３制?210。
結(jié)果，第一采樣保持器5207只保持來自對(duì)應(yīng)于圖4的第一校正數(shù)據(jù)道32的內(nèi)部圓周道上的串?dāng)_成分。第二采樣保持器5208只保持來自對(duì)應(yīng)于圖4的第三校正數(shù)據(jù)道33的外部圓周道上的串?dāng)_成分。
這樣，比較器5209比較來自第一和第三校正數(shù)據(jù)道32和34的串?dāng)_成分，并產(chǎn)生差信號(hào)Sy。在此以后的操作過程與上文中參照?qǐng)D37和38進(jìn)行說明的光盤裝置P5的操作過程十分相似，在此為了簡(jiǎn)單起見予以省略。
如上文所述，由于第一和第三道32和34中部記錄著刻痕圖案，可以用三束跟蹤方法從第二道33讀取校正數(shù)據(jù)。
另外，第二道34記錄著頻率為t0的校正數(shù)據(jù)信號(hào)，第一和第三道32和34記錄著頻率t2的校正數(shù)據(jù)信號(hào)，其中t0≠1、t0≠n.t1(n為整數(shù))。這樣，可以清楚地從第一和第二道(32)和(34)中檢測(cè)出串?dāng)_成分，并且不受從第二道(33)中讀出的信號(hào)影響。
另外，由于在該數(shù)據(jù)系統(tǒng)中，具有預(yù)定頻率，對(duì)應(yīng)于一個(gè)字節(jié)單位的信號(hào)記錄于第二道(32)，則可以用簡(jiǎn)單的格式形成該校正數(shù)據(jù)區(qū)(23)。請(qǐng)注意，68TW對(duì)應(yīng)于具有2-10調(diào)制過程的數(shù)據(jù)系數(shù)中的4個(gè)字節(jié)。第七實(shí)施例在圖43中展示了一種根據(jù)本發(fā)明第七實(shí)施例，用于在光盤1上形成校正數(shù)據(jù)道區(qū)的光盤裝置。本實(shí)施例中的光盤裝置P7的結(jié)構(gòu)類似于圖8、31、34、35中的光盤裝置的結(jié)構(gòu)，但在以下幾點(diǎn)涉及把預(yù)定校正數(shù)據(jù)記錄于校正數(shù)據(jù)道區(qū)23中的每個(gè)數(shù)據(jù)道的方面有所不同。在下文中只說明對(duì)于形成校正數(shù)據(jù)道23起關(guān)鍵作用的部分而其他與圖8、31、34和35中相同或相類似的部分為簡(jiǎn)便起見，在此省略。
光盤裝置P7中包括光讀出裝置122，該光讀出裝置中又包括用于從光盤1存取信息的激光二極管123和針狀光電二極管1241。在該光盤裝置中提供用于移動(dòng)光讀出裝置122以掃描形成于光盤1上的記錄道的轉(zhuǎn)運(yùn)裝置58。這樣，光讀出裝置122和轉(zhuǎn)運(yùn)裝置58就構(gòu)成了光讀出系統(tǒng)Os。聚焦誤差信號(hào)Sfe從連接到光讀出裝置122的前置放大器125傳輸?shù)骄劢顾欧娐?00。聚焦伺服電路200產(chǎn)生一個(gè)用于驅(qū)動(dòng)包含于光讀出裝置Os內(nèi)的聚焦控制系統(tǒng)(未展示)的聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)Sfd。請(qǐng)注意，該聚焦伺服電路200對(duì)應(yīng)于圖34中的聚焦伺服電路100。
一個(gè)校正數(shù)據(jù)控制器210產(chǎn)生一個(gè)用于控制光讀出裝置運(yùn)動(dòng)的轉(zhuǎn)運(yùn)裝置驅(qū)動(dòng)信號(hào)Std，并把該信號(hào)傳輸?shù)脚c其相連的轉(zhuǎn)運(yùn)裝置58。該校正數(shù)據(jù)記錄控制器210還產(chǎn)生一個(gè)表示將記錄于校正數(shù)據(jù)道區(qū)23的校正數(shù)據(jù)的校正數(shù)據(jù)選擇信號(hào)Src。
校正數(shù)據(jù)發(fā)生器220中帶有多個(gè)用于存儲(chǔ)對(duì)應(yīng)于校正數(shù)據(jù)的刻痕圖案數(shù)據(jù)(這已在上文中參照附圖的說明中提到)的存儲(chǔ)器，例如ROM。請(qǐng)注意，為了簡(jiǎn)單起見，在圖43中只展示了三個(gè)ROM300、310和320，但不只限于三個(gè)ROM。
校正數(shù)據(jù)發(fā)生器220連接到校正數(shù)據(jù)記錄控制器210，用于接收校正數(shù)據(jù)信號(hào)Src。校正數(shù)據(jù)發(fā)生器220根據(jù)校正數(shù)據(jù)信號(hào)Src的指示從ROM300、310和320等只讀存儲(chǔ)器中選擇用于存儲(chǔ)刻痕圖案數(shù)據(jù)的特定ROM。根據(jù)校正數(shù)據(jù)信號(hào)Src從所選中的特定ROM中按預(yù)定的次序和時(shí)序讀出對(duì)應(yīng)的刻痕圖案數(shù)據(jù)，并寫到區(qū)域223中對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)道32、33和34中。
一個(gè)激光二極管驅(qū)動(dòng)電路240連接到校正數(shù)據(jù)發(fā)生器220，用于從每個(gè)對(duì)應(yīng)的ROM中讀出的刻痕圖案數(shù)據(jù)，并產(chǎn)生一個(gè)用于控制光讀出裝置Os(122)的激光二極管123的激光二極驅(qū)動(dòng)信號(hào)Sld。該激光二極管驅(qū)動(dòng)電路240還連接到激光二極管123以把激光二極管驅(qū)動(dòng)信號(hào)Sld傳輸?shù)皆摷す舛O管。
光讀出裝置Os根據(jù)信號(hào)Std和Src的控制把由預(yù)定的刻痕圖案所表示的預(yù)定的校正數(shù)據(jù)記錄到校正數(shù)據(jù)區(qū)223的每個(gè)記錄道32、33和34中。如上文所述，凹刻痕和刻痕間隔的尺寸由為了還原信號(hào)而打在其上面的激光束的光斑尺寸Ls所確定。當(dāng)然，凹刻痕和刻痕間隔的尺寸也可由為在光盤上記錄凹刻痕而打在光盤上的激光束的光斑尺寸所確定。
雖然在上文通過結(jié)合附圖和實(shí)施例已對(duì)本發(fā)明作了詳盡的說明，但是對(duì)于專業(yè)技術(shù)人員來說也能夠作出各種改進(jìn)，但這些改動(dòng)和變化形式也在本發(fā)明的權(quán)利要求書所確定的范圍內(nèi)。
工業(yè)應(yīng)用即使在存儲(chǔ)數(shù)字信息的光盤因重力而發(fā)生物理缺陷或形變的情況下以及當(dāng)這種光盤具有不是設(shè)定于該光盤裝置的不同尺寸時(shí)，也可應(yīng)用本發(fā)明從該光盤中讀取數(shù)字信息。另外，本光盤裝置中使用了電路的特殊電特性。
因此，制造商可以發(fā)售帶有記錄著校正圖案的校正記錄區(qū)的光盤。用戶可以通過使用包含著本發(fā)明的校正機(jī)構(gòu)的光盤裝置補(bǔ)償影響數(shù)字信號(hào)的還原性的，因徑向傾斜、切向傾斜和電子特性而產(chǎn)生的失真。
另外，用戶以通過使用本發(fā)明光盤裝置中的可寫類型在使用該光盤的第一時(shí)間把校正圖案寫入可寫光盤中。
權(quán)利要求
1.一種用于通過把光點(diǎn)(Ls)聚焦于光盤(1)上的記錄道上從該記錄道還原信號(hào)(Sd)的光盤裝置(P7)，所述裝置中包括一個(gè)用于產(chǎn)生一個(gè)引起還原信號(hào)發(fā)生抖動(dòng)的第一圖案(SP)的第一圖案發(fā)生器裝置(ROM)；一個(gè)用于把所述第一圖案(SP)寫到所述光盤(1)的第一記錄道(33)的寫入裝置(122)。
2.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置(P7)，其特征在于被寫入所述第一記錄道(33)中的所述第一圖案(SP)包括一個(gè)位于沿所述記錄道(33)延伸的準(zhǔn)直線上的大于所述光點(diǎn)(Ls)的第一刻痕(3204)；一個(gè)位于所述記錄道準(zhǔn)直線上的大于所述光點(diǎn)(Ls)的第二刻痕(3206)，其與所述第一刻痕(3204)相隔小于所述光點(diǎn)(Ls)大小的第一預(yù)定距離(3205)。
3.如權(quán)利要求2所述的光盤裝置(P7)，其特征在于所述的第一和第二刻痕(3204和3206)交替地分布所述第一記錄道(33)上。
4.如權(quán)利要求2所述的光盤裝置(P7)，其特征在于被寫入所述第一記錄道(33)中的第一圖案(SP)包括多個(gè)位于沿所述記錄道(33)延伸的準(zhǔn)直線上，小于所述光點(diǎn)(Ls)，并與其他任何第三刻痕(3202)相隔第二預(yù)定距離(3201和3203)的第三刻痕(3202)。
5.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置(P7)，其特征在于還包括一個(gè)用于產(chǎn)生第二預(yù)定圖案(SR)的第二圖案發(fā)生器裝置(ROM)，所述寫入裝置(122)把所述第二圖案(SR)寫入位于所述第一記錄道(33)兩側(cè)的第二和第三記錄道(32和34)中，用于通過從所述第二和第三記錄道(32和34)中還原的信號(hào)(Sd)在從所述第一記錄道(33)還原的信號(hào)(Sd)中引起串?dāng)_。
6.如權(quán)利要求5所述的光盤裝置(P7)，其特征在于所述第二和第三道(32和34)中包括多個(gè)隨機(jī)分布的刻痕。
7.如權(quán)利要求5所述的光盤裝置(P7)，其特征在于所述第一、第二和第三道(33、32和34)分別具有預(yù)定的第一、第二和第三道寬(TP)。
8.如權(quán)利要求7所述的光盤裝置(P7)，其特征在于所述第一、第二和第三預(yù)定道寬(Tp)是相同的(T1)。
9.如權(quán)利要求7所述的光盤裝置(P7)，其特征在于所述第一預(yù)定道寬(T2)小于所述第二和第三預(yù)定道寬(T1)。
10.如權(quán)利要求7所述的光盤裝置(P7)，其特征在于所述第一預(yù)定道寬(T1)大于所述第二和第三預(yù)定道寬(T3)。
11.如權(quán)利要求11所述的光盤裝置(P4)，其特征在于其中還包括一個(gè)用于把所述光點(diǎn)(Ls)打到所述記錄道上以從其上還原所述信號(hào)(Sd)的光讀出裝置(Os)；一個(gè)用于按預(yù)定的間距改變所述光讀出裝置(Os)的聚焦位置的跟蹤位置控制裝置(140)；一個(gè)用于在從所述第一記錄道(33)中還原的信號(hào)(Sd)中測(cè)量抖動(dòng)量的抖動(dòng)量測(cè)量裝置(41)；一個(gè)用于檢測(cè)使得所述測(cè)量到的抖動(dòng)量(Sj)為最小的最小抖動(dòng)跟蹤位置的最小抖動(dòng)位置檢測(cè)裝置(120)；一個(gè)用于控制所述跟蹤位置控制裝置(140)去把所述光讀出裝置(Os)設(shè)置于所述檢測(cè)到的最小抖動(dòng)跟蹤位置上的跟蹤控制裝置(130)。
12.一種用于從記錄著使得還原信號(hào)(Sd)發(fā)生抖動(dòng)的預(yù)定圖案(SP)的光盤(1)的記錄道(2和33)中還原出信號(hào)(S)的光盤裝置(P1)，其中包括一個(gè)用于通過把光點(diǎn)(Ls)打到所述記錄道(2和33)上來從中還原所述信號(hào)(Sd)的光讀出裝置(Os)；一個(gè)用于在預(yù)定方向上把所述光讀出裝置傾斜預(yù)定的角度(Δt)的傾斜裝置(60)；一個(gè)用于從所述記錄道(33)中還原的信號(hào)(Sd)中測(cè)量抖動(dòng)量(Sj)的抖動(dòng)量測(cè)量裝置(41)；一個(gè)用于檢測(cè)使得所述測(cè)量到的抖動(dòng)量(Sj)為最小的最小抖動(dòng)角(θa)的最小抖動(dòng)角檢測(cè)裝置(50)；一個(gè)用于控制所述傾斜裝置(60)把所述光讀出裝置(Os)傾斜到所述檢測(cè)到的最小抖動(dòng)角(Qa)的傾斜控制裝置(54和67)。
13.如權(quán)利要求12所述的光盤裝置(P1)，其特征在于所述預(yù)定方向?yàn)橐幌鄬?duì)于所述光盤(1)的徑向方向。
14.如權(quán)利要求12所述的光盤裝置(P2)，其特征在于所述預(yù)定方向?yàn)橄鄬?duì)于所述光盤(1)半徑的切向方向。
15.一種用于從記錄著使得還原信號(hào)(Sd)發(fā)生抖動(dòng)的預(yù)定圖案(SP)的光盤(1)的記錄道(2和33)中還原出信號(hào)(Sd)的光盤裝置(P3)，其中包括一個(gè)用于通過把光點(diǎn)(Ls)打到所述記錄道(2和33)上來從中還原所述信號(hào)(Sd)的光讀出裝置(Os)；一個(gè)用于按預(yù)定的間距改變所述光讀出裝置(Os)的聚焦位置的聚焦位置控制裝置(110)；一個(gè)用于在從所述第一記錄道(33)中還原的信號(hào)(Sd)中測(cè)量抖動(dòng)量(Sj)的抖動(dòng)量測(cè)量裝置(41)；一個(gè)用于檢測(cè)使得所述測(cè)量的抖動(dòng)量(Sj)為最小的最小抖動(dòng)聚焦位置的最小抖動(dòng)位置檢測(cè)裝置(90)；一個(gè)用于控制所述聚焦位置控制裝置(110)以將所述光讀出裝置(OS)設(shè)在所述檢測(cè)到的最小抖動(dòng)聚焦位置的聚焦控制裝置(100)。
16.一種用于從記錄著使得還原信號(hào)(Sd)發(fā)生抖動(dòng)的預(yù)定圖案(SP)的光盤(1)的記錄道(2和33)中還原出信號(hào)(Sd)的光盤裝置(P4)，其中包括一個(gè)用于通過把光點(diǎn)(Ls)打到所述記錄道以從其中還原所述信號(hào)(Sd)的光讀出裝置(Os)；一個(gè)用于按預(yù)定的間距改變所述光讀出裝置(Os)的聚焦位置的跟蹤位置控制裝置；一個(gè)用于在從所述第一記錄道(33)還原的信號(hào)(Sd)中測(cè)量抖動(dòng)量(Sj)的抖動(dòng)量測(cè)量裝置(41)；一個(gè)用于檢測(cè)使得所述測(cè)量的抖動(dòng)量(Sj)為最小的最小抖動(dòng)跟蹤位置的最小抖動(dòng)位置檢測(cè)裝置(120)；一個(gè)用于控制所述跟蹤位置控制裝置(140)以把所述光讀出裝置(Os)設(shè)置于所述測(cè)到的最小抖動(dòng)跟蹤位置的跟蹤控制裝置(130)。
17.一種通過把光點(diǎn)(Ls)聚焦于形成光盤(1)上的記錄道上，用于使信號(hào)(Sd)記錄于所述光盤(1)的記錄道上的光盤裝置(P7)，其中包括一個(gè)用于產(chǎn)生引起所述還原信號(hào)(Sd)發(fā)生抖動(dòng)的第一圖案(SP)的第一圖案發(fā)生器裝置(ROM)；一個(gè)用于在所述光盤(1)的第一記錄道(33)中寫入所述第一圖案(SP)的寫入裝置(122)。
18.如權(quán)利要求17所述的光盤裝置(P7)，其特征在于被寫入所述第一記錄道33的所述第一圖案(SP)中包括一個(gè)位于沿所述記錄道(33)延伸的準(zhǔn)直線上，大于所述光點(diǎn)(Ls)的第一刻痕(3204)；一個(gè)位于所述記錄道準(zhǔn)直線上，并與所述第一記錄刻痕(3204)相隔一個(gè)小于所述光點(diǎn)(Ls)的預(yù)定距離(3205)的大于所述光點(diǎn)(Ls)的第二刻痕(3206)。
19.如權(quán)利要求18所述的光盤裝置(P7)，其特征在于所述第一和第二刻痕(3204和3206)交替地分布于所述第一記錄道(33)上。
20.如權(quán)利要求17所述的光盤裝置(P7)，其特征在于所述被寫入所述第一記錄道(33)中的第一圖案(SP)中包括多個(gè)位于沿所述記錄道(33)延伸的準(zhǔn)直線上，且與其他第三刻痕(3202)相隔一個(gè)第二預(yù)定距離(3201和3203)的小于所述光點(diǎn)(Ls)的第三刻痕(3202)。
21.如權(quán)利要求17所述的光盤裝置(P7)，其特征在于其中還包括一個(gè)用于產(chǎn)生第二預(yù)定圖案(SR)的第二圖案發(fā)生器裝置(ROM)，所述寫入裝置(122)把所述第二圖案(SR)寫入分別位于所述第一記錄道(33)兩側(cè)的第二和第三記錄道(32和34)中，用于使在從所述第一記錄道(33)還原的信號(hào)中引起與所述第二和第三記錄道中還原的信號(hào)串?dāng)_。
22.一種用于光盤裝置(P1)中，通過把光點(diǎn)(Ls)聚焦于光盤上的所述記錄道上，從形成在光盤(1)上的多個(gè)記錄道還原信號(hào)的光盤(1)，其中包括一個(gè)用于記錄所述信號(hào)的第一記錄道(2)；一個(gè)用于記錄能使從中還原的信號(hào)發(fā)生抖動(dòng)的第一預(yù)定圖案(SP)的第二記錄道(33∶3，23)。
23.如權(quán)利要求22所述的光盤(1)，其特征在于所述的寫入第二記錄道(33)的第一圖案(SP)中包括一個(gè)位于沿所述記錄道(33)延伸的準(zhǔn)直線上，且大于所述光點(diǎn)(Ls)的第一刻痕(3204)；一個(gè)位于所述準(zhǔn)直線上且大于所述光點(diǎn)(Ls)的第二刻痕(3206)，其與所述第一刻痕間隔小于所述光點(diǎn)(Ls)的第一預(yù)定距離(3205)。
24.如權(quán)利要求23所述的光盤(1)，其特征在于所述第一和第二刻痕(3204和3206)交替地分布于所述第二記錄道(33)內(nèi)。
25.如權(quán)利要求22所述的光盤(1)，其特征在于被寫入所述第二記錄道(33)的所述第一圖案(SP)中包括多個(gè)位于沿著所述記錄道(23)延伸的一條準(zhǔn)直線上小于所述光點(diǎn)(Ls)的第三刻痕(3202)，且其與任何其他第三刻痕相隔一個(gè)大于所述光點(diǎn)(Ls)的第二預(yù)定距離(3201和3203)。
26.如權(quán)利要求23所述的光盤(1)，其特征在于所述第一刻痕(3204)沿著所述準(zhǔn)直線方向延伸一第一預(yù)定長(zhǎng)度6T，所述第一刻痕(3206)沿著所述準(zhǔn)直線方向延伸為第二預(yù)定長(zhǎng)度7T，所述第一預(yù)定距離(3205)為長(zhǎng)度3T，所述T為該通道的位長(zhǎng)。
27.如權(quán)利要求25所述的光盤(1)，其特征在于所述第三刻痕(3202)沿著所述準(zhǔn)直線方向延伸為第三預(yù)定長(zhǎng)度3T，并與其中一個(gè)相鄰的第三刻痕(3202)相隔一個(gè)第三預(yù)定距離7T，并與另一個(gè)相鄰的第三刻痕(3202)相隔一個(gè)第四預(yù)定距離6T，所述的T為該通道的位長(zhǎng)。
28.如權(quán)利要求22所述的光盤(1)，其特征在于被寫入所述第二記錄道(33)的所述第一圖案(SP)中包括所述第一刻痕(3204)沿著所述第二記錄道(33)縱向方向延伸長(zhǎng)度為大于所述光點(diǎn)(Ls)的一個(gè)第一預(yù)定長(zhǎng)度；一個(gè)第二刻痕(3206)沿著所述第二記錄道(33)縱向方向延伸長(zhǎng)度為大于所述光點(diǎn)的一個(gè)第二預(yù)定長(zhǎng)度，且位于所述第一刻痕(3204)的一第一側(cè)并與其相隔一個(gè)小于所述光點(diǎn)(Ls)的一個(gè)第一預(yù)定間距(3205)；一個(gè)第三刻痕(3202)測(cè)著所述第二記錄道(33)縱向方向延伸長(zhǎng)度為小于所述光點(diǎn)(Ls)的一個(gè)第三預(yù)定長(zhǎng)度，且位于所述第一刻痕(3204)的另一側(cè)，并與所述第二刻痕(3206)相隔一個(gè)大于所述光點(diǎn)(Ls)的一個(gè)第二預(yù)定間距。
29.如權(quán)利要求28所述的光盤(1)，其特征在于所述第一圖案(SP)重復(fù)地形成于所述第二記錄道(33)上，這樣所述第三刻痕(3202)與下一個(gè)所述第一刻痕(3206)之間的間距為大于所述光點(diǎn)(Ls)的一個(gè)第三預(yù)定間距(3201)。
30.如權(quán)利要求28所述的光盤(1)，其特征在于所述第一預(yù)定長(zhǎng)度為6T；所述第二預(yù)定長(zhǎng)度為7T；所述第一預(yù)定間距為3T；所述第三預(yù)定長(zhǎng)度為3T；所述第二預(yù)定間距為7T，所述T為通道的位長(zhǎng)。
31.如權(quán)利要求29所述的光盤(1)，其特征在于所述第三預(yù)定間距(3201)為6T，所述T為通道的位長(zhǎng)。
32.如權(quán)利要求29所述的光盤(1)，其特征在于其中還包括位于所述第二記錄道(33)兩側(cè)的一個(gè)第三和一個(gè)第四記錄道(32和34)，該記錄道用于通過從其中還原的信號(hào)在從所述第二記錄道(33)中還原的信號(hào)(Sd)中產(chǎn)生串?dāng)_。
33.如權(quán)利要求32所述的光盤(1)，其特征在于所述第三和第四記錄道(32和34)中包含多個(gè)隨機(jī)排列的刻痕。
34.如權(quán)利要求32所述的光盤(1)，其特征在于所述第二、第三和第四記錄道(33、32和34)分別具有第一、第二和第三預(yù)定道寬(TP)。
35.如權(quán)利要求34所述的光盤(1)，其特征在于所述第一、第二和第三預(yù)定道寬(TP)是相同的(T1)。
36.如權(quán)利要求34所述的光盤(1)，其特征在于所述第一預(yù)定道寬(T2)小于所述第二和第三預(yù)定道寬(T1)。
37.如權(quán)利要求34所述的光盤(1)，其特征在于所述第一預(yù)定道寬(T1)大于所述第二和第三預(yù)定道寬(T3)。
全文摘要
一種用于通過把光點(diǎn)(Ls)聚焦于光盤(1)的記錄道上,從中還原信號(hào)(Sd)的光盤裝置(P7),其中包括一個(gè)校正數(shù)據(jù)發(fā)生器(220)。該校正數(shù)據(jù)發(fā)生器(220)中帶有多個(gè)存儲(chǔ)著用于使所述被還原發(fā)生抖動(dòng)的各種校正圖案(SP和SR)的ROM(300)。一個(gè)校正數(shù)據(jù)記錄控制器(210)控制校正數(shù)據(jù)發(fā)生器(220)有選擇地向光讀出裝置(Os)輸出一個(gè)特定的校正圖案(SP),以把所述特定圖案(SP)記錄于該光盤(1)的一個(gè)校正數(shù)據(jù)道區(qū)(23)中。
文檔編號(hào)G11B7/09GK1207821SQ96199655
公開日1999年2月10日 申請(qǐng)日期1996年1月16日 優(yōu)先權(quán)日1996年1月16日
發(fā)明者島田敏幸, 東海林衛(wèi), 石田隆, 大原俊次 申請(qǐng)人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社