專利名稱：記錄媒體及其再生裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及能夠進行數(shù)據(jù)的記錄及其再生的磁光記錄媒體(以下簡單地稱為「盤」)及其再生裝置。
背景技術(shù)：
在微型盤中，刻入對應(yīng)于用地址信息把用于旋轉(zhuǎn)的作為同步信號的載波進行FM調(diào)制了的信號的波形形狀的紋，該紋用于旋轉(zhuǎn)控制和地址信息的檢測。而且，該信息的記錄再生方法一般稱為擺動法。
另外，在刻入了上述那樣的紋，并且在紋與紋之間的紋間進行記錄的盤中，也提出擺動法。
圖84示出現(xiàn)有的盤再生裝置的結(jié)構(gòu)。
如圖84所示，該盤再生裝置為了讀出地址信息，使用衍射光柵把從光拾取頭(未圖示)的激光光源發(fā)出的激光光束分為主光束和2個子光束，在紋的中心跟蹤控制主光束時，根據(jù)來自主光束的推挽信號讀出地址信息，在紋間的中心跟蹤控制主光束時，根據(jù)來自子光速的推挽信號讀出記錄在紋中的地址信息。
現(xiàn)有的盤由于在紋和紋間中記錄數(shù)據(jù)，故與僅在紋中記錄數(shù)據(jù)的情況相比記錄道的總長度為其2倍。然而，為了僅在紋中記錄地址信息，需要用于把從光拾取頭的激光光源發(fā)出的激光光束分為主光束和2個子光束共3個光束的衍射光柵等的光學(xué)部件。
在這樣現(xiàn)有的所謂“3光束方式”中，存在著不能夠有效地利用從激光光源發(fā)出的激光光束的功率這樣的問題。
發(fā)明的公開本發(fā)明的目的在于提供不僅向紋而且向紋間進行數(shù)據(jù)的記錄再生時，都能夠用1個激光光束讀取通過使紋兩側(cè)的側(cè)壁擺動而記錄了的地址信息的記錄媒體以及其再生裝置。
該目的通過提供如下的記錄媒體而實現(xiàn)，該記錄媒體具備包含至少一方的寬度發(fā)生變化的紋間以及第1紋的地址識別部分，包含對于1個數(shù)據(jù)具有對應(yīng)于2個地址信息擺動的側(cè)壁，具有一定寬度，并且與第1紋連接的第2紋的地址單元。
另外，本發(fā)明的目的通過提供再生裝置而實現(xiàn)，這是再生上述記錄媒體的再生裝置，具備在上述記錄媒體上照射光并檢測反射光的檢測電路，響應(yīng)通過上述檢測電路檢測出來的反射光再生地址信息的地址信息再生電路，響應(yīng)由上述檢測電路檢測出的來自地址識別部分的反射光再生地址識別信息的地址識別信息再生電路，響應(yīng)由地址識別信息再生電路再生的1個地址識別信息，選擇用地址信息再生電路再生了的2個地址信息中某1個的選擇電路。
而且，該發(fā)明的主要優(yōu)點在于由于在再生裝置中減少所需的光學(xué)部件的數(shù)目的同時能夠提高用于數(shù)據(jù)再生的照射在記錄媒體上的激光光束的強度，因此能夠使用具有比現(xiàn)有裝置更簡單構(gòu)造的再生裝置，實現(xiàn)更可靠的數(shù)據(jù)再生。
附圖的簡單說明

圖1是示出本發(fā)明實施形態(tài)1的盤的構(gòu)造的透視圖。
圖2A～2E示出圖1所示的盤的格式。
圖3示出圖2所示的地址標記部分的盤的平面構(gòu)造。
圖4示出在圖2所示的表示地址部分的平面構(gòu)造的圖中光束點掃描紋的情況。
圖5示出在圖2所示的表示地址部分的平面構(gòu)造的圖中光束點掃描紋間的情況。
圖6是示出設(shè)置在實施形態(tài)1的盤的外周部的TOC區(qū)域的構(gòu)造的透視圖。
圖7示出實施形態(tài)1的再生裝置的結(jié)構(gòu)。
圖8A～8D示出從包含在圖7所示的再生裝置中的比較器輸出的地址識別信號的波形。
圖9是示出本發(fā)明實施形態(tài)2的盤的數(shù)據(jù)部分的構(gòu)造的透視圖。
圖10示出地址部分以及數(shù)據(jù)部分中的擺動用的2值信號的一例。
圖11和圖12是示出本實施形態(tài)2的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖13A～13D示出本發(fā)明實施形態(tài)2的盤的格式。
圖14A示出圖13C中所示的地址部分在盤上的配置，圖14B示出通過地址部分的再生得到的擺動信號，圖14C示出地址信息的內(nèi)容。
圖15是示出本發(fā)明實施形態(tài)2的再生裝置結(jié)構(gòu)的框圖。
圖16A、16B示出使用圖15所示的再生裝置生成的同步信號。
圖17，圖18以及圖19示出圖15所示的再生裝置的再生特性。
圖20用于說明時標擺動的形成部分中的數(shù)據(jù)再生。
圖21是示出時標擺動的構(gòu)造的平面圖。
圖22是示出本發(fā)明實施形態(tài)3的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖23A～23D示出本實施形態(tài)3的盤的格式。
圖24A示出圖23C所示的地址部分在盤上的配置，圖24B示出通過地址部分的再生得到的擺動信號，圖24C示出地址的內(nèi)容。
圖25是示出本發(fā)明實施形態(tài)4的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖26是示出本發(fā)明實施形態(tài)5的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖27是示出本發(fā)明實施形態(tài)6的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖28是示出本發(fā)明實施形態(tài)7的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖29A～29D示出本實施形態(tài)7的盤的格式。
圖30A～30C是用于說明本實施形態(tài)7的盤的再生的波形圖。
圖31是示出本發(fā)明實施形態(tài)8的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖32A～32C用于說明基于精確時鐘標記的檢測的偏置校正的原理。
圖33示出本發(fā)明本實施形態(tài)8的再生裝置的結(jié)構(gòu)。
圖34是示出本發(fā)明實施形態(tài)9的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖35是示出本發(fā)明實施形態(tài)10的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖36是示出本發(fā)明實施形態(tài)11的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖37是示出本發(fā)明實施形態(tài)12的盤的構(gòu)造的透視圖。
圖38是示出本發(fā)明實施形態(tài)12的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖39是示出圖37以及圖38中所示的擺動的構(gòu)造的平面圖。
圖40A～40D用于說明基于雙相調(diào)制方式的地址信息的記錄。
圖41是示出本實施形態(tài)12的盤的地址部分的構(gòu)造的平面圖。
圖42示出本實施形態(tài)12的盤的地址部分的格式。
圖43是示出用于制造本實施形態(tài)12的盤的刻紋裝置結(jié)構(gòu)的框圖。
圖44是示出本實施形態(tài)12的再生裝置結(jié)構(gòu)的框圖。
圖45用于說明圖44所示的再生裝置中的擺動的檢測。
圖46A、46B是用于說明圖45所示的擺動檢測電路動作的波形圖。
圖47示出本實施形態(tài)12的盤的再生特性。
圖48示出本發(fā)明實施形態(tài)13的擺動檢測電路的結(jié)構(gòu)。
圖49是示出本發(fā)明實施形態(tài)14的刻紋裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖50A～50C是用于說明圖49所示的刻紋裝置動作的波形圖。
圖51是示出本發(fā)明實施形態(tài)15的刻紋裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖52是示出本發(fā)明實施形態(tài)16的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖53是示出本發(fā)明實施形態(tài)17的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖54是示出本發(fā)明實施形態(tài)18的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖55是示出本發(fā)明實施形態(tài)19的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖56是示出本發(fā)明實施形態(tài)20的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖57A～57D用于說明照射到盤上的激光的位置與所得到的數(shù)據(jù)再生信號的關(guān)系。
圖58A～58F用于說明為了除去漏泄量(leak-inquantity)的跟蹤控制方法。
圖59是示出本發(fā)明實施形態(tài)21的再生裝置結(jié)構(gòu)的框圖。
圖60示出圖59所示的跟蹤校正電路的結(jié)構(gòu)。
圖61示出圖59所示的跟蹤校正電路的結(jié)構(gòu)的其它例。
圖62是示出本發(fā)明實施形態(tài)22的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖63示出本實施形態(tài)22的漏泄消除電路的結(jié)構(gòu)。
圖64A～64C是用于說明圖63所示電路的動作的波形圖。
圖65示出本發(fā)明實施形態(tài)23的漏泄消除電路的結(jié)構(gòu)。
圖66用于說明圖65所示電路的動作。
圖67是示出本發(fā)明實施形態(tài)24的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖68示出本發(fā)明實施形態(tài)25的漏泄消除電路的結(jié)構(gòu)。
圖69A～69C是用于說明圖68所示電路動作的波形圖。
圖70示出本實施形態(tài)25的漏泄消除電路的結(jié)構(gòu)。
圖71是用于說明圖70所示電路動作的波形圖。
圖72A～72D是用于說明本發(fā)明實施形態(tài)26的漏泄消除方法原理的波形圖。
圖73是示出本發(fā)明實施形態(tài)27的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖74是示出本實施形態(tài)27的盤的構(gòu)造的透視圖。
圖75是示出本實施形態(tài)27的盤的構(gòu)造的平面圖。
圖76示出本實施形態(tài)27的數(shù)據(jù)記錄再生裝置的結(jié)構(gòu)。
圖77用于說明本實施形態(tài)27的盤的再生。
圖78A～78D是用于說明圖76所示的數(shù)據(jù)記錄再生裝置動作的時序圖。
圖79示出圖76所示的同步信號生成電路的結(jié)構(gòu)。
圖80A～80C用于說明記錄在本實施形態(tài)27的盤中的地址信息。
圖81A、81B以及圖82用于說明作為擺動記錄的地址信息的檢測。
圖83示出圖76所示的地址檢測電路的結(jié)構(gòu)。
圖84示出現(xiàn)有的盤及其再生裝置的結(jié)構(gòu)。
用于實施發(fā)明的最佳形態(tài)以下，參照附圖詳細地敘述本發(fā)明的盤及其記錄再生裝置等。另外，圖中相同的符號表示相同或者相當?shù)牟糠帧?br> 實施形態(tài)1圖1是示出本發(fā)明實施形態(tài)1的盤的構(gòu)造的透視圖。
如圖1所示，在該盤的表面，從盤的內(nèi)周向外周旋渦狀地刻著槽(紋)3。這里，在盤的玻璃底盤上，在校對環(huán)規(guī)(master ring)工序中，通過對應(yīng)于以頻偏±50KHz用雙相信號把1.1MHz的載波調(diào)制了的擺動信號進行削刻，形成紋3。
另外，載波的頻率雖然由分配給盤總體的地址數(shù)決定，然而最好設(shè)定在200KHz～10MHz的范圍。
設(shè)置在這樣形成了紋3的兩側(cè)的側(cè)壁上的擺動的振幅沿盤半徑(跟蹤)方向大約是30nm～50nm。另外，紋3的深度大致取為激光波長的1/6～1/12，使得減少來自記錄在紋間4和紋3中的相鄰的記錄道的交調(diào)失真。
進而，紋間4和紋3的間距是0.55μm。這里，盤上的紋間或者紋的各個記錄道由環(huán)形的60個區(qū)域構(gòu)成，在其再生時，進行各區(qū)域的轉(zhuǎn)速恒定的所謂CAV(Constant Average Velocity)控制。
從而，使得基于該控制的線速度在各區(qū)域中基本上成為恒定，盤在內(nèi)周側(cè)的區(qū)域中以大轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn)，在外周側(cè)的區(qū)域中以小轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn)。
圖2A～2E示出圖1所示的盤的格式。如圖2A所示，在1個記錄道中包含Nf個幀，具體地講，在內(nèi)周部分的區(qū)域內(nèi)盤旋轉(zhuǎn)1次期間的記錄道中包含42個幀，外周部分的區(qū)域內(nèi)盤旋轉(zhuǎn)1次期間的記錄道中包含101個幀。而且，各個幀如圖2B所示，包含26個段，其中只有位于起始的地址段上記錄著地址信息。另外，數(shù)據(jù)記錄在接續(xù)在地址段的25個數(shù)據(jù)段中，該數(shù)據(jù)段的部分中紋的側(cè)壁不擺動。
另外，如圖2C和圖2D所示，在各個段的起始記錄著精確時鐘標記20，由此進行盤的旋轉(zhuǎn)控制。該精確時鐘標記的振幅與地址信息相同沿著盤半徑方向取為大致30nm～50nm。另外，該精確時鐘標記是能夠生成數(shù)據(jù)讀出用的時鐘信號的信號，能夠?qū)崿F(xiàn)不具有時鐘成分的數(shù)據(jù)的調(diào)制方式。
另外，如圖2C所示，地址段中，連接在精確時鐘標記20以后，順序記錄著預(yù)約信息(Rvd)，地址標記(AM)，報頭(PA)，地址1，地址2，報頭(PA)，讀出/寫入(R/W)試驗信息。這里，地址1以及地址2分別示出記錄在紋中的數(shù)據(jù)或者記錄在紋間的數(shù)據(jù)的位置。而且，各個地址1、2中，如圖2D所示，從起始開始順序把記錄著4比特同步圖形(Sync),24比特的地址數(shù)據(jù)，6比特的預(yù)約信息(Rvd),14比特的檢錯碼(CIC-Cyclic Redundancy Code)。
另外，根據(jù)盤的容量和地址的設(shè)定方法，這些比特數(shù)可變，連接在地址數(shù)據(jù)后面的部分例如還能夠作為擺動記錄數(shù)據(jù)的記錄或者再生時的激光功率的條件設(shè)定以及代替地址標記功能的信息等的與盤有關(guān)的固有的信息。
進而，關(guān)于地址信息的編碼方式也不限于雙相碼，也可以使用曼徹斯特碼和NRZ、NRZI碼等。
另外，如圖2B所示，各幀中的數(shù)據(jù)由被分離在各區(qū)的25個數(shù)據(jù)段構(gòu)成，然而并不限定于此，也可以是不被分離在各區(qū)內(nèi)的數(shù)據(jù)。
另外，如圖2D所示，各個數(shù)據(jù)段中，在精確時鐘標記20之后包括前區(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)、后區(qū)。
圖3示出圖2C所示的地址標記(AM)部分的盤的平面構(gòu)造。如圖3所示，通過形成奇數(shù)紋30和偶數(shù)紋3E并且使得它們的相位相反，記錄地址標記。即，紋30形成為其寬度一定，中心以區(qū)間L0為基準，在區(qū)間L1中向下偏移0.1μm，在區(qū)間L2中向上偏移0.1μm。另一方面，紋3E形成為其寬度與紋30相同，中心以區(qū)間L0為基準，在區(qū)間L1中向上偏移0.1μm，在區(qū)間L2中向下偏移0.1μm。另外，通過形成這些紋3O、3E，被夾在紋3O和紋3E中的紋間4E的寬度在區(qū)間L1中為0.35μm，在區(qū)間L2中為0.75μm。另一方面，被夾在紋3E和紋3O之間的紋間4O的寬度在區(qū)間L1中為0.75μm，在區(qū)間L2中為0.35μm。這些地址標記是記錄用于識別被記錄在紋3O、3E以及紋間4E、4O中的如圖2C所示的地址1、地址2中對應(yīng)于當前正在記錄或者正在再生的數(shù)據(jù)的某一方的地址的標記。
圖4以及圖5示出記錄了圖2C所示的地址1，地址2的盤的平面構(gòu)造。如圖4以及圖5所示，紋3O、3E具有一定寬度的同時，還具有對應(yīng)于地址信息1、m、n擺動的側(cè)壁。另外，紋間4E、4O中，通過擺動紋3O、3E的兩側(cè)壁，記錄地址信息(n)、(m)。
另外，圖中“NG”表示不記錄地址信息。
圖6是示出盤的外周部分使用的TOC(Table Of Content)區(qū)域的構(gòu)造的透視圖。
如圖6所示，在TOC區(qū)中，以在紋82側(cè)壁使用的擺動83記錄數(shù)據(jù)記錄時的激光功率、數(shù)據(jù)再生時的激光功率的各個信息，同時以凹槽84在紋82或者紋間81的平坦部分上記錄盤的旋轉(zhuǎn)速度等其它的信息。在這里，設(shè)置在紋82的兩側(cè)壁的擺動83具有頻率200KHz～10MHz的范圍，TOC區(qū)的長度從盤的外周起是160μm左右。
通過照射激光光束再生這樣用紋和凹槽列記錄的TOC信息。這里，通過用紋和凹槽列記錄TOC信息能夠高密度地記錄TOC信息，而且能夠高速地再生TOC信息。
圖7示出本發(fā)明實施形態(tài)1的再生裝置的結(jié)構(gòu)。如圖7所示，該再生裝置具有由感光面被4分割了的區(qū)域構(gòu)成的光檢測器113，連接光檢測器113的放大器241、253，連接放大器253的比較器254，連接比較器254的地址標記檢測器100，連接放大器241的低通濾波器(LPF)242，連接LPF 242的反相放大器255以及切換跟蹤極性的開關(guān)SW，連接放大器241的帶通濾波器(BPF)256，連接BPF 256的比較器245，連接比較器245的地址標記檢測器110。
從光拾取頭的激光光源發(fā)出的激光光束通過準直透鏡后，從半透鏡入射到物鏡，在盤上聚焦形成圖4以及圖5所示的光束點12。
激光振蕩波長λ=635nm(允許范圍620-650nm，以下相同)，物鏡數(shù)值孔徑NA=0.6(允許范圍0.55-0.65，以下相同)，激光光束的聚光點尺寸大約是0.9μm(允許范圍0.80-1.0μm，以下相同)。來自光束點的反射光由光檢測器113變換為電信號。具體地講，在放大器241中，取對應(yīng)于由光檢測器113的區(qū)域113a、113d檢測出的光強度的信號(A+D)與對應(yīng)于由區(qū)域113b、113c檢測出的光強度的信號(B+C)的差，生成推挽信號，進而作為LPF 242的輸出獲得跟蹤誤差信號。另外，通過取對應(yīng)于由區(qū)域113a、113c檢測出的光的信號(A+C)與對應(yīng)于由區(qū)域113b、113d檢測出的光的信號(B+D)的差，生成象散法中的聚焦誤差信號。
跟蹤誤差信號以及用反相放大器255將其反轉(zhuǎn)了的信號輸入到開關(guān)SW的端子，開關(guān)SW選擇性地把其中某一方供給到伺服電路257。
由此，例如像圖4所示那樣在紋3E的中心跟蹤控制光束點12。
另外，在該狀態(tài)下通過把從放大器241輸出的推挽信號輸入到BPF265中，從比較器245輸出擺動信號。
這里，BPF 256的頻帶中心頻率是1.1MHz，去除了噪聲的信號輸出到比較器245中。比較器245把被輸入的信號進行波形整形輸出由矩形波構(gòu)成的擺動信號。
從該比較器245輸出的矩形波輸入到FM解調(diào)器258中，F(xiàn)M解調(diào)器258把雙相碼解調(diào)后輸出到NRZ解調(diào)器259中。NRZ解調(diào)器259從雙相碼解調(diào)作為地址(ATIP)的NRZ信號。這樣得到的地址被輸入到系統(tǒng)控制器268中。
在這里，例如，在光束點12掃描圖4所示的紋3E的中心的情況下，對于1個數(shù)據(jù)，2個地址信息m、n被讀取到系統(tǒng)控制器268中。
接著，說明對于被讀取到系統(tǒng)控制器268中的1個數(shù)據(jù)的2個地址中的某一方的選擇動作。
首先，如圖3所示，光檢測器113從左向右掃描紋3O的中心線OGL的情況下，從比較器245輸出圖8C所示的地址識別信號AMG1，地址標記檢測器110把選擇地址1的信號供給到系統(tǒng)控制器268。
另一方面，光檢測器113從左向右掃描紋3E的中心線EGL的情況下，從比較器245輸出圖8D所示的地址識別信號AMG2，地址標記檢測器110把選擇地址2的信號供給到系統(tǒng)控制器268。
這樣，系統(tǒng)控制器268選擇1個地址信息識別與被記錄到紋3O、3E的1個數(shù)據(jù)相對應(yīng)的1個地址。從而，在圖4所示的情況下，由系統(tǒng)控制器268識別地址信息n。
另外，上述動作主要是系統(tǒng)控制器268指示紋3O、3E中的數(shù)據(jù)的記錄或者再生的情況的說明，以下，說明系統(tǒng)控制器268指示紋間4O、4E中的數(shù)據(jù)的記錄或者再生的情況。
例如，如圖5所示，在光束點12照射紋間4E的中心并且從左向右進行掃描的情況下，作為地址1雖然不讀取地址信息(NG)，然而作為地址2讀取地址信息(n)。
另一方面，由于在放大器253中取信號(A+D)與信號(B+C)的和，其結(jié)果被輸入到比較器254中，因此作為來自盤的反射光量的變化檢測紋間的寬度變化。這里，在光檢測器113從左向右掃描紋間4E的中心線ELL的情況下，從圖7所示的比較器254輸出圖8B所示的地址識別信號AML2，地址標記檢測器100把選擇地址2的信號供給到系統(tǒng)控制器268。
另外，在光檢測器113從左向右掃描圖3所示的紋間4O的中心線OLL的情況下，從圖7所示的比較器254輸出圖8A所示的地址識別信號AML1，地址標記檢測器100把選擇地址1的信號供給到系統(tǒng)控制器268。
從而，在圖5所示的情況下，對于被記錄到紋間4E的1個數(shù)據(jù)，作為1個地址由系統(tǒng)控制器268識別地址信息(n)。
另外，控制光束點12使得照射紋間4O、4E的中心的情況下，開關(guān)SW通過系統(tǒng)控制器268切換為使得被反轉(zhuǎn)了的跟蹤誤差信號供給到伺服電路257。
另外，由于本實施形態(tài)中的盤如上述那樣構(gòu)成，因此除去光磁記錄媒體以外即使是CD-WO(改寫型)盤和相變盤，或者，所謂的微型盤也認為相同。另外用于制造本實施形態(tài)中的盤的玻璃底盤，在刻紋工藝中，通過使用以頻偏±50KHz由雙相信號把1.1MHz的載波進行FM調(diào)制了的擺動信號形成，然而也可以不進行FM調(diào)制直接把雙相信號用作為擺動信號形成紋。
另外，在上述的說明中，設(shè)置在紋3O、3E中的擺動的振幅沿著盤的半徑方向取為30nm-50nm，然而不限定于此，也可以是10nm-50nm的范圍。
實施形態(tài)2
圖9是示出本發(fā)明實施形態(tài)2的盤中的數(shù)據(jù)記錄部分(以下也簡單地稱為「數(shù)據(jù)部分」)的構(gòu)造的透視圖。本實施形態(tài)的盤與上述實施形態(tài)1的盤相同，是能夠在紋間4和紋3的兩方進行磁的數(shù)據(jù)記錄再生的盤，但如圖9所示，在盤的數(shù)據(jù)部分中生成用于盤的旋轉(zhuǎn)控制時以及數(shù)據(jù)的記錄再生時所需要的同步信號的紋3方面不同。該紋3具有一定的寬度，具有周期性的擺動的側(cè)壁。另外，以下把在該數(shù)據(jù)部分中形成的擺動351稱為「時標擺動」。
這里，時標擺動351的周期設(shè)定為記錄數(shù)據(jù)的比特時鐘頻率16MHz的1/8的2MHz，使得能夠與記錄數(shù)據(jù)同步。而考慮到用于形成紋3的設(shè)備和再生系統(tǒng)電路中的頻率特性，最好設(shè)定在大約200KHz到10MHz的范圍。另外，也可以是從50KHz至10MHz的范圍。
另外，設(shè)置在紋3的兩側(cè)壁上的時標擺動351的振幅沿著盤的半徑方向大致是10nm～50nm。
盤上的紋間4或者紋3的各記錄道由環(huán)形的60個區(qū)域構(gòu)成，在其每個區(qū)域中進行轉(zhuǎn)速恒定的所謂CAV控制。這里，該轉(zhuǎn)速恒定的區(qū)域數(shù)越多則越能夠謀求有效利用盤上可以記錄數(shù)據(jù)的面積。
時標擺動351如圖9所示，對于盤上的紋3以及紋間4的各個記錄道，遍及其整體，在把紋間4夾在中間而形成的2個相鄰的紋3的側(cè)壁以相同的波形形狀擺動，因此在轉(zhuǎn)速恒定的60個區(qū)域內(nèi)能夠放射性地排列使相位相同的擺動。
圖10示出地址段(地址部分)以及數(shù)據(jù)段(數(shù)據(jù)部分)中擺動用2值信號的一例。如圖10所示，對于本實施形態(tài)的盤的數(shù)據(jù)段部分其結(jié)果作為雙相數(shù)據(jù)的值全部記錄著0(或者1)。從而，作為擺動，在地址段部分中記錄把地址信息的數(shù)據(jù)進行雙相調(diào)制了的信號，或者在數(shù)據(jù)段部分中記錄著把其值為0(或者1)的數(shù)據(jù)進行了雙相調(diào)制了的信號。
圖11示出本實施形態(tài)2的盤的平面構(gòu)造。如圖11所示，該盤具有一定的寬度，而且在地址部分中，對應(yīng)于地址1、PA1等兩側(cè)壁以相同的相位擺動，另外，對應(yīng)于地址識別信息，相鄰的紋3O、3E的側(cè)壁以相反相位擺動，在間隔之后的數(shù)據(jù)部分中，具有兩側(cè)壁形成時標擺動351的紋3O、3E。
圖12更具體地示出圖11所示的構(gòu)造，示出在地址部分中形成了對應(yīng)于紋間用地址1的擺動172，對應(yīng)于紋用地址2的擺動173的盤的平面構(gòu)造。
這些地址1以及地址2通過圖11所示的地址標記進行識別。而且，該識別方法與在上述實施形態(tài)1中說明過的方法相同。
圖13A～13D示出本實施形態(tài)的盤的格式。如圖13A所示，盤的1個記錄道(1周)分為Nf個幀。而且，各幀如圖13B所示，具有2720字節(jié)的長度，分為具有96字節(jié)長度的地址部分，具有2624字節(jié)長度的數(shù)據(jù)部分。其中，主要在數(shù)據(jù)部分中使用NRZI調(diào)制或(1-7)調(diào)制記錄再生磁光信號(數(shù)據(jù))。
這種情況下，如果被記錄數(shù)據(jù)的比特密度為0.22μm/比特，則每幀的長度是4.7872mm，如果被記錄數(shù)據(jù)的比特密度是0.20μm/比特，則每幀的長度是4.352mm。從而，與致密盤(CD)相同在12cm尺寸的盤的情況下，每1個記錄道的幀數(shù)Nf是30～87個左右。
其次，如果設(shè)圖13C所示的地址部分具有96字節(jié)的長度，并且把地址部分的最小的1個擺動周期作為「1個字節(jié)」，則1個擺動周期的盤上的長度為1.60～1.76μm的范圍。另外，在盤上分別為報頭(PA)1，報頭(PA)2提供4字節(jié)的長度，為地址1、地址2各提供42字節(jié)的長度，為地址標記(AM)提供2字節(jié)的長度，為報頭(PA)3和間隔各提供1字節(jié)的長度。
這種情況下，作為實際的數(shù)據(jù)長度，報頭(PA)1、報頭(PA)2分別具有4比特，地址1、地址2分別具有42比特，地址標記(AM)具有2比特，報頭(PA)3、間隔分別具有1比特。
進而，如圖13D所示，數(shù)據(jù)部分具有2624字節(jié)的長度，其中，報頭(PA)4具有24字節(jié)，數(shù)據(jù)區(qū)具有2592字節(jié)，報頭(PA)5具有8字節(jié)的長度。這里，具有2592字節(jié)長度的數(shù)據(jù)區(qū)包括具有2048字節(jié)長度的用戶可記錄區(qū)，具有32字節(jié)長度的記錄著記錄信號的DC成分抑制用數(shù)據(jù)的區(qū)域，記錄用于糾錯的數(shù)據(jù)的區(qū)域等。
這種情況下，如果使16字節(jié)的長度對應(yīng)于用于生成為了進行數(shù)據(jù)記錄和再生的同步信號的時標擺動的1個周期，則盤上的1個時標擺動的長度在比特密度是0.22μm/比特的情況下為28.16μm，比特密度是0.20μm/比特的情況下為25.6μm。而且，這時，在1幀中的數(shù)據(jù)部分內(nèi)，存在164個時標擺動。
從而，1個記錄道中存在60個幀，如果盤以1500rpm旋轉(zhuǎn)，則時標擺動的頻率成為255KHz。利用該時標擺動的頻率由PLL電路生成用于記錄再生數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)同步信號。
這里，例如作為數(shù)據(jù)調(diào)制方式使用NRZI的情況下，數(shù)據(jù)同步信號的頻率成為32.64MHZ,PLL電路的分頻比設(shè)定為1/128。另外，1個擺動的長度不限于16字節(jié)，例如，也能夠?qū)?yīng)于4字節(jié)，8字節(jié)或者20字節(jié)等的長度。這種情況下，雖然時標擺動的頻率不同于255KHz，然而可以把生成數(shù)據(jù)同步信號的PLL電路的分頻比設(shè)定為適當?shù)闹?。本實施例中的盤中，時標擺動1個周期的長度取為5～50μm的范圍。
圖14A示出圖13C所示的地址部分在盤上的配置，圖14B示出基于地址部分的再生的擺動信號，圖14C示出地址信息的內(nèi)容。
在地址1、地址2上分別記錄42比特的信息，如圖14C所示，各地址包括表示記錄道1周中順序的8比特構(gòu)成的幀地址，表示從內(nèi)周或者外周計數(shù)盤總體的記錄道的通用編號的16比特構(gòu)成的記錄道地址，由4比特構(gòu)成的同步信號(Sync)，由14比特構(gòu)成的檢錯碼(CRC)。從而，在格式上，1個記錄道中能夠最大包含256個幀。盤總體能夠具有最大65536個記錄道。
圖14A所示的PA1、PA2以及PA3作為用于正確地檢測地址1、地址2以及地址標記(AM(O)、AM(E))的報頭和報尾。為了記錄這些信號使用的擺動的振幅取為大致相同。
更具體地講，在紋3O、3E與紋間4O、4E的寬度的比例大致為1比1，紋3O、3E的間距是1.0～1.28μm的情況下，需要把該振幅取為15～150nm。特別是為了把擺動信號的信噪比取為一定的范圍，正確地檢測地址標記，最好為25～70nm。
另外，地址標記的記錄方法以及基于地址標記的地址的識別方法與在上述實施形態(tài)1中說明過的相同，而為了可靠地進行該識別，作為地址標記的擺動的振幅，在紋3O、3E與紋間4O、4E的寬度的比率大致為1比1，紋3O、3E的間距在1. 0～1.28μm的情況下，最好為30～150nm范圍的值，更理想的是取60～120nm范圍的值。
另外，當1個擺動的周期大于1.2μm時將改善地址部分的誤碼率和范圍，能夠更高精度地進行再生。另一方面，如果加長其周期，則由于數(shù)據(jù)格式效率降低，因此作為周期長度需要設(shè)定為1.2～5μm范圍的長度。這一點不限于磁光記錄媒體，相變盤，染色型或者金屬型的改寫型的光盤中也適用。
圖15示出再生本實施形態(tài)的盤的再生裝置的結(jié)構(gòu)。如圖15所示，該再生裝置雖然具有與圖7所示的再生裝置相同的結(jié)構(gòu)，但不同之處在于還具有連接放大器241的地址解調(diào)用帶通濾波器244，連接地址解調(diào)用帶通濾波器244的FM解調(diào)器53，連接FM解調(diào)器53的雙相解調(diào)電路54，連接雙相解調(diào)電路54的地址譯碼器57，連接比較器245的PLL電路246、247，時鐘分配電路562。另外，PLL電路247還包括分頻器271，相位比較器272，低通濾波器(LPF)273，壓控振蕩器(VCO)274。
其次，說明該再生裝置的動作?；谟晒鈾z測器113的區(qū)域113a、113d檢測出的反射光的信號(A+D)與基于由區(qū)域113b、113c檢測出的反射光的信號(B+C)輸入到放大器241，從放大器241把表示其差的信號[(A+D)-(B+C)]供給到LPF 242，擺動檢測用窄帶帶通濾波器252，地址解調(diào)用帶通濾波器244中。
這里，供給到擺動檢測用窄帶帶通濾波器256的信號[(A+D)-(B+C)]被截斷其高頻成分以及低頻成分，基于圖16A所示那樣形成在數(shù)據(jù)部分的時標擺動351的波形175輸入到比較器245中。比較器245把輸入波形175進行2值化，把如圖16A所示那樣決定從下向上切斷基軸BL的時刻T1、T2、Tn的2值化的信號供給到PLL電路246、247中。而且，PLL電路246、247分別響應(yīng)從比較器245供給的信號，生成圖16B所示的同步信號。在PLL電路246中生成的同步信號為了進行盤的旋轉(zhuǎn)控制供給到伺服電路257中，另外，經(jīng)過時鐘分配電路56供給到FM解調(diào)電路53，雙相解調(diào)電路54以及地址譯碼器57中。另一方面，在PLL電路247中生成的同步信號作為數(shù)據(jù)同步信號供給到信號解調(diào)電路中。
另外，本實施形態(tài)的盤中，時標擺動351的1個周期取為20～30μm范圍的長度。
圖17示出相對于把時標擺動351的1個周期取為20μm時的振幅變化，再生信號的C/N比以及跳動值的變化。另外，在數(shù)據(jù)再生中，以時標擺動351的周期為中心進行變化的頻率(帶寬)是3KHz。如圖17所示，隨著振幅加大再生信號的C/N比上升，跳動減少。另外，雖然該圖示出把時標擺動351的1個周期取為20μm時的關(guān)系，然而取為25μm、30μm的情況下也能夠得到同樣的關(guān)系。
圖17表示出越加大時標擺動351的振幅則數(shù)據(jù)再生特性越好，然而另一方面，在磁光記錄媒體的情況下，如果加大時標擺動351的振幅則在被再生的數(shù)據(jù)中擺動信號漏泄，將帶來不利影響。
圖18示出測定了擺動信號的交調(diào)失真與再生數(shù)據(jù)信號的誤比特率的關(guān)系的結(jié)果。另外，所謂“交調(diào)失真”，例如，在再生紋間4中記錄的數(shù)據(jù)的情況下，表示來自紋3的反射光的再生信號強度對于其再生信號強度的比。
如圖18所示，為了得到良好的誤比特率特性，需要把交調(diào)失真取為-25dB以下。
圖19示出相對于時標擺動351的振幅和1個周期的長度(擺動長度)變化，交調(diào)失真的變化狀況。這里，紋和紋間的寬度比大致為1比1，紋的間距是1.0～1.28μm的情況下，為了高精度地再生記錄在盤上的數(shù)據(jù)，需要把時標擺動351的振幅取為10～60nm，特別是在比特密度為0.15～0.24μm/比特，擺動長度為10～32μm時，振幅最好取為10～40nm另一方面，在相變盤，染色型或者金屬型的改寫型盤中，擺動長度最好是5～50μm，振幅最好是10～60nm范圍的值。
以上那樣的時標擺動351作為控制盤的旋轉(zhuǎn)，或者生成數(shù)據(jù)的記錄再生用的同步信號的基準是有效的，在不具有時鐘成分的數(shù)據(jù)調(diào)制方式中也能夠運用。即，在記錄數(shù)據(jù)的情況下，進行盤的旋轉(zhuǎn)控制使得能夠獲取與其數(shù)據(jù)同步的時鐘信號和從盤上的時標擺動351再生的時鐘信號的同步，在再生數(shù)據(jù)的情況下，能夠使得與從盤上的時標擺動351再生的時鐘信號同步，或者與從外部輸入的時鐘信號同步地讀出再生數(shù)據(jù)。
進而，如果依據(jù)本實施形態(tài)2的盤，則光束點12與被控制在紋3的中心時的情況一樣，被控制在紋間4的中心時，通過再生對應(yīng)于形成在紋3的兩側(cè)壁的波形擺動信號能夠得到由光束點12的照射得到的推挽信號。其結(jié)果，通過照射1個激光光束，能夠在紋3和紋間4的每1個中進行盤的旋轉(zhuǎn)控制和地址信息檢測兩方面的動作。
另外，關(guān)于在盤上形成上述時標擺動351，在數(shù)據(jù)再生時還將產(chǎn)生一個問題。即，數(shù)據(jù)再生所照射的激光光束的反射光的偏振方向受到時標擺動351的影響，不能夠正確地進行磁記錄的數(shù)據(jù)的再生。
圖20用于說明形成時標擺動351的部分中的數(shù)據(jù)再生。如圖20所示，形成在紋3的兩側(cè)壁的時標擺動351由于是相同相位，因此光束點12照射紋3的情況下，其反射光不是基于原來的數(shù)據(jù)磁化的偏振波，而具有由形成在紋3的兩側(cè)壁的時標擺動351所決定的紋3的方向，即，與箭頭353相同方向的偏振波成分。另外，同樣，基于光束點13的照射的反射光具有與表示其位置中的紋3的方向的箭頭355相同方向的偏振波成分。
從而，通過在盤上形成圖20所示的時標擺動351，由于在原來記錄的數(shù)據(jù)的再生信號上重迭基于時標擺動351的影響的偏振波成分，因此數(shù)據(jù)再生特性降低，其結(jié)果，不能夠正確地再生所記錄的數(shù)據(jù)。
這個問題在紋3的任一側(cè)壁上形成時標擺動351的情況下也將產(chǎn)生，但以下把對于數(shù)據(jù)再生信號的基于時標擺動351的影響的偏振波成分的比例定義為「漏泄量」。
圖21是示出形成在紋3的兩側(cè)壁的時標擺動351的構(gòu)造的平面圖。如圖21所示，時標擺動351是具有相同相位，而且波長W，振幅h/2(以下把“h”稱為擺動振幅)的波形。
這里，決定時標擺動351的波長W和振幅h/2，使得漏泄量小于-25dB，誤比特率小于1×10-4。
以下的表1示出使波長W在0.5～10μm的范圍，使擺動振幅h在3～50nm的范圍變化時的漏泄量。
表1

如表1所示，方框內(nèi)漏泄量小于-25dB。即，在波長W是0.5～10μm，擺動振幅h是3～20nm，波長W是0.5～0.8μm,5～10μm，擺動振幅h是25nm，波長W是10μm，擺動振幅是35nm包圍的范圍內(nèi)，漏泄量小于-25dB。
其次，在以下的表2中，示出使波長W在0.5～10μm的范圍，擺動的振幅h在3～50nm的范圍變化時的誤比特率。另外，這種情況下，PLL電路246的分頻比設(shè)定為1/3～1/64，同步信號長度是0.15～0.26μm。
表2

如表2所示，在方框內(nèi)，誤比特率小于1×10-4。即，在波長W是0.8～10μm，擺動振幅h是5～20nm，波長W是0.8μm，擺動振幅h是25nm，波長W是5～10μm，擺動振幅h是25nm，波長W是10μm，擺動振幅h是35nm時，誤比特率小于1×10-4。
根據(jù)表1，表2，擺動振幅h大于25nm的情況下漏泄量加大，誤比特率惡化，在小于5nm的情況下由于從再生信號得到的同步信號的特性惡化，因此誤比特率惡化。從而，波長W最好是取1.2～5.0μm的范圍，更理想的是1.6～3.0μm范圍內(nèi)的值。
另外，根據(jù)表1，表2，能夠?qū)崿F(xiàn)漏泄量小于-25dB，而且誤比特率小于1×10-4的時標擺動351的尺寸為波長W是0.8～10μm的范圍擺動振幅h是5～20nm的范圍，以及波長W是0.8μm,5～10μm擺動振幅h是25nm，波長W是10μm擺動振幅h是35nm。另外，該波長W和擺動振幅h的值是在紋3的任一側(cè)壁上形成時標擺動351的情況下也可以適用的值。
在ISO(International Standard Organization)的90mm磁光記錄媒體等中，在盤上以凹槽記錄地址信號，由于凹槽長度極短等因此在高速存取等時，有時引起記錄道的誤算。然而，如果依據(jù)本實施形態(tài)2的盤，則由于不僅地址信息而且用于數(shù)據(jù)的同步信號生成的信息都不是以凹槽，而是以紋進行記錄，因此即使在高速存取等時也能夠可靠地進行數(shù)據(jù)再生。
另外，在以往的微型盤中，有把地址信號進行雙相調(diào)制了以后，以添加了調(diào)頻的信號形成紋的盤。然而，這種情況下，由于載波信號的C/N比降低，以及以添加了調(diào)頻信號記錄著地址信號，因此帶寬增加，從而難于從載波信號生成用于進行數(shù)據(jù)記錄再生的同步信號。
另一方面，在再生本實施形態(tài)2的盤的再生裝置中，用于得到擺動信號的帶通濾波器256的頻帶既可以是向PLL電路246、247輸入所需要的頻帶，也可以是窄帶的帶通濾波器256的頻帶。因此，即使時標擺動351的振幅減小C/N比稍稍惡化，實際的信噪比也將改善。從而，能夠把跳動少的信號輸入到PLL電路246、247中，能夠高精度地生成用于進行數(shù)據(jù)的記錄再生的同步信號。另外，在盤上，由于在不同的位置記錄地址信息和數(shù)據(jù)，因此能夠避免對于地址信息的再生數(shù)據(jù)和存取性能的不良影響。
實施形態(tài)3圖22示出本實施形態(tài)的盤的平面構(gòu)造。如圖22所示，該盤在紋間4用和紋3用的地址部分中形成擺動210，與地址部分相鄰的數(shù)據(jù)部分中，在紋3的兩側(cè)壁形成時標擺動351。這里，擺動210是根據(jù)1個地址信息調(diào)制了的擺動，其波長比時標擺動351的波長短，僅形成在紋3的一個側(cè)壁上。
另外，擺動210兼作紋間4用的地址和紋3用的地址。
另外，在地址部分中，在紋3的兩側(cè)壁上不形成時標擺動351。
用上述圖15所示的再生裝置再生這樣的盤，在再生時，激光光束再生擺動210而檢測紋間4或者紋3的地址。然后使用激光光束在數(shù)據(jù)部分中與數(shù)據(jù)一起再生時標擺動351，從檢測出的擺動波形生成數(shù)據(jù)的同步信號。
圖23A-23D示出本實施形態(tài)的盤的格式。如圖23A-23D所示，該格式是與圖13A-13D所示的格式相同的格式，1幀具有2688字節(jié)的長度，包括具有64字節(jié)長度的地址部分和具有2624字節(jié)長度的數(shù)據(jù)部分。
這里，數(shù)據(jù)作為磁光信號，主要在數(shù)據(jù)部分中使用NRZI調(diào)制和(1-7)調(diào)制進行記錄再生。這種情況下，被記錄的數(shù)據(jù)的比特密度是0.22μm/比特時，每1幀的長度是4.73088mm，比特密度是0.20μm/比特時1幀的長度成為4.3008mm。從而，與致密盤(CD)相同在12cm尺寸的盤的情況下，每1個記錄道的幀數(shù)Nf是30～87左右。
另外，如圖23C所示，地址部分具有64字節(jié)的長度，如果把地址部分的最小的1個擺動周期作為1字節(jié)，則1個擺動周期在盤上的長度為1.60～1.76μm的范圍。另外，地址部分作為PA1具有8字節(jié)，作為地址具有48字節(jié)，作為地址標記(AM)具有2字節(jié)，作為PA2具有4字節(jié)，作為間隔具有2字節(jié)的盤上的長度。這種情況下，作為實際的數(shù)據(jù)長度，PA1具有8比特，PA2具有4比特，地址具有48比特，地址標記具有2比特，間隔具有2比特。
進而，如圖23D所示，數(shù)據(jù)部分具有2624字節(jié)的長度，包含具有24字節(jié)長度的PA3，具有2592字節(jié)長度的數(shù)據(jù)區(qū)，具有8字節(jié)長度的PA4。
這里，數(shù)據(jù)區(qū)的2592字節(jié)由作為用戶能夠進行記錄區(qū)域的2048字節(jié)，作為記錄信號的DC成分抑制用數(shù)據(jù)的32字節(jié)，用于糾錯的數(shù)據(jù)等構(gòu)成。這種情況下，如果在為了生成用于進行數(shù)據(jù)的記錄再生的同步信號的時標擺動的1個周期中提供16字節(jié)的長度，則盤上的1個擺動的長度在比特密度是0.22μm/比特的情況下為28.16μm，比特密度是0.20μm/比特的情況下為25.6μm。而且，1幀中的數(shù)據(jù)部分中存在164個擺動。從而，1個記錄道中存在60個幀，如果盤以1500rpm旋轉(zhuǎn)，則擺動的頻率成為252KHz。利用該擺動的頻率由PLL電路生成用于記錄再生數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)同步信號。這里，作為數(shù)據(jù)調(diào)制方式使用NRZI調(diào)制的情況下，數(shù)據(jù)同步信號為32.256MHz,PLL電路中的分頻比成為1/128。另外，1個擺動的長度不限于16字節(jié)，例如也能夠?qū)?yīng)于4字節(jié)，8字節(jié)或者20字節(jié)的長度。這種情況下，擺動的頻率與前面的252KHz不同，在PLL電路中設(shè)定的分頻比也取不同的值。該實施形態(tài)的盤中，時標擺動的周期長取為5～50μm的范圍。
另外，時標擺動的振幅如果考慮到再生的擺動信號的信噪比則越大越好，然而在磁光記錄媒體的情況下，如圖18，圖19所示，被再生的數(shù)據(jù)上漏泄有擺動信號，將產(chǎn)生不良影響。即，在紋與紋間的寬度比大致為1比1，紋間距為1.0～1.28μm的情況下，為進行高精度的數(shù)據(jù)再生，把時標擺動的振幅取為10～60nm，特別是在比特密度是0.15～0.24μm/比特，1個擺動長度為10～32μm的情況下，擺動的振幅最好取為10～40nm。
另一方面，在相變盤，染色型或者金屬系列的改寫型光盤中，希望1個擺動的長度為5～50μm，振幅為10～60nm的范圍。
圖24A示出本實施形態(tài)的盤中地址部分的配置，圖24B示出通過地址部分的再生得到的擺動信號，圖24C示出地址的內(nèi)容。如圖24C所示，地址是由48比特構(gòu)成的信息，包括表示記錄道1周中的順序的幀地址和表示盤總體的記錄道從內(nèi)周到外周的順序的記錄道地址等。
這里，由于幀地址取為10比特的信息，因此在格式上1個記錄道能夠最多包含1024個幀。另外，同樣地由于記錄道地址取為20比特的信息，因此在格式上，盤總體能夠包含最多1048576條記錄道。
在這些地址信息編碼方式中，使用雙相碼和曼徹斯特碼，NRZ,NRZI碼等。
另外，由于僅紋3O、3E的一個側(cè)壁用1個地址信息進行擺動，因此1個地址例如在紋3E與紋間4E這樣相鄰的2個記錄道的數(shù)據(jù)再生中共用。
另外，PA1、PA2作為為了正確地檢測地址和地址標記(AM)的報頭和報尾使用。
這里，為了記錄這些信號所形成的擺動的振幅取為基本上大小相同。在紋3O、3E與紋間4E、4O的寬度比大致為1比1，紋3O、3E的間距為1.0～1.28μm的情況下，需要把擺動振幅取為15～150nm。特別是，在確保擺動信號的信噪比的同時，為了正確地檢測地址標記，最好取25～90nm的值。
地址標記(AM)用于識別被再生的地址對應(yīng)于記錄在紋間4E、4O上的地址還是對應(yīng)于紋3O、3E上的地址，以及用于表示數(shù)據(jù)的記錄再生的開始。而且，為了可靠地進行上述識別，在紋3O、3E與紋間4E、4O的寬度比大致為1比1，紋3O,3E的間距為1.0～1.28μm的情況下，需要把擺動的振幅取為30～200nm。特別是，最好取60～150nm的范圍內(nèi)的值。
另外，1個擺動周期大于1.2μm，則能夠改善地址部分的誤比特率和范圍，能夠高精度地進行再生。另一方面，如果加長該周期，則由于數(shù)據(jù)的格式效率降低，因此作為周期長度需要取為1.2～5μm的長度。這一點不限于光磁記錄媒體，可以說在相變盤，染色型或者金屬型的改寫型光盤中也相同。
如以上所述，如果依據(jù)本實施形態(tài)的盤，則由于僅使紋3O、3E的一個側(cè)壁通過1個地址信息進行擺動，因此能夠謀求格式的進一步高效化。
實施形態(tài)4圖25示出本實施形態(tài)的盤的平面構(gòu)造。如圖25所示，該盤在地址部分中紋3的一個側(cè)壁通過在時標擺動351上迭加了用1個地址信息進行調(diào)制了的擺動200，進行擺動。
在這樣的盤中，能夠用激光光束再生擺動200，被檢測出的地址能夠用作為其兩側(cè)的紋間4以及紋3所用的地址。另外，在這樣的盤中，被再生數(shù)據(jù)的同步信號根據(jù)形成在數(shù)據(jù)部分的時標擺動351，由上述實施形態(tài)2中說明過的圖15所示的再生裝置生成。
實施形態(tài)5圖26示出本發(fā)明實施形態(tài)5的盤的平面構(gòu)造。如圖26所示，該盤具有在數(shù)據(jù)部分中僅一個側(cè)壁上形成時標擺動351，同時地址部分中在時標擺動351上連續(xù)形成僅基于1個地址信息的擺動210的紋3。從而，紋3的一個側(cè)壁350在地址部分和數(shù)據(jù)部分都不形成擺動。
這樣的盤通過圖15所示的再生裝置進行數(shù)據(jù)再生，由形成在數(shù)據(jù)部分的時標擺動351生成數(shù)據(jù)同步信號。
實施形態(tài)6圖27示出本發(fā)明實施形態(tài)6的盤的平面構(gòu)造。如圖27所示，該盤具有在一個側(cè)壁上在地址部分和數(shù)據(jù)部分都形成時標擺動351的同時，在另一個側(cè)壁僅在地址部分中形成對應(yīng)于1個地址信息的擺動210的紋3。
從而，形成對應(yīng)于地址信息的擺動210的側(cè)壁在數(shù)據(jù)部分中不擺動。
這樣的盤也由圖15所示的再生裝置進行數(shù)據(jù)再生，通過形成在數(shù)據(jù)部分的時標擺動351生成數(shù)據(jù)同步信號。
實施形態(tài)7圖28示出本發(fā)明實施形態(tài)7的盤的平面構(gòu)造。如圖28所示，該盤具有在一個側(cè)壁形成基于地址信息的頻率調(diào)制的擺動50，在另一個側(cè)壁上形成時標擺動351的紋3O、3E。
這里，把再生數(shù)據(jù)速率取為24MHz時，時標擺動351的頻率是3MHz，擺動50的頻率是281.25～375KHz。
本實施形態(tài)的盤中，擺動50和時標擺動351在整個區(qū)域中形成在紋3O、3E的兩個側(cè)壁上。
圖29A-29D示出本實施形態(tài)的盤的格式。如圖29B所示，每個扇區(qū)的地址信息包括同步圖形(Sync)4比特，幀地址24比特，預(yù)約區(qū)(Rvd)4比特，糾錯碼(ECC-Error Correction Code)12比特的信息。這里，1個扇區(qū)中由于包括2kB長度的數(shù)據(jù)區(qū)，因此由上述44比特組成的地址信息表示對于2kB部分的數(shù)據(jù)的地址。
另外，時標擺動351對于數(shù)據(jù)的1個字節(jié)為1個，即如圖29C、29D所示，每1個扇區(qū)形成2816個。而且，時標擺動351作為生成數(shù)據(jù)記錄再生時所利用的數(shù)據(jù)同步信號的基準。
其次，參考圖30A-30C說明本實施形態(tài)的盤的再生。該盤由圖15所示的再生裝置進行再生。這里，在用激光光束掃描圖28所示的紋30的情況下，得到具有圖30A所示波形的推挽信號。這是由于在紋30的一個側(cè)壁上形成擺動50，在另一個側(cè)壁上形成時標擺動351，因此迭加了基于2個擺動的信號。
另外，用激光光束掃描圖28所示的紋間40的情況下，也可以得到圖30A所示的推挽信號。另外，用激光光束掃描圖28所示的紋3E、紋間4E的情況下也相同。
而且，圖30B所示的信號供給到圖15所示的擺動檢測用窄帶帶通濾波器256和地址解調(diào)用帶通濾波器244中。這里，供給到擺動檢測用窄帶帶通濾波器256的推挽信號僅抽取出對應(yīng)于時標擺動351的高頻成分，圖30C所示的信號輸入到比較器245中。比較器245把被供給的信號進行2值化，把2值化了的信號供給到PLL電路246、247中。
PLL電路246對應(yīng)于被輸入的2值化信號的上升沿時刻生成時鐘信號，供給到進行盤的旋轉(zhuǎn)控制等的伺服電路257和時鐘分配電路56中。
另外，PLL電路247響應(yīng)輸入的2值化信號，生成數(shù)據(jù)同步信號，供給到信號解調(diào)電路中。
另一方面，地址解調(diào)用帶通濾波器244從被輸入的推挽信號中僅抽取出低頻成分，把對應(yīng)于圖30B所示的擺動50的信號供給到FM解調(diào)電路53中。FM解調(diào)電路53與從時鐘分配電路56供給的時鐘信號相同步，把輸入的圖30B所示的信號進行FM解調(diào)，把FM解調(diào)了的信號供給到雙相解調(diào)電路254中。而且，雙相解調(diào)電路54與從時鐘分配電路56供給的時鐘信號相同步雙相解調(diào)被輸入的信號，把雙相解調(diào)了的信號供給到地址譯碼器57中。地址譯碼器57與從時鐘分配電路56供給的時鐘信號相同步，把地址輸出到系統(tǒng)控制器268中。
如以上所述，如果依據(jù)本實施形態(tài)，則能夠從形成在紋3O、3E的一個側(cè)壁上的時標擺動351高精度地生成數(shù)據(jù)同步信號的同時，還能夠得到由擺動產(chǎn)生的漏泄少的數(shù)據(jù)再生信號。
實施形態(tài)8一般，在實際的盤上多少存在缺陷，在再生這樣的盤的情況下，從半導(dǎo)體激光器發(fā)出的激光光束從數(shù)據(jù)記錄面的反射光以多少偏離的位置聚焦在光檢測器113上。其結(jié)果，在數(shù)據(jù)再生信號中將產(chǎn)生偏離。因此，本實施形態(tài)中，說明能夠校正這樣偏離的再生裝置。另外，該偏離還起因于照射的激光光束沒有照射到紋間4或者紋3的中心。
如上述圖2C、2D所示，在地址段，數(shù)據(jù)段的各個起始端由于記錄著精確時鐘標記20，因此通過檢測出該精確時鐘標記20，校正數(shù)據(jù)再生信號的偏離。另外，如圖2D所示的精確時鐘標記20記錄在每個數(shù)據(jù)段的起始端，然而也可以記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中。
圖31示出磁記錄了數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)部分中，具有在兩個側(cè)壁每隔預(yù)定間隔W1形成了精確時鐘標記20的紋3的本實施形態(tài)的盤的平面構(gòu)造。這里，圖31所示的預(yù)定間隔W1是50～300μm，形成精確時鐘標記20的區(qū)域長度W2滿足W2/W1=1/300～1/50的長度。
另外，該精確時鐘標記20在盤的底盤成型的工藝中形成。
圖32A-32C用于說明根據(jù)精確時鐘標記20的檢測進行的偏置校正的原理。
在激光光束照射紋間4或者紋3的情況下檢測精確時鐘標記20，在激光光束照射紋間4或者紋3的中心的情況下，如圖32A所示，得到振幅(強度)IA與振幅(強度)IB相等的檢測波形121。然而，在激光光束從紋間4或者紋3的中心偏離某一方照射盤的情況下，得到圖32B或者圖32C所示那樣的IA＞IB或IA＜IB的檢測波形122、123。從而，通過取檢測出的強度IA與強度IB的差，能夠檢測激光光束照射的點從紋間4或者紋3的中心的偏離，即，在數(shù)據(jù)再生信號中產(chǎn)生的偏置。
圖33示出本實施形態(tài)的再生裝置的結(jié)構(gòu)。如圖33所示，該再生裝置雖然具有與圖15所示的再生裝置相同的結(jié)構(gòu)，然而不同點在于具有偏置校正電路132。
該偏置校正電路132包括第1峰值檢測電路133，第2峰值檢測電路134，連接第1峰值檢測電路133以及第2峰值檢測電路134的放大器135，連接放大器241以及放大器135的放大器137。
其次，說明該再生裝置的偏置校正動作。從光檢測器113輸出由被4分割了感光面的光檢測器113檢測的來自精確時鐘標記20的反射光中基于由區(qū)域113b和區(qū)域113c檢測的反射光的信號(B+C)，基于由區(qū)域113a和區(qū)域113d檢測的反射光的信號(A+B)。而且，信號(B+C)由第1峰值檢測電路113檢測出其強度IA，信號(A+B)由第2峰值檢測電路134檢測出其強度IB。被檢測出的強度IA與強度IB在放大器135中得到其差值(IA-IB)。
另一方面，信號(A+D)和信號(B+C)輸入到放大器241中，取這些信號的差[(A+D)-(B+C)]。
而且，在放大器137中把差[(A+D)-(B+C))與差(IA-IB)進行加法運算，輸出到LPF 242中。通過這樣的動作，校正蹤誤差信號的偏置。
如以上所述，如果依據(jù)本實施形態(tài)的再生裝置，則由于能夠使激光光束照射紋間4或者紋3的中心，因此能夠?qū)崿F(xiàn)更準確的數(shù)據(jù)再生。
另外，上述說明涉及數(shù)據(jù)再生中的偏置校正，而在記錄數(shù)據(jù)的情況下，該偏置校正也有效。
即，在數(shù)據(jù)記錄時，檢測精確時鐘標記20，通過偏置校正電路132校正跟蹤誤差信號的偏置，使得激光光束照射到紋間4或者紋3的中心，在正確的位置記錄數(shù)據(jù)。另外，這種情況下使用的記錄裝置的結(jié)構(gòu)與圖33所示的再生裝置相同。
實施形態(tài)9
圖31所示的盤是紋3的兩側(cè)壁190、191不擺動的盤，而也可以同樣考慮圖34所示那樣，紋3的兩側(cè)壁190、191在相位相同而且以一定周期W0擺動的記錄道上形成精確時鐘標記20的盤。
這里，以上的側(cè)壁190、191的擺動是數(shù)據(jù)部分中的時標擺動351。
另外，精確時鐘標記20是比時標擺動351頻率高的擺動，精確時鐘標記20的間隔W1在50～300μm的范圍內(nèi)恒定，形成精確時鐘標記20的區(qū)域長度W2與間隔W1的比W2/W1滿足1/300～1/50。
實施形態(tài)10圖35示出本實施形態(tài)的盤中數(shù)據(jù)部分的平面構(gòu)造。如圖35所示，本實施形態(tài)的盤中的數(shù)據(jù)部分包括僅在一個側(cè)壁190上形成時標擺動351，而且在兩個側(cè)壁190、191上形成了精確時鐘標記20的紋3。
這里，精確時鐘標記20的間隔W1在50～300μm的范圍內(nèi)恒定，精確時鐘標記20的區(qū)域長度W2與間隔W1的比W2/W1滿足1/300～1/50。
實施形態(tài)11圖36示出本實施形態(tài)的盤的平面構(gòu)造。如圖36所示，該盤具有在兩側(cè)壁190、191上每隔預(yù)定間隔W1形成精確時鐘標記20，進而，在記錄地址信息m、n、1的地址部分中，僅一個側(cè)壁191對應(yīng)于地址信息n進行擺動的紋3。這里，精確時鐘標記20的間隔W1與形成精確時鐘標記20的區(qū)域長度W2與上述實施形態(tài)10相同。另外，紋3的一個側(cè)壁191上作為擺動所記錄的地址信息n用作為其擺動兩側(cè)的紋間4和紋3用的地址信息。
實施形態(tài)12在上述實施形態(tài)2中參照圖20進行了說明，而在紋3的兩個側(cè)壁以相同相位形成時標擺動351的情況下，由于盤的反射光中不僅包含根據(jù)磁化的取向記錄著的原來的數(shù)據(jù)引起的偏振波成分，還包含基于紋3的方向的偏振波成分，因此存在不能夠正確地再生數(shù)據(jù)的問題。
因此，本實施形態(tài)的盤是能夠解決這樣的問題，同時通過形成在數(shù)據(jù)部分的擺動能夠生成用于數(shù)據(jù)再生的同步信號的盤。
圖37是示出本實施形態(tài)的盤10的構(gòu)造的透視圖。如圖37所示，盤10具有在由聚碳酸酯、玻璃等構(gòu)成的透明襯底1上形成了磁性膜2的構(gòu)造。這里，磁性膜2包含由GdFeCo等構(gòu)成的再生層和TbFeCo等構(gòu)成的記錄層。
盤10還具有紋3和紋間4，在紋3的兩個側(cè)壁上形成相位相互差180°的擺動5。即，擺動5形成為使得紋3或者紋間4的寬度對于激光光束的掃描方向以預(yù)定的周期進行變化。
圖38示出盤10的平面構(gòu)造。
如圖38所示，盤10包括地址部分700和數(shù)據(jù)部分701，地址部分700和數(shù)據(jù)部分701的紋3的兩側(cè)壁上形成擺動5。這里，參照圖39說明擺動5的波長以及振幅。
擺動5的波長W是0.8～20μm的范圍，理想的是1.2～5μm的范圍。另外，擺動5的振幅h/2是5～100nm的范圍，理想的是10～30nm的范圍。本實施形態(tài)的盤10中，通過形成在數(shù)據(jù)部分701中的擺動5，生成數(shù)據(jù)的記錄再生中使用的數(shù)據(jù)同步信號。
另外，包含在本實施形態(tài)的盤10中的紋3如圖38所示，在地址部分700對應(yīng)于地址信息兩側(cè)的側(cè)壁對于紋3的中心線呈對稱地擺動。
這里，地址信息具體地講，例如通過雙相調(diào)制方式進行記錄，參照圖40A-40D說明基于該方式的地址信息的記錄。
2值化了的地址信息，如果設(shè)用圖40A所示的波形41表示“0”，用圖40B所示的波形42表示“1”，則通過雙相調(diào)制記錄地址信息(10110)時的波形成為圖40C所示的波形43。
從而，地址部分中形成在紋3的一個側(cè)壁上的擺動波形成為圖40D所示的波形44，形成在紋3的另一個側(cè)壁上的擺動波形成為圖40D所示的波形45。這里，波形44與波形45對于紋3的中心線48對稱。
圖41示出記錄了地址G0～G3、L1、L2的地址部分的平面構(gòu)造。
如圖41所示，包含在地址部分中的紋31的一個側(cè)壁上形成擺動61和擺動62，在紋31的另一個側(cè)壁上對于紋31的中心線與擺動61對稱地形成擺動63，與擺動62對稱地形成擺動64。
另外，在紋32的一個側(cè)壁上形成擺動61和擺動65，在另一個側(cè)壁上對于紋32的中心線與擺動61、65對稱地形成擺動63和擺動66。
進而，在紋33的一個側(cè)壁上形成擺動67和擺動65，在紋33的另一個側(cè)壁上，對于紋33的中心線與擺動67、65對稱地形成紋68和擺動66。
這樣，在紋31、32、33的兩個側(cè)壁上如果形成擺動61～68，則在紋31的地址部分中對應(yīng)于形成在兩個側(cè)壁上的擺動61、63記錄地址G1，對應(yīng)于擺動62、64記錄地址G0。另外同樣地，在紋32的地址部分中記錄地址G1和地址G2，在紋33的地址部分中記錄地址G3和G2。進而，通過在紋31、32、33的兩個側(cè)壁上記錄上述那樣的擺動61～68，在紋間46通過擺動63和擺動61記錄地址L1，在紋間47通過擺動65和擺動66記錄地址L2。
這里，由于紋31、32、33或者紋間46、47的地址信息是通過形成在其兩個側(cè)壁的擺動61～68的波形而得到的，因此地址G1和地址L1，地址G2和地址L2是相同的信息。
如以上所述，在激光光束掃描紋31的情況下檢測地址G1,G0，掃描紋間46的情況下檢測地址L1，掃描紋32的情況下檢測地址G1、G2，掃描紋間47的情況下檢測地址L2，掃描紋33的情況下檢測地址G3、G2。
另外，如果考慮到作為地址未被檢測的信息NG也是一種地址，則在各紋31、32、33以及各紋間46、47中，如上述那樣，分別檢測各2個地址，上述實施形態(tài)1中說明的地址標記形成在盤上，通過再生該標記，作為記錄到各紋31、32、33以及各紋間46、47的數(shù)據(jù)的地址識別某1個地址。
以下，把以上那樣的地址信息記錄方式稱為「參差方式」。圖42示出本實施形態(tài)的盤的地址部分中記錄的地址信息的格式。如圖42所示，地址部分具有96數(shù)據(jù)字節(jié)長度的區(qū)域，地址部分的數(shù)據(jù)量是96比特。即，對應(yīng)于地址部分中的1比特的長度是所記錄的比特的8倍，例如，記錄比特的比特長度是0.22μm時，地址數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)比特長度相當于1.76μm。
另外，地址部分包括6數(shù)據(jù)字節(jié)長的報頭(PA),42數(shù)據(jù)字節(jié)長的地址1，同樣42數(shù)據(jù)字節(jié)長的地址2,2數(shù)據(jù)字節(jié)長的A圖形，2數(shù)據(jù)字節(jié)長的地址標記(AM)。
這里，地址1包含4比特的第1同步信號(SYNC1)92,8比特幀地址93,16比特的記錄道地址94,14比特的檢錯碼(CRC)95。
另外，地址2包括4比特的第2同步信號(SYNC2)97,8比特的幀地址98,12比特的記錄道地址99,14比特的CRC 103。
另外，通過用圖40A所示的波形41表示“0”，用圖40B所示的波形42表示“1”，分別在報頭(PA)91中記錄(101010101010)的信號，在第1同步信號92中記錄(11100010)的信號，在預(yù)約區(qū)(Rev)96中記錄(1010)的信號，在第2同步信號97中記錄著(10001110)的信號，在A圖形101中記錄(10)的信號，在地址標記(AM)102中記錄(1100)的信號。
圖43示出用于生成本實施形態(tài)的盤的刻紋裝置的結(jié)構(gòu)。如圖43所示，該刻紋裝置具有生成聚焦用的波長633nm的激光光束的氦氖激光器166，生成458nm的激光光束的氬激光器160，連接氬激光器160去除激光光束的噪聲的激光降噪電路161，連接激光降噪電路161，根據(jù)輸入的控制信號使激光光束的功率變化的EO(Electro-Optical)調(diào)制器162，反射458nm的激光光束，透過從氦氖激光器166輸出的激光光束的反射鏡164，使激光光束聚焦在玻璃底盤168上的物鏡165，反射從氦氖激光器166輸出的激光光束的反射鏡167。
這里，輸入到EO調(diào)制器162的控制信號是決定激光光束的強度的信號，根據(jù)該控制信號，使氬激光器的強度周期性地發(fā)生變化，由此在紋3的兩側(cè)壁形成圖37所示的擺動5。即，從EO調(diào)制器162輸出以預(yù)定的周期強度發(fā)生變化的激光光束，然而用反射鏡164反射，用物鏡165聚焦，照射在玻璃底盤168上。
其結(jié)果，如果照射在玻璃底盤168上的激光光束的強度變化則光點的直徑變化，因此在紋3的兩側(cè)壁上形成圖37所示的擺動5。
圖44示出再生該實施形態(tài)的上述盤的再生裝置的總體結(jié)構(gòu)。如圖44所示，該再生裝置具有光學(xué)頭112，連接光學(xué)頭112的再生信號放大電路114，連接再生信號放大電路114的信號解調(diào)電路118，連接再生信號放大電路114的擺動檢測電路115，同樣地連接再生信號放大電路114的地址檢測電路116，連接擺動檢測電路115的PLL電路117，連接PLL電路117的激光器驅(qū)動電路119，連接再生信號放大電路114的伺服電路111，連接伺服電路111的主軸電機120。
其次，說明上述再生裝置的動作。
光學(xué)頭112把激光光束聚焦并照射到盤10上的同時，用包含在光學(xué)頭112中的光檢測器113檢測來自盤10的反射光。而且，再生信號放大電路114把來自光檢測器113的再生信號進行放大，分別把聚焦誤差信號，跟蹤誤差信號等供給到伺服電路111，把數(shù)據(jù)再生信號供給到信號解調(diào)電路118，把基于數(shù)據(jù)部分的再生的擺動信號供給到擺動檢測電路115，把基于地址部分的再生的擺動信號供給到地址檢測電路116。
這里，伺服電路111根據(jù)接收到的聚焦誤差信號，跟蹤誤差信號控制光學(xué)頭112以及主軸電機120。另外，信號解調(diào)電路118把以預(yù)定的調(diào)制方式調(diào)制了的再生信號根據(jù)從PLL電路117接受的同步信號進行解調(diào)作為再生數(shù)據(jù)供給到輸出裝置(未圖示)。擺動檢測電路115通過比較器把接收的擺動信號2值化，把其2值化了的信號供給到PLL電路117。另外，地址檢測電路116通過比較器把接收的擺動信號2值化，把其2值化了的信號進行解調(diào)檢測出地址信息，供給到微機(未圖示)。PLL電路117根據(jù)接收的2值化信號生成同步信號供給到信號解調(diào)電路118以及激光器驅(qū)動電路119。另外，激光器驅(qū)動電路119響應(yīng)接收的同步信號驅(qū)動包含在光學(xué)頭112中的半導(dǎo)體激光器(未圖示)，再生被記錄在盤10上的信號。
圖45用于說明由圖44所示的擺動檢測電路115進行的形成在數(shù)據(jù)部分中的擺動5的檢測。如圖45所示，光檢測器113其感光面分割為4個區(qū)域113a、113b、113c、113d，并且配置為使得區(qū)域113a和區(qū)域113d，區(qū)域113b和區(qū)域113c排列在與激光光束的行進方向140相同的方向。這種情況下由區(qū)域113a和區(qū)域113d檢測的光強度信號(A+D)，由區(qū)域113b和區(qū)域113c檢測的光強度信號(B+C)通過再生信號放大電路114輸入到包含在擺動檢測電路115中的加法器1151中。用加法器1151進行了加法運算的光強度信號由帶通濾波器1152去除噪聲以后，在比較器1153中以0電平為基準進行2值化，該2值化了的信號供給到PLL電路117。
圖46A示出供給到比較器1153的信號。具體地講，這樣的信號由比較器1153進行2值化，圖46B所示的2值化信號供給到PLL電路117。而且，PLL電路117響應(yīng)圖46B所示的2值化信號的上升沿時刻150以及下降沿時刻151，在1個周期以2分割生成同步信號。另外，設(shè)置在數(shù)據(jù)部分的擺動5的波長W恒定，是0.28～20μm的范圍，因此能夠以比較短的間隔生成同步信號，能夠正確地再生數(shù)據(jù)信號。
另外，記錄在地址部分的地形信息也由具有與上述圖45所示電路相同結(jié)構(gòu)的地址檢測電路116進行檢測。
圖47示出本實施形態(tài)的盤的擺動長度與交調(diào)失真之間的關(guān)系。這里，形成在該盤上的紋3的寬度是0.6μm，振幅是60nm。
這種情況下，如圖47所示，即使縮短擺動長度，也不會加大交調(diào)失真。另外，當前的情況下可以確認擺動長度直至0.8μm也沒有加大交調(diào)失真。從而，通過從縮短了擺動長度的擺動5生成同步信號能夠進行特性良好的數(shù)據(jù)再生。
由此，如果依據(jù)本實施形態(tài)的盤，則由于照射在盤上的激光光束的偏振方向不受到由紋3的形狀產(chǎn)生的影響，因此能夠正確地再生所記錄的磁光記錄信號(數(shù)據(jù))。另外，由于形成在數(shù)據(jù)部分的擺動的長度小于20μm，因此能夠生成高頻的同步信號，能夠可靠地再生高密度地記錄的數(shù)據(jù)。
實施形態(tài)13圖48示出上述圖44以及圖45所示的光檢測器113和擺動檢測器115的其它實施形態(tài)。
如圖48所示，在感光面被分割為4個區(qū)域113a、113b、113c、113d的光檢測器113中，由在與激光光束的行進方向140相垂直的方向141排列的區(qū)域113c、113d檢測的光強度信號(C+D)，由區(qū)域113a、113b檢測的光強度信號(A+B)輸入到加法器1151這一點與圖45所示的光檢測器113以及擺動檢測器115不同。即便使用這樣的光檢測器113和擺動檢測器115也能夠起到與上述實施形態(tài)12的再生裝置相同的效果。
實施形態(tài)14圖49示出上述實施形態(tài)12中所示的刻紋裝置的其它實施形態(tài)。
圖49所示的刻紋裝置雖然具有與圖43所示的刻紋裝置相同的結(jié)構(gòu)，然而不同點在于具有振幅調(diào)制器181，連接振幅調(diào)制器181以及激光器降噪電路161的EO偏轉(zhuǎn)器180。
這里，振幅調(diào)制器181輸入圖50A所示的載波信號CS和圖50B所示的時鐘信號CLK，把圖50C所示的包絡(luò)線與擺動5的波形相當?shù)目刂菩盘朚S供給到EO偏轉(zhuǎn)器180。由此，在玻璃底盤168上，激光光束沿著跟蹤方向以高頻率反復(fù)進行往復(fù)移動，在紋3的兩側(cè)壁形成擺動5。
實施形態(tài)15圖51示出上述實施形態(tài)12、14中所示的刻紋裝置的其它實施形態(tài)。
如圖51所示，該刻紋裝置雖然具有與圖49所示的刻紋裝置相同的結(jié)構(gòu)，然而不同點在于除去激光器降噪電路161A和EO偏轉(zhuǎn)器180A以外，還具有激光降噪電路161B，連接激光降噪電路161B的EO偏轉(zhuǎn)器180B，反射鏡183，使輸入的時鐘信號反轉(zhuǎn)的反轉(zhuǎn)電路182。
上述刻紋裝置把用氬激光器160生成的激光光束分離為2個，使1個用作為在紋3的一個側(cè)壁上形成擺動，使另一個用作為在紋3的另一個側(cè)壁上形成擺動。
在一方的EO偏轉(zhuǎn)器180B中，輸入控制激光光束的跟蹤方向的移動的時鐘信號，在另一方的EO偏轉(zhuǎn)器180A中輸入用反轉(zhuǎn)電路180使時鐘信號反轉(zhuǎn)了的信號。從而，從EO偏轉(zhuǎn)器180B輸出的激光光束和從EO偏轉(zhuǎn)器180B輸出的激光光束以紋3的中心為軸左右對稱地移動，在紋3的兩個側(cè)壁形成圖37所示的擺動。
實施形態(tài)16圖52示出本實施形態(tài)的盤的平面構(gòu)造。
如圖52所示，該盤雖然具有與在上述實施形態(tài)12中圖38所示的盤相同的平面構(gòu)造，然而不同點在于在地址部分中在紋3的兩個側(cè)壁上形成同相位的擺動6。
具體地講，在地址部分中以由同相位的擺動6進行雙相調(diào)制方式，根據(jù)參差方式記錄地址。
實施情況17圖53示出本實施形態(tài)的盤的平面構(gòu)造。
如圖53所示，該盤雖然具有與在上述實施形態(tài)12中圖38所示的盤相同的平面構(gòu)造，然而不同點在于在地址部分中在紋3的一個側(cè)壁7上不進行擺動。這樣的盤，通過形成在地址部分的紋3的另一個側(cè)壁6上的擺動，記錄紋間4和紋3的地址，因此能夠使地址信息的記錄密度提高相應(yīng)部分。
實施形態(tài)18圖54示出本實施形態(tài)的盤的平面構(gòu)造。
如圖54所示，該盤雖然也具有與在上述實施形態(tài)12中圖38所示的盤相同的平面構(gòu)造，然而不同點在于在地址部分中的紋3的兩側(cè)壁上，以紋3的中心線為對稱軸形成進行了FM調(diào)制的擺動。
實施形態(tài)19圖55示出本實施形態(tài)的盤的平面構(gòu)造。
如圖55所示，該盤在地址部分以及數(shù)據(jù)部分的紋3的兩側(cè)壁上以紋3的中心線為對稱軸對稱地形成基于進行了FM調(diào)制的地址的擺動9。
如果依據(jù)具有這樣構(gòu)造的盤，則通過擺動9記錄與記錄在數(shù)據(jù)部分中的數(shù)據(jù)相對應(yīng)的地址。
實施形態(tài)20圖56示出本實施形態(tài)的盤的平面構(gòu)造。
如圖56所示，該盤雖然具有與圖52所示的盤相同的構(gòu)造，然而不同點在于在地址部分的紋3的一個側(cè)壁上，形成把擺動5和相位與用同相位的虛線所示的擺動6相反的擺動重迭在一起的擺動220。
即使是用這樣的盤，也能夠得到與上述實施形態(tài)12的盤相同的效果。
實施形態(tài)21通過在地址部分的紋3的兩側(cè)壁上形成相位相反的擺動5，能夠降低由擺動5的再生所產(chǎn)生的對于磁光信號(數(shù)據(jù))的再生特性的漏泄，而在跟蹤紋3的中心的情況下，跟蹤由于襯底的傾斜(擺動)等從紋3的中心偏離，光束點接近形成在紋3的側(cè)壁的擺動5時，由于擺動5的影響將在再生特性方面產(chǎn)生漏泄。
因此，在地址部分中設(shè)置了相位相反的擺動5的盤中，需要去除再生特性的漏泄量的再生裝置。
圖57A-57D用于說明照射在紋3的激光的位置和所得到的數(shù)據(jù)再生信號的關(guān)系。
如圖57A所示，激光照射在紋3的中心線上，即，照射在光束點230上時，可以得到圖57C所示的數(shù)據(jù)再生信號。另外，該數(shù)據(jù)再生信號是具有高頻的信號，圖57B至57D示出其數(shù)據(jù)再生信號的包絡(luò)線。
其次，激光位于光束點231的位置，即，照射從紋3的中心線向圖的上側(cè)偏離的位置時，數(shù)據(jù)再生信號的包絡(luò)線成為圖57B所示。另一方面，激光照射了以光束點232表示的位置時，可以得到具有圖57D所示的包絡(luò)線的數(shù)據(jù)再生信號。這里，圖57D所示的包絡(luò)線的波形成為比圖57B所示的包絡(luò)線的波形偏離半個周期的波形。另外，在可以得到圖57B、57D所示的包絡(luò)線的數(shù)據(jù)再生信號的情況下，如果把包絡(luò)線的寬度記為H，把振幅記為h/2，則對于再生特性的漏泄量檢測為(h/2)/H。根據(jù)以上所述，為了去除漏泄量，可以使照射的激光跟蹤紋3的中心。
圖58A-58F用于說明為去除漏泄量的跟蹤控制方法。
如圖58A所示，激光照射光點240所示的位置時，可以得到具有圖58D所示的包絡(luò)線的數(shù)據(jù)再生信號Sd。另外，形成在紋3的兩側(cè)壁的擺動5的再生信號Sb具有圖58B所示的波形。另外，通過比較器把圖58B所示的擺動波形進行2值化，可以得到圖58C所示的矩形波Sc。
這里，取圖58E所示的上述矩形波Sc的上升沿時刻251與圖58F所示的上述矩形波Sc的下降沿時刻252中的具有圖58D所示的包絡(luò)線的數(shù)據(jù)再生信號Sb的大小之差，把從跟蹤信號減去與該差相當?shù)男盘柡蟮男盘栕鳛樾碌母櫺盘柺褂?，由此使激光跟蹤紋3的中心。
另外，具有上述包絡(luò)線的數(shù)據(jù)再生信號Sd的大小的差的值，由于與照射在紋3的激光的位置從紋3的中心線的偏移量成正比增大，因此如果用該偏離量校正跟蹤信號，能夠在紋3的中心線上進行跟蹤。
圖59是示出根據(jù)上述方法去除漏泄量的再生裝置的總體結(jié)構(gòu)。
如圖59所示，該再生裝置雖然具有與圖44所示的再生裝置相同的結(jié)構(gòu)，然而不同點在于還具有連接再生信號放大電路114向伺服電路111供給跟蹤信號的跟蹤校正電路250。
其次，說明該再生裝置的動作。由包含在光學(xué)頭112中的光檢測器113檢測出的再生信號供給到再生信號放大電路114。而且，該再生信號中，磁光信號的再生信號供給到信號解調(diào)電路118和跟蹤校正電路250，進而，跟蹤誤差信號供給到跟蹤校正電路250。另外，再生信號中聚焦誤差信號供給到伺服電路111，用于包含在光學(xué)頭112中的物鏡(未圖示)的聚焦牽引。進而，再生信號中形成在紋3兩側(cè)壁的擺動5的再生信號供給到擺動檢測電路115。在擺動檢測電路115中，檢測出圖58B所示的擺動5的再生信號Sb，擺動5的再生信號Sb供給到跟蹤校正電路250。跟蹤校正電路250根據(jù)供給的磁光信號的再生信號與擺動5的再生信號Sb檢測跟蹤的偏移量，根據(jù)檢測出的偏移量較正跟蹤信號。
而且，被校正了的跟蹤誤差信號供給到伺服電路111，用于包含在光學(xué)頭112中的物鏡的跟蹤。
圖60示出跟蹤校正電路250的結(jié)構(gòu)。如圖60所示，跟蹤校正電路250包括同步檢波電路260，連接同步檢波電路260的積分電路264、265，連接積分電路264、265的減法器266，連接減法器266的減法器267。
另外，同步檢波電路260包括取樣保持電路261、262和擺動同步信號發(fā)生電路263。
以下，說明該跟蹤校正電路250的動作。如圖58D所示的數(shù)據(jù)再生信號Sb輸入到包含在同步檢波電路260中的取樣保持電路261、262中。
另外，在擺動同步信號發(fā)生電路263中，把所輸入的圖58B所示的擺動5的再生信號Sb進行比較，生成圖58C所示的矩形波Sc。而且，從該矩形波Sc生成與上升沿時刻同步的圖58E所示的第1定時信號Se，與下降沿時刻同步的圖58F所示的第2定時信號Sf，把第1定時信號Se供給到取樣保持電路262，把第2定時信號Sf供給到取樣保持電路261。取樣保持電路261與從擺動同步信號發(fā)生電路263供給的第2定時信號Sf相同步，檢測從再生信號放大電路114輸入的數(shù)據(jù)再生信號Sd的大小，保持其值并且供給到積分電路264。另外，與此相同，取樣保持電路262與從擺動同步信號發(fā)生電路263供給的第1定時信號Se相同步，檢測從再生信號放大電路114輸入的數(shù)據(jù)再生信號Sb的大小，保持其值并且供給到積分電路265。
積分電路264、265把所供給的值進行積分，把表示積分結(jié)果的信號供給到減法器266。減法器266取各積分電路264、265的積分值的差，把其結(jié)果輸入到減法器267的負(-)端子。這里，在減法器267的正(+)端子輸入跟蹤使用的跟蹤信號，減法器267從跟蹤信號減去上述積分值的差，即，數(shù)據(jù)再生信號Sb的擺動寬度，作為被校正了的跟蹤信號把其結(jié)果輸出到伺服電路111。由此，能夠校正跟蹤的偏離，其結(jié)果，能夠去除對于數(shù)據(jù)再生信號Sb的漏泄。
另外，跟蹤校正電路250也可以具有圖61所示的結(jié)構(gòu)。即，跟蹤校正電路250包括乘法器280和減法器267。
而且，在乘法器280中供給圖58B所示的擺動5的再生信號Sb和圖58D所示的數(shù)據(jù)再生信號Sd，這些信號的乘法運算結(jié)果輸出到減法器267的負端子。
減法器267從被輸入到正端子的跟蹤信號減去上述減法結(jié)果，作為被校正了的跟蹤信號把其結(jié)果輸出到伺服電路111。
如果依據(jù)以上的跟蹤校正電路250，根據(jù)被檢測出的數(shù)據(jù)再生信號，始終校正跟蹤信號，并且根據(jù)被校正的跟蹤信號進行跟蹤控制，因此在被檢測出的數(shù)據(jù)再生信號中不發(fā)生的漏泄。
實施形態(tài)22本實施形態(tài)中，說明用于消除由于形成在紋3的側(cè)壁上的擺動在磁光信號的再生特性中產(chǎn)生的漏泄的盤以及電路。
本實施形態(tài)的盤39在內(nèi)周部分392和外周部分391中設(shè)置著TOC區(qū)域。這里，設(shè)置在內(nèi)周部分392和外周部分391的TOC區(qū)域的雙方或者一方記錄有關(guān)漏泄量的信息，通過再生時檢測該信息，從再生信號消除漏泄。
圖63示出消除漏泄的電路的結(jié)構(gòu)。輸入到端子70的再生信號用帶通濾波器(BPF)71去除了噪聲以后，供給到PLL電路72和再生信號放大電路74。這里，PLL電路72中，輸入圖64A所示的擺動信號，生成同步信號。
該同步信號經(jīng)過端子73供給到激光器驅(qū)動電路，譯碼器(未圖示)，與同步信號相同步再生光磁信號。
另一方面，校正信號發(fā)生電路74，根據(jù)從端子75輸入的記錄在盤39的TOC區(qū)域的有關(guān)漏泄量的信息，進行校正使得圖64A所示的擺動信號的相位和振幅與圖64B所示的光磁信號的擺動波形的相位和振幅相等，把被校正了的擺動信號供給到減法器77的負端子。另外，從端子76，把迭加了圖64B所示的擺動波形的光磁信號輸入到減法器77的正端子。
減法器77從圖64B所示的光磁信號減去被校正了的擺動信號生成圖64C所示的信號。該生成的信號供給到譯碼器，進行了預(yù)定的解調(diào)以后，作為數(shù)據(jù)再生信號取出。
這樣，可以消除形成在紋3的側(cè)壁的擺動對于再生信號產(chǎn)生的漏泄。
實施形態(tài)23本實施形態(tài)中，決定根據(jù)記錄在盤39的TOC區(qū)域的校正量變化的校正量，檢測對于變化的各校正量的再生信號的出錯率。而且，決定出錯率為最小的校正量，作為再生信號獲得對于所決定的校正量的信號。
圖65示出本實施形態(tài)的漏泄消除電路的結(jié)構(gòu)。校正量發(fā)生電路420中，輸入基于從TOC區(qū)域再生的信息的校正量，決定根據(jù)該校正量變化的校正量的范圍。另一方面，從端子421把再生信號輸入到減法器422，減法器422從再生信號減去在校正量發(fā)生電路420中確定的各校正量。
其結(jié)果供給到出錯率檢測電路423，檢測對于各校正量的出錯率。這里，對于該校正量的出錯率如圖66所示具有極小點的關(guān)系，因此出錯率檢測電路423決定出錯率為最小的校正量，從端子424輸出對于所決定的校正量的再生信號。這種情況下，變化的校正量的范圍是校正量的0.3～3倍。
實施形態(tài)24圖67示出本實施形態(tài)的盤440的平面構(gòu)造。如圖67所示，盤440在內(nèi)周部分392和外周部分391具有TOC區(qū)域，在信號記錄區(qū)域445中，分組為記錄了關(guān)于再生信號的信息的區(qū)域(以下稱為「特定區(qū)域」)441、443和信號區(qū)域442、444。
這里，在特定區(qū)域441、443中，預(yù)先記錄著[11111……],
,[1010101……]的某1個信號，在數(shù)據(jù)信號的再生之前再生這些信號。這些信號的記錄由于排列為使得磁區(qū)的取向規(guī)則，因此可以得到與未記錄數(shù)據(jù)情況的再生信號相同的信號。即，可以獲得僅具有基于形成在紋3的側(cè)壁的擺動成分的再生信號。從而，通過從再生信號減去該信號能夠消除漏泄量。
圖68示出本實施形態(tài)的漏泄消除電路的結(jié)構(gòu)。
從端子450輸入再生了[11111……],
,[1010101……]的某1個信號的圖69A所示的再生信號Sg并且存儲在波形存儲器451中。
另一方面，從端子452把圖69B所示的再生信號Sh輸入到減法器453的正端子，與此相同步，在減法器453的負端子從波形存儲器451輸入圖69A所示的再生信號Sg。減法器453從被輸入的圖69B所示的再生信號Sh減去圖69A所示的再生信號Sg，把設(shè)有漏泄的圖69C所示的信號Si輸出到端子454。該信號供給到譯碼器，可以得到數(shù)據(jù)再生信號。
另外，這種情況下，通過記錄[11111……],
,[1010101……]的信號檢測漏泄量，然而通過施加磁頭等的外部磁場的裝置使得盤的再生層的磁化朝向1個方向也同樣能夠檢測漏泄量。
實施形態(tài)25圖70示出本實施形態(tài)的漏泄消除電路的結(jié)構(gòu)。
輸入到端子470的再生信號由A/D變換器471進行了A/D變換以后，供給到減法器475和同步檢測電路472。在同步檢測電路472中，從被供給的再生信號減去圖71所示的擺動波形的再生信號，供給到加法器473。加法器473在100～10000次的范圍把1個波長的再生信號進行相加，平均。而且，把其結(jié)果供給到波形存儲器474中。另一方面，如上所述，A/D變換后的再生信號輸入到減法器475的正端子，與此相同步負端子上從波形存儲器474輸入被平均化了的信號。加法器475從被輸入的再生信號減去被平均化了的信號，消除漏泄。
實施形態(tài)26圖72A-72D是用于說明本實施形態(tài)的漏泄消除方法原理的波形圖。
圖72A所示的波形BO表示4字節(jié)部分的信號，圖72B所示的波形CO表示下1個4字節(jié)部分的信號。另外，圖72A、72B所示的波形AO表示由形成在紋3的側(cè)壁的擺動產(chǎn)生的擺動波形。這里，從圖72A所示的波形BO減去波形AO，得到圖72C所示的波形。
另外，在圖72B所示的波形CO上加入波形AO，得到圖72D所示的波形。這里，把波形AO的2倍振幅(以下，把振幅的2倍稱為「全振幅」)記為A1，波形BO的全振幅記為B1，波形CO的全振幅記為C1，圖72C所示的波形的全振幅記為Bh，圖72D所示波形的全振幅記為Ch，則由于從(Ch-Bh)/2=[(C1+A1)-(B1-A1)]/2=A1(式中，C1=B1)能夠正確地得到擺動波形的全振幅A1，因此通過取從圖72A和圖72B所示的波形BO,CO得到的全振幅B1、C1的差，能夠得到消除了漏泄量的再生信號的全振幅。
實施形態(tài)27圖73示出本實施形態(tài)的盤的平面構(gòu)造。如圖73所示，該盤540從內(nèi)周向外周分割為n個區(qū)域541、……、54n，內(nèi)周部分的區(qū)域541包括m個扇區(qū)5411、5412、5413、……、541m，外周部分的區(qū)域54n包括p個扇區(qū)54n1、54n2、54n3、……、54np。
這里，包含在各區(qū)域中的扇區(qū)的數(shù)目不限于相同，可以按照使信息的記錄密度為最大進行決定。
圖74是示出本實施形態(tài)的盤540的構(gòu)造的透視圖。如圖74所示，盤540包括在一個側(cè)壁上形成擺動553的紋551，與紋551相鄰的不形成紋551、555的區(qū)域554，兩個側(cè)壁都沒有擺動的紋555，紋間552。這里，區(qū)域554和紋555是接在紋551后交互反復(fù)形成的。
從而，關(guān)于紋間552，成為在一個側(cè)壁上形成了擺動553以后，持續(xù)兩個側(cè)壁不擺動的狀態(tài)。
圖75示出圖74所示的盤540的平面構(gòu)造。如圖75所示，盤540在平面上，紋551和紋間552的某一方側(cè)壁上形成擺動553，隨后按照每1個預(yù)定間隔561反復(fù)形成沒有形成紋的區(qū)域554。
另外，具體地講，在1個扇區(qū)中包含43個區(qū)域554。從而，圖73所示的各扇區(qū)5411、5412、5413、……具有在其起始端形成伴隨著擺動553的紋551，隨后形成43個區(qū)域554的構(gòu)造。
這里，擺動555的長度561是50～150μm的范圍，區(qū)域554的長度562是0.5～4μm的范圍。另外，紋551的長度563與紋555的長度561相同。另外，擺動553的全振幅是60～150nm的范圍。
如以上所述，本實施形態(tài)的盤540的特征在于其構(gòu)造是作為擺動553通過雙相調(diào)制記錄紋用和紋間用的地址信息，以預(yù)定的間隔形成區(qū)域554的構(gòu)造。
由此，擺動553具有作為位于其兩側(cè)的紋間552和紋551中共同的地址信息的意義，區(qū)域554用于生成數(shù)據(jù)再生信號的記錄或者再生中使用的同步信號。
即，激光光束從盤540的外周部分順序地向內(nèi)周部分進行掃描，在形成了扇區(qū)5411、5412、5413、……的區(qū)域中激光光束到達時，檢測周期性出現(xiàn)的區(qū)域554，從基于區(qū)域554的檢測的信號生成同步信號。
另外，擺動553形成在紋551的一個側(cè)壁上，但也可以形成兩側(cè)壁上，這種情況下，作為紋間552或者紋551某一方的地址信息形成1個擺動553。
另外，盤540不限于光磁記錄媒體，只要是具有相同構(gòu)造的記錄媒體就都可以同樣進行考慮。
圖76是示出在本實施形態(tài)的盤540上記錄或者再生數(shù)據(jù)的裝置的結(jié)構(gòu)框圖。如圖76所示，該數(shù)據(jù)記錄再生裝置雖然具有與圖44所示的再生裝置相同的結(jié)構(gòu)，然而不同點在于還具有磁頭570，磁頭驅(qū)動電路57，信號格式化電路586等。
首先，說明該裝置的數(shù)據(jù)記錄動作。通過光學(xué)頭112在盤540上照射具有650(容許誤差±15，以下相同)nm波長的激光光束，由區(qū)域554的光再生得到的再生信號和誤差信號供給到再生信號放大電路114。而且，在再生信號放大電路114中把這些信號放大以后，分別把誤差信號供給到伺服電路111，把再生信號供給到同步信號生成電路557中。
圖77用于說明用包含在光學(xué)頭112中的光檢測器113進行的區(qū)域554的光再生。如圖77所示，光檢測器113的感光面分割為4個區(qū)域113a、113b、113c、113d，如箭頭589所示那樣配置盤540的半徑方向，如箭頭590所示那樣配置切線方向。來自盤540的反射光用4個區(qū)域113a、113b、113c、113d檢測，通過用區(qū)域113a、113d檢測而生成的信號(A+D)，通過用區(qū)域113b、113c檢測而生成的信號(B+C)輸入到加法器587中。加法器587把信號(A+D)和信號(B+C)進行相加，其結(jié)果作為區(qū)域554的再生信號經(jīng)過端子588供給到再生信號放大電路114。另外，也可以把區(qū)域554的再生信號獲得為從信號(A+D)減去(B+C)的信號。
圖78A是示出區(qū)域554的再生信號S1的波形圖。如圖78A所示，在激光光束照射區(qū)域554的時間T1～T2內(nèi)，由于反射光的強度大，再生信號在該期間成為極大，每隔預(yù)定的間隔能夠得到該極大值。
另外，照射在盤540上激光光束的光點以及光檢測器113的感光面的直徑由于大于紋間552的寬度，因此不僅在光再生紋551、555而且在光再生紋間52的情況下也可以獲得具有圖78A所示波形的再生信號S1。
另一方面，誤差信號中，通過用減法器(未圖示)從由區(qū)域113a、113c中的反射光的檢測得到的信號(A+C)減去由區(qū)域113b、113d中的反射光的檢測得到的信號(B+D)得到聚焦誤差信號，從信號(A+D)減去信號(B+C)得到跟蹤誤差信號，并且分別供給到再生信號放大電路114中。
而且，再生信號放大電路路114在被供給的區(qū)域554的再生信號，跟蹤誤差信號以及聚焦誤差信號中，分離出再生信號并且供給到同步信號生成電路557，把跟蹤誤差信號和聚焦誤差信號供給到伺服電路111進而，同步信號生成電路557從被供給的區(qū)域554的再生信號生成同步信號。
圖79用于說明同步信號生成電路557中的同步信號的生成。如圖79所示，同步信號發(fā)生電路577包括比較器601,PLL電路602，時鐘生成電路603。經(jīng)過端子600輸入到比較器601的圖78A所示的區(qū)域554的再生信號S1在比較器601中與基準電壓進行比較，圖78B所示的信號S2從比較器601供給到PLL電路602。而且PLL電路602把與被輸入的圖78B所示的信號S2的上升沿相同步的圖78C所示的定時信號TS供給到時鐘生成電路603。時鐘生成電路603響應(yīng)上述的定時信號TS生成圖78D所示的預(yù)定頻率的同步信號CLK，經(jīng)過端子604供給到伺服電路111，控制電路581以及信號格式化電路586中。
另外，本實施形態(tài)中，具體的講，由于在區(qū)域554和區(qū)域554之間記錄著68字節(jié)的數(shù)據(jù)，因此需要生成對應(yīng)于544比特的同步信號CLK。從而，圖78D所示的同步信號CLK成為在圖78C所示的定時信號TS之間存在544個時鐘的信號。
這樣，生成了同步信號CLK以后，激光光束到達盤540的扇區(qū)5411、5412、5413、……，在扇區(qū)的起始端檢測作為擺動533記錄的地址信息。這里，地址信息通過雙相調(diào)制把圖80A所示的波形601記錄為“1”，把圖80B所示的波形611記錄為“0”。從而，例如[1011010]的地址信息的擺動波形成為圖80C所示的波形612。
圖81A、圖81B、圖82用于說明檢測作為擺動553記錄的地址信息。
如圖82所示，包含在光學(xué)頭112中的光檢測器113是與圖77所示相同的光檢測器，信號(A+D)和信號(B+C)輸入到減法器630中。減法器630從信號(A+D)減去信號(B+C)，把其結(jié)果作為擺動553的再生信號經(jīng)過端子631供給到再生信號放大電路114。從而，例如對于圖80C所示的擺動的玻形612，把圖81A所示的再生信號SA1供給到再生信號放大電路114中。
再生信號放大電路114把被供給的再生信號輸出到地址檢測電路578。
圖83用于說明地址檢測電路578。如圖83所示，地址檢測電路578包括比較器641和地址譯碼器642，例如，經(jīng)過端子640輸入的圖81A所示的再生信號SA1在比較器641中與基準電壓進行比較，變換圖81B所示的兩值化信號SA2。該2值化信號SA2輸入到地址譯碼器642，地址譯碼器642從該2值化了的信號讀出[1011010]的地址信息。這樣檢測出的地址信息經(jīng)過端子643供給到控制電路581。
另一方面，伺服電路111與被輸入的圖78D所示的同步信號CLK相同步，以預(yù)定的轉(zhuǎn)速使主軸電機120旋轉(zhuǎn)的同時，通過跟蹤誤差信號，聚焦誤差信號把包含在光學(xué)頭112中的物鏡進行跟蹤伺服控制以及聚焦伺服控制。
另外，控制電路581根據(jù)從地址檢測電路578輸入的地址信息，把圖78D所示的同步信號CLK供給到定時設(shè)定電路583。
定時設(shè)定電路583響應(yīng)從控制電路581供給的同步信號CLK，生成用于獲取把由包含在光學(xué)頭112中的半導(dǎo)體激光器生成的激光光束脈沖化以后照射到盤540上的定時的第1定時脈沖，決定用于在通過磁頭570在盤540上施加脈沖磁場的同時切換其S/N極的占空比和施加定時的第2定時脈沖。而且，分別把第1定時脈沖供給到占空比(duty)校正電路582，把第2定時脈沖供給到磁頭驅(qū)動電路571。這里，第1定時脈沖在第2定時脈沖的S/N極切換時成為激光器不點亮的相位關(guān)系。這是因為在把磁場從S極切換為N極時存在一定的遷移時間，如果在該時刻把激光照射在盤上則不能夠正確地記錄數(shù)據(jù)。
另外，信號格式化電路586與從同步信號生成電路577供給的同步信號相同步，把記錄的數(shù)據(jù)格式化，供給到磁頭驅(qū)動電路571。
另外，磁頭驅(qū)動電路571運算從定時設(shè)定電路583供給的第2定時脈沖與從信號格式化電路586供給的數(shù)據(jù)信號的邏輯和，根據(jù)其運算結(jié)果驅(qū)動磁頭570，記錄數(shù)據(jù)。
另外占空比校正電路582把從定時設(shè)定電路583供給的第1定時脈沖添加使激光光束接通或者斷開的預(yù)定的占空比并且供給到激光器驅(qū)動電路119，激光器驅(qū)動電路119響應(yīng)被供給的第1定時脈沖驅(qū)動包含在光頭112中的半導(dǎo)體激光器。這樣，脈沖化了的激光光束照射在盤540上。
其次，參照圖76說明數(shù)據(jù)的再生動作。通過光學(xué)頭112在盤540上照射具有650nm波長的激光光束，與數(shù)據(jù)信號的記錄時相同再生區(qū)域554以及數(shù)據(jù)信號，被光再生了的區(qū)域554以及擺動553的再生信號、誤差信號、數(shù)據(jù)再生信號都供給到再生信號放大電路114。這些信號在再生信號放大電路114中被放大以后，誤差信號供給到伺服電路111，數(shù)據(jù)再生信號供給到低通電路579，區(qū)域554的再生信號供給到同步信號生成電路577，基于擺動533的再生信號供給到地址檢測電路578。
控制電路581根據(jù)從地址檢測電路578供給的地址信息，把圖78D所示的同步信號CLK供給到定時設(shè)定電路583和A/D變換器580。
而且，定時設(shè)定電路583響應(yīng)從控制電路輸入的同步信號CLK，生成決定使由包含在光學(xué)頭112中的半導(dǎo)體激光器生成的激光光束照射在盤540的定時的第1定時脈沖，并且供給到占空比校正電路582。
占空比校正電路582在被輸入的第1定時脈沖上添加使激光光束接通或者斷開的預(yù)定的占空比后供給到激光器驅(qū)動電路119。激光器驅(qū)動電路119根據(jù)該第1定時脈沖驅(qū)動包含在光學(xué)頭112中的半導(dǎo)體激光器，脈沖化了的激光光束照射在盤540上。另外，數(shù)據(jù)再生時在盤540上不加入磁場。
另一方面，低通電路579去除從再生信號放大電路114供給的數(shù)據(jù)再生信號中的高頻成分的噪聲，把去除了噪聲的數(shù)據(jù)再生信號供給到A/D變換器580。
A/D變換器580與從控制電路581輸入的同步信號CLK相同步把該數(shù)據(jù)再生信號進行A/D變換，把數(shù)據(jù)再生信號供給到高通濾波器584。
高通濾波器584從該數(shù)字再生信號去除盤540中的多次折射等引起的低頻噪聲，把數(shù)字再生信號供給到PRML(Partial ResponseMaximum Like hood)電路585。
而且，PRML電路585把數(shù)字再生信號進行3值(3電平)判別，更正確地解調(diào)再生數(shù)據(jù)。
另外，在上述數(shù)據(jù)再生動作中，同步信號發(fā)生電路577，地址檢測電路578以及伺服電路111的動作與數(shù)據(jù)記錄時的動作相同。
如以上所述，如果基于本實施形態(tài)的盤，則由于在記錄或者再生數(shù)據(jù)信號的區(qū)域的紋555的兩側(cè)壁不形成擺動，因此紋555的反射光的偏振方向不會產(chǎn)生由于受擺動影響而在數(shù)據(jù)再生特性方面帶來不良影響這樣的漏泄，能夠得到良好的再生特性。另外，由于每隔68字節(jié)設(shè)置不形成為了生成同步信號所利用的擺動551、555的區(qū)域554，因此能夠可靠地生成同步信號，能夠使數(shù)據(jù)信號的記錄或再生時的特性提高。
另外，本實施形態(tài)的盤540中，為生成同步信號在紋551和紋555之間周期性地形成區(qū)域554，然而不限于這樣的構(gòu)造，發(fā)明者認為具有激光光束的反射光強度周期性地變化這樣構(gòu)造的記錄媒體也能夠起到相同的效果。
權(quán)利要求
1．一種記錄媒體，其特征在于，具備至少一個側(cè)壁對應(yīng)于地址信息進行擺動的第1紋(3、555)；與上述第1紋相連接，形成為具有周期性的形狀變化的同時，記錄數(shù)據(jù)的第2紋(3、555)。
2．一種記錄媒體，其特征在于，具備具有一定寬度，并且具有對應(yīng)于地址信息進行擺動的側(cè)壁的紋(3、3O、3E)。
3．一種記錄媒體，其特征在于，具備包括至少一方的寬度發(fā)生變化的紋間以及第1紋的地址識別部(21)；包括具有對于1個數(shù)據(jù)對應(yīng)于2個地址信息進行擺動的側(cè)壁，具有一定寬度，同時與上述第1紋連接的第2紋的地址部(22)。
4．一種記錄媒體，其特征在于，具備對應(yīng)于地址信息兩側(cè)的側(cè)壁對稱地進行擺動的紋(3)。
5．一種記錄媒體，其特征在于，具備包括至少一方的寬度發(fā)生變化的紋間以及第1紋的地址識別部(21)；包括對于1個數(shù)據(jù)對應(yīng)于2個地址信息、兩側(cè)的側(cè)壁對稱地進行擺動的同時，與上述第1紋連接的第2紋的地址部(700)。
6．一種記錄媒體，其特征在于，具備在記錄數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)部分中，具有一定寬度，并且具有周期性擺動側(cè)壁的第1紋(3)。
7．如權(quán)利要求6所述的記錄媒體，其特征在于還具備具有一定寬度，具有對應(yīng)于地址信息進行擺動的側(cè)壁，并且與上述第1紋連接的第2紋(3O、3E)。
8．如權(quán)利要求6所述的記錄媒體，其特征在于還具備對應(yīng)于地址信息、兩側(cè)的側(cè)壁對稱地擺動的同時，與上述第1紋連接的第2紋(3)。
9．一種記錄媒體，其特征在于在記錄了數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)部中，具備兩側(cè)的側(cè)壁對稱，而且周期性地擺動的第1紋(3)。
10．如權(quán)利要求9所述的記錄媒體，其特征在于還具備具有一定的寬度，具有對應(yīng)于地址信息進行擺動的側(cè)壁，與上述第1紋連接的第2紋(3O、3E)。
11．如權(quán)利要求9所述的記錄媒體，其特征在于還具備對應(yīng)于地址信息、兩側(cè)的側(cè)壁對稱地擺動，并且與上述第1紋連接的第2紋(3)。
12．一種記錄媒體，其特征在于在記錄了數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)部中，具備至少在一方的側(cè)壁上每隔預(yù)定的間隔形成精確時鐘標記(20)的第1紋(3)。
13．如權(quán)利要求12所述的記錄媒體，其特征在于還具備具有一定的寬度，具有對應(yīng)于地址信息進行擺動的側(cè)壁，并且與上述第1紋連接的第2紋(3O、3E)。
14．如權(quán)利要求12所述的記錄媒體，其特征在于還具備對應(yīng)于地址信息兩側(cè)的側(cè)壁對稱地進行擺動，并且與上述第1紋連接的第2紋(3)。
15．一種記錄媒體，其特征在于，具備至少一方的側(cè)壁對應(yīng)于地址信息進行擺動的紋(3)。
16．一種記錄媒體，其特征在于，具備包括至少一方的側(cè)壁對應(yīng)于地址信息進行擺動并且具有一定長度的第1紋(551)的地址部；包括與上述地址部連接，兩側(cè)壁不進行擺動，具有預(yù)定長度，并且記錄了數(shù)據(jù)的多個第2紋(555)的數(shù)據(jù)部，上述多個第2紋以預(yù)定的間隔串聯(lián)排列。
17．一種記述媒體，其特征在于在記錄了數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)部中，具備至少一方的側(cè)壁周期性地擺動的紋(3)。
18．一種再生裝置，再生包括對于1個數(shù)據(jù)記錄了2個地址信息的地址部，對應(yīng)于上述1個數(shù)據(jù)記錄了1個地址識別信息的地址識別部的再生記錄媒體，其特征在于，具備在上述記錄媒體上照射光，檢測來自上述記錄媒體的反射光的檢測裝置(113)；響應(yīng)由上述檢測裝置檢測出的反射光，再生上述地址信息的地址信息再生裝置(244、53、54、57)；響應(yīng)由上述檢測裝置檢測出的來自上述地址識別部的反射光，再生上述地址識別信息的地址識別信息再生裝置(100、110)；響應(yīng)由上述地址識別信息再生裝置再生的上述1個地址識別信息，選擇由上述地址信息再生裝置再生了的上述2個地址信息中的某1個的選擇裝置(268)。
19．一種再生裝置，再生記錄了數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)部中，形成至少一方的側(cè)壁以預(yù)定的周期進行擺動的紋的再生記錄媒體，其特征在于，具備在上述記錄媒體上照射光，檢測來自上述記錄媒體的反射光的檢測裝置(113)；響應(yīng)上述檢測裝置檢測出的來自上述數(shù)據(jù)部的反射光的強度變化，生成具有上述預(yù)定周期的同步信號的同步信號生成裝置(117、247)；響應(yīng)由上述檢測裝置檢測出的來自上述數(shù)據(jù)部的反射光生成再生信號，通過與上述同步信號相同步而解調(diào)上述再生信號，再生上述數(shù)據(jù)的再生裝置(114、118)。
20．如權(quán)利要求19所述的再生裝置，其特征在于，具備響應(yīng)上述同步信號，檢測由上述檢測裝置檢測出的來自上述數(shù)據(jù)部的反射光的強度的再生信號電平檢測裝置(260)；響應(yīng)由上述再生信號電平檢測裝置檢測出的上述反射光的強度的變化量，跟蹤控制上述檢測裝置的跟蹤控制裝置(266、267)。
全文摘要
本發(fā)明涉及用于以簡易的結(jié)構(gòu)得到特性良好的再生數(shù)據(jù)的磁光記錄媒體及其再生裝置，提供具備對應(yīng)于地址信息至少一方的側(cè)壁進行擺動的多個第1紋(3)，夾在與第1紋連接的第2紋的紋間的寬度發(fā)生變化的地址標記(21)，形成為兩側(cè)的側(cè)壁對稱，而且周期性地擺動，在磁記錄數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)部中與第2紋連接的第3紋(3)的磁光記錄媒體，以及再生該光磁記錄媒體的裝置。
文檔編號G11B7/005GK1238060SQ97199900
公開日1999年12月8日 申請日期1997年7月14日 優(yōu)先權(quán)日1996年9月26日
發(fā)明者淺野賢二, 間宮升, 內(nèi)原可治, 鷲見聰, 中尾賢治, 渡部浩志, 日置敏昭, 堀吉宏, 松山久, 虎澤研示, 棚瀨健司, 田中小夜子, 鈴木譽久, 堀茂樹 申請人:三洋電機株式會社