專利名稱：光學(xué)拾取系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光學(xué)拾取系統(tǒng)；尤其涉及一種通過采用有相位層的分束器而使尺寸減小的光學(xué)拾取系統(tǒng)。
光學(xué)信息記錄盤如激光盤中存在的共同問題之一牽涉到聚焦誤差的發(fā)生，因此，引入了一種解決此問題的象散方法。
在

圖1中示出了一種利用象散法的現(xiàn)有光學(xué)拾取系統(tǒng)100，如同在先專利申請“光學(xué)聚焦裝置”中公開的一樣，在此結(jié)合參考。光學(xué)拾取系統(tǒng)100包括光源110，分束器120，物鏡130，光信息記錄盤140(以下簡稱光盤)，柱面透鏡150和光探測器160。在系統(tǒng)100中，從光源110如激光二極管中發(fā)出的光束112射在分束器120上并被其中的反射面122部分反射。從反射面122反射的光束經(jīng)物鏡130作為一個聚焦的光束聚焦到光盤140的記錄表面。從光盤140反射的聚焦光束通過物鏡130會聚并被部分地透過分束器120，通過其穿過柱面透鏡150產(chǎn)生象散，之后照射到光探測器160的光接收面162上，其中光接收面162被分成四個布局形成正方形的方形光電單元(未示出)。光電單元的每一個以光強度量的形式產(chǎn)生一個輸出。正方形光接收面對角線上的兩個光電單元的輸出被送往第一加法器，從其它兩個光電單元的輸出傳給第二加法器。然后第一和第二加法器的輸出傳送給差分放大器(未示出)，該差分放大器通過比較第一和第二加法器的輸出反過來產(chǎn)生相關(guān)的聚焦誤差，聚焦誤差只是一對加法器的輸出的差。
因為象散，光探測器160的光接收面162上光通量的圖象形狀依據(jù)光盤140的記錄表面144相對于光束會聚點142的位置變化。為探測光通量的圖象形狀的變化，將柱面透鏡150在會聚點142和光探測器160之間以這樣的方式定位，當光束精確聚焦(零聚焦誤差)在記錄表面144并在現(xiàn)有技術(shù)中認為是“恰好聚焦”時，光接收面162上的光通量圖象變?yōu)閳A形。如果光盤140沿著正好聚焦的位置和物鏡130的中心之間形成的光軸方位移動，則聚焦誤差信號變?yōu)榉橇?，還帶有一個表示光盤140記錄表面144從“正好聚焦”處位移方向的符號，由此探測聚焦誤差。
以上描述的光學(xué)拾取系統(tǒng)100的一個主要缺點在于由于柱面透鏡150和光探測器160的位置，二者相對于分束器120放置在光盤140的反側(cè)，因而使光學(xué)拾取系統(tǒng)100的整個尺寸很龐大。
因此，本發(fā)明的一個主要目的是提供一個結(jié)構(gòu)簡單尺寸縮小的光學(xué)拾取系統(tǒng)。
按照本發(fā)明提供了一個用于讀出儲存在光盤中的信息信號的光學(xué)拾取系統(tǒng)，系統(tǒng)包括產(chǎn)生一個包括第一和第二偏振光成份的光束的光源；一個1/4波片用于改變穿過其的光束偏振成份和一個分束器，用于經(jīng)過1/4λ波片向光盤反射第一種偏振成份，并向另一方向反射第二種偏振成份，由此第一種偏振成份可用于從光盤上讀取信息信號。
本發(fā)明的上述和其它目的及優(yōu)點從以下結(jié)合附圖的優(yōu)選實施例的描述中變的更為清晰，其中圖1表示現(xiàn)有光學(xué)頭的側(cè)視圖；圖2表示根據(jù)本發(fā)明的利用本發(fā)明分束器的光學(xué)拾取系統(tǒng)的側(cè)視圖；根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)拾取系統(tǒng)200的側(cè)視圖示于圖2中，它包括一個光源210，如半導(dǎo)體激光器或激光二極管，產(chǎn)生包含P和S分量的波長λ1的光束，1/4λ波片230，物鏡240，光檢測器260，柱面透鏡270及帶有對光束透明的基片224、相位層223的分束器220，其中，分束器220可通過在基片224上淀積配有第一和第二種材料的相位層223來制取，其中第一種材料對入射P偏振光分量的反射率不同于第二種材料對S偏振光分量的反射率，由此相位層223對入射其上的P-和S-偏振光分量產(chǎn)生一個相位角之差。
物鏡240、1/4λ波片230和分束器220的這種布置使得1/4λ波片230設(shè)置在物鏡240和分束器220之間，連接物鏡240的焦點和物鏡240中心的光軸通過1/4λ波片230的中心并以一預(yù)定的角度與分束器220的相位層223相交。光源210的位置使得在從相位層223反射、再透過1/4λ波片之后被物鏡240從那兒會聚的光束將在沿光軸的某點聚焦。
當從光源210發(fā)出的光束射在分束器220上時，由于在入射其上的P-和S-偏振光分量之間產(chǎn)生一個相位角之差，所以分束器220的相位層223分別將光束的S偏振光分量和P偏振光分量反射到不同的方向。其中，光束沿連接光源210和光軸交點的第一連線與分束器的相位層223準直。相位層223的這種設(shè)計使得其在物鏡的方向上反射P偏振光分量透過1/4λ波片230并將S偏振光分量反射到不同的方向，由此將S偏振光分量背離物鏡240的方向，使其在讀出儲存在光盤250中的信息信號時無用。然后，物鏡240把入射其上的P偏振光分量聚焦到光盤250的記錄表面。之后，從光盤250的記錄表面反射的P偏振光分量由物鏡240第一次會聚，再透過1/4λ波片230，由此P偏振光分量被轉(zhuǎn)換成S偏振光分量。由P偏振光分量轉(zhuǎn)換成的S偏振光分量透過分束器220的相位層223被反射到不同于光源210方向的方向上。由分束器220轉(zhuǎn)換的S偏振光束用圖2中的點畫線表示，其中，光檢測器260的中心位于從分束器220的相位層223反射的轉(zhuǎn)換的S偏振光束的焦點處。轉(zhuǎn)換的S偏振光束透過柱面透鏡270，由此把轉(zhuǎn)換的S偏振光束變成象數(shù)光束，并然后使光檢測器260利用象散法檢測聚焦誤差信號。第一和第二連線之間的夾角小于90度，其中，第二連線通過連接光檢測器260的中心和光軸與相位層223的交點而形成。另外，光檢測器260設(shè)置在光源210和物鏡240之間，因此減小了光學(xué)拾取系統(tǒng)整體的尺寸。轉(zhuǎn)換的S偏振光束從分束器220的相位層223到光檢測器260的光程等于從光源210到分束器220的相位層223的光程。
光檢測器260能夠測量探測到的光束的強度。從分束器220的相位層223反射之后透過柱面透鏡的被轉(zhuǎn)換的S偏振光束即象散光束射在光檢測器260上，由此使得光學(xué)拾取系統(tǒng)200能夠再現(xiàn)光盤250記錄表面上的信息信號。
與現(xiàn)有技術(shù)中的光學(xué)拾取系統(tǒng)100相比，本發(fā)明的光學(xué)拾取系統(tǒng)200具有簡單的結(jié)構(gòu)。這是通過在其中采用分束器220來實現(xiàn)的，分束器220具有相位層223，相位層223是通過涂覆能夠?qū)⑷肷淦渖系拿恳环N偏振光分量反射到不同方向的第一和第二種材料形成的，其中第一種材料對P偏振分量的反射率不同于第二種材料對S偏振光分量的反射率，由此減小了光學(xué)拾取系統(tǒng)200的縱向尺寸。
在參考優(yōu)選實施例對本發(fā)明進行描述的同時，可在不背離由下列權(quán)利要求提出的本發(fā)明實質(zhì)和范圍下作各種修改和變化。
權(quán)利要求
1.一種用于讀出儲存在光盤上的信息信號的光學(xué)拾取系統(tǒng)，系統(tǒng)包括產(chǎn)生包括第一和第二偏振分量的光束的裝置；一個1/4λ波片用于改變穿過其的光束偏振成份的；光學(xué)裝置，將第一偏振分量經(jīng)1/4λ波片反射向光盤并將另一種分量反射到不同于光盤方向的方向上，由此僅用第一偏振分量從記錄表面讀取信息信號。
2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其特征在于還包括一個檢測光盤上信息信號的裝置。
3.如權(quán)利要求2所述的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其特征在于還包括一個將光束聚焦到光盤上并通過光學(xué)裝置把從光盤反射的光束會聚到檢測器上的物鏡，其中，該光學(xué)裝置可將入射其上的光束的第二偏振分量反射到探測裝置上，從光盤反射的光束的第一偏振分量在入射到光學(xué)裝置之前通過1/4λ波片轉(zhuǎn)換成第二偏振分量，因而，使光學(xué)拾取系統(tǒng)能從記錄表面讀取信息信號。
4.如權(quán)利要求3所述的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其特征在于光學(xué)裝置包括一個由玻璃和相位層構(gòu)成的基片，其中相位層將每種偏振分量反射到不同的方向上，每種偏振分量具有彼此不同的相位角。
5.如權(quán)利要求4所述的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其特征在于相位層由通過在其表面交替地涂覆第一和第二種材料而制成。
6.如權(quán)利要求5所述的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其特征在于光學(xué)裝置以與光軸成一預(yù)定角傾斜這樣的方式布置，而光軸由連接物鏡的中心點和物鏡的焦點的連線構(gòu)成。
7.如權(quán)利要求6所述的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其特征在于產(chǎn)生裝置放置的位置使得從其發(fā)出的光束的第一偏振部分在從光學(xué)裝置反射之后被物鏡聚焦在沿光軸的一點處，其中光束沿連接產(chǎn)生裝置和光軸交點的第一連線與光學(xué)裝置的相位層準直。
8.如權(quán)利要求7所述的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其特征在于檢測裝置放置在從相位層反射的光束的第二偏振分量的焦點處，而從光盤反射的光束第一分量在經(jīng)過1/4λ波片之后轉(zhuǎn)換成第二偏振分量。
9.如權(quán)利要求8所述的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其特征在于第一和第二連線間的夾角小于90度，第二連線通過連接檢測裝置的中心和光軸與光學(xué)裝置相位層的交點而形成。
10.如權(quán)利要求3所述的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其特正在于還包括一個柱面透鏡，當光束透過時產(chǎn)生象散。
11.如權(quán)利要求10所述的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其特征在于在光學(xué)裝置和物鏡之間放置1/4λ波片。
12.如權(quán)利要求11所述的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其特征在于在1/4λ波片和光盤之間放置物鏡。
全文摘要
光學(xué)拾取系統(tǒng),用于讀出儲存在光盤記錄面上的信息信號。光學(xué)拾取系統(tǒng)包括:產(chǎn)生一個包括P和S偏振光成分的波長λ
文檔編號G11B7/12GK1181585SQ97122589
公開日1998年5月13日 申請日期1997年9月30日 優(yōu)先權(quán)日1996年9月30日
發(fā)明者崔良吾 申請人:大宇電子株式會社