專利名稱：光盤介質(zhì)質(zhì)量檢測(cè)方法和裝置的制作方法
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本發(fā)明涉及一種光盤質(zhì)量檢測(cè)裝置，尤其涉及一種改進(jìn)的光盤質(zhì)量檢測(cè)裝置和方法，其在光盤生產(chǎn)過程中能夠?qū)獗P質(zhì)量進(jìn)行有效地檢測(cè)。
盤介質(zhì)分為兩類，即磁盤和致密盤(CD)這樣的光盤。由于光盤的存貯量很大，因此，對(duì)光盤的需求迅速增加。光盤分為預(yù)錄盤，如致密盤(CD)、一次寫入盤，如CD-R(可記錄CD)、和可重復(fù)寫入盤介質(zhì)，如CD-RW及DVD-RAM。


圖1A和1B說明的是一般光盤。這些盤的半徑L1是60mm，中心孔的直徑L2是15mm。圖1A表示的是一般預(yù)錄光盤。如圖1A所示，光盤的記錄區(qū)包括引入開始點(diǎn)BLI，主存貯區(qū)開始點(diǎn)BPL，和引出開始點(diǎn)BLO。信息被寫入主存貯區(qū)開始點(diǎn)BPL和引出開始點(diǎn)BLO之間的主存貯區(qū)MSA。
圖1B表示的是一般一次寫入光盤，在這種盤上沒有預(yù)先記錄信息。就象圖1A所表示的光盤，圖1B表示的光盤有一個(gè)記錄區(qū)，當(dāng)在記錄區(qū)記錄信息時(shí)，該信息被記錄在主存貯區(qū)MSA。如圖1A和1B所示，記錄區(qū)的外區(qū)不用于存貯信息。外區(qū)為加工缺陷提供了誤差裕度，因?yàn)樗捎玫闹圃旒夹g(shù)使記錄區(qū)的缺陷極易發(fā)生在記錄區(qū)的外區(qū)。
圖2A和2B是表示CD-R盤結(jié)構(gòu)的示意圖。
首先，用沖壓機(jī)將CD-R盤注射成型，以形成有預(yù)制槽的聚碳酸酯基底。然后，對(duì)預(yù)制槽聚碳酸酯基底進(jìn)行旋涂處理。
如圖2A所示，旋涂處理使預(yù)制槽聚碳酸酯基底可以按約3000rpm旋轉(zhuǎn)，從而對(duì)盤進(jìn)行涂敷處理，其中，涂液向內(nèi)滴在盤上，以便利用離心力將液滴分散開。
首先使用聚乙烯和旋涂處理形成記錄層，然后用鋁在記錄層上依次形成反射層和保護(hù)層。使用UV樹脂在保護(hù)層上形成一個(gè)涂敷層，最后形成標(biāo)記層，由此，獲得截面如圖2B所示的CD-R盤。涂敷保護(hù)的CD-R盤疊放在一個(gè)立柱上并傳送給質(zhì)量檢測(cè)裝置。
如圖2A所示，當(dāng)在光盤生產(chǎn)中采用旋涂處理時(shí)，盤的厚度有朝向其外周邊逐漸變薄的趨向。其結(jié)果是，當(dāng)在盤的記錄層進(jìn)行記錄或從記錄層重放時(shí)，由于記錄層不均勻，朝向外周邊誤差的發(fā)生會(huì)越來越多，因此，一般來說，目標(biāo)信息只記錄在光盤整個(gè)120mm直徑中的118mm構(gòu)成的主存貯區(qū)。118mm周邊的外區(qū)不用來進(jìn)行記錄。
一般的盤質(zhì)量檢測(cè)方法從視覺檢測(cè)方法到反射率檢測(cè)方法有很大不同。
圖3是由Koch公司制造的視覺檢測(cè)裝置的方框圖。如圖3所示，視覺檢測(cè)裝置包括控制器10，用于對(duì)檢測(cè)裝置進(jìn)行總的控制操作；驅(qū)動(dòng)器11-14，用于在主存貯區(qū)的引入?yún)^(qū)進(jìn)行檢測(cè)信號(hào)記錄操作或從引入?yún)^(qū)進(jìn)行檢測(cè)信號(hào)重放操作；檢測(cè)信號(hào)處理單元15，用于分析由驅(qū)動(dòng)器11-14所重放的檢測(cè)信號(hào)的特性；測(cè)量系統(tǒng)16，用于將基準(zhǔn)信號(hào)與由檢測(cè)信號(hào)處理單元15分析得出的各個(gè)特性進(jìn)行比較，并確定盤質(zhì)量是否有問題。
在這種情況，是假定盤是采用同樣的沖壓機(jī)進(jìn)行注射成型的，而且一般采用4個(gè)驅(qū)動(dòng)器，其細(xì)微差別取決于測(cè)量裝置的制造商。
檢測(cè)信號(hào)處理單元15包括一個(gè)中央處理單元15a和分別對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)器11-14的數(shù)字信號(hào)處理單元15b-15e。
這里，DSP1-DSP4(15b-15e)分別用于對(duì)重放檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行特性分析。DSP-1(15b)分析伺服信號(hào)和聚焦信號(hào)，DSP-2(15-c)分析不穩(wěn)定性，DSP3(15d)分析機(jī)械特性，DSP4(15e)分析光學(xué)特性。
現(xiàn)在對(duì)這樣構(gòu)成的盤視覺檢測(cè)裝置進(jìn)行說明。
在光盤制造完成以后，把根據(jù)控制器10的控制所抽樣的光盤適宜地安裝到驅(qū)動(dòng)器11-14上，各驅(qū)動(dòng)器11-14根據(jù)控制器10的控制，在引入?yún)^(qū)或主存貯區(qū)記錄檢測(cè)信號(hào)或從上述區(qū)重放檢測(cè)信號(hào)。
DSP1-DSP4 15b-15e相應(yīng)接收由驅(qū)動(dòng)器11-14重放的檢測(cè)信號(hào)，然后根據(jù)CPU 15a的控制，分析高頻HF、不穩(wěn)定性、伺服信號(hào)、聚焦信號(hào)、機(jī)械特性和光學(xué)特性。在這種情況下，測(cè)試指標(biāo)包括光學(xué)特性，如雙折射，反射率和透射率，以及信號(hào)特性，如每組的誤差發(fā)生率，徑向噪聲和不穩(wěn)定性，這些指標(biāo)分別用來對(duì)盤進(jìn)行評(píng)估。
然后，測(cè)量系統(tǒng)16用預(yù)先貯存的基準(zhǔn)信號(hào)與高頻、不穩(wěn)定性、伺服信號(hào)、聚焦信號(hào)、機(jī)械特性和光學(xué)特性進(jìn)行比較，以確定盤質(zhì)量是否有問題。
如上所述，一般質(zhì)量檢測(cè)方法包括在盤的引入?yún)^(qū)或主存貯區(qū)記錄信號(hào)，重放這些檢測(cè)信號(hào)，和將檢測(cè)信號(hào)與基準(zhǔn)信號(hào)相比較以確定質(zhì)量。
但是，遺憾的是不能對(duì)每一個(gè)制造出的光盤都用這些方法檢測(cè)。例如，一旦檢測(cè)數(shù)據(jù)寫入一次寫入光盤，該盤由于變成不能使用而失去其作為商品的價(jià)值。因此，通常對(duì)多個(gè)制造的光盤進(jìn)行抽樣并根據(jù)上述方法進(jìn)行檢測(cè)。
除產(chǎn)生抽樣盤不能使用的問題以外，這些質(zhì)量檢測(cè)方法還存在不準(zhǔn)確和不可信的問題。因?yàn)榧词钩闃颖P質(zhì)量合格，并不一定意味著其他沒被抽樣的盤也具有高質(zhì)量。因此，這些檢測(cè)存在不準(zhǔn)確和不可信的問題。
此外，在一般的反射率檢測(cè)方法中，激光二極管發(fā)出的光被分成多束并射到盤上。使用多個(gè)光檢測(cè)器對(duì)被盤的反射層反射的多束光進(jìn)行檢測(cè)，并檢測(cè)由于在成型或制造過程中(例如濺射處理和旋涂處理)所產(chǎn)生的層的不均勻所導(dǎo)致的缺陷。反射檢測(cè)識(shí)別缺陷的準(zhǔn)確度取決于光檢測(cè)器的數(shù)量和大小。
目前已有的技術(shù)在減小光檢測(cè)器的大小上存在限制，因此，只能檢測(cè)明顯的缺陷，不能進(jìn)行精細(xì)檢測(cè)。
光盤介質(zhì)還要經(jīng)過附加的質(zhì)量檢測(cè)。例如，通過使用CCD攝像機(jī)監(jiān)視用激光束對(duì)光盤表面進(jìn)行的掃描，從而對(duì)光盤的整個(gè)表面進(jìn)行顯示。然后用顯示器對(duì)該表面進(jìn)行視覺檢查。
其他檢測(cè)包括推/挽，交擾和檢查引入開始點(diǎn)BLI，主存貯區(qū)開始點(diǎn)BPL和引出開始點(diǎn)BLO的位置。
通過上述檢測(cè)方法，可以進(jìn)行機(jī)械特性檢測(cè)，如引入開始點(diǎn)BLI、主存貯區(qū)開始點(diǎn)BPL、引出開始點(diǎn)BLO、記錄道和標(biāo)記開始點(diǎn)、檢測(cè)速度、道間距、彎曲偏差、扭曲偏差、光盤厚度、角偏差、垂直偏差、光盤半徑和光盤中心孔直徑。此外，還可以進(jìn)行信號(hào)特性檢測(cè)，如徑向噪聲、焦點(diǎn)噪聲、跟蹤信號(hào)的推/挽、數(shù)據(jù)載體模擬和載體數(shù)字。
根據(jù)本發(fā)明的檢測(cè)光盤介質(zhì)質(zhì)量的方法和裝置將光盤送到檢測(cè)位置(例如，將光盤放置在光盤驅(qū)動(dòng)器上)，并在光盤的外區(qū)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)。光盤的這種外區(qū)在制造預(yù)錄盤時(shí)不使用，并且也不被一次寫入光盤的使用者所使用。光盤質(zhì)量根據(jù)重放光盤外區(qū)的檢測(cè)數(shù)據(jù)所產(chǎn)生的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行判斷。根據(jù)質(zhì)量判斷，對(duì)光盤進(jìn)行分類以便進(jìn)一步處理。
通過下面的詳細(xì)說明以及僅作為解釋用的附圖，會(huì)使本發(fā)明得到更好的理解，在附圖中，在各個(gè)圖中相同標(biāo)號(hào)表示相應(yīng)部分。
圖1A和1B表示一般光盤；圖2A是關(guān)于使用旋涂法制造CD-R盤的示意圖；圖2B是使用旋涂法制造的CD-R盤的局部截面透視圖；圖3是Koch公司制造的視覺檢測(cè)裝置的方框圖；圖4A和4B表示的是本發(fā)明的光盤；圖5A和5B表示的是根據(jù)本發(fā)明重放檢測(cè)數(shù)據(jù)的一種方法；圖5C和5D表示的是根據(jù)本發(fā)明重放檢測(cè)數(shù)據(jù)的另一種方法；圖5E和5F表示的是根據(jù)本發(fā)明重放檢測(cè)數(shù)據(jù)的又一種方法；圖6是一個(gè)根據(jù)本發(fā)明在光盤中記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)和檢測(cè)光盤質(zhì)量的裝置的實(shí)施例的框圖；圖7是根據(jù)本發(fā)明在光盤中記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)的一種方法的流程圖；圖8A和8B表示的是當(dāng)根據(jù)本發(fā)明將檢測(cè)數(shù)據(jù)寫入光盤時(shí)，光盤的信息狀態(tài)；圖9是根據(jù)本發(fā)明檢測(cè)光盤質(zhì)量的方法的流程圖；圖10A表示的是光盤上的凹痕圖案與重放的凹痕圖案信號(hào)的關(guān)系；圖10B表示一個(gè)重放的模擬信號(hào)的例子；圖11是根據(jù)本發(fā)明進(jìn)行光盤質(zhì)量檢測(cè)的裝置的另一個(gè)實(shí)施例的透視圖；圖12是詳細(xì)表示圖11中驅(qū)動(dòng)器組成的框圖；圖13是用于轉(zhuǎn)動(dòng)圖11中提取器的光盤傳送部件的結(jié)構(gòu)的平面示意圖；圖14是表示用于垂直移動(dòng)圖11中的提取器的光盤傳送部件的結(jié)構(gòu)的橫截面示意圖；圖15是圖11中傳感器實(shí)施例的橫截面示意圖；圖16是包括根據(jù)本發(fā)明的光盤質(zhì)量檢測(cè)裝置另一個(gè)實(shí)施例的整個(gè)系統(tǒng)的示意圖；圖17表示的是根據(jù)本發(fā)明在光盤外區(qū)的數(shù)據(jù)格式；圖18是ASCII碼系統(tǒng)表；圖19表示的是根據(jù)本發(fā)明進(jìn)行光盤質(zhì)量檢測(cè)的方法的流程；圖20表示的是圖19所示流程中移動(dòng)和加載步驟的流程；圖21表示的是圖19中檢測(cè)數(shù)據(jù)記錄步驟的流程；圖22表示的是圖19中檢測(cè)數(shù)據(jù)重放步驟的流程；和圖23表示的是圖19中光盤分類步驟的流程。
圖6表示的是一種根據(jù)本發(fā)明在光盤上記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)并檢測(cè)光盤質(zhì)量的裝置(下稱“光盤質(zhì)量檢測(cè)裝置”)的一個(gè)實(shí)施例。如圖所示，光盤質(zhì)量檢測(cè)裝置包括一個(gè)驅(qū)動(dòng)單元31和一個(gè)光拾取單元32。驅(qū)動(dòng)單元31包括一個(gè)用于支承所要重放的光盤31-1的支架31-2，一個(gè)用于夾持光盤31-1夾持器31-3和一個(gè)用于旋轉(zhuǎn)光盤31-1的主軸電動(dòng)機(jī)31-4。光拾取單元32包括一個(gè)用于向光盤31-1寫入信息并從光盤31-1讀取信息的光拾取器32-2。一個(gè)滑動(dòng)電動(dòng)機(jī)32-1沿光盤31-1徑向移動(dòng)光拾取器32-2。
一個(gè)控制器36通過一個(gè)伺服機(jī)構(gòu)37控制主軸電動(dòng)機(jī)31-4和滑動(dòng)電動(dòng)機(jī)32-1的工作，這種控制是根據(jù)使用者輸入的信號(hào)和來自光拾取單元32的聚焦誤差和跟蹤誤差信號(hào)進(jìn)行的。當(dāng)一個(gè)使用者命令在光盤31-1記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)時(shí)，控制器36將要寫入光盤31-1的檢測(cè)數(shù)據(jù)提供給光拾取單元32，并控制檢測(cè)數(shù)據(jù)的記錄。
當(dāng)使用者命令對(duì)光盤31-1進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)時(shí)，控制器36控制光拾取單元32重放記錄在光盤31-1上的檢測(cè)數(shù)據(jù)。光拾取單元32輸出的重放信號(hào)被提供給RF放大器33和控制器36，而聚焦誤差和跟蹤誤差信號(hào)被提供給控制器36。根據(jù)聚焦誤差及跟蹤誤差信號(hào)和重放信號(hào)，控制器36通過伺服機(jī)構(gòu)37控制滑動(dòng)電動(dòng)機(jī)32-1和主軸電動(dòng)機(jī)31-4。RF放大器33對(duì)來自光拾取單元32的重放信號(hào)進(jìn)行處理并輸出處理過的重放信號(hào)以進(jìn)行MPEG處理。還將處理過的重放信號(hào)提供給比較器35。
比較器35將處理過的重放信號(hào)與存貯在存貯器34中的預(yù)定數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。將比較結(jié)果輸出給控制器36，控制器36根據(jù)比較結(jié)果確定光盤31-1的質(zhì)量是好，還是壞。如果控制器36確定光盤31-1的質(zhì)量不好，那么，控制器36就驅(qū)動(dòng)指示器38向使用者指示光盤31-1質(zhì)量不好。
下面參照?qǐng)D4A-9詳細(xì)說明根據(jù)本發(fā)明的光盤質(zhì)量檢測(cè)裝置的工作。如圖4A和4B所示，根據(jù)本發(fā)明的光盤質(zhì)量檢測(cè)裝置將檢測(cè)數(shù)據(jù)STP記錄在光盤的外區(qū)；預(yù)錄光盤(圖4A)和一次寫入光盤(圖4B)都是如此。記錄操作將結(jié)合圖6-8B進(jìn)行更詳細(xì)說明。
圖7表示的是根據(jù)本發(fā)明在光盤上記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)的方法的流程圖。如圖所示，在步驟S10，控制器36控制光拾取單元32從光盤上讀取目錄表TOC數(shù)據(jù)。記錄在光盤中心附近的TOC數(shù)據(jù)指示例如預(yù)錄光盤中的主存貯區(qū)的引入開始點(diǎn)、主存貯區(qū)和主存貯區(qū)的引出開始點(diǎn)的位置。為了便于說明，下面僅就預(yù)錄光盤來說明在光盤中記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)的方法。但是，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員很容易就知道這種方法可以用于例如一次寫入光盤。
在接收到來自光拾取單元32的TOC數(shù)據(jù)后，控制器36在步驟S20確定使用者是否已經(jīng)選擇了檢測(cè)數(shù)據(jù)記錄模式。如果還沒有選擇檢測(cè)數(shù)據(jù)記錄模式，處理就結(jié)束。否則，在步驟S30，控制器36確定使用者是否已經(jīng)選擇了從內(nèi)向外(in to out)記錄模式。
如果在步驟S30已經(jīng)選擇了從內(nèi)向外(in to out)記錄模式，則在步驟S40，控制器36以任何已知的方式確定光拾取器32-2的當(dāng)前位置，并根據(jù)TOC數(shù)據(jù)確定主存貯區(qū)的引出開始點(diǎn)BLO的位置。然后，在步驟S50，控制器36根據(jù)所檢測(cè)的光拾取器32-2的當(dāng)前位置和所確定的主存貯區(qū)引出開始點(diǎn)BLO的位置，將光拾取器32-2移向主存貯區(qū)的引出部位。
在步驟S60，控制器36控制光拾取單元32以圖8A所示的從內(nèi)向外(in to out)方式在光盤31-1上記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)STP。檢測(cè)數(shù)據(jù)可以由使用者提供，也可以是由控制器36存貯的預(yù)定數(shù)據(jù)。檢測(cè)數(shù)據(jù)可以是預(yù)定凹痕圖案，預(yù)定的位組合，或者象已知樂曲這樣的預(yù)定的信號(hào)。檢測(cè)數(shù)據(jù)將在下面討論光盤質(zhì)量檢測(cè)時(shí)更詳細(xì)的說明。
如圖8A所示，控制器36控制光拾取器32-2跟蹤光盤并從徑向內(nèi)側(cè)位置移動(dòng)到徑向外側(cè)位置來記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)之前的引入?yún)^(qū)和檢測(cè)數(shù)據(jù)。換句話說，控制器36通過滑動(dòng)電動(dòng)機(jī)32-1和伺服機(jī)構(gòu)37控制光拾取器32-2在記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)期間沿光盤徑向向外方向移動(dòng)。此外，如圖8A所示，控制器36控制光拾取單元32在主存貯區(qū)的引出區(qū)之后隔一個(gè)預(yù)定徑向距離開始記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)STP的引入?yún)^(qū)，以在主存貯區(qū)的引出區(qū)和檢測(cè)數(shù)據(jù)STP的引入?yún)^(qū)之間建立一個(gè)緩沖區(qū)。
在檢測(cè)數(shù)據(jù)記錄完成以后，在步驟S70，控制器36更新光盤中的TOC數(shù)據(jù)以指示檢測(cè)數(shù)據(jù)及其引入?yún)^(qū)的位置。
如果在步驟S30沒有選擇從內(nèi)向外(in to out)記錄模式，那么，在步驟S80，控制器36確定使用者是否選擇了從外向內(nèi)(out-to-in)記錄模式。如果還沒有選擇從外向內(nèi)(out-to-in)記錄模式，流程回到步驟S30。否則，流程進(jìn)入步驟S90。在步驟S90，控制器36以任何已知的方式檢測(cè)光拾取器32-2的當(dāng)前位置，并根據(jù)TOC數(shù)據(jù)確定記錄區(qū)結(jié)束的位置。然后，在步驟S100，控制器36把光拾取器32-2移向記錄區(qū)的結(jié)束部位。
接下來，在步驟S110，控制器36控制光拾取單元32以圖8B所示的從外向內(nèi)方式在光盤中記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)。如圖8B所示，檢測(cè)數(shù)據(jù)STP在記錄區(qū)結(jié)束部位開始記錄并沿徑向向內(nèi)朝向光盤中心進(jìn)行。具體講，如圖8B所示，先記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)STP的引入?yún)^(qū)，然后記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)，最后記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)的引出區(qū)。在主存貯區(qū)的引出區(qū)起始點(diǎn)前面足夠距離的部位記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)STP的引出區(qū)，這樣就在主存貯區(qū)的引出區(qū)和檢測(cè)數(shù)據(jù)STP的引出區(qū)之間留下一個(gè)緩沖區(qū)。當(dāng)從外向內(nèi)記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)時(shí)，控制器36在跟蹤光盤的同時(shí)控制光拾取器32-2沿徑向朝向光盤中心移動(dòng)。
在步驟S110記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)之后，流程進(jìn)入步驟S70。在步驟S70，控制器36更新光盤的TOC數(shù)據(jù)以指示檢測(cè)數(shù)據(jù)以及檢測(cè)數(shù)據(jù)的引入?yún)^(qū)和引出區(qū)的位置。
現(xiàn)在結(jié)合圖3A-6和圖9說明根據(jù)本發(fā)明的光盤質(zhì)量檢測(cè)裝置的質(zhì)量檢測(cè)操作。圖9表示的根據(jù)本發(fā)明檢測(cè)光盤質(zhì)量的方法。如圖9所示，在步驟S200，控制器36控制光拾取單元32重放和輸出光盤31-1的TOC數(shù)據(jù)。然后在步驟S220，控制器36確定使用者是否已經(jīng)輸入質(zhì)量檢測(cè)指令。如果還沒有輸入質(zhì)量檢測(cè)指令，流程結(jié)束。如果已經(jīng)輸入質(zhì)量檢測(cè)指令，則在步驟S230，控制器36以任何已知的方式檢測(cè)光拾取器32-2的當(dāng)前位置。
根據(jù)在TOC數(shù)據(jù)中所指示的檢測(cè)數(shù)據(jù)引入?yún)^(qū)的位置和光拾取器32-2的當(dāng)前位置，在步驟240，控制器36將光拾取器32-2移到檢測(cè)數(shù)據(jù)的引入?yún)^(qū)。除指示檢測(cè)數(shù)據(jù)的引入?yún)^(qū)的位置以外，TOC數(shù)據(jù)通過該位置數(shù)據(jù)還可以指示檢測(cè)數(shù)據(jù)是沿向從內(nèi)向外記錄的，還是沿徑向從外向內(nèi)記錄的。根據(jù)這個(gè)判斷，在步驟S250，控制器36控制光拾取器32-2重放檢測(cè)數(shù)據(jù)。
檢測(cè)數(shù)據(jù)可以順序重放，如圖5A所示的預(yù)錄光盤或如圖5B所示的一次寫入光盤，檢測(cè)數(shù)據(jù)也可以按預(yù)定間隔重放，如圖5C所示預(yù)錄光盤和圖5D所示一次寫入光盤。此外，也可以重放檢測(cè)數(shù)據(jù)的預(yù)先選擇的部分，如圖5E所示的預(yù)錄光盤和圖5F所示的一次寫入光盤。
在步驟S260，重放的檢測(cè)數(shù)據(jù)由RF放大器33處理并輸出給比較器35。在控制器36的控制下，比較器35將檢測(cè)數(shù)據(jù)與在存貯器34中存貯的預(yù)定數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，控制器36根據(jù)比較判斷光盤31-1的質(zhì)量。比較器35和控制器36可以完成一個(gè)質(zhì)量檢測(cè)操作或幾個(gè)質(zhì)量檢測(cè)操作的組合。這些質(zhì)量檢測(cè)方法包括凹痕圖案檢測(cè)，位組合檢測(cè)和模擬信號(hào)檢測(cè)。
在CD和數(shù)字視盤(或數(shù)字通用盤)DVD中，最小的位組合是3T，最大的位組合對(duì)于CD是11T，對(duì)于DVD是14T。標(biāo)記3T，4T等是與預(yù)定位組合相對(duì)應(yīng)的凹痕長(zhǎng)度的量度。圖10A表示的是RF放大器33輸出的信號(hào)與代表光盤31-1上的檢測(cè)數(shù)據(jù)的凹痕之間的關(guān)系。如圖10A所示，例如RF放大器33輸出的信號(hào)在凹痕的始點(diǎn)從低狀態(tài)變成高狀態(tài)，在凹痕的長(zhǎng)度范圍內(nèi)保持高狀態(tài)，在凹痕的終點(diǎn)從高狀態(tài)變成低狀態(tài)。RF放大器33輸出的信號(hào)的轉(zhuǎn)變代表位值1，而RF放大器33輸出的信號(hào)保持高狀態(tài)的時(shí)間長(zhǎng)度代表若干位0。一個(gè)3T凹痕代表位流1001。一個(gè)比3T凹痕長(zhǎng)的4T凹痕代表位組合10001。當(dāng)凹痕圖案從3T到11T或14T順序增加，0的個(gè)數(shù)也隨之增加。
當(dāng)采用凹痕圖案方法進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)時(shí)，同一個(gè)凹痕圖案作為檢測(cè)數(shù)據(jù)被反復(fù)記錄。在一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，記錄的凹痕圖案是3T凹痕圖案。由于3T凹痕圖案是最小的凹痕圖案，所以更可能檢測(cè)到誤差。
比較器35將圖10A所示的RF放大器33輸出的凹痕圖案信號(hào)與存貯在存貯器34中的基準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行比較。基準(zhǔn)信號(hào)代表記錄在光盤上的凹痕圖案。對(duì)應(yīng)于識(shí)別數(shù)據(jù)的凹痕圖案信號(hào)的每一部分代表1個(gè)凹痕，這個(gè)凹痕與基準(zhǔn)信號(hào)相匹配。例如，當(dāng)采用3T凹痕圖案時(shí)，每個(gè)識(shí)別凹痕代表4位識(shí)別數(shù)據(jù)。比較器35確定識(shí)別檢測(cè)數(shù)據(jù)的總量，然后，將識(shí)別檢測(cè)數(shù)據(jù)的總量與存貯在存貯器34的預(yù)定的識(shí)別數(shù)據(jù)閾值進(jìn)行比較。存貯器34存貯了對(duì)應(yīng)于圖5A-5F所示的每一種重放方法的識(shí)別數(shù)據(jù)閾值(即連續(xù)的、周期的和選擇的部分)。因此，根據(jù)重放的類型(連續(xù)的、周期的、和有選擇的部分)，由比較器35選擇和使用不同的識(shí)別數(shù)據(jù)閾值。比較器35向控制器36輸出比較結(jié)果。
如果識(shí)別數(shù)據(jù)的量大于識(shí)別數(shù)據(jù)閾值，在步驟S260，控制器36確定光盤質(zhì)量為好。否則，在步驟S260，控制器36確定光盤質(zhì)量為差。
取代或除凹痕圖案檢測(cè)以外，位組合檢測(cè)可以對(duì)光盤31-1的質(zhì)量進(jìn)行判斷。在位組合檢測(cè)中，凹痕圖案信號(hào)被轉(zhuǎn)換成位流。即，將每一個(gè)凹痕轉(zhuǎn)換成所代表的位。比較器35將得到的位組合與存貯在存貯器34中的位組合基準(zhǔn)形式進(jìn)行比較。與凹痕圖案檢測(cè)不同，位組合檢測(cè)不需要將相同的凹痕圖案作為檢測(cè)數(shù)據(jù)在光盤31-1中反復(fù)記錄。任何預(yù)定的凹痕排列都可以作為檢測(cè)數(shù)據(jù)記錄在光盤31-1中。存貯在存貯器34中的基準(zhǔn)位組合與記錄在光盤31-1中的凹痕圖案相對(duì)應(yīng)。
比較器35將從凹痕圖案信號(hào)獲得的位組合與基準(zhǔn)位組合一個(gè)凹痕一個(gè)凹痕地進(jìn)行比較。換句話說，將與一個(gè)凹痕相對(duì)應(yīng)的每組位與基準(zhǔn)位組合中相對(duì)應(yīng)組的位進(jìn)行比較。如果存在匹配，則匹配位被作為識(shí)別數(shù)據(jù)來看待。比較器35加出識(shí)別數(shù)據(jù)的總量，并將數(shù)據(jù)的總識(shí)別量與存貯在存貯器34中的預(yù)定識(shí)別數(shù)據(jù)閾值進(jìn)行比較。將比較結(jié)果輸出給控制器36。正如凹痕圖案檢測(cè)的情況一樣，存貯器34存貯對(duì)應(yīng)于連續(xù)的，周期的和有選擇的部分的重放模式的識(shí)別數(shù)據(jù)閾值。因此，識(shí)別數(shù)據(jù)閾值取決于重放模式(連續(xù)的、間斷的或部分)。
如果識(shí)別數(shù)據(jù)總量超過識(shí)別數(shù)據(jù)閾值，則控制器36確定光盤31-1質(zhì)量為好；否則，則控制器36確定光盤31-1質(zhì)量為差。
取代或除凹痕圖案檢測(cè)和位組合檢測(cè)之外，模擬信號(hào)檢測(cè)也可以對(duì)光盤31-1的質(zhì)量進(jìn)行確定。在這種模擬信號(hào)檢測(cè)中，從凹痕圖案信號(hào)獲得的位組合通過比較器35進(jìn)行數(shù)/模轉(zhuǎn)換以獲得圖10B所示的模擬信號(hào)。然后，比較器35對(duì)模擬信號(hào)或進(jìn)行幅值和頻率檢測(cè)，或進(jìn)行其中之一檢測(cè)。在幅值檢測(cè)中，比較器35將模擬信號(hào)的幅值與如圖10B中ATH和-ATH所指示的幅值閾值范圍進(jìn)行比較。
在頻率檢測(cè)中，比較器35將圖10B所示的t1和t2這樣的過零點(diǎn)與和每個(gè)過零點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的預(yù)定時(shí)間閾值范圍進(jìn)行比較。更具體地講，由于記錄在光盤31-1上的檢測(cè)數(shù)據(jù)是預(yù)定的，所以，所得到的模擬信號(hào)也是已知的；因此，過零點(diǎn)已知。對(duì)關(guān)于這些過零點(diǎn)根據(jù)經(jīng)驗(yàn)確定的誤差量因子分解，得到關(guān)于重放模擬信號(hào)每一個(gè)過零點(diǎn)的時(shí)間閾值范圍。然后，將關(guān)于每個(gè)過零點(diǎn)的時(shí)間閾值范圍存貯到存貯器34中。
當(dāng)然，和其他檢測(cè)方法的情況一樣，存貯的時(shí)間閾值范圍的使用取決于重放模式(連續(xù)的、周期的或有選擇的部分)。
根據(jù)幅值檢測(cè)、頻率檢測(cè)，或根據(jù)幅值和頻率檢測(cè)能夠?qū)獗P31-1的質(zhì)量進(jìn)行判斷。如果模擬信號(hào)的幅值超過幅值閾值范圍，則控制器36確定光盤31-1質(zhì)量為差。而且，如果模擬信號(hào)的過零點(diǎn)落到相應(yīng)的時(shí)間閾值以外，則控制器36確定光盤31-1質(zhì)量為差。如果控制器36根據(jù)幅值檢測(cè)、頻率檢測(cè)、或幅值和頻率檢測(cè)沒有作出質(zhì)量差的判斷，那么，控制器36就確定光盤31-1的質(zhì)量為好。
接下來，在步驟S270，如果控制器36判斷光盤31-1質(zhì)量差，則流程進(jìn)入步驟S280，而且控制器36驅(qū)動(dòng)指示器38并且流程結(jié)束。在這種情況下，向使用者發(fā)出所檢測(cè)的光盤是質(zhì)量差的光盤的警報(bào)。如果在步驟S270判斷光盤質(zhì)量好，則流程結(jié)束。
如上所述，凹痕圖案檢測(cè)、位組合檢測(cè)、幅值檢測(cè)和頻率檢測(cè)可以單獨(dú)使用或彼此結(jié)合使用以確定光盤的質(zhì)量。
而且，除了上述的質(zhì)量檢測(cè)以外，還可以對(duì)光盤進(jìn)行另外的機(jī)械檢測(cè)和信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)。例如，通過使用CCD攝像機(jī)監(jiān)視用激光束對(duì)光盤表面進(jìn)行掃描來顯示光盤的整個(gè)表面。然后，用顯示器對(duì)表面進(jìn)行視覺檢測(cè)。
其他檢測(cè)包括推/挽、交擾和檢測(cè)引入開始點(diǎn)BLI、主存貯區(qū)開始點(diǎn)BPL和引出開始點(diǎn)BLO的位置。
通過上述檢測(cè)處理可以進(jìn)行機(jī)械特性檢測(cè)，如引入開始點(diǎn)BLI，主存貯區(qū)開始點(diǎn)BPL，引出開始點(diǎn)BLO，記錄道和標(biāo)記開始點(diǎn)、檢測(cè)速度、道間距、彎曲偏差、扭曲偏差、光盤厚度、角偏差、垂直偏差、光盤半徑和光盤中心孔的直徑。
圖11是根據(jù)本發(fā)明的質(zhì)量檢測(cè)裝置的另一個(gè)實(shí)施例的透視圖，其中設(shè)置有驅(qū)動(dòng)器安裝單元120、盤傳送部件121和第一至第三立柱122-124。
驅(qū)動(dòng)器安裝單元120包括一個(gè)控制器120a，用于進(jìn)行控制操作和質(zhì)量判斷操作，還包括多個(gè)驅(qū)動(dòng)器a-h，用于在光盤的外區(qū)記錄標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)程序(STP)或從光盤外區(qū)重放標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)程序(STP)?？刂破?20a可以設(shè)置在驅(qū)動(dòng)器a-h的外面，驅(qū)動(dòng)器a-d和驅(qū)動(dòng)器e-h彼此相對(duì)設(shè)置。一個(gè)指示器120b任意與控制器120a相連，并可以成為驅(qū)動(dòng)器a-h的一部分而不是位于驅(qū)動(dòng)器外部。
盤傳送部件121包括一個(gè)由電動(dòng)機(jī)M1(見圖13)轉(zhuǎn)動(dòng)的圓軸121a和一個(gè)安裝在圓軸121a上并可以沿圓軸121a上下移動(dòng)的提取器121b。一個(gè)用于檢測(cè)與盤接觸的接觸傳感器121-8(見圖13和14)設(shè)置在提取器121b的下部，提取器121b具有至少一個(gè)用于提取盤的吸力孔(見圖15)。提取器121b還包括一個(gè)控制孔121c。第一至第三立柱122-124等距離環(huán)繞圓軸121a設(shè)置，從而當(dāng)提取器121b垂直向下向第一至第三立柱122-124移動(dòng)時(shí)，第一至第三立柱122-124穿過控制孔121c。
有許多盤疊放在第一立柱122上，有許多質(zhì)量確定為“好”的盤疊放在第二立柱123上，有許多質(zhì)量確定為“差”的盤疊放在第三立柱124上。在第一立柱122上的盤已經(jīng)過處理而具有保護(hù)層。至少應(yīng)該提供一個(gè)第一立柱122，在每一個(gè)立柱上可以疊放近150-200張盤。
如圖12所示，多個(gè)驅(qū)動(dòng)器a-h分別包括一個(gè)主軸電動(dòng)機(jī)130，用于旋轉(zhuǎn)安裝在盤架上的光盤；一個(gè)光拾取器131，用于在光盤的外區(qū)記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)STP或從光盤的外區(qū)重放檢測(cè)數(shù)據(jù)；一個(gè)滑動(dòng)電動(dòng)機(jī)132，用于沿?cái)[動(dòng)(wobbled)預(yù)制槽移動(dòng)光拾取器131；一個(gè)裝載電動(dòng)機(jī)133，用于進(jìn)行系統(tǒng)的裝載操作；一個(gè)伺服控制裝置134，用于控制主軸電動(dòng)機(jī)130，滑動(dòng)電動(dòng)機(jī)132和裝載電動(dòng)機(jī)133；一個(gè)寫操作控制邏輯電路135，用于從外部控制器120a接收檢測(cè)數(shù)據(jù)STP并輸出驅(qū)動(dòng)信號(hào)；一個(gè)激光二極管驅(qū)動(dòng)器136，用于響應(yīng)來自寫操作控制邏輯電路135的驅(qū)動(dòng)信號(hào)驅(qū)動(dòng)光拾取器131的激光二極管(沒有示出)；一個(gè)RF放大器137，用于放大由光拾取器131重放的信號(hào)；一個(gè)數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)138，用于解調(diào)RF放大器137的輸出信號(hào)并校正誤差；一個(gè)微處理器139，用于將來自數(shù)字信號(hào)處理器138的重放檢測(cè)數(shù)據(jù)輸出到外部控制器120a；一個(gè)接口140，用于對(duì)輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行編碼或譯碼并在驅(qū)動(dòng)器a-h和外部控制器120a之間或在外圍裝置之間進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸；和一個(gè)緩沖存貯器141，用于暫時(shí)存貯輸入給接口140或從接口140輸出的數(shù)據(jù)。如圖進(jìn)一步所示，驅(qū)動(dòng)器a-h的每一個(gè)可選地包括與微處理器139相連的指示器120b。
在光盤制造過程中，在其上涂敷形成保護(hù)層的光盤被疊放在第一立柱122上。當(dāng)操作者通過使用者接口(沒有示出)命令進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)時(shí)，盤傳送部件121根據(jù)設(shè)置在驅(qū)動(dòng)器安裝單元120上的控制器120a的控制，提取一個(gè)疊放在第一立柱122上的光盤并安放在驅(qū)動(dòng)器安裝單元120的多個(gè)驅(qū)動(dòng)器a-h中的一個(gè)上。
現(xiàn)在結(jié)合光盤傳送部件12的構(gòu)造詳細(xì)說明提取和移動(dòng)光盤的操作。
如上所述，一旦操作者命令進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)，盤傳送部件121的圓軸121a的根據(jù)控制器120a的控制進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，并在提取器121b的控制孔121c(見圖13)的中心與第一立柱122的中心相對(duì)應(yīng)時(shí)停止轉(zhuǎn)動(dòng)。即，提取器121b關(guān)于第一立柱122的轉(zhuǎn)動(dòng)角由圓軸121a的轉(zhuǎn)動(dòng)所控制。
圖13表示的是用于轉(zhuǎn)動(dòng)提取器121b的盤傳送部件121結(jié)構(gòu)的一個(gè)實(shí)施例。如圖所示，圓軸121a的中心軸121-1通過傳動(dòng)齒輪121-2與驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)M1相連。將驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)M1的轉(zhuǎn)動(dòng)力傳遞給中心軸121-1，由此提取器121b的轉(zhuǎn)動(dòng)角受圓軸121a轉(zhuǎn)動(dòng)的控制。圓軸121a由基體支承上的中心軸121-1旋轉(zhuǎn)支承。
通過控制驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)M1的轉(zhuǎn)數(shù)來實(shí)現(xiàn)對(duì)圓軸121的轉(zhuǎn)動(dòng)角的控制，根據(jù)象編碼器這樣的轉(zhuǎn)數(shù)檢測(cè)裝置(沒有示出)的輸出信號(hào)控制驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)M1的轉(zhuǎn)數(shù)。通過圓軸121a控制提取器121b的轉(zhuǎn)動(dòng)角，以使提取器121b位于第一至第三立柱122-124之一的上方。
作為提供旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)的盤傳送部件121的結(jié)構(gòu)的另一優(yōu)選實(shí)施例，把驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)M1的驅(qū)動(dòng)力直接傳遞給圓軸121a的外周邊或中心軸121-1，驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)M1用傳動(dòng)帶連接。
當(dāng)關(guān)于第一立柱122已經(jīng)完成提取器121b的位置控制以后，提取器121b按照控制器120a的控制向下移動(dòng)，從而使第一立柱122穿過控制孔121c，使提取器121b接近光盤。當(dāng)提取器121b向下移與光盤接觸時(shí)，位于提取器121b下部的接觸傳感器(沒有示出)檢測(cè)提取器121b與光盤之間的接觸，并將檢測(cè)值輸出給控制器120a。
圖14表示的是用于垂直移動(dòng)提取器121b的光盤傳送部件121的結(jié)構(gòu)的二個(gè)優(yōu)選實(shí)施例。如圖所示，在電動(dòng)機(jī)M2的控制下轉(zhuǎn)動(dòng)的蝸輪121-3設(shè)置在圓軸121a的內(nèi)部，在一個(gè)與提取器121b相連的臂121-4的側(cè)端形成一個(gè)齒造型。臂121-4的齒造型與形成在蝸輪121-3外周上的齒造型相嚙合。
作為用于垂直移動(dòng)提取器121b的盤傳送部件121的結(jié)構(gòu)的另一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例，拾取器121設(shè)置在一個(gè)齒條上，一個(gè)用于驅(qū)動(dòng)齒條的傳動(dòng)齒輪與電動(dòng)機(jī)相連。傳動(dòng)齒輪的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)使齒條垂直移動(dòng)，由此垂直移動(dòng)提取器121b。
作為另一種選擇，用于垂直移動(dòng)提取器121b的盤傳送部件121的構(gòu)成包括一條設(shè)置在圓軸121a內(nèi)部上端和下端的環(huán)形傳動(dòng)帶。提取器121b設(shè)置在環(huán)形帶的中部，電動(dòng)機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)力傳遞給環(huán)形帶的驅(qū)動(dòng)皮帶輪，由此使提取器121b垂直移動(dòng)。
圖15是提取器121b的截面示意圖。如圖所示，吸力孔121-5形成在提取器121b的下表面，吸力孔121-5通過管部件121-6與真空泵P相連。
當(dāng)提取器121b與光盤接觸時(shí)，控制器120a響應(yīng)來自接觸傳感器(沒有示出)的傳感信號(hào)驅(qū)動(dòng)真空泵P，當(dāng)真空泵P被驅(qū)動(dòng)時(shí)，與管部件121-6相連的吸力孔121-5產(chǎn)生吸力，由此目標(biāo)光盤被吸到提取器121b上。
當(dāng)光盤被提取器121b吸住后，提取器121b按照上述垂直移動(dòng)方式移向多個(gè)驅(qū)動(dòng)器a-h。這里為了使提取器121b移向驅(qū)動(dòng)器a-d，提取器121b向左轉(zhuǎn)一預(yù)定角度，然后垂直移動(dòng)。為了移向驅(qū)動(dòng)器e-h，提取器121b向右轉(zhuǎn)一預(yù)定角度，然后垂直移動(dòng)。當(dāng)使提取器121b垂直移向驅(qū)動(dòng)器a-h中的一個(gè)目標(biāo)驅(qū)動(dòng)器時(shí)，驅(qū)動(dòng)器a-h根據(jù)控制器120a的控制打開各自的盤架。
這時(shí)，控制器120a使真空泵P停止工作，消除對(duì)提取器121b的吸力，提取器121b將光盤放在其下面的驅(qū)動(dòng)器a-h的一個(gè)盤架上。
另一種方式是提取器121b垂直移動(dòng)后再轉(zhuǎn)動(dòng)，將盤放在盤驅(qū)動(dòng)器a-h上。在這種方式中，盤驅(qū)動(dòng)器a-h的盤架先于盤的傳送打開。
當(dāng)把光盤放在驅(qū)動(dòng)器a-h中的一個(gè)上以后，驅(qū)動(dòng)器a-h在控制器120a的控制下，分別在光盤的外區(qū)記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)STP或從光盤外區(qū)重放檢測(cè)數(shù)據(jù)STP?？刂破?20a將重放數(shù)據(jù)與基準(zhǔn)數(shù)據(jù)相比較以確定盤質(zhì)量。控制器120a或微處理器139在控制器120a控制下實(shí)現(xiàn)圖6中的比較器35和控制器36的功能。而且，存貯器141或與控制器120a相連的存貯器(沒有示出)與圖6中的存貯器34的功能相同。即，控制器120a使上面結(jié)合圖4A-10B所述的盤質(zhì)量檢測(cè)方法得以實(shí)現(xiàn)，從而確定盤的質(zhì)量是好，還是壞。因此，這里就不重復(fù)對(duì)這個(gè)方法的說明。
光盤質(zhì)量一旦確定，光盤傳送部件121在控制器120a的控制下，拾取裝在驅(qū)動(dòng)器a-h中的光盤。確定質(zhì)量是“好”的光盤疊放在第二立柱123上，確定質(zhì)量是“壞”的光盤疊放在第三立柱124上。
最后，將質(zhì)量確定是“好”的光盤注上標(biāo)記，從而完成光盤制造，而將質(zhì)量確定是“壞”的光盤廢棄。對(duì)于所有制造的光盤，這些步驟都自動(dòng)進(jìn)行。
圖16是按照本發(fā)明的光盤質(zhì)量檢測(cè)裝置另一個(gè)實(shí)施例的示圖。如圖所示，第二個(gè)實(shí)施例的光盤質(zhì)量檢測(cè)裝置通過SCSI總線與外部計(jì)算機(jī)126相連。在這個(gè)第三實(shí)施例中，計(jì)算機(jī)126向設(shè)置在質(zhì)量檢測(cè)裝置中的控制器120a傳輸檢測(cè)數(shù)據(jù)STP。計(jì)算機(jī)126還可以可選地通過SCSI總線接收重放的檢測(cè)數(shù)據(jù)STP，從而確定光盤質(zhì)量。在這個(gè)實(shí)施例中，是計(jì)算機(jī)126確定質(zhì)量，而不是控制器120a確定質(zhì)量。但是，計(jì)算機(jī)126可以采用與上述方法相同的方法確定光盤質(zhì)量是好，還是壞。
一個(gè)操作者可以使用計(jì)算機(jī)126控制質(zhì)量檢測(cè)裝置的操作。因此，可以選擇設(shè)置在質(zhì)量檢測(cè)裝置中的微處理器139和/或控制器120a進(jìn)行光盤的質(zhì)量確定操作，也可以選擇外部計(jì)算機(jī)126進(jìn)行光盤質(zhì)量確定操作。
在討論這個(gè)替換方法之前，結(jié)合圖17詳細(xì)討論圖8A所示的光盤的信息狀態(tài)，其中圖8A所示的引入?yún)^(qū)構(gòu)成圖17的緩沖區(qū)150或STP區(qū)151的一部分。為便于討論，圖17所示的光盤是74分鐘CD-R盤。
按照這種方法，用于檢測(cè)光盤質(zhì)量的檢測(cè)數(shù)據(jù)STP記錄區(qū)是光盤記錄層的外區(qū)，該外區(qū)一般位于整個(gè)120mm直徑的118mm直徑的外面。在一般的74分鐘CD-R盤中，引出區(qū)在753000(75分，30秒，和00數(shù)據(jù)塊)的ATIP(在預(yù)制槽中的絕對(duì)時(shí)間)結(jié)束。因此，如表1所示，外區(qū)范圍從引出區(qū)結(jié)束的ATIP為753000的118mm(φ118)到ATIP為754700的1181763mm(φ118.1763)。在這種方法中，ATIP用來代表光拾取器131在光盤上的位置。<
而且，外區(qū)包括分別設(shè)置在STP區(qū)151前面和后面的第一和第二緩沖區(qū)150，152。外區(qū)的總道數(shù)約為55道，倍速驅(qū)動(dòng)器中的光拾取器131要用近12秒跟蹤這55道。
第一緩沖區(qū)150是一個(gè)約6.5道的余量區(qū)，允許光拾取器131在其從內(nèi)周邊向外周邊移動(dòng)時(shí)在STP區(qū)151精確定位。即，余量區(qū)在753200ATIP和φ118.0208直徑處結(jié)束。
STP區(qū)151包括用于記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)STP的32.4道，并終止在754200 ATIP和φ118.0208直徑。但是，STP區(qū)中道數(shù)不是固定的，而是取決于操作者所使用的設(shè)備的容量。當(dāng)光拾取器131是用于四倍速驅(qū)動(dòng)器時(shí)，跟蹤STP區(qū)151要用6-7秒。這時(shí)，由于道數(shù)決定檢測(cè)數(shù)據(jù)STP的數(shù)量，所以，道數(shù)越多，光盤質(zhì)量檢測(cè)越準(zhǔn)確。
為使光拾取器131準(zhǔn)確地在STP區(qū)151中定位，第二緩沖區(qū)152是約16.2道的余量區(qū)。第二緩沖區(qū)152終止在754700 ATIP和φ118.1763直徑。
如圖18所示，在本發(fā)明的這個(gè)方法中采用的檢測(cè)數(shù)據(jù)STP在0-1155十進(jìn)位數(shù)(如所有ASCII碼，聲頻數(shù)據(jù)和零數(shù)據(jù))之間變化。在這些十進(jìn)位數(shù)之間，這個(gè)方法較好的是采用所選擇的ASCII碼(更好的是ASCII碼242)，所選擇的ASCII碼順序進(jìn)行二進(jìn)制變換和EFM變換以進(jìn)行記錄。
在上述變換步驟中，檢測(cè)數(shù)據(jù)STP變換成大小從3T到11T之間變化的各種凹痕。如前面所述，由于3T凹痕圖案是最小的凹痕圖案，誤差更容易檢測(cè)。當(dāng)對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)STP進(jìn)行EFM變換時(shí)，ASCII碼242相對(duì)其他碼包括許多3T脈沖，使得在重放期間更容易檢測(cè)誤差。因此，本發(fā)明更好是采用ASCII碼242作為檢測(cè)數(shù)據(jù)STP。
現(xiàn)在結(jié)合圖19-23的流程和圖11所示的光盤質(zhì)量檢測(cè)裝置的第二個(gè)實(shí)施例說明按照這個(gè)替換的方法進(jìn)行記錄/重放和光盤質(zhì)量確定的操作。
圖19表示的是根據(jù)本發(fā)明的另一種光盤質(zhì)量檢測(cè)方法的流程。如圖所示，在步驟S300，把已經(jīng)在其上形成保護(hù)層的光盤從第一立柱122傳送到驅(qū)動(dòng)器a-h中的一個(gè)上。圖20更詳細(xì)地說明了步驟S300的流程。
如圖20所示，在步驟S301，其上具有保護(hù)層但最好不是涂層的光盤被疊放在第一立柱122上。步驟S301可以可選地在加工設(shè)備附近完成，這時(shí)第一立柱122沒有設(shè)置在盤安裝單元120上。因此，在步驟S303，將第一立柱122移置并設(shè)置在盤安裝單元120上。但是，在步驟S301，盤可以疊放在已經(jīng)設(shè)置在盤安放單元120上的第一立柱122上，這樣，就取消步驟S303。然后，在步驟S305，控制器120a控制驅(qū)動(dòng)器a-h中的一個(gè)打開盤架，并在步驟S307，控制盤傳送部件121用提取器121b以前面所述方式拾取第一立柱122上的盤。
接下來，在步驟S309，盤傳送部件121將在步驟S307拾取的光盤移至在步驟S305打開的盤架上面。然后，在步驟S311，取消吸取盤的吸力，將盤放在打開的盤架上。然后，在步驟S313關(guān)閉打開的盤架。另一種辦法是，按照S307，S309，S305和S311的順序?qū)崿F(xiàn)步驟S305，S307，S309和S311。
回到圖19，這個(gè)方法通過在步驟S300中裝入驅(qū)動(dòng)器a-h中的光盤上記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)STP而繼續(xù)下去。圖21更詳細(xì)地表示記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)STP的步驟S320。
如圖21所示，在步驟S321，控制器120a指示微處理器139控制伺服控制裝置134將光拾取器131移至焦點(diǎn)，并將光拾取器131移至光盤的最里面的周邊。當(dāng)光拾取器131到達(dá)最里面的周邊以后，這種狀態(tài)通過與限位開關(guān)(沒有示出)接觸而得到確認(rèn)。即，如圖所示，在步驟S323，微處理器139確定限位開關(guān)是否打開。如果限位開關(guān)沒有打開，微處理器139繼續(xù)輸出指令以將光拾取器131移向光盤最里面的周邊。但是，一旦微處理器139檢測(cè)到限位開關(guān)打開，則在步驟S325，微處理器139根據(jù)從控制器120a接收的指令，開始將光拾取器131向光盤的外區(qū)移動(dòng)。更具體講，微處理器139將光拾取器131移至ATIP753200。
在步驟S325，如圖17所示，光傳感器已經(jīng)位于STP區(qū)151的開始點(diǎn)，在步驟S327，微處理器139控制檢測(cè)數(shù)據(jù)STP記錄在光盤的STP區(qū)151。即，在一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，ASCII碼242重復(fù)記錄在光盤的STP區(qū)151。
在記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)STP期間，檢測(cè)ATIP，并在步驟S329，確定ATIP是否超過754200。如果ATIP沒有超過754200，則繼續(xù)記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)STP。但是，如果ATIP超過754200，則終止記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)STP。
回到圖19，在步驟S340，重放記錄的檢測(cè)數(shù)據(jù)STP，在步驟S360，根據(jù)重放的檢測(cè)數(shù)據(jù)STP，確定光盤質(zhì)量。圖22更詳細(xì)地說明步驟S340和S360。
如圖22所示，在步驟S341，微處理器139將光傳感器移至ATIP753200。然后，在步驟S343，重放檢測(cè)數(shù)據(jù)STP。具體講，重放的檢測(cè)數(shù)據(jù)STP由高頻放大器137放大，并在DSP 138中解調(diào)和校正誤差。然后，通過接口140將這種處理過的檢測(cè)數(shù)據(jù)STP傳輸給控制器120a。
在這種重放過程中，檢測(cè)ATIP，并在步驟S345，確定ATIP是否等于754200。如果ATIP不等于754200，則繼續(xù)重放檢測(cè)數(shù)據(jù)STP。但是，一旦ATIP等于754200，停止重放檢測(cè)數(shù)據(jù)STP。
然后，流程進(jìn)入步驟S361，控制器120a根據(jù)重放的檢測(cè)數(shù)據(jù)STP判斷光盤的質(zhì)量。除控制器120a之外，這種質(zhì)量判斷還可以由微處理器139或計(jì)算機(jī)126實(shí)現(xiàn)。這種質(zhì)量判斷步驟以與上述圖9中步驟S260相同的方式實(shí)現(xiàn)，因此，不重復(fù)對(duì)這種步驟的說明。
一旦判斷質(zhì)量，在步驟S363，控制器120a確定光盤是否被判斷為質(zhì)量不好。如果是，在步驟S369，確定光盤為壞光盤。但是，如果判斷光盤質(zhì)量不差，則在步驟S365，控制器120a將光盤分類為好光盤。接下來，在步驟S367，控制器120a在指示器120b顯示光盤所確定的質(zhì)量。
回到圖了9，在進(jìn)行步驟S360之后，在步驟S380對(duì)檢測(cè)過的光盤進(jìn)行分類。圖23更詳細(xì)地說明步驟S380。如圖23所示，在步驟S381，控制器120a識(shí)別光盤是否被確定為好光盤。如果是好光盤，則控制器120a在步驟S383控制驅(qū)動(dòng)器使存放光盤的驅(qū)動(dòng)器打開其盤架。接下來，在步驟S385，控制器120a控制盤傳送部件121拾取在打開的盤架上的光盤，并在步驟S387將光盤移到第二立柱123的上面。在步驟S389，控制器120a控制盤傳送部件121消除對(duì)光盤的吸力，以使光盤疊放在第二立柱123上。然后，過程進(jìn)入步驟S399。
在步驟S381，如果光盤沒有被識(shí)別為好光盤，則在步驟S391，控制器120a控制存放光盤的驅(qū)動(dòng)器a-h打開盤架，并在步驟S393控制盤傳送部件121拾取光盤。然后，在步驟S395，控制器120a控制盤傳送部件121將光盤置于第三立柱124上面。在步驟S397，控制器120a控制光盤傳送部件121消除光盤上的吸力，以使光盤疊放在第三立柱124上。流程進(jìn)入步驟S399。
在步驟S399，控制器120a控制盤傳送部件121回到第一立柱122。這時(shí)，確定是否在第一立柱122有任何盤。即，在步驟S399，控制器120a使提取器121b在第一立柱122上垂直向下移動(dòng)。如果在接觸傳感器121c觸發(fā)之前，提取器121b到達(dá)最小垂直位置，則控制器120a確定在第一立柱上122沒有光盤。否則，控制器120a確定在第一立柱122上有光盤。如果在第一立柱122上有光盤，則在步驟S403，流程回到圖20的步驟S305。但是，如果在第一立柱122上沒有光盤，則在步驟S405，流程回到步驟S301。
上述的其他限制不限于本發(fā)明的第二實(shí)施例。相反，一個(gè)本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員很容易知道第三實(shí)施例也可以采用這種方法。
根據(jù)本發(fā)明的用于檢測(cè)光盤質(zhì)量的方法和裝置從光盤的外區(qū)記錄和重放檢測(cè)數(shù)據(jù)。該區(qū)域在預(yù)錄光盤或一次寫入光盤中不使用。因此，每一個(gè)制造的光盤都可以按照本發(fā)明進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)而不會(huì)使光盤不能作為商品使用。其結(jié)果是，按照本發(fā)明檢測(cè)質(zhì)量更準(zhǔn)確和更可靠。即，每張光盤都能檢測(cè)質(zhì)量，但是，可選的是只有抽樣光盤進(jìn)行檢測(cè)。
按照本發(fā)明的光盤質(zhì)量檢測(cè)不限于處理達(dá)到其上形成有保護(hù)層階段的盤，而且還適用于達(dá)到形成有記錄層，反射層或標(biāo)記層階段的盤。而且，本發(fā)明允許在一般的抽樣檢測(cè)或視覺檢測(cè)之后，進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)。
如上所述，本發(fā)明能夠?qū)⒆詣?dòng)盤質(zhì)量檢測(cè)和盤制造過程結(jié)合在一起。
此外，在本發(fā)明中，在很短的時(shí)間能夠在光盤外區(qū)記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)STP或從光盤外區(qū)重放檢測(cè)數(shù)據(jù)STP，由此降低一次寫入盤的制造成本。
這樣描述的本發(fā)明，很顯然可以用許多方式改變。這樣的改變不能視為是離開了本發(fā)明的實(shí)質(zhì)和范圍，所有這樣對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員顯而易見的改變都將落入所附的權(quán)利要求的范圍。
權(quán)利要求
1.一種用于檢測(cè)光盤介質(zhì)質(zhì)量的方法，包括以下步驟重放在所說光盤介質(zhì)外區(qū)中的檢測(cè)數(shù)據(jù)以產(chǎn)生一個(gè)檢測(cè)信號(hào)，所說光盤介質(zhì)的所說外區(qū)位于主信息存貯區(qū)周邊外側(cè)；根據(jù)所說的重放檢測(cè)信號(hào)判斷所說光盤介質(zhì)的質(zhì)量；和根據(jù)所說質(zhì)量判斷將所說光盤介質(zhì)傳送到至少兩個(gè)立柱中的一個(gè)，每個(gè)立柱與一種質(zhì)量類別相對(duì)應(yīng)。
2.權(quán)利要求1的方法，其中所說的重放步驟包括檢測(cè)在光拾取器一個(gè)位置的預(yù)制槽中的絕對(duì)時(shí)間(ATIP)，所說的光拾取器用于從所說的光盤介質(zhì)重放數(shù)據(jù)；確定所說檢測(cè)到的ATIP是否等于一個(gè)預(yù)定ATIP；如果所說的確定步驟表明所說檢測(cè)到的ATIP不等于所說的預(yù)定ATIP，則將所說的光拾取器移向所說的預(yù)定ATIP；和當(dāng)所說的確定步驟表明所說檢測(cè)到的ATIP等于所說的預(yù)定ATIP的時(shí)候，開始重放所說的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
3.權(quán)利要求1的方法，所說的重放步驟包括在第一預(yù)定預(yù)制槽中絕對(duì)時(shí)間(ATIP)，開始重放所說的檢測(cè)數(shù)據(jù)；檢測(cè)在一個(gè)光拾取器的位置上的ATIP，所說光拾取器從所說光盤介質(zhì)重放所說的檢測(cè)數(shù)據(jù)；確定所說檢測(cè)到的ATIP是否等于第二預(yù)定ATIP；和當(dāng)所說的確定步驟表明所說檢測(cè)到的ATIP等于所說的第二預(yù)定ATIP的時(shí)候，停止所說檢測(cè)數(shù)據(jù)的重放。
4.權(quán)利要求1的方法，其中所說的傳送步驟包括當(dāng)所說的判斷質(zhì)量是好的時(shí)候，將所說的光盤介質(zhì)傳送到第一立柱上；和當(dāng)所說的判斷質(zhì)量是差的時(shí)候，將所說光盤介質(zhì)傳送到第二立柱上。
5.權(quán)利要求1的方法，其中所說的檢測(cè)數(shù)據(jù)包括ASCII碼，聲頻數(shù)據(jù)和零數(shù)據(jù)中的至少一個(gè)。
6.權(quán)利要求5的方法，其中所說檢測(cè)數(shù)據(jù)是ASCII碼242。
7.權(quán)利要求1的方法，進(jìn)一步包括步驟在顯示器上顯示所說的判斷的質(zhì)量。
8.一種用于在光盤介質(zhì)中記錄檢測(cè)信號(hào)的方法，包括將一個(gè)光盤介質(zhì)設(shè)置在一個(gè)數(shù)據(jù)記錄位置上；使光拾取器定位于所說光盤介質(zhì)的外區(qū)，所說光盤介質(zhì)的所說外區(qū)位于主信息存貯區(qū)的周邊外側(cè)；和使用所說光拾取器在所說外區(qū)記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)。
9.權(quán)利要求8的方法，其中所說的設(shè)置步驟包括將光盤介質(zhì)從一個(gè)立柱傳送到所說的數(shù)據(jù)記錄位置。
10.權(quán)利要求9的方法，進(jìn)一步包括將光盤介質(zhì)裝載在所說的立柱上。
11.權(quán)利要求10的方法，其中所說的裝載步驟在制造處理步驟之間將光盤介質(zhì)放置在所說的立柱上。
12.權(quán)利要求10的方法，進(jìn)一步包括將所說的立柱安放在一個(gè)傳送單元上；和其中由所說的傳送單元實(shí)現(xiàn)所說的傳送步驟。
13.權(quán)利要求9的方法，其中所說的傳送步驟由一個(gè)傳送單元實(shí)現(xiàn)。
14.權(quán)利要求8的方法，其中所說的設(shè)置步驟在制造處理步驟之間將一個(gè)光盤介質(zhì)設(shè)置在所說的數(shù)據(jù)記錄位置上。
15.權(quán)利要求8的方法，其中所說的定位步驟包括檢測(cè)在所說光拾取器的一個(gè)位置的在預(yù)制槽中的絕對(duì)時(shí)間(ATIP)；確定所說的檢測(cè)到的ATIP是否等于一個(gè)預(yù)定ATIP；如果所說的確定步驟表明所說檢測(cè)到的ATIP不等于所說的預(yù)定的ATIP，則將所說光拾取器移向所說的預(yù)定ATIP。
16.權(quán)利要求8的方法，其中所說的記錄步驟包括在第一預(yù)定預(yù)制槽中絕對(duì)時(shí)間(ATIP)，開始記錄所說檢測(cè)數(shù)據(jù)；檢測(cè)在所說光拾取器的一個(gè)位置的ATIP；確定所說檢測(cè)到的ATIP是否等于第二預(yù)定ATIP；和當(dāng)所說的確定步驟表明所說檢測(cè)到的ATIP等于所說的第二預(yù)定ATIP的時(shí)候，停止所說檢測(cè)數(shù)據(jù)的記錄。
17.權(quán)利要求8的方法，其中所說的檢測(cè)數(shù)據(jù)包括ASCII碼，聲頻數(shù)據(jù)和零數(shù)據(jù)中的至少一個(gè)。
18.權(quán)利要求17的方法，其中所說的檢測(cè)數(shù)據(jù)是ASCII碼242。
19.一種用于檢測(cè)光盤介質(zhì)質(zhì)量的裝置，包括至少第一和第二立柱；一個(gè)用于傳送光盤介質(zhì)的盤傳送部件；一個(gè)光拾取器；和控制裝置，用于控制所說的光拾取器重放在所說光盤介質(zhì)外區(qū)的檢測(cè)數(shù)據(jù)以產(chǎn)生一個(gè)檢測(cè)信號(hào)，所說光盤介質(zhì)的所說外區(qū)位于主信息存貯區(qū)的周邊外側(cè)，還用于根據(jù)所說重放的檢測(cè)信號(hào)判斷所說光盤介質(zhì)的質(zhì)量，和用于根據(jù)所說的質(zhì)量判斷，控制所說盤傳送部件將所說光盤介質(zhì)傳送到所說第一立柱和第二立柱中的一個(gè)。
20.權(quán)利要求19的裝置，其特征在于所說的控制裝置通過所說的光拾取器檢測(cè)在所說光拾取器的一個(gè)位置的在預(yù)制槽中的絕對(duì)時(shí)間(ATIP)；確定所說的檢測(cè)到的ATIP是否等于預(yù)定的ATIP；如果所說檢測(cè)到的ATIP不等于所說的預(yù)定的ATIP，則將所說的光拾取器移向所說的預(yù)定ATIP；當(dāng)所說的檢測(cè)到的ATIP等于所說的預(yù)定的ATIP的時(shí)候，開始通過所說的光拾取器重放所說的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
21.權(quán)利要求19的裝置，其特征在于所說的控制裝置在第一預(yù)定在預(yù)制槽中的絕對(duì)時(shí)間(ATIP)通過所說的光拾取器開始重放所說的檢測(cè)數(shù)據(jù)；在所說光拾取器的一個(gè)位置通過所說的光拾取器檢測(cè)一個(gè)ATIP；確定所說的檢測(cè)到的ATIP是否等于第二預(yù)定的ATIP；當(dāng)所說的檢測(cè)到的ATIP等于所說的第二預(yù)定的ATIP的時(shí)候，停止重放所說的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
22.權(quán)利要求19的裝置，其特征在于當(dāng)所說的質(zhì)量判斷是好的時(shí)候，所說的控制裝置控制所說盤傳送部件將所說光盤介質(zhì)傳送到所說第一立柱，并且當(dāng)所說質(zhì)量判斷是差的時(shí)候，將所說光盤介質(zhì)傳送到所說第二立柱。
23.權(quán)利要求19的裝置，其特征在于所說檢測(cè)數(shù)據(jù)包括ASCII碼，聲頻數(shù)據(jù)和零數(shù)據(jù)中的至少一個(gè)。
24.權(quán)利要求19的裝置，其特征在于所說檢測(cè)數(shù)據(jù)是ASCII碼242。
25.權(quán)利要求19的裝置，其特征在于進(jìn)一步包括一個(gè)顯示所說判斷的質(zhì)量的顯示器。
26.一種用于在光盤介質(zhì)中記錄檢測(cè)信號(hào)的裝置，包括一個(gè)用于傳送光盤介質(zhì)的盤傳送部件；一個(gè)光拾取器；和控制裝置，用于控制所說盤傳送部件將光盤介質(zhì)設(shè)置在一個(gè)數(shù)據(jù)記錄位置，用于將所說光拾取器定位在所說光盤介質(zhì)的外區(qū)，所說光盤介質(zhì)的所說外區(qū)位于一個(gè)主信息存貯區(qū)的周邊外側(cè)，和用于使用所說光拾取器在所說外區(qū)中記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)。
27.權(quán)利要求26的裝置，其特征在于進(jìn)一步包括一個(gè)存放光盤介質(zhì)的立柱；和其中所說的控制裝置控制所說盤傳送部件將所說光盤介質(zhì)從所說立柱傳送到所說數(shù)據(jù)記錄位置。
28.權(quán)利要求27的裝置，其特征在于所說立柱在制造處理步驟之間存放光盤介質(zhì)。
29.權(quán)利要求26的裝置，其特征在于所說控制裝置在制造處理步驟之間，控制所說盤傳送部件將光盤介質(zhì)設(shè)置在所說數(shù)據(jù)記錄位置上。
30.權(quán)利要求26的裝置，其特征在于所說控制裝置在定位所說光拾取器的情況下，通過所說光拾取器檢測(cè)在所說光拾取器的一個(gè)位置的預(yù)制槽中的絕對(duì)時(shí)間(ATIP)；確定所說檢測(cè)到的ATIP是否等于預(yù)定的ATIP；而且如果所說檢測(cè)到的ATIP不等于所說預(yù)定的ATIP，則將所說光拾取器移向所說預(yù)定的ATIP。
31.權(quán)利要求26的裝置，其特征在于所說控制裝置在記錄所說檢測(cè)數(shù)據(jù)的情況下，控制所說光拾取器在第一預(yù)定預(yù)制槽中的絕對(duì)時(shí)間(ATIP)，開始記錄所說的檢測(cè)數(shù)據(jù)；通過所說光拾取器檢測(cè)所說光拾取器的一個(gè)位置的ATIP；確定所說檢測(cè)到的ATIP是否等于第二預(yù)定ATIP；和在所說檢測(cè)到的ATIP等于所說第二預(yù)定ATIP的時(shí)候，停止記錄所說的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
32.權(quán)利要求26的裝置，其特征在于所說檢測(cè)數(shù)據(jù)包括ASCII碼，聲頻數(shù)據(jù)和零數(shù)據(jù)中的至少一個(gè)。
33.權(quán)利要求32的裝置，其特征在于所說檢測(cè)數(shù)據(jù)是ASCII碼242。
全文摘要
用于檢測(cè)光盤介質(zhì)質(zhì)量的方法和裝置,將光盤移入一個(gè)檢測(cè)位置(例如將光盤設(shè)置在一個(gè)盤驅(qū)動(dòng)器上),并在光盤的外區(qū)記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)。當(dāng)制造預(yù)錄盤時(shí)不使用光盤的這種外區(qū),一次寫入光盤的使用者也不使用光盤的這種外區(qū)。根據(jù)重放在光盤外區(qū)的檢測(cè)數(shù)據(jù)而產(chǎn)生的檢測(cè)信號(hào)判斷光盤的質(zhì)量。根據(jù)質(zhì)量判斷,對(duì)光盤進(jìn)行分類以進(jìn)一步處理。
文檔編號(hào)G11B7/007GK1245332SQ99100409
公開日2000年2月23日 申請(qǐng)日期1999年2月5日 優(yōu)先權(quán)日1998年2月6日
發(fā)明者呂運(yùn)盛, 金炯圭, 裴棟淅 申請(qǐng)人:Lg電子株式會(huì)社